JP2008298205A - Vacuum sealing device - Google Patents

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Toru Kuboi
徹 久保井
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inexpensive vacuum sealing device for improving a yield, by restraining the deterioration in an optical signal, by accurately arranging a relative distance or a relative angle of a lens system and a device in a desired value, even if deformation is caused in a part for forming an airtight sealing space by vacuum sealing. <P>SOLUTION: In a vacuum sealing device for airtightly sealing a hollow part 2 formed by joining a lid 10 having an optical element 11 and a package having a diamond touch surface 4 mounted with the device 3 in a vacuum state, a deformation restraining member for restraining deformation of the lid 10 is arranged in the hollow part 2. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、光学素子を有するリッドとパッケージによって、その内部に実装された電子デバイス部品を真空封止する真空封止装置に関する。   The present invention relates to a vacuum sealing apparatus for vacuum-sealing electronic device components mounted therein by a lid and a package having optical elements.

近年、光通信装置や顕微鏡などの光学製品に搭載されるチップもしくは基板に、例えばレンズやミラー等の光学的機能を付加することにより、使用する部品点数の削減や製品の小型化、もしくは高機能化を目論んだ開発が盛んに行われている。これらのデバイスには、その機能を有効に発揮するために、また信頼性を確保するために、不活性ガスを封入した気密封止、もしくは真空気密封止が要求されることが多い。気密封止、もしくは真空気密封止されるデバイスに光学的機能が付されているため、気密空間を形成するためのリッド部品にも光学信号の入出力が可能な、光学窓や集光レンズなどの光学素子が必要になる。   In recent years, by adding optical functions such as lenses and mirrors to chips or substrates mounted on optical products such as optical communication devices and microscopes, the number of parts used, product size reduction, or high functionality can be achieved. Development with the goal of making it happen is actively underway. These devices often require hermetic sealing with an inert gas or vacuum hermetic sealing in order to effectively exhibit their functions and to ensure reliability. Optical window and condenser lens, etc. that can input and output optical signals to lid parts for forming hermetic space, because the optically sealed device has an optical function. The optical element is required.

このような気密封止装置において、真空空間を形成するためにリッドに光学素子が設けられている技術が、特許文献1に開示されている。図9を参照して、特許文献1の技術について簡単に説明する。
レンズ系105を保持する気密容器の上部構造106と、デバイスである赤外線撮像素子101が実装された気密構造の下部構造119と、を気密容器の上部構造と下部構造の突合せ部121で組み合わせ、気密容器の上部構造106と気密構造の下部構造119をレーザ溶接、もしくははんだを含むロウ材で真空気密封止接合する。気密容器の上部構造106と気密構造の下部構造119により形成される空間内に、必要な部品を実装することにより赤外線撮像部品(赤外線撮像素子101)を小型化可能にする。気密容器の上部構造106の寸法でレンズ系105の高さを調整することなく位置決め可能になるため、赤外線撮像素子101とレンズ系105の距離を調整する工程を省略することが可能になり、コストを低減させることが可能になる。
In such a hermetic sealing device, Patent Document 1 discloses a technique in which an optical element is provided on a lid to form a vacuum space. With reference to FIG. 9, the technique of Patent Document 1 will be briefly described.
The upper structure 106 of the hermetic container holding the lens system 105 and the lower structure 119 of the hermetic structure on which the infrared imaging element 101 as a device is mounted are combined at the abutting portion 121 of the upper structure and the lower structure of the hermetic container, The upper structure 106 of the container and the lower structure 119 of the airtight structure are joined by laser welding or vacuum hermetic sealing with a brazing material containing solder. The infrared imaging component (infrared imaging element 101) can be miniaturized by mounting necessary components in a space formed by the upper structure 106 of the hermetic container and the lower structure 119 of the hermetic structure. Positioning can be performed without adjusting the height of the lens system 105 with the dimensions of the upper structure 106 of the hermetic container, so that the step of adjusting the distance between the infrared imaging element 101 and the lens system 105 can be omitted, and the cost can be reduced. Can be reduced.

このように、集光用のレンズを保持する部品(レンズ系105を保持する気密容器の上部構造106)と、赤外線撮像素子が実装される部品(赤外線撮像素子101が実装された気密構造の下部構造119)を組み合わせ、その内部空間を真空気密封止する構造において、小型化および調整の簡易化をはかり、安価に製品を提供する。
特開2000−162036号公報
In this way, a component that holds the focusing lens (an upper structure 106 of the airtight container that holds the lens system 105) and a component on which the infrared imaging element is mounted (the lower part of the airtight structure on which the infrared imaging element 101 is mounted). In the structure in which the structure 119) is combined and the inner space is hermetically sealed in a vacuum, miniaturization and simplification of adjustment are achieved, and a product is provided at low cost.
JP 2000-162036 A

気密容器の上部構造106と気密構造の下部構造119により形成される空間は、気密容器の上部構造と下部構造の突合せ部121によってのみ接合されている。これらの部品は、その内部空間が真空雰囲気に気密封止されているため、例えば部品の肉厚が薄いなど気密容器の上部構造106、もしくは気密構造の下部構造119の剛性が十分確保されていない場合、大気圧によって押圧されることにより、内側に凹形状に変形してしまう可能性が生じる。   The space formed by the upper structure 106 of the hermetic container and the lower structure 119 of the hermetic container is joined only by the butting portion 121 of the upper structure of the hermetic container and the lower structure. Since these parts are hermetically sealed in a vacuum atmosphere, the rigidity of the upper structure 106 of the hermetic container or the lower structure 119 of the hermetic structure is not sufficiently ensured, for example, the thickness of the parts is thin. In this case, there is a possibility that it is deformed inwardly by being pressed by atmospheric pressure.

気密容器の上部構造106、もしくは気密構造の下部構造119の部品が、大気圧によって変形すると、それぞれに保持されているレンズ系105と赤外線撮像素子101の相対距離、もしくは相対角度が変化するため、レンズ系105と赤外線撮像素子101の距離もしくは角度を正確に設計どおりに配置することが困難になる。そのため、所望の光学像を赤外線撮像素子101に結ぶことが困難になり、画質が劣化してしまう虞が生じる
本発明は、この点に着目してなされたものであり、真空封止によって気密封止空間を形成する部品に変形が生じてもレンズ系とデバイスの相対距離、もしくは相対角度を正確に所望の値に配置することにより、光学信号の劣化を抑え、歩留まりを向上させ安価な真空封止装置を提供することを目的とする。
When the parts of the upper structure 106 of the hermetic container or the lower structure 119 of the hermetic structure are deformed by atmospheric pressure, the relative distance or relative angle between the lens system 105 and the infrared imaging element 101 held by each changes, It becomes difficult to accurately arrange the distance or angle between the lens system 105 and the infrared imaging element 101 as designed. Therefore, it is difficult to connect a desired optical image to the infrared imaging device 101, and there is a possibility that the image quality is deteriorated. The present invention has been made paying attention to this point, and is hermetically sealed by vacuum sealing. Even if the parts forming the stop space are deformed, the relative distance or relative angle between the lens system and the device is accurately set to a desired value, so that optical signal deterioration is suppressed, yield is improved, and inexpensive vacuum sealing is performed. It aims at providing a stop device.

本発明は目的を達成するために、光を透過させる光学素子と前記光学素子を保持する枠体を有するリッドと、デバイスが実装され前記光学素子と前記枠体に対向するダイアタッチ面を有するパッケージと、を接合することによって前記リッドと前記パッケージに形成される中空部を、真空状態で気密封止する真空封止装置において、前記リッドと前記パッケージが接合した際に、前記リッドまたは前記パッケージにおける前記中空部内に配設され、前記リッドが変形することを抑制する変形抑制部材と、を具備することを特徴とする真空封止装置を提供する。   In order to achieve the object, the present invention provides a package having an optical element that transmits light, a lid having a frame body that holds the optical element, and a die attach surface on which the device is mounted and that faces the optical element and the frame body In a vacuum sealing device that hermetically seals the lid and the hollow portion formed in the package by joining the lid and the package, when the lid and the package are joined, There is provided a vacuum sealing device comprising: a deformation suppressing member that is disposed in the hollow portion and suppresses deformation of the lid.

本発明によれば、真空封止によって気密封止空間を形成する部品に変形が生じてもレンズ系とデバイスの相対距離、もしくは相対角度を正確に所望の値に配置することにより、光学信号の劣化を抑え、歩留まりを向上させ安価な真空封止装置を提供することができる。   According to the present invention, even if a part forming the hermetic sealing space is deformed by vacuum sealing, the relative distance or relative angle between the lens system and the device is accurately set to a desired value, so that the optical signal Deterioration can be suppressed, yield can be improved, and an inexpensive vacuum sealing device can be provided.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
図1乃至図4を参照して第1の実施形態について説明する。
図1は、第1の実施形態に係る真空封止装置の構成を示す図である。図2は、図1をA−A線断面から見た図である。図3は、真空封止装置を有する真空チャンバの構成を示す図である。図4は、封止後の真空封止装置の構成を示す図である。なお図2において接合材9は図示を省略している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
The first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a vacuum sealing device according to the first embodiment. FIG. 2 is a view of FIG. 1 as viewed from the line AA. FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a vacuum chamber having a vacuum sealing device. FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the vacuum sealing device after sealing. In FIG. 2, the bonding material 9 is not shown.

図1に示すように真空封止装置は、パッケージ1とリッド10から構成される。パッケージ1とリッド10とは互いに対向する位置に位置決めされ、接合材9を介して封止接合される。ここで、パッケージ1とリッド10とには接合材9を溶融させ合金を形成せしめるためにそれぞれ金属膜8,12が成膜されている。パッケージ1とリッド10との接合時には、金属膜8,12によって接合材9が溶融して合金が形成されることにより、パッケージ1とリッド10とが接合される。金属膜8はパッケージ1の上面1aにのみ成膜され、金属膜12は上面1aに対向する当接面22のみに成膜される。   As shown in FIG. 1, the vacuum sealing device includes a package 1 and a lid 10. The package 1 and the lid 10 are positioned at positions facing each other, and are sealed and bonded through the bonding material 9. Here, metal films 8 and 12 are respectively formed on the package 1 and the lid 10 in order to melt the bonding material 9 and form an alloy. When the package 1 and the lid 10 are bonded, the bonding material 9 is melted by the metal films 8 and 12 to form an alloy, whereby the package 1 and the lid 10 are bonded. The metal film 8 is formed only on the upper surface 1a of the package 1, and the metal film 12 is formed only on the contact surface 22 facing the upper surface 1a.

接合材9は、例えば金錫はんだ、SnAgCu、SnZn、SnBi、SnInはんだ等の軟ロウ材を用いることができる。また金属膜8,12は、同じ材料からなり、接合材9を加熱溶融させて合金を形成することが可能な材料であり、例えばNiメッキ膜の上に設けられた金メッキ膜などである。また金属膜8,12は、はんだによって合金を形成することが可能な組成であれば良く、例えばメッキ若しくはスパッタによって成膜されるNi/Au(接合材8に接触する側がAu、パッケージ1若しくはリッド10に接触する側がNi)膜を用いることができる。   As the bonding material 9, for example, a soft solder material such as gold-tin solder, SnAgCu, SnZn, SnBi, or SnIn solder can be used. The metal films 8 and 12 are made of the same material and can be formed by melting the bonding material 9 by heating to form an alloy, such as a gold plating film provided on the Ni plating film. The metal films 8 and 12 may be of any composition that can form an alloy with solder. For example, Ni / Au formed by plating or sputtering (the side in contact with the bonding material 8 is Au, package 1 or lid). Ni) film can be used on the side contacting 10.

図1乃至図2に示すようにパッケージ1の内側には、デバイス3を実装(内蔵)可能な中空部(キャビティ)2が設けられている。デバイス3は、キャビティ2に設けられ、後述する光学素子11と枠体10aに対向するダイアタッチ面4の略中央部に図示しない接合材によって実装されている。デバイス3の中心部3aは、光軸11a上に位置することが好適である。   As shown in FIGS. 1 and 2, a hollow portion (cavity) 2 in which the device 3 can be mounted (built in) is provided inside the package 1. The device 3 is provided in the cavity 2 and is mounted on a substantially central portion of a die attach surface 4 facing an optical element 11 and a frame body 10a described later by a bonding material (not shown). The central portion 3a of the device 3 is preferably located on the optical axis 11a.

またキャビティ2内には、パッケージ1の外側(封止されない側)との電気的接続を行うためのパッド6が設けられており、さらにパッケージ1の外側には、パッド6と電気的に接続されるリード5が設けられている。これによりパッケージ1の外側と内側は、電気的なI/Oが可能となる。また、デバイス3は、ワイヤボンド7によってパッド6に電気的に接続され、更に、リード5を介して真空封止装置の外部に設けられた図示しない電気回路に接続されている。このような構成により、パッケージ1内のデバイス3に電力を供給してデバイス3を駆動可能である。   Further, in the cavity 2, a pad 6 is provided for electrical connection with the outside (non-sealed side) of the package 1. Further, the pad 6 is electrically connected with the pad 6 on the outside of the package 1. A lead 5 is provided. As a result, the outside and inside of the package 1 can perform electrical I / O. The device 3 is electrically connected to the pad 6 by a wire bond 7, and further connected to an electric circuit (not shown) provided outside the vacuum sealing device via a lead 5. With such a configuration, the device 3 can be driven by supplying power to the device 3 in the package 1.

またキャビティ2において、ダイアタッチ面4には、リッド10がパッケージ1と接合した際に、リッド10が後述する圧力によって変形することを抑制する変形抑制部材13が配設されている。変形抑制部材13は、リッド10が変形した際に、光軸11a方向において対向する面である当接面22と当接する長さを有している。また変形抑制部材13は、リッド10が変形した際に、ダイアタッチ面4を基準として光学素子11が光軸11aに沿ってダイアタッチ面4から所望する高さに設置される長さを有している。このように変形抑制部材13は、デバイス3と光学素子11の相対距離が所望する値になるようにリッド10の高さを位置決めする長さを有する。   In the cavity 2, the die attach surface 4 is provided with a deformation suppressing member 13 that suppresses deformation of the lid 10 due to pressure described later when the lid 10 is joined to the package 1. When the lid 10 is deformed, the deformation suppressing member 13 has a length that makes contact with the contact surface 22 that is a surface facing in the direction of the optical axis 11a. The deformation suppressing member 13 has a length that allows the optical element 11 to be installed at a desired height from the die attach surface 4 along the optical axis 11a with respect to the die attach surface 4 when the lid 10 is deformed. ing. As described above, the deformation suppressing member 13 has a length for positioning the height of the lid 10 so that the relative distance between the device 3 and the optical element 11 becomes a desired value.

変形抑制部材13の外形は、リッド10(枠体10a)の外形、または光学素子11の外形と相似形(外形は同じで倍率が異なる)であることが好適である。そのため本実施形態の変形抑制部材13は、例えば円柱形状を有している。変形抑制部材13の先端部位14における当接面(第1の当接面)15は、ダイアタッチ面4と平行であり、上述した当接面22と当接する。このようにダイアタッチ面4に配設される変形抑制部材13は、先端部位14において当接面22に対向し、当接面22に当接する当接面15を有している。   The outer shape of the deformation suppressing member 13 is preferably a shape similar to the outer shape of the lid 10 (frame body 10a) or the outer shape of the optical element 11 (the outer shape is the same and the magnification is different). Therefore, the deformation suppressing member 13 of the present embodiment has, for example, a cylindrical shape. A contact surface (first contact surface) 15 at the distal end portion 14 of the deformation suppressing member 13 is parallel to the die attach surface 4 and contacts the contact surface 22 described above. Thus, the deformation suppressing member 13 disposed on the die attach surface 4 has the contact surface 15 that faces the contact surface 22 and contacts the contact surface 22 at the distal end portion 14.

本実施形態において変形抑制部材13は、複数配設されており、光軸11a(デバイス3の中心部3a)を中心に円周(同心円)上に均等な間隔にて配設されている。変形抑制部材13は、例えば図2に示すように略120°間隔で3本配置されていることが好適である。   In the present embodiment, a plurality of deformation suppressing members 13 are arranged, and are arranged at equal intervals on the circumference (concentric circle) around the optical axis 11a (center portion 3a of the device 3). As shown in FIG. 2, for example, three deformation suppressing members 13 are preferably arranged at approximately 120 ° intervals.

図1に示すようにキャビティ2の開口部2a側において、リッド10はパッケージ1と対向する位置に配設される。リッド10は、所望する波長を有する光をデバイス3上に透過、集光するために透明部材で構成された光学素子11を有している。より詳細には、リッド10には、光をデバイスに透過させる開口部10bを有する枠体10aが配設されている。光学素子11は、開口部10bの上方おいて枠体10aに保持されている。枠体10aには、当接面15が当接する当接面22が設けられている。このようにリッド10(枠体10a)には、変形抑制部材13(当接面15)が当接する。   As shown in FIG. 1, the lid 10 is disposed at a position facing the package 1 on the opening 2 a side of the cavity 2. The lid 10 has an optical element 11 composed of a transparent member for transmitting and condensing light having a desired wavelength on the device 3. More specifically, the lid 10 is provided with a frame 10a having an opening 10b that transmits light to the device. The optical element 11 is held by the frame body 10a above the opening 10b. The frame body 10a is provided with a contact surface 22 with which the contact surface 15 contacts. Thus, the deformation suppressing member 13 (contact surface 15) contacts the lid 10 (frame body 10a).

光学素子11と開口部10bの下方、且つダイアタッチ面4には、上述したデバイス3が実装されている。なおリッド10がパッケージ1に当接する際に、光学素子11の光軸11aが当接面22に対して垂直になるように、リッド10は光学素子11を有する。またリッド10がパッケージ1と対向する位置に配設された際、光学素子11がデバイス3と対向する位置に配設される。   The device 3 described above is mounted below the optical element 11 and the opening 10b and on the die attach surface 4. The lid 10 includes the optical element 11 so that the optical axis 11 a of the optical element 11 is perpendicular to the contact surface 22 when the lid 10 abuts on the package 1. Further, when the lid 10 is disposed at a position facing the package 1, the optical element 11 is disposed at a position facing the device 3.

図3に示すように真空封止装置(接合材9によって接合されるパッケージ1とリッド10)は、真空チャンバ16に収容される。この真空チャンバ16は、図示しないクランパーによって保持されるパッケージ1を載置するステージ17と、リッド10の上方に昇降可能に配置されているヒータツール18と、ヒータツール18を昇降可能に保持するヒータツール駆動機構19から構成される。   As shown in FIG. 3, the vacuum sealing device (the package 1 and the lid 10 bonded by the bonding material 9) is accommodated in the vacuum chamber 16. The vacuum chamber 16 includes a stage 17 on which the package 1 held by a clamper (not shown) is placed, a heater tool 18 that is disposed above and below the lid 10, and a heater that holds the heater tool 18 in an up and down manner. The tool driving mechanism 19 is configured.

パッケージ1の上方に配置されるリッド10は、図示しない位置決め機構によってパッケージ1と対向する所望な位置に昇降可能に保持されている。またヒータツール18は、リッド10とパッケージ1とが接合する際、リッド10の上部(光学素子11が設けられる側)に接合材9を溶融可能な所望の温度に昇温可能であり、更にリッド10に所望の荷重を与えるように当接可能である。   The lid 10 disposed above the package 1 is held so as to be movable up and down to a desired position facing the package 1 by a positioning mechanism (not shown). In addition, when the lid 10 and the package 1 are bonded, the heater tool 18 can raise the temperature to a desired temperature at which the bonding material 9 can be melted on the upper portion of the lid 10 (the side where the optical element 11 is provided). 10 can be contacted so as to apply a desired load.

また真空チャンバ16は、排気機構20と、圧力調整機構21を有している。排気機構20は、真空チャンバ16の内部圧力を所望する減圧雰囲気(例えば大気圧よりも低い圧力である真空状態)に調整する。また圧力調整機構21は、真空チャンバ16に不活性ガス(例えばN)を流入させ、不活性ガスを充填した状態において、真空チャンバ16の内部圧力を調整する。 The vacuum chamber 16 includes an exhaust mechanism 20 and a pressure adjustment mechanism 21. The exhaust mechanism 20 adjusts the internal pressure of the vacuum chamber 16 to a desired reduced-pressure atmosphere (for example, a vacuum state having a pressure lower than the atmospheric pressure). The pressure adjusting mechanism 21 adjusts the internal pressure of the vacuum chamber 16 in a state where an inert gas (for example, N 2 ) is allowed to flow into the vacuum chamber 16 and the inert gas is filled.

なお、デバイス3と図示しない電気回路との電気的な接続は、ワイヤボンド7やリード5を用いることに限定されるものではなく、フィリップチップ実装やPGA(ピングリッドアレイ)によって接続しても良い。   The electrical connection between the device 3 and an electric circuit (not shown) is not limited to the use of the wire bond 7 or the lead 5, and may be connected by Philip chip mounting or PGA (pin grid array). .

パッケージ1とリッド10の接合方法は、軟ロウ材を用いる接合材9に限定されるものではなく、シーム溶接やレーザ溶接等でもかまわない。   The bonding method of the package 1 and the lid 10 is not limited to the bonding material 9 using a soft brazing material, and seam welding, laser welding, or the like may be used.

変形抑制部材13の本数は、3本に限定するものではなく、1本以上あればよい。   The number of deformation suppressing members 13 is not limited to three, but may be one or more.

光学素子11は、集光機能を持たないガラス窓等であってもかまわない。   The optical element 11 may be a glass window or the like that does not have a light collecting function.

キャビティ2は、パッケージ1に設けられているが、リッド10に設けられていても良いし、パッケージ1とリッド10の両方に設けられていても良い。このようにキャビティ2は、パッケージ1とリッド10が接合材9によって接合した際に、パッケージ1とリッド10によって形成(内部封止)される空間であればよい。その際、変形抑制部材13は、パッケージ1またはリッド10の少なくとも一方におけるキャビティ2内に配設されていればよい。   The cavity 2 is provided in the package 1, but may be provided in the lid 10, or may be provided in both the package 1 and the lid 10. Thus, the cavity 2 may be a space that is formed (internally sealed) by the package 1 and the lid 10 when the package 1 and the lid 10 are bonded by the bonding material 9. At that time, the deformation suppressing member 13 may be disposed in the cavity 2 in at least one of the package 1 and the lid 10.

変形抑制部材13は、パッケージ1に配設されているが、リッド10(例えば枠体10b)に配設さていても良いし、パッケージ1とリッド10の両方に配設されていても良い。リッド10に配設さている変形抑制部材13は、光軸11a方向において対向する面であるダイアタッチ面4と当接する長さを有している。また変形抑制部材13の先端部位14における当接面(第2の当接面)15は、ダイアタッチ面4と平行であり、ダイアタッチ面4と当接する。このようにリッド10に配設される変形抑制部材13は、先端部位14においてダイアタッチ面4に対向し、ダイアタッチ面4に当接する当接面15を有している。   The deformation suppressing member 13 is disposed in the package 1, but may be disposed in the lid 10 (for example, the frame body 10 b), or may be disposed in both the package 1 and the lid 10. The deformation suppressing member 13 disposed on the lid 10 has a length that makes contact with the die attach surface 4 that is a surface facing in the direction of the optical axis 11a. Further, the contact surface (second contact surface) 15 at the distal end portion 14 of the deformation suppressing member 13 is parallel to the die attach surface 4 and contacts the die attach surface 4. In this way, the deformation suppressing member 13 disposed on the lid 10 has a contact surface 15 that faces the die attach surface 4 at the distal end portion 14 and contacts the die attach surface 4.

接合材9は、必ずしも予め金属膜8上に設けられている必要はなく、個別に金属膜8上に載置されても良く、また、リッド10に成膜されている金属膜12上に予め設けられていてもよい。   The bonding material 9 does not necessarily have to be provided on the metal film 8 in advance, and may be placed on the metal film 8 individually, or on the metal film 12 formed on the lid 10 in advance. It may be provided.

次に本実施形態の動作方法について説明する。
(Step1)
接合材9を有するパッケージ1は、図示しない取り出し口から真空チャンバの16内に搬入され、ステージ17上に載置される。その際、パッケージ1は、図示しないクランパーによって保持される。
Next, the operation method of this embodiment will be described.
(Step 1)
The package 1 having the bonding material 9 is carried into the vacuum chamber 16 from a take-out port (not shown) and placed on the stage 17. At that time, the package 1 is held by a clamper (not shown).

(Step2)
同様に、リッド10は、真空チャンバ16内に搬入され、図示しない位置決め機構によってパッケージ1と対向する所望な位置に保持される。
(Step 2)
Similarly, the lid 10 is carried into the vacuum chamber 16 and held at a desired position facing the package 1 by a positioning mechanism (not shown).

(Step3)
真空チャンバ16の図示しない取り出し口が閉められた後、排気機構20は真空チャンバ16内の大気を排気する。さらに圧力調整機構21は不活性ガスを真空チャンバ16に流入させ、真空チャンバ16内の内部圧力を所望する減圧雰囲気になるように調整する。
(Step 3)
After the take-out port (not shown) of the vacuum chamber 16 is closed, the exhaust mechanism 20 exhausts the atmosphere in the vacuum chamber 16. Further, the pressure adjusting mechanism 21 allows an inert gas to flow into the vacuum chamber 16 and adjusts the internal pressure in the vacuum chamber 16 to a desired reduced pressure atmosphere.

(Step4)
真空チャンバ16の内部圧力が所望する減圧雰囲気になった後、リッド10は図示しない位置決め機構によってパッケージ1に対して所望の位置に位置決めされる。これにより金属膜12は、接合材9と接触し、パッケージ1とリッド10によって形成されるキャビティ2の内部圧力は、真空チャンバ16の内部圧力と等しくなる。
(Step 4)
After the internal pressure of the vacuum chamber 16 reaches a desired reduced pressure atmosphere, the lid 10 is positioned at a desired position with respect to the package 1 by a positioning mechanism (not shown). As a result, the metal film 12 comes into contact with the bonding material 9, and the internal pressure of the cavity 2 formed by the package 1 and the lid 10 becomes equal to the internal pressure of the vacuum chamber 16.

(Step5)
ヒータツール駆動機構19は、ヒータツール18を降下させ、ヒータツール18をリッド10に当接させる。またヒータツール駆動機構19は、ヒータツール18を押圧することにより、所望の荷重をリッド10に加える。
(Step 5)
The heater tool drive mechanism 19 lowers the heater tool 18 and brings the heater tool 18 into contact with the lid 10. The heater tool drive mechanism 19 applies a desired load to the lid 10 by pressing the heater tool 18.

(Step6)
ヒータツール18は、リッド10に向けて熱を発生させる。ヒータツール18によって発生した熱は、伝導および輻射によりリッド10を加熱する。さらにこの熱は、リッド10(金属膜12)と当接する接合材9を加熱溶融する。
(Step 6)
The heater tool 18 generates heat toward the lid 10. The heat generated by the heater tool 18 heats the lid 10 by conduction and radiation. Furthermore, this heat heats and melts the bonding material 9 in contact with the lid 10 (metal film 12).

(Step7)
接合材9が所望の温度によって加熱して溶融した後、接合材9は、金属膜8及び金属膜12と合金を形成する。これによりパッケージ1とリッド10は接合し、ヒータツール18は加熱動作を終了する。この後、溶融している接合材9は、所望する温度まで所望する時間冷却され、固化される。
接合材9は金属膜8及び金属膜12と合金を形成し、パッケージ1とリッド10は接合することにより、パッケージ1とリッド10によって形成されるキャビティ2は、所望する減圧雰囲気(例えば真空状態)にて、気密封止される。
(Step 7)
After the bonding material 9 is heated and melted at a desired temperature, the bonding material 9 forms an alloy with the metal film 8 and the metal film 12. Thereby, the package 1 and the lid 10 are joined, and the heater tool 18 ends the heating operation. Thereafter, the molten bonding material 9 is cooled to a desired temperature for a desired time and solidified.
The bonding material 9 forms an alloy with the metal film 8 and the metal film 12, and the package 1 and the lid 10 are bonded to each other, so that the cavity 2 formed by the package 1 and the lid 10 has a desired reduced-pressure atmosphere (for example, a vacuum state). And hermetically sealed.

(Step8)
接合材9が冷却、固化した後、ヒータツール駆動機構19は、ヒータツール18を上昇させる。
(Step 8)
After the bonding material 9 is cooled and solidified, the heater tool drive mechanism 19 raises the heater tool 18.

(Step9)
圧力調整機構21は、真空チャンバ16内部の圧力を大気圧に調整する。パッケージ1とリッド10によって形成されるキャビティ2の内部圧力は、Step3やStep7における所望する減圧雰囲気であるが、外部圧力は大気圧になる。そのためパッケージ1及びリッド10は、外部圧力と内部圧力の差圧分、大気圧によって押圧される。
(Step 9)
The pressure adjustment mechanism 21 adjusts the pressure inside the vacuum chamber 16 to atmospheric pressure. The internal pressure of the cavity 2 formed by the package 1 and the lid 10 is a desired reduced-pressure atmosphere in Step 3 or Step 7, but the external pressure becomes atmospheric pressure. Therefore, the package 1 and the lid 10 are pressed by the atmospheric pressure corresponding to the differential pressure between the external pressure and the internal pressure.

(Step10)
その際リッド10は、図4に示すように大気圧によって押圧され、内側(パッケージ1側)に変形する。変形したリッド10は当接面15に当接し、変形量(歪み)は変形抑制部材13によって抑制される。すなわちリッド10の変形量は変形抑制部材13の長さによって調整され、リッド10は変形抑制部材13の長さによって所望の位置に位置決めされる。これにより光学素子11は、変形抑制部材13によってダイアタッチ面4を基準として光軸11aに沿ってダイアタッチ面4から所望する高さに設置され、ダイアタッチ面4と所望の距離で配置される。
また光軸11aと当接面22は垂直であるため、光軸11aは、ダイアタッチ面4に対して垂直に設置される。
(Step 10)
At that time, the lid 10 is pressed by the atmospheric pressure as shown in FIG. 4 and is deformed inward (package 1 side). The deformed lid 10 abuts against the abutment surface 15, and the deformation amount (distortion) is suppressed by the deformation suppressing member 13. That is, the deformation amount of the lid 10 is adjusted by the length of the deformation suppressing member 13, and the lid 10 is positioned at a desired position by the length of the deformation suppressing member 13. As a result, the optical element 11 is placed at a desired height from the die attach surface 4 along the optical axis 11a by the deformation suppressing member 13 with the die attach surface 4 as a reference, and is disposed at a desired distance from the die attach surface 4. .
Further, since the optical axis 11 a and the contact surface 22 are perpendicular, the optical axis 11 a is installed perpendicular to the die attach surface 4.

(Step11)
デバイス3は、ダイアタッチ面4に実装されているため、真空封止装置は、デバイス3と光学素子11との相対距離と、デバイス3に対する光軸11aの角度を、所望の値に調整配置する。
(Step 11)
Since the device 3 is mounted on the die attach surface 4, the vacuum sealing apparatus adjusts and arranges the relative distance between the device 3 and the optical element 11 and the angle of the optical axis 11 a with respect to the device 3 to a desired value. .

(Step12)
なお3本の変形抑制部材13は、略120°の均等間隔でダイアタッチ面4に配設されおり、リッド10が大気圧によって押圧され、内側(パッケージ1側)に変形した際、各変形抑制部材13は、均等な応力でリッド10を支持し、リッド10の変形を抑制する。
(Step12)
The three deformation suppressing members 13 are arranged on the die attach surface 4 at equal intervals of approximately 120 °. When the lid 10 is pressed by atmospheric pressure and deformed inward (package 1 side), each deformation suppressing member 13 is suppressed. The member 13 supports the lid 10 with uniform stress and suppresses deformation of the lid 10.

(Step13)
パッケージ1は、クランパーから外され、真空チャンバ16の図示しない取り出し口が開き、真空封止装置が取り出される。これにより本実施形態の動作が終了する。
(Step 13)
The package 1 is removed from the clamper, a take-out port (not shown) of the vacuum chamber 16 is opened, and the vacuum sealing device is taken out. Thereby, the operation of the present embodiment is completed.

このように本実施形態の真空封止装置において、キャビティ2を所望する減圧雰囲気(例えば大気圧よりも低い真空状態)で気密封止する際に、キャビティ2の内部圧力と外部圧力である大気圧との差圧によって、リッド10が押圧され変形する。本実施形態の真空封止装置は、変形するリッド10を変形抑制部材13に当接させることにより、パッケージ1のダイアタッチ面4を基準として、相対距離と角度が所望する値を有するようにリッド10パッケージ1に配設することができる。   Thus, in the vacuum sealing apparatus of the present embodiment, when the cavity 2 is hermetically sealed in a desired reduced pressure atmosphere (for example, a vacuum state lower than the atmospheric pressure), the atmospheric pressure that is the internal pressure and the external pressure of the cavity 2 is used. The lid 10 is pressed and deformed by the differential pressure. The vacuum sealing device according to the present embodiment causes the lid 10 to be deformed to contact the deformation suppressing member 13 so that the relative distance and the angle have desired values with reference to the die attach surface 4 of the package 1. 10 packages 1 can be arranged.

従って本実施形態は、ダイアタッチ面4に実装されているデバイス3と光学素子11の相対距離および角度を、所望の範囲内に調整配置する事が可能になり、光学信号の劣化を抑え、歩留まりを向上させた安価な真空封止装置を提供することが可能になる。   Therefore, in the present embodiment, the relative distance and angle between the device 3 mounted on the die attach surface 4 and the optical element 11 can be adjusted and arranged within a desired range, the deterioration of the optical signal can be suppressed, and the yield can be reduced. Therefore, it is possible to provide an inexpensive vacuum sealing device with improved performance.

また本実施形態の真空封止装置は、3本の変形抑制部材13によって当接面15において均等な応力でリッド10を支持するため、リッド10の変形を抑制することができる。   In addition, since the vacuum sealing device of the present embodiment supports the lid 10 with equal stress on the contact surface 15 by the three deformation suppressing members 13, the deformation of the lid 10 can be suppressed.

なお変形抑制部材13は、均等な応力でリッド10を支持することができるのであれば、必ずしも円周上に均等な間隔に配設される必要はない。   Note that the deformation suppressing members 13 are not necessarily arranged at equal intervals on the circumference as long as the lid 10 can be supported with equal stress.

次に図5乃至図6を参照して第1の実施形態の変形例について説明する。
図5は、本発明の第1の実施形態の変形例に係る真空封止装置の構成を示す図である。図6は、封止後の真空封止装置の構成を示す図である。なお図2において接合材9は図示を省略している。なお、図5及び図6において、第1の実施形態と同様の構成については同じ参照符号を付し説明を省略する。
Next, a modification of the first embodiment will be described with reference to FIGS.
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a vacuum sealing device according to a modification of the first embodiment of the present invention. FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the vacuum sealing device after sealing. In FIG. 2, the bonding material 9 is not shown. 5 and 6, the same reference numerals are given to the same configurations as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted.

本実施形態のリッド30の枠体30aは、リッド30の厚み方向においてリッド30を貫通している光学素子31を保持している。この光学素子31の投影面積は、3本の変形抑制部材13によって形成され、中心部3aを中心とする投影面積よりも大きい。そのためパッケージ1とリッド30が接合し、第1の実施形態のように差圧によってリッド30が変形した際、本実施形態の当接面15は、光学素子31に当接する。このようにダイアタッチ面4に配設される本実施形態の変形抑制部材13は、先端部位14において光学素子31に対向し、光学素子31に当接する当接面15を有している。また本実施形態の変形抑制部材13は、光学素子31が傾いて配置されることを抑制し、デバイス3と光学素子31の相対距離が傾きを含めて所望する値になるように光学素子31の高さを位置決めする長さを有する。   The frame 30 a of the lid 30 of the present embodiment holds the optical element 31 that penetrates the lid 30 in the thickness direction of the lid 30. The projected area of the optical element 31 is formed by the three deformation suppressing members 13 and is larger than the projected area centered on the central portion 3a. Therefore, when the package 1 and the lid 30 are joined and the lid 30 is deformed by the differential pressure as in the first embodiment, the contact surface 15 of the present embodiment contacts the optical element 31. In this way, the deformation suppressing member 13 of the present embodiment disposed on the die attach surface 4 has the contact surface 15 that faces the optical element 31 at the distal end portion 14 and contacts the optical element 31. Further, the deformation suppressing member 13 of the present embodiment suppresses the optical element 31 from being inclined and the optical element 31 has a desired value including the inclination so that the relative distance between the device 3 and the optical element 31 becomes a desired value. It has a length for positioning the height.

次に本変形例の動作方法について説明する。
パッケージ1が真空チャンバの16内に搬入される動作からパッケージ1及びリッド30が大気圧によって押圧される動作は、前述した第1の実施形態のStep1からStep9までの動作と略同様であるため説明を省略する。
Next, an operation method of this modification will be described.
The operation in which the package 1 and the lid 30 are pressed by the atmospheric pressure from the operation in which the package 1 is carried into the vacuum chamber 16 is substantially the same as the operation from Step 1 to Step 9 in the first embodiment described above. Is omitted.

図6に示すように、リッド30は、大気圧によって押圧され、内側(パッケージ1側)に変形する。変形したリッド30の枠体30aに保持されている光学素子31は当接面15に当接し、光学素子31の変形量は変形抑制部材13によって抑制される。すなわち光学素子31の変形量は変形抑制部材13の長さによって調整され、光学素子31は変形抑制部材13の長さによって所望の位置に位置決めされる。これにより光学素子31は、変形抑制部材13によってダイアタッチ面4を基準として光軸11aに沿ってダイアタッチ面4から所望する高さに設置され、ダイアタッチ面4と所望の距離で配置される。   As shown in FIG. 6, the lid 30 is pressed by the atmospheric pressure and deformed inward (package 1 side). The optical element 31 held on the deformed frame 30 a of the lid 30 abuts on the abutting surface 15, and the deformation amount of the optical element 31 is suppressed by the deformation suppressing member 13. That is, the deformation amount of the optical element 31 is adjusted by the length of the deformation suppressing member 13, and the optical element 31 is positioned at a desired position by the length of the deformation suppressing member 13. Thus, the optical element 31 is installed at a desired height from the die attach surface 4 along the optical axis 11a with the deformation suppressing member 13 as a reference with respect to the die attach surface 4, and is disposed at a desired distance from the die attach surface 4. .

デバイス3は、ダイアタッチ面4に実装されているため、真空封止装置は、デバイス3と光学素子31との相対距離と、デバイス3に対する光軸11aの角度を、所望の値に調整配置する。このように光学素子31は、変形抑制部材13によって抑制されるため、所望する高さ位置及び所望する角度で配置される。   Since the device 3 is mounted on the die attach surface 4, the vacuum sealing apparatus adjusts and arranges the relative distance between the device 3 and the optical element 31 and the angle of the optical axis 11a with respect to the device 3 to desired values. . Thus, since the optical element 31 is restrained by the deformation restraining member 13, it is arranged at a desired height position and a desired angle.

本実施形態におけるこの後の動作は、前述した第1の実施形態のStep12からStep13までの動作と略同様であるため説明を省略する。   The subsequent operations in the present embodiment are substantially the same as the operations from Step 12 to Step 13 in the first embodiment described above, and a description thereof will be omitted.

従って、剛性が弱いリッド30が大気圧によって押圧された場合、本変形例の真空封止装置は、変形抑制部材13によって、光学素子31と、光学素子31を保持するリッド30の変形量をより低減させ、光学特性の劣化を抑えることが可能になる。また本実施形態は、光学素子31と、光学素子31を保持するリッド30の変形量を低減させることにより、より光学特性の劣化を抑え、歩留まりを向上させた安価な真空封止装置を提供する事が可能になる。   Therefore, when the lid 30 having low rigidity is pressed by the atmospheric pressure, the vacuum sealing device according to the present modification increases the deformation amount of the optical element 31 and the lid 30 holding the optical element 31 by the deformation suppressing member 13. It is possible to reduce the deterioration of optical characteristics. In addition, the present embodiment provides an inexpensive vacuum sealing device in which the optical element 31 and the lid 30 that holds the optical element 31 are reduced in deformation, thereby further suppressing deterioration of optical characteristics and improving yield. Things are possible.

また本変形例は、光学素子31の変形量を変形抑制部材13によって直接抑制させるため、第1の実施形態で示すように当接面22に対して光軸11aを垂直になる様に真空封止装置を製造する必要は無くなる。従って本変形例は、第1の実施形態におけるリッド10と比較してリッド30の歩留まりを向上させることが可能な真空封止装置をより安価に提供する事が可能になる。   Further, in this modification, the deformation amount of the optical element 31 is directly suppressed by the deformation suppressing member 13, so that the vacuum sealing is performed so that the optical axis 11a is perpendicular to the contact surface 22 as shown in the first embodiment. There is no need to manufacture a stop device. Therefore, this modified example can provide a vacuum sealing device that can improve the yield of the lid 30 at a lower cost than the lid 10 in the first embodiment.

次に図7乃至図8を参照して第2の実施形態について説明する。
図7は、本発明の第2の実施形態の真空封止装置におけるパッケージの上面図である。図8は、図7をB−B線断面から見た図である。なお図7において接合材9は図示を省略している。なお、図7及び図8において、第1の実施形態と同様の構成については同じ参照符号を付し説明を省略する。なお本実施形態のリッドは、第1の実施形態と略同様であるため、図示及び詳細な説明を省略する。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS.
FIG. 7 is a top view of a package in the vacuum sealing apparatus according to the second embodiment of the present invention. FIG. 8 is a view of FIG. 7 as seen from a cross section taken along line BB. In FIG. 7, the bonding material 9 is not shown. In FIGS. 7 and 8, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. Since the lid of this embodiment is substantially the same as that of the first embodiment, illustration and detailed description thereof are omitted.

図7に示すように本実施形態の変形抑制部材43の外形は、寸法(尺度)は異なるがリッド10(枠体10a)の外形、または光学素子11の外形と相似形(外形は同じで倍率が異なる)である。また変形抑制部材43は、例えば中空の円柱形状を有し、中空リング部品である。変形抑制部材43は、デバイス3と光学素子11の相対距離が所望する値になるようにリッド10の高さを位置決めする長さを有する。   As shown in FIG. 7, the outer shape of the deformation suppressing member 43 of the present embodiment is different in size (scale), but is similar to the outer shape of the lid 10 (frame 10a) or the outer shape of the optical element 11 (the outer shape is the same and the magnification is the same). Is different). The deformation suppressing member 43 has, for example, a hollow cylindrical shape and is a hollow ring component. The deformation suppressing member 43 has a length for positioning the height of the lid 10 so that the relative distance between the device 3 and the optical element 11 becomes a desired value.

本実施形態の変形抑制部材43の先端部位44に形成される当接面45は、ダイアタッチ面4と平行であり、当接面22と当接する。このように変形抑制部材43は、リッド10がパッケージ1と接合した際に、リッド10が変形することを抑制する。   The contact surface 45 formed at the distal end portion 44 of the deformation suppressing member 43 of this embodiment is parallel to the die attach surface 4 and contacts the contact surface 22. Thus, the deformation suppressing member 43 suppresses deformation of the lid 10 when the lid 10 is joined to the package 1.

なお本実施形態のリッド10が、上述した変形例におけるリッド30である場合、変形抑制部材43は、上述した変形例のようにデバイス3と光学素子31の相対距離が所望する値になるように光学素子31の高さを位置決めする長さを有している。その際、当接面45は、光学素子31と当接し、これにより変形抑制部材43はリッド10がパッケージ1と接合した際に、光学素子31と、光学素子31を保持するリッド30の変形を抑制する。   When the lid 10 of the present embodiment is the lid 30 in the above-described modification, the deformation suppressing member 43 is set so that the relative distance between the device 3 and the optical element 31 becomes a desired value as in the above-described modification. It has a length for positioning the height of the optical element 31. At that time, the abutment surface 45 abuts on the optical element 31, whereby the deformation suppressing member 43 deforms the optical element 31 and the lid 30 holding the optical element 31 when the lid 10 is joined to the package 1. Suppress.

なお変形抑制部材43は、ワイヤボンド7との干渉を防止するために切欠43aを有している。よってワイヤボンド7は、変形抑制部材43に干渉せずにデバイス3と接続する。   The deformation suppressing member 43 has a notch 43 a to prevent interference with the wire bond 7. Therefore, the wire bond 7 is connected to the device 3 without interfering with the deformation suppressing member 43.

本実施形態の動作方法は、前述した第1の実施形態の動作方法と略同様であるために詳細な説明は省略する。
前述した第1の実施形態において、変形抑制部材13は、当接面15において当接面22と点当接するため、当接面15に応力が集中する。しかし本実施形態において、変形抑制部材43は、連続している面(当接面45)において当接面22と面当接する。このように本実施形態の変形抑制部材43は、第1の実施形態よりも大きな面積で当接するために、応力を分散することができる。また当接面45は、光学素子11の外形と相似形であるため、本実施形態の変形抑制部材43は、応力を均等に分散することができる。
Since the operation method of this embodiment is substantially the same as the operation method of the first embodiment described above, detailed description thereof is omitted.
In the first embodiment described above, since the deformation suppressing member 13 is in point contact with the contact surface 22 at the contact surface 15, stress concentrates on the contact surface 15. However, in the present embodiment, the deformation suppressing member 43 comes into surface contact with the contact surface 22 at a continuous surface (contact surface 45). Thus, since the deformation | transformation suppression member 43 of this embodiment contact | abuts with an area larger than 1st Embodiment, it can disperse | distribute stress. Moreover, since the contact surface 45 has a shape similar to the outer shape of the optical element 11, the deformation suppressing member 43 of the present embodiment can evenly distribute the stress.

従って、剛性が弱いリッド10が大気圧によって押圧された場合、本実施形態の真空封止装置は、変形抑制部材43によってリッド10の変形量をより低減させ、光学特性の劣化を抑えることが可能になる。また本実施形態は、リッド10の変形量を低減させることにより、より光学特性の劣化を抑え、歩留まりを向上させた安価な真空封止装置を提供する事が可能になる。   Therefore, when the lid 10 having low rigidity is pressed by the atmospheric pressure, the vacuum sealing device according to the present embodiment can further reduce the deformation amount of the lid 10 by the deformation suppressing member 43 and suppress deterioration of the optical characteristics. become. Further, according to the present embodiment, it is possible to provide an inexpensive vacuum sealing device that further suppresses deterioration of optical characteristics and improves yield by reducing the deformation amount of the lid 10.

なお、デバイス3がフリップチップ実装され、ワイヤボンド7が存在しない場合は、切欠43aは必要ない。   When the device 3 is flip-chip mounted and the wire bond 7 does not exist, the notch 43a is not necessary.

また当接面45が、当接面22、または光学素子11と当接した際、本実施形態の変形抑制部材43は応力を均等に分散することができるのであれば、変形抑制部材43は中空の円柱形状を有する必要はなく、例えば中空の角柱形状であっても良い。   In addition, when the contact surface 45 contacts the contact surface 22 or the optical element 11, the deformation suppressing member 43 is hollow if the deformation suppressing member 43 of the present embodiment can evenly distribute the stress. It is not necessary to have a cylindrical shape, for example, it may be a hollow prismatic shape.

また本実施形態の真空封止装置は、上述したように第1の実施形態の変形例を組み込むことができる。   Moreover, the vacuum sealing apparatus of this embodiment can incorporate the modification of 1st Embodiment as mentioned above.

また本発明は、上記実施形態及び変形例そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。   Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications as they are, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment.

(付記1)
光を透過させる光学素子を有するリッドと、デバイスが実装されているダイアタッチ面を有するパッケージと、を接合することによって形成される中空部内を真空状態で気密封止する真空封止装置において、
前記中空部内における前記リッド、または前記パッケージの少なくとも一方に配設され、前記リッドが変形することを抑制する変形抑制部材と、
を具備することを特徴とする真空封止装置。
(Appendix 1)
In a vacuum sealing apparatus that hermetically seals the inside of a hollow portion formed by joining a lid having an optical element that transmits light and a package having a die attach surface on which a device is mounted, in a vacuum state,
A deformation suppressing member that is disposed in at least one of the lid or the package in the hollow portion and suppresses deformation of the lid;
A vacuum sealing device comprising:

(付記2)
前記パッケージに配設されている前変形抑制部材は、先端部位において前記リッド、または前記光学素子に対向し、前記リッド、または前記光学素子に当接する第1の当接面を有し、
前記リッドに配設されている前記変形抑制部材は、先端部位において前記ダイアタッチ面に対向し、前記ダイアタッチ面に当接する第2の当接面を有し、
前記変形抑制部材は、前記リッドが変形した際に、前記第1の面が前記リッド、または前記光学素子に当接する長さと、前記第2の当接面が前記ダイアタッチ面に当接する長さと、前記ダイアタッチ面を基準として前記光学素子が前記光軸に沿って前記ダイアタッチ面から所望する高さに設置される長さを有することを特徴とする付記1に記載の真空封止装置。
(Appendix 2)
The front deformation suppressing member disposed in the package has a first contact surface that faces the lid or the optical element at a distal end portion thereof and contacts the lid or the optical element,
The deformation suppressing member disposed on the lid has a second contact surface that faces the die attach surface at the tip portion and contacts the die attach surface,
When the lid is deformed, the deformation suppressing member has a length in which the first surface abuts on the lid or the optical element, and a length in which the second abutment surface abuts on the die attach surface. 2. The vacuum sealing device according to appendix 1, wherein the optical element has a length that is set at a desired height from the die attach surface along the optical axis with respect to the die attach surface.

(付記3)
前記変形抑制部材は、柱状形状を有すること特徴とする付記2に記載の真空封止装置。
(Appendix 3)
The vacuum sealing device according to attachment 2, wherein the deformation suppressing member has a columnar shape.

(付記4)
前記変形抑制部材は複数配設され、前記第1の当接面と前記第2の当接面は、前記ダイアタッチ面と平行であることを特徴とする付記3に記載の真空封止装置。
(Appendix 4)
The vacuum sealing device according to appendix 3, wherein a plurality of the deformation suppressing members are provided, and the first contact surface and the second contact surface are parallel to the die attach surface.

(付記5)
複数の前記変形抑制部材は、前記光軸を中心に円周上に均等な間隔に配設されていることを特徴とする付記4に記載の真空封止装置。
(Appendix 5)
The vacuum sealing device according to appendix 4, wherein the plurality of deformation suppressing members are arranged at equal intervals on a circumference around the optical axis.

(付記6)
前記変形抑制部材は、3本配設されており、3本の前記変形抑制部材は、前記光軸を中心に円周上に略120度間隔で均等に配設されていることを特徴とする付記5に記載の真空封止装置。
(Appendix 6)
Three deformation suppressing members are provided, and the three deformation suppressing members are uniformly arranged at intervals of approximately 120 degrees on the circumference around the optical axis. The vacuum sealing device according to appendix 5.

(付記7)
前記変形抑制部材は、円柱状形状を有すること特徴とする付記3に記載の真空封止装置。
(Appendix 7)
The vacuum sealing device according to attachment 3, wherein the deformation suppressing member has a cylindrical shape.

(付記8)
前記変形抑制部材の外形は、前記リッド、または前記光学素子の外形と相似形であることを特徴とする付記7に記載の真空封止装置。
(Appendix 8)
The vacuum sealing device according to appendix 7, wherein the outer shape of the deformation suppressing member is similar to the outer shape of the lid or the optical element.

(付記9)
前記変形抑制部材の外形は、前記リッド、または前記光学素子の外形と相似形であることを特徴とする付記2に記載の真空封止装置。
(Appendix 9)
The vacuum sealing device according to appendix 2, wherein the outer shape of the deformation suppressing member is similar to the outer shape of the lid or the optical element.

(付記10)
前記変形抑制部材は、中空の柱形状を有していることを特徴とする付記9に記載の真空封止装置。
(Appendix 10)
The vacuum sealing device according to appendix 9, wherein the deformation suppressing member has a hollow column shape.

(付記11)
前記変形抑制部材は、中空の円柱形状を有していることを特徴とする付記10に記載の真空封止装置。
(Appendix 11)
The vacuum sealing device according to appendix 10, wherein the deformation suppressing member has a hollow cylindrical shape.

(付記12)
前記変形抑制部材は、中空リングを有していることを特徴とする付記11に記載の真空封止装置。
(Appendix 12)
The vacuum sealing device according to appendix 11, wherein the deformation suppressing member has a hollow ring.

(付記13)
前記第1の当接面と前記第2の当接面は、前記ダイアタッチ面と平行であることを特徴とする付記12に記載の真空封止装置。
(Appendix 13)
The vacuum sealing apparatus according to appendix 12, wherein the first contact surface and the second contact surface are parallel to the die attach surface.

図1は、第1の実施形態に係る真空封止装置の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a vacuum sealing device according to the first embodiment. 図2は、図1をA−A線断面から見た図である。FIG. 2 is a view of FIG. 1 as viewed from the line AA. 図3は、真空封止装置を有する真空チャンバの構成を示す図であるFIG. 3 is a diagram showing a configuration of a vacuum chamber having a vacuum sealing device. 図4は、封止後の真空封止装置の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the vacuum sealing device after sealing. 図5は、本発明の第1の実施形態の変形例に係る真空封止装置の構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a vacuum sealing device according to a modification of the first embodiment of the present invention. 図6は、封止後の真空封止装置の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the vacuum sealing device after sealing. 図7は、本発明の第2の実施形態の真空封止装置におけるパッケージの上面図である。FIG. 7 is a top view of a package in the vacuum sealing apparatus according to the second embodiment of the present invention. 図8は、図7をB−B線断面から見た図である。FIG. 8 is a view of FIG. 7 as seen from a cross section taken along line BB. 図9は、従来の気密封止装置の構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a conventional hermetic sealing device.

符号の説明Explanation of symbols

1…パッケージ、1a…上面、2…中空部(キャビティ)、2a…開口部、3…デバイス、3a…中心部、4…ダイアタッチ面、5…リード、6…パッド、7…ワイヤボンド、8…金属膜、9…接合材、10…リッド、10a…枠体、10b…開口部、11…光学素子、11a…光軸、12…金属膜、13…変形抑制部材、14…先端部位、15…当接面、16…真空チャンバ、17…ステージ、18…ヒータツール、19…ヒータツール駆動機構、20…排気機構、21…圧力調整機構、22…当接面。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Package, 1a ... Upper surface, 2 ... Hollow part (cavity), 2a ... Opening part, 3 ... Device, 3a ... Center part, 4 ... Die attach surface, 5 ... Lead, 6 ... Pad, 7 ... Wire bond, 8 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Metal film, 9 ... Bonding material, 10 ... Lid, 10a ... Frame, 10b ... Opening part, 11 ... Optical element, 11a ... Optical axis, 12 ... Metal film, 13 ... Deformation suppression member, 14 ... Tip part, 15 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Contact surface, 16 ... Vacuum chamber, 17 ... Stage, 18 ... Heater tool, 19 ... Heater tool drive mechanism, 20 ... Exhaust mechanism, 21 ... Pressure adjustment mechanism, 22 ... Contact surface.

Claims (12)

光を透過させる光学素子と前記光学素子を保持する枠体を有するリッドと、デバイスが実装され前記光学素子と前記枠体に対向するダイアタッチ面を有するパッケージと、を接合することによって前記リッドと前記パッケージに形成される中空部を、真空状態で気密封止する真空封止装置において、
前記リッドと前記パッケージが接合した際に、前記リッドまたは前記パッケージにおける前記中空部内に配設され、前記リッドが変形することを抑制する変形抑制部材と、
を具備することを特徴とする真空封止装置。
A lid having an optical element that transmits light and a frame that holds the optical element, and a package on which a device is mounted and having a die attach surface facing the optical element and the frame, In a vacuum sealing device that hermetically seals the hollow portion formed in the package in a vacuum state,
When the lid and the package are joined, a deformation suppressing member that is disposed in the hollow portion of the lid or the package and suppresses deformation of the lid;
A vacuum sealing device comprising:
前記変形抑制部材は、前記リッドが変形した際に、光軸方向において前記変形抑制部材に対向する面に当接する長さと、前記ダイアタッチ面を基準として前記光学素子が前記光軸に沿って前記ダイアタッチ面から所望する高さに設置される長さを有することを特徴とする請求項1に記載の真空封止装置。   When the lid is deformed, the deformation suppressing member has a length that abuts against a surface facing the deformation suppressing member in the optical axis direction, and the optical element is aligned along the optical axis with respect to the die attach surface. The vacuum sealing device according to claim 1, wherein the vacuum sealing device has a length installed at a desired height from the die attach surface. 前記変形抑制部材は、前記リッド、または前記パッケージの少なくとも一方に配設され、柱状形状を有すること特徴とする請求項1乃至2に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 1, wherein the deformation suppressing member is disposed in at least one of the lid or the package and has a columnar shape. 前記変形抑制部材は複数配設され、前記変形抑制部材の先端部位における当接面は、光軸方向において前記変形抑制部材に対向する面と当接し、前記ダイアタッチ面と平行であることを特徴とする請求項2乃至3に記載の真空封止装置。   A plurality of the deformation suppressing members are provided, and a contact surface at a distal end portion of the deformation suppressing member is in contact with a surface facing the deformation suppressing member in the optical axis direction and is parallel to the die attach surface. The vacuum sealing device according to claim 2. 複数の前記変形抑制部材は、前記光軸を中心に円周上に均等な間隔に配設されていることを特徴とする請求項4に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 4, wherein the plurality of deformation suppressing members are arranged at equal intervals on a circumference around the optical axis. 複数の前記変形抑制部材は、3本配設されており、3本の前記変形抑制部材は、前記光軸を中心に円周上に略120度間隔で均等に配設されていることを特徴とする請求項4乃至5に記載の真空封止装置。   The plurality of deformation suppressing members are arranged in three, and the three deformation suppressing members are arranged uniformly at intervals of approximately 120 degrees on the circumference around the optical axis. The vacuum sealing device according to claim 4. 前記変形抑制部材の外形は、前記リッド、または前記光学素子の外形と相似形であることを特徴とする請求項1乃至2に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 1, wherein an outer shape of the deformation suppressing member is similar to an outer shape of the lid or the optical element. 前記変形抑制部材は、前記リッド、または前記パッケージの少なくとも一方に配設され、中空リングを有していることを特徴とする請求項7に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 7, wherein the deformation suppressing member is disposed on at least one of the lid or the package and has a hollow ring. 前記変形抑制部材の先端部位における当接面は、光軸方向において前記変形抑制部材に対向する面と当接し、前記ダイアタッチ面と平行であることを特徴とする請求項7乃至8に記載の真空封止装置。   The contact surface at the tip portion of the deformation suppressing member is in contact with a surface facing the deformation suppressing member in the optical axis direction, and is parallel to the die attach surface. Vacuum sealing device. 前記パッケージの前記ダイアタッチ面に配設される前記変形抑制部材は、先端部位において前記枠体に当接する当接面を有することを特徴とする請求項1乃至9に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 1, wherein the deformation suppressing member disposed on the die attach surface of the package has a contact surface that contacts the frame body at a distal end portion. 前記パッケージの前記ダイアタッチ面に配設される前記変形抑制部材は、先端部位において前記光学素子に当接する当接面を有することを特徴とする請求項1乃至9に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 1, wherein the deformation suppressing member disposed on the die attach surface of the package has a contact surface that contacts the optical element at a tip portion. 前記リッドに配設される前記変形抑制部材は、先端部位において前記ダイアタッチ面に当接する当接面を有することを特徴とする請求項1乃至9に記載の真空封止装置。   The vacuum sealing device according to claim 1, wherein the deformation suppressing member disposed on the lid has a contact surface that contacts the die attach surface at a tip portion.
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