JP2009055556A - Optical module and optical pulse testing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、センタ局側の伝送装置から光分岐器を経由し、ユーザ光端末までの間に光線路として敷設された光ファイバを介して信号光を伝送するネットワーク(PON;Passive Optical Network )内において、光ファイバの障害検知をユーザ光端末側から行うためにPONの通信光より短い波長の試験光を送受光する光モジュールと、この光モジュールを用いた光パルス試験器(OTDR;Optical Time Domain Reflectometer )に関する。 The present invention relates to a network (PON; Passive Optical Network) that transmits signal light via an optical fiber laid as an optical line from a transmission device on the center station side to an optical terminal via an optical branching unit. , An optical module that transmits and receives test light having a wavelength shorter than that of PON communication light in order to detect an optical fiber failure from the user optical terminal side, and an optical pulse tester (OTDR; Optical Time Domain) using this optical module Reflectometer).
上述したPON内における光分岐器からユーザ光端末までの間の光ファイバの障害をユーザ光端末側から検知する手段として、下記特許文献1に開示される障害探索システムがある。 As a means for detecting from the user optical terminal side an optical fiber failure between the optical branching device and the user optical terminal in the PON described above, there is a failure search system disclosed in Patent Document 1 below.
図5は下記特許文献1において光ファイバの障害検知に使用するOTDRの構成を示す機能ブロック図である。図示のように、OTDR100は、操作部101と、タイミング発生器102と、光源103と、光結合器104と、受光器105と、増幅器106と、A/D変換器107と、処理部108と、表示部109とから略構成されている。
FIG. 5 is a functional block diagram showing a configuration of an OTDR used for optical fiber failure detection in Patent Document 1 below. As illustrated, the OTDR 100 includes an
操作部101は、操作者の操作により光源103から出射された光の波長を所望の値に設定するとともに、その繰り返し周期に関するデータが入力される。
The
タイミング発生器102は、操作部101から入力された設定に関するデータに基づいて、光源103から所定の波長及びパルス幅を有した光が所定の繰り返し周期で発生するように、タイミング信号を光源103に出力する。
The
光源103は、例えばレーザダイオード(LD)からなり、入力された波長及びパルス幅を設定するデータに対応する波長及びパルス幅を有する光を、入力された繰り返し周期を設定するデータに対応する繰り返し周期で発生して、光結合部104を介して光ファイバの一端に試験光として出射する。
The
このとき、測定対象の光ファイバに入射された試験光は、PONの光ファイバ内を光分岐器に向けて伝播していく。その伝播過程において、光ファイバ内では後方散乱やフレネル反射に起因する戻り光が発生する。この戻り光は、光ファイバ内を伝播して、光ファイバの一端からOTDR100内に入射する。光結合器104は、OTDR100内に入射された戻り光を受光器105に出射する。
At this time, the test light incident on the optical fiber to be measured propagates in the optical fiber of the PON toward the optical splitter. In the propagation process, return light is generated in the optical fiber due to backscattering and Fresnel reflection. The return light propagates in the optical fiber and enters the OTDR 100 from one end of the optical fiber. The
受光器105は、光ファイバから戻ってきた戻り光を受光し、戻り光を電気信号に変換し、この電気信号を増幅器106に出力する。
The
増幅器106は、受光器105から出力された電気信号を増幅するとともに、増幅した電気信号をA/D変換器107に出力する。
The
A/D変換器107は、増幅器106から出力された電気信号をA/D変換するとともに、A/D変換した電気信号を処理部108に出力する。
The A / D converter 107 A / D converts the electrical signal output from the
処理部108は、タイミング発生器102から入力されたパルスに同期するトリガを受け取り、A/D変換器107から出力された電気信号に含まれる測定データを平均化する処理を行った後、対数変換し、試験光に対する光ファイバの伝播特性を算出する機能と、算出した光ファイバの伝播特性を表示部109に表示させる機能とを有している。
The
なお、図5では省略しているが、上述したOTDR100には、試験光以外にも光ファイバ内を伝送する通常の通信光をモニタするために通信光モニタ用の受光器120が組み込まれている。通信光モニタ受光器120は、図6(a)に示すように、上述した光結合部104とは別のコネクタから光ファイバに接続されるとともに、モニタ通信光専用の信号処理部に接続されている。さらに、信号処理部は、上述した表示部109に接続されており、モニタ通信光の伝播特性を図5に示す表示部109に表示させることができる。
Although omitted in FIG. 5, the above-described OTDR 100 incorporates a communication light
また、図6(b)に示すように、OTDR100内に更に切換えスイッチ130を設け、この切換えスイッチ(光スイッチ)130に光結合器104と、通信光モニター受光器120とが接続され、用途に応じて光結合器104と通信光モニタ受光器120を切り換えるように構成することもできる。
Further, as shown in FIG. 6B, a
さらに、図6(c)に示すように、OTDR100内に光カプラ140を設け、この光カプラ140に光結合器104と、通信光モニタ受光器120とが接続される構成も考えられる。
ところが、図6(a)に示すような構成では、OTDR100内に通信光モニタ受光器120が組み込まれることに加えて、光結合器104と通信光モニタ受光器120のそれぞれに光ファイバを接続するためのコネクタが必要となり、OTDR100の構成が複雑になるとともに、OTDR100(筐体101)が大型化するという問題がある。
However, in the configuration shown in FIG. 6A, in addition to the communication light
また、図6(b)に示すような構成では、光ファイバを接続するためのコネクタは一つだが、光スイッチ130が搭載されているのでOTDR100内は依然として複雑な構成であり、さらには、この光スイッチ130が高価であるのでコストが高くなるという問題も生じてしまう。
Further, in the configuration as shown in FIG. 6B, there is one connector for connecting the optical fiber, but since the
さらに、図6(c)に示すような構成は、光スイッチ130に替えて光カプラ140を搭載しているので(b)と同じように構成が複雑という問題がある。また、一般に、光カプラは光スイッチに比べて安価であるため、光カプラを採用した図6(c)の構成は光スイッチを採用した図(b)の構成に比べてコストが低いという利点があるが、光カプラの分岐損失による受光感度の損失が大きい(例えば、分岐比50%:50%の光カプラで3dB程度低下する)という問題もある。
Further, the configuration as shown in FIG. 6C has a problem that the configuration is complicated as in FIG. 6B because the
そこで本発明は、上記問題点を解消するために、試験光及びその戻り光と、モニタ通信光とを単体で送受光することができる光モジュールと、この光モジュールが組み込まれることで小型化を図ることができる光パルス試験器(OTDR)を提供することを目的としている。 Therefore, in order to solve the above problems, the present invention reduces the size by incorporating an optical module capable of transmitting and receiving test light, its return light, and monitor communication light alone, and this optical module. An object of the present invention is to provide an optical pulse tester (OTDR) that can be realized.
次に、上記の課題を解決するための手段を、実施の形態に対応する図面を参照して説明する。
本発明の請求項1記載の光モジュールは、PONの通信光を受光するとともに、該PON内の光線路6の障害を検知するために前記PONの通信光より短い波長に設定された光を試験光として送受光する光モジュール21であって、
前記試験光を出射する半導体コリメータ31と、
前記試験光の戻り光を受光する短波長受光器32と、
前記PONの通信光を受光する長波長受光器33と、
前記PONの通信光と前記戻り光が入射するとともに、前記半導体コリメータ31から出射された前記試験光を前記PON内の光線路6に出射する入射部34と、
前記入射部34からの前記PONの通信光を前記長波長受光器33に出射するとともに、前記戻り光を他の光路44に分離して出射し、且つ該他の光路44から入射する前記半導体コリメータ31から出射された前記試験光を前記入射部34に出射する第1のビームスプリッタ35と、
前記半導体コリメータ31から出射された前記試験光を前記第1のビームスプリッタ35に出射するとともに、前記第1のビームスプリッタ35によって分離された前記戻り光を前記短波長受光器32に出射する第2のビームスプリッタ36と、
から構成されることを特徴としている。
Next, means for solving the above problems will be described with reference to the drawings corresponding to the embodiments.
The optical module according to claim 1 of the present invention receives PON communication light and tests light set to a wavelength shorter than the PON communication light in order to detect a failure of the
A
A
A long
The
The semiconductor collimator that emits the communication light of the PON from the
The test light emitted from the
It is characterized by comprising.
請求項2記載の光モジュールは、前記第1のビームスプリッタ35がダイクロイックミラーからなり、前記第2のビームスプリッタ36がハーフミラーからなることを特徴としている。
The optical module according to
請求項3記載の光モジュールは、前記試験光及び前記戻り光が0.65μm波長光であることを特徴としている。
The optical module according to
請求項4記載の光モジュールは、前記試験光及び前記戻り光が0.78μm波長光であることを特徴としている。
The optical module according to
請求項5記載の光パルス試験器は、請求項1〜4の何れか1つに記載の光モジュール21を備えることを特徴としている。
An optical pulse tester according to a fifth aspect includes the
本発明による請求項1記載の光モジュールによれば、ユーザ光端末からセンタ局に向かう上り方向の光に対して第1のビームスプリッタは、半導体コリメータから出射された試験光(短波長光)を光線路に向けて出射し、センタ局からユーザ光端末に向かう下り方向の光に対しては、長短の波長光を分離して、PONの通信光(長波長光)を長波長受光器に出射するとともに、試験光の戻り光(短波長光)を他の光路を介して第2のビームスプリッタに向けて出射する。また、上り方向の光に対して第2のビームスプリッタは、半導体コリメータから出射された試験光を第1のビームスプリッタに向けて出射し、下り方向の光に対しては、第1のビームスプリッタによって分離された戻り光を短波長受光器に向けて出射する。これにより、長波長光であるPONの通信光と、短波長光である試験光及びその戻り光とを単体で送受光できるようになる。 According to the optical module of the first aspect of the present invention, the first beam splitter receives the test light (short wavelength light) emitted from the semiconductor collimator with respect to the upward light from the user optical terminal toward the center station. For light in the downstream direction, emitted from the center station toward the user optical terminal, the long and short wavelength light is separated and the PON communication light (long wavelength light) is emitted to the long wavelength receiver. At the same time, the return light (short wavelength light) of the test light is emitted toward the second beam splitter via another optical path. The second beam splitter emits the test light emitted from the semiconductor collimator toward the first beam splitter for the upstream light, and the first beam splitter for the downstream light. The return light separated by is emitted toward the short wavelength receiver. As a result, the PON communication light that is long wavelength light, the test light that is short wavelength light, and the return light can be transmitted and received alone.
また、第1のビームスプリッタがダイクロイックミラーからなることで、特定波長の光を任意の方向に反射可能となり、試験光又はその戻り光だけを容易に他の光路に分離できるようになる。また、第2のビームスプリッタがハーフミラーからなることで、半導体コリメータから出射された試験光(上り方向の光)の一部が透過するとともに、その戻り光(下り方向の光)の一部がハーフミラーで反射して光路が変わり、短波長受光器に入射するようになる。 Further, since the first beam splitter is composed of a dichroic mirror, light of a specific wavelength can be reflected in an arbitrary direction, and only the test light or its return light can be easily separated into another optical path. Further, since the second beam splitter is composed of a half mirror, a part of the test light (upward light) emitted from the semiconductor collimator is transmitted and a part of the return light (downward light) is transmitted. Reflected by the half mirror, the optical path changes and enters the short wavelength receiver.
さらに、試験光及びその戻り光が0.65μm又は0.78μm波長光であることは、一般的なPONの通信光(例えば、上り方向が1.31μm波長光、下り方向が1.55μm波長光)より短い波長となるため通信光に影響を与えず、且つセンタ局側から伝送試験用に送信される1.65μm波長光を除去するためにユーザ宅側の光線路に設置される光フィルタによってもカットされないので、試験光として好適となる。 Furthermore, the test light and its return light are 0.65 μm or 0.78 μm wavelength light, indicating that general PON communication light (for example, 1.31 μm wavelength light in the upstream direction and 1.55 μm wavelength light in the downstream direction). ) By using an optical filter installed in the optical line on the user's home side in order to remove the 1.65 μm wavelength light transmitted from the center station side for the transmission test because it has a shorter wavelength and does not affect the communication light. Is not cut, so it is suitable as test light.
また、光パルス試験器(OTDR)が、長短の波長光を単体で送受光可能な光モジュールを備えることによって、小型化を図れるようになる。 Further, the optical pulse tester (OTDR) can be reduced in size by including an optical module capable of transmitting and receiving long and short wavelength light alone.
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して具体的に説明する。
図1はPON方式のFTTH(;Fiber to the Home )の一例を示す説明図である。
Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of a PON type FTTH (; Fiber to the Home).
図1に示すように、FTTH1は、通信業者側にあるセンタ局2と、第1の光分岐器3と、第2の光分岐器4と、ユーザ光端末5とから構成されており、それぞれが互いに光ファイバ6で接続されている。なお、図1では説明を簡略化するため、5番目の第2の光分岐器4Eに接続されたユーザ光端末5Ea〜5Ed以外のユーザ光端末を省略している。
As shown in FIG. 1, the FTTH 1 is composed of a
このFTTH1では、例えば、上り方向における通信光を1.31μm波長光とし、下り方向における通信光を1.55μm波長光としている。なお、上り方向とは各ユーザ光端末5からセンタ局2に向かう向きであり、下り方向とはセンタ局2から各ユーザ光端末5に向かう向きである。
In this FTTH1, for example, the communication light in the upstream direction is 1.31 μm wavelength light, and the communication light in the downstream direction is 1.55 μm wavelength light. The upstream direction is the direction from each user
センタ局2は、1.55μm波長の下り通信光を第1の光分岐器3に出射するとともに、第1の光分岐器3から出射された1.31μm波長の上り通信光を受光する。
The
第1の光分岐器3は、センタ局2からの1.55μm波長の下り通信光を受光するとともに、この通信光を分岐して各第2の光分岐器4A〜4Hに出射する。また、第1の光分岐器3は、各第2の光分岐器4A〜4Hから出射された1.31μm波長の上り通信光を受光するとともに、この通信光をセンタ局2に出射する。
The first optical branching
第2の光分岐器4(4E)は、各ユーザ宅の近傍(例えば電柱など)に設けられており、第1の光分岐器3から出射された1.55μm波長の下り通信光を分岐して、各ユーザ光端末5(5Ea〜5Ed)に出射する。また、第2の光分岐器4(4E)は、各ユーザ光端末5(5Ea〜5Ed)から出射された1.31μm波長の上り通信光を受光するとともに、この通信光を第1の光分岐器3に出射する。
The second optical branching device 4 (4E) is provided in the vicinity of each user's house (for example, a utility pole), and branches the downstream communication light having a wavelength of 1.55 μm emitted from the first optical branching
図1に示すFTTH1の場合、合計32台の各ユーザ光端末5は、それぞれ各ユーザ宅内に設置されており、各第2の光分岐器4A〜4Hから出射された1.55μm波長の下り通信光を受光するとともに、受光した通信光を光電変換し、これにより得られたデジタル信号を図示しない各ユーザのコンピュータ(PC)に出力する。
In the case of FTTH1 shown in FIG. 1, a total of 32 user
次に、各ユーザ宅内に設置されるユーザ光端末について説明する。
図2はユーザ光端末の一例を示す説明図であり、上述した合計32台の各ユーザ光端末5は、4台ごとに第2の光分岐器4A〜4Hに接続された光ファイバ6を内部に挿通させている。
Next, the user optical terminal installed in each user's house will be described.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a user optical terminal. Each of the 32 user
図2に示すように、ユーザ光端末5は、略直方体状の筐体10と、基端部が図1に示す第2の光分岐器4に接続された光ファイバ6と、メカニカルスプライス11と、光ファイバ6の終端部に接続されたコネクタ12と、光送受信部13と、インターフェイス回路14とから構成されている。
As shown in FIG. 2, the user
筐体10は、その内部に光送受信部13と、インターフェイス回路14とを収容するとともに、光ファイバ6を巻回して収容している。
The
光ファイバ6は、上述したように、基端部が第2の光分岐器4に接続されており、終端部が筐体10内に収容されている。
As described above, the base end portion of the
メカニカルスプライス11は、筐体10内で二つの光ファイバ6a,6bの各端部間を機械的に挟み込んで接合する部材である。
The
コネクタ12は、ユーザ光端末5内における光ファイバ6の終端部に接続され、また、光送受信部13にも接続されている。なお、コネクタ12には、図1に示すセンタ局2側から行われる光ファイバ6の伝送試験に使用される1.65μm波長光を除去するための図示しないフィルタが内蔵されている。
The
光送受信部13は、光ファイバ6からの光信号をデジタル信号に変換するとともに、このデジタル信号をインターフェイス回路14に出力する。また、光送受信部13は、インターフェイス回路14を介してPCから出力されたデータ信号を光信号に変換するとともに、この光信号をコネクタ12に出力する。
The optical transmitter /
インターフェイス回路14は、光送受信部13から出力されたデジタル信号を図示しないLANを介して接続されたユーザ側のPCに出力する。さらに、インターフェイス回路14は、PCから出力されたデータ信号を光送受信部13に出力する。
The
次に、光モジュールと、この光モジュールが組み込まれた光パルス試験器(OTDR)について説明する。
図3は本発明による光モジュール及びOTDRの一実施の形態を示す機能ブロック図、図4は同光モジュールの一実施の形態を示す正断面図である。
Next, an optical module and an optical pulse tester (OTDR) incorporating this optical module will be described.
FIG. 3 is a functional block diagram showing an embodiment of an optical module and an OTDR according to the present invention, and FIG. 4 is a front sectional view showing an embodiment of the optical module.
図3のOTDR20は、上述したPON内における第2の光分岐器4からユーザ光端末5までの間の光ファイバ6の障害をユーザ光端末5側から検知するための機器である。なお、以下で説明するOTDR20について、図5に示した従来のOTDR100と同等の機能を有する箇所には同一の符号を付し、その説明を省略する。
The
図3に示すように、OTDR20は、操作部101と、タイミング発生器102と、光結合器104と、受光器105と、増幅器106と、A/D変換器107と、処理部108と、表示部109と、光モジュール21と、信号処理部37とから構成されている。
As shown in FIG. 3, the
なお、OTDR20の試験光は、PONの通信光(1.31μm、1.55μm)より短い波長に設定されており、特に好ましいのは0.65μm、又は0.78μm波長光である。
The test light of
図3に示すように、光モジュール21は、半導体コリメータ31と、短波長受光器32と、長波長受光器33と、入射部34と、第1のビームスプリッタ35と、第2のビームスプリッタ36とから構成されている。
As shown in FIG. 3, the
半導体コリメータ31は、上述した試験光を平行光にして第2のビームスプリッタへ出射する。
The
短波長受光器32としてのアバランシェフォトダイオード(APD)は、試験光の戻り光を受光し、戻り光を電気信号に変換し、この電気信号を増幅器106に出力する。
An avalanche photodiode (APD) as the short wavelength
長波長受光器33としてのフォトダイオード(PD)は、PONの通信光をモニタ通信光として受光し、この通信光を電気信号に変換する。
A photodiode (PD) as the long wavelength
入射部34は、光ファイバ6からのモニタ通信光と、戻り光とが入射するとともに、試験光を光ファイバ6に出射する。
The
第1のビームスプリッタ35はダイクロイックミラーからなり、入射部34から入射されたモニタ通信光をPD33に出射するとともに、同じく入射部34から入射された戻り光を他の光路に分離して出射する。また、他の光路から入射される試験光を入射部34に出射する。
The
第2のビームスプリッタ36はハーフミラーからなり、半導体コリメータ31から出射された試験光を他の光路を介してダイクロイックミラー35に出射するとともに、ダイクロイックミラー35によって分離された戻り光をAPD32に出射する。
The
信号処理部37は、PD33からの電気信号を増幅、A/D変換した後に、伝播特性を算出して、その結果を表示部109に表示させる。
The
次に、図4を参照して光モジュールの構造を具体的に説明する。
図4に示すように、この光モジュール21は、横長の略矩形ブロック状の本体41を有している。本体41の図中左側の端部には、モニタ通信光(長波長光)の光路42が本体41の上面から下面にかけて貫通して設けられている。この光路42の上下面の開口部には、入射部34と長波長受光器33(PD)が同軸状に設けられている。
Next, the structure of the optical module will be specifically described with reference to FIG.
As shown in FIG. 4, the
また、本体41の図中右側の端部には、戻り光(短波長光)の光路43が前記光路42と平行に設けられている。この光路43の本体41下面にある開口部には、短波長受光部32(APD)が設けられている。
Further, an
さらに、本体41には、前記二つの光路42,43を本体41内で接続するように、二つの光路42,43と直交する他の光路44が設けられており、その開口部には、半導体コリメータ31が設けられている。
Further, the
光路42と他の光路44の接続位置には、第1のビームスプリッタ35(ダイクロイックミラー)が所定の傾きを有して設けられている。また、光路43と他の光路44の接続位置には、第2のビームスプリッタ36(ハーフミラー)が同じく所定の傾きを有して設けられている。
A first beam splitter 35 (dichroic mirror) is provided at a connection position between the
図4に示すように、光モジュール21において、半導体コリメータ31から出射された試験光は、ハーフミラー36を透過して他の光路44を直進し、ダイクロイックミラー35によって略直角に反射して入射部34に入射し、入射部34から光ファイバ6に出射される。
As shown in FIG. 4, in the
また、光ファイバ6からの戻り光は、入射部34に入射した後、ダイクロイックミラー35に出射され、ダイクロイックミラー35によって略直角に反射してハーフミラー36に入射し、ハーフミラー36によって戻り光の一部が略直角に反射してAPD32に入射する。
The return light from the
さらに、光ファイバ6からのモニタ通信光は、入射部34へ入射した後、入射部34からダイクロイックミラー35に出射され、ダイクロイックミラー35を透過してPD33に入射する。
Further, the monitor communication light from the
上述した実施の形態によれば、ダイクロイックミラー35は、半導体コリメータ31から出射された試験光を光ファイバ6に出射し、光ファイバからのモニタ通信光をPD33に出射するとともに、同じく光ファイバからの戻り光を他の光路44を介してハーフミラー36に出射する。また、ハーフミラー36は、半導体コリメータ31から出射された試験光をダイクロイックミラー35に出射し、ダイクロイックミラー35によって分離された戻り光をAPD32に出射する。これにより、光モジュール21は、モニタ通信光と、試験光及びその戻り光とを単体で送受光できるようになる。
According to the above-described embodiment, the
また、ダイクロイックミラー35によって、特定波長の光を任意の方向に反射可能となり、上り方向の光から戻り光だけを容易に分離できるようになる。さらに、ハーフミラー36によって、半導体コリメータ31から出射された試験光の一部が透過するとともに、その戻り光の一部は略直角に反射するため、戻り光だけがAPD32へ入射するようになる。
The
さらに、試験光及びその戻り光が0.65μm又は0.78μm波長光であるため通信光に影響を与えず、且つセンタ局側から伝送試験用に送信される1.65μm波長光を除去するためにユーザ宅側の光線路に設置される光フィルタによってもカットされないので、試験光として好適となる。 Furthermore, since the test light and its return light are 0.65 μm or 0.78 μm wavelength light, the communication light is not affected, and the 1.65 μm wavelength light transmitted from the center station side for transmission test is removed. In addition, since it is not cut by an optical filter installed on the optical path on the user's home side, it is suitable as test light.
また、OTDR20が、長短の波長光を単体で送受光可能な光モジュール21を備えることによって、小型化を図れるようになる。
In addition, the
6…光線路(光ファイバ)
20…光パルス試験器(OTDR)
21…光モジュール
31…半導体コリメータ
32…短波長受光器(APD)
33…長波長受光器(PD)
34…入射部
35…第1のビームスプリッタ(ダイクロイックミラー)
36…第2のビームスプリッタ(ハーフミラー)
44…他の光路
6 ... Optical line (optical fiber)
20 ... Optical pulse tester (OTDR)
21 ...
33 ... Long wavelength receiver (PD)
34 ...
36 ... Second beam splitter (half mirror)
44. Other light paths
Claims (5)
前記試験光を出射する半導体コリメータ(31)と、
前記試験光の戻り光を受光する短波長受光器(32)と、
前記PONの通信光を受光する長波長受光器(33)と、
前記PONの通信光と前記戻り光が入射するとともに、前記半導体コリメータから出射された前記試験光を前記PON内の光線路に出射する入射部(34)と、
前記入射部からの前記PONの通信光を前記長波長受光器に出射するとともに、前記戻り光を他の光路(44)に分離して出射し、且つ該他の光路から入射する前記半導体コリメータから出射された前記試験光を前記入射部に出射する第1のビームスプリッタ(35)と、
前記半導体コリメータから出射された前記試験光を前記第1のビームスプリッタに出射するとともに、前記第1のビームスプリッタによって分離された前記戻り光を前記短波長受光器に出射する第2のビームスプリッタ(36)と、
から構成されることを特徴とする光モジュール。 An optical module (21) that receives PON communication light and transmits and receives light set to a wavelength shorter than the PON communication light as test light in order to detect a failure of the optical line (6) in the PON. Because
A semiconductor collimator (31) for emitting the test light;
A short wavelength receiver (32) for receiving the return light of the test light;
A long wavelength receiver (33) for receiving the communication light of the PON;
The incident portion (34) for emitting the test light emitted from the semiconductor collimator to the optical line in the PON, while the communication light and the return light of the PON are incident.
From the semiconductor collimator that emits the communication light of the PON from the incident portion to the long-wavelength light receiver, emits the return light separately into another optical path (44), and enters from the other optical path A first beam splitter (35) for emitting the emitted test light to the incident portion;
A second beam splitter that emits the test light emitted from the semiconductor collimator to the first beam splitter and emits the return light separated by the first beam splitter to the short wavelength receiver; 36)
An optical module comprising:
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