JP2009116926A - Disk substrate etching method, disk substrate etching device, and magnetic disk media manufacturing apparatus - Google Patents

Disk substrate etching method, disk substrate etching device, and magnetic disk media manufacturing apparatus Download PDF

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Kyoichi Mori
恭一 森
Fujio Yamazaki
不二夫 山崎
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a disk substrate etching method, disk substrate etching device, or magnetic disk media manufacturing apparatus which continuously etch a plurality of disks simultaneously roe each side of a magnetic film of a disk substrate by circulating a palette which contains a plurality of disk substrates. <P>SOLUTION: A plurality of bosses are prepared in a first palette and a plurality of disk substrates are contained on a first palette by inserting each boss in a central opening respectively, and one side of each of a plurality of disk substrates in the first palette loaded onto the etching device are simultaneously etched. A plurality of disk substrate are reversed and transferred to a second palette by covering the first palette with the second palette of the same type after etching and turning it over, and the palette is circulated in the device. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

この発明は、ディスクサブストレートエッチング方法、ディスクサブストレートエッチング装置および磁気ディスクメディア製造装置に関し、詳しくは、複数枚のディスクディスクサブストレートを収納するパレットを循環させてディスクサブストレートの磁性膜を片面ずつ連続的にかつ複数枚同時にドライエッチングすることができ、ドライエッチング処理効率を向上させることがで、それにより磁気ディスクメディアの製造効率を向上させることができるようなディスクサブストレートエッチング方法および装置に関する。   The present invention relates to a disk substrate etching method, a disk substrate etching apparatus, and a magnetic disk medium manufacturing apparatus, and more specifically, circulating a pallet for storing a plurality of disk disk substrates to form a magnetic film on the disk substrate one side at a time. The present invention relates to a disk substrate etching method and apparatus capable of continuously performing dry etching on a plurality of sheets simultaneously and improving the dry etching processing efficiency, thereby improving the manufacturing efficiency of magnetic disk media.

HDD(ハードディスク駆動装置)は、現在では自動車製品や家電製品、音響製品の分野にまで浸透し、3.5インチから1.8インチに、さらには1.0インチ以下のハードディスク駆動装置が各種製品に内蔵され、使用されている。それによりHDDの低価格化と大量生産化が求められ、しかもその記憶容量は大きいことにこしたことはない。
前記のような要請に応えるために最近実用化に至った超高密度記録の垂直磁気記憶方式の磁気ディスクメディアが前記の分野で採用され、急速に普及しつつある。
HDDs (Hard Disk Drives) are now widely used in the fields of automobile products, home appliances, and acoustic products, and various hard disk drive devices ranging from 3.5 inches to 1.8 inches and 1.0 inches or less are available. Built in and used. As a result, lower prices and mass production of HDDs are required, and the storage capacity has never been large.
In order to meet such demands, perpendicular high-density recording perpendicular magnetic storage magnetic disk media, which has recently been put into practical use, has been adopted in the above-mentioned fields and is rapidly spreading.

超高密度記録の垂直磁気記憶方式の磁気ディスクメディアは、TMR(トンネル磁気抵抗)ヘッドあるいはGMR(ジャイアント磁気抵抗)ヘッドを持つ複合磁気ヘッドが使用され、ヘッドとの距離が10ナノ以下に設定され、その距離が制御される記憶媒体である。
このような磁気ディスクメディアには、一般的にはガラス基板が用いられ、ガラス基板の上に軟磁性層が形成され、その上に磁性層が設けられる。そして、この磁性層がエッチングされることで溝を介したディスクリートなトラックがディスクサブストレート(なおここでのディスクサブストレートとはデータの読出/書込を行う磁気ディスクに対してその材料としてその前段階にある各種のディスク基板を指している。)に形成される。
トラック間を隔絶する溝のエッチングは、凹凸を持つフォトレジスト膜を介して行われる。フォトレジスト膜の凹凸は、ナノインプリントリソグラフィ法によりディスクサブストレートの磁性層にフォトレジスト膜を塗布してフォトレジスト膜層の上から凹凸を持つスタンパを押付けることで形成された溝を持つ膜を介して行われる。このドライエッチングにより形成されるディスクリートなトラックの幅は100nm程度であり、トラック間を隔絶する溝には後の工程で非磁性体が充填される(特許文献1,2)。
特開2007−012119号公報 特開2007−149155号公報
The magnetic disk media of the ultra-high density recording perpendicular magnetic storage system uses a composite magnetic head having a TMR (tunnel magnetoresistive) head or a GMR (giant magnetoresistive) head, and the distance from the head is set to 10 nanometers or less. A storage medium whose distance is controlled.
In such magnetic disk media, a glass substrate is generally used, a soft magnetic layer is formed on the glass substrate, and a magnetic layer is provided thereon. When this magnetic layer is etched, a discrete track through the groove is formed on a disk substrate (here, the disk substrate is a material for a magnetic disk for reading / writing data as a material thereof). It refers to various types of disk substrates in the stage.)
Etching of the grooves separating the tracks is performed through a photoresist film having irregularities. The unevenness of the photoresist film is passed through a film with grooves formed by applying a photoresist film to the magnetic layer of the disk substrate by nanoimprint lithography and pressing a stamper with unevenness over the photoresist film layer. Done. The width of the discrete track formed by this dry etching is about 100 nm, and the groove separating the tracks is filled with a nonmagnetic material in a later step (Patent Documents 1 and 2).
JP 2007-012119 A JP 2007-149155 A

磁気ディスクメディアは両面記憶の媒体であるが、通常、ドライエッチングは、ディスクサブストレートの一面をエッチングするものである。しかも、ディスクサブストレートは、その表裏面への異物の付着や疵、シミ、チャック痕等の形成を極力避けなければならない。そのため、ディスクサブストレートを1枚ごと、その外周あるいは内周をチャックして個々に反転して片面ずつエッチング処理をすることになる。その結果、ディスクサブストレートのエッチング処理効率が落ちる問題がある。   A magnetic disk medium is a double-sided storage medium. Normally, dry etching is one that etches one surface of a disk substrate. In addition, the disk substrate must avoid adhesion of foreign matters to the front and back surfaces and formation of wrinkles, stains, chuck marks, and the like as much as possible. Therefore, the disk substrate is etched one by one by chucking the outer periphery or inner periphery of each disk substrate and reversing them individually. As a result, there is a problem that the etching efficiency of the disk substrate is lowered.

そこで、パレットに複数枚のディスクサブストレートを収納してディスクサブストレートをパレットに載せてエッチング処理をしてパレットを循環させて使用することで処理効率を上げることを考えたが、パレット単位でディスクサブストレートをエッチング装置にロードし、そこからアンロードすることができたとしても、パレット単位でパレットに収納したディスクサブストレートを反転しなければならず、ディスクサブストレートの収納枚数を多くすると、ハンドリングロボットによるパレット上のディスクサブストレートの反転処理に手間がかかり、エッチング処理の全体的な効率が向上しない。
一方、ディスクサブストレートの収納枚数を2〜3枚程度と少なくすると、パレット単位で処理したとしてもエッチング処理効率の向上があまり期待できず、パレット単位に処理することの意味が薄れる。
Therefore, we considered increasing the processing efficiency by storing multiple disk substrates in a pallet, placing the disk substrate on the pallet, performing etching, and circulating the pallet for use. Even if the substrate can be loaded into the etching system and unloaded from there, the disk substrate stored in the pallet must be reversed in units of pallets. It takes time to invert the disk substrate on the pallet by the robot, and the overall efficiency of the etching process is not improved.
On the other hand, if the number of stored disc substrates is as small as about 2 to 3, even if the processing is performed in units of pallets, the improvement in etching efficiency cannot be expected so much, and the meaning of processing in units of pallets is diminished.

この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、複数枚のディスクディスクサブストレートを収納するパレットを循環させてディスクサブストレートの磁性膜を片面ずつ連続的にかつ複数枚同時にエッチングすることができ、ドライエッチング処理効率を向上させることができるディスクサブストレートエッチング方法あるいはディスクサブストレートエッチング装置を提供することにある。
この発明の他の目的は、複数枚のディスクディスクサブストレートを収納するパレットを循環させて使用して複数枚のディスクディスクサブストレートのエッチング処理を同時にすることで磁気ディスクメディア製造の効率化を図ることができる磁気ディスクメディア製造装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve such a problem of the prior art, and circulates a pallet containing a plurality of disk disk substrates to continuously and continuously form the magnetic films on the disk substrates one side at a time. An object of the present invention is to provide a disk substrate etching method or a disk substrate etching apparatus capable of simultaneously etching a plurality of sheets and improving the dry etching processing efficiency.
Another object of the present invention is to increase the efficiency of manufacturing magnetic disk media by simultaneously circulating a pallet for storing a plurality of disk disk substrates and simultaneously etching the plurality of disk disk substrates. It is an object of the present invention to provide a magnetic disk medium manufacturing apparatus that can perform the above-described process.

このような目的を達成するためのこの発明のディスクサブストレートエッチング方法、ディスクサブストレートエッチング装置あるいは磁気ディスクメディア製造装置の構成は、複数のボスを有する第1のパレットに複数の各ディスクサブストレートをそれぞれその中心開口にそれぞれのボスを挿入して収納し、この第1のパレットをエッチング装置に搬入して複数枚のディスクサブストレートの片面に対してエッチング処理をし、
エッチング装置から取出した第1のパレットの上に同型でディスクサブストレートを収納していない第2のパレットを各ボス同士が対応するように被せ、第1および第2のパレットをともに上下反転させて第1のパレットから第2のパレットへと各ボスを介して複数枚のディスクサブストレートを移して第2のパレットに反転させた複数枚のディスクサブストレートを収納し、この第2のパレットをエッチング装置あるいは他のエッチング装置に搬入して第2のパレットの複数枚のディスクサブストレートの残りの片面に対してエッチング処理をし、反転後の第1のパレットを第2のパレットとして第1のパレットと同様に他のパレットに被せるものとして使用し、エッチング装置あるいは他のエッチング装置でエッチング処理が終了して取出された第2のパレットから複数枚のディスクサブストレートを脱去して空にした第2のパレットを第1のパレットあるいは他のパレットとして使用するものである。
In order to achieve such an object, the disk substrate etching method, the disk substrate etching apparatus or the magnetic disk medium manufacturing apparatus according to the present invention comprises a plurality of disk substrates on a first pallet having a plurality of bosses. Each boss is inserted into and stored in its center opening, the first pallet is carried into an etching apparatus, and etching is performed on one side of a plurality of disk substrates,
Cover the first pallet taken out from the etching apparatus with a second pallet of the same type that does not contain the disk substrate so that the bosses correspond to each other, and turn both the first and second pallets upside down. The plurality of disk substrates are transferred from the first pallet to the second pallet via each boss, and the plurality of disk substrates inverted to the second pallet are stored, and the second pallet is etched. The first pallet is carried into the apparatus or another etching apparatus and the remaining one surface of the plurality of disk substrates of the second pallet is etched, and the inverted first pallet is used as the second pallet. In the same way as above, it is used as a cover on another pallet, and is removed after the etching process is completed in the etching device or other etching device. And Dakkyo a plurality of discs substrates from a second pallet that is is to use a second pallet which is empty as the first pallet or other pallets.

このように、この発明は、第1のパレットに複数個のボスを設けて複数のディスクサブストレートをそれぞれその中心開口に各ボスを挿入して第1のパレットに収納し、第1のパレットごとエッチング装置に搬入して複数枚のディスクサブストレートの片面を同時にエッチング処理をするものであって、エッチング処理した後に第1のパレットにこれと同型の第2のパレットを被せて上下反転をすることで、複数枚のディスクサブストレートを反転させて第2のパレットに移すものである。
この場合、2枚のパレットが重ねられて上下が反転することで第1のパレットと第2のパレットの位置が入れ替わり、第1のパレットは第2のパレット位置となり、第2のパレットが第1のパレットの位置となる。これらパレットは、同型状のものであるので第2のパレットは、反転後、表裏が反転したディスクサブストレートを収納した第1のパレットとして扱うことができ、逆に反転後の第1のパレットは、反転後に第2のパレットとして次の別にパレットに対して被せるために使用することができるので、ディスクサブストレートの両面のエッチングを片面ずつ効率的に処理することができる。
As described above, according to the present invention, a plurality of bosses are provided on the first pallet, and a plurality of disk substrates are respectively inserted into the center openings of the pallets and stored in the first pallet. It is carried into an etching apparatus and simultaneously etches one side of a plurality of disk substrates. After the etching process, the first pallet is covered with a second pallet of the same type and turned upside down. Thus, the plurality of disk substrates are reversed and transferred to the second pallet.
In this case, the positions of the first pallet and the second pallet are switched by stacking the two pallets and turning upside down, the first pallet becomes the second pallet position, and the second pallet becomes the first pallet. The position of the pallet. Since these pallets are of the same shape, the second pallet can be treated as the first pallet containing the disc substrate with the front and back inverted after being inverted, and conversely, the first pallet after being inverted is Since it can be used as a second pallet after reversal, it can be used to cover another pallet, so that the etching of both sides of the disk substrate can be efficiently processed one by one.

これにより、第1のパレットも第2のパレットもそれぞれに循環して利用することができる。しかも、複数枚のディスクサブストレートを各パレットの各ボスを介して同時に反転することが可能となるので反転処理のハンドリング処理効率が向上する。
また、各ボスは、パレットの表面から微小間隙をもってディスクサブストレートを保持するものとして、各ボスを介してパレットに複数のディスクサブストレートをそれぞれ収納することでディスクサブストレート裏面へのエッチングガスの回り込みが防止され、複数枚の磁気ディスクメディアの両面を片面ずつ連続的にドライエッチングすることができる。
その結果、磁気ディスクメディア製造の効率化を図ることができる。
Thereby, both the first pallet and the second pallet can be circulated and used. In addition, since a plurality of disk substrates can be reversed simultaneously through the bosses of each pallet, the handling efficiency of the reversal process is improved.
Each boss holds the disc substrate with a small gap from the surface of the pallet. By storing a plurality of disc substrates in the pallet via each boss, the etching gas wraps around the back of the disc substrate. Is prevented, and both surfaces of a plurality of magnetic disk media can be continuously dry etched one by one.
As a result, the efficiency of manufacturing the magnetic disk media can be improved.

図1は、この発明のディスクサブストレートエッチング方法を適用した一実施例のディスクサブストレートエッチング装置の概要斜視図、図2は、ハンドリングロボットによりハンドリングされるディスクサブストレート保持パレットの説明図、図3Aと図3Bは、ディスクサブストレート保持パレットの装置内循環処理の説明図、図4は、パレットによるディスクサブストレート反転機構の説明図、図5Aは、ディスクサブストレート反転機構のディスクサブストレートの搭載動作の説明図、図5Bは、ディスクサブストレート反転機構によるディスクサブストレートの反転動作の説明図、そして図6は、磁気ディスクメディアの製造工程についての断面説明図である。
図1において、10は、ディスクサブストレートエッチング装置(エッチャー)であって、1は、この装置で処理されるディスクサブストレート、2は、ディスクサブストレート表面側のエッチングステージ、3は、ディスクサブストレート裏面側のエッチングステージであり、エッチングステージ2とエッチングステージ3とは、所定距離離れて装置の両側に設けられている。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a disk substrate etching apparatus according to an embodiment to which the disk substrate etching method of the present invention is applied. FIG. 2 is an explanatory view of a disk substrate holding pallet handled by a handling robot. 3B is an explanatory view of the circulation processing in the apparatus of the disk substrate holding pallet, FIG. 4 is an explanatory view of the disk substrate reversing mechanism by the pallet, and FIG. 5A is a disk substrate mounting operation of the disk substrate reversing mechanism. FIG. 5B is an explanatory view of the disk substrate reversing operation by the disk substrate reversing mechanism, and FIG. 6 is a cross-sectional explanatory view of the manufacturing process of the magnetic disk medium.
In FIG. 1, 10 is a disk substrate etching apparatus (etcher), 1 is a disk substrate processed by this apparatus, 2 is an etching stage on the disk substrate surface side, and 3 is a disk substrate. This is an etching stage on the back surface side, and the etching stage 2 and the etching stage 3 are provided on both sides of the apparatus at a predetermined distance.

エッチングステージ2とエッチングステージ3との間において、真中に設けられたパレットハンドリングロボット4、これの周囲にに隣接して設けられたディスクハンドリングロボット5、後側に設けられたディスクサブストレート反転機構6、パレットハンドリングロボット4のロボット移動ライン7、ディスクハンドリングロボット5に隣接して装置正面側に設けられたディスクメディアロード/アンロードテーブル8、そしてパレット9とからなる。
パレット9は、12個のボス孔11(図2参照)を有していて、ディスクサブストレート1を同時に12枚収納する。装置内には8枚のパレット9が設けられ、これら8枚のパレット9が装置内を循環する。
Between the etching stage 2 and the etching stage 3, a pallet handling robot 4 provided in the middle, a disk handling robot 5 provided adjacent to the periphery of the pallet handling robot 4, and a disk substrate reversing mechanism 6 provided on the rear side. , A robot moving line 7 of the pallet handling robot 4, a disk media loading / unloading table 8 provided on the front side of the apparatus adjacent to the disk handling robot 5, and a pallet 9.
The pallet 9 has twelve boss holes 11 (see FIG. 2) and accommodates twelve disc substrates 1 simultaneously. Eight pallets 9 are provided in the apparatus, and these eight pallets 9 circulate in the apparatus.

パレットハンドリングロボット4は、先端側にパレットを載置するアームと、移動台、アーム進退・回動支持機構とからなり、アーム進退・回動支持機構がアームの進退と回動の動作をする。移動台にはZ方向に微小移動する機構を内蔵していて、アームをZ方向に微小昇降可能である。そして、パレットハンドリングロボット4は、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8とディスクサブストレート反転機構6との間に直線上に設けられたロボット移動ライン7上を前後(図面上下方向)に移動する。
ディスクメディアロード/アンロードテーブル8には、パレット9を回転させて所定の位置に位置決めする回転位置決め機構(図示せず)が設けられている。
20は、制御装置であり、エッチングステージ2とエッチングステージ3等の制御をし、さらにパレットハンドリングロボット4、ディスクサブストレート反転機構6のパレット等の搬送とハンドリング処理の制御をし、ディスクハンドリングロボット5ハンドリング処理の制御をする。
The pallet handling robot 4 includes an arm for placing the pallet on the tip side, a moving table, and an arm advance / retreat / rotation support mechanism. The arm advance / retreat / rotation support mechanism performs the advance / retreat and rotation operations of the arm. The moving table has a built-in mechanism that moves minutely in the Z direction, and can move the arm slightly up and down in the Z direction. The pallet handling robot 4 moves back and forth (vertical direction in the drawing) on a robot moving line 7 provided on a straight line between the disk media loading / unloading table 8 and the disk substrate reversing mechanism 6.
The disk media loading / unloading table 8 is provided with a rotation positioning mechanism (not shown) for rotating the pallet 9 and positioning it at a predetermined position.
A control device 20 controls the etching stage 2 and the etching stage 3, and further controls the pallet handling robot 4 and the pallet etc. of the disk substrate reversing mechanism 6 and the handling process, and the disk handling robot 5 Control the handling process.

エッチングステージ2は、第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22、パレットハンドリングロボット23、パレット入力ポート24、そしてパレット出力ポート25とからなる。なお、第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22におけるエッチング室のベルジャは説明する都合上点線で示してある。
パレットハンドリングロボット23は、第1エッチングチャンバー21と第2エッチングチャンバー22との間にこれらに共通に設けられたハンドリングロボットであって、パレット入力ポート24からパレット9を受けて第1エッチングチャンバー21と第2エッチングチャンバー22のいずれかにパレット9を搬入し、ディスクサブストレート1の表面側エッチングが終了するとそれを搭載したパレット9をこれらいずれかのチャンバーから搬出してパレット出力ポート25に載置する。
The etching stage 2 includes a first etching chamber 21, a second etching chamber 22, a pallet handling robot 23, a pallet input port 24, and a pallet output port 25. Note that the bell jars of the etching chambers in the first etching chamber 21 and the second etching chamber 22 are indicated by dotted lines for convenience of explanation.
The pallet handling robot 23 is a handling robot provided in common between the first etching chamber 21 and the second etching chamber 22. The pallet handling robot 23 receives the pallet 9 from the pallet input port 24 and receives the first etching chamber 21. The pallet 9 is carried into one of the second etching chambers 22, and when the surface side etching of the disk substrate 1 is completed, the pallet 9 on which the pallet 9 is mounted is carried out of any one of these chambers and placed on the pallet output port 25. .

エッチングステージ3は、第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32、パレットハンドリングロボット33、パレット入力ポート34、そしてパレット出力ポート35とからなる。なお、第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32におけるエッチング室のベルジャも説明する都合上点線で示してある。
パレットハンドリングロボット33は、第1エッチングチャンバー31と第2エッチングチャンバー32との間にこれらに共通に設けられたハンドリングロボットであって、パレット入力ポート34からパレット9を受けて第1エッチングチャンバー31と第2エッチングチャンバー32のいずれかにパレット9を搬入し、ディスクサブストレート1の表面側エッチングが終了するとそれを搭載したパレット9をこれらいずれかのチャンバーから搬出してパレット出力ポート35に載置する。
なお、パレットハンドリングロボット4とパレットハンドリングロボット23,33とは、それぞれパレット9の外周をチャックするパレット外周チャック機構を先端側に有している。
The etching stage 3 includes a first etching chamber 31, a second etching chamber 32, a pallet handling robot 33, a pallet input port 34, and a pallet output port 35. Note that the bell jars of the etching chambers in the first etching chamber 31 and the second etching chamber 32 are also shown by dotted lines for convenience of explanation.
The pallet handling robot 33 is a handling robot provided in common between the first etching chamber 31 and the second etching chamber 32. The pallet handling robot 33 receives the pallet 9 from the pallet input port 34 and receives the first etching chamber 31. The pallet 9 is loaded into one of the second etching chambers 32, and when the surface side etching of the disk substrate 1 is completed, the pallet 9 loaded with the pallet 9 is unloaded from either of these chambers and placed on the pallet output port 35. .
Each of the pallet handling robot 4 and the pallet handling robots 23 and 33 has a pallet outer periphery chuck mechanism for chucking the outer periphery of the pallet 9 on the tip side.

ディスクサブストレートエッチング装置10の正面側には、カセットコンベアライン12が設けられ、ディスク供給カセット13とディスク収納カセット14とがカセットコンベアライン12上を流れる。ディスク供給カセット13とディスク収納カセット14とには、それぞれ両面がスタンプされ、表裏面のレジスト膜102に溝104が形成された24枚のディスクサブストレート1(図6(a)参照)が収納されている。
15は、前記した装置正面側に設けられたカセットロード/アンロードポートであり、16は、ディスク供給カセット13のカセットロードラインであって、カセットロード/アンロードポート15とカセットコンベアライン12との間に設けられている。17は、ディスク収納カセット14のカセットアンロードラインであって、カセットロード/アンロードポート15とカセットコンベアライン12との間に設けられている。ロードライン16とアンロードライン17とは、それぞれがカセットコンベアライン12に切換ポート18,19を介して接続されている。
A cassette conveyor line 12 is provided on the front side of the disk substrate etching apparatus 10, and a disk supply cassette 13 and a disk storage cassette 14 flow on the cassette conveyor line 12. The disc supply cassette 13 and the disc storage cassette 14 each store 24 disc substrates 1 (see FIG. 6A) having both sides stamped and grooves 104 formed in the resist film 102 on the front and back surfaces. ing.
Reference numeral 15 denotes a cassette load / unload port provided on the front side of the apparatus. Reference numeral 16 denotes a cassette load line of the disk supply cassette 13. The cassette load / unload port 15 is connected to the cassette conveyor line 12. It is provided in between. Reference numeral 17 denotes a cassette unload line of the disk storage cassette 14, which is provided between the cassette load / unload port 15 and the cassette conveyor line 12. The load line 16 and the unload line 17 are connected to the cassette conveyor line 12 via switching ports 18 and 19, respectively.

図2は、ハンドリングロボットにハンドリングされるパレットの説明図である。
パレット9は、図2(a)に示すように、12個のボス孔11を有し、外周が面取された円板であって、各ボス孔11は、パレット9の表面から微小間隙をもってディスクサブストレートを保持する段差のある突起11a(図2(b)参照)を頭部に有するスリーブ11bで構成されている。突起11aの外径は、ディスクサブストレート1の中心開口1a(図2(c)参照)より僅かに小さく、この突起11aにディスクサブストレート1の中心開口1aが緩く嵌合して突起11aの段差部分に載置され、かつ、ディスクサブストレート1の表面側は、突起11aの高さより少し高い(図2(a)参照)。
図2(b)に示すように、このスリーブ11bは、パレット9に形成された12個の孔に表面側からパレット9に挿着されて各ボス孔11となる。スリーブ11bの孔11cには、パレットハンドリングロボット4のアーム41(図4(b)参照)に設けられた3本の位置決めピン45,46,47(図4(b)参照)と、ディスクサブストレート反転機構6のアーム61,62(図3(a),(b)参照)に設けられた位置決めピン(後述)が挿入されて、パレット9がアームにそれぞれ支持される。
なお、突起11aの段差の高さは、一点鎖線で示すディスクサブストレート1の厚さDより小さいものである(図2(b)参照)。また、図2(a)に示す面取された外周部9aは、後述するように、ディスクサブストレート反転機構6により外周チャックできる傾斜を有している。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a pallet handled by the handling robot.
As shown in FIG. 2A, the pallet 9 is a disk having twelve boss holes 11 and having a chamfered outer periphery, and each boss hole 11 has a small gap from the surface of the pallet 9. It comprises a sleeve 11b having a stepped protrusion 11a (see FIG. 2B) for holding the disk substrate at the head. The outer diameter of the protrusion 11a is slightly smaller than the center opening 1a (see FIG. 2C) of the disc substrate 1, and the center opening 1a of the disc substrate 1 is loosely fitted to the protrusion 11a so that the level difference of the protrusion 11a. The surface of the disk substrate 1 that is placed on the portion is slightly higher than the height of the protrusion 11a (see FIG. 2A).
As shown in FIG. 2 (b), the sleeve 11 b is inserted into the pallet 9 from the surface side into 12 holes formed in the pallet 9 to form the boss holes 11. In the hole 11c of the sleeve 11b, there are three positioning pins 45, 46 and 47 (see FIG. 4B) provided on the arm 41 (see FIG. 4B) of the pallet handling robot 4, and a disk substrate. Positioning pins (described later) provided on the arms 61 and 62 (see FIGS. 3A and 3B) of the reversing mechanism 6 are inserted, and the pallet 9 is supported by the arms.
The height of the step of the protrusion 11a is smaller than the thickness D of the disk substrate 1 indicated by the alternate long and short dash line (see FIG. 2B). Further, the chamfered outer peripheral portion 9a shown in FIG. 2A has an inclination that can be chucked by the disc substrate reversing mechanism 6 as will be described later.

図2(c)に示すようにディスクサブストレート1には中心開口1aが設けられ、この中心開口1aの径が突起11aの頭部の径に対応していて、図2(a)に示すように、パレット9は、各中心開口1aが各ボス孔11の突起11aに挿入されて点線で示すようにディスクサブストレート1を12枚が三角形に配列されて密に収納される。
そのため、12個のボス孔11は、収納されるディスクサブストレート1が相互に接触しないように、ディスクサブストレート1の直径より少し大きい辺を持つ正三角形の各頂点に配置されている。各正三角形の1辺は、他の正三角形と共有されて連続的に配置され、各ボス孔11は、図示するように円板のパレット9を2つに割る中央線に対して左右対称にΔ状に配列される。突起11aのトレイ表面側からみた1段目の段差は、ディスクサブストレート1をパレット9の表面から少しだけ浮かせて保持する微小間隙を形成している。
As shown in FIG. 2 (c), the disk substrate 1 is provided with a central opening 1a. The diameter of the central opening 1a corresponds to the diameter of the head of the protrusion 11a, as shown in FIG. 2 (a). In addition, the pallet 9 has the center openings 1a inserted into the projections 11a of the boss holes 11 and 12 disc substrates 1 are arranged in a triangular shape and are densely stored as indicated by dotted lines.
Therefore, the twelve boss holes 11 are arranged at the vertices of an equilateral triangle having sides slightly larger than the diameter of the disk substrate 1 so that the stored disk substrates 1 do not contact each other. One side of each equilateral triangle is shared and shared with other equilateral triangles, and each boss hole 11 is symmetrical with respect to the center line dividing the disk pallet 9 into two as shown in the figure. Arranged in a Δ shape. The first step as viewed from the tray surface side of the protrusion 11a forms a minute gap that holds the disk substrate 1 slightly floating above the surface of the pallet 9.

ところで、前記した装置内の8枚のうちの2枚のパレット9は、初期状態では、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8、ディスクサブストレート反転機構6に予め1枚づつ配置されている。そして、残りの6枚が外部からディスクメディアロード/アンロードテーブル8に追加されて、パレット9が装置に8枚供給される。この時点で、8枚のパレット9が装置内を循環することになる。
ディスクメディアロード/アンロードテーブル8に載置されたパレット9は、回転位置決め機構により位置決めされる。初期状態ではディスクメディアロード/アンロードテーブル8に1枚目の空のパレット9が位置決めされて載置されているとする。
また、ディスクサブストレート反転機構6には8枚目のパレット9が収納側を下向きにして保持されている。
ディスクハンドリングロボット5は、ディスクサブストレート1を外周チャックするチャック機構を先端側に有し、ディスク供給カセット13から外周チャックによりエッチング前のディスクサブストレート1(図2(c),図6(a)参照)を取出してディスクメディアロード/アンロードテーブル8にある1枚面のパレット9に各ディスクサブストレート1をその中心開口1a(図2(a)参照)に各ボス孔11の突起11a(図2(a)参照)をそれぞれ挿入してディスクサブストレート1を12枚、12個のボス孔11の位置座標を基準として相互に重ならないようにパレット9にΔ状に配列収納する。
By the way, two of the eight pallets 9 in the apparatus are arranged in advance in the disk media loading / unloading table 8 and the disk substrate reversing mechanism 6 in an initial state. The remaining six sheets are added to the disk media load / unload table 8 from the outside, and eight pallets 9 are supplied to the apparatus. At this point, eight pallets 9 are circulated in the apparatus.
The pallet 9 placed on the disk media loading / unloading table 8 is positioned by a rotary positioning mechanism. Assume that the first empty pallet 9 is positioned and placed on the disk media loading / unloading table 8 in the initial state.
The disc substrate reversing mechanism 6 holds an eighth pallet 9 with the storage side facing downward.
The disk handling robot 5 has a chuck mechanism for chucking the outer periphery of the disk substrate 1 on the tip side, and the disk substrate 1 before being etched by the outer periphery chuck from the disk supply cassette 13 (FIGS. 2C and 6A). (See FIG. 2), and the disc substrate 1 is placed on a single-side pallet 9 on the disc media loading / unloading table 8, and the projection 11a (see FIG. 2) of each boss hole 11 is placed in the center opening 1a (see FIG. 2 (a)). 2 (see FIG. 2A), and 12 disk substrates 1 are arranged and stored in a Δ shape on the pallet 9 so as not to overlap each other with reference to the position coordinates of the 12 boss holes 11.

パレット9を循環させてディスクサブストレート1の磁性膜を片面ずつ連続的にかつ複数枚同時にドライエッチングする処理手順について図3Aと図3Bを参照して説明する。
図3Aと図3Bは、ディスクサブストレート保持パレットの装置内循環処理の説明図であって、図1のディスクサブストレートエッチング装置10の各構成要素を平面からみて、それぞれを円記号の配置で示してある。各円記号には図1の構成要素と同一符号を付し、パレット9がある構成要素は斜線を付してある。各図の中央にある長円は、装置の中央に配置されたパレットハンドリングロボット4である。
左右外側にある縦に2個配列された円は、それぞれエッチングチャンバーを示している。下上外側にある2個の円は、それぞれディスクメディアロード/アンロードテーブル8とディスクサブストレート反転機構6を表している。これらにおいて円の中の数字は、パレット9が何枚目のものであるかを示すものである。また、エッチングチャンバーの手前に並んだ小さい2つの丸は、パレット入力ポートとパレット出力ポートをそれぞれ示している。
A processing procedure in which the pallet 9 is circulated to dry-etch the magnetic films on the disk substrate 1 continuously on a single side and at the same time will be described with reference to FIGS. 3A and 3B.
FIGS. 3A and 3B are explanatory diagrams of the in-device circulation processing of the disk substrate holding pallet. Each component of the disk substrate etching apparatus 10 in FIG. It is. Each circle symbol is denoted by the same reference numeral as that in FIG. 1, and the component having the pallet 9 is hatched. The ellipse at the center of each figure is the pallet handling robot 4 arranged at the center of the apparatus.
Two vertically arranged circles on the left and right outer sides respectively indicate etching chambers. Two circles on the lower upper and outer sides respectively represent the disk media load / unload table 8 and the disk substrate reversing mechanism 6. In these figures, the numbers in the circles indicate what number the pallet 9 is. In addition, two small circles arranged in front of the etching chamber indicate a pallet input port and a pallet output port, respectively.

ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上のパレット9にディスクサブストレート1が12枚載置されると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9(初期状態では1枚目のパレット)をパレット入力ポート24へと搬送して載置する。
パレットハンドリングロボット23は、パレット入力ポート24に載置されたパレット9を受けてそれを第1エッチングチャンバー21に搬入する。
初期状態では、このとき同時にディスクメディアロード/アンロードテーブル8上に2枚目の新しい空のパレット9がディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給される。そして、ディスクハンドリングロボット5によりディスクサブストレート1を12枚、パレット9に収納する処理が行われる(図3A(a))。
When twelve disk substrates 1 are placed on the pallet 9 on the disk media loading / unloading table 8, the pallet handling robot 4 transfers the pallet 9 (the first pallet in the initial state) to the pallet input port 24. Is transported to and placed.
The pallet handling robot 23 receives the pallet 9 placed on the pallet input port 24 and carries it into the first etching chamber 21.
In the initial state, a second new empty pallet 9 is simultaneously supplied to the disk media load / unload table 8 on the disk media load / unload table 8 at this time. Then, the disk handling robot 5 performs a process of storing 12 disk substrates 1 in the pallet 9 (FIG. 3A (a)).

ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上の2枚目のパレット9にディスクサブストレート1が12枚載置されると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9をパレット入力ポート24へと搬送して載置する。
パレットハンドリングロボット23は、パレット入力ポート24に載置されたパレット9を受けてそれを第1エッチングチャンバー21に搬入する。
このとき同時にディスクメディアロード/アンロードテーブル8上に3枚目の空のパレット9がディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給され、ディスクハンドリングロボット5によりディスクサブストレート1、12枚をパレット9に収納する処理が続いて行われる(図3(b))。
When 12 disc substrates 1 are placed on the second pallet 9 on the disc media loading / unloading table 8, the pallet handling robot 4 conveys the pallet 9 to the pallet input port 24 and places it. Put.
The pallet handling robot 23 receives the pallet 9 placed on the pallet input port 24 and carries it into the first etching chamber 21.
At the same time, the third empty pallet 9 is supplied to the disk media loading / unloading table 8 on the disk media loading / unloading table 8, and the disk substrate 1 and 12 disks are placed on the pallet 9 by the disk handling robot 5. The storing process is subsequently performed (FIG. 3B).

そして、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上の3枚目のパレット9にディスクサブストレート1が12枚載置されると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9をパレット入力ポート24へと搬送して載置する。
そこでディスクメディアロード/アンロードテーブル8上にさらに4枚目の空のパレット9がディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給される(図3(c))。次にディスクハンドリングロボット5によりディスクサブストレート1、12枚をパレット9に収納する処理が行われる。
これにより全体で4枚のパレット9が装置に供給されて、ディスクサブストレート反転機構6の1枚と合わせて全体で5枚のパレット9が装置に配置され、1枚目と2枚目のパレット9は、第1エッチングチャンバー21と第2エッチングチャンバー22に搬入されて、ここでパレット9に収納されたディスクサブストレート1の12枚の表面側が同時にエッチング処理される。
When 12 disk substrates 1 are placed on the third pallet 9 on the disk media loading / unloading table 8, the pallet handling robot 4 transports the pallet 9 to the pallet input port 24. To place.
Therefore, a fourth empty pallet 9 is further supplied to the disk media load / unload table 8 on the disk media load / unload table 8 (FIG. 3C). Next, the disk handling robot 5 performs a process of storing the disk substrates 1 and 12 on the pallet 9.
As a result, a total of four pallets 9 are supplied to the apparatus, and a total of five pallets 9 are arranged in the apparatus together with one of the disk substrate reversing mechanisms 6, and the first and second pallets are arranged. 9 is carried into the first etching chamber 21 and the second etching chamber 22, where 12 surface sides of the disk substrate 1 housed in the pallet 9 are simultaneously etched.

エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理(初期状態では第1エッチングチャンバー21の1枚目のパレット9の処理)が済むと、そのエッチングチャンバーからディスクサブストレート1を保持したそのパレット9(初期状態では1枚目のパレット9)をパレット出力ポート25に搬出して、続いてパレット入力ポート24に載置された3枚目のパレット9を受けてパレット9を取出した第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれか(初期状態では第1エッチングチャンバー21)に新しいパレット9(初期状態では3枚目のパレット)を搬入する。
このとき同時にディスクメディアロード/アンロードテーブル8の4枚目のパレット9をパレット入力ポート24へと搬送して載置され、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上にさらに5枚目の空のパレット9が供給され、ディスクハンドリングロボット5によりディスクサブストレート1、12枚をパレット9に収納する処理が行われる(図3(d))
After either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2 has been subjected to surface side dry etching processing (processing of the first pallet 9 of the first etching chamber 21 in the initial state), the etching chamber The pallet 9 holding the disk substrate 1 (the first pallet 9 in the initial state) is carried out to the pallet output port 25, and then the third pallet 9 placed on the pallet input port 24 is removed. The new pallet 9 (the third pallet in the initial state) is carried into either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 (the first etching chamber 21 in the initial state) from which the pallet 9 has been received.
At the same time, the fourth pallet 9 of the disk media loading / unloading table 8 is transported to the pallet input port 24 and placed, and a fifth empty pallet is further placed on the disk media loading / unloading table 8. 9 is supplied, and the disk handling robot 5 performs a process of storing 1 or 12 disk substrates on the pallet 9 (FIG. 3D).

このとき並行してパレットハンドリングロボット4は、パレット出力ポート25に搬送された表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9をパレット出力ポート25から受けて、それを第1のパレットとしてディスクサブストレート反転機構6に搬送する。。
なお、第1のパレットは、パレットハンドリングロボット4がエッチングステージ2でディスクサブストレート1の表面側(片面)のエッチングが終了したディスクサブストレート1を収納したパレット9とする。これに対して第2のパレットは、ディスクサブストレート反転機構6に下向きに保持されているパレット9であって、ディスクサブストレート反転機構6によりパレットの上下が反転して位置が入れ換えられたときには、ディスクサブストレート1の裏面側を表面として複数のディスクサブストレート1を収納するパレットである。
At the same time, the pallet handling robot 4 receives from the pallet output port 25 the pallet 9 that holds the disk substrate 1 that has been subjected to the surface-side dry etching process and is transported to the pallet output port 25, and receives it from the first pallet. To the disk substrate reversing mechanism 6. .
The first pallet is a pallet 9 containing the disk substrate 1 in which the pallet handling robot 4 has finished etching the surface side (one side) of the disk substrate 1 at the etching stage 2. On the other hand, the second pallet is a pallet 9 held downward by the disk substrate reversing mechanism 6, and when the position of the pallet is reversed by the disk substrate reversing mechanism 6 and the position is changed, The pallet accommodates a plurality of disc substrates 1 with the back side of the disc substrate 1 as the front surface.

ディスクサブストレート反転機構6は、パレットハンドリングロボット4からこの第1のパレットを受けて、あらかじめ装填されている第2のパレット(初期状態では8枚目のパレット9)を搬送されてきたパレット9(第1のパレット)に重ねてこれらパレットを反転して第1のパレットから第2のパレットにディスクサブストレート1を移す。
このときディスクサブストレート1が反転して裏面側が表面となったディスクサブストレート1が第2のパレットに収納される。その第2のパレットをディスクサブストレート反転機構6から受けてエッチングステージ3のパレット入力ポート34へと載置する(図3(e))。
初期状態ではパレットハンドリングロボット33は、パレット入力ポート34に載置された第2のパレット(8枚目のパレット9)を受けてそれを第1エッチングチャンバー31に搬入する。
The disk substrate reversing mechanism 6 receives the first pallet from the pallet handling robot 4 and receives the second pallet (the eighth pallet 9 in the initial state) loaded in advance (the pallet 9 ( These pallets are reversed over the first pallet), and the disk substrate 1 is transferred from the first pallet to the second pallet.
At this time, the disk substrate 1 whose disk substrate 1 is inverted and the back side is the front surface is stored in the second pallet. The second pallet is received from the disk substrate reversing mechanism 6 and placed on the pallet input port 34 of the etching stage 3 (FIG. 3E).
In the initial state, the pallet handling robot 33 receives the second pallet (the eighth pallet 9) placed on the pallet input port 34 and carries it into the first etching chamber 31.

その後に、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理(初期状態では第2エッチングチャンバー22の2枚目のパレット9の処理)が済むと、パレットハンドリングロボット23は、そのエッチングチャンバーから表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9(初期状態では2枚目のパレット)をパレット出力ポート25に搬出する。続いてパレット入力ポート24に載置された4枚目のパレット9を受けてパレット9を取出した第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれか(初期状態では第2エッチングチャンバー22)にそのパレット9を搬入する(図3(f))。
このとき同時に、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上の5枚目のパレット9に12枚のディスクサブストレート1の載置が終了していると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9をパレット入力ポート24へと搬送して載置する(図3(f))。
After that, when the surface side dry etching processing (processing of the second pallet 9 of the second etching chamber 22 in the initial state) is completed in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2, The pallet handling robot 23 carries out the pallet 9 (the second pallet in the initial state) holding the disk substrate 1 subjected to the surface side dry etching process from the etching chamber to the pallet output port 25. Subsequently, either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 (the second etching chamber 22 in the initial state) that received the fourth pallet 9 placed on the pallet input port 24 and took out the pallet 9 is placed in the initial state. The pallet 9 is carried in (FIG. 3 (f)).
At the same time, when the placement of the 12 disc substrates 1 on the fifth pallet 9 on the disc media loading / unloading table 8 is completed, the pallet handling robot 4 inputs the pallet 9 into the pallet input. It is transported to the port 24 and placed (FIG. 3 (f)).

次に、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上にさらに6枚目の空のパレット9がディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給され、ディスクハンドリングロボット5によりディスクサブストレート1、12枚をパレット9に収納する処理が行われる。
また、このとき並行してパレットハンドリングロボット4は、パレット出力ポート25に搬送された表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9(初期状態では2枚目のパレット)をパレット出力ポート25から受けて、それを第1のパレットとしてディスクサブストレート反転機構6に搬送する。
続いて初期状態ではディスクサブストレート反転機構6により先に反転された先の1枚目のパレット9が第2のパレットとなり、搬送されてきたパレット9(第1のパレット)に重ねられて反転され、1枚目のパレット9が反転したディスクサブストレート1の12枚を収納して、パレットハンドリングロボット4によりエッチングステージ3のパレット入力ポート34へと1枚目のパレット9が載置される(図3(g))。
Next, a sixth empty pallet 9 is supplied to the disk media loading / unloading table 8 on the disk media loading / unloading table 8, and the disk handling robot 5 removes the 1st and 12th disk substrates from the pallet 9. The process of storing in is performed.
At the same time, the pallet handling robot 4 palletally outputs the pallet 9 (the second pallet in the initial state) holding the disk substrate 1 that has been subjected to the surface side dry etching process and transferred to the pallet output port 25. Receiving from the port 25, it is conveyed to the disk substrate reversing mechanism 6 as a first pallet.
Subsequently, in the initial state, the first pallet 9 that has been reversed by the disk substrate reversing mechanism 6 becomes the second pallet, and is superposed on the conveyed pallet 9 (first pallet) and reversed. Twelve of the disk substrates 1 with the first pallet 9 inverted are stored, and the pallet handling robot 4 places the first pallet 9 on the pallet input port 34 of the etching stage 3 (FIG. 3 (g)).

パレットハンドリングロボット33は、パレット入力ポート34に載置された1枚目のパレット9を受けてそれを第2エッチングチャンバー32に1枚目のパレット9を搬入する(図3(h))。
その後に、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理(初期状態では第1エッチングチャンバー21の3枚目のパレットの処理)が済むと、パレットハンドリングロボット23は、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9(初期状態では3枚目のパレット)をそのエッチングチャンバーからパレット出力ポート25に搬出して、パレット入力ポート24に載置された5枚目のパレット9を受けてパレット9を取出した第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれか(初期状態では第1エッチングチャンバー21)に新しいパレット9を搬入する(図3(h))。
そして、ディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給された6枚目のパレット9に12枚のディスクサブストレート1の載置が終了していると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9(初期状態では6枚目のパレット)をパレット入力ポート24へと搬送して載置する(図3(h))。
これと同時にディスクメディアロード/アンロードテーブル8上にはさらに7枚目の空のパレット9がディスクメディアロード/アンロードテーブル8に供給される(図3(h))。
The pallet handling robot 33 receives the first pallet 9 placed on the pallet input port 34, and loads the first pallet 9 into the second etching chamber 32 (FIG. 3 (h)).
After that, when the surface side dry etching process (processing of the third pallet in the first etching chamber 21 in the initial state) is completed in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2, the pallet The handling robot 23 is a pallet 9 (the third pallet in the initial state) that holds the disk substrate 1 that has been subjected to the surface side dry etching process in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2. Of the first etching chamber 21 and the second etching chamber 22 in which the pallet 9 is taken out by receiving the fifth pallet 9 placed in the pallet input port 24. Or In the initial state, to carry the new palette 9 in the first etching chamber 21) (FIG. 3 (h)).
When the 12 disk substrates 1 have been placed on the sixth pallet 9 supplied to the disk media loading / unloading table 8, the pallet handling robot 4 moves to the pallet 9 (initial state). Then, the sixth pallet) is transported to the pallet input port 24 and placed (FIG. 3 (h)).
At the same time, a seventh empty pallet 9 is further supplied to the disk media load / unload table 8 on the disk media load / unload table 8 (FIG. 3 (h)).

また、このとき並行してパレットハンドリングロボット4は、パレット出力ポート25に搬送された表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9(初期状態では3枚目のパレット)をパレット出力ポート25から受けて、それを第1のパレットとしてディスクサブストレート反転機構6に搬送する。
初期状態ではディスクサブストレート反転機構6により反転された先の2枚目のパレット9が先の第2のパレットとなり、ディスクサブストレート反転機構6に搬送されてきたパレット9(第1のパレット)に重ねられて反転され、2枚目のパレット9が反転したディスクサブストレート1の12枚を収納して、パレットハンドリングロボット4によりエッチングステージ3のパレット入力ポート34へと2枚目のパレット9が載置される(図3(i))。
この図3(i)の状態が8枚分のパレット9がディスクサブストレートエッチング装置10に配列された状態であり、これが定常状態である。
At the same time, the pallet handling robot 4 palletally outputs the pallet 9 (the third pallet in the initial state) holding the disk substrate 1 that has been subjected to the dry etching process on the front side and is transported to the pallet output port 25. Receiving from the port 25, it is conveyed to the disk substrate reversing mechanism 6 as a first pallet.
In the initial state, the second pallet 9 reversed by the disk substrate reversing mechanism 6 becomes the second pallet, and the pallet 9 (first pallet) conveyed to the disk substrate reversing mechanism 6 is used. 12 pieces of the disk substrate 1 in which the second pallet 9 is turned upside down are stored, and the second pallet 9 is loaded onto the pallet input port 34 of the etching stage 3 by the pallet handling robot 4. (FIG. 3 (i)).
The state shown in FIG. 3I is a state in which eight pallets 9 are arranged in the disk substrate etching apparatus 10, which is a steady state.

ディスクハンドリングロボット5は、ディスク供給カセット13からディスクサブストレート1を取出してディスクメディアロード/アンロードテーブル8にある7枚目の空のパレット9の上にディスクサブストレート1、12枚をパレット9に収納する。
一方、パレットハンドリングロボット33は、エッチングステージ3の第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32のいずれかにおいて裏面側ドライエッチング処理(初期状態では第1エッチングチャンバー31の8枚目のパレット9の処理)が終了すると、裏面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9をパレット出力ポート35に搬出する(図3(j))。
The disk handling robot 5 takes out the disk substrate 1 from the disk supply cassette 13 and puts the disk substrates 1 and 12 on the pallet 9 on the seventh empty pallet 9 in the disk media loading / unloading table 8. Store.
On the other hand, the pallet handling robot 33 performs the back side dry etching process in either the first etching chamber 31 or the second etching chamber 32 of the etching stage 3 (processing of the eighth pallet 9 in the first etching chamber 31 in the initial state). Is completed, the pallet 9 holding the disk substrate 1 that has been subjected to the back side dry etching process is carried out to the pallet output port 35 (FIG. 3 (j)).

その後、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理(初期状態では第2エッチングチャンバー22の4枚目のパレットの処理)が済むと、パレットハンドリングロボット23は、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9(初期状態では4枚目のパレット)をパレット出力ポート25に搬出して、パレット入力ポート24に載置された6枚目のパレット9を受けてパレット9を取出した第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれか(初期状態では第2エッチングチャンバー22)に新しいパレット9(初期状態では6枚目のパレット)を搬入する(図3(k))。   After that, when the surface side dry etching process (processing of the fourth pallet in the second etching chamber 22 in the initial state) is completed in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2, pallet handling is performed. The robot 23 holds the pallet 9 (the fourth pallet in the initial state) holding the disk substrate 1 that has been subjected to the surface side dry etching process in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2. One of the first etching chamber 21 and the second etching chamber 22 that has been taken out to the pallet output port 25 and received the sixth pallet 9 placed on the pallet input port 24 and has taken out the pallet 9 (in the initial state) Second etch Members 22) to the new palette 9 (in the initial state to carry the pallet) of the 6th (Fig 3 (k)).

ディスクメディアロード/アンロードテーブル8上の7枚目のパレット9にディスクサブストレート1が12枚載置されると、パレットハンドリングロボット4は、そのパレット9をパレット入力ポート24へと搬送して載置する(図3(k))。
続いて、パレットハンドリングロボット4は、エッチングステージ3のパレット出力ポート35のパレット9(初期状態では8枚目のパレット)を取出してディスクメディアロード/アンロードテーブル8へと送る(図3(k))。
ディスクハンドリングロボット5は、ディスクサブストレートロード/アンロードテーブル25に載置されたパレット9(初期状態で8枚目のパレット)から両面エッチング済みのディスクサブストレート1を取出してディスク収納カセット14へと収納する(図3(l))。
さらに、パレット9の両面エッチング済みのディスクサブストレート1が空になった時点で、このディスクサブストレート1にディスク供給カセット13の未処理のディスクサブストレート1を12枚前記したようにそのパレット9(初期状態では8枚目のパレット)に収納していく(図3(l))。
When 12 disc substrates 1 are placed on the seventh pallet 9 on the disc media loading / unloading table 8, the pallet handling robot 4 conveys the pallet 9 to the pallet input port 24 and places it. (FIG. 3 (k)).
Subsequently, the pallet handling robot 4 takes out the pallet 9 (the eighth pallet in the initial state) from the pallet output port 35 of the etching stage 3 and sends it to the disk media load / unload table 8 (FIG. 3 (k)). ).
The disk handling robot 5 takes out the disk substrate 1 that has been etched on both sides from the pallet 9 (the eighth pallet in the initial state) placed on the disk substrate loading / unloading table 25 and transfers it to the disk storage cassette 14. Store (FIG. 3 (l)).
Further, when the disk substrate 1 subjected to double-side etching on the pallet 9 is emptied, the pallet 9 (as described above) includes 12 unprocessed disk substrates 1 of the disk supply cassette 13 on the disk substrate 1. In the initial state, it is stored in the eighth pallet (FIG. 3 (l)).

その後、パレットハンドリングロボット33は、エッチングステージ3の第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32のいずれか(初期状態では第1エッチングチャンバー32の1枚目のパレット)において裏面側ドライエッチング処理が終了すると、裏面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9をパレット出力ポート35に搬送する(図3(l))。そして、パレットハンドリングロボット33は、パレット入力ポート34に載置された3枚目のパレット9を受けてそれを第2エッチングチャンバー31に3枚目のパレット9を搬入する。   Thereafter, the pallet handling robot 33 finishes the back side dry etching process in either the first etching chamber 31 or the second etching chamber 32 of the etching stage 3 (the first pallet of the first etching chamber 32 in the initial state). Then, the pallet 9 holding the disk substrate 1 that has been subjected to the back side dry etching process is conveyed to the pallet output port 35 (FIG. 3 (l)). The pallet handling robot 33 receives the third pallet 9 placed on the pallet input port 34 and carries the third pallet 9 into the second etching chamber 31.

これ以降は、エッチングステージ2の第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかにおいて表面側ドライエッチング処理が済むと、処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9は、パレット出力ポート25へと送られ、パレット入力ポート24の新しいパレット9が第1エッチングチャンバー21,第2エッチングチャンバー22のいずれかの表面側ドライエッチング処理済みのチャンバーに装填される。
パレット出力ポート25へと送られたパレット9は、第1のパレットとしてディスクサブストレート反転機構6に搬送され、第1,第2のパレットがともに反転されて、反転されたディスクサブストレート1が第2のパレットがパレット入力ポート34へと送られる。
一方、エッチングステージ3の第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32のいずれかにおいて裏面側ドライエッチング処理が済むと、処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9は、パレット出力ポート35へと送られる。そして、エッチングステージ3の第1エッチングチャンバー31,第2エッチングチャンバー32のいずれかに裏面側ドライエッチング処理が済みのチャンバに搬入される。
Thereafter, when the surface side dry etching process is completed in either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 of the etching stage 2, the pallet 9 holding the processed disk substrate 1 is moved to the pallet output port 25. , The new pallet 9 of the pallet input port 24 is loaded into either the first etching chamber 21 or the second etching chamber 22 that has been subjected to the surface side dry etching process.
The pallet 9 sent to the pallet output port 25 is conveyed to the disk substrate reversing mechanism 6 as a first pallet, the first and second pallets are both reversed, and the reversed disk substrate 1 is the first pallet. Two pallets are sent to the pallet input port 34.
On the other hand, when the back side dry etching process is completed in either the first etching chamber 31 or the second etching chamber 32 of the etching stage 3, the pallet 9 holding the processed disk substrate 1 is transferred to the pallet output port 35. Sent. Then, it is carried into either the first etching chamber 31 or the second etching chamber 32 of the etching stage 3 in a chamber that has undergone the back side dry etching process.

その結果、裏面側ドライエッチング処理済みのディスクサブストレート1を保持したパレット9は、パレット出力ポート35からディスクメディアロード/アンロードテーブル8へ搬送されて連続的に8枚のパレット9が装置内を循環して使用されていく。
第1エッチングチャンバー,第2エッチングチャンバーの各チャンバーでのドライエッチング処理時間がまちまちでずれても、エッチングステージ2のパレット入力ポート24とパレット出力ポート25、エッチングステージ3のパレット入力ポート34とパレット出力ポート35が存在することで、これらポートがバッファとなり、図3(i)の配置においてパレットが8枚目から1枚目へと戻り、順次更新されて処理の流れは継続される。
As a result, the pallet 9 holding the disk substrate 1 that has been subjected to the back side dry etching process is conveyed from the pallet output port 35 to the disk media loading / unloading table 8 so that eight pallets 9 continuously move inside the apparatus. It will be used in circulation.
Even if the dry etching process time in each of the first etching chamber and the second etching chamber varies, the pallet input port 24 and pallet output port 25 of the etching stage 2 and the pallet input port 34 and pallet output of the etching stage 3 are output. The presence of the ports 35 makes these ports buffers, and the pallet returns from the 8th sheet to the 1st sheet in the arrangement of FIG. 3 (i), and is sequentially updated to continue the processing flow.

図4は、そのパレットによるディスクサブストレート反転機構の説明図である。
ディスクサブストレート反転機構6は、図4(a)の側面図に示すように、パレット9(第1のパレット)をディスク収納側を上にして保持する下側アーム61と,パレット9(第2のパレット)をディスク収納側を下にして保持する上側アーム62と、上側アーム62と下側アーム61の根本に設けられた上下移動機構63、この上下移動機構63が固定される回転円板64(図4(b)参照)、回転円板64の中心に回転軸が結合されたステッピングモータ65(図4(b)参照)とからなる。なお、66は、ディスクサブストレート反転機構6の駆動側の筐体である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a disk substrate reversing mechanism using the pallet.
As shown in the side view of FIG. 4A, the disk substrate reversing mechanism 6 includes a lower arm 61 that holds the pallet 9 (first pallet) with the disk storage side up, and a pallet 9 (second pallet). The upper arm 62 that holds the pallet) with the disk storage side down, a vertical movement mechanism 63 provided at the base of the upper arm 62 and the lower arm 61, and a rotating disk 64 to which the vertical movement mechanism 63 is fixed. (See FIG. 4B), and a stepping motor 65 (see FIG. 4B) having a rotating shaft coupled to the center of the rotating disk 64. Reference numeral 66 denotes a drive-side housing of the disk substrate reversing mechanism 6.

下側アーム61と上側アーム62の両端部には、それぞれにL字型の外周チャック爪61a,61b,外周チャック爪62a,62bが設けられている。それぞれの外周チャック爪61a〜62bは、下側アーム61と上側アーム62のそれぞれの両端部においてL字型の中間部がピン70によりそれぞれに回動可能に軸支されている。そして、各爪を内側に回動するように付勢するためにそれぞれ圧縮されたコイルばね61c,61d,62c,62dが爪の根本端部とパレット9の裏面との間に装着されている。
パレット9の各外周チャック爪61a〜62bに対応した位置には、パレット台座71が植設されている。
これにより、パレット9の面取された外周部9aが両側で外周チャック爪61a,61baあるいは外周チャック爪62a,62bとパレット台座71との間でそれぞれ保持される(図4(b)参照)。
なお、外周チャック爪61a,61baと外周チャック爪62a,62bとのパレット9の開放は、パレット9の外側に回動して爪が開くことによる。その開放機構は、爪の根本を押してコイルばね61c,61dあるいはコイルばね62c,62dを圧縮することで行われるが、ディスクサブストレート反転機構6に設けられた爪開放機構は図では省略してある。
L-shaped outer peripheral chuck claws 61 a and 61 b and outer peripheral chuck claws 62 a and 62 b are provided at both ends of the lower arm 61 and the upper arm 62, respectively. Each of the outer peripheral chuck claws 61 a to 62 b is pivotally supported by a pin 70 so that an L-shaped intermediate portion can be rotated at each end of each of the lower arm 61 and the upper arm 62. In addition, coil springs 61 c, 61 d, 62 c, and 62 d that are compressed in order to urge the claws to rotate inward are mounted between the root ends of the claws and the back surface of the pallet 9.
A pallet base 71 is implanted at a position corresponding to each of the outer peripheral chuck claws 61 a to 62 b of the pallet 9.
Thereby, the chamfered outer peripheral portion 9a of the pallet 9 is held on both sides between the outer peripheral chuck claws 61a and 61ba or the outer peripheral chuck claws 62a and 62b and the pallet base 71 (see FIG. 4B).
Note that the opening of the pallet 9 by the outer peripheral chuck claws 61a and 61ba and the outer peripheral chuck claws 62a and 62b is caused by the rotation of the pallet 9 to the outside and the opening of the pawls. The opening mechanism is performed by pressing the root of the claw and compressing the coil springs 61c and 61d or the coil springs 62c and 62d, but the claw opening mechanism provided in the disk substrate reversing mechanism 6 is omitted in the drawing. .

図4(a),(b)に示すように、下側アーム61にはそれぞれ先端部1個所と後部2個所の3個所に雄位置決めピン67a,67b,67cが設けられている。各雄位置決めピンの配置は、アーム41の位置決めピン45,46,47と同様のものである。上側アーム62にもそれぞれ先端部1個所と後部2個所の3個所(図4(b)参照)に雌位置決めピン68a,68b,68cが設けられ、これらの位置決めピンの配置もアーム41の位置決めピン45,46,47と同様のものである。
なお、Δ状に配列される12個のボス孔11は、図4(b)に示すように、外周チャック爪62a,62bあるいは外周チャック爪61a,61ba(図では見えていない)の中心を通る長手方向の上側アーム62と下側アーム61のそれぞれの中心線に対応するパレット9の中央線に対して対称になるように配置されている。これにより、上向きの下側のパレット9の上に下向きの上側のパレット9(第2のパレット)を被せたときに下側のパレット9(第1のパレット)の各ボス孔11と上側のパレット9(第2のパレット)のボス孔11の位置が対応する。
As shown in FIGS. 4A and 4B, the lower arm 61 is provided with male positioning pins 67a, 67b and 67c at three positions, one at the front end and two at the rear. The arrangement of each male positioning pin is the same as that of the positioning pins 45, 46 and 47 of the arm 41. The upper arm 62 is also provided with female positioning pins 68a, 68b, and 68c at three positions (see FIG. 4 (b)), one at the tip and two at the rear, respectively. 45, 46 and 47 are the same.
The twelve boss holes 11 arranged in the Δ shape pass through the centers of the outer peripheral chuck claws 62a and 62b or the outer peripheral chuck claws 61a and 61ba (not shown in the figure), as shown in FIG. 4B. The upper arm 62 and the lower arm 61 in the longitudinal direction are arranged so as to be symmetric with respect to the center line of the pallet 9 corresponding to the center line. Thereby, when the downward upper pallet 9 (second pallet) is put on the upward downward pallet 9, each boss hole 11 of the lower pallet 9 (first pallet) and the upper pallet The position of the boss hole 11 of 9 (second pallet) corresponds.

雄位置決めピン67a,67b,67cと雌位置決めピン68a,68b,68cとの胴部は、それぞれスリーブ11bの孔11cに位置決め嵌合する径を持ち、孔11cを介してスリーブ11bに嵌合する。その嵌合状態を示す図4(b)、図5Aの(a)〜(c)にみるように、パレット9は、先端部1個所と後部2個所のスリーブ11bの孔11cに各位置決めピンが裏面側から嵌合してディスクサブストレート反転機構6に保持される。雌位置決めピン68a,68b,68cの突起69は、スリーブ11bの頭部より飛び出す高さにあって、上側アーム62が降下したときに、突起69は、雄位置決めピン67a,67b,67cの頭部の孔69aに嵌合する(図5B(b)参照)。これにより、下側のパレット9(第1のパレット)と上側のパレット9(第2のパレット)とのボス11同士の頭部が嵌合して第1のパレットの上に第2のパレットが位置決めされる。   The body portions of the male positioning pins 67a, 67b, and 67c and the female positioning pins 68a, 68b, and 68c have diameters that are positioned and fitted into the holes 11c of the sleeve 11b, and are fitted into the sleeve 11b through the holes 11c. As shown in FIGS. 4B and 5A showing the fitting state, the pallet 9 has positioning pins in the holes 11c of the sleeve 11b at one tip portion and two rear portions. The disc substrate reversing mechanism 6 fits from the back side and is held. The protrusions 69 of the female positioning pins 68a, 68b, 68c are at a height that protrudes from the head of the sleeve 11b, and when the upper arm 62 is lowered, the protrusion 69 is the head of the male positioning pins 67a, 67b, 67c. (See FIG. 5B (b)). As a result, the heads of the bosses 11 of the lower pallet 9 (first pallet) and the upper pallet 9 (second pallet) are fitted together, and the second pallet is placed on the first pallet. Positioned.

そのため、図4(b)に示されるように、雄位置決めピン67a,67b,67cと雌位置決めピン68a,68b,68cがスリーブ11bに嵌合する個所は、下側アーム61と上側アーム62において上下で対応する位置になっている。
しかし、下側アーム61と上側アーム62とは、パレットハンドリングロボット4のアーム41に対して反時計方向に135°回転した方向にあるので、アーム41の位置決めピン45,46,47ががスリーブ11bに嵌合する個所は、下側アーム61と上側アーム62とは異なる位置になっている。さらに、位置決めピン45,46,47の高さは、雄位置決めピン67a,67b,67cと雌位置決めピン68a,68b,68cの胴部の高さよりも低い(図5A(b))。
これにより、パレット9は、パレットハンドリングロボット4のアーム41に保持されて、下側アーム61の上に配置されて、パレット9を下側アーム61に受渡すことができる。その処理については後述する。
上下移動機構63は、下側アーム61と上側アーム62とを上下方向に独立に移動させかつ上側アーム62を下側アーム61に向かって降下させて下側のパレット9(第1のパレット)の上に上側のパレット9(第2のパレット)を重ねてそれぞれの各ボス孔11を一対一で接触させる。
なお、回転中心となる回転円板64の中心は、下側のパレット9の上に上側のパレット9(第2のパレット)を被せたときに上側アーム62と下側アーム61の間の中点に位置して、回転円板64が180°回転したときに上側アーム62と下側アーム61の位置が入れ替わる。
Therefore, as shown in FIG. 4B, the positions where the male positioning pins 67a, 67b, and 67c and the female positioning pins 68a, 68b, and 68c fit into the sleeve 11b are vertically moved in the lower arm 61 and the upper arm 62. In the corresponding position.
However, since the lower arm 61 and the upper arm 62 are in a direction rotated 135 ° counterclockwise with respect to the arm 41 of the pallet handling robot 4, the positioning pins 45, 46, 47 of the arm 41 are connected to the sleeve 11b. The lower arm 61 and the upper arm 62 are located at different positions where they are fitted. Further, the heights of the positioning pins 45, 46, 47 are lower than the heights of the body portions of the male positioning pins 67a, 67b, 67c and the female positioning pins 68a, 68b, 68c (FIG. 5A (b)).
Thereby, the pallet 9 is held by the arm 41 of the pallet handling robot 4 and is disposed on the lower arm 61 so that the pallet 9 can be delivered to the lower arm 61. This process will be described later.
The vertical movement mechanism 63 moves the lower arm 61 and the upper arm 62 independently in the vertical direction and lowers the upper arm 62 toward the lower arm 61 so that the lower pallet 9 (first pallet) is moved. The upper pallet 9 (second pallet) is placed on top of each other, and the respective boss holes 11 are brought into contact with each other one to one.
The center of the rotating disk 64 serving as the center of rotation is the midpoint between the upper arm 62 and the lower arm 61 when the upper pallet 9 (second pallet) is put on the lower pallet 9. When the rotary disk 64 is rotated 180 °, the positions of the upper arm 62 and the lower arm 61 are switched.

図5Aは、ディスクサブストレート反転機構へのディスクサブストレートの搭載動作の説明図である。なお、図では、簡単に説明するために下側アーム61と上側アーム62とは先端側の一部のみ示しか示していない。
まず、上側のパレット9(第2のパレット)は、空(ディスクサブストレートを収納していない)の状態で外周チャック爪62a,62bにより下向きに上側アーム62にチャックされて保持されている。
パレットハンドリングロボット4は、12枚のディスクサブストレート1の表面側のエッチング終了後に、エッチングステージ2へからパレット9(第1のパレット)を取出してディスクサブストレート反転機構6へと送る。このとき、スリーブ11bの孔11cを介してアーム41で3点で保持したパレット9を下側アーム61の上に位置決めされるように上側アーム62と下側アーム61との間にアーム41を挿入して所定の位置までパレット9を搬送する(図5A(a))。
ここで、ディスクサブストレート反転機構6が下側アーム61の外周チャック爪61a,61bを開き、その後、パレットハンドリングロボット4がアーム41を降下させると、パレット9のスリーブ11bの孔11cに下側アーム61の雄位置決めピン67a,67b,67cが嵌合して下側アーム61にパレット9が受渡される(図5A(b))。
ここで、ディスクサブストレート反転機構6が下側アーム61の外周チャック爪61a,61bを閉じて下側アーム61にパレット9を保持する。これと同時に、パレットハンドリングロボット4がアーム41を後退させてディスクサブストレート反転機構6から待避する(図5A(c))。
これにより、下側アーム61にパレット9が第1のパレットとして載置され、チャックされる。
FIG. 5A is an explanatory diagram of the operation of mounting the disk substrate on the disk substrate reversing mechanism. In the figure, for the sake of simplicity, only the lower arm 61 and the upper arm 62 are shown only on the tip side.
First, the upper pallet 9 (second pallet) is chucked and held by the upper arm 62 downward by the outer peripheral chuck claws 62a and 62b in an empty state (no disk substrate is accommodated).
The pallet handling robot 4 takes out the pallet 9 (first pallet) from the etching stage 2 and sends it to the disk substrate reversing mechanism 6 after the etching of the surface side of the 12 disk substrates 1 is completed. At this time, the arm 41 is inserted between the upper arm 62 and the lower arm 61 so that the pallet 9 held at three points by the arm 41 is positioned on the lower arm 61 through the hole 11c of the sleeve 11b. Then, the pallet 9 is conveyed to a predetermined position (FIG. 5A (a)).
Here, when the disk substrate reversing mechanism 6 opens the outer peripheral chuck claws 61a and 61b of the lower arm 61 and then the pallet handling robot 4 lowers the arm 41, the lower arm is inserted into the hole 11c of the sleeve 11b of the pallet 9. The male positioning pins 67a, 67b, 67c of 61 are fitted, and the pallet 9 is delivered to the lower arm 61 (FIG. 5A (b)).
Here, the disk substrate reversing mechanism 6 closes the outer peripheral chuck claws 61 a and 61 b of the lower arm 61 and holds the pallet 9 on the lower arm 61. At the same time, the pallet handling robot 4 retracts the arm 41 and retracts from the disk substrate reversing mechanism 6 (FIG. 5A (c)).
As a result, the pallet 9 is placed on the lower arm 61 as the first pallet and chucked.

図5Bは、そのディスクサブストレート反転機構によるディスクサブストレートの反転動作の説明図である。
次にディスクサブストレート反転機構6は、上下移動機構63を動作させて上側アーム62を下側アーム61に向かって降下させて下側のパレット9(第1のパレット)に上側のパレット9(第2のパレット)を重ねて被せる処理をする(図5B(a))。
すなわち、上下移動機構63により上側アーム62が降下して上側のパレット9(第2のパレット)が下側アーム61に接近して、下側アーム61と上側アーム62との雄位置決めピン67a,67b,67cと雌位置決めピン68a,68b,68cとが嵌合して、下側のパレット9のボス孔11と上側のパレット9(第2のパレット)のボス孔11とが接触する(図5B(a))。その結果、各ボス11を介して上下のパレットの位置合わせがなされる。
FIG. 5B is an explanatory diagram of the reversing operation of the disk substrate by the disk substrate reversing mechanism.
Next, the disk substrate reversing mechanism 6 operates the vertical movement mechanism 63 to lower the upper arm 62 toward the lower arm 61 so that the upper pallet 9 (first pallet) is moved to the upper pallet 9 (first pallet). 2 pallets) are overlaid (FIG. 5B (a)).
That is, the upper arm 62 is lowered by the vertical movement mechanism 63 so that the upper pallet 9 (second pallet) approaches the lower arm 61, and the male positioning pins 67 a and 67 b between the lower arm 61 and the upper arm 62. 67c and female positioning pins 68a, 68b, 68c are fitted, and the boss hole 11 of the lower pallet 9 and the boss hole 11 of the upper pallet 9 (second pallet) contact each other (FIG. 5B ( a)). As a result, the upper and lower pallets are aligned via the bosses 11.

前記したように、突起11aの外径は、ディスクサブストレート1の中心開口1a(図2(c)参照)より僅かに小さく、この突起11aにディスクサブストレート1の中心開口1aが緩く嵌合して突起11aの段差部分に載置されていて、ディスクサブストレート1の表面側が突起11aの高さより少し高いので、ディスクサブストレート1は、下側のパレット9(第1のパレット)と上側のパレット9(第2のパレット)の両者のボス11の突起11aに嵌合することになる。
次にステッピングモータ65の回転軸が180°回転して回転円板64が180°回転してアームの上下が反転する。これにより、下側アーム61と上側アーム62の位置が入れ替わる(図5B(b))。
As described above, the outer diameter of the protrusion 11a is slightly smaller than the central opening 1a of the disk substrate 1 (see FIG. 2C), and the central opening 1a of the disk substrate 1 is loosely fitted into the protrusion 11a. Since the surface side of the disk substrate 1 is slightly higher than the height of the protrusion 11a, the disk substrate 1 includes a lower pallet 9 (first pallet) and an upper pallet. 9 (second pallet) is fitted to the projections 11a of the bosses 11 of both.
Next, the rotating shaft of the stepping motor 65 is rotated 180 °, the rotating disk 64 is rotated 180 °, and the upper and lower sides of the arm are reversed. As a result, the positions of the lower arm 61 and the upper arm 62 are switched (FIG. 5B (b)).

このとき、パレット9に収納されている12枚のディスクサブストレート1が各ボス孔11を介して上側のパレット9(第1のパレット)から下側のパレット9(第2のパレット)へと移り、下側のパレット9のボス孔11に保持される(図5B(b))。
上側に位置した下側アーム61が上へと逃げて下側に位置する上側アーム62に第2のパレット9に12枚のディスクサブストレート1が反転された状態で載置される(図5B(c))。
このときのパレット9(第2のパレット)は、12枚のディスクサブストレート1の裏面側が表面となって、収納されている。
この状態でパレットハンドリングロボット4が下側のパレット9(第2のパレット)を図5Aの場合とは逆に動作して図5A(c)〜図5A(a)へと状態が移り、下側に位置する上側アーム62からアーム41にパレット9(第2のパレット)をピックアップする。
12枚のディスクサブストレート1の裏面側が表面となって収納されたパレット9(第2のパレット)は、パレットハンドリングロボット4によりをエッチングステージ3へと搬入される。
At this time, the twelve disc substrates 1 housed in the pallet 9 move from the upper pallet 9 (first pallet) to the lower pallet 9 (second pallet) through the boss holes 11. And held in the boss hole 11 of the lower pallet 9 (FIG. 5B (b)).
The lower arm 61 positioned on the upper side escapes upward and is placed on the upper arm 62 positioned on the lower side in a state where the twelve disk substrates 1 are inverted (FIG. 5B). c)).
The pallet 9 (second pallet) at this time is stored with the back side of the 12 disc substrates 1 being the front side.
In this state, the pallet handling robot 4 operates the lower pallet 9 (second pallet) in the opposite direction to that shown in FIG. 5A, and the state moves from FIG. 5A (c) to FIG. 5A (a). The pallet 9 (second pallet) is picked up from the upper arm 62 located at the arm 41 to the arm 41.
The pallet 9 (second pallet) stored with the back side of the twelve disc substrates 1 as the front side is carried into the etching stage 3 by the pallet handling robot 4.

一方、反転後の第1のパレットは、空(ディスクサブストレートを収納していない)の状態となっている。しかも、外周チャック爪61a,61bにより下向きに上側アーム62にチャックされている。この第1パレットは、このとき空の第2のパレットと同じ状態である。そこで、ここでは、この第1のパレットを次に第2のパレットとして使用する。
すなわち、12枚のディスクサブストレート1の表面側のエッチング終了後に、パレットハンドリングロボット4によりエッチングステージ2へから取り出された別のパレット9をディスクサブストレート反転機構6が第1のパレットとして受けたときに、先に反転された前記の第1のパレットが第2のパレットとして利用される。
もちろん、このときには別のパレットがディスクサブストレート反転機構6で反転されたときにはこの別のパレットが次に第2のパレットになる。
On the other hand, the inverted first pallet is in an empty state (no disk substrate is accommodated). Moreover, it is chucked downward by the upper arm 62 by the outer circumferential chuck claws 61a and 61b. This first pallet is now in the same state as the empty second pallet. Therefore, here, the first pallet is used as the second pallet.
That is, after the etching of the surface side of the 12 disc substrates 1 is completed, when the disc substrate reversing mechanism 6 receives another pallet 9 taken out from the etching stage 2 by the pallet handling robot 4 as the first pallet. In addition, the first pallet that has been inverted previously is used as the second pallet.
Of course, at this time, when another pallet is reversed by the disk substrate reversing mechanism 6, this another pallet becomes the second pallet.

図6は、磁気ディスクメディアの製造工程についての断面説明図である。
ディスクサブストレートエッチング装置10にディスク供給カセット13を介して供給されるディスクサブストレート1は、その両面がスタンパによりレジスト膜に溝が形成されたものである。
その製造工程を説明すると、まず、中心開口1aを有するガラス基板のディスク100に軟磁性層101が蒸着されてガラス基板の両面に形成され、この両面の磁性層101の表面にそれぞれレジスト膜102が塗布され、ナノインプリントリソグラフィ法によりレジスト膜102にスタンパ103によりトラックを隔絶する溝104が両面に刻まれる(図6(a))。
レジスト膜102に溝104が両面に形成されたディスクサブストレート1をディスク供給カセット13に24枚収納し、これをディスクサブストレートエッチング装置10に供給して、前記したように、ディスクサブストレートエッチング装置10において片面ずつエッチング処理をする(エッチング工程,図6(b))。
なお、スタンパ103は、円板であって、その表面にはトラック幅に対応する100nm程度の間隔で同心円上に数十nm程度の幅の多数の突起が形成されている。
ディスクサブストレートエッチング装置10で両面エッチングされたディスクサブストレート1は、次に、非磁性材料の埋め込み処理装置に送られ、そこで、非磁性材料105が埋め込まれ、記録トラック層106が形成される(非磁性材料埋込み工程,図6(c))。そして次に研磨装置で表面が研磨されて平坦化され、例えばカーボン膜、水素化カーボン膜、窒素化カーボン膜等からなる厚さ10〜150Å程度の保護膜107を形成する(保護膜形成工程,図6(d))。最後に、このような製造工程で保護膜を形成した後、成膜工程で発生した小突起の除去及び表面の清浄化のため、さらに研磨装置により磁気ディスクの表面のテープクリーニング等が行われ(バーニッシュとワイピング工程,図6(e))、磁気ディスクメディアが製造される。
FIG. 6 is an explanatory cross-sectional view of the magnetic disk medium manufacturing process.
The disk substrate 1 supplied to the disk substrate etching apparatus 10 via the disk supply cassette 13 has grooves formed in the resist film on both sides by stampers.
The manufacturing process will be described. First, a soft magnetic layer 101 is vapor-deposited on a disk 100 of a glass substrate having a central opening 1a and formed on both surfaces of the glass substrate. The groove 104 is cut on both sides of the resist film 102 by the stamper 103 by applying the nanoimprint lithography method (FIG. 6A).
The disc substrate 1 in which the grooves 104 are formed on both sides of the resist film 102 is stored in the disc supply cassette 13 and supplied to the disc substrate etching apparatus 10, and as described above, the disc substrate etching apparatus. 10 is etched one side at a time (etching step, FIG. 6B).
The stamper 103 is a disk, and on its surface, a large number of protrusions having a width of about several tens of nm are formed on concentric circles at intervals of about 100 nm corresponding to the track width.
The disk substrate 1 that has been etched on both sides by the disk substrate etching apparatus 10 is then sent to a non-magnetic material embedding processing apparatus, where the non-magnetic material 105 is embedded to form the recording track layer 106 ( Nonmagnetic material embedding process, FIG. 6 (c)). Then, the surface is polished and flattened by a polishing apparatus to form a protective film 107 having a thickness of about 10 to 150 mm made of, for example, a carbon film, a hydrogenated carbon film, a nitrogenated carbon film, etc. (protective film forming step, FIG. 6 (d)). Finally, after forming a protective film in such a manufacturing process, the surface of the magnetic disk is further cleaned by a polishing apparatus in order to remove small protrusions and clean the surface generated in the film forming process ( Burnishing and wiping process, FIG. 6 (e)), and magnetic disk media are manufactured.

以上説明してきたが、実施例では、表面側のエッチングステージと裏面側のエッチングステージとにそれぞれ2つのエッチングチャンバーを設けているが、これらはそれぞれ1個のエッチングチャンバーであってもよく、1個のエッチングチャンバーで表裏両面のエッジング処理が順次なされてもよい。
また、実施例では、8枚のパレットを循環して使用する例を挙げているが、パレットの枚数は複数枚あればよく、8枚に限定されない。
さらに、実施例では、パレットを用いているが、これはトレイであってもよく、この明細書および特許請求の範囲におけるパレットは、トレイを含むものである。
As described above, in the embodiment, two etching chambers are provided in each of the etching stage on the front surface side and the etching stage on the back surface side, but each of these may be one etching chamber. The edging process on both the front and back surfaces may be sequentially performed in the etching chamber.
In the embodiment, an example in which eight pallets are circulated is used. However, the number of pallets is not limited to eight as long as there are a plurality of pallets.
Furthermore, although the embodiment uses a pallet, it may be a tray, and the pallet in this specification and claims includes a tray.

図1は、この発明のディスクサブストレートエッチング方法を適用した一実施例のディスクサブストレートエッチング装置の概要斜視図である。FIG. 1 is a schematic perspective view of a disk substrate etching apparatus according to an embodiment to which the disk substrate etching method of the present invention is applied. 図2は、ハンドリングロボットによりハンドリングされるディスクサブストレートの保持パレットの説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a holding pallet for a disk substrate handled by a handling robot. 図3Aは、ディスクサブストレート保持パレットの装置内循環処理の初期状態を中心とする説明図である。FIG. 3A is an explanatory diagram centering on an initial state of in-device circulation processing of the disk substrate holding pallet. 図3Bは、ディスクサブストレート保持パレットの装置内の図3Aに続く循環処理の説明図である。FIG. 3B is an explanatory diagram of the circulation process following FIG. 3A in the disk substrate holding pallet apparatus. 図3は、2枚重ねパレットによるディスクサブストレート反転機構の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a disk substrate reversing mechanism using a two-sheet pallet. 図5Aは、ディスクサブストレート反転機構のディスクサブストレートの搭載動作の説明図である。FIG. 5A is an explanatory diagram of the disk substrate mounting operation of the disk substrate reversing mechanism. 図5Bは、ディスクサブストレート反転機構によるディスクサブストレートの反転動作の説明図である。FIG. 5B is an explanatory diagram of the disk substrate reversing operation by the disk substrate reversing mechanism. 図6は、磁気ディスクメディアの製造工程についての断面説明図である。FIG. 6 is an explanatory cross-sectional view of the magnetic disk medium manufacturing process.

符号の説明Explanation of symbols

1…ディスクサブストレート、1a…中心開口、
2…ディスクサブストレート表面側のエッチングステージ、
3…ディスクサブストレート裏面側のエッチングステージ、
4…パレットハンドリングロボット、
5…ディスクハンドリングロボット、
6…ディスクサブストレート反転機構、
7…ロボット移動ライン、
8…ディスクメディアロード/アンロードテーブル、
9…パレット、
10…ディスクサブストレートエッチング装置、
11…ボス孔、12…カセットコンベアライン、
13…ディスク供給カセット、14…ディスク収納カセット、
15…カセットロード/アンロードポート、
16…カセットロードライン、17…カセットアンロードライン、
18,19…切換ポート、20…制御装置、
21,31…第1エッチングチャンバー、
22,32…第2エッチングチャンバー、
23,33…パレットハンドリングロボット、
24,34…パレット入力ポート、
25,35…パレット出力ポート。
1 ... disk substrate, 1a ... central opening,
2 ... Etching stage on the disk substrate surface side,
3 ... Etching stage on the back side of the disc substrate,
4 ... Pallet handling robot,
5 ... Disc handling robot,
6 ... Disc substrate reversing mechanism,
7 ... Robot movement line,
8: Disc media loading / unloading table,
9 ... pallet,
10: Disc substrate etching device,
11 ... boss hole, 12 ... cassette conveyor line,
13 ... Disc supply cassette, 14 ... Disc storage cassette,
15 ... cassette loading / unloading port,
16 ... cassette loading line, 17 ... cassette unloading line,
18, 19 ... switching port, 20 ... control device,
21, 31 ... first etching chamber,
22, 32 ... second etching chamber,
23, 33 ... Pallet handling robot,
24, 34 ... Pallet input port,
25, 35 ... Pallet output port.

Claims (10)

ディスクサブストレートの磁性膜の表面に形成されたレジスト膜に溝を形成してこの溝を介して前記磁性膜をエッチングするディスクサブストレートエッチング方法において、
複数のボスを有する第1のパレットに複数の各ディスクサブストレートをそれぞれその中心開口にそれぞれの前記ボスを挿入して収納し、
この第1のパレットをエッチング装置に搬入して前記複数枚のディスクサブストレートの片面に対してエッチング処理をし、
前記エッチング装置から取出した前記第1のパレットの上に同型で前記ディスクサブストレートを収納していない第2のパレットを各前記ボス同士が対応するように被せ、
前記第1および第2のパレットをともに上下反転させて前記第1のパレットから前記第2のパレットへと各前記ボスを介して前記複数枚のディスクサブストレートを移して前記第2のパレットに反転させた前記複数枚のディスクサブストレートを収納し、
この第2のパレットを前記エッチング装置あるいは他のエッチング装置に搬入して前記第2のパレットの前記複数枚のディスクサブストレートの残りの片面に対してエッチング処理をし、
前記反転後の前記第1のパレットを同型の他のパレットに被せる前記第2のパレットとしてとして使用し、
前記エッチング装置あるいは他のエッチング装置でエッチング処理が終了して取出された前記第2のパレットから複数枚の前記ディスクサブストレートを脱去して空にした前記第2のパレットを前記第1のパレットあるいは前記他のパレットとして使用するディスクサブストレートエッチング方法。
In a disk substrate etching method of forming a groove in a resist film formed on the surface of a magnetic film of a disk substrate and etching the magnetic film through the groove,
A plurality of disc substrates are inserted into a first pallet having a plurality of bosses, and the respective bosses are inserted into the central openings, respectively, and stored.
The first pallet is carried into an etching apparatus, and etching is performed on one side of the plurality of disk substrates,
Covering the first pallet taken out from the etching apparatus with a second pallet of the same type and not containing the disk substrate so that the bosses correspond to each other,
The first and second pallets are both turned upside down, and the plurality of disk substrates are transferred from the first pallet to the second pallet via the bosses and turned to the second pallet. Storing the plurality of disc substrates,
The second pallet is carried into the etching apparatus or another etching apparatus, and the remaining one side of the plurality of disk substrates of the second pallet is etched.
Use the first pallet after the inversion as the second pallet to cover another pallet of the same type,
The second pallet is made empty by removing a plurality of the disk substrates from the second pallet taken out after the etching process is completed by the etching apparatus or another etching apparatus. Or the disk substrate etching method used as said other pallet.
前記ボスは、前記第1および第2の各パレットの表面から微小間隙をもって前記ディスクサブストレートを保持するための段差のある突起を有し、前記段差の高さが前記ディスクサブストレートの厚さより小さい請求項1記載のディスクサブストレートエッチング方法。   The boss has a stepped projection for holding the disc substrate with a minute gap from the surface of each of the first and second pallets, and the height of the step is smaller than the thickness of the disc substrate. The disk substrate etching method according to claim 1. 前記エッチング装置および前記他のエッチング装置は、前記ディスクサブストレートの片面をドライエッチングする装置であり、前記第2のパレットは、前記他のエッチング装置に搬入される請求項2記載のディスクサブストレートエッチング方法。   3. The disk substrate etching according to claim 2, wherein the etching apparatus and the other etching apparatus are apparatuses for dry etching one surface of the disk substrate, and the second pallet is carried into the other etching apparatus. Method. 前記第1パレットと第2のパレットをハンドリングするパレットハンドリングロボットと前記第1および第2のパレットをともに上下反転させる反転機構と有し、前記パレットハンドリングロボットの周囲に前記エッチング装置と前記他のエッチング装置と前記反転機構とを配置し、前記第1および第2のパレットは円板であって、前記ボスは、この円板を2つに割る中央線に対して左右対称に複数個設けられている請求項3記載のディスクサブストレートエッチング方法。   A pallet handling robot for handling the first pallet and the second pallet; and a reversing mechanism for vertically inverting both the first and second pallets; and the etching apparatus and the other etching around the pallet handling robot An apparatus and the reversing mechanism are arranged, and the first and second pallets are discs, and a plurality of the bosses are provided symmetrically with respect to a center line dividing the disc into two. The disc substrate etching method according to claim 3. ディスクサブストレートの磁性膜の表面に形成されたレジスト膜に溝を形成してこの溝を介して前記磁性膜をエッチングするディスクサブストレートエッチング装置において、
複数のボスを有し複数の各ディスクサブストレートをその中心開口に各前記ボスを挿入して収納する第1のパレットと、
この第1のパレットが搬入されて前記複数枚のディスクサブストレートの片面に対してエッチング処理をするエッチング装置と、
前記エッチング装置から取出された前記第1のパレットを保持し、この第1のパレットの上に同型で前記ディスクサブストレートを収納していない第2のパレットを保持し、この第2のパレットを各前記ボス同士が対応するように前記第1のパレットに被せて前記第1および第2のパレットをともに上下反転させて前記第1のパレットから前記第2のパレットへと各前記ボスを介して前記複数枚のディスクサブストレートを移して前記第2のパレットに反転させた前記複数枚のディスクサブストレートを収納させるディスクサブストレート反転機構とを備え、
前記ディスクサブストレート反転機構から取出された前記第2のパレットが前記エッチング装置あるいは他のエッチング装置に搬入されて前記第2のパレットの前記複数枚のディスクサブストレートの残りの片面がエッチング処理されるものであって、
前記反転後の前記第1のパレットは、同型の他のパレットに被せる前記第2のパレットとして使用され、
前記エッチング装置あるいは他のエッチング装置でエッチング処理が終了して取出された前記第2のパレットは、複数枚の前記ディスクサブストレートが脱去されて空にされて前記第1のパレットあるいは前記他のパレットとして使用されるディスクサブストレートの表面エッチング装置。
In a disk substrate etching apparatus for forming a groove in a resist film formed on the surface of a magnetic film of a disk substrate and etching the magnetic film through the groove,
A first pallet having a plurality of bosses and storing a plurality of disk substrates by inserting the bosses into a central opening thereof;
An etching apparatus in which the first pallet is carried and etching is performed on one side of the plurality of disk substrates;
The first pallet taken out from the etching apparatus is held, and a second pallet that is the same type and does not contain the disk substrate is held on the first pallet. The first and second pallets are both turned upside down over the first pallet so that the bosses correspond to each other, and the first pallet to the second pallet is passed through the bosses. A disk substrate reversing mechanism that accommodates the plurality of disk substrates transferred to the second pallet by transferring a plurality of disk substrates;
The second pallet taken out from the disk substrate reversing mechanism is carried into the etching apparatus or another etching apparatus, and the remaining one side of the plurality of disk substrates of the second pallet is etched. And
The first pallet after the inversion is used as the second pallet to be put on another pallet of the same type,
The second pallet taken out after the etching process is completed in the etching apparatus or another etching apparatus is emptied by removing a plurality of the disk substrates, and the first pallet or the other pallet is removed. Surface etching equipment for disk substrates used as pallets.
前記ボスは、前記第1および第2の各パレットの表面から微小間隙をもって前記ディスクサブストレートを保持するための段差のある突起を有し、前記段差の高さが前記ディスクサブストレートの厚さより小さい請求項5記載のディスクサブストレートエッチング装置。   The boss has a stepped projection for holding the disc substrate with a minute gap from the surface of each of the first and second pallets, and the height of the step is smaller than the thickness of the disc substrate. 6. A disk substrate etching apparatus according to claim 5. 前記エッチング装置および前記他のエッチング装置は、前記ディスクサブストレートの片面をドライエッチングする装置であり、前記第2のパレットは、前記他のエッチング装置に搬入される請求項6記載のディスクサブストレートエッチング装置。   7. The disk substrate etching according to claim 6, wherein the etching apparatus and the other etching apparatus are apparatuses that dry-etch one side of the disk substrate, and the second pallet is carried into the other etching apparatus. apparatus. 前記第1パレットと第2のパレットをハンドリングするパレットハンドリングロボットと前記第1および第2のパレットをともに上下反転させる反転機構と有し、前記パレットハンドリングロボットの周囲に前記エッチング装置と前記他のエッチング装置と前記反転機構とが配置され、前記第1および第2のパレットは円板であって、前記ボスは、この円板を2つに割る中央線に対して左右対称に複数個設けられている請求項7記載のディスクサブストレートエッチング装置。   A pallet handling robot for handling the first pallet and the second pallet; and a reversing mechanism for vertically inverting both the first and second pallets; and the etching apparatus and the other etching around the pallet handling robot An apparatus and the reversing mechanism are disposed, and the first and second pallets are disks, and a plurality of the bosses are provided symmetrically with respect to a center line dividing the disk into two. The disk substrate etching apparatus according to claim 7. 請求項1乃至請求項4のうちの1項記載のディスクサブストレートエッチング方法を用いる磁気ディスクメディア製造装置。   5. A magnetic disk medium manufacturing apparatus using the disk substrate etching method according to claim 1. 請求項5乃至請求項8のうちの1項記載のディスクサブストレートエッチング装置を有する磁気ディスクメディア製造装置。   9. A magnetic disk medium manufacturing apparatus comprising the disk substrate etching apparatus according to claim 5.
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