JP2008286541A - Apparatus and system for inspecting cable end cores - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線の良否を検査する装置および方法に関し、より詳しくは、検査する電線の種類や寸法および形状のばらつき、加工条件および検査条件の変動に追従して判定基準を自動的にかつ適切に変更できるように改良する技術に関する。 The present invention relates to an apparatus and method for inspecting the quality of a core wire exposed by removing an insulation coating from an end portion of an electric wire, and more specifically, variations in types, dimensions, and shapes of electric wires to be inspected, processing conditions, and inspection conditions. The present invention relates to a technique for improving so that a criterion can be automatically and appropriately changed following a change.
従来、電線端末部の絶縁被覆を除去して芯線を露出させるとともにこの芯線に端子を圧着する電線端末処理装置が広く用いられているが、この装置には、絶縁被覆を除去して芯線を露出させる作業が良好に行われたかどうかを検査する装置が並設されている(例えば、下記特許文献1を参照)。
Conventionally, an electric wire terminal processing device that removes the insulation coating from the electric wire terminal portion to expose the core wire and crimps the terminal to the core wire has been widely used. However, this device removes the insulation coating and exposes the core wire. An apparatus for inspecting whether or not the work to be performed has been performed well is provided side by side (for example, see
この特許文献1に記載されている「電線端部の皮剥加工検査装置」の構造について図6を参照しつつ概説すると、この装置は、電線1の端末部の絶縁被覆を除去して芯線2を露出させる作業が良好に行われたかどうかを検査するために、発光器3から受光器4に向かってレーザ光を照射する。
そして、図6中の矢印方向に平行移動する電線1の芯線2がこのレーザ光の光路を横切ると、受光器4の受光面5に設けられているスリット6に入射するレーザ光の受光量が減少し、受光器4から出力される検出電圧が変化する。
The structure of the “wire stripping inspection apparatus” described in
Then, when the
図7は、スリット6に入射した受光量の変化に伴う検出電圧の時間的な変化を示しており、領域1は芯線2がレーザ光の光路を横切る前の状態、領域2は芯線2がレーザ光の光路を横切り始めた状態、領域3は芯線2がレーザ光の光路を横切っている最中の状態にそれぞれ対応している。
そして、図6に示した装置は、領域3における検出電圧VDが第1基準値VHと第2基準値VLとの間にある状態が所定時間続いた場合に、電線1の絶縁被覆を除去して芯線2を露出させる作業が良好に行われたと判定する。
FIG. 7 shows a temporal change in the detection voltage accompanying a change in the amount of received light incident on the
The device shown in FIG. 6 removes the insulation coating of the
ところで、図6に示した検査装置において第1基準値VHおよび第2基準値VLを設定する際には、まず良品サンプルの芯線2をこの検査装置に通し、得られた検出電圧VDに対して一定の数値を加算して第1基準値VHとし、かつ一定の数値を減じて第2基準値VLとしている。
そして、検査する電線1の種類や寸法を変更する毎に、第1基準値VHおよび第2基準値VLを設定し、これを判定基準記憶部に記憶している。
By the way, when setting the first reference value VH and the second reference value VL in the inspection apparatus shown in FIG. 6, first, the
And whenever it changes the kind and dimension of the
しかしながら、電線1の芯線2の形状や寸法は、電線1そのものが有しているばらつき、電線1を送給するローラの負荷圧、電線1の曲がり癖をとるためのローラの負荷圧、さらには絶縁被覆を除去するブレードの切れ味等によって変動することが知られている。
また、検査する電線1を検査装置に通すための搬送装置の速度は、エアーシリンダ等を駆動源とした場合に変動することがある。
さらに、検査装置に用いる光学センサの発光器3や受光器4に埃が付着すると、受光レベルが変動することになる。
However, the shape and dimensions of the
Further, the speed of the conveying device for passing the
Furthermore, when dust adheres to the
これにより、電線1の種類や寸法が同じであっても、検査する日が違ったり、電線1の加工条件が変わったりすると、判定基準記憶部に記憶されている判定基準が不適切なものとなる。
そのため、判定基準を補正したり新たに設定し直したりする必要があり、検査の信頼度が不安定となる側面を持っていた。
Thereby, even if the types and dimensions of the
For this reason, it is necessary to correct the determination criteria or to newly set it, and the reliability of the inspection becomes unstable.
そこで本発明の目的は、上述した従来技術が有する問題点を解消し、検査する電線の種類や寸法および形状のばらつき、加工条件および検査条件の変動に追従して判定基準を自動的にかつ適切に変更できるように改良された電線端末部の芯線検査装置および芯線検査方法を提供することにある。 Therefore, the object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and automatically and appropriately determine the determination criteria following the variation in the type, size and shape of the electric wire to be inspected, the variation of the processing condition and the inspection condition. It is providing the core wire test | inspection apparatus and core wire test | inspection method of the electric wire terminal part improved so that it could change into.
上記の課題を解決する本発明は、電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線の良否を検査する装置であって、
前記芯線の外径に対応する特性値を計測する手段と
計測した複数の芯線の特性値に基づいてこれらの特性値の移動平均値を算出する手段と、
予め設定されている複数の許容幅のうちのいずれかを選択する手段と、
選択された許容幅と前記移動平均値とに基づいて前記特性値の許容上限値および許容下限値を演算して記憶する手段と、
新たに計測した芯線の前記特性値と前記許容上限値および前記許容下限値とに基づいてこの芯線の良否を判定する手段と、を備えることを特徴としている。
The present invention for solving the above problems is an apparatus for inspecting the quality of the core wire exposed by removing the insulation coating of the electric wire terminal portion,
Means for measuring a characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire; means for calculating a moving average value of these characteristic values based on the measured characteristic values of the plurality of core wires;
Means for selecting any of a plurality of preset allowable widths;
Means for calculating and storing an allowable upper limit value and an allowable lower limit value of the characteristic value based on the selected allowable width and the moving average value;
Means for determining the quality of the core wire based on the characteristic value of the newly measured core wire, the allowable upper limit value, and the allowable lower limit value.
また、上記の課題を解決する本発明は、電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線の良否を検査する方法であって、
複数の芯線の外径に対応する特性値を計測するとともに、
計測された複数の特性値に基づいてこれらの特性値の移動平均値を算出し、
予め設定されている複数の許容幅のうち選択された許容幅と前記移動平均値とに基づいて前記特性値の許容上限値および許容下限値を演算して記憶し、
新たに計測した芯線の前記特性値と、記憶されている前記許容上限値および前記許容下限値とに基づいて、この芯線の良否を判定することを特徴としている。
Further, the present invention for solving the above problems is a method for inspecting the quality of the core wire exposed by removing the insulation coating of the electric wire terminal portion,
While measuring the characteristic value corresponding to the outer diameter of multiple core wires,
Calculate the moving average value of these characteristic values based on the measured multiple characteristic values,
Calculate and store the allowable upper limit value and the allowable lower limit value of the characteristic value based on the allowable width selected from the plurality of preset allowable widths and the moving average value,
The quality of the core wire is determined based on the characteristic value of the newly measured core wire and the stored allowable upper limit value and the allowable lower limit value.
なお、前記新たに計測した芯線の良否の判定に用いる前記前記許容上限値および前記許容下限値は、この芯線の直前に計測した所定本数の芯線に関する前記特性値の平均値(移動平均値と言う)に基づいて演算することができる。 The allowable upper limit value and the allowable lower limit value used for determining the quality of the newly measured core wire are average values (referred to as moving average values) of the characteristic values of a predetermined number of core wires measured immediately before the core wire. ).
また、前記芯線の外径に対応する特性値を計測する手段は、
搬送されて移動する芯線が横切ることによって遮られる光軸を照射する手段と、
前記光軸が前記芯線によって遮られた時間を計測する手段と、を有することができる。
この場合、前記芯線の外径に対応する特性値は「時間」となるが、光軸が芯線によって遮られている間にカウントされた所定周期のクロックパルスの数を用いることもできる。
Further, the means for measuring the characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire,
Means for irradiating an optical axis that is interrupted by the traversed core wire being transported;
Means for measuring a time when the optical axis is interrupted by the core wire.
In this case, the characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire is “time”, but the number of clock pulses of a predetermined period counted while the optical axis is blocked by the core wire can also be used.
すなわち、本発明の芯線検査装置および芯線検査方法は、芯線良否の判定基準である許容上限値および許容下限値を種々の条件の変動に追従しながら自動的に設定し直すものであり、判定基準を固定している従来技術とは全く異なっている。
そのため、本発明においては、新たに計測する芯線の良否を判定する際に、この芯線の直前に計測した所定本数の芯線の外径に対応する特性値の移動平均値を算出するとともに、この移動平均値に許容幅を組み合わせることにより、判定基準である許容上限値および許容下限値を新たに設定する。
なお、この移動平均値に組み合わせる許容幅は、検査する電線の種類や寸法あるいは検査条件に応じて検査員が最適なものを選択する。
そして、芯線を1本計測するたびに更新される許容上限値および許容下限値と、新たに計測した芯線の特性値とに基づいて、この芯線の良否を判定する。
したがって、本発明の芯線検査装置および芯線検査方法によれば、芯線の種類や形状および寸法のばらつき、加工条件および検査条件の変動に追従して判定基準を自動的にかつ適切に設定し直すことができるから、芯線の良否を確実に判定し続けることができる。
That is, the core wire inspection device and the core wire inspection method of the present invention automatically reset the allowable upper limit value and the allowable lower limit value, which are determination criteria for the core wire quality, while following variations in various conditions. It is completely different from the conventional technology that fixes the
Therefore, in the present invention, when determining the quality of the core wire to be newly measured, the moving average value of the characteristic value corresponding to the outer diameter of the predetermined number of core wires measured immediately before this core wire is calculated, and this movement By combining the allowable range with the average value, an allowable upper limit value and an allowable lower limit value, which are determination criteria, are newly set.
The allowable width combined with the moving average value is selected by the inspector according to the type and size of the electric wire to be inspected or the inspection conditions.
And the quality of this core wire is determined based on the allowable upper limit value and the allowable lower limit value that are updated each time one core wire is measured, and the newly measured characteristic value of the core wire.
Therefore, according to the core wire inspection apparatus and the core wire inspection method of the present invention, it is possible to automatically and appropriately reset the determination reference following the variation in the type, shape and dimensions of the core wire, and variations in the processing conditions and inspection conditions. Therefore, the quality of the core wire can be reliably determined.
なお、前記複数の許容幅は、それぞれ大きさが異なる所定値とすることができる。
このとき、前記許容上限値は、選択された許容幅に対応する所定値を前記移動平均値に加算したものとすることができる。
同様に、前記許容下限値は、選択された許容幅に対応する所定値を前記移動平均値から減算したものとすることができる。
The plurality of permissible widths may be predetermined values having different sizes.
At this time, the allowable upper limit value may be obtained by adding a predetermined value corresponding to the selected allowable width to the moving average value.
Similarly, the allowable lower limit value may be obtained by subtracting a predetermined value corresponding to the selected allowable range from the moving average value.
また、前記複数の許容幅は、それぞれ大きさが異なる所定比とすることができる。
このとき、前記許容上限値は、選択された許容幅に対応する所定比を前記移動平均値に乗算して得た値を前記移動平均値に加算したものとすることができる。
同様に、前記許容下限値は、選択された許容幅に対応する所定比を前記移動平均値に乗算して得た値を前記移動平均値から減算したものとすることができる。
The plurality of permissible widths may have a predetermined ratio with different sizes.
At this time, the allowable upper limit value may be obtained by adding a value obtained by multiplying the moving average value by a predetermined ratio corresponding to the selected allowable width to the moving average value.
Similarly, the allowable lower limit value may be a value obtained by multiplying the moving average value by a predetermined ratio corresponding to the selected allowable width and subtracting the moving average value from the moving average value.
さらに、判定基準の設定に用いる芯線の特性値の計測および平均値の算出は、実際の検査作業を開始する前に予め行っておくこともできるし、実際の検査作業と同時に行うこともできる。
具体的には、ある芯線の良否を判定するための判定基準は、この芯線の直前に計測した複数の芯線について得た特性値の移動平均値に基づいて設定することができる。
Furthermore, the measurement of the characteristic value of the core wire used for setting the determination criterion and the calculation of the average value can be performed in advance before the actual inspection work is started, or can be performed simultaneously with the actual inspection work.
Specifically, a determination criterion for determining whether or not a certain core wire is good can be set based on a moving average value of characteristic values obtained for a plurality of core wires measured immediately before this core wire.
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、検査する電線の種類や寸法および形状のばらつき、加工条件および検査条件の変動に追従して、判定基準を自動的にかつ適切に変更できるように改良された電線端末部の芯線検査装置および芯線検査方法を提供することができる。 As is clear from the above description, according to the present invention, the determination criterion can be automatically and appropriately changed following the variation in the type, size, and shape of the electric wire to be inspected, the variation in the processing condition and the inspection condition. Thus, it is possible to provide a core wire inspection device and a core wire inspection method for an electric wire terminal portion improved as described above.
以下、図1乃至図5を参照し、本発明に係る電線端末部の芯線検査装置および芯線検査方法の一実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, with reference to FIG. 1 thru | or FIG. 5, one Embodiment of the core wire test | inspection apparatus and core wire test | inspection method of the electric wire terminal part which concerns on this invention is described in detail.
まず最初に図1を参照し、本実施形態の電線端末部の芯線検査装置の全体構造について説明すると、この芯線検査装置100は、芯線2の外径に対応する特性値を計測する手段20、計測した複数の芯線2の特性値の移動平均値を算出する手段30、予め設定されている複数の許容幅のうちのいずれかを選択する手段40、選択された許容幅と移動平均値とに基づいて判定基準(許容上限値/許容下限値)を演算して記憶する手段50、新たに計測した芯線2の外径に対応する特性値と記憶されている判定基準(許容上限値/許容下限値)とに基づいてこの芯線2の良否を判定する手段60、およびこれらの各手段の作動を制御する図示されない制御手段とを備えている。
First, referring to FIG. 1, the overall structure of the core wire inspection device of the electric wire terminal portion of the present embodiment will be described. The core
芯線2の外径に対応する特性値を計測する手段20は、図示されない発光ダイオードとフォトトランジスタを内蔵したセンサアンプ及びセンサアンプから出力される検出信号を内部のクロックパルスを使ってカウントしデジタル値に変換するマイクロプロセッサを内蔵する制御回路21を有している。
そして、この制御回路21から延びる一方の光ファイバ22が芯線2に向かって光軸23を照射するとともに、他方の光ファイバ24が光軸23を受光する構造となっている。
A
One
図示されない搬送装置によって電線1が搬送されると、その芯線2は図2中に矢印で示したように移動して光軸23を垂直に横切る。
このとき、図2(a)に示したように芯線2が光軸23を横切る前の状態では、受光側の光ファイバ24に入射する光軸23の光量は例えばAという数値で表すことができる。
これに対し、図2(c)に示したように芯線2が光軸23を完全に遮っている状態では、受光側の光ファイバ24に入射する光軸23の光量を表す数値はゼロである。
When the
At this time, as shown in FIG. 2A, in the state before the
On the other hand, as shown in FIG. 2C, in the state where the
一方、図2(b)に示したように芯線2が光軸23を半分だけ遮ったことにより、受光側の光ファイバ24に入射する光軸23の光量を表す数値が前述した光量Aの例えば半分になると、制御回路21の中のセンサーアンプは光軸23が芯線2によって遮られたとみなしてセンサアンプ検出信号はオフになり、それをきっかけに制御回路21はクロックパルス数のカウントを開始する。
他方、図2(d)に示したように、芯線2が光軸23を半分だけ遮った状態から光軸23を通過し終える状態へと次第に進み、受光側の光ファイバ24に入射する光軸23の光量を示す数値が前述した光量Aの例えば半分を上回ると、制御回路21内のセンサアンプの検出信号はオンになり、それをきっかけに制御回路21はクロックパルス数のカウントを停止する。
そして、制御回路21は、1本の芯線2を計測する毎に、クロックパルス数のカウント値を特性値(デジタル値)として内部のメモリに記憶して保持する。
なお、クロックパルスのカウントを開始しかつ停止するときの光量のしきい値は、光量値Aの50%には限定されず、必要に応じて変更することができる。
On the other hand, as shown in FIG. 2B, since the
On the other hand, as shown in FIG. 2D, the optical axis gradually advances from the state in which the
The
Note that the light intensity threshold when the clock pulse count is started and stopped is not limited to 50% of the light intensity value A, and can be changed as necessary.
移動平均値算出手段30は、制御手段の指令により計測手段20内の制御回路21内にあるメモリに常に最新の例えば20本の芯線2に関するクロックパルス数(デジタル値)を取り出し、その移動平均値(av)を算出する。
The moving average value calculating means 30 always takes out the latest number of clock pulses (digital value) related to, for example, 20
許容幅選択手段40は、図3に模式的に示したように、例えば1〜15の判定レベル毎にそれぞれ異なる許容幅(tl)をそれぞれ記憶しているとともに、検査員の操作によっていずれかの判定レベルを選択できるようになっている。
許容幅(tl)は、判定レベル毎に異なるクロックパルスカウント値(デジタル値)であり、例えば判定レベル1から判定レベル15に向けて順次増加したクロックパルスカウント値(デジタル値)を固定値として設定してメモリに保持しておく。
As schematically shown in FIG. 3, the allowable width selecting means 40 stores different allowable widths (tl) for each of the determination levels of 1 to 15, for example, and any one of them by the operation of the inspector Judgment level can be selected.
The allowable width (tl) is a clock pulse count value (digital value) that differs for each determination level. For example, a clock pulse count value (digital value) that sequentially increases from
判定基準演算記憶手段50は、平均値算出手段30によって算出された移動平均値(av)と許容幅選択手段40において選択された許容幅(tl)に基づいて、芯線2の良否を判定するための判定基準である許容上限値/許容下限値を演算して記憶する。
許容上限値/許容下限値は、図3に模式的に示したように、芯線2の外径に対応する特性値の移動平均値(av)に対し、選択された判定レベルにおける許容幅(tl)を加算/減算することによって定まる。具体的には下記のとおりである。
許容上限値=移動平均値(av)+許容幅(tl)
許容下限値=移動平均値(av)−許容幅(tl)
The determination criterion calculation storage means 50 determines whether the
As shown schematically in FIG. 3, the allowable upper limit value / allowable lower limit value is the allowable width (tl) at the selected determination level with respect to the moving average value (av) of the characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire 2. ) Is added / subtracted. Specifically, it is as follows.
Allowable upper limit value = moving average value (av) + allowable width (tl)
Allowable lower limit value = moving average value (av) −allowable width (tl)
芯線良否判定手段60は、新たに計測した芯線2のクロックパルスカウント値が、許容上限値および許容下限値によって定められる判定基準の内側に入っている場合に合格信号を出力し、判定基準から外れている場合に不合格信号を出力する。
The core wire pass / fail judgment means 60 outputs a pass signal when the newly measured clock pulse count value of the
次に図4および図5に示したフローチャートを参照し、上述した検査装置100を用いて芯線2を検査する手順について説明する。
Next, a procedure for inspecting the
図4に示したように、端末処理する電線1の種類や寸法を変更したときには、ステップ1(S1と表す、以下同様)において電線端末処理装置の加工条件の設定および調整を行った後、S2以降において検査装置100に判定基準を設定するティーチングを行う。
As shown in FIG. 4, when the type and dimensions of the
このティーチングでは、端末処理する電線の種類や寸法に適した判定レベルを検査員がS3において選択するとともに、S4において良品サンプルの1本目の芯線2に関する特性値(クロックパルスカウント値)を計測して記憶する。
そして、S5においては、S3で選択した判定レベルに対応する許容幅とS4で計測した芯線2の特性値とに基づいて許容上限値/許容下限値を演算し、仮の判定基準を設定してメモリーに記憶する。
In this teaching, the inspector selects a determination level suitable for the type and size of the electric wire to be processed in S3, and in S4, the characteristic value (clock pulse count value) related to the
In S5, an allowable upper limit value / allowable lower limit value is calculated based on the allowable width corresponding to the determination level selected in S3 and the characteristic value of the
S6においては、良品サンプルの2本目の芯線2に関する特性値を計測して記憶するとともに、この記憶した特性値とS5において設定した仮の判定基準とに基づいて、この2本目の芯線2が判定基準の内側に入っているか否かを判定する。
判定結果がYESの場合にはS7に進み、メモリーに記憶されている1本目の特性値および2本目の特性値の平均値(avt)を算出するとともに、この平均値(avt)とS3において選択された判定レベルに対応する許容幅とに基づいて判定基準を演算し、更新された判定基準として記憶する。
判定結果がNOの場合にはS3に戻り、適切な判定レベルを選択し直した後、S4以下の作業を再開する。
In S6, the characteristic value related to the
If the determination result is YES, the process proceeds to S7, where the average value (avt) of the first characteristic value and the second characteristic value stored in the memory is calculated, and this average value (avt) and the selection in S3 A determination criterion is calculated based on the allowable width corresponding to the determined determination level, and stored as an updated determination criterion.
If the determination result is NO, the process returns to S3, and after reselecting an appropriate determination level, the operations after S4 are resumed.
S7以降においては、3本目、4本目、5本目...の順に全く同様の手順を繰り返し、芯線2の計測、良否判定、判定基準の演算/更新の作業を行う。
次いで、S8およびS9において、所定の本数である良品サンプルのn本目の芯線2についての計測、良否判定、判定基準の演算/更新をそれぞれ行った後、この更新された判定基準を記憶して保持する。
そして、S10においてティーチングを終了し、多量の電線を処理する本生産に移行する。
上述の本数nはティーチングの本数とし、通常本生産の良否判定に用いる移動平均(avm)の母数以下に設定をする。
After S7, the third, fourth, fifth. . . The same procedure is repeated in this order, and the operations of
Next, in S8 and S9, measurement, pass / fail determination, and calculation / update of determination criteria for the n-
And teaching is complete | finished in S10 and it transfers to the main production which processes a lot of electric wires.
The above-mentioned number n is the number of teachings and is set to be equal to or less than the parameter of the moving average (avm) that is normally used for the quality determination of the main production.
次に図5を参照し、本生産において芯線2を検査する手順について説明する。
Next, a procedure for inspecting the
図5中のS21において本生産を開始した時点では、S22に示したようにティーチングにおいてメモリに記憶した判定基準を利用する。
その後、S23において本生産の最初の1本目の芯線2に関する特性値(クロックパルスカウント値)を計測してメモリーに記憶するとともに、この計測した特性値とティーチングにおいてメモリに記憶している判定基準とに基づいて、この1本目の芯線2が判定基準の内側に入っているか否かを判定する。
判定結果がYESの場合にはS24に進み、メモリーに記憶されているこの1本目の芯線2の特性値とティーチングにおいて記憶した特性値とを含めた過去X本の芯線2について記憶されている特性値に基づいて、新しい移動平均値(av)を算出するとともに、この移動平均値(av)とS3において選択された判定レベルに対応する許容幅とに基づいて判定基準を演算し、更新された判定基準として記憶する。
When the main production is started in S21 in FIG. 5, the judgment criteria stored in the memory are used in teaching as shown in S22.
Thereafter, in S23, the characteristic value (clock pulse count value) relating to the
If the determination result is YES, the process proceeds to S24, and the characteristics stored for the past
そして、S24において算出した新しい移動平均値(av)が予め定められている許容範囲の内側にあるか否かを確認した後、S25に進んで所定の本数の芯線2について検査したか否かを判定する。
この判定結果がNOの場合には、S23に戻って次の芯線2について特性値の計測、良否判定、新しい移動平均値の算出、判定基準の演算および更新を繰り返す。
これに対して、判定結果がYESの場合にはS26に進み、本生産を終了する。
Then, after confirming whether or not the new moving average value (av) calculated in S24 is within a predetermined allowable range, the process proceeds to S25 to determine whether or not a predetermined number of
If the determination result is NO, the process returns to S23 and the measurement of the characteristic value, the pass / fail determination, the calculation of the new moving average value, the calculation of the determination criterion, and the update are repeated for the
On the other hand, if the determination result is YES, the process proceeds to S26 and the production is finished.
一方、S23における判定結果がNOであり、新たに計測した芯線2の良否が不合格の場合には、S27に進んで本生産を一時停止する。
そして、S28に進んで不良と判定された芯線2(電線1)をこの検査装置100から取り除くとともに、この芯線2について計測した特性値をS29においてメモリーから消去する。
すなわち、不良と判定された芯線2について計測した特性値は、判定基準の更新に際して算出する移動平均値の基礎データとして用いないのである。
次いで、S30に進んで判定レベルを点検し、必要が有れば判定レベルを更新する。
なお、S30において判定レベルを更新した場合、S24における判定基準の演算には更新した判定レベルに対応する許容幅を用いる。
On the other hand, if the determination result in S23 is NO and the newly measured quality of the
In S28, the core wire 2 (electric wire 1) determined to be defective is removed from the
That is, the characteristic value measured for the
Next, the process proceeds to S30 to check the determination level, and if necessary, the determination level is updated.
When the determination level is updated in S30, the allowable range corresponding to the updated determination level is used for the calculation of the determination criterion in S24.
以上、本発明に係る電線端末部の芯線検査装置および芯線検査装置の一実施形態ついて詳しく説明したが、本発明は上述した実施形態によって限定されるものではなく、種々の変更が可能であることは言うまでもない。
例えば、上述した実施形態においては、芯線2の外径に対応する特性値として、芯線2が光軸23を遮っている間にカウントされたクロックパルスの数を用いているが、芯線2が光軸23を遮っている時間そのものの値、あるいは芯線2の外径寸法そのものを用いることもできる。
また、S24において算出した新しい移動平均値(av)の値が予め定められている所定の範囲から外れていた場合には、本生産を一時的に中断して電線1の端末処理装置を点検/調整した後、再びティーチング作業を行うことができる。
As mentioned above, although one Embodiment of the core wire test | inspection apparatus and core wire test | inspection apparatus of the electric wire terminal part which concerns on this invention was described in detail, this invention is not limited by embodiment mentioned above, A various change is possible. Needless to say.
For example, in the above-described embodiment, the number of clock pulses counted while the
If the new moving average value (av) calculated in S24 is out of the predetermined range, the production is temporarily interrupted and the terminal processing device for the
1 電線
2 芯線
3 投光器
4 受光器
20 計測手段
21 センサーアンプ
22 投光側の光ファイバ
23 光軸
24 受光側の光ファイバ
30 平均値算出手段
40 許容幅選択手段
50 判定基準演算記憶手段
60 芯線良否判定手段
100 一実施形態の芯線検査装置
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記芯線の外径に対応する特性値を計測する手段と
計測した複数の芯線の特性値に基づいてこれらの特性値の平均値を算出する手段と、
予め設定されている複数の許容幅のうちのいずれかを選択する手段と、
選択された許容幅と前記平均値とに基づいて前記特性値の許容上限値および許容下限値を演算して記憶する手段と、
新たに計測した芯線の前記特性値と前記許容上限値および前記許容下限値とに基づいてこの芯線の良否を判定する手段と、
を備えることを特徴とする電線端末部の芯線検査装置。 An apparatus for inspecting the quality of the core wire exposed by removing the insulation coating of the wire terminal portion,
Means for measuring a characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire; means for calculating an average value of these characteristic values based on the measured characteristic values of the plurality of core wires;
Means for selecting any of a plurality of preset allowable widths;
Means for calculating and storing an allowable upper limit value and an allowable lower limit value of the characteristic value based on the selected allowable width and the average value;
Means for determining the quality of the core wire based on the characteristic value of the newly measured core wire and the allowable upper limit value and the allowable lower limit value;
An apparatus for inspecting a core wire of an electric wire terminal portion, comprising:
搬送されて移動する芯線が横切ることによって遮られる光軸を照射する手段と、
前記光軸が前記芯線によって遮られた時間を計測する手段と、
を有していることを特徴とする請求項1または2に記載した電線端末部の芯線検査装置。 Means for measuring the characteristic value corresponding to the outer diameter of the core wire,
Means for irradiating an optical axis that is interrupted by the traversed core wire being transported;
Means for measuring a time when the optical axis is interrupted by the core wire;
The core wire inspection device for an electric wire terminal portion according to claim 1 or 2, characterized by comprising:
前記許容上限値は、選択された許容幅に対応する所定値を前記平均値に加算したものであり、
前記許容下限値は、選択された許容幅に対応する所定値を前記平均値から減算したものである、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載した電線端末部の芯線検査装置。 The plurality of permissible widths are predetermined values having different sizes,
The allowable upper limit value is obtained by adding a predetermined value corresponding to the selected allowable width to the average value,
The said allowable lower limit value is a value obtained by subtracting a predetermined value corresponding to the selected allowable width from the average value, and the core wire inspection device for a wire terminal part according to any one of claims 1 to 3 .
前記許容上限値は、選択された許容幅に対応する所定比を前記平均値に乗算して得た値を前記平均値に加算したものであり、
前記許容下限値は、選択された許容幅に対応する所定比を前記平均値に乗算して得た値を前記平均値から減算したものである、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載した電線端末部の芯線検査装置。 The plurality of permissible widths are predetermined ratios having different sizes,
The allowable upper limit value is obtained by adding a value obtained by multiplying the average value by a predetermined ratio corresponding to the selected allowable range to the average value,
The allowable lower limit value is obtained by subtracting a value obtained by multiplying the average value by a predetermined ratio corresponding to the selected allowable range from the average value.
The core wire inspection device for an electric wire terminal portion according to any one of claims 1 to 3.
複数の芯線の外径に対応する特性値を計測するとともに、
計測された複数の特性値に基づいてこれらの特性値の平均値を算出し、
予め設定されている複数の許容幅のうち選択された許容幅と前記平均値とに基づいて前記特性値の許容上限値および許容下限値を演算して記憶し、
新たに計測した芯線の前記特性値と、記憶されている前記許容上限値および前記許容下限値とに基づいて、この芯線の良否を判定することを特徴とする電線端末部の芯線検査方法。 It is a method for inspecting the quality of the exposed core wire by removing the insulation coating of the wire terminal portion,
While measuring the characteristic value corresponding to the outer diameter of multiple core wires,
Calculate the average value of these characteristic values based on the measured multiple characteristic values,
Calculate and store the allowable upper limit value and the allowable lower limit value of the characteristic value based on the allowable width selected from a plurality of preset allowable widths and the average value,
A method for inspecting a wire end of an electric wire terminal section, comprising: determining whether the core wire is good or bad based on the newly measured characteristic value of the core wire and the stored allowable upper limit value and the allowable lower limit value.
Priority Applications (1)
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5085187B2 (en) |
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