JP2009093744A - Method of manufacturing glass substrate for magnetic recording medium, and magnetic recording medium - Google Patents

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Takanori Mizuno
高徳 水野
Hironao Tanaka
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress the occurrence of flaws in the end face of a ring-shaped glass substrate for magnetic recording medium. <P>SOLUTION: In a manufacturing method of the ring-shaped glass substrate for magnetic recording medium, an end face is formed by etching when machining a glass material plate into the glass substrate 11 on a disk, thus obtaining the glass substrate for magnetic recording medium without any flaws on an outer-periphery end face 13 and an inner-periphery end face 14. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、コンピュータ等の記録媒体として用いられる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法および磁気記録媒体に関するものである。   The present invention relates to a method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium used as a recording medium for a computer or the like, and a magnetic recording medium.

従来、ハードディスクドライブ(HDD)等に用いられている磁気記録媒体の一つである磁気ディスク用基板としては、アルミニウム基板が広く用いられてきた。しかしながら、磁気ディスクの小型・薄型化及び高密度記録化に伴い、アルミニウム基板に比べ基板表面の平坦性及び基板強度に優れたガラス基板に徐々に置き換わりつつある。   Conventionally, an aluminum substrate has been widely used as a magnetic disk substrate which is one of magnetic recording media used in hard disk drives (HDD) and the like. However, as the magnetic disk becomes smaller and thinner and has a higher recording density, it is gradually being replaced by a glass substrate that has superior substrate surface flatness and substrate strength compared to an aluminum substrate.

ガラス基板を用いた磁気ディスクにおける大きな課題の一つにガラス基板表面の高清浄化がある。ガラス基板表面に異物が付着していると、ガラス基板表面上に形成する薄膜の膜欠陥の原因となる。また、磁気ディスクの記録密度を向上させるために磁気抵抗型ヘッドのフライングハイト(浮上高さ)を低くした状態で、表面に異物が付着しているガラス基板を用いた磁気ディスクを再生した場合、再生の誤動作又は再生が不可能になることがあり、問題となっている。   One of the major problems in a magnetic disk using a glass substrate is to clean the surface of the glass substrate. If foreign matter adheres to the surface of the glass substrate, it causes film defects in the thin film formed on the surface of the glass substrate. Also, when reproducing a magnetic disk using a glass substrate with foreign matter attached to the surface in a state where the flying height (flying height) of the magnetoresistive head is lowered in order to improve the recording density of the magnetic disk, A malfunction of reproduction or reproduction may become impossible, which is a problem.

これは、磁気ディスク表面にガラス基板上の異物(ガラスパーティクル等)によって凸部が形成され、その凸部がサーマル・アスペリティ(Thermal Asperity)障害を引き起こしていることに起因する。   This is because a convex portion is formed on the surface of the magnetic disk by a foreign substance (glass particle or the like) on the glass substrate, and the convex portion causes a thermal asperity failure.

サーマル・アスペリティ障害とは、磁気ディスク面上の微小な凸部又は凹部の上を磁気ヘッドが浮上飛行しながら通過するときに、空気の断熱圧縮または接触により磁気抵抗効果型素子が加熱され、読み出しエラーを生じる障害である。従って磁気抵抗型ヘッドに対しては、磁気ディスク表面は極めて高度な平滑度および平坦度が求められる。また塵埃や異物が付着したまま磁性層を形成すると凸部が形成されてしまうため、ガラス基板には、凹凸をなくすことによる発塵の防止、異物の除去する高度な洗浄が求められている。   A thermal asperity failure is when a magnetoresistive element is heated by adiabatic compression or contact of air when a magnetic head passes over a small convex or concave part on the surface of a magnetic disk. It is a failure that causes an error. Therefore, for the magnetoresistive head, the magnetic disk surface is required to have extremely high smoothness and flatness. Further, if the magnetic layer is formed with dust or foreign matter attached, a convex portion is formed. Therefore, the glass substrate is required to prevent dust generation by removing irregularities and to perform advanced cleaning to remove foreign matter.

上述したような磁気ディスク用ガラス基板表面に異物が付着する原因は、主に、ガラス端面にある傷(ヒビ、カケ)にあることがわかっている。この端面における傷(ヒビ、カケ)は、ガラス基板をカッターやドリルで形状加工する際に発生するものである。ガラス基板の端面にこの傷(ヒビ、カケ)が残っていると、傷にパーティクルが捕捉され、捕捉されたパーティクルは、後工程においてガラス基板の表面に付着することがある。   It has been found that the cause of the foreign matter adhering to the surface of the magnetic disk glass substrate as described above is mainly due to scratches (cracks, scratches) on the glass end face. The scratches (cracks, chips) on the end surface are generated when the glass substrate is processed with a cutter or a drill. If this scratch (crack, chipping) remains on the end surface of the glass substrate, particles are captured by the scratch, and the captured particles may adhere to the surface of the glass substrate in a subsequent process.

このように端面の傷が原因で起こるサーマル・アスペリティを防止する目的で、ガラス基板をカッターやドリルで形状加工した後に端面を研磨することにより、ガラス基板の端面から傷を除去することが提案されている(例えば、特許文献1)。   In order to prevent thermal asperity caused by scratches on the end face in this way, it has been proposed to remove scratches from the end face of the glass substrate by polishing the end face after shaping the glass substrate with a cutter or drill. (For example, Patent Document 1).

特許文献1に記載されている磁気ディスク用ガラス基板の製造工程は、その概略を述べれば、(1)形状加工工程及び第1ラッピング工程(ガラス素板を円盤状に加工し、厚さをそろえる工程)、(2)端面形状加工工程(円盤状ガラス基板の中心に円穴を開けるとともに、端面の面取りをする工程)、(3)端面研磨工程、(4)第2ラッピング工程、(5)表面研磨工程(第1及び第2研磨工程)、(6)化学強化工程、を備えている。   The manufacturing process of the glass substrate for a magnetic disk described in Patent Document 1 can be summarized as follows: (1) Shape processing step and first lapping step (processing the glass base plate into a disk shape and aligning the thicknesses) Step), (2) end face shape processing step (step of making a circular hole in the center of the disk-shaped glass substrate and chamfering the end face), (3) end face polishing step, (4) second lapping step, (5) A surface polishing step (first and second polishing step) and (6) a chemical strengthening step.

この従来工程では、ガラス素板を円盤状に加工する際には、カッターでガラスを円盤状に切り出し、円盤状ガラス基板の中心に円穴を開ける場合にはコアドリルを用いるため、これらの形状加工の際に端面に微細なクラックが発生する。そのクラックを端面の研削及び研磨により除去するものである。
特開平11−221742号公報
In this conventional process, when processing the glass base plate into a disk shape, the glass is cut into a disk shape with a cutter, and a core drill is used to open a circular hole in the center of the disk-shaped glass substrate. In this case, a fine crack is generated on the end face. The crack is removed by grinding and polishing the end face.
JP-A-11-221742

しかしながら、近年、磁気記録ディスクの記録密度の高度化および用途の多様化に伴い、より小型の磁気ディスクが用いられている。例えば、1.8インチ型以下の磁気ディスクに用いられるような小径のガラス基板においては、中心部の円穴の径も小さくなり、内周端面を適切に鏡面研磨することが困難になる。   However, in recent years, with the advancement of recording density and diversification of uses of magnetic recording disks, smaller magnetic disks have been used. For example, in a small-diameter glass substrate used for a 1.8-inch type or smaller magnetic disk, the diameter of the circular hole at the center is also small, and it is difficult to appropriately mirror-polish the inner peripheral end face.

また、近年、磁気記録ディスクの用途の多様化に伴い、磁気ディスク用のガラス基板に対して、従来とは異なるレベルでの高い品質が求められている。そのため、例えば端面の傷(ヒビ、カケ)についても、従来は不良と認識されていなかった程度のものが不良と認識されるようになってきた。   In recent years, with the diversification of uses of magnetic recording disks, high quality at a level different from conventional ones has been demanded for glass substrates for magnetic disks. For this reason, for example, with respect to scratches (cracks, cracks) on the end face, those that have not been recognized as defective in the past have been recognized as defective.

例えば、回転数5400rpm以上の高速回転型の磁気ディスクや、携帯端末等の使用時に衝撃を受け易い用途に用いられる磁気ディスクにおいては、使用時に傷が拡大するおそれがあるため、より小さな傷が問題になる。また、小径の磁気ディスクにおいては、ガラス基板が薄型化している。ガラス基板が薄型化した場合、より小さな傷が原因となって、ワレが発生する可能性がある。更には、磁気ディスクのコストを低減するために工程の簡略化を行う場合等には、例えば化学強化等のガラス基板を強化する工程が省略される可能性もある。化学強化工程を省略する場合、ガラス基板の強化がなされていないため、より小さな傷等が問題となる。   For example, in a high-speed rotation type magnetic disk having a rotation speed of 5400 rpm or more, or a magnetic disk used for an application that is susceptible to an impact at the time of use of a portable terminal or the like, the damage may be enlarged at the time of use. become. Further, in a small-diameter magnetic disk, the glass substrate is thinned. When the glass substrate is thinned, cracks may occur due to smaller scratches. Furthermore, when the process is simplified in order to reduce the cost of the magnetic disk, the process of strengthening the glass substrate such as chemical strengthening may be omitted. When the chemical strengthening step is omitted, since the glass substrate is not strengthened, a smaller scratch or the like becomes a problem.

よって、特許文献1に記載されているような、ガラス基板をカッターやドリルで形状加工した後に端面を研磨する方法では、十分に端面の傷(ヒビ、カケ)を除去することができないのが現状である。また、ガラス基板をシート状のガラス素板から切り出す際には、従来はカッターやドリルで加工しているが、この方法では、端面に傷(ヒビ、カケ)が発生してしまうという問題がある。   Therefore, the method of polishing the end surface after processing the glass substrate with a cutter or a drill as described in Patent Document 1 cannot sufficiently remove scratches (cracks, chips) on the end surface. It is. Moreover, when cutting a glass substrate from a sheet-like glass base plate, it is conventionally processed with a cutter or a drill, but this method has a problem that scratches (cracks, chips) are generated on the end surface. .

本発明は、ガラス基板の端面に傷(ヒビ、カケ)をなくすことにより、主表面上の異物を低減するとともに強度の高い磁気記録媒体用ガラス基板を製造する方法と、当該ガラス基板を用いて、サーマル・アスペリティの発生を低減させた磁気記録媒体を提供することを目的とする。   The present invention eliminates scratches (cracks, chips) on the end surface of a glass substrate, reduces foreign matter on the main surface, and produces a high strength glass substrate for a magnetic recording medium, and uses the glass substrate. Another object of the present invention is to provide a magnetic recording medium in which the occurrence of thermal asperity is reduced.

上記目的を達成するために、本発明者らは、従来例におけるような形状加工により発生した端面の傷を端面研磨することにより除去する方法ではなく、端面に傷が発生しない方法でシート状のガラス素板を形状加工すること考えた。その結果、ガラス素板をエッチングすることにより、磁気記録媒体用ガラス基板の外形を形成するとともに、当該ガラス基板の端面を形成することとした。本発明者らは、端面形成工程に、ガラス素板のエッチング処理を採用することにより、形状加工時に端面に微小クラックが発生せず、端面に傷(ヒビ、カケ)のない磁気記録媒体用ガラス基板が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。   In order to achieve the above object, the present inventors have not used a method of removing the scratches on the end surface caused by the shape processing as in the conventional example by polishing the end surface, but a method in which the scratch is not generated on the end surface. We thought to shape the glass base plate. As a result, by etching the glass base plate, the outer shape of the glass substrate for a magnetic recording medium was formed and the end face of the glass substrate was formed. The present inventors employ a glass base plate etching process in the end face forming step, so that no minute cracks are generated on the end face during shape processing, and the end face is free from scratches (cracks, chips). The present inventors have found that a substrate can be obtained and have completed the present invention.

すなわち、本発明の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法は、シート状のガラス素板の主表面における、ガラス基板の主表面となる領域に保護膜を形成する工程と、当該保護膜をエッチングマスクとしてガラス素材をエッチングすることにより、ガラス基板の外形形成を行うとともに当該ガラス基板の端面を形成する端面形成工程と、を含むことを特徴とする。   That is, the method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to the present invention includes a step of forming a protective film on a main surface of a sheet-like glass base plate in a region to be a main surface of the glass substrate, and an etching mask for the protective film. And an end face forming step of forming an end face of the glass substrate while forming an outer shape of the glass substrate by etching a glass material.

この方法によれば、磁気記録媒体用ガラス基板の端面形成工程に、エッチングによる加工を採用したため、端面に傷が発生せず、端面の傷に捕捉されるパーティクルが原因となる主表面上の異物をなくし、高いガラス強度をもった磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供することができる。さらには、本発明における端面形成工程は、端面に傷が発生しないエッチングにより外形形成をするので、端面の研削及び研磨工程を必要とせず、エッチングにより形成された端面を磁気記録媒体用ガラス基板の最終の端面とすることができ、工数を低減できる。   According to this method, since the processing by etching is employed in the end surface forming step of the glass substrate for magnetic recording media, the end surface is not damaged, and the foreign matter on the main surface is caused by particles captured by the end surface scratch. The manufacturing method of the glass substrate for magnetic recording media with high glass strength can be provided. Furthermore, since the end face forming step in the present invention forms the outer shape by etching that does not cause scratches on the end face, the end face formed by etching is not required for grinding and polishing steps of the end face. The final end face can be obtained, and the number of man-hours can be reduced.

上記磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、端面形成工程の後に、ガラス基板の主表面を研磨する主表面研磨工程を有するようにしても良い。この方法によれば、保護膜を除去する際に主表面が荒れることがあっても、その後の主表面研磨により鏡面化された主表面を得ることができる。   The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic recording medium may include a main surface polishing step for polishing the main surface of the glass substrate after the end surface forming step. According to this method, even if the main surface is roughened when the protective film is removed, a main surface that is mirror-finished by subsequent main surface polishing can be obtained.

さらには、上記磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、主表面研磨工程において、保護膜を研磨することにより除去するようにしても良い。この方法によれば、保護膜を除去する工程を省略でき、工数を低減することができる。   Furthermore, in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic recording medium, the protective film may be removed by polishing in the main surface polishing step. According to this method, the step of removing the protective film can be omitted, and the number of man-hours can be reduced.

さらには、上記磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、保護膜を形成する工程の前に、ガラス素板の主表面を鏡面研磨する工程を有するようにしても良い。この方法によれば、研磨後の主表面は保護膜により保護されるので、端面形成工程の間に主表面が傷つくことはない。   Furthermore, in the method for manufacturing the glass substrate for a magnetic recording medium, a step of mirror polishing the main surface of the glass base plate may be provided before the step of forming the protective film. According to this method, the main surface after polishing is protected by the protective film, so that the main surface is not damaged during the end face forming step.

また、上記磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、端面形成工程の後で、端面を研磨する端面研磨工程を有するようにしても良い。この方法によれば、機械加工によって端面が形成されていないので、クラックがほとんどなく、この状態で端面を研磨(鏡面)にすることにより、さらに、当該端面にパーティクルの付着を防止できる。   The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic recording medium may include an end surface polishing step for polishing the end surface after the end surface forming step. According to this method, since the end face is not formed by machining, there are almost no cracks. By polishing the end face in this state (mirror surface), it is possible to further prevent particles from adhering to the end face.

本発明の磁気記録媒体は、上述した磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法により製造されたガラス基板と、前記ガラス基板上に直接又は他の層を介して形成された磁性層とを具備することを特徴とする。   The magnetic recording medium of the present invention comprises a glass substrate produced by the above-described method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium, and a magnetic layer formed on the glass substrate directly or via another layer. It is characterized by.

この磁気記録媒体によれば、端面に傷のない磁気記録媒体用ガラス基板を用いることが出来るので、端面の傷に捕捉されるパーティクルが原因となるサーマル・アスペリティが低減され、高強度の磁気記録媒体を提供することができる。   According to this magnetic recording medium, since a glass substrate for a magnetic recording medium having no scratch on the end face can be used, thermal asperity caused by particles trapped by the scratch on the end face is reduced, and high-strength magnetic recording A medium can be provided.

本発明に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法では、磁気記録媒体用ガラス基板の端面を形成する工程において、従来用いられていたカッターやドリルによる形状加工及びその後の端面の研削及び研磨をする代わりに、ガラス素板をエッチングすることにより、ガラス基板の外形形成をするとともにガラス基板の端面形成することとした。   In the method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to the present invention, in the step of forming the end surface of the glass substrate for a magnetic recording medium, shape processing with a conventionally used cutter or drill and subsequent grinding and polishing of the end surface are performed. Instead, by etching the glass base plate, the outer shape of the glass substrate was formed and the end face of the glass substrate was formed.

その結果、エッチングによる加工では端面に傷が発生しないため、端面の傷に捕捉されるパーティクルが原因となる主表面上の異物を低減すると共に、高いガラス強度をもった磁気記録媒体用ガラス基板を得ることができる。   As a result, the processing by etching does not cause scratches on the end surface, so that foreign substances on the main surface caused by particles trapped by the end surface scratches are reduced, and a glass substrate for a magnetic recording medium having high glass strength is obtained. Obtainable.

さらには、従来の磁気記録媒体用ガラス基板の端面形成工程は、カッターやドリルでの形状加工工程と、端面の研削及び研磨工程とを必要としていたが、本発明における端面形成工程は、端面に傷が発生しないエッチングにより外形形成をするので、端面の研削及び研磨工程を必要とせず、エッチングにより形成された端面を磁気記録媒体用ガラス基板の最終の端面とすることができ、工数を低減できる。   Furthermore, the conventional end face forming step of the glass substrate for magnetic recording media required a shape processing step with a cutter or a drill and a grinding and polishing step of the end face, but the end face forming step in the present invention is performed on the end face. Since the outer shape is formed by etching without generating scratches, the end surface grinding and polishing steps are not required, and the end surface formed by etching can be used as the final end surface of the glass substrate for magnetic recording medium, thereby reducing the number of steps. .

以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。なお、以下においては、本実施の形態に係る磁気記録媒体用ガラス基板(以下、単に「ガラス基板」という)の製造方法において製造されるガラス基板が、ハードディスクドライブ(HDD)等に用いられる磁気記録媒体用のガラス基板に適用される場合について示すが、これに限定されるものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following, a magnetic substrate manufactured in the method for manufacturing a glass substrate for magnetic recording media (hereinafter simply referred to as “glass substrate”) according to the present embodiment is used for a magnetic recording used in a hard disk drive (HDD) or the like. Although it shows about the case where it applies to the glass substrate for media, it is not limited to this.

図1は、本実施の形態に係るガラス基板の製造方法において製造されるガラス基板の構造を説明する図である。図1においては、ハードディスクドライブ(HDD)などに用いられる磁気記録媒体の一つである磁気ディスクの基体となるガラス基板を示している。図1に示すように、ガラス基板11は、円盤状のガラス基板の中心に円形状の穴(以下、「円穴」という)12を形成した円環状のガラスである。ガラス基板11は、その外周の端面である外周端面13と、内周の端面である内周端面14を備えている。   FIG. 1 is a view for explaining the structure of a glass substrate manufactured in the method for manufacturing a glass substrate according to the present embodiment. FIG. 1 shows a glass substrate serving as a base of a magnetic disk that is one of magnetic recording media used in a hard disk drive (HDD) or the like. As shown in FIG. 1, the glass substrate 11 is an annular glass in which a circular hole (hereinafter referred to as “circular hole”) 12 is formed at the center of a disk-shaped glass substrate. The glass substrate 11 includes an outer peripheral end surface 13 which is an outer peripheral end surface and an inner peripheral end surface 14 which is an inner peripheral end surface.

本実施の形態に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の詳細については後述するが、その概略を述べれば、(1)ラッピング工程(ガラス素板の厚さをそろえる工程)、(2)端面形成工程(ガラス素板を円環状ガラス基板に形状加工し、磁気記録媒体用ガラス基板の最終的な端面を形成する工程)、(3)表面研磨工程(第1及び第2研磨工程)、(4)化学強化工程、を備えている。   The details of the method of manufacturing the glass substrate for magnetic recording medium according to the present embodiment will be described later, but the outline thereof will be described as follows: (1) lapping step (step of aligning the thickness of the glass base plate), (2) end face Forming step (step of forming a glass base plate into an annular glass substrate and forming a final end face of the glass substrate for magnetic recording medium), (3) surface polishing step (first and second polishing steps), ( 4) A chemical strengthening step is provided.

本実施の形態に係るガラス基板の製造方法は、端面形成工程、すなわち、ガラス素板を円環状のガラス基板に形状加工し、磁気記録媒体用ガラス基板の最終的な端面を形成する工程において、化学エッチングによる形状加工を採用することを特徴とする。以下、端面形成工程について説明する。   The manufacturing method of the glass substrate according to the present embodiment is an end surface forming step, that is, a step of shaping the glass base plate into an annular glass substrate and forming the final end surface of the glass substrate for magnetic recording medium. It is characterized by adopting shape processing by chemical etching. Hereinafter, the end face forming step will be described.

図2は、本実施の形態に係るガラス基板の製造方法においてガラス素板の形状加工に用いるフォトマスクを示す図である。同図(a)は平面図で、同図(b)は(a)におけるIIb−IIb線に沿う断面図である。フォトマスクとしては、ガラス素板を円環状に加工するための形状にパターニングされた遮光膜が透明基板21の上に形成されているものが用いられる。例えば、遮光膜は、同一中心を有する2つの円環状パターンからなり、ディスクの外形を加工するための外円環部22と、中心部の円穴を加工するための内円環部23とからなる。それぞれ数mm程度の幅の円環状である。   FIG. 2 is a diagram showing a photomask used for shape processing of a glass base plate in the method for manufacturing a glass substrate according to the present embodiment. FIG. 2A is a plan view, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line IIb-IIb in FIG. As the photomask, one in which a light shielding film patterned into a shape for processing a glass base plate into an annular shape is formed on the transparent substrate 21 is used. For example, the light shielding film is composed of two annular patterns having the same center, and includes an outer annular portion 22 for processing the outer shape of the disk and an inner annular portion 23 for processing a circular hole in the central portion. Become. Each of them has an annular shape with a width of about several mm.

フォトマスクの形状およびサイズは、製造する磁気ディスクの形状およびサイズに合わせて適宜設計すれば良い。例えば、2.5インチ(外径65mm)の磁気ディスクを製造する場合には、外円環部22の内側の端部の直径は、エッチングの際に等方性エッチングされることを考慮して分断時にガラス基板の直径が65mmになるように設計する。同様に内円環部23の外側の端部の直径は、分断時に円穴の直径が20cmになるように設計する。   The shape and size of the photomask may be appropriately designed according to the shape and size of the magnetic disk to be manufactured. For example, when manufacturing a 2.5 inch (outer diameter 65 mm) magnetic disk, the diameter of the inner end of the outer ring portion 22 is considered to be isotropically etched. The glass substrate is designed to have a diameter of 65 mm when divided. Similarly, the diameter of the outer end portion of the inner annular portion 23 is designed so that the diameter of the circular hole is 20 cm when divided.

図3は、図2に示すフォトマスクを用いてガラス素板の形状加工をする工程を説明するための図である。ガラス素板の形状加工は、ガラス素板の両面上に所定の形状のレジストパターンを形成し、そのレジストをエッチングマスク(保護膜)としてガラスをエッチングすることにより行う。   FIG. 3 is a diagram for explaining a process of processing the shape of the glass base plate using the photomask shown in FIG. The shape processing of the glass base plate is performed by forming a resist pattern having a predetermined shape on both surfaces of the glass base plate and etching the glass using the resist as an etching mask (protective film).

まず図3(a)に示すように、主表面をラッピングした後のガラス素板31の両面にネガ型レジスト32を塗布する。レジスト塗布には、スピンコーティング法、ローラーコーティング法等の通常の塗布方法を用いることができる。ガラス素板31としては、例えば、板状(シート状)のものを用いることが出来る。   First, as shown in FIG. 3A, a negative resist 32 is applied to both surfaces of the glass base plate 31 after lapping the main surface. For resist application, a normal coating method such as a spin coating method or a roller coating method can be used. As the glass base plate 31, for example, a plate-like (sheet-like) one can be used.

次に同図(b)に示すように、図2で説明したフォトマスク33を2枚用いて、両面のネガ型レジスト32に光照射することにより、フォトマスク33に形成された遮光膜以外の部分を露光する。具体的には、2枚のフォトマスク33の遮光膜である外円環部22及び内円環部23が形成されている面を両面のネガ型レジスト32にそれぞれ対向させ、それぞれのフォトマスク33の遮光膜である外円環部22及び内円環部23のパターンが重なるように位置あわせをして、外円環部22及び内円環部23が形成されている面がネガ型レジスト32に接するか又はごく近傍に位置するように、それぞれのフォトマスク33を配置する。光照射は両面から行い、両面同時に行うことも別々に行うこともできる。   Next, as shown in FIG. 2B, by using the two photomasks 33 described in FIG. 2 and irradiating light on the negative resists 32 on both sides, other than the light shielding film formed on the photomask 33. Expose part. Specifically, the surfaces of the two photomasks 33 on which the outer ring portion 22 and the inner ring portion 23 are formed are made to face the negative resists 32 on both sides, respectively. Alignment is performed so that the patterns of the outer ring portion 22 and the inner ring portion 23 that are the light shielding films overlap, and the surface on which the outer ring portion 22 and the inner ring portion 23 are formed is the negative resist 32. Each photomask 33 is arranged so as to be in contact with or located in the very vicinity. Light irradiation is performed from both sides, and both sides can be performed simultaneously or separately.

次に同図(c)に示すように、ネガ型レジスト32を現像することにより、フォトマスク33の遮光膜により、露光されなかった部分のネガ型レジスト32は溶解し、除去される。現像後、ネガ型レジスト32を乾燥する。   Next, as shown in FIG. 3C, by developing the negative resist 32, the unexposed portion of the negative resist 32 is dissolved and removed by the light shielding film of the photomask 33. After development, the negative resist 32 is dried.

次に同図(d)に示すように、現像及び乾燥されたネガ型レジスト32をエッチングマスク(保護膜)として、ガラス素板31をエッチングする。エッチング液としてはフッ酸水溶液を用い、エッチング液をガラス素板31の両面に噴射するか又はガラス素板31をエッチング液に浸漬することによりエッチングできる。両面からガラス素板31が分断されるまでエッチングすると、同図(e)に示すように、円環状のガラス基板34を得る。   Next, as shown in FIG. 4D, the glass base plate 31 is etched using the developed and dried negative resist 32 as an etching mask (protective film). Etching can be performed by using a hydrofluoric acid aqueous solution as an etchant and spraying the etchant on both surfaces of the glass base plate 31 or immersing the glass base plate 31 in the etchant. When etching is performed until the glass base plate 31 is divided from both sides, an annular glass substrate 34 is obtained as shown in FIG.

最後に同図(f)のように、ネガ型レジスト32を除去する。一般的にレジストは一定程度の時間放置しておくことにより、レジストを乾燥させ剥離してもよい。レジストを乾燥させて剥離する場合、その乾燥時間としては、例えば、12時間から36時間程度の間放置しておくのが好ましい。または、薬液処理により剥離することもできる。その場合薬液は、レジストの種類によって、適宜決定される。例えば、無機酸、無機アルカリあるいは有機溶媒を用いることで、容易に剥離ができる。   Finally, the negative resist 32 is removed as shown in FIG. In general, the resist may be peeled off by leaving it for a certain period of time. When the resist is dried and peeled off, the drying time is preferably left for 12 hours to 36 hours, for example. Or it can also peel by a chemical | medical solution process. In that case, the chemical solution is appropriately determined depending on the type of resist. For example, peeling can be easily performed by using an inorganic acid, an inorganic alkali, or an organic solvent.

なお、本発明に係る方法においては、端面形成後に主表面研磨を行うことが好ましい。これにより、保護膜であるネガ型レジスト32を除去する際に主表面が荒れることがあっても、その後の主表面研磨により鏡面化された主表面を得ることができる。この場合において、ネガ型レジスト32を研磨することにより除去することが好ましい。   In the method according to the present invention, it is preferable to perform main surface polishing after end face formation. As a result, even if the main surface is roughened when the negative resist 32 as the protective film is removed, a main surface mirrored by the subsequent main surface polishing can be obtained. In this case, it is preferable to remove the negative resist 32 by polishing.

また、本発明に係る方法においては、主表面研磨した後に、主表面上に保護膜であるネガ型レジスト32を形成し、端面形成してもよい。その場合、研磨後の主表面は保護膜により保護されるので、端面形成工程の間に傷つくことはない。   Further, in the method according to the present invention, after polishing the main surface, a negative resist 32 as a protective film may be formed on the main surface to form an end face. In that case, since the main surface after polishing is protected by the protective film, it is not damaged during the end face forming step.

このように本実施の形態においては、シート状のガラス素板の形状加工に、従来の製造工程で用いられているカッターやドリルを用いず、化学エッチングによる加工を採用したため、形状加工時に端面に傷(ヒビ、カケ)が発生せず、端面の傷に捕捉されるパーティクルが原因となる主表面上の異物をなくすと共に高いガラス強度をもった磁気記録媒体用ガラス基板を得ることができる。さらに、当該ガラス基板を用いて磁気記録媒体を作製した場合、ガラス基板の主表面上の異物を低減できるのでサーマル・アスペリティを低減することができる。   As described above, in the present embodiment, since the processing by chemical etching is employed for the shape processing of the sheet-like glass base plate without using the cutter or the drill used in the conventional manufacturing process, the end surface is subjected to the shape processing. It is possible to obtain a glass substrate for a magnetic recording medium that does not generate scratches (cracks, chips), eliminates foreign matters on the main surface caused by particles trapped by scratches on the end face, and has high glass strength. Furthermore, when a magnetic recording medium is produced using the glass substrate, foreign matter on the main surface of the glass substrate can be reduced, so that thermal asperity can be reduced.

また、化学エッチングによる形状加工時には端面に傷(ヒビ、カケ)が発生しないため、端面の研削及び研磨が不要となる。よって、エッチングにより形成された端面を磁気記録媒体用ガラス基板の最終の端面とすることができ、工数を低減できる。   In addition, scratching (cracking or chipping) does not occur on the end face during shape processing by chemical etching, so that grinding and polishing of the end face becomes unnecessary. Therefore, the end face formed by etching can be used as the final end face of the glass substrate for magnetic recording medium, and the number of steps can be reduced.

なお、ネガ型レジストを用いた場合を示したが、ポジ型レジストを用いても実施することができ、その場合は、フォトマスク33の遮光部と露光部を反転させればよい。つまりフォトマスク33の遮光膜である外円環部22及び内円環部23が形成されていない部分のみに遮光膜が形成されているマスクを用いればよい。また、エッチングのマスクとしてレジストを用いた例を示したが、同様のマスクをエッチング液に耐える金属等の膜を形成してマスクとすることもできる。その場合、レジストパターンと同じ形状の金属等の膜をガラス素板31の上に形成してエッチングマスクとする。ガラス素板31との密着性の良好な膜をエッチングマスクとすることで、ガラス素板31の表面とエッチングマスクと界面へのエッチング液の入り込みを阻止できる。   Although a case where a negative resist is used is shown, the present invention can also be carried out using a positive resist. In that case, the light shielding portion and the exposure portion of the photomask 33 may be reversed. That is, a mask in which a light shielding film is formed only on a portion where the outer annular portion 22 and the inner annular portion 23 which are light shielding films of the photomask 33 are not formed may be used. Further, although an example in which a resist is used as an etching mask has been described, a similar mask can be used by forming a film of metal or the like that can withstand an etching solution. In that case, a film of metal or the like having the same shape as the resist pattern is formed on the glass base plate 31 to serve as an etching mask. By using a film having good adhesion to the glass base plate 31 as an etching mask, it is possible to prevent the etching liquid from entering the surface of the glass base plate 31, the etching mask, and the interface.

次に、本発明に係る磁気記録媒体について説明する。本発明の磁気記録媒体は、上述したガラス基板の製造方法で製造されたガラス基板上に、少なくとも磁性層を形成したものである。   Next, the magnetic recording medium according to the present invention will be described. The magnetic recording medium of the present invention is obtained by forming at least a magnetic layer on a glass substrate manufactured by the above-described glass substrate manufacturing method.

本発明の磁気記録媒体においては、ガラス基板の端面に傷(ヒビ、カケ)がないので、サーマル・アスペリティが低減されるともに、高いガラス強度をもった磁気記録媒体を製造することが可能となる。   In the magnetic recording medium of the present invention, since there is no scratch (crack or chipping) on the end face of the glass substrate, it becomes possible to produce a magnetic recording medium having high glass strength while reducing thermal asperity. .

磁気記録媒体は、通常、ガラス基板上に、下地層、磁性層、保護層、潤滑層を順次積層して製造される。また、磁気記録媒体は、通常、所定の平坦度、表面粗さを有し、必要に応じ表面の化学強化処理を施したガラス基板上に、下地層、磁性層、保護層、潤滑層を順次積層して製造される。なお、本発明の磁気記録媒体における下地層は、磁性層に応じて適宜、選択される。   A magnetic recording medium is usually manufactured by sequentially laminating an underlayer, a magnetic layer, a protective layer, and a lubricating layer on a glass substrate. A magnetic recording medium usually has a predetermined flatness and surface roughness, and a base layer, a magnetic layer, a protective layer, and a lubricating layer are sequentially formed on a glass substrate subjected to a chemical strengthening treatment on the surface as necessary. Manufactured by stacking. The underlayer in the magnetic recording medium of the present invention is appropriately selected according to the magnetic layer.

下地層としては、例えば、Cr、Mo、Ta、Ti、W、V、B、Alなどの非磁性金属から選ばれる少なくとも一種以上の材料からなる下地層等が挙げられる。Coを主成分とする磁性層の場合には、磁気特性向上等の観点からCr単体やCr合金であることが好ましい。また、下地層は、単層とは限らず、同一又は異種の層を積層した複数層構造とすることもできる。例えば、Cr/Cr、Cr/CrMo、Cr/CrV、CrV/CrV、Al/Cr/CrMo、Al/Cr/Cr、Al/Cr/CrV、Al/CrV/CrV等の多層下地層等が挙げられる。   Examples of the underlayer include an underlayer made of at least one material selected from nonmagnetic metals such as Cr, Mo, Ta, Ti, W, V, B, and Al. In the case of a magnetic layer containing Co as a main component, Cr alone or a Cr alloy is preferable from the viewpoint of improving magnetic characteristics. Further, the underlayer is not limited to a single layer, and may have a multi-layer structure in which the same or different layers are stacked. Examples thereof include multilayer underlayers such as Cr / Cr, Cr / CrMo, Cr / CrV, CrV / CrV, Al / Cr / CrMo, Al / Cr / Cr, Al / Cr / CrV, and Al / CrV / CrV. .

本発明の磁気記録媒体における磁性層の材料は、特に制限されるものではない。磁性層としては、例えば、Coを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、CoNiCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiPtや、CoNiCrPt、CoNiCrTa、CoCrTaPt、CoCrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げられる。磁性層は、磁性膜を非磁性膜(例えば、Cr、CrMo、CrVなど)で分割してノイズの低減を図った多層構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtCr、CoCrTaPt/CrMo/CoCrTaPtなど)としてもよい。   The material of the magnetic layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited. Examples of the magnetic layer include magnetic thin films such as CoPt, CoCr, CoNi, CoNiCr, CoCrTa, CoPtCr, CoNiPt containing Co as a main component, CoNiCrPt, CoNiCrTa, CoCrTaPt, and CoCrPtSiO. The magnetic layer may be a multilayer structure (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtCr, CoCrTaPt / CrMo / CoCrTaPt, etc.) in which the magnetic film is divided by a non-magnetic film (for example, Cr, CrMo, CrV) to reduce noise. Good.

磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は巨大磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁性層としては、Co系合金に、Y、Si、希土類元素、Hf、Ge、Sn、Znから選択される不純物元素、又はこれらの不純物元素の酸化物を含有させたものなども含まれる。また、磁性層としては、上記の他、フェライト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNなどからなる非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の磁性粒子が分散された構造のグラニュラー膜などであってもよい。また、磁性層は、面内型記録形式に用いられるものでもよいし、垂直型記録形式に用いられるものであってもよい。 As a magnetic layer corresponding to a magnetoresistive head (MR head) or a giant magnetoresistive head (GMR head), a Co-based alloy, an impurity element selected from Y, Si, rare earth elements, Hf, Ge, Sn, and Zn Or those containing oxides of these impurity elements. As the magnetic layer, in addition to the above, ferritic, iron - rare-earth and, Fe in a non-magnetic film made of SiO 2, BN, Co, FeCo, the structure in which the magnetic particles are dispersed, such CoNiPt granular It may be a film or the like. The magnetic layer may be used for an in-plane recording format or may be used for a vertical recording format.

本発明の磁気記録媒体における保護層は、特に制限されるものではない。保護層としては、例えば、Cr膜、Cr合金膜、カーボン膜、ジルコニア膜、シリカ膜等が挙げられる。これらの保護膜は、下地層、磁性層等と共にインライン型スパッタ装置で連続して形成できる。また、これらの保護膜は、単層としてもよく、或いは、同一又は異種の膜からなる多層構成としてもよい。   The protective layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited. Examples of the protective layer include a Cr film, a Cr alloy film, a carbon film, a zirconia film, and a silica film. These protective films can be continuously formed by an in-line sputtering apparatus together with an underlayer, a magnetic layer, and the like. These protective films may be a single layer, or may have a multilayer structure composed of the same or different films.

本発明の磁気記録媒体における潤滑層は、特に制限されるものではない。潤滑層は、例えば、液体潤滑剤であるパーフロロポリエーテル(PFPE)をフレオン系などの溶媒で希釈し、媒体表面にディッピング法、スピンコート法、スプレイ法によって塗布し、必要に応じ加熱処理を行って形成する。   The lubricating layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited. For example, the lubricating layer may be obtained by diluting perfluoropolyether (PFPE), which is a liquid lubricant, with a solvent such as Freon, and applying it to the surface of the medium by dipping, spin coating, or spraying. Go and form.

以上のように、本発明に係る磁気記録媒体においては、上述した本発明に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法で製造されたガラス基板を用いているため、サーマル・アスペリティの発生を低減すると共に、高いガラス強度をもった磁気記録媒体を製造することが可能となる。   As described above, in the magnetic recording medium according to the present invention, since the glass substrate manufactured by the above-described method for manufacturing a glass substrate for magnetic recording medium according to the present invention is used, the occurrence of thermal asperity is reduced. At the same time, a magnetic recording medium having high glass strength can be manufactured.

[実施例]
以下、本発明の効果を明確にするために行った実施例について説明する。この実施例においては、以下の工程を経て、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクを製造した。以下の説明では、2.5インチ型の磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクを製造する例について説明するが、磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクのサイズとしては、特に限定されるものではなく、例えば、1.8インチや1インチ、3.5インチのサイズのものであってもよい。
[Example]
Examples carried out to clarify the effects of the present invention will be described below. In this example, a glass substrate for a magnetic recording medium and a magnetic disk were manufactured through the following steps. In the following description, an example of manufacturing a 2.5-inch magnetic disk glass substrate and a magnetic disk will be described. However, the size of the magnetic disk glass substrate and the magnetic disk is not particularly limited. 1.8 inch, 1 inch, and 3.5 inch sizes may be used.

(1)ラッピング工程
まず、アモルファスガラスからなる多成分系のガラス素板を用意した。ガラスの硝種はアルミノシリケートガラスであり、このガラス素板は、フロート法で成形し、シート状でサイズが150x150x0.8mmのガラス素板とした。
(1) Lapping process First, a multicomponent glass base plate made of amorphous glass was prepared. The glass type of the glass is aluminosilicate glass, and this glass base plate was formed by a float process to form a glass base plate having a sheet shape and a size of 150 × 150 × 0.8 mm.

次に、このシート状ガラスの両主表面をラッピング加工し、ディスク状のガラス母材とした。このラッピング加工は、遊星歯車機構を利用した両面ラッピング装置により、アルミナ系遊離砥粒を用いて行った。   Next, both main surfaces of the sheet glass were lapped to form a disk-shaped glass base material. This lapping process was performed using alumina free abrasive grains with a double-sided lapping apparatus using a planetary gear mechanism.

(2)端面形成工程
この工程は、ガラス素板を円環状ガラス基板に形状加工し、磁気記録媒体用ガラス基板の最終端面を形成する工程である。この工程をさらに詳細に分けると、(2−1)レジスト塗布工程、(2−2)レジスト露光、現像工程、(2−3)分断工程、(2−4)レジスト剥離工程とに分けられる。以下、各工程について説明する。
(2) End surface formation process This process is a process of forming the final end surface of the glass substrate for magnetic recording media by processing the glass base plate into an annular glass substrate. This process can be further divided into (2-1) resist coating process, (2-2) resist exposure, development process, (2-3) splitting process, and (2-4) resist stripping process. Hereinafter, each step will be described.

(2−1)レジスト塗布工程
レジスト塗布工程は、ガラスをエッチング分断するときのエッチングマスク(保護膜)の役割を担うレジスト膜を塗布する工程である。レジスト膜には、耐フッ酸性のネガ型レジスト剤を用いた。そして、レジスト剤塗布後、基板をオーブンに投入してレジスト膜を乾燥させた。
(2-1) Resist application process A resist application process is a process of apply | coating the resist film which plays the role of the etching mask (protective film) at the time of etching parting of glass. For the resist film, a hydrofluoric acid-resistant negative resist was used. Then, after applying the resist agent, the substrate was put into an oven to dry the resist film.

(2−2)レジスト露光、現像工程
レジスト露光、現像工程は、所定の形状にガラスエッチング分断するために、エッチング部上のレジスト膜を溶解するための工程である。露光には、フォトマスクを介して露光した。フォトマスクは、図2を用いて説明した形状のフォトマスクを用いた。そして、両面同時に露光を行った。現像工程には、現像液(NaCO溶液)を用いた。
(2-2) Resist exposure and development process The resist exposure and development process is a process for dissolving the resist film on the etching portion in order to divide the glass etching into a predetermined shape. For exposure, exposure was performed through a photomask. As the photomask, the photomask having the shape described with reference to FIG. 2 was used. Then, both sides were exposed simultaneously. A developing solution (Na 2 CO 3 solution) was used in the developing step.

(2−3)分断工程
分断工程は、フッ酸水溶液を用いてガラスをエッチング溶解、所定の形状に分断整形する工程である。フッ酸と塩酸の混酸水溶液を用いてエッチングを行った。
(2-3) Dividing Step The dividing step is a step in which glass is dissolved by etching using a hydrofluoric acid aqueous solution and divided into a predetermined shape. Etching was performed using a mixed acid aqueous solution of hydrofluoric acid and hydrochloric acid.

(2−4)レジスト剥離工程
レジスト剥離工程は、分断後のガラスからレジスト膜を剥離する工程である。分断後のガラス基板を1日放置することで、レジスト膜が乾燥させて剥離した。レジスト膜を乾燥させて剥離することで、溶液を用いて剥離する場合と比べて、磁気ディスク用ガラス基板として用いられる基板の表面粗さの増大を低減させることができる。
(2-4) Resist stripping step The resist stripping step is a step of stripping the resist film from the divided glass. By leaving the divided glass substrate for 1 day, the resist film was dried and peeled off. By drying and peeling the resist film, an increase in the surface roughness of the substrate used as the glass substrate for the magnetic disk can be reduced as compared with the case of peeling using the solution.

以上、(2)端面形成工程により、ガラス素板は円環状のガラス基板に形状加工された。さらに、エッチングにより加工したので、端面には傷がなく、端面の研削、研磨は必要ない。よって、この工程により形成した端面は磁気ディスクの最終端面とすることができる。   As described above, the glass base plate was processed into an annular glass substrate by the (2) end face forming step. Furthermore, since it was processed by etching, there is no scratch on the end face, and it is not necessary to grind or polish the end face. Therefore, the end face formed by this process can be the final end face of the magnetic disk.

(3)主表面研磨工程
主表面研磨工程として、まず第1研磨工程を施した。この第1研磨工程は、上述した端面形成後のガラス基板に対して実施するものであり、ラッピング工程において主表面に残留したキズや歪みの除去を主たる目的とするものである。両表面を研磨できる研磨装置を用いて予備研磨工程を実施した。研磨パッドには、予め酸化ジルコニウムと酸化セリウムとを含ませてある硬質ウレタン系パッドを使用した。研磨液は、水に、平均粒径が1.2μmの酸化セリウム研磨砥粒を混合することにより作成した。
(3) Main surface polishing step As the main surface polishing step, first, a first polishing step was performed. This first polishing step is performed on the glass substrate after the end face is formed, and the main purpose is to remove scratches and distortions remaining on the main surface in the lapping step. A preliminary polishing step was performed using a polishing apparatus capable of polishing both surfaces. As the polishing pad, a hard urethane pad preliminarily containing zirconium oxide and cerium oxide was used. The polishing liquid was prepared by mixing cerium oxide abrasive grains having an average particle diameter of 1.2 μm with water.

この第1研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純水(1)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。   The glass substrate that has finished the first polishing step is sequentially immersed in cleaning baths of neutral detergent, pure water (1), pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) for cleaning. did.

次に、主表面研磨工程として、第2研磨工程(鏡面研磨工程)を施した。第2研磨工程は、第1研磨されたガラス素板をさらに研磨して、ガラス素板の表面が鏡面化するまで研磨する工程である。第2研磨工程は、遊星歯車機構を有する両面研磨装置により、ポリウレタン系軟質ポリシャの研磨パッドを用いて、表面の鏡面研磨を行った。研磨液は、超純水に、さらにグレイン径が40nmのコロイド状シリカ粒子を加えて作製した。   Next, a second polishing step (mirror polishing step) was performed as the main surface polishing step. The second polishing step is a step of further polishing the first polished glass base plate until the surface of the glass base plate is mirror-finished. In the second polishing step, mirror polishing of the surface was performed using a polishing pad of a polyurethane-based soft polisher with a double-side polishing apparatus having a planetary gear mechanism. The polishing liquid was prepared by adding colloidal silica particles having a grain diameter of 40 nm to ultrapure water.

そして、この第2研磨工程を終えたガラス素板を、中性洗剤(1)、中性洗剤(2)、純水(1)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には、超音波を印加した。   And the glass base plate which finished this 2nd grinding | polishing process is made into neutral detergent (1), neutral detergent (2), pure water (1), pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), IPA (steam). (Dry) was sequentially immersed in each washing tank and washed. Note that ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

(4)化学強化処理工程
次に、上述したラッピング工程及び研磨工程を終えたガラス基板に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を380°Cに加熱し、その中に洗浄済みのガラス基板を約4時間浸漬することによって行った。この浸漬の際には、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が端面で保持されるように、ホルダーに収納した状態で行った。
(4) Chemical strengthening process Next, the glass substrate which finished the lapping process and the grinding | polishing process mentioned above was chemically strengthened. For chemical strengthening, a chemical strengthening solution in which potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) are mixed is prepared, this chemical strengthening solution is heated to 380 ° C., and the cleaned glass substrate is placed therein for about 4 hours. This was done by dipping. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, it was carried out in a state of being accommodated in a holder so that a plurality of glass substrates were held at the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板の表層のリチウムイオン及びナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン及びカリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラス基板が強化される。ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100μm前後であった。   Thus, by immersing in a chemical strengthening solution, the lithium ion and sodium ion of the surface layer of a glass substrate are each substituted by the sodium ion and potassium ion in a chemical strengthening solution, and a glass substrate is strengthened. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 μm.

化学強化処理を終えたガラス基板を、20°Cの水槽に浸漬して急冷し、約10分間維持した。そして、急冷を終えたガラス基板を、約40°Cに加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さらに、硫酸洗浄を終えたガラス基板を、純水(1)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波を印加した。   The glass substrate that had been subjected to the chemical strengthening treatment was immersed in a water bath at 20 ° C. for rapid cooling and maintained for about 10 minutes. And the glass substrate which finished quenching was immersed in the concentrated sulfuric acid heated at about 40 degreeC, and was wash | cleaned. Further, the glass substrate after the sulfuric acid cleaning was cleaned by immersing in a cleaning tank of pure water (1), pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying). In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

このように、ラッピング工程、端部形成工程、主表面研磨工程(第1及び第2研磨工程)、化学強化工程を施すことにより、端面に傷がなく、高剛性の磁気記録媒体用のガラス基板を得た。   As described above, the lapping process, the edge forming process, the main surface polishing process (first and second polishing processes), and the chemical strengthening process are performed, so that the end face is not damaged and the glass substrate for a high-rigidity magnetic recording medium is used. Got.

(5)精密洗浄工程
次に、上記ガラスディスクの精密洗浄を行った。これは、ヘッドクラッシュやサーマル・アスペリティの原因となる研磨剤残渣などを除去し、表面が平滑で清浄なガラス基板を得るためのものである。この精密洗浄工程は、以下の一連の洗浄工程を含む。
(5) Precision cleaning process Next, the glass disk was precisely cleaned. This is to remove abrasive residues and the like that cause head crashes and thermal asperities, and to obtain a glass substrate having a smooth surface and a clean surface. This precision cleaning process includes the following series of cleaning processes.

まず、洗浄液による洗浄工程を実施した。この洗浄液は、アルカリ性の薬液を用いた。ガラスディスクをこの洗浄液に浸漬させた上で揺動させながら2分間洗浄した。なお、このとき、洗浄液の温度は50℃とし、超音波を加えて洗浄効果を高めるようにした。   First, a cleaning process using a cleaning solution was performed. An alkaline chemical solution was used as the cleaning solution. The glass disk was immersed in this cleaning solution and then washed for 2 minutes while rocking. At this time, the temperature of the cleaning liquid was set to 50 ° C., and ultrasonic waves were applied to enhance the cleaning effect.

次に、水リンス洗浄工程を2分間行った。これは、上述した洗浄で用いた洗浄液の残渣を除去するためのものである。そして、IPA洗浄工程を2分間行った。これは、ガラスディスクを洗浄すると共に、ガラス基板上の水を除去するためのものである。最後に、IPA蒸気乾燥工程を2分間行った。これは、ガラス基板に付着している液状IPAをIPA蒸気により除去しつつ乾燥させるためのものである。   Next, the water rinse washing | cleaning process was performed for 2 minutes. This is for removing the residue of the cleaning liquid used in the above-described cleaning. Then, the IPA cleaning process was performed for 2 minutes. This is for cleaning the glass disk and removing water on the glass substrate. Finally, the IPA vapor drying process was performed for 2 minutes. This is for drying while removing the liquid IPA adhering to the glass substrate with the IPA vapor.

(6)磁気ディスク製造工程
上述した工程を経て得られたガラス基板の両面に、枚葉式のスパッタリング装置を用いて、シード層、Cr下地層、CrMo下地層、CoPtCrTa磁性層、水素化カーボン保護層を成膜し、ディップ法によりパーフルオロポリエーテル潤滑層を形成して磁気ディスクを作製した。
(6) Magnetic disk manufacturing process A seed layer, Cr underlayer, CrMo underlayer, CoPtCrTa magnetic layer, hydrogenated carbon protection on both surfaces of the glass substrate obtained through the above-described steps using a single-wafer sputtering apparatus. A layer was formed, and a perfluoropolyether lubricating layer was formed by a dip method to produce a magnetic disk.

[比較例1]
ここで上述した実施例と比較するために、比較例1として、従来の方法による端面形成工程を実施して、ガラス基板の作製をおこなった。つまり、ガラス基板の外周についてはダイヤモンドカッターにより加工し、中心部の円穴についてはダイヤモンド砥粒を用いたコアドリルで加工した。その後、上記加工により得られた円環状のガラス基板の内周端面及び外周端面を研磨し、鏡面加工を行った。この工程における研磨は、研磨剤として酸化セリウムを用いてブラシ等により行った。端面形成工程以外の工程は本実施例と同様にした。ただし、比較例1については、化学強化処理を実施しなかった。
[Comparative Example 1]
In order to compare with the Example mentioned above here, as the comparative example 1, the end surface formation process by the conventional method was implemented, and the glass substrate was produced. That is, the outer periphery of the glass substrate was processed with a diamond cutter, and the center hole was processed with a core drill using diamond abrasive grains. Thereafter, the inner peripheral end face and the outer peripheral end face of the annular glass substrate obtained by the above processing were polished and mirror-finished. The polishing in this step was performed with a brush or the like using cerium oxide as an abrasive. Processes other than the end face forming process were the same as in this example. However, for Comparative Example 1, no chemical strengthening treatment was performed.

[比較例2]
次に、比較例2として、比較例1で作製したガラス基板に対して、化学強化処理を行ったものを作製した。化学強化処理は、実施例と同じ条件で行った。
[Comparative Example 2]
Next, as Comparative Example 2, a glass substrate prepared in Comparative Example 1 was subjected to chemical strengthening treatment. The chemical strengthening treatment was performed under the same conditions as in the examples.

[表面観察]
本実施例における磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法によって製造した磁気記録媒体用ガラス基板と、上記比較例1及び2によって製造したガラス基板について、端面及び主表面の表面観察を行った。実施例については、化学強化処理をしていないもの(実施例1)と化学強化処理したもの(実施例2)について表面観察した。表面観察は、電子顕微鏡(4000倍)を用いて行った。
[Surface observation]
Surface observation of the end face and the main surface was performed on the glass substrate for magnetic recording medium manufactured by the method for manufacturing the glass substrate for magnetic recording medium in this example and the glass substrate manufactured by the above Comparative Examples 1 and 2. About the Example, the surface observation was carried out about what was not chemically strengthened (Example 1) and what was chemically strengthened (Example 2). Surface observation was performed using an electron microscope (4000 times).

その結果、実施例1及び実施例2については、磁気記録媒体用ガラス基板の外周端面及び内周端面ともに、異物や傷(ヒビ、カケ)が認められず、端面表面は鏡面状態であった。ガラス基板の主表面についても異物は認められなかった。これは、本実施例に係る磁気記録媒体用ガラス基の製造方法の場合、エッチング処理により端面形成するため端面に傷が発生せず、端面の傷に起因するパーティクルの主表面への付着がなかったことを示している。   As a result, in Example 1 and Example 2, no foreign matter or scratches (cracks, chipping) were observed on the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface of the magnetic recording medium glass substrate, and the end surface was in a mirror state. No foreign matter was observed on the main surface of the glass substrate. This is because, in the case of the method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to the present embodiment, the end surface is formed by etching, so that the end surface is not damaged, and the particle is not attached to the main surface due to the end surface. It shows that.

比較例1及び比較例2についても同様に表面観察をしたところ、外周端面及び内周端面に、細かい傷(ヒビ、カケ)が認められた。また、ガラス基板の主表面については、このガラス基板を用いて磁気ディスクを作製した場合に、サーマル・アスペリティの原因となり得るパーティクルが認められた。   When surface observation was similarly performed for Comparative Example 1 and Comparative Example 2, fine scratches (cracks, cracks) were observed on the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface. In addition, on the main surface of the glass substrate, particles that could cause thermal asperity were observed when a magnetic disk was produced using this glass substrate.

これは、比較例1及び比較例2においては、外周端面及び内周端面の研磨が不十分であったため、端面に細かい傷が残り、当該傷にパーティクルが捕捉され、そのパーティクルが、後の工程の間に、表面に付着したものと考えられる。   This is because in Comparative Example 1 and Comparative Example 2, the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface were not sufficiently polished, so that fine scratches remained on the end surfaces, and the particles were captured by the scratches. It is thought that it adhered to the surface during this period.

[抗折強度テスト]
さらに、上述の実施例1、実施例2、比較例1及び比較例2について、図4に示す抗折強度試験機(島津オートグラフDDS−2000)を用い、抗折強度を測定した。この抗折強度試験機は、基板ホルダー41の上に被試験物であるガラス基板42を置き、そのガラス基板42の円穴の上に剛球43を置き、ロードセル44を介して当該剛球43の上から加圧して、ガラス基板42の抗折強度を測定するものである。ガラス基板42は、その外周部だけが、基板ホルダー41により支えられているので、中心部にある円穴部分が上から加圧されることにより、ガラス基板42は撓み、加圧の圧力を高めていくと、ガラス基板の強度の限界となったところで、ガラス基板42は割れることになる。そのときの圧力をもって、ガラス基板42の抗折強度とする。
[Bending strength test]
Furthermore, with respect to the above-described Example 1, Example 2, Comparative Example 1 and Comparative Example 2, the bending strength was measured using the bending strength tester (Shimadzu Autograph DDS-2000) shown in FIG. In this bending strength tester, a glass substrate 42 as a test object is placed on a substrate holder 41, a rigid sphere 43 is placed on a circular hole of the glass substrate 42, and the rigid sphere 43 is placed on the rigid sphere 43 via a load cell 44. And the bending strength of the glass substrate 42 is measured. Since only the outer peripheral portion of the glass substrate 42 is supported by the substrate holder 41, the glass substrate 42 bends and increases the pressure of pressure when the circular hole portion in the center is pressed from above. As a result, the glass substrate 42 is broken at the limit of the strength of the glass substrate. The pressure at that time is used as the bending strength of the glass substrate 42.

上述の実施例1、実施例2、比較例1及び比較例2それぞれについて上述の抗折強度測定を実施した結果、本実施例に係る磁気記録媒体用ガラス基板においては、化学強化処理をしていない実施例1であっても、比較例1(化学強化処理なし)及び比較例2(化学強化処理あり)に比べて、高い抗折強度が得られた。化学強化処理した実施例2については、実施例1よりも抗折強度が高くなった。   As a result of performing the bending strength measurement for each of the above-described Example 1, Example 2, Comparative Example 1 and Comparative Example 2, the glass substrate for a magnetic recording medium according to this example was subjected to chemical strengthening treatment. Even in Example 1 that was not present, a higher bending strength was obtained compared to Comparative Example 1 (without chemical strengthening treatment) and Comparative Example 2 (with chemical strengthening treatment). About Example 2 which carried out the chemical strengthening process, the bending strength became higher than Example 1. FIG.

これらの結果は、従来の方法で端面形成した比較例1及び比較例2においては、上記表面観察の結果からわかるように、端面に細かい傷が残っているため、化学強化したものであっても、強度の高いガラス基板を得ることはできなかったことを示している。   These results show that in Comparative Example 1 and Comparative Example 2 in which the end surfaces are formed by the conventional method, as shown in the results of the surface observation, fine scratches remain on the end surfaces. This indicates that a glass substrate having high strength could not be obtained.

それに対して、本実施例は、ガラス基板の端面形成にエッチングを採用したことにより、端面に傷が発生せず、化学強化する前のものであっても高い強度のガラス基板を得ることができた。   On the other hand, in this example, by adopting etching for forming the end face of the glass substrate, scratches are not generated on the end face, and a high-strength glass substrate can be obtained even before chemical strengthening. It was.

[記録再生試験]
次に、上述の実施例1、実施例2、比較例1及び比較例2のそれぞれガラス基板を用いて磁気ディスクを作製し、記録再生試験を行った。記録再生試験は、再生素子部が磁気抵抗効果型素子であり、記録素子部が単磁極型素子であって、浮上量が8nmである磁気ヘッドを用いて、垂直記録方式によるものとした。
[Recording and playback test]
Next, a magnetic disk was prepared using the glass substrates of Example 1, Example 2, Comparative Example 1, and Comparative Example 2, respectively, and a recording / reproducing test was performed. The recording / reproducing test was performed by a perpendicular recording method using a magnetic head in which the reproducing element portion was a magnetoresistive element, the recording element portion was a single magnetic pole element, and the flying height was 8 nm.

その結果、実施例1及び実施例2においては、正常に情報が記録、再生されることを確認した。その際、再生信号にサーマル・アスペリティ信号が検出されることもなく、1平方インチ当り100ギガビットで記録再生を行うことができた。これは、実施例1及び実施例2においては、エッチング処理により端面形成するため端面に傷が発生せず、端面の傷に起因するパーティクルの主表面への付着がなかったことを示している。   As a result, in Example 1 and Example 2, it was confirmed that information was normally recorded and reproduced. At that time, recording / reproduction could be performed at 100 gigabits per square inch without detecting a thermal asperity signal as a reproduction signal. This indicates that in Example 1 and Example 2, since the end face was formed by the etching process, no scratch was generated on the end face, and there was no adhesion of particles to the main surface due to the scratch on the end face.

一方、比較例1及び比較例2においては、再生信号にサーマル・アスペリティ信号が検出された。この結果から、比較例1及び比較例2においては、外周端面及び内周端面の研磨が不十分であったため、端面に細かい傷が残り、当該傷にパーティクルが捕捉され、そのパーティクルが、後の工程の間に、表面に付着したものと考えられる。   On the other hand, in Comparative Example 1 and Comparative Example 2, a thermal asperity signal was detected in the reproduction signal. From this result, in Comparative Example 1 and Comparative Example 2, since the polishing of the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface was insufficient, fine scratches remained on the end surfaces, and the particles were captured by the scratches. It is thought that it adhered to the surface during the process.

以上の検査結果より、本発明に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、ガラス基板の端面形成にエッチングを採用したことにより、端面に傷が発生しないため、端面の傷に捕捉されるパーティクルが原因となる主表面上の異物を低減するとともに高いガラス強度をもった磁気記録媒体用ガラス基板が得られることを確認した。   From the above inspection results, in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic recording medium according to the present invention, since the etching is used for forming the end surface of the glass substrate, the end surface is not damaged. It was confirmed that a glass substrate for a magnetic recording medium having a high glass strength can be obtained while reducing foreign matters on the main surface caused by particles.

また、本発明におけるガラス基板を用いた磁気記録媒体では、ガラス基板の主表面上の異物を低減できるので、サーマル・アスペリティを低減することができることを確認した。   Moreover, in the magnetic recording medium using the glass substrate in the present invention, it was confirmed that the thermal asperity can be reduced because foreign matters on the main surface of the glass substrate can be reduced.

さらには、本発明における端面形成工程は、端面に傷が発生しないエッチングにより外形形成をするので、端面の研削及び研磨工程を必要とせず、エッチングにより形成された端面を磁気記録媒体用ガラス基板の最終の端面とすることができ、工数を低減できた。   Furthermore, since the end face forming step in the present invention forms the outer shape by etching that does not cause scratches on the end face, the end face formed by etching is not required for grinding and polishing steps of the end face. The final end face can be obtained, and man-hours can be reduced.

さらに、本実施例では、端面形成した後に主表面研磨するので、保護膜であるレジストを剥離する際に、薬液等で主表面が荒れることがあっても、その後の主表面研磨により鏡面化された主表面を得ることができた。   Furthermore, in this embodiment, the main surface is polished after the end face is formed. Therefore, even when the main surface is roughened by a chemical solution or the like when the resist as the protective film is peeled off, it is mirrored by the subsequent main surface polishing. The main surface could be obtained.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、適宜変更して実施することができる。例えば、本実施の形態においては、保護膜であるレジストを剥離した後に主表面研磨する方法を示したが、それには限定されず、例えば、主表面研磨工程においてレジストを研磨することにより除去することもできる。その場合、レジストを剥離する工程を省略でき、工数を低減できる。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can implement by changing suitably. For example, in the present embodiment, the method of polishing the main surface after removing the resist that is the protective film is shown, but the present invention is not limited to this, and for example, the resist is removed by polishing in the main surface polishing step. You can also. In that case, the step of stripping the resist can be omitted, and the number of steps can be reduced.

また、本実施の形態においては、端面形成した後に主表面研磨する方法を示したが、これには限定されず、例えば主表面研磨した後に、主表面上に保護膜を形成し、端面形成することもできる。その場合、研磨後の主表面は保護膜により保護されるので、端面形成工程の間に傷つくことはない。   In this embodiment, the method of polishing the main surface after forming the end surface is shown, but the present invention is not limited to this. For example, after polishing the main surface, a protective film is formed on the main surface to form the end surface. You can also. In that case, since the main surface after polishing is protected by the protective film, it is not damaged during the end face forming step.

また、本実施の形態においては、端面形成工程の後に端面の研磨を行わない例を示したが、これには限定されず、端面形成工程の後に端面を研磨しても良い。この方法によれば、機械加工によって端面が形成されていないため、端面にクラックがほとんどない状態で、端面を研磨(鏡面)にすることにより、さらに、当該端面にパーティクルの付着を防止できる。   In the present embodiment, an example in which the end face is not polished after the end face forming process is shown; however, the present invention is not limited to this, and the end face may be polished after the end face forming process. According to this method, since the end surface is not formed by machining, it is possible to further prevent particles from adhering to the end surface by polishing the end surface (mirror surface) with almost no cracks on the end surface.

また、上記実施の形態における材料、サイズ、処理手順などは一例であり、本発明の効果を発揮する範囲内において種々変更して実施することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。   In addition, the material, size, processing procedure, and the like in the above-described embodiment are merely examples, and various modifications can be made within the range where the effects of the present invention are exhibited. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the object of the present invention.

本発明の実施の形態における磁気ディスクの外観を示す図。The figure which shows the external appearance of the magnetic disc in embodiment of this invention. 本発明の実施の形態における磁気ディスク用ガラス基板の製造工程に用いるフォトマスクの外観を示す図。The figure which shows the external appearance of the photomask used for the manufacturing process of the glass substrate for magnetic discs in embodiment of this invention. 本発明の実施の形態における磁気ディスク用ガラス基板の製造工程を説明するための図。The figure for demonstrating the manufacturing process of the glass substrate for magnetic discs in embodiment of this invention. 本発明の実施例における抗折強度試験機の外観を示す図。The figure which shows the external appearance of the bending strength tester in the Example of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11 ガラス基板
12 円穴
13 外周端面
14 内周端面
21 透明基板
22 外円環部
23 内円環部
31 ガラス素板
32 ネガ型レジスト
33 フォトマスク
34 円環状のガラス基板
41 基板ホルダー
42 ガラス基板
43 剛球
44 ロードセル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Glass substrate 12 Circular hole 13 Outer peripheral end surface 14 Inner peripheral end surface 21 Transparent substrate 22 Outer ring part 23 Inner ring part 31 Glass base plate 32 Negative resist 33 Photomask 34 Annular glass substrate 41 Substrate holder 42 Glass substrate 43 Hard sphere 44 load cell

Claims (6)

シート状のガラス素板の主表面における、ガラス基板の主表面となる領域に保護膜を形成する工程と、
前記保護膜をエッチングマスクとして前記ガラス素板をエッチングすることにより、前記ガラス基板の外形形成を行うとともに前記ガラス基板の端面を形成する端面形成工程と、
を含む磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A step of forming a protective film in a region of the main surface of the glass substrate in the main surface of the sheet-like glass base plate;
Etching the glass base plate using the protective film as an etching mask to form an outer surface of the glass substrate and form an end surface of the glass substrate,
The manufacturing method of the glass substrate for magnetic recording media containing this.
前記端面形成工程の後に、前記ガラス基板の主表面を研磨する主表面研磨工程を有する請求項1記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to claim 1, further comprising a main surface polishing step of polishing the main surface of the glass substrate after the end face forming step. 前記主表面研磨工程において、前記保護膜を研磨することにより除去する請求項2記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic recording medium according to claim 2, wherein the protective film is removed by polishing in the main surface polishing step. 前記保護膜を形成する工程の前に、前記ガラス素板の主表面を鏡面研磨する工程を有する請求項1記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to claim 1, further comprising a step of mirror-polishing the main surface of the glass base plate before the step of forming the protective film. 前記端面形成工程の後で、前記端面を研磨する端面研磨工程を有する請求項1記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to claim 1, further comprising an end surface polishing step for polishing the end surface after the end surface forming step. 請求項1ないし5のいずれか記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法により製造されたガラス基板と、前記ガラス基板上に直接又は他の層を介して形成された磁性層と、を具備する磁気記録媒体。   A glass substrate produced by the method for producing a glass substrate for a magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 5, and a magnetic layer formed on the glass substrate directly or via another layer. Magnetic recording medium.
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