JP2009259501A - Ring contact connector - Google Patents
Ring contact connector Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009259501A JP2009259501A JP2008105263A JP2008105263A JP2009259501A JP 2009259501 A JP2009259501 A JP 2009259501A JP 2008105263 A JP2008105263 A JP 2008105263A JP 2008105263 A JP2008105263 A JP 2008105263A JP 2009259501 A JP2009259501 A JP 2009259501A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ring contact
- ring
- insertion hole
- connector
- contacts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
Description
本発明は、複数の導電性微小リングを絶縁フィルムに位置決めして配置し、対向配置した一方と他方との複数の接点間をそれぞれ接続する為のリング接点コネクタに関する。 The present invention relates to a ring contact connector for positioning and arranging a plurality of conductive micro-rings on an insulating film and connecting a plurality of contacts between one and the other arranged opposite to each other.
電気的な接続を行う挿抜可能のコネクタは、適用分野に応じて既に各種の構成が知られている。例えば、パッケージに封入した半導体集積回路の試験を行う場合のコネクタは、多端子構成であり、試験装置と簡単に接続し、試験終了後は簡単に取り外しが可能の構成が必要である。例えば、パッケージの裏面に複数の接続端子を配置したBGA(Ball Grid Array)タイプの半導体集積回路の場合、半田ボール等により構成した複数の接続端子を微小間隔で配置した構成であり、各接続端子と試験装置側の接続端子との間を接続するシート状のコネクタが知られている。 Various configurations of pluggable connectors for electrical connection are already known depending on the application field. For example, a connector for testing a semiconductor integrated circuit enclosed in a package has a multi-terminal configuration, and requires a configuration that can be easily connected to a test apparatus and easily removed after the test is completed. For example, in the case of a BGA (Ball Grid Array) type semiconductor integrated circuit in which a plurality of connection terminals are arranged on the back surface of the package, a plurality of connection terminals constituted by solder balls or the like are arranged at minute intervals. There is known a sheet-like connector for connecting between the test terminal and the connection terminal on the test apparatus side.
このシート状のコネクタとして、例えば、複数のリング状の導電体、S字状の導電体、金属細線をボール状に丸めた導電体等の何れかを、ポリエステル等の絶縁シートの所定位置に形成した複数の貫通孔に、上下の接触部分がそれぞれ露出するように位置決め配置して加熱加圧し、絶縁シートを軟化変形させることにより導電体の位置を固定し、それぞれの導電体の上下面を、例えば、試験装置側の半導体集積回路側とを接続する為の接触部とした構成が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
半導体集積回路の集積度の向上と共に、接続端子数は増加して100個を超える場合もあり、又接続端子の配置ピッチは1mm以下となる場合もある。従って、コネクタの導電体もそれに対応した構成で配置する必要があり、正確に位置合わせしてコネクタを製作する為には、高精度の装置を必要とするので、コストが上昇する問題がある。なお、前述の特許文献1に開示されている構成に於いては、上下に位置合わせと加熱加圧する為の治具を配置して製作するものであるから、製造装置のコストが上昇する問題がある。
As the degree of integration of semiconductor integrated circuits improves, the number of connection terminals may increase to exceed 100, and the arrangement pitch of connection terminals may be 1 mm or less. Therefore, it is necessary to arrange the conductor of the connector in a configuration corresponding to that, and in order to manufacture the connector with accurate positioning, a highly accurate device is required, which raises a problem of increasing costs. In addition, in the structure currently disclosed by the above-mentioned
本発明は、前述の従来の問題点を解決することを目的とし、微小半径のリング接点を所定の配置ピッチで配列して、その配置位置を保持できるリング接点コネクタを提供するものである。 An object of the present invention is to provide a ring contact connector in which ring contacts having a small radius are arranged at a predetermined arrangement pitch and the arrangement position can be maintained.
本発明のリング接点コネクタは、導電性の微小半径のリング接点を所定の配置ピッチで複数個配置したリング接点コネクタであって、リング接点の内径部に位置して、このリング接点を保持する片持ち状の突部を有する挿入孔を所定の配置ピッチで形成した絶縁フィルムの挿入孔に、リング接点を挿入して保持した構成を有するものである。 The ring contact connector of the present invention is a ring contact connector in which a plurality of conductive minute radius ring contacts are arranged at a predetermined arrangement pitch, and is a piece that is located on the inner diameter portion of the ring contact and holds the ring contact It has a configuration in which a ring contact is inserted and held in an insertion hole of an insulating film in which insertion holes having holding projections are formed at a predetermined arrangement pitch.
又リング接点の内径部に挿入した第1の絶縁支持線を、配置ピッチによる間隔で保持し、第1の絶縁支持線に対して交差する方向の第2の絶縁支持線を編みこんで、リング接点を所定の配置ピッチに保持した構成を有するものである。 In addition, the first insulating support wires inserted into the inner diameter portion of the ring contact are held at intervals according to the arrangement pitch, and the second insulating support wires in the direction intersecting the first insulating support wires are braided, and the ring It has a configuration in which the contacts are held at a predetermined arrangement pitch.
半導体集積回路等の微小配置間隔の接続端子に対応した配置パターンに従って、導電性のリング接点を配置して保持する構成の本発明のリング接点コネクタは、絶縁フィルムに形成した挿入孔への挿入保持、絶縁支持線による位置決め配置、縦糸横糸の関係による配置位置保持の構成を有するものであり、大規模の製造装置を必要とすることなく、簡単に製作することができる利点があり、且つリング接点の弾性力の利用ができるから、リング接点コネクタとしての接続の信頼性の向上を図ることができる。 The ring contact connector of the present invention having a configuration in which conductive ring contacts are arranged and held in accordance with an arrangement pattern corresponding to connection terminals having a minute arrangement interval such as a semiconductor integrated circuit is inserted and held in an insertion hole formed in an insulating film. It has a configuration of positioning arrangement by insulating support wire and arrangement position holding by the relation of warp and weft, and has an advantage that it can be easily manufactured without requiring a large-scale manufacturing apparatus, and a ring contact Therefore, the reliability of connection as a ring contact connector can be improved.
本発明のリング接点コネクタは、図1及び図2を参照すると、導電性の微小半径のリング接点1を所定の配置ピッチで複数個配置したリング接点コネクタであって、リング接点1の内径部に位置して、このリング接点1を保持する突部6を有する挿入孔5を所定の配置ピッチで形成した絶縁フィルム2の挿入孔5に、リング接点1を挿入し、そのリング接点1の内径部に突部6が挿入することにより、リング接点1を保持した構成を有するものである。
1 and 2, the ring contact connector of the present invention is a ring contact connector in which a plurality of conductive minute
図1は、本発明の実施例1の説明図であり、(A)は上面図、(B)は斜視図、(C)は(A)の矢印c方向からの側面図、(D)は(A)の矢印d方向からの側面図を示し、1はリング接点、2は絶縁フィルムを示す。なお、リング接点1の配置個数は、実際のリング接点コネクタの接点数に比較して少ない場合を示しており、実際は、BGA構成の接続端子数に対応した個数のリング接点1を配置して、リング接点コネクタを構成するものである。又リング接点1は、電気抵抗が大きくなく、且つ弾性変形可能の機械的強度を有する金属を用いるもので、例えば、ステンレス鋼等の金属棒の周囲に所望の厚さとなるようにニッケル(Ni)を電鋳技術により形成し、中心の金属棒を除去して、所望の幅に裁断することにより製造することができる。このように、ニッケル電鋳により構成したリング接点1の場合は、所望の弾性力と高耐久力とを備え、例えば、コネクタとして接続する為の加圧の繰り返し試験を行った結果、100万回以上の耐久力を有するものであった。又リング接点1としての外径は、半導体集積回路等の接続端子の配置ピッチ等に対応して、例えば、数mmから0.5mm又はそれ以下とし、厚さは、弾性変形が可能となるように、外径に応じて選定するもので、例えば、1mm以下とすることができる。又幅は、半導体集積回路の接続端子の配置ピッチ等に対応して、例えば、1mm以下とすることができる。又絶縁フィルム2は、例えば、ポリイミド樹脂等の合成樹脂フィルムを用いることができ、リング接点1の配置位置に挿入孔を形成する。この絶縁フィルム2の厚さは、リング接点1の外径に比較して薄くする。即ち、挿入孔にリング接点1を挿入して、(C)の側面図及び(D)の側面図に示すように、両側が露出する厚さとする。
1A and 1B are explanatory views of
図2は、リング接点の位置決め及び保持構成と、コネクタ接続状態とを示し、(A)は挿入孔配置の一例の説明図、(B)は要部断面図、(C)はコネクタ接続開始時の説明図、(D)は加圧接続時の説明図を示す。絶縁フィルム2に形成した挿入孔5は、リング接点1を挿入することができる長さと幅とを有し、長さは、リング接点1の外径より大きく、接続端子への押圧接続時の弾性変形を可能とするように選定する。又挿入孔5内に突出した形状で、リング接点1の内径部に入る幅の突部6を有する。この突部6は、リング接点1の挿入時に弾性湾曲し、挿入後は復帰して、リング接点1の内径部に位置することにより、リング接点1の脱落の防止を行うものである。従って、突部6の幅は、リング接点1の内径より狭くし、長さはリング接点1の脱落を防止できる程度とする。好ましくは、挿通孔の幅の半分より長く、リング接点1が挿通孔5とのがたつきで寄ったとしても、その幅の半分以上に挿通している片持ち形状とする。それにより、所定のピッチにリング接点1を配置して僅かな押圧力で挿入孔5に挿入して保持することができる。従って、絶縁フィルム2を加熱加圧する必要がなく、製造コストを低減することができる。
2A and 2B show the positioning and holding configuration of the ring contacts and the connector connection state, where FIG. 2A is an explanatory diagram of an example of the insertion hole arrangement, FIG. 2B is a sectional view of the main part, and FIG. Explanatory drawing of (D) shows explanatory drawing at the time of pressure connection. The
又図2の(C)に示すように、絶縁フィルム2の挿入孔5にリング接点1を挿入保持して、半導体集積回路の例えばBGAの接続端子3と試験装置側の接続端子4とを位置合わせして、BGA側から加圧すると、(D)に示すように、リング接点1は弾性変形し、BGA側の接続端子3と試験装置側の接続端子4との間を確実に接続状態とすることができる。この場合、絶縁フィルム2は、リング接点1の厚さに比較して充分に薄いものであるから、弾性変形したリング接点1が挿入孔5の周辺に当接しても、絶縁フィルム2側も変形可能であるから、実用上の問題はない。
Further, as shown in FIG. 2C, the
図3は、本発明の実施例2の説明図であり、(A)は上面図、(B)は斜視図、(C)は(A)の矢印c方向からの側面図、(D)は(A)の矢印d方向からの側面図を示し、21はリング接点、22,23は第1、第2の絶縁支持線を示す。第1の絶縁支持線22をリング接点21の内径に挿入し、この第1の絶縁支持線22と第2の絶縁支持線23とを編むようにして、リング接点21を所定間隔で固定する。なお、第1及び第2の絶縁支持船22,23は、前述の実施例2の絶縁支持線12と同様に、ナイロン糸等により構成し、その径は、リング接点21の内径に比較して充分に細いものとする。又この実施例3の場合、第1の絶縁支持線22を縦糸、第2の絶縁支持線23を横糸とした編み物の構成とし、図4の(A)の上面図に示すように、横軸方向のリング接点21の配置間隔は、第1の絶縁支持線22の配置間隔により定まり、縦軸方向のリング接点21の配置間隔は、第2の絶縁支持線23により定めることになるから、リング接点21の縦軸方向の配置間隔が大きい場合、複数本の第2の絶縁支持線23がリング接点21間に位置するように編みこむことも可能である。この構成は、絶縁フィルムも必要でなく、織物機械の技術を流用して、リング接点21を所望の配置パターンで配置したリング接点コネクタを構成することができる。
3A and 3B are explanatory views of
1,21 リング接点
2 絶縁フィルム
3,4 接続端子
5 挿入孔
6 突部
22,23 第1、第2の絶縁支持線
1, 21
Claims (2)
前記リング接点の内径部に位置して、該リング接点を保持する突部を有する挿入孔を所定の配置ピッチで形成した絶縁フィルムの前記挿入孔に前記リング接点を挿入して保持した構成を有し、
前記突部は前記挿入孔の一辺から突出した片持ち形状で、その長さがその挿入孔の半分以上であり、且つ前記リング接点の幅に対して略半分以上挿通される長さである
ことを特徴とするリング接点コネクタ。 In a ring contact connector in which a plurality of conductive minute radius ring contacts are arranged at a predetermined arrangement pitch,
It has a configuration in which the ring contact is inserted and held in the insertion hole of the insulating film in which an insertion hole having a protrusion for holding the ring contact is formed at a predetermined arrangement pitch, located at the inner diameter portion of the ring contact. And
The protrusion has a cantilever shape protruding from one side of the insertion hole, and has a length that is more than half of the insertion hole, and a length that is approximately half or more of the width of the ring contact. Ring contact connector featuring.
前記リング接点の内径部に挿入した第1の絶縁支持線を、前記配置ピッチによる間隔で保持し、前記第1の絶縁支持線に対して交差する方向の第2の絶縁支持線を編みこんで、前記リング接点を所定の配置ピッチに保持した構成を有する
ことを特徴とするリング接点コネクタ。 In a ring contact connector in which a plurality of conductive minute radius ring contacts are arranged at a predetermined arrangement pitch,
The first insulating support wires inserted into the inner diameter portion of the ring contact are held at intervals according to the arrangement pitch, and a second insulating support wire in a direction intersecting the first insulating support wires is braided. The ring contact connector is characterized in that the ring contacts are held at a predetermined arrangement pitch.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008105263A JP2009259501A (en) | 2008-04-15 | 2008-04-15 | Ring contact connector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008105263A JP2009259501A (en) | 2008-04-15 | 2008-04-15 | Ring contact connector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009259501A true JP2009259501A (en) | 2009-11-05 |
Family
ID=41386688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008105263A Pending JP2009259501A (en) | 2008-04-15 | 2008-04-15 | Ring contact connector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009259501A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014007017A (en) * | 2012-06-22 | 2014-01-16 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | Connector |
-
2008
- 2008-04-15 JP JP2008105263A patent/JP2009259501A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014007017A (en) * | 2012-06-22 | 2014-01-16 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | Connector |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101350326B1 (en) | Multiple-contact electrical connector and socket for microelectronic devices | |
US7985077B2 (en) | Miniature electrical ball and tube socket assembly with self-capturing multiple-contact-point coupling | |
US5427535A (en) | Resilient electrically conductive terminal assemblies | |
JP3885866B2 (en) | Connector assembly | |
KR102015798B1 (en) | Probe for the test device | |
US7572131B2 (en) | Electrical interconnect system utilizing non-conductive elastomeric elements | |
JP4167202B2 (en) | Conductive contact | |
KR20120031628A (en) | Needle module and probe card having the same | |
JP2009259501A (en) | Ring contact connector | |
KR101970695B1 (en) | By-directional electrically conductive pin and by-directional electrically conductive pattern module using carbon fiber | |
KR20170072696A (en) | Test socket having through hole in silicon rubber and method for manufacturing thereof | |
CN111293448B (en) | Integrated spring needle with pressure welding structure | |
KR101142368B1 (en) | Contactor and Method for Manufacturing The same | |
KR20190022249A (en) | Bi-directional electrically conductive module | |
TWI745750B (en) | Electrical connection piece and electrical connection device | |
KR101962262B1 (en) | By-directional electrically conductive pin using carbon fiber and by-directional electrically conductive socket using the same | |
CN108283014A (en) | Bi directional conductibility pin, bi directional conductibility pattern module and its manufacturing method | |
KR20180070734A (en) | By-directional electrically conductive and semiconductor test socket using the same | |
KR101793962B1 (en) | Semiconductor test socket and menufacturing method thereof | |
KR101755553B1 (en) | By-directional contact module for semiconductor test, by-directional contact module manufacture method for semiconductor test, and semiconductor test socket | |
JP2007139687A (en) | Probe card | |
KR20170137591A (en) | By-directional electrically conductive, by-directional electrically conductive pattern module and manufacturing method thereof | |
JPS62165161A (en) | Socket | |
JP2007212346A (en) | Probe card | |
JP2011027503A (en) | Probe card |