JP2009162577A - X-ray inspection device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray inspection device having high image quality by reducing deviation due to changes in aging in an X-ray focus point of a micro focus X-ray tube. <P>SOLUTION: This device comprises an electron gun 114 stored in a vessel being kept in a vacuum state; a target 115, arranged at one end part of the advancing direction side of the electron generated from the electron gun 114; an X-ray tube 11a for generating the X-ray 3 from the X-ray focus point F of the target 115 by applying high voltage on the electron gun 114 and the target 115; an X-ray detector 13 for detecting the X-ray irradiated from the X-ray tube 11a and passed through an inspection object 2; a projection piece 117, arranged at the outer circumference of the vessel in the vicinity of the target 115; a rail 16 for supporting the X-ray tube 11a to be slidable in the direction where the X-ray focus point F is on one end; and a support base 14, equipped with a lock part 141 locking the projection piece 117 at a position closer to the target 115 than to the rail 16 to support the X-ray tube 11a at a predetermined position. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、微小なX線焦点を持つマイクロフォーカスX線管を備えるX線検査装置に関する。   The present invention relates to an X-ray inspection apparatus including a microfocus X-ray tube having a minute X-ray focal point.

X線検査装置に用いるX線管の一種に1μm程度の小さなX線焦点を持つマイクロフォーカスX線管がある。このようなマイクロフォーカスX線管は、例えばX線透視検査装置、CT(Computer Tomography)装置、断層撮影装置等のX線検査装置に利用されている(例えば、特許文献1参照)。   One type of X-ray tube used in an X-ray inspection apparatus is a microfocus X-ray tube having a small X-ray focal point of about 1 μm. Such a microfocus X-ray tube is used, for example, in an X-ray inspection apparatus such as an X-ray fluoroscopic inspection apparatus, a CT (Computer Tomography) apparatus, and a tomography apparatus (for example, see Patent Document 1).

マイクロフォーカスX線管は、上述したように、X線焦点が1μm程度と小さい。したがって、マイクロフォーカスX線管を搭載するX線検査装置では、被検体をX線焦点に近づけて高倍率の透過像を撮像したとしても、焦点サイズによる透過像のボケが少なく高品位な画像を得ることができるのが特徴である。
特開2001−135497号公報
As described above, the microfocus X-ray tube has a small X-ray focal point of about 1 μm. Therefore, in an X-ray inspection apparatus equipped with a microfocus X-ray tube, even if a subject is brought close to the X-ray focal point and a high-magnification transmission image is taken, a high-quality image with little blur of the transmission image due to the focal size is obtained. It is a feature that can be obtained.
JP 2001-135497 A

ところで、X線検査装置は、X線管の各部が発熱による温度変化で熱膨張する場合があり、熱膨張によりX線管に歪が生じることもある。特にマイクロフォーカスX線管を搭載したX線検査装置では、高倍率検査時において、熱膨張に伴う経時的なX線焦点の移動の影響を受けやすい。仮に、CT装置や断層撮影装置等のX線検査装置で撮影中にX線焦点がずれると、透過像上の回転軸の位置がずれるために再構成処理が不完全となり画像の劣化が問題になる。   Incidentally, in the X-ray inspection apparatus, each part of the X-ray tube may thermally expand due to a temperature change due to heat generation, and the X-ray tube may be distorted due to the thermal expansion. In particular, an X-ray inspection apparatus equipped with a microfocus X-ray tube is easily affected by the movement of the X-ray focal point with time due to thermal expansion during high magnification inspection. If the X-ray focus shifts during imaging with an X-ray inspection apparatus such as a CT apparatus or a tomography apparatus, the position of the rotation axis on the transmission image shifts, resulting in incomplete reconstruction processing and image degradation. Become.

上記課題に鑑み本発明は、マイクロフォーカスX線管のX線焦点の経時的なずれを低減した画像品質の高いX線検査装置を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus with high image quality in which a shift with time of an X-ray focal point of a microfocus X-ray tube is reduced.

上記課題を解決するため、本発明の特徴に係るX線検査装置は、真空状態の容器内に収容された電子銃と前記容器内にあって前記電子銃から発生した電子の進行方向側の端部に配置されたターゲットとを備え前記電子銃及び前記ターゲットに高電圧が印加されることで前記ターゲットのX線焦点からX線を発生させるX線管と、このX線管から照射され、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、を有するX線検査装置において、前記ターゲット近傍の前記容器外周に設けられた突片と、前記X線焦点を一端とする方向に前記X線管を摺動可能に支持する摺動支持部と、前記摺動支持部より前記ターゲットに近い位置で前記突片を係止する係止部を備えて前記X線管を所定位置に支持する支持台とを備える。   In order to solve the above problems, an X-ray inspection apparatus according to a feature of the present invention includes an electron gun housed in a vacuum container and an end on the traveling direction side of electrons generated from the electron gun in the container. An X-ray tube that generates X-rays from an X-ray focal point of the target by applying a high voltage to the electron gun and the target, and irradiated from the X-ray tube, An X-ray inspection apparatus comprising: an X-ray detector that detects X-rays transmitted through a specimen; and a projection piece provided on an outer periphery of the container in the vicinity of the target, and the X-ray in a direction having the X-ray focal point as one end. A slide support portion that slidably supports the X-ray tube, and a locking portion that locks the protrusion at a position closer to the target than the slide support portion, and supports the X-ray tube at a predetermined position. And a support base.

上記構成のX線検査装置では、X線管をターゲットに近い位置で固定しながら摺動支持部(レール)上で摺動可能に支持しているので、X線管の熱膨張による伸縮をレールに沿ったすべりで吸収してターゲットの位置を安定させることが可能となり、X線管の各部に熱膨張により生じる歪を低減させるとともにターゲット上のX線焦点の移動を低減する。   In the X-ray inspection apparatus having the above-described configuration, the X-ray tube is slidably supported on the sliding support portion (rail) while being fixed at a position close to the target. It is possible to stabilize the position of the target by absorbing along the slip along the line, reducing distortion caused by thermal expansion in each part of the X-ray tube and reducing movement of the X-ray focal point on the target.

また、上記X線検査装置において、前記突片及び前記係止部は、それぞれ前記摺動の方向に対して垂直な面を持ち、突片の面と係止部の面とを突き合わせて固定することにより、前記X線管の位置決めがされる。   In the X-ray inspection apparatus, each of the projecting piece and the engaging portion has a surface perpendicular to the sliding direction, and the surface of the projecting piece and the surface of the engaging portion are abutted and fixed. Thus, the X-ray tube is positioned.

上記構成により、X線管と固定部を摺動支持部(レール)の摺動方向と直交する面でネジ止めして固定するので、ネジ止めによって生じる力が摺動支持部(レール)に沿ったすべりで吸収されてX線管の固定によってX線管の各部に歪として残ることを防止し、ターゲットの位置及び焦点の位置を安定させることができる。   With the above configuration, the X-ray tube and the fixing portion are fixed by screwing on the surface orthogonal to the sliding direction of the sliding support portion (rail), so that the force generated by screwing is along the sliding support portion (rail). It is absorbed by sliding and can be prevented from remaining as distortion in each part of the X-ray tube by fixing the X-ray tube, and the position of the target and the position of the focal point can be stabilized.

本発明によれば、マイクロフォーカスX線管のX線焦点の経時的なずれを低減してX線検査装置の画像品質を向上することができる。   According to the present invention, it is possible to improve the image quality of the X-ray inspection apparatus by reducing the temporal shift of the X-ray focus of the microfocus X-ray tube.

以下で、本発明の各実施形態に係るX線検査装置について図面を用いて説明する。以下の実施形態においては、X線検査装置の一例としてCT装置を用いて説明する。また、以下の説明において、同一部分には同一符号を用いて説明を省略し、類似部分には類似記号を用いて説明する。なお、本発明は、CT装置の他、X線透視検査装置、断層撮影装置等の各種のX線検査装置に適用することができる。   Hereinafter, an X-ray inspection apparatus according to each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, a CT apparatus will be described as an example of an X-ray inspection apparatus. In the following description, the same parts are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. Similar parts are denoted by similar symbols. The present invention can be applied to various X-ray inspection apparatuses such as an X-ray fluoroscopic inspection apparatus and a tomography apparatus in addition to a CT apparatus.

〈第1の実施形態〉
図1(a)の平面図及び図1(b)の正面図に示すように、第1の実施形態に係るCT装置1aは、X線管11aと、被検体2を配置して回転軸RAを中心に回転することで被検体2を回転させる回転テーブル12と、X線管11aから発生して被検体2を透過したX線3を検出するX線検出器13と、X線管11aを支持する支持台14とを備えている。
<First Embodiment>
As shown in the plan view of FIG. 1A and the front view of FIG. 1B, the CT apparatus 1a according to the first embodiment includes an X-ray tube 11a and a subject 2 and a rotational axis RA. A rotation table 12 that rotates the subject 2 by rotating around the X-ray tube 11, an X-ray detector 13 that detects X-rays 3 generated from the X-ray tube 11 a and transmitted through the subject 2, and an X-ray tube 11 a And a support base 14 for supporting.

CT装置1aは、X線管11aを制御する制御部、回転テーブル12の回転等を制御する制御部、X線検出器13で検出するX線を用いて検査画像を再構成する画像処理部、再構成した画像を表示するモニタ等と接続されているが、図1では本発明を実現するために利用される構成のみを表わしているため、制御部等の図示は省略している。   The CT apparatus 1a includes a control unit that controls the X-ray tube 11a, a control unit that controls rotation of the rotary table 12, an image processing unit that reconstructs an inspection image using X-rays detected by the X-ray detector 13, Although connected to a monitor or the like for displaying the reconstructed image, FIG. 1 shows only the configuration used for realizing the present invention, and therefore the control unit and the like are not shown.

X線管11aは、X線焦点Fが1μm程度のマイクロフォーカスX線管である。X線管11aは、図1に示すように、高電圧を発生する高圧発生部111と、高圧発生部111に接続される第1真空容器112と、第1真空容器112に接続される第2真空容器113とを備えている。第1の実施形態に係るCT装置1aのX線管11aは、内部に高圧発生部111を備える高圧発生部一体型のX線管である。   The X-ray tube 11a is a microfocus X-ray tube having an X-ray focal point F of about 1 μm. As shown in FIG. 1, the X-ray tube 11 a includes a high-pressure generator 111 that generates a high voltage, a first vacuum vessel 112 connected to the high-voltage generator 111, and a second connected to the first vacuum vessel 112. And a vacuum vessel 113. The X-ray tube 11a of the CT apparatus 1a according to the first embodiment is an X-ray tube integrated with a high-pressure generator that includes a high-pressure generator 111 therein.

第1真空容器112及び第2真空容器113はそれぞれ片側のみが開放される同径の筒型形状であって、第1真空容器112及び第2真空容器の113の開放される筒口がオーリング(図示せず)を介してネジ止めで密閉接続され、電子通路(図示せず)となる1つの内部空間を形成している。第1真空容器112及び第2真空容器113で形成される内部空間は、外部と遮断されているため、真空ポンプ(図示せず)で内部の空気が排気されることで真空状態にされる。   Each of the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 has a cylindrical shape with the same diameter opened only on one side, and the opening of the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 is an O-ring ( It is hermetically connected with screws via a screw (not shown) to form one internal space that becomes an electronic passage (not shown). Since the internal space formed by the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 is shut off from the outside, the internal air is exhausted by a vacuum pump (not shown) to be in a vacuum state.

図1に示すように、第1真空容器112及び第2真空容器113は軸TAを中心軸としている。第1真空容器112の内部には軸TA上に陰極である電子銃114が配置されている。また、第2真空容器113の筒底側の先端部分は、筒底の直径が筒口の直径より短くなる円錐台形状であり、筒底には陽極であるターゲット115が軸TAに対して垂直に配置され、軸TAの周囲に収束コイル116が配置されている。すなわち、X線管11aにおいて、電子銃114及びターゲット115は第1真空容器112及び第2真空容器113で形成される真空状態となる内部空間(電子通路)に配置されている。一方、収束コイル116は第2真空容器113内部の電子通路外周の大気圧状態となる位置に配置されている。   As shown in FIG. 1, the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 have an axis TA as a central axis. Inside the first vacuum vessel 112, an electron gun 114, which is a cathode, is disposed on the axis TA. The tip of the second vacuum vessel 113 on the cylinder bottom side has a truncated cone shape in which the diameter of the cylinder bottom is shorter than the diameter of the cylinder mouth, and the target 115 serving as an anode is perpendicular to the axis TA on the cylinder bottom. The converging coil 116 is arranged around the axis TA. That is, in the X-ray tube 11a, the electron gun 114 and the target 115 are disposed in an internal space (electron passage) that is in a vacuum state formed by the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113. On the other hand, the converging coil 116 is arranged at a position where the outer periphery of the electron passage inside the second vacuum vessel 113 is in an atmospheric pressure state.

検査時(X線照射時)には、高圧発生部111によって電子銃114とターゲット115の間に高電圧が印加される。高電圧の印加により、電子銃114のフィラメント(図示せず)から発生した電子が真空中で電子線となって加速されるとともに、収束コイル116が作る磁場によって加速された電子線が軸TA上に収束される。また、軸TA上に収束された電子線がターゲット115に当たることで、X線焦点FからX線3が発生する。   At the time of inspection (at the time of X-ray irradiation), a high voltage is applied between the electron gun 114 and the target 115 by the high voltage generator 111. By applying a high voltage, electrons generated from a filament (not shown) of the electron gun 114 are accelerated as an electron beam in a vacuum, and the electron beam accelerated by the magnetic field created by the focusing coil 116 is on the axis TA. To converge. Further, the X-ray 3 is generated from the X-ray focal point F when the electron beam converged on the axis TA hits the target 115.

図1に示すように高圧発生部111の支持台14側には、軸TAと平行な2本の直線(図示せず)上にそれぞれ2つのベアリングブロック15が固定されている。ベアリングブロック15は、図2に一例を示すように複数のボール15a,15bを有する一般的に汎用されているベアリングブロックである。   As shown in FIG. 1, two bearing blocks 15 are respectively fixed on two straight lines (not shown) parallel to the axis TA on the support base 14 side of the high pressure generator 111. The bearing block 15 is a generally used bearing block having a plurality of balls 15a and 15b as shown in FIG.

支持台14の平行面142には2本の直線形状のレール16が平行に設置されている。各レール16上には、高圧発生部111に固定されているそれぞれ2つのベアリングブロック15がレール16と係合するように配置される。   Two linear rails 16 are installed in parallel on the parallel surface 142 of the support base 14. On each rail 16, two bearing blocks 15 fixed to the high-pressure generator 111 are arranged so as to engage with the rail 16.

ベアリングブロック15にレール16の長手方向の力が加えられると、ボール15a,15bがベアリングブロック15の内部及びレール16上を回転しながら移動し、ベアリングブロック15がレール16上を摺動する。レール16及びベアリングブロック15は、請求項の摺動支持部に相当する。したがって、X線管11aのX線焦点を一端とする長手方向(軸TAの方向)とレール16の長手方向が一致するようにレール16上にX線管11aと固定されるベアリングブロック15が配置されることで、X線管11aに軸TAの方向の力が加えられたとき、X線管11aと固定されるベアリングブロック15は軸TAに沿ってレール16上を摺動する。   When a longitudinal force of the rail 16 is applied to the bearing block 15, the balls 15 a and 15 b move while rotating on the inside of the bearing block 15 and on the rail 16, and the bearing block 15 slides on the rail 16. The rail 16 and the bearing block 15 correspond to a sliding support portion in claims. Therefore, the bearing block 15 fixed to the X-ray tube 11a is arranged on the rail 16 so that the longitudinal direction (the direction of the axis TA) with the X-ray focal point of the X-ray tube 11a as one end coincides with the longitudinal direction of the rail 16. Thus, when a force in the direction of the axis TA is applied to the X-ray tube 11a, the bearing block 15 fixed to the X-ray tube 11a slides on the rail 16 along the axis TA.

ここで、レール16の長さは、X線管11aを支えることが十分な長さであればよく、例えばX線管11aの長さの半分程度である。また、CT装置1aでは、複数のベアリングブロック15及びレール16を有することでX線管11aを安定して支持することができるが、ベアリングブロック15とレール16の数は限定されない。   Here, the length of the rail 16 only needs to be long enough to support the X-ray tube 11a, and is, for example, about half the length of the X-ray tube 11a. In the CT apparatus 1a, the X-ray tube 11a can be stably supported by having the plurality of bearing blocks 15 and the rails 16, but the number of the bearing blocks 15 and the rails 16 is not limited.

図1(b)に示すように第2真空容器113は、レール16よりターゲット115に近い位置の外周に軸TAに垂直な面を有する突片117を有している。また、支持台14は、軸TAに垂直であって突片117と係合する面を有する係止部141を有している。   As shown in FIG. 1B, the second vacuum vessel 113 has a projecting piece 117 having a surface perpendicular to the axis TA on the outer periphery at a position closer to the target 115 than the rail 16. In addition, the support base 14 has a locking portion 141 having a surface that is perpendicular to the axis TA and engages with the protruding piece 117.

図3は、CT装置1aをターゲット115側から見た図である。図3に示すように、係止部141と突片117とが係合した状態でネジ17によって固定することで、支持台14が第2真空容器113を固定する。   FIG. 3 is a view of the CT apparatus 1a as viewed from the target 115 side. As shown in FIG. 3, the support base 14 fixes the second vacuum vessel 113 by fixing with the screw 17 in a state where the locking portion 141 and the protruding piece 117 are engaged.

ここで、突片117と係止部141とを固定する際には、高圧発生部111に固定されるベアリングブロック15をレール16に沿って突片117と係止部141とが係合するまで移動させてネジ止めする。図3に示す例では、突片117と係止部141は、2つのネジ17によって固定されているが、ネジ17の数は限定されない。   Here, when the projecting piece 117 and the locking part 141 are fixed, the bearing block 15 fixed to the high pressure generating unit 111 is engaged with the projecting piece 117 and the locking part 141 along the rail 16. Move and fasten with screws. In the example shown in FIG. 3, the protruding piece 117 and the locking portion 141 are fixed by two screws 17, but the number of screws 17 is not limited.

なお、第1真空容器112と第2真空容器113とは、図1に示すように、ヒンジ118によって接続されている。電子銃114のフィラメント交換時等のメンテナンス時には、まず、第1真空容器112及び第2真空容器113で形成される内部空間を真空状態から大気圧状態にした上で、突片117と係止部141を固定しているネジ17を外す。その後、第1真空容器112と第2真空容器113を固定しているネジ(図示せず)を外し、図4に示すようにヒンジ118を軸として第2真空容器113のヒンジ118側の側面と第1真空容器112のヒンジ118側の側面とを合わせるように第2真空容器113を動かして第1真空容器112と第2真空容器113とで形成される内部空間を開放し、フィラメント交換等を行う。   The first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 are connected by a hinge 118 as shown in FIG. When performing maintenance such as filament replacement of the electron gun 114, first, the internal space formed by the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 is changed from a vacuum state to an atmospheric pressure state, and then the projecting piece 117 and the locking portion Remove the screw 17 fixing 141. Thereafter, a screw (not shown) for fixing the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 is removed, and the side surface of the second vacuum vessel 113 on the hinge 118 side with the hinge 118 as an axis as shown in FIG. The second vacuum vessel 113 is moved so that the side surface on the hinge 118 side of the first vacuum vessel 112 is aligned to open the internal space formed by the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113, and filament replacement and the like are performed. Do.

X線管11aは、高電圧の発生の際に、高圧発生部111、第1真空容器112及び第2真空容器113の各部分に熱膨張が生じる。例えば、図1に示すCT装置1aでは、X線管11aの高圧発生部111や第2真空容器113の収束コイル116に近い位置が高温となりやすく熱膨張を生じることが多い。X線管11aにおいて熱膨張に伴うTA方向の伸縮が生じたとき、上述したCT装置1aでは、X線管11aの伸縮に伴ってベアリングブロック15がレール16上を摺動するため、X線管11aの歪はベアリングブロック15の摺動で吸収される。特に、TA方向の伸縮はX線焦点Fのずれに与える影響が大きいが、X線管11aの伸縮に伴ってベアリングブロック15がレール16上をTA方向に摺動することで、上述したCT装置1aにおいては、X線管11aのTA方向の伸縮による歪は吸収されてX線焦点Fのずれを減少させることができる。   The X-ray tube 11a undergoes thermal expansion in each part of the high-pressure generator 111, the first vacuum vessel 112, and the second vacuum vessel 113 when a high voltage is generated. For example, in the CT apparatus 1a shown in FIG. 1, the position near the high-pressure generator 111 of the X-ray tube 11a and the converging coil 116 of the second vacuum vessel 113 is likely to become high temperature and often causes thermal expansion. When the expansion and contraction in the TA direction accompanying thermal expansion occurs in the X-ray tube 11a, in the CT apparatus 1a described above, the bearing block 15 slides on the rail 16 along with the expansion and contraction of the X-ray tube 11a. The strain 11 a is absorbed by the sliding of the bearing block 15. In particular, the expansion and contraction in the TA direction has a great influence on the shift of the X-ray focal point F. However, the CT block described above can be obtained by sliding the bearing block 15 on the rail 16 in the TA direction as the X-ray tube 11a expands and contracts. In 1a, the distortion due to the expansion and contraction of the X-ray tube 11a in the TA direction is absorbed, and the shift of the X-ray focal point F can be reduced.

また、ターゲット115の付近の伸縮や振動はX線焦点Fにずれを生ずるが、ターゲット115の付近でX線管11aを固定しているため、上述したCT装置1aのX線管11aにおいては、X線焦点Fのずれを減少させることができる。   Further, expansion and contraction and vibration in the vicinity of the target 115 cause a shift in the X-ray focal point F. However, since the X-ray tube 11a is fixed in the vicinity of the target 115, in the X-ray tube 11a of the CT apparatus 1a described above, The deviation of the X-ray focal point F can be reduced.

さらに、突片117と係止部141とを固定するときネジ17の方向を軸TA方向に合わせて、ネジ止めにより生じる力をベアリングブロック15によって吸収させているため、X線管11aの固定による歪が残存することがなく、X線焦点Fのずれを減少させることができる。   Further, when the projecting piece 117 and the locking portion 141 are fixed, the direction of the screw 17 is aligned with the direction of the axis TA, and the force generated by the screwing is absorbed by the bearing block 15, so that the X-ray tube 11a is fixed. The distortion does not remain, and the deviation of the X-ray focal point F can be reduced.

上述したように、本発明の第1の実施形態に係るCT装置1aでは、X線管11aの各部において熱膨張によって生じる伸縮をベアリングブロック15が吸収して歪を防止し、X線焦点Fを安定させることが可能となるため、CT装置1aの画像品質を向上させることができる。   As described above, in the CT apparatus 1a according to the first embodiment of the present invention, the expansion and contraction caused by thermal expansion in each part of the X-ray tube 11a is absorbed by the bearing block 15 to prevent distortion, and the X-ray focal point F is set. Since it becomes possible to stabilize, the image quality of CT apparatus 1a can be improved.

〈変形例〉
上述したCT装置1aでは高圧発生部111にベアリングブロック15が固定され、このベアリングブロック15が支持台14に配置されるレール16上を摺動可能な構成である。しかしながら、X線管11aに固定される固定部材はベアリングブロック15に限定されることはない。また、支持台14に配置されてベアリングブロック15を支える部材もレール16に限定されない。すなわち、X線管11aが軸TAに沿って摺動することが可能な構成であればよい。例えば、図5に示すように、固定部材として、ベアリングブロック15に代えて車輪181を利用し、この車輪181が高圧発生部111に接続する軸182を中心にレール16上を回転する構成にしてもよい。また、ベアリングブロック15に代えてボールのないブロックを用いて、このブロックがレール16上を摺動する構成としてもよい。この場合、レール16、車輪181、軸182、ボールのないブロック等が請求項の摺動支持部に相当する。さらに、レールを高圧発生部111に固定し、ベアリングブロック(あるいは車輪181、軸182、ボールのないブロック等)を支持台14に固定するようにしてもよい。
<Modification>
In the CT apparatus 1a described above, the bearing block 15 is fixed to the high pressure generator 111, and the bearing block 15 is slidable on the rail 16 disposed on the support base 14. However, the fixing member fixed to the X-ray tube 11 a is not limited to the bearing block 15. Further, the member that is disposed on the support base 14 and supports the bearing block 15 is not limited to the rail 16. That is, the X-ray tube 11a may be configured to be slidable along the axis TA. For example, as shown in FIG. 5, a wheel 181 is used as a fixing member instead of the bearing block 15, and the wheel 181 rotates on the rail 16 around a shaft 182 connected to the high pressure generator 111. Also good. Further, instead of the bearing block 15, a block without balls may be used so that the block slides on the rail 16. In this case, the rail 16, the wheel 181, the shaft 182, the block without a ball, and the like correspond to the sliding support portion of the claims. Further, the rail may be fixed to the high pressure generator 111 and the bearing block (or the wheel 181, the shaft 182, a block without a ball, etc.) may be fixed to the support base 14.

また、上述したCT装置1aでは突片117が係止部141にネジで固定されている。しかしながら、X線管11aを固定する構成は、ネジ17に限定されない。すなわち、X線管11aのターゲット115に近い位置で支持台14に固定することが可能な構成であって、フィラメントの交換時等に第1真空容器112と第2真空容器113で構成される内部空間を開放することが可能な構成であればよい。なお、突片117及び係止部141が軸TAの方向に固定され、固定で発生する力がベアリングブロック15の摺動で吸収されることが望ましい。例えば、ネジ17の代わりにボルトとナットや固定用レバー等を利用することが考えられる。   Further, in the CT apparatus 1a described above, the projecting piece 117 is fixed to the locking portion 141 with a screw. However, the configuration for fixing the X-ray tube 11 a is not limited to the screw 17. That is, the X-ray tube 11a can be fixed to the support base 14 at a position close to the target 115, and the internal structure constituted by the first vacuum vessel 112 and the second vacuum vessel 113 when the filament is exchanged. Any structure that can open the space may be used. It is desirable that the projecting piece 117 and the locking portion 141 are fixed in the direction of the axis TA, and the force generated by the fixing is absorbed by the sliding of the bearing block 15. For example, it is conceivable to use bolts and nuts, fixing levers or the like instead of the screws 17.

第1実施形態で、X線管11aとして、ターゲット115を透過したX線を利用する透過型のX線管を用いて上述したが、反射型のX線管を用いても本発明が適用できることは当業者であれば容易に理解できることである。   In the first embodiment, as the X-ray tube 11a, the transmission type X-ray tube using the X-rays transmitted through the target 115 has been described above. However, the present invention can be applied even when a reflection type X-ray tube is used. Can be easily understood by those skilled in the art.

〈第2の実施形態〉
図6(a)の平面図及び図6(b)の正面図に示すように、第2の実施の形態に係るCT装置1bは、X線管11bと、回転テーブル12と、X線検出器13と、X線管11bを支持する支持台14とを備えている。CT装置1bでは、上述した第1の実施の形態に係るCT装置1aと同様に、支持台14の係止部141にX線管11bの突片117がネジ17で固定されている。
<Second Embodiment>
As shown in the plan view of FIG. 6A and the front view of FIG. 6B, the CT apparatus 1b according to the second embodiment includes an X-ray tube 11b, a rotary table 12, and an X-ray detector. 13 and a support base 14 for supporting the X-ray tube 11b. In the CT apparatus 1b, similarly to the CT apparatus 1a according to the first embodiment described above, the protruding piece 117 of the X-ray tube 11b is fixed to the locking portion 141 of the support base 14 with screws 17.

この第2の実施の実施形態に係るCT装置1bを第1の実施形態に係るCT装置1aと比較すると、CT装置1aでは高圧発生部一体型のX線管11aを用いていた。これに対して、CT装置1bでは高圧発生部分離型のX線管11bを用いている点で異なる。すなわち、図6で示すX線管11bは、第1真空容器112及び第2真空容器113を備えているが、高圧発生部111を備えていない。また、CT装置1aではベアリングブロック15が高圧発生部111に接続されていた。これに対して、CT装置1bではベアリングブロック15が第1真空容器112に接続されている点で異なる。   When the CT apparatus 1b according to the second embodiment is compared with the CT apparatus 1a according to the first embodiment, the CT apparatus 1a uses an X-ray tube 11a integrated with a high-pressure generator. On the other hand, the CT apparatus 1b is different in that a high-pressure generating part separation type X-ray tube 11b is used. That is, the X-ray tube 11b shown in FIG. 6 includes the first vacuum container 112 and the second vacuum container 113, but does not include the high-pressure generator 111. In the CT apparatus 1a, the bearing block 15 is connected to the high pressure generator 111. On the other hand, the CT apparatus 1b differs in that the bearing block 15 is connected to the first vacuum vessel 112.

したがって、CT装置1bでは、検査時(X線照射時)には、X線管11bの外部に備えられる高圧発生部(図示せず)によって高電圧を発生し、電子銃114とターゲット115間に高電圧を印加してX線焦点FからX線3を発生させて被検体2の検査画像を得る。   Therefore, the CT apparatus 1b generates a high voltage by a high voltage generator (not shown) provided outside the X-ray tube 11b during the inspection (at the time of X-ray irradiation), and between the electron gun 114 and the target 115. A high voltage is applied to generate X-rays 3 from the X-ray focal point F to obtain an inspection image of the subject 2.

なお、CT装置1bのその他の構成は上述したCT装置1aと同一であり、X線管11bが熱膨張によって伸縮したとき、X線管11bに固定されるベアリングブロック15がレール16上を軸TAの方向に摺動して熱膨張による歪を防止する。   The other configuration of the CT apparatus 1b is the same as that of the CT apparatus 1a described above. When the X-ray tube 11b expands and contracts due to thermal expansion, the bearing block 15 fixed to the X-ray tube 11b moves on the rail 16 along the axis TA. To prevent distortion due to thermal expansion.

本発明の第1の実施形態に係るCT装置を説明する概略図である。1 is a schematic diagram illustrating a CT apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図1のCT装置で利用するベアリングブロックを説明する概略図である。It is the schematic explaining the bearing block utilized with CT apparatus of FIG. 図1のCT装置でX線管を支持台に固定する構成を説明する概略図である。It is the schematic explaining the structure which fixes an X-ray tube to a support stand with CT apparatus of FIG. 図1のCT装置のX線管の真空容器の開閉について説明する概略図である。It is the schematic explaining opening and closing of the vacuum vessel of the X-ray tube of CT apparatus of FIG. 変形例に係るCT装置で利用する車輪について説明する概略図である。It is the schematic explaining the wheel utilized with CT apparatus concerning a modification. 本発明の第2の実施形態に係るCT装置を説明する概略図である。It is the schematic explaining the CT apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1a,1b…CT装置
11a,11b…X線管
111…高圧発生部
112,113…真空容器
114…電子銃
115…ターゲット
116…収束コイル
117…突片
118…ヒンジ
12…回転テーブル
13…X線検出器
14…支持台
141…係止部
15…ベアリングブロック
15a,15b…ボール
16…レール
17…ネジ
181…車輪
182…軸
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a, 1b ... CT apparatus 11a, 11b ... X-ray tube 111 ... High pressure generation part 112, 113 ... Vacuum vessel 114 ... Electron gun 115 ... Target 116 ... Converging coil 117 ... Projection piece 118 ... Hinge 12 ... Rotary table 13 ... X-ray Detector 14 ... Supporting base 141 ... Locking part 15 ... Bearing block 15a, 15b ... Ball 16 ... Rail 17 ... Screw 181 ... Wheel 182 ... Shaft

Claims (2)

真空状態の容器内に収容された電子銃と前記容器内にあって前記電子銃から発生した電子の進行方向側の端部に配置されたターゲットとを備え前記電子銃及び前記ターゲットに高電圧が印加されることで前記ターゲットのX線焦点からX線を発生させるX線管と、
このX線管から照射され、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、を有するX線検査装置において、
前記ターゲット近傍の前記容器外周に設けられた突片と、
前記X線焦点を一端とする方向に前記X線管を摺動可能に支持する摺動支持部と、前記摺動支持部より前記ターゲットに近い位置で前記突片を係止する係止部を備えて前記X線管を所定位置に支持する支持台と、
を備えることを特徴とするX線検査装置。
An electron gun housed in a vacuum container and a target disposed in an end of the container in the traveling direction side of electrons generated from the electron gun and a high voltage applied to the electron gun and the target An X-ray tube that, when applied, generates X-rays from the X-ray focal point of the target;
In an X-ray inspection apparatus having an X-ray detector that detects X-rays irradiated from the X-ray tube and transmitted through the subject,
A projecting piece provided on the outer periphery of the container in the vicinity of the target;
A sliding support portion for slidably supporting the X-ray tube in a direction having the X-ray focal point as one end; and a locking portion for locking the protruding piece at a position closer to the target than the sliding support portion. A support base for supporting the X-ray tube at a predetermined position;
An X-ray inspection apparatus comprising:
前記突片及び前記係止部は、それぞれ前記摺動の方向に対して垂直な面を持ち、突片の面と係止部の面とを突き合わせて固定することにより、前記X線管の位置決めがされる、
ことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
Each of the projecting piece and the engaging portion has a surface perpendicular to the sliding direction, and the surface of the projecting piece and the surface of the engaging portion are abutted and fixed, thereby positioning the X-ray tube. Will be
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013149368A (en) * 2012-01-17 2013-08-01 Canon Inc Radiation generating device and radiographic device using the same
CN107884425A (en) * 2017-12-26 2018-04-06 同方威视技术股份有限公司 System and method for mineral products constituent analysis
US9953799B2 (en) 2012-09-26 2018-04-24 Nikon Corporation X-ray apparatus and structure manufacturing method
WO2021210239A1 (en) * 2020-04-13 2021-10-21 浜松ホトニクス株式会社 Energy beam irradiation device
US11183354B2 (en) 2017-12-26 2021-11-23 Nuctech Company Limited Drawer-type carrying device for accelerator and cabin structure for accelerator

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06269439A (en) * 1993-03-16 1994-09-27 Hitachi Ltd X-ray ct apparatus and x-ray generator
JP2004055325A (en) * 2002-07-19 2004-02-19 Shimadzu Corp X ray generation apparatus
JP2004340630A (en) * 2003-05-13 2004-12-02 Sony Corp Computer tomography, and computer tomographic device
JP2004362898A (en) * 2003-06-03 2004-12-24 Toshiba Corp X-ray device
JP2005095651A (en) * 2004-11-12 2005-04-14 Toshiba Corp X-ray tube control device
JP2007014608A (en) * 2005-07-08 2007-01-25 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06269439A (en) * 1993-03-16 1994-09-27 Hitachi Ltd X-ray ct apparatus and x-ray generator
JP2004055325A (en) * 2002-07-19 2004-02-19 Shimadzu Corp X ray generation apparatus
JP2004340630A (en) * 2003-05-13 2004-12-02 Sony Corp Computer tomography, and computer tomographic device
JP2004362898A (en) * 2003-06-03 2004-12-24 Toshiba Corp X-ray device
JP2005095651A (en) * 2004-11-12 2005-04-14 Toshiba Corp X-ray tube control device
JP2007014608A (en) * 2005-07-08 2007-01-25 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013149368A (en) * 2012-01-17 2013-08-01 Canon Inc Radiation generating device and radiographic device using the same
US9953799B2 (en) 2012-09-26 2018-04-24 Nikon Corporation X-ray apparatus and structure manufacturing method
CN107884425A (en) * 2017-12-26 2018-04-06 同方威视技术股份有限公司 System and method for mineral products constituent analysis
EP3734258A4 (en) * 2017-12-26 2021-09-08 Nuctech Company Limited Accelerator system and method for mineral product component analysis
US11183354B2 (en) 2017-12-26 2021-11-23 Nuctech Company Limited Drawer-type carrying device for accelerator and cabin structure for accelerator
WO2021210239A1 (en) * 2020-04-13 2021-10-21 浜松ホトニクス株式会社 Energy beam irradiation device
JP2021167783A (en) * 2020-04-13 2021-10-21 浜松ホトニクス株式会社 Energy beam irradiation device
JP7434041B2 (en) 2020-04-13 2024-02-20 浜松ホトニクス株式会社 Energy ray irradiation device

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