JP2009116460A - Information processing apparatus and electronic equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an information processing apparatus that secures high reliability, as much as possible, while reducing the frequency of execution of the operation checks on an expanded memory, and to provide electronic equipment equipped with the processing apparatus. <P>SOLUTION: If it is not detected that a cover member to be opened so as to attach and detach the expanded memory is opened, while the information processor is turned off (No, in step S1), an operation check on only a standard memory is made in start-up of the processor (step S3); and if it is detected that the member is opened while the processor is turned off (Yes, in step S1), it is so constituted that the operation checks on the standard memory and the expanded memory are made at the start-up of the processor (step S11). <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は,複写機,プリンタ装置,ファクシミリ装置,スキャナ装置,これらの複合機などの電子機器に搭載され,該電子機器を制御する情報処理装置に関し,特に,その情報処理装置の起動時に実行される標準メモリや増設メモリの動作チェックに関するものである。   The present invention relates to an information processing apparatus that is mounted on an electronic device such as a copying machine, a printer device, a facsimile device, a scanner device, or a multifunction device thereof, and controls the electronic device, and is particularly executed when the information processing device is started up. This is related to the operation check of standard memory and additional memory.

従来から,複写機,プリンタ装置,ファクシミリ装置,スキャナ装置,これらの複合機などの電子機器には,該電子機器を制御する制御装置として,例えばCPU(演算装置)やROM,RAM(メモリ)などを備える情報処理装置が搭載される。前記情報処理装置は,CPUがROMに記憶された各種の電子プログラムをRAM上に展開して実行することにより,前記電子機器の動作を制御する。
一般に,前記情報処理装置では,該情報処理装置の起動時にメモリの動作チェック(以下「メモリチェック」という)が実行される。例えば,特許文献1には,前記情報処理装置の起動時は,オペレーティングシステムの起動に必要な必要最小限の記憶領域のみを対象とするメモリチェックを行い,他の記憶領域については,その記憶領域を使用するときにその都度チェックすることが開示されている。このようなメモリチェック手法によれば,起動時に必要最小限のメモリチェックだけを実行しているため,起動に要する時間を短縮することができる。
特開2000−293391号公報
2. Description of the Related Art Conventionally, electronic devices such as copiers, printer devices, facsimile devices, scanner devices, and multi-function devices of these types are used as control devices for controlling the electronic devices, such as CPU (arithmetic unit), ROM, RAM (memory), etc. Is mounted. In the information processing apparatus, the CPU controls the operation of the electronic device by developing and executing various electronic programs stored in the ROM on the RAM.
Generally, in the information processing apparatus, a memory operation check (hereinafter referred to as “memory check”) is executed when the information processing apparatus is activated. For example, in Patent Document 1, when the information processing apparatus is started, a memory check is performed only for the minimum necessary storage area necessary for starting the operating system, and other storage areas are stored in the storage area. It is disclosed to check each time when using the device. According to such a memory check method, since only the minimum necessary memory check is executed at the time of startup, the time required for startup can be shortened.
JP 2000-293391 A

ところで,前記情報処理装置では,該情報処理装置に標準的に設けられる標準メモリとは別に,オプションで増設メモリを増設することにより,処理速度の向上が図られる場合がある。この場合,前記情報処理装置の起動時には,前記標準メモリを対象とするメモリチェックだけではなく,前記増設メモリを対象とするメモリチェックも必要になる。
しかしながら,前記情報処理装置の起動時に,常に前記標準メモリ及び前記増設メモリの両方を対象にメモリチェックを行うと,その起動に要する時間が長くなるという問題が生じる。
また,例えば前記特許文献1に開示された技術を利用して,起動時には前記標準メモリ及び前記増設メモリ各々の一部の記憶領域だけを対象にメモリチェックを実行し,他の記憶領域については,その記憶領域の使用時にその都度チェックすることも考えられる。しかしながら,この場合には,前記情報処理装置の起動時にメモリチェックの対象とされていない前記標準メモリ及び前記増設メモリ各々の記憶領域を対象とするメモリチェックが,該情報処理装置の通常動作時の負荷となり処理速度が低下するという問題が生じる。
なお,前記増設メモリに生じる異常の多くは,該増設メモリの着脱時に生じる。例えば,ユーザが前記増設メモリを着脱する際の静電気破壊や,前記増設メモリの装着不良がその代表的な原因である。
従って,本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり,その目的とするところは,増設メモリの動作チェックの実行頻度を低下させつつ,できるだけ高い信頼性を確保することのできる情報処理装置及びこれを備えた電子機器を提供することにある。
By the way, in the information processing apparatus, the processing speed may be improved by adding an additional memory as an option separately from the standard memory provided in the information processing apparatus. In this case, when the information processing apparatus is started, not only a memory check for the standard memory but also a memory check for the additional memory is required.
However, if the memory check is always performed for both the standard memory and the additional memory at the time of starting up the information processing apparatus, there arises a problem that the time required for starting up becomes long.
Further, for example, using the technique disclosed in Patent Document 1, a memory check is executed only for a part of the storage areas of the standard memory and the additional memory at the time of startup, and other storage areas are It may be possible to check each time the storage area is used. However, in this case, the memory check for the storage area of each of the standard memory and the additional memory that is not the target of the memory check when the information processing apparatus is started up is performed during the normal operation of the information processing apparatus. There arises a problem that the processing speed decreases due to the load.
Note that many of the abnormalities that occur in the additional memory occur when the additional memory is attached or detached. For example, static damage when the user attaches / detaches the additional memory and poor mounting of the additional memory are typical causes.
Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an information processing apparatus capable of ensuring as high reliability as possible while reducing the frequency of execution of the operation check of the additional memory. The object is to provide an electronic apparatus equipped with the same.

上記目的を達成するために本発明は,データの記憶領域を有する標準メモリと,増設メモリが装着されるメモリ装着部と,前記増設メモリを前記メモリ装着部に装着する際に開かれるカバー部材と,前記標準メモリのみを用いて,或いは前記標準メモリ及び前記増設メモリを用いて各種の処理を実行する演算装置とを備えてなる情報処理装置に適用されるものであって,当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことを検知するカバー開検知手段を備えており,前記カバー開検知手段により当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことが検知されていない場合は,当該情報処理装置の起動時に前記標準メモリのみの動作チェックを実行し,前記カバー開検知手段により当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことが検知された場合は,当該情報処理装置の起動時に前記標準メモリ及び前記増設メモリの動作チェックを実行することを特徴として構成される。
本発明によれば,前記情報処理装置の起動時における前記増設メモリの動作チェックは,前記情報処理装置の電源が切られているときに前記カバー部材が開かれて前記増設メモリが着脱された可能性が高い場合,即ち前記増設メモリに異常が生じている可能性が比較的高い場合に実行される。これにより,前記増設メモリの動作チェックの実行頻度を低下させて当該情報処理装置の起動に要する平均時間を短縮させつつ,できるだけ高い信頼性を確保することができる。
To achieve the above object, the present invention provides a standard memory having a data storage area, a memory mounting portion to which an additional memory is mounted, and a cover member that is opened when the additional memory is mounted to the memory mounting portion. , Which is applied to an information processing apparatus using only the standard memory, or an arithmetic device that executes various processes using the standard memory and the additional memory. Cover opening detection means for detecting that the cover member has been opened while the power is turned off, and the cover member while the information processing apparatus is turned off by the cover opening detection means. When the information processing device is not detected to be opened, an operation check of only the standard memory is performed when the information processing apparatus is activated, and the cover open detection means performs the information processing. If it is detected that the cover member is opened while the power of the device is turned off, the operation check of the standard memory and the additional memory is executed when the information processing apparatus is started. Is done.
According to the present invention, the operation check of the additional memory at the time of starting the information processing apparatus can be performed when the cover member is opened and the additional memory is attached or detached when the information processing apparatus is powered off. This is executed when the possibility is high, that is, when there is a relatively high possibility that an abnormality has occurred in the additional memory. As a result, it is possible to ensure as high reliability as possible while reducing the execution frequency of the operation check of the additional memory and reducing the average time required to start up the information processing apparatus.

また,前記増設メモリは,経年劣化により異常が生じる場合もある。そのため,当該情報処理装置の起動時に前記メモリチェック手段による前記増設メモリの動作チェックが実行されなかった未チェック回数,或いは,前記増設メモリの動作チェックが実行されていない未チェック時間のカウントを行い,そのカウントされた前記未チェック回数或いは前記未チェック時間が予め設定された所定値以上に達した場合に,前記増設メモリの動作チェックを実行することが望ましい。これにより,定期的に前記増設メモリの動作チェックが実行されるため,経年劣化などによる異常の発生を検知することができる。
ところで,本発明は,前記情報処理装置を備えてなる電子機器の発明として捉えてもよい。前記情報処理装置を備える電子機器では,該電子機器の起動に要する平均時間を短縮させつつ,できるだけ高い信頼性を確保することができる。
Further, the additional memory may become abnormal due to deterioration over time. Therefore, the number of unchecked times when the operation check of the additional memory by the memory check means is not executed at the time of starting the information processing apparatus, or the unchecked time when the operation check of the additional memory is not executed is performed. When the counted number of unchecked times or the unchecked time reaches a predetermined value or more set in advance, it is desirable to execute an operation check of the additional memory. As a result, the operation check of the additional memory is periodically performed, so that it is possible to detect the occurrence of an abnormality due to deterioration over time.
By the way, the present invention may be understood as an invention of an electronic device including the information processing apparatus. In an electronic device provided with the information processing apparatus, it is possible to ensure as high reliability as possible while shortening the average time required to start the electronic device.

本発明によれば,前記情報処理装置の起動時における前記増設メモリの動作チェックは,前記情報処理装置の電源が切られているときに前記カバー部材が開かれて前記増設メモリが着脱された可能性が高い場合,即ち前記増設メモリに異常が生じている可能性が比較的高い場合に実行されるため,前記増設メモリの動作チェックの実行頻度を低下させて当該情報処理装置の起動に要する平均時間を短縮させつつ,できるだけ高い信頼性を確保することができる。また,併せて前記増設メモリの動作チェックを定期的に実行することにより信頼性をより高めることも考えられる。   According to the present invention, the operation check of the additional memory at the time of starting the information processing apparatus can be performed when the cover member is opened and the additional memory is attached or detached when the information processing apparatus is powered off. This is executed when there is a high probability that an abnormality has occurred in the additional memory, and it is relatively high. It is possible to ensure the highest possible reliability while shortening the time. In addition, it is conceivable that the reliability can be further improved by periodically checking the operation of the additional memory.

以下添付図面を参照しながら,本発明の実施の形態について説明し,本発明の理解に供する。なお,以下の実施の形態は,本発明を具体化した一例であって,本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
ここに,図1は本発明の実施の形態に係る制御装置Xの概略構成を示す模式図,図2は前記制御装置Xで実行されるメモリチェック処理の手順の一例を説明するためのフローチャートである。
本発明の実施の形態に係る制御装置X(情報処理装置の一例)は,複写機やプリンタ装置,ファクシミリ装置,スキャナ装置,これらの複合機などの電子機器に搭載され,該電子機器の動作を制御するものである。なお,本発明は,前記制御装置Xを備える電子機器の発明として捉えてもよい。
図1に示すように,前記制御装置Xは,各種の演算処理を実行するCPU1(演算装置の一例)と,各種の電子プログラムなどのデータが予め記憶されたROM2,前記CPU1により前記電子プログラムが実行されるときに用いられる記憶領域を有する標準メモリ3,前記標準メモリ3と同様に前記CPU1による前記電子プログラムの実行時に用いられる記憶領域を有する増設メモリ4,前記増設メモリ4が装着されるメモリスロット5(メモリ装着部の一例),前記増設メモリ4を前記メモリスロット5に装着する際に開かれるカバー部材6,及び当該制御装置Xの稼働停止時に前記カバー部材6の開閉を監視するカバー監視回路7(カバー開検知手段の一例)などを備えて概略構成されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that the present invention can be understood. The following embodiment is an example embodying the present invention, and does not limit the technical scope of the present invention.
FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a control device X according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart for explaining an example of a procedure of a memory check process executed by the control device X. is there.
A control device X (an example of an information processing device) according to an embodiment of the present invention is mounted on an electronic device such as a copying machine, a printer device, a facsimile device, a scanner device, or a multifunction device thereof, and the operation of the electronic device is controlled. It is something to control. The present invention may be understood as an invention of an electronic device including the control device X.
As shown in FIG. 1, the control device X includes a CPU 1 (an example of an arithmetic device) that executes various arithmetic processes, a ROM 2 in which data such as various electronic programs are stored in advance, and the CPU 1 A standard memory 3 having a storage area used when it is executed, and a memory to which the additional memory 4 having a storage area used when the electronic program is executed by the CPU 1 as well as the standard memory 3 is mounted. Slot 5 (an example of a memory mounting portion), a cover member 6 that is opened when the additional memory 4 is mounted in the memory slot 5, and a cover monitor that monitors the opening and closing of the cover member 6 when the operation of the control device X is stopped A circuit 7 (an example of a cover open detection unit) is schematically provided.

また,前記CPU1は,各種のパラメータの読み書きが可能な小容量の記憶領域を有する不揮発性の内蔵メモリ1aを有している。具体的に,前記内蔵メモリ1aには,後述のメモリチェック処理(図2のフローチャート参照)において用いられるチェックフラグFや未チェック回数Nなどの情報が記憶される。
前記チェックフラグFは,前記CPU1が前記増設メモリ4の動作チェックの要否を判断するための指標となるものであって,該チェックフラグFが立ち上げられているとき(F=1)には動作チェックの必要があること示し,該チェックフラグFが立ち上げられていないとき(F=0)には動作チェックの必要がないことを示す。
前記未チェック回数Nは,前記制御装置Xの起動時に前記増設メモリ4の動作チェックが実行されなかった回数を示すものであり,前記増設メモリ4の動作チェックが実行されるとリセット(N=0)される(図2のフローチャートのS12)。そして,この未チェック回数Nが予め設定された所定値以上に達すると,前記チェックフラグFがセットされる(図2のフローチャートのS6)。
The CPU 1 has a nonvolatile built-in memory 1a having a small capacity storage area where various parameters can be read and written. Specifically, the built-in memory 1a stores information such as a check flag F and an unchecked number N used in a memory check process (see the flowchart of FIG. 2) described later.
The check flag F serves as an index for the CPU 1 to determine whether the operation check of the additional memory 4 is necessary, and when the check flag F is raised (F = 1). This indicates that an operation check is necessary, and when the check flag F is not raised (F = 0), it indicates that no operation check is necessary.
The unchecked number N indicates the number of times that the operation check of the additional memory 4 has not been executed when the control device X is started up, and is reset when the operation check of the additional memory 4 is executed (N = 0). (S12 in the flowchart of FIG. 2). When the unchecked number N reaches a predetermined value or more, the check flag F is set (S6 in the flowchart of FIG. 2).

前記標準メモリ3は,データの読み書きが可能なDRAMやSRAMなどのRAMであって,当該制御装置Xに標準的に設けられるメモリである。前記CPU1は,前記ROM2に記憶された電子プログラムを前記標準メモリ3内の記憶領域に展開して実行する。具体的に,前記CPU1は,少なくとも前記ROM2に記憶されたオペレーティングシステム(OS)の実行に前記標準メモリ3を用いる。
前記増設メモリ4は,前記標準メモリ3と同様に,データの読み書きが可能なDRAMやSRAMなどのRAMであって,前記メモリスロット5に着脱可能である。前記CPU1は,前記オペレーティングシステムを除く他の電子プログラムの実行時に前記標準メモリ3に加えて前記増設メモリ4を利用する。即ち,前記CPU1は,前記標準メモリ3のみを用いて,或いは前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4を用いて各種の処理を実行する。
このように,前記増設メモリ4が増設可能な構成では,前記CPU1が,前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4の両者の記憶領域を用いて処理を実行することができ,処理速度を向上させることが可能である。
前記カバー部材6は,前記制御装置Xの筐体(不図示)或いは前記制御装置Xが搭載される電子機器の筐体(不図示)などに設けられたものであって,前記増設メモリ4が前記メモリスロット5に着脱される際に,ユーザによって開かれる。前述したように,前記カバー部材6が開かれて前記増設メモリ4の着脱が行われる際には,該増設メモリ4に静電気破壊や装着不良などの異常が生じるおそれがある。
The standard memory 3 is a RAM such as a DRAM or SRAM capable of reading and writing data, and is a memory provided as a standard in the control device X. The CPU 1 develops and executes the electronic program stored in the ROM 2 in a storage area in the standard memory 3. Specifically, the CPU 1 uses the standard memory 3 for executing an operating system (OS) stored in at least the ROM 2.
The extension memory 4 is a RAM such as a DRAM or SRAM capable of reading and writing data, similar to the standard memory 3, and is attachable to and detachable from the memory slot 5. The CPU 1 uses the additional memory 4 in addition to the standard memory 3 when executing an electronic program other than the operating system. That is, the CPU 1 executes various processes using only the standard memory 3 or using the standard memory 3 and the additional memory 4.
As described above, in the configuration in which the additional memory 4 can be expanded, the CPU 1 can execute processing using the storage areas of both the standard memory 3 and the additional memory 4, thereby improving the processing speed. Is possible.
The cover member 6 is provided in a casing (not shown) of the control device X or a casing (not shown) of an electronic device in which the control device X is mounted. When the memory slot 5 is attached to or detached from the memory slot 5, it is opened by the user. As described above, when the cover member 6 is opened and the expansion memory 4 is attached / detached, there is a possibility that abnormalities such as electrostatic breakdown or poor mounting may occur in the expansion memory 4.

前記カバー監視回路7は,前記カバー部材6の開閉を監視するものであって,例えば開閉スイッチ71,コンデンサ72,抵抗73,トランジスタ74などを有している。
具体的には,図1に示すように,前記開閉スイッチ71及び前記抵抗73は直列接続されており,これらは前記コンデンサ72に並列接続されている。また,前記コンデンサ72は,一端が前記トランジスタ74のエミッタ端子及び前記CPU1に接続されており,他端はグランドに接続されている。一方,前記トランジスタ74のベース端子には,前記CPU1が接続されており,コレクタ端子には電源が接続されている。
The cover monitoring circuit 7 monitors the opening and closing of the cover member 6 and includes, for example, an opening / closing switch 71, a capacitor 72, a resistor 73, a transistor 74, and the like.
Specifically, as shown in FIG. 1, the open / close switch 71 and the resistor 73 are connected in series, and these are connected in parallel to the capacitor 72. The capacitor 72 has one end connected to the emitter terminal of the transistor 74 and the CPU 1 and the other end connected to the ground. On the other hand, the CPU 1 is connected to the base terminal of the transistor 74, and a power source is connected to the collector terminal.

前記開閉スイッチ71は,図1に実線で示すように,前記カバー部材6が閉じられているときに該カバー部材6のリブに接触してOFF(切状態)となり,図1に破線で示すように,前記カバー部材6が開かれて該カバー部材6のリブとの接触が解除されることによりON(入状態)となるリミットスイッチである。
即ち,前記開閉スイッチ71は,前記カバー部材6が閉じられているときには,前記コンデンサ72及び前記抵抗73の接続を遮断し,前記カバー部材6が開かれると,前記コンデンサ72及び前記抵抗73を接続する。
As shown by the solid line in FIG. 1, the open / close switch 71 contacts the rib of the cover member 6 when the cover member 6 is closed, and is turned off (OFF state). As shown by the broken line in FIG. Further, the limit switch is turned on (on state) when the cover member 6 is opened and the contact with the rib of the cover member 6 is released.
That is, the open / close switch 71 cuts off the connection between the capacitor 72 and the resistor 73 when the cover member 6 is closed, and connects the capacitor 72 and the resistor 73 when the cover member 6 is opened. To do.

前記コンデンサ72は,例えば電気二重層キャパシタ(スーパーキャパシタとも称される)などの静電容量を有する電子部品であって,電荷の蓄積及び放電を行うものである。前記コンデンサ72は,前記抵抗73に接続されることにより蓄積された電荷を放電する。
従って,前記コンデンサ72は,前記カバー部材6が閉じられており,前記抵抗73に接続されていなければ充電状態にあるが,前記カバー部材6が開かれて前記抵抗73に接続されると放電することになる。即ち,前記カバー監視回路7では,前記コンデンサ72が充電されると,その後,前記コンデンサ72の充電状態が維持されているか否かによって,前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれたか否かを検知することができる。
このカバー監視回路7による検知結果は,前記コンデンサ72から前記CPU1にカバー開信号として入力される。ここに,前記カバー開信号は,例えば“L”のときにカバー部材6が開かれたことを示し,“H”のときにカバー部材6が開かれなかったことを示す。
これにより,前記CPU1では,前記カバー開信号に応じて,前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれたか否かを判断することが可能となる。なお,前記制御装置Xの電源が切られている状態で前記カバー部材6が開かれて前記開閉スイッチ71がONされると,前記コンデンサ72から前記CPU1にも電流が流れることになるため,ラッチアップの発生が懸念される。そのため,前記CPU1の入力端子には,ラッチアップ保護を図るべく,ダイオードなどを設けておくことが望ましい。もちろん,前記CPU1のラッチアップ保護の手法は従来周知の他の手法を用いてもよい。例えば,前記制御装置Xの電源が切れているときには,前記開閉スイッチ71が閉じられても前記CPU1に電流が流れないように,前記CPU1への前記カバー開信号の入力端子の前段に,オープンコレクタでトランジスタ(或いはFETなど)を設けておくことが考えられる。
The capacitor 72 is an electronic component having an electrostatic capacity, such as an electric double layer capacitor (also referred to as a super capacitor), for example, and accumulates and discharges charges. The capacitor 72 discharges the accumulated electric charge when connected to the resistor 73.
Accordingly, the capacitor 72 is in a charged state if the cover member 6 is closed and not connected to the resistor 73, but is discharged when the cover member 6 is opened and connected to the resistor 73. It will be. That is, in the cover monitoring circuit 7, when the capacitor 72 is charged, the cover X is turned off when the control device X is turned off depending on whether the charged state of the capacitor 72 is maintained. It is possible to detect whether the member 6 has been opened.
The detection result by the cover monitoring circuit 7 is input from the capacitor 72 to the CPU 1 as a cover open signal. Here, the cover open signal indicates, for example, that the cover member 6 is opened when “L”, and indicates that the cover member 6 is not opened when “H”.
As a result, the CPU 1 can determine whether the cover member 6 has been opened or not when the control device X is powered off in response to the cover open signal. Note that if the cover member 6 is opened and the open / close switch 71 is turned on while the control device X is powered off, current flows from the capacitor 72 to the CPU 1 as well. There is concern about the occurrence of up. For this reason, it is desirable to provide a diode or the like at the input terminal of the CPU 1 so as to provide latch-up protection. Of course, other known methods may be used as the latch-up protection method of the CPU 1. For example, when the control device X is turned off, an open collector is provided in front of the input terminal for the cover open signal to the CPU 1 so that no current flows to the CPU 1 even if the open / close switch 71 is closed. It is conceivable to provide a transistor (or FET, etc.).

前記トランジスタ74は,前記CPU1から出力される充電実行信号(“L”又は“H”)に応じて,前記コンデンサ72への電源供給の有無,即ち充電の有無を切り換えるものである。
前記制御装置Xでは,該制御装置Xの電源がONの間,前記CPU1から前記充電実行信号として“L”信号が出力されることにより,前記トランジスタ74がONとなり,前記コンデンサ72に電源が供給されて該コンデンサ72の充電が行われる。なお,前記制御装置Xの電源がOFFになると,前記CPU1から前記充電実行信号として“H”信号が出力され,前記トランジスタ74がOFFとなる。このとき,前記制御装置Xの電源がOFFになり前記トランジスタ74からの電源供給が切られても,前記コンデンサ72は蓄積された電荷を保持する(充電状態)。そして,前述したように,前記コンデンサ72は,前記カバー部材6が開かれて前記開閉スイッチ71が閉じられ,前記抵抗73に接続されることにより放電する。
The transistor 74 switches the presence / absence of power supply to the capacitor 72, that is, the presence / absence of charging, in accordance with a charge execution signal (“L” or “H”) output from the CPU 1.
In the control device X, while the power source of the control device X is ON, the transistor 74 is turned ON by supplying an “L” signal as the charge execution signal from the CPU 1, and power is supplied to the capacitor 72. Then, the capacitor 72 is charged. When the power source of the control device X is turned off, the CPU 1 outputs an “H” signal as the charge execution signal, and the transistor 74 is turned off. At this time, even if the power of the control device X is turned off and the power supply from the transistor 74 is cut off, the capacitor 72 holds the accumulated charge (charged state). As described above, the capacitor 72 is discharged when the cover member 6 is opened and the open / close switch 71 is closed and connected to the resistor 73.

以下,図2のフローチャートを参照しつつ,前記CPU1によって前記ROMに記憶されたメモリチェックプログラムに従って実行されるメモリチェック処理の手順の一例について説明する。なお,図中のS1,S2,…は処理手順(ステップ)の番号を表している。
当該メモリチェック処理は,例えば前記制御装置Xが搭載された電子機器の電源が投入されることにより,前記CPU1によって実行される。なお,当該メモリチェック処理においては,前記CPU1は,内部に設けられた前記内蔵メモリ1aを用いて処理を実行する。
本発明の実施の形態に係る前記制御装置Xで実行されるメモリチェック処理では,以下に説明するように,前記増設メモリ4の動作チェックが,前記カバー部材6が開かれた場合や所定期間の経過など,該増設メモリ4に異常が発生している可能性が比較的高い場合にのみ実行される。
Hereinafter, an example of the procedure of the memory check process executed by the CPU 1 according to the memory check program stored in the ROM will be described with reference to the flowchart of FIG. In the figure, S1, S2,... Represent processing procedure (step) numbers.
The memory check process is executed by the CPU 1 when, for example, the electronic device in which the control device X is mounted is turned on. In the memory check process, the CPU 1 executes the process using the built-in memory 1a provided inside.
In the memory check process executed by the control device X according to the embodiment of the present invention, as will be described below, the operation check of the additional memory 4 is performed when the cover member 6 is opened or for a predetermined period. It is executed only when the possibility that an abnormality has occurred in the additional memory 4 is relatively high, such as progress.

(ステップS1)
まず,ステップS1では,前記CPU1は,前記カバー監視回路7からの前記カバー開信号に応じて,前記制御装置Xの電源が切られているときに,前記カバー部材6が開かれたか否かを判断する。
例えば,前記CPU1は,前記カバー開信号が“L”である場合には,前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれたと判断する(S1のYes側)。この場合,前記増設メモリ4の動作チェックが必要であると判断され,処理はステップS11に移行する。なお,ステップS11以降の処理については後段で説明する。
一方,前記カバー開信号が“H”であって,前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれていないと判断された場合(S1のNo側)には,前記増設メモリ4の動作チェックが不要であると判断し,処理はステップS2に移行する。まず,この場合に続いて実行されるステップS2〜S7の処理について説明する。
(Step S1)
First, in step S1, the CPU 1 determines whether or not the cover member 6 is opened when the control device X is powered off in response to the cover opening signal from the cover monitoring circuit 7. to decide.
For example, when the cover open signal is “L”, the CPU 1 determines that the cover member 6 is opened when the power of the control device X is turned off (Yes side of S1). In this case, it is determined that the operation check of the additional memory 4 is necessary, and the process proceeds to step S11. The processing after step S11 will be described later.
On the other hand, when it is determined that the cover member 6 is not opened when the cover open signal is “H” and the control device X is powered off (No side of S1), It is determined that the operation check of the additional memory 4 is not necessary, and the process proceeds to step S2. First, the processing of steps S2 to S7 executed subsequently in this case will be described.

(ステップS2)
ステップ2では,前記CPU1は,前記内蔵メモリ1aに記憶された前記チェックフラグFがセット(F=1)されているか否かを判断する。ここに,前記チェックフラグFは,前記増設メモリ4の動作チェックの実行の要否を判断するためのものであって,後述のステップS6でセットされ,後述のステップS13でリセット(F=0)されるものである。
ここで,前記チェックフラグFがセットされていると判断された場合には(S2のYes側),前記増設メモリ4の動作チェックが必要であると判断され,前記ステップS1と同様に処理はステップS11に移行する。
一方,前記チェックフラグFがセットされていないと判断された場合には(S2のNo側),前記増設メモリ4の動作チェックが不要であると判断し,処理はステップS3に移行する。
(Step S2)
In step 2, the CPU 1 determines whether or not the check flag F stored in the built-in memory 1a is set (F = 1). Here, the check flag F is used to determine whether or not the operation check of the additional memory 4 needs to be executed. The check flag F is set in step S6 to be described later and reset in step S13 to be described later (F = 0). It is what is done.
Here, if it is determined that the check flag F is set (Yes side of S2), it is determined that an operation check of the additional memory 4 is necessary, and the processing is performed in the same manner as in step S1. The process proceeds to S11.
On the other hand, if it is determined that the check flag F is not set (No side of S2), it is determined that the operation check of the additional memory 4 is not necessary, and the process proceeds to step S3.

(ステップS3)
ステップS3では,前記CPU1によって,前記標準メモリ3のみの動作チェックが実行される。なお,前記CPU1による前記標準メモリ3の動作チェックについては,例えば読み書きテストを行うなどの従来周知のチェック処理を実行すればよいため,ここでは説明を省略する。
このとき,動作チェックの対象は,例えば前記標準メモリ3の記憶領域の全域である。なお,従来(前記特許文献1参照)と同様に,ここでは,前記標準メモリ3におけるオペレーティングシステムを実行するために必要な最小限の記憶領域だけを対象に動作チェックを実行してもよい。
このように,前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれておらず(S1のNo側),且つ前記チェックフラグFが立てられていない場合には(S2のNo側),前記増設メモリ4の動作チェックの実行が不要であるとして,前記標準メモリ3だけの動作チェックが実行される。従って,前記増設メモリ4の動作チェックの実行頻度が低くなり,当該制御装置Xの起動に要する平均時間を短縮することができ,ひいては前記制御装置Xが搭載された電子機器の起動に要する平均時間を短縮することができる。また,前記制御装置Xの通常動作時にも前記増設メモリ4の動作チェックを実行しないようにすることが望ましい。これにより,通常動作時の処理速度の低下を防止することができる。
(Step S3)
In step S3, the CPU 1 performs an operation check on only the standard memory 3. Note that the operation check of the standard memory 3 by the CPU 1 may be performed by a well-known check process such as a read / write test.
At this time, the operation check target is, for example, the entire storage area of the standard memory 3. As in the prior art (see Patent Document 1), the operation check may be executed only for the minimum storage area required for executing the operating system in the standard memory 3 here.
Thus, when the control device X is turned off, the cover member 6 is not opened (No side of S1), and the check flag F is not set (S2). No), the operation check of only the standard memory 3 is executed on the assumption that the operation check of the additional memory 4 is unnecessary. Therefore, the execution frequency of the operation check of the additional memory 4 is reduced, and the average time required for starting the control device X can be shortened. As a result, the average time required for starting the electronic device on which the control device X is mounted. Can be shortened. Further, it is desirable that the operation check of the additional memory 4 is not executed even during the normal operation of the control device X. Thereby, it is possible to prevent a decrease in processing speed during normal operation.

(ステップS4〜S7)
そして,ステップS4では,前記CPU1は,前記制御装置Xの起動時に,前記増設メモリ4の動作チェックが実行されなかった回数を示す前記未チェック回数Nを一つカウントアップする(N=N+1)。なお,前記未チェック回数Nの初期値は0である。ここに,前記未チェック回数Nのカウントを行うときの前記CPU1がカウンタ手段に相当する。
その後,ステップS5では,前記ステップS4でカウントアップされた前記未チェック回数Nが,予め設定された所定回数未満であるか否かが前記CPU1によって判断される。ここでは,前記所定回数が10回であるとする。
ここで,前記未チェック回数Nが10回未満であると判断された場合には(S5のYes側),処理はステップS6に移行し,前記未チェック回数Nが10回以上に達したと判断された場合には(S5のNO側),処理はステップS7に移行する。
(Steps S4 to S7)
In step S4, the CPU 1 increments the unchecked number N, which indicates the number of times the operation check of the additional memory 4 has not been executed, when the control device X is started up (N = N + 1). The initial value of the unchecked number N is 0. Here, the CPU 1 when counting the unchecked number N corresponds to a counter means.
Thereafter, in step S5, the CPU 1 determines whether or not the unchecked number N counted up in step S4 is less than a predetermined number set in advance. Here, it is assumed that the predetermined number of times is 10.
If it is determined that the unchecked number N is less than 10 (Yes in S5), the process proceeds to step S6, and it is determined that the unchecked number N has reached 10 or more. If so (NO side of S5), the process proceeds to step S7.

(ステップS6,S7)
ステップS6では,前記CPU1によって,前記未チェック回数Nが10回に達し,前記増設メモリ4の動作チェックの実行が必要であることを示す前記チェックフラグFがセットされる(F=1)。これにより,次に前記制御装置Xが起動された場合には,前記ステップS2において,前記チェックフラグFがセットされていると判断され,後述のステップS11に移行することになる。このように,当該メモリチェック処理では,当該制御装置Xの起動時に前記増設メモリ4の動作チェックが実行されなかった未チェック回数Nが予め設定された所定値以上に達した場合には,前記チェックフラグFがセットされ,前記増設メモリ4の動作チェックが実行される。なお,次に前記制御装置Xが起動した時点ではなく,当該ステップS5において,前記未チェック回数Nが10回に達したと判断された時点で,前記増設メモリ4の動作チェックを実行してもかまわない。
そして,ステップS7では,前記CPU1から前記充電実行信号として“L”信号が出力されることによって,前記トランジスタ74がONされて前記コンデンサ72の充電が開始される。これにより,前記CPU1に入力される前記カバー開信号が“H”となり,次に前記制御装置Xの電源が切られたときに前記カバー部材6の開放を検知することが可能な状態に復帰する。その後,当該メモリチェック処理は終了される。
(Steps S6 and S7)
In step S6, the CPU 1 sets the check flag F indicating that the number of unchecked times N has reached 10 and the operation check of the additional memory 4 needs to be executed (F = 1). As a result, when the control device X is activated next time, it is determined in step S2 that the check flag F is set, and the process proceeds to later-described step S11. As described above, in the memory check process, when the number of unchecked times N in which the operation check of the additional memory 4 has not been executed when the control device X is started reaches a predetermined value or more, the check is performed. The flag F is set and the operation check of the additional memory 4 is executed. It should be noted that the operation check of the additional memory 4 may be executed not when the control device X is started next but when it is determined in step S5 that the unchecked number N has reached 10. It doesn't matter.
In step S 7, the CPU 1 outputs an “L” signal as the charge execution signal, whereby the transistor 74 is turned on and charging of the capacitor 72 is started. As a result, the cover open signal input to the CPU 1 becomes “H”, and when the power to the control device X is turned off, the cover member 6 can be detected to be opened. . Thereafter, the memory check process is terminated.

(ステップS11〜13)
一方,前述したように,前記制御装置Xの起動後,前記ステップS1において前記制御装置Xの電源が切られているときに前記カバー部材6が開かれたと判断された場合(S1のYes側),或いは前記ステップS2において前記チェックフラグFが立てられていると判断された場合(S2のYes側)には,前記増設メモリ4の動作チェックを実行する必要があるとして,処理はステップS11に移行する。
ステップS11では,前記CPU1によって,前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4の両方の動作チェックが実行される。即ち,当該メモリチェック処理では,前記増設メモリ4に異常が生じている可能性が比較的高い場合にのみ,該増設メモリ4の動作チェックが実行される。このとき,動作チェックの対象は,例えば前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4の記憶領域の全域である。
そして,前記ステップS11における前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4の動作チェックが正常に終了すると,続くステップS12では,前記CPU1によって前記未チェック回数Nがリセットされる(N=0)。
その後,前記CPU1は,ステップS13において,前記チェックフラグFをリセット(F=0)した後,処理を前記ステップS7に移行させる。
(Steps S11-13)
On the other hand, as described above, after activation of the control device X, when it is determined in step S1 that the cover member 6 is opened when the power of the control device X is turned off (Yes side of S1) Alternatively, if it is determined in step S2 that the check flag F is set (Yes side of S2), it is necessary to perform an operation check of the additional memory 4, and the process proceeds to step S11. To do.
In step S11, the CPU 1 checks the operation of both the standard memory 3 and the additional memory 4. That is, in the memory check process, the operation check of the additional memory 4 is executed only when the possibility that an abnormality has occurred in the additional memory 4 is relatively high. At this time, the object of the operation check is, for example, the entire storage area of the standard memory 3 and the additional memory 4.
When the operation check of the standard memory 3 and the additional memory 4 in step S11 ends normally, in the subsequent step S12, the unchecked number N is reset by the CPU 1 (N = 0).
Thereafter, in step S13, the CPU 1 resets the check flag F (F = 0), and then shifts the processing to step S7.

以上説明したように,前記制御装置Xで実行される前記メモリチェック処理では,前記カバー監視回路7により当該制御装置Xの電源が切られている間に前記カバー部材6が開かれたことが検知されていない場合は,当該制御装置Xの起動時に前記標準メモリ3のみの動作チェックを実行し,前記カバー監視回路7により当該制御装置Xの電源が切られている間に前記カバー部材6が開かれたことが検知された場合は,当該制御装置Xの起動時に前記標準メモリ3及び前記増設メモリ4の動作チェックを実行している。ここに,係るメモリチェック処理を実行するときの前記CPU1がメモリチェック手段に相当する。
また,前記増設メモリ4が着脱されなくても,経年劣化により前記増設メモリ4に異常が生じる場合があるが,前記メモリチェック処理では,当該制御装置Xの起動時に,前記増設メモリ4の動作チェックが実行されなかった回数を示す前記未チェック回数Nが予め設定された所定値(ここでは10回)以上に達しており,前記チェックフラグFがセットされている場合には,前記増設メモリ4の動作チェックを実行するように制御されている。ここに,係る処理を実行するときの前記CPU1が定期メモリチェック手段に相当する。このように,定期的に前記増設メモリ4の動作チェックを実行することで,経年劣化などによる異常が発生した場合にもそのことを検知することができる。
なお,前記未チェック回数Nに換えて,前記増設メモリ4の動作チェックが実行されていない未チェック時間をカウントしておき,該未チェック時間が予め設定された所定値以上に達したときに前記増設メモリ4の動作チェックを実行することも他の実施例として考えられる。係る処理を実行するときの前記CPU1も定期メモリチェック手段に相当する。
このように,前記制御装置Xでは,該制御装置Xが起動されるときに常に前記増設メモリ4の動作チェックを実行せず,前記増設メモリ4の動作チェックの実行頻度を下げることで,前記制御装置Xの起動に要する平均時間を短縮している。しかも,その一方で,前記増設メモリ4に異常が発生している可能性が比較的高い場合に,該増設メモリ4の動作チェックを実行することで,できるだけ高い信頼性を確保している。
As described above, in the memory check process executed by the control device X, the cover monitoring circuit 7 detects that the cover member 6 is opened while the control device X is powered off. If not, the operation check of only the standard memory 3 is performed when the control device X is started, and the cover member 6 is opened while the power of the control device X is turned off by the cover monitoring circuit 7. If it is detected that the control device X has been activated, an operation check of the standard memory 3 and the additional memory 4 is executed. Here, the CPU 1 when executing the memory check process corresponds to the memory check means.
Even if the expansion memory 4 is not attached or detached, an abnormality may occur in the expansion memory 4 due to deterioration over time. In the memory check process, the operation check of the expansion memory 4 is performed when the control device X is started. When the unchecked number N indicating the number of times of the unchecked execution has reached a predetermined value (here, 10 times) or more and the check flag F is set, It is controlled to perform an operation check. Here, the CPU 1 when executing such processing corresponds to a periodic memory check means. As described above, by periodically checking the operation of the additional memory 4, it is possible to detect the occurrence of an abnormality due to deterioration over time.
Instead of the unchecked count N, an unchecked time during which the operation check of the additional memory 4 has not been executed is counted, and when the unchecked time reaches a predetermined value or more, Executing an operation check of the additional memory 4 can be considered as another embodiment. The CPU 1 when executing such processing also corresponds to regular memory check means.
As described above, the control device X does not always execute the operation check of the additional memory 4 when the control device X is activated, and reduces the frequency of execution of the operation check of the additional memory 4 to reduce the control control X. The average time required for starting the apparatus X is shortened. On the other hand, when the possibility that an abnormality has occurred in the additional memory 4 is relatively high, an operation check of the additional memory 4 is executed to ensure as high reliability as possible.

本発明の実施の形態に係る制御装置の概略構成を示す模式図。The schematic diagram which shows schematic structure of the control apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る制御装置で実行されるメモリチェック処理の手順の一例を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating an example of the procedure of the memory check process performed with the control apparatus which concerns on embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1:CPU(演算装置の一例)
2:ROM
3:標準メモリ
4:増設メモリ
5:メモリスロット(メモリ装着部)
6:カバー部材
7:カバー監視回路(カバー開検知手段の一例)
71:開閉スイッチ
72:コンデンサ
73:抵抗
74:トランジスタ
S1,S2…:処理手順(ステップ)番号
X:制御装置
1: CPU (an example of an arithmetic unit)
2: ROM
3: Standard memory 4: Additional memory 5: Memory slot (memory mounting part)
6: Cover member 7: Cover monitoring circuit (an example of cover open detection means)
71: Open / close switch 72: Capacitor 73: Resistor 74: Transistors S1, S2...: Processing procedure (step) number X: Control device

Claims (3)

データの記憶領域を有する標準メモリと,増設メモリが装着されるメモリ装着部と,前記増設メモリを前記メモリ装着部に装着する際に開かれるカバー部材と,前記標準メモリのみを用いて,或いは前記標準メモリ及び前記増設メモリを用いて各種の処理を実行する演算装置とを備えてなる情報処理装置であって,
当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことを検知するカバー開検知手段と,
前記カバー開検知手段により当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことが検知されていない場合は,当該情報処理装置の起動時に前記標準メモリのみの動作チェックを実行し,前記カバー開検知手段により当該情報処理装置の電源が切られている間に前記カバー部材が開かれたことが検知された場合は,当該情報処理装置の起動時に前記標準メモリ及び前記増設メモリの動作チェックを実行するメモリチェック手段と,
を備えてなることを特徴とする情報処理装置。
A standard memory having a data storage area, a memory mounting portion to which an additional memory is mounted, a cover member that is opened when the additional memory is mounted to the memory mounting portion, and using only the standard memory, or An information processing apparatus comprising a standard memory and an arithmetic device that executes various processes using the additional memory,
Cover opening detection means for detecting that the cover member is opened while the information processing apparatus is powered off;
If it is not detected by the cover open detection means that the cover member has been opened while the information processing apparatus is powered off, an operation check of only the standard memory is performed when the information processing apparatus is activated. When the information processing apparatus detects that the cover member has been opened while the information processing apparatus is powered off, the standard memory and the expansion are executed when the information processing apparatus is activated. A memory check means for performing a memory operation check;
An information processing apparatus comprising:
当該情報処理装置の起動時に前記メモリチェック手段による前記増設メモリの動作チェックが実行されなかった未チェック回数,或いは,前記増設メモリの動作チェックが実行されていない未チェック時間のカウントを行うカウンタ手段と,
前記カウンタ手段によりカウントされた前記未チェック回数或いは前記未チェック時間が予め設定された所定値以上に達した場合に,前記増設メモリの動作チェックを実行する定期メモリチェック手段と,
を更に備えてなる請求項1に記載の情報処理装置。
Counter means for counting the number of unchecked times when the operation check of the additional memory is not executed by the memory check means at the time of starting the information processing apparatus, or the unchecked time when the operation check of the additional memory is not executed; ,
Periodic memory check means for performing an operation check of the additional memory when the unchecked count or unchecked time counted by the counter means reaches a predetermined value or more,
The information processing apparatus according to claim 1, further comprising:
請求項1又は2のいずれかに記載の情報処理装置を備えてなる電子機器。   An electronic apparatus comprising the information processing apparatus according to claim 1.
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