JP2009098392A

JP2009098392A - Imaging device

Info

Publication number: JP2009098392A
Application number: JP2007269732A
Authority: JP
Inventors: Tomoyuki Kuwata; 知由己桑田; Takeshi Utagawa; 健歌川
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 2007-10-17
Filing date: 2007-10-17
Publication date: 2009-05-07

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To satisfactorily detect information on the imaging of an object and imaging conditions. SOLUTION: The imaging device 100 includes: an imaging part 17 imaging an object imaged by an imaging lens 13; a detection part 15 detecting the information on the imaging conditions using a light beam L1 directed from the imaging lens 13 toward the imaging part 17; a light beam splitting means splitting the light beam L1 into a first light beam L4 introduced into the imaging part 17 and a second light beam L3 introduced into the detection part 15; and a member 60 preventing light generated by the reflection of the second light beam L3 at the detection part 15 from being incident on the imaging part 17. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、被写体の撮影中に焦点検出などの撮影に関わる情報の検出が可能な撮像装置に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus capable of detecting information related to shooting such as focus detection during shooting of a subject.

動画や静止画の撮像装置には、撮影レンズを通った光（被写体光）を分岐して一方の光束を撮像素子に導き、他方の光束を位相差検出方式の焦点検出装置に導くことにより、撮像とオートフォーカス（ＡＦ）を同時に行う装置がある。この種の撮像装置としては、半透過性のハーフミラーで被写体光を２つの光束に分岐して透過光を撮像に用い、反射光を焦点検出に用いる装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００４−２６４８３２号公報 In an imaging device for moving images and still images, light (subject light) that has passed through a photographing lens is branched and one light beam is guided to an imaging device, and the other light beam is guided to a phase difference detection type focus detection device, There are devices that simultaneously perform imaging and autofocus (AF). As this type of imaging apparatus, an apparatus is known in which subject light is split into two light beams by a semi-transparent half mirror, the transmitted light is used for imaging, and reflected light is used for focus detection (for example, Patent Documents). 1).
JP 2004-264832 A

しかしながら、上述した従来の撮像装置では、撮像とＡＦを同時に行うにあたり、焦点検出装置の最前面にあるレンズ面で反射した光が、ハーフミラーを透過し、カメラボディ内面で反射し、さらにハーフミラーで反射すると、その光が撮像素子に入ってしまい、撮像に有害であった。特に、焦点検出エリアを広く取ろうとすると、ハーフミラーに関して撮像面共役な面を水平に近くせざるを得ない。その結果、焦点検出装置で反射しハーフミラーを透過した迷光が、ペンタプリズムの下面にほぼ垂直に入射することになる。ここで反射した光は、乱反射と比べ強い光となるので、結局、撮像に有害な度合いが大きいという問題があった。 However, in the conventional imaging device described above, when imaging and AF are performed simultaneously, the light reflected by the lens surface at the forefront of the focus detection device is transmitted through the half mirror, reflected by the inner surface of the camera body, and further the half mirror. When the light is reflected, the light enters the image sensor, which is harmful to the imaging. In particular, when trying to take a wide focus detection area, the imaging plane conjugate plane with respect to the half mirror must be made almost horizontal. As a result, the stray light reflected by the focus detection device and transmitted through the half mirror enters the lower surface of the pentaprism almost perpendicularly. Since the light reflected here is stronger than the irregular reflection, there is a problem that the degree of harmfulness to imaging is high.

（１）請求項１の発明による撮像装置は、撮影レンズにより形成された被写体像を撮像する撮像部と、撮影レンズから撮像部へ向かう光束を用いて撮影条件に関わる情報を検出する検出部と、撮影レンズから撮像部へ向かう光束を、撮像部に導く第１の光束と、検出部に導く第２の光束とに分岐する光束分岐手段と、第２の光束が検出部で反射して発生する光が撮像部へ入射するのを阻止するための部材とを備えることを特徴とする。
（２）請求項２の発明は、請求項１に記載の撮像装置において、光束分岐手段は、撮影レンズから撮像部へ向かう光束を反射して、その反射光を第１の光束および第２の光束のいずれか一方とする光学素子であり、阻止するための部材は、光学素子に対して反射光の進行方向と逆方向の位置に、光学素子に対向して配置される反射防止部材であることを特徴とする。
（３）請求項３の発明による撮像装置は、撮影レンズにより形成された被写体像を撮像する撮像部と、撮影レンズから撮像部へ向かう光束を用いて撮影条件に関わる情報を検出する検出部と、撮影レンズと撮像部の間の光路上に配置され、光束を反射してその反射光を撮像部および検出部のいずれか一方に導き、反射光以外の光束を撮像部および検出部のいずれか他方に導く光学素子と、光学素子に対して反射光の進行方向と逆方向の位置に、光学素子に対向して配置される反射防止部材とを備えることを特徴とする。
（４）請求項４の発明は、請求項２または３に記載の撮像装置において、光学素子は、反射光を撮像部に導き、反射光以外の光束を検出部に導くように配置されることを特徴とする。
（５）請求項５の発明は、請求項２から４のいずれか１項に記載の撮像装置において、被写体像を観察するための光学ファインダをさらに備え、光学素子は、入射する光束を光学ファインダに導く第１の位置と撮像部に導く第２の位置との間で移動し、反射防止部材は、光学素子と光学ファインダの間の光路上に配置されることを特徴とする。
（６）請求項６の発明は、請求項５に記載の撮像装置において、光学素子は、撮影レンズと検出部とを結ぶ直線上に配置され、撮像部および光学ファインダは、直線と交差する方向にそれぞれ配置されることを特徴とする。
（７）請求項７の発明は、請求項５または６に記載の撮像装置において、第１の位置の光学素子は、撮影レンズからの光束を透過して検出部に、反射して光学ファインダに導くとともに、第２の位置の光学素子は、撮影レンズからの光束を透過して検出部に、反射して撮像部に導くことを特徴とする。
（８）請求項８の発明は、請求項５〜７のいずれか１項に記載の撮像装置において、光学素子と光学ファインダの間の光路に進退可能に配置され、光学ファインダから光学素子に入射する光を遮る遮光部材をさらに備え、反射防止部材は、遮光部材に設けられることを特徴とする。
（９）請求項９の発明は、請求項８に記載の撮像装置において、遮光部材は、光学素子が第１の位置をとるときは、光学素子と光学ファインダの間の光路から退避した位置にあることを特徴とする。
（１０）請求項１０の発明は、請求項２〜９のいずれか１項に記載の撮像装置において、反射防止部材は、多数の針状突起からなる反射防止層を有することを特徴とする。
（１１）請求項１１の発明は、請求項１０に記載の撮像装置において、針状突起の各々は、先端が尖った錐体状であることを特徴とする。
（１２）請求項１２の発明は、請求項１０または１１に記載の撮像装置において、反射防止部材は、シリコン製またはガラス製の母型から電鋳により製作される金型を用い、樹脂成形により複製されることを特徴とする。
（１３）請求項１３の発明は、請求項１〜１２のいずれか１項に記載の撮像装置において、検出部は、撮像部による撮像と同時に撮影条件に関わる情報を検出する処理を実行することを特徴とする。 (1) An image pickup apparatus according to a first aspect of the present invention includes an image pickup unit that picks up a subject image formed by a photographing lens, and a detection unit that detects information related to photographing conditions using a light beam directed from the photographing lens to the image pickup unit. , A light beam branching means for branching a light beam traveling from the photographing lens to the imaging unit into a first light beam guided to the imaging unit and a second light beam guided to the detection unit, and the second light beam reflected by the detection unit And a member for preventing incident light from entering the imaging unit.
(2) According to the invention of claim 2, in the image pickup apparatus according to claim 1, the light beam branching means reflects the light beam traveling from the photographing lens to the imaging unit, and the reflected light is reflected to the first light beam and the second light beam. The optical element that is one of the light beams, and the blocking member is an antireflection member that is disposed opposite the optical element at a position opposite to the traveling direction of the reflected light with respect to the optical element. It is characterized by that.
(3) An image pickup apparatus according to a third aspect of the invention includes an image pickup unit that picks up a subject image formed by a photographing lens, and a detection unit that detects information related to photographing conditions using a light beam directed from the photographing lens to the image pickup unit. Arranged on the optical path between the photographic lens and the imaging unit, reflects the light beam and guides the reflected light to either the imaging unit or the detection unit, and transmits the light beam other than the reflected light to either the imaging unit or the detection unit An optical element guided to the other, and an antireflection member disposed opposite to the optical element at a position opposite to the traveling direction of the reflected light with respect to the optical element.
(4) According to the invention of claim 4, in the imaging device according to claim 2 or 3, the optical element is disposed so as to guide the reflected light to the imaging unit and guide a light beam other than the reflected light to the detection unit. It is characterized by.
(5) The invention of claim 5 is the image pickup apparatus according to any one of claims 2 to 4, further comprising an optical finder for observing a subject image, wherein the optical element transmits the incident light beam to the optical finder. The antireflection member is disposed on the optical path between the optical element and the optical finder, and moves between a first position leading to the imaging unit and a second position leading to the imaging unit.
(6) According to a sixth aspect of the present invention, in the imaging apparatus according to the fifth aspect, the optical element is disposed on a straight line connecting the photographing lens and the detecting unit, and the imaging unit and the optical finder intersect the straight line. Are arranged respectively.
(7) The invention of claim 7 is the imaging device according to claim 5 or 6, wherein the optical element at the first position transmits the light beam from the photographing lens and reflects it to the detection unit and reflects it to the optical viewfinder. At the same time, the optical element at the second position transmits the light beam from the photographic lens, reflects it to the detection unit, and guides it to the imaging unit.
(8) The invention according to claim 8 is the imaging apparatus according to any one of claims 5 to 7, wherein the imaging device is disposed so as to be able to advance and retract in an optical path between the optical element and the optical viewfinder, and is incident on the optical element from the optical viewfinder And a light blocking member that blocks light to be transmitted, and the antireflection member is provided on the light blocking member.
(9) The invention according to claim 9 is the imaging device according to claim 8, wherein the light shielding member is at a position retracted from the optical path between the optical element and the optical viewfinder when the optical element takes the first position. It is characterized by being.
(10) The invention according to claim 10 is the imaging apparatus according to any one of claims 2 to 9, wherein the antireflection member has an antireflection layer including a large number of needle-like protrusions.
(11) According to an eleventh aspect of the present invention, in the imaging device according to the tenth aspect, each of the needle-like protrusions has a cone shape with a sharp tip.
(12) According to a twelfth aspect of the present invention, in the imaging device according to the tenth or eleventh aspect, the antireflection member is a resin mold using a die manufactured by electroforming from a silicon or glass matrix. It is duplicated.
(13) The invention according to claim 13 is the imaging apparatus according to any one of claims 1 to 12, wherein the detection unit executes processing for detecting information related to the imaging condition simultaneously with imaging by the imaging unit. It is characterized by.

本発明の撮像装置によれば、被写体の撮像と撮影条件に関わる情報の検出が良好にできる。 According to the imaging apparatus of the present invention, it is possible to satisfactorily detect information relating to imaging of an object and imaging conditions.

＜第１の実施の形態＞
以下、本発明の第１の実施の形態による撮像装置について図１および図２を参照しながら説明する。 <First Embodiment>
The imaging apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

図１および図２は、第１の実施の形態による電子カメラを模式的に示す構成図であり、後述する遮光板３１，３２の動作前後の状態をそれぞれ示す。 FIG. 1 and FIG. 2 are configuration diagrams schematically showing the electronic camera according to the first embodiment, and show states before and after operation of light shielding plates 31 and 32, which will be described later.

図１および２を参照すると、電子カメラ１００は、カメラ本体１１とレンズユニット１２とを有し、カメラ本体１１およびレンズユニット１２には、雌雄の関係をなす一対のマウント（不図示）がそれぞれ設けられている。レンズユニット１２は、上記のマウントをバヨネット機構等で結合させることで、カメラ本体１１に対して交換可能に接続される。また、上記のマウントにはそれぞれ電気接点が設けられている。カメラ本体１１とレンズユニット１２との接続時には、電気接点間の接触で両者の電気的な接続が確立するようになっている。 Referring to FIGS. 1 and 2, an electronic camera 100 includes a camera body 11 and a lens unit 12, and the camera body 11 and the lens unit 12 are provided with a pair of mounts (not shown) that form a male and female relationship, respectively. It has been. The lens unit 12 is connected to the camera body 11 in an exchangeable manner by coupling the above mounts with a bayonet mechanism or the like. Each of the mounts is provided with an electrical contact. When the camera body 11 and the lens unit 12 are connected, electrical connection between the two is established by contact between the electrical contacts.

レンズユニット１２は、ズームレンズおよびフォーカシングレンズを含む撮影レンズ１３と、入射光量を調節する絞り（不図示）とを有している。撮影レンズ１３のズームレンズおよびフォーカシングレンズは、不図示のモータによって光軸Ｌ１の方向に移動可能に構成されている。なお、図1以下では、便宜上、レンズユニット１２内の撮影レンズ１３を１枚のレンズで図示する。 The lens unit 12 includes a photographing lens 13 including a zoom lens and a focusing lens, and a diaphragm (not shown) that adjusts the amount of incident light. The zoom lens and focusing lens of the photographic lens 13 are configured to be movable in the direction of the optical axis L1 by a motor (not shown). In FIG. 1 and subsequent figures, for convenience, the photographing lens 13 in the lens unit 12 is illustrated as a single lens.

カメラ本体１１の内部には、半透過ミラー１４と、焦点検出ユニット１５と、光学的ローパスフィルタ（ＯＬＰＦ）１６と、撮像素子１７と、ファインダ光学系を構成する光学ファインダ２０と、遮光ユニット３０とが配置されている。光学ファインダ２０は、拡散スクリーン（焦点板）２１と、コンデンサレンズ２２と、ペンタプリズム２３と、接眼レンズ２４とを有している。遮光ユニット３０には、薄板状の２枚の遮光板３１，３２が内蔵されている。また、カメラ本体１１の背面にはモニタ１８が配置されている。 Inside the camera body 11, there are a transflective mirror 14, a focus detection unit 15, an optical low-pass filter (OLPF) 16, an image sensor 17, an optical finder 20 constituting a finder optical system, and a light shielding unit 30. Is arranged. The optical viewfinder 20 includes a diffusion screen (focus plate) 21, a condenser lens 22, a pentaprism 23, and an eyepiece lens 24. The light shielding unit 30 incorporates two thin light shielding plates 31 and 32. A monitor 18 is arranged on the back of the camera body 11.

半透過ミラー１４および焦点検出ユニット１５は、撮影レンズ１３の光軸Ｌ１に沿って配置されている。半透過ミラー１４は、焦点検出ユニット１５の前方（図中、左方）に位置し、撮影レンズ１３と焦点検出ユニット１５とを結ぶ直線上に半透過ミラー１４が配置された構成となっている。 The semi-transmissive mirror 14 and the focus detection unit 15 are disposed along the optical axis L1 of the photographing lens 13. The semi-transmission mirror 14 is positioned in front of the focus detection unit 15 (left side in the figure), and the semi-transmission mirror 14 is arranged on a straight line connecting the photographing lens 13 and the focus detection unit 15. .

ＯＬＰＦ１６および撮像素子１７はカメラ本体１１の下部に配置され、光学ファインダ２０はカメラ本体１１の上部に配置されている。ＯＬＰＦ１６は半透過ミラー１４と撮像素子１７の間に配置されている。すなわち、ＯＬＰＦ１６および撮像素子１７と光学ファインダ２０とは、それぞれ撮影レンズ１３と焦点検出ユニット１５とを結ぶ直線と交差する方向に配置されている。遮光ユニット３０は、半透過ミラー１４と光学ファインダ２０の間に配置されている。 The OLPF 16 and the image sensor 17 are disposed at the lower part of the camera body 11, and the optical viewfinder 20 is disposed at the upper part of the camera body 11. The OLPF 16 is disposed between the semi-transmissive mirror 14 and the image sensor 17. That is, the OLPF 16, the image sensor 17, and the optical viewfinder 20 are arranged in a direction intersecting with a straight line connecting the photographing lens 13 and the focus detection unit 15, respectively. The light shielding unit 30 is disposed between the semi-transmissive mirror 14 and the optical viewfinder 20.

電子カメラ１００の主要構成部品について詳細に説明する。半透過ミラー１４は、平板状を呈し、一方の表面を反射面１４Ａとしており、その反射面１４Ａには半透過膜が蒸着されている。この半透過ミラー１４は、撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１を２方向に分岐させる機能、すなわち、光束Ｌ１の光量の一部分を反射し、残りの部分を透過させる機能を有する。半透過ミラー１４は、図中、紙面に垂直な回転軸１４ａ廻りに揺動可能に軸支されており、不図示の回転機構により回転して図１で示される第１の位置（第１状態）と図２で示される第２の位置（第２状態）とに切り替え可能となっている。半透過ミラー１４を図１に示す第１状態から図２に示す第２状態へ切替えるときは反時計回りＲ１に回転させ、第２状態から第１状態へ切替えるときは時計回りＲ２に回転させる。 The main components of the electronic camera 100 will be described in detail. The semi-transmissive mirror 14 has a flat plate shape, one surface of which is a reflective surface 14A, and a semi-transmissive film is deposited on the reflective surface 14A. The semi-transmissive mirror 14 has a function of branching the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13 in two directions, that is, a function of reflecting a part of the light amount of the light beam L1 and transmitting the remaining part. The semi-transparent mirror 14 is pivotally supported around a rotation axis 14a perpendicular to the paper surface in the figure, and is rotated by a rotation mechanism (not shown) to be in a first position (first state) shown in FIG. ) And the second position (second state) shown in FIG. The semi-transmission mirror 14 is rotated counterclockwise R1 when switching from the first state shown in FIG. 1 to the second state shown in FIG. 2, and is rotated clockwise R2 when switching from the second state to the first state.

遮光ユニット３０は、２枚の遮光板３１，３２が水平方向（図中、左右方向）に移動可能に構成され、遮光板３１，３２の半透過ミラー１４側の面には反射防止部材６０が配設されている。反射防止部材６０は、反射率が非常に低いため入射した光をほとんど反射しない。遮光板３１，３２は、不図示の駆動機構により駆動され、半透過ミラー１４と拡散スクリーン２１の間の光路上に展開する遮蔽状態と、光路から退避して遮光ユニット３０内に重ね合わされる退避状態とに切り替え可能となっている。遮光ユニット３０を図１に示す退避状態から図２に示す遮蔽状態へ切替えるときは遮光板３１，３２を左方向Ｈ１へスライドし、遮蔽状態から退避状態へ切替えるときは右方向Ｈ２へスライドする。なお、遮光板は、２枚に限らず、１枚でもよいし３枚以上でもよい。 The light shielding unit 30 is configured such that two light shielding plates 31 and 32 can move in the horizontal direction (left and right in the figure), and an antireflection member 60 is provided on the surface of the light shielding plates 31 and 32 on the semi-transmissive mirror 14 side. It is arranged. Since the reflection preventing member 60 has a very low reflectance, it hardly reflects incident light. The light shielding plates 31, 32 are driven by a driving mechanism (not shown), and are in a shielded state that develops on the optical path between the semi-transmissive mirror 14 and the diffusing screen 21, and a retreat that is retracted from the optical path and overlapped in the light shielding unit 30. It is possible to switch to the state. When the light-shielding unit 30 is switched from the retracted state shown in FIG. 1 to the shielded state shown in FIG. 2, the light-shielding plates 31 and 32 are slid in the left direction H1, and when switched from the shielded state to the retracted state, they are slid in the right direction H2. The number of light shielding plates is not limited to two, but may be one or three or more.

図１には、半透過ミラー１４が反射面１４Ａを上向きに傾斜した第１の位置にある状態が示されている。第１状態の半透過ミラー１４は、撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を上方へ反射する。遮光ユニット３０の遮光板３１，３２が退避状態となっているので、反射光Ｌ２は光学ファインダ２０に入射する。一方、この第１状態の半透過ミラー１４を透過する光束Ｌ３は、後方に配置された焦点検出ユニット１５に導かれる。 FIG. 1 shows a state where the semi-transmissive mirror 14 is in a first position where the reflecting surface 14A is inclined upward. The semi-transmissive mirror 14 in the first state reflects the light beam L1 from the photographing lens 13 upward. Since the light shielding plates 31 and 32 of the light shielding unit 30 are in the retracted state, the reflected light L2 enters the optical viewfinder 20. On the other hand, the light beam L3 transmitted through the semi-transmissive mirror 14 in the first state is guided to the focus detection unit 15 disposed at the rear.

光学ファインダ２０に導かれた反射光Ｌ２は、半透過ミラー１４の上方に位置する拡散スクリーン２１上で一旦結像する。拡散スクリーン２１上で結像した反射光束Ｌ２は、コンデンサレンズ２２およびペンタプリズム２３を通過し、ペンタプリズム２３の入射面に対して９０°の角度をもった射出面に導かれる。そして、ペンタプリズム２３を通過した反射光束Ｌ２は、接眼レンズ２４を介してユーザーの目に到達する。以上の説明から明らかなように、第１の実施の形態による電子カメラ１００では、半透過ミラー１４が第１状態にあるとき、焦点検出ユニット１５によるＡＦと、光学ファインダ２０による被写体像の観察を同時に行うことができる。 The reflected light L2 guided to the optical viewfinder 20 forms an image once on the diffusion screen 21 located above the semi-transmissive mirror 14. The reflected light beam L2 imaged on the diffusing screen 21 passes through the condenser lens 22 and the pentaprism 23 and is guided to the exit surface having an angle of 90 ° with respect to the incident surface of the pentaprism 23. Then, the reflected light beam L 2 that has passed through the pentaprism 23 reaches the eyes of the user via the eyepiece lens 24. As is clear from the above description, in the electronic camera 100 according to the first embodiment, when the semi-transmissive mirror 14 is in the first state, AF by the focus detection unit 15 and observation of the subject image by the optical finder 20 are performed. Can be done simultaneously.

図２には、半透過ミラー１４が第２の位置にある状態が示されている。半透過ミラー１４は、上述した第１状態から反時計回りＲ１にほぼ９０°回転した姿勢をとり、反射面１４Ａが下向きに傾斜している。この第２状態の半透過ミラー１４は、撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を下方へ反射し、反射光Ｌ４をＯＬＰＦ１６経由で撮像素子１７に導く。第２状態においても、半透過ミラー１４を透過する光束は、後方に配置された焦点検出ユニット１５に導かれる。このように、半透過ミラー１４が第２状態にあるとき、焦点検出ユニット１５によるＡＦと、撮像素子１７による被写体の撮影を同時に行うことができる。 FIG. 2 shows a state where the semi-transmissive mirror 14 is in the second position. The semi-transmissive mirror 14 takes a posture rotated approximately 90 ° counterclockwise R1 from the first state described above, and the reflecting surface 14A is inclined downward. The semi-transmissive mirror 14 in the second state reflects the light beam L1 from the photographing lens 13 downward, and guides the reflected light L4 to the image sensor 17 via the OLPF 16. Even in the second state, the light beam passing through the semi-transmissive mirror 14 is guided to the focus detection unit 15 disposed at the rear. Thus, when the semi-transmissive mirror 14 is in the second state, AF by the focus detection unit 15 and photographing of the subject by the image sensor 17 can be performed simultaneously.

図３は、第１の実施形態のカメラ本体１１の制御回路１１１を示すブロック図である。制御回路１１１は、Ａ／Ｄ変換部４１と、バッファメモリ４２と、画像処理部４３と、記録Ｉ／Ｆ４４と、表示Ｉ／Ｆ４５と、操作部４６と、レリーズ釦４７と、エリアセンサ４８と、ＣＰＵ４９と、システムバス５０と、駆動制御部５２とを有している。バッファメモリ４２、画像処理部４３、記録Ｉ／Ｆ４４、表示Ｉ／Ｆ４５およびＣＰＵ４９は、システムバス５０を介して接続されている。 FIG. 3 is a block diagram illustrating the control circuit 111 of the camera body 11 according to the first embodiment. The control circuit 111 includes an A / D conversion unit 41, a buffer memory 42, an image processing unit 43, a recording I / F 44, a display I / F 45, an operation unit 46, a release button 47, an area sensor 48, CPU 49, system bus 50, and drive control unit 52. The buffer memory 42, the image processing unit 43, the recording I / F 44, the display I / F 45, and the CPU 49 are connected via a system bus 50.

焦点検出ユニット１５は、半透過ミラー１４を透過した光束に基づいていわゆる位相差式で焦点検出を行なう。具体的には、焦点検出ユニット１５は、不図示のセパレータレンズで分割した被写体像の像ズレ量を検出し、フォーカシングレンズのデフォーカス量（合焦位置からのズレ量およびズレ方向）を演算する。この焦点検出ユニット１５の入出力はＣＰＵ４９に接続されている。 The focus detection unit 15 performs focus detection by a so-called phase difference type based on the light beam transmitted through the semi-transmissive mirror 14. Specifically, the focus detection unit 15 detects the image shift amount of the subject image divided by a separator lens (not shown), and calculates the defocus amount (shift amount and shift direction from the in-focus position) of the focusing lens. . The input / output of the focus detection unit 15 is connected to the CPU 49.

撮像素子１７は、図２に示す第２状態の半透過ミラー１４からの反射光を光電変換して被写体像を撮像する。撮像素子１７の出力はＡ／Ｄ変換部４１に接続されている。撮像素子１７は、撮影時に記録用画像（本画像）を撮影するとともに、撮影待機時（非撮影時）にも所定間隔毎に間引き読み出しを行ってスルー画像のデータを出力する。上記のスルー画像のデータは、ＣＰＵ４９による各種の演算処理やモニタ１８等での表示などに使用される。 The image sensor 17 photoelectrically converts the reflected light from the semi-transmissive mirror 14 in the second state shown in FIG. 2 to capture a subject image. The output of the image sensor 17 is connected to the A / D converter 41. The image sensor 17 captures a recording image (main image) at the time of shooting, and also performs thinning-out reading at predetermined intervals and outputs through-image data even during standby for shooting (non-shooting). The through-image data is used for various arithmetic processes by the CPU 49 and display on the monitor 18 or the like.

Ａ／Ｄ変換部４１は撮像素子１７の出力信号をＡ／Ｄ変換する。このＡ／Ｄ変換部４１の出力はバッファメモリ４２に入力され、バッファメモリ４２は、画像処理部４３での画像処理の前工程および後工程でのデータを一時的に保存する。 The A / D conversion unit 41 A / D converts the output signal of the image sensor 17. The output of the A / D conversion unit 41 is input to the buffer memory 42, and the buffer memory 42 temporarily stores data in the pre-process and post-process of the image processing in the image processing unit 43.

画像処理部４３は、撮像素子１７から出力された画像信号に所定の画像処理（欠陥画素補正、ガンマ補正、補間、色変換、エッジ強調などの処理）を施して画像データを生成する。また、画像処理部４３では画像データの圧縮伸長処理なども実行する。さらに、画像処理部４３は、後述の電子ビューファインダ使用時に、ＣＰＵ４９の指示によりスルー画像のデータから表示用画像（ビュー画像）を生成する。 The image processing unit 43 performs predetermined image processing (processing such as defective pixel correction, gamma correction, interpolation, color conversion, and edge enhancement) on the image signal output from the image sensor 17 to generate image data. The image processing unit 43 also executes image data compression / decompression processing and the like. Further, the image processing unit 43 generates a display image (view image) from the through image data in accordance with an instruction from the CPU 49 when an electronic viewfinder described later is used.

記録Ｉ／Ｆ４４には記録媒体５１を接続するためのコネクタが形成されている。記録Ｉ／Ｆ４４は、コネクタに接続された記録媒体５１に対して撮影画像データの書き込み／読み込みを実行する。記録媒体５１は、ハードディスクや半導体メモリを内蔵したメモリカードなどで構成される。なお、図３では記録媒体５１の一例としてメモリカードを図示する。 A connector for connecting the recording medium 51 is formed in the recording I / F 44. The recording I / F 44 executes writing / reading of photographed image data with respect to the recording medium 51 connected to the connector. The recording medium 51 is composed of a hard disk or a memory card incorporating a semiconductor memory. In FIG. 3, a memory card is illustrated as an example of the recording medium 51.

表示Ｉ／Ｆ４５は、ＣＰＵ４９の指示に基づいてモニタ１８の表示を制御する。モニタ１８は、ＣＰＵ４９の指示により表示Ｉ／Ｆ４５を介して各種画像を表示する。モニタ１８には、後述の電子ビューファインダ使用時に、ビュー画像が動画表示される。モニタ１８は、オンスクリーン機能によって、撮影に必要となる各種情報の表示（例えば、撮影可能なフレーム数、焦点検出エリアの位置など）をビュー画像に重畳表示させることもできる。モニタ１８には、本画像のデータに基づく再生画像や、ＧＵＩ(Graphical User Interface)形式の入力が可能なメニュー画面なども表示できる。なお、モニタ１８の表示画面の図示は省略する。 The display I / F 45 controls the display on the monitor 18 based on an instruction from the CPU 49. The monitor 18 displays various images via the display I / F 45 according to instructions from the CPU 49. On the monitor 18, a view image is displayed as a moving image when an electronic viewfinder, which will be described later, is used. The monitor 18 can also superimpose and display various information necessary for shooting (for example, the number of frames that can be shot, the position of the focus detection area, etc.) on the view image by the on-screen function. The monitor 18 can display a reproduction image based on the data of the main image, a menu screen that allows input in a GUI (Graphical User Interface) format, and the like. Illustration of the display screen of the monitor 18 is omitted.

操作部４６は、例えば、撮影に関する３つのモードの切替を行うことができる。撮影に関するモードの切替では、単写モードと、連写モードと、動画モードとのいずれかをユーザーが選択できる。なお、各々のモードの詳細な説明については後述する。 The operation unit 46 can switch, for example, three modes related to photographing. In switching between modes related to shooting, the user can select one of a single shooting mode, a continuous shooting mode, and a moving image mode. Detailed description of each mode will be described later.

レリーズ釦４７は、半押しによる撮影条件決定の指示入力と、全押しによる露光開始の指示入力とをユーザーから受け付ける。 The release button 47 receives from the user an instruction input for determining shooting conditions by half pressing and an instruction for starting exposure by full pressing.

エリアセンサ４８は、画素を二次元に配列した受光素子（光電変換素子）であり、撮影画面を複数に分割して撮影レンズ１３からの光束を測光する。このエリアセンサ４８の出力端子はＣＰＵ４９に接続されている。なお、エリアセンサ４８は、例えばペンタプリズム２３の近傍に配置されている。 The area sensor 48 is a light receiving element (photoelectric conversion element) in which pixels are two-dimensionally arranged, and measures the light flux from the photographing lens 13 by dividing the photographing screen into a plurality of parts. The output terminal of the area sensor 48 is connected to the CPU 49. The area sensor 48 is disposed in the vicinity of the pentaprism 23, for example.

ＣＰＵ４９は、操作部４６の入力に基づいて撮影に関するモードの切替を行うとともに、各々のモードに応じて電子カメラ全体の動作を制御する。例えば、ＣＰＵ４９は、駆動制御部５２により半透過ミラー１４や遮光ユニット３０を駆動するアクチュエータの制御や、撮影時の画像処理プロセスの制御などを実行する。ＣＰＵ４９は、焦点検出ユニット１５のデフォーカス量に基づいて、マウントに設けられた電気接点を介してフォーカシングレンズの動作を制御する。ＣＰＵ４９は、エリアセンサ４８の出力に基づいて公知の自動露出（ＡＥ）演算を実行して撮影条件を決定する。 The CPU 49 switches the mode related to photographing based on the input of the operation unit 46 and controls the operation of the entire electronic camera according to each mode. For example, the CPU 49 performs control of an actuator that drives the semi-transmissive mirror 14 and the light shielding unit 30 by the drive control unit 52, control of an image processing process at the time of photographing, and the like. The CPU 49 controls the operation of the focusing lens via an electrical contact provided on the mount based on the defocus amount of the focus detection unit 15. The CPU 49 executes a known automatic exposure (AE) calculation based on the output of the area sensor 48 to determine the photographing condition.

以下、第１の実施形態の電子カメラ１００における動作を説明する。 Hereinafter, the operation of the electronic camera 100 according to the first embodiment will be described.

図１に示されるように、撮影待機時には、ＣＰＵ４９は、半透過ミラー１４を第１状態にするとともに、遮光ユニット３０の遮光板３１，３２を退避状態とする。したがって、撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１のうち、半透過ミラー１４で反射した光束Ｌ２は光学ファインダ２０に導かれる。そのため、ユーザーは、接眼レンズ２４から撮影画面の状態を観察して、撮影構図を決定するためのフレーミングを行うことができる。撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１のうち、半透過ミラー１４を透過する光束Ｌ３は焦点検出ユニット１５に導かれる。 As shown in FIG. 1, at the time of shooting standby, the CPU 49 places the semi-transmissive mirror 14 in the first state and places the light shielding plates 31 and 32 of the light shielding unit 30 in the retracted state. Therefore, of the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13, the light beam L2 reflected by the semi-transmissive mirror 14 is guided to the optical viewfinder 20. Therefore, the user can perform framing to determine the shooting composition by observing the state of the shooting screen from the eyepiece 24. Of the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13, the light beam L3 that passes through the semi-transmissive mirror 14 is guided to the focus detection unit 15.

レリーズ釦４７が半押しされた場合には、ＣＰＵ４９は、半透過ミラー１４を回動させることなく、焦点検出ユニット１５からデフォーカス量を取得してＡＦを実行する。なお、上記の各動作は、単写モード、連写モード、動画モードのいずれの場合にも共通する。 When the release button 47 is half-pressed, the CPU 49 acquires the defocus amount from the focus detection unit 15 without rotating the semi-transmissive mirror 14 and executes AF. Each of the above operations is common to any of the single shooting mode, the continuous shooting mode, and the moving image mode.

レリーズ釦４７が全押しされると、ＣＰＵ４９は撮影動作を開始する。ＣＰＵ４９は、半透過ミラー１４をＲ１方向に回動させて第２状態にし、さらに遮光ユニット３０の遮光板３１，３２をＨ１方向にスライドさせて遮蔽ユニット３０を遮蔽状態とする。 When the release button 47 is fully pressed, the CPU 49 starts a photographing operation. The CPU 49 rotates the semi-transmissive mirror 14 in the R1 direction to the second state, and further slides the light shielding plates 31 and 32 of the light shielding unit 30 in the H1 direction to place the shielding unit 30 in the shielding state.

上記の動作により、図２に示されるように、撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１のうち、半透過ミラー１４で反射した光束Ｌ４は撮像素子１７に導かれる。また、第２状態においても、撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１のうち、半透過ミラー１４を透過する光束Ｌ３は焦点検出ユニット１５に導かれる。その後、ＣＰＵ４９は、撮像素子１７を駆動させて被写体を撮影し、画像処理部４１に本画像のデータを生成させる。なお、本画像のデータは最終的に記録媒体５１に記録される。 With the above operation, as shown in FIG. 2, among the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13, the light beam L4 reflected by the semi-transmissive mirror 14 is guided to the image sensor 17. Also in the second state, of the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13, the light beam L3 that passes through the semi-transmissive mirror 14 is guided to the focus detection unit 15. Thereafter, the CPU 49 drives the image pickup device 17 to photograph the subject, and causes the image processing unit 41 to generate main image data. The data of the main image is finally recorded on the recording medium 51.

撮影に関するモードの切替について説明する。単写モードが選択されている場合には、ＣＰＵ４９はレリーズ釦４７の全押しに応じて１フレーム分の本画像の撮影を行う。本画像の撮影が終了した後に、ＣＰＵ４９は半透過ミラー１４および遮光ユニット３０を上記の撮影待機時の状態に戻す。 A description will be given of switching of modes related to photographing. When the single shooting mode is selected, the CPU 49 shoots the main image for one frame in response to the release button 47 being fully pressed. After the photographing of the main image is completed, the CPU 49 returns the semi-transmissive mirror 14 and the light shielding unit 30 to the above-described photographing standby state.

連写モードが選択されている場合には、ＣＰＵ４９は、レリーズ釦４７の全押しが解除されるまで複数フレームの本画像を連写撮影する。このとき、ＣＰＵ４９は、焦点検出ユニット１５を動作させて連写撮影中にもＡＦを実行する。連写モードにおいてレリーズ釦４７の全押しが継続している間は、ＣＰＵ４９は本画像の確認用画像（フリーズ画像）をモニタ１８に順次表示することもできる。ユーザーは、モニタ１８のフリーズ画像を確認しつつ連写撮影を行うことができる。そして、レリーズ釦４７の全押しが解除されると、ＣＰＵ４９は、連写撮影を終了して半透過ミラー１４および遮光ユニット３０を上記の撮影待機時の状態に戻す。 When the continuous shooting mode is selected, the CPU 49 continuously captures a plurality of frames of the main image until the release button 47 is fully pressed. At this time, the CPU 49 operates the focus detection unit 15 to execute AF even during continuous shooting. While the release button 47 is fully pressed in the continuous shooting mode, the CPU 49 can sequentially display the confirmation image (freeze image) of the main image on the monitor 18. The user can perform continuous shooting while checking the freeze image on the monitor 18. When the release button 47 is fully pressed, the CPU 49 ends the continuous shooting and returns the semi-transmissive mirror 14 and the light-shielding unit 30 to the shooting standby state.

動画モードが選択されている場合には、ＣＰＵ４９は、レリーズ釦４７の全押しが解除されるまで動画像の撮影を継続する。動画モードでは、ＣＰＵ４９は、１フレーム当たりの解像度（画像サイズ）を連写モードの場合よりも低く設定し、転送速度や記録時間の長さを画質よりも重視した撮影を行う。このとき、ＣＰＵ４９は、焦点検出ユニット１５を動作させて動画撮影中にもＡＦを実行する。動画モードにおいてレリーズ釦４７の全押しが継続している間は、ＣＰＵ４９は撮影した動画像をモニタ１８に表示する。ユーザーは、モニタ１８の画像を観察しつつ撮影を行うことができる。そして、レリーズ釦４７の全押しが解除されると、ＣＰＵ４９は、動画撮影を終了して半透過ミラー１４および遮光ユニット３０を上記の撮影待機時の状態に戻す。 When the moving image mode is selected, the CPU 49 continues to capture moving images until the release button 47 is fully pressed. In the moving image mode, the CPU 49 sets the resolution (image size) per frame to be lower than that in the continuous shooting mode, and performs shooting with emphasis on the transfer speed and the length of the recording time rather than the image quality. At this time, the CPU 49 operates the focus detection unit 15 to execute AF even during moving image shooting. While the release button 47 is fully pressed in the moving image mode, the CPU 49 displays the captured moving image on the monitor 18. The user can take a picture while observing the image on the monitor 18. Then, when the release button 47 is fully pressed, the CPU 49 ends the moving image shooting and returns the semi-transmissive mirror 14 and the light shielding unit 30 to the above-described shooting standby state.

次に、図４を参照しながら、撮像素子１７に入射して画質低下の原因となる有害光について説明する。 Next, with reference to FIG. 4, harmful light that enters the image sensor 17 and causes deterioration in image quality will be described.

図４は、カメラ内部に存在する有害光を説明するための電子カメラの概略構成図である。図４の電子カメラ１０１は、図１または図２の電子カメラ１００から遮光ユニット３０を省略しただけで他の構成は同じである。 FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an electronic camera for explaining harmful light existing inside the camera. The electronic camera 101 of FIG. 4 has the same configuration except that the light shielding unit 30 is omitted from the electronic camera 100 of FIG. 1 or FIG.

有害光は２つあり、一つは、焦点検出ユニット１５の検出器の表面１５Ａで反射する表面反射光Ｌ５である。この表面反射光Ｌ５は、半透過ミラー１４の反射面１４Ａで裏面反射して上方に進み、次に拡散スクリーン２１で反射して下方に進み、半透過ミラー１４を透過してＯＬＰＦ１６を経て撮像素子１７へと入射する。表面反射光Ｌ５は、ノイズとなるので、撮像素子１７で撮像される被写体像の画質に悪影響を及ぼす。また、表面反射光Ｌ５の一部分が上記の光路を外れて電子カメラの内壁で反射を繰り返し、迷光として撮像素子１７へ入射する場合もある。 There are two types of harmful light, and one is surface reflected light L5 reflected by the detector surface 15A of the focus detection unit 15. The front surface reflected light L5 is reflected on the back surface by the reflecting surface 14A of the semi-transmissive mirror 14 and travels upward, then reflected by the diffusion screen 21 and travels downward, passes through the semi-transmissive mirror 14 and passes through the OLPF 16 to obtain an image sensor. 17 is incident. Since the surface reflected light L5 becomes noise, it adversely affects the image quality of the subject image captured by the image sensor 17. In addition, part of the surface reflected light L5 may be off the optical path and repeatedly reflected on the inner wall of the electronic camera, and may enter the image sensor 17 as stray light.

もう一つの有害光は、接眼レンズ２４から入射する外光Ｌ６である。この外光Ｌ６は、光学ファインダ２０を経由して下方に進み、半透過ミラー１４を透過してＯＬＰＦ１６を経て撮像素子１７へと入射する。外光Ｌ６もノイズとなるので、撮像素子１７で撮像される被写体像の画質に悪影響を及ぼす。また、外光Ｌ６の一部分が上記の光路を外れて電子カメラの内壁で反射を繰り返し、迷光として撮像素子１７へ入射する場合もある。なお、撮影時に外光Ｌ６を遮蔽するために、ペンタプリズム２３と接眼レンズ２４の間の光路に進退自在なアイピースシャッタを設ける方法がある。 Another harmful light is the external light L6 incident from the eyepiece lens 24. The outside light L6 travels downward through the optical finder 20, passes through the semi-transmissive mirror 14, and enters the image sensor 17 through the OLPF 16. Since the external light L6 also becomes noise, the image quality of the subject image picked up by the image pickup device 17 is adversely affected. In some cases, part of the external light L6 deviates from the optical path and is repeatedly reflected by the inner wall of the electronic camera, and enters the image sensor 17 as stray light. There is a method of providing an eyepiece shutter that can be moved back and forth in the optical path between the pentaprism 23 and the eyepiece lens 24 in order to shield the external light L6 during photographing.

第１の実施形態による電子カメラ１００は、遮光ユニット３０を具備しているので、上記の２種類の有害光（迷光を含む）が撮像素子１７に入射するのを阻止することができる。 Since the electronic camera 100 according to the first embodiment includes the light shielding unit 30, the two types of harmful light (including stray light) can be prevented from entering the image sensor 17.

再び図２を参照すると、電子カメラ１００には遮光ユニット３０が配置されており、遮光板３１，３２が半透過ミラー１４と拡散スクリーン２１の間の光路上に展開している。遮光板３１，３２の半透過ミラー１４側の面、すなわち下面には、反射防止部材６０が配設されている。半透過ミラー１４で裏面反射して上方に進む表面反射光Ｌ５は、反射防止部材３３に入射するが、後述する作用によりほとんど反射せずに消滅する。したがって、表面反射光Ｌ５はほとんど撮像素子１７に入射しなくなる。 Referring again to FIG. 2, the electronic camera 100 is provided with a light shielding unit 30, and light shielding plates 31 and 32 are developed on the optical path between the semi-transmissive mirror 14 and the diffusion screen 21. An antireflection member 60 is disposed on the surface of the light shielding plates 31 and 32 on the semitransparent mirror 14 side, that is, the lower surface. The surface-reflected light L5 reflected from the back surface by the semi-transmissive mirror 14 and traveling upward is incident on the antireflection member 33, but disappears without being substantially reflected by the action described later. Accordingly, the surface reflected light L5 hardly enters the image sensor 17.

一方、接眼レンズ２４から入射する外光Ｌ６は、光路上に展開している遮光板３１，３２に遮られて遮光板３１，３２より下方へは進まない。したがって、外光Ｌ６は撮像素子１７に入射しない。 On the other hand, the external light L6 incident from the eyepiece lens 24 is blocked by the light shielding plates 31 and 32 developed on the optical path and does not travel downward from the light shielding plates 31 and 32. Therefore, the external light L6 does not enter the image sensor 17.

図５は、第１実施形態による電子カメラの遮光板および反射防止部材の断面図である。図５（ａ）は遮光板および反射防止部材の断面図であり、図５（ｂ）は遮光板および反射防止部材の断面の一部を拡大して示す部分断面図である。図５においても図２と同様、下側が光学素子１４の側である。 FIG. 5 is a cross-sectional view of the light shielding plate and the antireflection member of the electronic camera according to the first embodiment. FIG. 5A is a cross-sectional view of the light shielding plate and the antireflection member, and FIG. 5B is a partial cross sectional view showing a part of the cross section of the light shielding plate and the antireflection member in an enlarged manner. Also in FIG. 5, the lower side is the optical element 14 side as in FIG.

図５（ａ）に示されるように、遮光板３１，３２の下面にはそれぞれ反射防止部材６０が設けられている。 As shown in FIG. 5A, antireflection members 60 are provided on the lower surfaces of the light shielding plates 31 and 32, respectively.

図５（ｂ）は、図５（ａ）の領域Ａを拡大して示しており、遮光板３１の下面に設けられた反射防止部材６０は、反射防止層６１と基材６２とを有する。反射防止層６１は、基材６２と一体に形成されており、微細な多数の針状突起６１ａが先端の向きを揃えて密集した立体構造を有する。一つ一つの針状突起６１ａは錐体の形状を呈している。反射防止層６１に入射した光は、錐体の錐面で反射して針状突起６１ａが密集した立体構造の奥へ進み、奥へ進んだ光のほとんどは反射防止層６１から外へ出ることはない。したがって、上述した表面反射光Ｌ５は、その大部分が反射防止層６１によって吸収されてしまうため、有害光として撮像素子１７へ入射することを阻止できる。 FIG. 5B shows the area A of FIG. 5A in an enlarged manner. The antireflection member 60 provided on the lower surface of the light shielding plate 31 includes an antireflection layer 61 and a base material 62. The antireflection layer 61 is formed integrally with the base material 62, and has a three-dimensional structure in which a large number of fine needle-like protrusions 61a are densely aligned with the directions of the tips. Each of the needle-like protrusions 61a has a cone shape. The light incident on the antireflection layer 61 is reflected by the conical surface of the cone and proceeds to the back of the three-dimensional structure in which the needle-like protrusions 61 a are dense, and most of the light traveling to the back exits from the antireflection layer 61. There is no. Therefore, most of the above-described surface reflected light L5 is absorbed by the antireflection layer 61, so that it can be prevented from entering the image sensor 17 as harmful light.

このような針状突起６１ａによる立体構造は、例えば次の方法で製作することができる。（１）シリコン基板にフェムト秒レーザを照射してシリコン表面を部分的に除去して微細な凹凸模様を形成するか、或いは、溶融石英ガラス基板にドライエッチングで微細な凹凸模様を形成する。この微細な凹凸模様は、上述した針状突起６１ａが密集した立体構造である。
（２）微細な凹凸模様が形成されたシリコン基板または溶融石英ガラス基板を母型として電鋳により金型を製作する。金型には母型の凹凸模様が反転して形成される。
（３）金型を用いて樹脂を成形し、成形品を金型から剥離すると、母型の凹凸模様と同じ立体構造をもつ反射防止部材６０が得られる。樹脂成形法としては射出成形やスタンプ加工が用いられ、多数の同一の複製を得ることができる。
（４）反射防止部材６０を例えば接着で遮光板３１，３２に固定することにより、反射防止部材６０付きの遮光板３１，３２が完成する。 Such a three-dimensional structure by the needle-like protrusions 61a can be manufactured by the following method, for example. (1) A silicon substrate is irradiated with a femtosecond laser to partially remove the silicon surface to form a fine concavo-convex pattern, or a fine concavo-convex pattern is formed on a fused quartz glass substrate by dry etching. This fine concavo-convex pattern is a three-dimensional structure in which the needle-like protrusions 61a described above are densely packed.
(2) A die is manufactured by electroforming using a silicon substrate or a fused silica glass substrate on which a fine uneven pattern is formed as a mother die. In the mold, the concave / convex pattern of the mother mold is reversed and formed.
(3) When a resin is molded using a mold and the molded product is peeled from the mold, the antireflection member 60 having the same three-dimensional structure as the uneven pattern of the mother mold is obtained. Injection molding or stamping is used as the resin molding method, and many identical replicas can be obtained.
(4) By fixing the antireflection member 60 to the light shielding plates 31 and 32 by, for example, adhesion, the light shielding plates 31 and 32 with the antireflection member 60 are completed.

なお、上記（３），（４）の工程で、遮光板３１，３２の表面に直接に樹脂を成形すれば、少ない工程で反射防止部材６０付きの遮光板３１，３２を得ることができる。さらに、基材６２を省略して反射防止層６１のみを遮光板３１，３２に形成してもよい。 If the resin is directly molded on the surfaces of the light shielding plates 31 and 32 in the steps (3) and (4), the light shielding plates 31 and 32 with the antireflection member 60 can be obtained with a small number of steps. Furthermore, the base material 62 may be omitted and only the antireflection layer 61 may be formed on the light shielding plates 31 and 32.

このようにして製作された立体構造は、温度湿度による経年変化が非常に少なく、反射防止効果を長期間維持することができる。また、その反射防止効果は光の波長に依存することなく発揮される。 The three-dimensional structure manufactured in this way has very little secular change due to temperature and humidity, and can maintain the antireflection effect for a long time. The antireflection effect is exhibited without depending on the wavelength of light.

第１の実施形態の電子カメラ１００は下記の効果を奏する。
（１）有害光となる表面反射光Ｌ５の光路に反射防止部材６０を設けたので、反射防止部材６０で表面反射光Ｌ５の大部分を吸収し、撮像素子１７へ入射することを阻止できる。また、半透過ミラー１４と光学ファインダ２０の間に遮光ユニット３０を設けたので、接眼レンズ２４から入射する外光Ｌ６が撮像素子１７へ入射することを阻止できる。その結果、高画質の画像を得ることができる。
（２）半透過ミラー１４により撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を透過光Ｌ３と反射光Ｌ２に分岐し、反射光Ｌ２を光学ファインダ２０に導くので、高品質なファインダ像を観察することができる。
（３）半透過ミラー１４により撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を透過光Ｌ３と反射光Ｌ４に分岐し、反射光Ｌ４を撮像素子１７に導くので、高画質の画像を得ることができる。反射光は、透過光とは異なり、屈折作用を受けないので良好な画像が得られる。 The electronic camera 100 according to the first embodiment has the following effects.
(1) Since the antireflection member 60 is provided in the optical path of the surface reflected light L5 that becomes harmful light, the antireflection member 60 can prevent most of the surface reflected light L5 from being absorbed and incident on the image sensor 17. Further, since the light shielding unit 30 is provided between the semi-transmissive mirror 14 and the optical viewfinder 20, it is possible to prevent the external light L6 incident from the eyepiece lens 24 from entering the imaging element 17. As a result, a high-quality image can be obtained.
(2) Since the light beam L1 from the photographing lens 13 is branched into the transmitted light L3 and the reflected light L2 by the semi-transmissive mirror 14, and the reflected light L2 is guided to the optical viewfinder 20, a high quality viewfinder image can be observed.
(3) Since the light beam L1 from the photographing lens 13 is branched into the transmitted light L3 and the reflected light L4 by the semi-transmissive mirror 14, and the reflected light L4 is guided to the image sensor 17, a high-quality image can be obtained. Unlike the transmitted light, the reflected light is not refracted so that a good image can be obtained.

以上説明したとおり、第１の実施形態の電子カメラ１００によれば、サブミラーを廃したシンプルな構成としても、有害光が撮像素子へ至り画質劣化の一因となるという問題が解消される。
＜第２の実施の形態＞
以下、本発明の第２の実施の形態による撮像装置について図６を参照しながら説明する。 As described above, according to the electronic camera 100 of the first embodiment, the problem that harmful light reaches the image sensor and contributes to deterioration of image quality can be solved even with a simple configuration that eliminates the submirror.
<Second Embodiment>
An imaging apparatus according to the second embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

図６は、第２の実施の形態による電子カメラを模式的に示す構成図である。第２の実施形態の電子カメラ２００については、第１の実施形態の電子カメラ１００と共通する部品には同一符号を付し説明を省略する。電子カメラ２００が電子カメラ１００と比べて異なる点は次の３つである。
（ａ）光学ファインダを有せず、代わりに電子ビューファインダを有すること．
（ｂ）半透過ミラーが固定式であること．
（ｃ）遮光ユニットを有せず、反射防止部材は基台に配設されていること．
図６を参照すると、電子カメラ２００は、光学ファインダの代わりに電子ビューファインダ７０を備えている。電子ビューファインダ７０は、ＬＣＤ７１と投影用レンズ７２とを有する。ユーザーは、投影用レンズ７２を介してＬＣＤ７１の画面を観察することができる。 FIG. 6 is a block diagram schematically showing an electronic camera according to the second embodiment. Regarding the electronic camera 200 of the second embodiment, the same reference numerals are given to components common to the electronic camera 100 of the first embodiment, and description thereof is omitted. The electronic camera 200 is different from the electronic camera 100 in the following three points.
(A) It does not have an optical viewfinder but instead has an electronic viewfinder.
(B) The semi-transmissive mirror is fixed.
(C) It does not have a light shielding unit, and the antireflection member is disposed on the base.
Referring to FIG. 6, the electronic camera 200 includes an electronic viewfinder 70 instead of the optical viewfinder. The electronic viewfinder 70 includes an LCD 71 and a projection lens 72. The user can observe the screen of the LCD 71 through the projection lens 72.

半透過ミラー１４は、焦点検出ユニット１５の前方（図中、左方）に位置し、撮影レンズ１３と焦点検出ユニット１５とを結ぶ直線上に半透過ミラー１４が配置された構成となっている。ＯＬＰＦ１６および撮像素子１７は半透過ミラー１４の上方に位置し、反射防止部材６０は、半透過ミラー１４の下方に位置し、図５に示した反射防止層６１を上方に向けて基台７３に取り付けられている。基台７３における反射防止部材６０の取付け面は水平面となっている。撮像素子１７と反射防止部材６０はそれぞれ、撮影レンズ１３と焦点検出ユニット１５とを結ぶ直線と交差する方向に配置されている。 The semi-transmission mirror 14 is positioned in front of the focus detection unit 15 (left side in the figure), and the semi-transmission mirror 14 is arranged on a straight line connecting the photographing lens 13 and the focus detection unit 15. . The OLPF 16 and the image sensor 17 are located above the semi-transmissive mirror 14, the antireflection member 60 is located below the semi-transmissive mirror 14, and the antireflection layer 61 shown in FIG. It is attached. The mounting surface of the antireflection member 60 on the base 73 is a horizontal plane. The image sensor 17 and the antireflection member 60 are respectively arranged in a direction intersecting with a straight line connecting the photographing lens 13 and the focus detection unit 15.

半透過ミラー１４は、固定式であるので、常時、撮影レンズ１３を通過した光束Ｌ１を撮像素子１７に導くとともに焦点検出ユニット１５にも導く。具体的には、半透過ミラー１４は、光束Ｌ１の光量の一部分を反射して光束Ｌ７を撮像素子１７に導き、残りの部分を透過させて光束Ｌ３を焦点検出ユニット１５に導く。 Since the semi-transmissive mirror 14 is a fixed type, the light beam L1 that has passed through the photographing lens 13 is always guided to the image sensor 17 and also to the focus detection unit 15. Specifically, the semi-transmissive mirror 14 reflects a part of the light amount of the light beam L 1 to guide the light beam L 7 to the image sensor 17 and transmits the remaining part to guide the light beam L 3 to the focus detection unit 15.

図７は、第２の実施形態のカメラ本体１１Ａの制御回路２１１を示すブロック図である。このブロック図については、第１の実施形態で説明したブロック図と共通する部品には同一符号を付し説明を省略し、相違点のみを説明する。 FIG. 7 is a block diagram showing the control circuit 211 of the camera body 11A of the second embodiment. In this block diagram, parts common to those in the block diagram described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only differences are described.

図７のブロック図においては、遮光ユニットを有せず、半透過ミラー１４が固定式であるため、各アクチュエータを制御する駆動制御部は不要である。その反面、電子ビューファインダ７０が必要となり、ＬＣＤ７１はモニタ１８とともに表示Ｉ／Ｆ４５に接続されている。ＬＣＤ７１にはモニタ１８の表示と同様の画像が出力される。 In the block diagram of FIG. 7, since there is no light-shielding unit and the semi-transmissive mirror 14 is a fixed type, a drive control unit that controls each actuator is unnecessary. On the other hand, an electronic viewfinder 70 is required, and the LCD 71 is connected to the display I / F 45 together with the monitor 18. An image similar to the display on the monitor 18 is output to the LCD 71.

図６に示されるように、第２の実施形態の電子カメラ２００では、半透過ミラー１４が固定式なので、撮影待機時でも撮影時でも同じく反射光束Ｌ７を撮像素子１７に導き、透過光束Ｌ３を焦点検出ユニット１５に導く。 As shown in FIG. 6, in the electronic camera 200 of the second embodiment, since the semi-transmissive mirror 14 is fixed, the reflected light beam L7 is similarly guided to the image sensor 17 at the time of shooting standby and during shooting, and the transmitted light beam L3 is generated. Guide to the focus detection unit 15.

ＬＣＤ７１の出力画像（ビュー画像）は、撮像素子１７で所定間隔毎に撮影されたスルー画像やフリーズ画像のデータに基づいて逐次生成される。したがって、ユーザーは、ＬＣＤ７１またはモニタ１８のビュー画像によって、撮影構図を決定するためのフレーミングを行うことができる。また、常に透過光束Ｌ３が焦点検出ユニット１５に導かれているので、ＣＰＵ４９は、本画像またはスルー画像の撮影時においても焦点検出ユニット１５からデフォーカス量を取得してＡＦを実行できる。 An output image (view image) of the LCD 71 is sequentially generated based on data of a through image and a freeze image taken at predetermined intervals by the image sensor 17. Therefore, the user can perform framing for determining the shooting composition based on the view image on the LCD 71 or the monitor 18. Further, since the transmitted light beam L3 is always guided to the focus detection unit 15, the CPU 49 can acquire the defocus amount from the focus detection unit 15 and execute AF even when the main image or the through image is captured.

ここで、図６を参照しながら、撮像素子１７に入射して画質低下の原因となる有害光について説明する。 Here, with reference to FIG. 6, harmful light that enters the image sensor 17 and causes deterioration in image quality will be described.

本実施の形態における有害光は、焦点検出ユニット１５の検出器の表面１５Ａで反射する表面反射光Ｌ８である。この表面反射光Ｌ８は、半透過ミラー１４の反射面１４Ａで裏面反射して下方に進みカメラ本体の下方の内壁に至る。もし、反射防止部材６０が存在しないとすると、表面反射光Ｌ８は、下方の内壁で反射して上方に進み半透過ミラー１４を透過してＯＬＰＦ１６を経て撮像素子１７へと入射する。表面反射光Ｌ８は、ノイズとなるので、撮像素子１７で撮像される被写体像の画質に悪影響を及ぼす。また、表面反射光Ｌ８の一部分が上記の光路を外れて電子カメラの内壁で反射を繰り返し、迷光として撮像素子１７へ入射する場合もある。 The harmful light in the present embodiment is surface reflected light L8 reflected by the detector surface 15A of the focus detection unit 15. The front surface reflected light L8 is reflected back by the reflecting surface 14A of the semi-transmissive mirror 14, travels downward, and reaches the lower inner wall of the camera body. If the antireflection member 60 does not exist, the surface reflected light L8 is reflected by the lower inner wall, travels upward, passes through the semi-transmissive mirror 14, and enters the image sensor 17 through the OLPF 16. Since the surface reflected light L8 becomes noise, it adversely affects the image quality of the subject image captured by the image sensor 17. In addition, a part of the surface reflected light L8 may be off the optical path and repeatedly reflected on the inner wall of the electronic camera, and may enter the image sensor 17 as stray light.

この第２の実施形態の電子カメラ２００においては、半透過ミラー１４の下方に反射防止部材６０が配設されている。したがって、第１の実施形態において、図５により説明したとおり、反射防止部材６０まで到達した表面反射光Ｌ８は、その大部分が反射防止層６１によって吸収されてしまうため、表面反射光Ｌ８が有害光として撮像素子１７へ入射することを阻止できる。 In the electronic camera 200 of the second embodiment, an antireflection member 60 is disposed below the semi-transmissive mirror 14. Therefore, in the first embodiment, as described with reference to FIG. 5, most of the surface reflected light L8 reaching the antireflection member 60 is absorbed by the antireflection layer 61, and therefore the surface reflected light L8 is harmful. It can prevent entering into the image sensor 17 as light.

第２の実施形態の電子カメラ２００は下記の効果を奏する。
（１）有害光となる表面反射光Ｌ８の光路に反射防止部材６０を設けたので、反射防止部材６０で表面反射光Ｌ８の大部分を吸収し、撮像素子１７へ入射することを阻止できる。その結果、高画質の画像を得ることができる。
（２）半透過ミラー１４により撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を透過光Ｌ３と反射光Ｌ７に分岐し、反射光Ｌ７を撮像素子１７に導くので、高画質の画像を得ることができる。反射光は、透過光とは異なり、屈折作用を受けないので良好な画像が得られる。
（３）第１の実施形態の電子カメラ１００に比べて、半透過ミラーが固定式であるとともに遮光ユニットを有さないので、構造がシンプルである。 The electronic camera 200 of the second embodiment has the following effects.
(1) Since the antireflection member 60 is provided in the optical path of the surface reflected light L8 that becomes harmful light, the antireflection member 60 can absorb most of the surface reflected light L8 and prevent it from entering the image sensor 17. As a result, a high-quality image can be obtained.
(2) Since the light beam L1 from the photographing lens 13 is branched into the transmitted light L3 and the reflected light L7 by the semi-transmissive mirror 14, and the reflected light L7 is guided to the image sensor 17, a high-quality image can be obtained. Unlike the transmitted light, the reflected light is not refracted so that a good image can be obtained.
(3) Compared to the electronic camera 100 of the first embodiment, the structure is simple because the transflective mirror is fixed and does not have a light shielding unit.

図８は、第２の実施の形態による電子カメラの変形例を模式的に示す構成図である。第２の実施形態の変形例として示す電子カメラ２００Ａについては、電子カメラ２００と共通する部品には同一符号を付し説明を省略する。電子カメラ２００Ａが電子カメラ２００と比べて異なる点は、半透過ミラー１４と焦点検出ユニット１５の位置が入れ替わっていることである。すなわち、電子カメラ２００Ａでは、ＯＬＰＦ１６および撮像素子１７が半透過ミラー１４の後方（図中、右方）に位置し、焦点検出ユニット１５が半透過ミラー１４の上方に位置する構成となっている。したがって、半透過ミラー１４で分岐された透過光束Ｌ３が撮像素子１７に入射し、反射光束Ｌ７が焦点検出ユニット１５に入射する。 FIG. 8 is a configuration diagram schematically showing a modification of the electronic camera according to the second embodiment. Regarding an electronic camera 200A shown as a modified example of the second embodiment, parts common to the electronic camera 200 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. The electronic camera 200A is different from the electronic camera 200 in that the positions of the semi-transmissive mirror 14 and the focus detection unit 15 are interchanged. That is, the electronic camera 200 A is configured such that the OLPF 16 and the image sensor 17 are located behind (on the right in the drawing) the semi-transmissive mirror 14 and the focus detection unit 15 is located above the semi-transmissive mirror 14. Therefore, the transmitted light beam L3 branched by the semi-transmissive mirror 14 is incident on the image sensor 17, and the reflected light beam L7 is incident on the focus detection unit 15.

図８においては、焦点検出ユニット１５の検出器の表面１５Ａで反射する表面反射光Ｌ９は、半透過ミラー１４を透過して反射防止部材６０まで到達するが、その大部分が反射防止層６１によって吸収されてしまうため、表面反射光Ｌ９が有害光として撮像素子１７へ入射することを阻止できる。 In FIG. 8, the surface reflected light L 9 reflected by the detector surface 15 A of the focus detection unit 15 passes through the semi-transmissive mirror 14 and reaches the antireflection member 60, but most of the light is reflected by the antireflection layer 61. Since the light is absorbed, the surface reflected light L9 can be prevented from entering the image sensor 17 as harmful light.

第１、第２の実施形態の電子カメラでは、半透過ミラー１４により撮影レンズ１３からの光束Ｌ１を分岐して透過光Ｌ３を焦点検出ユニット１５に導いたが、これに限らず、撮像と同時に取得したい情報（物理量）を検出する検出装置に置き換えてもよい。例えば、撮像素子の出力からは得られない範囲の被写体輝度を検出する装置や、特定波長の可視域或いは非可視域の電磁波を検出する装置や、エリアセンサ４８に置き換えてもよい。 In the electronic cameras of the first and second embodiments, the light beam L1 from the photographic lens 13 is branched by the semi-transmissive mirror 14 and the transmitted light L3 is guided to the focus detection unit 15. You may replace with the detection apparatus which detects the information (physical quantity) to acquire. For example, a device that detects subject luminance in a range that cannot be obtained from the output of the image sensor, a device that detects electromagnetic waves in a visible region or a non-visible region of a specific wavelength, or an area sensor 48 may be used.

エリアセンサ４８を配置する場合は、動画等の撮影時にもエリアセンサ４８によってＡＥ演算を行なうことができる。また、半透過ミラー１４からの透過光をさらに分岐して、焦点検出ユニット１５とその近傍に配置したエリアセンサ４８に導き、動画等の撮影時にＡＦとＡＥとを同時に行なう構成としてもよい。 When the area sensor 48 is arranged, the AE calculation can be performed by the area sensor 48 even when shooting a moving image or the like. Alternatively, the transmitted light from the semi-transmissive mirror 14 may be further branched and guided to the focus detection unit 15 and the area sensor 48 disposed in the vicinity thereof, and AF and AE may be performed simultaneously when shooting a moving image or the like.

また、第１、第２の実施形態では、撮像素子１７の前方にＯＬＰＦ１６を配置する例を説明したが、カバーガラスや赤外カットフィルタなどを配置してもよい。 In the first and second embodiments, the example in which the OLPF 16 is disposed in front of the image sensor 17 has been described. However, a cover glass, an infrared cut filter, or the like may be disposed.

本発明は、その特徴を損なわない限り、以上説明した実施の形態に何ら限定されない。 The present invention is not limited to the embodiments described above as long as the characteristics are not impaired.

本発明の第１の実施の形態に係る電子カメラの一態様を模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically the one aspect | mode of the electronic camera which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 図１の電子カメラの別の態様を模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically another aspect of the electronic camera of FIG. 第１の実施の形態に係るカメラ本体１１のブロック図である。1 is a block diagram of a camera body 11 according to a first embodiment. カメラ内部に存在する有害光を説明するための電子カメラの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the electronic camera for demonstrating the harmful light which exists in a camera. 第１実施の形態に係る電子カメラの遮光板および反射防止部材の断面図である。図５（ａ）は遮光板および反射防止部材の断面図であり、図５（ｂ）は遮光板および反射防止部材の断面の一部を拡大して示す部分断面図である。It is sectional drawing of the light-shielding plate and reflection preventing member of the electronic camera which concern on 1st Embodiment. FIG. 5A is a cross-sectional view of the light shielding plate and the antireflection member, and FIG. 5B is a partial cross sectional view showing a part of the cross section of the light shielding plate and the antireflection member in an enlarged manner. 本発明の第２の実施の形態に係る電子カメラを模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically the electronic camera which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 第２の実施の形態に係るカメラ本体１１Ａのブロック図である。It is a block diagram of camera body 11A concerning a 2nd embodiment. 第２の実施の形態による電子カメラの変形例を模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically the modification of the electronic camera by 2nd Embodiment.

Explanation of symbols

１１，１１Ａ：カメラ本体１２：レンズユニット
１３：撮影レンズ１４：半透過ミラー
１５：焦点検出ユニット１７：撮像素子
１８：モニタ２０：光学ファインダ
２１：拡散スクリーン（焦点板）２２：コンデンサレンズ
２３：ペンタプリズム２４：接眼レンズ
３０：遮光ユニット３１，３２：遮光板
４８：エリアセンサ４９：ＣＰＵ
５２：駆動制御部６０：反射防止部材
６１：反射防止層６１ａ：針状突起
６２：基材７０：電子ビューファインダ
１００，１０１，２００，２００Ａ：電子カメラ
１１１，２１１：制御回路Ｌ１：光軸（光束）
Ｌ２、Ｌ４、Ｌ７：反射光Ｌ３：透過光
Ｌ５、Ｌ８．Ｌ９：表面反射光Ｌ６：外光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11, 11A: Camera body 12: Lens unit 13: Shooting lens 14: Semi-transmission mirror 15: Focus detection unit 17: Imaging device 18: Monitor 20: Optical finder 21: Diffusing screen (focus plate) 22: Condenser lens 23: Penta Prism 24: Eyepiece 30: Light shielding unit 31, 32: Light shielding plate 48: Area sensor 49: CPU
52: Drive control unit 60: Antireflection member 61: Antireflection layer 61a: Needle-like protrusion 62: Base material 70: Electronic viewfinder 100, 101, 200, 200A: Electronic camera 111, 211: Control circuit L1: Optical axis ( Luminous flux)
L2, L4, L7: Reflected light L3: Transmitted light L5, L8. L9: Surface reflected light L6: External light

Claims

An imaging unit for imaging a subject image formed by the taking lens;
A detection unit for detecting information related to shooting conditions using a light beam directed from the shooting lens to the imaging unit;
A light beam branching unit that branches a light beam directed from the photographing lens to the imaging unit into a first light beam guided to the imaging unit and a second light beam guided to the detection unit;
An imaging apparatus comprising: a member for preventing light generated by reflection of the second light flux from the detection unit from entering the imaging unit.

The imaging device according to claim 1,
The light beam branching unit is an optical element that reflects a light beam traveling from the photographing lens to the imaging unit and uses the reflected light as one of the first light beam and the second light beam,
The image pickup apparatus, wherein the blocking member is an antireflection member disposed opposite to the optical element at a position opposite to the traveling direction of the reflected light with respect to the optical element.

An imaging unit for imaging a subject image formed by the taking lens;
A detection unit for detecting information related to shooting conditions using a light beam directed from the shooting lens to the imaging unit;
Arranged on the optical path between the photographing lens and the imaging unit, reflects the light beam, guides the reflected light to one of the imaging unit and the detection unit, and transmits a light beam other than the reflected light to the imaging unit And an optical element that leads to one of the detection units,
An image pickup apparatus comprising: an antireflection member disposed opposite to the optical element at a position opposite to the traveling direction of the reflected light with respect to the optical element.

In the imaging device according to claim 2 or 3,
The imaging device, wherein the optical element is arranged to guide the reflected light to the imaging unit and guide a light beam other than the reflected light to the detection unit.

The imaging device according to any one of claims 2 to 4,
An optical viewfinder for observing the subject image;
The optical element moves between a first position for guiding an incident light beam to the optical viewfinder and a second position for guiding the incident light beam to the imaging unit,
The imaging apparatus, wherein the antireflection member is disposed on an optical path between the optical element and the optical finder.

The imaging apparatus according to claim 5,
The optical element is disposed on a straight line connecting the photographing lens and the detection unit,
The imaging apparatus, wherein the imaging unit and the optical finder are respectively arranged in a direction intersecting with the straight line.

In the imaging device according to claim 5 or 6,
The optical element at the first position transmits the light beam from the photographic lens and reflects it to the detection unit and guides it to the optical finder. The optical element at the second position is transmitted from the photographic lens. An imaging apparatus, wherein a light beam is transmitted and reflected to the detection unit and reflected to the imaging unit.

In the imaging device according to any one of claims 5 to 7,
A light shielding member that is disposed so as to be capable of moving back and forth in an optical path between the optical element and the optical finder, and that blocks light incident on the optical element from the optical finder;
The imaging apparatus, wherein the antireflection member is provided on the light shielding member.

The imaging device according to claim 8,
The image-capturing apparatus, wherein the light-shielding member is in a position retracted from an optical path between the optical element and the optical finder when the optical element takes the first position.

The imaging apparatus according to any one of claims 2 to 9,
The image pickup apparatus, wherein the antireflection member has an antireflection layer made up of a large number of needle-like protrusions.

The imaging device according to claim 10.
Each of the needle-like protrusions has a cone shape with a sharp tip.

The imaging device according to claim 10 or 11,
The imaging apparatus according to claim 1, wherein the antireflection member is duplicated by resin molding using a die manufactured by electroforming from a silicon or glass mother die.

In the imaging device according to any one of claims 1 to 12,
The said detection part performs the process which detects the information regarding the said imaging conditions simultaneously with the imaging by the said imaging part, The imaging device characterized by the above-mentioned.