JP2010014449A - Probe for automatic inspection device of electric device and automatic inspection device for the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、自動車のカーオーディオ装置、ナビゲーション装置、各種電子機器等の検査に使用される電子機器の自動検査装置用プローブ及びその自動検査装置に関するものであり、検査すべき電子機器を実動作状態に保ちながら、その所定の測定点における信号を取り出して、その取り出した信号に基づき電子機器の良否を判定する電子機器の自動検査装置用プローブ及びその自動検査装置に関するものである。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a probe for an automatic inspection device of an electronic device used for inspection of a car audio device, a navigation device, various electronic devices, etc. of an automobile, and the automatic inspection device thereof. The present invention relates to a probe for an automatic inspection device for an electronic device that extracts a signal at the predetermined measurement point and determines whether the electronic device is good based on the extracted signal and the automatic inspection device.
この種の電子機器の自動検査装置として、特許文献1に掲載の技術がある。
特許文献1の技術は、検査すべき電子装置の回路基板を着脱自在に取り付け可能な基板保持部と、その基板保持部に取り付けられた回路基板の所定の測定点に接触して、その測定点の信号を取り出すプローブと、そのプローブを外部からの移動指令に従って移動させ、前記回路基板の所定の測定点に接触させるプローブ移動手段とを備え、前記基板保持部に取り付けられた回路基板に対して、信号付与手段が実際の動作を行わせるための動作信号を与え、また、検査制御手段には、前記プローブによって信号を取り出すべき前記回路基板の各測定点が予め記憶されており、前記回路基板が前記動作信号に基づき動作している状態で、前記プローブを前記記憶した各測定点に接触させるための移動指令を、プローブ移動手段に順次与える。そして、前記プローブ移動手段が当該プローブを、前記検査制御手段からの移動指令に従い移動させて回路基板の所定の測定点に接触させ、これによってプローブから測定点の信号が取り出される。そして、前記計測手段が前記プローブにより取り出された信号を所定の基準電圧を基準として計測し、当該計測結果に基づき、前記電子装置の良否を判定している。
As an automatic inspection apparatus for this type of electronic equipment, there is a technique described in
The technique of
特に、特許文献1の自動検査装置は、計測に用いる基準電圧を、外部からの切替指令に応じて複数種類の基準電圧の何れかに切り替え、前記回路基板の各測定点と前記複数種類の基準電圧の何れかと対応付けて予め記憶すると共に、前記複数種類の基準電圧のうちで前記プローブを接触させる測定点に対応して記憶した基準電圧が前記計測手段での計測に用いられるように切替指令を与えている。
したがって、回路基板の各測定点毎に最適な基準電圧を用いて、その測定点の信号の電圧或いは波形を正確に計測することができ、その結果、電子装置の良否を正確に検査することができるようになる。つまり、予め、各測定点毎に最適な基準電圧を検討し、その複数種類の基準電圧の何れかが択一的に切り替えられるようにしておくと共に、各測定点とその測定点に最適な基準電圧とを対応させて記憶させておけば、各測定点の信号の電圧或いは波形を、その測定点に最適な基準電圧を基準として計測することとなり、電子装置の良否を正確に判定することができる。
Therefore, it is possible to accurately measure the voltage or waveform of the signal at the measurement point using the optimum reference voltage for each measurement point on the circuit board, and as a result, to accurately check the quality of the electronic device. become able to. In other words, the optimum reference voltage for each measurement point is examined in advance, and any one of the plurality of types of reference voltages can be selectively switched, and the optimum reference voltage for each measurement point and that measurement point. If the voltage is stored in correspondence with each other, the voltage or waveform of the signal at each measurement point is measured with reference to the optimum reference voltage for that measurement point, and the quality of the electronic device can be accurately determined. it can.
ところが、特許文献1の技術は、回路基板から複数種類の基準電圧をプローブを介して検出するとき、その検出信号が安定化せず、正当に電子機器の評価ができないという問題がある。また、前記プローブから計測機器の間で測定信号を送るリード線が輻射ノイズを拾い、その測定精度を低下させるという問題があった。そして、検査制御手段は前記プローブによって信号を取り出す検査対象の回路基板の各測定点が予め記憶されており、前記プローブをその決められた各測定点に動作させるものであるから、その動作信号が電子機器のノイズ(外乱)となって測定回路に入り込み、当該ノイズの存在によって電子機器の測定精度が低下する要因となっている。
However, the technique of
そこで、この発明はかかる不具合を解決するためになされたもので、プローブ及びプローブから計測機器の間の測定信号にノイズの影響を出難くした電子機器の自動検査装置用プローブの提供を第1の課題とし、また、検査対象の電子機器の測定の際、前記プローブを移動させる信号が測定信号にノイズとなって入り込むことがない電子機器の自動検査装置の提供を第2の課題とするものである。 Accordingly, the present invention has been made to solve such a problem, and it is a first object of the present invention to provide a probe for an automatic inspection device for an electronic device that makes it difficult for noise to be exerted on a measurement signal between the probe and the probe and the measurement device. A second problem is to provide an automatic inspection apparatus for electronic equipment in which a signal for moving the probe does not enter the measurement signal as noise when measuring the electronic equipment to be inspected. is there.
請求項1にかかる電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器の信号端子(アース端子)に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力すると共に、少なくとも、その両端の検出端部及び出力端部を除き、その外周の長さ方向を絶縁物でコーティングしてなるプランジャーが、そのカバー体によってその長さ方向に摺動自在に配設され、前記プランジャーと前記カバー体との間に配設されたスプリングによって前記プランジャーの長さ方向に弾性を付与されている。
ここで、上記プランジャーは、検査対象の電子機器の信号端子(アース端子)に弾接する検出端部と前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力する出力端部を除き、その外周の長さ方向の略全外周を絶縁層で絶縁したものであり、電気的にプランジャーと前記カバー体との間に導通が発生しないものであればよい。また、上記カバー体は、前記スプリングを被うと共に、前記プランジャーがその長さ方向に摺動自在に配設するものであればよい。そして、上記スプリングは、前記プランジャーと前記カバー体との間に配設され、前記プランジャーに弾性力を付与するものであればよい。
なお、本発明における信号端子とは、単に所定の電圧の端子を意味するものではなく、出力がアース電位である信号端子をも意味するもので、アースに落とされたアース端子、アースに接続されたケース、アース線等も含むものである。
The probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to
Here, the plunger has a detection end that elastically contacts a signal terminal (ground terminal) of the electronic device to be inspected and an output end that outputs a signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected to the measuring device side. The outer circumference of the outer circumference of the outer circumference is insulated by an insulating layer so long as it does not cause electrical conduction between the plunger and the cover body. Moreover, the said cover body should just cover the said spring and the said plunger is arrange | positioned slidably in the length direction. And the said spring should just be arrange | positioned between the said plunger and the said cover body, and should provide an elastic force to the said plunger.
The signal terminal in the present invention does not simply mean a terminal having a predetermined voltage, but also means a signal terminal whose output is a ground potential, and is connected to a ground terminal that is dropped to ground. Case, ground wire, etc.
請求項2にかかる電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子とアース端子から得た信号を測定装置側に出力すると共に、その両端の検出端部及び出力端部を除き、その各々の外周の長さ方向を絶縁層としてなる一対のプランジャーが、そのカバー体によってその長さ方向に摺動自在に配設され、前記プランジャーと前記カバー体との間に配設された各スプリングによって前記プランジャーの長さ方向に弾性力を付与する。また、一対のプランジャーの前記検査対象の電子機器の信号端子に弾接する一対のプランジャーの出力端部に接続されている信号線は、幾何学的に略対称性を有し、同一長を含む略同一長(略は周波数によって誤差の大小が決まる)としたものである。
ここで、上記一対のプランジャーは、検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する検出端部と前記信号端子から得た信号を測定装置側に出力する信号端子とアース端子を除き、その外周の長さ方向を絶縁層として絶縁したものであり、電気的にプランジャーの周囲との間に導通が発生しないものであればよい。また、上記一対のスプリングは、前記一対のプランジャーと前記カバー体との間に配設され、前記一対のプランジャーに弾性力を付与するものであればよい。そして、上記カバー体は、前記スプリングを覆うものであれば、一対であっても、一体となっているものであってもよい。
なお、本発明におけるアース端子とは、単にアースに落とされた端子のみを意味するものではなく、アースに接続されたケース、アース線等を意味し、出力がアース電位である信号端子を意味するものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a probe for an automatic inspection device for an electronic device, which has a detection end portion that elastically contacts a signal terminal and a ground terminal of the electronic device to be inspected. While outputting the signal obtained from the signal terminal and the ground terminal to the measuring device side, excluding the detection end portion and the output end portion at both ends, a pair of plungers each having an outer peripheral length direction as an insulating layer, The cover body is slidably disposed in the length direction thereof, and an elastic force is applied in the length direction of the plunger by the springs disposed between the plunger and the cover body. In addition, the signal lines connected to the output ends of the pair of plungers that elastically contact the signal terminals of the electronic devices to be inspected of the pair of plungers are geometrically substantially symmetrical and have the same length. Including substantially the same length (roughly, the magnitude of the error is determined by the frequency).
Here, the pair of plungers, except for the signal terminal of the electronic device to be inspected and the detection end that elastically contacts the ground terminal, and the signal terminal that outputs the signal obtained from the signal terminal to the measuring device side and the ground terminal, What is necessary is just to insulate the length direction of the outer periphery as an insulating layer, and electrical conduction does not generate | occur | produce between the circumference | surroundings of a plunger. Further, the pair of springs may be any one provided between the pair of plungers and the cover body and imparting an elastic force to the pair of plungers. And as long as the said cover body covers the said spring, even if it is a pair or may be integral.
In addition, the ground terminal in the present invention does not mean only a terminal that has been dropped to ground, but a case connected to the ground, a ground wire, etc., and a signal terminal whose output is a ground potential. Is.
請求項3にかかる電子機器の自動検査装置用プローブは、前記検査対象の電子機器の信号端子(アース端子)に弾接する一対のプランジャーの出力端部に接続した測定装置に至る信号線には、シールド線を使用するものである。ここで、芯線である信号線は、シールドされアース側に落とされることによって、外部ノイズの多くが低減されるものであればよい。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a probe for an automatic inspection device for an electronic device, wherein a signal line leading to a measurement device connected to an output end of a pair of plungers elastically contacting a signal terminal (ground terminal) of the electronic device to be inspected is provided. , Using shielded wires. Here, the signal line that is the core wire may be any one that can reduce much of the external noise by being shielded and dropped to the ground side.
請求項4にかかる電子機器の自動検査装置は、検査対象の電子機器の信号端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力するプランジャーを有するプローブ、並びにプローブを二次元空間または三次元空間を移動させる多軸ロボット、並びに前記多軸ロボットの姿勢制御を行うロボット制御回路を収容するシールドボックスをシールドルームに収容し、そして、前記シールドルームの室外に前記プローブの一対のプランジャーの出力端部に接続した測定装置及び前記多軸ロボットの姿勢制御を行うロボット制御装置を設置するものである。
ここで、上記プローブは、検査対象の電子機器の信号端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力するプランジャーを有するものであり、検査対象の電子機器の信号端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力すると共に、その両端の検出端部及び出力端部を除き、その外周の長さ方向を絶縁層として絶縁してなるものである。
また、上記光ケーブルは、前記検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する前記プローブの一対のプランジャーの出力端部に接続した測定装置に至る信号を出力するものである。そして、上記多軸ロボットは、前記検査対象の電子機器の信号端子の位置に合わせて、前記プローブを二次元空間または三次元空間を移動させるものである。更に、上記シールドルームは、前記多軸ロボット及び前記プローブ及び前記シールドボックスを収容するもので、電磁波を遮蔽、遮断するものであればよい。特に、中波からギガ帯の周波数のAM(振幅変調)、FM(周波数変調)、PM(パルス変調)に対応することが望ましい。
更にまた、上記測定装置は、光ケーブルの他端側に接続され、シールドルームの室外に設置されるもので、前記測定装置内の信号処理がノイズとなって測定系に入らないようにするものである。そして、上記シールドボックスは、前記多軸ロボットのロボット制御回路からのノイズを防止できればよい。
The automatic inspection device for an electronic device according to claim 4 has a detection end portion that elastically contacts the signal terminal of the electronic device to be inspected, and is obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from the opposite output end portion. A probe having a plunger that outputs a signal to the measuring device, a multi-axis robot that moves the probe in a two-dimensional space or a three-dimensional space, and a shield box that houses a robot control circuit that controls the posture of the multi-axis robot A measuring apparatus housed in a shield room and connected to the output ends of a pair of plungers of the probe and a robot controller for controlling the posture of the multi-axis robot are installed outside the shield room.
Here, the probe has a detection end that elastically contacts the signal terminal of the electronic device to be inspected, and a signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from the output end on the opposite side to the measuring device side. It has a plunger to output, has a detection end that elastically contacts the signal terminal of the electronic device to be inspected, and measures the signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from the output end on the opposite side While outputting to the apparatus side, the length direction of the outer periphery is insulated as an insulating layer except for the detection end and the output end at both ends.
The optical cable outputs a signal reaching a measuring device connected to output ends of a pair of plungers of the probe that are elastically contacted with a signal terminal and a ground terminal of the electronic device to be inspected. The multi-axis robot moves the probe in a two-dimensional space or a three-dimensional space in accordance with the position of the signal terminal of the electronic device to be inspected. Further, the shield room accommodates the multi-axis robot, the probe, and the shield box as long as it shields and blocks electromagnetic waves. In particular, it is desirable to support AM (amplitude modulation), FM (frequency modulation), and PM (pulse modulation) of frequencies from the middle wave to the giga band.
Furthermore, the measuring device is connected to the other end of the optical cable and installed outside the shield room, so that signal processing in the measuring device does not enter the measuring system due to noise. is there. The shield box only needs to prevent noise from the robot control circuit of the multi-axis robot.
請求項5にかかる電子機器の自動検査装置の前記シールドルームの室外に設置された前記ロボット制御装置は、前記シールドルームの室内に設置された前記多軸ロボットを流体で制御するものである。ここで、上記ロボット制御装置は、流体を使用することにより、ロボット制御系からノイズを発生させることなく、かつ、前記多軸ロボットからのノイズを防止できるものであればよい。即ち、上記多軸ロボットは、駆動制御の信号によってノイズが発生するのを防止するために、シールドルームの室外から流体で制御するものである。
The robot control device installed outside the shield room of the automatic inspection apparatus for electronic equipment according to
請求項1の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器の信号端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力すると共に、その両端の検出端部及び出力端部を除き、その外周の長さ方向を絶縁層を有するプランジャーを、カバー体によってその長さ方向にのみ摺動自在とし、かつ、前記プランジャーと前記カバー体との間に配設したスプリングによって、検査対象の電子機器の検出端部に前記プランジャーを弾接させ、電気信号を前記プランジャーのみを介して測定装置側に出力する。
このように、前記プランジャーの外周の長さ方向を絶縁物としているので、前記プランジャー以外が導通性を持たず、検査対象の電子機器の信号端子から得られた信号に他の部分から入り込むノイズを排除でき、前記プローブからノイズが入るのを防止できる。また、プランジャーの外周の長さ方向に絶縁層を形成しているから、スプリング等の部品がプランジャーと通電し、共振周波数が発生することがない。したがって、前記プローブの測定信号にノイズが載ることがなくなる。
The probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to
Thus, since the length direction of the outer periphery of the plunger is an insulator, other than the plunger does not have conductivity, and enters the signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from other parts. Noise can be eliminated and noise can be prevented from entering from the probe. In addition, since the insulating layer is formed in the length direction of the outer periphery of the plunger, parts such as a spring are energized with the plunger and no resonance frequency is generated. Therefore, noise is not placed on the measurement signal of the probe.
請求項2の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の端子から得た信号を測定装置側に出力すると共に、信号端子とアース端部並び測定装置側に出力する検出端部と出力端部を除き、その外周の長さ方向に絶縁層を形成した一対のプランジャーを、カバー体によってその長さ方向にのみ摺動自在とし、かつ、前記一対のプランジャーと前記カバー体との間に配設した一対のスプリングによって、検査対象の電子機器の信号端子に前記プランジャーの検出端部を弾接させ、検査対象の電子機器の信号端子からの電気信号を前記プランジャーのみを介して測定装置側に出力する。そして、前記プランジャーからの測定装置側の出力は、検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する一対のプランジャーの出力端部に接続し、幾何学的に略対称性を有し、しかも、略同一長とした信号線によって出力される。
このように、前記プランジャーの外周の長さ方向を絶縁物でコーティングしているので、前記プランジャー以外が導通性を持たず、検査対象の電子機器の信号端子から得られた信号に他の部分から入り込む信号を排除でき、プローブからノイズが入るのを防止できる。また、プランジャーの外周の長さ方向に絶縁層を形成しているから、スプリング等の部品がプランジャーと通電し、共振周波数が発生することがない。また、前記プランジャーからの測定装置側の出力は、検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する一対のプランジャーの出力端部に接続し、幾何学的に略対称性を有し、しかも、略同一長とした一対の信号線によって出力されるから、外部からのノイズが一対の信号線に入っても、互いに相殺されて出力としてそれが現れることがない。したがって、前記プローブ及び前記プローブから計測機器の間に測定信号にノイズが載ることがなくなる。
The probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to
Thus, since the length direction of the outer periphery of the plunger is coated with an insulator, other than the plunger does not have electrical conductivity, and the signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected is different from that of the signal. The signal that enters from the portion can be eliminated, and noise from the probe can be prevented. In addition, since the insulating layer is formed in the length direction of the outer periphery of the plunger, parts such as a spring are energized with the plunger and no resonance frequency is generated. Further, the output on the measuring device side from the plunger is connected to the output ends of a pair of plungers that are elastically contacted with the signal terminal and the ground terminal of the electronic device to be inspected, and has geometrically substantially symmetrical properties. In addition, since the signals are output by a pair of signal lines having substantially the same length, even if external noise enters the pair of signal lines, they are canceled out and do not appear as outputs. Therefore, no noise is placed on the measurement signal between the probe and the probe and the measuring device.
請求項3の電子機器の自動検査装置用プローブの前記検査対象の電子機器の信号端子とアース端子に弾接する一対のプランジャーの出力端部に接続した測定装置に至る信号線には、シールド線を使用するものであるから、請求項2に記載の効果に加えて、前記検査対象の電子機器の信号がシールドされていることによって、外部からのノイズの進入がなくなり、測定値にノイズに起因する誤差が発生しない。
A signal wire leading to a measuring device connected to an output end of a pair of plungers elastically contacting a signal terminal and a ground terminal of the electronic device to be inspected of the probe for an automatic inspection device for an electronic device according to claim 3 is a shielded wire. In addition to the effect according to
請求項4の電子機器の自動検査装置は、検査対象の電子機器の信号端子に弾接する検出端部を有し、反対側の出力端部から前記検査対象の電子機器の信号端子から得た信号を測定装置側に出力するプローブ、並びに、前記プローブを二次元空間または三次元空間を移動させる多軸ロボット、並びに前記多軸ロボットの姿勢制御を行うロボット制御回路を収容するシールドボックスをシールドルームに収容し、そして、前記シールドルームの室外に前記プローブの一対のプランジャーの出力端部に接続した測定装置及び前記多軸ロボットの姿勢制御を行うロボット制御装置を具備するものである。
このように、前記多軸ロボット、並びに前記プローブ、並びに前記多軸ロボットのロボット制御回路を収容するシールドボックスをシールドルームに収容し、前記シールドルームの室外に測定装置及びロボット制御装置を配置するものであり、前記多軸ロボット並びに前記プローブ並びに前記多軸ロボットのロボット制御回路をシールドボックスに入れたものであるから、前記シールドルーム内のシールドボックスによってノイズ発生源を閉じ込め、かつ、前記シールドルーム内に外部からのノイズ、前記シールドルーム内で発生した輻射ノイズが殆ど存在していないから、ノイズの入らない測定が可能となる。また、前記多軸ロボットの使用によって、検査対象の電子機器の形状変化にも対応できる。したがって、前記プローブを移動させる検査対象の機器の移動の際のロボットの制御信号が電子機器のノイズとなって入り込むことがない。
The automatic inspection apparatus for an electronic device according to claim 4 has a detection end portion that elastically contacts a signal terminal of the electronic device to be inspected, and a signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from an output end on the opposite side A shield box that houses a probe that outputs to the measuring device, a multi-axis robot that moves the probe in a two-dimensional space or a three-dimensional space, and a robot control circuit that controls the attitude of the multi-axis robot. A measuring apparatus connected to the output ends of a pair of plungers of the probe and a robot controller for controlling the attitude of the multi-axis robot are provided outside the shield room.
Thus, the multi-axis robot, the probe, and the shield box that houses the robot control circuit of the multi-axis robot are housed in a shield room, and the measurement device and the robot control device are disposed outside the shield room. Since the multi-axis robot, the probe, and the robot control circuit of the multi-axis robot are put in a shield box, the noise generation source is confined by the shield box in the shield room, and the shield room Since there is almost no noise from the outside and no radiation noise generated in the shield room, measurement without noise is possible. In addition, the use of the multi-axis robot can cope with changes in the shape of the electronic device to be inspected. Therefore, the control signal of the robot when the device to be inspected that moves the probe does not enter the electronic device as noise.
請求項5にかかる電子機器の自動検査装置の前記シールドルームの室外に設置された前記ロボット制御装置は、前記シールドルームの室内に設置された前記多軸ロボットを流体でその電源のオン・オフ制御またはロボットの動作制御をするものであるから、請求項4に記載の効果に加えて、前記ロボット制御装置は流体を使用することにより、ロボット制御系からノイズを発生させることなく、かつ、前記多軸ロボットからの電磁ノイズの発生を防止できる。
The robot control device installed outside the shield room of the automatic inspection device for electronic equipment according to
[実施の形態1]
以下、本発明の実施の形態について、図面に基づいて説明する。なお、各実施の形態において、図中、同一記号及び同一符号は、同一または相当する機能部分であるから、ここでは重複する説明を省略する。
[Embodiment 1]
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that, in each embodiment, the same symbols and the same reference numerals in the drawings are the same or corresponding functional parts, and therefore, redundant description is omitted here.
図1は本発明の実施の形態1における電子機器の自動検査装置用プローブの構成図である。
図において、黄銅またはアルミニウム等の金属からなるプランジャー10は、検査対象の電子機器1(図5、図6参照)の信号端子2(図6参照)に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3(図5参照)側に出力すると共に、検出端部10aとその反対側の出力端部10bの両端を除き、その外周の長さ方向を絶縁物でコーティングし絶縁層11としている。この絶縁層11はプランジャー10の表面に合成樹脂を塗布してもよいし、筒状の絶縁管体を嵌め込んでもよい。電子機器1の信号端子2に弾接する検出端部10aは、円錐形でもよいが、本実施の形態では、中心を凹部とし、外周に3点の突出した先端部とし、信号端子2との弾接が確実に行われるようになっている。
FIG. 1 is a configuration diagram of a probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to
In the figure, a
プランジャー10の絶縁層11は、検出端部10aとその反対側の出力端部10bの両端側を除き、その外周の長さ方向を絶縁層11としているが、本発明を実施する場合には、出力端部10bは、更に、信号線16との導通が得られる程度に、その出力端部10bの全体を合成樹脂等でコーティングしてもよい。特に、出力端部10bは、信号線16との導通が得られるように接続した後にコーティングしてもよい。何れにせよ、出力端部10bには電気的導通が得られる程度に絶縁層11を形成すればよい。
The insulating
本実施の形態では、プランジャー10の外周に合成樹脂からなる絶縁層11を形成し、そのプランジャー10の長さの中央部付近で絶縁物からなるフランジ12を射出成形によってプランジャー10と絶縁層11と互いに一体に形成している。フランジ12は、その大径部の外周は摺動面となっており、カバー体13の内面を摺動する構造となっている。また、その小径部は、コイルスプリングからなるスプリング14が挿入されており、カバー体13の端部との間で圧縮している弾性力の圧縮方向及び伸張方向を規制している。
In the present embodiment, an insulating
なお、絶縁層11とフランジ12は、合成樹脂の2色成形した事例で説明したが、プランジャー10の外周に、合成樹脂の単一材料で一体に射出形成することができる。また、スプリング14としてコイルスプリングからなる事例で説明したが、本発明を実施する場合には、スプリング14としてはコイルスプリングに限定されるものではなく、他の構造のスプリングとすることもできる。
In addition, although the insulating
即ち、カバー体13の一方の出力端部10b側の端部は、プランジャー10の絶縁層11に接触する程度の貫通孔の当接部13aとなっており、そこにはスプリング14の一端が配設されている。フランジ12の大径部側は、その外周がカバー体13の内面に摺動自在になっている。そして、フランジ12の端部には、その外周に螺旋が形成されており、ストッパ15が螺合し、フランジ12がカバー体13から脱するのを規制している。カバー体13のフランジ12の大径部側は、外側に螺旋が形成されており、ストッパ15が螺合し、フランジ12がカバー体13から脱するのをストッパ15が規制している。
That is, the end on the one
なお、カバー体13及びストッパ15は、合成樹脂等の絶縁物で形成してもよいし、金属等の電気導体で形成してもよい。電気導体で形成する場合には、アース電位を導くのが望ましい。
プランジャー10の出力端部10b側には、検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3側に出力する接続端子10cが形成されている。接続端子10cには、信号線16の端部に圧着端子16aを取付け、その圧着端子16aを螺子16bで螺止している。本発明を実施するためのプランジャー10の出力端部10b側は、信号線16との間が電気的、機械的に接続できればよい。
The
A
このように、本実施の形態1の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器1の信号端子2に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3側に出力すると共に、検出端部10aと出力端部10bの両端を除き、その外周の長さ方向を絶縁層11で形成してなるプランジャー10と、プランジャー10を被い、プランジャー10がその長さ方向に摺動自在に配設されたカバー体13と、プランジャー10とカバー体13との間に配設され、プランジャー10との間を非導通とし、検査対象の電子機器1の信号端子2との弾接力を得るスプリング14とを具備するものである。ここで、プランジャー10、絶縁層11、フランジ12、カバー体13、スプリング14、ストッパ15はプローブA,Bを構成している。ここでは、プローブAは検査対象の電子機器1の信号を、プローブBはアース電位を検出するものとする。
As described above, the probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to the first embodiment has the
なお、本発明における信号端子及びアース端子とは、単に所定の電圧の端子を意味するものではなく、出力がアース電位である信号端子をも含むもので、アースに落とされた端子、アースに接続された電子機器1のケース1a(図6参照)、そのアース線等も信号端子、アース端子とするものである。
In addition, the signal terminal and the ground terminal in the present invention do not simply mean a terminal having a predetermined voltage, but also include a signal terminal whose output is a ground potential. The
本実施の形態の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器1の信号端子2に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3側に出力すると共に、その両端の検出端部10aと出力端部10bを除き、その外周の長さ方向を絶縁物からなる絶縁層11で形成してなるプランジャー10を、カバー体13によってその長さ方向にのみ摺動自在とし、かつ、プランジャー10とカバー体13との間に配設したスプリング14によって、検査対象の電子機器1の信号端子2にプランジャー10の検出端部10aを弾接させ、電気信号をプランジャー10のみを介して測定装置3側に出力する。
The probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to the present embodiment has a
このように、プランジャー10の外周の長さ方向を絶縁物でコーティングしているので、プランジャー10以外が導通性を持たず、検査対象の電子機器1の信号端子2から得られた信号に他の部分から入り込む信号を排除でき、ノイズが入るのを防止できる。また、プランジャー10の外周の長さ方向を絶縁物からなる絶縁層11で形成しているから、スプリング14等の部品がプランジャー10と通電し、共振周波数が発生することがない。したがって、測定信号にノイズが載ることがなくなる。
Thus, since the length direction of the outer periphery of the
[実施の形態2]
図2は本発明の実施の形態2における電子機器の自動検査装置用プローブの構成図で正面図(a)及び平面図(b)を示すものである。また、図3は本発明の実施の形態2における電子機器の自動検査装置用プローブの変形例1の構成図で正面図(a)及び平面図(b)、図4は本発明の実施の形態2における電子機器の自動検査装置用プローブの変形例2の構成図で正面図(a)及び平面図(b)である。
[Embodiment 2]
FIG. 2 is a configuration diagram of a probe for an automatic inspection apparatus for an electronic device according to
図2乃至図4において、電子機器の自動検査装置用プローブとしてのプランジャー10、絶縁層11、フランジ12、スプリング14、ストッパ15等の構成は、実施の形態1と基本的に同じであるので、その説明を省略する。
本実施の形態のカバー体13は、各々独立構造を有しており、独立した2個のプランジャー10を収容するものであるが、カバー体13相互間を本体取付部13b側で接続し、一体化してもよい。シリンダチャック51は、多軸ロボット5(図5、図6参照)のハンドの先端であり、そこには、カバー体13の本体取付部13bがボルトによって取付けられている。
カバー体13には信号線導出用の長孔13cが形成されていて、そこからプランジャー10の出力端部10b側に接続した信号線16をカバー体13の外部に取り出している。
2 to 4, the configuration of the
Each of the
A
この信号線16は、検査対象の電子機器1の信号を検出するプローブA、アース電位を検出するプローブBが共にプランジャー10の出力端部10b側に接続した信号線16をカバー体13の長孔13cから取出している。そして、プローブA、プローブBから測定装置3に至るまでの信号線16は、各プローブからの長さを略同一長とし、かつ、その信号線16の形状に幾何学的に略対称性を持たせている。勿論、一対の信号線16を絶縁性のワイヤーハーネス結束テープで結束して略対称性を持たせてもよい。図2の実施の形態では、多軸ロボット5のシリンダチャック51の位置では、一対の信号線16を絶縁性のサドル13dによって固定している。しかし、一対の信号線16の幾何学的に略対称性を得るために、1ターンの余裕を持たせ、一対の信号線16に歪が入らないようにしている。
したがって、プランジャー10の伸縮による信号線16の変化は、プランジャー10の出力端部10bからサドル13dの位置までで行われるが、そのプランジャー10の往復動に起因する歪は一対の信号線16の特定の場所に加わらないようにしている。
The
Therefore, the change of the
図2に示す実施の形態では、信号線導出用の長孔13cにより、プランジャー10の変異が大きくても対応できるようになっている。しかし、現実には、プランジャー10の検出端部10aが検査対象の電子機器1の信号端子2では、10[mm]程度の変異によって弾性力を付与するものであるから、図3の実施の形態の変形例1のように、円からなる小孔13eからプランジャー10の出力端部10b側に接続した信号線16をカバー体13から取出すこともできる。
In the embodiment shown in FIG. 2, even if the
また、図4の実施の形態の変形例2では、図2の実施の形態のように、多軸ロボット5のシリンダチャック51の位置では、一対の信号線16を絶縁性のサドル13dによって固定しているが、一対の信号線16の略対称性を得るために、1ターンの余裕を持たせていない。即ち、プランジャー10の伸縮による信号線16の変化は、プランジャー10の出力端部10bからサドル13dの位置までで行われるが、その歪は一対の信号線16の特定の場所に加わるものでないので、若干のゆとりを持たせて配線している。信号線導出用の長孔13fは、一対の信号線16の特定の場所にストレスが入らなくしている。なお、長孔13gは、内部確認用である。
In the second modification of the embodiment shown in FIG. 4, as in the embodiment shown in FIG. 2, at the position of the
検査対象の電子機器1の信号を検出するプローブAには、位相調整用回路、即ち、抵抗とトリマコンデンサの並列回路が直列接続されてもよい。この位相調整用回路は、検出する周波数によって波形歪が生じないように較正するもので、通常、トリマコンデンサのコンデンサ容量を変化させることによって調整している。勿論、この目的のために内部インピーダンスが高い電子回路を使用することもできる。
A phase adjustment circuit, that is, a parallel circuit of a resistor and a trimmer capacitor may be connected in series to the probe A that detects the signal of the
実施の形態2の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器1の信号端子2と電子機器1のケース1a側から得るアース端子に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3側に出力すると共に、検出端部10aと出力端部10bの両端を除き、その外周の長さ方向を絶縁物からなる絶縁層11で被覆した一対のプランジャー10と、プランジャー10を被い、プランジャー10がその長さ方向に摺動自在に配設された単体または一対に形成されたカバー体13と、一対のプランジャー10とカバー体13との間に配設され、プランジャー10との間を非導通とし、検査対象の電子機器1の信号端子2との弾接力を得る一対のスプリング14と、検査対象の電子機器1の信号端子2とアース端子に弾接する一対のプランジャー10の他端に接続し、略対称性を有し、略同一長とした一対の信号線16とを具備するものである。
The probe for an automatic inspection device for an electronic device according to the second embodiment has a
実施の形態2の電子機器の自動検査装置用プローブは、検査対象の電子機器1の信号端子2とケース1a側のアース端子に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号を測定装置3側に出力すると共に、信号端子2とアース端部並び測定装置3側に出力する検出端部10a及び出力端部10bを除き、その外周の長さ方向を絶縁層11で絶縁してなる一対のプランジャー10をカバー体13によってその長さ方向にのみ摺動自在とし、かつ、前記一対のプランジャー10とカバー体13との間に配設した一対のスプリング14によって、検査対象の電子機器1の信号端子2にプランジャー10の一端を弾接させ、検査対象の電子機器1の信号端子2からの電気信号をプランジャー10のみを介して測定装置3側に出力する。そして、プランジャー10からの測定装置3側の出力は、検査対象の電子機器1の信号端子2とケース1a側(アース端子)に弾接する検出端部10aを経て、一対のプランジャー10の出力端部10bに接続した信号線16によって出力される。
The probe for an automatic inspection device for an electronic device according to the second embodiment has a
このように、プランジャー10の外周の長さ方向を絶縁物で絶縁層11を形成しているので、プランジャー10以外が導通性を持たず、検査対象の電子機器1の信号端子2から得られた信号に他の部分から入り込む信号を排除でき、プローブAからノイズが入るのを防止できる。また、プランジャー10の外周の長さ方向を絶縁物の絶縁層11で形成しているから、スプリング14等の部品がプランジャー10と通電し、共振周波数が発生することがない。また、プランジャー10からの測定装置3側の出力は、検査対象の電子機器1の信号端子2とケース1a側(アース端子)に弾接する一対のプランジャー10の他端に接続し、略対称性を有し、しかも、略同一長とした一対の信号線16によって出力されるから、外部からのノイズが一対の信号線16に入っても、互いに相殺されて出力としてそれが現れることがない。したがって、前記プローブA,B及び前記プローブA,Bから計測機器の間に測定信号にノイズが入ることがなくなる。
In this way, since the insulating
また、図2乃至図4の実施の形態では、検査対象の電子機器1の信号端子2とケース1a側(アース端子)に弾接する一対のプランジャー10の他端に接続した測定装置3に至る一対の信号線16には、その被覆側をシールドしたシールド線を使用するものでは、シールドされることによって、検査対象の電子機器1の信号に外部からのノイズの侵入がなくなり、測定値にノイズに起因する誤差が発生しない。
そして、検査対象の電子機器1の信号端子2に弾接する一対のプランジャー10の他端の出力端部10bに接続した測定装置3に至る信号線16には、その一方の信号線16に位相調整用回路を接続したものでは、検査対象の電子機器1の信号端子2から得た信号の周波数の違いによる位相の乱れが生じず、ノイズの重畳が少ない範囲で測定可能な周波数帯域を広くすることができる。
Further, in the embodiment shown in FIGS. 2 to 4, the
Then, the
このように構成された電子機器の自動検査装置用プローブは、次のように設置される。
図5は本発明の実施の形態3における電子機器の自動検査装置用プローブを用いた電子機器の自動検査装置の全体構成図である。図6は本発明の実施の形態3における電子機器の自動検査装置の多軸ロボット(a)、正面位置合わせの説明図(b)、前後方向の位置合わせの説明図(c)である。
The probe for an automatic inspection device for an electronic device configured as described above is installed as follows.
FIG. 5 is an overall configuration diagram of an electronic apparatus automatic inspection apparatus using the electronic apparatus automatic inspection apparatus probe according to Embodiment 3 of the present invention. FIG. 6 is a multi-axis robot (a) of the electronic device automatic inspection apparatus according to Embodiment 3 of the present invention, an explanatory view (b) of front alignment, and an explanatory view (c) of alignment in the front-rear direction.
図5において、シールドルーム30は、電磁波が外部から入り込まないように磁気的、電気的シールドを施した電磁シールデッドルームで、所定の値以下の電界強度となっている。シールドボックス31は同様に電磁シールデッドルームとなったボックスで内部に多軸ロボット5のティーチング等の制御を行う図示しないロボット制御回路及び/またはプローブの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続して測定装置3側に至る信号を電気/光変換する図示しない電気/光変換回路等を収容している。
In FIG. 5, a
多軸ロボット5は、ロボット制御回路によって制御される油圧等の流体で各関節が制御されるようになっている。作業台32は検査対象の電子機器1を載置する台で、所定の重量を有し、検査対象の電子機器1の少なくとも二次元位置または三次元位置を特定するものである。具体的には、図6(c)に示すように、作業台32の上面に形成された正面基準片32cにより検査対象の電子機器1の前面を位置決めし、そして、図6(b)に示すように、作業台32の正面基準位置を特定する左右基準片32aに電子機器1の片方の側面を合わせ、他方の側面から可動基準片32bを押し当てて、そこで可動基準片32bを特定し、電子機器1を固定するものである。図6(c)に示す正面基準片32cによる検査対象の電子機器1の前面を位置決めは、電子機器1の背面の位置決めとすることもできる。電子機器1の位置決めは、マニュアルで行ってもよいし、多軸ロボット5に行わせてもよい。
In the
このように検査対象の電子機器1を位置決めすると、電子機器1の背面の信号端子2の位置が特定される。ここでは、信号端子2が螺子信号端子2a,2b,・・・2jの場合で説明するが、コネクタの場合でもプランジャー10の先端の形状が違う程度で、基本的操作は同様である。アース端子は通常電子機器1のケース1aがアース側となっているので、プローブA側のプランジャー10が順次、螺子信号端子2a,2b,・・・2jに弾接し、プローブB側がケース1a側に弾接するように位置制御される。具体的には、実施の形態では、プローブAが螺子信号端子2a〜2eとプローブBがその上のケースに弾接して、また、プローブAが螺子信号端子2f〜2jとプローブBがその下のケースに弾接して、信号が検出される。
When the
本実施の形態のシールドボックス31は、その内部に多軸ロボット5の制御を行う図示しないロボット制御回路を収容している。また、プローブA及びプローブBの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続して測定装置3に至る信号出力として、電気/光変換する図示しない電気/光変換回路も収容している。そして、シールドルーム30の室外に設置された測定装置3との間は、光ケーブル40によってシールドルーム30外に導いている。また、シールドルーム30の室外に設置されたロボット制御装置4との間は、遮蔽処理した管路を経てシールドルーム30外に導いている。
The
ここで、測定装置3と多軸ロボット5が持つプローブA、プローブBとの間は、検査対象の電子機器1の信号をリヤルタイムに確認するために、測定している時間中、各端子の出力にノイズが載らないように、途中でプローブA、プローブBの出力を電気/光変換回路で電気/光変換して、ノイズに強い対応としている。勿論、本発明を実施する場合には、遮蔽処理した管路を経てシールドルーム30外に直接信号線16を導き、測定装置3に接続してもよい。
Here, between the probe A and the probe B of the measuring device 3 and the
また、ロボット制御装置4は、検査対象の電子機器1の信号端子2の螺子信号端子2a,2b,・・・,2jをティーチングして、順次、螺子信号端子2a,2b,・・・,2jの出力を測定するものであるから、シールドルーム30の室外からそれを指示する必要性はなく、シールドボックス31内でそれを制御してもよい。このときは、ロボット制御装置4とシールドボックス31との間の回路をアース電位に落とすことができる。
そして、多軸ロボット5の各関節を流体で制御するものでは、その流体制御をシールドルーム30の室外で行うこともできる。
The robot control device 4 teaches the
In the case of controlling each joint of the
このように、本実施の形態の電子機器の自動検査装置は、検査対象の電子機器1の信号端子2の螺子信号端子2a,2b,・・・,2jに弾接する検出端部10a、及び信号端子2のケース1aに弾接する検出端部10aを有し、両反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2の螺子信号端子2a,2b,・・・,2jから得た信号及びケース1aから得た信号を測定装置3側に出力するプランジャー10を有するプローブA及びプローブBと、検査対象の電子機器1の信号端子2に弾接するプローブAとケース1a(アース端子)に弾接するプローブBの一対のプランジャー10の他端に接続した測定装置3に至る信号を電気/光変換信号として出力する光ケーブル40と、プローブA及びプローブBを二次元空間または三次元空間を移動させる多軸ロボット5と、プローブA及びプローブBの一対のプランジャー10の他端に接続して測定装置3側に至る信号を電気/光変換する図示しない電気/光変換回路及びその電気/光変換信号を出力する光ケーブル40の一部を収容すると共に、多軸ロボット5の図示しないロボット制御回路を収容するシールドボックス31と、多軸ロボット5及びプローブA、プローブB及びシールドボックス31を収容するシールドルーム30と、シールドルーム30の室外に設置され、光ケーブル40の他端側に接続された測定装置3とを具備するものである。
As described above, the automatic inspection device for an electronic device according to the present embodiment includes the
また、本実施の形態の電子機器の自動検査装置は、多軸ロボット5、並びにプローブA及びプローブB、並びにプローブA及びプローブBの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続して測定装置3側に至る信号を電気/光変換する図示しない電気/光変換回路及びその電気/光変換信号を出力する光ケーブル40の一部及び多軸ロボット5の図示しないロボット制御回路を収容するシールドボックス31をシールドルーム30に収容し、シールドルーム30の室外に光ケーブル40の他端側に接続された測定装置3及び多軸ロボット5を制御するシールドルーム30の室外に設置されたロボット制御装置4を配置するものであり、多軸ロボット5並びにプローブA及びプローブB並びに多軸ロボット5の図示しないロボット制御回路及び図示しない電気/光変換回路及び光ケーブル40の一端をシールドボックス31に入れたものであるから、シールドルーム30内のシールドボックス31によってノイズ発生源を閉じ込め、かつ、シールドルーム30内に外部からのノイズが入らないように構成されているから、前記シールドルーム内で発生した輻射ノイズが殆ど存在しておらず、ノイズの入らない測定が可能となる。また、多軸ロボット5の使用によって、検査対象の電子機器1の形状変化にも対応できる。そして、光ケーブルの使用によって電磁波がノイズとして加わらなくなる。
したがって、プローブA及びプローブBを移動させる検査対象の機器の移動の際のロボットの制御信号、電気/光変換回路の信号変換時の信号が電子機器1のノイズとなって入り込むことがない。
In addition, the automatic inspection apparatus for an electronic device according to the present embodiment is connected to the
Therefore, the control signal of the robot and the signal at the time of signal conversion of the electrical / optical conversion circuit when moving the device to be inspected for moving the probe A and the probe B do not enter the
そして、上記実施の形態の電子機器の自動検査装置は、検査対象の電子機器1の信号端子2に弾接する検出端部10aを有し、反対側の出力端部10bから検査対象の電子機器1の信号端子2及びアースから得た信号を測定装置3側に出力するプランジャー10を有するプローブA及びプローブBと、検査対象の電子機器1の信号端子2とアースに弾接するプローブA及びプローブBの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続した測定装置3に至る信号を電気/光変換信号として出力する光ケーブル40と、プローブA、プローブBを二次元空間または三次元空間を移動させる多軸ロボット5と、プローブA、プローブBの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続して測定装置3側に至る信号を電気/光変換する図示しない電気/光変換回路及びその電気/光変換信号を出力する光ケーブル40の一部を収容するシールドボックス31と、多軸ロボット5及びプローブA及びプローブB及びシールドボックス31を収容するシールドルーム30と、シールドルーム30の室外に設置され、光ケーブル40の他端側に接続された測定装置3と、多軸ロボット5に取付けられたプローブA及びプローブBが、二次元空間または三次元空間を移動自在に流体によって制御するシールドルーム30の室外に設置されたロボット制御回路4を具備するものである。
The automatic inspection apparatus for electronic devices according to the above-described embodiments has a
本実施の形態の電子機器の自動検査装置は、多軸ロボット5、並びにプローブA及びプローブB、並びにプローブA及びプローブBの一対のプランジャー10の出力端部10bに接続して測定装置3側に至る信号を電気/光変換する電気/光変換回路及びその電気/光変換信号を出力する光ケーブル40の一部を収容するシールドボックス31をシールドルーム30に収容し、シールドルーム30の室外に光ケーブル40の他端側に接続された測定装置3及びロボット制御装置4を配置するものであり、多軸ロボット5並びにプローブA及びプローブB並びに電気/光変換回路及び光ケーブル40の一端をシールドボックス31に入れたものであるから、シールドルーム30内のシールドボックス31によってノイズ発生源を閉じ込め、かつ、シールドルーム30内に外部からのノイズが入らないように構成されているから、ノイズの入らない測定が可能となる。
The automatic inspection apparatus for electronic equipment according to the present embodiment is connected to the
また、多軸ロボット5の使用によって、検査対象の電子機器1の形状変化にも対応できる。更に、多軸ロボット5は、シールドルーム30の室外に設置されたロボット制御装置4との間を、流体を介して二次元空間または三次元空間を移動自在に制御するものとすることができる。このとき、プローブA及びプローブBを移動させる検査対象の電子機器1の移動の際、多軸ロボット5の動作信号が電子機器1のノイズとなって入ることがない。
したがって、プローブA及びプローブBを移動させる検査対象の電子機器1の移動の際の多軸ロボット5の制御信号、電気/光変換回路の信号変換時の信号が電子機器のノイズとなって入ることがない。
そして、シールドルーム30内の多軸ロボット5とその室外に設置されたロボット制御装置4との間を流体を介してロボット制御装置4の電源のオン・オフ制御を行い、ロボット制御装置4の仔細な制御は、シールドルーム30内の多軸ロボット5とその室外に設置されたロボット制御装置4との間を光信号で制御することができる。
Further, the use of the
Therefore, the control signal of the
Then, the robot controller 4 is turned on / off via a fluid between the
A,B プローブ
1 検査対象の電子機器
1a ケース
3 測定装置
4 ロボット制御装置
10 プランジャー
10a 検出端部
10b 出力端部
11 絶縁層
13 カバー体
14 スプリング
16 信号線
30 シールドルーム
31 シールドボックス
A,
Claims (5)
前記プランジャーを被い、前記プランジャーがその長さ方向に摺動自在に配設されたカバー体と、
前記プランジャーと前記カバー体との間に配設され、前記プランジャーとの間を非導通とし、前記検査対象の電子機器の信号端子との弾接力を得るスプリングと
を具備することを特徴とする電子機器の自動検査装置用プローブ。 It has a detection end that elastically contacts the signal terminal of the electronic device to be inspected, and outputs the signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from the opposite output end to the measuring device side and also detects both ends A plunger formed by forming an insulating layer in the length direction of the outer periphery, excluding the end and the output end,
A cover body that covers the plunger and in which the plunger is slidably disposed in its length direction;
A spring that is disposed between the plunger and the cover body, is non-conductive between the plunger, and obtains an elastic contact force with a signal terminal of the electronic device to be inspected. Probe for automatic inspection equipment of electronic equipment.
前記プランジャーを被い、前記プランジャーがその長さ方向に摺動自在に配設された単体または一対からなるカバー体と、
前記一対のプランジャーと前記カバー体との間に配設され、前記プランジャーとの間を非導通とし、前記検査対象との弾接力を得る一対のスプリングと、
前記一対のプランジャーの出力端部に接続し、幾何学的に略対称性を有し、略同一長とした一対の信号線と
を具備することを特徴とする電子機器の自動検査装置用プローブ。 It has a detection end that elastically contacts the signal terminal and the ground terminal of the electronic device to be inspected, and outputs the signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected from the opposite output end to the measuring device side, A pair of plungers formed by forming an insulating layer in the length direction of the outer periphery, excluding the detection ends and output ends at both ends,
A single or a pair of cover bodies covering the plunger, the plunger being slidably disposed in its length direction;
A pair of springs disposed between the pair of plungers and the cover body, non-conducting between the plungers, and obtaining an elastic contact force with the inspection object;
A probe for an automatic inspection device for an electronic device, comprising: a pair of signal lines connected to output ends of the pair of plungers and geometrically substantially symmetrical and having substantially the same length .
前記プローブを二次元空間または三次元空間を移動させる多軸ロボットと、
前記多軸ロボットの姿勢制御を行うロボット制御回路を収容するシールドボックスと、
前記多軸ロボット及び前記プローブ及び前記シールドボックスを収容するシールドルームと、
前記プローブの一対のプランジャーの出力端部に接続し、前記シールドルームの室外に設置された測定装置と、
前記多軸ロボットの姿勢制御を行う前記シールドルームの室外に設置されたロボット制御装置と
を具備することを特徴とする電子機器の自動検査装置。 A probe having a detection end that elastically contacts a signal terminal of an electronic device to be inspected, and a plunger that outputs a signal obtained from the signal terminal of the electronic device to be inspected to the measuring device side from an output end on the opposite side When,
A multi-axis robot that moves the probe in a two-dimensional space or a three-dimensional space;
A shield box containing a robot control circuit for controlling the posture of the multi-axis robot;
A shield room that houses the multi-axis robot, the probe, and the shield box;
A measuring device connected to the output ends of a pair of plungers of the probe and installed outside the shield room;
An automatic inspection apparatus for electronic equipment, comprising: a robot control device installed outside the shield room for controlling the posture of the multi-axis robot.
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