JP2009134101A - Data management device and pattern drawing system - Google Patents

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Yoshikazu Ichioka
義和 市岡
Kazuhiro Nakai
一博 中井
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a data management device of a pattern drawing apparatus capable of reducing the space for storing masks and the cost of management, as well as decreasing a burden of creating drawing data, and to provide a pattern drawing system including the data management device. <P>SOLUTION: The data management device 3 classifies and manages a plurality of masks M based on not an identifier given to each mask M but an identifier id2 given to each layout pattern of the masks M. Thereby, it is not necessary to prepare spare masks M for the respective plurality of masks M, which can reduce the space for storing masks and the cost of management. In drawing data D3, masks M having the same layout pattern P2 are designated by the same identifier id2, which reduces the burden of creating the drawing data D3. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、カラーフィルタ用ガラス基板、フラットパネルディスプレイ(液晶表示装置,プラズマ表示装置等)用ガラス基板、半導体基板、プリント基板等の基板の上面に、マスクを介して光を照射することによりパターンを描画するパターン描画装置のデータ管理装置および当該データ管理装置を含むパターン描画システムに関する。   The present invention provides a pattern by irradiating light on a top surface of a substrate such as a glass substrate for a color filter, a glass substrate for a flat panel display (liquid crystal display device, plasma display device, etc.), a semiconductor substrate, or a printed substrate through a mask. The present invention relates to a data management device for a pattern drawing device that draws a pattern and a pattern drawing system including the data management device.

液晶表示装置の部品であるカラーフィルタの製造工程においては、マスクを介して基板の上面に光を照射することにより、基板上の感光材料にパターンを描画するパターン描画装置が使用されている。従来のパターン描画装置は、基板を水平姿勢で保持しつつ移動させるステージと、マスクを介して基板の上面に光を照射する複数の光学ヘッドとを備え、基板を移動させつつ複数の光学ヘッドからそれぞれ光照射を行うことにより、基板の上面に規則性パターンを描画する。   In a manufacturing process of a color filter that is a component of a liquid crystal display device, a pattern drawing device that draws a pattern on a photosensitive material on a substrate by irradiating light on the upper surface of the substrate through a mask is used. A conventional pattern drawing apparatus includes a stage that moves while holding the substrate in a horizontal posture, and a plurality of optical heads that irradiate light onto the upper surface of the substrate through a mask, and moves the substrate from the plurality of optical heads. A regular pattern is drawn on the upper surface of the substrate by light irradiation.

このようなパターン描画装置において、従来では、使用される複数枚のマスクにそれぞれ固有の識別子が付与されており、当該識別子により複数枚のマスクの管理が行われていた。すなわち、従来のパターン描画装置は、描画処理を行うときに、各光学ヘッドに搭載されるマスクの識別子が描画データ中において指定された識別子に一致するかどうかを確認し、一致する場合にのみ描画処理を実行するようになっていた。   In such a pattern drawing apparatus, conventionally, a unique identifier is assigned to each of a plurality of masks to be used, and a plurality of masks are managed by the identifier. That is, when performing a drawing process, the conventional pattern drawing apparatus checks whether the identifier of the mask mounted on each optical head matches the identifier specified in the drawing data, and draws only when they match. It was supposed to execute the process.

従来のパターン描画装置の構成については、例えば特許文献1に開示されている。また、複数枚のマスクに対してそれぞれ固有の識別子を付与する技術については、例えば特許文献2に開示されている。   The configuration of a conventional pattern drawing apparatus is disclosed in Patent Document 1, for example. A technique for assigning unique identifiers to a plurality of masks is disclosed in Patent Document 2, for example.

特開2005−345582号公報JP 2005-345582 A 特開2003−121982号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-121982

上記のように、従来のパターン描画装置では、マスク毎に付与された識別子に基づいて複数枚のマスクの管理が行われていた。このため、例えば、複数枚のマスクに同一のパターンが形成されている場合であっても、マスク毎に異なる識別子が付与され、それぞれ別個のマスクとして装置に認識されるようになっていた。   As described above, in a conventional pattern drawing apparatus, a plurality of masks are managed based on an identifier assigned to each mask. For this reason, for example, even when the same pattern is formed on a plurality of masks, different identifiers are assigned to the respective masks and are recognized by the apparatus as separate masks.

しかしながら、このような管理形態では、マスクの破損や劣化に備えて予備のマスクを用意しようとすると、各光学ヘッドに搭載されるマスクについて、それぞれ予備のマスクを用意しておかなければならず、マスクの保管スペースや管理コストが増大するという問題があった。また、描画データには、パターン描画装置に搭載されるマスクの数だけ識別子を組み込む必要があり、光学ヘッドに搭載されるマスクを識別子の異なるマスクに交換したときには、その都度描画データを再作成しなければならないという問題もあった。   However, in such a management form, when preparing a spare mask in preparation for damage or deterioration of the mask, a spare mask must be prepared for each mask mounted on each optical head. There is a problem that the storage space and management cost of the mask increase. In addition, it is necessary to incorporate identifiers into the drawing data as many as the number of masks mounted on the pattern writing apparatus. When a mask mounted on the optical head is replaced with a mask with a different identifier, the drawing data is recreated each time. There was also the problem of having to.

特に、近年では、基板サイズの大型化に伴い、パターン描画装置における光学ヘッドの数も増加する傾向にある。このため、上記の問題はより深刻な問題となってきている。   In particular, in recent years, the number of optical heads in a pattern writing apparatus tends to increase as the substrate size increases. For this reason, the above problem has become a more serious problem.

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、マスクの保管スペースや管理コストを低減させるとともに、描画データの作成にかかる負担も低減させることができるパターン描画装置のデータ管理装置および当該データ管理装置を含むパターン描画システムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and reduces the mask storage space and management cost, as well as the data management apparatus of the pattern drawing apparatus that can reduce the burden of creating drawing data, and An object is to provide a pattern drawing system including a data management device.

上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、透光部および遮光部により形成されたレイアウトパターンを有するマスクを複数枚搭載し、各マスクを介して基板の上面に光を照射することにより、基板上の感光材料にパターンを描画するパターン描画装置に接続されるデータ管理装置であって、マスク上のレイアウトパターンを示すレイアウトデータを作成するレイアウトデータ作成部と、前記レイアウトデータ作成部において作成されたレイアウトデータ毎に固有の第1識別子を発行する第1識別子発行手段と、使用すべきマスクを指定する情報として前記第1識別子を保持する描画データを作成し、前記パターン描画装置に前記描画データを提供する描画データ作成部と、を備えたことを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 is provided with a plurality of masks having a layout pattern formed by a light transmitting part and a light shielding part, and irradiating light on the upper surface of the substrate through each mask A data management device connected to a pattern drawing device for drawing a pattern on a photosensitive material on a substrate, wherein a layout data creation unit for creating layout data indicating a layout pattern on a mask, and the layout data creation unit First identifier issuing means for issuing a unique first identifier for each generated layout data, and drawing data for holding the first identifier as information for specifying a mask to be used, and And a drawing data creation unit for providing drawing data.

請求項2に係る発明は、請求項1に記載のデータ管理装置であって、前記パターン描画装置に搭載される複数枚のマスクは、同一のレイアウトパターンを有することを特徴とする。   The invention according to claim 2 is the data management device according to claim 1, wherein the plurality of masks mounted on the pattern drawing device have the same layout pattern.

請求項3に係る発明は、請求項1または請求項2に記載のデータ管理装置であって、前記レイアウトパターンは複数の単位パターン群の集合であり、前記描画データ作成部は、前記第1識別子と、前記第1識別子により指定されるレイアウトパターン中の所望の単位パターン群の位置を示す情報とを含む前記描画データを作成することを特徴とする。   The invention according to claim 3 is the data management apparatus according to claim 1 or 2, wherein the layout pattern is a set of a plurality of unit pattern groups, and the drawing data creation unit is configured to include the first identifier. And the drawing data including the information indicating the position of a desired unit pattern group in the layout pattern specified by the first identifier.

請求項4に係る発明は、請求項3に記載のデータ管理装置であって、前記単位パターン群を構成する複数種類の単位パターンのデータを記憶するデータ記憶手段を更に備え、前記レイアウトデータ作成部は、前記記憶手段から前記単位パターンのデータを読み出して前記レイアウトデータを作成することを特徴とする。   The invention according to claim 4 is the data management device according to claim 3, further comprising data storage means for storing data of a plurality of types of unit patterns constituting the unit pattern group, and the layout data creation unit Is characterized in that the layout data is created by reading the data of the unit pattern from the storage means.

請求項5に係る発明は、請求項1から請求項4までのいずれかに記載のデータ管理装置と、前記パターン描画装置と、複数枚のマスクを作製するマスク作製装置とを備えたパターン描画システムであって、前記マスク作製装置は、前記レイアウトデータ作成部から提供されるレイアウトデータに基づいて複数枚のマスクを作製し、前記パターン描画装置は、前記描画データ作成部から提供される描画データに従って描画処理を行うことを特徴とする。   The invention according to claim 5 is a pattern drawing system comprising the data management device according to any one of claims 1 to 4, the pattern drawing device, and a mask making device for making a plurality of masks. The mask production device produces a plurality of masks based on the layout data provided from the layout data creation unit, and the pattern drawing device follows the drawing data provided from the drawing data creation unit. A drawing process is performed.

請求項6に係る発明は、請求項5に記載のパターン描画システムであって、前記マスク作製装置は、作製された複数枚のマスクに対して、前記第1識別子を含む第2識別子を記録し、前記パターン描画装置は、自身に搭載されるマスクに記録された第2識別子を読み取る読み取り部と、前記読み取り部により読み取られた第2識別子から第1識別子を抽出し、描画データ中において指定された第1識別子と一致するかどうかを判定する判定部と、を有することを特徴とする。   The invention according to claim 6 is the pattern drawing system according to claim 5, wherein the mask manufacturing apparatus records a second identifier including the first identifier for a plurality of masks manufactured. The pattern drawing device extracts a first identifier from a reading unit that reads a second identifier recorded on a mask mounted on the pattern writing unit and the second identifier read by the reading unit, and is designated in drawing data. And a determination unit that determines whether or not the first identifier matches.

請求項7に係る発明は、請求項5または請求項6に記載のパターン描画システムであって、前記パターン描画装置は、同一のレイアウトパターンを有する複数枚のマスクを収納するマスク収納部と、前記マスク収納部から複数の光学ヘッドにそれぞれマスクを搬送するマスク搬送部と、を有することを特徴とする。   The invention according to claim 7 is the pattern drawing system according to claim 5 or 6, wherein the pattern drawing apparatus includes a mask storage unit that stores a plurality of masks having the same layout pattern; And a mask transport unit that transports the mask from the mask storage unit to each of the plurality of optical heads.

請求項8に係る発明は、請求項7に記載のパターン描画システムであって、前記マスク収納部は、前記複数枚のマスクと同一のレイアウトパターンを有する予備のマスクを更に収納可能であり、前記マスク搬送部は、前記複数の光学ヘッドのいずれかにおいてマスクの異常が検知されると、当該光学ヘッドに搭載されたマスクと前記予備のマスクとを交換することを特徴とする。   The invention according to claim 8 is the pattern drawing system according to claim 7, wherein the mask storage unit can further store a spare mask having the same layout pattern as the plurality of masks, The mask transport unit may replace the mask mounted on the optical head with the spare mask when a mask abnormality is detected in any of the plurality of optical heads.

請求項1〜8に記載の発明によれば、データ管理装置は、マスク上のレイアウトパターンを示すレイアウトデータを作成するレイアウトデータ作成部と、レイアウトデータ作成部において作成されたレイアウトデータ毎に固有の第1識別子を発行する第1識別子発行手段と、使用すべきマスクを指定する情報として第1識別子を保持する描画データを作成し、パターン描画装置に描画データを提供する描画データ作成部と、を備える。すなわち、本発明のデータ管理装置は、マスク毎に付与された識別子ではなく、レイアウトデータ毎に付与された識別子により複数枚のマスクを区別して管理する。このため、複数枚のマスクについてそれぞれ予備のマスクを用意しておく必要はなく、マスクの保管スペースや管理コストを低減させることができる。また、描画データ中においても、同一のレイアウトパターンを有するマスクは同一の識別子で指定されるため、描画データの作成にかかる負担も低減させることができる。   According to the first to eighth aspects of the invention, the data management device includes a layout data creation unit that creates layout data indicating a layout pattern on a mask, and a layout data creation unit that is unique to each layout data created by the layout data creation unit. A first identifier issuing means for issuing a first identifier; a drawing data creating unit for creating drawing data holding the first identifier as information for designating a mask to be used and providing the drawing data to the pattern drawing apparatus; Prepare. That is, the data management apparatus according to the present invention manages a plurality of masks by distinguishing them using an identifier assigned for each layout data, not an identifier assigned for each mask. Therefore, it is not necessary to prepare a spare mask for each of a plurality of masks, and the mask storage space and management cost can be reduced. Also, in the drawing data, masks having the same layout pattern are designated by the same identifier, so that the burden on drawing data creation can be reduced.

特に、請求項2に記載の発明によれば、パターン描画装置に搭載される複数枚のマスクは、同一のレイアウトパターンを有する。このため、パターン描画装置に搭載される複数枚のマスクを1つの識別子で管理することができる。   In particular, according to the second aspect of the present invention, the plurality of masks mounted on the pattern drawing apparatus have the same layout pattern. Therefore, a plurality of masks mounted on the pattern drawing apparatus can be managed with one identifier.

特に、請求項3に記載の発明によれば、レイアウトパターンは複数の単位パターン群の集合であり、描画データ作成部は、第1識別子と、第1識別子により指定されるレイアウトパターン中の所望の単位パターン群の位置を示す情報とを含む描画データを作成する。このため、マスク上に形成される複数の単位パターン群のうち、所望の単位パターン群を選択的に使用して描画処理を行うことができる。   In particular, according to the third aspect of the present invention, the layout pattern is a set of a plurality of unit pattern groups, and the drawing data creation unit includes a first identifier and a desired pattern in the layout pattern specified by the first identifier. Drawing data including information indicating the position of the unit pattern group is created. For this reason, a drawing process can be performed by selectively using a desired unit pattern group among a plurality of unit pattern groups formed on the mask.

特に、請求項4に記載の発明によれば、データ管理装置は、単位パターン群を構成する複数種類の単位パターンのデータを記憶するデータ記憶手段を更に備え、レイアウトデータ作成部は、記憶手段から単位パターンのデータを読み出してレイアウトデータを作成する。このため、所望の単位パターンを組み合わせてレイアウトパターンを作成することができる。   In particular, according to the invention described in claim 4, the data management device further includes data storage means for storing data of a plurality of types of unit patterns constituting the unit pattern group. The unit pattern data is read to create layout data. For this reason, a layout pattern can be created by combining desired unit patterns.

特に、請求項5に記載の発明によれば、パターン描画システムは、データ管理装置と、パターン描画装置と、複数枚のマスクを作製するマスク作製装置とを備え、マスク作製装置は、レイアウトデータ作成部から提供されるレイアウトデータに基づいて複数枚のマスクを作製し、パターン描画装置は、描画データ作成部から提供される描画データに従って描画処理を行う。このため、レイアウトデータに基づいて作製された複数枚のマスクと、レイアウトデータの第1識別子を含む描画データとを使用して、適切に描画処理を行うことができる。   In particular, according to the invention described in claim 5, the pattern drawing system includes a data management device, a pattern drawing device, and a mask manufacturing device for manufacturing a plurality of masks, and the mask manufacturing device generates layout data. A plurality of masks are created based on the layout data provided from the unit, and the pattern drawing apparatus performs a drawing process according to the drawing data provided from the drawing data creation unit. For this reason, it is possible to appropriately perform drawing processing using a plurality of masks created based on the layout data and drawing data including the first identifier of the layout data.

特に、請求項6に記載の発明によれば、マスク作製装置は、作製された複数枚のマスクに対して、第1識別子を含む第2識別子を記録し、パターン描画装置は、自身に搭載されるマスクに記録された第2識別子を読み取る読み取り部と、読み取り部により読み取られた第2識別子から第1識別子を抽出し、描画データ中において指定された第1識別子と一致するかどうかを判定する判定部と、を有する。このため、パターン描画装置は、使用されるマスクのレイアウトパターンが正しいことを確認の上、描画処理を実行することができる。   In particular, according to the invention described in claim 6, the mask manufacturing apparatus records the second identifier including the first identifier for the plurality of manufactured masks, and the pattern drawing apparatus is mounted on itself. A reading unit that reads the second identifier recorded in the mask, and extracts the first identifier from the second identifier read by the reading unit, and determines whether or not it matches the first identifier specified in the drawing data And a determination unit. Therefore, the pattern drawing apparatus can execute the drawing process after confirming that the layout pattern of the mask to be used is correct.

特に、請求項7に記載の発明によれば、パターン描画装置は、同一のレイアウトパターンを有する複数枚のマスクを収納するマスク収納部と、マスク収納部から複数の光学ヘッドにそれぞれマスクを搬送するマスク搬送部と、を有する。このため、パターン描画装置は、同一のレイアウトパターンを有するマスクを各光学ヘッドに自動的に搭載することができる。   In particular, according to the seventh aspect of the invention, the pattern drawing apparatus transports the mask from the mask storage unit to the plurality of optical heads, each of which stores a plurality of masks having the same layout pattern. And a mask transport unit. For this reason, the pattern drawing apparatus can automatically mount a mask having the same layout pattern on each optical head.

特に、請求項8に記載の発明によれば、マスク収納部は、複数枚のマスクと同一のレイアウトパターンを有する予備のマスクを更に収納可能であり、マスク搬送部は、複数の光学ヘッドのいずれかにおいてマスクの異常が検知されると、当該光学ヘッドに搭載されたマスクと予備のマスクとを交換する。このため、一部のマスクに異常が発生したときにも、当該マスクを予備のマスクに自動的に交換して描画処理を続行させることができる。   In particular, according to the invention described in claim 8, the mask storage portion can further store a spare mask having the same layout pattern as the plurality of masks, and the mask transport portion can be any of the plurality of optical heads. When an abnormality of the mask is detected, the mask mounted on the optical head is replaced with a spare mask. For this reason, even when an abnormality occurs in some of the masks, the drawing process can be continued by automatically replacing the masks with spare masks.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<1.パターン描画システムの全体構成>
図1は、本発明の一実施形態に係るパターン描画システム100の全体構成を示した図である。このパターン描画システム100は、液晶表示装置の部品であるカラーフィルタを製造する工程において、カラーフィルタ用のガラス基板(以下、単に「基板」という。)9の上面に規則性パターンを形成するために使用される製造システムである。図1に示したように、パターン描画システム100は、基板9の上面に規則性パターンを描画するパターン描画装置1と、パターン描画装置1に搭載される複数枚のマスクMを作製するマスク作製装置2と、パターン描画装置1およびマスク作製装置2に電気的に接続されたデータ管理装置3とを備えている。
<1. Overall configuration of pattern drawing system>
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a pattern drawing system 100 according to an embodiment of the present invention. This pattern drawing system 100 is used to form a regular pattern on the upper surface of a glass substrate for color filter (hereinafter simply referred to as “substrate”) 9 in the process of manufacturing a color filter that is a component of a liquid crystal display device. The manufacturing system used. As shown in FIG. 1, a pattern drawing system 100 includes a pattern drawing apparatus 1 that draws a regular pattern on the upper surface of a substrate 9 and a mask manufacturing apparatus that produces a plurality of masks M mounted on the pattern drawing apparatus 1. 2 and a data management device 3 electrically connected to the pattern writing device 1 and the mask manufacturing device 2.

データ管理装置3は、パターン描画装置1およびマスク作製装置2において使用される種々のデータを管理し、パターン描画装置1およびマスク作製装置2に対して、それぞれ必要なデータD2,D3を提供する。マスク作製装置2は、データ管理装置3から提供されたデータ(後述する「レイアウトデータ」)D2に基づいて複数枚のマスクMを作製する。マスク作製装置2において作製された複数枚のマスクMは、所定のカセットCに収納され、パターン描画装置1にセットされる。また、パターン描画装置1は、カセットCから複数枚のマスクMを取り出して当該マスクを装置内の所定の位置に搭載し、データ管理装置3から提供されたデータ(後述する「描画データ」)D3に基づいて動作することにより、基板9の上面に規則性パターンを描画する。   The data management device 3 manages various data used in the pattern writing device 1 and the mask manufacturing device 2, and provides necessary data D2 and D3 to the pattern writing device 1 and the mask manufacturing device 2, respectively. The mask production apparatus 2 produces a plurality of masks M based on data (“layout data” described later) D2 provided from the data management apparatus 3. A plurality of masks M manufactured by the mask manufacturing apparatus 2 are stored in a predetermined cassette C and set in the pattern drawing apparatus 1. The pattern drawing apparatus 1 takes out a plurality of masks M from the cassette C, mounts the masks at predetermined positions in the apparatus, and provides data ("drawing data" described later) D3 provided from the data management apparatus 3. By operating based on the above, a regular pattern is drawn on the upper surface of the substrate 9.

<2.パターン描画装置の構成>
図2および図3は、パターン描画装置1の詳細な構成を示した側面図および上面図である。なお、図2および図3には、各部材の位置関係や動作方向を明確化するために、共通のXYZ直交座標系が付されている。図2および図3に示したように、パターン描画装置1は、主として、基板9を保持するためのステージ10と、ステージ10に連結されたステージ移動機構20と、マスクMを介して基板9の上面にパルス光を照射するヘッド部30とを備えている。
<2. Configuration of pattern drawing apparatus>
2 and 3 are a side view and a top view showing a detailed configuration of the pattern drawing apparatus 1, respectively. 2 and 3 are provided with a common XYZ orthogonal coordinate system in order to clarify the positional relationship and operation direction of each member. As shown in FIGS. 2 and 3, the pattern writing apparatus 1 mainly includes a stage 10 for holding the substrate 9, a stage moving mechanism 20 connected to the stage 10, and a mask M through a mask M. And a head unit 30 that irradiates the upper surface with pulsed light.

ステージ10は、平板状の外形を有し、その上面に基板9を水平姿勢に載置して保持するための部位である。ステージ10は、例えば、大理石等の石材により構成される。ステージ10の上面には、複数の吸引孔(図示省略)が形成されている。このため、ステージ10上に載置された基板9は、複数の吸引孔の吸引圧によりステージ10の上面に固定保持される。なお、本実施形態において描画処理の対象となる基板9の上面には、フォトレジスト等の感光材料により構成された感光層が予め形成されている。   The stage 10 has a flat outer shape, and is a part for mounting and holding the substrate 9 in a horizontal posture on the upper surface thereof. The stage 10 is made of a stone material such as marble, for example. A plurality of suction holes (not shown) are formed on the upper surface of the stage 10. Therefore, the substrate 9 placed on the stage 10 is fixed and held on the upper surface of the stage 10 by the suction pressure of the plurality of suction holes. In the present embodiment, a photosensitive layer made of a photosensitive material such as a photoresist is formed in advance on the upper surface of the substrate 9 to be subjected to the drawing process.

ステージ移動機構20は、ステージ10を主走査方向(Y軸方向)、副走査方向(X軸方向)、および回転方向(Z軸周りの回転方向)に移動させるための機構である。ステージ移動機構20は、ステージ10を回転させる回転機構21と、ステージ10を回転可能に支持する支持プレート22と、支持プレート22を副走査方向に移動させる副走査機構23と、副走査機構23を介して支持プレート22を支持するベースプレート24と、ベースプレート24を主走査方向に移動させる主走査機構25と、を有している。   The stage moving mechanism 20 is a mechanism for moving the stage 10 in the main scanning direction (Y-axis direction), the sub-scanning direction (X-axis direction), and the rotation direction (rotation direction around the Z-axis). The stage moving mechanism 20 includes a rotation mechanism 21 that rotates the stage 10, a support plate 22 that rotatably supports the stage 10, a sub-scanning mechanism 23 that moves the support plate 22 in the sub-scanning direction, and a sub-scanning mechanism 23. And a main scanning mechanism 25 for moving the base plate 24 in the main scanning direction.

回転機構21は、ステージ10の−Y側の端部に取り付けられた移動子と、支持プレート22の上面に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ21aを有している。また、ステージ10の下面中央部と支持プレート22との間には回転軸21bが設けられている。このため、リニアモータ21aを動作させると、固定子に沿って移動子が副走査方向に移動し、支持プレート22上の回転軸21bを中心としてステージ10が所定角度の範囲内で回転する。   The rotation mechanism 21 includes a linear motor 21 a that includes a mover attached to the end portion on the −Y side of the stage 10 and a stator laid on the upper surface of the support plate 22. A rotating shaft 21 b is provided between the center of the lower surface of the stage 10 and the support plate 22. For this reason, when the linear motor 21a is operated, the moving element moves in the sub-scanning direction along the stator, and the stage 10 rotates within a predetermined angle range around the rotating shaft 21b on the support plate 22.

副走査機構23は、支持プレート22の下面に取り付けられた移動子とベースプレート24の上面に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ23aを有している。また、支持プレート22とベースプレート24との間には、副走査方向にのびる一対のガイド部23bが設けられている。このため、リニアモータ23aを動作させると、ベースプレート24上のガイド部23bに沿って支持プレート22が副走査方向に移動する。   The sub-scanning mechanism 23 includes a linear motor 23 a configured by a mover attached to the lower surface of the support plate 22 and a stator laid on the upper surface of the base plate 24. In addition, a pair of guide portions 23 b extending in the sub-scanning direction is provided between the support plate 22 and the base plate 24. For this reason, when the linear motor 23a is operated, the support plate 22 moves in the sub-scanning direction along the guide portion 23b on the base plate 24.

主走査機構25は、ベースプレート24の下面に取り付けられた移動子と本装置1の基台29上に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ25aを有している。また、ベースプレート24と基台29との間には、主走査方向にのびる一対のガイド部25bが設けられている。このため、リニアモータ25aを動作させると、基台29上のガイド部25bに沿ってベースプレート24が主走査方向に移動する。   The main scanning mechanism 25 has a linear motor 25 a composed of a mover attached to the lower surface of the base plate 24 and a stator laid on the base 29 of the apparatus 1. In addition, a pair of guide portions 25 b extending in the main scanning direction is provided between the base plate 24 and the base 29. For this reason, when the linear motor 25a is operated, the base plate 24 moves along the guide portion 25b on the base 29 in the main scanning direction.

ヘッド部30は、ステージ10上に保持された基板9の上面に向けてパルス光を照射するための部位である。ヘッド部30は、ステージ10およびステージ移動機構20を跨ぐようにして基台29上に架設されたフレーム31と、フレーム31上に副走査方向に沿って等間隔に取り付けられた複数の光学ヘッド32とを有している。複数の光学ヘッド32には、照明光学系33を介して1つのレーザ発振器34が接続されている。また、レーザ発振器34には、レーザ発振器34のオンオフ駆動を行うレーザ駆動部35が接続されている。レーザ駆動部35を動作させると、レーザ発振器34からパルス光が発振され、当該パルス光は照明光学系33を介して各光学ヘッド32の内部に導入される。   The head unit 30 is a part for irradiating pulsed light toward the upper surface of the substrate 9 held on the stage 10. The head unit 30 includes a frame 31 installed on a base 29 so as to straddle the stage 10 and the stage moving mechanism 20, and a plurality of optical heads 32 attached on the frame 31 at equal intervals along the sub-scanning direction. And have. One laser oscillator 34 is connected to the plurality of optical heads 32 via an illumination optical system 33. The laser oscillator 34 is connected to a laser driving unit 35 that performs on / off driving of the laser oscillator 34. When the laser driving unit 35 is operated, pulse light is oscillated from the laser oscillator 34, and the pulse light is introduced into each optical head 32 through the illumination optical system 33.

各光学ヘッド32の内部には、照明光学系33から導入されたパルス光を下方へ向けて出射する出射部321と、パルス光を部分的に遮光するマスクユニット322と、マスクユニット322を通過した光束を基板9の上面に照射する投影光学系323とが設けられている。マスクユニット322には、所定の透遮光パターンを有するガラス板であるマスクMが搭載されている。出射部321から出射されたパルス光は、マスクユニット322を通過する際にマスクM上のパターンに応じて遮光され、所定のパターン形状に成形された光束として投影光学系323へ入射する。そして、投影光学系323を通過したパルス光が基板9の上面に照射され、基板9上の感光層を露光することにより、基板9の上面にパターンが描画される。   Each optical head 32 has passed through an emission unit 321 that emits pulsed light introduced from the illumination optical system 33 downward, a mask unit 322 that partially shields the pulsed light, and a mask unit 322. A projection optical system 323 that irradiates the upper surface of the substrate 9 with a light beam is provided. A mask M that is a glass plate having a predetermined light-shielding pattern is mounted on the mask unit 322. The pulsed light emitted from the emission unit 321 is shielded according to the pattern on the mask M when passing through the mask unit 322, and enters the projection optical system 323 as a light beam shaped into a predetermined pattern shape. The pulsed light that has passed through the projection optical system 323 is irradiated onto the upper surface of the substrate 9, and the photosensitive layer on the substrate 9 is exposed, whereby a pattern is drawn on the upper surface of the substrate 9.

図4は、マスクユニット322に搭載されるマスクMの例を示した図である。図4に示したように、マスクMには複数(図4の例では5つ)のパターン群(以下、「スリットパターン群」という。)P1(単位パターン群)が形成されている。各スリットパターン群P1は、図中の破線囲み内において拡大して示したように、複数のスリットパターンp(単位パターン)を規則的に配列したパターン群となっている。そして、マスクM上に形成された複数のスリットパターン群P1の集合として、1つのレイアウトパターンP2が構成されている。また、マスクMの隅部には、後述するマスク識別子id3を示すバーコードBが記録されている。マスクMは、複数のスリットパターン群P1の配列方向が主走査方向と一致するように、マスクユニット322に搭載される。   FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the mask M mounted on the mask unit 322. As shown in FIG. 4, the mask M is formed with a plurality (five in the example of FIG. 4) pattern groups (hereinafter referred to as “slit pattern groups”) P1 (unit pattern groups). Each slit pattern group P <b> 1 is a pattern group in which a plurality of slit patterns p (unit patterns) are regularly arranged as shown in an enlarged manner within a box surrounded by a broken line in the drawing. One layout pattern P2 is configured as a set of a plurality of slit pattern groups P1 formed on the mask M. Further, a barcode B indicating a mask identifier id3 described later is recorded at the corner of the mask M. The mask M is mounted on the mask unit 322 so that the arrangement direction of the plurality of slit pattern groups P1 coincides with the main scanning direction.

図2中に概念的に示したように、パターン描画装置1は、マスクMを主走査方向に移動させるマスク移動機構324を有している。マスク移動機構324は、例えば、マスクを保持する保持具をリニアモータ等の駆動手段により移動させる機構として構成することができる。パターン描画装置1は、マスク移動機構324を動作させて、マスクMの主走査方向の位置を調整することにより、マスクM上に形成された複数のスリットパターン群P1のうちのいずれか1つをパルス光の照射領域に位置させる。そして、当該スリットパターン群P1を介してパルス光を照射することにより、基板9の上面にスリットパターン群P1を投影する。   As conceptually shown in FIG. 2, the pattern drawing apparatus 1 includes a mask moving mechanism 324 that moves the mask M in the main scanning direction. The mask moving mechanism 324 can be configured, for example, as a mechanism that moves a holder that holds the mask by a driving unit such as a linear motor. The pattern drawing apparatus 1 operates the mask moving mechanism 324 and adjusts the position of the mask M in the main scanning direction, so that any one of the plurality of slit pattern groups P1 formed on the mask M is changed. It is located in the irradiation area of the pulsed light. Then, the slit pattern group P1 is projected onto the upper surface of the substrate 9 by irradiating pulse light through the slit pattern group P1.

また、図3に示したように、パターン描画装置1は、複数枚のマスクMを収納可能なカセットCを載置するカセット台36を備えている。パターン描画装置1にマスクMを搭載するときには、まず、複数枚のマスクMを収納したカセットCが、カセット台36上に載置される。そして、マスク搬送機構37によりカセットCからマスクMが1枚ずつ取り出され、取り出されたマスクMが各マスクユニット322へ搬送される。また、使用済みのマスクMを回収するときには、マスク搬送機構37により各マスクユニット322からマスクMが取り出され、当該マスクMがカセット台36上のカセットCへ収納される。なお、カセット台36には、カセットCに収納された複数枚のマスクMの各々に記録されたバーコードBを読み取るバーコードリーダ361が設けられている。   As shown in FIG. 3, the pattern drawing apparatus 1 includes a cassette table 36 on which a cassette C that can store a plurality of masks M is placed. When the mask M is mounted on the pattern drawing apparatus 1, first, the cassette C storing a plurality of masks M is placed on the cassette stand 36. Then, the mask transport mechanism 37 takes out the masks M one by one from the cassette C, and the taken out masks M are transported to the respective mask units 322. When the used mask M is collected, the mask transport mechanism 37 takes out the mask M from each mask unit 322 and stores the mask M in the cassette C on the cassette table 36. The cassette table 36 is provided with a barcode reader 361 that reads the barcode B recorded on each of the plurality of masks M stored in the cassette C.

複数の光学ヘッド32は、副走査方向に沿って等間隔に(例えば200mm間隔で)配列されている。ステージ10を主走査方向に移動させつつ、各光学ヘッド32からパルス光を断続的に照射すると、マスクMのスリットパターン群P1が基板9の上面に繰り返し投影され、図5に示したように、所定の露光幅D(例えば、50mm幅)を有する複数本のパターン群が基板9の上面に描画される。パターン描画装置1は、1回の主走査方向への描画が完了すると、ステージ10を副走査方向に露光幅D分だけ移動させ、ステージ10を再び主走査方向に移動させつつ、各光学ヘッド32からパルス光を照射する。このように、パターン描画装置1は、光学ヘッド32の露光幅分ずつ基板9を副走査方向にずらしながら、主走査方向へのパターンの描画を所定回数(例えば4回)繰り返すことにより、図6に示したように、基板9の描画領域全面にカラーフィルタ用の規則性パターンを形成する。   The plurality of optical heads 32 are arranged at equal intervals (for example, at intervals of 200 mm) along the sub-scanning direction. When the stage 10 is moved in the main scanning direction and pulsed light is intermittently emitted from each optical head 32, the slit pattern group P1 of the mask M is repeatedly projected on the upper surface of the substrate 9, and as shown in FIG. A plurality of pattern groups having a predetermined exposure width D (for example, 50 mm width) are drawn on the upper surface of the substrate 9. When the drawing in the main scanning direction is completed once, the pattern drawing apparatus 1 moves the stage 10 by the exposure width D in the sub-scanning direction, and moves the stage 10 in the main scanning direction again while moving each optical head 32. Irradiate with pulsed light. As described above, the pattern drawing apparatus 1 repeats the drawing of the pattern in the main scanning direction a predetermined number of times (for example, four times) while shifting the substrate 9 in the sub-scanning direction by the exposure width of the optical head 32, thereby obtaining FIG. As shown in FIG. 5, a regular pattern for color filters is formed on the entire drawing region of the substrate 9.

また、このパターン描画装置1は、上記の構成に加えて制御部40を備えている。図7は、パターン描画装置1の上記各部と制御部40との間の接続構成を示したブロック図である。図7に示したように、制御部40は、上記のリニアモータ21a,23a,25a、照明光学系33、レーザ駆動部35、投影光学系323、マスク移動機構324、バーコードリーダ361、およびマスク搬送機構37と電気的に接続されており、これらの動作を制御する。制御部40は、例えば、CPUやメモリを有するコンピュータによって構成され、コンピュータにインストールされたプログラムに従ってコンピュータが動作することにより、上記各部の制御を行う。   Further, the pattern drawing apparatus 1 includes a control unit 40 in addition to the above configuration. FIG. 7 is a block diagram illustrating a connection configuration between the above-described units of the pattern drawing apparatus 1 and the control unit 40. As shown in FIG. 7, the control unit 40 includes the linear motors 21a, 23a, 25a, the illumination optical system 33, the laser drive unit 35, the projection optical system 323, the mask moving mechanism 324, the barcode reader 361, and the mask. It is electrically connected to the transport mechanism 37 and controls these operations. The control unit 40 is configured by, for example, a computer having a CPU and a memory, and controls the above-described units when the computer operates according to a program installed in the computer.

<3.データ管理装置の構成>
図8は、データ管理装置3の構成を示したブロック図である。データ管理装置3は、例えば、CPUやメモリを有するコンピュータにより構成することができるが、複数台のコンピュータを互いに接続したシステムとして構成されていてもよい。データ管理装置3は、コンピュータが所定のプログラムに従って動作することにより実現されるデータ処理部として、パターンデータ管理部50と、描画データ作成部60とを備えている。また、データ管理装置3は、パターンデータ管理部50および描画データ作成部60との間で情報の入出力を行うユーザインタフェイス部70(例えば、液晶ディスプレイとキーボード)を備えている。
<3. Configuration of data management device>
FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of the data management device 3. The data management device 3 can be configured by a computer having a CPU and a memory, for example, but may be configured as a system in which a plurality of computers are connected to each other. The data management device 3 includes a pattern data management unit 50 and a drawing data creation unit 60 as data processing units realized by a computer operating according to a predetermined program. Further, the data management device 3 includes a user interface unit 70 (for example, a liquid crystal display and a keyboard) that inputs and outputs information between the pattern data management unit 50 and the drawing data creation unit 60.

パターンデータ管理部50は、マスクMの上面に形成される透遮光パターンに関するデータを管理するとともに、マスク作製装置2に対してマスクMの作製に必要なデータを与えるためのデータ処理部である。図8に示したように、パターンデータ管理部50は、主として、データ記憶部51と、レイアウトデータ作成部52とを有している。   The pattern data management unit 50 is a data processing unit that manages data related to the light-transmitting / shielding pattern formed on the upper surface of the mask M and provides the mask manufacturing apparatus 2 with data necessary for manufacturing the mask M. As shown in FIG. 8, the pattern data management unit 50 mainly includes a data storage unit 51 and a layout data creation unit 52.

データ記憶部51は、マスクM上に形成される個々のスリットパターンp(図4参照)の形状を示すスリット形状データD1を記憶した記憶部である。データ記憶部51は、具体的には、メモリやハードディスク等の記憶装置により構成される。データ記憶部51には、スリットパターンpとして使用され得る多数種類のスリット形状データD1が記憶されている。なお、これらのスリット形状データD1は、例えば、CADデータとして外部装置から予め与えられ、データ記憶部51に蓄積されている。図9は、データ記憶部51に蓄積されたスリット形状データD1の例を示した図である。図9に示したように、複数のスリット形状データD1には、形状毎に固有のスリット形状識別子id1(0001,0002,0003,…)が付与されている。   The data storage unit 51 is a storage unit that stores slit shape data D1 indicating the shape of each slit pattern p (see FIG. 4) formed on the mask M. Specifically, the data storage unit 51 includes a storage device such as a memory or a hard disk. The data storage unit 51 stores various types of slit shape data D1 that can be used as the slit pattern p. The slit shape data D1 is given in advance from an external device as CAD data, for example, and stored in the data storage unit 51. FIG. 9 is a diagram showing an example of the slit shape data D1 accumulated in the data storage unit 51. As shown in FIG. As shown in FIG. 9, a plurality of slit shape data D1 is given a unique slit shape identifier id1 (0001, 0002, 0003,...) For each shape.

レイアウトデータ作成部52は、データ記憶部51からスリット形状データD1を読み出し、マスクM上に形成すべきレイアウトパターンP2(図4参照)を示すレイアウトデータD2を作成する処理部である。使用されるスリット形状データD1やそれらの配列は、ユーザインタフェイス部70からの操作入力により指定される。図10は、レイアウトデータ作成部52において作成されるレイアウトデータD2の例を示した図である。図10の例では、レイアウトデータD2は、スリット形状識別子id1が0001,0002,0009,0011,0012の5つのスリット形状データD1をそれぞれ配列することによりスリットパターン群P1に相当するデータが構成され、それらが、それぞれ1〜5段目に配列されていることを表すデータとなっている。   The layout data creation unit 52 is a processing unit that reads the slit shape data D1 from the data storage unit 51 and creates layout data D2 indicating a layout pattern P2 (see FIG. 4) to be formed on the mask M. The slit shape data D1 and their arrangement to be used are designated by an operation input from the user interface unit 70. FIG. 10 is a diagram showing an example of the layout data D2 created by the layout data creation unit 52. As shown in FIG. In the example of FIG. 10, the layout data D2 includes data corresponding to the slit pattern group P1 by arranging five slit shape data D1 having slit shape identifiers id1 of 0001, 0002, 0009, 0011, and 0012, respectively. These are data representing that they are arranged in the first to fifth stages.

レイアウトデータ作成部52は、作成されたレイアウトデータD2に対して、固有のレイアウト識別子id(第1識別子)2を発行する。図10の例では、作成されたレイアウトデータD2に対して、レイアウト識別子id2として「0001」が付与されている。レイアウトデータ作成部52は、作成されたレイアウトデータD2を、当該レイアウトデータD2に付与されたレイアウト識別子id2とともに、マスク作製装置2に提供する。   The layout data creation unit 52 issues a unique layout identifier id (first identifier) 2 to the created layout data D2. In the example of FIG. 10, “0001” is assigned as the layout identifier id2 to the created layout data D2. The layout data creation unit 52 provides the created layout data D2 to the mask making apparatus 2 together with the layout identifier id2 assigned to the layout data D2.

また、レイアウトデータ作成部52は、作成されたレイアウトデータD2について、レイアウトパターンP2中の位置(レイアウト位置)と、当該位置に配置されるスリットパターンpのスリット形状識別子id1との対応関係を示したレイアウト管理ファイルF1を作成する。図11は、図10のレイアウトデータD2について作成されたレイアウト管理ファイルF1の例を示した図である。図11のレイアウト管理ファイルF1は、レイアウト識別子id2が「0001」であるレイアウトパターンP2の1〜5段目に、それぞれスリット形状識別子id1が「0001」,「0002」,「0009」,「0011」,「0012」のスリットパターンpが配列されることを示す。レイアウト管理ファイルF1は、データ記憶部51に保存され、ユーザインタフェイス部70を介して作業者が適宜に参照可能な状態とされる。   Further, the layout data creation unit 52 indicates the correspondence between the position (layout position) in the layout pattern P2 and the slit shape identifier id1 of the slit pattern p arranged at the position for the created layout data D2. A layout management file F1 is created. FIG. 11 is a diagram showing an example of the layout management file F1 created for the layout data D2 of FIG. In the layout management file F1 of FIG. 11, the slit shape identifiers id1 are “0001”, “0002”, “0009”, “0011” in the first to fifth stages of the layout pattern P2 whose layout identifier id2 is “0001”. , “0012” slit pattern p is arranged. The layout management file F <b> 1 is stored in the data storage unit 51 and can be appropriately referred to by the operator via the user interface unit 70.

一方、描画データ作成部60は、パターン描画装置1を動作させるための描画データD3を作成する。描画データD3は、描画対象となるレイアウトパターンP2のレイアウト識別子id2と、当該レイアウトパターンP2中の描画対象となるスリットパターン群P1のレイアウト位置を示す情報とを保持している。描画データD3に組み込まれるレイアウト識別子id2やレイアウト位置の情報は、作業者が、ユーザインタフェイス部70を介して上記のレイアウト管理ファイルF1を参照しつつ、操作入力を行うことにより指定される。   On the other hand, the drawing data creation unit 60 creates the drawing data D3 for operating the pattern drawing apparatus 1. The drawing data D3 holds the layout identifier id2 of the layout pattern P2 to be drawn and information indicating the layout position of the slit pattern group P1 to be drawn in the layout pattern P2. The layout identifier id2 and layout position information incorporated in the drawing data D3 are designated by the operator performing operation input while referring to the layout management file F1 via the user interface unit 70.

<4.処理手順>
続いて、上記のパターン描画システム100における処理の流れについて、図12のフローチャートを参照しつつ説明する。このパターン描画システム100において基板9の上面にパターンを描画するときには、まず、データ管理装置3のレイアウトデータ作成部52において、レイアウトデータD2を作成する(ステップS1)。具体的には、作業者が、ユーザインタフェイス部70において操作入力を行うことにより、複数のスリット形状データD1とそれらのレイアウト位置とを指定する。レイアウトデータ作成部52は、指定されたスリット形状データD1を指定されたレイアウト位置に配列して、レイアウトデータD2を作成する。また、レイアウトデータ作成部52は、作成されたレイアウトデータD2に対して固有のレイアウト識別子id2を発行する。そして、レイアウトデータ作成部52は、レイアウトデータD2を、発行されたレイアウト識別子id2とともに、マスク作製装置2へ提供する。また、レイアウトデータ作成部52は、作成されたレイアウトデータD2についてレイアウト管理ファイルF1を作成し、データ記憶部51にレイアウト管理ファイルF1を保存する。
<4. Processing procedure>
Next, the flow of processing in the pattern drawing system 100 will be described with reference to the flowchart of FIG. When a pattern is drawn on the upper surface of the substrate 9 in the pattern drawing system 100, first, the layout data D2 is created in the layout data creation unit 52 of the data management device 3 (step S1). Specifically, the operator designates a plurality of slit shape data D1 and their layout positions by performing operation input on the user interface unit 70. The layout data creation unit 52 creates the layout data D2 by arranging the designated slit shape data D1 at the designated layout position. In addition, the layout data creation unit 52 issues a unique layout identifier id2 to the created layout data D2. Then, the layout data creation unit 52 provides the layout data D2 to the mask making apparatus 2 together with the issued layout identifier id2. Further, the layout data creation unit 52 creates a layout management file F1 for the created layout data D2, and stores the layout management file F1 in the data storage unit 51.

次に、描画データ作成部60は、パターン描画装置1を動作させるための描画データD3を作成する(ステップS2)。具体的には、作業者が、ユーザインタフェイス部70を介してレイアウト管理ファイルF1を参照し、所望のレイアウト識別子id2と所望のスリットパターン群P1のレイアウト位置とを操作入力により指定する。描画データ作成部60は、指定されたレイアウト識別子id2とレイアウト位置の情報とを含む描画データD3を作成する。作成された描画データDは、描画データ作成部60からパターン描画装置1の制御部40へ送信される。   Next, the drawing data creation unit 60 creates drawing data D3 for operating the pattern drawing apparatus 1 (step S2). Specifically, the operator refers to the layout management file F1 via the user interface unit 70 and designates a desired layout identifier id2 and a desired layout position of the slit pattern group P1 by operation input. The drawing data creation unit 60 creates drawing data D3 including the designated layout identifier id2 and layout position information. The created drawing data D is transmitted from the drawing data creation unit 60 to the control unit 40 of the pattern drawing apparatus 1.

一方、マスク作製装置2は、データ管理装置3から提供されたレイアウトデータD2に基づいて複数枚のマスクMを作製する(ステップS3)。具体的には、マスク作製装置2は、取得したレイアウトデータD2に基づいてガラス板の上面にレイアウトパターンP2を形成することにより、マスクMを作成する。   On the other hand, the mask production apparatus 2 produces a plurality of masks M based on the layout data D2 provided from the data management apparatus 3 (step S3). Specifically, the mask manufacturing apparatus 2 creates the mask M by forming the layout pattern P2 on the upper surface of the glass plate based on the acquired layout data D2.

マスク作製装置2は、作製された複数枚のマスクMに対して、それぞれマスク識別子id3(第2識別子)を発行する。図13は、マスク識別子id3の例を示した図である。図13に示したように、マスク識別子id3は、当該マスクMのレイアウトパターンP2に対応するレイアウト識別子id2と、マスクMに固有のシリアルナンバとにより構成されている。このため、マスク識別子id3からレイアウト識別子id2が容易に抽出できるようになっている。但し、マスク識別子id3は、必ずしも図13のような形態である必要はなく、所定の演算処理によりレイアウト識別子id2が算出あるいは抽出できるものであればよい。マスク作製装置2は、各マスクMの隅部に、発行されたマスク識別子id3を示すバーコードBを記録する(図4参照)。   The mask manufacturing apparatus 2 issues a mask identifier id3 (second identifier) to each of the plurality of manufactured masks M. FIG. 13 is a diagram illustrating an example of the mask identifier id3. As shown in FIG. 13, the mask identifier id3 is composed of a layout identifier id2 corresponding to the layout pattern P2 of the mask M and a serial number unique to the mask M. For this reason, the layout identifier id2 can be easily extracted from the mask identifier id3. However, the mask identifier id3 is not necessarily in the form as shown in FIG. 13, and any mask identifier can be used as long as the layout identifier id2 can be calculated or extracted by a predetermined calculation process. The mask manufacturing apparatus 2 records the barcode B indicating the issued mask identifier id3 in the corner of each mask M (see FIG. 4).

マスク作製装置2において作製された複数のマスクMは、作業者あるいは所定の搬送機構により、カセットCに収納される(ステップS4)。そして、複数枚のマスクMを収納したカセットCが、パターン描画装置1のカセット台36上に載置される(ステップS5)。   The plurality of masks M manufactured by the mask manufacturing apparatus 2 are stored in the cassette C by an operator or a predetermined transport mechanism (step S4). Then, the cassette C storing a plurality of masks M is placed on the cassette table 36 of the pattern drawing apparatus 1 (step S5).

カセット台36上にカセットCが載置されると、カセット台36に設けられたバーコードリーダ361が、カセットC内の各マスクMの隅部に記録されたバーコードBを読み取り、各マスクMのマスク識別子id3を取得する(ステップS6)。バーコードリーダ361は、マスクM毎に取得されたマスク識別子id3を、パターン描画装置1の制御部40へ転送する。   When the cassette C is placed on the cassette table 36, the barcode reader 361 provided on the cassette table 36 reads the barcode B recorded at the corner of each mask M in the cassette C, and each mask M The mask identifier id3 is acquired (step S6). The barcode reader 361 transfers the mask identifier id3 acquired for each mask M to the control unit 40 of the pattern drawing apparatus 1.

制御部40は、各マスクMのマスク識別子id3を受信すると、各マスク識別子id3からそれぞれレイアウト識別子id2を抽出する。そして、抽出された各レイアウト識別子id2が、描画データD3中において指定されたレイアウト識別子id2と一致しているかどうかを確認する(ステップS7)。   When receiving the mask identifier id3 of each mask M, the control unit 40 extracts the layout identifier id2 from each mask identifier id3. Then, it is confirmed whether or not each extracted layout identifier id2 matches the layout identifier id2 designated in the drawing data D3 (step S7).

制御部40は、全てのマスク識別子id3から抽出されたレイアウト識別子id2が、描画データD3中において指定されたレイアウト識別子id2と一致していた場合には、カセットCに収納された複数枚のマスクMが全て正しいと判断し、描画処理を実行する(ステップS8)。すなわち、パターン描画装置1は、マスク搬送機構37を動作させてカセットCからマスクMを取り出し、各マスクMを各マスクユニット322へ搬送する。そして、パターン描画装置1は、描画データD3に従ってステージ移動機構20とヘッド部30とを動作させることにより、基板9の上面に規則性パターンを形成する。   When the layout identifier id2 extracted from all the mask identifiers id3 matches the layout identifier id2 specified in the drawing data D3, the control unit 40 makes a plurality of masks M stored in the cassette C. Are determined to be correct and the drawing process is executed (step S8). That is, the pattern drawing apparatus 1 operates the mask transport mechanism 37 to take out the mask M from the cassette C, and transports each mask M to each mask unit 322. The pattern drawing apparatus 1 forms a regular pattern on the upper surface of the substrate 9 by operating the stage moving mechanism 20 and the head unit 30 according to the drawing data D3.

一方、制御部40は、1つ以上のマスク識別子id3から抽出されたレイアウト識別子id2が、描画データD3中において指定されたレイアウト識別子id2と一致しなかった場合には、カセットC内に不適切なマスクMが含まれていると判断し、描画処理を中止する(ステップS9)。このとき、制御部40は、付属のディスプレイ(図示省略)に警告表示を行う。   On the other hand, when the layout identifier id2 extracted from one or more mask identifiers id3 does not match the layout identifier id2 specified in the drawing data D3, the control unit 40 is inappropriate in the cassette C. It is determined that the mask M is included, and the drawing process is stopped (step S9). At this time, the control unit 40 displays a warning on an attached display (not shown).

このように、本実施形態のパターン描画システム100は、レイアウトデータ毎に付与されたレイアウト識別子id2を使用して複数枚のマスクMを管理し、描画データD3には、マスクMの適否を判定するための情報としてレイアウト識別子id2を組み込む。このため、マスクMのレイアウトパターンP2さえ一致していれば、当該マスクMを使用して描画処理を実行することができる。したがって、マスクMの互換性が向上する。また、予備のマスクMを用意する場合にも、複数枚のマスクMについて各々予備のマスクMを用意しておく必要はなく、レイアウトパターンP2毎に予備のマスクMを用意しておけばよい。   As described above, the pattern drawing system 100 according to the present embodiment manages a plurality of masks M using the layout identifier id2 assigned to each layout data, and determines whether the mask M is appropriate for the drawing data D3. The layout identifier id2 is incorporated as information for this purpose. Therefore, if even the layout pattern P2 of the mask M matches, the drawing process can be executed using the mask M. Therefore, the compatibility of the mask M is improved. Also, when preparing a spare mask M, it is not necessary to prepare a spare mask M for each of a plurality of masks M, and a spare mask M may be prepared for each layout pattern P2.

また、パターン描画装置1において使用されるマスクを、マスク識別子id3の異なるマスクMに交換したときにも、レイアウト識別子id2さえ一致していれば、描画データD3を再作成する必要はない。このため、描画データD3の作成にかかる負担も低減する。   Further, even when the mask used in the pattern drawing apparatus 1 is replaced with a mask M having a different mask identifier id3, it is not necessary to recreate the drawing data D3 as long as the layout identifier id2 matches. For this reason, the burden concerning creation of drawing data D3 is also reduced.

<5.変形例>
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。例えば、上記の実施形態では、マスクM上の複数のレイアウト位置には、それぞれ異なるスリットパターンpにより構成されたスリットパターン群P1が形成されていたが、マスクM上の複数のレイアウト位置に、同一のスリットパターンpが異なる配列形態で配列された複数のスリットパターン群P1が形成されていてもよい。
<5. Modification>
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above-described embodiment, the slit pattern group P1 configured by the different slit patterns p is formed at a plurality of layout positions on the mask M, but the same at the plurality of layout positions on the mask M. A plurality of slit pattern groups P1 in which the slit patterns p are arranged in different arrangement forms may be formed.

また、上記の実施形態では、マスクMの隅部にマスク識別子id3を示すバーコードBを記録していたが、バーコードBに代えて他の読み取り可能な図形や文字を使用してもよい。また、上記の実施形態では、カセット台36にカセットCを載置したときにマスクMのバーコードBを読み取るようにしていが、マスクMが各光学ヘッド32に搭載された後に、所定のカメラやバーコードリーダによって各マスクMのバーコードBを読み取るようにしてもよい。   In the above embodiment, the barcode B indicating the mask identifier id3 is recorded at the corner of the mask M, but other readable figures and characters may be used instead of the barcode B. In the above embodiment, the barcode B of the mask M is read when the cassette C is placed on the cassette stand 36. However, after the mask M is mounted on each optical head 32, a predetermined camera or You may make it read the barcode B of each mask M with a barcode reader.

また、複数枚のマスクMが収納されたカセットCに対して固有のカセット識別子id4を付与し、カセット識別子id4と当該カセットCに収納されたマスクMのマスク識別子id3とを関連づけて管理するようにしてもよい。カセット識別子id4は、例えば、カセットCのフレームや天板に記録し、パターン描画装置1において読み取れるようにすればよい。また、図14に示したように、カセット識別子id4と、当該カセットCの各段に収納されるマスクMのマスク識別子id3とを示したカセット管理ファイルF2を作成し、作業者が参照できるようにしてもよい。このようにすれば、基板処理装置1において各光学ヘッド32に搭載されるマスクMを容易に確認することができる。   Further, a unique cassette identifier id4 is assigned to the cassette C in which a plurality of masks M are stored, and the cassette identifier id4 and the mask identifier id3 of the mask M stored in the cassette C are associated and managed. May be. The cassette identifier id4 may be recorded, for example, on a frame or a top plate of the cassette C so that the pattern drawing apparatus 1 can read the cassette identifier id4. Further, as shown in FIG. 14, a cassette management file F2 showing the cassette identifier id4 and the mask identifier id3 of the mask M stored in each stage of the cassette C is created so that the operator can refer to it. May be. In this way, the mask M mounted on each optical head 32 in the substrate processing apparatus 1 can be easily confirmed.

更に、マスクM毎に描画処理や洗浄処理等の履歴を記録した履歴ファイルを作成し、作業者が参照できるようにしてもよい。このようにすれば、作業者は、マスクMの寿命や汚染の程度を履歴ファイルを手掛かりとして判断することができる。   Furthermore, a history file in which a history of drawing processing, cleaning processing, etc. is recorded for each mask M may be created so that the operator can refer to it. In this way, the operator can determine the life of the mask M and the degree of contamination using the history file as a clue.

また、レイアウトパターンP2毎に用意された予備のマスクMを、予めカセットCに収納しておくようにしてもよい。また、各光学ヘッド32にマスクMの異常を検知するセンサを設け、複数の光学ヘッド32のいずれかにおいてセンサがマスクMの異常を検知すると、マスク搬送機構37が当該光学ヘッドに搭載されたマスクMと予備のマスクMとを自動的に交換するようにしてもよい。このようにすれば、一部のマスクMに異常が発生したときにも、当該マスクMを予備のマスクMに自動的に交換して描画処理を続行させることができる。   Further, a spare mask M prepared for each layout pattern P2 may be stored in the cassette C in advance. In addition, each optical head 32 is provided with a sensor that detects an abnormality of the mask M. When the sensor detects an abnormality of the mask M in any of the plurality of optical heads 32, the mask transport mechanism 37 is mounted on the optical head. M and the spare mask M may be automatically exchanged. In this way, even when an abnormality occurs in some of the masks M, the mask M can be automatically replaced with a spare mask M and the drawing process can be continued.

また、上記の実施形態では、カラーフィルタ用のガラス基板9を処理対象としていたが、本発明は、半導体基板、プリント基板、プラズマ表示装置用ガラス基板等の他の基板に対して描画処理を行うものであってもよい。   In the above embodiment, the glass substrate 9 for the color filter is a processing target. However, the present invention performs a drawing process on another substrate such as a semiconductor substrate, a printed substrate, or a glass substrate for a plasma display device. It may be a thing.

パターン描画システムの全体構成を示した図である。It is the figure which showed the whole structure of the pattern drawing system. パターン描画装置の側面図である。It is a side view of a pattern drawing apparatus. パターン描画装置の上面図である。It is a top view of a pattern drawing apparatus. マスクの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the mask. 基板に対する描画処理の様子を示した図である。It is the figure which showed the mode of the drawing process with respect to a board | substrate. 基板に対する描画処理の様子を示した図である。It is the figure which showed the mode of the drawing process with respect to a board | substrate. パターン描画装置の各部と制御部との間の接続構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the connection structure between each part and control part of a pattern drawing apparatus. データ管理装置の構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the structure of the data management apparatus. スリット形状データの例を示した図である。It is the figure which showed the example of slit shape data. レイアウトデータの例を示した図である。It is the figure which showed the example of layout data. レイアウト管理ファイルの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the layout management file. パターン描画システムにおける処理の流れを示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the flow of the process in a pattern drawing system. マスク識別子の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the mask identifier. カセット管理ファイルの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the cassette management file.

符号の説明Explanation of symbols

1 パターン描画装置
2 マスク作製装置
3 データ管理装置
9 基板
10 ステージ
20 ステージ移動機構
30 ヘッド部
32 光学ヘッド
322 マスクユニット
324 マスク移動機構
36 カセット台
361 バーコードリーダ
37 マスク搬送機構
40 制御部
50 パターンデータ管理部
51 データ記憶部
52 レイアウトデータ作成部
60 描画データ作成部
70 ユーザインタフェイス部
100 パターン描画システム
B バーコード
C カセット
M マスク
D1 スリット形状データ
D2 レイアウトデータ
D3 描画データ
F1 レイアウト管理ファイル
F2 カセット管理ファイル
p スリットパターン
P1 スリットパターン群
P2 レイアウトパターン
id1 スリット形状識別子
id2 レイアウト識別子
id3 マスク識別子
id4 カセット識別子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pattern drawing apparatus 2 Mask production apparatus 3 Data management apparatus 9 Board | substrate 10 Stage 20 Stage moving mechanism 30 Head part 32 Optical head 322 Mask unit 324 Mask moving mechanism 36 Cassette stand 361 Bar code reader 37 Mask conveyance mechanism 40 Control part 50 Pattern data Management unit 51 Data storage unit 52 Layout data creation unit 60 Drawing data creation unit 70 User interface unit 100 Pattern drawing system B Barcode C Cassette M Mask D1 Slit shape data D2 Layout data D3 Drawing data F1 Layout management file F2 Cassette management file p Slit pattern P1 Slit pattern group P2 Layout pattern id1 Slit shape identifier id2 Layout identifier id3 Mask identifier i 4 cassette identifier

Claims (8)

透光部および遮光部により形成されたレイアウトパターンを有するマスクを複数枚搭載し、各マスクを介して基板の上面に光を照射することにより、基板上の感光材料にパターンを描画するパターン描画装置に接続されるデータ管理装置であって、
マスク上のレイアウトパターンを示すレイアウトデータを作成するレイアウトデータ作成部と、
前記レイアウトデータ作成部において作成されたレイアウトデータ毎に固有の第1識別子を発行する第1識別子発行手段と、
使用すべきマスクを指定する情報として前記第1識別子を保持する描画データを作成し、前記パターン描画装置に前記描画データを提供する描画データ作成部と、
を備えたことを特徴とするデータ管理装置。
A pattern drawing apparatus that mounts a plurality of masks having a layout pattern formed by a light transmitting part and a light shielding part, and draws a pattern on a photosensitive material on the substrate by irradiating light onto the upper surface of the substrate through each mask A data management device connected to
A layout data creation unit for creating layout data indicating a layout pattern on the mask;
First identifier issuing means for issuing a unique first identifier for each layout data created in the layout data creation unit;
A drawing data creating unit for creating drawing data holding the first identifier as information for designating a mask to be used, and providing the drawing data to the pattern drawing device;
A data management apparatus comprising:
請求項1に記載のデータ管理装置であって、
前記パターン描画装置に搭載される複数枚のマスクは、同一のレイアウトパターンを有することを特徴とするデータ管理装置。
The data management device according to claim 1,
The data management apparatus according to claim 1, wherein the plurality of masks mounted on the pattern drawing apparatus have the same layout pattern.
請求項1または請求項2に記載のデータ管理装置であって、
前記レイアウトパターンは複数の単位パターン群の集合であり、
前記描画データ作成部は、前記第1識別子と、前記第1識別子により指定されるレイアウトパターン中の所望の単位パターン群の位置を示す情報とを含む前記描画データを作成することを特徴とするデータ管理装置。
The data management device according to claim 1 or 2,
The layout pattern is a set of a plurality of unit pattern groups,
The drawing data creation unit creates the drawing data including the first identifier and information indicating a position of a desired unit pattern group in a layout pattern specified by the first identifier. Management device.
請求項3に記載のデータ管理装置であって、
前記単位パターン群を構成する複数種類の単位パターンのデータを記憶するデータ記憶手段を更に備え、
前記レイアウトデータ作成部は、前記記憶手段から前記単位パターンのデータを読み出して前記レイアウトデータを作成することを特徴とするデータ管理装置。
The data management device according to claim 3,
Data storage means for storing data of a plurality of types of unit patterns constituting the unit pattern group;
The layout data creation unit reads the unit pattern data from the storage means and creates the layout data.
請求項1から請求項4までのいずれかに記載のデータ管理装置と、前記パターン描画装置と、複数枚のマスクを作製するマスク作製装置とを備えたパターン描画システムであって、
前記マスク作製装置は、前記レイアウトデータ作成部から提供されるレイアウトデータに基づいて複数枚のマスクを作製し、
前記パターン描画装置は、前記描画データ作成部から提供される描画データに従って描画処理を行うことを特徴とするパターン描画システム。
A pattern drawing system comprising the data management device according to any one of claims 1 to 4, the pattern drawing device, and a mask making device for making a plurality of masks,
The mask production apparatus produces a plurality of masks based on layout data provided from the layout data creation unit,
The pattern drawing apparatus, wherein the pattern drawing apparatus performs a drawing process according to drawing data provided from the drawing data creation unit.
請求項5に記載のパターン描画システムであって、
前記マスク作製装置は、作製された複数枚のマスクに対して、前記第1識別子を含む第2識別子を記録し、
前記パターン描画装置は、
自身に搭載されるマスクに記録された第2識別子を読み取る読み取り部と、
前記読み取り部により読み取られた第2識別子から第1識別子を抽出し、描画データ中において指定された第1識別子と一致するかどうかを判定する判定部と、
を有することを特徴とするパターン描画システム。
The pattern drawing system according to claim 5,
The mask manufacturing apparatus records a second identifier including the first identifier for a plurality of masks manufactured,
The pattern drawing device includes:
A reading unit for reading the second identifier recorded on the mask mounted on the device;
A determination unit that extracts a first identifier from the second identifier read by the reading unit and determines whether the first identifier matches the first identifier specified in the drawing data;
A pattern drawing system comprising:
請求項5または請求項6に記載のパターン描画システムであって、
前記パターン描画装置は、
同一のレイアウトパターンを有する複数枚のマスクを収納するマスク収納部と、
前記マスク収納部から複数の光学ヘッドにそれぞれマスクを搬送するマスク搬送部と、
を有することを特徴とするパターン描画システム。
The pattern drawing system according to claim 5 or 6,
The pattern drawing device includes:
A mask storage section for storing a plurality of masks having the same layout pattern;
A mask transport section for transporting a mask from the mask storage section to a plurality of optical heads,
A pattern drawing system comprising:
請求項7に記載のパターン描画システムであって、
前記マスク収納部は、前記複数枚のマスクと同一のレイアウトパターンを有する予備のマスクを更に収納可能であり、
前記マスク搬送部は、前記複数の光学ヘッドのいずれかにおいてマスクの異常が検知されると、当該光学ヘッドに搭載されたマスクと前記予備のマスクとを交換することを特徴とするパターン描画システム。
The pattern drawing system according to claim 7,
The mask storage unit can further store a spare mask having the same layout pattern as the plurality of masks;
The mask drawing unit is characterized in that when a mask abnormality is detected in any of the plurality of optical heads, the mask carrying unit replaces the mask mounted on the optical head with the spare mask.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110780541A (en) * 2018-07-30 2020-02-11 台湾积体电路制造股份有限公司 Semiconductor processing system and method
CN110780541B (en) * 2018-07-30 2021-12-10 台湾积体电路制造股份有限公司 Semiconductor processing system and method
US11302546B2 (en) 2018-07-30 2022-04-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor process system and method

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