JP2008289697A - Ultrasonic diagnostic apparatus - Google Patents

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Hiroyuki Shibanuma
浩幸 芝沼
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and precisely specify a defective point in an ultrasonic probe. <P>SOLUTION: A transmission/reception part 2 of a diagnostic apparatus body 1 successively transmits a first test signal of a pulse form in a resonance mode and a non-resonance mode to respective channels of an ultrasonic probe having a plurality of vibration elements at regular intervals, and a test signal synthesizing part 37 of the ultrasonic probe 3 synthesizes a second test signal formed inside the ultrasonic probe 3 on the basis of the first test signal to generate a synthesized test signal of 1 channel. A test signal analyzing part 5 of the diagnostic apparatus body 1 determines whether or not there is defect and specifies a defective part with respect to the ultrasonic probe 3 on the basis of feature value of an amplitude or the like in the second test signal, obtained by separation processing of the synthesized test signal supplied via the transmission reception part 2. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、超音波診断装置に係り、特に超音波プローブに対し自己診断機能を有した超音波診断装置に関する。   The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus, and more particularly to an ultrasonic diagnostic apparatus having a self-diagnosis function for an ultrasonic probe.

超音波診断装置は、超音波プローブに内蔵された振動素子から発生する超音波パルスを被検体内に放射し、被検体組織の音響インピーダンスの差異によって生ずる超音波反射波を前記振動素子によって受信することにより各種生体情報を収集するものである。   The ultrasonic diagnostic apparatus radiates an ultrasonic pulse generated from a vibration element built in an ultrasonic probe into a subject and receives an ultrasonic reflected wave generated by a difference in acoustic impedance of the subject tissue by the vibration element. Thus, various biological information is collected.

この診断方法は、超音波プローブを体表に接触させるだけの簡単な操作でリアルタイムの2次元画像や3次元画像が容易に観察できるため、生体臓器の機能診断や形態診断に広く用いられている。生体内の組織あるいは血球からの反射波により生体情報を得る超音波診断法は、超音波パルス反射法と超音波ドプラ法の2つの大きな技術開発により急速な進歩を遂げ、これらの技術を用いて得られるBモード画像とカラードプラ画像は、今日の超音波画像診断において不可欠なものとなっている。   This diagnostic method is widely used for functional diagnosis and morphological diagnosis of living organs because real-time two-dimensional images and three-dimensional images can be easily observed with a simple operation by simply bringing an ultrasonic probe into contact with the body surface. . Ultrasound diagnostic methods for obtaining biological information from reflected waves from tissues or blood cells in a living body have made rapid progress with the development of two major technologies, the ultrasonic pulse reflection method and the ultrasonic Doppler method. The obtained B-mode image and color Doppler image are indispensable in today's ultrasonic image diagnosis.

このような超音波診断装置が備える上述の超音波プローブは、その先端部(ヘッド部)において1次元配列あるいは2次元配列された極めて多くの振動素子を有し、これらの振動素子を用いて被検体に対する超音波の送受信を行なっている。そして、良質な超音波データや画像データを得るためにはこれらの振動素子の各々が正常に機能していることを定期的な試験によって確認する必要がある。   The above-described ultrasonic probe provided in such an ultrasonic diagnostic apparatus has an extremely large number of vibration elements arranged one-dimensionally or two-dimensionally at the tip (head portion) thereof, and these vibration elements are used for covering. Ultrasound is sent to and received from the specimen. In order to obtain good quality ultrasonic data and image data, it is necessary to confirm that each of these vibration elements is functioning normally by a periodic test.

特に、病院等の施設に設置された超音波診断装置の超音波プローブを試験する場合、被検体に対する超音波検査が行なわれていない時間帯において効率よく実施する必要があり、その試験方法として、振動素子の前面に装着された音響レンズの表面からの反射波の状態を画像データ上で観察することにより不良箇所の有無を判定する方法(例えば、特許文献1参照。)や振動素子の各々を順次駆動しながら所定距離に配置された試験用反射体からの反射波を計測することにより不良な振動素子やチャンネルを特定する方法(例えば、特許文献2参照。)が提案されている。
特開平8−238243号公報 特開2002−159492号公報
In particular, when testing an ultrasonic probe of an ultrasonic diagnostic apparatus installed in a facility such as a hospital, it is necessary to carry out efficiently in a time zone in which an ultrasonic inspection is not performed on a subject. A method of determining the presence / absence of a defective portion by observing the state of a reflected wave from the surface of an acoustic lens mounted on the front surface of the vibration element on image data (for example, see Patent Document 1) and each of the vibration elements. There has been proposed a method (for example, refer to Patent Document 2) for identifying a defective vibration element or channel by measuring a reflected wave from a test reflector arranged at a predetermined distance while being sequentially driven.
JP-A-8-238243 JP 2002-159492 A

上述の特許文献1及び特許文献2に記載された方法によれば、超音波プローブに内蔵された振動素子等における不良の有無を短時間で判定することが可能となる。しかしながら、特許文献1の方法では、通常の超音波検査と同様にして多くの振動素子を用いて1回の超音波送受信が行われるため、画像データ上で不良箇所が観測されても不良な振動素子やこの振動素子に対応したチャンネルを正確に特定することはできない。   According to the methods described in Patent Document 1 and Patent Document 2 described above, it is possible to determine in a short time whether or not there is a defect in the vibration element or the like built in the ultrasonic probe. However, in the method of Patent Document 1, since a single ultrasonic transmission / reception is performed using many vibration elements in the same manner as a normal ultrasonic inspection, even if a defective portion is observed on image data, a defective vibration is generated. The channel corresponding to the element and the vibration element cannot be specified accurately.

又、特許文献2の方法では、振動素子の各々を独立に駆動する機能を有した試験専用駆動回路や試験用反射体及び超音波伝搬媒質等の試験用治具が必要となるため、プローブ試験の準備に多くの時間を要し、特に、超音波診断装置が設置された院内において超音波プローブの検査を効率よく行なうことは極めて困難であるという問題点を有していた。   Further, the method of Patent Document 2 requires a test drive circuit having a function of independently driving each vibration element, and a test jig such as a test reflector and an ultrasonic propagation medium. It took a lot of time to prepare for this, and in particular, there was a problem that it was extremely difficult to efficiently inspect the ultrasonic probe in the hospital where the ultrasonic diagnostic apparatus was installed.

本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、上述の試験専用駆動回路のような複雑なユニットを用いることなく振動素子の不良やプローブケーブルの断線、更には、プローブコネクタの接触不良等を容易かつ正確に特定することが可能な自己診断機能を有する超音波診断装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a conventional problem, and its purpose is to use the vibration element defect or the probe cable disconnection without using a complicated unit such as the above-described test-dedicated drive circuit. It is another object of the present invention to provide an ultrasonic diagnostic apparatus having a self-diagnosis function that can easily and accurately identify a contact failure of a probe connector.

上記課題を解決するために、請求項1に係る本発明の超音波診断装置は、超音波プローブのヘッド部に配列された複数の振動素子を駆動し、前記振動素子から得られた複数チャンネルの受信信号に基づいて画像データを生成する超音波診断装置において、所定の振幅、パルス幅及び中心周波数を有する第1の試験信号を前記複数の振動素子を有した前記超音波プローブの各チャンネルに供給する送信手段と、前記第1の試験信号に基づき前記超音波プローブの各チャンネルにて形成される第2の試験信号の特性値を計測する特性値計測手段と、計測された前記特性値に基づいて前記超音波プローブの各チャンネルにおける不良有無の判定及び不良箇所の特定の少なくとも何れかを行なう不良有無判定手段とを備えたことを特徴としている。   In order to solve the above-described problem, an ultrasonic diagnostic apparatus according to a first aspect of the present invention drives a plurality of vibration elements arranged in a head portion of an ultrasonic probe and has a plurality of channels obtained from the vibration element. In an ultrasonic diagnostic apparatus that generates image data based on a received signal, a first test signal having a predetermined amplitude, pulse width, and center frequency is supplied to each channel of the ultrasonic probe having the plurality of vibration elements. Based on the measured characteristic value, transmitting means for measuring, characteristic value measuring means for measuring the characteristic value of the second test signal formed in each channel of the ultrasonic probe based on the first test signal, and And a defect presence / absence determining means for determining whether or not there is a defect in each channel of the ultrasonic probe and identifying at least one of the defective portions.

本発明によれば、複雑な構成を有した試験専用ユニットを用いることなく超音波プローブに対する不良有無の判定や不良箇所の特定を容易かつ正確に行なうことが可能となる。このため、前記超音波プローブの試験に要する時間が短縮され、試験担当者の負担が軽減される。   According to the present invention, it is possible to easily and accurately determine the presence / absence of a defect with respect to an ultrasonic probe and identify a defect location without using a dedicated test unit having a complicated configuration. For this reason, the time required for the test of the ultrasonic probe is shortened, and the burden on the person in charge of the test is reduced.

以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

以下に述べる本発明の実施例における超音波診断装置の送受信部は、複数の振動素子を有する超音波プローブの各チャンネルに対し共振モード及び非共振モードにおけるパルス状の試験信号(第1の試験信号)を所定間隔で順次送信し、超音波プローブの試験信号合成部は、前記第1の試験信号に基づいて超音波プローブの内部で形成される試験信号(第2の試験信号)を合成して1チャンネルの合成試験信号を生成する。そして、診断装置本体の試験信号分析部は、送受信部を介して供給される前記合成試験信号の分離処理によって得られた前記第2の試験信号の振幅値に基づいて超音波プローブに対する不良有無の判定及び不良箇所の特定を行なう。   The transmission / reception unit of the ultrasonic diagnostic apparatus according to the embodiment of the present invention described below includes a pulse-like test signal (first test signal) in the resonance mode and the non-resonance mode for each channel of the ultrasonic probe having a plurality of vibration elements. ) Are sequentially transmitted at predetermined intervals, and the test signal synthesis unit of the ultrasonic probe synthesizes a test signal (second test signal) formed inside the ultrasonic probe based on the first test signal. A one-channel composite test signal is generated. Then, the test signal analysis unit of the diagnostic apparatus main body determines whether or not there is a defect with respect to the ultrasonic probe based on the amplitude value of the second test signal obtained by the separation process of the synthesized test signal supplied via the transmission / reception unit. Judgment and identification of defective parts are performed.

尚、以下の説明では、振動素子の共振帯域に含まれた周波数を中心周波数とする第1の試験信号の供給を共振モードと呼び、前記共振帯域から外れた周波数を中心周波数とする第1の試験信号の供給を非共振モードと呼ぶ。   In the following description, the supply of the first test signal whose center frequency is the frequency included in the resonance band of the resonator element is called a resonance mode, and the first frequency whose center frequency is out of the resonance band is the first frequency. The supply of the test signal is called a non-resonant mode.

(装置の構成)
本発明の実施例における超音波診断装置の構成につき図1乃至図7を用いて説明する。尚、図1は、本実施例における超音波診断装置の全体構成を示すブロック図であり、図2は、前記超音波診断装置の診断装置本体に接続された超音波プローブと前記診断装置本体が備えた送受信部及び画像データ生成部の具体的な構成を示すブロック図である。又、図5は、前記診断装置本体が備えた試験信号分析部の具体的な構成を示すブロック図である。
(Device configuration)
The configuration of the ultrasonic diagnostic apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the ultrasonic diagnostic apparatus according to the present embodiment. FIG. 2 shows an ultrasonic probe connected to the diagnostic apparatus main body of the ultrasonic diagnostic apparatus and the diagnostic apparatus main body. It is a block diagram which shows the specific structure of the transmission / reception part and image data generation part which were provided. FIG. 5 is a block diagram showing a specific configuration of a test signal analyzer provided in the diagnostic apparatus body.

図1に示す本実施例の超音波診断装置100は、診断装置本体1と、この診断装置本体1に接続して使用される超音波プローブ3とから構成されている。   An ultrasonic diagnostic apparatus 100 according to the present embodiment shown in FIG. 1 includes a diagnostic apparatus main body 1 and an ultrasonic probe 3 that is used by being connected to the diagnostic apparatus main body 1.

診断装置本体1は、被検体の所定方向に対する超音波パルスの送信を目的とした診断モードにおける駆動信号や超音波プローブ3に対する不良有無の判定や不良箇所の特定を目的としたプローブ試験モードにおける試験信号(第1の試験信号)を複数個(N個)の振動素子を有する超音波プローブ3の各チャンネルに供給し、これらの振動素子から得られたNチャンネルの受信信号に対する整相加算と第1の試験信号に基づいて超音波プローブ3の内部にて形成されるNチャンネルの第2の試験信号の受信を行なう送受信部2と、整相加算後の受信信号を信号処理して画像データを生成する画像データ生成部4と、合成試験信号として超音波プローブ3から送受信部2を介して得られる第2の試験信号を分析することにより超音波プローブ3に対する不良有無の判定や不良箇所の特定を行なう試験信号分析部5を備えている。   The diagnostic apparatus body 1 performs a test in a probe test mode for the purpose of determining the presence / absence of a defect with respect to a drive signal and an ultrasonic probe 3 in a diagnostic mode for the purpose of transmitting an ultrasonic pulse in a predetermined direction of the subject, and specifying a defective part. A signal (first test signal) is supplied to each channel of the ultrasonic probe 3 having a plurality (N) of vibration elements, and the phasing addition and Nth of the received signals of N channels obtained from these vibration elements are performed. The transmission / reception unit 2 that receives the second test signal of the N channel formed inside the ultrasonic probe 3 based on the test signal 1 and the signal processing of the received signal after the phasing addition are performed to obtain the image data. The ultrasonic probe 3 is analyzed by analyzing the second test signal obtained from the ultrasonic probe 3 via the transmission / reception unit 2 as a composite test signal. And a test signal analyzer 5 for specific determination or defective portion of the defective existence against.

更に、診断装置本体1は、画像データ生成部4から供給される画像データや試験信号分析部5から供給される超音波プローブ3の分析結果等を表示する表示部6と、被検体情報の入力、画像データの生成条件や表示条件の設定、診断モード及びプローブ試験モードの選択、更には、各種コマンド信号の入力等を行なう入力部7と、診断装置本体1における上述の各ユニットを統括的に制御するシステム制御部8を備えている。   Further, the diagnostic apparatus main body 1 includes a display unit 6 for displaying image data supplied from the image data generation unit 4, an analysis result of the ultrasonic probe 3 supplied from the test signal analysis unit 5, and input of subject information. , Setting of image data generation conditions and display conditions, selection of diagnosis mode and probe test mode, and input of various command signals and the above-described units in the diagnostic apparatus main body 1 are integrated. The system control part 8 to control is provided.

一方、超音波プローブ3は、N個の振動素子が1次元あるいは2次元に配列されたヘッド部31と、図示しないNチャンネルの共振用インダクタ及び診断装置本体1に対して脱着自在な接続端子と前記共振用インダクタの振動素子側端子にて形成されるNチャンネルの試験信号(第2の試験信号)を合成する試験信号合成部37とを有するコネクタ部34と、前記振動素子の各々と前記共振用インダクタの振動素子側端子とを接続するNチャンネルのプローブケーブル33を備えている。   On the other hand, the ultrasonic probe 3 includes a head portion 31 in which N vibration elements are arranged one-dimensionally or two-dimensionally, an N-channel resonance inductor (not shown), and a connection terminal that is detachable from the diagnostic apparatus main body 1. A connector unit 34 having a test signal synthesis unit 37 for synthesizing an N-channel test signal (second test signal) formed at a vibration element side terminal of the resonance inductor; and each of the vibration elements and the resonance An N-channel probe cable 33 is provided for connecting a vibration element side terminal of the inductor.

次に、上述の送受信部2、超音波プローブ3及び画像データ生成部4の具体的な構成につき図2を用いて説明する。   Next, specific configurations of the transmission / reception unit 2, the ultrasonic probe 3, and the image data generation unit 4 will be described with reference to FIG.

図2に示す診断装置本体1の送受信部2は、超音波プローブ3のヘッド部31に配列されたN個の振動素子32−1乃至32−Nに対してNチャンネルの駆動信号と共振モード及び非共振モードにおける試験信号(第1の試験信号)を供給する送信部21と、振動素子32−1乃至32−Nの各々から得られたNチャンネルの受信信号を整相加算し、更に、超音波プローブ3の試験信号合成部37が共振モード及び非共振モードの各々におけるNチャンネルの試験信号(第2の試験信号)を合成して生成した合成試験信号を信号切り替え部23を介して受信する受信部22と、受信部22の所定チャンネルに供給される受信信号と共振モード及び非共振モードにおける合成試験信号との切り替えを行なう上述の信号切り替え部23を備えている。   The transmission / reception unit 2 of the diagnostic apparatus main body 1 shown in FIG. 2 has N-channel drive signals, resonance modes, and N modes for the N vibration elements 32-1 to 32-N arranged in the head unit 31 of the ultrasonic probe 3. The transmitter 21 for supplying the test signal (first test signal) in the non-resonant mode and the N-channel received signals obtained from each of the vibration elements 32-1 to 32-N are phased and added, and The test signal synthesis unit 37 of the acoustic probe 3 receives the synthesized test signal generated by synthesizing the N-channel test signal (second test signal) in each of the resonance mode and the non-resonance mode via the signal switching unit 23. The receiving unit 22 includes the above-described signal switching unit 23 that switches between a reception signal supplied to a predetermined channel of the receiving unit 22 and a combined test signal in the resonance mode and the non-resonance mode. .

送信部21は、送信超音波の繰り返し周期を決定するためのレートパルスを発生するレートパルス発生器211と、送信超音波を所定の深さに集束するための遅延時間(集束用遅延時間)や前記送信超音波を所定の方向に送信するための遅延時間(偏向用遅延時間)、更には、試験信号に対する遅延時間(試験用遅延時間)を前記レートパルスに与える送信遅延回路212−1乃至212−Nと、これらレートパルスの遅延時間に基づいて診断モードにおけるNチャンネルの駆動パルスやプローブ試験モードの共振モード及び非共振モードにおけるNチャンネルの第1の試験信号を生成し超音波プローブ3に内蔵された振動素子32−1乃至32−Nへ供給する駆動回路213−1乃至213−Nを有している。   The transmission unit 21 includes a rate pulse generator 211 that generates a rate pulse for determining the repetition period of the transmission ultrasonic wave, a delay time (focusing delay time) for focusing the transmission ultrasonic wave to a predetermined depth, Transmission delay circuits 212-1 to 212 which give the rate pulse a delay time (deflection delay time) for transmitting the transmission ultrasonic wave in a predetermined direction, and further a delay time for the test signal (test delay time). Based on -N and the delay time of these rate pulses, the N-channel drive pulse in the diagnostic mode and the N-channel first test signal in the resonance mode and the non-resonance mode in the probe test mode are generated and incorporated in the ultrasonic probe 3 The driving circuits 213-1 to 213-N are supplied to the vibrating elements 32-1 to 32-N.

図3は、プローブ試験モードにおいて送信部21の駆動回路213−1乃至213−Nから超音波プローブ3の各チャンネルに対して出力される第1の試験信号を示したものであり、駆動回路213−1乃至213−Nの各々からは第1の試験信号である試験信号Sri−1乃至Sri−N及び第2の試験信号である試験信号Sai−1乃至Sai−Nが時間間隔(試験用遅延時間)Δτで順次出力される。例えば、図3(a)は、共振モードのt=t1において駆動回路213−1から出力される試験信号Sri−1、図3(b)は、t=t2=t1+Δτにおいて駆動回路213−2から出力される試験信号Sri−2、図3(c)は、t=t3=t1+2Δτにおいて駆動回路213−3から出力される試験信号Sri−3を夫々示しており、更に、図3(d)は、t=tN=t1+(N−1)Δτにおいて駆動回路213−Nから出力される試験信号Sri−Nを示している。   FIG. 3 shows a first test signal output to each channel of the ultrasonic probe 3 from the drive circuits 213-1 to 213-N of the transmitter 21 in the probe test mode. -1 to 213-N include test signals Sri-1 to Sri-N which are first test signals and test signals Sai-1 to Sai-N which are second test signals. Time) is sequentially output at Δτ. For example, FIG. 3A shows the test signal Sri-1 output from the drive circuit 213-1 at the resonance mode t = t1, and FIG. 3B shows the test signal Sri-1 output from the drive circuit 213-2 at t = t2 = t1 + Δτ. The output test signal Sri-2 and FIG. 3C show the test signal Sri-3 output from the drive circuit 213-3 at t = t3 = t1 + 2Δτ, respectively, and FIG. , T = tN = t1 + (N−1) Δτ represents the test signal Sri-N output from the drive circuit 213-N.

同様にして、非共振モードのt=t1乃至tNにおいて試験信号Sai−1乃至試験信号Sai−Nが、駆動回路213−1乃至213−Nの各々から時間間隔Δτで順次出力される。   Similarly, the test signals Sai-1 to Sai-N are sequentially output from the drive circuits 213-1 to 213-N at time intervals Δτ at t = t1 to tN in the non-resonant mode.

尚、共振モードでは、超音波プローブ3における振動素子32−1乃至32−Nの共振帯域に含まれる周波数(例えば、振動素子32の共振周波数)と略等しい中心周波数を有する試験信号Sri―1乃至Sri−Nが駆動回路213−1乃至213−Nによって生成され、非共振モードでは、前記共振帯域から外れた周波数を中心周波数とする試験信号Sai―1乃至Sai−Nが駆動回路213−1乃至213−Nによって生成され超音波プローブ3の各チャンネルへ供給される。   In the resonance mode, the test signals Sri-1 through Sri-1 through Sri-1 through the center frequency substantially equal to the frequency included in the resonance band of the transducers 32-1 through 32-N in the ultrasonic probe 3 (for example, the resonance frequency of the transducer 32). Sri-N is generated by the drive circuits 213-1 to 213-N, and in the non-resonant mode, the test signals Sai-1 to Sai-N having a frequency outside the resonance band as the center frequency are driven to the drive circuits 213-1 to 213-1. It is generated by 213-N and supplied to each channel of the ultrasonic probe 3.

図2へ戻って、超音波プローブ3のヘッド部31に配列された振動素子32−1乃至32−Nは、プローブケーブル33−1乃至33−Nを介してコネクタ部34に設けられた共振用インダクタ35−1乃至35−Nの一方の端子に接続され、共振用インダクタ35−1乃至35−Nの他の端子は、コネクタ部34の接続端子36−1乃至36−Nを介し診断装置本体1の送受信部2における送信部21の出力端子及び受信部22の入力端子に接続される。   Returning to FIG. 2, the resonator elements 32-1 to 32-N arranged in the head portion 31 of the ultrasonic probe 3 are for resonance provided in the connector portion 34 via the probe cables 33-1 to 33-N. The other terminals of the resonance inductors 35-1 to 35 -N are connected to one terminal of the inductors 35-1 to 35 -N, and the diagnostic device main body is connected via the connection terminals 36-1 to 36 -N of the connector unit 34. 1 is connected to the output terminal of the transmission unit 21 and the input terminal of the reception unit 22.

一方、コネクタ部34に設けられた試験信号合成部37は、例えば、N個からなる合成用抵抗38−1乃至38−Nを有し、これら合成用抵抗38−1乃至38−Nの一方の端子は共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子に接続され、合成用抵抗38−1乃至38−Nの他の端子は共通接続されて診断装置本体1の送受信部2に設けられた信号切り替え部23に接続される。   On the other hand, the test signal combining unit 37 provided in the connector unit 34 has, for example, N combining resistors 38-1 to 38-N, and one of the combining resistors 38-1 to 38-N. The terminals are connected to the vibration element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N, and the other terminals of the combining resistors 38-1 to 38-N are connected in common and provided in the transmission / reception unit 2 of the diagnostic apparatus body 1. Connected to the signal switching unit 23.

そして、プローブ試験モードにおいて、診断装置本体1の送受信部2から超音波プローブ3のコネクタ部34における接続端子36−1乃至36−Nに対して時間間隔Δτで順次供給される共振モードの試験信号Sri−1乃至Sri−N及び非共振モードの試験信号Sai−1乃至Sai−Nは、共振用インダクタ35−1乃至35−N及びプローブケーブル33−1乃至33−Nを介してヘッド部31の振動素子32−1乃至33−Nへ供給される。   In the probe test mode, the resonance mode test signal sequentially supplied from the transmission / reception unit 2 of the diagnostic apparatus main body 1 to the connection terminals 36-1 to 36-N in the connector unit 34 of the ultrasonic probe 3 at a time interval Δτ. Sri-1 to Sri-N and non-resonant mode test signals Sai-1 to Sai-N are supplied to the head unit 31 via the resonance inductors 35-1 to 35-N and the probe cables 33-1 to 33-N. It is supplied to the vibrating elements 32-1 to 33-N.

このとき、共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子において形成される共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N(共振モードにおける第2の試験信号)及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−N(非共振モードにおける第2の試験信号)の各々は、試験信号合成部37の合成用抵抗38−1乃至38−Nによって合成され1チャンネルの合成試験信号Sro及びSaoが生成される。即ち、試験信号合成部37により、共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子にて形成された共振モードにおける試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードにおける試験信号Sax−1乃至Sax−Nは、図4に示すようにΔτ間隔で合成されて合成試験信号Sro及び合成試験信号Saoが生成される。   At this time, resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N (second test signals in the resonance mode) and non-resonance mode tests formed at the resonator element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N. Each of the signals Sax-1 to Sax-N (second test signal in the non-resonant mode) is synthesized by the synthesis resistors 38-1 to 38-N of the test signal synthesis unit 37 and is combined with one-channel synthesized test signals Sro and Sao is generated. That is, the test signal synthesis unit 37 causes the test signals Srx-1 to Srx-N in the resonance mode and the test signal Sax- in the non-resonance mode formed at the vibration element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N. As shown in FIG. 4, 1 to Sax-N are combined at intervals of Δτ to generate a combined test signal Sro and a combined test signal Sao.

尚、振動素子32−1乃至32−Nは電気音響変換素子であり、診断モードにおいて送受信部2から供給される電気パルス(駆動信号)を超音波パルス(送信超音波)に変換して被検体の体内に放射し、このとき体内から得られる超音波反射波(受信超音波)を電気的な受信信号に変換する機能を有しているが、プローブ試験モードでは、被検体に対する超音波の送受信は行なわれない。   The vibration elements 32-1 to 32-N are electroacoustic conversion elements, and in the diagnosis mode, the electric pulse (drive signal) supplied from the transmission / reception unit 2 is converted into an ultrasonic pulse (transmission ultrasonic wave) to be examined. In the probe test mode, ultrasound is transmitted to and received from the subject, while the ultrasound reflected wave (received ultrasound) obtained from the body is converted into an electrical reception signal. Is not done.

再び図2へ戻って、送受信部2の受信部22は、超音波プローブ3の振動素子32−1乃至32−Nから供給されるNチャンネルの受信信号や試験信号合成部37から信号切り替え部23を介して供給される共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号SaoをA/D変換するA/D変換器221−1乃至221−Nと、所定の深さからの受信超音波を集束するための集束用遅延時間と所定方向に対して受信指向性を設定するための偏向用遅延時間をA/D変換されたNチャンネルの受信信号に与える受信遅延回路222−1乃至222−Nと、これらの受信遅延回路222から出力されたNチャンネルの受信信号を加算合成する加算器223を有し、受信遅延回路222−1乃至222−Nと加算器223により、当該被検体の所定方向から得られた受信信号は整相加算される。   Returning to FIG. 2 again, the reception unit 22 of the transmission / reception unit 2 receives the N-channel received signal supplied from the vibration elements 32-1 to 32-N of the ultrasonic probe 3 and the signal switching unit 23 from the test signal synthesis unit 37. A / D converters 221-1 to 221 -N for A / D converting the combined test signal Sro in the resonance mode and the combined test signal Sao in the non-resonant mode, which are supplied via the receiver, and the super-reception from a predetermined depth Reception delay circuits 222-1 through 222 for providing an A / D-converted N-channel reception signal with a delay time for focusing to focus sound waves and a deflection delay time for setting reception directivity with respect to a predetermined direction -N and an adder 223 that adds and synthesizes N-channel reception signals output from the reception delay circuit 222. The reception delay circuits 222-1 to 222-N and the adder 223 Received signal obtained from a predetermined direction of the subject is phasing addition.

一方、信号切り替え部23は、例えば、診断モードにおいて超音波プローブ3の振動素子32−Nから供給される受信信号とプローブ試験モードにおいて試験信号合成部37から供給される共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号Saoとの切り替えを行なう。   On the other hand, the signal switching unit 23 receives, for example, the reception signal supplied from the vibration element 32-N of the ultrasonic probe 3 in the diagnostic mode and the combined test signal Sro in the resonance mode supplied from the test signal combining unit 37 in the probe test mode. And switching to the non-resonant mode composite test signal Sao.

即ち、診断モードにおいて超音波プローブ3の振動素子22−Nから得られるNチャンネル目の受信信号は信号切り替え部23を介してA/D変換器221−Nへ供給され、A/D変換器221−1乃至221−(N−1)へ供給される他のチャンネルの受信信号と整相加算されて画像データ生成部4へ出力される。一方、プローブ試験モードにおいて超音波プローブ3の試験信号合成部37から供給される共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号Saoは、信号切り替え部23を介してA/D変換器221−Nへ供給され、A/D変換されたこれらの合成試験信号は、受信遅延回路222−N及び加算器223を介して試験信号分析部5へ出力される
尚、本実施例における信号切り替え部23は、A/D変換器221−Nに供給されるNチャンネル目の受信信号と共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号Saoとの切り替えを行なう場合について述べたが、これに限定されるものではなく、A/D変換器221−1乃至221−Nの何れかに供給される受信信号と前記合成試験信号との切り替えであっても構わない。
That is, the received signal of the Nth channel obtained from the vibrating element 22 -N of the ultrasonic probe 3 in the diagnostic mode is supplied to the A / D converter 221 -N via the signal switching unit 23, and the A / D converter 221. -1 to 221- (N-1) are phased and added to the reception signals of other channels supplied to the image data generation unit 4 and output. On the other hand, the resonance mode synthesis test signal Sro and the non-resonance mode synthesis test signal Sao supplied from the test signal synthesis unit 37 of the ultrasonic probe 3 in the probe test mode are supplied to the A / D converter via the signal switching unit 23. These composite test signals supplied to 221-N and A / D converted are output to the test signal analysis unit 5 via the reception delay circuit 222-N and the adder 223. Signal switching in this embodiment The unit 23 described the case of switching between the N-channel received signal supplied to the A / D converter 221 -N and the combined test signal Sro in the resonance mode and the combined test signal Sao in the non-resonant mode. However, the present invention is not limited to this, and switching between the received signal supplied to one of the A / D converters 221-1 to 221-N and the synthesized test signal is not necessary. It doesn't matter.

次に、画像データ生成部4は、送受信部2の受信部22における加算器223から出力される整相加算後の受信信号を包絡線検波する包絡線検波器41と、包絡線検波された受信信号の振幅を対数変換してBモードデータを生成する対数変換器42と、得られたBモードデータを超音波の送受信方向に対応させて保存することにより画像データ(Bモード画像データ)を生成する超音波データ記憶部43を備えている。但し、包絡線検波器41と対数変換器42は順序を入れ替えて構成しても構わない。   Next, the image data generation unit 4 includes an envelope detector 41 that performs envelope detection on the reception signal after phasing addition that is output from the adder 223 in the reception unit 22 of the transmission / reception unit 2, and reception that has been subjected to envelope detection. A logarithmic converter 42 for logarithmically converting the amplitude of the signal to generate B-mode data, and generating the image data (B-mode image data) by storing the obtained B-mode data corresponding to the transmission / reception direction of the ultrasonic waves An ultrasonic data storage unit 43 is provided. However, the envelope detector 41 and the logarithmic converter 42 may be configured by changing the order.

図1に戻って、試験信号分析部5は、送受信部2の受信部22から出力された共振モードの合成試験信号Sroを構成する試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの合成試験信号Saoを構成する試験信号Sax−1乃至Sax−Nの振幅値に基づいて超音波プローブ3に対する不良有無の判定や不良箇所の特定を行なう機能を有している。   Returning to FIG. 1, the test signal analysis unit 5 includes the test signals Srx-1 to Srx-N constituting the resonance mode combined test signal Sro output from the receiving unit 22 of the transmission / reception unit 2 and the nonresonant mode combined test. Based on the amplitude values of the test signals Sax-1 to Sax-N constituting the signal Sao, the ultrasonic probe 3 has a function of determining whether or not there is a defect and specifying a defective portion.

図5は、試験信号分析部5の具体的な構成を示すブロック図であり、この試験信号分析部5は、試験信号分離部51、特性値計測部52、計測データ記憶部53、平均特性値算出部54及び不良有無判定部55を備えている。   FIG. 5 is a block diagram showing a specific configuration of the test signal analysis unit 5. The test signal analysis unit 5 includes a test signal separation unit 51, a characteristic value measurement unit 52, a measurement data storage unit 53, an average characteristic value. A calculation unit 54 and a defect presence / absence determination unit 55 are provided.

試験信号分離部51は、ゲート処理機能を有し、超音波プローブ3の試験信号合成部37によって生成され送受信部2の信号切り替え部23及び受信部22を介して供給された共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号SaoをΔτ間隔のゲート処理により合成前の共振モードにおける試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードにおける試験信号Sax−1乃至Sax−Nに分離する。   The test signal separation unit 51 has a gate processing function, and is generated by the test signal synthesis unit 37 of the ultrasonic probe 3 and is supplied via the signal switching unit 23 and the reception unit 22 of the transmission / reception unit 2 and the resonance mode synthesis test. The signal Sro and the non-resonant mode combined test signal Sao are separated into test signals Srx-1 to Srx-N in the resonance mode before the combination and test signals Sax-1 to Sax-N in the non-resonant mode by gate processing at intervals of Δτ. .

即ち、共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nは、超音波プローブ3の試験信号合成部37にて1チャンネルの合成試験信号Sro及びSaoに合成されて診断装置本体1供給され、診断装置本体1の試験信号分析部5における試験信号分離部51によって元の試験信号Srx−1乃至Srx−N及び試験信号Sax−1乃至Sax−Nに戻される。   That is, the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signals Sax-1 to Sax-N are output from the test signal synthesis unit 37 of the ultrasonic probe 3 in one channel. It is synthesized into Sao and supplied to the diagnostic apparatus main body 1, and the original test signals Srx-1 to Srx-N and the test signals Sax-1 to Sax-N by the test signal separation unit 51 in the test signal analysis unit 5 of the diagnostic apparatus main body 1. Returned to

一方、特性値計測部52は、試験信号分離部51によって分離された共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの振幅を特性値として計測し、得られた特性値を超音波プローブ3のチャンネル情報と共に計測データ記憶部53へ保存する。   On the other hand, the characteristic value measurement unit 52 uses the amplitudes of the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signals Sax-1 to Sax-N separated by the test signal separation unit 51 as characteristic values. The measured characteristic value is stored in the measurement data storage unit 53 together with the channel information of the ultrasonic probe 3.

次に、平均特性値算出部54は、図示しない演算回路を有し、計測データ記憶部53から読み出した共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの特性値(振幅値)を加算平均することによって平均特性値を算出する。そして、この平均特性値と予め設定された特性値幅に基づいて共振モード及び非共振モードにおける正常特性値の範囲を示す上限値及び下限値を設定する。   Next, the average characteristic value calculation unit 54 includes an arithmetic circuit (not shown), and the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signals Sax-1 to Sx read from the measurement data storage unit 53. An average characteristic value is calculated by averaging the characteristic values (amplitude values) of Sax-N. Then, an upper limit value and a lower limit value indicating the range of the normal characteristic value in the resonance mode and the non-resonance mode are set based on the average characteristic value and a preset characteristic value width.

一方、不良有無判定部55は、計測データ記憶部53に保存された共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの特性値とその付帯情報であるチャンネル情報を読み出し、これら特性値の各々と平均特性値算出部54から供給される平均特性値あるいは正常特性値の上限値及び下限値とを比較することにより超音波プローブ3の各チャンネルに対する不良有無(即ち、後述する振動素子32の不良やプローブケーブル33の断線、更には、コネクタ部34における接触不良の有無)の判定や不良箇所の特定を行なう、そして、得られた不良有無の判定結果や不良箇所の特定結果をチャンネル情報と共に表示部6へ供給する。   On the other hand, the defect presence / absence determination unit 55 includes the characteristic values of the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signals Sax-1 to Sax-N stored in the measurement data storage unit 53 and their accompanying values. Each channel of the ultrasonic probe 3 is read by reading channel information which is information and comparing each of the characteristic values with the upper limit value and lower limit value of the average characteristic value or the normal characteristic value supplied from the average characteristic value calculation unit 54. (I.e., the vibration element 32 described later, the disconnection of the probe cable 33, and the presence or absence of contact failure in the connector 34) and the location of the defect are identified. The determination result and the defective part identification result are supplied to the display unit 6 together with the channel information.

次に、図1の表示部6は、表示データ生成部61と、データ変換部62と、モニタ63を備えている。そして、診断モードにおける表示データ生成部61は、画像データ生成部4において生成された当該被検体の画像データに被検体情報等の付帯情報を重畳して診断用の表示データを生成する。又、プローブ試験モードにおける表示データ生成部61は、試験信号分析部5から供給される分析結果(即ち、共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの振幅値計測結果、不良有無の判定結果、不良箇所の特定結果等)に基づいてプローブ試験用の表示データを所定の表示フォーマットに従って生成する。そして、データ変換部62は、前記表示データに対してD/A変換と表示フォーマット変換を行なって映像信号を生成しモニタ63に表示する。   Next, the display unit 6 in FIG. 1 includes a display data generation unit 61, a data conversion unit 62, and a monitor 63. The display data generation unit 61 in the diagnosis mode generates diagnostic display data by superimposing incidental information such as subject information on the image data of the subject generated by the image data generation unit 4. Further, the display data generation unit 61 in the probe test mode receives the analysis results supplied from the test signal analysis unit 5 (that is, the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signals Sax-1 to Display data for the probe test is generated in accordance with a predetermined display format based on the Sax-N amplitude value measurement result, the determination result of the presence / absence of the defect, the identification result of the defective portion, and the like. The data converter 62 performs D / A conversion and display format conversion on the display data to generate a video signal and display it on the monitor 63.

一方、入力部7は、操作パネル上に表示パネルやキーボード、トラックボール、マウス、選択ボタン、入力ボタン等の入力デバイスを備え、被検体情報の入力、診断モード及びプローブ試験モードの選択、画像データの収集条件や表示条件の設定、種々のコマンド信号の入力等を行なう。   On the other hand, the input unit 7 includes input devices such as a display panel, a keyboard, a trackball, a mouse, a selection button, and an input button on the operation panel, and inputs object information, selection of a diagnostic mode and a probe test mode, and image data. Collection conditions and display conditions, and input of various command signals.

システム制御部8は、図示しないCPUと記憶回路を備え、前記記憶回路には、入力部7にて入力/選択/設定された各種情報が保存される。そして、前記CPUは、上述の入力情報、選択情報及び設定情報に基づいて診断装置本体1の各ユニットを統括的に制御し、画像データの生成とその表示あるいは超音波プローブ3の分析と分析結果の表示を行なう。特に、プローブ試験モードでは、超音波プローブ3の各チャンネルに対してΔτの時間差を有した共振モード及び非共振モードの試験信号が順次供給されるように送信部21の送信遅延回路212−1乃至212−Nの遅延時間を制御し、超音波プローブ3の試験信号合成部37から供給される共振モードの合成試験信号Sro及び非共振モードの合成試験信号Saoが受信部22へ供給されるように信号切り換え部23の開閉を制御する。   The system control unit 8 includes a CPU and a storage circuit (not shown), and various information input / selected / set by the input unit 7 is stored in the storage circuit. Then, the CPU comprehensively controls each unit of the diagnostic apparatus main body 1 based on the above-described input information, selection information, and setting information, and generates and displays image data or analyzes and analysis results of the ultrasonic probe 3. Is displayed. In particular, in the probe test mode, the resonance mode and non-resonance mode test signals having a time difference of Δτ are sequentially supplied to each channel of the ultrasonic probe 3 so that the transmission delay circuits 212-1 to 212-1 through 21-2 of the transmission unit 21 are supplied. The delay time of 212 -N is controlled so that the resonance mode combined test signal Sro and the non-resonant mode combined test signal Sao supplied from the test signal combining unit 37 of the ultrasonic probe 3 are supplied to the receiving unit 22. The opening and closing of the signal switching unit 23 is controlled.

次に、試験信号分析部5による超音波プローブ3の試験方法につき図6及び図7を用いて説明する。図6は、超音波プローブ3の主なる不良箇所を示したものであり、既に述べたように、超音波プローブ3のヘッド部31に設けられた振動素子32−1乃至32−Nは、例えば、2mの長さを有するプローブケーブル33−1乃至33−Nを介してコネクタ部34における共振用インダクタ35−1乃至35−Nの一方の端子に接続され、共振用インダクタ35−1乃至35−Nの他の端子は、コネクタ部34の接続端子36−1乃至36−N及び図示しないNチャンネルの信号線を介し送信部21の出力端子及び受信部22の入力端子に接続されている。   Next, a test method of the ultrasonic probe 3 by the test signal analysis unit 5 will be described with reference to FIGS. FIG. 6 shows main defective portions of the ultrasonic probe 3, and as described above, the vibration elements 32-1 to 32-N provided in the head portion 31 of the ultrasonic probe 3 are, for example, 2m-long probe cables 33-1 to 33-N are connected to one terminal of the resonance inductors 35-1 to 35-N in the connector 34, and the resonance inductors 35-1 to 35-N are connected. The other terminals of N are connected to the output terminals of the transmitter 21 and the input terminals of the receiver 22 via connection terminals 36-1 to 36-N of the connector section 34 and an N channel signal line (not shown).

この場合、診断装置本体1の送受信部2と接続された超音波プローブ3において発生する故障として、(1)コネクタ部34の接続端子36−1乃至36−Nにおける接触不良(開放)(図6(b))、(2)プローブケーブル33−1乃至33−Nの断線(開放)(図6(c))、(3)振動素子32−1乃至32−Nの不良(破損による短絡あるいは開放)(図6(d))がある。   In this case, as a failure occurring in the ultrasonic probe 3 connected to the transmission / reception unit 2 of the diagnostic apparatus main body 1, (1) contact failure (open) in the connection terminals 36-1 to 36-N of the connector unit 34 (FIG. 6). (B)), (2) Disconnection (open) of the probe cables 33-1 to 33-N (FIG. 6C), (3) Defect (short circuit or open due to breakage) of the vibration elements 32-1 to 32-N (FIG. 6 (d)).

このような超音波プローブ3における不良箇所を特定するために、本実施例における送信部21の駆動回路213−1乃至213−Nは、超音波プローブ3のコネクタ部34における接続端子36−1乃至36−Nの各々に対して先ず共振モードの試験信号Sri−1乃至Sri−Nを時間間隔Δτで順次供給し、次いで、非共振モードの試験信号Sai−1乃至Sai−Nを同様の方法によって供給する。   In order to identify such a defective portion in the ultrasonic probe 3, the drive circuits 213-1 to 213-N of the transmission unit 21 in this embodiment are connected to the connection terminals 36-1 to 36-1 in the connector unit 34 of the ultrasonic probe 3. First, the resonance mode test signals Sri-1 to Sri-N are sequentially supplied to each of 36-N at a time interval Δτ, and then the non-resonance mode test signals Sai-1 to Sai-N are similarly processed. Supply.

そして、このとき、コネクタ部34における共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子にて形成される共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nは、試験信号合成部37に供給されて共振モードの合成駆動信号Sro及び非共振モードの合成駆動信号Saoに変換され、信号切り替え部23及び受信部22を介して試験信号分析部5へ供給される。   At this time, the resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and the non-resonance mode test signal Sax- formed at the vibration element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N in the connector 34 are used. 1 to Sax-N are supplied to the test signal synthesizer 37 and converted into the resonance mode synthesized drive signal Sro and the non-resonant mode synthesized drive signal Sao, and the test signal analysis is performed via the signal switching unit 23 and the receiver 22. Supplied to section 5.

図7は、超音波プローブ3のコネクタ部34における接続端子36−1乃至36−Nに対し共振モードの試験信号Sri―1乃至Sri−N及び非共振モードの試験信号Sai−1乃至Sai−Nが供給された場合、共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子にて形成される共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの波形形態(波形の特徴)を一覧表に示したものである。   FIG. 7 shows resonance mode test signals Sri-1 to Sri-N and non-resonance mode test signals Sai-1 to Sai-N for the connection terminals 36-1 to 36-N in the connector section 34 of the ultrasonic probe 3. Is supplied, resonance mode test signals Srx-1 to Srx-N and non-resonance mode test signals Sax-1 to Sax formed at the resonator element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N. The waveform form (characteristics of the waveform) of -N is shown in the list.

即ち、図7において、超音波プローブ3に不良箇所がない場合、共振モードにおける試験信号Srxはコネクタ部34の接続端子36に供給される試験信号Sriより大きな振幅と波数(波連長)を有する共振波形となり、非共振モードにおける試験信号Saxは試験信号Saiと略等しい形状を有する非共振波形となる。   That is, in FIG. 7, when the ultrasonic probe 3 has no defective portion, the test signal Srx in the resonance mode has a larger amplitude and wave number (wave length) than the test signal Sri supplied to the connection terminal 36 of the connector unit 34. A resonance waveform is obtained, and the test signal Sax in the non-resonance mode is a non-resonance waveform having a shape substantially equal to the test signal Sai.

一方、超音波プローブ3のプローブケーブル33において断線が発生した場合、共振モードにおける試験信号Srxは試験信号Sriと略等しい形状を有する非共振波形となり、非共振モードにおける試験信号Saxも試験信号Saiと略等しい形状を有する非共振波形となる。   On the other hand, when the disconnection occurs in the probe cable 33 of the ultrasonic probe 3, the test signal Srx in the resonance mode has a non-resonance waveform having a shape substantially equal to the test signal Sri, and the test signal Sax in the non-resonance mode is also the test signal Sai. The non-resonant waveform has a substantially equal shape.

更に、コネクタ部34の接続端子36において接触不良が発生した場合、共振モード及び非共振モードの何れにおいても試験信号Sri及び試験信号Saiに対応した試験信号Srx及び試験信号Saxは得られず、又、振動素子32に不良がある場合、試験信号Srx及び試験信号Saxの波形形態は不良の状態に依存する。   Further, when a contact failure occurs in the connection terminal 36 of the connector unit 34, the test signal Srx and the test signal Sax corresponding to the test signal Sri and the test signal Sai cannot be obtained in either the resonance mode or the non-resonance mode. When the vibration element 32 has a defect, the waveform forms of the test signal Srx and the test signal Sax depend on the defect state.

そして、上述のように超音波プローブ3の不良箇所によって異なる特徴を有する共振モードの試験信号Srx−1乃至Srx−N及び非共振モードの試験信号Sax−1乃至Sax−Nの供給を受けた試験信号分析部5の特性値計測部52は、これら試験信号の振幅を特性値として計測し、不良有無判定部55は、得られた特性値と平均特性値あるいは正常特性値の上限値及び下限値とを比較することにより超音波プローブ3に対する不良有無の判定や不良箇所の特定を行なう。   And the test which received supply of the test signals Srx-1 thru | or Srx-N of the resonance mode and the non-resonance mode test signals Sax-1 thru | or Sax-N which have the characteristic which changes with the defect location of the ultrasonic probe 3 as mentioned above. The characteristic value measurement unit 52 of the signal analysis unit 5 measures the amplitude of these test signals as characteristic values, and the defect presence / absence determination unit 55 determines the obtained characteristic value and the average characteristic value or the upper limit value and lower limit value of the normal characteristic value. To determine whether or not there is a defect with respect to the ultrasonic probe 3 and to identify a defective portion.

(超音波プローブの試験手順)
次に、本実施例における超音波プローブの試験手順につき図8のフローチャートを用いて説明する。
(Ultrasonic probe test procedure)
Next, the test procedure of the ultrasonic probe in the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.

超音波プローブ3の試験に際し、超音波診断装置100の操作者は、入力部7においてプローブ試験モードを選択する(図8のステップS1)。この選択信号を受信したシステム制御部8は、送信部21の送信遅延回路212−1乃至212−N及び駆動回路213−1乃至213−Nを制御してレートパルス発生器211から供給されるレートパルスに対し所定の試験用遅延時間を与え、このレートパルスの遅延時間に基づき共振モードにおける第1の試験信号Sri(試験信号Sri−1乃至Sri−N)を時間間隔Δτで順次生成する。そして、生成された第1の試験信号Sriは、超音波プローブ3のコネクタ部34における接続端子36−1乃至36−Nの各々に供給される(図8のステップS2)。   When testing the ultrasonic probe 3, the operator of the ultrasonic diagnostic apparatus 100 selects a probe test mode at the input unit 7 (step S1 in FIG. 8). The system control unit 8 that has received this selection signal controls the transmission delay circuits 212-1 to 212-N and the drive circuits 213-1 to 213-N of the transmission unit 21 and supplies the rate supplied from the rate pulse generator 211. A predetermined test delay time is given to the pulse, and first test signals Sri (test signals Sri-1 to Sri-N) in the resonance mode are sequentially generated at a time interval Δτ based on the delay time of the rate pulse. Then, the generated first test signal Sri is supplied to each of the connection terminals 36-1 to 36-N in the connector section 34 of the ultrasonic probe 3 (step S2 in FIG. 8).

一方、コネクタ部34に設けられた試験信号合成部37は、このとき共振用インダクタ35−1乃至35−Nの振動素子側端子にて形成される共振モードにおける第2の試験信号Srx(試験信号Srx−1乃至Srx−N)を合成用抵抗38−1乃至38−Nを用いて合成し1チャンネルの合成試験信号Sroを生成する(図8のステップS3)。   On the other hand, the test signal synthesizing unit 37 provided in the connector unit 34 receives the second test signal Srx (test signal) in the resonance mode formed at the vibration element side terminals of the resonance inductors 35-1 to 35-N at this time. Srx-1 to Srx-N) are synthesized using the synthesizing resistors 38-1 to 38-N to generate a one-channel synthesized test signal Sro (step S3 in FIG. 8).

そして、送受信部2の信号切り替え部23及び受信部22を介して上述の合成試験信号Sroを受信した試験信号分析部5の試験信号分離部51は、共振モードの合成試験信号Sroに対しΔτ間隔のゲート処理を行なって合成前の第2の試験信号Srxを再収集し(図8のステップS4)、特性値計測部52は、試験信号分離部51において得られた第2の試験信号Srxの振幅を特性値として計測する(図8のステップS5)。   Then, the test signal separation unit 51 of the test signal analysis unit 5 that has received the above-described synthesis test signal Sro via the signal switching unit 23 and the reception unit 22 of the transmission / reception unit 2 receives the Δτ interval with respect to the resonance mode synthesis test signal Sro. And the second test signal Srx before synthesis is recollected (step S4 in FIG. 8), and the characteristic value measurement unit 52 uses the second test signal Srx obtained in the test signal separation unit 51. The amplitude is measured as a characteristic value (step S5 in FIG. 8).

次に、平均特性値算出部54は、Nチャンネルからなる第2の試験信号(Srx試験信号Srx−1乃至Srx−N)における特性値を加算平均することによって平均特性値を算出し(図8のステップS6)、更に、この平均特性値と予め設定された特性値幅に基づいて共振モードにおける正常特性値の上限値及び下限値を設定する(図8のステップS7)。   Next, the average characteristic value calculation unit 54 calculates an average characteristic value by averaging the characteristic values in the second test signals (Srx test signals Srx-1 to Srx-N) composed of N channels (FIG. 8). Further, the upper limit value and the lower limit value of the normal characteristic value in the resonance mode are set based on the average characteristic value and the preset characteristic value width (step S7 in FIG. 8).

共振モードの第2の試験信号Srxに対する特性値の計測、平均特性値の算出、正常特性値の上限値及び下限値の設定が終了したならば、システム制御部8は、上述の各ユニットを再度制御して非共振モードの第2の試験信号Sax(試験信号Sax−1乃至Sax−N)に対する特性値の計測、平均特性値の算出、正常特性値の上限値及び下限値の設定を行なう((図8のステップS2乃至S7)。   When the measurement of the characteristic value for the second test signal Srx in the resonance mode, the calculation of the average characteristic value, and the setting of the upper limit value and the lower limit value of the normal characteristic value are completed, the system control unit 8 restarts each unit described above. Control to measure characteristic values for the second test signal Sax (test signals Sax-1 to Sax-N) in the non-resonant mode, calculate an average characteristic value, and set an upper limit value and a lower limit value of normal characteristic values ( (Steps S2 to S7 in FIG. 8).

次いで、不良有無判定部55は、共振モードの第2の試験信号Srx及び非共振モードの第2の試験信号Saxにおいて計測された特性値の各々と共振モード及び非共振モードの平均特性値あるいは正常特性値に対する上限値及び下限値とを比較することにより超音波プローブ3に対する不良有無の判定や不良箇所の特定を行なう(図8のステップS8)。   Next, the defect presence / absence determination unit 55 determines each of the characteristic values measured in the second test signal Srx in the resonance mode and the second test signal Sax in the non-resonance mode and the average characteristic value of the resonance mode and the non-resonance mode, or normal. By comparing the upper limit value and the lower limit value with respect to the characteristic value, the presence / absence of a defect in the ultrasonic probe 3 and the identification of the defective portion are performed (step S8 in FIG. 8).

そして、表示部6の表示データ生成部61は、試験信号分析部5から供給される分析結果(即ち、共振モードの第2の試験信号及び非共振モードの第2の試験信号における特性値の計測結果、不良有無の判定結果、不良箇所の特定結果等)に基づいてプローブ試験用の表示データを所定の表示フォーマットで生成する。そして、データ変換部62は、前記表示データに対してD/A変換と表示フォーマット変換を行なって映像信号を生成しモニタ63に表示する(図8のステップS9)。   Then, the display data generation unit 61 of the display unit 6 measures the analysis values supplied from the test signal analysis unit 5 (that is, the characteristic values in the second test signal in the resonance mode and the second test signal in the non-resonance mode). Display data for the probe test is generated in a predetermined display format based on the result, the determination result of the presence / absence of the defect, the identification result of the defective portion, and the like. Then, the data converter 62 performs D / A conversion and display format conversion on the display data to generate a video signal and display it on the monitor 63 (step S9 in FIG. 8).

以上述べた本発明の実施例によれば、複雑な構成を有した試験専用ユニットを用いることなく超音波プローブに対する不良有無の判定や不良箇所の特定を容易かつ正確に行なうことが可能となる。このため、超音波プローブの試験に要する時間が短縮され、試験担当者の負担が大幅に軽減される。   According to the embodiment of the present invention described above, it is possible to easily and accurately determine the presence / absence of a defect in the ultrasonic probe and identify the defect location without using a test-dedicated unit having a complicated configuration. For this reason, the time required for testing the ultrasonic probe is shortened, and the burden on the person in charge of the test is greatly reduced.

特に、超音波プローブに供給されたNチャンネルの試験信号は、前記超音波プローブのコネクタ部に設けられた試験信号合成部により合成されて診断装置本体の試験信号分析部へ供給されるため、超音波プローブと診断装置本体を接続する多チャンネルの信号線や入出力端子の新たな増設を必要としない。   Particularly, since the N-channel test signal supplied to the ultrasonic probe is synthesized by the test signal synthesis unit provided in the connector part of the ultrasonic probe and supplied to the test signal analysis unit of the diagnostic apparatus body, There is no need to add new multi-channel signal lines or input / output terminals to connect the acoustic probe and the diagnostic device.

又、上述の実施例では、超音波プローブの各チャンネルに供給した試験信号の特性値に基づいて不良有無の判定や不良箇所の特定を行なっているため、従来のような試験用反射体や超音波伝搬媒質等の試験用治具を必要としない。従って、病院等の施設においても超音波プローブの試験を容易に行なうことができる。   In the above-described embodiment, the presence / absence of a defect and the identification of a defective portion are performed based on the characteristic value of the test signal supplied to each channel of the ultrasonic probe. There is no need for a test jig such as a sound propagation medium. Therefore, the ultrasonic probe can be easily tested in facilities such as hospitals.

更に、共振モードの試験信号と非共振モードの試験信号を用いることにより、振動素子の不良、プローブケーブルの断線及びコネクタ部の接触不良等を正確に特定することが可能となる。   Further, by using the resonance mode test signal and the non-resonance mode test signal, it is possible to accurately identify the defect of the vibration element, the disconnection of the probe cable, the contact failure of the connector portion, and the like.

以上、本発明の実施例について述べてきたが、本発明は上述の実施例に限定されるものではなく、変形して実施することが可能である。例えば、上述の実施例における試験信号分析部5は、超音波プローブ3の各チャンネルから得られる試験信号の振幅値を特性値として計測する場合について述べたが、前記試験信号の実効値や周波数特性値等の他の特性値を計測してもよい。   As mentioned above, although the Example of this invention has been described, this invention is not limited to the above-mentioned Example, It can change and implement. For example, although the test signal analysis unit 5 in the above-described embodiment has described the case where the amplitude value of the test signal obtained from each channel of the ultrasonic probe 3 is measured as the characteristic value, the effective value and frequency characteristic of the test signal are described. Other characteristic values such as values may be measured.

又、超音波プローブ3から得られた試験信号の特性値と平均特性値あるいはこの平均特性値に基づく正常特性値の上限値及び下限値との比較によって不良有無の判定や不良箇所の特定を行なう場合について述べたが、前記試験信号の特性値と予め設定された標準特性値、標準上限値、標準下限値等との比較により不良有無の判定や不良箇所の特定を行なってもよい。更に、上述の平均特性値の替わりに中央特性値(即ち、Nチャンネルの試験信号の各々から得られる特性値の中央値)を用いてもよい。   Further, the presence / absence of a defect and the identification of a defective portion are performed by comparing the characteristic value of the test signal obtained from the ultrasonic probe 3 with an average characteristic value or an upper limit value and a lower limit value of a normal characteristic value based on the average characteristic value. As described above, the presence / absence of a defect or the identification of a defective part may be determined by comparing the characteristic value of the test signal with a preset standard characteristic value, standard upper limit value, standard lower limit value, or the like. Furthermore, a median characteristic value (that is, a median value of characteristic values obtained from each of the N-channel test signals) may be used instead of the above average characteristic value.

一方、上述の実施例では、合成用抵抗38−1乃至38−Nを用いた試験信号合成部37について示したが、これに限定されるものではなく、増幅機能を有した通常の加算器であっても構わない。又、Bモード画像データを生成する画像データ生成部4について述べたが、画像データ生成部4は、カラードプラ画像データ等の他の画像データを生成してもよい。   On the other hand, in the above-described embodiment, the test signal synthesis unit 37 using the synthesis resistors 38-1 to 38-N is shown. However, the test signal synthesis unit 37 is not limited to this and is a normal adder having an amplification function. It does not matter. Further, although the image data generation unit 4 that generates B-mode image data has been described, the image data generation unit 4 may generate other image data such as color Doppler image data.

尚、上述の実施例ではセクタ走査用の超音波プローブ3を用いた場合について述べたが、リニア走査やコンベックス走査等の他の走査に対応した超音波プローブに対しても同様の試験を行なうことが可能である。   In the above-described embodiment, the case where the ultrasonic probe 3 for sector scanning is used has been described. However, the same test should be performed for an ultrasonic probe corresponding to other scanning such as linear scanning or convex scanning. Is possible.

本発明の実施例における超音波診断装置の全体構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing the overall configuration of an ultrasonic diagnostic apparatus according to an embodiment of the present invention. 同実施例の診断装置本体に接続された超音波プローブと前記診断装置本体が備えた送受信部及び画像データ生成部の具体的な構成を示すブロック図。The block diagram which shows the specific structure of the ultrasonic probe connected to the diagnostic apparatus main body of the Example, the transmission / reception part with which the said diagnostic apparatus main body was provided, and the image data generation part. 同実施例の送信部から超音波プローブの各チャンネルに対して出力される試験信号(第1の試験信号)を示す図。The figure which shows the test signal (1st test signal) output with respect to each channel of an ultrasonic probe from the transmission part of the Example. 同実施例の試験信号合成部において生成される合成試験信号を示す図。The figure which shows the synthetic | combination test signal produced | generated in the test signal synthetic | combination part of the Example. 同実施例における試験信号分析部の具体的な構成を示すブロック図。The block diagram which shows the specific structure of the test signal analysis part in the Example. 同実施例における超音波プローブの不良箇所を説明するための図。The figure for demonstrating the defective location of the ultrasonic probe in the Example. 同実施例の超音波プローブから得られる試験信号(第2の試験信号)の波形形態を不良箇所に対応させて一覧表示した図。The figure which displayed as a list the waveform form of the test signal (2nd test signal) obtained from the ultrasonic probe of the Example corresponding to the defective part. 同実施例における超音波プローブの試験手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the test procedure of the ultrasonic probe in the Example.

符号の説明Explanation of symbols

1…診断装置本体
2…送受信部
21…送信部
211…レートパルス発生器
212−1乃至212−N…送信遅延回路
213−1乃至213−n…駆動回路
22…受信部
221−1乃至221−N…A/D変換器
222−1乃至222−N…受信遅延回路
223…加算器
3…超音波プローブ
31…ヘッド部
32−1乃至32−N…振動素子
33−1乃至33−N…プローブケーブル
34…コネクタ部
35−1乃至35−N…共振用インダクタ
36−1乃至36−N…接続端子
37…試験信号合成部
38−1乃至38−N…合成用抵抗
4…画像データ生成部
41…包絡線検波器
42…対数変換器
43…超音波データ記憶部
5…試験信号分析部
51…試験信号分離部
52…特性値計測部
53…測定データ記憶部
54…平均特性値算出部
55…不良有無判定部
6…表示部
61…表示データ生成部
62…データ変換部
63…モニタ
7…入力部
8…システム制御部
100…超音波診断装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Diagnostic apparatus main body 2 ... Transmission / reception part 21 ... Transmission part 211 ... Rate pulse generator 212-1 thru | or 212-N ... Transmission delay circuit 213-1 thru | or 213-n ... Drive circuit 22 ... Reception part 221-1 thru | or 221- N: A / D converters 222-1 to 222-N: reception delay circuit 223 ... adder 3 ... ultrasonic probe 31 ... head portion 32-1 to 32-N ... vibration element 33-1 to 33-N ... probe Cable 34... Connector section 35-1 to 35 -N Resonance inductor 36-1 to 36 -N Connection terminal 37 Test signal combining section 38-1 to 38 -N Synthesis resistor 4 Image data generating section 41 ... envelope detector 42 ... logarithmic converter 43 ... ultrasonic data storage unit 5 ... test signal analysis unit 51 ... test signal separation unit 52 ... characteristic value measurement unit 53 ... measurement data storage unit 54 ... average characteristic value calculation unit 55 ... Defective Determination unit 6 ... display 61 ... display data generation unit 62 ... data conversion unit 63 ... monitor 7 ... input section 8 ... system control unit 100 ... ultrasonic diagnostic apparatus

Claims (13)

超音波プローブのヘッド部に配列された複数の振動素子を駆動し、前記振動素子から得られた複数チャンネルの受信信号に基づいて画像データを生成する超音波診断装置において、
所定の振幅、パルス幅及び中心周波数を有する第1の試験信号を前記複数の振動素子を有した前記超音波プローブの各チャンネルに供給する送信手段と、
前記第1の試験信号に基づき前記超音波プローブの各チャンネルにて形成される第2の試験信号の特性値を計測する特性値計測手段と、
計測された前記特性値に基づいて前記超音波プローブの各チャンネルにおける不良有無の判定及び不良箇所の特定の少なくとも何れかを行なう不良有無判定手段とを
備えたことを特徴とする超音波診断装置。
In an ultrasonic diagnostic apparatus that drives a plurality of vibration elements arranged in a head portion of an ultrasonic probe and generates image data based on reception signals of a plurality of channels obtained from the vibration elements.
Transmitting means for supplying a first test signal having a predetermined amplitude, pulse width, and center frequency to each channel of the ultrasonic probe having the plurality of vibration elements;
Characteristic value measuring means for measuring a characteristic value of a second test signal formed in each channel of the ultrasonic probe based on the first test signal;
An ultrasound diagnostic apparatus, comprising: a defect presence / absence determination unit that performs at least one of determination of presence / absence of a defect in each channel of the ultrasonic probe and identification of a defect location based on the measured characteristic value.
前記送信手段は、前記振動素子の共振帯域に含まれる周波数を中心周波数とする共振モードの試験信号及び前記共振帯域に含まれない周波数を中心周波数とする非共振モードの試験信号の少なくとも何れかを前記第1の試験信号として前記超音波プローブの各チャンネルに供給することを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   The transmitting means receives at least one of a resonance mode test signal having a frequency included in the resonance band of the vibration element as a center frequency and a non-resonance mode test signal having a frequency not included in the resonance band as a center frequency. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the first test signal is supplied to each channel of the ultrasonic probe. 試験信号合成手段を備え、前記試験信号合成手段は、前記送信手段から前記超音波プローブの各チャンネルに対し所定時間間隔で順次供給される前記第1の試験信号に基づき前記超音波プローブの各チャンネルにて形成される前記第2の試験信号を合成して合成試験信号を生成し、前記特性値計測手段は、前記合成試験信号を構成する前記第2の試験信号の各々における前記特性値を計測することを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   A test signal synthesizing unit, wherein the test signal synthesizing unit is configured to provide each channel of the ultrasonic probe based on the first test signal sequentially supplied from the transmitting unit to each channel of the ultrasonic probe at predetermined time intervals. The second test signal formed in step (b) is combined to generate a combined test signal, and the characteristic value measuring unit measures the characteristic value in each of the second test signals constituting the combined test signal. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein: 試験信号分離手段を備え、前記特性値計測手段は、前記試験信号分離手段が前記合成試験信号に対するゲート処理によって分離した前記第2の試験信号の各々における前記特性値を計測することを特徴とする請求項3記載の超音波診断装置。   Test signal separating means is provided, wherein the characteristic value measuring means measures the characteristic value in each of the second test signals separated by the test signal separating means by gating the synthesized test signal. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 3. 前記試験信号合成手段は前記超音波プローブに設けられ、前記試験信号分離手段は前記超音波プローブが接続された診断装置本体に設けられていることを特徴とする請求項4記載の超音波診断装置。   5. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 4, wherein the test signal synthesizing unit is provided in the ultrasonic probe, and the test signal separating unit is provided in a diagnostic apparatus main body to which the ultrasonic probe is connected. . 前記特性値計測手段は、前記第2の試験信号における振幅値、実効値及び周波数特性値の少なくとも何れかを計測することを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the characteristic value measuring unit measures at least one of an amplitude value, an effective value, and a frequency characteristic value in the second test signal. 前記不良有無判定手段は、前記超音波プローブの所定チャンネルから得られた前記第2の試験信号の特性値と予め設定された標準特性値あるいは正常特性値の範囲を示す標準上限値及び標準下限値とを比較することにより前記所定チャンネルにおける不良有無の判定及び不良箇所の特定の少なくとも何れかを行なうことを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   The defect presence / absence determining means includes a characteristic value of the second test signal obtained from a predetermined channel of the ultrasonic probe and a standard upper limit value and a standard lower limit value indicating a preset standard characteristic value or normal characteristic value range. 2. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein at least one of determination of presence / absence of a defect in the predetermined channel and identification of a defective portion is performed by comparing with the above. 前記超音波プローブの各チャンネルから得られた前記第2の試験信号に対する平均特性値あるいは中央特性値を算出する平均特性値算出手段を備え、前記不良有無判定手段は、前記超音波プローブの所定チャンネルから得られた前記第2の試験信号の特性値と前記平均特性値あるいは前記中央特性値とを比較することにより前記所定チャンネルにおける不良有無の判定及び不良箇所の特定の少なくとも何れかを行なうことを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   Average characteristic value calculating means for calculating an average characteristic value or a central characteristic value for the second test signal obtained from each channel of the ultrasonic probe is provided, and the defect presence / absence determining means is a predetermined channel of the ultrasonic probe. Comparing the characteristic value of the second test signal obtained from the above and the average characteristic value or the central characteristic value to determine whether or not there is a defect in the predetermined channel and to specify a defective part. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1. 前記超音波プローブの各チャンネルから得られた前記第2の試験信号に対する平均特性値あるいは中央特性値の算出と、前記平均特性値あるいは前記中央特性値に基づく正常特性値の上限値及び下限値の設定を行なう平均特性値算出手段を備え、前記不良有無判定手段は、前記超音波プローブの所定チャンネルから得られる前記第2の試験信号の特性値と前記正常特性値の上限値及び下限値とを比較することにより前記所定チャンネルにおける不良有無の判定及び不良箇所の特定の少なくとも何れかを行なうことを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   Calculation of an average characteristic value or a central characteristic value for the second test signal obtained from each channel of the ultrasonic probe, and an upper limit value and a lower limit value of normal characteristic values based on the average characteristic value or the central characteristic value Average characteristic value calculating means for performing setting, wherein the defect presence / absence determining means includes a characteristic value of the second test signal obtained from a predetermined channel of the ultrasonic probe, and an upper limit value and a lower limit value of the normal characteristic value. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein at least one of determination of presence / absence of a defect in the predetermined channel and identification of a defective portion are performed by comparing. 前記超音波プローブは、この超音波プローブと診断装置本体とを接続する複数チャンネルの接続端子を有したコネクタ部と、前記接続端子と前記振動素子とを接続する複数チャンネルのプローブケーブルを備え、前記不良有無判定手段は、前記超音波プローブの所定チャンネルから得られる前記第2の試験信号の特性値に基づいて前記所定チャンネルにおける前記振動素子の不良、前記プローブケーブルの断線及び前記コネクタにおける前記接続端子の接触不良の少なくとも何れかの判定を行なうことを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   The ultrasonic probe includes a connector portion having a plurality of channel connection terminals for connecting the ultrasonic probe and the diagnostic apparatus body, and a plurality of channel probe cables for connecting the connection terminals and the vibration element, Defect presence / absence determining means includes: a defect of the vibration element in the predetermined channel based on a characteristic value of the second test signal obtained from the predetermined channel of the ultrasonic probe; disconnection of the probe cable; and the connection terminal of the connector The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein at least one of the contact failures is determined. 表示手段を備え、前記表示手段は、前記超音波プローブの各チャンネルにおける前記第2の試験信号の特性値、前記不良有無の判定結果及び前記不良箇所の特定結果の少なくとも何れかを表示することを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   Display means, wherein the display means displays at least one of a characteristic value of the second test signal in each channel of the ultrasonic probe, a determination result of the presence / absence of the defect, and a determination result of the defective portion. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1. 前記超音波プローブは、前記ヘッド部において1次元あるいは2次元に配列された前記複数の振動素子を有することを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。   The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the ultrasonic probe includes the plurality of vibration elements arranged one-dimensionally or two-dimensionally in the head unit. 前記試験信号合成手段において生成された合成試験信号は、前記複数チャンネルの受信信号に対して整相加算処理を行なうために前記診断装置本体に設けられた受信手段を介して前記試験信号分配手段に供給されることを特徴とする請求項5記載の超音波診断装置。   The synthesized test signal generated by the test signal synthesizing means is sent to the test signal distributing means via the receiving means provided in the diagnostic apparatus body in order to perform phasing addition processing on the received signals of the plurality of channels. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 5, wherein the ultrasonic diagnostic apparatus is supplied.
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