JP2010027451A - Organic el display device and manufacturing method thereof - Google Patents

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智 井上
Hiroshi Sugimoto
宏 杉本
Hidekane Ogata
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL display device that can be efficiently manufactured at low cost and has excellent display quality, and to provide a manufacturing method thereof. <P>SOLUTION: The organic EL display device includes: a first electrode; an organic EL layer formed on the first electrode; a second electrode that is formed on the organic EL layer to have a smaller area than the lower first electrode; a sealing film that is formed to cover the second electrode and formed with a contact hole that reaches the second electrode; and a conductive film that is formed on the sealing film to be continuous with the second electrode via the contact hole. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an organic EL (electroluminescence) display device and a manufacturing method thereof.

次世代ディスプレイとして、有機ELディスプレイが近年実用化されている。有機ELディスプレイは、第1電極(陽極)と第2電極(陰極)との間に正孔輸送層、発光層、及び、電子輸送層等が積層されて構成され、複数の有機EL層を備えている。第1電極と第2電極との間に電流を流すことにより、その間に挟まれた発光層が電流に応じた強度で発光を示す。第1電極及び第2電極のいずれか、又は、両電極の形状を工夫することで、画像等を表示できるディスプレイを構成できる。一般的に、第1電極を画素に応じてドットマトリクス状に形成し、第2電極をベタパターンとすることにより、有機ELディスプレイを構成することがある。また、第1電極と第2電極とを複数のストライプ状に形成し、それらを互いに直交させて、その交点で画素を形成することにより、有機ELディスプレイを構成することもある。   In recent years, organic EL displays have been put into practical use as next-generation displays. The organic EL display is configured by laminating a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and the like between a first electrode (anode) and a second electrode (cathode), and includes a plurality of organic EL layers. ing. By passing a current between the first electrode and the second electrode, the light emitting layer sandwiched between them emits light with an intensity corresponding to the current. A display capable of displaying an image or the like can be configured by devising the shape of either the first electrode or the second electrode, or both electrodes. In general, an organic EL display may be configured by forming a first electrode in a dot matrix according to a pixel and forming a second pattern as a second electrode. Further, the organic EL display may be configured by forming the first electrode and the second electrode in a plurality of stripes, making them perpendicular to each other, and forming a pixel at the intersection.

このような構成の有機ELディスプレイは、画素内で第1電極と第2電極とが互いに接触すると、電気的短絡が発生してしまい、ディスプレイの表示品位が低下するという問題が生じる。このため、一般的に、第1電極のパターン端部等には絶縁性のエッジカバーが設けられており、これにより、第1電極と第2電極との接触を抑制している。   In the organic EL display having such a configuration, when the first electrode and the second electrode are in contact with each other in the pixel, an electrical short circuit occurs, which causes a problem that the display quality of the display is deteriorated. For this reason, in general, an insulating edge cover is provided at the pattern end portion or the like of the first electrode, thereby suppressing contact between the first electrode and the second electrode.

また、第1電極と第2電極との電気的短絡防止技術として、例えば、特許文献1には、基板の上部に具備され、相互絶縁されるように対向された少なくとも二つの電極を具備したキャパシターにおいて、電極の中で上部に位置した電極が下部に位置した電極よりその面積が小さく具備されたものが開示されている。
特開2005-159290号公報
Further, as a technique for preventing an electrical short circuit between the first electrode and the second electrode, for example, Patent Document 1 discloses a capacitor that is provided on an upper part of a substrate and includes at least two electrodes facing each other so as to be insulated from each other. In US Pat. No. 6,057,836, an electrode located in the upper part has a smaller area than an electrode located in the lower part.
JP 2005-159290 A

しかしながら、上記一般的な有機ELディスプレイのように、第1電極の端部等に絶縁性のエッジカバーを設けると、その分、製造コストが上がり、さらに生産時のスループット低下の要因ともなる。   However, if an insulating edge cover is provided at the end portion of the first electrode as in the above-described general organic EL display, the manufacturing cost is increased correspondingly, and this causes a reduction in throughput during production.

また、特許文献1のように、単に第2電極を第1電極より小面積に形成し、第2電極とのコンタクト取出しパターンを第1電極パターンと重ねて形成し、外部の回路と第2電極とを接続すると、第1電極パターン周縁と同取出しパターンが重なる部分で短絡する可能性が高くなり、表示品位に問題が生じる。   Further, as in Patent Document 1, the second electrode is simply formed in a smaller area than the first electrode, and the contact extraction pattern with the second electrode is formed so as to overlap the first electrode pattern, and the external circuit and the second electrode are formed. Is connected, the possibility of short-circuiting at the portion where the extraction pattern overlaps with the periphery of the first electrode pattern is increased, which causes a problem in display quality.

本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、製造コスト及び製造効率が良好で、優れた表示品位を備えた有機EL表示装置及びその製造方法を提供することである。   The present invention has been made in view of such various points, and an object of the present invention is to provide an organic EL display device having excellent manufacturing quality and manufacturing efficiency and excellent display quality, and a manufacturing method thereof. That is.

本発明に係る有機EL表示装置は、第1電極と、第1電極上に形成された有機EL層と、有機EL層上に形成され、下方の第1電極より面積が小さい第2電極と、第2電極を覆うように設けられ、第2電極まで到達するコンタクトホールが形成された封止膜と、封止膜上に形成され、コンタクトホールを介して第2電極と導通する導電膜と、を備えたことを特徴とする。   An organic EL display device according to the present invention includes a first electrode, an organic EL layer formed on the first electrode, a second electrode formed on the organic EL layer and having a smaller area than the first electrode below, A sealing film provided to cover the second electrode and having a contact hole reaching the second electrode; a conductive film formed on the sealing film and electrically connected to the second electrode through the contact hole; It is provided with.

また、本発明に係る有機EL表示装置は、第1電極と第2電極とでマトリクス状に複数配置された画素領域が規定されており、封止膜のコンタクトホールは、各画素領域内に複数形成されていてもよい。   In the organic EL display device according to the present invention, a plurality of pixel regions arranged in a matrix with the first electrode and the second electrode are defined, and a plurality of contact holes for the sealing film are formed in each pixel region. It may be formed.

さらに、本発明に係る有機EL表示装置は、第1電極の下方には、絶縁性基板と、絶縁性基板上に形成され、第1電極に電気的に接続されたスイッチング素子と、を備えるスイッチング素子基板が設けられていてもよい。   Furthermore, the organic EL display device according to the present invention includes a switching device including an insulating substrate and a switching element formed on the insulating substrate and electrically connected to the first electrode below the first electrode. An element substrate may be provided.

また、本発明に係る有機EL表示装置は、有機EL層が、コーヒーステイン部を備えていてもよい。ここで、コーヒーステイン部とは、液滴を滴下した際に、蒸発が進むにつれて、その液滴のエッジ部分付近の濃度が高くなる(いわゆるコーヒーステイン現象)ことで生じる、乾燥後の液滴の盛り上がったエッジ部分をいう。ここで、乾燥後の液滴のコーヒーステイン部の内側は、陥没した形状となっている。   In the organic EL display device according to the present invention, the organic EL layer may include a coffee stain portion. Here, the coffee stain part is a drop of a droplet after drying, which is caused when the concentration of the vicinity of the edge of the droplet increases as the evaporation proceeds (so-called coffee stain phenomenon). A raised edge. Here, the inside of the coffee stain portion of the dried droplet has a depressed shape.

本発明に係る有機EL表示装置の製造方法は、第1電極を準備する第1工程と、第1電極上に有機EL層を形成する第2工程と、有機EL層上に、下方の第1電極より面積が小さい第2電極を形成する第3工程と、第2電極を覆うように封止膜を形成する第4工程と、封止膜に、第2電極まで到達するコンタクトホールを形成する第5工程と、封止膜上に、コンタクトホールを介して第2電極と導通する導電膜を形成する第6工程と、を備えたことを特徴とする。   The method for manufacturing an organic EL display device according to the present invention includes a first step of preparing a first electrode, a second step of forming an organic EL layer on the first electrode, and a lower first on the organic EL layer. A third step of forming a second electrode having a smaller area than the electrode; a fourth step of forming a sealing film so as to cover the second electrode; and forming a contact hole reaching the second electrode in the sealing film. A fifth step and a sixth step of forming a conductive film electrically connected to the second electrode through the contact hole on the sealing film are provided.

また、本発明に係る有機EL表示装置の製造方法は、第2工程で、第1電極上にウェット塗布法を用いてコーヒーステイン部を備えた有機EL層を形成してもよい。   Moreover, the manufacturing method of the organic electroluminescent display apparatus which concerns on this invention may form the organic electroluminescent layer provided with the coffee stain part on the 1st electrode using the wet coating method at a 2nd process.

本発明によれば、製造コスト及び製造効率が良好で、優れた表示品位を備えた有機EL表示装置及びその製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, manufacturing cost and manufacturing efficiency are favorable, and the organic EL display apparatus provided with the outstanding display quality and its manufacturing method can be provided.

以下、本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の構成及びその製造方法を、図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。   Hereinafter, a configuration of an organic EL display device according to an embodiment of the present invention and a manufacturing method thereof will be described in detail based on the drawings. The present invention is not limited to the following embodiment.

(実施形態1)
(有機EL表示装置10の構成)
図1は、本発明の実施形態1に係る有機EL表示装置10の平面図である。図2は、図1におけるA−A’線断面図であり、スイッチング素子である薄膜トランジスタ(TFT)11上に形成された有機EL素子12を示している。図1では、ゲートドライバー等の周辺回路部、及び、導電膜の取り出し端子部は省略している。また、点表記で略しているが、有機EL表示装置10において、有機EL素子12の第1電極13と第2電極14とで規定された画素領域15が、マトリクス状に複数配置されている。
(Embodiment 1)
(Configuration of the organic EL display device 10)
FIG. 1 is a plan view of an organic EL display device 10 according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA ′ in FIG. 1 and shows an organic EL element 12 formed on a thin film transistor (TFT) 11 as a switching element. In FIG. 1, peripheral circuit portions such as a gate driver and a conductive film extraction terminal portion are omitted. In addition, although omitted in dot notation, in the organic EL display device 10, a plurality of pixel regions 15 defined by the first electrode 13 and the second electrode 14 of the organic EL element 12 are arranged in a matrix.

有機EL表示装置10は、TFT基板16(スイッチング素子基板)と、TFT基板16上に所定配列で(例えば、マトリクス状に)配設された複数の第1電極13(陽極)と、複数の第1電極13のそれぞれの上に形成された有機EL層17と、有機EL層17上に形成された第2電極14と、第2電極14を覆うように形成された封止膜18と、封止膜18上に形成された導電膜19と、を備え、これらが不活性ガス雰囲気下で封止樹脂及び封止ガラス(それぞれ不図示)により封止されている。   The organic EL display device 10 includes a TFT substrate 16 (switching element substrate), a plurality of first electrodes 13 (anodes) arranged in a predetermined arrangement (for example, in a matrix) on the TFT substrate 16, and a plurality of first electrodes. An organic EL layer 17 formed on each of the first electrodes 13, a second electrode 14 formed on the organic EL layer 17, a sealing film 18 formed so as to cover the second electrode 14, and a sealing A conductive film 19 formed on the stop film 18, and these are sealed with a sealing resin and a sealing glass (not shown) in an inert gas atmosphere.

TFT基板16は、絶縁性基板20と、所定配列で配設された複数の第1電極13のそれぞれに電気的に接続されたTFT11と、TFT11に電気的に接続されたソース電極及びゲート電極と、TFT11を覆う平坦化膜21(層間絶縁膜)とを備えている。   The TFT substrate 16 includes an insulating substrate 20, a TFT 11 electrically connected to each of the plurality of first electrodes 13 arranged in a predetermined arrangement, and a source electrode and a gate electrode electrically connected to the TFT 11. And a planarizing film 21 (interlayer insulating film) covering the TFT 11.

絶縁性基板20は、有機EL素子12の機械的耐久性を担保する機能、及び、有機EL層17に外部から水分や酸素が進入することを抑制する機能を有している。基板材料としては、ガラスや石英等の無機材料、ポリエチレンテレフタレート等のプラスティック、及び、アルミナ等のセラミックス等を用いることができる。また、アルミニウムや鉄等の金属基板の一方面をSiO(シリカゲル)や有機絶縁性材料等の絶縁材料でコートした基板、又は、アルミニウムや鉄等の金属基板の表面に陽極酸化等の方法で絶縁化処理を施した基板等であっても構わない。尚、有機EL素子12が絶縁性基板20側、つまり素子形成面とは逆側の面より、有機EL素子12の発光を取り出すボトムエミッション方式である場合は、絶縁性基板20はガラスやプラスティック等の光透過率の高い材料により構成することが好ましい。 The insulating substrate 20 has a function of ensuring the mechanical durability of the organic EL element 12 and a function of suppressing water and oxygen from entering the organic EL layer 17 from the outside. As the substrate material, inorganic materials such as glass and quartz, plastics such as polyethylene terephthalate, ceramics such as alumina, and the like can be used. Also, one side of a metal substrate such as aluminum or iron is coated with an insulating material such as SiO 2 (silica gel) or an organic insulating material, or the surface of a metal substrate such as aluminum or iron is anodized. An insulating substrate may be used. In the case where the organic EL element 12 is a bottom emission type in which light emission of the organic EL element 12 is extracted from the insulating substrate 20 side, that is, the surface opposite to the element forming surface, the insulating substrate 20 is made of glass, plastic, or the like. It is preferable to use a material having a high light transmittance.

第1電極13(陽極)は、有機EL層17にホール(正孔)を注入する機能を有する。第1電極13は、仕事関数の大きな材料で形成するのがより好ましい。仕事関数の大きな材料により第1電極13を形成することにより、有機EL層17への正孔注入効率を向上させることができるからである。   The first electrode 13 (anode) has a function of injecting holes into the organic EL layer 17. The first electrode 13 is more preferably formed of a material having a large work function. This is because the hole injection efficiency into the organic EL layer 17 can be improved by forming the first electrode 13 with a material having a large work function.

第1電極13の構成材料としては、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、金(Au)、カルシウム(Ca)、チタン(Ti)、イットリウム(Y)、ナトリウム(Na)、ルテニウム(Ru)、マンガン(Mn)、インジウム(In)、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)、イッテルビウム(Yb)、フッ化リチウム(LiF)等の金属材料が挙げられる。また、マグネシウム(Mg)/銅(Cu)、マグネシウム(Mg)/銀(Ag)、ナトリウム(Na)/カリウム(K)、アスタチン(At)/酸化アスタチン(AtO)、リチウム(Li)/アルミニウム(Al)、リチウム(Li)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)、又はフッ化リチウム(LiF)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)等の合金であっても構わない。さらに、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、又はインジウムスズ酸化物(ITO)やインジウム亜鉛酸化物(IZO)等の導電性酸化物等であってもよい。 As the constituent material of the first electrode 13, silver (Ag), aluminum (Al), vanadium (V), cobalt (Co), nickel (Ni), tungsten (W), gold (Au), calcium (Ca), Titanium (Ti), Yttrium (Y), Sodium (Na), Ruthenium (Ru), Manganese (Mn), Indium (In), Magnesium (Mg), Lithium (Li), Ytterbium (Yb), Lithium fluoride (LiF) ) And the like. Further, magnesium (Mg) / copper (Cu), magnesium (Mg) / silver (Ag), sodium (Na) / potassium (K), astatine (At) / oxidized astatine (AtO 2 ), lithium (Li) / aluminum An alloy such as (Al), lithium (Li) / calcium (Ca) / aluminum (Al), or lithium fluoride (LiF) / calcium (Ca) / aluminum (Al) may be used. Furthermore, tin oxide (SnO), zinc oxide (ZnO), or conductive oxides such as indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO) may be used.

また、第1電極13は、上記材料からなる層を複数積層して形成してもよい。仕事関数の大きな材料としては、インジウムスズ酸化物(ITO)やインジウム亜鉛酸化物(IZO)等が挙げられる。また、ボトムエミッション方式である場合は、インジウムスズ酸化物(ITO)等の光透過性の材料により形成されていることが好ましい。この構成によれば、有機EL層17からの光の第1電極13による吸収率を低くすることができ、高い輝度を実現することができる。一方、膜形成面側から有機EL層17からの発光を取り出すトップエミッション方式である場合は、第1電極13はアルミニウム(Al)等の光反射性材料により形成されていることが好ましい。この構成によれば、有機EL層17から陽極側に向けて出射された光が第1電極13によって透光性を有する第2電極14(陰極)側に高い反射率で反射される。そのため、有機EL層17からの光の出射光率を高くすることができ、高い輝度を実現することができる。   The first electrode 13 may be formed by stacking a plurality of layers made of the above materials. Examples of the material having a large work function include indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO). Further, in the case of the bottom emission method, it is preferably formed of a light transmissive material such as indium tin oxide (ITO). According to this configuration, the absorption rate of the light from the organic EL layer 17 by the first electrode 13 can be lowered, and high luminance can be realized. On the other hand, in the case of a top emission method in which light emission from the organic EL layer 17 is extracted from the film formation surface side, the first electrode 13 is preferably formed of a light reflective material such as aluminum (Al). According to this configuration, the light emitted from the organic EL layer 17 toward the anode side is reflected by the first electrode 13 toward the second electrode 14 (cathode) having translucency with high reflectance. Therefore, the light emission rate of light from the organic EL layer 17 can be increased, and high luminance can be realized.

有機EL層17は、第1電極13上に形成されており、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、及び、電子注入層(いずれも不図示)が、この順に積層されて構成されている。有機EL層17は、下方の第1電極13より小さい面積で形成されていてもよく、大きい面積で第1電極13を覆うように形成されていてもよい。なお、本発明の実施形態では、第1電極13の端部上にエッジカバーが形成されていないが、第1電極13の端部に電圧がかからないため、素子破壊等の問題が生じることはない。   The organic EL layer 17 is formed on the first electrode 13, and a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer (all not shown) are stacked in this order. Has been configured. The organic EL layer 17 may be formed with a smaller area than the lower first electrode 13 or may be formed so as to cover the first electrode 13 with a larger area. In the embodiment of the present invention, the edge cover is not formed on the end portion of the first electrode 13, but no voltage is applied to the end portion of the first electrode 13, so that problems such as element destruction do not occur. .

正孔注入層は、陽極バッファ層とも呼ばれ、第1電極13(陽極)と有機EL層17とのエネルギーレベルを近づけ、第1電極13から有機EL層17への正孔注入効率を改善するために用いられる。正孔注入層材料としては、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体などを用いることができる。   The hole injection layer is also referred to as an anode buffer layer, and brings the energy levels of the first electrode 13 (anode) and the organic EL layer 17 closer to improve the hole injection efficiency from the first electrode 13 to the organic EL layer 17. Used for. As the hole injection layer material, use of triazole derivatives, oxadiazole derivatives, imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives, phenylenediamine derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, stilbene derivatives, etc. Can do.

正孔輸送層は、第1電極13から有機EL層17への正孔の輸送効率を向上させる機能を有する。正孔輸送層材料としては、ポルフィリン誘導体、芳香族第三級アミン化合物、スチリルアミン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリ−p−フェニレンビニレン、ポリシラン、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体、ピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミン置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、水素化アモルファスシリコン、水素化アモルファス炭化シリコン、硫化亜鉛、又は、セレン化亜鉛等を用いることができる。   The hole transport layer has a function of improving the efficiency of transporting holes from the first electrode 13 to the organic EL layer 17. As the hole transport layer material, porphyrin derivatives, aromatic tertiary amine compounds, styrylamine derivatives, polyvinylcarbazole, poly-p-phenylenevinylene, polysilane, triazole derivatives, oxadiazole derivatives, imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives , Pyrazoline derivatives, pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, arylamine derivatives, amine-substituted chalcone derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, stilbene derivatives, hydrogenated amorphous silicon, hydrogenated amorphous silicon carbide, zinc sulfide, Alternatively, zinc selenide or the like can be used.

発光層は、第1電極13(陽極)から注入された正孔と第2電極14(陰極)から注入された電子とを再結合させて光を出射させる機能を有する。発光層材料としては、金属オキシノイド化合物[8−ヒドロキシキノリン金属錯体]、ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、ジフェニルエチレン誘導体、ビニルアセトン誘導体、トリフェニルアミン誘導体、ブタジエン誘導体、クマリン誘導体、ベンズオキサゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、ベンズイミダゾール誘導体、チアジアゾール誘導体、ベンズチアゾール誘導体、スチリル誘導体、スチリルアミン誘導体、ビススチリルベンゼン誘導体、トリススチリルベンゼン誘導体、ペリレン誘導体、ペリノン誘導体、アミノピレン誘導体、ピリジン誘導体、ローダミン誘導体、アクイジン誘導体、フェノキサゾン、キナクリドン誘導体、ルブレン、ポリ−p−フェニレンビニレン、又は、ポリシラン等を用いることができる。   The light emitting layer has a function of emitting light by recombining holes injected from the first electrode 13 (anode) and electrons injected from the second electrode 14 (cathode). As the light emitting layer material, metal oxinoid compound [8-hydroxyquinoline metal complex], naphthalene derivative, anthracene derivative, diphenylethylene derivative, vinylacetone derivative, triphenylamine derivative, butadiene derivative, coumarin derivative, benzoxazole derivative, oxadiazole Derivatives, oxazole derivatives, benzimidazole derivatives, thiadiazole derivatives, benzthiazole derivatives, styryl derivatives, styrylamine derivatives, bisstyrylbenzene derivatives, tristyrylbenzene derivatives, perylene derivatives, perinone derivatives, aminopyrene derivatives, pyridine derivatives, rhodamine derivatives, aquidin derivatives , Phenoxazone, quinacridone derivative, rubrene, poly-p-phenylene vinylene, or polysilane It is possible.

電子輸送層は、電子を発光層まで効率良く移動させる役割をもつ。電子輸送材料としては、例えば、有機化合物としてオキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、ベンゾキノン誘導体、ナフトキノン誘導体、アントラキノン誘導体、テトラシアノアントラキノジメタン誘導体、ジフェノキノン誘導体、フルオレノン誘導体、シロール誘導体、金属オキシノイド化合物等を用いることができる。   The electron transport layer has a role of efficiently transferring electrons to the light emitting layer. Examples of the electron transport material include organic compounds such as oxadiazole derivatives, triazole derivatives, benzoquinone derivatives, naphthoquinone derivatives, anthraquinone derivatives, tetracyanoanthraquinodimethane derivatives, diphenoquinone derivatives, fluorenone derivatives, silole derivatives, metal oxinoid compounds, and the like. Can be used.

電子注入層は、第2電極14と有機EL層17とのエネルギーレベルを近づけ、第2電極14から有機EL層17へ電子が注入される効率を向上させるために用いられ、これにより有機EL素子12の駆動電圧を下げることが可能となる。電子注入層は、陰極バッファ層とも呼ばれる。電子注入材料としては、フッ化リチウム(LiF)、フッ化マグネシウム(MgF)、フッ化カルシウム(CaF),フッ化ストロンチウム(SrF),フッ化バリウム(BaF)等の無機アルカリ化合物、Al、SrOを用いることができる。 The electron injection layer is used to bring the energy levels of the second electrode 14 and the organic EL layer 17 closer to each other and to improve the efficiency with which electrons are injected from the second electrode 14 to the organic EL layer 17, thereby providing an organic EL element. The drive voltage of 12 can be lowered. The electron injection layer is also called a cathode buffer layer. As an electron injection material, inorganic alkali compounds such as lithium fluoride (LiF), magnesium fluoride (MgF 2 ), calcium fluoride (CaF 2 ), strontium fluoride (SrF 2 ), barium fluoride (BaF 2 ), Al 2 O 3 and SrO can be used.

第2電極14は、下方の第1電極13より面積が小さく形成されている。第2電極14は、有機EL層17に電子を注入する機能を有する。第2電極14は、仕事関数の小さな材料で構成するのがより好ましい。仕事関数の小さな材料により第2電極14を形成することにより、有機EL層17への電子注入効率を向上させることができるからである。   The second electrode 14 has a smaller area than the first electrode 13 below. The second electrode 14 has a function of injecting electrons into the organic EL layer 17. More preferably, the second electrode 14 is made of a material having a small work function. This is because the efficiency of electron injection into the organic EL layer 17 can be improved by forming the second electrode 14 with a material having a small work function.

第2電極14の構成材料としては、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、金(Au)、カルシウム(Ca)、チタン(Ti)、イットリウム(Y)、ナトリウム(Na)、ルテニウム(Ru)、マンガン(Mn)、インジウム(In)、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)、イッテルビウム(Yb)、フッ化リチウム(LiF)等を用いることができる。また、第2電極14は、マグネシウム(Mg)/銅(Cu)、マグネシウム(Mg)/銀(Ag)、ナトリウム(Na)/カリウム(K)、アスタチン(At)/酸化アスタチン(AtO2)、リチウム(Li)/アルミニウム(Al)、リチウム(Li)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)、又はフッ化リチウム(LiF)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)等の合金により形成されていてもよい。さらに、第2電極14は、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、又はインジウムスズ酸化物(ITO)やインジウム亜鉛酸化物(IZO)等の導電性酸化物により形成されていてもよい。第2電極14は、これらの材料からなる層を複数積層して形成することもできる。仕事関数が小さい材料としては、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)、フッ化リチウム(LiF)、マグネシウム(Mg)/銅(Cu)、マグネシウム(Mg)/銀(Ag)、ナトリウム(Na)/カリウム(K)、リチウム(Li)/アルミニウム(Al)、リチウム(Li)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)、又はフッ化リチウム(LiF)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)等が挙げられる。また、有機EL素子12が第2電極14側から発光層の光を取り出すトップエミッション方式である場合は、第2電極14がインジウムスズ酸化物(ITO)等の光透過性の材料により形成されていることが好ましい。この構成によれば、発光層からの光の第2電極14による吸収率を低くすることができ、高い輝度を実現することができる。一方、有機EL素子12が基板側から発光層の光を取り出すボトムエミッション方式である場合は、第2電極14がアルミニウム(Al)等の光反射性材料により形成されていることが好ましい。この構成によれば、発光層から第2電極14側に向けて出射された光が第2電極14によって第1電極13側に高い反射率で反射される。そのため、発光層からの光の出射光率を高くすることができ、高い輝度を実現することができる。   As the constituent material of the second electrode 14, silver (Ag), aluminum (Al), vanadium (V), cobalt (Co), nickel (Ni), tungsten (W), gold (Au), calcium (Ca), Titanium (Ti), Yttrium (Y), Sodium (Na), Ruthenium (Ru), Manganese (Mn), Indium (In), Magnesium (Mg), Lithium (Li), Ytterbium (Yb), Lithium fluoride (LiF) ) Etc. can be used. The second electrode 14 is made of magnesium (Mg) / copper (Cu), magnesium (Mg) / silver (Ag), sodium (Na) / potassium (K), astatine (At) / oxidized astatine (AtO2), lithium (Li) / aluminum (Al), lithium (Li) / calcium (Ca) / aluminum (Al), or lithium fluoride (LiF) / calcium (Ca) / aluminum (Al) alloy or the like Good. Furthermore, the second electrode 14 may be formed of a conductive oxide such as tin oxide (SnO), zinc oxide (ZnO), or indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The second electrode 14 can also be formed by laminating a plurality of layers made of these materials. Materials having a low work function include magnesium (Mg), lithium (Li), lithium fluoride (LiF), magnesium (Mg) / copper (Cu), magnesium (Mg) / silver (Ag), sodium (Na) / Examples include potassium (K), lithium (Li) / aluminum (Al), lithium (Li) / calcium (Ca) / aluminum (Al), or lithium fluoride (LiF) / calcium (Ca) / aluminum (Al). It is done. Further, when the organic EL element 12 is a top emission type in which light from the light emitting layer is extracted from the second electrode 14 side, the second electrode 14 is formed of a light transmissive material such as indium tin oxide (ITO). Preferably it is. According to this configuration, the absorption rate of the light from the light emitting layer by the second electrode 14 can be lowered, and high luminance can be realized. On the other hand, when the organic EL element 12 is a bottom emission method in which light from the light emitting layer is extracted from the substrate side, the second electrode 14 is preferably formed of a light reflective material such as aluminum (Al). According to this configuration, the light emitted from the light emitting layer toward the second electrode 14 is reflected by the second electrode 14 toward the first electrode 13 with a high reflectance. Therefore, the light emission rate of light from the light emitting layer can be increased, and high luminance can be realized.

封止膜18は、第2電極14を大気中の水分から保護するために、第2電極14を覆うように形成されている。封止膜18は、例えば、酸化ケイ素(SiO)や窒化シリコン(Si:X,Yは0より大きい実数)やシリコンオキシナイトライド(SiON)等の絶縁性膜のどれか1つの材料を含む単膜、または前記材料の2種類以上を含む積層膜により形成することができる。封止膜18には、各画素領域15内に第2電極14まで到達するコンタクトホール22が形成されている。コンタクトホール22は、各画素領域15内に1つずつ形成されていてもよいし、複数形成されていてもよい。 The sealing film 18 is formed so as to cover the second electrode 14 in order to protect the second electrode 14 from moisture in the atmosphere. The sealing film 18 is, for example, any one of insulating films such as silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (Si x N y : X and Y are real numbers greater than 0), and silicon oxynitride (SiON). A single film containing a material or a laminated film containing two or more kinds of the materials can be used. In the sealing film 18, a contact hole 22 reaching the second electrode 14 is formed in each pixel region 15. One contact hole 22 may be formed in each pixel region 15 or a plurality of contact holes 22 may be formed.

導電膜19は、封止膜18のコンタクトホール22を介して第2電極14と導通している。導電膜19は、ITO等で形成されており、図示していないが、表示パネルの表示領域外において有機EL表示素子の駆動用電源に接続されている。   The conductive film 19 is electrically connected to the second electrode 14 through the contact hole 22 of the sealing film 18. The conductive film 19 is made of ITO or the like and is connected to a driving power source for the organic EL display element outside the display area of the display panel, although not shown.

次に、有機EL表示装置10の、ソース配線及びゲート配線で区画された画素パターンの構成について詳細に説明する。図3は、有機EL表示装置10のソース配線30a(データ線)及びゲート配線31a(走査線)で区画された画素パターンの平面図であり、これは、有機EL素子駆動における最も基本的な2TFT構成に係るパターン図である。図4は、図3のB−B’線断面図を示す。   Next, the configuration of the pixel pattern partitioned by the source wiring and the gate wiring in the organic EL display device 10 will be described in detail. FIG. 3 is a plan view of a pixel pattern partitioned by the source wiring 30a (data line) and the gate wiring 31a (scanning line) of the organic EL display device 10, which is the most basic 2 TFT in driving the organic EL element. It is a pattern figure which concerns on a structure. 4 shows a cross-sectional view taken along line B-B ′ of FIG. 3.

図3及び4において、ストライプ状に形成された複数のソース配線30aのそれぞれは、上下パターン接続領域33でTFT11aに電気的に接続されており、TFT11aにデータ信号を入力する。複数のゲート配線31aは、ソース配線30aの延びる方向に交差する方向に相互に並行に延びている。複数のゲート配線31aのそれぞれは、TFT11aのゲートとなっており、TFT11aのそれぞれに走査信号を入力する。TFT11aのドレインは、ゲート配線31bに接続されている。ゲート配線31bは、TFT11bのゲートとなっている。ソース配線30bとゲート配線31bとの重なる部分は、保持容量Csを形成している。また、ソース配線30aは、TFT11bのソースに接続されている。TFT11bのドレインは、第1電極13と電気的に接続されている。TFT11aは、ソース配線30a及びゲート配線31aから入力された信号に基づいて、Csに電荷を与え、TFT11bを動作させて、入力信号に基づき第1電極13に電流を供給する。ソース配線30a、30b、及び、ゲート配線31a、31bは、それぞれチタン(Ti)、アルミニウム(Al)、タンタル(Ta)、又は、タングステン(W)等の導電性材料で形成されている。   3 and 4, each of the plurality of source lines 30a formed in a stripe shape is electrically connected to the TFT 11a in the upper and lower pattern connection regions 33, and a data signal is input to the TFT 11a. The plurality of gate lines 31a extend in parallel to each other in a direction intersecting with the direction in which the source line 30a extends. Each of the plurality of gate wirings 31a is a gate of the TFT 11a, and a scanning signal is input to each of the TFTs 11a. The drain of the TFT 11a is connected to the gate wiring 31b. The gate wiring 31b is the gate of the TFT 11b. A portion where the source line 30b and the gate line 31b overlap forms a storage capacitor Cs. The source wiring 30a is connected to the source of the TFT 11b. The drain of the TFT 11 b is electrically connected to the first electrode 13. The TFT 11a supplies a charge to Cs based on signals input from the source wiring 30a and the gate wiring 31a, operates the TFT 11b, and supplies current to the first electrode 13 based on the input signal. The source wirings 30a and 30b and the gate wirings 31a and 31b are each formed of a conductive material such as titanium (Ti), aluminum (Al), tantalum (Ta), or tungsten (W).

図4において、TFT基板16の絶縁性基板20上には、下地膜34が形成されており、下地膜34上にはゲート絶縁膜35が形成されている。ゲート絶縁膜35は、ゲート配線31a、31bと半導体領域36に形成された島状半導体とを絶縁し、TFT11の耐圧性を担保する機能を有する。   In FIG. 4, a base film 34 is formed on the insulating substrate 20 of the TFT substrate 16, and a gate insulating film 35 is formed on the base film 34. The gate insulating film 35 has a function of insulating the gate wirings 31 a and 31 b and the island-shaped semiconductor formed in the semiconductor region 36 and ensuring the pressure resistance of the TFT 11.

ゲート絶縁膜35は、シリコン層、チッ化シリコン層、又は酸化タンタル層等により構成することができ、酸化シリコン層/チッ化シリコン層/酸化シリコン層の三層構造等の多層構造に構成しても構わない。   The gate insulating film 35 can be formed of a silicon layer, a silicon nitride layer, a tantalum oxide layer, or the like, and has a multilayer structure such as a three-layer structure of a silicon oxide layer / a silicon nitride layer / a silicon oxide layer. It doesn't matter.

ゲート絶縁膜35上には、層間膜37が形成されており、TFT11のゲート電極とソース電極とを絶縁する機能を有する。層間膜37は、シリコン層、チッ化シリコン層、又は、酸化タンタル層等により構成することができ、酸化シリコン層/チッ化シリコン層/酸化シリコン層の三層構造等の多層構造に構成しても構わない。   An interlayer film 37 is formed on the gate insulating film 35 and has a function of insulating the gate electrode and the source electrode of the TFT 11. The interlayer film 37 can be composed of a silicon layer, a silicon nitride layer, a tantalum oxide layer, or the like, and has a multilayer structure such as a three-layer structure of silicon oxide layer / silicon nitride layer / silicon oxide layer. It doesn't matter.

TFT11の島状半導体は、ポリシリコン(Si)等により形成することができる。TFT11のソース電極やドレイン電極はアルミニウム等により形成されており、第1電極13に電気的に接続されている。   The island-shaped semiconductor of the TFT 11 can be formed of polysilicon (Si) or the like. The source electrode and drain electrode of the TFT 11 are made of aluminum or the like and are electrically connected to the first electrode 13.

平坦化膜21は、層間膜37上に形成されており、TFT11形成膜面を平坦にする機能を有する。平坦化膜21によって、平坦化膜21の上部に形成される第1電極13や有機EL層17等を平坦に形成することができる。平坦化膜21はアクリル、ノボラック、又は、ポリイミド等の樹脂材料により形成することができる。   The planarizing film 21 is formed on the interlayer film 37 and has a function of flattening the TFT 11 formation film surface. With the planarization film 21, the first electrode 13, the organic EL layer 17, and the like formed on the planarization film 21 can be formed flat. The planarizing film 21 can be formed of a resin material such as acrylic, novolac, or polyimide.

本実施形態では、スイッチング素子としてTFT11を用いているが、TFT11の代わりにMIM(Metal−Insulator−Metal)ダイオード等を用いても構わない。   In this embodiment, the TFT 11 is used as the switching element, but an MIM (Metal-Insulator-Metal) diode or the like may be used instead of the TFT 11.

また、本実施形態では、トップゲート構造のTFT基板16を示したが、ボトムゲート構造であってもよい。また、TFT11の半導体形成領域が、アモルファスシリコン、微結晶シリコン、ポリシリコン、酸化亜鉛等の酸化物半導体を備えてもよい。   In the present embodiment, the top gate TFT substrate 16 is shown, but a bottom gate structure may be used. The semiconductor formation region of the TFT 11 may include an oxide semiconductor such as amorphous silicon, microcrystalline silicon, polysilicon, or zinc oxide.

有機EL素子12の第2電極14は、図3及び4に示すように、第1電極13より小さく形成されている。封止膜18のコンタクトホール22は、第2電極14上に形成されている。コンタクトホール22の大きさは第2電極14より小さければよく、特に限定されない。コンタクトホール22の形状についても特に限定されない。コンタクトホール22は、例えば、図3に示すように、第2電極14上の1つの角部に矩形状に形成されていてもよい。また、図5(a)に示すコンタクトホール22aのように、第2電極14上の大部分を占めるように大きく矩形状に形成されていてもよい。さらに、図5(b)に示すコンタクトホール22bのように、第2電極14上の複数箇所に矩形状に形成されていてもよい。また、図5(c)に示すコンタクトホール22cのように、第2電極14上の2つの角部に形成されていてもよいし、緩やかな角を有する矩形状に形成されていてもよい。さらに、図5(d)に示すコンタクトホール22dのように、第2電極14上の大部分を占めるように大きく、緩やかな角を有する矩形状に形成されていてもよい。また、図5(e)に示すコンタクトホール22eのように、第2電極14上の複数箇所において、緩やかな角を有する矩形状に形成されていてもよい。   As shown in FIGS. 3 and 4, the second electrode 14 of the organic EL element 12 is formed smaller than the first electrode 13. The contact hole 22 of the sealing film 18 is formed on the second electrode 14. The size of the contact hole 22 is not particularly limited as long as it is smaller than that of the second electrode 14. The shape of the contact hole 22 is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 3, the contact hole 22 may be formed in a rectangular shape at one corner on the second electrode 14. Moreover, it may be formed in a large rectangular shape so as to occupy most of the second electrode 14 like a contact hole 22a shown in FIG. Furthermore, it may be formed in a rectangular shape at a plurality of locations on the second electrode 14 like a contact hole 22b shown in FIG. Further, like a contact hole 22c shown in FIG. 5C, it may be formed at two corners on the second electrode 14, or may be formed in a rectangular shape having moderate corners. Further, like a contact hole 22d shown in FIG. 5 (d), the contact hole 22d may be formed in a rectangular shape having a large and gentle corner so as to occupy most of the second electrode. Moreover, like the contact hole 22e shown in FIG.5 (e), you may form in the rectangular shape which has a moderate angle | corner in several places on the 2nd electrode 14. FIG.

図6に有機EL表示装置10の駆動回路図の例を、図7に有機EL表示装置10の駆動回路概念図の例を示す。図6に示すような画素回路内で、2つのTFTの駆動回路構成以外にも、3つ以上のTFTを使用する場合があるが、本発明の効果は3つ以上のTFTを使用した場合でも有効である。また、図7に示すように、図6のような画素回路が多数並べられた表示領域周辺の走査線駆動回路、データ線駆動回路、及び、電源回路等で、有機EL表示装置10は構成されている。有機EL表示装置10は、データ線駆動回路や走査線駆動回路の信号に基づき、各画素のTFTが作動し、これにより各画素のTFTが駆動され、有機EL素子12に電流が流れることで、有機EL素子12が発光し、画像が表示される。   FIG. 6 shows an example of a drive circuit diagram of the organic EL display device 10, and FIG. 7 shows an example of a drive circuit conceptual diagram of the organic EL display device 10. In the pixel circuit as shown in FIG. 6, in addition to the driving circuit configuration of two TFTs, there are cases where three or more TFTs are used. However, the effect of the present invention can be achieved even when three or more TFTs are used. It is valid. As shown in FIG. 7, the organic EL display device 10 is composed of a scanning line driving circuit, a data line driving circuit, a power supply circuit, and the like around the display area in which a large number of pixel circuits as shown in FIG. 6 are arranged. ing. In the organic EL display device 10, the TFT of each pixel is operated based on the signal of the data line driving circuit or the scanning line driving circuit, whereby the TFT of each pixel is driven, and a current flows through the organic EL element 12. The organic EL element 12 emits light and an image is displayed.

(有機EL表示装置10の製造方法)
次に、本発明の実施形態1に係る有機EL表示装置10の製造方法について説明する。
(Method for manufacturing organic EL display device 10)
Next, a method for manufacturing the organic EL display device 10 according to Embodiment 1 of the present invention will be described.

まず、図8に示すように、公知の方法によりTFT基板16を形成し、平坦化膜21等にドレイン領域に通ずるスルーホールを形成する。続いて、TFT基板16上に、平坦化膜21に設けたスルーホールを通して、TFT11のドレイン電極と接続するようにITOからなる第1電極13を形成する。   First, as shown in FIG. 8, a TFT substrate 16 is formed by a known method, and a through hole that leads to the drain region is formed in the planarizing film 21 or the like. Subsequently, a first electrode 13 made of ITO is formed on the TFT substrate 16 so as to be connected to the drain electrode of the TFT 11 through a through hole provided in the planarizing film 21.

次に、図9に示すように、第1電極13上に、例えば、低分子型の有機EL層17を形成する。低分子型の有機EL層17としては、まず、NPP(N,N-di(naphthalene-1-yl)-N,N-diphenyl-benzidene)で構成された膜厚30nmの正孔注入層兼正孔輸送層を形成し、次に、発光層を30nmで形成する。さらに、Alq3(アルミニウムキノリノール錯体(aluminato-tris-8-hydroxyquinolate))で構成された膜厚30nmの電子輸送層兼電子注入層を形成する。   Next, as shown in FIG. 9, for example, a low molecular organic EL layer 17 is formed on the first electrode 13. As the low-molecular-type organic EL layer 17, first, a 30 nm-thickness hole injection layer / hole composed of NPP (N, N-di (naphthalene-1-yl) -N, N-diphenyl-benzidene) is used. A transport layer is formed, and then a light emitting layer is formed at 30 nm. Further, an electron transport layer / electron injection layer having a film thickness of 30 nm made of Alq3 (aluminato-tris-8-hydroxyquinolate) is formed.

続いて、有機EL層17上に、蒸着法を用いてマグネシウム銀合金からなる膜厚5nmの第2電極14を形成する。このとき、第2電極14は、蒸着法でマスクを用いて、第1電極13の端部より内側に形成する。   Subsequently, the second electrode 14 made of a magnesium silver alloy and having a film thickness of 5 nm is formed on the organic EL layer 17 by vapor deposition. At this time, the second electrode 14 is formed inside the end portion of the first electrode 13 using a mask by vapor deposition.

マスクを用いた蒸着法としては、まず、蒸発源として成膜したい材料を真空チャンバー内のるつぼにセットしておき、また基板の所定の薄膜形成部分と蒸着マスク開口部とをアライメントさせて、基板と蒸着マスクも真空チャンバー内にセットする。その状態でるつぼを加熱して、成膜材料を蒸発させ、基板上に成膜する。具体的には、例えば、真空蒸着装置内のるつぼにマグネシウム小片、るつぼに銀小片、るつぼにITO粉末をセットし、また基板ホルダーに有機EL素子形成基板をセットしておき、雰囲気圧力が10−4Paになるまで真空引きする。るつぼと基板との間にはシャッターが設置されており、最初は閉じている。シャッターと基板との間には蒸着マスクが設けられている。蒸着マスクは、基板に近接して設置される。蒸着マスクは、基板の成膜部位に対応する部分に開口部が形成されており、成膜材料はその開口部を通って基板に形成される。蒸着マスクの開口部は、画素の第2電極形成部毎に形成されている。蒸着マスクの開口部と第2電極形成部とはあらかじめ位置合わせをしておく。その後、マグネシウム小片及び銀小片のるつぼを加熱し、シャッターを短時間開閉することでマグネシウム膜及び銀膜を1〜20nmの厚みに成膜する。次いで、ITO粉末のるつぼのみ加熱し、シャッターを一定時間開閉することで、ITO膜を100nmの厚みに形成する。 As a vapor deposition method using a mask, first, a material to be deposited as an evaporation source is set in a crucible in a vacuum chamber, and a predetermined thin film forming portion of the substrate is aligned with a vapor deposition mask opening, and the substrate is And the deposition mask is also set in the vacuum chamber. In this state, the crucible is heated to evaporate the film forming material and form a film on the substrate. Specifically, for example, a crucible of magnesium into pieces of a vacuum deposition apparatus, silver pieces in a crucible, and set the ITO powder in a crucible, also leave set an organic EL element forming substrate on a substrate holder, the atmosphere pressure is 10 - Vacuum is applied until 4 Pa is reached. A shutter is installed between the crucible and the substrate and is initially closed. A vapor deposition mask is provided between the shutter and the substrate. The vapor deposition mask is installed close to the substrate. The vapor deposition mask has an opening formed in a portion corresponding to a film formation portion of the substrate, and the film forming material is formed on the substrate through the opening. The opening of the vapor deposition mask is formed for each second electrode formation portion of the pixel. The opening of the vapor deposition mask and the second electrode forming part are aligned in advance. Thereafter, the crucible of the magnesium piece and the silver piece is heated, and the magnesium film and the silver film are formed to a thickness of 1 to 20 nm by opening and closing the shutter for a short time. Next, only the crucible made of ITO powder is heated, and the ITO film is formed to a thickness of 100 nm by opening and closing the shutter for a certain period of time.

次に、図10に示すように、基板の少なくとも表示領域を含む領域に、スパッタ装置によって500nmの膜厚の酸化ケイ素(SiO)で構成された封止膜18を形成する。封止膜18の形成としては、まず、チャンバー内に基板をセットし、アルゴン(Ar)ガスを190sccm、酸素(O)ガスを10sccm流し、雰囲気ガス圧を0.3Paにし、SiOターゲットを使用して0.2kWで30分成膜する。続いて、2kWのパワーで2時間成膜することで、500nmの膜厚に封止膜18としてSiO層を形成する。 Next, as shown in FIG. 10, a sealing film 18 made of silicon oxide (SiO 2 ) having a thickness of 500 nm is formed by a sputtering apparatus in a region including at least the display region of the substrate. For forming the sealing film 18, first, a substrate is set in the chamber, argon (Ar) gas is supplied at 190 sccm, oxygen (O 2 ) gas is supplied at 10 sccm, the atmospheric gas pressure is set at 0.3 Pa, and the SiO 2 target is set. Use and deposit at 0.2 kW for 30 minutes. Subsequently, a SiO 2 layer is formed as the sealing film 18 in a film thickness of 500 nm by forming the film at a power of 2 kW for 2 hours.

次いで、フォトリソグラフィ技術を用いてSiO膜をパターン形成する。SiO膜のパターン形成としては、SiO膜上にフォトレジストを例えば市販のOFPR−800(東京応化工業製)のようなポジタイプのフォトレジストをスピン方式により全面に塗布し、フォトマスクを用いて第2電極14領域内のコンタクトホール22を露光し、テトラメチルアンモニウムハイドロオキシド(TMAH)2.38%のアルカリ現像液に浸して現像する。これにより、コンタクトホール22が開口したレジストパターン40を形成する。 Next, a SiO 2 film is patterned using photolithography technology. The patterning of the SiO 2 film, a positive type photoresist such as a SiO 2 film on the photoresist such as the commercially available OFPR-800 (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo) was applied to the entire surface by a spin method, using a photomask The contact hole 22 in the region of the second electrode 14 is exposed and developed by immersing it in a 2.38% tetramethylammonium hydroxide (TMAH) alkaline developer. Thereby, a resist pattern 40 in which the contact holes 22 are opened is formed.

続いて、レジストパターン40を形成した基板をドライエッチングする。基板のドライエッチングは、エッチングガスとして4フッ化炭素(CF)を用いて、ドライエッチング装置で流量300sccm、雰囲気圧力30Pa、投入電力2kWの条件で行う。このとき、コンタクトホール22が形成されるが、ITO膜部分でエッチングがストップされるため、有機EL層17がエッチングされることはない。 Subsequently, the substrate on which the resist pattern 40 is formed is dry etched. The dry etching of the substrate is performed using carbon tetrafluoride (CF 4 ) as an etching gas with a dry etching apparatus under conditions of a flow rate of 300 sccm, an atmospheric pressure of 30 Pa, and an input power of 2 kW. At this time, the contact hole 22 is formed, but the etching is stopped at the ITO film portion, so that the organic EL layer 17 is not etched.

次に、アッシング装置により、酸素ガス流量300sccm、雰囲気圧力30Pa、投入電力2kWの条件で、レジストパターン40を除去する。有機EL層17は、ITO膜や封止膜18で完全に覆われるため、直接レジストや現像液やエッチングガス等にさらされることはなく、有機EL層17がダメージを受けることはない。   Next, the resist pattern 40 is removed by an ashing device under the conditions of an oxygen gas flow rate of 300 sccm, an atmospheric pressure of 30 Pa, and an input power of 2 kW. Since the organic EL layer 17 is completely covered with the ITO film or the sealing film 18, the organic EL layer 17 is not directly exposed to a resist, a developer, an etching gas, or the like, and the organic EL layer 17 is not damaged.

次いで、導電膜19としてITO膜を表示エリアを含む領域に真空蒸着法やスパッタ法で形成し、続いて酸素濃度を100ppm以下とした窒素ガス雰囲気中で有機EL素子12形成基板を封止樹脂と封止ガラスとで封止することにより、図4に示す有機EL表示装置10が完成する。導電膜19は、表示エリアと表示エリア外に設けられた電源回路(Vcom)との接続部分に形成される。   Next, an ITO film is formed as a conductive film 19 in a region including the display area by a vacuum deposition method or a sputtering method, and then the organic EL element 12 forming substrate is sealed with a sealing resin in a nitrogen gas atmosphere with an oxygen concentration of 100 ppm or less. By sealing with sealing glass, the organic EL display device 10 shown in FIG. 4 is completed. The conductive film 19 is formed at a connection portion between the display area and a power supply circuit (Vcom) provided outside the display area.

また、有機EL層17の成膜時にマスク蒸着を行うが、そのときの基板と蒸着マスクとの位置合わせがずれることにより、図11に示すように、第1電極13の内側や第1電極13をはみ出した位置に有機EL層17’が形成されることがある。本発明の実施形態では、第2電極14が第1電極13より内側に形成されるため、有機EL層17’の所定画素形成領域よりはみでた部分に電圧がかからない。このため、第1電極13のパターンエッジ部で短絡等の問題が生じることはなく、有機EL表示装置10の表示性能には影響を与えない。   Further, mask vapor deposition is performed when the organic EL layer 17 is formed. As shown in FIG. 11, the alignment between the substrate and the vapor deposition mask at that time shifts, so that the inside of the first electrode 13 and the first electrode 13 are formed. In some cases, the organic EL layer 17 ′ is formed at a position protruding from the top. In the embodiment of the present invention, since the second electrode 14 is formed on the inner side of the first electrode 13, no voltage is applied to a portion of the organic EL layer 17 ′ that extends beyond the predetermined pixel formation region. For this reason, a problem such as a short circuit does not occur at the pattern edge portion of the first electrode 13, and the display performance of the organic EL display device 10 is not affected.

図11に示すように、有機EL層17’が第1電極13より内側に形成される場合は、その幅を見込み、マージンをもって第2電極14をより内側に形成することにより、第2電極14と第1電極13との短絡を抑制することができる。また、第2電極14を第1電極13より内側に形成することで有機EL素子12の蒸着マスクマージンを拡大することができる。   As shown in FIG. 11, when the organic EL layer 17 ′ is formed on the inner side of the first electrode 13, the second electrode 14 is formed by forming the second electrode 14 on the inner side with a margin for the width. And the first electrode 13 can be prevented from being short-circuited. Moreover, the vapor deposition mask margin of the organic EL element 12 can be expanded by forming the second electrode 14 inside the first electrode 13.

(実施形態1の作用効果)
次に、本発明の実施形態1の作用効果について説明する。
(Effect of Embodiment 1)
Next, the effect of Embodiment 1 of this invention is demonstrated.

有機EL表示装置10は、第2電極14の面積が、下方の第1電極13より小さく形成され、第2電極14を覆うように設けられると共に、第2電極14まで到達するコンタクトホール22が形成された封止膜18と、封止膜18上に形成されると共に、コンタクトホール22を介して第2電極14と導通する導電膜19と、を備える。このため、エッジカバーを形成しなくとも第1電極13の端部に電流が流れず、有機EL表示装置10の表示品位の低下を抑制することができる。また、エッジカバーを形成しないため、生産時のスループットの向上やコスト削減が可能となる。   The organic EL display device 10 is formed so that the area of the second electrode 14 is smaller than that of the lower first electrode 13 and covers the second electrode 14, and a contact hole 22 reaching the second electrode 14 is formed. And a conductive film 19 formed on the sealing film 18 and electrically connected to the second electrode 14 through the contact hole 22. For this reason, even if an edge cover is not formed, current does not flow to the end portion of the first electrode 13, and deterioration in display quality of the organic EL display device 10 can be suppressed. Further, since no edge cover is formed, it is possible to improve throughput and reduce costs during production.

また、有機EL表示装置10は、第1電極13と第2電極14とでマトリクス状に複数配置された画素領域15が規定されており、封止膜18のコンタクトホール22は、各画素領域15内に複数形成されている。このため、各画素領域15において、第2電極14と導電膜19とをより良好に導通させることができる。   In the organic EL display device 10, a plurality of pixel regions 15 arranged in a matrix are defined by the first electrode 13 and the second electrode 14, and the contact hole 22 of the sealing film 18 is formed in each pixel region 15. A plurality are formed inside. For this reason, in each pixel region 15, the second electrode 14 and the conductive film 19 can be made to conduct more favorably.

さらに、有機EL表示装置10は、第1電極13の下方にTFT基板16が設けられている。このような構成によれば、第1電極13の端部にエッジカバーを形成する必要のない有機EL表示装置10に、液晶表示装置用に生産されているTFT基板16を転用することが容易となる。このため、装置の量産時の製造コストが良好となる。   Further, the organic EL display device 10 is provided with a TFT substrate 16 below the first electrode 13. According to such a configuration, it is easy to divert the TFT substrate 16 produced for the liquid crystal display device to the organic EL display device 10 that does not need to form an edge cover at the end of the first electrode 13. Become. For this reason, the manufacturing cost at the time of mass production of an apparatus becomes favorable.

(実施形態2)
次に、本発明の実施形態2に係る有機EL表示装置50について説明する。
(Embodiment 2)
Next, an organic EL display device 50 according to Embodiment 2 of the present invention will be described.

(有機EL表示装置50の構成)
図12は、有機EL表示装置50の断面図を示す。有機EL表示装置50は、実施形態1の有機EL表示装置10に対して、有機EL層52がコーヒーステイン部51を備えている点で異なっている。コーヒーステイン部は、一般にインクジェット法等のウェット塗布方法で有機EL素子を形成する際に、所定の有機材料を溶媒に溶かして形成したインクが蒸発した後に所定素子形成部分のパターン周縁に生じるものである。以下、有機EL表示装置50について、実施形態1の有機EL表示装置10と同様の構成要素については、同符号を付し、その説明は省略する。
(Configuration of the organic EL display device 50)
FIG. 12 is a cross-sectional view of the organic EL display device 50. The organic EL display device 50 is different from the organic EL display device 10 of Embodiment 1 in that the organic EL layer 52 includes a coffee stain portion 51. In general, when forming an organic EL element by a wet coating method such as an ink jet method, the coffee stain portion is generated at the periphery of the pattern of a predetermined element formation portion after ink formed by dissolving a predetermined organic material in a solvent evaporates. is there. Hereinafter, in the organic EL display device 50, the same components as those of the organic EL display device 10 of Embodiment 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

有機EL表示装置50は、TFT基板16と、有機EL素子55とで構成されている。有機EL素子55は、TFT基板16上に所定配列で設けられた複数の第1電極13と、複数の第1電極13のそれぞれの上に形成された有機EL層52と、有機EL層52上に形成された第2電極14と、第2電極14を覆うように形成された封止膜18と、封止膜18上に形成された導電膜19と、を備えており、これらが不活性ガス雰囲気下で封止樹脂及び封止ガラス(それぞれ不図示)により封止されている。   The organic EL display device 50 includes a TFT substrate 16 and an organic EL element 55. The organic EL element 55 includes a plurality of first electrodes 13 provided in a predetermined arrangement on the TFT substrate 16, an organic EL layer 52 formed on each of the plurality of first electrodes 13, and the organic EL layer 52 A second electrode 14 formed on the sealing film 18, a sealing film 18 formed so as to cover the second electrode 14, and a conductive film 19 formed on the sealing film 18. It is sealed with a sealing resin and a sealing glass (each not shown) in a gas atmosphere.

有機EL層52は、正孔輸送層53と発光層54とで構成されており、それぞれコーヒーステイン部51を備えている。コーヒーステイン部51の内側は陥没した形状となっており、当該部位に、第1電極13より面積の小さい第2電極14が形成されている。   The organic EL layer 52 includes a hole transport layer 53 and a light emitting layer 54 and includes a coffee stain portion 51. The inside of the coffee stain portion 51 has a depressed shape, and the second electrode 14 having a smaller area than the first electrode 13 is formed in the portion.

(有機EL表示装置50の製造方法)
次に、実施形態2に係る有機EL表示装置50の製造方法について説明する。
(Method for manufacturing organic EL display device 50)
Next, a method for manufacturing the organic EL display device 50 according to Embodiment 2 will be described.

まず、図13に示すように、実施形態1と同様にして、TFT基板16を形成する。続いて、第1電極13上が親液性に、平坦化膜21上が撥液性になるようにTFT基板16を表面処理する。具体的には、真空チャンバー内にTFT基板16をセットして所定の時間真空引きした後、CFを200sccm、Oを10sccmで流し、雰囲気ガス圧を5Paとし、100Wのパワーで2分間処理する。これにより、第1電極13であるITO膜上は親液性(インク材料が広がりやすい)になり、平坦化膜21上は撥液性(インク材料が広がりにくい)になる。 First, as shown in FIG. 13, the TFT substrate 16 is formed in the same manner as in the first embodiment. Subsequently, the TFT substrate 16 is surface-treated so that the first electrode 13 is lyophilic and the planarization film 21 is lyophobic. Specifically, after the TFT substrate 16 is set in a vacuum chamber and evacuated for a predetermined time, CF 4 is flowed at 200 sccm and O 2 is flowed at 10 sccm, the atmospheric gas pressure is set to 5 Pa, and the process is performed at a power of 100 W for 2 minutes. To do. As a result, the ITO film as the first electrode 13 is lyophilic (the ink material is easy to spread), and the flattening film 21 is liquid repellent (the ink material is difficult to spread).

次に、第1電極13上に、インクジェット法等のウェット塗布法を用いて正孔輸送層53を形成する。すなわち、まず、正孔輸送材料を溶媒に溶解(又は分散)させてインク58を作製し、このインク58を撥液化処理された平坦化膜21で区画された第1電極13のそれぞれの領域に滴下する。その後、滴下したインク58を乾燥させることにより、図14に示すようなコーヒーステイン部51を備える膜厚50〜150nmの正孔輸送層53を形成する。乾燥にはホットプレートやオーブンを用いて、150〜250℃で0.5分から120分加熱することが好ましい。   Next, the hole transport layer 53 is formed on the first electrode 13 by using a wet coating method such as an inkjet method. That is, first, an ink 58 is prepared by dissolving (or dispersing) a hole transport material in a solvent, and the ink 58 is applied to each region of the first electrode 13 partitioned by the planarizing film 21 subjected to the liquid repellent treatment. Dripping. Thereafter, the dropped ink 58 is dried to form the hole transport layer 53 having a film thickness of 50 to 150 nm including the coffee stain portion 51 as shown in FIG. For drying, it is preferable to heat at 150 to 250 ° C. for 0.5 to 120 minutes using a hot plate or oven.

正孔輸送層53を形成するための正孔輸送材料は、ポルフィリン誘導体、芳香族第三級アミン化合物、スチリルアミン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリ−p−フェニレンビニレン、ポリシラン、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体、ピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミン置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、水素化アモルファスシリコン、水素化アモルファス炭化シリコン、硫化亜鉛、又は、セレン化亜鉛等が挙げられる。   Hole transport materials for forming the hole transport layer 53 are porphyrin derivatives, aromatic tertiary amine compounds, styrylamine derivatives, polyvinylcarbazole, poly-p-phenylene vinylene, polysilane, triazole derivatives, oxadiazole derivatives. , Imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives, pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, arylamine derivatives, amine-substituted chalcone derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, stilbene derivatives, hydrogenated amorphous silicon, hydrogen Amorphous silicon carbide, zinc sulfide, or zinc selenide.

また、正孔輸送材料を溶解(又は分散)させる溶媒としては、トルエン、o−キシレン、m−キシレン、p−キシレン、エチルベンゼン、ヘミメリテン〔1,2,3−トリメチルベンゼン〕、プソイドクメン〔1,2,4−トリメチルベンゼン〕、メシチレン〔1,3,5−トリメチルベンゼン〕、クメン〔イソプロピルベンゼン〕、プレーニテン〔1,2,3,4−テトラメチルベンゼン〕、イソジュレン〔1,2,3,5−テトラメチルベンゼン〕、ジュレン〔1,2,4,5−テトラメチルベンゼン〕、p−シメン〔イソプロピルトルエン〕、テトラリン〔1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン〕、シクロヘキシルベンゼン、メリテン〔ヘキサメチルベンゼン〕、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール〔IPA;イソプロピルアルコール〕、エチレングリコール〔1,2−エタンジオール〕、ジエチレングリコール、2−メトキシエタノール〔エチレングリコールモノメチルエーテル,メチルセロソルブ〕、2−エトキシエタノール〔エチレングリコールモノエチルエーテル,セロソルブ〕、2−(メトキシメトキシ)エタノール、2−イソプロポキシエタノール、2−ブトキシエタノール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、グリセリン、アセトン、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、アニソール〔メトキシベンゼン〕、水、等が挙げられる。また、これらの溶媒を混合して用いてもよい。   As a solvent for dissolving (or dispersing) the hole transport material, toluene, o-xylene, m-xylene, p-xylene, ethylbenzene, hemimeritene [1,2,3-trimethylbenzene], pseudocumene [1,2 , 4-trimethylbenzene], mesitylene [1,3,5-trimethylbenzene], cumene [isopropylbenzene], planarite [1,2,3,4-tetramethylbenzene], isodurene [1,2,3,5- Tetramethylbenzene], durene [1,2,4,5-tetramethylbenzene], p-cymene [isopropyltoluene], tetralin [1,2,3,4-tetrahydronaphthalene], cyclohexylbenzene, melitene [hexamethylbenzene] ], Methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol [ PA; isopropyl alcohol], ethylene glycol [1,2-ethanediol], diethylene glycol, 2-methoxyethanol [ethylene glycol monomethyl ether, methyl cellosolve], 2-ethoxyethanol [ethylene glycol monoethyl ether, cellosolve], 2- ( Methoxymethoxy) ethanol, 2-isopropoxyethanol, 2-butoxyethanol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, triethylene glycol monomethyl ether, glycerin, acetone, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3 -Dimethyl-2-imidazolidinone, anisole [methoxybenzene], water, etc. are mentioned. Moreover, you may mix and use these solvents.

次に、正孔輸送層53上に発光層54を形成する。発光層54の形成方法としては、正孔輸送層53の形成方法と同様に、インクジェット法等が挙げられる。図15に示すように、インクジェット法により、インク59の滴下によって発光材料を含む膜を成膜した後、乾燥させることにより、図16に示すようなコーヒーステイン部51を備える膜厚50〜150nmの発光層54を形成する。乾燥にはホットプレートやオーブンを用いて、150〜250℃で0.5分から120分加熱することが好ましい。発光層54を形成するためのインク59に用いることができる溶媒は、上述した正孔輸送層53の形成に用いることができる溶媒と同様である。 発光層54は、第1電極13から注入された正孔と、第2電極14から注入された電子とを再結合させて光を出射させる機能を有する。発光層54を形成するための発光材料としては、金属オキシノイド化合物[8−ヒドロキシキノリン金属錯体]、ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、ジフェニルエチレン誘導体、ビニルアセトン誘導体、トリフェニルアミン誘導体、ブタジエン誘導体、クマリン誘導体、ベンズオキサゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、ベンズイミダゾール誘導体、チアジアゾール誘導体、ベンズチアゾール誘導体、スチリル誘導体、スチリルアミン誘導体、ビススチリルベンゼン誘導体、トリススチリルベンゼン誘導体、ペリレン誘導体、ペリノン誘導体、アミノピレン誘導体、ピリジン誘導体、ローダミン誘導体、アクイジン誘導体、フェノキサゾン、キナクリドン誘導体、ルブレン、ポリ−p−フェニレンビニレン、又は、ポリシラン等が挙げられる。   Next, the light emitting layer 54 is formed on the hole transport layer 53. As a formation method of the light emitting layer 54, the inkjet method etc. are mentioned similarly to the formation method of the positive hole transport layer 53. FIG. As shown in FIG. 15, a film containing a light emitting material is formed by dropping an ink 59 by an ink jet method, and then dried to have a film thickness of 50 to 150 nm including a coffee stain portion 51 as shown in FIG. 16. The light emitting layer 54 is formed. For drying, it is preferable to heat at 150 to 250 ° C. for 0.5 to 120 minutes using a hot plate or oven. The solvent that can be used for the ink 59 for forming the light emitting layer 54 is the same as the solvent that can be used for forming the hole transport layer 53 described above. The light emitting layer 54 has a function of emitting light by recombining holes injected from the first electrode 13 and electrons injected from the second electrode 14. Examples of the light emitting material for forming the light emitting layer 54 include metal oxinoid compounds [8-hydroxyquinoline metal complexes], naphthalene derivatives, anthracene derivatives, diphenylethylene derivatives, vinylacetone derivatives, triphenylamine derivatives, butadiene derivatives, coumarin derivatives, Benzoxazole derivatives, oxadiazole derivatives, oxazole derivatives, benzimidazole derivatives, thiadiazole derivatives, benzthiazole derivatives, styryl derivatives, styrylamine derivatives, bisstyrylbenzene derivatives, tristyrylbenzene derivatives, perylene derivatives, perinone derivatives, aminopyrene derivatives, pyridine Derivatives, rhodamine derivatives, acuidine derivatives, phenoxazone, quinacridone derivatives, rubrene, poly-p-phenylene vinylene, Is, polysilane, and the like.

次に、実施形態1と同様に、蒸着マスクを用いて、Mg・Agを1〜20nmの膜厚で成膜し、ITOも同様に形成して第2電極14を形成する。続いて、実施形態1と同様に、封止膜18及び導電膜19を形成した後、酸素濃度を100ppm以下とした窒素ガス雰囲気中で有機EL素子12形成基板を封止樹脂と封止ガラスとで封止することにより、有機EL表示装置50が完成する。   Next, in the same manner as in the first embodiment, Mg / Ag is formed to a thickness of 1 to 20 nm using a vapor deposition mask, and ITO is formed in the same manner to form the second electrode 14. Subsequently, after forming the sealing film 18 and the conductive film 19 in the same manner as in the first embodiment, the organic EL element 12 formation substrate is sealed with the sealing resin and the sealing glass in a nitrogen gas atmosphere with an oxygen concentration of 100 ppm or less. The organic EL display device 50 is completed by sealing with.

(実施形態2の作用効果)
本発明の実施形態2では、第1電極13のパターンエッジ部にバンクを形成していない、第1電極13のITO工程まで完了したTFT基板16に表面処理を施し、第1電極13上を親液性、平坦化膜21上を撥液性とする。その後、インクジェット法等のウェット塗布方法で、コーヒーステイン部51を備える有機EL層52を形成している。
(Effect of Embodiment 2)
In the second embodiment of the present invention, a surface treatment is applied to the TFT substrate 16 that has not completed forming the bank at the pattern edge portion of the first electrode 13 and the ITO process of the first electrode 13 is completed, and the upper surface of the first electrode 13 is controlled. The liquidity and the flattening film 21 are made liquid repellent. Thereafter, the organic EL layer 52 including the coffee stain portion 51 is formed by a wet coating method such as an inkjet method.

このような構成によれば、インクを画素に保持するバンク(隔壁)を形成することなく、インクジェット法等のウェット塗布形成法において有機EL素子55を形成することが可能となる。また、通常、コーヒーステイン部51は膜厚が厚くなり、有機EL素子55の膜厚ムラが生じてしまうが、本実施形態によれば、コーヒーステイン部51に電圧がかからず、電流もほとんど流れないため、有機EL素子特性の悪化が良好に抑制される。   According to such a configuration, it is possible to form the organic EL element 55 in a wet coating formation method such as an inkjet method without forming a bank (partition wall) that holds the ink in the pixel. Further, normally, the thickness of the coffee stain portion 51 becomes thick and unevenness of the film thickness of the organic EL element 55 occurs. However, according to the present embodiment, no voltage is applied to the coffee stain portion 51 and almost no current is generated. Since it does not flow, the deterioration of the organic EL element characteristics is satisfactorily suppressed.

また、有機EL素子55は、有機EL層52の膜厚が約100〜500nm程度の非常に薄い薄膜で構成される。このため、有機EL層52の膜厚が均一であることは、その性能確保のために重要な課題であるが、本実施形態では、第2電極14をコーヒーステイン部51の内側に形成することで、画素を規定する第2電極14下に均一な有機EL層52が形成される。このため、第2電極14と第1電極13との間に挟まれる有機EL層52の膜厚が均一となり、表示ムラが少なく、信頼性の高い有機EL素子55を形成することが可能となる。   The organic EL element 55 is formed of a very thin thin film having a thickness of the organic EL layer 52 of about 100 to 500 nm. For this reason, the uniform film thickness of the organic EL layer 52 is an important issue for ensuring its performance, but in the present embodiment, the second electrode 14 is formed inside the coffee stain portion 51. Thus, the uniform organic EL layer 52 is formed under the second electrode 14 defining the pixel. For this reason, the film thickness of the organic EL layer 52 sandwiched between the second electrode 14 and the first electrode 13 becomes uniform, and it becomes possible to form a highly reliable organic EL element 55 with little display unevenness. .

以上説明したように、本発明は、有機EL表示装置及びその製造方法について有用である。   As described above, the present invention is useful for an organic EL display device and a manufacturing method thereof.

実施形態1に係る有機EL表示装置の平面図である。1 is a plan view of an organic EL display device according to Embodiment 1. FIG. 図1におけるA−A’線断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ in FIG. 1. 有機EL表示装置のソース配線及びゲート配線で区画された画素パターンの平面図である。It is a top view of the pixel pattern divided by the source wiring and gate wiring of an organic electroluminescence display. 図3のB−B’線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line B-B ′ in FIG. 3. コンタクトホールの他の形態を示す図である。It is a figure which shows the other form of a contact hole. 有機EL表示装置の駆動回路図の例である。It is an example of the drive circuit diagram of an organic electroluminescence display. 有機EL表示装置の駆動回路概念図である。It is a drive circuit conceptual diagram of an organic EL display device. 実施形態1の製造工程における第1電極形成後の有機EL表示装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the organic EL display device after forming a first electrode in the manufacturing process of Embodiment 1. 実施形態1の製造工程における第2電極形成後の有機EL表示装置の断面図である。4 is a cross-sectional view of the organic EL display device after forming a second electrode in the manufacturing process of Embodiment 1. FIG. 実施形態1の製造工程におけるレジスト膜形成後の有機EL表示装置の断面図である。3 is a cross-sectional view of the organic EL display device after forming a resist film in the manufacturing process of Embodiment 1. FIG. 有機EL層が第1電極をはみ出して形成された有機EL表示装置の断面図である。It is sectional drawing of the organic electroluminescent display device in which the organic electroluminescent layer protruded and protruded from the 1st electrode. 実施形態2に係る有機EL表示装置の断面図である。6 is a cross-sectional view of an organic EL display device according to Embodiment 2. FIG. 実施形態2の製造工程における正孔輸送材料滴下後の有機EL表示装置の断面図である。6 is a cross-sectional view of an organic EL display device after dropping a hole transport material in the manufacturing process of Embodiment 2. FIG. 実施形態2の製造工程における正孔輸送層形成後の有機EL表示装置の断面図である。6 is a cross-sectional view of an organic EL display device after formation of a hole transport layer in the manufacturing process of Embodiment 2. FIG. 実施形態2の製造工程における発光材料滴下後の有機EL表示装置の断面図である。6 is a cross-sectional view of an organic EL display device after a light emitting material is dropped in the manufacturing process of Embodiment 2. FIG. 実施形態2の製造工程における発光層形成後の有機EL表示装置の断面図である。6 is a cross-sectional view of an organic EL display device after formation of a light emitting layer in the manufacturing process of Embodiment 2. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10,50 有機EL表示装置
11,11a,11b TFT
12,55 有機EL素子
13 第1電極
14 第2電極
15 画素領域
16 TFT基板
17,17’,52 有機EL層
18 封止膜
19 導電膜
20 絶縁性基板
22,22a〜22e コンタクトホール
51 コーヒーステイン部
58,59 インク
10, 50 Organic EL display device
11, 11a, 11b TFT
12,55 Organic EL device
13 First electrode
14 Second electrode
15 pixel area
16 TFT substrate
17, 17 ', 52 Organic EL layer
18 Sealing film
19 Conductive film
20 Insulating substrate
22, 22a-22e Contact hole
51 Coffee stain
58,59 ink

Claims (6)

第1電極と、
上記第1電極上に形成された有機EL層と、
上記有機EL層上に形成され、下方の上記第1電極より面積が小さい第2電極と、
上記第2電極を覆うように設けられ、該第2電極まで到達するコンタクトホールが形成された封止膜と、
上記封止膜上に形成され、上記コンタクトホールを介して上記第2電極と導通する導電膜と、
を備えた有機EL表示装置。
A first electrode;
An organic EL layer formed on the first electrode;
A second electrode formed on the organic EL layer and having a smaller area than the first electrode below;
A sealing film provided so as to cover the second electrode and having a contact hole reaching the second electrode;
A conductive film formed on the sealing film and electrically connected to the second electrode through the contact hole;
An organic EL display device.
請求項1に記載された有機EL表示装置において、
上記第1電極と上記第2電極とでマトリクス状に複数配置された画素領域が規定されており、
上記封止膜のコンタクトホールは、上記各画素領域内に複数形成されている有機EL表示装置。
The organic EL display device according to claim 1,
A plurality of pixel regions arranged in a matrix with the first electrode and the second electrode are defined,
An organic EL display device in which a plurality of contact holes of the sealing film are formed in each pixel region.
請求項1に記載された有機EL表示装置において、
上記第1電極の下方には、絶縁性基板と、該絶縁性基板上に形成され、該第1電極に電気的に接続されたスイッチング素子と、を備えるスイッチング素子基板が設けられている有機EL表示装置。
The organic EL display device according to claim 1,
Below the first electrode, an organic EL provided with a switching element substrate comprising an insulating substrate and a switching element formed on the insulating substrate and electrically connected to the first electrode. Display device.
請求項1に記載された有機EL表示装置において、
上記有機EL層は、コーヒーステイン部を備えている有機EL表示装置。
The organic EL display device according to claim 1,
The organic EL layer is an organic EL display device having a coffee stain portion.
第1電極を準備する第1工程と、
上記第1電極上に有機EL層を形成する第2工程と、
上記有機EL層上に、下方の上記第1電極より面積が小さい第2電極を形成する第3工程と、
上記第2電極を覆うように封止膜を形成する第4工程と、
上記封止膜に、上記第2電極まで到達するコンタクトホールを形成する第5工程と、
上記封止膜上に、上記コンタクトホールを介して上記第2電極と導通する導電膜を形成する第6工程と、
を備えた有機EL表示装置の製造方法。
A first step of preparing a first electrode;
A second step of forming an organic EL layer on the first electrode;
Forming a second electrode having a smaller area than the first electrode on the organic EL layer;
A fourth step of forming a sealing film so as to cover the second electrode;
A fifth step of forming a contact hole reaching the second electrode in the sealing film;
A sixth step of forming a conductive film electrically connected to the second electrode through the contact hole on the sealing film;
A method for manufacturing an organic EL display device comprising:
請求項5に記載された有機EL表示装置の製造方法において、
上記第2工程で、上記第1電極上にウェット塗布法を用いてコーヒーステイン部を備えた有機EL層を形成する有機EL表示装置の製造方法。
In the manufacturing method of the organic electroluminescent display device described in Claim 5,
In the second step, an organic EL display device manufacturing method in which an organic EL layer having a coffee stain portion is formed on the first electrode using a wet coating method.
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