JP2009205005A - Deformable mirror system and deformable mirror drive device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、静電駆動を用いて反射面の形状を可変できる可変形状鏡とそれを駆動する可変形状鏡駆動装置とからなる可変形状鏡システム、及び、それに用いる可変形状鏡駆動装置に関する。 The present invention relates to a deformable mirror system including a deformable mirror that can change the shape of a reflecting surface using electrostatic driving and a deformable mirror driving device that drives the deformable mirror, and a variable shape mirror driving device used therefor.
近年、半導体製造技術を利用した所謂MEMS(Micro Electro-Mechanical System)技術を適用することにより、静電駆動を用いて反射面の形状を変えることのできる可変形状鏡が注目されている。 2. Description of the Related Art In recent years, attention has been paid to a deformable mirror that can change the shape of a reflecting surface using electrostatic drive by applying a so-called MEMS (Micro Electro-Mechanical System) technology using semiconductor manufacturing technology.
このような可変形状鏡においては、所望の反射が得られるように、その反射面の変形量を測定することが求められている。変形量の測定方法としては、例えば、特許文献1に、静電容量の変化を測定する方法が開示されている。
In such a deformable mirror, it is required to measure the deformation amount of the reflecting surface so as to obtain a desired reflection. As a method for measuring the amount of deformation, for example,
図10(A)は、上記特許文献1に開示されている従来の可変形状鏡1の構成を示す図である。この可変形状鏡1は、静電引力によって変形する反射面と上部電極2を有する可撓性薄膜3と、該可撓性薄膜3に対向して配置された制御用と容量検出用を兼ねた制御電極4と、を備える。反射面は、上部電極2と制御電極4間に電圧を印加することで発生する静電駆動力によって変形し、この反射面の変形量は、静電容量検出回路5によって、上部電極2と制御電極4間の容量を測定することにより算出する構成となっている。
FIG. 10A is a diagram showing a configuration of a conventional
即ち、上記特許文献1には、検出方法として、図10(B)に示されるような構成が開示されている。上記制御電極4に抵抗6を介して定電圧源7より高電圧が印加されており、静電容量検出電極4’に高周波電源8より高周波電圧が印加されると、制御電極4の電位が変化する。この変化が上部電極2を通して静電容量検出回路5で電流変化としてモニタされる。この電流の位相及び振幅により、静電容量即ち反射面の変形量が検出される。
上記特許文献1では、反射面の変形量を検出する方法について開示しているが、その検出値を用いて可変形状鏡1の上部電極2と制御電極4間に印加する電圧値をどのように制御するかについては述べられていない。
In the above-mentioned
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、反射面の変形量を検出し、その値を用いて電極間に印加する電圧を制御することにより、可変形状鏡を精度良く駆動可能な可変形状鏡システム及び可変形状鏡駆動装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and by detecting the deformation amount of the reflecting surface and controlling the voltage applied between the electrodes using the value, the deformable mirror can be driven with high accuracy. An object is to provide a deformable mirror system and a deformable mirror driving apparatus.
本発明の可変形状鏡システムの一態様は、
反射面が形成された変形部と、上記変形部を固定する固定部と、上記変形部と上記固定部にそれぞれ対向して設けられた一対の電極と、を備える可変形状鏡と、
上記変形部を変形させるべく駆動力を発生する駆動回路と、
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする。
One aspect of the deformable mirror system of the present invention is:
A deformable part including a deformed part formed with a reflection surface, a fixed part for fixing the deformed part, and a pair of electrodes provided to face the deformed part and the fixed part,
A driving circuit for generating a driving force to deform the deforming portion;
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
It is characterized by comprising.
また、本発明の可変形状鏡駆動装置の一態様は、
反射面が形成された変形部と、上記変形部を固定する固定部と、上記変形部と上記固定部にそれぞれ対向して設けられた一対の電極と、を備える可変形状鏡の上記変形部を変形させるべく駆動力を発生する駆動回路と、
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする。
Also, one aspect of the deformable mirror driving device of the present invention is:
The deformable portion of the deformable mirror, comprising: a deformable portion having a reflecting surface; a fixed portion that fixes the deformable portion; and a pair of electrodes provided to face the deformable portion and the fixed portion, respectively. A driving circuit for generating a driving force to deform,
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
It is characterized by comprising.
本発明によれば、反射面の変形量を検出し、その値を用いて電極間に印加する電圧を制御することにより、可変形状鏡を精度良く駆動可能な可変形状鏡システム及び可変形状鏡駆動装置を提供することができる。 According to the present invention, a deformable mirror system and a variable shape mirror drive capable of accurately driving a deformable mirror by detecting the deformation amount of the reflecting surface and controlling the voltage applied between the electrodes using the value. An apparatus can be provided.
以下、本発明を実施するための最良の形態を図面を参照して説明する。 The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.
[第1実施形態]
(デバイス構造の説明)
まず、本発明の第1実施形態に係る可変形状鏡システムにおける可変形状鏡のデバイス構造を説明する。
[First Embodiment]
(Explanation of device structure)
First, the device structure of the deformable mirror in the deformable mirror system according to the first embodiment of the present invention will be described.
図1(A)は、本実施形態の可変形状鏡10の上面図であり、図1(B)は、図1(A)中のA−A’線位置での断面図である。また、図1(C)は、本可変形状鏡10の分解図である。
FIG. 1A is a top view of the
これらの図に示すように、可変形状鏡10は、電極基板11とミラー基板12とから構成されており、それら電極基板11とミラー基板12はスペーサ13を介して固定されている。
As shown in these drawings, the
上記電極基板11には、第2の電極14と第3の電極15が配置されており、配線16,17によって第2の引出し電極19と第3の引出し電極20にそれぞれ電気的に接続されている。
A
また、上記ミラー基板12は、支持部21と変形部22からなり、支持部21は、変形部22を支持すると共にスペーサ13を介して電極基板11に固定するときの固定部として用いられる。この場合、上記第2及び第3の電極14,15に対向する位置に、ミラー基板12に形成された変形部22が来るように固定されている。
The
更に、このミラー基板12の第2及び第3の電極14,15に対向する面には、金属などの導電性材料が全面に形成されており、第1の電極23として用いるようになっている。この第1の電極23が形成された面を裏面として、ミラー基板12の表面には、上記変形部22上に金属等を成膜した反射面24が形成されている。この反射面24として成膜される材料は、可変形状鏡10の仕様によっても異なるが、アルミニウム、金、誘電体多層膜を用いる場合が多い。アルミニウムなど酸化性のある金属はさらに、シリコン酸化物などで表面をコーティングする。
Further, a conductive material such as metal is formed on the entire surface of the
上記スペーサ13は、上記電極基板11と上記ミラー基板12との間隔を決めながら固定するために用いられる。このスペーサ13の材料は、ガラス、シリコン基板といった無機物材料や金属等を用いる場合が多いが、間隔を決めるためのビーズを含む有機接着剤を用いる場合もある。
The
上記ミラー基板12の第1の電極23を電極基板11上に形成した第1の引出し電極25に電気的に接続するために、上記ミラー基板12の支持部21に設けられた第1の電極23の一部を接続部26とし、上記ミラー基板12を固定する際に、その接続部26を電極基板11上に形成された電気接続用導電材27に電気的に接続させる。これは、金属の圧接によって接続させても良いし、導電性ペースト等で接続させても良い。この結果、ミラー基板12上の第1の電極23と電極基板11上の第1の引出し電極25は電気的に接続される。
In order to electrically connect the
第1の引出し電極25、第2の引出し電極19、第3の引出し電極20から外部の可変形状鏡駆動装置への電気接続は、図示していないが、通常、ワイヤボンディングによって行われる。
The electrical connection from the
(駆動原理の説明)
次に、図2を参照して、上記のような構成の可変形状鏡10を駆動する可変形状鏡駆動装置28を説明する。
(Explanation of driving principle)
Next, the deformable
上記構成の可変形状鏡10は、静電力によって変形部22上の反射面24を変形させる静電駆動方式を採用している。可変形状鏡駆動装置28は、図2に示すように、増幅器29によって上記可変形状鏡10の上記第3の電極15に電圧を印加し、上記第1の電極23と上記第3の電極15との間に電位差を与える。これによって、静電力による引力が発生し、上記可変形状鏡10では、上記変形部22と共に上記反射面24が上記電極基板11に向かって変形する。
The
この反射面24の変形量は、上記第1の電極23と上記第3の電極15との間に印加される電位差によって変える事ができる。
The deformation amount of the reflecting
上記スペーサ13の高さによって定まる上記電極基板11と上記ミラー基板12との間隔は、上記反射面24の最大変形量から決定することができ、一般的には、最大変形量の約3倍以上の基板間隔が必要とされる。
The distance between the
(静電容量検出の説明)
上記第1の電極23と上記第3の電極15との間に電位差を与えて上記変形部22が変形すると、上記第1の電極23と上記第2の電極14との間隔(以降、この間隔を「静電ギャップ」と称する)は減少する。そして、この静電ギャップの減少に伴い、上記第1の電極23と上記第2の電極14の静電容量(以降、この第1の電極23と第2の電極14の静電容量を「可変形状鏡10の静電容量」と称する)が増加する。
(Description of capacitance detection)
When the
上記反射面24の変形量Δdと上記可変形状鏡10の静電容量値C1との関係は、以下の[数1]で表すように、反比例の関係にあり、且つ、変形量Δdに対して可変形状鏡10の静電容量値C1の値は、非線形性を持っている。
但しここで、εは誘電率、Aは電極の面積、d0は電極間の間隔の初期値、Δdは反射面24の変形量である。
Where ε is the dielectric constant, A is the area of the electrodes, d 0 is the initial value of the spacing between the electrodes, and Δd is the amount of deformation of the reflecting
本実施形態に係る可変形状鏡駆動装置28においては、図2に示すように、上記第1の電極23には、静電容量を検出するために必要な参照信号を生成する参照信号生成器30が接続されている。この参照信号生成器30から上記第1の電極23に印加される参照信号は、周期性を有する信号であり、例えば正弦波や矩形波、三角波、さらに、周期性の任意波形を用いる場合が考えられる。
In the deformable
また、上記第2の電極14には、コンデンサである結合容量31を介して容量検出器32が接続されている。ここで、上記結合容量31の容量値C2を、上記可変形状鏡10の変形量が0のときの静電容量値、即ち、
を満たすように設定すると、上記容量検出器32からは、上記結合容量31の容量値C2と上記可変形状鏡10の電極間の静電容量値C1が直列に接続された状態に見えるので、検出される合成容量値CTは、
となる。 It becomes.
上記可変形状鏡10の静電容量値C1と、上記結合容量31が直列に接続された状態の合成容量値CTそれぞれを変形量Δdに対して級数展開すると、
となり、下線を引いた変形量Δdの2次より高次の項が、上記可変形状鏡10の静電容量値C1に比べて合成容量値CTの方が小さくなることが判る。よって、上記結合容量31を用いずに上記第2の電極14に検出回路を直接接続する場合に比べて、上記結合容量31を介して接続した場合は2次より高次の項が低減されるので、線形性の良い変位検出を行うことができる。
Next, higher order terms from the secondary deformation amount Δd underlined that, towards the
なお、ここでは上記結合容量31と上記可変形状鏡10の静電容量の初期値としたが、それ以外の容量値をとっても非線形性の低減を実現することは可能である。
Although the initial values of the capacitances of the
而して、上記参照信号生成器31から上記のような参照信号を上記合成容量へ印加し、該合成容量のインピーダンスを上記容量検出器32で検出するか、合成容量にチャージされた電荷を上記容量検出器32で検出することで、合成容量値CTを検出できる。そして、上記容量検出器32は、予め記憶している容量値と上記変形部22の変形量との関係を基に、上記検出した合成容量値CTに対応する上記変形部22の変形量を示す変位信号を出力する。
Thus, the reference signal as described above is applied from the
なお、上記参照信号生成器31からの参照信号は、合成容量検出に使用されるだけでなく駆動力を発生するので、上記参照信号の周波数は、上記変形部22の駆動可能な周波数帯域よりも十分高くする必要があり、上記変形部22の高次共振周波数を避けて設定されることが望まれる。
Note that the reference signal from the
(制御部分の説明)
上記容量検出器32より出力される変位信号は、比較器33で、外部より入力される目標変位信号と比較され、その差が変位誤差として積分器34に対して出力される。積分器34は、その変位誤差を積分し、積分した結果を上記増幅器29で増幅し、上記第3の電極15へ出力する。
(Explanation of control part)
The displacement signal output from the
以上のような可変形状鏡駆動装置28の構成により、積分器34が動作するのに十分な時間が経過した状態では、比較器33が出力する容量値誤差が0になるように、上記可変形状鏡10の上記第3の電極15の電圧が定まる。言い換えれば、目標容量信号と変位信号が一致した状態であり、目標変位信号に相当する変形量が可変形状鏡10の変形量で得られるように上記第3の電極15の電圧値が決定される。
With the configuration of the deformable
以上の構成により、本実施形態に係る可変形状鏡システムによれば、可変形状鏡10において該可変形状鏡10の静電容量とほぼ同一の容量を有するコンデンサである結合容量31を用いることで、可変形状鏡10の静電容量が持つ非線形性が低減されるので、簡単な回路構成で非線形性補正することができ、線形性のよい制御を行うことができ、延いては、可変形状鏡10を精度良く駆動可能となる。
With the above configuration, according to the deformable mirror system according to the present embodiment, by using the
また、上記電極基板11上に第2の電極14を複数設置し、それぞれに結合容量31を介して容量検出器32を接続することで、可変形状鏡10の複数点の変形量を検出することが可能になる。さらに、第3の電極15を上記電極基板11上に複数設置し、それぞれに増幅器29を接続することで、可変形状鏡10の変形部22の変形形状を変えることができる。
In addition, a plurality of
(変形例)
なお、本実施形態では、結合容量31を第2の電極14と容量検出器32の間に設置しているが、図3に示すように、結合容量31を参照信号生成器30と第1の電極23との間に接続し、第2の電極14を変形部22に、第1の電極23と第3の電極15を電極基板上11に設置することも可能である。この場合、増幅器29により第3の電極15に印加された電圧により第2の電極14との間に発生した電界により静電引力が発生し、変形部22が変形する。また、上記容量検出器32と上記参照信号生成器30の間には、上記結合容量31と可変形状鏡10の静電容量とが直列に接続されることとなり、上記容量検出器32で検出される容量値は、合成容量値CTとなる。よって、上記第1実施形態と同様に、可変形状鏡10の静電容量の2次より高次の項が低減されるので、簡単な回路構成で非線形性補正することができ、線形性のよい制御を行うことができ、延いては、可変形状鏡10を精度良く駆動可能となる。
(Modification)
In this embodiment, the
また、以上に述べた実施形態及び変形例において、変形部22と電極基板11の電極配置を入れ替えた構成を採ることも可能である。その例として、図2と図3の電極配置を入れ替えた構成をそれぞれ図4と図5に示す。図4の構成では、第3の電極15に印加された電圧により変形部22が変形し、第2の電極14と第3の電極15が共に動くので、第1の電極23と第2の電極14の間の静電容量と結合容量31の合成容量値CTを検出することで、変形部22の変形量を検出できる。図5の構成では、第3の電極15に印加された電圧により変形部22が変形し、第1の電極23と第3の電極15が共に動くので、図4の構成と同様に、第1の電極23と第2の電極14の間の静電容量と結合容量31の合成容量値CTを検出することで、変形部22の変形量を検出できる。図4と図5の構成におけるその他の動作については、先に述べた通りである。
In the embodiment and the modification described above, it is also possible to adopt a configuration in which the electrode arrangements of the deforming
[第2の実施形態]
次に、本発明の第2実施形態に係る可変形状鏡システムを説明するが、上記第1実施形態と同様な部分については、その説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, the deformable mirror system according to the second embodiment of the present invention will be described, but the description of the same parts as those in the first embodiment will be omitted.
本第2実施形態に係る可変形状鏡システムにおいては、可変形状鏡10は、図6に示すように、変形部22には第2の電極14が配置されており、電極基板11上には第1の電極23が配置されている。
In the deformable mirror system according to the second embodiment, the
そして、可変形状鏡駆動装置28においては、上記可変形状鏡10の第1の電極23に、結合抵抗35を介して増幅器29の出力が接続されると共に、結合容量31を介して参照信号生成器30が接続されている。また、上記可変形状鏡10の第2の電極14には、容量検出器32が接続されており、上記第2の電極14は該容量検出器32により零電位もしくは固定電位に固定されている。
In the deformable
上記結合抵抗35と上記結合容量31により、増幅器29から出力される駆動信号に参照信号生成器30の出力である参照信号が重畳された信号が上記第1の電極23へ印加される。上記増幅器29が生成する駆動信号が存在する低周波数帯域では、上記結合容量31は略開放と見なすことができるので、駆動信号が上記第1の電極23へ印加される。また、参照信号が存在する高周波数帯域では、上記結合抵抗35の抵抗値に比べて上記結合容量31のインピーダンスが十分低くなるので、参照信号が上記第1の電極23へ印加される。以上をまとめて全周波数帯域について考えると、低周波数の駆動信号と高周波数の参照信号が重畳されて、上記第1の電極23へ印加されている事と等価となる。
The
よって、図6の構成の可変形状鏡システムでは、低周波数帯域では、増幅器29より出力される駆動信号により上記第1の電極23と上記第2の電極14間に電位差が生じ、静電力で可変形状鏡10の変形部22が変形する。また、高周波数帯域では、上記第1の電極23に参照信号が印加されて、合成容量のインピーダンスを上記容量検出器32で検出するか、合成容量にチャージされた電荷を上記容量検出器32で検出することで、上記第1の電極23と上記第2の電極14間の静電容量と結合容量31の合成容量値CTを検出できる。
Therefore, in the deformable mirror system having the configuration shown in FIG. 6, in the low frequency band, a potential difference is generated between the
以上のように、結合抵抗35を用いることで、増幅器29として高耐圧の演算増幅器などを用いることなく、容易に、高電圧の印加を第1の電極23に対して行うことが可能になる。
As described above, by using the
そして、上記第1の電極23と上記第2の電極14に電位差を与えて上記変形部22が変形すると、上記第1の電極23と上記第2の電極14の間隔(静電ギャップ)が減少し、上記第1の電極23と上記第2の電極14の静電容量は増加する。上記反射面24の変形量Δdと上記可変形状鏡10の静電容量値C1の関係は、上記第1実施形態で記した[数1]で表すように反比例の関係にあり、変形量に対して可変形状鏡10の静電容量値C1は非線形性を持っているが、上記第1実施形態と同様の作用により、直列に接続した結合容量31の影響で可変形状鏡10の静電容量の2次より高次の項が低減されるので、線形性の良い変位検出を行うことができる。
When the
上記容量検出器32より出力される変位信号は、比較器33で、外部より入力される目標変位信号と比較されて、その差が変位誤差として積分器34に対して出力される。積分器34は、その変位誤差を積分し、積分した結果を増幅器29で増幅し、結合抵抗35経由で上記第1の電極23へ出力している。
The displacement signal output from the
以上の構成により、本第2実施形態に係る可変形状鏡システムによれば、可変形状鏡10において該可変形状鏡10の静電容量とほぼ同一の容量を有するコンデンサである結合容量31を用いることで、可変形状鏡10の静電容量が持つ非線形性が低減されるので、簡単な回路構成で非線形性補正することができ、線形性のよい制御を行うことができ、延いては、可変形状鏡10を精度良く駆動可能となる。
With the above configuration, according to the deformable mirror system according to the second embodiment, in the
(変形例)
なお、図7に示すように、第2の電極14を電極基板11に配置し、第1の電極23を変形部22に配置する構成でも同様の効果が得られる。
(Modification)
Note that, as shown in FIG. 7, the same effect can be obtained by a configuration in which the
また、図8に示すように、変形部22に配置した第1の電極23に参照信号生成器30を接続し、電極基板11に配置した第2の電極14に結合抵抗35を介して増幅器29の出力を接続すると共に、結合容量31を介して容量検出器32を接続する構成でも同様の効果が得られる。この構成の場合、増幅器29が生成する駆動信号が存在する低周波数帯域では、結合容量31は略開放と見なすことができるので、駆動信号は容量検出器32には印加されず第2の電極14へ印加される。参照信号生成器30が生成する参照信号が存在する高周波数帯域では、結合抵抗35の抵抗値に比べて結合容量31のインピーダンスが十分低くなるので、容量検出器32が検出しようとする静電容量を流れる電流信号は結合容量31を経由して容量検出器32へ入力される。以上をまとめて全周波数帯域について考えると、低周波数の駆動信号は、容量検出器32に印加されることなく第2の電極14へ印加され、第2の電極14より出力される電流信号は増幅器29へ流れることなく容量検出器32に入力されるので、高電圧の印加と静電容量の検出を同一の電極(この場合は第2の電極14)に対して行うことが可能になる。
In addition, as shown in FIG. 8, a
また、図9に示すように、第2の電極14を電極基板11に設置し、第1の電極23を変形部22に設置する構成でも、同様の効果が得られる。
Further, as shown in FIG. 9, the same effect can be obtained by a configuration in which the
以上実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。 Although the present invention has been described above based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and applications are naturally possible within the scope of the gist of the present invention.
(付記)
前記の具体的実施形態から、以下のような構成の発明を抽出することができる。
(Appendix)
The invention having the following configuration can be extracted from the specific embodiment.
(1) 反射面が形成された変形部と、上記変形部を固定する固定部と、上記変形部と上記固定部にそれぞれ対向して設けられた一対の電極と、を備える可変形状鏡と、
上記変形部を変形させるべく駆動力を発生する駆動回路と、
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする可変形状鏡システム。
(1) A deformable mirror including a deformable portion having a reflecting surface, a fixed portion that fixes the deformable portion, and a pair of electrodes provided to face the deformable portion and the fixed portion, respectively.
A driving circuit for generating a driving force to deform the deforming portion;
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
A deformable mirror system comprising:
(対応する実施形態)
この(1)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、反射面24が上記反射面に、変形部22が上記変形部に、電極基板11が上記固定部に、第1の電極23と第2の電極14が上記一対の電極に、可変形状鏡10が上記可変形状鏡に、増幅器29が上記駆動回路に、結合容量31が上記補正容量に、容量検出器32が上記容量検出回路に、比較器33及び積分器34が上制御器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The first and second embodiments correspond to the embodiment of the deformable mirror system described in (1). In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(1)に記載の可変形状鏡システムによれば、静電容量値を用いて変形量を検出し、且つ、静電容量と変形量の関係に存在する非線形性を補正し、線形性の良い制御を行うことができ、延いては、可変形状鏡を精度良く駆動可能となる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (1), the deformation amount is detected using the capacitance value, and the non-linearity existing in the relationship between the capacitance and the deformation amount is corrected. Good control can be performed, and, in turn, the deformable mirror can be driven with high accuracy.
また、補正容量を用いることで、可変形状鏡の静電容量が持つ非線形性が低減されるので、線形性の良い制御を行うことができる。 In addition, since the nonlinearity of the capacitance of the deformable mirror is reduced by using the correction capacitance, control with good linearity can be performed.
(2) 上記一対の電極は、上記変形部に設置された第1の電極と、該第1の電極に対向して上記固定部に設置された第2の電極と、を含み、
上記可変形状鏡システムは、更に、上記補正容量を介して上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする請求項1に記載の可変形状鏡システム。
(2) The pair of electrodes includes a first electrode installed in the deformed portion and a second electrode installed in the fixed portion facing the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator that is connected to the first electrode via the correction capacitor and generates a reference signal used for capacitance detection.
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode and detects a combined capacitance of a capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance.
(対応する実施形態)
この(2)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応し、特に、例えば、図3及び図7の構成が対応する。それらの実施形態において、例えば、第1の電極23が上記第1の電極に、第2の電極14が上記第2の電極に、参照信号生成器30が上記参照信号生成器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment related to the deformable mirror system described in (2) corresponds to the first and second embodiments, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 3 and 7. In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(2)に記載の可変形状鏡システムによれば、変形部が変形したとき、その変形部の変形と共に第1の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (2), when the deforming portion is deformed, the first electrode moves together with the deformation of the deforming portion, so that the electrostatic capacitance between the first electrode and the second electrode is changed. By detecting the combined capacity of the capacity and the correction capacity, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(3) 上記一対の電極は、上記変形部に設置された第1の電極と、該第1の電極に対向して上記固定部に設置された第2の電極と、を含み、
上記可変形状鏡システムは、更に、上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記補正容量を介して上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする(1)に記載の可変形状鏡システム。
(3) The pair of electrodes includes a first electrode installed in the deformed portion and a second electrode installed in the fixed portion facing the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator connected to the first electrode for generating a reference signal used for capacitance detection,
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode via the correction capacitance, and detects a combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. (3) The deformable mirror system according to (1).
(対応する実施形態)
この(3)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応し、特に、例えば、図2及び図8の構成が対応する。それらの実施形態において、例えば、第1の電極23が上記第1の電極に、第2の電極14が上記第2の電極に、参照信号生成器30が上記参照信号生成器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror system described in (3) corresponds to the first and second embodiments, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 2 and 8. In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(3)に記載の可変形状鏡システムによれば、変形部が変形したとき、その変形部の変形と共に第1の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (3), when the deforming portion is deformed, the first electrode moves together with the deformation of the deforming portion, so that the electrostatic capacitance between the first electrode and the second electrode is changed. By detecting the combined capacity of the capacity and the correction capacity, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(4) 上記一対の電極は、上記固定部に設置された第1の電極と、該第1の電極に対向して上記変形部に設置された第2の電極と、を含み、
上記可変形状鏡システムは、更に、上記補正容量を介して上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする(1)に記載の可変形状鏡システム。
(4) The pair of electrodes includes a first electrode placed on the fixed portion and a second electrode placed on the deformable portion so as to face the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator that is connected to the first electrode via the correction capacitor and generates a reference signal used for capacitance detection.
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode and detects a combined capacitance of a capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance ( The deformable mirror system according to 1).
(対応する実施形態)
この(4)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応し、特に、例えば、図3及び図6の構成が対応する。それらの実施形態において、例えば、第1の電極23が上記第1の電極に、第2の電極14が上記第2の電極に、参照信号生成器30が上記参照信号生成器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror system described in (4) corresponds to the first and second embodiments, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 3 and 6. In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(4)に記載の可変形状鏡システムによれば、変形部が変形したとき、その変形部の変形と共に第2の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (4), when the deforming portion is deformed, the second electrode moves together with the deformation of the deforming portion, so that the electrostatic capacitance between the first electrode and the second electrode is changed. By detecting the combined capacity of the capacity and the correction capacity, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(5) 上記一対の電極は、上記固定部に設置された第1の電極と、該第1の電極に対向して上記変形部に設置された第2の電極と、を含み、
上記可変形状鏡システムは、更に、上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記補正容量を介して上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする(1)に記載の可変形状鏡システム。
(5) The pair of electrodes includes a first electrode placed on the fixed portion and a second electrode placed on the deformable portion so as to face the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator connected to the first electrode for generating a reference signal used for capacitance detection,
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode via the correction capacitance, and detects a combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. (3) The deformable mirror system according to (1).
(対応する実施形態)
この(5)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応し、特に、例えば、図4及び図9の構成が対応する。それらの実施形態において、例えば、第1の電極23が上記第1の電極に、第2の電極14が上記第2の電極に、参照信号生成器30が上記参照信号生成器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror system described in (5) corresponds to the first and second embodiments, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 4 and 9. In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(5)に記載の可変形状鏡システムによれば、変形部が変形したとき、その変形部の変形と共に第2の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (5), when the deforming portion is deformed, the second electrode moves together with the deformation of the deforming portion, so that the electrostatic capacitance between the first electrode and the second electrode is changed. By detecting the combined capacity of the capacity and the correction capacity, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(6) 上記可変形状鏡は、更に、上記第1の電極に対向して上記固定部または上記変形部に設置された第3の電極を備え、
上記駆動回路は、上記第3の電極に電位を印加することで、上記変形部を駆動することを特徴とする(3)または(5)に記載の可変形状鏡システム。
(6) The deformable mirror further includes a third electrode disposed on the fixed portion or the deformable portion so as to face the first electrode,
The deformable mirror system according to (3) or (5), wherein the driving circuit drives the deforming portion by applying a potential to the third electrode.
(対応する実施形態)
この(6)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1実施形態が対応し、特に、例えば、図2及び図4の構成が対応する。その実施形態において、例えば、第3の電極15が上記第3の電極に対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment related to the deformable mirror system described in (6) corresponds to the first embodiment, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 2 and 4. In the embodiment, for example, the
(作用効果)
この(6)に記載の可変形状鏡システムによれば、第3の電極に印加された電圧により変形部が変形し、その変形部の変形と共に第1又は第2の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (6), the deformed portion is deformed by the voltage applied to the third electrode, and the first or second electrode moves together with the deformation of the deformed portion. By detecting the combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(7) 上記可変形状鏡は、更に、上記第2の電極に対向して上記固定部または上記変形部に設置された第3の電極を備え、
上記駆動回路は、上記第3の電極に電位を印加することで、上記変形部を駆動することを特徴とする(2)または(4)に記載の可変形状鏡システム。
(7) The deformable mirror further includes a third electrode disposed on the fixed portion or the deformable portion so as to face the second electrode,
The deformable mirror system according to (2) or (4), wherein the driving circuit drives the deforming portion by applying a potential to the third electrode.
(対応する実施形態)
この(7)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1実施形態が対応し、特に、例えば、図3及び図5の構成が対応する。その実施形態において、例えば、第3の電極15が上記第3の電極に対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment related to the deformable mirror system described in (7) corresponds to the first embodiment, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 3 and 5. In the embodiment, for example, the
(作用効果)
この(7)に記載の可変形状鏡システムによれば、第3の電極に印加された電圧により変形部が変形し、その変形部の変形と共に第1又は第2の電極が動くので、第1の電極と第2の電極の間の静電容量と補正容量の合成容量を検出することで、変形部の変形量を検出できる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (7), the deformed portion is deformed by the voltage applied to the third electrode, and the first or second electrode moves together with the deformation of the deformed portion. By detecting the combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance, the deformation amount of the deformation portion can be detected.
(8) 上記駆動回路は、抵抗器を介して上記第1の電極に接続され、上記第1の電極に電位を印加することで上記変形部を駆動することを特徴とする(2)または(4)に記載の可変形状鏡システム。 (8) The drive circuit is connected to the first electrode via a resistor, and drives the deformed portion by applying a potential to the first electrode (2) or ( The deformable mirror system according to 4).
(対応する実施形態)
この(8)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第2実施形態が対応し、特に、例えば、図6及び図7の構成が対応する。その実施形態において、例えば、結合抵抗35が上記抵抗器に対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror system described in (8) corresponds to the second embodiment, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 6 and 7. In the embodiment, for example, the
(作用効果)
この(8)に記載の可変形状鏡システムによれば、抵抗器と補正容量を用いることで、容易に、高電圧の印加を行うことが可能になる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (8), it is possible to easily apply a high voltage by using a resistor and a correction capacitor.
(9) 上記駆動回路は、抵抗器を介して上記第2の電極に接続され、上記第2の電極に電位を印加することで上記変形部を駆動することを特徴とする(3)または(5)に記載の可変形状鏡システム。 (9) The drive circuit is connected to the second electrode via a resistor, and drives the deformed portion by applying a potential to the second electrode (3) or ( The deformable mirror system according to 5).
(対応する実施形態)
この(9)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第2実施形態が対応し、特に、例えば、図8及び図9の構成が対応する。その実施形態において、例えば、結合抵抗35が上記抵抗器に対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror system described in (9) corresponds to the second embodiment, and particularly corresponds to, for example, the configurations of FIGS. 8 and 9. In the embodiment, for example, the
(作用効果)
この(9)に記載の可変形状鏡システムによれば、抵抗器と補正容量を用いることで、容易に、高電圧の印加と静電容量の検出を同一の電極に対して行うことが可能になる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (9), it is possible to easily apply a high voltage and detect a capacitance to the same electrode by using a resistor and a correction capacitor. Become.
(10) 上記補正容量は、上記変形部と上記固定部の間の静電容量とほぼ同一の容量を有するコンデンサであることを特徴とする(1)乃至(9)の何れかに記載の可変形状鏡システム。 (10) The variable according to any one of (1) to (9), wherein the correction capacitor is a capacitor having substantially the same capacitance as the capacitance between the deforming portion and the fixed portion. Shape mirror system.
(対応する実施形態)
この(10)に記載の可変形状鏡システムに関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。
(Corresponding embodiment)
The first and second embodiments correspond to the embodiment relating to the deformable mirror system described in (10).
(作用効果)
この(10)に記載の可変形状鏡システムによれば、補正容量の容量値を可変形状鏡の静電容量値とほぼ同一にすることにより、補正容量を用いずに電極に検出回路を直接接続する場合に比べて、補正容量を介して接続した場合は2次より高次の項が低減されるので、線形性の良い変位検出を行うことができる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror system described in (10), the detection circuit is directly connected to the electrode without using the correction capacitor by making the capacitance value of the correction capacitor substantially the same as the capacitance value of the deformable mirror. Compared to the case where the correction capacitor is connected, the higher-order term than the second-order is reduced when the connection is made through the correction capacitor, so that it is possible to detect the displacement with good linearity.
(11) 反射面が形成された変形部と、上記変形部を固定する固定部と、上記変形部と上記固定部にそれぞれ対向して設けられた一対の電極と、を備える可変形状鏡の上記変形部を変形させるべく駆動力を発生する駆動回路と、
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする可変形状鏡駆動装置。
(11) The deformable mirror including the deformable portion on which the reflecting surface is formed, a fixed portion that fixes the deformable portion, and a pair of electrodes provided to face the deformable portion and the fixed portion, respectively. A drive circuit that generates a drive force to deform the deformable portion;
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
A deformable mirror driving device comprising:
(対応する実施形態)
この(11)に記載の可変形状鏡駆動装置に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、反射面24が上記反射面に、変形部22が上記変形部に、電極基板11が上記固定部に、第1の電極23と第2の電極14が上記一対の電極に、可変形状鏡10が上記可変形状鏡に、増幅器29が上記駆動回路に、結合容量31が上記補正容量に、容量検出器32が上記容量検出回路に、比較器33及び積分器34が上制御器に、それぞれ対応する。
(Corresponding embodiment)
The embodiment relating to the deformable mirror driving device described in (11) corresponds to the first and second embodiments. In these embodiments, for example, the
(作用効果)
この(11)に記載の可変形状鏡駆動装置によれば、静電容量値を用いて変形量を検出し、且つ、静電容量と変形量の関係に存在する非線形性を補正し、線形性の良い制御を行うことができ、延いては、可変形状鏡を精度良く駆動可能となる。
(Function and effect)
According to the deformable mirror driving device described in (11), the deformation amount is detected using the capacitance value, and the non-linearity existing in the relationship between the capacitance and the deformation amount is corrected. Therefore, it becomes possible to drive the deformable mirror with high accuracy.
また、補正容量を用いることで、可変形状鏡の静電容量が持つ非線形性が低減されるので、線形性の良い制御を行うことができる。 In addition, since the nonlinearity of the capacitance of the deformable mirror is reduced by using the correction capacitance, control with good linearity can be performed.
10…可変形状鏡、 11…電極基板、 12…ミラー基板、 13…スペーサ、 14…第2の電極、 15…第3の電極、 17,18…配線、 19…第2の引出し電極、 20…第3の引出し電極、 21…支持部、 22…変形部、 23…第1の電極、 24…反射面、 25…第1の引出し電極、 26…接続部、 27…電気接続用導電材、 28…可変形状鏡駆動装置、 29…増幅器、 30…参照信号生成器、 31…結合容量、 32…容量検出器、 33…比較器、 34…積分器、 35…結合抵抗。
DESCRIPTION OF
Claims (11)
上記変形部を変形させるべく駆動力を発生する駆動回路と、
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする可変形状鏡システム。 A deformable part including a deformed part formed with a reflection surface, a fixed part for fixing the deformed part, and a pair of electrodes provided to face the deformed part and the fixed part,
A driving circuit for generating a driving force to deform the deforming portion;
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
A deformable mirror system comprising:
上記可変形状鏡システムは、更に、上記補正容量を介して上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする請求項1に記載の可変形状鏡システム。 The pair of electrodes includes a first electrode placed on the deforming portion and a second electrode placed on the fixed portion facing the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator that is connected to the first electrode via the correction capacitor and generates a reference signal used for capacitance detection.
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode and detects a combined capacitance of a capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. Item 2. The deformable mirror system according to Item 1.
上記可変形状鏡システムは、更に、上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記補正容量を介して上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする請求項1に記載の可変形状鏡システム。 The pair of electrodes includes a first electrode placed on the deforming portion and a second electrode placed on the fixed portion facing the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator connected to the first electrode for generating a reference signal used for capacitance detection,
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode via the correction capacitance, and detects a combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. The deformable mirror system according to claim 1.
上記可変形状鏡システムは、更に、上記補正容量を介して上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする請求項1に記載の可変形状鏡システム。 The pair of electrodes includes a first electrode installed on the fixed portion, and a second electrode installed on the deformable portion so as to face the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator that is connected to the first electrode via the correction capacitor and generates a reference signal used for capacitance detection.
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode and detects a combined capacitance of a capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. Item 2. The deformable mirror system according to Item 1.
上記可変形状鏡システムは、更に、上記第1の電極に接続され、容量検出に使用する参照信号を生成する参照信号生成器を具備し、
上記容量検出回路は、上記補正容量を介して上記第2の電極に接続され、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出することを特徴とする請求項1に記載の可変形状鏡システム。 The pair of electrodes includes a first electrode installed on the fixed portion, and a second electrode installed on the deformable portion so as to face the first electrode,
The deformable mirror system further includes a reference signal generator connected to the first electrode for generating a reference signal used for capacitance detection,
The capacitance detection circuit is connected to the second electrode via the correction capacitance, and detects a combined capacitance of the capacitance between the first electrode and the second electrode and the correction capacitance. The deformable mirror system according to claim 1.
上記駆動回路は、上記第3の電極に電位を印加することで、上記変形部を駆動することを特徴とする請求項3または5に記載の可変形状鏡システム。 The deformable mirror further includes a third electrode disposed on the fixed portion or the deformable portion so as to face the first electrode,
6. The deformable mirror system according to claim 3, wherein the driving circuit drives the deforming portion by applying a potential to the third electrode.
上記駆動回路は、上記第3の電極に電位を印加することで、上記変形部を駆動することを特徴とする請求項2または4に記載の可変形状鏡システム。 The deformable mirror further includes a third electrode disposed on the fixed portion or the deformable portion so as to face the second electrode,
5. The deformable mirror system according to claim 2, wherein the driving circuit drives the deforming portion by applying a potential to the third electrode. 6.
上記一対の電極間の静電容量と直列に接続される補正容量と、
上記一対の電極間の静電容量と上記補正容量との合成容量を検出し、容量値と上記変形部の変形量との関係を基に、上記合成容量に対応する上記変形部の変形量を示す変位信号を出力する容量検出回路と、
目標変形量信号と上記容量検出回路の出力とが一致するように、上記駆動回路で発生する駆動力を決定する制御器と、
を具備することを特徴とする可変形状鏡駆動装置。 The deformable portion of the deformable mirror, comprising: a deformable portion having a reflecting surface; a fixed portion that fixes the deformable portion; and a pair of electrodes provided to face the deformable portion and the fixed portion, respectively. A driving circuit for generating a driving force to deform,
A correction capacitor connected in series with the capacitance between the pair of electrodes;
The combined capacitance of the capacitance between the pair of electrodes and the correction capacitance is detected, and the deformation amount of the deformation portion corresponding to the combined capacitance is determined based on the relationship between the capacitance value and the deformation amount of the deformation portion. A capacitance detection circuit that outputs a displacement signal indicating;
A controller for determining a driving force generated in the driving circuit so that a target deformation amount signal and an output of the capacitance detecting circuit match;
A deformable mirror driving device comprising:
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101928363B1 (en) | 2018-07-18 | 2018-12-12 | 한화시스템 주식회사 | Infrared optical system using variable focusing mirror |
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2008
- 2008-02-28 JP JP2008048732A patent/JP2009205005A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101928363B1 (en) | 2018-07-18 | 2018-12-12 | 한화시스템 주식회사 | Infrared optical system using variable focusing mirror |
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