JP2009195777A - Large-size substrate cleaning apparatus - Google Patents

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Kazuhiro Takishita
和弘 滝下
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a large-size substrate cleaning apparatus of a compact configuration which includes a short carriage path between each of cleaning and drying processes of a large-size glass substrate and does not require a wide installation space in the cleaning performed after processing of the large-size glass substrate having a lateral side exceeding one meter. <P>SOLUTION: The large-size substrate cleaning apparatus is composed of a cleaning part 30 comprising: spray nozzles 31 for chemicals; one or more pairs of contact type cleaning tools 32, 33 arranged on the upper part of the nozzles such that each pair of tools includes a pair of non-contact type cleaning tool on the above side while facing each other; one pair of shower nozzles 34 arranged on the uppermost part of the pair of contact type cleaning tool 33 which is arranged on the upper part of the nozzles such that each pair of tools includes a pair of non-contact type cleaning tool on the above side while facing each other; and a pair of jet nozzles 35 which are arranged on the upper part of the nozzles while facing each other, a drying part 40 provided with a pair of air knives 41 which are arranged on the upper side of the cleaning part 30 while facing each other, a substrate-retaining conveying fixture 50 which retains a large-size substrate 90 while allowing the substrate to stand erect and a charge/delivery part 60 which is arranged on the lower side of the cleaning part 30. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、一辺が1mを超える大型ガラス基板の加工後の洗浄に係り、詳しくは、大型ガラス基板の各洗浄、乾燥工程間の搬送経路が短く、広い設置スペースを必要としないコンパクトな構成の大型基板洗浄装置に関する。   The present invention relates to cleaning after processing a large glass substrate having a side exceeding 1 m. Specifically, the transport path between each cleaning and drying process of the large glass substrate is short, and a compact configuration that does not require a large installation space. The present invention relates to a large substrate cleaning apparatus.

液晶パネルについては、その用途は小型携帯端末用から大型TV用まで多岐にわたり、大型化においては、最大基板サイズとして2200mm×2400mmクラス、フォトマスクサイズとして1200mm×1400mmクラスと大型化が進んでいる。このような大型基板は機械による研磨加工が終了すると、加工後の洗浄処理において、研磨剤が残留付着した基板表面に対して、人手による擦り洗いが行われている。これは、基板が大きく重いことにより人手による作業性が悪く、コスト高となるという問題を生じている。   Liquid crystal panels have a wide range of uses from small portable terminals to large TVs. In increasing the size, the maximum substrate size is 2200 mm × 2400 mm class and the photomask size is 1200 mm × 1400 mm class. When such a large substrate is polished by a machine, the substrate surface on which the abrasive remains adhered is manually scrubbed in a cleaning process after the processing. This causes the problem that the workability by manpower is poor due to the large and heavy substrate and the cost is high.

図4は、引用文献1における基板洗浄装置の概略図である。図4において、基板の洗浄を行う際、洗浄すべきガラス基板Rを収納部1から取り出して、ブラシ洗浄槽2の上方に配置する。このため基板Rは縦に保持された状態で経路6に従って搬送され、ブラシ洗浄槽2の上方に配置される。そして基板Rはブラシ洗浄槽2に搬入されると共に、基板Rの上端面Raが図4に示す位置aに配置され、純水噴出部7から純水が噴出される。   FIG. 4 is a schematic view of the substrate cleaning apparatus in the cited document 1. In FIG. 4, when cleaning the substrate, the glass substrate R to be cleaned is taken out of the storage unit 1 and placed above the brush cleaning tank 2. For this reason, the substrate R is conveyed along the path 6 while being held vertically, and is disposed above the brush cleaning tank 2. Then, the substrate R is carried into the brush cleaning tank 2, and the upper end surface Ra of the substrate R is disposed at a position a shown in FIG. 4, and pure water is ejected from the pure water ejection portion 7.

次に基板Rはさらに降下して、洗浄液噴出部8からの洗浄液を受けつつ、回転ブラシ11によって、ブラッシングされる。このとき、基板Rの上端面Raの位置が図4に示す位置bから位置cまでの間を往復する。この往復運動は、異物の付着状態に応じて任意に回数だけ繰り返される。   Next, the substrate R is further lowered and brushed by the rotating brush 11 while receiving the cleaning liquid from the cleaning liquid ejecting portion 8. At this time, the position of the upper end surface Ra of the substrate R reciprocates between position b and position c shown in FIG. This reciprocating motion is repeated arbitrarily many times according to the adhesion state of the foreign matter.

基板Rのブラッシング操作が終了すると、基板Rは再び位置aに配置される。純水部7から基板Rに純水が噴出され、所定時間、純水洗浄が行なわれる。この純水洗浄が終了する直前に、吸引装置21が駆動され、吸引部21aをガラス基板Rの上端面Raの上部(吸引位置)に配置して、吸引装置21の吸引動作が開始される。   When the brushing operation of the substrate R is completed, the substrate R is again placed at the position a. Pure water is ejected from the pure water section 7 to the substrate R, and pure water cleaning is performed for a predetermined time. Immediately before the end of the pure water cleaning, the suction device 21 is driven, the suction portion 21a is disposed on the upper end surface Ra (suction position) of the glass substrate R, and the suction operation of the suction device 21 is started.

吸引装置21はガラス基板Rの上端面Raに残留する純水を吸引すると、回収ライン24を介してブラシ洗浄槽2の外に排出する。純水洗浄が所定の時間行なわれると純水噴出部7からの純水の噴出は停止される。このときまだ吸引装置21による吸引動作は行われている。吸引動作が停止すると、吸引装置21は初期位置へ移動する。この動作により、ブラシ洗浄槽2での洗浄が終了したときに基板Rの上端面Raに残留する純水をほぼ全て除去することが可能となる。   When the suction device 21 sucks the pure water remaining on the upper end surface Ra of the glass substrate R, the suction device 21 discharges the pure water remaining outside the brush cleaning tank 2 through the recovery line 24. When pure water cleaning is performed for a predetermined time, the ejection of pure water from the pure water ejection section 7 is stopped. At this time, the suction operation by the suction device 21 is still performed. When the suction operation stops, the suction device 21 moves to the initial position. With this operation, it is possible to remove almost all of the pure water remaining on the upper end surface Ra of the substrate R when the cleaning in the brush cleaning tank 2 is completed.

ブラシ洗浄槽2における洗浄工程が終了すると、ブラシ洗浄槽2から基板Rを搬出して超音波洗浄槽3の上方に配置し、超音波洗浄槽3での洗浄工程が開始される。ガラス基板Rは上端面Raの位置を位置dに配置され、全体が超音波洗浄槽3の内槽3aに溜まっている純水に漬けられ、内槽3aの下部にある高周波振動子20による超音波洗浄が行なわれる。その後、基板Rの上端面Raは位置eへ配置されると共に、純水噴出部13からガラス基板Rの表面に純水が噴射され、超音波洗浄で落ちた異物の再付着を防ぐために純水リンスされる。   When the cleaning process in the brush cleaning tank 2 is completed, the substrate R is unloaded from the brush cleaning tank 2 and placed above the ultrasonic cleaning tank 3, and the cleaning process in the ultrasonic cleaning tank 3 is started. The glass substrate R is disposed with the position of the upper end surface Ra at the position d, and the entire glass substrate R is soaked in pure water collected in the inner tank 3a of the ultrasonic cleaning tank 3, and is superposed by the high-frequency vibrator 20 below the inner tank 3a. Sonic cleaning is performed. Thereafter, the upper end surface Ra of the substrate R is disposed at the position e, and pure water is sprayed from the pure water ejection portion 13 onto the surface of the glass substrate R, and pure water is used to prevent reattachment of foreign matters dropped by ultrasonic cleaning. Rinse.

所定の時間後、純水リンスが終了する直前に、吸引装置22は吸引部22aをガラス基板Rの上部(吸引位置)に配置し、吸引動作が開始される。このように、純水を噴射しているときから純水の噴射を停止した後まで、上端面Ra上の純水を取り除いているため、純水の噴射を停止した後に上端面Ra上に残留する純水をほぼ全て除去することが可能となる。   After a predetermined time, immediately before the rinsing with pure water is completed, the suction device 22 places the suction part 22a on the upper portion (suction position) of the glass substrate R, and the suction operation is started. As described above, since pure water on the upper end surface Ra is removed from when pure water is injected until after the injection of pure water is stopped, it remains on the upper end surface Ra after the injection of pure water is stopped. It is possible to remove almost all of the pure water.

超音波洗浄槽3での洗浄が終了すると、ガラス基板Rは蒸気槽4内に搬入され、IPA液の蒸気で充満した位置まで降下される。ガラス基板Rはその位置で所定の時間静止した後、冷却管15の高さまで上昇される。ここで、ガラス基板Rにまとわりついた蒸気は降下するか、又は冷却管15の方へ引き寄せられて凝縮する。以上の工程によりガラス基板Rは乾燥するので、蒸気槽4から搬出されて、隣の収納部1へ直ちに収納される。   When the cleaning in the ultrasonic cleaning tank 3 is completed, the glass substrate R is carried into the steam tank 4 and lowered to a position filled with the vapor of the IPA liquid. The glass substrate R is stopped at that position for a predetermined time and then raised to the height of the cooling pipe 15. Here, the vapor clinging to the glass substrate R descends or is drawn toward the cooling pipe 15 to condense. Since the glass substrate R is dried by the above steps, the glass substrate R is unloaded from the steam tank 4 and immediately stored in the adjacent storage unit 1.

このように特許文献1の発明においては、ガラス基板の大きさについての記載は無いものの、基板Rは縦に保持された状態で経路6に従って搬送され、ブラシ洗浄槽2で位置b、c間を上下に往復させてブラシ洗浄が可能であるため、人手による擦り洗いを無くすことができる可能性がある。ところがこの基板洗浄装置によると、各洗浄及び乾燥工程がそれぞれ独立した処理槽で行なわれるため、経路6が長くなり、装置設置においても広い面積を必要とする。また、特許文献2においては、基板を垂直に立て、水平に搬送する搬送手段と、先端にスリット状の開口が開けられたノズルを有し、該開口を基板の主表面に一定の間隔で平行に保ち、純水を噴射する複数の超音波シャワーで構成される超音波洗浄装置が、特許文献3においては、基板の上端縁を保持して垂下させ、超音波洗浄素子が基板表面の横方向に渡って均一に、かつ上部から下部に洗浄液を吐出して洗浄し、これに追従したエアーナイフがエアーを吹付け洗浄液を除去する方法及び装置が記載されている。
特開平7−114174号公報 特開平8−57436号公報 特開平10−286535号公報
As described above, in the invention of Patent Document 1, although there is no description about the size of the glass substrate, the substrate R is conveyed along the path 6 while being held vertically, and is moved between the positions b and c in the brush cleaning tank 2. Since brush cleaning can be performed by reciprocating up and down, there is a possibility that manual scrubbing can be eliminated. However, according to this substrate cleaning apparatus, since each cleaning and drying process is performed in independent processing tanks, the path 6 becomes long, and a large area is required for apparatus installation. In Patent Document 2, the substrate is vertically arranged and has a conveying means for conveying the substrate horizontally and a nozzle having a slit-like opening at the tip, and the opening is parallel to the main surface of the substrate at a constant interval. In Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-26853, an ultrasonic cleaning device composed of a plurality of ultrasonic showers that inject pure water and hold the upper edge of the substrate and hang down. A method and an apparatus are described in which the cleaning liquid is discharged uniformly from the upper part to the lower part for cleaning, and an air knife that follows this is sprayed with air to remove the cleaning liquid.
Japanese Patent Laid-Open No. 7-114174 JP-A-8-57436 Japanese Patent Laid-Open No. 10-286535

本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、一辺が1mを超える大型ガラス基板の加工後の洗浄において、大型ガラス基板の各洗浄、乾燥工程間の搬送経路が短く、広い設置スペースを必要としないコンパクトな構成の大型基板洗浄装置を提供することにある。   The present invention has been made in order to solve such a problem, and the purpose of the present invention is to clean the large glass substrate whose side is longer than 1 m, and to transport the large glass substrate between each cleaning and drying process. It is an object of the present invention to provide a large substrate cleaning apparatus having a compact configuration that has a short path and does not require a large installation space.

本発明の大型基板洗浄装置は、一辺が1mを超える大型基板の加工後の洗浄を行う大型基板洗浄装置において、最下部に配置されて対向する一対の薬液用スプレーノズルと、該ノズルの上部に配置され、上方に非接触式洗浄ツールを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールを1つ以上有し、且つ、1つ以上の上方に非接触式洗浄ツールを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールの最上部に配置された対向する一対のシャワーノズルと、該ノズルの上部に配置された対向する一対のジェットノズルとを有する洗浄部と、洗浄部の上方に配置された対向する一対のエアーナイフを具備する乾燥部と、大型基板を直立させて保持し、洗浄部の対向する各々のノズル、ブラシ及び乾燥部の対向するナイフの対向間隔に投入される基板保持搬送治具と、洗浄部の下方に配置され基板保持搬送治具の対向間隔への投入及び払出のための投入払出部と、を有し、基板を直立させて保持した基板保持搬送治具が、投入払出部を介して洗浄部の対向する各々のノズル、ツール及び乾燥部の対向するナイフの対向間隔に投入されて上下動し、洗浄部において洗浄が行われ、且つ、乾燥部において乾燥が行われた後、投入払出部を介して払い出されることを特徴とする。   The large substrate cleaning apparatus of the present invention is a large substrate cleaning apparatus that performs cleaning after processing a large substrate having a side exceeding 1 m. A pair of chemical solution spray nozzles disposed at the bottom and facing each other, and an upper portion of the nozzle A pair of opposed contact cleaning tools disposed above and having a non-contact cleaning tool and facing each other and having one or more non-contact cleaning tools above and facing each other A cleaning unit having a pair of opposed shower nozzles disposed on the top of the contact-type cleaning tool, a pair of opposed jet nozzles disposed on the upper part of the nozzle, and an opposed surface disposed above the cleaning unit A drying unit having a pair of air knives, and a substrate holding / conveying jig that holds a large substrate upright and is inserted into the opposing interval between each nozzle, brush, and drying unit facing the cleaning unit. A substrate holding / carrying jig that is disposed below the cleaning unit and that holds the substrate in an upright position. After each of the nozzles, the tools facing the cleaning unit and the knives facing the drying unit are moved up and down to move up and down, the cleaning unit performs cleaning, and the drying unit performs drying. The payout is performed through the input / output part.

本発明の大型基板洗浄装置のディスクブラシ及びロールブラシは、基板が投入されると該基板に接触し、回転しながら左右に移動し、それぞれの洗浄が終わると該基板に対し非接触となることを特徴とする。   The disk brush and roll brush of the large substrate cleaning apparatus of the present invention come into contact with the substrate when the substrate is inserted, move left and right while rotating, and become non-contact with the substrate after each cleaning is completed. It is characterized by.

本発明の大型基板洗浄装置の基板保持搬送治具は、基板を直立させて保持する上辺部、下辺部及び側辺部がコ型形状に組み合わされて成り、上辺部、下辺部及び側辺部は、基板を固定するチャックコマをそれぞれ具備し、上辺部及び下辺部の端部に配置されたチャックコマは、基板がハンガーに納まるとコ型形状の内側に折れ込んで基板を固定する。上辺部は、さらに搬送用治具を具備し、上辺部及び下辺部の端部に配置されたチャックコマにより基板が固定されると、前記基板保持搬送治具は、搬送用治具により投入払出部へ搬送されることを特徴とする。   The substrate holding and conveying jig of the large-sized substrate cleaning apparatus of the present invention is formed by combining the upper side, the lower side and the side on which the substrate is held upright in a U shape, and the upper side, the lower side and the side Each has a chuck piece for fixing the substrate, and the chuck pieces arranged at the ends of the upper side and the lower side are folded inside the U-shape to fix the substrate when the substrate is placed on the hanger. The upper side portion further includes a transfer jig, and when the substrate is fixed by the chuck pieces arranged at the end portions of the upper side portion and the lower side portion, the substrate holding transfer jig is loaded and discharged by the transfer jig. It is conveyed to a part.

本発明の大型基板洗浄装置のロール状ブラシ及びディスク状ブラシは、ナイロン、PVA、ポリウレタンのいずれかの材料で形成されていることを特徴とする。   The roll-shaped brush and the disk-shaped brush of the large-sized substrate cleaning apparatus of the present invention are formed of any material of nylon, PVA, and polyurethane.

本発明の大型基板洗浄装置のジェットノズルは、3流体ジェットノズル、2流体ジェットノズル、1流体ジェットノズル、超音波ジェットノズル及びスチームジェットノズルの内のいずれか1つ、又は任意の複数の組み合わせであることを特徴とする。   The jet nozzle of the large substrate cleaning apparatus of the present invention may be any one of a three-fluid jet nozzle, a two-fluid jet nozzle, a one-fluid jet nozzle, an ultrasonic jet nozzle, and a steam jet nozzle, or any combination thereof. It is characterized by being.

本発明の大型基板洗浄装置のシャワーノズルから噴射されるリンス液は、純水又は10%以下のアンモニア水であることを特徴とする。   The rinse liquid sprayed from the shower nozzle of the large substrate cleaning apparatus of the present invention is pure water or 10% or less ammonia water.

本発明の大型基板洗浄装置の薬液用スプレーノズルから噴射される薬液は、無機酸類である硫酸又はフッ酸を含むことを特徴とする。   The chemical solution sprayed from the chemical solution spray nozzle of the large substrate cleaning apparatus of the present invention contains sulfuric acid or hydrofluoric acid which are inorganic acids.

本発明によれば、大型ガラス基板の各洗浄、乾燥工程間の搬送経路は、最初に洗浄を行うための搬入経路と、乾燥後の搬出経路だけとなるため搬送経路が短く、各処理槽を1つにまとめることが可能となるため、広い設置スペースを必要としないコンパクトな構成で、且つ、手洗いによる洗浄を必要としない大型基板洗浄装置を提供することが可能となる。   According to the present invention, the conveyance path between each cleaning and drying process of the large glass substrate is only a carry-in path for cleaning first and a carry-out path after drying. Since they can be combined into one, it is possible to provide a large-sized substrate cleaning apparatus having a compact configuration that does not require a large installation space and that does not require cleaning by hand.

本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。図1は、本発明による大型基板洗浄装置の概略構成を示す装置構成図である。図1において、大型基板洗浄装置100は、洗浄部30と乾燥部40と投入払出部60と基板保持搬送治具50とを有している。洗浄部30は、最下部に配置された対向する一対の薬液用スプレーノズル31と、該ノズルの上部に配置され上方に非接触式洗浄ツールである洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールであるディスクブラシ32と、該ブラシの上部に配置され上方に非接触式洗浄ツールである洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールであるロールブラシ33と、該ブラシの上部に配置された対向する一対のシャワーノズル34と、該ノズルの上部に配置された対向する一対のジェットノズル35とを有している。   Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an apparatus configuration diagram showing a schematic configuration of a large substrate cleaning apparatus according to the present invention. In FIG. 1, the large substrate cleaning apparatus 100 includes a cleaning unit 30, a drying unit 40, a loading / unloading unit 60, and a substrate holding / conveying jig 50. The cleaning unit 30 includes a pair of opposed spray nozzles 31 for chemical solutions disposed at the bottom and a detergent spray nozzle that is disposed above the nozzle and is a non-contact cleaning tool and is opposed to the pair. Disc brush 32 which is a type cleaning tool, a pair of contact type cleaning tools roll brush 33 which is disposed above and is provided with a detergent spray nozzle which is a non-contact type cleaning tool and which is opposed to the brush brush, and the brush A pair of opposed shower nozzles 34 disposed at the upper part of the nozzle and a pair of opposed jet nozzles 35 disposed at the upper part of the nozzle.

一対の薬液用スプレーノズル31は薬液70にパイプ接続され、洗浄時には薬液70が供給される。上方に洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のディスクブラシ32と、上方に洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のロールブラシ33とは、それぞれ動力源80−1、80−2を具備している。動力源80−1、80−2は、洗浄時にそれぞれのブラシを前進させ、基板90に接触回転させると共に、左右に移動させてブラシ洗浄を行い、洗浄が終了するとブラシを後退させる。上方のそれぞれの洗剤スプレーノズルは洗剤溶液72にパイプ接続され、洗浄時には洗剤溶液72が供給される。   The pair of chemical solution spray nozzles 31 are piped to the chemical solution 70, and the chemical solution 70 is supplied during cleaning. A pair of disk brushes 32 that are opposed to each other with a detergent spray nozzle above, and a pair of roll brushes 33 that are opposed to each other with a detergent spray nozzle above are equipped with power sources 80-1 and 80-2, respectively. ing. The power sources 80-1 and 80-2 advance the respective brushes at the time of cleaning, rotate them in contact with the substrate 90, move the brushes left and right, perform brush cleaning, and move the brush backward when cleaning is completed. Each upper detergent spray nozzle is piped to the detergent solution 72 and is supplied with the detergent solution 72 during cleaning.

一対のシャワーノズル34は、リンス液74にパイプ接続され、リンス洗浄において、リンス液74が供給される。一対のジェットノズル35は、混合部Mを具備している。混合部Mは、圧縮エア76、リンス液74、及び洗剤溶液72にパイプ接続され、仕上げ洗浄においてそれぞれの所定の量を混合し、ジェットノズル35に供給する。   The pair of shower nozzles 34 are pipe-connected to the rinse liquid 74, and the rinse liquid 74 is supplied in the rinse cleaning. The pair of jet nozzles 35 includes a mixing unit M. The mixing unit M is pipe-connected to the compressed air 76, the rinsing liquid 74, and the detergent solution 72, and mixes predetermined amounts in the final cleaning and supplies them to the jet nozzle 35.

乾燥部40は、洗浄部30の上方に配置され、対向する一対のエアーナイフ41を具備し、且つ、基板保持搬送治具50が上下し、エアーナイフ41により基板90の最下部が乾燥可能なように、十分な空間を上方に有している。エアーナイフ41は、圧縮エア76にパイプ接続されている。投入払出部60は、洗浄部30の下方に配置され、洗浄のために基板90を保持した基板保持搬送治具50を洗浄部30の対向する各々のノズル、ブラシ及び乾燥部40の対向するナイフの対向間隔に投入すると共に、洗浄、乾燥後に払出すための搬送空間を有している。また、基板保持搬送治具50は、基板90を直立させて保持するコ型形状を有している。   The drying unit 40 is disposed above the cleaning unit 30 and includes a pair of opposed air knives 41, and the substrate holding and conveying jig 50 is moved up and down so that the lowermost portion of the substrate 90 can be dried by the air knife 41. As shown in FIG. The air knife 41 is pipe-connected to the compressed air 76. The loading / unloading unit 60 is disposed below the cleaning unit 30, and the substrate holding / conveying jig 50 that holds the substrate 90 for cleaning is disposed on each nozzle, brush, and opposing knife of the drying unit 40 facing the cleaning unit 30. And a conveying space for discharging after cleaning and drying. The substrate holding / conveying jig 50 has a U-shape that holds the substrate 90 upright.

図2は、本願発明による大型基板洗浄装置の基板保持搬送治具の構造を示す構造図である。図2において、基板保持搬送治具50は、基板90を直立させて保持する上辺部51−1、下辺部51−2及び側辺部51−3がコ型形状に組み合わされて成り、基板90を固定するチャックコマ52−1〜52−7をそれぞれ具備している。上辺部51−1及び下辺部51−2の端部にそれぞれ配置されたチャックコマ52−1、52−2は、基板90が納まるとコ型形状の内側に折れ込んで基板90を固定する。上辺部51−1はさらに搬送用治具53−1、53−2を具備している。これらのチャックコマは、基板90の端部との接触部が、湾曲して凹んだ滑車構造をしているため、基板90の端部を形成する2辺のエッジの一部分と接触するだけで基板90を保持固定できる。   FIG. 2 is a structural diagram showing the structure of the substrate holding / conveying jig of the large substrate cleaning apparatus according to the present invention. In FIG. 2, the substrate holding / conveying jig 50 is formed by combining an upper side portion 51-1, a lower side portion 51-2, and a side side portion 51-3 that hold the substrate 90 upright, in a U shape. Are provided with chuck pieces 52-1 to 52-7, respectively. The chuck pieces 52-1 and 52-2 disposed at the ends of the upper side portion 51-1 and the lower side portion 51-2 are folded inside the U-shape to fix the substrate 90 when the substrate 90 is received. The upper side portion 51-1 further includes conveying jigs 53-1, 53-2. Since these chuck pieces have a pulley structure in which the contact portion with the end portion of the substrate 90 is curved and recessed, the substrate only needs to come into contact with a part of the two edges forming the end portion of the substrate 90. 90 can be held and fixed.

図1及び図2において、基板90が基板保持搬送治具50に挿入されて、上辺部51−1及び下辺部51−2の端部にそれぞれ配置されたチャックコマ52−1、52−2により基板90が固定されると、基板保持搬送治具50は、この搬送用治具53−1、53−2により所定の経路(図示されず)を通って投入払出部60へ搬送され、投入される(矢印方向S1)。投入は、装置レイアウトに依存し、図面に平行な方向から投入されても良く、図面に垂直な方向から投入されても良い(矢印方向S2)。   1 and 2, the substrate 90 is inserted into the substrate holding and conveying jig 50, and chuck chucks 52-1 and 52-2 disposed at the ends of the upper side portion 51-1 and the lower side portion 51-2, respectively. When the substrate 90 is fixed, the substrate holding / conveying jig 50 is conveyed by the conveying jigs 53-1 and 53-2 to a loading / unloading unit 60 through a predetermined path (not shown). (Arrow direction S1). Depending on the device layout, the input may be input from a direction parallel to the drawing, or may be input from a direction perpendicular to the drawing (arrow direction S2).

基板保持搬送治具50が投入払出部60へ投入されると、基板保持搬送治具50は洗浄部30の対向する各々のノズル、ブラシ及び乾燥部40の対向するナイフの対向間隔に投入されて、上下方向に所定の回数だけ往復運動をする(矢印方向S3)。このため、投入払出部60及び乾燥部40は、洗浄、乾燥における基板90の上下運動が必要とする空間を有している。   When the substrate holding / conveying jig 50 is put into the loading / unloading unit 60, the substrate holding / conveying jig 50 is thrown into the facing interval between each of the nozzles and brushes facing the cleaning unit 30 and the opposing knife of the drying unit 40. The reciprocating motion is performed a predetermined number of times in the vertical direction (arrow direction S3). For this reason, the loading / unloading unit 60 and the drying unit 40 have a space required for the vertical movement of the substrate 90 in cleaning and drying.

基板保持搬送治具50の上端部が、洗浄部30の最下部に配置された対向する一対の薬液用スプレーノズル31の位置に投入されると、薬液用スプレーノズル31から薬液である無機酸類の硫酸又はフッ酸を含んだ液体が噴射される。基板保持搬送治具50は、薬液用スプレーノズル31に対して上下動し、基板90に付着している加工時の研磨剤等の汚れが除去される。所定の回数上下した後、液体の噴射は停止される。   When the upper end portion of the substrate holding / conveying jig 50 is inserted into the position of a pair of opposed chemical spray nozzles 31 disposed at the lowermost part of the cleaning unit 30, the inorganic acid that is a chemical solution is supplied from the chemical spray nozzle 31. A liquid containing sulfuric acid or hydrofluoric acid is jetted. The substrate holding / conveying jig 50 moves up and down with respect to the chemical spray nozzle 31 to remove dirt such as abrasives attached to the substrate 90 during processing. After going up and down a predetermined number of times, the liquid ejection is stopped.

基板保持搬送治具50の上端部が上方に洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のディスクブラシ32の位置に投入されると、洗剤スプレーノズルから洗剤溶液が噴射される。ディスクブラシ32は基板90に接触すると回転を開始すると共に左右に移動し、ブラシ洗浄を開始する。基板保持搬送治具50は、ディスクブラシ32に対して上下動し、基板90に付着している荒い汚れが除去される。所定の回数上下した後、ディスクブラシ32は後退し、洗剤溶液の噴射は停止される。   When the upper end portion of the substrate holding / conveying jig 50 is provided with a detergent spray nozzle on the upper side and is put into a pair of opposing disk brushes 32, the detergent solution is sprayed from the detergent spray nozzle. When the disk brush 32 comes into contact with the substrate 90, the disk brush 32 starts rotating and moves left and right to start brush cleaning. The substrate holding / conveying jig 50 moves up and down with respect to the disk brush 32 to remove rough dirt adhering to the substrate 90. After moving up and down a predetermined number of times, the disc brush 32 is retracted and the spraying of the detergent solution is stopped.

基板保持搬送治具50の上端部が上方に洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のロールブラシ33の位置に投入されると、洗剤スプレーノズルから洗剤溶液72が噴射される。ロールブラシ33は基板90に接触すると回転を開始すると共に左右に移動し、ロールブラシ洗浄を開始する。基板保持搬送治具50は、ロールブラシ33に対して上下動し、基板90に付着している細かい汚れが除去される。所定の回数上下した後、ロールブラシ33は後退し、洗剤溶液の噴射は停止される。   When the upper end portion of the substrate holding / conveying jig 50 is provided with a detergent spray nozzle on the upper side and put into the position of the pair of roll brushes 33 facing each other, the detergent solution 72 is sprayed from the detergent spray nozzle. When the roll brush 33 comes into contact with the substrate 90, the roll brush 33 starts to rotate and moves to the left and right to start the roll brush cleaning. The substrate holding / conveying jig 50 moves up and down with respect to the roll brush 33, and fine dirt adhering to the substrate 90 is removed. After moving up and down a predetermined number of times, the roll brush 33 is retracted and the spraying of the detergent solution is stopped.

基板保持搬送治具50の上端部が対向する一対のシャワーノズル34の位置に投入されると、シャワーノズル34からリンス液である純水又は10%以下のアンモニア水液が噴射される。基板保持搬送治具50は、シャワーノズル34に対して上下動し、基板90はリンスされる。所定の回数上下した後、純水又は10%以下のアンモニア水液の噴射は停止される。   When the upper end of the substrate holding / conveying jig 50 is put into the position of the pair of shower nozzles 34 facing each other, pure water as a rinsing liquid or ammonia water liquid of 10% or less is ejected from the shower nozzle 34. The substrate holding and conveying jig 50 moves up and down with respect to the shower nozzle 34, and the substrate 90 is rinsed. After going up and down a predetermined number of times, the injection of pure water or 10% or less ammonia water is stopped.

基板保持搬送治具50の上端部が対向する一対のジェットノズル35の位置に投入されると、混合部Mを介して、リンス液76の純水又は10%以下のアンモニア水液、及び洗剤溶液72の所定の量が混合され、ジェットノズル35から圧縮エア76によりジェット噴射される。基板保持搬送治具50は、ジェットノズル35に対して上下動し、基板90は仕上げ洗浄される。所定の回数上下した後、仕上げの混合液の噴射は停止される。   When the upper end portion of the substrate holding / conveying jig 50 is inserted into the position of the pair of jet nozzles 35 facing each other, the pure water of the rinsing liquid 76 or the ammonia water liquid of 10% or less and the detergent solution are mixed via the mixing section M. A predetermined amount of 72 is mixed and jetted by compressed air 76 from the jet nozzle 35. The substrate holding and conveying jig 50 moves up and down with respect to the jet nozzle 35, and the substrate 90 is finished and cleaned. After going up and down a predetermined number of times, the jetting of the finished mixture is stopped.

ジェットノズル35は、3流体ジェットノズル、2流体ジェットノズル、1流体ジェットノズル、超音波ジェットノズル及びスチームジェットノズルの内のいずれか1つ、又は任意の複数の組み合わせであっても良い。この場合、組み合わせに応じて混合部Mに供給される液体の種類及びそれに対応したパイプの数は任意に設定される。   The jet nozzle 35 may be any one of a three-fluid jet nozzle, a two-fluid jet nozzle, a one-fluid jet nozzle, an ultrasonic jet nozzle, and a steam jet nozzle, or any combination thereof. In this case, the type of liquid supplied to the mixing unit M and the number of pipes corresponding to the type are arbitrarily set according to the combination.

図3は、片面洗浄用のチャックコマの構造を示す構造図である。図2のチャックコマ52−1〜52−7では、基板90との接触部分のブラシ洗浄は困難であった。図3における片面洗浄用のチャックコマ54−1〜54−7においては、両面基板洗浄のために基板90を裏返して再度洗浄する必要があるものの、ブラシによる全面洗浄が可能となる。   FIG. 3 is a structural diagram showing the structure of a chuck piece for single-side cleaning. In the chuck pieces 52-1 to 52-7 in FIG. 2, brush cleaning of the contact portion with the substrate 90 is difficult. In the chuck pieces 54-1 to 54-7 for single-sided cleaning in FIG. 3, it is necessary to turn over the substrate 90 and clean it again for double-sided substrate cleaning, but the entire surface can be cleaned with a brush.

再び図1において、基板保持搬送治具50の上端部が、乾燥部40の対向する一対のエアーナイフ41の位置に投入されると、エアーナイフ41から乾燥エアが噴射される。基板保持搬送治具50は、エアーナイフ41に対して上下動し、基板90は乾燥される。所定の回数上下した後、乾燥エアの噴射は停止される。   In FIG. 1 again, when the upper end portion of the substrate holding / conveying jig 50 is inserted into the position of the pair of air knives 41 facing the drying unit 40, dry air is jetted from the air knife 41. The substrate holding and conveying jig 50 moves up and down with respect to the air knife 41, and the substrate 90 is dried. After going up and down a predetermined number of times, the spray of dry air is stopped.

洗浄及び乾燥が終了すると、基板保持搬送治具50は投入払出部60へと搬送されて、払い出される(矢印方向S4)。基板保持搬送治具50は、再び所定の経路を通って搬送され、基板90が取り出される(矢印方向S5)。払い出しにおいては、投入が下側から行なわれたのに対して、乾燥部40の上側から行なわれても良い。   When the cleaning and drying are completed, the substrate holding / conveying jig 50 is transported to the loading / unloading unit 60 and discharged (arrow direction S4). The substrate holding and conveying jig 50 is conveyed again through a predetermined path, and the substrate 90 is taken out (arrow direction S5). The payout may be performed from the upper side of the drying unit 40, whereas the input is performed from the lower side.

以上説明したように本発明によれば、大型ガラス基板の各洗浄、乾燥工程間の搬送経路は、最初に洗浄を行うための搬入経路と、乾燥後の搬出経路だけとなるため搬送経路が短く、各処理槽を1つにまとめることが可能となるため、広い設置スペースを必要としないコンパクトな構成で、且つ、手洗いによる洗浄を必要としない大型基板洗浄装置を提供することが可能となる。   As described above, according to the present invention, the conveyance path between each cleaning and drying process of the large glass substrate is only the carry-in path for performing the cleaning first and the carry-out path after drying, so the conveyance path is short. Since each processing tank can be combined into one, it is possible to provide a large substrate cleaning apparatus having a compact configuration that does not require a wide installation space and that does not require cleaning by hand.

本発明による大型基板洗浄装置の概略構成を示す装置構成図。The apparatus block diagram which shows schematic structure of the large sized substrate cleaning apparatus by this invention. 本発明による大型基板洗浄装置の基板保持搬送治具の構造を示す構造図。FIG. 3 is a structural diagram showing a structure of a substrate holding / conveying jig of a large substrate cleaning apparatus according to the present invention. 本発明による基板保持搬送治具の片面洗浄用チャックコマの構造図。FIG. 3 is a structural diagram of a chuck piece for single-side cleaning of a substrate holding and conveying jig according to the present invention. 従来の基板洗浄装置の概略図。Schematic of the conventional board | substrate cleaning apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

30 洗浄部
31 一対の薬液用スプレーノズル
32 洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のディスクブラシ
33 洗剤スプレーノズルを具備して対向する一対のロールブラシ
34 一対のシャワーノズル
35 一対のジェットノズル
40 乾燥部
41 一対のエアーノズル
50 基板保持搬送治具
51−1 上辺部
51−2 下辺部
51−3 側辺部
52−1〜52−7 チャックコマ
53−1、53−2 搬送用治具
60 投入、払出部
70 薬液
72 洗剤溶液
74 リンス液
76 圧縮エア
80−1、80−2 動力源
90 基板
100 大型基板洗浄装置
G 対向間隔
M 混合部
S1〜S5 矢印方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Washing | cleaning part 31 A pair of spray nozzle for chemical | medical solutions 32 A pair of disk brush which comprises a detergent spray nozzle and opposes A pair of roll brush which comprises a detergent spray nozzle and opposes 34 A pair of shower nozzle 35 A pair of jet nozzle 40 Drying Part 41 A pair of air nozzles 50 Substrate holding / conveying jig 51-1 Upper side part 51-2 Lower side part 51-3 Side part 52-1 to 52-7 Chuck piece 53-1, 53-2 Conveying jig 60 , Dispensing unit 70 Chemical solution 72 Detergent solution 74 Rinse solution 76 Compressed air 80-1, 80-2 Power source 90 Substrate 100 Large substrate cleaning device G Opposite spacing M Mixing unit S1-S5 Arrow direction

Claims (7)

一辺が1mを超える大型基板の加工後の洗浄を行う大型基板洗浄装置において、
最下部に配置されて対向する一対の薬液用スプレーノズルと、該ノズルの上部に配置され、上方に非接触式洗浄ツールを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールを1つ以上有し、且つ、前記1つ以上の上方に非接触式洗浄ツールを具備して対向する一対の接触式洗浄ツールの最上部に配置された対向する一対のシャワーノズルと、該ノズルの上部に配置された対向する一対のジェットノズルとを有する洗浄部と、
前記洗浄部の上方に配置された対向する一対のエアーナイフを具備する乾燥部と、
前記大型基板を直立させて保持し、前記洗浄部の前記対向する各々のノズル、ツール及び前記乾燥部の前記対向するナイフの対向間隔に投入される基板保持搬送治具と、
前記洗浄部の下方に配置され前記基板保持搬送治具の前記対向間隔への投入及び払出のための投入払出部と、を有し、
前記基板を直立させて保持した前記基板保持搬送治具が、前記投入払出部を介して前記洗浄部の前記対向する各々のノズル、ブラシ及び前記乾燥部の前記対向するナイフの対向間隔に投入されて上下動し、前記洗浄部において洗浄が行われ、且つ、前記乾燥部において乾燥が行われた後、前記投入払出部を介して払い出されることを特徴とする大型基板洗浄装置。
In a large substrate cleaning apparatus that performs cleaning after processing of a large substrate with one side exceeding 1 m,
A pair of chemical spray nozzles disposed at the bottom and facing each other, and one or more paired contact cleaning tools disposed at the top of the nozzle and provided with a non-contact cleaning tool at the top; A pair of opposed shower nozzles disposed at the top of the pair of opposed contact cleaning tools provided with a non-contact cleaning tool above the one or more, and opposed to each other disposed above the nozzles A cleaning section having a pair of jet nozzles that
A drying unit comprising a pair of opposed air knives disposed above the cleaning unit;
A substrate holding and conveying jig that holds the large substrate upright, and that is put into an opposing interval of the opposing nozzles and tools of the cleaning unit and the opposing knife of the drying unit;
A loading / dispensing portion that is disposed below the cleaning unit and for loading and unloading the substrate holding / conveying jig to and from the facing interval;
The substrate holding and conveying jig that holds the substrate upright is thrown into the facing interval between the facing nozzles and brushes of the cleaning unit and the facing knives of the drying unit via the charging and discharging unit. The large substrate cleaning apparatus is characterized in that the substrate is moved up and down, cleaned in the cleaning unit, and dried in the drying unit, and then discharged through the loading / unloading unit.
前記ディスクブラシ及びロールブラシは、前記基板が投入されると該基板に接触し、回転しながら左右に移動し、それぞれの洗浄が終わると該基板に対し非接触となることを特徴とする請求項1に記載の大型基板洗浄装置。   The disk brush and the roll brush are in contact with the substrate when the substrate is inserted, move left and right while rotating, and become non-contact with the substrate after each cleaning is completed. The large substrate cleaning apparatus according to 1. 前記基板保持搬送治具は、前記基板を直立させて保持する上辺部、下辺部及び側辺部がコ型形状に組み合わされて成り、
前記上辺部、下辺部及び側辺部は、前記基板を固定するチャックコマをそれぞれ具備し、前記上辺部及び下辺部の端部に配置された前記チャックコマは、前記基板が納まると前記コ型形状の内側に折れ込んで前記基板を固定し、
前記上辺部はさらに搬送用治具を具備し、前記上辺部及び下辺部の端部に配置された前記チャックコマにより前記基板が固定されると、前記基板保持搬送治具は、前記搬送用治具により前記投入払出部へ搬送されることを特徴とする請求項1に記載の大型基板洗浄装置。
The substrate holding and conveying jig is formed by combining an upper side portion, a lower side portion, and a side portion that hold the substrate upright, in a U-shape,
The upper side portion, the lower side portion, and the side portion are each provided with a chuck piece for fixing the substrate, and the chuck pieces disposed at the end portions of the upper side portion and the lower side portion are arranged in the shape of the U-shaped when the substrate is accommodated. Fold inside the shape to fix the substrate,
The upper side portion further includes a transfer jig, and when the substrate is fixed by the chuck pieces arranged at the end portions of the upper side portion and the lower side portion, the substrate holding transfer jig is moved to the transfer jig. The large substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the large substrate cleaning apparatus is transported to the input / output part by a tool.
前記ロール状ブラシ及びディスク状ブラシは、ナイロン、PVA、ポリウレタンのいずれかの材料で形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の大型基板洗浄装置。   The large substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the roll-shaped brush and the disk-shaped brush are made of any material of nylon, PVA, and polyurethane. 前記ジェットノズルは、3流体ジェットノズル、2流体ジェットノズル、1流体ジェットノズル、超音波ジェットノズル及びスチームジェットノズルの内のいずれか1つ、又は任意の複数の組み合わせであることを特徴とする請求項1に記載の大型基板洗浄装置。   The jet nozzle is any one of a three-fluid jet nozzle, a two-fluid jet nozzle, a one-fluid jet nozzle, an ultrasonic jet nozzle, and a steam jet nozzle, or any combination thereof. Item 2. The large substrate cleaning apparatus according to Item 1. 前記シャワーノズルから噴射されるリンス液は、純水又は10%以下のアンモニア水であることを特徴とする請求項1に記載の大型基板洗浄装置。   The large-sized substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the rinse liquid sprayed from the shower nozzle is pure water or 10% or less ammonia water. 前記薬液用スプレーノズルから噴射される薬液は、無機酸類である硫酸又はフッ酸を含むことを特徴とする請求項1に記載の大型基板洗浄装置。   2. The large substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the chemical liquid sprayed from the chemical liquid spray nozzle includes sulfuric acid or hydrofluoric acid which are inorganic acids.
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