JP2009205452A - Set pattern generation device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid a stop of a line at the occurrence of a small lot of components of a prescribed amount or below on a set pattern. <P>SOLUTION: This set pattern generation device includes: an initial set pattern generation part 24 generating an initial set pattern by a predetermined standard procedure; a sandwiching lot extraction part 26 extracting a lot wherein an arrangement time of the next lot cannot be processed within a lot processing time of the lot as a sandwiching lot; a sandwiched lot extraction part 28 extracting a lot wherein even a time obtained by adding the arrangement time of the sandwiching lot and the arrangement time of the next lot can be processed within the lot processing time of the lot as a sandwiched lot when sandwiching the sandwiching lot; and a sandwiching set pattern generation part 30 dividing the lot processing time of the sandwiched lot into two, and sandwiching the lot processing time of the sandwiching lot in between the divided times to generate the set pattern. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、仕掛けパターン生成装置に係り、特に、複数種類の対象物をロット単位で処理する処理工程における複数種類の対象物の処理に関する仕掛けパターンを生成する仕掛けパターン生成装置に関する。   The present invention relates to a device pattern generation device, and more particularly to a device pattern generation device that generates a device pattern relating to processing of a plurality of types of objects in a processing step of processing a plurality of types of objects in units of lots.

生産ラインで複数種類の対象物をロット単位で処理するときには、各対象物を処理する時期、処理する順序、一回に処理する個数であるロットサイズ等を定めることが行われる。このように複数種類の対象物の処理に関する手順を定めることを、仕掛けパターンの生成または作成、あるいは仕掛かりパターンの生成または作成等といわれる。   When a plurality of types of objects are processed on a production line on a production line, the timing for processing each object, the processing order, the lot size that is the number of objects processed at one time, and the like are determined. Such a procedure for processing a plurality of types of objects is referred to as generation or creation of a device pattern or generation or generation of a device pattern.

例えば、特許文献1には、所定の判断基準に従って仕掛かりパターンを作成する方法が述べられている。ここでは、仕掛かりパターンを1サイクルとし、予め設定された直の数を最大ロットサイクル、ある対象物の処理を開始してから次の対象物の処理に移るまでの段取りのうち外段取り作業を完了するまでの時間を最小ロット加工時間とし、外段取りによる処理工程の待ち時間のロスが発生しないように、ロットサイクルを決め、ロットサイクルの中で定期不定量型の仕掛かり方法である「後補充かんばん方式」で仕掛かる対象物に対する指定席の数と、定量不定期型の仕掛かり方法である「信号かんばん方式」で仕掛かる対象物に対する自由席の数を決めて、仕掛かりパターンを作成することが開示されている。   For example, Patent Document 1 describes a method for creating an in-process pattern according to a predetermined criterion. Here, the work-in-process pattern is one cycle, and the preset number is set to the maximum lot cycle. Out of the setup from the start of processing of a certain object to the processing of the next target, The time until completion is the minimum lot processing time, and the lot cycle is determined so that there is no loss of waiting time for processing due to external setup. Create the in-process pattern by determining the number of reserved seats for the objects to be processed by the "Replenishment Kanban System" and the number of free seats for the objects to be processed by the "Signal Kanban System", which is a quantitative irregular-type in-process method. Is disclosed.

特開2006−221279号公報JP 2006-221279 A

従来、ロット生産工程においては、例えば、全ての部品あるいは製品に対してある一定のロット在庫量を設定し、このロット在庫量以下になったときに仕掛けるという信号かんばん仕掛けが行われている。近年の多品種、小ロット化に伴い、この従来の仕掛け法では、あるタイミングに多くの種類の製品の仕掛けが集中し、生産対応が難しくなる状況が増加しつつある。特許文献1に述べられている方法によれば、仕掛け指示をパターン化して作成することができるが、ここで仕掛けパターンは、基本的に設備等の制約を加味した上で、そのラインが効率的に稼動し、かつ在庫量が最小になるように作成される。   Conventionally, in the lot production process, for example, a signal kanban mechanism is set in which a certain lot stock amount is set for all parts or products and the lot stock amount is set when the lot stock amount falls below this lot stock amount. With the recent increase in the number of products and small lots, with this conventional device method, devices of many types of products are concentrated at a certain timing, and it is becoming increasingly difficult to deal with production. According to the method described in Patent Document 1, it is possible to create a device instruction by patterning, but the device pattern here is basically an efficient line after taking into account the constraints of equipment and the like. It is created so that the amount of inventory is minimized.

ところで、実際の製造現場では、その部品あるいは製品の必要量、設備、品質、人員等の都合により、非常に少ない量のロット部品の計画を作成しなければならないことがある。このような場合、その小ロット部品を処理するために前もって段取りを行うのに必要な時間をとるために、設備制約から一定時間ラインを停止させることが生じ、これによりラインの生産効率が低下する。また、段取り時間の影響を少なくするために、わざと必要量の2倍量、4倍量等の過大のロットを作って対応することも考えられるが、これによって加工時間が増加し、在庫量が必要以上に大きくなり、スペース、パレット等の面でも非効率的になる。   By the way, in an actual manufacturing site, it may be necessary to create a plan for a very small amount of lot parts due to the requirements of the parts or products, facilities, quality, personnel, and the like. In such a case, the line is stopped for a certain period of time due to equipment restrictions in order to take the time necessary to perform the setup in advance to process the small lot parts, thereby reducing the production efficiency of the line. . In addition, in order to reduce the influence of setup time, it may be possible to intentionally create an excessive lot such as twice the required amount or four times the required amount, but this increases the processing time and reduces the inventory amount. It becomes larger than necessary and becomes inefficient in terms of space, pallet, etc.

従来技術の仕掛けパターン生成法では、このような少ロット部品があるときに効果的な仕掛けパターンを生成することができない。   In the device pattern generation method of the prior art, an effective device pattern cannot be generated when there are such small lot parts.

本発明の目的は、仕掛けパターン上で一定量以下の小ロット部品が発生したときに、ラインを停止することを回避できる仕掛けパターン生成装置を提供することである。   An object of the present invention is to provide a mechanism pattern generation device that can avoid stopping a line when a small lot part of a certain amount or less is generated on a mechanism pattern.

本発明に係る仕掛けパターン生成装置は、複数種類の対象物をロット単位で処理する処理工程における複数種類の対象物の処理に関する仕掛けパターンを生成する装置であって、各ロットに対応付けて、そのロットを処理するために要する時間であるロット処理時間と、そのロットを処理するために前もって必要な時間である段取り時間とを記憶する記憶装置と、予め定めた標準的手順で当初仕掛けパターンを生成する手段と、当初仕掛けパターンにおいて、各ロットについてのロット処理時間と段取り時間とを記憶装置から取得し、任意の対象ロットのロット処理時間と、対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間とを比較し、次ロットの段取り時間が対象ロットのロット処理時間を超えるときにその対象ロットを挟み込みロットとして抽出する挟み込みロット抽出手段と、当初仕掛けパターンにおいて、挟み込みロット以外の各ロットを挟み込まれ対象ロットとして各挟み込まれ対象ロットについてのロット処理時間と段取り時間とを記憶装置から取得し、任意の挟み込まれ対象ロットのロット処理時間と、その挟み込まれ対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間と挟み込みロットの段取り時間の和である合計段取り時間とを比較し、その挟み込まれ対象ロットの処理時間が合計段取り時間を超えるときにその挟み込まれ対象ロットを挟み込まれロットとして抽出する挟み込まれロット抽出手段と、挟み込まれロットのロット処理時間を2つに分割し、分割された間に挟みこみロットのロット処理時間を挟み込んで挟み込み仕掛けパターンを生成する手段と、を備えることを特徴とする。   The device pattern generation device according to the present invention is a device that generates a device pattern relating to processing of a plurality of types of objects in a processing step of processing a plurality of types of objects in units of lots, A storage device that stores the lot processing time, which is the time required to process the lot, and the setup time, which is the time required in advance to process the lot, and generates the initial mechanism pattern using a predetermined standard procedure And a lot processing time and a setup time for each lot in the initial setup pattern from the storage device, a lot processing time of an arbitrary target lot, and a setup time of a next lot set up next to the target lot When the setup time of the next lot exceeds the lot processing time of the target lot, the target lot is In the initial device pattern, each lot other than the sandwiched lot is sandwiched and the lot processing time and the setup time for each of the target lots are acquired from the storage device in the initial device pattern. Compare the lot processing time of the target lot with the setup time of the next lot set next to the target lot and the total setup time, which is the sum of the setup time of the target lot, and the processing time of the target lot When the time exceeds the total setup time, the sandwiched lot extraction means for sandwiching and extracting the target lot as a lot and dividing the lot processing time of the sandwiched lot into two, and A method to generate a trapping mechanism pattern by inserting the lot processing time Characterized in that it comprises a and.

また、本発明に係る仕掛けパターン生成装置において、挟み込み仕掛けパターン生成手段は、挟み込みロットを挟み込まれロットの前に仕掛ける先行ロットと、挟み込みロットの後に仕掛ける後行ロットとに分割したときに先行ロットの処理時間と後行ロットの処理時間を配分して挟み込みロットの仕掛け位置を算出する手段であって、挟み込まれロットの次に仕掛けられる後続ロットの段取り時間を記憶装置から取得し、挟み込みロットの段取り時間と後続ロットの段取り時間の和を挟み込まれロットの処理時間から差し引き、残された余裕時間を予め定めた基準で2つに分割してそれぞれ先行ロットと後行ロットとに配分して先行ロットの処理時間を定めて挟み込みロットの仕掛け位置を算出する手段を含むことが好ましい。   Further, in the mechanism pattern generation apparatus according to the present invention, the sandwiching mechanism pattern generation means includes the preceding lot when the sandwiching lot is divided into a preceding lot that is sandwiched and placed before the lot and a subsequent lot that is placed after the sandwiching lot. A means for allocating the processing time and the processing time of the succeeding lot to calculate the setting position of the sandwiched lot, acquiring the setup time of the subsequent lot to be placed next to the sandwiched lot from the storage device, and setting up the sandwiched lot The sum of the time and the setup time of the following lot is inserted and subtracted from the processing time of the lot, and the remaining margin time is divided into two according to a predetermined standard, and distributed to the preceding lot and the succeeding lot respectively. It is preferable to include means for calculating the position of the sandwiched lot by setting the processing time of

また、本発明に係る仕掛けパターン生成装置において、挟み込み仕掛けパターン生成手段は、当初仕掛けパターンの最後のロットについて、その次の後続ロットのための段取り時間をゼロとすることが好ましい。   Moreover, in the device pattern generation device according to the present invention, it is preferable that the sandwiching device pattern generation means sets the setup time for the next subsequent lot to zero for the last lot of the initial device pattern.

また、本発明に係る仕掛けパターン生成装置において、挟み込み仕掛けパターン生成手段は、挟み込みロットとして抽出されたロットについて挟み込まれロットの候補が複数ある場合には、挟み込みロットの仕掛け位置を複数の挟み込まれロットの候補についてそれぞれ算出し、算出された複数の挟み込み位置のうち、当初仕掛けパターンの挟み込みロットの仕掛け位置に最も近い方の候補を挟み込まれロットとして特定する手段を含むことが好ましい。   Further, in the device for generating a pattern according to the present invention, the sandwiching device pattern generating means sandwiches a lot extracted as a sandwiched lot, and when there are a plurality of candidate lots, a plurality of trapped lots are placed in the trapping lot. It is preferable to include means for calculating each of the candidates and identifying the candidate closest to the setting position of the initial setting pattern holding lot among the plurality of calculated holding positions as a lot.

上記構成により、仕掛けパターン生成装置は、予め定めた標準的手順で当初仕掛けパターンを生成し、この当初仕掛けパターンにおいて、任意の対象ロットのロット処理時間と、対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間とを比較し、次ロットの段取り時間が対象ロットのロット処理時間を超えるロットを挟み込みロットとして抽出する。一方、挟み込みロット以外の挟み込まれ対象ロットについて、任意の挟み込まれ対象ロットのロット処理時間と、次に仕掛けられる次ロットの段取り時間と挟み込みロットの段取り時間の和である合計段取り時間とを比較し、その挟み込まれ対象ロットの処理時間が合計段取り時間を超えるロットを挟み込まれロットとして抽出する。そして、挟み込まれロットのロット処理時間を2つに分割し、分割された間に挟みこみロットのロット処理時間を挟み込んで挟み込み仕掛けパターンを生成する。   With the above configuration, the device pattern generation device generates an initial device pattern according to a predetermined standard procedure, and in this initial device pattern, the lot processing time of an arbitrary target lot and the next lot to be set next to the target lot. The setup time is compared, and a lot whose setup time of the next lot exceeds the lot processing time of the target lot is extracted as a sandwiched lot. On the other hand, for the target lots other than the sandwiched lot, the lot processing time of any sandwiched target lot is compared with the setup time of the next lot to be placed next and the total setup time, which is the sum of the setup time of the sandwiched lot. Then, a lot whose processing time of the sandwiched target lot exceeds the total setup time is sandwiched and extracted as a lot. Then, the lot processing time of the sandwiched lot is divided into two, and the sandwich processing pattern is generated by sandwiching the lot processing time of the sandwiched lot between the divided lots.

対象ロットが処理時間の少ない小ロットであって、その処理時間内で次ロットのための段取りができないときは、そのままでは、次ロットのための段取りをするためラインを停止させることになる。上記構成によれば、そのようなロットを挟み込みロットとして抽出し、一方で、挟み込まれ対象ロットのロット処理時間と、次に仕掛けられる次ロットの段取り時間と挟み込み対象ロットの段取り時間の和である合計段取り時間とを比較し、挟み込まれ対象ロットの処理時間が合計段取り時間を超えるロットを抽出する。このようなロットは、処理時間が十分ある大きなロットであって、その処理時間内で、挟み込みロットの段取りと、次ロットの段取りとを吸収できる。そこで、このようなロットを挟み込まれロットとして抽出し、そのロット処理時間を2つに分割し、分割された間に挟みこみロットのロット処理時間を挟み込んで挟み込み仕掛けパターンを生成する。これによって、一定量以下の小ロット部品が発生したときに、ラインを停止することを回避できる仕掛けパターンを生成することができる。   If the target lot is a small lot with a short processing time, and the setup for the next lot cannot be performed within the processing time, the line is stopped for the setup for the next lot. According to the above configuration, such a lot is extracted as a sandwiched lot, and on the other hand, the lot processing time of the sandwiched target lot, the setup time of the next lot to be placed next, and the setup time of the sandwiched lot The total setup time is compared, and a lot that is sandwiched and the processing time of the target lot exceeds the total setup time is extracted. Such a lot is a large lot having a sufficient processing time, and the setup of the sandwiched lot and the setup of the next lot can be absorbed within the processing time. Therefore, such a lot is sandwiched and extracted as a lot, the lot processing time is divided into two, and the lot processing time of the sandwiched lot is sandwiched between the divided lots to generate a trapping mechanism pattern. As a result, it is possible to generate a mechanism pattern that can avoid stopping the line when a small lot part of a certain amount or less is generated.

また、仕掛けパターン生成装置において、挟み込みロットの段取り時間と後続ロットの段取り時間の和を挟み込まれロットの処理時間から差し引き、残された余裕時間を予め定めた基準で2つに分割してそれぞれ先行ロットと後行ロットとに配分して先行ロットの処理時間を定めて挟み込みロットの仕掛け位置を算出する。予め定めた基準の1つとしては、残された余裕時間を均等に2つに分割するものを用いることができる。このように、残された余裕時間を先行ロットと後行ロットとに分配するので、適当な余裕時間を有する仕掛けパターンとすることができる。   In addition, in the device pattern generation device, the sum of the setup time of the sandwiched lot and the setup time of the subsequent lot is sandwiched and subtracted from the processing time of the lot, and the remaining margin time is divided into two according to a predetermined criterion, and each preceding The processing time of the preceding lot is determined by allocating to the lot and the succeeding lot, and the setting position of the sandwiched lot is calculated. As one of the predetermined criteria, one that equally divides the remaining margin time into two can be used. Thus, since the remaining margin time is distributed to the preceding lot and the succeeding lot, it is possible to obtain a device pattern having an appropriate margin time.

また、仕掛けパターン生成装置において、当初仕掛けパターンの最後のロットについて、その次の後続ロットのための段取り時間をゼロとする。これにより、計算が楽になる。   In the device pattern generation apparatus, the setup time for the next subsequent lot is set to zero for the last lot of the initial device pattern. This makes calculations easier.

また、仕掛けパターン生成装置において、挟み込まれロットの候補が複数ある場合には、挟み込みロットの仕掛け位置を複数の挟み込まれロットの候補についてそれぞれ算出し、算出された複数の挟み込み位置のうち、当初仕掛けパターンの挟み込みロットの仕掛け位置に最も近い方の候補を挟み込まれロットとして特定する。これにより、挟み込みロットの処理を必要以上に遅らせないようにできる。   In addition, when there are a plurality of sandwiched lot candidates in the device pattern generation device, the device location of the sandwiched lot is calculated for each of the plurality of sandwiched lot candidates, and the initial device among the calculated plurality of sandwiching positions. The candidate closest to the setting position of the sandwiched lot of patterns is sandwiched and specified as a lot. As a result, the processing of the sandwiched lot can be prevented from being delayed more than necessary.

以下に図面を用いて本発明に係る実施の形態につき詳細に説明する。以下では、仕掛けパターンが適用されるラインをプレスラインとして説明するが、複数種類の対象物をロット単位で処理するラインであれば、プレスライン以外のラインであってもよい。例えば、塗装ライン、組立ライン、熱処理ライン、表面処理ライン、検査ライン等であってもよい。また、以下で説明するロットサイズ、ロット処理時間、段取り時間等の数字は説明のための一例であって、勿論、これ以外の数字であっても構わない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description, the line to which the device pattern is applied is described as a press line, but a line other than the press line may be used as long as a plurality of types of objects are processed in units of lots. For example, it may be a painting line, an assembly line, a heat treatment line, a surface treatment line, an inspection line, or the like. The numbers such as the lot size, the lot processing time, and the setup time described below are examples for explanation, and of course, other numbers may be used.

図1は、仕掛けパターン生成装置10の構成を示す図である。この仕掛けパターン生成装置10は、複数のラインを有するプレス工場において、複数種類の部品を生産するときに、各ラインごとに、どの種類の部品の処理をいつ行うか、その処理の時期、順序、一回に処理する個数であるロットサイズ等を定める仕掛けパターンを生成する装置である。すなわち、仕掛けパターン生成装置10は、複数種類の対象物をロット単位で処理する処理工程における複数種類の対象物の処理に関する仕掛けパターンを生成する機能を有する装置である。特にここでは、仕掛けパターン上で一定量以下の小ロット部品が発生したときに、ラインを停止することを回避できるように、仕掛けパターンを修正して生成する機能を有する。かかる仕掛けパターン生成装置10は、生産計画等を処理するのに適したコンピュータで構成することができる。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of the device pattern generation apparatus 10. This device pattern generation apparatus 10 is a press factory having a plurality of lines. When producing a plurality of types of parts, when to process which type of parts for each line, the timing, order of the processing, It is a device that generates a device pattern that determines the lot size and the like that are processed at one time. That is, the device pattern generation apparatus 10 is a device having a function of generating a device pattern related to processing of a plurality of types of objects in a processing step of processing a plurality of types of objects in units of lots. In particular, here, when a small lot part of a certain amount or less is generated on the device pattern, the device has a function of correcting and generating the device pattern so as to avoid stopping the line. The device pattern generation apparatus 10 can be configured by a computer suitable for processing a production plan or the like.

仕掛けパターン生成装置10は、CPU12と、キーボード等の入力部14と、ディスプレイあるいはプリンタ等の出力部16と、プログラムおよび各種データ等を記憶する記憶装置18とを含んで構成される。また、生産ラインとLAN(Local Area Network)等で接続するための通信制御部を有するものとしてもよい。これらの要素は内部バスで相互に接続される。   The device pattern generation apparatus 10 includes a CPU 12, an input unit 14 such as a keyboard, an output unit 16 such as a display or a printer, and a storage device 18 that stores programs, various data, and the like. Moreover, it is good also as what has a communication control part for connecting with a production line with LAN (Local Area Network). These elements are connected to each other by an internal bus.

記憶装置18は、上記のように仕掛けパターン生成のためのプログラムを記憶するほか、仕掛けパターン生成に必要な各種データを記憶する機能を有する。特にここでは、各ロットに対応付けて、そのロットを処理するために要する時間であるロット処理時間のデータ20と、そのロットを処理するために前もって必要な時間である段取り時間のデータ22を記憶する。このほかに、例えば、ラインが複数あるときに、各ラインに対応づけて、そのラインの稼動時刻データ等を記憶する。なお、これらのデータは、オペレータの手入力等で入力部14から入力されて、所定の検索キーに関連付けられ、階層構造等を用いて記憶装置18に記憶される。   The storage device 18 has a function of storing various types of data necessary for generating a device pattern in addition to storing a program for generating a device pattern as described above. In particular, here, the lot processing time data 20 that is the time required to process the lot and the setup time data 22 that is the time required in advance to process the lot are stored in association with each lot. To do. In addition, for example, when there are a plurality of lines, the operation time data of the lines are stored in association with each line. These data are input from the input unit 14 by an operator's manual input or the like, are associated with a predetermined search key, and are stored in the storage device 18 using a hierarchical structure or the like.

図2は、ロット処理時間に関連するデータの1例を示す図である。この図は、後述するように、「ライン1」において4つの種類のロットを処理する場合の当初仕掛けパターンを示す図であるが、ここにロット処理時間のデータが含まれている。ここでは、ロットを区別する番号であるロット品番に対応付けて、それぞれのロット品番について生産開始時刻と生産終了時刻が示され、ロット処理時間=(生産終了時刻)−(生産開始時刻)である。例えば、ロット品番aのロット処理時間は60分、ロット品番bのロット処理時間は10分、ロット品番cのロット処理時間は50分、ロット品番dのロット処理時間は80分である。このように、記憶装置18には、ロット品番に対応付けて、各ロット品番のロット処理時間に関するデータが記憶される。   FIG. 2 is a diagram showing an example of data related to the lot processing time. As will be described later, this figure is a diagram showing an initial device pattern when four types of lots are processed in “Line 1”, which includes data on lot processing times. Here, the production start time and the production end time are shown for each lot product number in association with the lot product number that is a number for distinguishing lots, and lot processing time = (production end time) − (production start time). . For example, the lot processing time of the lot product number a is 60 minutes, the lot processing time of the lot product number b is 10 minutes, the lot processing time of the lot product number c is 50 minutes, and the lot processing time of the lot product number d is 80 minutes. As described above, the storage device 18 stores data related to the lot processing time of each lot product number in association with the lot product number.

図3は、段取り時間に関連するデータの1例を示す図である。ここでは、各ロット品番に対応付けて、各ロット品番の外段取り時間と、内段取り時間とが示されている。ここで、段取り時間とは、あるロット品番の処理に移行するために必要な時間のことで、図3のように、内段取り時間と外段取り時間とに区別できる。内段取り時間は、そのロット品番の処理が開始してからその処理の中で吸収できる段取り時間をいい、外段取り時間とは、そのロット品番の処理が開始する際に、前もって必要となる段取り時間である。したがって、あるロット品番の外段取り時間が、そのロット品番の処理の前に仕掛かっているロット品番の処理時間内で行うことができれば、ラインの稼働時間においてその外段取り時間の影響が現れてこない。一方、あるロット品番の外段取り時間が、そのロット品番の処理の前に仕掛かっているロット品番の処理時間内で行うことができないときは、そのロット品番の処理の前に、そのロット品番の外段取り処理が終わるまで、ラインを一旦停止することになり、その分の時間がライン稼働時間に影響してくる。   FIG. 3 is a diagram illustrating an example of data related to the setup time. Here, the outer setup time and the inner setup time of each lot product number are shown in association with each lot product number. Here, the setup time is a time required to shift to the processing of a certain lot product number, and can be distinguished into an internal setup time and an external setup time as shown in FIG. The internal setup time is the setup time that can be absorbed in the process after the lot part number starts processing, and the external setup time is the setup time required in advance when the lot part number starts processing. It is. Therefore, if the external setup time of a lot product number can be performed within the processing time of the lot product number that is in progress before the processing of the lot product number, the influence of the external setup time does not appear in the operation time of the line. On the other hand, if the outside setup time of a lot product number cannot be performed within the processing time of the lot product number in progress before the processing of the lot product number, the lot product number is excluded before the processing of the lot product number. The line is temporarily stopped until the setup process is completed, and the amount of time affects the line operation time.

図3の例では、ロット品番a,b,c,dの各ロットの内段取り時間はそれぞれ5分であり、ロット品番a,b,cの各ロットの外段取り時間はそれぞれ25分であり、ロット品番dの外段取り時間が35分であることが示されている。このように、記憶装置18には、ロット品番に対応付けて、各ロット品番の段取り時間に関するデータが記憶される。   In the example of FIG. 3, the internal setup time of each lot of lot product numbers a, b, c, and d is 5 minutes, and the external setup time of each lot of lot product numbers a, b, and c is 25 minutes. It is indicated that the external setup time of the lot product number d is 35 minutes. As described above, the storage device 18 stores data related to the setup time of each lot product number in association with the lot product number.

図4は、プレス工場における各ラインの稼動時間に関するデータの1例を示す図である。ここでは、ライン1は8:00から18:00まで稼動し、ライン2は、8:00から12:00まで稼動する直と、13:00から18:00まで稼動する直の2つの直で構成されている様子が示されている。このように、記憶装置18には、ラインに対応付けて、各ラインの稼動時間に関するデータが記憶される。   FIG. 4 is a diagram showing an example of data relating to the operating time of each line in the press factory. Here, line 1 operates from 8:00 to 18:00, and line 2 operates directly from 8:00 to 12:00 and from 13:00 to 18:00. The configuration is shown. Thus, the storage device 18 stores data relating to the operating time of each line in association with the line.

再び図1に戻り、CPU12は、予め定めた標準的手順で当初仕掛けパターンを生成する当初仕掛けパターン生成部24と、当初仕掛けパターンを構成する各ロットの中の小さなロットで、次ロットの段取り時間をそのロットのロット処理時間内で処理できないロットを挟み込みロットとして抽出する挟み込みロット抽出部26と、当初仕掛けパターンを構成する各ロットの中の大きなロットで、挟み込みロットを挟み込んだとき、挟み込みロットの段取り時間と次ロットの段取り時間とを合わせてもそのロットのロット処理時間内で処理できるロットを挟み込まれロットとして抽出する挟み込まれロット抽出部28と、挟み込まれロットのロット処理時間を2つに分割し、分割された間に挟みこみロットのロット処理時間を挟み込んで仕掛けパターンを生成する挟み込み仕掛けパターン生成部30とを含んで構成される。   Returning to FIG. 1 again, the CPU 12 sets the initial lot pattern generation unit 24 for generating an initial mechanism pattern in accordance with a predetermined standard procedure, and the setup time of the next lot in each of the lots constituting the initial mechanism pattern. When the sandwiched lot is sandwiched between the lots that are not included in the lot processing time of the lot and the sandwiched lot extractor 26 that extracts the sandwiched lot as a sandwiched lot, Even if the setup time and the setup time of the next lot are combined, a lot that can be processed within the lot processing time of the lot is sandwiched and extracted as a lot, and the lot processing time of the sandwiched lot is divided into two. Divide and work in process by inserting the lot processing time of the sandwiched lot between the divided parts Configured to include a gimmick pattern generation unit 30 sandwiching generating a pattern.

また、挟み込み仕掛けパターン生成部30は、挟み込まれロットを2つに分割したときに所定の基準に従って挟み込みロットの仕掛け位置を算出する仕掛け位置算出モジュール32と、挟み込まれロットの候補が複数ある場合に所定の基準により挟み込まれロットを特定する挟み込まれロット特定モジュール34を含んで構成される。   Further, the sandwiching device pattern generation unit 30 includes a device position calculation module 32 that calculates the device position of the sandwiched lot according to a predetermined standard when the sandwiched lot is divided into two, and a plurality of sandwiched lot candidates. A sandwiched lot specifying module 34 for identifying a lot sandwiched according to a predetermined standard is configured.

かかる機能はソフトウェアによって実現でき、具体的には、対応する仕掛けパターン生成プログラムを実行することで実現できる。かかる機能の一部をハードウェアによって実現するものとしてもよい。   Such a function can be realized by software, specifically, by executing a corresponding device pattern generation program. A part of such functions may be realized by hardware.

上記構成の作用、特にCPU12の各機能について、図5のフローチャートと、仕掛けパターンの具体例を示す図6から図10を用いて詳細に説明する。図5は、小さいロットの処理時間を大きいロットの処理時間に挟み込む挟み込み仕掛けパターン生成の手順を示すフローチャートである。ここでの各手順は、対応する仕掛けパターン生成プログラムの各処理手順に対応する。また、図6から図10は、図5のフローチャートの各手順について、仕掛けパターンの具体例を用いて説明する図である。ここでは、図2で説明した当初仕掛けパターンと各ロットの処理時間、図3で説明した各ロットの外段取り時間を用いて説明する。   The operation of the above configuration, particularly each function of the CPU 12, will be described in detail with reference to the flowchart of FIG. 5 and FIGS. 6 to 10 showing specific examples of device patterns. FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for generating a trapping device pattern in which a processing time for a small lot is sandwiched between processing times for a large lot. Each procedure here corresponds to each processing procedure of the corresponding device pattern generation program. 6 to 10 are diagrams for explaining each procedure of the flowchart of FIG. 5 using a specific example of a device pattern. Here, description will be made using the initial mechanism pattern and the processing time of each lot described with reference to FIG. 2, and the external setup time of each lot described with reference to FIG.

プレス工場において、ある日の各ロット品番の生産計画が立てられると、そのデータが仕掛けパターン生成装置10の入力部14からの入力によって取得され、記憶装置18に各種データとして記憶される。そして、予め定めた標準的手順で当初仕掛けパターンが生成される(S10)。この工程は、CPU12の当初仕掛けパターン生成部24の機能によって実行される。標準的手順としては、プレス工場の各ラインの設備能力、素材の在庫状況、各ロット品番の出荷日程等に基き、特に支障がなければ、例えば、生産計画の順序に従って仕掛け順序を定めるものとできる。   In the press factory, when a production plan for each lot product number on a certain day is made, the data is acquired by input from the input unit 14 of the device pattern generation device 10 and stored as various data in the storage device 18. Then, an initial device pattern is generated by a predetermined standard procedure (S10). This step is executed by the function of the initial device pattern generation unit 24 of the CPU 12. As a standard procedure, based on the facility capacity of each line of the press factory, the stock status of the materials, the shipping schedule of each lot part number, etc., if there is no particular problem, for example, the installation order can be determined according to the order of the production plan. .

そこで、図2は、生産計画に従って、ロット品番a,b,c,dをこの順序で仕掛けるものとして、当初仕掛けパターンとした様子を示す図である。この段階では、各ロット品番の段取り時間のことを考慮しない。なお、図4を参照することで、この処理は、ライン1でも、ライン2の前半の直でも、処理が可能であることが分かる。どのラインを用いるかは、ラインの設備能力等で決めることができ、いずれのラインでも可能なときは、予め定めたラインの稼動優先順位に従って決めることができる。ここでは、ライン1を用いることに決定されたものとする。   Therefore, FIG. 2 is a diagram showing a state in which the initial product pattern is formed by setting the lot product numbers a, b, c, and d in this order according to the production plan. At this stage, the setup time of each lot product number is not considered. It can be seen from FIG. 4 that this process can be performed either in line 1 or in the first half of line 2. Which line is used can be determined by the facility capacity of the line or the like. When any line is possible, it can be determined according to a predetermined operation priority of the line. Here, it is assumed that the line 1 is decided to be used.

図6は、図2の当初仕掛けパターンを時間経過に従って示す図である。ここでは、横軸に時刻が取られている。当初仕掛けパターンは次のようになっている。すなわち、ライン1の稼動開始時刻である8:00からロット品番aの生産が開始され、そのロット処理時間は60分であるので、9:00にその生産が終了する。続いてロット品番bが9:00から生産が開始し、そのロット処理時間は10分であるので、9:10に生産が終了する。そして、ロット品番cが9:10から生産開始し、そのロット処理時間は50分であるので、10:00にその生産が終了する。その次に、ロット品番dの生産が10:00に開始し、そのロット処理時間は80分であるので、11:20にその生産が終了する。このように、当初仕掛けパターンは、生産計画の順に、各ロット品番のロット処理時間を、生産終了から次の生産開始まで隙間時間を置かずに配置したものとして生成されている。   FIG. 6 is a diagram illustrating the initial device pattern of FIG. 2 as time elapses. Here, time is taken on the horizontal axis. The initial mechanism pattern is as follows. That is, the production of the lot product number a is started from 8:00, which is the operation start time of the line 1, and the lot processing time is 60 minutes, so that the production ends at 9:00. Subsequently, the production starts at 9:00 for the lot product number b, and the lot processing time is 10 minutes. Therefore, the production is finished at 9:10. Since the lot product number c starts production at 9:10 and the lot processing time is 50 minutes, the production ends at 10:00. Next, the production of the lot product number d starts at 10:00 and the lot processing time is 80 minutes, so that the production ends at 11:20. As described above, the initial device pattern is generated as an arrangement in which the lot processing time of each lot product number is arranged without any gap time from the end of production to the next production start in the order of the production plan.

ところで、図3によれば、ロット品番cの外段取り時間は25分である。ロット品番cはロット品番bの後に仕掛けられるが、ロット品番bのロット処理時間は上記のように10分である。したがって、当初仕掛けパターンでは、ロット品番cの外段取り時間である25分をロット品番bのロット処理時間の中で終えることができず、15分はみ出すことになる。つまり、このままでは、当初仕掛けパターンのまま生産を仕掛けると、ロット品番bの生産が終了した9:10から、少なくとも9:25まで、ロット品番cの外段取り時間のためにラインが停止することになる。   By the way, according to FIG. 3, the external setup time of the lot product number c is 25 minutes. The lot product number c is set after the lot product number b, and the lot processing time of the lot product number b is 10 minutes as described above. Therefore, in the initial mechanism pattern, 25 minutes, which is the external setup time for the lot product number c, cannot be completed in the lot processing time for the lot product number b, and the extra 15 minutes protrudes. In other words, if the production is started with the original construction pattern, the line will be stopped due to the external setup time of the lot product number c from 9:10 when the production of the lot product number b is completed to at least 9:25. Become.

これを避けるため、次のような処理が行われる。なお、以下では、内段取り時間は、各ロットの処理時間内で十分処理できる内容であるものとする。したがって、以下では、段取り時間としては、外段取り時間のみを考慮するものとする。   In order to avoid this, the following processing is performed. In the following, it is assumed that the inner setup time is a content that can be sufficiently processed within the processing time of each lot. Therefore, in the following, only the external setup time is considered as the setup time.

図5に戻り、当初仕掛けパターンが生成されると、次に挟み込みロットの抽出が行われる(S12)。この工程は、CPU12の挟み込みロット抽出部26の機能によって実行される。挟み込みロットとは、上記のロット品番bのように、そのロットのロット処理時間よりも次ロットの段取り時間が長いロットである。つまり、任意の対象ロットについて、その対象ロットの次に処理される次ロットの段取り時間が対象ロットのロット処理時間を超えるときに、その対象ロットが挟み込みロットとして抽出される。   Returning to FIG. 5, when the initial device pattern is generated, the sandwiched lot is extracted (S12). This step is executed by the function of the sandwiched lot extracting unit 26 of the CPU 12. The sandwiched lot is a lot whose setup time of the next lot is longer than the lot processing time of the lot, such as the lot product number b described above. That is, for any target lot, when the setup time of the next lot processed next to the target lot exceeds the lot processing time of the target lot, the target lot is extracted as a sandwiched lot.

具体的には、各ロット品番について、[(それぞれのロットの加工時間であるロット処理時間)−(そのロットの次加工ロット品番の外段取り時間)]を計算し、その値がマイナスとなるロット品番を抽出する。   Specifically, for each lot product number, [(lot processing time that is the processing time of each lot) − (outside setup time of the next processing lot product number of that lot)] is calculated, and the lot whose value is negative Extract the part number.

図2、図3のデータを用いると、各ロット品番についての計算結果は以下のようになる。ロット品番a:60分−25分=+35分。ロット品番b:10分−25分=−15分。ロット品番c:50分−35分=+15分。ロット品番d:80分−0分=+80分。ここでは、ロット品番dが最後のロット品番で、次のロット品番がないものとしてある。   Using the data of FIGS. 2 and 3, the calculation results for each lot product number are as follows. Lot product number a: 60 minutes-25 minutes = + 35 minutes. Lot product number b: 10 minutes-25 minutes = -15 minutes. Lot product number c: 50 minutes-35 minutes = + 15 minutes. Lot product number d: 80 minutes-0 minutes = +80 minutes. Here, it is assumed that the lot product number d is the last lot product number and there is no next lot product number.

この計算結果によれば、ロット品番bのみが、マイナスの値となる。したがって、ロット品番bが、挟み込みロットとして抽出される。   According to this calculation result, only the lot product number b has a negative value. Therefore, the lot product number b is extracted as the sandwiched lot.

次に、挟み込まれロットの抽出が行われる(S14)。この工程は、CPU12の挟み込まれロット抽出部28の機能によって実行される。挟み込まれロットとは、そのロットの次ロットのための外段取り時間と、挟み込みロットの外段取り時間とを合わせても、そのロットのロット処理時間内で吸収できる大きなロットである。このようにロット処理時間に十分余裕があるロットであれば、そのロットのロット処理時間を分割して、その間に挟み込みロットを挟みこみ、外段取り時間の影響をラインの稼働時間に影響を与えないようにできる。   Next, the sandwiched lot is extracted (S14). This process is executed by the function of the lot extraction unit 28 sandwiched by the CPU 12. The sandwiched lot is a large lot that can be absorbed within the lot processing time of the lot even if the outside setup time for the next lot of the lot and the outside setup time of the sandwiched lot are combined. In this way, if the lot processing time is sufficient, the lot processing time of the lot is divided and the sandwiched lot is sandwiched between them, and the influence of the external setup time does not affect the operation time of the line. You can

ここで、挟み込まれの対象となるロットとは、挟み込みロット以外のロットであるので、これを挟み込まれ対象ロットと呼ぶことにする。この挟み込まれ対象ロットの中で、そのロット処理時間が、その挟み込まれ対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間と、すでに抽出された挟み込みロットの段取り時間との和である合計段取り時間を超えるときに、その挟み込まれ対象ロットが挟み込まれロットとなる。   Here, since the lot to be sandwiched is a lot other than the sandwiched lot, this is referred to as a target lot sandwiched. Among the sandwiched lots, the lot processing time is the total setup time, which is the sum of the setup time of the next lot to be placed next to the sandwiched lot and the setup time of the sandwiched lot that has already been extracted. When exceeding, the target lot is inserted and becomes a lot.

具体的には、挟み込みロット以外の各ロット品番について、[(それぞれのロット品番のロット処理時間)−{(挟み込みロット品番の外段取り時間)+(そのロット品番の次加工ロット品番の外段取り時間)}]を計算し、その値がプラスとなるロット品番を抽出する。   Specifically, for each lot product number other than the sandwiched lot, [(lot processing time of each lot product number) − {(external setup time of sandwiched lot product number) + (external setup time of the next machining lot product number of that lot product number] )}] Is calculated, and a lot product number having a positive value is extracted.

図2、図3のデータを用いると、各ロット品番についての計算結果は以下のようになる。ロット品番a:60分−(25分+25分)=+10分。ロット品番c:50分−(25分+35分)=−10分。ロット品番d:80分−(25分+0分)=+55分。上記のように、ここでは、ロット品番dが最後のロット品番で、次のロット品番がないものとしてある。   Using the data of FIGS. 2 and 3, the calculation results for each lot product number are as follows. Lot product number a: 60 minutes- (25 minutes + 25 minutes) = + 10 minutes. Lot product number c: 50 minutes- (25 minutes + 35 minutes) =-10 minutes. Lot product number d: 80 minutes- (25 minutes + 0 minutes) = + 55 minutes. As described above, here, the lot product number d is the last lot product number and there is no next lot product number.

この計算結果によれば、ロット品番aとロット品番dが、プラスの値となる。したがって、ロット品番aとロット品番dが、挟み込まれロットとして抽出される。   According to this calculation result, the lot product number a and the lot product number d are positive values. Accordingly, the lot product number a and the lot product number d are sandwiched and extracted as a lot.

このようにして、挟み込みロットと挟み込まれロットとが抽出されると、挟み込まれロットのロット処理時間を2つに分割して、挟み込みロットをその間に挟み込んで、挟み込み仕掛けパターンが生成される。挟み込み仕掛けパターンの生成は、挟み込み位置の算出と、挟み込まれロットが複数あるときに、挟み込み位置に基づいて具体的な挟み込まれロットを1つに特定することによって行われる。   When the sandwiched lot and the sandwiched lot are extracted in this way, the lot processing time of the sandwiched lot is divided into two, and the sandwiched lot is sandwiched between them to generate a sandwiching device pattern. Generation of the sandwiching device pattern is performed by calculating the sandwiching position and specifying a specific sandwiched lot based on the sandwiching position when there are a plurality of sandwiched lots.

すなわち、図5において、S12,S14によって挟み込みロットと挟み込まれロットとが抽出されると、挟み込みロットの仕掛け位置が算出される(S16)。この工程は、CPU12の仕掛け位置算出モジュール32の機能によって実行される。挟み込みロットの仕掛け位置の算出とは、挟み込まれロットのロット処理時間の中のどの時刻に挟み込みロットを配置するかの計算である。   That is, in FIG. 5, when the sandwiched lot and the sandwiched lot are extracted in S12 and S14, the setting position of the sandwiched lot is calculated (S16). This step is executed by the function of the device position calculation module 32 of the CPU 12. The calculation of the position of the trapped lot is calculation of the time at which the trapped lot is arranged in the lot processing time of the trapped lot.

上記のように、挟み込まれロットは、そのロット処理時間の中に挟みこみロットのロット処理時間を組み込むので、2つのロットに分割される。そこで、挟み込みロットの前に仕掛ける部分を先行ロットとし、挟み込みロットの後に仕掛ける部分を後行ロットとする。挟み込みロットの仕掛け位置とは、先行ロットのロット処理時間と後行ロットのロット処理時間の分配問題でもある。   As described above, the sandwiched lot is divided into two lots because the lot processing time of the sandwiched lot is incorporated in the lot processing time. Therefore, the part set before the sandwiching lot is set as the preceding lot, and the part set after the sandwiching lot is set as the succeeding lot. The setting position of the sandwiched lot is also a distribution problem between the lot processing time of the preceding lot and the lot processing time of the subsequent lot.

この分配は、次のようにして行うことができる。すなわち、挟み込まれロットの次に仕掛けられる後続ロットの段取り時間と、挟み込みロットの段取り時間との和を計算し、これを挟み込まれロットの処理時間から差し引く。その結果を残された余裕時間として、均等に1/2に分けて、先行ロットと後行ロットに配分する。つまり、先行ロットのロット処理時間は、(挟み込みロットの外段取り時間)+(余裕時間の1/2)となり、後行ロットのロット処理時間は、(後続ロットの外段取り時間)+(余裕時間の1/2)となる。   This distribution can be performed as follows. That is, the sum of the setup time of the subsequent lot to be placed next to the sandwiched lot and the setup time of the sandwiched lot is calculated, and this is subtracted from the processing time of the sandwiched lot. The result is divided into ½ evenly as the remaining margin time, and distributed to the preceding lot and the succeeding lot. That is, the lot processing time of the preceding lot is (outside setup time of the sandwiched lot) + (1/2 of the margin time), and the lot processing time of the succeeding lot is (outside setup time of the subsequent lot) + (room time) 1/2).

上記のように、挟み込まれロットとしては、ロット品番aとロット品番dとがあるので、それぞれについて、挟み込みロットの仕掛け位置の算出が行われる。図7は、挟み込まれロットがロット品番aの場合の挟み込みロットの仕掛け位置の様子を示す図で、図8は、挟み込まれロットがロット品番dの場合の挟み込みロットの仕掛け位置の様子を示す図である。   As described above, since there are lot product number a and lot product number d as the sandwiched lot, the setting position of the sandwiched lot is calculated for each. FIG. 7 is a diagram showing the setting position of the sandwiched lot when the sandwiched lot is the lot part number a, and FIG. 8 is a diagram showing the setting position of the sandwiched lot when the sandwiched lot is the lot part number d. It is.

挟み込まれロットがロット品番aの場合、そのロット処理時間は60分である。そして、挟み込みロットであるロット品番bの外段取り時間は25分、挟み込まれロットの次に仕掛けられる後続ロットであるロット品番cの外段取り時間は25分である。したがって、残された余裕時間は、60分−(25分+25分)=+10分となる。これを1/2として5分ずつ配分すると、ロット品番aが2分割されたときの先行ロット(a−1)のロット処理時間は、25分+5分=30分となり、後行ロット(a−2)のロット処理時間も、25分+5分=30分となる。したがって、図7に示されるように、挟み込みロットbの仕掛け位置は、生産開始が8:30、生産終了が8:40となる。   When the sandwiched lot is the lot product number a, the lot processing time is 60 minutes. Then, the external setup time of the lot product number b which is the sandwiched lot is 25 minutes, and the external setup time of the lot product number c which is the subsequent lot placed next to the sandwiched lot is 25 minutes. Therefore, the remaining margin time is 60 minutes− (25 minutes + 25 minutes) = + 10 minutes. When this is halved and allocated every 5 minutes, the lot processing time of the preceding lot (a-1) when the lot product number a is divided into two is 25 minutes + 5 minutes = 30 minutes, and the subsequent lot (a− The lot processing time of 2) is also 25 minutes + 5 minutes = 30 minutes. Therefore, as shown in FIG. 7, the start position of the sandwiched lot b is 8:30 at the start of production and 8:40 at the end of production.

挟み込まれロットがロット品番dの場合、そのロット処理時間は80分である。そして、挟み込みロットであるロット品番bの外段取り時間は25分であるが、挟み込まれロットの次に仕掛けられる後続ロットはないので、その外段取り時間は0分である。したがって、残された余裕時間は、80分−(25分+0分)=+55分となる。これを1/2として27.5分ずつ配分すると、ロット品番dが2分割されたときの先行ロット(d−1)のロット処理時間は、25分+27.5分=52.5分となり、後行ロット(d−2)のロット処理時間は、27.5分+0分=27.5分となる。したがって、図8に示されるように、挟み込みロットbの仕掛け位置は、生産開始が10:42.5、生産終了が10:52.5となる。   If the lot that is sandwiched is the lot product number d, the lot processing time is 80 minutes. The lot setup number b, which is a sandwiched lot, has an outer setup time of 25 minutes. However, since there is no subsequent lot that is sandwiched and placed next to the lot, the outer setup time is 0 minute. Therefore, the remaining margin time is 80 minutes− (25 minutes + 0 minutes) = + 55 minutes. If this is halved and distributed every 27.5 minutes, the lot processing time of the preceding lot (d-1) when the lot product number d is divided into two is 25 minutes + 27.5 minutes = 52.5 minutes, The lot processing time of the subsequent lot (d-2) is 27.5 minutes + 0 minutes = 27.5 minutes. Therefore, as shown in FIG. 8, the setting position of the sandwiched lot b is 10: 42.5 at the start of production and 10: 52.5 at the end of production.

なお、上記では、先行ロットと後行ロットについての余裕時間の配分を均等に1/2ずつとしたが、事情によっては、予め定めた基準に従って重み付けを行ってもよい。例えば、挟み込みロットと後続ロットの外段取り時間の相違に応じた重み付けを行って余裕時間を配分してもよい。場合によっては、挟み込みロットと後続ロットの内段取り時間に応じた重み付けを行って余裕時間を配分してもよい。   In the above description, the allocation of the margin time for the preceding lot and the succeeding lot is equally halved, but weighting may be performed according to a predetermined standard depending on circumstances. For example, the margin time may be allocated by weighting according to the difference in the external setup time between the sandwiched lot and the subsequent lot. In some cases, the margin time may be allocated by weighting according to the internal setup time of the sandwiched lot and the subsequent lot.

再び図5に戻り、このようにして挟み込みロットの仕掛け位置が算出されると、次に挟み込まれロットの特定が行われる(S18)。この工程は、CPU12の挟み込まれロット特定モジュール34の機能によって実行される。S14において抽出された挟み込まれロットが1つの場合には、そのロットが挟み込みロットとされるのはいうまでもない。S14において抽出された挟み込まれロットが複数の場合には、候補となる複数の挟み込まれロットの候補についてS16において算出された挟み込みロットの仕掛け位置を比較し、当初仕掛けパターンの挟み込みロットの仕掛け位置に最も近い方の候補を挟み込まれロットとして特定する。   Returning to FIG. 5 again, when the setting position of the sandwiched lot is calculated in this way, the sandwiched lot is specified next (S18). This step is executed by the function of the lot specifying module 34 sandwiched by the CPU 12. Needless to say, when there is one sandwiched lot extracted in S14, the lot is regarded as a sandwiched lot. When there are a plurality of sandwiched lots extracted in S14, the placement positions of the sandwiched lots calculated in S16 are compared for the candidates for a plurality of sandwiched lots, and the placement positions of the sandwiched lots in the initial device pattern are determined. The closest candidate is inserted and specified as a lot.

上記の例では、S14において抽出された挟み込まれロットは、ロット品番aとロット品番dである。ここで、当初仕掛けパターンにおける挟み込みロットであるロット品番bの仕掛け位置と、図7、図8で算出された仕掛け位置とを比較した結果を図9に示す。図9に示されるように、挟み込まれロットをロット品番aとするとき、当初のロット品番bの仕掛け位置と、ロット品番aに挟み込まれたときのロット品番bの仕掛け位置との時間差L1は、30分+10分=40分である。これに対し、挟み込まれロットをロット品番dとするとき、当初のロット品番bの仕掛け位置と、ロット品番dに挟み込まれたときのロット品番bの仕掛け位置との時間差L2は、50分+52.5分+10分=112.5分である。したがって、L1の方がL2より短く、これにより、挟み込まれロットは、ロット品番aに特定される。   In the above example, the sandwiched lots extracted in S14 are the lot product number a and the lot product number d. Here, FIG. 9 shows a result of comparing the setting position of the lot product number b, which is the sandwiched lot in the initial setting pattern, with the setting position calculated in FIG. 7 and FIG. As shown in FIG. 9, when the lot sandwiched is the lot product number a, the time difference L1 between the initial position of the lot product number b and the device position of the lot product number b when the lot product number a is sandwiched is: 30 minutes + 10 minutes = 40 minutes. On the other hand, when the lot sandwiched is the lot product number d, the time difference L2 between the initial position of the lot product number b and the device position of the lot product number b when the lot product number d is sandwiched is 50 minutes + 52. 5 minutes + 10 minutes = 112.5 minutes. Therefore, L1 is shorter than L2, and thus the sandwiched lot is specified as the lot product number a.

このようにして、挟み込まれロットが特定されると、その挟み込まれロットにおいて挟み込みロットの仕掛け位置が特定されて、挟み込み仕掛けパターンが生成される(S20)。図10は、生成された挟み込み仕掛けパターンの様子を示す図である。ここでは、最後のロット品番dの生産終了が11:20で、図6に示される当初仕掛けパターンと同じである。このように、当初仕掛けパターンでは、小さいロットであるロット品番bのロット処理時間の中でロット品番cの外段取り時間を吸収できなかったが、挟み込み仕掛けパターンによれば、いずれのロット品番の外段取り時間をその前に処理されるロット品番のロット処理時間の中で吸収することができる。これによって、仕掛けパターン上で一定量以下の小ロット部品が発生したときでも、ラインを停止することなく、処理を行うことができる。   In this way, when the sandwiched lot is specified, the trapping position of the sandwiched lot is specified in the sandwiched lot, and the sandwiching pattern is generated (S20). FIG. 10 is a diagram illustrating a state of the generated trapping device pattern. Here, the production end of the last lot product number d is 11:20, which is the same as the initial device pattern shown in FIG. As described above, in the initial mechanism pattern, the outside setup time of the lot part number c could not be absorbed in the lot processing time of the lot part number b, which is a small lot. However, according to the sandwiching mechanism pattern, The setup time can be absorbed in the lot processing time of the lot product number processed before that. As a result, even when a small lot part of a certain amount or less is generated on the device pattern, the processing can be performed without stopping the line.

本発明に係る実施の形態における仕掛けパターン生成装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the device pattern production | generation apparatus in embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施の形態において、ロット処理時間に関連するデータの1例を示す図である。In embodiment concerning this invention, it is a figure which shows an example of the data relevant to lot processing time. 本発明に係る実施の形態において、段取り時間に関連するデータの1例を示す図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure which shows an example of the data relevant to setup time. 本発明に係る実施の形態において、プレス工場における各ラインの稼動時間に関するデータの1例を示す図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure which shows an example of the data regarding the operating time of each line in a press factory. 本発明に係る実施の形態において、挟み込み仕掛けパターン生成の手順を示すフローチャートである。In the embodiment according to the present invention, it is a flowchart showing the procedure of the pinching device pattern generation. 本発明に係る実施の形態において、当初仕掛けパターンを説明する図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure explaining an initial mechanism pattern. 本発明に係る実施の形態において、挟み込みロットの仕掛け位置を算出する様子を説明する図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure explaining a mode that the setting position of the pinching lot is calculated. 本発明に係る実施の形態において、挟み込みロットの仕掛け位置を算出する別の例を説明する図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure explaining another example which calculates the device position of a pinching lot. 本発明に係る実施の形態において、挟み込まれロットの特定の様子を説明する図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure explaining the specific mode of the lot pinched | interposed. 本発明に係る実施の形態において、生成された挟み込み仕掛けパターンの様子を示す図である。In embodiment which concerns on this invention, it is a figure which shows the mode of the produced | generated pinching mechanism pattern.

符号の説明Explanation of symbols

10 パターン生成装置、12 CPU、14 入力部、16 出力部、18 記憶装置、20 ロット処理時間のデータ、22 段取り時間のデータ、24 当初仕掛けパターン生成部、26 挟み込みロット抽出部、28 挟み込まれロット抽出部、30 挟み込み仕掛けパターン生成部、32 仕掛け位置算出モジュール、34 挟み込まれロット特定モジュール。   10 pattern generation device, 12 CPU, 14 input unit, 16 output unit, 18 storage device, 20 lot processing time data, 22 setup time data, 24 initial mechanism pattern generation unit, 26 sandwiched lot extraction unit, 28 sandwiched lot Extraction unit, 30 sandwiching device pattern generation unit, 32 device position calculation module, 34 sandwiched lot identification module.

Claims (4)

複数種類の対象物をロット単位で処理する処理工程における複数種類の対象物の処理に関する仕掛けパターンを生成する装置であって、
各ロットに対応付けて、そのロットを処理するために要する時間であるロット処理時間と、そのロットを処理するために前もって必要な時間である段取り時間とを記憶する記憶装置と、
予め定めた標準的手順で当初仕掛けパターンを生成する手段と、
当初仕掛けパターンにおいて、各ロットについてのロット処理時間と段取り時間とを記憶装置から取得し、任意の対象ロットのロット処理時間と、対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間とを比較し、次ロットの段取り時間が対象ロットのロット処理時間を超えるときにその対象ロットを挟み込みロットとして抽出する挟み込みロット抽出手段と、
当初仕掛けパターンにおいて、挟み込みロット以外の各ロットを挟み込まれ対象ロットとして各挟み込まれ対象ロットについてのロット処理時間と段取り時間とを記憶装置から取得し、任意の挟み込まれ対象ロットのロット処理時間と、その挟み込まれ対象ロットの次に仕掛けられる次ロットの段取り時間と挟み込みロットの段取り時間の和である合計段取り時間とを比較し、その挟み込まれ対象ロットの処理時間が合計段取り時間を超えるときにその挟み込まれ対象ロットを挟み込まれロットとして抽出する挟み込まれロット抽出手段と、
挟み込まれロットのロット処理時間を2つに分割し、分割された間に挟みこみロットのロット処理時間を挟み込んで挟み込み仕掛けパターンを生成する手段と、
を備えることを特徴とする仕掛けパターン生成装置。
An apparatus for generating a device pattern related to processing of a plurality of types of objects in a processing step of processing a plurality of types of objects in units of lots,
A storage device that stores lot processing time, which is time required to process the lot, and setup time, which is time required in advance to process the lot, in association with each lot;
Means for generating an initial device pattern by a predetermined standard procedure;
In the initial device pattern, the lot processing time and the setup time for each lot are acquired from the storage device, the lot processing time of any target lot is compared with the setup time of the next lot set up next to the target lot, A sandwiched lot extracting means for extracting the target lot as a sandwiched lot when the setup time of the next lot exceeds the lot processing time of the target lot;
In the initial mechanism pattern, each lot other than the sandwiched lot is sandwiched and the lot processing time and the setup time for each target lot as each target lot are acquired from the storage device, and the lot processing time of any sandwiched target lot, The setup time of the next lot to be set next to the sandwiched target lot is compared with the total setup time which is the sum of the setup time of the sandwiched lot, and when the processing time of the sandwiched lot exceeds the total setup time, A sandwiched lot extraction means for sandwiching and extracting a target lot as a lot;
Means for dividing the lot processing time of the sandwiched lot into two and generating a sandwiching pattern by sandwiching the lot processing time of the sandwiched lot between the divided lots;
A device for generating a device pattern, comprising:
請求項1に記載の仕掛けパターン生成装置において、
挟み込み仕掛けパターン生成手段は、
挟み込まれロットを、挟み込みロットの前に仕掛ける先行ロットと、挟み込みロットの後に仕掛ける後行ロットとに分割したときに先行ロットの処理時間と後行ロットの処理時間を配分して挟み込みロットの仕掛け位置を算出する手段であって、
挟み込まれロットの次に仕掛けられる後続ロットの段取り時間を記憶装置から取得し、挟み込みロットの段取り時間と後続ロットの段取り時間の和を挟み込まれロットの処理時間から差し引き、残された余裕時間を予め定めた基準で2つに分割してそれぞれ先行ロットと後行ロットとに配分して先行ロットの処理時間を定めて挟み込みロットの仕掛け位置を算出する手段を含むことを特徴とする仕掛けパターン生成装置。
The device pattern generation device according to claim 1,
The sandwiching pattern generation means is
When the sandwiched lot is divided into a preceding lot that is set before the sandwiched lot and a subsequent lot that is set after the sandwiched lot, the processing time of the preceding lot and the processing time of the succeeding lot are allocated, and the setting position of the sandwiched lot Is a means for calculating
The setup time of the succeeding lot to be placed next to the sandwiched lot is acquired from the storage device, the sum of the setup time of the sandwiched lot and the setup time of the succeeding lot is sandwiched and subtracted from the processing time of the lot, and the remaining margin time is preliminarily determined. A device pattern generation apparatus comprising means for dividing a predetermined lot into two parts and allocating them to a preceding lot and a succeeding lot to determine a processing time of the preceding lot and calculating a device position of the sandwiched lot .
請求項1または2に記載の仕掛けパターン生成装置において、
挟み込み仕掛けパターン生成手段は、
当初仕掛けパターンの最後のロットについて、その次の後続ロットのための段取り時間をゼロとすることを特徴とする仕掛けパターン生成装置。
The device pattern generation device according to claim 1 or 2,
The sandwiching pattern generation means is
An apparatus for generating a device for patterning, characterized in that a setup time for a subsequent lot of the next lot of the initial device is set to zero.
請求項2に記載の仕掛けパターン生成装置において、
挟み込み仕掛けパターン生成手段は、
挟み込みロットとして抽出されたロットについて挟み込まれロットの候補が複数ある場合には、挟み込みロットの仕掛け位置を複数の挟み込まれロットの候補についてそれぞれ算出し、算出された複数の挟み込み位置のうち、当初仕掛けパターンの挟み込みロットの仕掛け位置に最も近い方の候補を挟み込まれロットとして特定する手段を含むことを特徴とする仕掛けパターン生成装置。
The device pattern generation device according to claim 2,
The sandwiching pattern generation means is
If there are multiple candidate lots that have been sandwiched for the lot extracted as a sandwiched lot, the device location of the sandwiched lot is calculated for each candidate for the plurality of sandwiched lots. A device for generating a device for patterning, comprising means for specifying a candidate that is closest to a device for setting a device in a pattern sandwiched lot as a lot.
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