JP2009147272A - Method of manufacturing solar battery - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a solar battery of excellent characteristics in a simple process by using a phosphor based dopant coating liquid in a form suitable for application by an inkjet method. <P>SOLUTION: The method of manufacturing the solar battery includes: a step of applying the alcoholic solution of phosphorous acid to a p-type semiconductor substrate by the inkjet method so that the dots of the alcoholic solution of the phosphorous acid partially overlap; and a step of forming the n-type diffusion layer of a different phosphor concentration on the p-type semiconductor substrate by thermally diffusing phosphor. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

この発明は、太陽電池の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell.

一般的な太陽電池では、太陽光線の照射により生成したキャリアを分離するためにpn接合が必要である。このpn接合は、例えば、基板にp型半導体基板を用いる場合にはリン等の5族元素をn型ドーパントとして受光面側で熱拡散させることにより形成することができ、また、基板にn型半導体基板を用いる場合には硼素等の3族元素をp型ドーパントとして受光面側で熱拡散させることにより形成することができる。   In a general solar cell, a pn junction is required to separate carriers generated by irradiation with sunlight. For example, when a p-type semiconductor substrate is used as the substrate, this pn junction can be formed by thermally diffusing a group 5 element such as phosphorus as an n-type dopant on the light-receiving surface side, In the case of using a semiconductor substrate, it can be formed by thermally diffusing a group 3 element such as boron on the light receiving surface side as a p-type dopant.

結晶シリコン太陽電池を例に挙げてより具体的に説明すると、結晶シリコン太陽電池は、通常、p型シリコン基板両面の全面に700℃〜900℃程度の温度でリン系ドーパントを熱拡散させてn型拡散層を形成し、裏面側の不要なn型拡散層を除去し、次いで受光面側のn型拡散層上にシリコン窒化膜等からなる反射防止膜を形成し、この反射防止膜上に銀ペーストをグリッド状に印刷するとともに、反射防止膜が形成された面とは反対側の裏面上にアルミペーストをベタ印刷した後、基板を焼成することにより製造される。また、裏面側のn型拡散層を除去せずに、アルミペーストからアルミを基板に拡散させ、n型拡散層をp型層あるいは高濃度拡散のp+型層に強制的に反転させる場合もある。   More specifically, taking a crystalline silicon solar cell as an example, the crystalline silicon solar cell is generally formed by thermally diffusing a phosphorus-based dopant at a temperature of about 700 ° C. to 900 ° C. on both surfaces of the p-type silicon substrate. A diffusion layer is formed, an unnecessary n-type diffusion layer on the back surface side is removed, and then an antireflection film made of a silicon nitride film or the like is formed on the n-type diffusion layer on the light receiving surface side. It is manufactured by printing the silver paste in a grid shape, solid-printing the aluminum paste on the back surface opposite to the surface on which the antireflection film is formed, and then baking the substrate. In addition, without removing the n-type diffusion layer on the back side, aluminum may be diffused from the aluminum paste to the substrate, and the n-type diffusion layer may be forcibly inverted to a p-type layer or a high-concentration p + type layer. .

ところで、太陽電池の光電変換効率を上げるためには、拡散層の厚さを薄くする必要がある。しかし、拡散層の厚さが薄すぎると高抵抗化により電極部分での集電がうまくできなくなるうえに、突き抜けと言われる電極による拡散層部分の破壊が起こりやすくなる。そのため、受光面に対応する部分は拡散層の厚さを薄くした高抵抗層(低濃度ドーパント拡散層)とし、且つ電極に対応する部分は拡散層の厚さを厚くした低抵抗層(高濃度ドーパント拡散層)とした選択エミッタと呼ばれる構造が好ましい。従来、このような選択エミッタを形成する場合、複数回の拡散とマスキングによる部分エッチング等とを組み合わせた複雑な工程が必要であった。   By the way, in order to increase the photoelectric conversion efficiency of the solar cell, it is necessary to reduce the thickness of the diffusion layer. However, if the thickness of the diffusion layer is too thin, current collection at the electrode portion cannot be performed well due to high resistance, and the diffusion layer portion is easily broken by the electrode, which is said to penetrate. Therefore, the portion corresponding to the light receiving surface is a high resistance layer (low concentration dopant diffusion layer) with a thin diffusion layer, and the portion corresponding to the electrode is a low resistance layer (high concentration with a high diffusion layer thickness). A structure called a selective emitter as a dopant diffusion layer) is preferable. Conventionally, when such a selective emitter is formed, a complicated process combining a plurality of times of diffusion and partial etching by masking is required.

そこで、インクジェット装置を用いて、リン系ドーパント濃度の高い塗布液を半導体基板の表面電極を形成すべき表面に塗布するとともに、リン系ドーパント濃度の低い塗布液を半導体基板の受光領域とすべき表面に塗布した後、熱処理を行なってリン系ドーパントを拡散させることにより半導体基板上に選択エミッタを形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。   Therefore, using an inkjet apparatus, a coating liquid having a high phosphorus-based dopant concentration is applied to the surface on which the surface electrode of the semiconductor substrate is to be formed, and a coating liquid having a low phosphorus-based dopant concentration is used as the light receiving region of the semiconductor substrate. There has been proposed a method of forming a selective emitter on a semiconductor substrate by applying a heat treatment and diffusing a phosphorus-based dopant after coating (see, for example, Patent Document 1).

また、リンが拡散されたシリコン基板上に形成した反射防止膜に、エッチング成分およびドーピング成分の両方として作用するリン酸含有塗布媒体をスクリーン印刷やインクジェット法等により局所的に塗布した後、基板を加熱することにより塗布媒体が塗布された部分の反射防止膜をエッチングし、次いで基板を更に加熱してリンを局所的に拡散させることによりシリコン基板上に選択エミッタを形成する方法が提案されている(例えば、特許文献2を参照)。   In addition, a phosphoric acid-containing coating medium that acts as both an etching component and a doping component is locally applied to an antireflection film formed on a silicon substrate in which phosphorus is diffused, by screen printing, an inkjet method, or the like, and then the substrate is There has been proposed a method in which a selective emitter is formed on a silicon substrate by etching the antireflection film at a portion where the coating medium is applied by heating, and then further heating the substrate to locally diffuse phosphorus. (For example, see Patent Document 2).

特開2003−224285号公報JP 2003-224285 A 特表2005−506705号公報JP 2005-506705 gazette

しかしながら、インクジェット法で用いる塗布液には粘度及び表面張力が小さいことが要求されるため、その組成に大きな制限がある。つまり、上記特許文献1及び2のいずれにおいても、インクジェット法で塗布できる程度に粘度及び表面張力が小さいという条件の中で塗布液を調製することが必要になるが、これらの特許文献では、塗布液の構成成分と粘度及び表面張力との関係は何ら考慮されていない。粘度や表面張力を小さくする一般的な手法として、例えば、水で単に希釈する方法では、塗布液の粘度は下げることができるものの、表面張力を下げることができないうえに、リン系ドーパントの濃度が薄くなり過ぎて基板へのリンの拡散が不十分となる恐れがあり、また、例えば、水に界面活性剤を添加した水溶液で希釈する方法では、粘度及び表面張力を下げることができるものの、界面活性剤由来の不純物がn型拡散層へ混入して太陽電池の特性を低下させるという問題がある。
このように、上記した従来技術では、インクジェット法で用いるためのリン系ドーパント塗布液の粘度及び表面張力については何ら考慮されていないので、リン系ドーパント塗布液を均一に且つ安定して塗布することは難しく、簡単な工程で特性の良好な太陽電池を製造することはできないという問題があった。
However, since the coating liquid used in the ink jet method is required to have low viscosity and surface tension, there is a great limitation on the composition. That is, in both Patent Documents 1 and 2, it is necessary to prepare a coating solution under the condition that the viscosity and the surface tension are small enough to be applied by an ink jet method. No consideration is given to the relationship between the components of the liquid and the viscosity and surface tension. As a general method for reducing the viscosity and surface tension, for example, the method of simply diluting with water can reduce the viscosity of the coating solution, but cannot reduce the surface tension, and the concentration of the phosphorus dopant is low. There is a possibility that the diffusion of phosphorus to the substrate becomes insufficient because the film becomes too thin. For example, in the method of diluting with an aqueous solution in which a surfactant is added to water, the viscosity and the surface tension can be lowered. There is a problem that impurities derived from the activator are mixed into the n-type diffusion layer to deteriorate the characteristics of the solar cell.
As described above, in the above-described conventional technology, no consideration is given to the viscosity and surface tension of the phosphorus-based dopant coating solution for use in the ink jet method, so that the phosphorus-based dopant coating solution is uniformly and stably applied. However, it is difficult to manufacture a solar cell with good characteristics by a simple process.

従って、本発明の目的は、インクジェット法による塗布に適した形態のリン系ドーパント塗布液を用い、簡単な工程で特性の良好な太陽電池を製造する方法を提供するものである。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for producing a solar cell with good characteristics by a simple process using a phosphorous dopant coating solution in a form suitable for coating by an ink jet method.

そこで、本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、リン酸をアルコールで希釈してリン酸のアルコール溶液とし、このアルコール溶液のドットが一部重なるようにp型半導体基板にインクジェット塗布し、リンを熱拡散させることによりp型半導体基板上にリン濃度の異なるn型拡散層を形成する方法が上記課題を解決し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。   Accordingly, as a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have diluted phosphoric acid with alcohol to obtain an alcohol solution of phosphoric acid, and the p-type semiconductor substrate is formed so that the dots of this alcohol solution partially overlap. It has been found that a method of forming n-type diffusion layers having different phosphorus concentrations on a p-type semiconductor substrate by applying ink jet and thermally diffusing phosphorus can solve the above-mentioned problems, and has completed the present invention.

即ち、本発明に係る太陽電池の製造方法は、リン酸のアルコール溶液のドットが一部重なり合うようにリン酸のアルコール溶液をインクジェット法によりp型半導体基板に塗布する工程と、リンを熱拡散させることによりp型半導体基板上にリン濃度の異なるn型拡散層を形成する工程とを備えることを特徴とするものである。   That is, the method for manufacturing a solar cell according to the present invention includes a step of applying an alcohol solution of phosphoric acid to a p-type semiconductor substrate by an inkjet method so that the dots of the alcohol solution of phosphoric acid partially overlap, and thermally diffusing phosphorus. And a step of forming n-type diffusion layers having different phosphorus concentrations on the p-type semiconductor substrate.

本発明によれば、インクジェット法による塗布に適した形態のリン系ドーパント塗布液を用い、簡単な工程で特性の良好な太陽電池を製造する方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the method of manufacturing a solar cell with a favorable characteristic can be provided by a simple process using the phosphorus type dopant coating liquid of the form suitable for the application | coating by the inkjet method.

以下、本発明の実施形態について説明する。
実施の形態1.
実施の形態1に係る太陽電池の製造方法は、リン系ドーパント塗布液としてのリン酸アルコール溶液をp型半導体基板にインクジェット塗布する工程と、このリンを熱拡散させることによりp型半導体基板上にリン濃度の異なるn型拡散層を形成する工程とを備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
Embodiment 1 FIG.
The method for manufacturing a solar cell according to Embodiment 1 includes a step of inkjet-coating a phosphoric alcohol solution as a phosphorus-based dopant coating solution onto a p-type semiconductor substrate, and thermally dispersing the phosphorus on the p-type semiconductor substrate. Forming n-type diffusion layers having different phosphorus concentrations.

まず、リン系ドーパント塗布液をインクジェット法によりp型半導体基板に塗布する工程について説明する。
本実施の形態に用いられるリン系ドーパント塗布液は、リン酸をアルコールで希釈することによって粘度及び表面張力を調整したものである。リン酸アルコール溶液の粘度は、より均一に且つ安定して塗布を行う観点から、25℃において1mPa・s〜20mPa・sにするのが好ましく、5mPa・s〜10mPa・s程度にするのが特に好ましい。また、リン酸アルコール溶液の表面張力は、より均一に且つ安定して塗布を行う観点から、25℃において20mN/m〜50mN/mにするのが好ましく、20mN/m〜30mN/mにするのが特に好ましい。上記のような粘度及び表面張力を有するリン酸アルコール溶液を調製するためには、希釈に用いるアルコールの種類にも依るが、リン酸が好ましくは5質量%〜50質量%、特に好ましくは10質量%〜40質量%の範囲で含まれるようにアルコールで希釈すればよい。ただし、リン酸濃度が低過ぎると、後工程におけるp型半導体基板へのリンの拡散が不十分になる場合があり、一方、リン酸濃度が高過ぎると、粘度及び表面張力が大きくなってインクジェット塗布が困難になる場合がある。
First, the process of apply | coating a phosphorus dopant coating liquid to a p-type semiconductor substrate by the inkjet method is demonstrated.
The phosphorus-based dopant coating solution used in the present embodiment is one in which viscosity and surface tension are adjusted by diluting phosphoric acid with alcohol. The viscosity of the phosphoric alcohol solution is preferably 1 mPa · s to 20 mPa · s at 25 ° C. from the viewpoint of more uniformly and stably coating, particularly about 5 mPa · s to 10 mPa · s. preferable. The surface tension of the phosphate alcohol solution is preferably 20 mN / m to 50 mN / m at 25 ° C. from the viewpoint of more uniformly and stably coating, and 20 mN / m to 30 mN / m. Is particularly preferred. In order to prepare a phosphate alcohol solution having the above-described viscosity and surface tension, phosphoric acid is preferably 5% by mass to 50% by mass, particularly preferably 10% by mass, depending on the type of alcohol used for dilution. What is necessary is just to dilute with alcohol so that it may be contained in the range of% -40 mass%. However, if the phosphoric acid concentration is too low, the diffusion of phosphorus into the p-type semiconductor substrate in the post-process may be insufficient. On the other hand, if the phosphoric acid concentration is too high, the viscosity and the surface tension increase, and the inkjet Application may be difficult.

希釈に用いるアルコールとしては、特に限定されるものではないが、例えば、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ヘキサノール、ヘプタノール、オクタノール、ノナノール、デカノールが挙げられ、シリコン基板への親和性と適度な蒸発性という観点から、ヘキサノールが特に好ましい。   The alcohol used for dilution is not particularly limited, and examples thereof include ethanol, isopropanol, butanol, hexanol, heptanol, octanol, nonanol, and decanol. From the viewpoint of affinity for silicon substrate and appropriate evaporation Therefore, hexanol is particularly preferable.

そして、この工程では、上記したリン酸アルコール溶液のドットが一部重なり合うように、インクジェット装置により吐出量やピッチを調整しながらリン酸アルコール溶液をp型半導体基板に塗布する。リン酸アルコール溶液のp型半導体基板への塗布量としては、通常、0.1μl/cm2〜50μl/cm2の範囲であればよく、吐出がしやすいという観点から、0.2μl/cm2〜5μl/cm2の範囲であることが好ましい。本実施の形態における「リン酸アルコール溶液のドットが一部重なり合うように」とは、図1に示すようにリン酸アルコール溶液のドット1同士の少なくとも端部近傍が一部重なり合っていることを意味する。図1において、このドットが重なり合った部分3は、重なり合っていない部分2よりもリン酸濃度が高い状態となっているので、後工程でリンの熱拡散処理を行うとリン濃度の高いn型拡散層を形成する。従って、特性のより良好な太陽電池を得る観点から、電極が形成される部分に対応したp型半導体基板上には、ドットが一部重なり合うようにリン酸のアルコール溶液を塗布することが望ましい。また、ドット同士の間に隙間(未塗布部分)がなく且つドットの重なり合っている部分が連続して存在するように塗布することも望ましい。また、電流の流れやすい流路が全面に繋がるという観点から、ドットの重なり合っている部分が網目状になっていることも好ましい。この様なドットが一部重なり合うようにリン酸のアルコール溶液をドット状に精度よく塗布するために、基板加熱により塗布と乾燥を同時に行う方法や、ドット同士が重ならない様に本来の半分のドット密度で塗布を行い、乾燥した後に各ドットをつなぐように残りのドットを塗布する方法などを用いてもよい。 In this step, the phosphate alcohol solution is applied to the p-type semiconductor substrate while adjusting the discharge amount and pitch with an ink jet apparatus so that the above-described dots of the phosphate alcohol solution partially overlap. The amount of the phosphoric alcohol solution applied to the p-type semiconductor substrate is usually in the range of 0.1 μl / cm 2 to 50 μl / cm 2. From the viewpoint of easy ejection, 0.2 μl / cm 2 It is preferably in the range of ˜5 μl / cm 2 . The phrase “so that the dots of the phosphate alcohol solution partially overlap” in the present embodiment means that at least the vicinity of the ends of the dots 1 of the phosphate alcohol solution partially overlap as shown in FIG. To do. In FIG. 1, the portion 3 where the dots overlap has a higher phosphoric acid concentration than the portion 2 where the dots do not overlap. Form a layer. Therefore, from the viewpoint of obtaining a solar cell with better characteristics, it is desirable to apply an alcoholic solution of phosphoric acid so that the dots partially overlap on the p-type semiconductor substrate corresponding to the portion where the electrode is formed. It is also desirable to apply so that there is no gap (unapplied portion) between the dots and there are continuous portions where the dots overlap. Moreover, it is also preferable that the overlapping portion of the dots is in a mesh shape from the viewpoint that the flow path through which the current easily flows is connected to the entire surface. In order to accurately apply the alcoholic solution of phosphoric acid in the form of dots so that these dots partially overlap, a method of applying and drying simultaneously by heating the substrate, or the original half of the dots so that the dots do not overlap A method of applying the remaining dots so as to connect the dots after applying at a density and drying may be used.

本実施の形態に用いられるp型半導体基板としては、例えば、単結晶シリコン基板、多結晶シリコン基板等が挙げられる。また、p型半導体基板としては、通常、150μm〜300μmの厚さのものが用いられる。また、太陽電池の光電変換効率をより高めるために、p型半導体基板表面のダメージ層を酸やアルカリを用いたエッチングにより除去してもよい。リン酸アルコール溶液の塗布に先立って、p型半導体基板に適当な表面処理を施してもよく、例えば、p型半導体基板表面をプラズマ酸化等により僅かに酸化することでリン酸アルコール溶液の濡れ性を良くしたり、逆にp型半導体基板表面の酸化膜をフッ酸で除去することでリン酸アルコール溶液の濡れ性を悪く(リン酸アルコール溶液をはじきやすく)してもよい。   Examples of the p-type semiconductor substrate used in this embodiment include a single crystal silicon substrate and a polycrystalline silicon substrate. Moreover, as a p-type semiconductor substrate, the thing of the thickness of 150 micrometers-300 micrometers is normally used. In order to further increase the photoelectric conversion efficiency of the solar cell, the damaged layer on the surface of the p-type semiconductor substrate may be removed by etching using an acid or alkali. Prior to the application of the phosphate alcohol solution, an appropriate surface treatment may be applied to the p-type semiconductor substrate. For example, the wettability of the phosphate alcohol solution by slightly oxidizing the surface of the p-type semiconductor substrate by plasma oxidation or the like. Alternatively, the wettability of the phosphate alcohol solution may be deteriorated (the phosphate alcohol solution is easily repelled) by removing the oxide film on the surface of the p-type semiconductor substrate with hydrofluoric acid.

本実施の形態に用いられるインクジェット装置は、インクジェットヘッド、塗布対象であるp型半導体基板あるいは両者に移動機構を備えた公知のものを用いることができ、特に、ピエゾ素子を利用した圧縮により液の吐出を行なう方式のものが好ましい。インクジェットヘッドに配置されるインクジェットノズルは単一であっても、複数であっても構わないが、複数のノズルが配置されたものの方が塗布に要する時間を短縮することができるため好ましい。
また、リン酸は強酸であるため、インクジェットノズル、インクタンク、インクジェットノズルへのインク供給用チューブ等の接液部(塗布液が接する部分)の材質が金属等の場合にはそれを溶解してしまい、その溶解成分がn型拡散層中に混入して太陽電池の性能を低下させることがある。そのため、インクジェット装置における接液部は、耐酸性材で被覆されているか又は耐酸性材で構成されていることが望ましい。このような用途に適した耐酸性材としては、例えば、テフロン(登録商標)、ポリプロピレン等の樹脂やガラス等が挙げられる。
As the ink jet device used in the present embodiment, an ink jet head, a p-type semiconductor substrate to be coated, or a known device having a moving mechanism on both can be used. In particular, the liquid can be obtained by compression using a piezoelectric element. A method of discharging is preferable. There may be a single inkjet nozzle or a plurality of inkjet nozzles arranged in the inkjet head, but the arrangement of a plurality of nozzles is preferable because the time required for coating can be shortened.
In addition, since phosphoric acid is a strong acid, if the material of the liquid contact part (part where the coating liquid contacts) such as the ink supply tube to the ink jet nozzle, ink tank, or ink jet nozzle is made of metal, dissolve it. In other words, the dissolved component may be mixed into the n-type diffusion layer to deteriorate the performance of the solar cell. For this reason, it is desirable that the liquid contact portion in the ink jet apparatus is covered with an acid resistant material or made of an acid resistant material. Examples of acid-resistant materials suitable for such applications include resins such as Teflon (registered trademark) and polypropylene, glass, and the like.

上述したように、本実施の形態では、インクジェット法による塗布に適した形態のリン系ドーパント塗布液を用いているので、p型半導体基板上に均一に且つ安定して塗布を行うことができる。更に、本実施の形態では、リン酸アルコール溶液のドットを重ね合わせることによりリン濃度が異なる部分を形成しているので、従来技術のようにリン系ドーパントの濃度の異なる複数種の塗布液を調製する必要がなく、濃度毎にインクジェットヘッドを変える必要がなく、また、複数のインクジェットヘッドを用意する必要もないという利点を有する。   As described above, in the present embodiment, since the phosphorus-based dopant coating solution in a form suitable for coating by the ink jet method is used, coating can be performed uniformly and stably on the p-type semiconductor substrate. Furthermore, in this embodiment, since the portions having different phosphorus concentrations are formed by overlapping the dots of the phosphoric alcohol solution, a plurality of types of coating solutions having different concentrations of phosphorus dopants are prepared as in the prior art. There is no need to change the inkjet head for each density, and there is an advantage that it is not necessary to prepare a plurality of inkjet heads.

次に、リンを熱拡散させることによりp型半導体基板上にリン濃度の異なるn型拡散層を形成する工程について説明する。
この工程では、リン酸アルコール溶液が塗布されたp型半導体基板を加熱し、リンを熱拡散させる。先の工程で得られたp型半導体基板においてリンを熱拡散させると、リン酸アルコール溶液のドットが重なり合っている部分はリン酸濃度が高いため低抵抗n型拡散層となり、ドットの重なり合っていない部分はリン酸濃度が低いため高抵抗n型拡散層となる。通常、リン酸濃度を高く、塗布量を多く、加熱温度を高く及び加熱時間を長くすることで、拡散層が厚くなり、シート抵抗は低くなる傾向があり、逆に、リン酸濃度を低く、塗布量を少なく、加熱温度を低く及び加熱時間を短くすることで、拡散層が薄くなり、シート抵抗は高くなる傾向があるので、これらの条件を適宜変更することで選択エミッタとして最適のシート抵抗比となるようにそれぞれのシート抵抗を調整することができる。一般的に、シート抵抗が40Ω/□〜60Ω/□であれば、太陽電池用の拡散層として機能させることができるが、本実施の形態では、高抵抗n型拡散層のシート抵抗が60Ω/□〜100Ω/□、低抵抗n型拡散層が30Ω/□〜50Ω/□となるようにするのが好ましい。
Next, a process of forming n-type diffusion layers having different phosphorus concentrations on the p-type semiconductor substrate by thermally diffusing phosphorus will be described.
In this step, the p-type semiconductor substrate coated with the phosphate alcohol solution is heated to thermally diffuse phosphorus. When phosphorus is thermally diffused in the p-type semiconductor substrate obtained in the previous step, the portion where the dots of the phosphoric alcohol solution overlap is a low-resistance n-type diffusion layer because the phosphoric acid concentration is high, and the dots do not overlap. The portion becomes a high resistance n-type diffusion layer because the phosphoric acid concentration is low. Usually, by increasing the phosphoric acid concentration, increasing the amount of application, increasing the heating temperature and increasing the heating time, the diffusion layer tends to be thicker and the sheet resistance tends to be lower. By reducing the coating amount, lowering the heating temperature and shortening the heating time, the diffusion layer tends to become thinner and the sheet resistance tends to increase. Therefore, the optimum sheet resistance as a selected emitter can be obtained by changing these conditions as appropriate. Each sheet resistance can be adjusted so as to obtain a ratio. In general, if the sheet resistance is 40Ω / □ to 60Ω / □, it can function as a diffusion layer for solar cells, but in this embodiment, the sheet resistance of the high resistance n-type diffusion layer is 60Ω / □. It is preferable that □ to 100Ω / □ and the low resistance n-type diffusion layer be 30Ω / □ to 50Ω / □.

p型半導体基板の加熱方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、電気炉、レーザー装置等を用いる方法及びこれらを組み合わせた方法が挙げられる。電気炉を用いてリンを熱拡散させる場合には、p型半導体基板を空気雰囲気下、700℃〜1000℃で1分〜60分間、熱処理すればよい。レーザー装置を用いてリンを熱拡散させる場合には、p型半導体基板の表面温度が瞬間的に800℃〜1200℃となるようにレーザーを照射すればよい。レーザーの照射は、リン酸アルコール溶液が塗布されたp型半導体基板全面に行ってもよいし、電極を形成すべき部分等の一部だけに行ってもよい。ただし、レーザーが照射された部分は急激な温度変化により結晶歪みを生じるので、その後の工程でp型半導体基板全体を電気炉により加熱するか又はp型半導体基板全面に低エネルギーのレーザーを照射(所謂レーザーアニール)することにより、結晶歪みを緩和することが好ましい。   The method for heating the p-type semiconductor substrate is not particularly limited, and examples thereof include a method using an electric furnace and a laser device, and a method combining these. In the case where phosphorus is thermally diffused using an electric furnace, the p-type semiconductor substrate may be heat-treated at 700 ° C. to 1000 ° C. for 1 minute to 60 minutes in an air atmosphere. When phosphorus is thermally diffused using a laser device, the laser may be irradiated so that the surface temperature of the p-type semiconductor substrate instantaneously becomes 800 ° C. to 1200 ° C. The laser irradiation may be performed on the entire surface of the p-type semiconductor substrate coated with the phosphate alcohol solution, or may be performed only on a part of a portion where an electrode is to be formed. However, crystal distortion occurs due to a rapid temperature change in the portion irradiated with the laser, so that the entire p-type semiconductor substrate is heated by an electric furnace in the subsequent process, or the entire surface of the p-type semiconductor substrate is irradiated with a low energy laser ( It is preferable to relieve crystal distortion by so-called laser annealing.

上記した熱拡散プロセスの中でも、リン酸アルコール溶液が塗布されたp型半導体基板の電極を形成すべき部分にのみレーザーを照射した後、p型半導体基板を電気炉で加熱するプロセスは、レーザーによる選択照射部分のみを低抵抗化できるため、電極部分とその他の受光部分との抵抗差の形成が容易である。ただし、電極形成時に位置合わせを行う必要がある。
また、リン酸アルコール溶液が塗布されたp型半導体基板全面にレーザーを照射した後、低エネルギーのレーザーを照射して結晶歪みを緩和させるプロセスによって、p型半導体基板全体を高温で熱処理せずにn型拡散層を形成することができる。そのため、後工程における電極の形成の際の焼成もレーザーを照射することにより行うか又は焼成不要の電極、例えば、導電性ペーストを用いることで、見かけ上、低温プロセスで太陽電池を製造することができる。この方法は、裏面にポイントコンタクト構造を使用する場合に有効であるが、表側電極に関しては対応部分の反射防止膜をあらかじめ剥離しておく必要がある。
Among the thermal diffusion processes described above, the process of heating the p-type semiconductor substrate in an electric furnace after irradiating only the portion where the electrode of the p-type semiconductor substrate coated with the phosphate alcohol solution is to be formed is performed by laser. Since only the selective irradiation portion can be reduced in resistance, it is easy to form a resistance difference between the electrode portion and other light receiving portions. However, it is necessary to perform alignment at the time of electrode formation.
In addition, the entire p-type semiconductor substrate can be processed without irradiating the entire p-type semiconductor substrate at a high temperature by irradiating the entire surface of the p-type semiconductor substrate coated with the phosphoric alcohol solution with a laser and then irradiating a low energy laser to relieve crystal distortion. An n-type diffusion layer can be formed. For this reason, firing in forming electrodes in the subsequent process is also performed by irradiating a laser, or by using an electrode that does not require firing, for example, a conductive paste, a solar cell can be apparently manufactured in a low-temperature process. it can. This method is effective when a point contact structure is used on the back surface, but it is necessary to peel off the antireflection film at the corresponding portion for the front side electrode in advance.

使用するレーザーとしては、例えば、YAG基本波レーザー、2倍波、3倍波等が挙げられる。一般的に、波長が短いレーザーを用いると、表面にエネルギーが集中するので、リン濃度の高いn型拡散層が薄く形成され、逆に、波長が長いレーザーを用いると、リン濃度の低いn型拡散層が厚く形成される傾向があるので、これらを考慮してレーザーを適宜選択すればよい。   Examples of the laser to be used include a YAG fundamental wave laser, a second harmonic, a third harmonic, and the like. In general, when a laser with a short wavelength is used, energy is concentrated on the surface, so that an n-type diffusion layer with a high phosphorus concentration is formed thin. Conversely, when a laser with a long wavelength is used, an n-type with a low phosphorus concentration is used. Since the diffusion layer tends to be formed thick, a laser may be appropriately selected in consideration of these.

上述したように、従来技術ではリン系ドーパント濃度の高い塗布液と低い塗布液とを調製し、それぞれを基板上の別々の領域に塗布するという煩雑な工程を経なければ選択エミッタを形成できないのに対し、本実施の形態では、そのような工程を経ずに、選択エミッタを簡単に形成することができる。   As described above, in the prior art, a selective emitter cannot be formed without preparing a coating solution having a high phosphorus dopant concentration and a coating solution having a low concentration of phosphorous dopant, and applying each of them to separate regions on the substrate. On the other hand, in this embodiment, the selective emitter can be easily formed without going through such a process.

また、本実施の形態に係る太陽電池の製造方法は、上記工程に加え、n型拡散層上に反射防止膜を形成する工程と、反射防止膜上に表面電極を形成する工程と、反射防止膜が形成された面とは反対側の面に裏面電極を形成する工程とを備えていてもよい。   In addition to the above steps, the solar cell manufacturing method according to the present embodiment includes a step of forming an antireflection film on the n-type diffusion layer, a step of forming a surface electrode on the antireflection film, and an antireflection And a step of forming a back electrode on the surface opposite to the surface on which the film is formed.

上記工程で得られたp型半導体基板のn型拡散層(高抵抗n型拡散層と低抵抗n型拡散層から構成される)上には、通常、リンガラス層が形成されているため、必要に応じて、フッ酸洗浄を行ってリンガラス層を除去する。次いで、n型拡散層上に窒化ケイ素(SiN)等からなる反射防止膜をプラズマCVD法等の公知の方法により形成する。この窒化ケイ素等からなる反射防止膜は、p型半導体基板表面を水素終端および保護するパッシベーション膜としても機能する。   Since a phosphorous glass layer is usually formed on the n-type diffusion layer (consisting of a high-resistance n-type diffusion layer and a low-resistance n-type diffusion layer) of the p-type semiconductor substrate obtained in the above process, If necessary, the phosphorus glass layer is removed by washing with hydrofluoric acid. Next, an antireflection film made of silicon nitride (SiN) or the like is formed on the n-type diffusion layer by a known method such as a plasma CVD method. This antireflection film made of silicon nitride or the like also functions as a passivation film for terminating and protecting the surface of the p-type semiconductor substrate.

次に、反射防止膜上に表面電極を形成するとともに、反射防止膜が形成された面とは反対側の面に裏面電極を形成することで、太陽電池を得ることができる。
表面電極は、例えば、p型半導体基板の表面電極を形成すべき部分に対応する反射防止膜上に銀ペーストをグリッド状にスクリーン印刷した後、700℃〜900℃で3〜30分間焼成することにより形成することができる。また、裏面電極は、例えば、反射防止膜が形成された面とは反対側のp型半導体基板表面にアルミペーストをベタ印刷した後、表面電極と同時に焼成することにより形成することができる。
Next, a solar cell can be obtained by forming a surface electrode on the antireflection film and forming a back electrode on the surface opposite to the surface on which the antireflection film is formed.
For example, the surface electrode is formed by screen-printing a silver paste in a grid shape on an antireflection film corresponding to a portion where the surface electrode of the p-type semiconductor substrate is to be formed, and then baking at 700 to 900 ° C. for 3 to 30 minutes. Can be formed. The back electrode can be formed, for example, by solid-printing an aluminum paste on the surface of the p-type semiconductor substrate opposite to the surface on which the antireflection film is formed, and then baking it simultaneously with the surface electrode.

本実施の形態によれば、リン系ドーパント塗布液をインクジェット法によりp型半導体基板上に均一に且つ安定して塗布を行うことができるので、塗布液の使用量や無駄を減らすことができ、尚且つ煩雑な工程を経ることなく選択エミッタを形成することができるので、特性の良好な太陽電池を低コストで製造することができる。   According to the present embodiment, since the phosphorus-based dopant coating liquid can be uniformly and stably applied onto the p-type semiconductor substrate by the inkjet method, the amount of use and waste of the coating liquid can be reduced, In addition, since the selective emitter can be formed without going through complicated steps, a solar cell with good characteristics can be manufactured at low cost.

以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
<実施例1>
高濃度リン酸(85質量%以上)をヘキサノールで希釈し、30質量%のリン酸ヘキサノール溶液を調製した。テフロン(登録商標)製のインクタンクと、ガラス製インクジェットノズル(ピエゾ方式)と、これらインクタンク及びインクジェットノズルを接続するためのテフロン(登録商標)チューブと、移動機構を有するインクジェットヘッドとを備えたインクジェット装置の吐出量やピッチを調節することで、先に調製したリン酸ヘキサノール溶液のドットが図1に示すように一部重なり合うように、多結晶シリコン基板(厚さ200μmの両面を10μmずつ、アルカリエッチングで表面のダメージ層を除去したもの)上にリン酸ヘキサノール溶液を1μl/cm2の塗布量で塗布した。次に、リン酸ヘキサノール溶液が塗布された多結晶シリコン基板を電気炉内に投入し、空気雰囲気下、850℃で15分間加熱し、多結晶シリコン基板にリンを熱拡散させた。次に、電気炉から多結晶シリコン基板を取り出し、フッ酸で洗浄してリンガラス層を除去し、多結晶シリコン基板上にリン拡散層のみを残した。続いて、リン拡散層上にSiN膜をプラズマCVD法により形成した。最後に、多結晶シリコン基板のSiN膜上に表面電極を形成すべき部分(グリッド状)に銀ペーストをスクリーン印刷すると共に、SiN膜が形成された面とは反対側の面にアルミペーストをベタ印刷した後、多結晶シリコン基板を900℃で5分間焼成して表面電極及び裏面電極を形成し、太陽電池セルを得た。得られた太陽電池セルの特性を計測したところ、16.2%の光電変換効率が得られた。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.
<Example 1>
High concentration phosphoric acid (85% by mass or more) was diluted with hexanol to prepare a 30% by mass phosphoric acid hexanol solution. A Teflon (registered trademark) ink tank, a glass inkjet nozzle (piezo method), a Teflon (registered trademark) tube for connecting the ink tank and the inkjet nozzle, and an inkjet head having a moving mechanism were provided. By adjusting the discharge amount and pitch of the ink jet device, a polycrystalline silicon substrate (10 μm on both sides of a thickness of 200 μm, so that the dots of the hexanol phosphate solution prepared previously partially overlap as shown in FIG. The surface of the damaged layer was removed by alkali etching, and a hexanol phosphate solution was applied at a coating amount of 1 μl / cm 2 . Next, the polycrystalline silicon substrate coated with the hexanol phosphate solution was put in an electric furnace and heated at 850 ° C. for 15 minutes in an air atmosphere to thermally diffuse phosphorus in the polycrystalline silicon substrate. Next, the polycrystalline silicon substrate was taken out from the electric furnace, washed with hydrofluoric acid to remove the phosphorus glass layer, and only the phosphorus diffusion layer was left on the polycrystalline silicon substrate. Subsequently, a SiN film was formed on the phosphorus diffusion layer by a plasma CVD method. Finally, silver paste is screen-printed on the portion (grid shape) where the surface electrode is to be formed on the SiN film of the polycrystalline silicon substrate, and the aluminum paste is solid on the surface opposite to the surface on which the SiN film is formed. After printing, the polycrystalline silicon substrate was baked at 900 ° C. for 5 minutes to form a front electrode and a back electrode to obtain a solar battery cell. When the characteristic of the obtained photovoltaic cell was measured, the photoelectric conversion efficiency of 16.2% was obtained.

<実施例2>
高濃度リン酸(85質量%以上)をヘキサノールで希釈し、30質量%のリン酸ヘキサノール溶液を調製した。テフロン(登録商標)製のインクタンクと、ガラス製インクジェットノズル(ピエゾ方式)と、これらインクタンク及びインクジェットノズルを接続するためのテフロン(登録商標)チューブと、移動機構を有するインクジェットヘッドとを備えたインクジェット装置の吐出量やピッチを調節することで、先に調製したリン酸ヘキサノール溶液のドットが表面電極を形成すべき部分で一部重なり合うように、多結晶シリコン基板(厚さ200μmの両面を10μmずつ、アルカリエッチングで表面のダメージ層を除去したもの)上にリン酸ヘキサノール溶液を1μl/cm2の塗布量で塗布した。次に、リン酸ヘキサノール溶液が塗布された多結晶シリコン基板上の表面電極を形成すべき部分に、YAG基本波レーザーを照射してリンを熱拡散させた。その後、リン酸ヘキサノール溶液が塗布された多結晶シリコン基板を電気炉内に投入し、空気雰囲気下、800℃で10分間加熱し、多結晶シリコン基板にリンを熱拡散させ、かつ結晶歪みを緩和させた。次に、電気炉から多結晶シリコン基板を取り出し、フッ酸で洗浄してリンガラス層を除去し、多結晶シリコン基板上にリン拡散層のみを残した。続いて、リン拡散層上にSiN膜をプラズマCVD法により形成した。最後に、多結晶シリコン基板のSiN膜上に表面電極を形成すべき部分(グリッド状)に銀ペーストをスクリーン印刷すると共に、SiN膜が形成された面とは反対側の面にアルミペーストをベタ印刷した後、多結晶シリコン基板を900℃で5分間焼成して表面電極及び裏面電極を形成し、太陽電池セルを得た。得られた太陽電池セルの特性を計測したところ、16.4%の光電変換効率が得られた。
<Example 2>
High concentration phosphoric acid (85% by mass or more) was diluted with hexanol to prepare a 30% by mass phosphoric acid hexanol solution. A Teflon (registered trademark) ink tank, a glass inkjet nozzle (piezo method), a Teflon (registered trademark) tube for connecting the ink tank and the inkjet nozzle, and an inkjet head having a moving mechanism were provided. By adjusting the discharge amount and pitch of the inkjet device, a polycrystalline silicon substrate (10 μm on both sides with a thickness of 200 μm is formed so that the dots of the hexanol phosphate solution prepared above partially overlap at the portion where the surface electrode should be formed. The hexanol phosphate solution was applied at a coating amount of 1 μl / cm 2 on the surface of which the damaged layer on the surface was removed by alkali etching. Next, the YAG fundamental wave laser was irradiated to the portion where the surface electrode on the polycrystalline silicon substrate coated with the hexanol phosphate solution was to be thermally diffused. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate coated with the hexanol phosphate solution is put into an electric furnace and heated at 800 ° C. for 10 minutes in an air atmosphere to thermally diffuse phosphorus in the polycrystalline silicon substrate and relieve crystal distortion. I let you. Next, the polycrystalline silicon substrate was taken out from the electric furnace, washed with hydrofluoric acid to remove the phosphorus glass layer, and only the phosphorous diffusion layer was left on the polycrystalline silicon substrate. Subsequently, a SiN film was formed on the phosphorus diffusion layer by a plasma CVD method. Finally, silver paste is screen-printed on the portion (grid shape) where the surface electrode is to be formed on the SiN film of the polycrystalline silicon substrate, and the aluminum paste is solid on the surface opposite to the surface on which the SiN film is formed. After printing, the polycrystalline silicon substrate was baked at 900 ° C. for 5 minutes to form a front electrode and a back electrode to obtain a solar battery cell. When the characteristic of the obtained photovoltaic cell was measured, the photoelectric conversion efficiency of 16.4% was obtained.

<比較例1>
高濃度リン酸を水で希釈した以外は、実施例1と同様にして太陽電池セルを製造しようとしたところ、30質量%のリン酸水溶液ではインクジェット塗布することができなかった。そのため、リン酸水溶液をさらに水で希釈したが、インクジェット塗布することはできなかった。そこで、30質量%のリン酸のヘキサノール溶液をスピン塗布で基板全面に一様に塗布を行い、それ以外は実施例1と同様にして太陽電池セルを製造したところ、15.4%の光電変換効率が得られた。また、同様に30質量%のリン酸水溶液をスピン塗布で基板全面に一様に塗布を行い、それ以外は実施例1と同様にして太陽電池セルを製造したところ、15.5%の光電変換効率が得られた。これらの光電変換効率はどちらも、実施例1よりは低い値であった。
<Comparative Example 1>
Except for diluting the high-concentration phosphoric acid with water, an attempt was made to produce a solar cell in the same manner as in Example 1. However, it was not possible to apply ink jet with a 30% by mass phosphoric acid aqueous solution. Therefore, although the phosphoric acid aqueous solution was further diluted with water, ink jet coating could not be performed. Thus, a solar cell was manufactured in the same manner as in Example 1 except that 30% by mass of a hexanol solution of phosphoric acid was uniformly applied to the entire surface of the substrate by spin coating, and 15.4% photoelectric conversion was performed. Efficiency was obtained. Similarly, a 30% by mass phosphoric acid aqueous solution was uniformly applied to the entire surface of the substrate by spin coating, and a solar cell was manufactured in the same manner as in Example 1 except that 15.5% photoelectric conversion was performed. Efficiency was obtained. Both of these photoelectric conversion efficiencies were lower than in Example 1.

<比較例2>
30質量%のリン酸のヘキサノール溶液をスピン塗布で基板全面に一様に塗布を行い、それ以外は実施例2と同様にして太陽電池セルを製造したところ、15.5%の光電変換効率が得られた。また、同様に30質量%のリン酸水溶液をスピン塗布で基板全面に一様に塗布を行い、それ以外は実施例1と同様にして太陽電池セルを製造したところ、15.6%の光電変換効率が得られた。これらの光電変換効率はどちらも、実施例2よりは低い値であった。
<Comparative example 2>
A solar cell was produced in the same manner as in Example 2 except that 30% by mass of a hexanol solution of phosphoric acid was uniformly applied to the entire surface of the substrate by spin coating, and a photoelectric conversion efficiency of 15.5% was obtained. Obtained. Similarly, a 30% by mass phosphoric acid aqueous solution was uniformly applied to the entire surface of the substrate by spin coating. Otherwise, a solar cell was produced in the same manner as in Example 1. As a result, 15.6% photoelectric conversion was performed. Efficiency was obtained. Both of these photoelectric conversion efficiencies were lower than in Example 2.

実施の形態1におけるリン酸アルコール溶液のドットが一部重なり合っている状態を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing a state where dots of the phosphate alcohol solution in Embodiment 1 partially overlap each other.

符号の説明Explanation of symbols

1 リン酸アルコール溶液のドット、2 リン酸アルコール溶液のドットの重なり合っていない部分、3 リン酸アルコール溶液のドットの重なり合った部分。   1 A dot of a phosphate alcohol solution, 2 A portion where dots of a phosphate alcohol solution do not overlap, 3 A portion where dots of a phosphate alcohol solution overlap.

Claims (6)

リン酸のアルコール溶液のドットが一部重なり合うようにリン酸のアルコール溶液をインクジェット法によりp型半導体基板に塗布する工程と、
リンを熱拡散させることによりp型半導体基板上にリン濃度の異なるn型拡散層を形成する工程と
を備えることを特徴とする太陽電池の製造方法。
Applying a phosphoric acid alcohol solution to a p-type semiconductor substrate by an inkjet method so that the dots of the phosphoric acid alcohol solution partially overlap;
And a step of forming n-type diffusion layers having different phosphorus concentrations on a p-type semiconductor substrate by thermally diffusing phosphorus.
前記塗布は、電極を形成すべき部分において前記ドットが一部重なり合うように行うことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池の製造方法。   2. The method of manufacturing a solar cell according to claim 1, wherein the coating is performed so that the dots partially overlap at a portion where an electrode is to be formed. 前記熱拡散は、前記リン酸のアルコール溶液が塗布された前記p型半導体基板表面全体にレーザーを照射することにより行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の太陽電池の製造方法。   3. The method for manufacturing a solar cell according to claim 1, wherein the thermal diffusion is performed by irradiating a laser on the entire surface of the p-type semiconductor substrate on which the alcoholic solution of phosphoric acid has been applied. 前記熱拡散は、前記リン酸のアルコール溶液が塗布された前記p型半導体基板の電極を形成すべき部分のみにレーザーを照射した後、前記p型半導体基板全体を加熱することにより行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の太陽電池の製造方法。   The thermal diffusion is performed by heating the entire p-type semiconductor substrate after irradiating only a portion where the electrode of the p-type semiconductor substrate to which the alcoholic solution of phosphoric acid has been applied is to be formed. The manufacturing method of the solar cell of Claim 1 or 2. 接液部が耐酸性材で被覆されているか又は耐酸性材で構成されているインクジェット装置を用いることを特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の太陽電池の製造方法。   The method for producing a solar cell according to any one of claims 1 to 4, wherein an ink-jet device in which the liquid contact portion is coated with an acid-resistant material or is made of an acid-resistant material is used. 前記n型拡散層上に反射防止膜を形成する工程と、
反射防止膜上に表面電極を形成する工程と、
反射防止膜が形成された面とは反対側の面に裏面電極を形成する工程と
を更に備えることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の太陽電池の製造方法。
Forming an antireflection film on the n-type diffusion layer;
Forming a surface electrode on the antireflection film;
The method for manufacturing a solar cell according to claim 1, further comprising a step of forming a back electrode on a surface opposite to the surface on which the antireflection film is formed.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010267787A (en) * 2009-05-14 2010-11-25 Sharp Corp Method of manufacturing semiconductor device
JP2011187894A (en) * 2010-03-11 2011-09-22 Sharp Corp Coating liquid for diffusing phosphor dopant, coating film formed by the same, and method for manufacturing solar cell
JP2013077730A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Sharp Corp Method of manufacturing semiconductor device
WO2021182061A1 (en) * 2020-03-13 2021-09-16 アートビーム有限会社 Solar cell, and production method and measurement device for solar cell

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004119482A (en) * 2002-09-24 2004-04-15 Sharp Corp Method for manufacturing solar cell
JP2004221149A (en) * 2003-01-10 2004-08-05 Hitachi Ltd Manufacturing method of solar cell
JP2006310373A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd Solar cell manufacturing method, solar cell and semiconductor device manufacturing method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004119482A (en) * 2002-09-24 2004-04-15 Sharp Corp Method for manufacturing solar cell
JP2004221149A (en) * 2003-01-10 2004-08-05 Hitachi Ltd Manufacturing method of solar cell
JP2006310373A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd Solar cell manufacturing method, solar cell and semiconductor device manufacturing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010267787A (en) * 2009-05-14 2010-11-25 Sharp Corp Method of manufacturing semiconductor device
JP2011187894A (en) * 2010-03-11 2011-09-22 Sharp Corp Coating liquid for diffusing phosphor dopant, coating film formed by the same, and method for manufacturing solar cell
JP2013077730A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Sharp Corp Method of manufacturing semiconductor device
WO2021182061A1 (en) * 2020-03-13 2021-09-16 アートビーム有限会社 Solar cell, and production method and measurement device for solar cell

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