JP2009277008A - Interface inspection device and interface inspection method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an interface inspection technology for inspecting an interface at a high speed, and for reducing an inspection error without being affected by the base of an interface. <P>SOLUTION: An interface inspection device 10 is provided with: a signal circuit 161 in which interfaces 20a to 20n and contacts Pa to Pn for transferring a signal are installed, and a transmission path for transmitting supplied simulation signals to respective contacts Pa to Pn is formed, and a switch SW for switching between a short-circuit state and a release state of the transmission path leading to respective contacts Pa to Pn is installed; and a control part 162 for receiving the input of an inspection start signal, supplying the simulation signal to the signal circuit 161, receiving the input of the selection signal of the target interface to which the simulation signal is input, short-circuiting the transmission path leading to the contact connected to the target interface, and switching the switch SW to release the transmission path leading to each of the residual contacts. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェース検査技術に係り、特に、インタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法に関する。   The present invention relates to an interface inspection technique for receiving a process signal generated according to a process amount of a plant and outputting the process signal to a process control device, and more particularly, inputting a simulation signal to an interface, The present invention relates to an interface inspection apparatus and an interface inspection method for determining response accuracy of an interface by inputting a response signal output from an interface to a measuring instrument.

従来、インタフェース検査技術としては、プリンタのプロセス制御装置と印字用アクチュエータとの間に介設されるインタフェースを検査するもので、そのコントローラのCPU上でインタフェースの検査を行える高効率且つ簡易なインタフェース検査技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開平06−001050号公報
Conventionally, as an interface inspection technique, an interface interposed between a printer process control device and a printing actuator is inspected, and a high-efficiency and simple interface inspection that can inspect the interface on the CPU of the controller. A technique is known (see, for example, Patent Document 1).
Japanese Patent Laid-Open No. 06-001050

発電プラントや化学プラントなどの大規模プラントにあっては、流量、圧力などのプロセス量をアナログ電気信号としてプロセス制御装置に入力する数多くのインタフェースが設けられる。   In a large-scale plant such as a power plant or a chemical plant, many interfaces are provided for inputting process quantities such as flow rate and pressure as analog electric signals to the process control device.

特に、原子力発電プラントにあっては、インタフェースの検査は定期検査時の限られた期間内で遂行しなければならず、検査作業の迅速化が求められている。また、検査作業の迅速化の要求とも相まって人的要因に基づく検査ミスの頻度低減が求められている。特許文献1にて説明されるインタフェース検査技術にあっては、インタフェースの基数増加に伴うインタフェースの検査迅速化および検査ミスの頻度低減の要求に応えることはできない。   In particular, in a nuclear power plant, inspection of an interface must be performed within a limited period at the time of periodic inspection, and speeding up of inspection work is required. In addition, coupled with the demand for faster inspection work, there is a need to reduce the frequency of inspection errors based on human factors. In the interface inspection technology described in Patent Document 1, it is impossible to meet the demands for speeding up the inspection of the interface and reducing the frequency of inspection errors accompanying the increase in the radix of the interface.

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できるインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an interface inspection apparatus and an interface inspection method capable of speeding up an inspection operation and reducing inspection errors regardless of the radix of the interface. .

上述した目的を達成するため、本発明に係るインタフェース検査装置では、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置において、インタフェースと信号受け渡し行う接点が複数設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点に一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点に至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチを有する信号回路と、検査開始信号の入力を受けて、前記信号回路へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するように前記スイッチを切り替える制御部と、を備えることを特徴とする。   In order to achieve the above-described object, the interface inspection apparatus according to the present invention receives a process signal generated according to the process amount of the plant and outputs a simulation signal to the interface that outputs the process signal to the process control apparatus. In the interface inspection device that determines the response accuracy of the interface by inputting the response signal output from the interface to the measuring instrument, a plurality of contacts for signal transfer with the interface are provided. A signal circuit that forms a transmission path that collectively transmits to the contacts and that has a switch that switches between short-circuiting and releasing of the transmission path that reaches each contact, receives a test start signal, supplies a simulation signal to the signal circuit, and simulates Upon receiving the selection signal of the target interface to which the signal is input, the target interface Characterized in that it comprises a control unit for switching the switch to release the transmission path to the rest of the contact as well as shorting the transmission path to the contacts connected to the over scan.

また、本発明に係るインタフェース検査方法では、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を検査するインタフェース検査方法において、複数基のインタフェースと信号受け渡しを行う信号伝送路を形成する準備プロセスと、前記信号伝送路を介して模擬信号を各インタフェースに入力する模擬信号の入力プロセスと、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、模擬信号が入力可能なインタフェースをその対象インタフェースに限定する模擬信号の入力制御をコンピュータに実行させるプロセスと、を有することを特徴とする。   In the interface inspection method according to the present invention, a process signal generated according to the process amount of the plant is input, a simulation signal is input to an interface that outputs the process signal to the process control device, and the interface In the interface inspection method for inspecting the response accuracy of an interface by inputting a response signal output from a measuring instrument to a measuring instrument, a preparation process for forming a signal transmission path for passing signals to and from a plurality of interfaces, and the signal transmission path In response to the input process of the simulation signal that inputs the simulation signal to each interface and the selection signal of the target interface to which the simulation signal is input, the interface of the simulation signal that limits the interface that can input the simulation signal to the target interface A process that causes the computer to perform input control; Characterized in that it has a.

本発明によれば、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。   According to the present invention, inspection work can be speeded up and inspection errors can be reduced without being influenced by the cardinal number of the interface.

本発明に係るインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法の実施形態を、添付図面を参照して説明する。   Embodiments of an interface inspection apparatus and an interface inspection method according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

図1はインタフェース検査装置の実施形態を示すシステム構成図である。   FIG. 1 is a system configuration diagram showing an embodiment of an interface inspection apparatus.

本実施形態のインタフェース検査装置10は、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置(不図示)に出力するインタフェース20の検査装置である。インタフェース検査装置10は、インタフェース20に対してプロセス信号を模擬した模擬信号を入力し、このインタフェース20から出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定する。   The interface inspection apparatus 10 according to this embodiment is an inspection apparatus for the interface 20 that receives an input of a process signal generated according to a process amount of a plant and outputs the process signal to a process control apparatus (not shown). The interface inspection apparatus 10 inputs a simulation signal simulating a process signal to the interface 20 and inputs a response signal output from the interface 20 to a measuring instrument to determine the response accuracy of the interface.

インタフェース検査装置10は、図1に示すように、音声信号ケーブル11と、検査信号ケーブル12と、装置本体13と、を備える。   As shown in FIG. 1, the interface inspection apparatus 10 includes an audio signal cable 11, an inspection signal cable 12, and an apparatus body 13.

インタフェース検査装置10の音声信号ケーブル11は、インタフェース20の検査者の音声を装置本体13に入力する。検査信号ケーブル12は、装置本体13から出力される模擬信号をインタフェース20に入力し、また、インタフェース20から出力される応答信号を装置本体13に入力する。   The audio signal cable 11 of the interface inspection apparatus 10 inputs the sound of the inspector of the interface 20 to the apparatus main body 13. The inspection signal cable 12 inputs a simulation signal output from the apparatus main body 13 to the interface 20, and inputs a response signal output from the interface 20 to the apparatus main body 13.

インタフェース検査装置10の装置本体13は、計測器14と、模擬信号生成器15と、信号制御系16と、を有する。   The apparatus main body 13 of the interface inspection apparatus 10 includes a measuring instrument 14, a simulation signal generator 15, and a signal control system 16.

装置本体13の計測器14は、模擬信号が入力されたインタフェース20から出力される応答信号を計測する。この計測器14は、公知の電圧計により構成される。   The measuring instrument 14 of the apparatus main body 13 measures a response signal output from the interface 20 to which a simulation signal is input. The measuring instrument 14 is constituted by a known voltmeter.

装置本体13の模擬信号生成器15は、インタフェース20に入力する模擬信号を生成する。模擬信号は、インタフェース20が実働時に入力を受けるプロセス信号を模擬した信号であり、電圧値或いは電流値である。なお、模擬信号の出力レベルは、模擬信号が入力される対象インタフェースの許容入力を考慮して調整される。   The simulation signal generator 15 of the apparatus body 13 generates a simulation signal to be input to the interface 20. The simulated signal is a signal that simulates a process signal that is input when the interface 20 is actually operating, and is a voltage value or a current value. The output level of the simulation signal is adjusted in consideration of the allowable input of the target interface to which the simulation signal is input.

図2はインタフェース検査装置10の信号制御系16の機能ブロック図である。   FIG. 2 is a functional block diagram of the signal control system 16 of the interface inspection apparatus 10.

信号制御系16は、信号回路161と、制御部162と、を有する。   The signal control system 16 includes a signal circuit 161 and a control unit 162.

信号制御系16の信号回路161は、複数基のインタフェース20a〜20nと信号受け渡し行う複数の接点Pa〜Pnが設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点Pa〜Pnに一括伝達する伝達路を形成する。また、各接点Pa〜Pnに至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチSWを有する。この伝達路は、各接点Pa〜Pnが並列に設けられる並列回路と、各接点Pa〜Pnが直列に設けられる直列回路と、計測用伝達路とを有する。これらの各回路は、複数のスイッチSWの切り替えにより形成される。なお、図2において、黒丸で示すクロス点は伝達路の結合点であり、黒丸で示さないクロス点は伝達路の非結合点を示す。   The signal circuit 161 of the signal control system 16 is provided with a plurality of contacts Pa to Pn for exchanging signals with a plurality of interfaces 20a to 20n, and a transmission path for transmitting the supplied simulation signals to the respective contacts Pa to Pn collectively. Form. Moreover, it has switch SW which switches the short circuit and release of the transmission path which reaches each contact Pa-Pn. The transmission path includes a parallel circuit in which the contacts Pa to Pn are provided in parallel, a series circuit in which the contacts Pa to Pn are provided in series, and a measurement transmission path. Each of these circuits is formed by switching a plurality of switches SW. In FIG. 2, cross points indicated by black circles are coupling points of transmission paths, and cross points not indicated by black circles indicate non-coupling points of transmission paths.

信号制御系16の制御部162は、検査者の要求を受けて、インタフェース20a〜20nの検査を高効率且つ安全に実施するための必要な処理を行う。この制御部162の処理を、[インタフェース選択確認処理]、[インタフェース設定処理]、[伝達路切り替え処理]に分けて説明する。   The control unit 162 of the signal control system 16 performs a necessary process for performing the inspection of the interfaces 20a to 20n with high efficiency and safety in response to a request from the inspector. The processing of the control unit 162 will be described separately for [interface selection confirmation processing], [interface setting processing], and [transmission path switching processing].

[インタフェース選択確認処理]
図3は信号制御系16の制御部162にて実行される処理の流れを示すフローチャートである。以下、この処理における各ステップについて説明する。
[Interface selection confirmation process]
FIG. 3 is a flowchart showing a flow of processing executed by the control unit 162 of the signal control system 16. Hereinafter, each step in this process will be described.

ステップS1は、模擬信号の入力対象となる対象インタフェースの選択信号を受信するステップである。   Step S <b> 1 is a step of receiving a selection signal of a target interface that is an input target of a simulation signal.

ステップS2は、ステップS1で対象インタフェースの選択信号を受信したとき、検査者に対し、その対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップである。この識別情報は、インタフェース番号である。なお、識別情報は、1つのインタフェースを特定できる固有情報であればよい。   Step S2 is a step of requesting the inspector to read out the identification information of the target interface when the target interface selection signal is received in step S1. This identification information is an interface number. The identification information may be unique information that can specify one interface.

ここで、1つのインタフェースが特定される各インタフェース固有の識別情報をIFデータと定義する。   Here, identification information unique to each interface for identifying one interface is defined as IF data.

ステップS3は、ステップS2に続き、検査者の読み上げ音声をIFデータに変換するステップである。また、ステップS3は、読み上げ音声から変換されたIFデータと、検査者により選択された対象インタフェースのIFデータが示すインタフェースとが双方一致するか否か(Yes/No)の判定を行うステップである。   Step S3 is a step of converting the inspector's reading voice into IF data following step S2. Step S3 is a step of determining whether or not the IF data converted from the read-out voice and the interface indicated by the IF data of the target interface selected by the examiner match (Yes / No). .

ステップS3で<No>と判定した場合はステップS2に移行し、再度、検査者により選択された対象インタフェースの読み上げを要求する。なお、対象インタフェースのIFデータは、インタフェース検査装置10の内部記録部(不図示)に記録されている各インタフェースのIFデータの中からステップS1で受信した選択信号に基づき特定される。また、この内部記録部には、読み上げ音声から変換されたIFデータが読み取り可能に保存される。   If it is determined to be <No> in step S3, the process proceeds to step S2, and the reading of the target interface selected by the inspector is requested again. The IF data of the target interface is specified based on the selection signal received in step S1 from the IF data of each interface recorded in an internal recording unit (not shown) of the interface inspection apparatus 10. In addition, IF data converted from the read-out voice is stored in the internal recording unit so as to be readable.

ステップS4は、ステップS3で<Yes>と判定した場合に行うステップであり、検査者に対し、検査信号ケーブル12(図2参照)を対象インタフェースに接続するよう要求するステップである。   Step S4 is a step performed when <Yes> is determined in Step S3, and is a step for requesting the inspector to connect the inspection signal cable 12 (see FIG. 2) to the target interface.

ステップS5は、ステップS4に続き、模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に、模擬信号生成器15(図2参照)に模擬信号の生成を指示し、信号回路161に模擬信号を供給するステップである。   In step S5, following step S4, on the condition that the simulation signal input request signal is received, the simulation signal generator 15 (see FIG. 2) is instructed to generate the simulation signal, and the simulation signal is supplied to the signal circuit 161. It is a step to do.

ステップS6は、ステップS5に続き、模擬信号の入力を受けた対象インタフェースから出力される応答信号を計測器14に入力してインタフェース応答精度を判定するステップである。すなわち、模擬信号と応答信号の差異が所定範囲にあるか否か(Yes/No)を判定するステップである。この模擬信号および応答信号は、電圧値または電流値のアナログ電気信号である。このステップS6で、<Yes>と判定したときは、対象インタフェースの正常を判定してステップS1に移行する。以降、ステップS1〜ステップ6の処理が繰り返され、検査者は対象インタフェースを順次切り替え、各インタフェースの応答精度を検査できる。   Step S6 is a step following step S5 in which the response signal output from the target interface that has received the input of the simulation signal is input to the measuring instrument 14 to determine the interface response accuracy. That is, it is a step of determining whether or not the difference between the simulation signal and the response signal is within a predetermined range (Yes / No). The simulation signal and the response signal are analog electric signals having a voltage value or a current value. If it is determined as <Yes> in step S6, it is determined that the target interface is normal and the process proceeds to step S1. Thereafter, the processes in steps S1 to S6 are repeated, and the inspector can sequentially switch the target interface and inspect the response accuracy of each interface.

ステップS7は、ステップS6で<No>と判定した場合に行うステップであり、対象インタフェースの異常を報知するステップである。   Step S7 is a step performed when <No> is determined in step S6, and is a step of notifying the abnormality of the target interface.

[インタフェース設定処理]
信号制御系16の制御部162は、インタフェース選択確認処理のステップS2で選択信号の入力を受けたとき、信号回路161の各接点Pa〜Pnのうち対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡する。また、残りの接点に至る伝達路を解放するようにスイッチSWを切り替える。すなわち、対象インタフェースに接続された接点に対し選択的に模擬信号が伝達されるよう、信号回路161の伝達路を形成する。
[Interface setting process]
When receiving the selection signal in step S2 of the interface selection confirmation process, the control unit 162 of the signal control system 16 sets a transmission path to the contact connected to the target interface among the contacts Pa to Pn of the signal circuit 161. Short circuit. Further, the switch SW is switched so as to release the transmission path leading to the remaining contacts. That is, the transmission path of the signal circuit 161 is formed so that the simulation signal is selectively transmitted to the contact point connected to the target interface.

[伝達路切り替え処理]
信号制御系16の制御部162は、インタフェース選択確認処理のステップS2で選択された対象インタフェースの型式を判断する。この型式は、入力を受けた電圧値をプロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値をプロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報に基づき判断する。この型式情報は、対象インタフェース選択確認処理のステップ4で検査信号ケーブル12が接続された際、対象インタフェースからこの検査信号ケーブル12を介して取得される。
[Transmission path switching process]
The control unit 162 of the signal control system 16 determines the type of the target interface selected in step S2 of the interface selection confirmation process. This type is determined based on type information indicating whether the input voltage value is a voltage type for outputting to the process control device or the input current value is for outputting to the process control device. This type information is acquired from the target interface via the test signal cable 12 when the test signal cable 12 is connected in step 4 of the target interface selection confirmation process.

制御部162は、型式情報を取得したとき、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチSWを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチSWを切り替える。   When the model information is acquired, the control unit 162 switches the switch SW so that a parallel circuit is formed as a transmission path when the type information indicates a voltage type, and when the type information indicates a current type, the transmission path The switch SW is switched so that a series circuit is formed.

また、制御部162は、対象インタフェースのうち応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受ける。この選択信号の入力を受けたとき、スイッチSWを切り替えて、選択された対象インタフェースに接続されている接点から計測器14に至る伝達路を短絡する。また、残りの接点から計測器14に至る伝達路を解放する。   In addition, the control unit 162 receives an input of a selection signal of a target interface that is a response accuracy determination target among the target interfaces. When receiving the selection signal, the switch SW is switched to short-circuit the transmission path from the contact point connected to the selected target interface to the measuring instrument 14. Further, the transmission path from the remaining contacts to the measuring instrument 14 is released.

次に、インタフェース検査装置10の作用を説明する。図4〜図7はインタフェース検査装置10の作用説明図である。   Next, the operation of the interface inspection apparatus 10 will be described. 4 to 7 are explanatory views of the operation of the interface inspection apparatus 10.

模擬信号が入力される対象インタフェースが選択され、読み上げ音声から変換されたIFデータと対象インタフェースのIFデータが双方一致した場合、図3において、ステップS1→ステップS2→ステップS3→ステップS4→ステップS5→ステップS6→ステップS1という流れが繰り返される。一方、模擬信号が入力される対象インタフェースが選択されたが、読み上げ音声から変換されたIFデータと対象インタフェースのIFデータが双方一致しない場合は、ステップS1→ステップS2→ステップS3→ステップS1という流れで処理が繰り返される。すなわち、検査者は、模擬信号が入力される対象インタフェースを選択したが、この選択したインタフェースが検査者の意図しているインタフェースと異なると、ステップS4以降の処理は実行されない。たとえば、特定のインタフェースに対し設定した出力レベルの模擬信号が、この出力レベルでは故障のおそれがある他のインタフェースに入力されるといった、操作ミスが低減される。   When the target interface to which the simulated signal is input is selected and the IF data converted from the read-out speech and the IF data of the target interface match, in FIG. 3, step S1, step S2, step S3, step S4, step S5 in FIG. Step S6 → Step S1 is repeated. On the other hand, if the target interface to which the simulated signal is input is selected, but the IF data converted from the read-out voice and the IF data of the target interface do not match, the flow of Step S1 → Step S2 → Step S3 → Step S1 The process is repeated. That is, the inspector has selected the target interface to which the simulation signal is input, but if the selected interface is different from the interface intended by the inspector, the processes after step S4 are not executed. For example, an operation error such that a simulated signal having an output level set for a specific interface is input to another interface that may fail at this output level is reduced.

ステップS3に続きステップS4に移行したとき、ステップS1で選択された対象インタフェースの型式が判断される。たとえば、ステップS1で、すべてのインタフェース20a〜20nが対象インタフェースとして選択され且つ各対象インタフェース20a〜20nの型式が電圧型であると判定された場合、インタフェース検査装置10の信号回路は図4のようになる。図4は信号回路161が並列回路に切り替えられた場合の信号制御系16を示したものである。すなわち、各接点Pa〜Pnが並列に設けられる並列回路が形成されるようにスイッチSWが短絡する。そして、各接点Pa〜Pnに対し、同一の模擬信号すなわち電圧値が伝達される。このため、検査者は、複数のインタフェース20a〜20nに対し、一括して同一の模擬信号の入力が可能となる。   When the process proceeds to step S4 following step S3, the type of the target interface selected in step S1 is determined. For example, when all the interfaces 20a to 20n are selected as target interfaces and it is determined in step S1 that the type of each target interface 20a to 20n is a voltage type, the signal circuit of the interface inspection apparatus 10 is as shown in FIG. become. FIG. 4 shows the signal control system 16 when the signal circuit 161 is switched to a parallel circuit. That is, the switch SW is short-circuited so as to form a parallel circuit in which the contacts Pa to Pn are provided in parallel. The same simulation signal, that is, a voltage value is transmitted to each of the contacts Pa to Pn. For this reason, the inspector can input the same simulation signal collectively to the plurality of interfaces 20a to 20n.

また、対象インタフェース20a〜20nの型式が電流型であると判定された場合、イン信号制御系16の信号回路は図5のようになる。図5は信号回路161が直列回路に切り替えられた場合の信号制御系16を示したものである。すなわち、各接点Pa〜Pnが直列に設けられる直列回路が形成されるようにスイッチSWが短絡する。そして、各接点Pa〜Pnに対し、一括して同一の模擬信号すなわち電流値が伝達される。このため、検査者は、複数のインタフェースに対して一括して同一の模擬信号を入力できる。このように、対象インタフェースが電圧型であるか電流型であるかの確認を要することなく、各型式に応じた伝達路が形成される。この結果、インタフェースの型式によらず、各接点Pa〜Pnに対し一括して同一の模擬信号の入力が可能となる。   When it is determined that the target interfaces 20a to 20n are of the current type, the signal circuit of the in-signal control system 16 is as shown in FIG. FIG. 5 shows the signal control system 16 when the signal circuit 161 is switched to a series circuit. That is, the switch SW is short-circuited so as to form a series circuit in which the respective contacts Pa to Pn are provided in series. Then, the same simulation signal, that is, the current value is transmitted to the contacts Pa to Pn at once. For this reason, the inspector can input the same simulation signal collectively to a plurality of interfaces. In this way, a transmission path corresponding to each type is formed without requiring confirmation whether the target interface is a voltage type or a current type. As a result, the same simulation signal can be input to the contacts Pa to Pn all at once regardless of the interface type.

ステップS4に続き、ステップS5→ステップS6と移行したとき、模擬信号の入力を受けた対象インタフェースから出力される応答信号が、検査信号ケーブル12を介して信号回路161に入力される。このとき、応答精度の判定対象とされる特定の対象インタフェースが選択されたとき、その特定の対象インタフェースに接続された接点から計測器14に至る伝達路が短絡するようスイッチSWが切り替えられる。図6はインタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路を示したものである。たとえば、対象インタフェース20aが応答精度の判定対象として選択されれば、信号制御系16の信号回路161は図6のようになる。すなわち、各対象インタフェースから出力される応答信号が、1つずつ計測器14に入力される。なお、インタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路は図7のようになる。   Following step S4, when the process proceeds from step S5 to step S6, the response signal output from the target interface that has received the input of the simulation signal is input to the signal circuit 161 via the inspection signal cable 12. At this time, when a specific target interface to be a response accuracy determination target is selected, the switch SW is switched so that the transmission path from the contact connected to the specific target interface to the measuring instrument 14 is short-circuited. FIG. 6 shows a measurement transmission path in the signal circuit when the interface is a voltage type. For example, when the target interface 20a is selected as a response accuracy determination target, the signal circuit 161 of the signal control system 16 is as shown in FIG. That is, response signals output from each target interface are input to the measuring instrument 14 one by one. The measurement transmission path in the signal circuit when the interface is a voltage type is as shown in FIG.

次に、インタフェース検査装置10の効果を説明する。   Next, the effect of the interface inspection apparatus 10 will be described.

インタフェース検査装置10にあっては、
(1) インタフェース20a〜20nと信号受け渡し行う複数の接点Pa〜Pnが設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点Pa〜Pnに一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点Pa〜Pnに至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチSWを有する信号回路161と、検査開始信号の入力を受けて、信号回路161へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するようにスイッチSWを切り替える制御部162と、を備える。このため、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。
In the interface inspection apparatus 10,
(1) A plurality of contacts Pa to Pn for exchanging signals with the interfaces 20a to 20n are provided to form a transmission path for collectively transmitting supplied simulation signals to the respective contacts Pa to Pn and to the respective contacts Pa to Pn. A signal circuit 161 having a switch SW for switching between short circuit and release of the transmission path, and receiving a test start signal, supplying a simulation signal to the signal circuit 161, and inputting a selection signal of a target interface to which the simulation signal is input And a control unit 162 that switches the switch SW so as to short-circuit the transmission path to the contact point connected to the target interface and to release the transmission path to the remaining contact point. For this reason, it is possible to speed up the inspection work and reduce inspection errors regardless of the radix of the interface.

(2) 信号回路161の伝達路は、スイッチSWの切り替えにより形成され、各接点Pa〜Pnが並列に設けられる並列回路と、各接点Pa〜Pnが直列に設けられる直列回路と、を有し、制御部162は、対象インタフェースの型式が、入力を受けた電圧値をプロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値をプロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報の入力を受けて、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチSWを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチSWを切り替える。このため、インタフェース20の型式を自動判別させることができ、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。   (2) The transmission path of the signal circuit 161 is formed by switching the switch SW, and includes a parallel circuit in which the contacts Pa to Pn are provided in parallel and a series circuit in which the contacts Pa to Pn are provided in series. The control unit 162 determines whether the type of the target interface is a voltage type that outputs the input voltage value to the process control device or a current type that outputs the input current value to the process control device. In response to the input of the type information shown, when this type information indicates a voltage type, the switch SW is switched so that a parallel circuit is formed as a transmission path, and when the type information indicates a current type, a series circuit as a transmission path The switch SW is switched so that is formed. For this reason, the type of the interface 20 can be automatically discriminated, the inspection work can be speeded up, and inspection errors can be reduced.

(3) 信号回路161の伝達路は、スイッチSWの切り替えにより形成され、対象インタフェースから出力される応答信号を計測器14へ伝達する計測用伝達路を有し、制御部162は、応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、この対象インタフェースに接続された接点から計測器14に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点から計測器14に至る伝達路を解放するようにスイッチSWを切り替える。このため、対象インタフェースから出力される応答信号が、1つずつ計測器に入力される。この結果、計測器として一度に複数の応答信号を受信できないものを用いても、インタフェース応答精度の判定毎に検査を中断する必要がなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。   (3) The transmission path of the signal circuit 161 is formed by switching the switch SW, and has a measurement transmission path for transmitting the response signal output from the target interface to the measuring instrument 14. Upon receiving the selection signal of the target interface to be determined, the transmission path from the contact connected to the target interface to the measuring instrument 14 is short-circuited and the transmission path from the remaining contact to the measuring instrument 14 is released. The switch SW is switched as follows. For this reason, the response signals output from the target interface are input to the measuring instrument one by one. As a result, even if an instrument that cannot receive a plurality of response signals at a time is used, it is not necessary to interrupt the inspection every time the interface response accuracy is determined, and the inspection work can be speeded up and inspection errors can be reduced.

(4) 制御部162は、対象インタフェースの選択信号の入力を受けたとき、インタフェース20a〜20nの検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップと、検査者の読み上げ音声をIFデータに変換するステップと、読み上げ音声から変換されたIFデータが示すインタフェースと、検査者により選択された対象インタフェースのIFデータが示すインタフェースとが双方一致するか否かの判定を行うステップと、読み上げ音声から変換されたIFデータと対象インタフェースのIFデータが、双方一致するときは模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に信号回路161の伝達路へ模擬信号を供給可能とし、双方一致しないときは検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを再度要求するステップと、を行う。このため、検査者が意図しているインタフェースと異なるインタフェースに対し模擬信号が入力される危険を排除でき、検査ミスを低減できる。   (4) When receiving the selection signal of the target interface, the control unit 162 requests the inspector of the interfaces 20a to 20n to read out the identification information of the target interface, and reads out the voice of the inspector as IF data. A step of determining whether the interface indicated by the IF data converted from the reading voice and the interface indicated by the IF data of the target interface selected by the inspector match, and a reading voice When the IF data converted from 1 and the IF data of the target interface match, the simulated signal can be supplied to the transmission path of the signal circuit 161 on condition that the simulated signal input request signal has been received, and both do not match Requesting the inspector again to read the identification information of the target interface; Do. For this reason, it is possible to eliminate the risk that a simulation signal is input to an interface different from the interface intended by the inspector, and to reduce inspection errors.

(5) 読み上げ音声から変換されたIFデータを、読み取り可能に保存する記録部を備える。このため、検査者は、読み上げたインタフェースを確認することにより未検査のインタフェースと検査済みのインタフェースとを再確認できる。たとえば、重複する検査作業を回避でき、検査作業を迅速化できる。   (5) A recording unit is provided that stores IF data converted from the read-out voice so as to be readable. Therefore, the inspector can reconfirm the unexamined interface and the inspected interface by confirming the read interface. For example, it is possible to avoid duplicate inspection work and speed up the inspection work.

以上、本発明に係るインタフェース検査装置を1つの実施形態に基づき説明してきたが、具体的な構成については本実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない限り設計の変更や追加等は許容される。   As described above, the interface inspection apparatus according to the present invention has been described based on one embodiment. However, the specific configuration is not limited to this embodiment, and design changes and additions are possible without departing from the gist of the present invention. Etc. are allowed.

本実施形態では、信号制御系16の信号回路161に関し、スイッチ切り替えにより並列回路と直列回路とを形成する例を示したが、信号回路161の構成は変更できる。たとえば、あらかじめ、並列回路と直列回路とが独立した信号回路を備えて、スイッチ切り替えにより並列回路と直列回路が選択可能な信号回路としても良い。   In the present embodiment, with respect to the signal circuit 161 of the signal control system 16, an example in which a parallel circuit and a series circuit are formed by switching switches is shown, but the configuration of the signal circuit 161 can be changed. For example, a signal circuit in which a parallel circuit and a series circuit are provided in advance and a parallel circuit and a series circuit can be selected by switching a switch may be used.

インタフェース検査装置の実施形態を示すシステム構成図。The system block diagram which shows embodiment of an interface test | inspection apparatus. 本実施形態におけるインタフェース検査装置の信号制御系の機能ブロック図。The functional block diagram of the signal control system of the interface test | inspection apparatus in this embodiment. 本実施形態における信号制御系の制御部にて実行される制御処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of the control processing performed in the control part of the signal control system in this embodiment. 本実施形態において信号回路が並列回路に切り替えられた場合の信号制御系を示す図。The figure which shows the signal control system when the signal circuit is switched to the parallel circuit in this embodiment. 本実施形態において信号回路が直列回路に切り替えられた場合の信号制御系を示す図。The figure which shows the signal control system when the signal circuit is switched to the series circuit in this embodiment. 本実施形態においてインタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路を示す図。The figure which shows the transmission path for a measurement in a signal circuit when an interface is a voltage type in this embodiment. 本実施形態においてインタフェースが電流型である場合の信号回路における計測用伝達路を示す図。The figure which shows the transmission path for a measurement in a signal circuit when an interface is a current type in this embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

10…インタフェース検査装置,11…音声信号ケーブル,12…検査信号ケーブル,13…本体,14…計測器,15…模擬信号生成器,16…信号制御系,161…信号回路,162…制御部,Pa〜Pn…接点,SW…スイッチ,20(20a〜20n)…インタフェース。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Interface test | inspection apparatus, 11 ... Voice signal cable, 12 ... Test signal cable, 13 ... Main body, 14 ... Measuring instrument, 15 ... Simulation signal generator, 16 ... Signal control system, 161 ... Signal circuit, 162 ... Control part, Pa to Pn ... contact, SW ... switch, 20 (20a to 20n) ... interface.

Claims (6)

プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置において、
インタフェースと信号受け渡し行う接点が複数設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点に一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点に至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチを有する信号回路と、
検査開始信号の入力を受けて前記信号回路へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するように前記スイッチを切り替える制御部と、
を備えることを特徴とするインタフェース検査装置。
A process signal generated according to the process amount of the plant is input, a simulation signal is input to the interface that outputs this process signal to the process control device, and a response signal output from the interface is input to the measuring instrument. In the interface inspection device that determines the response accuracy of the interface,
A signal circuit having a plurality of contacts for performing signal transfer with the interface, a signal circuit having a switch for forming a transmission path for collectively transmitting the supplied simulation signal to each contact and switching between short-circuiting and release of the transmission path to each contact;
Upon receipt of an inspection start signal, a simulation signal is supplied to the signal circuit, a selection signal of a target interface to which the simulation signal is input is received, and a transmission path to a contact point connected to the target interface is short-circuited. And a controller that switches the switch so as to release the transmission path to the remaining contacts,
An interface inspection apparatus comprising:
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、各接点が並列に設けられる並列回路と、各接点が直列に設けられる直列回路と、を有し、
前記制御部は、前記伝達路を並列回路とするか直列回路とするかの伝達路切り替え信号の入力を受けて、前記伝達路として並列回路または直列回路が形成されるようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項1に記載のインタフェース検査装置。
The transmission path of the signal circuit is formed by switching the switch, and includes a parallel circuit in which each contact is provided in parallel and a series circuit in which each contact is provided in series.
The control unit receives a transmission path switching signal to determine whether the transmission path is a parallel circuit or a series circuit, and switches the switch so that a parallel circuit or a series circuit is formed as the transmission path. The interface inspection apparatus according to claim 1, wherein:
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、各接点が並列に設けられる並列回路と、各接点が直列に設けられる直列回路と、を有し、
前記制御部は、前記対象インタフェースの型式が、入力を受けた電圧値を前記プロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値を前記プロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報の入力を受けて、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項1に記載のインタフェース検査装置。
The transmission path of the signal circuit is formed by switching the switch, and includes a parallel circuit in which each contact is provided in parallel and a series circuit in which each contact is provided in series.
In the control unit, the type of the target interface is a voltage type that outputs an input voltage value to the process control device, or a current type that outputs an input current value to the process control device. When this type information indicates a voltage type, the switch is switched so that a parallel circuit is formed as a transmission path, and when the type information indicates a current type, it is serially connected as a transmission path. The interface inspection apparatus according to claim 1, wherein the switch is switched so that a circuit is formed.
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、対象インタフェースから出力される応答信号を計測器へ伝達する計測用伝達路を有し、
前記制御部は、前記応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、この対象インタフェースに接続された接点から前記計測器に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点から計測器に至る伝達路を解放するようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項1に記載のインタフェース検査装置。
The transmission path of the signal circuit is formed by switching the switch, and has a measurement transmission path for transmitting a response signal output from the target interface to the measuring instrument,
The control unit receives an input of a selection signal of a target interface that is a determination target of the response accuracy, short-circuits a transmission path from a contact connected to the target interface to the measuring instrument, and measures from a remaining contact The interface inspection apparatus according to claim 1, wherein the switch is switched so as to release a transmission path leading to the device.
1つのインタフェースが特定されるインタフェース固有の識別情報をIFデータと定義したとき、
前記制御部は、
前記対象インタフェースの選択信号の入力を受けたとき、インタフェースの検査者に対して対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップと、
前記検査者の読み上げ音声をIFデータに変換するステップと、
前記読み上げ音声から変換されたIFデータが示すインタフェースと検査者により選択された対象インタフェースのIFデータが示すインタフェースとが双方一致するか否かの判定を行うステップと、
前記読み上げ音声から変換されたIFデータと前記対象インタフェースのIFデータが、双方一致するときは模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に前記信号回路の伝達路へ模擬信号を供給可能とし、双方一致しないときは前記検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを再度要求するステップと、
を行うことを特徴とする請求項1に記載のインタフェース検査装置。
When the interface-specific identification information for identifying one interface is defined as IF data,
The controller is
Requesting the interface inspector to read out the identification information of the target interface when receiving the selection signal of the target interface; and
Converting the inspector's speech to IF data;
Determining whether or not both the interface indicated by the IF data converted from the reading voice and the interface indicated by the IF data of the target interface selected by the examiner match;
When the IF data converted from the speech to be read and the IF data of the target interface match, the simulation signal can be supplied to the transmission path of the signal circuit on condition that an input request signal for the simulation signal has been received, Requesting the inspector to read out the identification information of the target interface again when both do not match;
The interface inspection apparatus according to claim 1, wherein:
プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を検査するインタフェース検査方法において、
複数基のインタフェースと信号受け渡しを行う信号伝送路を形成する準備プロセスと、
前記信号伝送路を介して模擬信号を各インタフェースに入力する模擬信号の入力プロセスと、
模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、模擬信号が入力可能なインタフェースをその対象インタフェースに限定する模擬信号の入力制御をコンピュータに実行させるプロセスと、
を有することを特徴とするインタフェース検査方法。
A process signal generated according to the process amount of the plant is input, a simulation signal is input to the interface that outputs this process signal to the process control device, and a response signal output from the interface is input to the measuring instrument. In the interface inspection method for inspecting the response accuracy of the interface,
A preparation process for forming a signal transmission path for signal exchange with a plurality of interfaces;
An input process of a simulation signal for inputting the simulation signal to each interface via the signal transmission path;
A process of receiving input of a selection signal of a target interface to which a simulation signal is input and causing the computer to execute input control of the simulation signal that limits an interface through which the simulation signal can be input to the target interface;
An interface inspection method characterized by comprising:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017041193A (en) * 2015-08-21 2017-02-23 Ihi運搬機械株式会社 Maintenance managing system and maintenance managing method of conveyance equipment
CN112241155A (en) * 2019-07-16 2021-01-19 深圳市道通科技股份有限公司 Interface converter and automobile diagnosis system

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