JP2009080638A - Integrated circuit manufacturing device, its method, and program - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an integrated circuit manufacturing device and its method and program, for easily executing the change of wiring connection in manufacturing an integrated circuit by arranging cells configured of the combination of a plurality of logic circuits with prescribed array configurations, and integrating them into multi-layer wiring. <P>SOLUTION: This integrated circuit manufacturing device is provided with: a replacement part for replacing a first sequential circuit in which an initial logical value is predicted to change among a plurality of logic circuits with a second sequential circuit; a wiring inhibition region setting part by which after arranging the second sequential circuit replaced by the replacing part, a wiring inhibition region is set in any one wiring layer among a plurality of wiring layers whose wiring can be connected to the prescribed terminal of the sequential circuit; and a wiring part for wiring-connecting the prescribed terminal of the sequential circuit in the wiring layer of the wiring inhibition region in changing the initial logical value of the replaced second sequential circuit in the middle of the setting of an integrated circuit. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製装置に関するものである。   The present invention relates to an integrated circuit manufacturing apparatus for manufacturing an integrated circuit in which a plurality of logic circuit groups are arranged in a predetermined arrangement form based on circuit information to form a multilayer wiring.

LSI(Large Scale Integration、大規模集積回路)等をはじめとする集積回路をたとえば複数の論理回路を組にしたセルをマトリックス状に配列して多層配線化するセルベースのレイアウト作製が広く行われている。   Cell-based layout production is widely performed in which integrated circuits such as LSI (Large Scale Integration) and the like are arranged in a matrix in a plurality of logic circuits, for example, to form a multilayer wiring. Yes.

一方、たとえば図11に図示する撮像装置400では、撮像装置400外部との通信やタイミングジェネレータ410、画素部420、画像処理部430等のタイミングをレジスタ440が行っている。このような撮像装置400では、アナログ特性値をその特性評価結果や使用状況に応じてレジスタを変更する。
特開平9−129738
On the other hand, for example, in the imaging apparatus 400 illustrated in FIG. 11, the register 440 performs communication with the outside of the imaging apparatus 400 and timing of the timing generator 410, the pixel unit 420, the image processing unit 430, and the like. In such an imaging apparatus 400, the register of the analog characteristic value is changed according to the characteristic evaluation result and the usage situation.
JP 9-129738 A

セルベースによる集積回路のレイアウト作製では、レジスタを用いることを前提としていない。したがって、上述のレジスタ440を採用した撮像装置400等では、レイアウト作製時に非同期のレジスタ440の初期論理値を容易に変更できない。その結果、レイアウトの作製途中でレジスタ440の初期論理値が好ましくない場合にその値を修正してレジスタ通信を低減させること等が困難である。
また、引用文献1では最上位層に引き上げる配線周りの処理が開示されておらず、配線混雑度が高い場合のレイアウト作製が確実ではない可能性がある。
また、集束イオンビーム(FIB:Focused Ion Beam)による回路の変更では、レイアウト変更やマスク変更はもとより、最上位の配線層以外での配線接続の変更に対応できない不利益がある。
Cell-based integrated circuit layout fabrication does not assume the use of registers. Therefore, in the imaging device 400 or the like that employs the register 440 described above, the initial logical value of the asynchronous register 440 cannot be easily changed during layout creation. As a result, when the initial logical value of the register 440 is not preferable during layout production, it is difficult to correct the value to reduce register communication.
Further, the cited document 1 does not disclose a process around the wiring to be pulled up to the uppermost layer, and there is a possibility that the layout is not surely produced when the degree of wiring congestion is high.
In addition, a circuit change by a focused ion beam (FIB) has a disadvantage that it cannot cope with a change in wiring connection other than the uppermost wiring layer as well as a layout change and a mask change.

本発明は、複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路の作製において、配線接続の変更が容易に実行できる集積回路作製装置およびその方法、並びにプログラムを提供することにある。   The present invention relates to an integrated circuit manufacturing apparatus and method for easily changing a wiring connection in manufacturing an integrated circuit in which cells each having a set of a plurality of logic circuits are arranged in a predetermined arrangement form to form a multilayer wiring. To provide a program.

本発明の第1の観点の集積回路作製装置は、回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製装置であって、上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する置換部と、上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する配線禁止領域設定部と、置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する配線部とを有する。   An integrated circuit manufacturing apparatus according to a first aspect of the present invention is an integrated circuit manufacturing apparatus that arranges cells having a set of a plurality of logic circuits based on circuit information in a predetermined arrangement form, and manufactures an integrated circuit that forms a multilayer wiring. A replacement unit that replaces the first sequential circuit, in which the change of the initial logical value is predicted, among the plurality of logic circuits, with a second sequential circuit; and the second sequence replaced by the replacement unit. After the sequential circuit is arranged, a wiring prohibited area setting unit that sets a wiring prohibited area in any one of the plurality of wiring layers to which a predetermined terminal of the sequential circuit can be connected by wiring, and the replaced second above A wiring portion for wiring-connecting the predetermined terminal of the sequential circuit in a wiring layer of the wiring-prohibited region when the initial logical value of the sequential circuit is changed.

好適には、上記置換部は、上記第1の順序回路を非同期で所定の論理値に設定するセット端子と当該論理値をリセットするリセット端子とを有する上記第2の順序回路に置換する。   Preferably, the replacement unit replaces the first sequential circuit with the second sequential circuit having a set terminal for asynchronously setting a predetermined logical value and a reset terminal for resetting the logical value.

好適には、上記置換部は、上記第2の順序回路の駆動能力が当該第2の順序回路と同程度の上記セルを選択する。   Preferably, the replacement unit selects the cell having the same driving capability as that of the second sequential circuit.

好適には、上記配線部は、上記初期論理値を変更する場合にのみ、上記第2の順序回路の上記セット端子と上記リセット端子との配線を逆に配線接続する。   Preferably, the wiring unit reversely connects the wirings of the set terminal and the reset terminal of the second sequential circuit only when changing the initial logical value.

好適には、上記配線禁止領域設定部は、上記セルが複数の上記第1の順序回路を含む場合、それぞれが上記置換部によって置換された上記第2の順序回路を互いに隣接させて上記配線禁止領域を設定する。   Preferably, when the cell includes a plurality of the first sequential circuits, the wiring prohibition region setting unit is configured to prohibit the wiring by adjoining the second sequential circuits each replaced by the replacement unit. Set the area.

好適には、上記配線部は、上記セルが複数の上記第1の順序回路を含む場合、それぞれが上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の入力端子間および出力端子間同士で各々の配線を互いに交換して接続する。   Preferably, in the case where the cell includes a plurality of the first sequential circuits, the wiring unit includes an input terminal and an output terminal of the second sequential circuit, each of which is replaced by the replacement unit. Replace the wires and connect them.

好適には、上記配線禁止領域設定部は、優先度の高い上記第1の順序回路のみに対して上記配線禁止領域を設定する。   Preferably, the wiring prohibition area setting unit sets the wiring prohibition area only for the first sequential circuit having a high priority.

好適には、上記配線禁止領域設定部は、上記セルが上記第2の順序回路を含まない場合であっても、上記配線禁止領域を設定する。   Preferably, the wiring prohibited area setting unit sets the wiring prohibited area even when the cell does not include the second sequential circuit.

好適には、上記第1および第2の順序回路は、レジスタを含む。   Preferably, the first and second sequential circuits include registers.

好適には、上記第1の順序回路は、レジスタを含み、上記第2の順序回路は、フリップフロップを含む。   Preferably, the first sequential circuit includes a register, and the second sequential circuit includes a flip-flop.

本発明の第2の観点の集積回路作製装置は、回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製装置であって、上記回路情報に基づいて演算を行う演算部と、上記演算部の処理データを記憶する少なくとも一つの記憶部と、を有し、上記演算部は、上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する置換部と、上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する配線禁止領域設定部と、置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する配線部とを含む。   An integrated circuit manufacturing apparatus according to a second aspect of the present invention is an integrated circuit manufacturing apparatus that manufactures an integrated circuit in which a plurality of logic circuits are grouped in a predetermined arrangement based on circuit information and arranged in a multilayered manner. And an arithmetic unit that performs an operation based on the circuit information, and at least one storage unit that stores processing data of the arithmetic unit, wherein the arithmetic unit includes the plurality of logic circuits, After the arrangement of the replacement unit that replaces the first sequential circuit whose change in the initial logical value is predicted with the second sequential circuit, and the second sequential circuit replaced by the replacement unit, the predetermined terminal of the sequential circuit A wiring prohibited area setting unit that sets a wiring prohibited area in any one of the plurality of wiring layers that can be connected by wiring, and the initial logical value of the replaced second sequential circuit is changed The predetermined end of the sequential circuit. The and a wiring section for wiring connection with the wiring layer of the wiring prohibited area.

本発明の第3の観点の集積回路作製方法は、回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製方法であって、上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換するステップと、上記ステップによって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定するステップと、置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続するステップとを有する。   An integrated circuit manufacturing method according to a third aspect of the present invention is an integrated circuit manufacturing method for manufacturing an integrated circuit in which cells each having a plurality of logic circuits are arranged in a predetermined arrangement form based on circuit information to form a multilayer wiring. A step of replacing a first sequential circuit in which a change of an initial logical value is predicted among the plurality of logic circuits with a second sequential circuit, and the second sequential circuit replaced by the step After the arrangement, the step of setting a wiring prohibition region in any one of the plurality of wiring layers to which the predetermined terminal of the sequential circuit can be connected, and the initial of the replaced second sequential circuit Connecting the predetermined terminal of the sequential circuit in the wiring layer of the wiring prohibition region when changing the logical value.

本発明の第4の観点のプログラムは、回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する処理であって、上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する処理と、上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する処理と、置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する処理とをコンピュータに実行させる。   A program according to a fourth aspect of the present invention is a process for producing an integrated circuit in which a plurality of logic circuit sets are arranged in a predetermined arrangement form based on circuit information, and a multilayer wiring is formed. Among the logic circuits, the process of replacing the first sequential circuit in which the change of the initial logic value is predicted with the second sequential circuit, and the placement of the second sequential circuit replaced by the replacement unit, A process of setting a wiring prohibited area in any one of the plurality of wiring layers connectable to a predetermined terminal of the sequential circuit, and the initial logical value of the replaced second sequential circuit is changed. In this case, the computer is caused to execute a process of wiring-connecting the predetermined terminal of the sequential circuit in the wiring layer of the wiring-prohibited area.

本発明によれば、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換し、置換された第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設け、置換された第2の順序回路の初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の所定端子を配線禁止領域の配線層にて配線接続する。   According to the present invention, the first sequential circuit whose change in the initial logical value is predicted is replaced with the second sequential circuit, and after the replacement of the replaced second sequential circuit, the predetermined terminal of the sequential circuit is wired When a wiring prohibition area is provided in any one of the connectable wiring layers and the initial logical value of the replaced second sequential circuit is changed, the predetermined terminals of the sequential circuit are prohibited from wiring. Connect the wiring in the wiring layer of the area.

本発明によれば、複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路の作製において、配線接続の変更が容易に実行できる集積回路作製装置およびその方法、並びにプログラムを提供できる。   According to the present invention, an integrated circuit manufacturing apparatus and method for easily changing wiring connection in manufacturing an integrated circuit in which a plurality of logic circuit sets are arranged in a predetermined arrangement form to form a multilayer wiring As well as programs.

以下、本発明の実施形態を図面に関連付けて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1実施形態)
本実施形態に係る集積回路作製方法、並びにプログラムを採用した集積回路作製装置の一実施形態について図1および図2を参照しながら説明する。
図1は本実施形態に係る集積回路作製装置の一構成例を示す概略図である。
また、図2は、図1に図示する集積回路作製装置の一構成例を示すブロック図である。
(First embodiment)
An embodiment of an integrated circuit manufacturing method and an integrated circuit manufacturing apparatus employing a program according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an integrated circuit manufacturing apparatus according to this embodiment.
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the integrated circuit manufacturing apparatus shown in FIG.

図1に図示するように、集積回路作製装置1は、演算装置10、操作部11、および表示部12を有する。   As illustrated in FIG. 1, the integrated circuit manufacturing apparatus 1 includes an arithmetic device 10, an operation unit 11, and a display unit 12.

集積回路作製装置1は、回路情報2に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する。そして、集積回路作製装置1は、その結果をレイアウトデータ3として出力する。   The integrated circuit manufacturing apparatus 1 arranges cells having a plurality of logic circuits as a set based on the circuit information 2 in a predetermined arrangement form, and manufactures an integrated circuit that forms a multilayer wiring. Then, the integrated circuit manufacturing apparatus 1 outputs the result as layout data 3.

回路情報2は、ユーザ等によって設定され、たとえばレジスタや組み合わせ回路等で表現される論理レベルに関する情報RTL(Register Transfer Level)、レイアウト作製の際にユーザが指定する制約条件に関する情報等を含む。   The circuit information 2 is set by a user or the like, and includes, for example, information RTL (Register Transfer Level) related to a logic level expressed by a register, a combinational circuit, or the like, information related to a constraint condition specified by the user when creating a layout, and the like.

レイアウトデータ3は、集積回路作製装置1が出力するデータである。   The layout data 3 is data output from the integrated circuit manufacturing apparatus 1.

操作部11は、キーボード等の入力装置、マウス等のポインティング装置で構成され、ユーザによる回路情報2等の入力情報を演算装置10に入力する。なお、操作部11の構成は特に限定されない。   The operation unit 11 includes an input device such as a keyboard and a pointing device such as a mouse, and inputs input information such as circuit information 2 by the user to the arithmetic device 10. The configuration of the operation unit 11 is not particularly limited.

表示部12は、CRTあるいは液晶ディスプレイ等で構成され、演算装置10が出力する種々のデータ、たとえば回路情報2やレイアウトデータ3を表示する。なお、表示部12の構成は特に限定されない。   The display unit 12 is composed of a CRT, a liquid crystal display, or the like, and displays various data output from the arithmetic unit 10, such as circuit information 2 and layout data 3. The configuration of the display unit 12 is not particularly limited.

次に図2を参照しながら、図1の演算装置10の構成を中心に説明する。演算装置10は、CPU100、ハードディスク(HD)110、ROM120、RAM130、および制御部140を有する。
さらに、CPU100は、合成部1001、置換部1002、配置部1003、配線禁止領域設定部1004、および配線部1005を有する。
また、ハードディスク110は、合成記憶部1101、置換記憶部1102、配置記憶部1103、配線禁止領域設定記憶部1104、および配線記憶部1105を有する。
なお、CPU100は本発明の演算部に、ハードディスク110は本発明の記憶部の一つにそれぞれ対応している。
Next, the configuration of the arithmetic unit 10 in FIG. 1 will be mainly described with reference to FIG. The arithmetic device 10 includes a CPU 100, a hard disk (HD) 110, a ROM 120, a RAM 130, and a control unit 140.
Further, the CPU 100 includes a synthesis unit 1001, a replacement unit 1002, an arrangement unit 1003, a wiring prohibited area setting unit 1004, and a wiring unit 1005.
In addition, the hard disk 110 includes a synthesis storage unit 1101, a replacement storage unit 1102, an arrangement storage unit 1103, a wiring prohibited area setting storage unit 1104, and a wiring storage unit 1105.
The CPU 100 corresponds to the calculation unit of the present invention, and the hard disk 110 corresponds to one of the storage units of the present invention.

CPU100は、回路情報2に基づいた演算を行い、逐次ハードディスク110にアクセスしながら、演算結果等を所定領域に記録する。CPU100の各構成部の詳細については後述する。
なお、CPU100が実行する処理内容は、前述の他、種々の数値計算や情報処理等を実行可能で、その処理内容は特に限定されない。
The CPU 100 performs calculations based on the circuit information 2 and records the calculation results and the like in a predetermined area while sequentially accessing the hard disk 110. Details of each component of the CPU 100 will be described later.
Note that the processing content executed by the CPU 100 can execute various numerical calculations and information processing in addition to those described above, and the processing content is not particularly limited.

ハードディスク110は、たとえば磁気ディスク装置であって、回路情報2、レイアウトデータ3、CPU100が出力した演算結果、プログラム、その他種々のデータを記録する。データの記録期間は、長期的に保存可能で特に限定されない。ハードディスク110の各構成部の詳細については後述する。   The hard disk 110 is, for example, a magnetic disk device, and records circuit information 2, layout data 3, calculation results output from the CPU 100, programs, and various other data. The data recording period is not particularly limited and can be stored for a long time. Details of each component of the hard disk 110 will be described later.

ROM120は、たとえば読み出し専用の不揮発性半導体メモリであって、あらかじめCPU100で実行される処理に必要なプログラム等のデータが記録されており、制御部140の制御に応じてCPU100等から必要なデータが読み出しされる。   The ROM 120 is, for example, a read-only non-volatile semiconductor memory, in which data such as programs necessary for processing executed by the CPU 100 is recorded in advance, and necessary data is received from the CPU 100 and the like under the control of the control unit 140. Read out.

RAM130は、たとえば読み書き可能なDRAM(Dynamic Random Access Memory)であって、制御部140の制御に応じてCPU100やハードディスク110とアクセスしながら一時的にデータを記録する。   The RAM 130 is, for example, a readable / writable DRAM (Dynamic Random Access Memory), and temporarily records data while accessing the CPU 100 and the hard disk 110 under the control of the control unit 140.

制御部140は、操作部11、表示部12、CPU100、ハードディスク110、ROM120、およびRAM130をはじめとする集積回路作製装置1全般の制御を行う。   The control unit 140 controls the overall integrated circuit manufacturing apparatus 1 including the operation unit 11, the display unit 12, the CPU 100, the hard disk 110, the ROM 120, and the RAM 130.

以下、CPU100の各構成部について詳細に説明する。図3は、本実施形態に係る演算部が有する各構成部の一例を説明するための図である。以後、各構成部の説明をする際に図3を適宜参照する。   Hereinafter, each component of the CPU 100 will be described in detail. FIG. 3 is a diagram for explaining an example of each component included in the arithmetic unit according to the present embodiment. Hereinafter, when each component is described, FIG. 3 will be referred to as appropriate.

図3の「200」は、たとえば非同期のリセット端子201を有するレジスタで、初期論理値が0の状態である。なお、レジスタ200は、リセット端子201に接続されたリセット信号線RSTLにローレベル(Lレベル)の信号が供給されると、初期論理値を0にリセットする。
また、図3の「200a」は、たとえば非同期のセット端子202を有するレジスタで、初期論理値が1の状態である。なお、レジスタ200aは、セット端子202に接続されたセット信号線SETLにLレベルの信号が供給されると、初期論理値を1にセットする。
図3の「210」は、たとえば伴に非同期のセット端子212およびリセット端子211を有するフリップフロップで、初期論理値が0の状態である。なお、フリップフロップ210は、リセット端子211に接続されたリセット信号線RSTLにLレベルの信号が供給されると、初期論理値を0にリセットする。
また、図3の「210a」は、フリップフロップ210と同様の構成のフリップフロップであるが、初期論理値が1の状態である。なお、フリップフロップ210aは、セット端子212に接続されたセット信号線SETLにLレベルの信号が供給されると、初期論理値を0にセットする。
“200” in FIG. 3 is a register having an asynchronous reset terminal 201, for example, and has an initial logical value of 0. Note that the register 200 resets the initial logical value to 0 when a low level (L level) signal is supplied to the reset signal line RSTL connected to the reset terminal 201.
“200a” in FIG. 3 is a register having an asynchronous set terminal 202, for example, and has an initial logical value of 1. Note that the register 200a sets the initial logical value to 1 when an L level signal is supplied to the set signal line SETL connected to the set terminal 202.
“210” in FIG. 3 is a flip-flop having an asynchronous set terminal 212 and reset terminal 211, for example, and has an initial logical value of 0. Note that the flip-flop 210 resets the initial logic value to 0 when an L level signal is supplied to the reset signal line RSTL connected to the reset terminal 211.
Further, “210a” in FIG. 3 is a flip-flop having the same configuration as that of the flip-flop 210, but has an initial logical value of 1. The flip-flop 210a sets the initial logical value to 0 when an L level signal is supplied to the set signal line SETL connected to the set terminal 212.

なお、本実施形態では、上述のレジスタ200、200aが本発明に係る第1の順序回路に、フリップフロップ210、210aが第2の順序回路にそれぞれ対応しているが、
このフリップフロップ210、210aは非同期のセット端子およびリセット端子を有するレジスタであってもよい。
また、レジスタ200、200aは、それぞれ非同期のリセット端子、セット端子を有するフリップフロップであってもよい。
本発明に係る第1および第2の順序回路は、論理値の状態を記憶でき、非同期のセット端子およびリセット端子を有する順序回路であれば特に限定されない。
In the present embodiment, the registers 200 and 200a described above correspond to the first sequential circuit according to the present invention, and the flip-flops 210 and 210a correspond to the second sequential circuit, respectively.
The flip-flops 210 and 210a may be registers having asynchronous set terminals and reset terminals.
The registers 200 and 200a may be flip-flops each having an asynchronous reset terminal and set terminal.
The first and second sequential circuits according to the present invention are not particularly limited as long as the first and second sequential circuits can store a logical value state and have sequential set terminals and reset terminals.

合成部1001は、回路情報2やセルの接続関係を含むネットリストに基づいて論理合成を行う。
具体的には、合成部1001はレジスタの論理合成において、レジスタの初期論理値が0の場合、図3に図示するレジスタ200を選択し、レジスタの初期論理値が1の場合、レジスタ200aを選択する。
また、合成部1001は、選択されたレジスタ200よりもセル面積が大きい、同図に示すフリップフロップ210を選択しない場合がある。
The synthesizing unit 1001 performs logic synthesis based on a net list including circuit information 2 and cell connection relationships.
Specifically, in the logic synthesis of the register, the synthesis unit 1001 selects the register 200 illustrated in FIG. 3 when the initial logical value of the register is 0, and selects the register 200a when the initial logical value of the register is 1. To do.
Further, the synthesis unit 1001 may not select the flip-flop 210 shown in FIG.

そこで、本実施形態は、置換部1002を有し、置換部1002が複数の論理回路のうち特に順序回路について、初期論理値の変更が予測されるレジスタを非同期のセット端子およびリセット端子を有するフリップフロップに置換する。
ここで、「初期論理値の変更が予測される」とは、たとえばユーザによってレジスタ(図3のレジスタ200または200a)の初期論理値がレイアウトの作製途中や作製後に変更される可能性があることをいい、必ずしも初期論理値が変更されるものではない。
Therefore, the present embodiment has a replacement unit 1002, and the replacement unit 1002 is a flip-flop having an asynchronous set terminal and a reset terminal as a register in which a change in the initial logical value is predicted, particularly for a sequential circuit among a plurality of logic circuits. Replace with a group.
Here, “the change of the initial logical value is predicted” means that the initial logical value of the register (register 200 or 200a in FIG. 3) may be changed by the user during or after the production of the layout, for example. The initial logical value is not necessarily changed.

詳細には図3に図示するように、置換部1002は、上述の合成部1001が論理合成を行った後のネットリストや制約条件により、初期論理値が0のレジスタ200は初期論理値が0のフリップフロップ210に、初期論理値が1のレジスタ200aは初期論理値が1のフリップフロップ210aにそれぞれ置換する。
ここでの置換部1002に使用する制約条件には、レジスタ200(200a)の置換を行うセルの指定が挙げられる。
また、置換部1002は、置換後のフリップフロップ210のセット端子212に定数1−b1を、置換後のフリップフロップ210aのリセット端子211に定数1−b1をそれぞれ接続する。なお、この定数1−b1の値は、たとえば電源電圧VDDであって、特に限定されるものではない。
Specifically, as shown in FIG. 3, the replacement unit 1002 has an initial logical value of 0 for the register 200 having an initial logical value of 0, depending on the netlist and constraint conditions after the synthesis unit 1001 performs logical synthesis. In the flip-flop 210, the register 200a whose initial logical value is 1 is replaced with the flip-flop 210a whose initial logical value is 1.
The constraint condition used in the replacement unit 1002 here includes designation of a cell to be replaced in the register 200 (200a).
Replacement unit 1002 connects constant 1-b1 to set terminal 212 of flip-flop 210 after replacement, and constant 1-b1 to reset terminal 211 of flip-flop 210a after replacement. The value of the constant 1-b1 is, for example, the power supply voltage VDD and is not particularly limited.

さらに、置換部1002は、合成部1001による論理合成後のタイミング変化を最小限に抑えるため、置換するフリップフロップ210(210a)の駆動能力が同程度のセルを選択する。   Further, the replacement unit 1002 selects cells having the same driving capability of the flip-flop 210 (210a) to be replaced in order to minimize the timing change after the logic synthesis by the synthesis unit 1001.

ユーザがレイアウトの作製中あるいは作成後に、置換されたフリップフロップ210の初期論理値を0から1に変更する場合、置換部1002は、初期論理値が0のフリップフロップ210を初期論理値が1のフリップフロップ210aに置換する。
また、置換されたフリップフロップ210aの初期論理値を1から0に変更する場合、置換部1002は、初期論理値が1のフリップフロップ210aを初期論理値が0のフリップフロップ210に置換する。
When the user changes the initial logical value of the replaced flip-flop 210 from 0 to 1 during or after the creation of the layout, the replacement unit 1002 replaces the flip-flop 210 whose initial logical value is 0 with an initial logical value of 1. Replace with flip-flop 210a.
When the initial logical value of the replaced flip-flop 210a is changed from 1 to 0, the replacement unit 1002 replaces the flip-flop 210a having the initial logical value of 1 with the flip-flop 210 having the initial logical value of 0.

配置部1003は、置換部1002が置換したフリップフロップ210(210a)を所定のセル上に好適に配置する。   The placement unit 1003 suitably places the flip-flop 210 (210a) replaced by the replacement unit 1002 on a predetermined cell.

配線禁止領域設定部1004は、ユーザによる制約条件(図1の回路情報2を参照)により、レジスタ200(200a)の初期論理値の変更が後に予測される場合、置換部1002が置換したフリップフロップ210(210a)のリセット端子211およびセット端子212が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する。
ここでの配線禁止領域に関する制約条件には、配線禁止とする配線層の指定、上層での配線禁止を行うセルの指定が挙げられる。
なお、配線禁止領域は、一つのセル程度の領域に対して設定される。
When the change of the initial logical value of the register 200 (200a) is predicted later according to the restriction condition by the user (see the circuit information 2 in FIG. 1), the wiring prohibited area setting unit 1004 A wiring prohibited area is set in any one of the plurality of wiring layers to which the reset terminal 211 and the set terminal 212 of 210 (210a) can be connected by wiring.
Here, the constraint condition regarding the wiring prohibited area includes designation of a wiring layer to be prohibited from wiring and designation of a cell to be prohibited from wiring in an upper layer.
The wiring prohibited area is set for an area of about one cell.

この配線禁止領域について、図4、5を参照しながら説明する。
図4は、本実施形態に係る配線禁止領域を説明するための多層配線化されたレイアウトの一例の傾斜図であり、図5は、配線禁止領域を説明するための多層配線化されたレイアウトの一例の断面図である。
ただし、図5(a)、(b)はレイアウトの各層を合成した図であり、図5(c)はレイアウトの最上位層のみを示す図である。図4、5に関しても、以下の説明において適宜参照する。
The wiring prohibited area will be described with reference to FIGS.
FIG. 4 is an inclined view of an example of a multi-layered layout for explaining the wiring prohibited area according to the present embodiment, and FIG. 5 is a multi-layered layout for explaining the wiring prohibited area. It is sectional drawing of an example.
5A and 5B are diagrams in which the layout layers are combined, and FIG. 5C is a diagram illustrating only the top layer of the layout. 4 and 5 will be appropriately referred to in the following description.

図4に示すレイアウトは、下地層300、中間層310および最上位層320で構成され、配線は中間層310および最上位層320に設けられる。
また、図示する各層は一つのセル程度の領域である。そして、下地層300には、置換部1002が置換したフリップフロップ210(210a)が、配置部1003によって同図のように配置されている。
本実施形態では、レイアウトは3層で構成されているが、たとえば4層であってもよく、特に限定されない。
The layout shown in FIG. 4 includes an underlayer 300, an intermediate layer 310, and an uppermost layer 320, and wiring is provided in the intermediate layer 310 and the uppermost layer 320.
Each layer shown is an area of about one cell. In the base layer 300, flip-flops 210 (210a) replaced by the replacement unit 1002 are arranged by the arrangement unit 1003 as shown in FIG.
In the present embodiment, the layout is composed of three layers, but may be four layers, for example, and is not particularly limited.

配線禁止領域設定部1004は、図4(a)に示す中間層310、もしくは同図(b)に示す最上位層320に配線禁止領域AREを設定する。また、配線禁止領域設定部1004が設けた配線禁止領域AREを図5(a)に示す。
なお、何れの層に配線禁止領域AREを設定するかは、ユーザによって好適に設定される。
The wiring prohibited area setting unit 1004 sets the wiring prohibited area ARE in the intermediate layer 310 shown in FIG. 4A or the uppermost layer 320 shown in FIG. Further, FIG. 5A shows the wiring prohibited area ARE provided by the wiring prohibited area setting unit 1004.
Note that the layer in which the wiring prohibited area ARE is set is preferably set by the user.

配線部1005は、置換されたフリップフロップの初期論理値を変更する場合に、フリップフロップのセット端子およびリセット端子を配線禁止領域の配線層にて配線接続する。
詳細には、図3に図示するように、置換部1002が置換したフリップフロップ210の初期論理値を0から1に変更する場合、配線部1005は、置換された初期論理値が1のフリップフロップ210aに対して、配線禁止領域AREが設けられているいずれかの層(図4の中間層310または最上位層320)にてリセット端子211とセット端子212との配線を逆にして配線接続する。
逆に、置換部1002が置換したフリップフロップ210aの初期論理値を1から0に変更する場合、配線部1005は、置換された初期論理値が0のフリップフロップ210に対して、配線禁止領域AREが設けられているいずれかの層にてリセット端子211とセット端子212との配線を逆にして配線接続する。
When changing the initial logical value of the replaced flip-flop, the wiring unit 1005 wire-connects the set terminal and the reset terminal of the flip-flop in the wiring layer of the wiring prohibited area.
Specifically, as illustrated in FIG. 3, when the initial logical value of the flip-flop 210 replaced by the replacement unit 1002 is changed from 0 to 1, the wiring unit 1005 is the flip-flop having the replaced initial logical value of 1. The wiring of the reset terminal 211 and the set terminal 212 is reversed and connected to any of the layers (the intermediate layer 310 or the uppermost layer 320 in FIG. 4) in which the wiring prohibition area ARE is provided. .
On the other hand, when the initial logical value of the flip-flop 210a replaced by the replacement unit 1002 is changed from 1 to 0, the wiring unit 1005 performs the wiring prohibited area ARE for the flip-flop 210 with the replaced initial logical value 0. The wiring of the reset terminal 211 and the set terminal 212 is reversed and connected in any one of the layers provided with.

説明上、配線部1005がフリップフロップ210の初期論理値を0から1に変更し、図4(a)の中間層310に配線禁止領域AREが設けられているものとして説明する。   For the sake of explanation, it is assumed that the wiring unit 1005 changes the initial logical value of the flip-flop 210 from 0 to 1 and that the wiring prohibited area ARE is provided in the intermediate layer 310 of FIG.

図4(a)に図示するように、配線部1005は、セルの下地層300に配置されたフリップフロップ210aのリセット端子211とセット端子212との配線を逆にし、中間層310の配線禁止領域AREにて、配線接続する。
ここでいう、「配線接続」は、同図の中間層310上の配線311でリセット端子211およびセット端子212を接続することをいう。
無論、セルの下地層300に配置されたフリップフロップが初期論理値0のフリップフロップ210である場合も、前述と同様である。
As shown in FIG. 4A, the wiring unit 1005 reverses the wiring between the reset terminal 211 and the set terminal 212 of the flip-flop 210a arranged in the base layer 300 of the cell, and the wiring prohibited area of the intermediate layer 310 Wire connection is made at ARE.
Here, “wiring connection” means that the reset terminal 211 and the set terminal 212 are connected by the wiring 311 on the intermediate layer 310 in FIG.
Of course, the same applies to the case where the flip-flop disposed in the base layer 300 of the cell is the flip-flop 210 having an initial logical value of 0.

図6は、本実施形態に係る配線部1005が図4(a)の中間層310にて行った配線接続の一例を示す図である。図6中において、(a)はフリップフロップ210の初期論理値が変更されない場合、(b)は初期論理値が変更された場合のレイアウトの断面図である。   FIG. 6 is a diagram illustrating an example of the wiring connection performed by the wiring unit 1005 according to the present embodiment in the intermediate layer 310 of FIG. 6A is a cross-sectional view of a layout when the initial logical value of the flip-flop 210 is not changed, and FIG. 6B is a cross-sectional view of the layout when the initial logical value is changed.

フリップフロップ210の初期論理値が変更される場合、配線部1005は、図6(a)に図示する配線311a、311bを図6(b)に図示する配線311c、311dに変更して配線接続する。
一方、最上位層320に配線禁止領域AREが設けられた場合、図4(b)に図示するように、配線部1005は、中間層310にコンタクトホール312を設け、リセット端子211とセット端子212との配線を最上位層320にまで引き上げ、逆に配線接続する。
When the initial logical value of the flip-flop 210 is changed, the wiring unit 1005 changes the wirings 311a and 311b illustrated in FIG. 6A to the wirings 311c and 311d illustrated in FIG. .
On the other hand, when the wiring prohibition area ARE is provided in the uppermost layer 320, as shown in FIG. 4B, the wiring portion 1005 is provided with a contact hole 312 in the intermediate layer 310, and a reset terminal 211 and a set terminal 212. Are pulled up to the uppermost layer 320 and connected to the wiring in reverse.

最終的に、配線部1005は、図5(b)、(c)のように配線接続する。同図(b)、(c)に図示するように、配線部1005による配線接続後は、配線禁止領域AREに他の論理回路(フリップフロップ210以外)に関する配線が設けられず、これら他の論理回路の配線は、配線禁止領域AREを迂回して好適に配線接続される。
なお、配線部1005による配線接続は、一つのセル程度の領域に対して行われる。
Finally, the wiring unit 1005 is connected by wiring as shown in FIGS. As shown in FIGS. 5B and 5C, after the wiring connection by the wiring unit 1005, wiring relating to other logic circuits (other than the flip-flop 210) is not provided in the wiring prohibited area ARE, and these other logics are not provided. The wiring of the circuit is preferably wired and bypassed the wiring prohibited area ARE.
Note that the wiring connection by the wiring unit 1005 is made to an area of about one cell.

配線部1005がフリップフロップ210aの初期論理値を1から0に変更する場合においても、リセット端子211とセット端子212の配線を配線禁止領域AREが設けられている層にて、逆に配線接続することに変わりはない。   Even when the wiring unit 1005 changes the initial logical value of the flip-flop 210a from 1 to 0, the wiring of the reset terminal 211 and the set terminal 212 is reversely connected in the layer where the wiring prohibition area ARE is provided. That is no different.

つづいて、図2に図示するハードディスク110の各構成部について説明する。
合成記憶部1101は、制御部140の制御に応じて、CPU100の合成部1001の処理結果を適宜記憶する。
ハードディスク110について、上記合成記憶部1101以外の構成部も同様に、制御部140の制御に応じて、置換記憶部1102は置換部1002の処理結果を、配置記憶部1103は配置部1003の処理結果を、配線禁止領域設定記憶部1104は配線禁止領域設定部1004の処理結果を、配線記憶部1105は配線部1005の処理結果をそれぞれ適宜記録する。
Next, each component of the hard disk 110 illustrated in FIG. 2 will be described.
The synthesis storage unit 1101 appropriately stores the processing result of the synthesis unit 1001 of the CPU 100 under the control of the control unit 140.
Regarding the hard disk 110, similarly to the components other than the composite storage unit 1101, the replacement storage unit 1102 displays the processing result of the replacement unit 1002 and the placement storage unit 1103 processes the processing result of the placement unit 1003 according to the control of the control unit 140. The wiring prohibition area setting storage unit 1104 appropriately records the processing result of the wiring prohibition area setting unit 1004, and the wiring storage unit 1105 appropriately records the processing result of the wiring part 1005.

以下に、集積回路作製装置1の動作について説明する。図7は、本実施形態に係る集積回路作製装置の動作の一例を示すフローチャートである。   The operation of the integrated circuit manufacturing apparatus 1 will be described below. FIG. 7 is a flowchart showing an example of the operation of the integrated circuit manufacturing apparatus according to this embodiment.

(ステップST1)
回路情報2やセルの接続関係を含むネットリストに基づいて論理合成を行う。具体的には、合成部1001はレジスタの論理合成において、レジスタの初期論理値が0の場合、図3に図示するレジスタ200を選択し、レジスタの初期論理値が1の場合、レジスタ200aを選択する。
(Step ST1)
Logic synthesis is performed based on a net list including circuit information 2 and cell connection relationships. Specifically, in the logic synthesis of the register, the synthesis unit 1001 selects the register 200 illustrated in FIG. 3 when the initial logical value of the register is 0, and selects the register 200a when the initial logical value of the register is 1. To do.

(ステップST2)
置換部1002が初期論理値の変更が予測されるレジスタを非同期のセット端子およびリセット端子を有するフリップフロップに置換する。
置換部1002は、上述のステップST1にて、合成部1001が論理合成を行った後のネットリストや制約条件により、初期論理値が0のレジスタ200は初期論理値が0のフリップフロップ210に、初期論理値が1のレジスタ200aは初期論理値が1のフリップフロップ210aにそれぞれ置換する。
また、置換部1002は、置換後のフリップフロップ210のセット端子212に定数1−b1を、置換後のフリップフロップ210aのリセット端子211に定数1−b1をそれぞれ接続する。
さらに、置換部1002は、合成部1001による論理合成後のタイミング変化を最小限に抑えるため、置換するフリップフロップ210(210a)の駆動能力が同程度のセルを選択する(図3を参照)。
(Step ST2)
The replacement unit 1002 replaces a register whose initial logical value is predicted to be changed to a flip-flop having an asynchronous set terminal and reset terminal.
In step ST1 described above, the replacement unit 1002 causes the register 200 having an initial logical value of 0 to be replaced with the flip-flop 210 having an initial logical value of 0 by the netlist and constraint conditions after the synthesis unit 1001 performs logical synthesis. The registers 200a whose initial logical value is 1 are replaced with flip-flops 210a whose initial logical value is 1, respectively.
Replacement unit 1002 connects constant 1-b1 to set terminal 212 of flip-flop 210 after replacement, and constant 1-b1 to reset terminal 211 of flip-flop 210a after replacement.
Furthermore, the replacement unit 1002 selects a cell having the same driving capability of the flip-flop 210 (210a) to be replaced in order to minimize the timing change after the logic synthesis by the synthesis unit 1001 (see FIG. 3).

(ステップST3)
配置部1003は、置換部1002が置換したフリップフロップ210(210a)を所定のセル上に好適に配置する(図3を参照)。
(Step ST3)
The placement unit 1003 suitably places the flip-flop 210 (210a) replaced by the replacement unit 1002 on a predetermined cell (see FIG. 3).

(ステップST4)
配線禁止領域設定部1004は、ユーザによる制約条件によりレジスタ200(200a)の初期論理値の変更が予測される場合、置換部1002が置換したフリップフロップ210(210a)のリセット端子211およびセット端子212が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域AREを設定する。ここでの配線禁止領域AREに関する制約条件には、配線禁止とする配線層の指定、上層での配線禁止を行うセルの指定が挙げられる(図3、4を参照)。
(Step ST4)
When the change of the initial logical value of the register 200 (200a) is predicted due to the restriction condition by the user, the wiring prohibited area setting unit 1004 resets the reset terminal 211 and the set terminal 212 of the flip-flop 210 (210a) replaced by the replacement unit 1002. A wiring prohibition area ARE is set in any one of the plurality of wiring layers connectable to each other. Here, the constraint condition regarding the wiring prohibition area ARE includes designation of a wiring layer for which wiring is prohibited and designation of a cell for which wiring prohibition is performed in an upper layer (see FIGS. 3 and 4).

(ステップST5)
配線部1005は、レイアウトの設定途中で、置換されたフリップフロップの初期論理値を変更する場合に、フリップフロップのセット端子およびリセット端子を配線禁止領域の配線層にて配線接続する。
(Step ST5)
The wiring unit 1005 wire-connects the set terminal and the reset terminal of the flip-flop in the wiring layer of the wiring prohibition region when changing the initial logical value of the replaced flip-flop during the setting of the layout.

(ステップST6)
ステップST2にて置換されたフリップフロップ210(210a)の初期論理値を0(1)から1(0)に変更する場合(Yes)、置換部1002は、初期論理値が0(1)のフリップフロップ210(210a)を初期論理値が1(0)のフリップフロップ210a(210)に置換し、ステップST7の処理に進む。
一方、ステップST2にて置換されたフリップフロップ210(210a)の初期論理値を変更しない場合(No)、当該フリップフロップ210(210a)に対して何も処理を行わず、集積回路作製装置1は処理を終了する。
(Step ST6)
When the initial logical value of the flip-flop 210 (210a) replaced in step ST2 is changed from 0 (1) to 1 (0) (Yes), the replacement unit 1002 is a flip-flop whose initial logical value is 0 (1). The flip-flop 210a (210) having the initial logical value of 1 (0) is replaced with the flip-flop 210 (210a), and the process proceeds to step ST7.
On the other hand, when the initial logical value of the flip-flop 210 (210a) replaced in step ST2 is not changed (No), no processing is performed on the flip-flop 210 (210a), and the integrated circuit manufacturing apparatus 1 The process ends.

(ステップST7)
配線部1005は、置換した初期論理値が1(0)のフリップフロップ210a(210)に対して、配線禁止領域AREが設けられているいずれかの層(図4の中間層310または最上位層320)にてリセット端子211とセット端子212との配線を逆にして配線接続する。
(Step ST7)
The wiring unit 1005 has one of the layers (the intermediate layer 310 or the uppermost layer in FIG. 4) in which the wiring prohibited area ARE is provided for the flip-flop 210a (210) whose initial logical value is 1 (0). 320), the wiring between the reset terminal 211 and the set terminal 212 is reversed and connected.

上述したように、本実施形態では、後に初期論理値の変更が予測されるレジスタ200(200a)に関して、置換部1002がレジスタを非同期のセット端子212およびリセット端子211を有するフリップフロップ210(210a)に置換し、配線禁止領域設定部1004が配線禁止領域AREを好適に設定する。
したがって、図4、図5(b)、(c)に図示するように、この配線禁止領域AREにフリップフロップ210(210a)以外の論理回路に関する配線311、321がなされることはない。
後にユーザがフリップフロップ210(210a)の初期論理値を変更する場合、配線部1005は、配線禁止領域AREにてフリップフロップ210(210a)を配線接続する。
As described above, in the present embodiment, with respect to the register 200 (200a) in which the change of the initial logical value is predicted later, the replacement unit 1002 converts the register into the flip-flop 210 (210a) having the asynchronous set terminal 212 and reset terminal 211. The wiring prohibited area setting unit 1004 suitably sets the wiring prohibited area ARE.
Therefore, as shown in FIGS. 4, 5B, and 5C, wirings 311 and 321 relating to logic circuits other than the flip-flop 210 (210a) are not formed in the wiring prohibited area ARE.
When the user later changes the initial logical value of the flip-flop 210 (210a), the wiring unit 1005 wire-connects the flip-flop 210 (210a) in the wiring prohibited area ARE.

(第2実施形態)
次に、本発明に係る第2の実施形態について、図8〜図10を参照しながら説明する。
図8は、本発明に係る第1の順序回路がセル上に複数配置されている場合の配線禁止領域について説明するための一例の図である。
また、図9は、本発明に係る第1の順序回路が多ビットである場合の配線部を説明するための一例の図である。
また、図10は、本発明に係る第1の順序回路が多ビットである場合の配線禁止領域を説明するための一例の図である。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a wiring prohibited region when a plurality of first sequential circuits according to the present invention are arranged on a cell.
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a wiring portion when the first sequential circuit according to the present invention is multi-bit.
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a wiring prohibited area when the first sequential circuit according to the present invention is multi-bit.

本実施形態は、セルが複数のレジスタ200(200a)を含み、それぞれが置換部1002によってフリップフロップ210(210a)に置換された、多ビットの場合である。   In the present embodiment, the cell includes a plurality of registers 200 (200a), each of which is replaced with a flip-flop 210 (210a) by a replacement unit 1002, and is a multi-bit case.

以下の説明では、置換部1002によって置換された4つの初期論理値が0のフリップフロップ210−1〜210−4を例にとり説明する。また、フリップフロップ210−1〜210−4は、データ(論理値0または1)が入力される入力端子213、および出力端子214をそれぞれ有する。   In the following description, the four flip-flops 210-1 to 210-4 whose initial logical values are 0 replaced by the replacement unit 1002 will be described as an example. The flip-flops 210-1 to 210-4 each have an input terminal 213 to which data (logical value 0 or 1) is input and an output terminal 214.

本実施形態では、集積回路作製装置1が多ビットのレジスタを扱うことを認識させるため、あらかじめユーザが回路情報2にて多ビット宣言する。
図8(a)に図示するように、置換部1002は、初期論理値が0の4つのレジスタを初期論理値が0のフリップフロップ210−1〜210−4にそれぞれ置換する。
なお、このとき置換部1002は、各セット端子212に定数4−b1001を接続する。
そして、配置部1003が置換された各々のフリップフロップ210−1〜210−4を隣接して、たとえば一つのセル上に配置する。
その後、配線禁止領域設定部1004は、隣接して配置されたフリップフロップ210−1〜210−4に対して配線禁止領域AREを設定する。
配線禁止領域AREがどの層に設けられるかはユーザによって好適に設定されるが、本実施形態では配線禁止領域AREが中間層310に設けられるものとする(図4(a)参照)。
In this embodiment, the user makes a multi-bit declaration in advance in the circuit information 2 in order to recognize that the integrated circuit manufacturing apparatus 1 handles a multi-bit register.
As illustrated in FIG. 8A, the replacement unit 1002 replaces four registers having an initial logical value of 0 with flip-flops 210-1 to 210-4 having an initial logical value of 0, respectively.
At this time, the replacement unit 1002 connects the constant 4-b 1001 to each set terminal 212.
Then, the flip-flops 210-1 to 210-4 in which the arrangement unit 1003 is replaced are arranged adjacently, for example, on one cell.
Thereafter, the wiring prohibited area setting unit 1004 sets the wiring prohibited area ARE for the flip-flops 210-1 to 210-4 arranged adjacent to each other.
In which layer the wiring prohibition area ARE is provided is preferably set by the user, but in this embodiment, the wiring prohibition area ARE is provided in the intermediate layer 310 (see FIG. 4A).

フリップフロップ210−1〜210−4以外の論理回路の配線(たとえば配線311、321)は、図8(b)に図示するように、配線部1005が中間層310に設けられた配線禁止領域AREを迂回して配線接続する。
図9(a)に図示するフリップフロップ210−1〜210−4の配線313〜316は、初期論理値の変更が行われる場合、図10(a)に図示するように、配線部1005が配線禁止領域AREにて配線接続する。
As shown in FIG. 8B, the wiring of logic circuits other than the flip-flops 210-1 to 210-4 (for example, the wirings 311 and 321) is the wiring prohibited area ARE in which the wiring part 1005 is provided in the intermediate layer 310. Make a wiring connection bypassing.
The wirings 313 to 316 of the flip-flops 210-1 to 210-4 illustrated in FIG. 9A are wired by the wiring unit 1005 as illustrated in FIG. 10A when the initial logical value is changed. Wire connection is made in the prohibited area ARE.

また本実施形態では、配線部1005がフリップフロップの入力端子213間どうし、出力端子214端子間どうしで各々の配線を互いに交換して接続することができる。
図9(b)に図示するように、たとえばフリップフロップ210−1の入力端子213とフリップフロップ210−2の入力端子213の配線を交換して接続する。出力端子214についても同様にして、互いの配線を交換して接続する。
そして、配線部1005は、図10(b)に示すように、配線禁止領域AREにおいてフリップフロップ210−1〜210−4を配線接続する。
なお、上記例ではフリップフロップ210−1および210−2間での配線接続について説明したが、フリップフロップ210−3および210−4間、あるいはその他の組み合わせでもよい。
In the present embodiment, the wiring portion 1005 can be connected to each other by exchanging wirings between the input terminals 213 of the flip-flops and between the output terminals 214.
As shown in FIG. 9B, for example, the wirings of the input terminal 213 of the flip-flop 210-1 and the input terminal 213 of the flip-flop 210-2 are exchanged and connected. Similarly, the output terminals 214 are connected by exchanging their wirings.
The wiring unit 1005 wire-connects the flip-flops 210-1 to 210-4 in the wiring prohibited area ARE as shown in FIG.
In the above example, the wiring connection between the flip-flops 210-1 and 210-2 has been described. However, the flip-flops 210-3 and 210-4 or other combinations may be used.

本実施形態では、多ビットのレジスタを取り扱う場合にユーザが回路情報2にて多ビット宣言を行ったが、同じレジスタとして多ビット宣言していないレジスタ(フリップフロップ)の組み合わせでも、回路情報2に制約等を加えることにより多ビットの配線禁止を指定することができる。   In the present embodiment, when a multi-bit register is handled, the user makes a multi-bit declaration in the circuit information 2. However, even in a combination of registers (flip-flops) that are not multi-bit declared as the same register, the circuit information 2 Multi-bit wiring prohibition can be specified by adding restrictions or the like.

他の実施形態として、配線禁止領域設定部1004が優先度の高いレジスタのみについて、配線禁止領域AREを設定することができる。
これにより、置換部1002によって置換されたフリップフロップ210(210a)のうち、その一部に対してのみ配線禁止領域AREを設けないように設定できる。その結果、配線部1005は、配線禁止領域AREを迂回せずに配線接続を実行でき、配線混雑度が高い場合でも効率よく配線領域を確保できる。
As another embodiment, the wiring prohibited area setting unit 1004 can set the wiring prohibited area ARE only for the register having a high priority.
Thereby, it can be set so that the wiring prohibition area ARE is not provided only for a part of the flip-flop 210 (210a) replaced by the replacement unit 1002. As a result, the wiring unit 1005 can execute wiring connection without bypassing the wiring prohibited area ARE, and can efficiently secure the wiring area even when the wiring congestion degree is high.

また、他の実施形態として、レジスタ200(200a)を含まないセルであっても配線禁止領域設定部1004が配線禁止領域AREを設定することができる。
これにより、レイアウトの作製終盤であっても配線層の修正のみで論理回路の変更を実行できる。
As another embodiment, the wiring prohibited area setting unit 1004 can set the wiring prohibited area ARE even in a cell that does not include the register 200 (200a).
As a result, the logic circuit can be changed only by modifying the wiring layer even at the end of the layout production.

また、他の実施形態として、たとえば撮像装置等のデジタル部がほぼ共通でアナログ特性が異なる集積回路、小面積の回路の差異がある少数他品種の集積回路において、配線部1005が一部の配線層のみ好適に変更することができる。
これにより、他の層が共通のまま、異なる集積回路の作製、製造が可能になる。
In another embodiment, for example, in an integrated circuit having substantially the same digital unit and different analog characteristics, such as an imaging device, or in a small number of other types of integrated circuits having a small circuit difference, the wiring unit 1005 has a part of wiring. Only the layer can be suitably changed.
This makes it possible to manufacture and manufacture different integrated circuits while the other layers are common.

本発明によれば、レイアウトの作製途中あるいは作成後、レジスタ等の初期論理値を変更する場合でも、いずれかの配線層に配線禁止領域を設定することにより。レジスタ等の配線を修正する領域が確保され、配線混雑度が高い集積回路であっても容易かつ確実に配線を修正できる。   According to the present invention, even when the initial logical value of a register or the like is changed during or after the layout is created, by setting a wiring prohibited area in any wiring layer. A region for correcting wiring such as a register is secured, and wiring can be easily and reliably corrected even in an integrated circuit having a high wiring congestion degree.

本発明を採用しない場合、たとえばレイアウトの作製途中あるいは作成後に、非同期のリセット端子しか有していないフリップフロップに対して、配線変更のみで初期論理値を変更することが困難であったが、本発明により、レイアウトの作製途中でレジスタ等の初期論理値の変更が容易となる。   When the present invention is not adopted, it is difficult to change the initial logical value only by changing the wiring for a flip-flop having only an asynchronous reset terminal, for example, during or after the production of the layout. According to the invention, it is easy to change the initial logical values of registers and the like during the production of the layout.

また、本発明によれば、FIBによる配線変更が困難な下位層でも配線修正ができる。
さらに、セル上の端子の切り替え程度であれば、配線修正に与えるタイミングの影響は無視できる程小さい利点がある。
Further, according to the present invention, the wiring can be corrected even in a lower layer where it is difficult to change the wiring by FIB.
Further, if the switching of the terminals on the cell is made, there is an advantage that the influence of the timing on the wiring correction is negligibly small.

このように、本発明では、セルベース作製の論理回路に対して特に有効であり、セルの配置を工夫することで複数のセルをまたいだ配線修正でも同様の効果を得ることができる。   As described above, the present invention is particularly effective for a cell-based logic circuit, and the same effect can be obtained even when wiring is modified across a plurality of cells by devising the cell arrangement.

レジスタの使用例としてたとえば撮像装置があるが、本発明をこのような撮像装置等に採用すれば、マスク作成前でもアナログ特性値の変更ができる利点がある。
このため、アナログ特性を変更するように配線を変更したマスクを一層分用意するだけで、下地層がそのままでアナログ特性を変更した製品、あるいは少量他品種の製品等への適応が容易となる。
An example of the use of a register is an image pickup apparatus. However, if the present invention is applied to such an image pickup apparatus or the like, there is an advantage that an analog characteristic value can be changed even before mask creation.
For this reason, it is easy to adapt to a product in which the analog characteristics are changed with the base layer as it is, or a product of a small amount of other varieties, etc. only by preparing a mask whose wiring is changed so as to change the analog characteristics.

以上詳細に説明した方法は、上記手順に応じたプログラムとして形成し、CPU等のコンピュータで実行するように構成することができる。また、このようなプログラムは、半導体メモリ、磁気ディスク、光ディスク、フロッピー(登録商標)ディスク等の記録媒体、この記録媒体をセットしたコンピュータによりアクセスし、上記プログラムを実行するように構成可能である。   The method described in detail above can be configured as a program corresponding to the above procedure and executed by a computer such as a CPU. Further, such a program can be configured to be accessed by a recording medium such as a semiconductor memory, a magnetic disk, an optical disk, a floppy (registered trademark) disk, or a computer in which the recording medium is set, and to execute the program.

本実施形態に係る集積回路作製装置の一構成例を示す概略図である。It is the schematic which shows the example of 1 structure of the integrated circuit manufacturing apparatus concerning this embodiment. 図1に図示する集積回路作製装置の一構成例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of an integrated circuit manufacturing apparatus illustrated in FIG. 1. 本実施形態に係る合成部を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the synthetic | combination part which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る配線禁止領域を説明するための多層配線化されたレイアウトの一例の傾斜図である。It is an inclined view of an example of a layout in a multilayer wiring for explaining a wiring prohibited area according to the present embodiment. 本実施形態に係る配線禁止領域を説明するための多層配線化されたレイアウトの一例の断面図である。It is sectional drawing of an example of the layout made into the multilayer wiring for demonstrating the wiring prohibition area | region which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る配線部が図4の中間層にて行った配線接続の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the wiring connection which the wiring part which concerns on this embodiment performed in the intermediate | middle layer of FIG. 本実施形態に係る集積回路作製装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation | movement of the integrated circuit manufacturing apparatus which concerns on this embodiment. 本発明に係る第1の順序回路がセル上に複数配置されている場合の配線禁止領域について説明するための一例の図である。It is an example for demonstrating the wiring prohibition area | region in case the 1st sequential circuit which concerns on this invention is multiply arranged on the cell. 本発明に係る第1の順序回路が多ビットである場合の配線部の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of the wiring part in case the 1st sequential circuit based on this invention is multi-bit. 本発明に係る第1の順序回路が多ビットである場合の配線禁止領域を説明するための一例の図である。It is an example for demonstrating the wiring prohibition area | region in case the 1st sequential circuit which concerns on this invention is multi-bit. 撮像装置の一構成例を示す図である。It is a figure showing an example of 1 composition of an imaging device.

符号の説明Explanation of symbols

1…集積回路作製装置、2…回路情報、3…レイアウトデータ、10…演算装置、11…操作部、12…表示部、100…CPU、110…ハードディスク(HD)、120…ROM、130…RAM、140…制御部、1001…合成部、1002…置換部、1003…配置部、1004…配線禁止領域設定部、1005…配線部、1101…合成記憶部、1102…置換記憶部、1103…配置記憶部、1104…配線禁止領域設定記憶部、1105…配線記憶部、200、200aレジスタ、201、211…リセット端子、202、212…セット端子、210、210a…フリップフロップ、213…入力端子、214…出力端子、300…下地層、310…中間層、311、311a〜311c、313〜316…配線、312…コンタクトホール、320…最上位層、ARE…配線禁止領域。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Integrated circuit manufacturing apparatus, 2 ... Circuit information, 3 ... Layout data, 10 ... Arithmetic unit, 11 ... Operation part, 12 ... Display part, 100 ... CPU, 110 ... Hard disk (HD), 120 ... ROM, 130 ... RAM , 140 ... control unit, 1001 ... synthesis unit, 1002 ... replacement unit, 1003 ... placement unit, 1004 ... wiring prohibited area setting unit, 1005 ... wiring unit, 1101 ... synthesis storage unit, 1102 ... replacement storage unit, 1103 ... placement memory , 1104... Wiring prohibition area setting storage unit, 1105... Wiring storage unit, 200, 200a register, 201, 211... Reset terminal, 202, 212... Set terminal, 210, 210a. Output terminal 300 ... underlying layer 310 ... intermediate layer 311 311a-311c, 313-316 ... wiring 312 Contact hole, 320 ... the top layer, ARE ... wiring prohibited area.

Claims (13)

回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製装置であって、
上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する置換部と、
上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する配線禁止領域設定部と、
置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する配線部と
を有する集積回路作製装置。
An integrated circuit manufacturing apparatus for manufacturing an integrated circuit for arranging a plurality of logic circuits based on circuit information in a predetermined arrangement form and forming a multilayer wiring,
A replacement unit that replaces the first sequential circuit, of which the initial logical value is predicted to be changed, with the second sequential circuit among the plurality of logic circuits;
After the placement of the second sequential circuit replaced by the replacement unit, wiring prohibition for setting a wiring prohibition region in any one of the plurality of wiring layers to which a predetermined terminal of the sequential circuit can be connected by wiring An area setting section;
An integrated circuit manufacturing apparatus comprising: a wiring unit that wire-connects the predetermined terminal of the sequential circuit in a wiring layer of the wiring-prohibited region when the initial logical value of the replaced second sequential circuit is changed.
上記置換部は、
上記第1の順序回路を非同期で所定の論理値に設定するセット端子と当該論理値をリセットするリセット端子とを有する上記第2の順序回路に置換する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The replacement part is
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the first sequential circuit is replaced with the second sequential circuit having a set terminal for asynchronously setting a predetermined logical value and a reset terminal for resetting the logical value.
上記置換部は、
上記第2の順序回路の駆動能力が当該第2の順序回路と同程度の上記セルを選択する
請求項2記載の集積回路作製装置。
The replacement part is
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the second sequential circuit has the same driving capability as that of the second sequential circuit.
上記配線部は、
上記初期論理値を変更する場合にのみ、上記第2の順序回路の上記セット端子と上記リセット端子との配線を逆に配線接続する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The wiring part is
2. The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein only when the initial logical value is changed, wirings of the set terminal and the reset terminal of the second sequential circuit are reversely connected.
上記配線禁止領域設定部は、
上記セルが複数の上記第1の順序回路を含む場合、それぞれが上記置換部によって置換された上記第2の順序回路を互いに隣接させて上記配線禁止領域を設定する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The wiring prohibition area setting section
2. The integrated circuit fabrication according to claim 1, wherein when the cell includes a plurality of the first sequential circuits, the wiring prohibited region is set by adjoining the second sequential circuits, each replaced by the replacement unit. apparatus.
上記配線部は、
上記セルが複数の上記第1の順序回路を含む場合、それぞれが上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の入力端子間および出力端子間同士で各々の配線を互いに交換して接続する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The wiring part is
When the cell includes a plurality of the first sequential circuits, the respective wirings are exchanged and connected between the input terminals and between the output terminals of the second sequential circuit each replaced by the replacement unit. The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1.
上記配線禁止領域設定部は、
優先度の高い上記第1の順序回路のみに対して上記配線禁止領域を設定する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The wiring prohibition area setting section
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the wiring prohibition region is set only for the first sequential circuit having a high priority.
上記配線禁止領域設定部は、
上記セルが上記第2の順序回路を含まない場合であっても、上記配線禁止領域を設定する
請求項1記載の集積回路作製装置。
The wiring prohibition area setting section
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the wiring prohibited area is set even when the cell does not include the second sequential circuit.
上記第1および第2の順序回路は、レジスタを含む
請求項1記載の集積回路作製装置。
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the first and second sequential circuits include a register.
上記第1の順序回路は、レジスタを含み、
上記第2の順序回路は、フリップフロップを含む
請求項1記載の集積回路作製装置。
The first sequential circuit includes a register,
The integrated circuit manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the second sequential circuit includes a flip-flop.
回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製装置であって、
上記回路情報に基づいて演算を行う演算部と、
上記演算部の処理データを記憶する少なくとも一つの記憶部と、
を有し、
上記演算部は、
上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する置換部と、
上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する配線禁止領域設定部と、
置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する配線部とを含む
集積回路作製装置。
An integrated circuit manufacturing apparatus for manufacturing an integrated circuit for arranging a plurality of logic circuits based on circuit information in a predetermined arrangement form and forming a multilayer wiring,
An arithmetic unit that performs an operation based on the circuit information;
At least one storage unit for storing processing data of the arithmetic unit;
Have
The arithmetic unit is
A replacement unit that replaces the first sequential circuit, of which the initial logical value is predicted to be changed, with the second sequential circuit among the plurality of logic circuits;
After the placement of the second sequential circuit replaced by the replacement unit, wiring prohibition for setting a wiring prohibition region in any one of the plurality of wiring layers to which a predetermined terminal of the sequential circuit can be connected by wiring An area setting section;
An integrated circuit manufacturing apparatus, comprising: a wiring unit that wire-connects the predetermined terminal of the sequential circuit in a wiring layer of the wiring-prohibited region when changing the initial logical value of the replaced second sequential circuit.
回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する集積回路作製方法であって、
上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換するステップと、
上記ステップによって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定するステップと、
置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続するステップと
を有する集積回路作製方法。
An integrated circuit manufacturing method for manufacturing an integrated circuit in which cells having a plurality of logic circuits set based on circuit information are arranged in a predetermined arrangement form to form a multilayer wiring,
Replacing the first sequential circuit, of which the initial logical value is predicted to be changed, among the plurality of logic circuits, with a second sequential circuit;
After the placement of the second sequential circuit replaced by the step, a step of setting a wiring prohibited area in any one of the plurality of wiring layers to which a predetermined terminal of the sequential circuit can be wire-connected;
Connecting the predetermined terminal of the sequential circuit with a wiring layer in the wiring-prohibited region when changing the initial logical value of the replaced second sequential circuit.
回路情報に基づいて複数の論理回路を組にしたセルを所定の配列形態をもって配置し、多層配線化する集積回路を作製する処理であって、
上記複数の論理回路のうち、初期論理値の変更が予測される第1の順序回路を第2の順序回路に置換する処理と、
上記置換部によって置換された上記第2の順序回路の配置後、当該順序回路の所定端子が配線接続可能な複数の配線層のうち、いずれか一の配線層に配線禁止領域を設定する処理と、
置換された上記第2の順序回路の上記初期論理値を変更する場合に、当該順序回路の上記所定端子を上記配線禁止領域の配線層にて配線接続する処理と
をコンピュータに実行させるプログラム。
A process for producing an integrated circuit in which cells having a plurality of logic circuits set based on circuit information are arranged in a predetermined arrangement form to form a multilayer wiring,
A process of replacing the first sequential circuit, in which the initial logical value is predicted to be changed, among the plurality of logic circuits, with a second sequential circuit;
After setting the second sequential circuit replaced by the replacement unit, a process of setting a wiring prohibited area in any one of the plurality of wiring layers to which a predetermined terminal of the sequential circuit can be connected by wiring; ,
When changing the initial logical value of the replaced second sequential circuit, the program causes the computer to execute a process of wiring connecting the predetermined terminal of the sequential circuit with a wiring layer in the wiring prohibited area.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09129738A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Hitachi Ltd Method for designing wiring layout
JP2000340774A (en) * 1999-05-28 2000-12-08 Nec Kofu Ltd Function block library and lsi designing method using the same
JP2003099489A (en) * 2001-09-21 2003-04-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Logical synthesizing method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09129738A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Hitachi Ltd Method for designing wiring layout
JP2000340774A (en) * 1999-05-28 2000-12-08 Nec Kofu Ltd Function block library and lsi designing method using the same
JP2003099489A (en) * 2001-09-21 2003-04-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Logical synthesizing method

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