JP2008537781A - デュアル光音響および抵抗測定システム - Google Patents
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Abstract
【選択図】図4
Description
(a)ウエハをカセットからウエハホルダへ移送するステップと、
(b)ウエハ上の選択された部位を光音響システムの測定エリア内に位置させるステップと、
(c)選択された部位において光音響測定を行うステップと、
(d)光音響測定結果に基づいて、選択された部位上の膜の厚さを算出するステップと、
(e)ウエハ上の選択された部位を4点プローブシステムの測定エリア内に位置させるステップと、
(f)選択された測定部位において4点プローブ測定を行うステップと、
(g)4点プローブ測定結果に基づいて、選択された部位上の膜の厚さを算出するステップと、
(h)ウエハ上の新しい部位を選択して器具の光音響エリア内に位置付け、測定すべきすべての部位が測定されるまでステップ(c)から(h)を繰り返すステップと、
(i)選択された部位付近の光音響厚さと4点プローブ厚さとの間の標準的な相関係数を決定するステップと、
(j)厚さ測定結果および相関係数を報告するステップと、
(k)ウエハをカセットに移送して戻すステップと、
を含むことができる。
(a)ウエハをカセットからウエハホルダへ移送するステップと、
(b)ウエハ上の選択された部位をシステムの器具エリアの測定エリア内に位置させるステップと、
(c)選択された部位において光音響測定を行うステップと、
(d)光音響測定結果に基づいて、選択された部位上の膜の厚さを算出するステップと、
(e)選択された測定部位において4点プローブ測定を行うステップと、
(f)4点プローブ測定結果に基づいて、選択された部位上の膜の厚さを算出するステップと、
(g)ウエハ上の新しい部位を選択して器具の測定エリア内に位置付け、測定すべきすべての部位が測定されるまでステップ(c)から(g)を繰り返すステップと、
(h)選択された部位付近の光音響厚さと4点プローブ厚さとの間の標準的な相関係数を決定するステップと、
(i)厚さ測定結果および相関係数を報告するステップと、
(j)ウエハをカセットに移送して戻すステップと、
を含む。
Claims (25)
- 少なくとも1つのビーム経路に沿った連続照射を使用して、ウエハ上の測定部位の光学測定を実行するための第1のサブシステムと、
前記第1のサブシステムに隣接して取り付けられる第2のサブシステムであって、プローブ支持部によって支持されるプローブのセットを使用して、前記測定部位における伝導率の電気測定を実行するための第2のサブシステムと、
前記測定部位を前記第1のサブシステムおよび前記第2のサブシステムと整列させるために、平行移動ステージを動作させるためのコントローラと、
を備える、測定システム。 - 前記第1のサブシステムおよび前記第2のサブシステムは、真空、圧縮ガス、環境制御、および電力のうち少なくとも1つを含むサービスを共有する、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1のサブシステムは、光音響測定システムを備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記第2のサブシステムは、4点プローブシステムを備える、請求項1に記載のシステム。
- ウエハ上の測定部位の少なくとも1つのビーム経路に沿った連続照射を使用して、光学測定を実行するための第1のサブシステムと、
プローブ支持部によって支持されるプローブのセットを使用して、前記測定部位における伝導率の電気測定を実行するための第2のサブシステムとを備え、
前記プローブ支持部は、光学測定中に前記プローブのセットをプローブ測定位置から非ブロック位置へ移動させるための手段を備える、
測定システム。 - 前記第1のサブシステムは、光音響測定システムを備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記第2のサブシステムは、4点プローブシステムを備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記プローブ支持部は、測定を行うために適所へ挿入するように適合される、請求項5に記載のシステム。
- 挿入は、水平射出、垂直下降、および片持下降のうち1つを含む、請求項8に記載のシステム。
- ウエハを測定する方法であって、
前記ウエハ上の測定部位のセットの第1の測定部位を、前記ウエハに当てる少なくとも1つのビーム経路に沿った連続照射を使用して光学測定を実行するための、第1のサブシステムの測定エリア内に位置させるステップと、
前記第1のサブシステムを使用して、光学測定データを生成するために、前記第1の測定部位において光学測定を行うステップと、
第2のサブシステムを使用して、伝導率測定データを生成するために、前記第1の測定部位において伝導率測定を行うステップと、
結果を形成するために、前記光学測定データと前記伝導率測定データとを組み合わせるステップと、
すべての測定部位について結果が形成されるまで、前記位置させるステップと、前記光学測定を行うステップと、前記伝導率測定を行うステップと、前記組み合わせるステップと、を繰り返すステップと、
を含む方法。 - 前記光学測定を行うステップは、光音響測定システムを動作させるステップを含む、請求項10に記載の方法。
- 前記伝導率測定を行うステップは、4点プローブシステムを動作させるステップを含む、請求項10に記載の方法。
- 前記ウエハを移送するステップおよび前記測定部位の少なくとも1つに位置させるステップのうち少なくとも1つのために、ロボットシステムを使用するステップをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 少なくとも1つの結果を適格とするための統計値を決定するステップをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 前記統計値は相関係数である、請求項14に記載の方法。
- 前記結果を調整するために前記統計値を使用するステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
- 前記第1のサブシステムおよび前記第2のサブシステムのうち少なくとも1つの調整を要求するために、前記統計値を使用するステップをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 前記伝導率測定を行うステップの前に、前記第2のサブシステムの測定エリア内に前記測定部位を位置させるステップをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 前記結果は、前記測定部位の厚さを代表するものである、請求項10に記載の方法。
- デュアル測定システムを動作させるための方法であって、
測定部位において、前記測定部位の少なくとも1つの特性に関する情報を識別するために、光音響システムによって測定を行うステップと、
前記情報を使用して、前記測定部位を評価するために、伝導率システムによって測定を行うステップと、
を含む方法。 - 前記少なくとも1つの特性は、接着、相互拡散、および層の欠落のうち少なくとも1つを含む、請求項20に記載の方法。
- 前記情報は、前記測定部位のバルク伝導率を含む、請求項20に記載の方法。
- 評価するステップは、適切な位相が形成されたか否かを判定するステップを含む、請求項20に記載の方法。
- ウエハ上の膜の厚さを決定する装置であって、光音響測定システムの測定領域内にウエハ上の測定部位を位置させ、その後4点プローブ測定システムの測定領域内に前記測定部位を位置させるための手段によって接続される、前記光音響測定システム及び前記4点プローブ測定システムを備え、前記光音響システムによって提供されるデータは、前記厚さを決定するために前記4点プローブシステムからのデータに相関せしめられる、装置。
- ウエハ上の膜の厚さを決定する装置であって、光音響測定システムの測定領域内にウエハ上の測定部位を位置させるための手段に接続され、且つ、4点プローブ測定システムの4点プローブヘッドアセンブリを挿入し、前記光音響測定システムの測定領域内の前記測定部位と電気的に接触させるための手段に接続される、前記光音響測定システムを備え、前記光音響システムによって提供されるデータは、前記厚さを決定するために前記4点プローブシステムからのデータに相関せしめられる、装置。
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