JP2009162712A - Suspended particulate matter measuring device - Google Patents

Suspended particulate matter measuring device Download PDF

Info

Publication number
JP2009162712A
JP2009162712A JP2008002915A JP2008002915A JP2009162712A JP 2009162712 A JP2009162712 A JP 2009162712A JP 2008002915 A JP2008002915 A JP 2008002915A JP 2008002915 A JP2008002915 A JP 2008002915A JP 2009162712 A JP2009162712 A JP 2009162712A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle
particulate matter
particles
light
suspended particulate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008002915A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4909288B2 (en
Inventor
Shigeo Ogawa
重男 小川
Mamoru Mizunuma
守 水沼
Seizo Sakata
晴三 阪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2008002915A priority Critical patent/JP4909288B2/en
Publication of JP2009162712A publication Critical patent/JP2009162712A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4909288B2 publication Critical patent/JP4909288B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To focus detecting object particles dielectric-polarized by electrostatic field application in an observation visual field. <P>SOLUTION: This suspended particulate matter measuring device includes a prism for dividing scattered light whose scattering angle is substantially 10°, among scattered lights by incoming of a polarized beam into the particles, into two light beams whose polarization directions are orthogonal to each other, a particle aligning means for turning the particles to the normal line direction of the scattering plane before the light beams come into the particles, a light receiving section for converting the two light beams into electric signals, and a particle identifying means for identifying the particle shapes. The particle aligning means is formed of electrode blocks 230a and 230b, and generates an electrostatic field directing in the normal line direction of the scattering plane between the electrode blocks 230a and 230b. The electrode blocks 230a and 230b are parallel flat plane shapes whose guide channel side surfaces are flat, or projecting shapes toward the facing electrode blocks whose guide channel side surfaces are curved. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、流体中に浮遊する微小粒子を光学的に検出し、その粒子の形状が球形状か繊維形状かを、特に繊維状粒子を円柱状粒子により近似することで、識別する浮遊粒子状物質測定装置に関するものである。   The present invention optically detects minute particles floating in a fluid, and identifies whether the shape of the particles is spherical or fiber, especially by approximating the fiber particles by cylindrical particles. The present invention relates to a substance measuring device.

従来の浮遊粒子状物質測定装置は、円筒状のフロー管と称するガラス管に流体吸気口および流体排気口を設けて、繊維状粒子などの被検出対象粒子を分散させた試料流体をフロー管内に導入すると共に、フロー管の長さ方向あるいは側面方向から光ビームを照射し、フロー管の壁側に配置した検出器によって、フロー管内で生じた散乱光を測定することによって、試料流体単位体積当りの浮遊微小粒子の個数あるいは繊維状粒子の本数を実時間で検出していた。   A conventional suspended particulate matter measuring device is provided with a fluid inlet and a fluid outlet in a glass tube called a cylindrical flow tube, and a sample fluid in which particles to be detected such as fibrous particles are dispersed is placed in the flow tube. In addition to introducing a light beam from the length or side of the flow tube and measuring the scattered light generated in the flow tube with a detector placed on the wall side of the flow tube, The number of airborne microparticles or the number of fibrous particles was detected in real time.

このようなフロー管内の微小粒子による散乱光測定によって、微小粒子の形状を識別する装置としては、大別して二つの方式の装置、すなわち、四重電極による回転電場中で散乱光を変調させる第1の方式の装置(例えば、非特許文献1参照)と、対向電極による静電場中で後方散乱光の偏光度を測る第2の方式の装置(例えば、非特許文献2、特許文献1参照)が近年開発されている。   The apparatus for discriminating the shape of the microparticles by measuring the scattered light by the microparticles in the flow tube is roughly divided into two types of apparatuses, that is, a first that modulates scattered light in a rotating electric field by quadruple electrodes. And a second type of device that measures the degree of polarization of backscattered light in an electrostatic field by a counter electrode (for example, see Non-Patent Literature 2 and Patent Literature 1). Recently developed.

第1の方式の装置では、図11に示すように、フロー管20Aの長さ方向にそって光源3からレーザビーム32を照射すると共に、フロー管20A内に吸入された被検出対象粒子1がフロー管壁側の検出器40aに設けられた四重電極内に導入される。四重電極23E(23Ea,23Ea’,23Eb,23Eb’)は、図12に示すように、フロー管の回転対称軸(円筒軸)方向に対向電極が管壁に沿って設けられ、二対の対向電極は円筒軸に対して互いに直交するように構成されている。この対向電極間に90度の位相差をもって同一周波数の交流の高電圧を印加することによって回転電場ベクトル41を形成する。回転電場ベクトル41の中に導入された繊維状の被検出対象粒子1は、対向する電極、例えば23Ebと23Eb’間に形成された強い電場に引かれて誘電分極して繊維が引き伸ばされ、円柱状粒子として近似可能な形状に変形すると共に、交流の周波数に同期して円柱状粒子の主軸1aが回転電場ベクトル41に追従して回転する。この円柱状粒子に変形した被検出対象粒子1に、その回転面と垂直な方向からレーザビーム32を照射し、90度側方散乱光を検出する。   In the first type of apparatus, as shown in FIG. 11, the laser beam 32 is irradiated from the light source 3 along the length direction of the flow tube 20A, and the detection target particles 1 sucked into the flow tube 20A It is introduced into a quadruple electrode provided in the detector 40a on the flow tube wall side. As shown in FIG. 12, the quadrupole electrode 23E (23Ea, 23Ea ′, 23Eb, 23Eb ′) is provided with a counter electrode in the direction of the rotational symmetry axis (cylindrical axis) of the flow tube along the tube wall. The counter electrodes are configured to be orthogonal to each other with respect to the cylindrical axis. A rotating electric field vector 41 is formed by applying an alternating high voltage of the same frequency with a phase difference of 90 degrees between the opposing electrodes. The fibrous particle 1 to be detected introduced into the rotating electric field vector 41 is attracted by a strong electric field formed between opposing electrodes, for example, 23Eb and 23Eb ', and dielectrically polarized to stretch the fiber. While deforming into a shape that can be approximated as a columnar particle, the main axis 1a of the columnar particle rotates following the rotating electric field vector 41 in synchronization with the AC frequency. The target particle 1 that has been transformed into a cylindrical particle is irradiated with a laser beam 32 from a direction perpendicular to the plane of rotation, and 90-degree side scattered light is detected.

この側方散乱光の強度は、高電圧電場の回転(すなわち、印加交流電圧の周波数)に同期して変化し、長い繊維状の被検出対象粒子1ほど電場印加方向に引き伸ばされて長い円柱状粒子に変形するので散乱光強度の変動幅が大きくなる。この現象は、回転している円筒を、その回転軸に対して垂直方向から見たとき、見込み断面積が円筒の回転に伴い、大きくなったり小さくなったりすることと同等である。   The intensity of the side scattered light changes in synchronization with the rotation of the high-voltage electric field (that is, the frequency of the applied AC voltage), and the longer fiber-like detection target particle 1 is stretched in the direction in which the electric field is applied. Since it is transformed into particles, the fluctuation range of the scattered light intensity becomes large. This phenomenon is equivalent to the prospective cross-sectional area becoming larger or smaller with the rotation of the cylinder when the rotating cylinder is viewed from the direction perpendicular to the rotation axis.

これに対して、被検出対象粒子1が球状粒子の場合には、高電圧電場の回転に同期して粒子は誘電分極して回転するものの、回転面内で見た散乱断面積は球形のままなので同一であり、散乱光強度が回転電場によって強く変調を受けることはない。何故ならば、球状の被検出対象粒子1は回転に対して対称であるためである。以上のことから、電場の回転角θに伴う90度側方散乱光強度の変動の有無を計測することによって、円柱状粒子として近似された繊維状粒子と球状粒子との判別が可能となる。   On the other hand, when the detection target particle 1 is a spherical particle, the particle is dielectrically rotated in synchronization with the rotation of the high-voltage electric field, but the scattering cross section seen in the rotation plane remains spherical. Therefore, they are the same, and the scattered light intensity is not strongly modulated by the rotating electric field. This is because the spherical detection target particle 1 is symmetric with respect to rotation. From the above, it is possible to discriminate between fibrous particles and spherical particles approximated as columnar particles by measuring the presence or absence of fluctuations in 90 ° side scattered light intensity associated with the electric field rotation angle θ.

図13(A)は第2の方式の装置の平面図、図13(B)は図13(A)の装置の側面図である。なお、図13(A)ではフロー管および枝管の内部を透視しているものとする。第2の方式の装置では、図13(A)、図13(B)に示すように、被検出対象粒子1を分散させた試料流体はフロー管20B内を流れる。フロー管20Bには、その内壁の断面よりも小さい断面の大きさを有する二つの枝管20Cがフロー管20Bに直交するように接続され、さらに、円弧状粒子配向用電極23Fがフロー管20Bの軸に沿って取り付けられている。これにより、フロー管20B内に導入した繊維状の被検出対象粒子1を高電圧静電場によって誘電分極させて電場印加方向に引き伸ばして、円柱状粒子として近似可能な形状に変形させると共に、電場印加方向へ向かせる。その上で、外部の光源3から特定方向に偏光させたレーザビーム32を、枝管20Cの端面よりフロー管20B内に照射して、被検出対象粒子1に入射させる。枝管20Cの光源3に検出器40bを隣接して配置することによって、フロー管20B内で生じた後方散乱光が測定できる。   FIG. 13A is a plan view of the second type apparatus, and FIG. 13B is a side view of the apparatus of FIG. In FIG. 13A, it is assumed that the inside of the flow pipe and the branch pipe is seen through. In the second type apparatus, as shown in FIGS. 13A and 13B, the sample fluid in which the detection target particles 1 are dispersed flows in the flow tube 20B. Two branch pipes 20C having a cross-sectional size smaller than the cross section of the inner wall thereof are connected to the flow pipe 20B so as to be orthogonal to the flow pipe 20B, and an arc-shaped particle orientation electrode 23F is connected to the flow pipe 20B. Attached along the axis. As a result, the fibrous particles 1 to be detected introduced into the flow tube 20B are dielectrically polarized by a high-voltage electrostatic field and stretched in the direction of electric field application so as to be deformed into a shape that can be approximated as cylindrical particles. Turn in the direction. After that, the laser beam 32 polarized in a specific direction from the external light source 3 is irradiated into the flow tube 20B from the end surface of the branch tube 20C and is incident on the detection target particle 1. By arranging the detector 40b adjacent to the light source 3 of the branch tube 20C, the backscattered light generated in the flow tube 20B can be measured.

この第2の方式では、第1の方式のように回転電場ベクトル41によって繊維状の被検出対象粒子1を観測視野内で回転させる代わりに、フロー管20Bに取り付けた円弧状粒子配向用電極23Fによって形成される静電場中を通過させる。こうして、円柱状粒子として近似された被検出対象粒子1の主軸を静電場印加方向に向かせた上で、直線偏光ビーム32を円柱状に変形した被検出対象粒子1に入射させ、粒子1による後方散乱光の偏光状態を検出器40bによって計測する。   In the second method, instead of rotating the fibrous particle 1 to be detected within the observation field by the rotating electric field vector 41 as in the first method, the arc-shaped particle orientation electrode 23F attached to the flow tube 20B. Is passed through an electrostatic field formed by. Thus, the main axis of the detection target particle 1 approximated as a cylindrical particle is directed to the electrostatic field application direction, and then the linearly polarized beam 32 is incident on the detection target particle 1 deformed into a cylindrical shape. The polarization state of the backscattered light is measured by the detector 40b.

ところで、非特許文献2に記載されているように、後方散乱光の偏光状態は、球状粒子と円柱状粒子とでは大きく異なる。具体的には、円柱状に変形した被検出対象粒子1の場合、散乱平面の法線方向に向いた粒子1の長軸方向に平行な偏光成分(すなわち、散乱平面に垂直な偏光成分)が強くなる。一方、球状の被検出対象粒子1の場合、逆に散乱平面に平行な偏光成分が強くなる。このような後方散乱光の偏光特性を利用して、繊維状粒子と球状粒子との判別が可能となる。   By the way, as described in Non-Patent Document 2, the polarization state of backscattered light is greatly different between spherical particles and cylindrical particles. Specifically, in the case of the detection target particle 1 deformed into a cylindrical shape, the polarization component parallel to the major axis direction of the particle 1 oriented in the normal direction of the scattering plane (that is, the polarization component perpendicular to the scattering plane). Become stronger. On the other hand, in the case of the spherical particle 1 to be detected, the polarization component parallel to the scattering plane is strong. Using such polarization characteristics of backscattered light, it is possible to distinguish between fibrous particles and spherical particles.

特許第2881731号公報Japanese Patent No. 2881731 Pedro Lilienfeld,“Light Scattering from Oscillating Fibers at Normal Incidence”,J.Aeroso1.Sci,Vo1.18,No.4,p.389-400,1987Pedro Lilienfeld, “Light Scattering from Oscillating Fibers at Normal Incidence”, J. Aeroso1.Sci, Vo1.18, No.4, p.389-400, 1987 N.Hiromoto,K.Hashiguchi,S.Ito,and T.Itabe,“Asbestos Real-Time Monitor in an Atmospheric Environment”,Applied Optics,vol.36,No.36,p.9475-9480,1997N.Hiromoto, K.Hashiguchi, S.Ito, and T.Itabe, “Asbestos Real-Time Monitor in an Atmospheric Environment”, Applied Optics, vol.36, No.36, p.9475-9480, 1997

上記の浮遊粒子状物質測定装置では、第1および第2のいずれの方式でも、繊維状の被検出対象粒子1の計数において、四重電極による回転電場中あるいは対向電極による不均一静電場中での粒子分布の非一様性に起因した統計的揺らぎ、特に、極めて小さく絞った観測視野内から配向粒子が散逸することによって、1個、2個の数え落としが、計数値に対して大きな統計的揺らぎを与えてしまうという問題点があった。以下、この統計的揺らぎについて詳しく説明する。   In the above suspended particulate matter measuring apparatus, in both the first and second methods, the counting of the fibrous detection target particles 1 is performed in a rotating electric field by a quadruple electrode or in a non-uniform electrostatic field by a counter electrode. Statistical fluctuations due to the non-uniformity of the particle distribution of the particles, especially when the oriented particles dissipate from within the very narrow observation field, one or two countdown results in a large statistic. There was a problem of giving the target fluctuation. Hereinafter, this statistical fluctuation will be described in detail.

浮遊粒子状物質測定装置において、フロー管に導入された被検出対象粒子1についての計数量は、(1)観測視野内の粒子数、もしくは(2)単位計数時間内の観測視野内の粒子数である。粒子を所望の方向に向かせるための電場印加を必要としない通常の光散乱式微小粒子計測装置においては、観測視野部分の空間の一様性、等方性が成り立っていると仮定できる。この場合、断面積A[cm2]のフロー管に流速v[cm/s]でΔt[s]間に導入された試料流体は、体積V=A・v・Δt[cm3]を占有する。その体積V内にN個の微小な被検出対象粒子1があるとすると、空間が一様、等方的であれば、被検出対象粒子1は、濃度C=N/V[個/cm3]で一様分布していると考えてよい。 In the suspended particulate matter measuring device, the count amount for the target particle 1 introduced into the flow tube is (1) the number of particles in the observation field, or (2) the number of particles in the observation field within the unit counting time. It is. In an ordinary light-scattering microparticle measurement apparatus that does not require application of an electric field for directing particles in a desired direction, it can be assumed that the uniformity and isotropy of the space in the observation field are established. In this case, the sample fluid introduced into the flow tube having a cross-sectional area A [cm 2 ] at a flow velocity v [cm / s] during Δt [s] occupies a volume V = A · v · Δt [cm 3 ]. . If there are N minute target particles 1 to be detected in the volume V, if the space is uniform and isotropic, the target particle 1 has a concentration C = N / V [number / cm 3. ] May be considered to be uniformly distributed.

今、光源3からのレーザビーム32が、ビーム径DR[cm]で流れ方向に照射領域長さξ[cm]で試料流体を照らしているとすれば、その観測視野の体積νはπを円周率として、ν=π(DR2ξ/4である。この観測視野の体積νは、被検出対象粒子1の体積に比較すれば充分に大きく、観測視野の中で、被検出対象粒子1は独立に運動していると近似してよい。この場合、N個の被検出対象粒子1の中で任意の1個に着目したとき、その粒子が観測視野内に存在する確率はp=ν/Vで与えられるので、この観測視野の中にn個の被検出対象粒子1が存在している確率P(n)を考えると、n個はこの観測視野の中に存在し、同時に残りのN−n個はその外の体積V−νの領域内に存在するので、その確率分布は式(1)で与えられるベルヌーイ分布で与えられる。
P(n)=N!/[n!(N−n)!]・(ν/V)n(1−ν/V)N-n
・・・(1)
If the laser beam 32 from the light source 3 illuminates the sample fluid with the irradiation area length ξ [cm] in the flow direction at the beam diameter D R [cm], the volume ν of the observation field is π. As the circumference ratio, ν = π (D R ) 2 ξ / 4. The volume ν of the observation field is sufficiently larger than the volume of the particle 1 to be detected, and it may be approximated that the particle 1 to be detected moves independently in the field of observation. In this case, when an arbitrary one of N detection target particles 1 is focused, the probability that the particle exists in the observation field is given by p = ν / V. Considering the probability P (n) that n particles 1 to be detected are present, n particles are present in this observation field, and at the same time, the remaining N−n particles have a volume V−ν outside of the observation field. Since it exists in the area, its probability distribution is given by the Bernoulli distribution given by equation (1).
P (n) = N! / [N! (Nn)! ] ・ (Ν / V) n (1-ν / V) Nn
... (1)

したがって、観測視野の中に見出される被検出対象粒子1の個数の平均値<n>とその分散σ2は、以下のように与えられる。
<n>=(ν/V)・N=p・N=C・ν ・・・(2a)
σ2=<(n−<n>)2>=(1−ν/V)・(ν/V)・N
=(1−p)<n> ・・・(2b)
Therefore, the average value <n> of the number of detection target particles 1 found in the observation field and the variance σ 2 are given as follows.
<N> = (ν / V) · N = p · N = C · ν (2a)
σ 2 = <(n− <n>) 2 > = (1−ν / V) · (ν / V) · N
= (1-p) <n> (2b)

平均値からのずれの大きさσと平均値<n>との比を求めると、以下のようになる。
σ/<n>=[(V−ν)/(ν・N)]1/2
=[(1−p)/<n>]1/2 ・・・(2c)
The ratio between the deviation σ from the average value and the average value <n> is obtained as follows.
σ / <n> = [(V−ν) / (ν · N)] 1/2
= [(1-p) / <n>] 1/2 (2c)

実際の浮遊粒子の計数過程においては、サンプリングした試料流体をフロー管内に導入し、細いレーザビーム32により照らされた観測視野中を通過させ、その際の散乱光を受光部によって光電変換することで電気的パルスとして数える。光源3としてレーザを用いる場合には、ビーム径DRはかなり絞られていて0.1[mm]以下になる。一方、フロー管の断面積Aは、ある程度の試料流体をサンプリングするために、流量との関連であまり細くできない。このため、観測視野の体積νと試料流体の体積Vとの比で決まる確率p=ν/Vは極めて小さくなり(p<<1)、平均値<n>=N・p=C・νが一定値を保つような極限では、式(1)のベルヌーイ分布を次式(3)で与えられるポアソン分布により近似できる。
P(n)=exp(−C・ν)(C・ν)n/n! ・・・(3)
In the actual counting process of the suspended particles, the sample fluid sampled is introduced into the flow tube, passed through the observation field illuminated by the thin laser beam 32, and the scattered light at that time is photoelectrically converted by the light receiving unit. Count as an electrical pulse. In the case of using a laser as a light source 3, the beam diameter D R will 0.1 [mm] or less have been considerably narrowed. On the other hand, the cross-sectional area A of the flow tube cannot be made very thin in relation to the flow rate in order to sample a certain amount of sample fluid. Therefore, the probability p = ν / V determined by the ratio between the volume ν of the observation field and the volume V of the sample fluid is extremely small (p << 1), and the average value <n> = N · p = C · ν is In the limit that maintains a constant value, the Bernoulli distribution of equation (1) can be approximated by the Poisson distribution given by the following equation (3).
P (n) = exp (−C · ν) (C · ν) n / n! ... (3)

この場合、平均値<n>と分散σ2は共に次式により与えられる。
<n>=σ2=N・p=C・ν ・・・(4a)
平均値からのずれの大きさσと平均値<n>との比は、以下のようになる。
σ/<n>=<n>-1/2=(C・ν)-1/2 ・・・(4b)
In this case, both the average value <n> and the variance σ 2 are given by the following equations.
<N> = σ 2 = N · p = C · ν (4a)
The ratio between the deviation value σ from the average value and the average value <n> is as follows.
σ / <n> = <n> −1/2 = (C · ν) −1/2 (4b)

例えば、フロー管内の全粒子数Nが104個程度で、体積比p=ν/Vが1/100とすると、平均値<n>は100となり、式(4b)で与えられる計数値の統計的揺らぎは10%に達する。 For example, if the total number N of particles in the flow tube is about 10 4 and the volume ratio p = ν / V is 1/100, the average value <n> is 100, and the statistics of the count value given by equation (4b) Target fluctuation reaches 10%.

一方、観測視野中に同時に2個以上の被検出対象粒子1が入ってしまうと、1個のパルスとして計数されてしまう同時計数損失(Coincidence loss)を生ずる。具体的には、観測視野の体積ν内に2個以上の被検出対象粒子1が見出される確率の総和を求めることで、同時計数損失の起きる確率Qは、次式(5)により与えられる。
Q=Σn=2 P(n)=1−exp(−C・ν)(1+C・ν) ・・・(5)
On the other hand, if two or more detection target particles 1 enter the observation field at the same time, a coincidence loss that is counted as one pulse occurs. Specifically, by calculating the sum of the probabilities that two or more detection target particles 1 are found within the volume ν of the observation field, the probability Q of occurrence of coincidence loss is given by the following equation (5).
Q = Σ n = 2∞ P (n) = 1−exp (−C · ν) (1 + C · ν) (5)

すなわち、同時計数損失は、観測視野の体積νと試料流体中の被検出対象粒子1の濃度Cにより決まる。そこで、同時計数損失率Qを低く抑え(例えば10%以下)、かつ可測濃度CMaxを大きく設計するという観点からは、できる限り観測視野の体積νを小さくするか、フロー管への導入粒子濃度Cを低くする(希釈測定)ことによって同時計数損失率Qを低くする必要がある。観測視野の体積νを小さくすることは構造的なものであり、フロー管への導入粒子濃度Cを低くすることは計測技術的なものと言える。 That is, the coincidence loss is determined by the volume ν of the observation field and the concentration C of the detection target particle 1 in the sample fluid. Therefore, from the viewpoint of keeping the coincidence loss rate Q low (for example, 10% or less) and designing the measurable concentration C Max to be large, the volume ν of the observation field should be made as small as possible, or the particles introduced into the flow tube It is necessary to lower the coincidence loss rate Q by lowering the concentration C (dilution measurement). Reducing the volume ν of the observation field is structural, and it can be said that reducing the concentration C of particles introduced into the flow tube is a measurement technique.

しかし、式(4b)が示すように、観測視野の体積νが小さく、かつ試料流体中の被検出対象粒子1の濃度Cも低い場合には、観測視野内の粒子を1個、2個数え落とすと、その統計的揺らぎに対する影響は極めて大きい。
上述したように、四重電極で形成した回転電場や不均一電場内では、空間は非等方的であり、その内部での粒子分布の一様性も担保されない。被検出対象粒子1の形状を識別するために、電場を印加するので、等方性が破られる点はやむを得ない。しかし、極めて細く絞った観測視野から被検出対象粒子1が散逸してしまうような回転電場や不均一電場では、1個2個の数え落としが計数値に対して大きな統計的揺らぎを与えるので、以上述べたように問題である。
However, as shown in equation (4b), when the volume ν of the observation field is small and the concentration C of the detection target particle 1 in the sample fluid is also low, one particle or two particles in the observation field are counted. If dropped, the effect on statistical fluctuation is extremely large.
As described above, the space is anisotropic in the rotating electric field and the non-uniform electric field formed by the quadruple electrodes, and the uniformity of the particle distribution within the space is not ensured. Since an electric field is applied to identify the shape of the particle 1 to be detected, it is unavoidable that the isotropic property is broken. However, in a rotating electric field or a non-uniform electric field where the detection target particle 1 is dissipated from a very narrow observation field, the counting of two by one gives a large statistical fluctuation to the count value. As mentioned above, it is a problem.

次に、数え落としの原因となる従来構成の不均一電場について述べる。
第1および第2のいずれの方式でも、円筒状のフロー管20A,20B中に繊維状の被検出対象粒子1を導入して円柱状粒子に変形させ、さらに回転させたり特定方向に向かせたりするために、断面円型のガラス管壁に円弧形状の電極23E,23Fを取り付けて高電圧を印加する。試料流体導流路に沿って、粒子配向用対向電極が設けられて高電圧電場を形成しているが、断面円型のフロー管では、電極形状が円弧形状となり、フロー管内の電極形成部内部の形成される電場は必ずしも一様ではない。隣接する電極端子間には不均一電場が発生し、誘電分極して電気双極子となった円柱状の被検出対象粒子1に対しては発散的に作用する、つまり、光ビームを照射している中心部領域からフロー管周辺部へと電気双極子を引き寄せてしまうため、被検出対象粒子1が観測視野から散逸して、統計的揺らぎを著しく増大させるという問題点があった。
Next, a non-uniform electric field having a conventional configuration that causes counting down will be described.
In both of the first and second methods, the fibrous detection target particles 1 are introduced into the cylindrical flow tubes 20A and 20B to be transformed into columnar particles, and are further rotated or directed in a specific direction. For this purpose, arc-shaped electrodes 23E and 23F are attached to a glass tube wall having a circular cross section and a high voltage is applied. A counter electrode for particle orientation is provided along the sample fluid flow path to form a high-voltage electric field. However, in a flow tube with a circular cross section, the electrode shape is an arc shape, and the inside of the electrode forming part in the flow tube The electric field formed is not necessarily uniform. An inhomogeneous electric field is generated between adjacent electrode terminals and acts divergently on the cylindrical particle 1 to be detected that has become an electric dipole by dielectric polarization, that is, by irradiating a light beam. As a result, the electric dipole is attracted from the central region to the peripheral portion of the flow tube, so that the detection target particle 1 is dissipated from the observation field of view and the statistical fluctuation is remarkably increased.

このことを図14(A)〜図14(E)および図15に基づいて説明する。図14(A)は一様電場による粒子の伸張作用を示す図、図14(B)は電場トルクによる電気双極子の回転を示す図、図14(C)は電場方向への電気双極子の配向を示す図、図14(D)は不均一電場による電気双極子へ作用する力を示す図、図14(E)は観測視野領域(光ビーム照射領域)からの粒子の逸脱の様子を示す断面図である。   This will be described with reference to FIGS. 14A to 14E and FIG. FIG. 14 (A) is a diagram showing the extension action of particles by a uniform electric field, FIG. 14 (B) is a diagram showing the rotation of the electric dipole by the electric field torque, and FIG. 14 (C) is the electric dipole in the electric field direction. FIG. 14 (D) shows the orientation, FIG. 14 (D) shows the force acting on the electric dipole due to the non-uniform electric field, and FIG. 14 (E) shows how the particles deviate from the observation field area (light beam irradiation area). It is sectional drawing.

一般に、一様な電場E中に置かれた電気双極子には、その双極子モーメントをpとすると、次式(6)で与えられるトルクτが作用して電場の印加方向へ回転して電場と平行な方向を向く。
τ=p×E ・・・(6)
In general, an electric dipole placed in a uniform electric field E is rotated in the direction in which the electric field is applied by applying a torque τ given by the following equation (6), where p is the dipole moment. The direction is parallel to.
τ = p × E (6)

一方、不均一電場中に侵入した電気双極子には、さらに双極子モーメントpと不均一電場の勾配で決まるベクトル力Fも作用して、電場強度の大きい方向へ向かって移動することになる。すなわち、電気双極子には、次式(7)で与えられる力が作用する。
F=(p・∇)E ・・・(7)
式(6)、式(7)において、・はベクトルの内積、×はベクトルの外積、∇は勾配演算子をそれぞれ示す。
On the other hand, the vector force F determined by the dipole moment p and the gradient of the non-uniform electric field further acts on the electric dipole that has entered the non-uniform electric field, so that the electric dipole moves in the direction in which the electric field strength is large. That is, the force given by the following equation (7) acts on the electric dipole.
F = (p · ∇) E (7)
In Expressions (6) and (7),... Indicates a vector inner product, X indicates a vector outer product, and ∇ indicates a gradient operator.

図14(A)に示すように、正極から負極へ向かう外部一様電場E内に導かれた湾曲した繊維状の被検出対象粒子1は瞬時に誘電分極を生じ、粒子1の両端のうち、電場Eを形している正電極に近い粒子1の一端は負極に帯電し、同時に電場Eの負極に近い粒子1の他端は正極に帯電する。このような一様電場中で、分極した湾曲繊維状の被検出対象粒子1は電場方向へ引伸ばされて直線状に変形すると共に、図14(B)に示すように円柱状に変形した粒子1には回転のトルクが作用して、粒子1は図14(C)に示すように電場Eと平行な方向を向く。   As shown in FIG. 14 (A), the curved fibrous detection target particle 1 guided in the external uniform electric field E from the positive electrode to the negative electrode instantaneously generates dielectric polarization. One end of the particle 1 near the positive electrode forming the electric field E is charged to the negative electrode, and at the same time, the other end of the particle 1 near the negative electrode of the electric field E is charged to the positive electrode. In such a uniform electric field, the polarized bent fiber-like particles 1 to be detected are stretched in the direction of the electric field and deformed into a linear shape, and also deformed into a cylindrical shape as shown in FIG. Rotational torque acts on 1, and the particles 1 face in a direction parallel to the electric field E as shown in FIG.

ここで、不均一電場中に円柱状粒子が導かれると、誘電分極により両端に生じた電荷が等しいのに、電場の電気力線の粗密に応じて双極子の両誘起電荷に作用する力が異なる。このため、図14(D)に示すように、不均一電場中の電気双極子には、電場が強くなる方向へ正味の力が働くことになる。   Here, when cylindrical particles are introduced into a non-uniform electric field, the electric charge generated at both ends due to dielectric polarization is equal, but the force acting on both induced charges of the dipole depends on the density of the electric field lines of the electric field. Different. For this reason, as shown in FIG. 14D, a net force acts on the electric dipole in the non-uniform electric field in the direction in which the electric field becomes stronger.

図15(A)は円筒状のフロー管20Aの周りに形成された円弧状四重電極23Eによる電場ベクトル分布を円筒の断面に沿って示した図、図15(B)は誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を円筒の断面に沿って示した図である。
第1の方式の装置では、繊維状の被検出対象粒子1を回転させるために、四重電極23Eを設けているが、その隣接する電極間に生ずる不均一電場が、対向電極間の高電圧電場により誘電分極した電気双極子に作用して、図15(B)に示すように、フロー管20Aの中心部(特定偏光の光源3の照射領域)から電気双極子が散逸するような電気力が作用する。このため、図14(E)に示すように、円柱状に変形した被検出対象粒子1は入射レーザビーム32の照射領域外へと輸送されてしまう。このため、観測視野内にある被検出対象粒子1の計数値は、一様分布している場合に比較して少なくなり、その統計的揺らぎも増大する。
FIG. 15A is a diagram showing the electric field vector distribution along the circular section of the circular arc quadrupole electrode 23E formed around the cylindrical flow tube 20A, and FIG. 15B is a dielectric-polarized electric bipolar. It is the figure which showed along the cross section of the cylinder the force vector distribution which acts on a child.
In the first system, the quadruple electrode 23E is provided in order to rotate the fibrous target particle 1 to be detected. However, the non-uniform electric field generated between the adjacent electrodes is a high voltage between the counter electrodes. An electric force that acts on the electric dipole that is dielectrically polarized by the electric field and dissipates the electric dipole from the center of the flow tube 20A (irradiation region of the light source 3 of the specific polarization) as shown in FIG. Act. For this reason, as shown in FIG. 14E, the detection target particle 1 deformed into a cylindrical shape is transported outside the irradiation region of the incident laser beam 32. For this reason, the count value of the detection target particles 1 in the observation visual field is smaller than that in the case of uniform distribution, and the statistical fluctuation thereof also increases.

さらに、試料流体中に分散している繊維状の被検出対象粒子1は通常湾曲しているので、強い電場中において引き伸ばして直線性を向上させ、円柱状粒子として精度良く近似しようとするが、粒子を回転させるために四重電極23E間に交流電圧を印加することから、その伸張が充分でないことも推測される。すなわち、アモサイト、クロシドライトなど青石綿を構成する棒状粒子に比較して、クリソタイル(白石綿)などの湾曲した粒子は、四重電極23Eによる回転電場中では充分に伸張できないため、円柱状粒子としての近似が充分でなく、円柱状粒子としての計数から数え落とされてしまう。   Furthermore, since the fibrous detection target particles 1 dispersed in the sample fluid are usually curved, they are stretched in a strong electric field to improve linearity, and try to approximate them accurately as cylindrical particles. Since an alternating voltage is applied between the quadruple electrodes 23E to rotate the particles, it is also estimated that the extension is not sufficient. That is, in comparison with rod-shaped particles such as amosite and crocidolite that form a asbestos, curved particles such as chrysotile (white asbestos) cannot be sufficiently stretched in a rotating electric field by the quadrupole electrode 23E. The approximation is not sufficient, and it will be counted off from the count as cylindrical particles.

図16(A)は円筒状のフロー管20Bの周りに形成された円弧状粒子配向用電極23Fによる電場ベクトル分布を円筒の断面に沿って示した図、図16(B)は誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を円筒の断面に沿って示した図である。
図16(A)、図16(B)に示すように、第2の方式の装置では、繊維状の被検出対象粒子1を高電圧電場印加方向に向かせるために、対向電極23F間に高電圧を印加して静電場を形成している。したがって、フロー管20B中に導入された繊維状の被検出対象粒子1は長時間にわたり分極状態に保持され、湾曲した被検出対象粒子1も一直線状に伸張されることから、円柱状粒子としての近似不良に起因する数え落としは少ない。
FIG. 16A shows the electric field vector distribution along the cylindrical cross section of the circular particle orientation electrode 23F formed around the cylindrical flow tube 20B, and FIG. 16B shows dielectric-polarized electricity. It is the figure which showed force vector distribution which acts on a dipole along the cross section of a cylinder.
As shown in FIGS. 16 (A) and 16 (B), in the apparatus of the second method, a high voltage is applied between the counter electrodes 23F in order to direct the fibrous detection target particles 1 in the direction of applying a high voltage electric field. An electrostatic field is formed by applying a voltage. Accordingly, the fibrous detection target particles 1 introduced into the flow tube 20B are held in a polarized state for a long time, and the curved detection target particles 1 are also stretched in a straight line. There are few countdowns due to poor approximation.

しかし、第2の方式の装置でも、第1の方式の装置に比較すれば少量であるが、数え落としが報告されている(非特許文献2参照)。その理由として、対向電極の端部領域への電気力線の集中が考えられる。つまり、繊維状の被検出対象粒子1を高電圧電場印加方向に向かせるために、対向電極23F間に高電圧を印加するものの、対向電極の端部に電気力線の集中が起こり、端部領域の電場強度がその他の部分に比較して著しく強くなる。このような不均一電場中では、上記の四重電極23Eの場合と同様に、誘電分極した繊維状の被検出対象粒子1に対して、図16(B)に示すように、フロー管20Bの中心部(特定偏光の光源3の照射領域)から粒子1を散逸させる電気力が作用すると考えられる。このため、観測視野内の被検出対象粒子1の計数値は、一様分布している場合に比較して若干少なくなり、統計的揺らぎを増大させる数え落としとなる。   However, even if the device of the second system is a small amount as compared with the device of the first system, counting down has been reported (see Non-Patent Document 2). As the reason, concentration of electric lines of force on the end region of the counter electrode can be considered. That is, although a high voltage is applied between the opposing electrodes 23F in order to direct the fibrous particles 1 to be detected in the direction in which the high voltage electric field is applied, concentration of electric lines of force occurs at the ends of the opposing electrodes, The electric field strength in the region is significantly stronger than in the other parts. In such a non-uniform electric field, as in the case of the quadruple electrode 23E described above, as shown in FIG. It is considered that an electric force that dissipates the particles 1 acts from the center (irradiation region of the light source 3 having a specific polarization). For this reason, the count value of the detection target particles 1 in the observation field is slightly smaller than that in the case of uniform distribution, and is counted down to increase the statistical fluctuation.

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、被検出対象粒子を検出器の観測視野へ導入する際に、静電場印加によって誘電分極した被検出対象粒子が観測視野内に集中するような浮遊粒子状物質測定装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above problems, and when introducing the particles to be detected into the observation field of the detector, the particles to be detected that are dielectrically polarized by applying an electrostatic field concentrate in the field of observation. An object of the present invention is to provide such a suspended particulate matter measuring apparatus.

本発明の浮遊粒子状物質測定装置は、偏光ビームを射出する光源と、流体中に浮遊している被検出対象粒子を試料流体導流路により層流状態で観測視野内に導入する導入手段と、前記観測視野内に導入された粒子に前記光源からの偏光ビームが入射したことによる散乱光のうち、前記光源から前記粒子に向かう方向に対して前記粒子を中心とする散乱角が略10度の散乱光を、偏光方向が互いに直交する2本の光ビームに分割する偏光型ビームスプリッタプリズムと、前記光ビームが前記粒子に入射する前に、前記光源と前記粒子と前記偏光型ビームスプリッタプリズムとを含む散乱平面に対して、前記粒子を前記散乱平面の法線方向に向ける粒子配向手段と、前記偏光型ビームスプリッタプリズムによって分割された2本の光ビームをそれぞれ電気信号に変換する第1、第2の受光手段と、前記第1、第2の受光手段から出力された信号に基づいて粒子形状を識別する粒子識別手段とを有し、前記粒子配向手段は、前記試料流体導流路に沿って配置された二つの電極ブロックからなり、この電極ブロック間に前記散乱平面の法線方向を向いた静電場を形成するものであり、前記二つの電極ブロックは、導流路側表面が平面で互いに平行な平板状か、もしくは導流路側表面が曲面で対向する電極ブロックに向かって互いに凸の形状である。   The suspended particulate matter measuring device according to the present invention includes a light source that emits a polarized beam, and an introduction unit that introduces a detection target particle suspended in a fluid into an observation field in a laminar flow state by a sample fluid channel. Of the scattered light resulting from the incidence of the polarized beam from the light source on the particle introduced into the observation field, the scattering angle centered on the particle with respect to the direction from the light source toward the particle is approximately 10 degrees. A polarization beam splitter prism that splits the scattered light into two light beams whose polarization directions are orthogonal to each other, and the light source, the particles, and the polarization beam splitter prism before the light beam is incident on the particles. And two light beams divided by the polarizing beam splitter prism and particle orientation means for directing the particles in the normal direction of the scattering plane. The first and second light receiving means for converting into an electrical signal; and the particle identifying means for identifying the particle shape based on the signals output from the first and second light receiving means; Consists of two electrode blocks arranged along the sample fluid conduit, and forms an electrostatic field between the electrode blocks in the normal direction of the scattering plane. The two electrode blocks The guide channel side surfaces are flat and parallel to each other, or the guide channel side surfaces are convex with respect to the opposing electrode blocks with curved surfaces.

また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路と直交する方向の幅が前記試料流体導流路の幅よりも広い平行平板状であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に一様な静電場を形成するものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する横断面の端部形状がロゴウスキー型端部形状であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成するものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線が双曲線であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成するものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成するものである。
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the two electrode blocks are parallel flat plates whose width in the direction orthogonal to the sample fluid guide channel is wider than the width of the sample fluid guide channel. A uniform electrostatic field is formed in the sample fluid guide channel covering the observation field by applying a voltage between the two electrode blocks.
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the two electrode blocks have a rectangular longitudinal section along the sample fluid guide channel, and are crossed perpendicular to the sample fluid guide channel. The end shape of the surface is a Rogowski type end shape, and an electrostatic field in which the electric field strength gradually increases toward the center in the sample fluid guide channel covering the observation field by applying a voltage between the two electrode blocks. To form.
Moreover, in one structural example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the two electrode blocks have a rectangular longitudinal section along the sample fluid guide channel, and are a plane orthogonal to the sample fluid guide channel. An electrostatic field in which the electric field strength gradually increases toward the center in the sample fluid channel that covers the observation field by applying a voltage between the two electrode blocks. Is formed.
Moreover, in one structural example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the two electrode blocks have a rectangular longitudinal section along the sample fluid guide channel, and are a plane orthogonal to the sample fluid guide channel. The surface curve on the side of the guiding channel when cut at a V-shaped curve and an inverted V-shaped curve, and the electric field strength is applied in the sample fluid guiding channel covering the observation field by applying a voltage between the two electrode blocks. It forms an electrostatic field that gradually increases toward the center.

また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記導入手段は、絶縁材料からなる二本のガイドブロックと、その上下から前記二本のガイドブロックを挟む絶縁材料からなる二つの厚板ブロックとからなり、前記二本のガイドブロックには、試料流体導入口となる端面から前記流体が層流状態に発達するのに必要な距離だけ離れた位置に、前記偏光ビームの導入用開口部と前記散乱光の観測用の開口部とがそれぞれ設けられ、各々の開口部には光学ガラス板が嵌め込まれ、上側の前記厚板ブロックと前記二本のガイドブロックとの間および下側の前記厚板ブロックと前記二本のガイドブロックとの間に、それぞれ前記電極ブロックを配置して、この二つの電極ブロックと前記二本のガイドブロックで挟まれる領域を前記試料流体導流路とするものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記電極ブロックは、銅、金、白金、銀、あるいはアルミのうち少なくとも1つを含む金属材料、プラスティック、マシナブル・セラミックス、あるいはエンジニアリング・セラミックスの何れかからなり、前記プラスティックを用いる場合は、導流路側表面に金属鍍金あるいは金属蒸着して前記電極ブロックとすることを特徴とするものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記電極ブロックの導流路側表面には、絶縁膜が形成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記ガイドブロックおよび厚板ブロックは、プラスティック、マシナブル・セラミックス、あるいはエンジニアリング・セラミックスの何れかからなり、前記観測視野の壁面および前記開口部の壁面は、前記光源の波長の光を吸収する材料で被覆されるものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記光学ガラス板は、前記偏光ビームの光の波長において無反射である材料からなるものである。
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the introduction means includes two guide blocks made of an insulating material and two insulating materials made of an insulating material sandwiching the two guide blocks from above and below. The two guide blocks are used for introducing the polarized beam at a position away from the end surface serving as a sample fluid introduction port by a distance necessary for the fluid to develop into a laminar flow state. An opening and an opening for observing the scattered light are provided, and an optical glass plate is fitted in each opening, and between the upper thick plate block and the two guide blocks and on the lower side The electrode block is disposed between the thick plate block and the two guide blocks, and a region sandwiched between the two electrode blocks and the two guide blocks is disposed in the sample flow. It is an diversion channel.
Moreover, in one structural example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the electrode block is a metal material, plastic, machinable ceramics, or engineering containing at least one of copper, gold, platinum, silver, or aluminum. When the plastic is used, the electrode block is formed by metal plating or metal vapor deposition on the surface of the conducting channel.
Moreover, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, an insulating film is formed on the surface of the electrode block on the side of the conducting channel.
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the guide block and the thick plate block are made of plastic, machinable ceramics, or engineering ceramics, and the wall surface of the observation field and the opening The wall surface of the part is coated with a material that absorbs light of the wavelength of the light source.
Moreover, in one structural example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the optical glass plate is made of a material that is non-reflective at the wavelength of the light of the polarized beam.

また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記光源は、非偏光の光ビームを射出するか、あるいは直線偏光の偏光面を前記散乱平面の法線方向に対して45度傾けた直線偏光ビームとして射出するか、あるいは直線偏光を1/4波長板を通過させて円偏光ビームとして射出するかの何れかにより光ビームを射出し、かつこの光ビームの波長の最小値は、識別対象とする球状微小粒子の半径よりも長く、かつ円柱状微小粒子の長さよりも短いことを特徴とするものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記粒子識別手段は、前記第1の受光手段で検出された垂直偏光成分と前記第2の受光手段で検出された水平偏光成分との強度差から、前記強度差が略等しい場合は前記粒子が球状粒子であると識別し、前記強度差が垂直偏光成分の優位を示した場合は前記粒子が円柱状粒子であると識別するものである。
また、本発明の浮遊粒子状物質測定装置の1構成例において、前記粒子識別手段は、前記第1、第2の受光手段により同時に検出された各偏光成分の和で与えられる電圧パルスの波高を、予め定められた複数の閾値電圧と比較することで、前記電圧パルスをその波高値により分別し、分別したパルス毎に計数すると共に、前記粒子の識別結果に基づき、前記粒子が球状粒子であると識別した場合は前記パルス波高値に基づいて粒子半径を求め、前記粒子が円柱状粒子であると識別した場合は前記パルス波高値に基づいて粒子の長さを求めるものである。
In one configuration example of the suspended particulate matter measuring device of the present invention, the light source emits a non-polarized light beam, or a linearly polarized light plane is 45 degrees with respect to the normal direction of the scattering plane. The light beam is emitted either by emitting it as a tilted linearly polarized beam or by passing linearly polarized light through a quarter wave plate and emitting it as a circularly polarized beam, and the minimum wavelength of this light beam is It is characterized by being longer than the radius of the spherical microparticles to be identified and shorter than the length of the cylindrical microparticles.
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measurement device according to the present invention, the particle identification unit includes a vertical polarization component detected by the first light receiving unit and a horizontal polarization component detected by the second light receiving unit. If the intensity difference is substantially equal, the particle is identified as a spherical particle, and if the intensity difference indicates a superior vertical polarization component, the particle is identified as a cylindrical particle. Is.
Further, in one configuration example of the suspended particulate matter measuring device according to the present invention, the particle identification unit calculates a pulse height of a voltage pulse given as a sum of each polarization component detected simultaneously by the first and second light receiving units. The voltage pulse is classified according to its peak value by comparing with a plurality of predetermined threshold voltages, and counted for each pulse, and the particle is a spherical particle based on the identification result of the particle Is identified, the particle radius is determined based on the pulse peak value, and when the particle is identified as a cylindrical particle, the particle length is determined based on the pulse peak value.

本発明では、円筒状フロー管周りに形成した円弧状四重電極の代わりに試料流体導流路の幅より広い電極ブロックによる静電場を用いることで、電極極性のスイッチングの際に隣接する電極端部間に生ずる電場の不均一性を回避することができる。したがって、不均一電場に起因する浮遊粒子の観測視野内からの散逸を回避できる。あるいは円弧状対向電極による静電場の代わりに試料流体導流路の幅より広い電極ブロックによる一様静電場を用いることで、電極端部に生ずる不均一電場が電気双極子に作用することで起こる粒子の観測視野からの散逸を回避できる。いずれにせよ、本発明では、観測領域内からの被検出対象粒子の散逸を回避することで、従来の浮遊粒子状物質測定装置で著しかった観測視野内からの被検出対象粒子の1個、2個の数え落としに起因する計数値に対する統計的揺らぎを抑制できる。さらに、本発明の断面形状の電極ブロックを用いることで、静電場により分極した被検出対象粒子を特定方向(静電場印加方向)へ向かせつつ、観測視野内へ被検出対象粒子を定常的に集中・収束させることができ、さらには一様分布している場合に比較して若干多く計数することで、計数値に対する統計的揺らぎを低減させる。なお、ここで特定方向とは、光源、被検出対象粒子および受光手段の三者で定義される散乱平面に対して、鉛直方向が望ましい。また、従来の電極端部への電気力線の集中による不均一電場を、電極ブロックの断面形状を工夫することで回避し、試料流体の絶縁破壊電圧に近接する高電圧を、対向電極ブロック間に印加できるようになる。このため、アモサイト、クロシドライト等青石綿を構成する直線状粒子に比較して、湾曲した粒子であるクリソタイル(白石綿)についても、湾曲部を引き伸ばして円柱状粒子へと変形させるべくより高い電圧を印加できるので、従来の円弧状電極を用いた場合に比較して、繊維状の被検出対象粒子の円柱状粒子としての近似精度が向上する。結果的に、観測視野への被検出対象粒子の円柱状粒子としての検出率を向上でき、計数値に対する1個、2個の数え落としに起因する統計的揺らぎも低減できる。本発明は、統計的揺らぎを抑制することを優先し、被検出対象粒子を過大計数することの系統的な誤差は、検量線を求めることにより補正するという技術思想に基づく。   In the present invention, instead of the arcuate quadruple electrode formed around the cylindrical flow tube, an electrostatic field generated by an electrode block wider than the width of the sample fluid guide channel is used, so that the electrode ends adjacent to each other can be switched when the electrode polarity is switched. The electric field non-uniformity generated between the parts can be avoided. Therefore, dissipation of suspended particles from the observation field due to the non-uniform electric field can be avoided. Alternatively, instead of the electrostatic field due to the arcuate counter electrode, a non-uniform electric field generated at the electrode end acts on the electric dipole by using a uniform electrostatic field due to the electrode block wider than the width of the sample fluid channel. Dissipation of particles from the observation field can be avoided. In any case, in the present invention, by avoiding the dissipation of the particles to be detected from within the observation region, one of the particles to be detected from the observation field, which was remarkable in the conventional suspended particulate matter measuring apparatus, 2 It is possible to suppress statistical fluctuation with respect to the count value due to counting off of the number. Furthermore, by using the electrode block having a cross-sectional shape according to the present invention, the particles to be detected that are polarized by the electrostatic field are directed in a specific direction (electrostatic field application direction), and the particles to be detected are steadily placed in the observation field of view. The statistical fluctuation with respect to the count value can be reduced by counting a little more than the case of being able to concentrate and converge, and even when the distribution is uniform. Here, the specific direction is preferably a vertical direction with respect to a scattering plane defined by the three of the light source, the detection target particle, and the light receiving means. In addition, the conventional non-uniform electric field due to the concentration of electric lines of force at the electrode ends can be avoided by devising the cross-sectional shape of the electrode block, and a high voltage close to the dielectric breakdown voltage of the sample fluid can be avoided between the counter electrode blocks. Can be applied. For this reason, compared to the linear particles that make up blue asbestos, such as amosite and crocidolite, even for chrysotile (white asbestos), which is a curved particle, a higher voltage is required to stretch the curved portion and transform it into cylindrical particles. Since it can apply, compared with the case where the conventional arc-shaped electrode is used, the approximate precision as a cylindrical particle of a fibrous particle to be detected improves. As a result, it is possible to improve the detection rate of the particles to be detected in the observation field as cylindrical particles, and to reduce the statistical fluctuation caused by counting off one or two count values. The present invention is based on the technical idea that priority is given to suppressing statistical fluctuations, and systematic errors in overcounting the particles to be detected are corrected by obtaining a calibration curve.

[第1の実施の形態]
図1は本発明の第1の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置の導入手段および粒子配向手段となるフローチャネル部20の斜視図、図2はフローチャネル部20の分解斜視図である。
図2に示すように、フローチャネル部20は、絶縁材料からなる二本のガイドブロック240と、その上下から2本のガイドブロック240を挟む絶縁材料からなる二枚の厚板ブロック250a,250bとから構成される。二本のガイドブロック240および電極ブロック230a,230bにより挟まれた領域が、試料流体の導流路210eを形成する。また、図1に示すように、この導流路210eに直交するように特定偏光ビームの導入用開口部220aおよび散乱光観測用開口部220bが設けられている。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a perspective view of a flow channel unit 20 serving as an introduction unit and a particle orientation unit of the suspended particulate matter measurement device according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view of the flow channel unit 20. .
As shown in FIG. 2, the flow channel section 20 includes two guide blocks 240 made of an insulating material, and two thick plate blocks 250 a and 250 b made of an insulating material sandwiching the two guide blocks 240 from above and below. Consists of A region sandwiched between the two guide blocks 240 and the electrode blocks 230a and 230b forms a sample fluid guiding channel 210e. Further, as shown in FIG. 1, an opening 220a for introducing a specific polarization beam and an opening 220b for scattered light observation are provided so as to be orthogonal to the guide channel 210e.

より具体的には、図2に示すように、一本のガイドブロック240には、流体吸気口21a側の端面から導入された試料流体が層流状態に発達するまでの助走距離L(Starting Length、詳細については後述する)だけ離れた位置に特定偏光ビーム導入用開口部220aが設けられ、もう一本のガイドブロック240には、特定偏光ビーム導入用開口部220aと向かい合う位置に散乱光観測用開口部220bが設けられている。そして、それぞれの開口部には導流路密閉用ガラス窓220cを嵌め込むための座繰りが形成されている。これらの開口部に導流路密閉用ガラス窓220cを嵌め込むことで、密閉性の高い導流路210eが形成される。   More specifically, as shown in FIG. 2, one guide block 240 has a running length L (Starting Length) until the sample fluid introduced from the end surface on the fluid inlet 21a side develops into a laminar flow state. The specific polarized beam introducing opening 220a is provided at a position separated by a distance (details will be described later), and the other guide block 240 is provided for observing scattered light at a position facing the specific polarized beam introducing opening 220a. An opening 220b is provided. Each opening is formed with a counterbore for fitting the guide channel sealing glass window 220c. By inserting the glass passage 220c for guiding channel sealing into these openings, the guiding channel 210e having a high sealing property is formed.

導流路密閉用ガラス窓220cの材料としては、特定偏光ビームの光の波長において無反射であるものを用いる。具体的には、導流路210eの内部から試料流体が外部へ漏れないようにし、かつ特定偏光ビームの入出射および散乱光検出がフローチャネル部20の外部から行えるようにするために無反射膜付き光学ガラスなどを用いる。導流路密閉用ガラス窓220cは、特定偏光ビームの損失を防ぐと共に、フローチャネル部20の内部の乱反射を減少させるために必要である。   As the material for the glass window 220c for closing the guide channel, a material that is non-reflective at the wavelength of the light of the specific polarized beam is used. Specifically, a non-reflective film is used to prevent the sample fluid from leaking from the inside of the guide channel 210e and to allow the entrance and exit of the specific polarized beam and the detection of scattered light from the outside of the flow channel section 20. Attached optical glass or the like is used. The glass passage 220c for sealing the guiding channel is necessary for preventing the loss of the specific polarized beam and reducing the irregular reflection inside the flow channel unit 20.

上下の厚板ブロック250a,250bには、粒子配向手段となる特定の断面形状をもつ電極ブロック230a,230bを埋め込むための座繰りが形成され、上部厚板ブロック250aと二本のガイドブロック240との間、および下部厚板ブロック250bと二本のガイドブロック240との間に、それぞれ電極ブロック230a,230bが配置される。上側の電極ブロック230aとの電気的接続は、上部厚板ブロック250aを貫通して電極ブロック230aに達する接触電極端子260aによって行われ、下側の電極ブロック230bとの電気的接続は、下部厚板ブロック250bを貫通して電極ブロック230bに達する接触電極端子260bによって行われる。後述するバイポーラ型直流高圧安定化電源と電極ブロック230a,230bとの間の電気的な接続は、圧着端子などを利用した配線により行われる。   The upper and lower plank blocks 250a and 250b are formed with countersinks for embedding electrode blocks 230a and 230b having a specific cross-sectional shape as particle orientation means, and the upper plank block 250a and the two guide blocks 240 The electrode blocks 230a and 230b are disposed between the lower thick plate block 250b and the two guide blocks 240, respectively. The electrical connection with the upper electrode block 230a is made by the contact electrode terminal 260a that passes through the upper thick plate block 250a and reaches the electrode block 230a, and the electrical connection with the lower electrode block 230b is made with the lower thick plate. The contact electrode terminal 260b passes through the block 250b and reaches the electrode block 230b. Electrical connection between a bipolar DC high-voltage stabilized power source, which will be described later, and the electrode blocks 230a and 230b is performed by wiring using a crimp terminal or the like.

さらに、二本のガイドブロック240を上下の厚板ブロック250a,250bで挟んだ構造の両端部には、フローチャネル部20の流体吸気口21aおよび流体排気口21bとして機能させるために、採気管および排気管を接続するための吸気用継手210cおよび排気用継手210dがそれぞれ固定される。   Furthermore, in order to function as the fluid intake port 21a and the fluid exhaust port 21b of the flow channel unit 20 at both ends of the structure in which the two guide blocks 240 are sandwiched between the upper and lower thick plate blocks 250a and 250b, An intake joint 210c and an exhaust joint 210d for connecting the exhaust pipe are respectively fixed.

このようにして形成されたフローチャネル部20は、被検出対象粒子1を試料流体中に分散させた状態で観測視野内に試料流体を導入するための導流路210eを形成し、かつ被検出対象粒子1の回転対称軸を、二枚の電極ブロック230a,230bにより形成される静電場の方向へと向かせる粒子配向手段を構成している。このフローチャネル部20には、試料流体中に分散した被検出対象粒子1を静電場印加方向へと向かせた状態で、特定の偏光状態にある照射光により照射された観測視野を形成するために、特定偏光ビームの導入用開口部220aならびに散乱光観測用開口部220bが形成されている。   The flow channel section 20 formed in this way forms a guiding channel 210e for introducing the sample fluid into the observation field in a state where the detection target particles 1 are dispersed in the sample fluid, and is also detected. The particle orientation means is configured to orient the rotational symmetry axis of the target particle 1 in the direction of the electrostatic field formed by the two electrode blocks 230a and 230b. In this flow channel section 20, in order to form an observation field irradiated with irradiation light in a specific polarization state in a state where the detection target particles 1 dispersed in the sample fluid are directed in the electrostatic field application direction. In addition, an opening 220a for introducing a specific polarized beam and an opening 220b for scattered light observation are formed.

そして、導流路210eに直交した方向から導入用開口部220aを通して外部の光源より特定偏光を照射することで、試料流体中を分散している被測定対象粒子1による前方散乱光を、散乱光観測用開口部220bを通して観測する。
フローチャネル部20内の導流路210eの断面形状は、一般的には矩形であるが、望ましくは正方形である。正方形にすることで、静電場を印加するための電極ブロック230a,230bの構造を簡単にできるのみならず、後述する助走距離Lを算出する際にも、解析モデルが簡単になって設計が容易になる。
Then, by irradiating the specific polarized light from the external light source through the introduction opening 220a from the direction orthogonal to the guide channel 210e, the forward scattered light by the particles 1 to be measured dispersed in the sample fluid is converted into scattered light. Observation is performed through the observation opening 220b.
The cross-sectional shape of the guide channel 210e in the flow channel portion 20 is generally rectangular, but is preferably square. By making the shape square, not only can the structure of the electrode blocks 230a and 230b for applying an electrostatic field be simplified, but also when calculating the approach distance L described later, the analysis model is simplified and the design is easy. become.

ガイドブロック240の厚さは、繊維状の被検出対象粒子1の向きを揃えるのに必要な静電場の強度により決定される。例えば、ガイドブロック240の厚さを1cmとすると、電場強度1kV/cmの静電場を観測視野内に形成するためには、電極ブロック230a,230bにそれぞれ500Vずつ印加することになる。
また、特定偏光ビーム導入用開口部220aは、ガイドブロック240の流体吸気口21a側の端面から助走距離Lだけ離れた位置に形成される。
The thickness of the guide block 240 is determined by the strength of the electrostatic field necessary to align the directions of the fibrous detection target particles 1. For example, if the thickness of the guide block 240 is 1 cm, 500 V is applied to each of the electrode blocks 230a and 230b in order to form an electrostatic field with an electric field strength of 1 kV / cm in the observation field.
Further, the specific polarized beam introducing opening 220a is formed at a position away from the end face of the guide block 240 on the fluid inlet 21a side by a run-up distance L.

流体吸気口21aよりフローチャネル部20内に導入された試料流体は、通常、吸気管や吸気用継手とフローチャネル部20の断面との不整合に起因して、乱流状態となる。
一般に、ある臨界値以下のレイノルズ数を持つ粘性流体の流れに対しては、フローチャネル部20内に一様乱流状態で導入された試料流体であっても層流状態への遷移が起こり、助走距離Lの間に完全な層流に発展する。
The sample fluid introduced into the flow channel part 20 from the fluid inlet 21 a is normally in a turbulent state due to mismatch between the intake pipe or the intake joint and the cross section of the flow channel part 20.
In general, for a viscous fluid flow having a Reynolds number below a certain critical value, a transition to a laminar flow state occurs even in a sample fluid introduced in a uniform turbulent state in the flow channel section 20, The laminar flow develops during the run-up distance L.

したがって、フローチャネル部20に設けた電極ブロック230a,230bにより特定方向に向けた被検出対象粒子1を観測する際には、この試料流体の入口部分での乱流状態が粒子1の方向を擾乱しない状態で散乱光を観測する必要がある。すなわち、助走距離Lだけ離れた位置で散乱光を観測すれば、乱流という擾乱が粒子計数に与える影響を低減できると期待できる。乱流が粒子計数に与える影響としては、被検出対象粒子1の方向をふらつかせたり、導流路210e中を流れる被検出対象粒子1が電場の空間的不均一性により観測視野から散逸することを助長したりする。そこで、特定偏光ビーム導入用開口部220aを吸気側端部から助走距離Lだけ離れた位置に設けることで、観測視野領域の流れが乱流の影響を受けないようにする。   Therefore, when observing the particle 1 to be detected directed in a specific direction by the electrode blocks 230a and 230b provided in the flow channel unit 20, the turbulent flow state at the inlet portion of the sample fluid disturbs the direction of the particle 1. It is necessary to observe the scattered light in a state where it is not. That is, if the scattered light is observed at a position separated by the run-up distance L, it can be expected that the influence of the disturbance called turbulence on the particle count can be reduced. The influence of the turbulent flow on the particle count is that the direction of the detection target particle 1 is staggered, or the detection target particle 1 flowing in the guide channel 210e is dissipated from the observation field due to the spatial non-uniformity of the electric field. Or to help. Therefore, by providing the specific polarized beam introducing opening 220a at a position away from the intake side end by the run-up distance L, the flow in the observation visual field region is not affected by the turbulent flow.

レイノルズ数Reは、助走距離Lと試料流体の流速Uと試料流体の動粘性計数ν(=μ/ρ、ここで、μは試料流体の静的摩擦係数、ρは試料流体の密度である)により、以下の式(8)により与えられる。
Re=U・L/ν ・・・(8)
The Reynolds number Re is the run distance L, the flow velocity U of the sample fluid, and the kinematic viscosity count ν of the sample fluid (= μ / ρ, where μ is the static friction coefficient of the sample fluid and ρ is the density of the sample fluid). Is given by the following equation (8).
Re = U · L / ν (8)

そして、円筒管に対しては、乱流から層流への遷移が起こる遷移レイノルズ数は2300程度であることが知られており、この遷移レイノルズ数以下であれば、円筒管入口部で強い乱流であっても、助走距離L以降の位置では、流れが発展して層流状態であることが期待できる。なお、遷移レイノルズ数の2300という値は円筒管に対する値であり、本実施の形態の正方形断面の角柱状の導流路210eに対しては、遷移レイノルズ数の値は、管内の壁面の粗さと導入される試料流体の微小な乱れの大きさに影響されることも考慮して、1000程度としている。すなわち、乱流が層流に発展する遷移条件として、遷移レイノルズ数(Re)transが次式(9)を満たすものとして、各種パラメータを適宜設計した。
(Re)trans<1000 ・・・(9)
For a cylindrical tube, it is known that the transition Reynolds number at which a transition from turbulent flow to laminar flow occurs is about 2300. If the transition Reynolds number is less than this, strong turbulence occurs at the cylindrical tube inlet. Even in the case of a flow, at a position after the run-up distance L, it can be expected that the flow develops and is in a laminar flow state. Note that the transition Reynolds number of 2300 is a value for the cylindrical tube, and for the square-shaped guide channel 210e having a square cross section of the present embodiment, the value of the transition Reynolds number is the roughness of the wall surface in the tube. Considering that it is affected by the magnitude of minute disturbance of the sample fluid to be introduced, it is about 1000. That is, as a transition condition for developing a turbulent flow into a laminar flow, various parameters were appropriately designed on the assumption that the transition Reynolds number (Re) trans satisfies the following formula (9).
(Re) trans <1000 (9)

本実施の形態のフローチャネル部20の導流路210eの断面形状並びに特定偏光ビーム導入用開口部220aを設ける助走距離Lの値は、上記印加電場強度の条件と、試料流体のレイノルズ数が遷移レイノルズ数の値以下に保たれる式(9)の条件を満たすように適宜設計した。同時に、試料流体の流速Uについても式(9)で定まる遷移レイノルズ数の値以内に留まるように流量(=流速×導流路210eの断面積)を設定した。   The cross-sectional shape of the guide channel 210e of the flow channel unit 20 of the present embodiment and the value of the run-up distance L provided with the specific polarized beam introducing opening 220a are a transition between the conditions of the applied electric field strength and the Reynolds number of the sample fluid. It was designed appropriately so as to satisfy the condition of Equation (9) that is kept below the Reynolds number. At the same time, the flow rate (= flow velocity × cross-sectional area of the guide channel 210e) was set so that the flow velocity U of the sample fluid also stayed within the value of the transition Reynolds number determined by Equation (9).

特定断面の形状を持つ電極ブロック230a,230bの材料としては、銅などの可塑性の高い金属板材をそのまま、特定断面形状に削り出して用いることも可能であるが、より成形の容易なプラスティックなどの材料の電極側表面に金属を鍍金したり、あるいは金属を直接蒸着するなどしたりして、金属電極としての機能を持たせても良い。必要とする加工精度で所望の断面形状の電極を実現可能な材料であれば、その材質については金属等に限られるものではない。というのは、電極ブロック230a,230bには、その間の導流路210eに導入された被検出対象粒子1の向きを揃えるために静電場を形成すべく試料流体の耐圧限界近傍の高電圧が印加できればよく、試料流体の耐圧以上の高電圧を印加して直流大電流などを流す必要はないからである。   As a material for the electrode blocks 230a and 230b having a specific cross-sectional shape, a highly plastic metal plate material such as copper can be used by cutting it into a specific cross-sectional shape as it is. A function as a metal electrode may be provided by plating a metal on the electrode side surface of the material or by directly depositing a metal. The material is not limited to metal or the like as long as the material can realize an electrode having a desired cross-sectional shape with required processing accuracy. This is because a high voltage in the vicinity of the pressure limit of the sample fluid is applied to the electrode blocks 230a and 230b in order to form an electrostatic field in order to align the direction of the particles 1 to be detected introduced into the conducting flow path 210e therebetween. This is because it is not necessary to apply a high voltage higher than the withstand pressure of the sample fluid to flow a large DC current or the like.

また、電極ブロック230a,230bの導流路側の表面(電極ブロック230aの場合は下面、電極ブロック230bの場合は上面)には、金属層の保護膜として絶縁材が塗布されて、絶縁膜が形成されている。あるいは、電極ブロック230a,230bの表面に絶縁性の金属酸化物を形成してもよい。こうして、電極ブロック230a,230bの導流路側の表面に絶縁膜を形成することで、電極表面に付着した微粒子が電極と同極性に帯電してクーロン反発して再飛散し、対向電極ブロック側へ突入し対向電極ブロックの表面に付着することを回避することができる。   Further, an insulating material is formed on the surface of the electrode blocks 230a and 230b on the side of the conducting channel (the lower surface in the case of the electrode block 230a, the upper surface in the case of the electrode block 230b) as a protective film for the metal layer. Has been. Alternatively, an insulating metal oxide may be formed on the surfaces of the electrode blocks 230a and 230b. In this way, by forming an insulating film on the surface of the electrode blocks 230a and 230b on the conducting flow path side, the fine particles adhering to the electrode surface are charged with the same polarity as the electrode, repelled by coulomb rebound, and moved to the counter electrode block side. It is possible to avoid rushing and adhering to the surface of the counter electrode block.

次に、上下の厚板ブロック250a,250b並びにガイドブロック240の材料としては、絶縁耐圧が試料流体(例えば大気)の絶縁破壊電場強度10kV/cmに耐え得るものであれば、成形の容易なプラスティックを利用することも可能である。一般的には、マシナブル・セラミックス(研削可能なセラミック材料)を用いることが望ましい。搾孔、研削などの加工の後に焼結するエンジニアリング・セラミックスを利用することも可能である。   Next, as materials for the upper and lower thick plate blocks 250a and 250b and the guide block 240, as long as the withstand voltage can withstand the breakdown electric field strength of 10 kV / cm of the sample fluid (for example, the atmosphere), a plastic that can be easily formed is used. It is also possible to use. In general, it is desirable to use machinable ceramics (grindable ceramic material). It is also possible to use engineering ceramics that sinter after processing such as punching and grinding.

何れの材料を用いる場合も、導流路210eを形成するガイドブロック240の内壁部と特定偏光ビーム導入用開口部220aおよび散乱光観測用開口部220bの内壁面には、黒色を焼き付け塗装するか、光吸収率の高い塗料などを塗布する等して、観測視野内部と偏光ビームおよび散乱光の通過する部分の乱反射光を減少させる必要がある。あるいは、ガイドブロック240および厚板ブロック250a,250bの材料として、元々黒色のエンジニアリング・セラミックスを利用してもよい。これにより、本実施の形態では、観測視野部分の乱反射を低くすることができるので、微弱な散乱光まで検出可能となり、粒径の小さな粒子など散乱光強度の弱い微小粒子の検出および形状識別が可能となる。   Whichever material is used, black is baked or painted on the inner wall of the guide block 240 that forms the guiding channel 210e, the inner wall of the specific polarized beam introduction opening 220a, and the scattered light observation opening 220b. It is necessary to reduce the diffusely reflected light in the observation field and in the part through which the polarized beam and scattered light pass by applying a paint having a high light absorption rate. Alternatively, originally black engineering ceramics may be used as the material of the guide block 240 and the thick plate blocks 250a and 250b. As a result, in this embodiment, irregular reflection in the observation field can be reduced, so that even weak scattered light can be detected, and detection and shape identification of small particles having low scattered light intensity, such as particles having a small particle size, can be performed. It becomes possible.

図3は、特定の散乱角で散乱光を検出することにより、形状の異なる粒子の識別を可能にする本実施の形態の原理を説明するための図であり、球状粒子および無限に長い円柱状粒子による散乱光のうち前方散乱に近い散乱角10度での散乱光の偏光度(偏光の大きさ)と粒子半径との関係を示す図である。図3において、Sは球状粒子の特性、Cは円柱状粒子の特性である。   FIG. 3 is a diagram for explaining the principle of the present embodiment that enables identification of particles having different shapes by detecting scattered light at a specific scattering angle, and shows spherical particles and an infinitely long cylindrical shape. It is a figure which shows the relationship between the polarization degree (polarization magnitude | size) of a scattered light and the particle radius at the scattering angle 10 degree | times close | similar to a forward scattering among the scattered lights by particle | grains. In FIG. 3, S is the characteristic of spherical particles, and C is the characteristic of cylindrical particles.

この図3は、屈折率1.55の物質の球状粒子および無限に長い円柱状粒子による散乱光の偏光度を、種々の粒子半径について散乱角10度で散乱理論に基づき導出したものである。偏光度を導出した光の波長は、識別対象粒子の半径よりも長い1.55μmである。図3では、偏光度の数値が正の方向にいくほど散乱平面に対して垂直偏光の度合いが強くなり、+1で完全に垂直偏光のみとなる。他方、偏光度の数値が負の方向にいくほど散乱平面に対して水平偏光の度合いが強くなり、−1で完全に水平偏光のみとなる。   FIG. 3 shows the degree of polarization of light scattered by spherical particles and an infinitely long cylindrical particle having a refractive index of 1.55, based on the scattering theory with a scattering angle of 10 degrees for various particle radii. The wavelength of light from which the degree of polarization is derived is 1.55 μm, which is longer than the radius of the identification target particle. In FIG. 3, as the value of the degree of polarization increases in the positive direction, the degree of vertical polarization increases with respect to the scattering plane, and +1 is completely vertical polarization only. On the other hand, as the value of the degree of polarization goes in the negative direction, the degree of horizontal polarization increases with respect to the scattering plane.

図4は、z軸方向に無限に長い円柱に単一波長の直線偏光をx軸方向より照射した時の光散乱現象を説明するための図であり、図3を導出する際に用いた配置図である。ここでは、直線偏光の偏光面が散乱平面の法線に対する角をφとする。図4は、直線偏光の入射光により照射される無限に長い円柱100を座標系の原点に置いた場合の、円柱に対する入射電場E(i)および散乱電場E(s)を含む三次元座標系を示している。また、図4は、入射光と散乱光とを含む散乱平面5(xy平面)に対する入射電場の垂直成分Ever (i)および散乱電場の垂直成分Ever (s)と入射電場の平行(水平)成分Epar (i)および散乱電場の平行成分Epar (s)、並びに散乱角θを示している。単一波長の直線偏光は、x軸に沿って原点にある円柱100の方向へ直進し、円柱100において散乱するが、散乱平面5上においてその散乱光のx軸からの角度を散乱角θと定義する。散乱光は、この散乱角θの方向の延長線上に配置された検出器により検出される。 FIG. 4 is a diagram for explaining the light scattering phenomenon when a linearly polarized light having a single wavelength is irradiated from the x-axis direction onto a cylinder that is infinitely long in the z-axis direction, and is an arrangement used to derive FIG. FIG. Here, the angle of the polarization plane of linearly polarized light with respect to the normal of the scattering plane is φ. FIG. 4 shows a three-dimensional coordinate system including an incident electric field E (i) and a scattered electric field E (s) with respect to a cylinder when an infinitely long cylinder 100 irradiated with linearly polarized incident light is placed at the origin of the coordinate system. Is shown. FIG. 4 shows the vertical component E ver (i) of the incident electric field with respect to the scattering plane 5 (xy plane) including incident light and scattered light, and the parallel (horizontal ) of the vertical component E ver (s) of the scattered electric field and the incident electric field. ) The component E par (i), the parallel component E par (s) of the scattered electric field, and the scattering angle θ are shown. The linearly polarized light of a single wavelength goes straight along the x axis in the direction of the cylinder 100 at the origin, and is scattered in the cylinder 100. On the scattering plane 5, the angle of the scattered light from the x axis is the scattering angle θ. Define. Scattered light is detected by a detector arranged on an extension line in the direction of the scattering angle θ.

θを散乱角、φを散乱平面5の鉛直方向を基準とした入射光の偏光面の回転角とすると、散乱平面5の鉛直方向を向いた円柱100の軸に平行な電場成分Ever (i),Ever (s)に対する振幅散乱行列の対角成分Tver(θ,φ)と円柱100の軸に垂直な電場成分Epar (i),Epar (s)に対する振幅散乱行列の対角成分Tpar(θ,φ)により、円柱状粒子による散乱光の偏光度Pは次式のように定義される物理量である。
P=(|Tver2−|Tpar2)/(|Tver2+|Tpar2
=(Iver−Ipar)/(Iver+Ipar) ・・・(10)
When θ is the scattering angle and φ is the rotation angle of the polarization plane of the incident light with respect to the vertical direction of the scattering plane 5, the electric field component E ver (i ) , E ver (s), the diagonal component of the amplitude scattering matrix T ver (θ, φ) and the electric field components perpendicular to the axis of the cylinder 100, E par (i) , diagonal of the amplitude scattering matrix, for E par (s) Due to the component T par (θ, φ), the degree of polarization P of the scattered light from the cylindrical particles is a physical quantity defined as follows.
P = (| T ver | 2 − | T par | 2 ) / (| T ver | 2 + | T par | 2 )
= (I ver -I par ) / (I ver + I par ) (10)

球状粒子による散乱に対しては、式(10)の偏光度Pの計算式において、Tver(θ,φ)とTpar(θ,φ)を、それぞれ球に対する振幅散乱行列の対角成分Sver(θ,φ)とSpar(θ,φ)に置き換えればよい。
式(10)において、Iver=|Ever (s)2は散乱平面5に垂直な散乱電場の強度(垂直偏光散乱光の強度)、Ipar=|Epar (s)2は散乱平面5に平行な散乱電場の強度(水平偏光散乱光の強度)である。(Iver+Ipar)は散乱光の垂直偏光成分と水平偏光成分の和であるから、全散乱光強度である。(Iver−Ipar)は散乱光を垂直偏光成分と水平偏光成分に分離した際に、垂直偏光成分と水平偏光成分の差分を表す量となっている。
For scattering by spherical particles, T ver (θ, φ) and T par (θ, φ) in the calculation formula for the degree of polarization P in equation (10) are respectively the diagonal components S of the amplitude scattering matrix for the sphere. What is necessary is just to replace with ver (θ, φ) and S par (θ, φ).
In the formula (10), I ver = | E ver (s) | 2 is the intensity of the perpendicular scattered electric field the scattering plane 5 (intensity of the vertically polarized light scattered light), I par = | E par (s) | 2 is the scattering The intensity of the scattered electric field parallel to the plane 5 (the intensity of the horizontally polarized scattered light). Since (I ver + I par ) is the sum of the vertical polarization component and the horizontal polarization component of the scattered light, it is the total scattered light intensity. (I ver −I par ) is an amount representing the difference between the vertical polarization component and the horizontal polarization component when the scattered light is separated into the vertical polarization component and the horizontal polarization component.

光の散乱理論によれば、球状の散乱粒子に対する振幅散乱行列の対角成分Sver(θ,φ)とSpar(θ,φ)により、散乱光強度Iver,Iparは、入射光の垂直偏光成分の強度をIV0=|Ever (i)2、入射光の水平偏光成分の強度をIP0=|Epar (i)2とすると、次式により表すことができる。
ver=IV0[Sver(θ,φ)]2/(kr)2 ・・・(11a)
par=IP0[Spar(θ,φ)]2/(kr)2 ・・・(11b)
According to the light scattering theory, the scattered light intensities I ver and I par of the incident light are expressed by the diagonal components S ver (θ, φ) and S par (θ, φ) of the spherical scattering particle. If the intensity of the vertical polarization component is I V0 = | E ver (i) | 2 , and the intensity of the horizontal polarization component of the incident light is I P0 = | E par (i) | 2 , it can be expressed by the following equation.
I ver = I V0 [S ver (θ, φ)] 2 / (kr) 2 (11a)
I par = I P0 [S par (θ, φ)] 2 / (kr) 2 (11b)

ここで、λを入射光の波長とするとき、kはk=2π/λで定義される波数、rは散乱体である球あるいは円柱と検出器との間の距離である。振幅散乱行列の各成分SやTの具本的な数式については、電磁波散乱の文献「M.Born and E.Wolf,“Principles of Optics”,2nd edition,1964,Pergamon,Oxford,Capter XIII,p.635-664」、「“光学の原理3”,2006,東海大学出版会,第14章 金属光学,§14.5 伝導球による回折:Mieの理論」、「H.C.van de Hulst,“Light Scattering by Small Particles”,1957,John Wiley & Sons,New York,Chapter 9,p.114-130」、あるいは「J.D.ジャクソン,原書第3版,“電磁気学(下)”,西田稔訳,2003,吉岡書店,第10章 散乱と回折,§10.4 球による電磁波の散乱,p.700-707」などに詳細に記載されている。   Here, when λ is the wavelength of incident light, k is a wave number defined by k = 2π / λ, and r is a distance between a sphere or cylinder as a scatterer and a detector. For concrete formulas of each component S and T of the amplitude scattering matrix, see the electromagnetic scattering document “M. Born and E. Wolf,“ Principles of Optics ”, 2nd edition, 1964, Pergamon, Oxford, Capter XIII, p. .635-664 "," Principle of optics 3 ", 2006, Tokai University Press, Chapter 14 Metal optics, §14.5 Diffraction by conducting sphere: Mie's theory," HCvan de Hulst, "Light Scattering by Small Particles ”, 1957, John Wiley & Sons, New York, Chapter 9, p. 114-130, or“ JD Jackson, Original 3rd Edition, “Electromagnetism (bottom)”, Kei Nishida, 2003, Yoshioka Bookstore, Chapter 10, Scattering and Diffraction, § 10.4 Scattering of electromagnetic waves by a sphere, p.700-707 ”.

ところで、有限長さdの円柱状粒子に対しては、その散乱光を充分に遠方にある検出器により観測する場合、円柱状粒子から検出器までの距離rがr>>d2/λの条件を満たすので、上記の振幅散乱行列の対角成分の間を互いに以下の関係で結びつけることができる。
ver(θ,φ)=(kd/π)E(kdφ/2)Tver(θ,φ) ・・・(12)
ここで、E(z)は球ベッセル関数j0(z)=sin(z)/zである。式(12)は、無限に長い円柱による散乱光を、有限長さ単スリットからのフラウンホーファ回折パターンを表す関数で強度変調していることに相当している。
球による散乱光の水平偏光成分Spar(θ,φ)と円柱による散乱光の水平偏光成分Tpar(θ,φ)との間にも同様の関係が成立する。
By the way, for a cylindrical particle having a finite length d, when the scattered light is observed by a detector sufficiently far away, the distance r from the cylindrical particle to the detector is r >> d 2 / λ. Since the condition is satisfied, the diagonal components of the amplitude scattering matrix can be linked to each other in the following relationship.
S ver (θ, φ) = (kd / π) E (kdφ / 2) T ver (θ, φ) (12)
Here, E (z) is a spherical Bessel function j 0 (z) = sin (z) / z. Equation (12) corresponds to the intensity modulation of the scattered light from an infinitely long cylinder with a function representing the Fraunhofer diffraction pattern from a single slit of finite length.
A similar relationship holds between the horizontal polarization component S par (θ, φ) of the scattered light from the sphere and the horizontal polarization component T par (θ, φ) of the scattered light from the cylinder.

そこで、有限長さの円柱状粒子による散乱強度の、例えば垂直偏光成分は、式(12)を式(11)に代入することにより、次式のように与えられる。
ver=IV0(d/πr)2・[E(kdφ/2)・Tver(θ,φ)]2
・・・(13)
水平偏光成分についても同様である。ここで重要なことは、円柱状粒子による散乱強度の最終的な式(13)の中に、円柱状粒子の長さがd2、すなわち二乗の形で含まれていることである。これは、散乱光の強度が、円柱状粒子の長さの二乗と共に強くなることを意味している。
Therefore, for example, the vertical polarization component of the scattering intensity by the cylindrical particles having a finite length is given by the following equation by substituting equation (12) into equation (11).
I ver = I V0 (d / πr) 2 · [E (kdφ / 2) · T ver (θ, φ)] 2
(13)
The same applies to the horizontal polarization component. What is important here is that the length of the cylindrical particles is included in the final expression (13) of the scattering intensity by the cylindrical particles in the form of d 2 , that is, a square. This means that the intensity of the scattered light increases with the square of the length of the cylindrical particles.

ところで、大きい半径の球状粒子や軸方向長さdの長い円柱状粒子は重力沈降により空気中に浮遊できないため、浮遊している粒子の粒子半径は10μm以下のものが多い。そのうち、特に個数濃度で多数分布しているのは球状粒子では半径1μm以下の粒子である。他方、アスベストのような繊維状粒子の場合、特に人体に有害とされるのは直径が3μm以下(長さdは5μm以上)のものとされている。   By the way, since spherical particles having a large radius or cylindrical particles having a long axial length d cannot float in the air due to gravity sedimentation, the particle radius of the floating particles is often 10 μm or less. Among them, the particles having a radius of 1 μm or less are particularly distributed among the spherical particles, which are distributed in a large number concentration. On the other hand, in the case of fibrous particles such as asbestos, those that are particularly harmful to the human body are those having a diameter of 3 μm or less (length d is 5 μm or more).

図3において、このような半径1μm以下の粒子について見ると、散乱角10度という散乱角での散乱光の偏光状態は、球状粒子の場合はほぼ無偏光状態に近く、他方、円柱状粒子の場合は垂直偏光成分が多くなる。つまり、円柱状粒子による散乱光は、円柱軸方向に電気ベクトルが振動する垂直偏光成分を多く含む。このような散乱光の偏光度の違いから、形状の異なる球状粒子と円柱状粒子の識別が可能となる。また、散乱光の強度から、円柱状粒子であればその長さを求めることができ、球状粒子であれば半径を求めることができる。   In FIG. 3, when looking at such particles having a radius of 1 μm or less, the polarization state of the scattered light at a scattering angle of 10 degrees is almost non-polarized in the case of spherical particles, while In this case, the vertical polarization component increases. That is, the scattered light from the columnar particles contains a large amount of vertically polarized components whose electric vectors vibrate in the cylinder axis direction. From the difference in the degree of polarization of the scattered light, it is possible to distinguish between spherical particles and cylindrical particles having different shapes. Further, from the intensity of scattered light, the length can be obtained for cylindrical particles, and the radius can be obtained for spherical particles.

なお、図3では、入射光の波長として1.55μmのものを利用したため、球状粒子と円柱状粒子の識別可能な粒子半径が略1μm以下のものに制限されたが、波長のより長い光源を利用することにより、識別可能な粒子の半径をより大きくできることは言うまでもない。この図3に示す特性は、発明者が光の散乱理論に基づき見い出した事実である。   In FIG. 3, since the wavelength of incident light is 1.55 μm, the identifiable particle radius between spherical particles and cylindrical particles is limited to about 1 μm or less, but a light source having a longer wavelength is used. It goes without saying that the radius of the particles that can be identified can be made larger by using them. The characteristics shown in FIG. 3 are facts found by the inventors based on the light scattering theory.

図5は、本実施の形態の浮遊粒子状物質測定装置の検出器40の概略構成を示す図である。図5は、被検出対象粒子1に特定偏光ビームを照射した状態を示している。被検出対象粒子1の導入手段と粒子配向手段2とを構成するフローチャネル部は、図1、図2の構成に基づくものである。   FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of the detector 40 of the suspended particulate matter measuring device of the present embodiment. FIG. 5 shows a state in which the specific target particle 1 is irradiated with the specific polarized beam. The flow channel part that constitutes the introduction means for the particles to be detected 1 and the particle orientation means 2 is based on the structure shown in FIGS.

被検出対象粒子1は、粒子配向手段2によって、すでにその主軸が散乱平面5の法線VERの方向に揃えられている。粒子配向手段2は、被検出対象粒子1の主軸を、光源3と被検出対象粒子1と偏光型ビームスプリッタプリズム6とによって定義される散乱平面5の法線VER方向に揃える手段であり、本実施の形態では、図1、図2に示したフローチャネル部20の電極ブロック230a,230bと後述するバイポーラ型直流高圧安定化電源とからなるものを想定している。   The main axes of the detection target particles 1 are already aligned in the direction of the normal VER of the scattering plane 5 by the particle orientation unit 2. The particle orientation means 2 is a means for aligning the principal axis of the detection target particle 1 with the normal VER direction of the scattering plane 5 defined by the light source 3, the detection target particle 1, and the polarization beam splitter prism 6. In the embodiment, it is assumed that the flow channel unit 20 shown in FIGS. 1 and 2 includes electrode blocks 230a and 230b and a bipolar DC high-voltage stabilized power source described later.

本実施の形態では、光源3からの射出光を、散乱平面5に対してその偏光面が45度傾いた直線偏光としている。その理由は、光源3から射出された直線偏光が被検出対象粒子1に対して入射する際に、垂直偏光成分と水平偏光成分とが等しい強度となるようにするためである。
垂直偏光成分と水平偏光成分とが等しい強度となる光源としては、レーザに代表される直線偏光射出光源の他に、白熱ランプや発光ダイオード(Light Emitting Diode)等の非偏光状態の光源も利用可能である。非偏光状態の光源を利用する場合には、被検出対象粒子1に光ビームを照射する前に、光源からの光を波長フィルタに通して、入射光の最小波長を確定する必要がある。
In the present embodiment, the light emitted from the light source 3 is linearly polarized light whose polarization plane is inclined by 45 degrees with respect to the scattering plane 5. The reason is that when the linearly polarized light emitted from the light source 3 enters the detection target particle 1, the vertical polarization component and the horizontal polarization component have the same intensity.
In addition to linearly polarized light sources such as lasers, non-polarized light sources such as incandescent lamps and light-emitting diodes (Light Emitting Diodes) can be used as light sources with equal vertical and horizontal polarization components. It is. When a non-polarized light source is used, it is necessary to determine the minimum wavelength of incident light by passing light from the light source through a wavelength filter before irradiating the detection target particle 1 with a light beam.

また、直線偏光や非偏光の光源の代わりに、円偏光を射出する光源3を用いることもできる。円偏光を射出するには、直線偏光を射出するガスレーザや半導体レーザダイオード等の直線偏光射出手段と1/4波長板とコリメート光学系とが光源3の構成要素となる。直線偏光射出手段からの直線偏光の偏光面を散乱平面5に対して45度に傾け、この直線偏光を1/4波長板に通し、さらにコリメート光学系を透過させることによって、円偏光を被検出対象粒子1に照射する。   Moreover, the light source 3 which inject | emits circularly polarized light can also be used instead of a linearly polarized light or a non-polarized light source. In order to emit circularly polarized light, linearly polarized light emitting means such as a gas laser or semiconductor laser diode that emits linearly polarized light, a quarter-wave plate, and a collimating optical system are components of the light source 3. Circularly polarized light is detected by tilting the plane of polarization of linearly polarized light from the linearly polarized light emitting means at 45 degrees with respect to the scattering plane 5, passing this linearly polarized light through a quarter-wave plate, and further transmitting through a collimating optical system. The target particle 1 is irradiated.

なお、図3に例示したように、波長1.55μmの通信波長帯域のレーザだけに限定されるものではなく、他の波長のレーザやインコヒーレントな光源を用いた場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られることは明らかであることはいうまでもない。   As illustrated in FIG. 3, the present embodiment is not limited to the laser having a wavelength of 1.55 μm, and the present embodiment is also applicable to a case where a laser having another wavelength or an incoherent light source is used. Needless to say, it is obvious that the same effect can be obtained.

光源3からの射出光は、被検出対象粒子1の主軸に対して直角な方向から被検出対象粒子1に入射する。この入射光は被検出対象粒子1が円柱状粒子である場合、円柱軸に平行な成分(散乱平面5に対しては垂直偏光成分)と円柱軸に垂直な成分(散乱平面5に対しては水平偏光成分)がそれぞれ違ってくる。なお、以後は、散乱平面5を基準に「垂直」、「水平」を特定する。ここで、一定の角度、特に浅角前方散乱に近い散乱角θ=略10度での散乱光に着目する。   Light emitted from the light source 3 enters the detection target particle 1 from a direction perpendicular to the main axis of the detection target particle 1. When the detection target particle 1 is a cylindrical particle, the incident light includes a component parallel to the cylinder axis (vertical polarization component for the scattering plane 5) and a component perpendicular to the cylinder axis (for the scattering plane 5). The horizontal polarization component is different. Hereinafter, “vertical” and “horizontal” are specified based on the scattering plane 5. Here, attention is focused on scattered light at a certain angle, particularly at a scattering angle θ = approximately 10 degrees close to shallow-angle forward scattering.

その散乱光は、図5に示すように、偏光型ビームスプリッタプリズム6に導かれ、垂直偏光成分と水平偏光成分とに1:1の割合で分割される。受光部4aは分割された垂直偏光成分の強度を検出し、受光部4bは水平偏光成分の強度を検出する。
受光部4a,4bは、入射した散乱光を電気信号に変換する素子であり、光電子倍増管、アバランシェフォトダイオード、固体接合光ダイオード、半導体フォトダイオードの何れか一つが考えられる。
As shown in FIG. 5, the scattered light is guided to the polarization beam splitter prism 6 and is divided into a vertical polarization component and a horizontal polarization component at a ratio of 1: 1. The light receiving unit 4a detects the intensity of the divided vertical polarization component, and the light receiving unit 4b detects the intensity of the horizontal polarization component.
The light receiving portions 4a and 4b are elements that convert incident scattered light into an electrical signal, and any one of a photomultiplier tube, an avalanche photodiode, a solid-state junction photodiode, and a semiconductor photodiode can be considered.

図3に示すように、円柱状粒子による散乱光には垂直偏光成分が多く、これに対して球状粒子による散乱光は無偏光状態である。したがって、非偏光、あるいは偏光面が散乱平面5に対して45度傾いた直線偏光ないしは円偏光が被検出対象粒子1に入射すると、被検出対象粒子1が円柱状粒子の場合、受光部4aで検出される垂直偏光成分の強度が、受光部4bで検出される水平偏光成分の強度よりも大きくなる。一方、被検出対象粒子1が球状粒子である場合は、受光部4aで検出される垂直偏光成分の強度も受光部4bで検出される水平偏光成分の強度もほぼ等しい強度で検出される。   As shown in FIG. 3, the light scattered by the cylindrical particles has many vertically polarized components, whereas the light scattered by the spherical particles is in an unpolarized state. Therefore, when non-polarized light or linearly polarized light or circularly polarized light whose polarization plane is inclined by 45 degrees with respect to the scattering plane 5 is incident on the detection target particle 1, when the detection target particle 1 is a cylindrical particle, the light receiving unit 4 a The detected intensity of the vertically polarized component is greater than the intensity of the horizontally polarized component detected by the light receiving unit 4b. On the other hand, when the detection target particle 1 is a spherical particle, the intensity of the vertical polarization component detected by the light receiving unit 4a and the intensity of the horizontal polarization component detected by the light receiving unit 4b are detected with substantially the same intensity.

こうして、偏光面が散乱平面5に対して45度傾いた直線偏光の光や非偏光、あるいは円偏光を被検出対象粒子1に照射し、その散乱光の垂直偏光成分の強度と水平偏光成分の強度とを同時に計測すると、垂直偏光成分と水平偏光成分との強度比から球状粒子か円柱状粒子かの識別が可能である。以上が、本実施の形態の浮遊粒子状物質測定装置による粒子形状識別の原理である。   In this way, linearly polarized light, non-polarized light, or circularly polarized light whose polarization plane is inclined by 45 degrees with respect to the scattering plane 5 is irradiated to the particle 1 to be detected, and the intensity of the vertical polarization component and the horizontal polarization component of the scattered light. When the intensity is measured simultaneously, it is possible to identify whether the particle is a spherical particle or a cylindrical particle from the intensity ratio between the vertical polarization component and the horizontal polarization component. The above is the principle of particle shape identification by the suspended particulate matter measuring device of the present embodiment.

なお、入射光ビームの波長は、識別したい球状粒子の半径よりも長くてもよいが、円柱状粒子の軸方向の長さに比較して短くしておく。入射光の波長が円柱状粒子の軸方向の長さdよりも長いと、円柱状粒子も球状粒子と同様なレイリー(Rayleigh)散乱をするようになるため、本実施の形態の基本となる粒子形状識別原理が適用できなくなる。   The wavelength of the incident light beam may be longer than the radius of the spherical particle to be identified, but is shorter than the axial length of the cylindrical particle. If the wavelength of the incident light is longer than the axial length d of the cylindrical particles, the cylindrical particles also scatter the same Rayleigh scattering as the spherical particles. The shape identification principle cannot be applied.

すなわち、形状の識別における光源波長λへの制約について述べると、波長λ(あるいは、波長に中心値λ0から有限の幅±Δ/2がある際にはその最小波長λmin=λ0−Δ/2)は、識別対象とする球状粒子あるいは円柱状粒子の半径よりも長い必要がある。さらに、有限長さdの円柱状粒子に対して、式(12)を導く際に仮定したr>>d2/λの条件を満足させるためには、波長λ(あるいは、その最大波長λmax=λ0+Δ/2)は、同時に、円柱状粒子の長さdよりも短く設定しておく必要がある。 That is, the restriction on the light source wavelength λ in shape identification will be described. The wavelength λ (or the minimum wavelength λ min = λ 0 −Δ when the wavelength has a finite width ± Δ / 2 from the central value λ 0). / 2) needs to be longer than the radius of the spherical particle or cylindrical particle to be identified. Furthermore, for a cylindrical particle of finite length d, in order to satisfy the condition of r >> d 2 / λ assumed when the equation (12) is derived, the wavelength λ (or its maximum wavelength λ max = Λ 0 + Δ / 2) must be set shorter than the length d of the cylindrical particles at the same time.

[第2の実施の形態]
図6(A)、図6(B)は本発明の第2の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部20において電極ブロック230a,230bを平行平板形状とした場合の電場ベクトル分布および力ベクトル分布を示す図である。すなわち、図6(A)は平行な二枚の電極ブロック230a,230bにより生成される電場ベクトル分布を示す図、図6(B)は電場ベクトル内で誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。なお、図6(A)、図6(B)は、試料流体が流れる方向と垂直な断面のうち導流路210eの中心から右側半分のみを示している。
[Second Embodiment]
FIGS. 6A and 6B show electric field vectors when the electrode blocks 230a and 230b are parallel plate shapes in the flow channel unit 20 of the suspended particulate matter measuring device according to the second embodiment of the present invention. It is a figure which shows distribution and force vector distribution. 6A shows an electric field vector distribution generated by two parallel electrode blocks 230a and 230b, and FIG. 6B shows a force vector acting on an electric dipole that is dielectrically polarized in the electric field vector. It is a figure which shows distribution. 6A and 6B show only the right half from the center of the guide channel 210e in the cross section perpendicular to the direction in which the sample fluid flows.

図6(A)より、上下の電極ブロック230aと230b間には、電極端部を除けば、一様な静電場が形成されており、誘電分極して電気双極子となった繊維状の被検出対象粒子1をこの一様電場中で上下方向に向けるように作用することが分かる。一方、電極ブロック230a,230bの端部では、電気力線の回り込み並びに集中が起きている。
図6(B)は、電極ブロック230aと230b間の静電場中に導入された粒子に作用する力ベクトルを示している。ただし、この静電場中に電気的に中性な粒子が導入されても、強い静電場によって直ちに誘電分極が起こり、静電場中の粒子は電気双極子となる。そして、粒子は前記式(6)で記載されたトルクを受けて、静電場内で回転して、電場印加方向を向く。
As shown in FIG. 6A, a uniform electrostatic field is formed between the upper and lower electrode blocks 230a and 230b, except for the electrode ends. It can be seen that the detection target particle 1 acts so as to be directed vertically in this uniform electric field. On the other hand, electric lines of force wrap around and concentrate at the ends of the electrode blocks 230a and 230b.
FIG. 6B shows force vectors acting on particles introduced into the electrostatic field between the electrode blocks 230a and 230b. However, even if electrically neutral particles are introduced into the electrostatic field, dielectric polarization immediately occurs due to the strong electrostatic field, and the particles in the electrostatic field become electric dipoles. Then, the particles receive the torque described in the formula (6), rotate in the electrostatic field, and face the electric field application direction.

一般に、不均一電場中に導入された電気双極子には、双極子全体を移動させるようにも電気力が作用する。図6(B)から分かるように、電極ブロック230aと230bとの間の中心部近傍では完全に一様な静電場が形成されているので、不均一電場に起因する電気双極子への力はない。一方、電極ブロック230a,230bの端部では電気力線の回り込み並びに集中が起きていて、電場強度が不均一となっており、そのような場所では、電気双極子には電極端部へ引き寄せる力が強く作用する。   In general, an electric force acts on an electric dipole introduced into a non-uniform electric field so as to move the entire dipole. As can be seen from FIG. 6B, since a completely uniform electrostatic field is formed near the center between the electrode blocks 230a and 230b, the force on the electric dipole due to the non-uniform electric field is Absent. On the other hand, the electric field lines wrap around and concentrate at the ends of the electrode blocks 230a and 230b, and the electric field strength is non-uniform. In such a place, the electric dipole attracts the electrode ends. Works strongly.

このような電場が集中する電極端部を回避して、一様な静電場中を被検出対象粒子1を観測視野まで導く導流路210eを形成するためには、電極ブロック230a,230bの幅を導流路210eの幅よりも略3倍程度広くする必要がある。そして、上下の厚板ブロック250a,250bに設けた座繰りに、それぞれ電極ブロック230a,230bを埋め込み、この厚板ブロック250a,250bによってガイドブロック240を挟み込むことで、導流路210eを形成する。   In order to avoid the electrode end portion where the electric field is concentrated and to form the conducting channel 210e for guiding the detection target particle 1 to the observation visual field in the uniform electrostatic field, the width of the electrode blocks 230a and 230b is used. Needs to be approximately three times wider than the width of the guide channel 210e. Then, the electrode blocks 230a and 230b are embedded in the countersinks provided in the upper and lower thick plate blocks 250a and 250b, respectively, and the guide block 240 is sandwiched between the thick plate blocks 250a and 250b, thereby forming the guide channel 210e.

電極ブロック230a,230bの導流路側の表面(電極ブロック230aの場合は下面、電極ブロック230bの場合は上面)には、絶縁材が塗布されて、絶縁膜が形成されている。あるいは、電極ブロック230a,230bの表面に絶縁性の金属酸化物を形成してもよい。こうして、電極ブロック230a,230bの導流路側の表面に絶縁膜を形成することで、電極表面に付着した微粒子が電極と同極性に帯電してクーロン反発して再飛散し、対向電極側へ突入し対向電極面に付着することを回避することができる。   An insulating material is formed on the surface of the electrode blocks 230a and 230b on the conducting channel side (the lower surface in the case of the electrode block 230a, the upper surface in the case of the electrode block 230b), and an insulating film is formed. Alternatively, an insulating metal oxide may be formed on the surfaces of the electrode blocks 230a and 230b. In this way, by forming an insulating film on the surface of the electrode blocks 230a and 230b on the conducting flow path side, the fine particles adhering to the electrode surface are charged with the same polarity as the electrode, repelled by coulomb rebound, and entered the counter electrode side. And it can avoid adhering to a counter electrode surface.

対向する二枚の電極ブロック230a,230bには、後述するパイポーラ型直流高電圧電源より正負の電圧をそれぞれ印加することによって、電場強度として1kV/cmから5kV/cm程度の静電場を発生させる。このような電場中に被検出対象粒子1を導入すると、電気的に中性であった被検出対象粒子1は、高圧電場によって直ちに誘電分極する。被検出対象粒子1が球状粒子の場合には、誘電分極によってもその粒子の軸が回転することはない。   An electrostatic field with an electric field strength of about 1 kV / cm to 5 kV / cm is generated by applying positive and negative voltages to the two opposing electrode blocks 230a and 230b from a later-described bipolar type DC high-voltage power supply. When the detection target particle 1 is introduced into such an electric field, the detection target particle 1 that is electrically neutral is immediately dielectrically polarized by the high piezoelectric field. When the particle 1 to be detected is a spherical particle, the axis of the particle is not rotated even by dielectric polarization.

一方、被検出対象粒子1が繊維状の場合には、誘電分極によって発生した正電荷と負電荷がそれぞれ負側電極と正側電極へと引き付けられる結果、被検出対象粒子1は円柱状粒子に変形し、その回転対称軸が電気力線方向へ向くように回転モーメント力(式(6)参照)が作用する。この結果、繊維状の被検出対象粒子1は引伸ばされて円柱状粒子に変形し、その軸は印加されている静電場方向に向きが揃う。   On the other hand, when the particle 1 to be detected is fibrous, the positive and negative charges generated by dielectric polarization are attracted to the negative electrode and the positive electrode, respectively. As a result, the particle 1 to be detected becomes a cylindrical particle. A rotational moment force (see equation (6)) acts so that the axis of rotation is deformed and the axis of rotational symmetry is directed in the direction of the electric force line. As a result, the fibrous particles 1 to be detected are stretched and deformed into columnar particles, and their axes are aligned in the direction of the applied electrostatic field.

平行平板形状の電極ブロック230a,230bにより、フローチャネル部20の導流路210eを電極端から離して構成すれぱ、電極端部の電気力線集中に起因する不均一電場による影響は僅かになり、導入された被検出対象粒子1をチャネル中央から引き離して散逸させるようなカは作用しない。すなわち、この構成では、導流路210eの観測領域にある被検出対象粒子1は、電場印加方向に向いた状態で、試料流体中にほぼ一様に分布していると言える。したがって、式(3)を導く際の計数の前提となっている空間の一様性が担保されている。   If the parallel plate-shaped electrode blocks 230a and 230b are configured to separate the flow path 210e of the flow channel portion 20 from the electrode end, the influence of the non-uniform electric field due to the concentration of the electric lines of force at the electrode end portion becomes small. In this case, the particles that cause the introduced particles 1 to be detected to dissipate away from the center of the channel do not act. That is, in this configuration, it can be said that the detection target particles 1 in the observation region of the guide channel 210e are distributed almost uniformly in the sample fluid in a state of being directed in the electric field application direction. Therefore, the uniformity of the space, which is the premise of counting when deriving Equation (3), is ensured.

[第3の実施の形態]
図7(A)、図7(B)、図7(C)は本発明の第3の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部20において電極ブロック230a,230bの端部断面形状をロゴウスキー(Rogowski)端部形状とした場合の等電位線、電気力線、電場ベクトル分布および力ベクトル分布を示す図である。すなわち、図7(A)は平行平板キャパシタ端部の等電位線および電気力線を示す図、図7(B)は電極ブロック230a,230bにより生成される電場ベクトル分布を示す図、図7(B)は電場ベクトル内で誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。なお、図7(A)〜図7(C)は、試料流体が流れる方向と垂直な断面のうち導流路210eの中心から右側半分のみを示している。
[Third Embodiment]
7 (A), 7 (B), and 7 (C) are cross-sectional views of the end portions of the electrode blocks 230a and 230b in the flow channel unit 20 of the suspended particulate matter measuring device according to the third embodiment of the present invention. It is a figure which shows an equipotential line, an electric force line, electric field vector distribution, and force vector distribution at the time of making a shape into a Rogowski end part shape. 7A shows equipotential lines and electric lines of force at the end of the parallel plate capacitor, FIG. 7B shows electric field vector distribution generated by the electrode blocks 230a and 230b, and FIG. B) is a diagram showing a force vector distribution acting on an electric dipole that is dielectrically polarized in the electric field vector. 7A to 7C show only the right half from the center of the guide channel 210e in the cross section perpendicular to the direction in which the sample fluid flows.

第2の実施の形態に示したように、平行平板形状の電極ブロック230a,230bは、均一な電場を形成するのに最も適した電極形状である。しかし、平行平板形状の電極ブロック230a,230bは有限の大きさであるために端部で電気力線の集中(端部効果)が生ずる。すなわち、有限幅の平行平板形状の電極ブロック230a,230bにより形成される粒子配向用静電場は、その電極端部に最大の電場ストレスが生ずるので、高電圧を印加すると、常に電極端部において放電が生ずる危険性がある。   As shown in the second embodiment, the parallel plate-shaped electrode blocks 230a and 230b have electrode shapes that are most suitable for forming a uniform electric field. However, since the parallel plate-shaped electrode blocks 230a and 230b have a finite size, concentration of electric lines of force (end effect) occurs at the ends. That is, the electrostatic field for grain orientation formed by the parallel flat plate-shaped electrode blocks 230a and 230b having a finite width causes the maximum electric field stress at the electrode end, so that a discharge is always generated at the electrode end when a high voltage is applied. There is a risk of occurrence.

したがって、端部領域の電場強度を緩和し、有限幅の電極面全体に平等な強い電場を形成できる電極面構造が必要となる。すなわち、すべての電極端部領域にわたり電場ストレスが、端部より充分離れて平等電場強度となっている中央部分での電場ストレス程度かそれ以下に緩和される電極表面形状を求める必要がある。この端部効果を防ぐため、電極端を丸めた電極形状が開発されており、この形状をした電極をロゴウスキー電極と称する。   Therefore, there is a need for an electrode surface structure that can relax the electric field strength in the end region and form an equal strong electric field over the entire electrode surface having a finite width. That is, it is necessary to obtain an electrode surface shape in which the electric field stress is alleviated to a level equal to or less than the electric field stress in the central portion where the electric field stress is sufficiently far from the end portion and has a uniform electric field strength over all electrode end regions. In order to prevent this end effect, an electrode shape with rounded electrode ends has been developed, and the electrode having this shape is referred to as a Rogowski electrode.

図7(A)は、有限幅の平行平板キャパシタについて、その端部を含めた場合の等電位線231(実線)および電気力線232(点線)を示した図である。図7(A)において、太線233は、平行平板キャパシタの間隔をaとするとき、nを整数とすると、その間隔がa/nとなる等電位線を示している(図7(A)ではn=3としてある)。   FIG. 7A is a diagram showing an equipotential line 231 (solid line) and an electric force line 232 (dotted line) in the case where the end portion of a parallel plate capacitor having a finite width is included. In FIG. 7A, a thick line 233 indicates an equipotential line having an interval of a / n where n is an integer when the interval of the parallel plate capacitors is a (in FIG. 7A). n = 3).

電磁気学によれば、等電位線と電気力線とは互いに直交し、等電位線に沿っては、その接線方向に作用する電気力は発生しない。したがって、電極形状として、この等電位面の曲面を採用すれば、原理的に、平行平板電極の端部に生じた電場ストレスは回避でき、さらに、端部より中央部が僅かに電場ストレスが強くなるように設計すれば、端部から中央部へ向けて極めて緩やかに電場強度が強まる不均一電場を形成することができる。
こうした思想の下に設計されたのがロゴウスキー端部形状電極である。そして、ロゴウスキー端部形状の電極ブロック230a,230bは、二次元の電場から導いたものであり、奥行き方向に延ばした蒲鉾状の電極ブロックとなる。
According to electromagnetism, equipotential lines and electric lines of force are orthogonal to each other, and no electric force acting in the tangential direction is generated along the equipotential lines. Therefore, if the curved surface of this equipotential surface is adopted as the electrode shape, in principle, the electric field stress generated at the end of the parallel plate electrode can be avoided, and the electric field stress is slightly stronger at the center than at the end. If designed so, a non-uniform electric field in which the electric field strength increases extremely gently from the end toward the center can be formed.
The Rogowski end-shaped electrode was designed based on this concept. Then, the Rogowski end-shaped electrode blocks 230a and 230b are derived from a two-dimensional electric field, and become hook-shaped electrode blocks extending in the depth direction.

試料流体中に分散した被検出対象粒子1は、流体吸気口21aよりフローチャネル部20内に導入され、導流路210eの中を流れて、断面がロゴウスキー端部形状の電極ブロック230a,230bによって形成される電場へと導かれる。図7(B)に示すように、この電場内に導かれた微小な中性繊維状の被検出対象粒子1は、瞬時に誘電分極して、粒子1の両端のうち、外部静電場の正極に近い一端は負極に帯電し、外部静電場の負極に近い他端は正極に帯電する。そして、被検出対象粒子1は、円柱状粒子に変形しつつ電場方向を向く。   The detection target particles 1 dispersed in the sample fluid are introduced into the flow channel portion 20 from the fluid inlet 21a, flow through the guide channel 210e, and are crossed by the electrode blocks 230a and 230b having a Rogowski end shape. Guided to the electric field formed. As shown in FIG. 7 (B), the minute neutral fibrous target particle 1 guided into the electric field instantaneously undergoes dielectric polarization, and of both ends of the particle 1, the positive electrode of the external electrostatic field. One end close to is charged to the negative electrode, and the other end close to the negative electrode of the external electrostatic field is charged to the positive electrode. And the to-be-detected target particle | grains 1 face an electric field direction, deform | transforming into a cylindrical particle.

そして、こうして誘電分極した電気双極子に対して、ロゴウスキー端部形状の電極ブロック230aと230bとの間では、図7(C)に示すように、電極端部から中央部へむけて緩やかに集中させる電気力が作用する。図7(C)では、力ベクトルの向きを示すために、矢印を強調して記載しているが、その強さは極めて微弱である。とは言うものの、中央部へ集中させるような力ベクトル場が形成されている。   Then, with respect to the electric dipole thus dielectrically polarized, between the Rogowski end-shaped electrode blocks 230a and 230b, as shown in FIG. 7 (C), it gradually concentrates from the electrode end toward the center. Electric force to act acts. In FIG. 7C, in order to show the direction of the force vector, an arrow is emphasized, but the strength is extremely weak. Nevertheless, a force vector field is formed that concentrates in the center.

このようなロゴウスキー端部形状の電極ブロック230a,230bは、第1の実施の形態においても記載したように、銅などの可塑性の高い金属塊を削り出して構成してもよいし、板金を当該形状に成形して構成してもよいし、あるいは成形の容易なプラスティックなどの材料の導流路側表面に金属を鍍金あるいは直接蒸着するなどして、金属電極としての機能を付与させて構成してもよい。必要とする加工精度で所望の断面形状の電極を実現可能な材料であれば、その材質については金属等に限られるものではない。というのは、この電極ブロック230a,230bには、被検出対象粒子1の向きを揃えるための高電圧が印加できればよく、試料流体の耐圧以上の高電圧を印加して電極ブロック間に直流大電流などを流すことはないからである。   As described in the first embodiment, such a Rogowski end electrode block 230a, 230b may be formed by cutting out a metal block having high plasticity such as copper, It may be configured by molding into a shape, or it may be configured to give a function as a metal electrode by plating or directly depositing metal on the surface of the guide channel of a material such as plastic that is easy to mold Also good. The material is not limited to metal or the like as long as the material can realize an electrode having a desired cross-sectional shape with required processing accuracy. This is because it is only necessary to apply a high voltage to the electrode blocks 230a and 230b so that the direction of the particles 1 to be detected is aligned. It is because it does not flow.

第1の実施の形態と同様に、電極ブロック230a,230bの導流路側の表面には、金属層の保護膜として絶縁膜が形成されている。あるいは、電極ブロック230a,230bの表面に絶縁性の金属酸化物を形成してもよい。これにより、電極表面に付着した微粒子が電極と同極性に帯電してクーロン反発して再飛散し、対向電極ブロック側へ突入し対向電極ブロックの表面に付着することを回避できることは言うまでもない。   As in the first embodiment, an insulating film is formed as a protective film for the metal layer on the surface of the electrode blocks 230a and 230b on the side of the conducting flow path. Alternatively, an insulating metal oxide may be formed on the surfaces of the electrode blocks 230a and 230b. Thus, it goes without saying that it is possible to avoid the fine particles adhering to the electrode surface from being charged with the same polarity as the electrode, repelling the Coulomb and re-scattering, entering the counter electrode block and adhering to the surface of the counter electrode block.

ところで、ロゴウスキー端部形状については、数値制御工作機械等を用いて座標数値を計算させながら、材料がプラスティックの場合は金型を成形し、材料が金属塊であれば削り出して成形することになる。
具体的には、iを虚数単位として、複素平面z=x+iyから、ガウス平面ω=u+ivへの等角写像法を応用して、平板の間隔a=πとおき、端部がv=π/2(この場合、上記の整数nは、n=2)の等電位面で区切られるとして、次式(14)で与えられるマクスウェル(Maxwell)の式を実部と虚部に分離し、uをパラメタとして、xおよびyの値を求めれば、必要とする等電位線(=ロゴウスキーの端部形状)を求めることができる。
By the way, for the Rogowski end shape, while calculating the coordinate value using a numerically controlled machine tool etc., if the material is plastic, mold it, and if the material is a metal lump, cut it out and mold it Become.
Specifically, by using the equiangular mapping method from the complex plane z = x + ii to the Gaussian plane ω = u + iv, where i is an imaginary unit, the plate interval a = π is set, and the end is v = π / 2 (in this case, the integer n is divided by an equipotential surface of n = 2), the Maxwell equation given by the following equation (14) is separated into a real part and an imaginary part, and u is If the values of x and y are obtained as parameters, the required equipotential lines (= Rogowski end shape) can be obtained.

z=(a/π)(ω+1+exp(ω)) ・・・(14)
x=u+1 ・・・(15a)
y=π/2+exp(u) ・・・(15b)
これより、表1のような計算値を得る。なお、表1のyの値は、小数点以下2桁で丸めてある。
z = (a / π) (ω + 1 + exp (ω)) (14)
x = u + 1 (15a)
y = π / 2 + exp (u) (15b)
Thus, the calculated values as shown in Table 1 are obtained. The value y in Table 1 is rounded to two decimal places.

Figure 2009162712
Figure 2009162712

平板間の距離がaの場合、計算をu=1の座標で打ち切るとすれば約2aの幅の端部が必要となる。このような端部電極形状に対しては、高電圧を印加した場合、放電は常に平等電場部分(すなわち、電極中央部)で起こることが期待され、端部から中央部へ向けて緩やかに電場強度が増加するような静電場が実現する。したがって、誘電分極した電気双極子を中央部分へ収束させるような静電場が実現できることになる。   When the distance between the flat plates is a, if the calculation is terminated at the coordinates of u = 1, an end having a width of about 2a is required. For such an end electrode shape, when a high voltage is applied, the discharge is always expected to occur in the uniform electric field part (that is, the central part of the electrode), and the electric field gradually increases from the end part toward the central part. An electrostatic field with increasing intensity is realized. Therefore, it is possible to realize an electrostatic field that converges the dielectric-polarized electric dipole to the central portion.

[第4の実施の形態]
図8(A)、図8(B)は本発明の第4の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部20において電極ブロック230a,230bを導流路210eと直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線が双曲線である場合の電場ベクトル分布および力ベクトル分布を示す図である。すなわち、図8(A)は電極ブロック230a,230bにより生成される電場ベクトル分布を示す図、図8(B)は電場ベクトル内で誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。なお、図8(A)、図8(B)は、試料流体が流れる方向と垂直な断面を示している。
[Fourth Embodiment]
8 (A) and 8 (B) are planes in which the electrode blocks 230a and 230b are orthogonal to the guide channel 210e in the flow channel unit 20 of the suspended particulate matter measuring device according to the fourth embodiment of the present invention. It is a figure which shows the electric field vector distribution and force vector distribution in case the conducting-channel side surface curve when cut is a hyperbola. 8A shows the electric field vector distribution generated by the electrode blocks 230a and 230b, and FIG. 8B shows the force vector distribution acting on the electric dipole that is dielectrically polarized in the electric field vector. is there. 8A and 8B show cross sections perpendicular to the direction in which the sample fluid flows.

試料流体中に分散した被検出対象粒子1は、流体吸気口21aよりフローチャネル部20内に導入され、導流路210eの中を流れて、導流路側表面曲線が双曲線の電極ブロック230a,230bによって形成される電場へと導かれる。図8(A)に示すように、この不均一電場内に導かれた微小な中性繊維状の被検出対象粒子1は、瞬時に誘電分極して、粒子1の両端のうち、外部静電場の正極に近い一端は負極に帯電し、外部静電場の負極に近い他端は正極に帯電する。   The particles 1 to be detected dispersed in the sample fluid are introduced into the flow channel portion 20 from the fluid inlet 21a, flow through the guide channel 210e, and electrode blocks 230a and 230b whose guide channel side surface curves are hyperbolic. To the electric field formed by As shown in FIG. 8 (A), the minute neutral fibrous target particle 1 guided in the non-uniform electric field instantaneously undergoes dielectric polarization, and an external electrostatic field is detected at both ends of the particle 1. One end close to the positive electrode is charged to the negative electrode, and the other end close to the negative electrode of the external electrostatic field is charged to the positive electrode.

なお、導流路側表面曲線が双曲線の電極ブロック230aと230b間に形成される静電場は、中心部から左右の外壁部に向かって次第に電場強度が弱くなっており、この不均一静電場内に導入された電気双極子には、図8(B)に示すように、水平方向については、電場強度の強い中心位置へ収斂するような力が作用する。この結果、電極ブロック230a,230bにより形成された静電場中に導入された被検出対象粒子1は、左右に移動することなく、電場強度の強い中心位置において特定方向、すなわち静電場印加方向を向いて安定する。誘電分極により生じた誘起電荷が両端部で等しいのに対して、電極に近い側の粒子端部に作用する静電気力が若干大きくなることから、電気双極子の電極方向への移動、すなわち垂直方向への移動については、電極方向への引力が発生する。しかし、被検出対象粒子1は、比較的安定した向きを保ちつつ、観測視野領域内を中心位置近傍に沿って流体排気口21b方向へ輸送されてゆく。   In addition, the electrostatic field formed between the electrode blocks 230a and 230b having a hyperbolic curve on the surface of the conducting channel side gradually decreases in electric field strength from the central part toward the left and right outer wall parts. As shown in FIG. 8B, the introduced electric dipole is subjected to a force that converges to a central position where the electric field strength is strong in the horizontal direction. As a result, the detection target particle 1 introduced into the electrostatic field formed by the electrode blocks 230a and 230b does not move to the left and right, and faces a specific direction, that is, the electrostatic field application direction at the center position where the electric field strength is strong. And stable. While the induced charge generated by dielectric polarization is equal at both ends, the electrostatic force acting on the particle end closer to the electrode is slightly larger, so the electric dipole moves in the direction of the electrode, that is, in the vertical direction. As for the movement to, an attractive force in the electrode direction is generated. However, the detection target particles 1 are transported in the direction of the observation field along the vicinity of the center position in the direction of the fluid exhaust port 21b while maintaining a relatively stable orientation.

ところで、導流路210eに導かれた電気双極子は、層流状態にある試料流体の僅かな乱れ(例えば、乱流の影響)に起因して観測視野の中心部を一度外れてしまうと、定常的には、上下の電極ブロック230a,230bの何れかへと吸引されていく。
この場合は、円筒面平凹レンズを用いることで、偏光ビームの断面形状を上下方向に伸ばした線状拡大ビームに成形することで、観測視野領域を上下方向に拡張し、レーザ照射領域に被検出対象粒子1が存在するようにすることは比較的容易である。ただし、レンズについては、光のコヒーレンスに影響しないように材質(不純物、歪、均質性)を吟味する必要がある。
By the way, if the electric dipole guided to the guiding channel 210e once deviates from the central portion of the observation field due to slight disturbance of the sample fluid in a laminar flow state (for example, the influence of turbulent flow), In a steady state, suction is performed to one of the upper and lower electrode blocks 230a and 230b.
In this case, by using a cylindrical concave / convex lens, the observation field area is expanded in the vertical direction by forming the polarized beam cross-sectional shape into a linearly expanded beam extending in the vertical direction, and the laser irradiation area is detected. It is relatively easy to make the target particles 1 exist. However, for lenses, it is necessary to examine the materials (impurities, distortion, homogeneity) so as not to affect the coherence of light.

本実施の形態では、静電場により分極した被検出対象粒子1を静電場印加方向へ向けつつ、観測視野内へ粒子1を定常的に集中・収束させ、さらには一様分布している場合に比較して若干多く計数することで、計数値に対する統計的揺らぎを低減させることができる。   In the present embodiment, when the particles 1 to be detected polarized by the electrostatic field are directed in the direction of applying the electrostatic field, the particles 1 are steadily concentrated and converged in the observation field of view, and further, the particles 1 are uniformly distributed. By statistically counting a little more, statistical fluctuation with respect to the count value can be reduced.

[第5の実施の形態]
図9(A)、図9(B)は本発明の第5の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部20において電極ブロック230a,230bを導流路210eと直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線である場合の電場ベクトル分布および力ベクトル分布を示す図である。すなわち、図9(A)は電極ブロック230a,230bにより生成される電場ベクトル分布を示す図、図9(B)は電場ベクトル内で誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。なお、図9(A)、図9(B)は、試料流体が流れる方向と垂直な断面を示している。
[Fifth Embodiment]
9 (A) and 9 (B) are planes in which the electrode blocks 230a and 230b are orthogonal to the guide channel 210e in the flow channel unit 20 of the suspended particulate matter measuring device according to the fifth embodiment of the present invention. It is a figure which shows the electric field vector distribution and force vector distribution in case the conducting-channel side surface curve when cut is a V-shaped curve and a reverse V-shaped curve. 9A is a diagram showing an electric field vector distribution generated by the electrode blocks 230a and 230b, and FIG. 9B is a diagram showing a force vector distribution acting on an electric dipole that is dielectrically polarized in the electric field vector. is there. 9A and 9B show cross sections perpendicular to the direction in which the sample fluid flows.

第1〜第4の実施の形態と同様に、試料流体中に分散した被検出対象粒子1は、流体吸気口21aよりフローチャネル部20内に導入され、導流路210eの中を流れて、導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線の電極ブロック230a,230bによって形成される電場へと導かれる。しかし、これまでの実施の形態と異なり、本実施の形態では、電極表面が滑らかな曲面ではなく一定の角度で折れ曲がった尾根部分(V字の頂点)を持つ。図9(A)、図9(B)の紙面の手前側から奥側に向かって、こうした尾根線に沿って強電場が発生する。電極ブロック230a,230bの対向尾根間では、比較的低電圧でも試料流体の絶縁破壊を生じやすいという問題がある。そこで、V字型および逆V字型の頂点を円形に丸くする必要がある。本実施の形態では、V字型と逆V字型のそれぞれの頂点を丸めた形状をV字型曲線、逆V字型曲線と呼ぶ。   Similar to the first to fourth embodiments, the detection target particles 1 dispersed in the sample fluid are introduced into the flow channel unit 20 from the fluid inlet 21a, flow in the guide channel 210e, The guide channel side surface curve is led to an electric field formed by the electrode blocks 230a and 230b having a V-shaped curve and an inverted V-shaped curve. However, unlike the previous embodiments, in this embodiment, the electrode surface is not a smooth curved surface but has a ridge portion (V-shaped apex) bent at a certain angle. A strong electric field is generated along such a ridge line from the near side to the far side of the paper surface of FIGS. 9 (A) and 9 (B). Between the opposing ridges of the electrode blocks 230a and 230b, there is a problem that dielectric breakdown of the sample fluid is likely to occur even at a relatively low voltage. Therefore, it is necessary to round the V-shaped and inverted V-shaped vertices into a circle. In the present embodiment, the shapes obtained by rounding the vertices of the V shape and the inverted V shape are referred to as a V-shaped curve and an inverted V-shaped curve.

図9(A)に示すように、この尾根線を中心に不均一電場が形成され、その中に導入された電気双極子に対しては、図9(B)に示すように、水平方向については、特定偏光ビーム照射領域である中心位置へと収斂するように力ベクトルが作用する。すなわち、導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線の電極ブロック230a,230bで生成された静電場では、電極の尾根線に沿って電場が集中して強くなり、誘起された電気双極子は尾根線部へと収斂される力を受ける。   As shown in FIG. 9 (A), an inhomogeneous electric field is formed around this ridge line, and the electric dipole introduced into the ridge line has a horizontal direction as shown in FIG. 9 (B). The force vector acts so as to converge to the center position that is the specific polarized beam irradiation region. That is, in the electrostatic field generated by the electrode blocks 230a and 230b having the V-shaped curve and the inverted V-shaped curve on the surface of the conducting channel, the electric field is concentrated and strengthened along the ridge line of the electrode. The electric dipole receives the power converged to the ridge line.

このV字型断面の電極ブロック230a,230bを利用する場合、試料流体の絶縁破壊を回避するために全体的に印加する電圧を下げる必要があるものの、被検出対象粒子1をレーザ照射領域であるフローチャネル部20の中央部へ集中させるという効果を有する。逆に、試料流体の絶縁破壊電圧に比較して低い電圧により、フローチャネル部20の中央部へ誘電分極した被検出対象粒子1を集中させる効果を有する電極を実現できるとも言える。   When the electrode blocks 230a and 230b having the V-shaped cross section are used, the voltage to be applied must be lowered to avoid the dielectric breakdown of the sample fluid, but the detection target particle 1 is a laser irradiation region. This has the effect of concentrating on the center of the flow channel section 20. Conversely, it can be said that an electrode having an effect of concentrating the particles 1 to be detected that are dielectrically polarized on the central portion of the flow channel portion 20 can be realized by a voltage lower than the dielectric breakdown voltage of the sample fluid.

ただし、電極方向、すなわち垂直方向については、第4の実施の形態に比較して、さらに強い不均一電場が形成されているので、電気双極子への強い引力が作用する。このため、垂直方向については被検出対象粒子1は、擾乱により上下方向に分裂する傾向がある。
この場合も、第4の実施の形態と同様に、円筒面平凹レンズを用いることで、偏光ビームの断面形状を上下方向に伸ばした線状拡大ビームに形成することで、観測視野領域を上下方向に拡張し、レーザ照射領域に被検出対象粒子1が存在するように構成できる。
However, in the electrode direction, that is, the vertical direction, a stronger non-uniform electric field is formed as compared with the fourth embodiment, so that a strong attractive force acts on the electric dipole. For this reason, in the vertical direction, the particles 1 to be detected tend to split in the vertical direction due to disturbance.
Also in this case, similarly to the fourth embodiment, by using a cylindrical plano-concave lens, the observation visual field region is formed in the vertical direction by forming a cross-sectional shape of the polarized beam into a linearly expanded beam extending in the vertical direction. The detection target particle 1 can be configured to exist in the laser irradiation region.

[第6の実施の形態]
図10は本発明の第6の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置の信号処理系の構成を示すブロック図である。この図10は、第1〜第5の実施の形態に適用する信号処理系を説明するための図である。
粒子形状識別を行う本実施の形態の信号処理系は、信号増幅部7a,7bと、差動増幅部8と、粒子形状識別部9と、波高分析部10と、演算制御部11と、通信部13と、加算部14とを有する。この信号処理系は、粒子識別手段を構成している。
[Sixth Embodiment]
FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the signal processing system of the suspended particulate matter measuring device according to the sixth embodiment of the present invention. FIG. 10 is a diagram for explaining a signal processing system applied to the first to fifth embodiments.
The signal processing system of the present embodiment that performs particle shape identification includes signal amplification units 7a and 7b, a differential amplification unit 8, a particle shape identification unit 9, a pulse height analysis unit 10, a calculation control unit 11, and communication. Part 13 and addition part 14. This signal processing system constitutes particle identification means.

差動増幅部8と粒子形状識別部9とは、粒子形状識別の機能を実現し、演算制御部11は、粒子の形状毎に計数を行う。これにより、観測視野内の粒子数もしくは単位計数時間内の粒子数を求めることができる。同時に、波高分析部10は、検出パルス信号の波高分析結果に基づき被検出対象粒子1の粒径あるいは長さを算出し、演算制御部11は、波高閾値以上の信号パルスを数えることで、検出粒子の粒径毎あるいは長さ毎の個数を数える。   The differential amplification unit 8 and the particle shape identification unit 9 realize a particle shape identification function, and the calculation control unit 11 performs counting for each particle shape. Thereby, the number of particles in the observation field or the number of particles in the unit counting time can be obtained. At the same time, the wave height analysis unit 10 calculates the particle size or length of the detection target particle 1 based on the wave height analysis result of the detection pulse signal, and the arithmetic control unit 11 counts the signal pulses that are equal to or higher than the wave height threshold, thereby detecting Count the number of particles per particle size or length.

図10に基づいて、粒子検知、形状識別、粒径算出および計数の流れを説明する。まず、演算制御部11は、バイポーラ型直流高圧安定化電源12を駆動し、第1〜第5の実施の形態で説明した検知器40の粒子配向手段2に粒子配向用の静電場を発生させて、被検出対象粒子1の向きを散乱平面5に対して鉛直方向に揃える。
図5に示すように、フローチャネル部20の粒子配向手段2により被検出対象粒子1の向きを散乱平面5の法線VERの方向に揃え、光源3からの直線偏光ビームを被検出対象粒子1に照射する。
Based on FIG. 10, the flow of particle detection, shape identification, particle size calculation and counting will be described. First, the arithmetic control unit 11 drives the bipolar DC high-voltage stabilization power supply 12 to generate an electrostatic field for particle orientation in the particle orientation means 2 of the detector 40 described in the first to fifth embodiments. Thus, the direction of the detection target particles 1 is aligned in the vertical direction with respect to the scattering plane 5.
As shown in FIG. 5, the direction of the particle 1 to be detected is aligned with the direction of the normal VER of the scattering plane 5 by the particle orientation means 2 of the flow channel unit 20, and the linearly polarized beam from the light source 3 is detected. Irradiate.

被検出対象粒子1が観測視野を横切る際に、散乱角θ=略10度の浅角前方散乱光は、偏光型ビームスプリッタプリズム6に入射して、偏光面が散乱平面5に対して垂直な垂直偏光成分と散乱平面5に対して水平な水平偏光成分とに分割される。受光部4a,4bは、散乱角θ=略10度の散乱光の分割された垂直偏光成分、水平偏光成分を検出して微弱電流パルスに変換する。そして、受光部4a,4bに接続された信号増幅部7a,7bは、それぞれ受光部4a,4bから出力された微弱電流パルスを電圧パルスに変換して増幅する。   When the detection target particle 1 crosses the observation field, shallow angle forward scattered light having a scattering angle θ = approximately 10 degrees enters the polarization beam splitter prism 6, and the polarization plane is perpendicular to the scattering plane 5. The light is divided into a vertical polarization component and a horizontal polarization component horizontal to the scattering plane 5. The light receiving units 4a and 4b detect the vertically polarized component and the horizontally polarized component of the scattered light with the scattering angle θ = approximately 10 degrees, and convert them into weak current pulses. The signal amplifying units 7a and 7b connected to the light receiving units 4a and 4b convert the weak current pulses output from the light receiving units 4a and 4b into voltage pulses and amplify them.

また、差動増幅部8は、二つの受光部4a,4bにより検出された垂直偏光成分と水平偏光成分の微弱電流パルスの差を増幅すると同時に電圧パルスに変換して粒子形状識別部9に出力する。
粒子形状識別部9は、垂直偏光成分と水平偏光成分の電圧パルス強度が略等しい場合(差動増幅部8の出力が略0の場合)には、被検出対象粒子1が球状粒子であると識別し、水平偏光成分よりも垂直偏光成分の電圧パルス強度が大きい場合には、被検出対象粒子1が円柱状粒子であると識別する。
The differential amplifying unit 8 amplifies the difference between the weakly polarized current pulses of the vertical polarization component and the horizontal polarization component detected by the two light receiving units 4a and 4b, and simultaneously converts them into voltage pulses, which are output to the particle shape identification unit 9. To do.
When the voltage pulse intensities of the vertical polarization component and the horizontal polarization component are approximately equal (when the output of the differential amplification unit 8 is approximately 0), the particle shape identification unit 9 determines that the detection target particle 1 is a spherical particle. When the voltage pulse intensity of the vertical polarization component is larger than the horizontal polarization component, it is identified that the detection target particle 1 is a cylindrical particle.

また、加算部14は、二つの受光部4a,4bにより同時に検出された垂直偏光成分と水平偏光成分の和をとることで、散乱光の電圧パルスを求める。
波高分析部10は、この散乱光の電圧パルスの波高値を予め定められた幾つかの閾値電圧と比較することで、電圧パルスをその波高値により分別する。そして、演算制御部11は、分別したパルスの種類毎にパルスを数える。こうして、分別したパルスの波高値によって、被検出対象粒子1の球状粒子相当径あるいは円柱状粒子相当の長さを求めることができ、また被検出対象粒子1の個数をパルスの波高値の範囲毎(すなわち、粒子径毎あるいは円柱状粒子の長さ毎)に数えることができる。
Further, the adding unit 14 obtains a voltage pulse of scattered light by taking the sum of the vertical polarization component and the horizontal polarization component detected simultaneously by the two light receiving units 4a and 4b.
The pulse height analysis unit 10 sorts the voltage pulse according to the peak value by comparing the peak value of the voltage pulse of the scattered light with several predetermined threshold voltages. And the calculation control part 11 counts a pulse for every kind of classified pulse. Thus, it is possible to obtain the spherical particle equivalent diameter or the columnar particle equivalent length of the detection target particle 1 from the peak value of the separated pulse, and the number of detection target particles 1 is determined for each pulse peak value range. (That is, it can be counted for each particle diameter or for the length of each columnar particle).

このようにして、粒子形状識別部9による判別結果と、波高分析部10による波高別の計数結果とを組合わせることにより、球状相当粒子に対してはその粒子径が算出され、また円柱状相当粒子に対してはその長さが算出され、かつ各粒子の計数値が算出される。
粒子形状識別部9による判別結果と、波高分析部10による粒径あるいは長さによる分別結果と、演算制御部11による各パルスの計数結果とは、演算制御部11の図示しない内蔵メモリ(不図示)に蓄積される。そして、内蔵メモリに蓄積された情報は、通信部13を介して装置外部へ伝送され、また装置に搭載された表示部(不図示)へ伝送され表示される。
In this way, by combining the discrimination result by the particle shape identification unit 9 and the count result for each wave height by the wave height analysis unit 10, the particle diameter is calculated for spherical equivalent particles, and the columnar equivalent is also obtained. For particles, the length is calculated and the count value of each particle is calculated.
The discrimination result by the particle shape identification unit 9, the classification result by the particle size or length by the wave height analysis unit 10, and the count result of each pulse by the calculation control unit 11 are not shown in the built-in memory (not shown) of the calculation control unit 11. ). The information stored in the built-in memory is transmitted to the outside of the device via the communication unit 13, and is also transmitted to and displayed on a display unit (not shown) mounted on the device.

なお、本実施の形態の粒子形状識別部9と波高分析部10と演算制御部11とは、例えば中央演算処理装置(CPU)、メモリ及びインタフェースを備えたコンピュータとこれらのハードウェア資源を管理・制御するプログラムによって実現することができる。CPUは、記憶装置に格納された信号処理プログラムに従って本実施の形態で説明した処理を実行する。   The particle shape identification unit 9, the wave height analysis unit 10, and the calculation control unit 11 of the present embodiment manage, for example, a central processing unit (CPU), a computer including a memory and an interface, and hardware resources thereof. It can be realized by a program to be controlled. The CPU executes the processing described in this embodiment in accordance with the signal processing program stored in the storage device.

本発明は、空気等の流体中に浮遊する微小粒子の形状を識別する技術に適用することができる。   The present invention can be applied to a technique for identifying the shape of fine particles floating in a fluid such as air.

本発明の第1の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the flow channel part of the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置のフローチャネル部の構成を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the structure of the flow channel part of the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 波長1.55μmの入射光に対する球状粒子及び円柱状粒子による散乱光のうち散乱角10度での散乱光の偏光度と粒子半径との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the polarization degree of the scattered light at a scattering angle of 10 degree | times, and a particle radius among the scattered light by the spherical particle | grains and cylindrical particle | grains with respect to incident light with a wavelength of 1.55 micrometers. 入射電場および散乱電場の散乱平面に対する垂直成分と平行成分の定義、並びに法線方向より照射される無限円柱に対する散乱角および偏光面の回転角の定義を示す図である。It is a figure which shows the definition of the perpendicular | vertical component and parallel component with respect to the scattering plane of an incident electric field and a scattered electric field, and the definition of the scattering angle with respect to the infinite cylinder irradiated from a normal direction, and the rotation angle of a polarization plane. 本発明の第1の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置の検出器の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the detector of the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置において平行な二枚の電極ブロックによる電場ベクトル分布および誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。It is a figure which shows the force vector distribution which acts on the electric field vector distribution by two parallel electrode blocks, and the dielectrically polarized electric dipole in the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 平行平板キャパシタ端部の等電位線および電気力線を示す図、並びに本発明の第3の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置において電極ブロックの端部断面形状をロゴウスキー端部形状とした場合の電場ベクトル分布および力ベクトル分布を示す図である。The figure which shows the equipotential lines and electric lines of force of a parallel plate capacitor end part, and made the cross-sectional shape of an electrode block into the Rogowski end part shape in the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. It is a figure which shows the electric field vector distribution and force vector distribution in a case. 本発明の第4の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置において導流路側表面曲線が双曲線の電極ブロックによる電場ベクトル分布および誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。It is a figure which shows the force vector distribution which acts on the electric field vector distribution by the electrode block of the conducting-path side surface curve with a hyperbola, and the dielectrically polarized electric dipole in the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 4th Embodiment of this invention. . 本発明の第5の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置において導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線の電極ブロックによる電場ベクトル分布および誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を示す図である。In the suspended particulate matter measuring apparatus according to the fifth embodiment of the present invention, the surface curve on the conduction channel side acts on the electric field vector distribution and the dielectrically polarized electric dipole by the electrode block having the V-shaped curve and the inverted V-shaped curve. It is a figure which shows force vector distribution to do. 本発明の第6の実施の形態に係る浮遊粒子状物質測定装置の信号処理系の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the signal processing system of the suspended particulate matter measuring device which concerns on the 6th Embodiment of this invention. 従来の回転電場方式の浮遊粒子状物質測定装置の概略図である。It is a schematic diagram of a conventional rotating electric field type suspended particulate matter measuring device. 従来の回転電場方式の浮遊粒子状物質測定装置における回転電場と散乱光の光学測定系配置図である。It is an optical measurement system layout diagram of a rotating electric field and scattered light in a conventional rotating electric field type suspended particulate matter measuring device. 従来の静電場方式の浮遊粒子状物質測定装置の平面図および側面図である。It is the top view and side view of the conventional electrostatic field type suspended particulate matter measuring device. 一様電場による粒子の伸張作用、電場トルクによる電気双極子の回転、電場方向への電気双極子の配向、不均一電場による電気双極子へ作用する力、および観測視野領域からの粒子の逸脱の様子を示す図である。Particle extension by uniform electric field, rotation of electric dipole by electric field torque, orientation of electric dipole in electric field direction, force acting on electric dipole by inhomogeneous electric field, and deviation of particle from observation field region It is a figure which shows a mode. 円筒状フロー管周りに形成された四重電極による電場ベクトル分布および誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を表す図である。It is a figure showing the electric field vector distribution by the quadruple electrode formed around the cylindrical flow tube, and the force vector distribution acting on the dielectrically polarized electric dipole. 円筒状フロー管周りに形成された対向電極による電場ベクトル分布および誘電分極した電気双極子に作用する力ベクトル分布を表す図である。It is a figure showing the electric field vector distribution by the counter electrode formed around the cylindrical flow tube, and the force vector distribution acting on the dielectrically polarized electric dipole.

符号の説明Explanation of symbols

1…被検出対象粒子、2…粒子配向手段、3…光源、4a,4b…受光部、5…散乱平面、6…偏光型ビームスプリッタプリズム、7a,7b…信号増幅部、8…差動増幅部、9…粒子形状識別部、10…波高分析部、11…演算制御部、12…高圧安定化電源、13…通信部、14…加算部、20…フローチャネル部、21a…流体吸気口、21b…流体排気口、210c…吸気用継手、210d…排気用継手、210e…導流路、220a…特定偏光ビーム導入用開口部、220b…散乱光観測用開口部、220c…導流路密閉用ガラス窓、230a,230b…電極ブロック、240…ガイドブロック、250a…上部厚板ブロック、250b…下部厚板ブロック、260a,260b…接触電極端子、270…固定用ビス孔、280…固定用ブロック、40…検出器。  DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Particle to be detected, 2 ... Particle orientation means, 3 ... Light source, 4a, 4b ... Light receiving part, 5 ... Scattering plane, 6 ... Polarizing beam splitter prism, 7a, 7b ... Signal amplification part, 8 ... Differential amplification , 9 ... Particle shape identification unit, 10 ... Pulse height analysis unit, 11 ... Calculation control unit, 12 ... High voltage stabilized power supply, 13 ... Communication unit, 14 ... Addition unit, 20 ... Flow channel unit, 21a ... Fluid intake port, 21b ... Fluid exhaust port, 210c ... Intake joint, 210d ... Exhaust joint, 210e ... Guide channel, 220a ... Specific polarized beam introduction opening, 220b ... Scattered light observation aperture, 220c ... Guide channel sealing Glass window, 230a, 230b ... electrode block, 240 ... guide block, 250a ... upper thick plate block, 250b ... lower thick plate block, 260a, 260b ... contact electrode terminal, 270 ... fixing screw hole, 280 Fixing block, 40 ... detector.

Claims (13)

偏光ビームを射出する光源と、
流体中に浮遊している被検出対象粒子を試料流体導流路により層流状態で観測視野内に導入する導入手段と、
前記観測視野内に導入された粒子に前記光源からの偏光ビームが入射したことによる散乱光のうち、前記光源から前記粒子に向かう方向に対して前記粒子を中心とする散乱角が略10度の散乱光を、偏光方向が互いに直交する2本の光ビームに分割する偏光型ビームスプリッタプリズムと、
前記光ビームが前記粒子に入射する前に、前記光源と前記粒子と前記偏光型ビームスプリッタプリズムとを含む散乱平面に対して、前記粒子を前記散乱平面の法線方向に向ける粒子配向手段と、
前記偏光型ビームスプリッタプリズムによって分割された2本の光ビームをそれぞれ電気信号に変換する第1、第2の受光手段と、
前記第1、第2の受光手段から出力された信号に基づいて粒子形状を識別する粒子識別手段とを有し、
前記粒子配向手段は、前記試料流体導流路に沿って配置された二つの電極ブロックからなり、この電極ブロック間に前記散乱平面の法線方向を向いた静電場を形成するものであり、
前記二つの電極ブロックは、導流路側表面が平面で互いに平行な平板状か、もしくは導流路側表面が曲面で対向する電極ブロックに向かって互いに凸の形状であることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
A light source that emits a polarized beam;
Introducing means for introducing the particles to be detected suspended in the fluid into the observation field in a laminar flow state by the sample fluid channel;
Of the scattered light resulting from the incidence of the polarized beam from the light source on the particle introduced into the observation field, the scattering angle centered on the particle with respect to the direction from the light source toward the particle is approximately 10 degrees. A polarization beam splitter prism that divides the scattered light into two light beams whose polarization directions are orthogonal to each other;
A particle orientation means for directing the particles in a normal direction of the scattering plane with respect to a scattering plane including the light source, the particles, and the polarization beam splitter prism before the light beam is incident on the particles;
First and second light receiving means for converting the two light beams split by the polarizing beam splitter prism into electrical signals, respectively;
Particle identifying means for identifying the particle shape based on signals output from the first and second light receiving means,
The particle orientation means is composed of two electrode blocks arranged along the sample fluid channel, and forms an electrostatic field between the electrode blocks in the normal direction of the scattering plane,
The two electrode blocks are in the form of floating particles characterized in that the guide channel side surfaces are flat and parallel to each other, or the guide channel side surfaces are curved and face each other toward the opposing electrode blocks. Substance measuring device.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路と直交する方向の幅が前記試料流体導流路の幅よりも広い平行平板状であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に一様な静電場を形成することを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The two electrode blocks have a parallel plate shape whose width in the direction perpendicular to the sample fluid guide channel is wider than the width of the sample fluid guide channel, and the observation is performed by applying a voltage between the two electrode blocks. An apparatus for measuring suspended particulate matter, characterized in that a uniform electrostatic field is formed in a sample fluid guide channel covering a visual field.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する横断面の端部形状がロゴウスキー型端部形状であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成することを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The two electrode blocks have a rectangular longitudinal cross-section along the sample fluid guide channel, and an end shape of a cross section perpendicular to the sample fluid guide channel is a Rogowski type end shape. An apparatus for measuring suspended particulate matter, wherein an electrostatic field in which an electric field strength gradually increases toward a central portion is formed in a sample fluid guide channel covering the observation field by applying a voltage between electrode blocks.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線が双曲線であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成することを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The two electrode blocks have a rectangular longitudinal cross-section along the sample fluid guide channel, and the guide channel side surface curve when cut along a plane orthogonal to the sample fluid guide channel is a hyperbola. An apparatus for measuring suspended particulate matter, wherein an electrostatic field in which an electric field strength gradually increases toward a central portion is formed in a sample fluid guide channel covering the observation field by applying a voltage between two electrode blocks.
請求項1記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記二つの電極ブロックは、前記試料流体導流路に沿った縦断面が矩形であり、前記試料流体導流路と直交する平面で切ったときの導流路側表面曲線がV字型曲線と逆V字型曲線であり、この二つの電極ブロック間への電圧印加により前記観測視野を覆う試料流体導流路内に電場強度が中心部に向かって漸増する静電場を形成することを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The two electrode blocks have a rectangular longitudinal cross-section along the sample fluid channel, and the surface curve on the channel side when cut along a plane orthogonal to the sample fluid channel is opposite to the V-shaped curve. It is a V-shaped curve, and an electrostatic field in which the electric field strength gradually increases toward the center is formed in the sample fluid guide channel covering the observation visual field by applying a voltage between the two electrode blocks. Airborne particulate matter measurement device.
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記導入手段は、
絶縁材料からなる二本のガイドブロックと、その上下から前記二本のガイドブロックを挟む絶縁材料からなる二つの厚板ブロックとからなり、
前記二本のガイドブロックには、試料流体導入口となる端面から前記流体が層流状態に発達するのに必要な距離だけ離れた位置に、前記偏光ビームの導入用開口部と前記散乱光の観測用の開口部とがそれぞれ設けられ、各々の開口部には光学ガラス板が嵌め込まれ、
上側の前記厚板ブロックと前記二本のガイドブロックとの間および下側の前記厚板ブロックと前記二本のガイドブロックとの間に、それぞれ前記電極ブロックを配置して、この二つの電極ブロックと前記二本のガイドブロックで挟まれる領域を前記試料流体導流路とすることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to any one of claims 1 to 5,
The introducing means includes
It consists of two guide blocks made of an insulating material and two thick plate blocks made of an insulating material sandwiching the two guide blocks from above and below,
The two guide blocks have an opening for introducing the polarized beam and the scattered light at a position away from an end surface serving as a sample fluid inlet by a distance necessary for the fluid to develop into a laminar flow state. And an opening for observation, and an optical glass plate is fitted in each opening,
The electrode blocks are arranged between the upper thick plate block and the two guide blocks and between the lower thick plate block and the two guide blocks, respectively. And a region between the two guide blocks as the sample fluid guide channel.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記電極ブロックは、銅、金、白金、銀、あるいはアルミのうち少なくとも1つを含む金属材料、プラスティック、マシナブル・セラミックス、あるいはエンジニアリング・セラミックスの何れかからなり、
前記プラスティックを用いる場合は、導流路側表面に金属鍍金あるいは金属蒸着して前記電極ブロックとすることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The electrode block is made of any one of a metal material containing at least one of copper, gold, platinum, silver, or aluminum, plastic, machinable ceramics, or engineering ceramics,
When the plastic is used, the suspended particulate matter measuring device is characterized in that the electrode block is formed by metal plating or metal vapor deposition on the surface of the guide channel.
請求項7に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記電極ブロックの導流路側表面には、絶縁膜が形成されていることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 7,
An apparatus for measuring suspended particulate matter, wherein an insulating film is formed on a surface of the electrode block on the side of the conducting channel.
請求項6に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記ガイドブロックおよび厚板ブロックは、プラスティック、マシナブル・セラミックス、あるいはエンジニアリング・セラミックスの何れかからなり、
前記観測視野の壁面および前記開口部の壁面は、前記光源の波長の光を吸収する材料で被覆されることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
The suspended particulate matter measuring device according to claim 6,
The guide block and the thick plate block are made of plastic, machinable ceramics, or engineering ceramics,
The suspended particulate matter measuring device, wherein a wall surface of the observation field of view and a wall surface of the opening are coated with a material that absorbs light having a wavelength of the light source.
請求項6に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記光学ガラス板は、前記偏光ビームの光の波長において無反射である材料からなることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
The suspended particulate matter measuring device according to claim 6,
The apparatus for measuring suspended particulate matter, wherein the optical glass plate is made of a material that is non-reflective at the wavelength of light of the polarized beam.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記光源は、非偏光の光ビームを射出するか、あるいは直線偏光の偏光面を前記散乱平面の法線方向に対して45度傾けた直線偏光ビームとして射出するか、あるいは直線偏光を1/4波長板を通過させて円偏光ビームとして射出するかの何れかにより光ビームを射出し、かつこの光ビームの波長の最小値は、識別対象とする球状微小粒子の半径よりも長く、かつ円柱状微小粒子の長さよりも短いことを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The light source emits a non-polarized light beam, or emits a linearly polarized light plane as a linearly polarized beam inclined by 45 degrees with respect to the normal direction of the scattering plane, or linearly polarized light by 1/4. The light beam is emitted by either passing through the wave plate and being emitted as a circularly polarized beam, and the minimum value of the wavelength of this light beam is longer than the radius of the spherical microparticle to be identified and is cylindrical. A suspended particulate matter measuring apparatus characterized by being shorter than the length of a minute particle.
請求項1に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記粒子識別手段は、前記第1の受光手段で検出された垂直偏光成分と前記第2の受光手段で検出された水平偏光成分との強度差から、前記強度差が略等しい場合は前記粒子が球状粒子であると識別し、前記強度差が垂直偏光成分の優位を示した場合は前記粒子が円柱状粒子であると識別することを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 1,
The particle discriminating means determines that if the intensity difference is substantially equal from the difference in intensity between the vertically polarized light component detected by the first light receiving means and the horizontally polarized light component detected by the second light receiving means, An apparatus for measuring suspended particulate matter, characterized in that it is identified as a spherical particle, and the particle is identified as a columnar particle when the difference in intensity shows the predominance of a vertically polarized component.
請求項12に記載の浮遊粒子状物質測定装置において、
前記粒子識別手段は、前記第1、第2の受光手段により同時に検出された各偏光成分の和で与えられる電圧パルスの波高を、予め定められた複数の閾値電圧と比較することで、前記電圧パルスをその波高値により分別し、分別したパルス毎に計数すると共に、前記粒子の識別結果に基づき、前記粒子が球状粒子であると識別した場合は前記パルス波高値に基づいて粒子半径を求め、前記粒子が円柱状粒子であると識別した場合は前記パルス波高値に基づいて粒子の長さを求めることを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
In the suspended particulate matter measuring device according to claim 12,
The particle identification means compares the voltage pulse height given by the sum of the respective polarization components simultaneously detected by the first and second light receiving means with a plurality of predetermined threshold voltages to thereby obtain the voltage The pulse is classified according to its peak value, and counted for each of the sorted pulses, and based on the identification result of the particle, when the particle is identified as a spherical particle, the particle radius is determined based on the pulse peak value, When the particle is identified as a cylindrical particle, the suspended particulate matter measuring device is characterized in that the particle length is obtained based on the pulse peak value.
JP2008002915A 2008-01-10 2008-01-10 Airborne particulate matter measurement device Expired - Fee Related JP4909288B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008002915A JP4909288B2 (en) 2008-01-10 2008-01-10 Airborne particulate matter measurement device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008002915A JP4909288B2 (en) 2008-01-10 2008-01-10 Airborne particulate matter measurement device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009162712A true JP2009162712A (en) 2009-07-23
JP4909288B2 JP4909288B2 (en) 2012-04-04

Family

ID=40965483

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008002915A Expired - Fee Related JP4909288B2 (en) 2008-01-10 2008-01-10 Airborne particulate matter measurement device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4909288B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011141190A (en) * 2010-01-07 2011-07-21 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd Fluorescence measuring instrument and fluorescence measuring method
JP2012233822A (en) * 2011-05-06 2012-11-29 Fukuoka Univ Particle measurement device
KR101482856B1 (en) 2013-06-18 2015-01-15 한국표준과학연구원 In-situ Diagnosis apparatus for Chemical Vapor Deposition Material
JP2015045633A (en) * 2013-07-29 2015-03-12 学校法人 東洋大学 Particle diameter measuring device and particle diameter measuring method
CN105928905A (en) * 2016-06-14 2016-09-07 国家海洋局第二海洋研究所 Particulate matter backscattering coefficient polarization sensitivity measurement device
WO2016199636A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 ヤマシンフィルタ株式会社 Measuring device
CN109060732A (en) * 2018-07-19 2018-12-21 华中科技大学 A kind of method of molecular detection rotational wave packet
CN110573855A (en) * 2017-04-14 2019-12-13 理音株式会社 particle measuring device and particle measuring method

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG11201908847TA (en) * 2017-03-31 2019-10-30 Life Technologies Corp Apparatuses, systems and methods for imaging flow cytometry

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04283648A (en) * 1991-03-12 1992-10-08 Agency Of Ind Science & Technol Measuring device for characteristic of fiber-shaped particle in gas
JPH05107178A (en) * 1991-05-08 1993-04-27 Ebara Res Co Ltd Method and device for charging fine particle
JPH0650939A (en) * 1992-07-31 1994-02-25 Kao Corp Method and apparatus for measuring mixed fluid
JP2881731B2 (en) * 1997-03-26 1999-04-12 郵政省通信総合研究所長 Suspended particle measurement device
JP2000262261A (en) * 1999-03-19 2000-09-26 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Sterilization with high electrical field pulse, and devic therefor
JP2001507122A (en) * 1996-11-26 2001-05-29 コールター インターナショナル コーポレイション Apparatus and method for determining the shape of individual red blood cells
JP2007003414A (en) * 2005-06-24 2007-01-11 Arkray Inc Cartridge for analyzer
JP2007263745A (en) * 2006-03-28 2007-10-11 Kurabo Ind Ltd Method for measuring fibrous particles, and device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04283648A (en) * 1991-03-12 1992-10-08 Agency Of Ind Science & Technol Measuring device for characteristic of fiber-shaped particle in gas
JPH05107178A (en) * 1991-05-08 1993-04-27 Ebara Res Co Ltd Method and device for charging fine particle
JPH0650939A (en) * 1992-07-31 1994-02-25 Kao Corp Method and apparatus for measuring mixed fluid
JP2001507122A (en) * 1996-11-26 2001-05-29 コールター インターナショナル コーポレイション Apparatus and method for determining the shape of individual red blood cells
JP2881731B2 (en) * 1997-03-26 1999-04-12 郵政省通信総合研究所長 Suspended particle measurement device
JP2000262261A (en) * 1999-03-19 2000-09-26 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Sterilization with high electrical field pulse, and devic therefor
JP2007003414A (en) * 2005-06-24 2007-01-11 Arkray Inc Cartridge for analyzer
JP2007263745A (en) * 2006-03-28 2007-10-11 Kurabo Ind Ltd Method for measuring fibrous particles, and device

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011141190A (en) * 2010-01-07 2011-07-21 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd Fluorescence measuring instrument and fluorescence measuring method
JP2012233822A (en) * 2011-05-06 2012-11-29 Fukuoka Univ Particle measurement device
KR101482856B1 (en) 2013-06-18 2015-01-15 한국표준과학연구원 In-situ Diagnosis apparatus for Chemical Vapor Deposition Material
JP2015045633A (en) * 2013-07-29 2015-03-12 学校法人 東洋大学 Particle diameter measuring device and particle diameter measuring method
WO2016199636A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 ヤマシンフィルタ株式会社 Measuring device
JP2017003482A (en) * 2015-06-12 2017-01-05 ヤマシンフィルタ株式会社 Measuring instrument
US10466226B2 (en) 2015-06-12 2019-11-05 Yamashin-Filter Corp. Measuring device
CN105928905A (en) * 2016-06-14 2016-09-07 国家海洋局第二海洋研究所 Particulate matter backscattering coefficient polarization sensitivity measurement device
CN105928905B (en) * 2016-06-14 2018-11-09 国家海洋局第二海洋研究所 Particulate matter backscattering coefficient polarization sensitivity measuring device
CN110573855A (en) * 2017-04-14 2019-12-13 理音株式会社 particle measuring device and particle measuring method
CN109060732A (en) * 2018-07-19 2018-12-21 华中科技大学 A kind of method of molecular detection rotational wave packet
CN109060732B (en) * 2018-07-19 2020-06-02 华中科技大学 Method for detecting molecular rotation wave packet

Also Published As

Publication number Publication date
JP4909288B2 (en) 2012-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4909288B2 (en) Airborne particulate matter measurement device
JP4909254B2 (en) Airborne particulate matter measurement device
CN106066294B (en) Particle sensor device
US4693602A (en) Method and apparatus for measuring the light scattering properties of small particles
US4804853A (en) Compact particle flux monitor
JP4713530B2 (en) Airborne particulate matter measurement device
GB2484930A (en) Detection of a fluid-borne particle using optical scattering
US11513055B2 (en) Crystal for flow cytometry with dual laser beams
CN102564928A (en) Sensor for optical particle counters
JP4713531B2 (en) Airborne particulate matter measurement device
JP5719473B1 (en) Particle counter for chemicals
US20240003803A1 (en) Light collection from objects within a fluid column
US11204310B2 (en) Optical flow cytometer for epi fluorescence measurement
CN111642133A (en) Light scatter detector and method therefor
JP7438310B2 (en) optical imaging system
JPH02168138A (en) Measuring apparatus for particulate
AU2021236605B2 (en) Systems and method for correction of positionally dependent electromagnetic radiation detected from objects within a fluid column
JPH0132938B2 (en)
CN117233066A (en) Angle scattering type liquid particle counting device
JPH0255937A (en) Small particle flux monitor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110930

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20111122

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120110

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees