JP2010045115A - Production control system, production control method, production control program, and host computer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、生産管理システムに関し、特に半導体製造装置の生産管理システムに関する。 The present invention relates to a production management system, and more particularly to a production management system for a semiconductor manufacturing apparatus.
生産管理システムは、半導体製造装置の製造工程における管理・制御を行う。開発されたLSI(Large Scale Integration:以下、半導体製品)は、用途や機能に応じて品名が付与される。生産管理システムは、品名に対応した工程条件や、使用する半導体製造装置の機種・号機を設定する。半導体製造装置は、生産管理システムからの命令に従って、半導体製品の製造作業を行う。半導体製造装置は、通常、同一の工程条件のおいて複数の設備が用意される。これら複数の半導体製造装置は、半導体製品の生産数の増加や、あるいは半導体製造装置の突発的な故障に対応するために用意される。生産管理システムは、これら複数の半導体製造装置のうちから、半導体製品の品名や、仕掛り状況に応じて、製造作業を行う設備を指定する。 The production management system performs management and control in the manufacturing process of the semiconductor manufacturing apparatus. The developed LSI (Large Scale Integration: hereinafter referred to as a semiconductor product) is given a product name according to the application and function. The production management system sets the process conditions corresponding to the product name and the model and number of the semiconductor manufacturing equipment to be used. The semiconductor manufacturing apparatus performs a semiconductor product manufacturing work in accordance with a command from the production management system. A semiconductor manufacturing apparatus is usually provided with a plurality of facilities under the same process conditions. The plurality of semiconductor manufacturing apparatuses are prepared to cope with an increase in the number of semiconductor products produced or a sudden failure of the semiconductor manufacturing apparatus. The production management system designates a facility for manufacturing work according to the product name of the semiconductor product and the in-process status from among the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses.
生産管理システムに関する関連技術として、次のようなものが開示されている。 The following are disclosed as related technologies related to the production management system.
特許文献1は、所定の物体を一連の複数の作業工程を経て製造する生産ラインを管理する生産制御システムにおいて、物体の製造作業における基本データとなる製品毎の、及び/又は、当該製品のロット製品工程手順データ毎でのそれぞれの工程において段階的に作業号機指示を用意に設定でき、生産設備である当該作業号機へ的確に使用すべき作業号機の指定を行う事ができる生産制御システムを開示している。特許文献1の生産制御システムは、所定の物体に一連の複数の作業工程を加えて他の物体を製造するに際して、少なくともそれぞれの工程における、作業の種類、使用すべき設備の種類、及び各作業の条件とを含む処理データに従って、少なくとも製品毎あるいは当該製品のロット毎の段階で、上記一連の複数の作業工程の実行順序を設定した工程手順表を作成し、上記工程手順表に記録された上記処理データに従って、所定の作業が順次実行される様に構成された生産制御システムにおいて、所定の作業を所定の種類の作業号機で実行させる為の作業号機指示データを決定する作業号機指示工程が、製品毎の工程手順単位或いは製品ロット毎の工程手順単位の少なくとも何れかの段階における各工程毎に個別に設けられている事を特徴とする。
一般に、半導体製造装置は、製造する半導体製品の品質に、一定のゆらぎが存在する。半導体製品は、品種に応じて、品質に一定のばらつきを許容するものと、品質のばらつきを一定程度に抑えた高品質を要求されるものがある。ところが、従来の生産管理システムは、作業の種類、設備の種類、作業条件に基づいて、半導体製品の製造を行う半導体製造装置を指定する。また、従来の生産管理システムは、複数の半導体製造装置で製造可能となった場合、半導体製造装置毎の仕掛り状態によって、製造を行う設備を指定する。つまり、生産管理システムは、高品質を要求される品種(以下、ランクA品種)も、ランクA品種以外の品種(以下、ランクB品種)も、半導体製造装置の工程条件設定に問題がなければ、各設備の仕掛り状況によって、製造対象物を各設備へ振り分けて製造を行う。そのため、ランクA品種は、故障ではないが製造品質が他の半導体製造装置より劣る設備で製造が行われる可能性が有る。このような場合、ランクA品種であっても、品質のばらつきを一定程度に抑えることができず、高品質な半導体製品とはならない場合があるという課題があった。 Generally, a semiconductor manufacturing apparatus has a certain fluctuation in the quality of a semiconductor product to be manufactured. Depending on the type of semiconductor product, there are semiconductor products that allow a certain variation in quality, and semiconductor products that require a high quality with a certain level of variation in quality. However, the conventional production management system designates a semiconductor manufacturing apparatus that manufactures semiconductor products based on the type of work, the type of equipment, and the work conditions. In addition, when the conventional production management system can be manufactured by a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses, the facility for manufacturing is specified according to the in-process state of each semiconductor manufacturing apparatus. In other words, the production management system has no problem in setting the process conditions of the semiconductor manufacturing apparatus, regardless of the type that requires high quality (hereinafter referred to as rank A type) or a type other than rank A type (hereinafter referred to as rank B type). Depending on the in-process status of each facility, the manufacturing object is distributed to each facility for manufacturing. Therefore, there is a possibility that the rank A type is manufactured in equipment that is not a failure but is inferior in manufacturing quality to other semiconductor manufacturing apparatuses. In such a case, there is a problem that even if it is a rank A type product, variation in quality cannot be suppressed to a certain level, and a high-quality semiconductor product may not be obtained.
以下に、(発明を実施するための最良の形態)で使用される番号を用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号は、(特許請求の範囲)の記載と(発明を実施するための最良の形態)との対応関係を明らかにするために付加されたものである。ただし、それらの番号を、(特許請求の範囲)に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。 Hereinafter, means for solving the problem will be described using the numbers used in (Best Mode for Carrying Out the Invention). These numbers are added to clarify the correspondence between the description of (Claims) and (Best Mode for Carrying Out the Invention). However, these numbers should not be used to interpret the technical scope of the invention described in (Claims).
本発明の生産管理システムは、複数の半導体製造装置(51〜54)のうちから選択製造装置を決定し、搬送指示を出力するホストコンピュータ(30)と、搬送指示に基づいて、選択製造装置へ半導体製品のロットを搬送する搬送制御装置(40)とを備え、半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、ランクA品種以外のランクB品種に分類され、ホストコンピュータ(30)は、ランクA品種の識別子と、ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するランクA品種DB(100)と、複数の半導体製造装置(51〜54)の各々が工程条件においてランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、各半導体製造装置(51〜54)が製造した半導体製品の品質に基づく品質情報とを、各半導体製造装置(51〜54)に対応させて記録する設備号機DB(110)とを具備し、各半導体製造装置(51〜54)のうちで工程条件においてランクA品種を製造することが可能な半導体製造装置のうちから、品質情報に基づいて品質情報が良好な半導体製造装置を、選択製造装置として決定する。 The production management system of the present invention determines a selected manufacturing apparatus from among a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses (51 to 54), and outputs a transfer instruction to the selected manufacturing apparatus based on the transfer instruction. The semiconductor product is classified into a rank A type and a rank B type other than the rank A type, and the host computer (40) having a transfer control device (40) for transferring a lot of semiconductor products. 30) is a rank A product DB (100) that stores an identifier of a rank A product and a process condition of the rank A product in association with each other, and each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses (51 to 54) is ranked in the process condition. Information indicating whether it is possible to manufacture the A type and quality information based on the quality of the semiconductor product manufactured by each semiconductor manufacturing apparatus (51-54), The equipment number DB (110) for recording corresponding to the conductor manufacturing apparatus (51-54) is provided, and the rank A type can be manufactured under the process conditions in each of the semiconductor manufacturing apparatuses (51-54). Among the semiconductor manufacturing apparatuses, a semiconductor manufacturing apparatus with good quality information is determined as a selective manufacturing apparatus based on the quality information.
本発明のホストコンピュータは、上述の生産管理システムで使用される。 The host computer of the present invention is used in the above production management system.
本発明の生産管理方法は、複数の半導体製造装置のうちから選択製造装置を決定し、搬送指示を出力するステップ(S40、S130)と、搬送指示に基づいて、選択製造装置へ半導体製品のロットを搬送するステップ(S50、S140)と、半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、ランクA品種以外のランクB品種に分類され、ランクA品種の識別子と、ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するステップ(S10、S100)と、複数の半導体製造装置の各々が工程条件においてランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、各半導体製造装置が製造した半導体製品の品質に基づく品質情報とを、各半導体製造装置に対応させて記録するステップ(S20、S110)と、各半導体製造装置のうちで工程条件においてランクA品種を製造することが可能な半導体製造装置のうちから、品質情報に基づいて品質情報が良好な半導体製造装置を、選択製造装置として決定するステップ(S30、S120)とを備える。 In the production management method of the present invention, a selected manufacturing apparatus is determined from a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses, a transport instruction is output (S40, S130), and a semiconductor product lot is sent to the selected manufacturing apparatus based on the transport instruction. The semiconductor product is classified into a rank A type and a rank B type other than the rank A type, and the rank A type identifier, rank A Steps (S10, S100) for storing the process conditions of the types in association with each other, information indicating whether each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses can manufacture the rank A type in the process conditions, Steps (S20, S110) for recording quality information based on the quality of the semiconductor product manufactured by the semiconductor manufacturing apparatus corresponding to each semiconductor manufacturing apparatus, and each half A step of determining a semiconductor manufacturing apparatus having good quality information as a selective manufacturing apparatus based on the quality information from among the semiconductor manufacturing apparatuses capable of manufacturing the rank A type in the process conditions among the body manufacturing apparatuses (S30). , S120).
本発明の生産管理プログラムは、複数の半導体製造装置のうちから選択する選択製造装置を決定し、半導体製品のロットの搬送指示を出力するステップ(S40、S130)と、半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、ランクA品種以外のランクB品種に分類され、ランクA品種の識別子と、ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するステップ(S10、S100)と、複数の半導体製造装置の各々が工程条件においてランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、各半導体製造装置が製造した半導体製品の品質に基づく品質情報とを、各半導体製造装置に対応させて記録するステップ(S20、S110)と、各半導体製造装置のうちで工程条件においてランクA品種を製造することが可能な半導体製造装置のうちから、品質情報に基づいて品質情報が良好な半導体製造装置を、選択製造装置として決定するステップ(S30、S120)とを備える。 The production management program of the present invention determines a selected manufacturing apparatus to be selected from a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses, and outputs a semiconductor product lot conveyance instruction (S40, S130), and the semiconductor product has a quality variation. Are classified into rank A varieties and rank B varieties other than rank A varieties, and the identifiers of rank A varieties and the process conditions of rank A varieties are stored in association with each other (S10, S100); , Information indicating whether or not each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses can manufacture the rank A type in the process conditions, and quality information based on the quality of the semiconductor product manufactured by each semiconductor manufacturing apparatus, A step (S20, S110) of recording corresponding to the semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing a rank A type product under process conditions among the respective semiconductor manufacturing apparatuses. From among the capable semiconductor manufacturing apparatus, and a step (S30, S120) the quality information to determine a good semiconductor manufacturing apparatus, as selected manufacturing apparatus based on the quality information.
本発明によれば、高品質を求められる半導体製品を、当該半導体製品を製造することが可能な複数の半導体製造装置のうちから、半導体製品製造品質の良好な半導体製造装置を指定して製造させることが可能な生産管理システムを提供できる。 According to the present invention, a semiconductor product requiring high quality is manufactured by designating a semiconductor manufacturing apparatus having a good semiconductor product manufacturing quality from among a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses capable of manufacturing the semiconductor product. It is possible to provide a production management system capable of
添付図面を参照して、本発明の実施形態による生産管理システムを、以下に説明する。 A production management system according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
(第1実施形態)
はじめに、本発明の第1実施形態について説明を行う。
(First embodiment)
First, the first embodiment of the present invention will be described.
[構成の説明]
まず、第1実施形態の構成の説明を行う。図1は、本実施形態における生産管理システムの構成を示している。本実施形態の生産管理システムは、事務所端末10と、製造現場端末20と、ホストコンピュータ30と、搬送制御装置40と、半導体製造装置(以下、設備号機)51〜54を備える。
[Description of configuration]
First, the configuration of the first embodiment will be described. FIG. 1 shows the configuration of a production management system in the present embodiment. The production management system of the present embodiment includes an
はじめに、事務所端末10と製造現場端末20の説明を行う。事務所端末10と製造現場端末20は、ホストコンピュータ30へデータ入力を行うための入力端末である。生産管理システムの管理者(以下、管理者)は、事務所端末10を使用して、ホストコンピュータ30へ、ランクA品種の登録と、工程条件コードの登録を行う。また、製造現場の現場担当者(以下、現場担当者)は、製造現場端末20を使用して、ホストコンピュータ30へ、設備号機51〜54のうち製造品質を良好な状態に保っている設備号機(以下、品質良好設備号機)の登録を行う。
First, the
事務所端末10と製造現場端末20は、パーソナルコンピュータ(以下、PC)である。そのため、事務所端末10と製造現場端末20は、図示されない、ROM(Read Only Memory)やHDD(Hard Disk Drive)のような記憶装置により構成され、事務所端末10と製造現場端末20の機能を実現するための処理用プログラムやデータを記録する記憶部と、CPU(Central Processing Unit)やRAM(Rondom Access Memory)から構成され、記憶部に記憶されたプログラムを実行することにより事務所端末10と製造現場端末20の機能を実現する処理部と、キーボードやマウスから構成され、管理者や現場担当者が入力を行うために使用する入力部と、LCD(Liquid Crystal Display)で構成され、入力画面1または入力画面5を表示する表示部と、LAN(Local Area Network)ポートで構成され、ホストコンピュータ30とデータ通信を行う通信部とを備える。なお、本実施形態では、事務所端末10と製造現場端末20は、それぞれ別に構成されている。これを、事務所端末10と製造現場端末20の機能を備える一つのPCで構成しても良い。また、それぞれの入力作業を行う人間も、管理者や現場担当者に限定はしない。
The
図2は、管理者が、事務所端末10において、ランクA品種の品名と工程条件コードの設定を行う入力画面1である。入力画面1は、事務所端末10の記憶部に記憶された処理用プログラムを、処理部が実行することによって、表示部へ表示される。入力画面1は、ランクA品種名の入力欄2と、工程条件コードの入力欄3と、登録ボタン4を含んでいる。管理者は、事務所端末10の入力部から、ランクA品種名を入力欄2へ、工程条件コードを入力欄3へ入力する。管理者は、入力が完了すると登録ボタン4を押下する。事務所端末10の処理部は、登録ボタン4が押下されると、入力されたランクA品種登録データを、通信部を介してホストコンピュータ30へ送信する。これによって、ランクA品種名と工程条件コードとが、ホストコンピュータ30へ登録される。なお、ランクA品種名と、工程条件コードは、管理者によって予め決定されている。
FIG. 2 shows an input screen 1 in which the administrator sets the product name and process condition code of the rank A type in the
なお、ランクA品種は、前述のとおり、品質が一定以上の高品質である必要がある半導体製品である。ここで、高品質を求められる半導体製品の具体的な例は、自動車の電子制御等に用いられる車載品等を指す。 As described above, the rank A product is a semiconductor product that needs to have a high quality of a certain level or higher. Here, a specific example of a semiconductor product for which high quality is required refers to a vehicle-mounted product used for electronic control of an automobile or the like.
また、工程条件とは、その工程で作業する際の作業条件(温度、膜厚、ガスの種類等)の指定と作業環境(作業可能な設備号機)の指定の事であり、工程条件コード配下にこれらのデータを指定する。 In addition, process conditions are the designation of work conditions (temperature, film thickness, gas type, etc.) and the work environment (equipment that can be operated) when working in the process. Specify these data in.
図3は、現場担当者が、設備号機51〜54のうち品質良好設備号機の設定を行う入力画面5である。入力画面5は、製造現場端末20に記憶部に記憶された処理用プログラムを、処理部が実行することによって、表示部へ表示される。入力画面5は、設備号機コードの入力欄6と登録ボタン7を含んでいる。現場担当者は、製造現場端末20の入力部から、設備号機コードを入力欄6へ入力する。現場担当者は、入力が完了すると登録ボタン7を押下する。製造現場端末20の処理部は、登録ボタン7を押下されると、入力された品質良好設備号機登録データを、通信部を介してホストコンピュータ30へ送信する。これによって、設備号機コードが、ホストコンピュータ30へ登録される。
FIG. 3 shows an input screen 5 on which the person in charge of the site sets up a good quality equipment number among the
なお、本実施形態において、設備号機51〜54のうち品質良好設備号機は、現場担当者が予め統計を行う品質に関する統計情報(以下、品質情報)に基づいて決定される。品質良好設備号機であるか否かの判断は、ウェハの欠陥数、工程能力指数、歩留り率といった品質情報に基づいて行う。例えば、ウェハの欠陥数は、各設備号機51〜54において、製造したウェハの欠陥数が一定の閾値以下であるかに基づいて判断を行う。また、工程能力指数は、各設備号機51〜54で製造したウェハの成膜膜圧、配線寸法、電気的特性などの工程内管理特性に基づいて、工程能力指数が一定閾値以上であるかに基づいて判断を行う。さらに、歩留り率は、各設備号機51〜54で製造されたウェハのテスト結果が良好であって、歩留まり率が一定閾値以上であるかといった情報に基づいて判断を行う。あるいは、これらの品質情報を複数組み合わせて判断を行っても良いし、各品質情報に基づいて優先順位を設定し、優先順位順に判断を行っても良い。
In the present embodiment, among the
次に、ホストコンピュータ30の説明を行う。ホストコンピュータ30は、ランクA品種を製造可能な作業号機のうち、品質良好設備号機を決定して、搬送制御装置40へ品質良好設備号機を通知する。ホストコンピュータ30は、事務所端末10から送信された、工程条件コードとランクA品種名を入力する。また、ホストコンピュータ30は、製造現場端末20から品質良好設備号機の設備号機コードを入力する。ホストコンピュータ30は、ある工程条件においてランクA品種を製造可能な作業号機のうちから、品質良好設備号機を決定する。ホストコンピュータ30は、品質良好設備号機によりランクA品種を製造するように、搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。
Next, the
ホストコンピュータ30は、図示されない、ROMやHDDのような記憶装置により構成され、ホストコンピュータ30の機能を実現するための処理用プログラムやデータを記録する記憶部と、CPUやRAMから構成され、記憶部に記憶されたプログラムを実行することによりホストコンピュータ30の機能を実現する処理部と、キーボードやマウスから構成され、管理者が設定を入力するために使用する入力部と、LCDで構成され設定画面を表示する表示部と、LANポートで構成され、事務所端末10、製造現場端末20、及び搬送制御装置40とデータ通信を行う通信部とを備える。
The
記憶部は、ランクA品種名データベース(以下、ランクA品種DB)100と、設備号機データベース(以下、設備号機DB)110とを備える。 The storage unit includes a rank A product name database (hereinafter, rank A product DB) 100 and an equipment number database (hereinafter, equipment number DB) 110.
図4は、ランクA品種DB100を示している。ランクA品種DB100は、工程条件コード欄101、ランクA品種名欄102とを備える。
最上位に記録されているデータを参考に説明を行うと、最上位のデータは、工程条件「XYZ01」において品種名「ABC−12345」はランクA品種である事を示している。つまり、品種名「ABC−12345」は、高品質を要求されているということである。同様に、他の工程条件コードに対応して、ランクA品種名が記録されている。
工程条件コード欄101とランクA品種名欄102は、事務所端末10が送信するデータに基づいて記録される。すなわち、ホストコンピュータ30の処理部は、通信部を介して、事務所端末10から送信されるランクA品種登録データを受信する。ホストコンピュータ30の処理部は、ランクA品種登録データに含まれる、ランクA品種と、対応する工程条件を、記憶部のランクA品種DB100へ記録する。このようにして、ランクA品種と、対応する工程条件が、ランクA品種DB100へ記録される。
FIG. 4 shows the rank A
When the description is made with reference to the data recorded at the highest level, the highest level data indicates that the type name “ABC-12345” is the rank A type in the process condition “XYZ01”. In other words, the product name “ABC-12345” is required to have high quality. Similarly, rank A type names are recorded corresponding to other process condition codes.
The process
次に、図5は、設備号機DB110を示している。設備号機DB110は、設備号機名欄111と、設備号機コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種可否欄114と、状態フラグ欄115とを備える。
設備号機名欄111と、設備号機コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種可否欄114は、管理者によって、予めホストコンピュータ30へ登録されている。すなわち、管理者は、ホストコンピュータ30の入力部から設備号機名欄111と、設備号機コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種可否欄114を入力する。コストコンピュータ30の処理部は、入力された設備号機名欄111と、設備号機コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種可否欄114を、記憶部の設備号機DB110へ記録する。このようにして、設備号機名欄111と、設備号機コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種可否欄114は、管理者によって、予め記憶部の設備号機DB110へ記録されている。
また、状態フラグ欄115は、製造現場端末20が送信するデータに基づいて記録される。すなわち、ホストコンピュータ30の処理部は、通信部を介して、製造現場端末20から送信される品質良好設備号機登録データを受信する。ホストコンピュータ30の処理部は、品質良好設備号機登録データに含まれる、設備号機コードに基づいて、設備号機コードに対応する状態フラグ欄115へフラグを記録する。このようにして、品質良好設備号機が、設備号機DB110へ記録される。
Next, FIG. 5 shows the
The equipment number
Further, the
設備号機名欄111は、設備号機51〜54までに一意に割り当てた名称を記録している。本実施形態において、設備号機51〜54は、それぞれ、「1号機」〜「4号機」までの名称が割り当てられている。設備号機コード欄112は、設備号機51〜54までにユニークに割り当てられた識別番号である。ランクA品種可否欄113は、設備号機51〜54が、ランクA品種を製造可能であるか否かが記録されている。ランクB品種欄114は、設備号機51〜54が、ランクB品種を製造可能であるか否かが記録されている。状態フラグ欄115は、設備号機51〜54のうち品質良好設備号機であるか否かを示している。
なお、図5では、工程条件「XYZ01」に関する設備号機51〜54の状態を記録している。このように、ホストコンピュータ30は、工程条件毎に、対応する設備号機51〜54の状態を記録している。
In the
In addition, in FIG. 5, the state of the equipment numbers 51-54 regarding process condition "XYZ01" is recorded. Thus, the
図5を参照して説明すると、「1号機(設備号機51)」は、設備号機コード「ABC567」を割り当てられており、ランクA品種およびランクB品種ともに製造する事ができない。つまり、「1号機(設備号機51)」は、状態が悪く、あるいは故障などにより、工程条件「XYZ01」の製造作業を行うことができない。次に、「2号機(設備号機52)」は、設備号機コード「BFG453」を割り当てられており、ランクA品種は製造することができないが、ランクB品種は製造することが可能である。つまり、「2号機(設備号機52)」は、ランクA品種の製造作業を行えるほど状態がよくないといえる。次に、「3号機(設備号機53)」は、設備号機コード「JKG682」を割り当てられており、ランクA品種およびランクB品種を共に製造を行うことが可能である。また、「4号機(設備号機54)」は、設備号機コード「PQR101」を割り当てられており、「3号機(設備号機53)」と同様に、ランクA品種およびランクB品種を共に製造を行うことが可能である。
ここで、先に図3を用いて説明を行ったように、現場担当者が、製造現場端末20の入力画面5から、設備号機コード「PQR101」を品質良好設備号機として登録を行う。ホストコンピュータ30の処理部は、品質良好設備号機登録データを、通信部を介して受信し、記憶部の設備号機DB110へ記録する。設備号機コード「PQR101」は、設備号機名「4号機(設備号機54)」に対応している。ホストコンピュータ30の処理部は、設備号機DB110から設備号機コードに対応するレコードを特定し、当該レコードの状態フラグ欄115へ、品質良好設備号機のフラグを記録する。このようにして、図5のように「4号機(設備号機54)」の状態フラグ欄115に「○」が記入される。
ホストコンピュータ30の処理部は、状態フラグ欄115の記録状態を参照して、ランクA品種を製造可能設備号機のうちから、当該工程条件のランクA品種を製造する品質良好設備号機を決定する。本実施形態の場合、ホストコンピュータ30の処理部は、設備号機DB110を検索して、ランクA品種を製造可能な「3号機(設備号機53)」および「4号機(設備号機54)」のうち、状態フラグ欄115に「○」フラグの記録されている「4号機(設備号機54)」にランクA品種を製造させることを決定する。なお、ランクB品種については、製造可能である設備号機である「2号機(設備号機52)」、「3号機(設備号機53)」、および「4号機(設備号機54)」のうち、仕掛りの少ない設備号機を指定して、製造を行う。このようにして、ホストコンピュータ30は、当該工程条件における品質良好設備号機を決定して、品質良好設備号機によりランクA品種を生産するよう、搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。
Referring to FIG. 5, “No. 1 machine (equipment machine No. 51)” is assigned the equipment machine code “ABC567” and cannot be manufactured for both the rank A type and the rank B type. That is, “Unit 1 (Equipment Unit 51)” cannot perform the manufacturing operation of the process condition “XYZ01” due to a bad state or a failure. Next, “Unit No. 2 (Equipment No. 52)” is assigned the equipment No. code “BFG453”, and the Rank A type cannot be manufactured, but the Rank B type can be manufactured. In other words, it can be said that “No. 2 (equipment No. 52)” is not in a good state so that the manufacturing operation of the rank A type can be performed. Next, “Unit No. 3 (Equipment No. 53)” is assigned the equipment No. code “JKG682”, and both Rank A type and Rank B type can be manufactured. In addition, “No. 4 (Equipment No. 54)” is assigned the equipment No. code “PQR101”, and, similarly to “No. 3 (Equipment No. 53)”, both rank A type and rank B type are manufactured. It is possible.
Here, as described above with reference to FIG. 3, the person in charge of the site registers the equipment number code “PQR101” as a good quality equipment number from the input screen 5 of the
The processing unit of the
次に、搬送制御装置40の説明を行う。搬送制御装置40は、ホストコンピュータ30から受信する搬送指示に基づいて、設備号機51〜54のうちの品質良好設備号機へ、ランクA品種のロットを搬送する。
Next, the
次に、設備号機51〜54の説明を行う。設備号機51〜54は、搬送制御装置40から搬送されたロットの製造作業を行う。なお、本実施形態では、設備号機51〜54までの4機を用いて説明を行っているが、より多くの(あるいは少ない)設備号機によって半導体製品の製造が行われる場合がある。
Next, the
以上が、本実施形態における生産管理システムの構成の説明である。 The above is the description of the configuration of the production management system in the present embodiment.
[動作方法の説明]
次に、図6を用いて、本実施形態における生産管理システムの動作方法の説明を行う。図6は、本実施形態の生産管理システムの動作フローを示している。
[Description of operation method]
Next, the operation method of the production management system in the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 shows an operation flow of the production management system of this embodiment.
(ステップS10)
管理者は、事務所端末10を使用して、ランクA品種と、ランクA品種に対応する工程条件の登録を行う。なお、本実施形態において、ランクA品種と、ランクA品種に対応する工程条件は、予め管理者によって決定される。事務所端末10は、ランクA品種登録データをホストコンピュータ30へ送信する。ホストコンピュータ30は、ランクA品種登録データを受信する。ホストコンピュータ30は、ランクA品種登録データに含まれる、ランクA品種と、対応する工程条件を、ランクA品種DB100へ登録する。
(Step S10)
The administrator uses the
(ステップS20)
現場担当者は、製造現場端末20を使用して、品質良好設備号機の登録を行う。なお、本実施形態において、品質良好設備号機は、設備号機51〜54の統計情報に基づいて、予め現場担当者によって決定される。製造現場端末20は、品質良好設備号機登録データを、ホストコンピュータ30へ送信する。ホストコンピュータ30は、品質良好設備号機登録データに含まれる、品質良好設備号機を、設備号機DB110へ記録する。
(Step S20)
The person in charge of the site uses the
(ステップS30)
ホストコンピュータ30は、ある工程条件におけるランクA品種を、ランクA品種DB100から特定する。ホストコンピュータ30は、設備号機DB110を参照して、ランクA品種を製造できる設備号機51〜54のうちから、品質良好設備号機を特定する。
(Step S30)
The
(ステップS40)
ホストコンピュータ30は、品質良好設備号機により、ランクA品種を製造するよう、搬送制御装置40へ、搬送指示を送信する。なお、ホストコンピュータ30は、工程条件毎に、ランクA品種の特定と、品質良好設備号機の特定を行い、搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。
(Step S40)
The
(ステップS50)
搬送制御装置40は、ホストコンピュータ30から搬送指示を受信する。搬送制御装置40は、搬送指示に基づいて、設備号機51〜54のうちの品質良好設備号機へ、ランクA品種のロットを搬送する。設備号機51〜54のうちの品質良好設備号機は、搬送制御装置40から搬送されたロットの製造作業を行う。
(Step S50)
The
以上が、第1実施形態における生産管理システムの動作方法の説明である。 The above is the description of the operation method of the production management system in the first embodiment.
ここまで、第1実施形態の生産管理システムの説明を行ってきた。本実施形態の生産管理システムによれば、ホストコンピュータ30は、事務所管理端末10から登録された工程条件毎のランクA品種を、製造現場端末20から登録された品質良好設備号機で製造を行うよう搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。このように構成することによって、ランクA品種を製造可能な設備号機51〜54のうちから、半導体製品製造品質状態のよい品質良好設備号機を指定することが可能となる。そのため、ランクA品種を、ランクA品種を製造可能な号機のうちで、さらに状態の良い設備号機によって製造を行うことが可能となる。
Up to this point, the production management system of the first embodiment has been described. According to the production management system of the present embodiment, the
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について説明を行う。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described.
[構成の説明]
まず、第2実施形態の構成の説明を行う。図7は、本実施形態における生産管理システムの構成を示している。本実施形態の生産管理システムは、ほぼ第1実施形態と同様である。そのため、第1実施形態と異なる部分を中心に説明を行う。また、第1実施形態と同様の構成には、同様の符号を用いて説明を行う。
[Description of configuration]
First, the configuration of the second embodiment will be described. FIG. 7 shows the configuration of the production management system in this embodiment. The production management system of this embodiment is almost the same as that of the first embodiment. Therefore, the description will be focused on the parts different from the first embodiment. Moreover, the same code | symbol is demonstrated to the structure similar to 1st Embodiment.
本実施形態の生産管理システムは、第1実施形態と同様に、事務所端末10と、ホストコンピュータ30と、搬送制御システム40と、作業号機51〜54を備える。一方、本実施形態の生産管理システムは、製造現場端末20を備えていないことが第1実施形態と異なる。また、本実施形態におけるホストコンピュータ30は、製造号機51〜54から品質情報を取得する。本実施形態における設備号機51〜54は、品質情報の統計処理を行う。品質情報とは、第1実施形態において説明を行った、ウェハの欠陥数、工程能力指数、歩留り率といった情報である。各設備号機51〜54は、それぞれの設備号機51〜54で製造を行った半導体製品に関する品質情報の統計を採って、ホストコンピュータ30へ出力する。ホストコンピュータ30は、設備号機51〜54から品質情報を取得して、設備号機DB110へ記録する。ホストコンピュータ30は、設備号機51〜54から取得する品質情報に基づいて、品質良好設備号機を特定する。このようにすることで、現場担当者は、製造現場端末20を使用して品質良好設備号機を入力する必要がなくなる。
なお、事務所端末10と、搬送制御システム40と、作業号機51〜54は、第1実施形態と同様であるので説明を省略する。
The production management system of this embodiment includes an
In addition, since the
図8は、本実施形態における設備号機DB110を示している。設備号機DB110は、第1実施形態と同様に、製造装置名欄111と、製造装置コード欄112と、ランクA品種可否欄113と、ランクB品種欄114と、状態フラグ欄115とを備える。本実施形態の設備号機DB110における状態フラグ欄115は、設備号機51〜54から取得した品質情報を記録している。図8を参照すると、状態フラグ欄115は、設備号機51〜54における工程能力指数[Cpk]を記録している。ホストコンピュータ30は、この品質情報である工程能力指数に基づいて、品質良好設備号機を特定する。例えば、図8の場合であれば、4号機(設備号機54)が、最も工程能力指数が高い。そのため、ホストコンピュータ30は、4号機(設備号機54)を品質良好設備号機と特定し、ランクA品種を4号機(設備号機54)で製造するように搬送制御装置40へ指示を行う。
FIG. 8 shows the
なお、状態フラグ欄115が、記録する品質情報は、工程能力指数に限らない。前述したように、ウェハの欠陥数や、歩留り率といった値を品質情報として記録しても良いし、複数の品質情報を記録してもよい。同様に、ホストコンピュータ30は、工程能力指数に基づいて、品質良好設備号機を特定することに限定はしない。ホストコンピュータ30は、他の品質情報に基づいて品質良好設備号機を特定しても良いし、複数の品質情報に基づいて、品質良好設備号機を特定しても良い。また、品質良好設備号機は、上述したように、品質情報が最も良好な設備号機としても良いし、品質情報に対する一定の閾値を設けて、当該閾値を超える(あるいは、下回る)設備号機としても良い。さらに、これらの場合に、品質良好設備号機を1台のみ決定する方法に限らず、複数台を選択して決定し、優先順位をつけて半導体製品の製造を行う方法としてもよい。これらの特定方法は、予め管理者、現場担当者によって、ホストコンピュータ30へ登録しておく。
また、本実施形態では、設備号機51〜54が、品質情報の統計を採っているが、これを、別の測定装置を用いて、品質情報の統計を取得して、ホストコンピュータ30へ品質情報を出力してもよい。なお、図示しないが、本実施形態におけるランクA品種DB100は、第1実施形態と同様であるので説明を省略する。
The quality information recorded in the
Moreover, in this embodiment, although the equipment number machines 51-54 have taken the statistics of quality information, the statistics of quality information are acquired using another measuring apparatus, and quality information is sent to the
以上が、本実施形態における生産管理システムの構成の説明である。 The above is the description of the configuration of the production management system in the present embodiment.
[動作方法の説明]
次に、図9を用いて、本実施形態における生産管理システムの動作方法の説明を行う。図9は、本実施形態の生産管理システムの動作フローを示している。
[Description of operation method]
Next, the operation method of the production management system in this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 shows an operation flow of the production management system of this embodiment.
(ステップS100)
管理者は、事務所端末10を使用して、ランクA品種と、ランクA品種に対応する工程条件の登録を行う。本ステップは、前述のステップS10と同様である。
(Step S100)
The administrator uses the
(ステップS110)
各設備号機51〜54は、品質情報の統計を取得する。設備号機51〜54は、ホストコンピュータ30へ品質情報を送信する。ホストコンピュータ30は、設備号機51〜54から品質情報を取得して、設備号機DB110へ記録する。なお、設備号機51〜54における品質情報を、別の測定装置によって統計を採って、ホストコンピュータ30へ送信する場合がある。
(Step S110)
Each equipment number 51-54 acquires quality information statistics. The equipment numbers 51 to 54 transmit quality information to the
(ステップS120)
ホストコンピュータ30は、設備号機DB110の状態フラグ欄115に記録された品質情報を参照して、ランクA品種を製造できる設備号機のうちから、品質良好設備号機を特定する。なお、状態フラグ欄115は、複数の品質情報を記録している場合がある。その場合に、ホストコンピュータ30は、複数の品質情報に基づいて、品質良好設備号機を特定する場合がある。
(Step S120)
The
(ステップS130)
ホストコンピュータ30は、品質良好設備号機により、ランクA品種を製造するよう、搬送制御装置40へ、搬送指示を送信する。なお、ホストコンピュータ30は、工程条件毎に、品質良好設備号機の特定を行い、搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。
(Step S130)
The
(ステップS140)
搬送制御装置40は、ホストコンピュータ30から搬送指示を受信する。搬送制御装置40は、搬送指示に基づいて、設備号機51〜54のうちの品質良好設備号機へ、ランクA品種のロットを搬送する。次に、設備号機51〜54の説明を行う。設備号機51〜54は、搬送制御装置40から搬送されたロットの製造作業を行う。
(Step S140)
The
以上が、第2実施形態における生産管理システムの動作方法の説明である。 The above is the description of the operation method of the production management system in the second embodiment.
ここまで、第2実施形態の生産管理システムの説明を行ってきた。本実施形態の生産管理システムによれば、設備号機51〜54は、各設備号機51〜54における品質情報の統計を取得して、ホストコンピュータ30へ送信する。ホストコンピュータ30は、設備号機51〜54の品質情報を設備号機DB110へ記録して、品質情報に基づいて、品質良好設備号機を特定する。ホストコンピュータ30は、ランクA品種を品質良好設備号機で製造を行うよう搬送制御装置40へ搬送指示を送信する。このように構成することによって、ホストコンピュータ30は、品質情報をリアルタイムに反映することができるため、より適格に品質良好設備号機の特定を行うことができる。また、現場担当者は、品質良好設備号機の登録を行わなくともよくなるため省力化が図れる。
Up to this point, the production management system of the second embodiment has been described. According to the production management system of the present embodiment, the
以上、実施の形態を参照して本発明を説明してきたが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更を行うことができる。また、各実施形態は、独立して実現するに限らない。各実施形態は、相互に組み合わせて実施することも可能である。 The present invention has been described above with reference to the embodiment, but the present invention is not limited to the above embodiment. Various changes that can be understood by those skilled in the art can be made to the configuration and details of the present invention within the scope of the present invention. Each embodiment is not limited to being realized independently. Each embodiment can also be implemented in combination with each other.
1 入力画面
2 入力欄
3 入力欄
4 登録ボタン
5 入力画面
6 入力欄
7 登録ボタン
10 事務所端末
20 製造現場端末
30 ホストコンピュータ
40 搬送制御装置
51 設備号機(1号機)
52 設備号機(2号機)
53 設備号機(3号機)
54 設備号機(4号機)
100 ランクA品種DB
101 工程条件コード欄101
102 ランクA品種名102
110 設備号機DB
111 設備号機名欄
112 設備号機コード欄
113 ランクA品種可否欄
114 ランクB品種可否欄
115 状態フラグ欄
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Input screen 2 Input field 3 Input field 4 Registration button 5 Input screen 6 Input field 7
52 Equipment No.2 (No.2)
53 Equipment Unit (Unit 3)
54 Equipment No. 4
100 rank A variety DB
101 Process
102 Rank
110 Equipment Unit DB
111
Claims (10)
前記搬送指示に基づいて、前記選択製造装置へ半導体製品のロットを搬送する搬送制御装置と
を備え、
前記半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、前記ランクA品種以外の前記ランクB品種に分類され、
前記ホストコンピュータは、
前記ランクA品種の識別子と、前記ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するランクA品種DBと、
前記複数の半導体製造装置の各々が前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、前記各半導体製造装置が製造した前記半導体製品の前記品質に基づく品質情報とを、前記各半導体製造装置に対応させて記録する設備号機DBと
を具備し、
前記各半導体製造装置のうちで前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能な前記半導体製造装置のうちから、前記品質情報に基づいて前記品質情報が良好な半導体製造装置を、前記選択製造装置として決定する
生産管理システム。 A host computer that determines a selected manufacturing device from a plurality of semiconductor manufacturing devices and outputs a conveyance instruction;
A transport control device for transporting a lot of semiconductor products to the selected manufacturing device based on the transport instruction;
The semiconductor products are classified into rank A varieties for which variation in quality should be kept below a certain level, and rank B varieties other than the rank A varieties,
The host computer
A rank A type DB for storing the identifier of the rank A type and the process conditions of the rank A type in association with each other;
Information indicating whether each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses can manufacture the rank A product under the process conditions, and quality based on the quality of the semiconductor product manufactured by each semiconductor manufacturing apparatus Equipment number DB that records information corresponding to each semiconductor manufacturing apparatus, and
Among the semiconductor manufacturing apparatuses capable of manufacturing the rank A type in the process conditions among the semiconductor manufacturing apparatuses, select the semiconductor manufacturing apparatus with good quality information based on the quality information. Production management system determined as a manufacturing device.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置におけるウェハの欠陥数、工程能力指数、歩留り率のうちのいずれか、または複数に基づいており、
前記ホストコンピュータは、前記品質情報にそれぞれ定められた一定の閾値に基づいて、前記各半導体設備装置のうち前記閾値を超える半導体製造装置、あるいは前記品質情報のうちで最も良好な値を示す半導体製造装置を、前記品質良好製造装置と決定する
生産管理システム。 The production management system according to claim 1,
The quality information is based on one or more of the number of wafer defects, the process capability index, the yield rate in each of the semiconductor manufacturing apparatuses,
The host computer is a semiconductor manufacturing device that exceeds the threshold value among the semiconductor equipment devices, or a semiconductor manufacturing device that exhibits the best value among the quality information, based on a certain threshold value defined in the quality information. A production management system that determines an apparatus as the manufacturing apparatus with good quality.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置において統計が採られており、
前記ホストコンピュータは、前記各半導体製造装置から前記品質情報を取得する
生産管理システム。 The production management system according to claim 2,
The quality information is statistics in each semiconductor manufacturing apparatus,
The host computer acquires the quality information from each semiconductor manufacturing apparatus.
前記搬送指示に基づいて、前記選択製造装置へ半導体製品のロットを搬送するステップと、
前記半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、前記ランクA品種以外の前記ランクB品種に分類され、
前記ランクA品種の識別子と、前記ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するステップと、
前記複数の半導体製造装置の各々が前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、前記各半導体製造装置が製造した前記半導体製品の前記品質に基づく品質情報とを、前記各半導体製造装置に対応させて記録するステップと、
前記各半導体製造装置のうちで前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能な前記半導体製造装置のうちから、前記品質情報に基づいて前記品質情報が良好な半導体製造装置を、前記選択製造装置として決定するステップと
を備える生産管理方法。 Determining a selected manufacturing device from a plurality of semiconductor manufacturing devices and outputting a transport instruction;
A step of transporting a lot of semiconductor products to the selective manufacturing apparatus based on the transport instruction;
The semiconductor products are classified into rank A varieties for which variation in quality should be kept below a certain level, and rank B varieties other than the rank A varieties,
Storing the identifier of the rank A product and the process condition of the rank A product in association with each other;
Information indicating whether each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses can manufacture the rank A product under the process conditions, and quality based on the quality of the semiconductor product manufactured by each semiconductor manufacturing apparatus Recording information corresponding to each semiconductor manufacturing apparatus;
Among the semiconductor manufacturing apparatuses capable of manufacturing the rank A type in the process conditions among the semiconductor manufacturing apparatuses, select the semiconductor manufacturing apparatus with good quality information based on the quality information. A production management method comprising: determining as a manufacturing apparatus.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置におけるウェハの欠陥数、工程能力指数、歩留り率のうちのいずれか、または複数であり、
選択製造装置として決定するステップは、
前記品質情報にそれぞれ定められた一定の閾値に基づいて、前記各半導体設備装置のうち前記閾値を超えた半導体製造装置、あるいは前記品質情報のうちで最も良好な値を示す半導体製造装置を前記選択製造装置と決定するステップ
を含む生産管理方法。 The production management method according to claim 5,
The quality information is one or more of the number of wafer defects, the process capability index, the yield rate in each of the semiconductor manufacturing apparatuses,
The step of determining as the selective manufacturing apparatus is:
Based on a certain threshold value respectively defined in the quality information, the semiconductor manufacturing device that exceeds the threshold value among the semiconductor facility devices or the semiconductor manufacturing device that shows the best value among the quality information is selected. A production management method including a step of determining a manufacturing device.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置において統計が採られており、
前記各半導体製造装置から前記品質情報を取得するステップをさらに備える
生産管理方法。 The production management method according to claim 6,
The quality information is statistics in each semiconductor manufacturing apparatus,
A production management method further comprising the step of acquiring the quality information from each of the semiconductor manufacturing apparatuses.
前記半導体製品は、品質のばらつきを一定以下に抑えるべきランクA品種と、前記ランクA品種以外の前記ランクB品種に分類され、
前記ランクA品種の識別子と、前記ランクA品種の工程条件とを対応させて記憶するステップと、
前記複数の半導体製造装置の各々が前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能であるか否かを示す情報と、前記各半導体製造装置が製造した前記半導体製品の前記品質に基づく品質情報とを、前記各半導体製造装置に対応させて記録するステップと、
前記各半導体製造装置のうちで前記工程条件において前記ランクA品種を製造することが可能な前記半導体製造装置のうちから、前記品質情報に基づいて前記品質情報が良好な半導体製造装置を、前記選択製造装置として決定するステップと
を備える生産管理プログラム。 Determining a selected manufacturing device to be selected from a plurality of semiconductor manufacturing devices, and outputting a lot product semiconductor transport instruction;
The semiconductor products are classified into rank A varieties for which variation in quality should be kept below a certain level, and rank B varieties other than the rank A varieties,
Storing the identifier of the rank A product and the process condition of the rank A product in association with each other;
Information indicating whether each of the plurality of semiconductor manufacturing apparatuses can manufacture the rank A product under the process conditions, and quality based on the quality of the semiconductor product manufactured by each semiconductor manufacturing apparatus Recording information corresponding to each semiconductor manufacturing apparatus;
Among the semiconductor manufacturing apparatuses capable of manufacturing the rank A type in the process conditions among the semiconductor manufacturing apparatuses, select the semiconductor manufacturing apparatus with good quality information based on the quality information. A production management program comprising the steps of determining as a manufacturing device.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置におけるウェハの欠陥数、工程能力指数、歩留り率のうちのいずれか、または複数であり、
選択製造装置として決定するステップは、
前記品質情報にそれぞれ定められた一定の閾値に基づいて、前記各半導体設備装置のうち前記閾値を超えた半導体製造装置、あるいは前記品質情報のうちで最も良好な値を示す半導体製造装置を前記選択製造装置と決定するステップ
を含む生産管理プログラム。 The production management program according to claim 8,
The quality information is one or more of the number of wafer defects, the process capability index, the yield rate in each of the semiconductor manufacturing apparatuses,
The step of determining as the selective manufacturing apparatus is:
Based on a certain threshold value respectively defined in the quality information, the semiconductor manufacturing device that exceeds the threshold value among the semiconductor facility devices or the semiconductor manufacturing device that shows the best value among the quality information is selected. A production management program that includes the step of determining a manufacturing device.
前記品質情報は、前記各半導体製造装置において統計が採られており、
前記各半導体製造装置から前記品質情報を取得するステップをさらに備える
生産管理プログラム。 The production management program according to claim 9,
The quality information is statistics in each semiconductor manufacturing apparatus,
A production management program further comprising the step of acquiring the quality information from each of the semiconductor manufacturing apparatuses.
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