JP2008281615A - Electro-optical device, method for manufacturing the same and electronic equipment - Google Patents

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Atsushi Kanda
敦之 神田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optical device capable of accurately determining a touching operation without complicating the device configuration, and to provide a method for manufacturing the device and electronic equipment. <P>SOLUTION: The liquid crystal display device 1 includes a photodetector 30 that receives ambient external light, wherein a through hole 51 accommodating the photodetector 30 is formed in a gate insulating film 33 and a first interlayer dielectric 34 formed on an element substrate 11, and at least the inner wall of the through hole 51 has light-shielding property. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置及びその製造方法、電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device, a manufacturing method thereof, and an electronic apparatus.

タッチパネルとは、パーソナルコンピュータ、携帯情報端末(PDA)等の電子機器における表示部(電気光学装置)の補助的な入力装置であり、パネル表面の所望の位置をオペレータがペンや指で触れることにより、電子機器が要求するデータの入力指示するものである。   A touch panel is an auxiliary input device for a display unit (electro-optical device) in an electronic device such as a personal computer or a personal digital assistant (PDA). The operator touches a desired position on the panel surface with a pen or a finger. This is an instruction to input data requested by the electronic device.

従来のタッチパネルの検出方式としては、例えば光学式のものが知られている。光検出方式のタッチパネルは接触対象物の陰影の絶対値を基準に接触の有無を判定していた。ところが、外光や表示パネル内部の迷光等がノイズとなり、正確なタッチ検出が出来ないという問題を有していた。   As a conventional touch panel detection method, for example, an optical type is known. The light detection type touch panel determines the presence or absence of contact based on the absolute value of the shadow of the contact object. However, external light, stray light inside the display panel, and the like become noise, and there is a problem that accurate touch detection cannot be performed.

そのため、受光素子とバックライトとの間に遮光層を設けることでバックライトからの光を遮断し、光検出の精度を上げる方法や、受光素子の上部にマイクロレンズを設けて集光し、感度を上げるといった対策が開示されている(特許文献1参照)。
特開2006−201221号公報
For this reason, a light blocking layer is provided between the light receiving element and the backlight to block the light from the backlight to increase the accuracy of light detection, or a microlens is provided on the upper part of the light receiving element to condense the light. Is disclosed (see Patent Document 1).
JP 2006-201221 A

特許文献1では、受光素子が、バックライトの光や受光素子の側方から入り込んだ光に対して誤動作を引き起こし、正確な接触判定を行うことができないという問題があった。   In Patent Document 1, there is a problem in that the light receiving element causes a malfunction with respect to light from the backlight or light entering from the side of the light receiving element, and accurate contact determination cannot be performed.

本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み成されたものであって、装置構成を複雑化することなく、正確なタッチ判定を行うことを可能とした電気光学装置及びその製造方法、電子機器を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art, and is an electro-optical device capable of performing accurate touch determination without complicating the device configuration, a manufacturing method thereof, and an electronic apparatus. The purpose is to provide.

本発明の電気光学装置は、上記課題を解決するために、周囲の外光を受光する受光素子を備えてなる電気光学装置であって、基板上に設けられる絶縁膜に受光素子を収容する孔が設けられ、孔の少なくとも内側壁が遮光性を有していることを特徴とする。   In order to solve the above problems, an electro-optical device of the present invention is an electro-optical device including a light-receiving element that receives ambient ambient light, and a hole that accommodates the light-receiving element in an insulating film provided on a substrate And at least the inner wall of the hole has a light shielding property.

本発明の電気光学装置によれば、少なくとも内側壁が遮光性を有した孔内に受光素子を備えることから、受光素子の側方から受光素子に入り込む迷光を遮光することができる。これにより、受光素子の誤作動が防止され、表示領域における正確な接触判定を行うことができる。   According to the electro-optical device of the present invention, since the light receiving element is provided in the hole having at least an inner wall having a light shielding property, stray light entering the light receiving element from the side of the light receiving element can be shielded. As a result, malfunction of the light receiving element is prevented, and accurate contact determination in the display area can be performed.

また、孔の内側壁がテーパ形状となっていることが好ましい。
このような構成によれば、例えば、孔の内側壁が反射性を有したものとすれば、集光効率が高まって受光素子への入射光量が増加する。これにより、受光素子による光検出精度が向上し、より正確なタッチ判定を行うことができる。
Moreover, it is preferable that the inner wall of the hole has a tapered shape.
According to such a configuration, for example, if the inner wall of the hole has reflectivity, the light collection efficiency increases and the amount of light incident on the light receiving element increases. Thereby, the light detection accuracy by the light receiving element is improved, and more accurate touch determination can be performed.

また、孔の内側壁に金属膜が設けられていることが好ましい。
このような構成によれば、例えば基板上の配線を利用して孔の内側壁に遮光性を付与することができる。さらに、金属膜を設けることにより、孔の内側壁に反射性を付与することができるので集光効率が向上する。
Moreover, it is preferable that the metal film is provided in the inner wall of the hole.
According to such a configuration, light shielding properties can be imparted to the inner wall of the hole using, for example, wiring on the substrate. Furthermore, by providing a metal film, it is possible to impart reflectivity to the inner wall of the hole, thereby improving the light collection efficiency.

また、孔の底部を含む内面に金属膜が設けられていることが好ましい。
このような構成によれば、バックライトからの光も遮光することができるので、受光素子の誤作動をより確実に防止することができる。これにより、受光素子の光検出精度を劣化させることなく、より正確な接触判定を行うことができる。
Moreover, it is preferable that the metal film is provided in the inner surface including the bottom part of a hole.
According to such a configuration, since light from the backlight can also be shielded, malfunction of the light receiving element can be prevented more reliably. Thereby, a more accurate contact determination can be performed without degrading the light detection accuracy of the light receiving element.

また、金属膜が受光素子の電極であることが好ましい。
このような構成によれば、受光素子の電極を利用して孔の内側壁に遮光性を付与することができるので、受光素子を駆動させると同時に迷光を遮断することができるようになる。これにより、新たな部材を設けることなく迷光対策を得ることができるので、コストが削減される。
Moreover, it is preferable that a metal film is an electrode of a light receiving element.
According to such a configuration, since the light shielding property can be imparted to the inner side wall of the hole by using the electrode of the light receiving element, the stray light can be blocked at the same time as the light receiving element is driven. Thereby, since a stray light countermeasure can be obtained without providing a new member, cost is reduced.

また、金属膜が、画素を駆動する駆動素子の電極と共通の材料を用いて形成されていることが好ましい。
このような構成によれば、画素を駆動する駆動素子の電極と同時に形成することができるので、製造効率が向上する。
In addition, the metal film is preferably formed using a material common to the electrode of the driving element that drives the pixel.
According to such a configuration, since it can be formed simultaneously with the electrode of the drive element that drives the pixel, the manufacturing efficiency is improved.

また、孔は、基板上に設けられる複数の絶縁膜を貫通して形成され、絶縁膜の下層であって孔と平面的に重なる領域にSi層が設けられていることが好ましい。
このような構成によれば、絶縁層をエッチングすることにより孔を形成する際、Si層がエッチストッパーとして機能する。これにより、所望とする形状の孔を得ることができる。
The hole is preferably formed through a plurality of insulating films provided on the substrate, and a Si layer is preferably provided in a region below the insulating film and overlapping the hole in a plane.
According to such a configuration, when the hole is formed by etching the insulating layer, the Si layer functions as an etch stopper. Thereby, a hole having a desired shape can be obtained.

また、Si層は、画素を駆動する駆動素子のSi層と同層又は共通の配線層と形成されていることが好ましい。
このような構成によれば、画素を駆動する駆動素子のSi層または共通の配線層と同時に形成することができるので、製造効率が向上する。
The Si layer is preferably formed in the same layer as the Si layer of the driving element for driving the pixel or a common wiring layer.
According to such a configuration, since it can be formed simultaneously with the Si layer or the common wiring layer of the driving element for driving the pixel, the manufacturing efficiency is improved.

また、受光素子がPINダイオードであることが好ましい。
このような構成によれば、受光素子の高速応答性を確保することでき、接触判定精度が向上する。
The light receiving element is preferably a PIN diode.
According to such a configuration, high-speed response of the light receiving element can be ensured, and contact determination accuracy is improved.

本発明の電気光学装置の製造方法は、周囲の外光を受光する受光素子を備えてなる電気光学装置の製造方法であって、基板上に絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜に、少なくとも内側壁が遮光性を有する孔を形成する工程と、孔内に受光素子を設ける工程と、を備えることを特徴とする。   An electro-optical device manufacturing method of the present invention is a method of manufacturing an electro-optical device including a light receiving element that receives ambient ambient light. The method includes: forming an insulating film on a substrate; and The method includes a step of forming a hole having a light shielding property on an inner side wall, and a step of providing a light receiving element in the hole.

本発明の電気光学装置の製造方法によれば、少なくとも内側壁が遮光性を有した孔内に受光素子を備えることから、受光素子の側方から受光素子に入り込む迷光を遮光することができる。これにより、受光素子の誤作動が防止され、表示領域における正確な接触判定を行うことができる。   According to the method for manufacturing the electro-optical device of the present invention, since the light receiving element is provided in the hole having at least an inner wall having a light shielding property, stray light entering the light receiving element from the side of the light receiving element can be shielded. As a result, malfunction of the light receiving element is prevented, and accurate contact determination in the display area can be performed.

また、孔をテーパ形状に形成することが好ましい。
このような製造方法によれば、集光効率が高まって受光素子への入射光量が増加する。これにより、受光素子による光検出精度が向上し、より正確なタッチ判定を行うことができる。
Moreover, it is preferable to form the hole in a tapered shape.
According to such a manufacturing method, the light collection efficiency is increased and the amount of light incident on the light receiving element is increased. Thereby, the light detection accuracy by the light receiving element is improved, and more accurate touch determination can be performed.

また、孔の少なくとも内側壁に金属膜を形成する工程を備えることが好ましい。
このような製造方法によれば、基板上の配線を利用して孔の内側壁に遮光性を付与することができる。よって、製造効率が向上するとともにコスト削減に繋がる。
Moreover, it is preferable to provide the process of forming a metal film in the at least inner wall of a hole.
According to such a manufacturing method, the light shielding property can be imparted to the inner wall of the hole using the wiring on the substrate. Therefore, the manufacturing efficiency is improved and the cost is reduced.

また、金属膜を、受光素子を駆動する駆動素子の電極を形成する工程と共通の工程で形成することが好ましい。
このような製造方法によれば、受光素子を駆動する駆動素子を形成すると同時に孔の内側壁に遮光性を付与することができる。よって、製造効率が向上するとともにコスト削減に繋がる。
Further, it is preferable that the metal film is formed in a step common to the step of forming the electrode of the driving element that drives the light receiving element.
According to such a manufacturing method, a light-shielding property can be imparted to the inner wall of the hole at the same time as the drive element for driving the light-receiving element is formed. Therefore, the manufacturing efficiency is improved and the cost is reduced.

また、前記絶縁膜の下層であって前記孔と平面的に重なる領域に、Si層を形成する工程を備えることが好ましい。
このような製造方法によれば、絶縁層をエッチングすることにより孔を形成する際、Si層がエッチストッパーとして機能する。これにより、所望とする形状の孔を得ることができる。
In addition, it is preferable to include a step of forming a Si layer in a region which is a lower layer of the insulating film and overlaps the hole in a plane.
According to such a manufacturing method, when the hole is formed by etching the insulating layer, the Si layer functions as an etch stopper. Thereby, a hole having a desired shape can be obtained.

本発明の電子機器は、先に記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする。
本発明の電子機器によれば、装置構成を複雑化することなく、正確なタッチ判定を行うことを可能とした上記電気光学装置を備えているので、信頼性が向上し、高性能な製品となる。
An electronic apparatus according to an aspect of the invention includes the electro-optical device described above.
According to the electronic apparatus of the present invention, since the electro-optical device that enables accurate touch determination without complicating the device configuration is provided, the reliability is improved and the high-performance product is provided. Become.

以下、本発明における電気光学装置の第1の実施形態を、図面に基づいて説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能な大きさとするために縮尺を適宜変更している。   Hereinafter, a first embodiment of an electro-optical device according to the invention will be described with reference to the drawings. In each drawing used in the following description, the scale is appropriately changed to make each member a recognizable size.

[第1の実施形態]
本発明の電気光学装置の一実施形態として、液晶表示装置の例を挙げて説明する。本実施形態の液晶表示装置は、アクティブマトリクス方式の液晶パネルであって、素子基板と対向基板との間に液晶層を挟持したものである。透過型の液晶装置として構成され、素子基板側に配置されたバックライト(図示略)からの光を変調し、対向基板側から画像光として射出するようになっている。
[First Embodiment]
As an embodiment of the electro-optical device of the present invention, a liquid crystal display device will be described as an example. The liquid crystal display device of the present embodiment is an active matrix type liquid crystal panel, in which a liquid crystal layer is sandwiched between an element substrate and a counter substrate. It is configured as a transmissive liquid crystal device, and modulates light from a backlight (not shown) disposed on the element substrate side and emits it as image light from the counter substrate side.

〔液晶表示装置〕
本実施形態における液晶表示装置(電気光学装置)1の概略構成について説明する。
図1(a)は液晶表示装置を示す等価回路図であって、図1(b)は1画素内における表示用の画素の等価回路図、図1(c)は1画素内における光検出用の画素の等価回路図である。
液晶表示装置1は、図1(a)に示すように、画像表示領域10a内に複数の画素100cがマトリックス状に配置されている。各画素100cは、光検出用の画素100aと、表示用の画素100bとによって構成され、互いに交差する方向に延びた表示用データ線6aと表示用走査線3aとの交点に配置されている。表示用データ線6aは表示用データ線駆動回路103に接続され、表示用走査線3aは表示用走査線駆動回路104に接続されている。本実施形態においては、表示用データ線6aに並行して光検出用データ線7aが延在し、表示用走査線3aに並行して光検出用走査線8aが延在している。光検出用走査線8aは光検出用走査線駆動回路102に接続され、光検出用データ線7aは光検出用データ線駆動回路101に接続されている。
[Liquid Crystal Display]
A schematic configuration of the liquid crystal display device (electro-optical device) 1 in the present embodiment will be described.
FIG. 1A is an equivalent circuit diagram showing a liquid crystal display device, FIG. 1B is an equivalent circuit diagram of a display pixel in one pixel, and FIG. 1C is a light detection in one pixel. It is an equivalent circuit diagram of the pixel.
As shown in FIG. 1A, the liquid crystal display device 1 has a plurality of pixels 100c arranged in a matrix in an image display region 10a. Each pixel 100c is composed of a light detection pixel 100a and a display pixel 100b, and is arranged at an intersection of a display data line 6a and a display scanning line 3a extending in a direction crossing each other. The display data line 6 a is connected to the display data line drive circuit 103, and the display scan line 3 a is connected to the display scan line drive circuit 104. In the present embodiment, the light detection data line 7a extends in parallel with the display data line 6a, and the light detection scanning line 8a extends in parallel with the display scanning line 3a. The light detection scanning line 8 a is connected to the light detection scanning line drive circuit 102, and the light detection data line 7 a is connected to the light detection data line drive circuit 101.

表示用の画素100bには、図1(a),(b)に示すように、それぞれ画素電極9と、画素電極9をスイッチング制御するためのTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)素子(駆動素子)22が設けられている。TFT素子22は、ソースが表示用データ線6aに接続され、ゲートが表示用走査線3aに接続され、ドレインが画素電極9に接続されている。上述したように、表示用データ線6aは、表示用データ線駆動回路103から供給される画像信号S1、S2、…、Snを各表示用の画素100bに供給する構成となっている。また、表示用走査線3aは、表示用走査線駆動回路104から供給される走査信号G1、G2、…、Gnを各画素100aに供給する構成となっている。ここで、表示用データ線駆動回路103は、画像信号S1〜Snをこの順に線順次で供給してもよく、互いに隣接する複数の表示用データ線6a同士に対してグループごとに供給してもよい。また、表示用走査線駆動回路104は、走査信号G1〜Gnを所定のタイミングでパルス的に線順次で供給する。   As shown in FIGS. 1A and 1B, the display pixel 100b includes a pixel electrode 9 and a TFT (Thin Film Transistor) element (driving element) for switching control of the pixel electrode 9, respectively. 22 is provided. The TFT element 22 has a source connected to the display data line 6 a, a gate connected to the display scanning line 3 a, and a drain connected to the pixel electrode 9. As described above, the display data line 6a is configured to supply the image signals S1, S2,..., Sn supplied from the display data line driving circuit 103 to each display pixel 100b. The display scanning line 3a is configured to supply the scanning signals G1, G2,..., Gn supplied from the display scanning line driving circuit 104 to each pixel 100a. Here, the display data line driving circuit 103 may supply the image signals S1 to Sn line-sequentially in this order, or may supply the display data lines 6a adjacent to each other for each group. Good. The display scanning line driving circuit 104 supplies the scanning signals G1 to Gn in a pulse-sequential manner at predetermined timing.

また、光検出用の画素100aには、図1(a),(c)に示すように、光検出用データ線7aと光検出用走査線8aとの間にPIN型のフォトダイオードからなる受光素子30が接続されている。さらに、複数の画素100aの各々には、光検出用走査線8aにゲートが接続されたトランジスタ40が形成されており、このトランジスタ40のソース電極は光検出用データ線7aに接続し、ドレイン電極46は受光素子30に接続されている。   Further, in the light detection pixel 100a, as shown in FIGS. 1A and 1C, a light reception made of a PIN type photodiode is provided between the light detection data line 7a and the light detection scanning line 8a. The element 30 is connected. Further, each of the plurality of pixels 100a is formed with a transistor 40 having a gate connected to the light detection scanning line 8a. The source electrode of the transistor 40 is connected to the light detection data line 7a and the drain electrode. 46 is connected to the light receiving element 30.

液晶表示装置1は、図1(a),(b)に示すように、スイッチング素子であるTFT素子22が走査信号G1〜Gnの入力により一定期間だけオン状態とされることで、表示用データ線6aから供給される画像信号S1〜Snが所定のタイミングで画素電極9に書き込まれる構成となっている。そして、画素電極9を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1〜Snは、画素電極9と液晶層13を介して対向配置された後述する共通電極75との間で一定期間保持される。ここで、保持された画像信号S1〜Snがリークすることを防止するため、画素電極9と共通電極75との間に形成される液晶容量と並列接続されるように蓄積容量25が付与されている。この蓄積容量25は、TFT素子22のドレインと容量線3bとの間に設けられている。   As shown in FIGS. 1A and 1B, the liquid crystal display device 1 is configured to display data by turning on a TFT element 22 as a switching element for a certain period by input of scanning signals G1 to Gn. The image signals S1 to Sn supplied from the line 6a are written to the pixel electrode 9 at a predetermined timing. Then, image signals S1 to Sn of a predetermined level written in the liquid crystal through the pixel electrode 9 are held for a certain period between the pixel electrode 9 and a common electrode 75 (described later) disposed to face each other through the liquid crystal layer 13. The Here, in order to prevent the held image signals S1 to Sn from leaking, the storage capacitor 25 is provided so as to be connected in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9 and the common electrode 75. Yes. The storage capacitor 25 is provided between the drain of the TFT element 22 and the capacitor line 3b.

また、本実施形態では、図1(a),(c)に示すように、受光素子30の各々が逆バイアスを印加された状態で光強度の変化を読み取り、光強度に応じた光電流を流す構成になっている。また、光検出用走査線8aの各々によって、複数の画素100a内に形成されているトランジスタ40を順次オンさせれば、光検出用データ線7aの各々に、上記光電流に応じた検出信号が順次出力されることになる。なお、受光素子30には、該受光素子30を駆動する走査駆動回路(不図示)が設けられており、選択トランジスタ40のオン/オフを切り替えることで走査し、これによって各受光素子30に対応する位置の光強度を検出することができる。   In the present embodiment, as shown in FIGS. 1A and 1C, the change in light intensity is read in a state where each of the light receiving elements 30 is applied with a reverse bias, and a photocurrent corresponding to the light intensity is obtained. It is configured to flow. Further, if the transistors 40 formed in the plurality of pixels 100a are sequentially turned on by each of the photodetection scanning lines 8a, a detection signal corresponding to the photocurrent is supplied to each of the photodetection data lines 7a. It will be output sequentially. The light receiving element 30 is provided with a scanning drive circuit (not shown) for driving the light receiving element 30, and scanning is performed by switching on / off the selection transistor 40, thereby corresponding to each light receiving element 30. The light intensity at the position to be detected can be detected.

本実施形態の液晶表示装置1は、画素100cに設けられた受光素子30の検出結果に基づいて、画像表示領域10aがタッチされたか否かを判定するタッチパネル構造を備えたものとなっており、画像表示領域10aに表示したアイコンにユーザの指先がタッチされたか否かを検出することで液晶表示装置1を駆動する際に要求されるデータの入力を直接行うことが可能となっている。   The liquid crystal display device 1 of the present embodiment includes a touch panel structure that determines whether or not the image display region 10a is touched based on the detection result of the light receiving element 30 provided in the pixel 100c. By detecting whether or not the user's fingertip is touched on the icon displayed in the image display area 10a, it is possible to directly input data required when the liquid crystal display device 1 is driven.

(液晶表示装置の詳細な構成)
以下、液晶表示装置の詳細な構成について、図1および図2を参照して説明する。
図2は、液晶装置の1画素分の具体的な構成例を示す断面図である。
素子基板11は、図2に示すように、例えばガラスや石英、プラスチックなどの透光性材料で構成された基板本体31と、基板本体31の内側(液晶層13側)の表面に順次積層された下地保護膜32、ゲート絶縁膜33、第1層間絶縁膜34、第2層間絶縁膜35、第3層間絶縁膜36及び配向膜37を備えている。
(Detailed configuration of liquid crystal display device)
Hereinafter, a detailed configuration of the liquid crystal display device will be described with reference to FIGS.
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a specific configuration example of one pixel of the liquid crystal device.
As shown in FIG. 2, the element substrate 11 is sequentially stacked on a substrate body 31 made of a translucent material such as glass, quartz, and plastic, and on the inner surface (the liquid crystal layer 13 side) of the substrate body 31. The base protective film 32, the gate insulating film 33, the first interlayer insulating film 34, the second interlayer insulating film 35, the third interlayer insulating film 36, and the alignment film 37 are provided.

素子基板11上には、図1(a),図2に示すように、複数の画素100cの縦横の境界領域に沿って、表示用走査線3aと表示用データ線6aとが形成されている。また、表示用走査線3aと並列に光検出用走査線8aが形成され、表示用データ線6aと並列に光検出用データ線7aが形成されている。   As shown in FIGS. 1A and 2, display scanning lines 3 a and display data lines 6 a are formed on the element substrate 11 along the vertical and horizontal boundary regions of the plurality of pixels 100 c. . Further, a light detection scanning line 8a is formed in parallel with the display scanning line 3a, and a light detection data line 7a is formed in parallel with the display data line 6a.

表示用画素100b内には、下地保護膜32の内側の表面に配置された半導体層41と、ゲート絶縁膜33の内側の表面に配置された表示用走査線3aと、第1層間絶縁膜34の内側の表面に配置された表示用データ線6a及びドレイン電極42と、第2層間絶縁膜35の内側の表面に配置された画素電極9とが備えられている。   In the display pixel 100 b, the semiconductor layer 41 disposed on the inner surface of the base protective film 32, the display scanning line 3 a disposed on the inner surface of the gate insulating film 33, and the first interlayer insulating film 34. The display data line 6a and the drain electrode 42 disposed on the inner surface of the second interlayer insulating film 35, and the pixel electrode 9 disposed on the inner surface of the second interlayer insulating film 35 are provided.

光検出用の画素100a内には、下地保護膜32の内側の表面に配置された半導体層45と、ゲート絶縁膜33の内側の表面に配置された光検出用走査線8aと、第1層間絶縁膜34の内側の表面に配置された光検出用データ線7a及びドレイン電極46と、第2層間絶縁膜35の内側の表面に配置された定電位線48が備えられている。   Within the light detection pixel 100a, the semiconductor layer 45 disposed on the inner surface of the base protective film 32, the light detection scanning line 8a disposed on the inner surface of the gate insulating film 33, and the first interlayer Photodetection data lines 7 a and drain electrodes 46 disposed on the inner surface of the insulating film 34, and constant potential lines 48 disposed on the inner surface of the second interlayer insulating film 35 are provided.

下地保護膜32は、例えばSiO(酸化シリコン)などの透光性のシリコン酸化物からなる複数の層から構成されており、基板本体31の内側の表面を被覆している。なお、下地保護膜32は、SiOに限らず、SiOx(シリコン酸化物)やSiN(窒化シリコン)、SiON(酸窒化シリコン)、セラミックス薄膜などの絶縁材料で構成されてもよい。
ゲート絶縁膜33は、例えばSiOなどの透光性材料で構成されており、下地保護膜32上に形成された半導体層41、45を覆うように設けられている。
The base protective film 32 is composed of a plurality of layers made of translucent silicon oxide such as SiO 2 (silicon oxide), for example, and covers the inner surface of the substrate body 31. The base protective film 32 is not limited to SiO 2 but may be made of an insulating material such as SiOx (silicon oxide), SiN (silicon nitride), SiON (silicon oxynitride), or a ceramic thin film.
The gate insulating film 33 is made of a light-transmitting material such as SiO 2, and is provided so as to cover the semiconductor layers 41 and 45 formed on the base protective film 32.

半導体層41,45には、TFT素子22及びトランジスタ40がLDD(Lightly Doped Drain)構造を採用していることから、ソース領域及びドレイン領域に不純物濃度が相対的に高い高濃度領域と相対的に低い低濃度(LDD)領域とがそれぞれ形成されている。すなわち、半導体層41,45には、ソース領域に低濃度ソース領域41b,45b及び高濃度ソース領域41c,45cが形成され、ドレイン領域に低濃度ドレイン領域41d,45d及び高濃度ドレイン領域41e,45eが形成されている。これら低濃度ソース領域41b、高濃度ソース領域41c、低濃度ドレイン領域41d及び高濃度ドレイン領域41eは、ポリシリコンに不純物イオンを打ち込むことによって形成されている。なお、チャネル領域41aは、ポリシリコンに不純物イオンを打ち込まないことによって形成される。   Since the TFT element 22 and the transistor 40 employ an LDD (Lightly Doped Drain) structure in the semiconductor layers 41 and 45, the source and drain regions are relatively high in the impurity region with a relatively high impurity concentration. A low concentration (LDD) region is formed. That is, in the semiconductor layers 41 and 45, low concentration source regions 41b and 45b and high concentration source regions 41c and 45c are formed in the source region, and low concentration drain regions 41d and 45d and high concentration drain regions 41e and 45e are formed in the drain region. Is formed. These low-concentration source region 41b, high-concentration source region 41c, low-concentration drain region 41d and high-concentration drain region 41e are formed by implanting impurity ions into polysilicon. The channel region 41a is formed by not implanting impurity ions into polysilicon.

半導体層41には、ゲート絶縁膜33を介して表示用走査線3aの一部がゲート電極として対向している。半導体層41において、ゲート電極と対向する領域にチャネル領域が形成され、その両側にソース領域及びドレイン領域が形成されている。
一方、半導体層45には、ゲート絶縁膜33を介して光検出用走査線8aの一部がゲート電極として対向している。半導体層45において、ゲート電極と対向する領域にチャネル領域が形成され、その両側にソース領域及びドレイン領域が形成されている。
A part of the display scanning line 3 a is opposed to the semiconductor layer 41 as a gate electrode through the gate insulating film 33. In the semiconductor layer 41, a channel region is formed in a region facing the gate electrode, and a source region and a drain region are formed on both sides thereof.
On the other hand, a part of the light detection scanning line 8 a is opposed to the semiconductor layer 45 as a gate electrode through the gate insulating film 33. In the semiconductor layer 45, a channel region is formed in a region facing the gate electrode, and a source region and a drain region are formed on both sides thereof.

第1層間絶縁膜34は、例えばSiOなどの透光性材料で構成されており、ゲート絶縁膜33と、ゲート絶縁膜33上に形成された表示用走査線3aと光検出用走査線8aとを覆うように設けられている。表示用走査線3a及び光検出用走査線8aは、Alなどの金属材料からなり、同時形成された導電膜からなる。 The first interlayer insulating film 34 is made of a translucent material such as SiO 2 , for example, and includes a gate insulating film 33, a display scanning line 3 a and a light detection scanning line 8 a formed on the gate insulating film 33. And so as to cover. The display scanning line 3a and the light detection scanning line 8a are made of a metal material such as Al, and are formed of a conductive film formed simultaneously.

ここで、光検出用画素領域(画素100a)において、ゲート絶縁膜33及び第1層間絶縁膜34にはこれらを貫通する貫通孔51が形成されている。この貫通孔51は、基板本体31側から後述の対向基板12側に向かって漸次広がりをなすテーパ形状とされており、後述する受光素子30を収容するため受光素子30よりも大きい孔径となっている。基板面に対する貫通孔51(内側壁)のテーパ角度θは、45°〜90°の範囲内であることが好ましい。そして、この貫通孔51の内面に沿って、第1層間絶縁膜34上に形成されたドレイン電極46の延設部分からなる接続電極46A(金属膜)によって、受光素子30とトランジスタ40とを接続する第1のコンタクトホールH1が構成されている。これにより、第1のコンタクトホールH1の内面が遮光性を付与したものとなり、受光素子に入射する迷光(受光素子の側方から入射してくる光)を遮光可能になる。   Here, in the photodetection pixel region (pixel 100a), the gate insulating film 33 and the first interlayer insulating film 34 are formed with through holes 51 penetrating them. The through hole 51 has a tapered shape that gradually expands from the substrate body 31 side toward the counter substrate 12 described later, and has a larger hole diameter than the light receiving element 30 in order to accommodate the light receiving element 30 described later. Yes. The taper angle θ of the through hole 51 (inner wall) with respect to the substrate surface is preferably in the range of 45 ° to 90 °. Then, the light receiving element 30 and the transistor 40 are connected by a connection electrode 46A (metal film) formed of an extended portion of the drain electrode 46 formed on the first interlayer insulating film 34 along the inner surface of the through hole 51. A first contact hole H1 is formed. As a result, the inner surface of the first contact hole H1 has a light shielding property, and stray light incident on the light receiving element (light entering from the side of the light receiving element) can be blocked.

第1のコンタクトホールH1内に収容される受光素子30は、基板本体31側から、N型半導体層55、真性半導体層56、P型半導体層57がこの順に積層されたPINフォトダイオードから構成されている。この受光素子30は、接続電極46Aを介してトランジスタ40のドレイン電極46に電気的に接続されており、検出した環境光の強度情報を出力するようになっている。
ここで、受光素子30の1/2以上がコンタクトホールH1内に納められていればよい。
The light receiving element 30 accommodated in the first contact hole H1 includes a PIN photodiode in which an N-type semiconductor layer 55, an intrinsic semiconductor layer 56, and a P-type semiconductor layer 57 are stacked in this order from the substrate body 31 side. ing. The light receiving element 30 is electrically connected to the drain electrode 46 of the transistor 40 via the connection electrode 46A, and outputs detected intensity information of the ambient light.
Here, half or more of the light receiving element 30 may be accommodated in the contact hole H1.

なお、本実施形態においては、貫通孔51の底部(露出した下地保護膜32上)を含む内面全体に接続電極46Aを形成することとしたが、接続電極46Aとは異なる部材を用いてもよい。   In the present embodiment, the connection electrode 46A is formed on the entire inner surface including the bottom of the through-hole 51 (on the exposed base protective film 32), but a member different from the connection electrode 46A may be used. .

第2層間絶縁膜35は、例えばSiNなどの透光性材料で構成されており、第1層間絶縁膜34及び第1層間絶縁膜34上に形成された表示用データ線6a、ドレイン電極42、光検出用データ線7a、ドレイン電極46(接続電極46A)、及び受光素子30を覆うように設けられている。表示用データ線6a、光検出用データ線7a及びドレイン電極46(接続電極46A)は、Alなどの金属材料からなり、同時形成された導電膜からなる。   The second interlayer insulating film 35 is made of a translucent material such as SiN, for example, and includes the first interlayer insulating film 34 and the display data line 6a formed on the first interlayer insulating film 34, the drain electrode 42, The light detection data line 7 a, the drain electrode 46 (connection electrode 46 </ b> A), and the light receiving element 30 are provided to be covered. The display data line 6a, the light detection data line 7a, and the drain electrode 46 (connection electrode 46A) are made of a metal material such as Al, and are formed of a conductive film formed simultaneously.

表示用データ線6aは、第1層間絶縁膜34及びゲート絶縁膜33に形成された第2のコンタクトホールH2を介して半導体層41のソース領域に接続され、ドレイン電極は、第3のコンタクトホールH3を介して半導体層41のドレイン領域に電気的に接続されている。このようにして、画素100b内にTFT素子22が構成されている。
光検出用データ線7aは、第1層間絶縁膜34及びゲート絶縁膜33に形成された第4のコンタクトホールH4を介して半導体層45のソース領域に接続され、ドレイン電極46は、第5のコンタクトホールH5を介して半導体層45のドレイン領域に電気的に接続されている。このようにして、画素100a内にトランジスタ40が形成されている。
The display data line 6a is connected to the source region of the semiconductor layer 41 through the second contact hole H2 formed in the first interlayer insulating film 34 and the gate insulating film 33, and the drain electrode is connected to the third contact hole. It is electrically connected to the drain region of the semiconductor layer 41 through H3. In this way, the TFT element 22 is configured in the pixel 100b.
The photodetection data line 7a is connected to the source region of the semiconductor layer 45 through the fourth contact hole H4 formed in the first interlayer insulating film 34 and the gate insulating film 33, and the drain electrode 46 is connected to the fifth electrode It is electrically connected to the drain region of the semiconductor layer 45 through the contact hole H5. Thus, the transistor 40 is formed in the pixel 100a.

第3層間絶縁膜36は、例えばSiOなどの透光性材料で構成されており、第2層間絶縁膜35を覆うようにして形成されている。この第3層間絶縁膜36は、TFT素子22、トランジスタ40、受光素子30上を平坦化する平坦化膜としても機能する。
配向膜37は、例えばポリイミドなどの樹脂材料で構成されており、第3層間絶縁膜36上に形成された画素電極9及び定電位線48を覆うようにして設けられている。画素電極9及び定電位線48は、例えばITO(酸化インジウムスズ)などの透光性の導電材料から構成され、同時形成された導電膜からなる。画素電極9は、第3層間絶縁膜36に形成された第7のコンタクトホールH7を介してTFT素子22のドレイン電極42に電気的に接続されている。また、定電位線48は、第3層間絶縁膜36に形成された第8のコンタクトホールH8を介して受光素子30のP型半導体層57に電気的に接続されている。
The third interlayer insulating film 36 is made of a translucent material such as SiO 2 and is formed so as to cover the second interlayer insulating film 35. The third interlayer insulating film 36 also functions as a flattening film for flattening the TFT element 22, the transistor 40, and the light receiving element 30.
The alignment film 37 is made of a resin material such as polyimide, and is provided so as to cover the pixel electrode 9 and the constant potential line 48 formed on the third interlayer insulating film 36. The pixel electrode 9 and the constant potential line 48 are made of a light-transmitting conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide), and are formed of a conductive film formed simultaneously. The pixel electrode 9 is electrically connected to the drain electrode 42 of the TFT element 22 through a seventh contact hole H 7 formed in the third interlayer insulating film 36. The constant potential line 48 is electrically connected to the P-type semiconductor layer 57 of the light receiving element 30 through the eighth contact hole H8 formed in the third interlayer insulating film 36.

配向膜37の表面には、液晶層13を構成する液晶分子の初期配向状態を規制する配向処理が施されている。液晶層13は、正の誘電率異方性を有する液晶を用いたTN(Twisted Nematic)モードで動作する構成となっている。   The surface of the alignment film 37 is subjected to an alignment process for regulating the initial alignment state of the liquid crystal molecules constituting the liquid crystal layer 13. The liquid crystal layer 13 is configured to operate in a TN (Twisted Nematic) mode using a liquid crystal having positive dielectric anisotropy.

一方、対向基板12は、例えばガラスや石英、プラスチックなどの透光性材料で構成された基板本体71と、基板本体71の内側(液晶層13側)の表面に順次積層された遮光膜72、共通電極75、配向膜76とを備えている。
遮光膜72は、基板本体71の表面のうち平面視で表示用画素領域(画素100b)の縁部と重なる領域に形成されており、表示用画素領域を縁取っている。
On the other hand, the counter substrate 12 includes, for example, a substrate body 71 made of a light-transmitting material such as glass, quartz, and plastic, and a light shielding film 72 that is sequentially stacked on the inner surface (the liquid crystal layer 13 side) of the substrate body 71. A common electrode 75 and an alignment film 76 are provided.
The light shielding film 72 is formed in a region of the surface of the substrate body 71 that overlaps with the edge of the display pixel region (pixel 100b) in plan view, and borders the display pixel region.

共通電極75は、画素電極9と同様に、例えばITOなどの透光性導電材料で構成されている。そして、共通電極75は、遮光膜72及び基板本体71を覆うように設けられている。
配向膜76は、配向膜37と同様に、例えばポリイミドなどの樹脂材料で構成されており、共通電極75を覆うように設けられている。また、配向膜76の表面には、液晶モードに応じた配向処理が施されている。
Similar to the pixel electrode 9, the common electrode 75 is made of a translucent conductive material such as ITO. The common electrode 75 is provided so as to cover the light shielding film 72 and the substrate body 71.
Similar to the alignment film 37, the alignment film 76 is made of a resin material such as polyimide and is provided so as to cover the common electrode 75. The surface of the alignment film 76 is subjected to an alignment process according to the liquid crystal mode.

偏光板27、28は、その透過軸が互いにほぼ直交するように設けられている。ここで、偏光板27、28の内側の一方または双方には、光学補償フィルム(図示略)を配置してもよい。   The polarizing plates 27 and 28 are provided so that their transmission axes are substantially orthogonal to each other. Here, an optical compensation film (not shown) may be disposed on one or both of the inner sides of the polarizing plates 27 and 28.

〔液晶表示装置の製造方法〕
次に、以上のような構成の液晶表示装置の製造方法について、図3から図6を参照しながら説明する。図3から図6は、素子基板の製造工程を示す工程図である。
本実施形態は素子基板に特徴を有するものであることから素子基板の製造方法について詳細に説明し、その他の製造方法については従来公知であるためその説明を省略する。
[Manufacturing method of liquid crystal display device]
Next, a manufacturing method of the liquid crystal display device having the above configuration will be described with reference to FIGS. 3 to 6 are process diagrams showing the manufacturing process of the element substrate.
Since the present embodiment is characterized by the element substrate, the method for manufacturing the element substrate will be described in detail, and the other manufacturing methods are conventionally known and thus will not be described.

まず、図3(a)に示すように、基板本体31上に、公知の技術を用いて下地保護膜32及び半導体層41,45を覆うゲート絶縁膜33aと、表示用走査線3a、光検出用走査線8a、表示用走査線3a及び光検出用走査線8aを覆う第1層間絶縁膜34aとを形成する。   First, as shown in FIG. 3A, a gate insulating film 33a covering the base protective film 32 and the semiconductor layers 41 and 45, a display scanning line 3a, and light detection are formed on the substrate body 31 using a known technique. A first interlayer insulating film a covering the scanning line 8a, the display scanning line 3a, and the light detection scanning line 8a is formed.

次に、図3(b)に示すように、表示用走査線3a及び光検出用走査線8aを覆うようにしてゲート絶縁膜33a上に形成された第1層間絶縁膜34aを、所定の開口を有したレジストをマスクMとしてエッチングにより同時にパターニングする。すると、ゲート絶縁膜33a及び第1層間絶縁膜34aに、半導体層41のソース領域に通じる貫通孔61、ドレイン領域に通じる貫通孔62、半導体層45のソース領域に通じる貫通孔63、ドレイン領域に通じる貫通孔64、さらに、テーパ形状をなす貫通孔51が形成される。これにより、ゲート絶縁膜33と第1層間絶縁膜34とが構成される。ここで、貫通孔51は、テーパ角度θが45°〜90°の範囲内となるように形成する。また、その底部において下地保護膜32が露出している。   Next, as shown in FIG. 3B, the first interlayer insulating film 34a formed on the gate insulating film 33a so as to cover the display scanning line 3a and the light detection scanning line 8a is formed with a predetermined opening. Patterning is simultaneously performed by etching using a resist having a mask as a mask M. Then, in the gate insulating film 33a and the first interlayer insulating film 34a, a through hole 61 that communicates with the source region of the semiconductor layer 41, a through hole 62 that communicates with the drain region, a through hole 63 that communicates with the source region of the semiconductor layer 45, and a drain region. A through hole 64 is formed, and a through hole 51 having a tapered shape is formed. Thereby, the gate insulating film 33 and the first interlayer insulating film 34 are formed. Here, the through-hole 51 is formed so that the taper angle θ is in the range of 45 ° to 90 °. Further, the base protective film 32 is exposed at the bottom.

次に、図4(a)に示すように、上記マスクMを剥離し、ゲート絶縁膜33及び第1層間絶縁膜34に形成された貫通孔61〜64を埋めるとともに、貫通孔51の内面(内側壁、露出した下地保護膜)を被覆するAl等の金属膜(不図示)を第1層間絶縁膜34上に形成し、該金属膜に対して、上記同様レジストを用いたパターニングを行う。このようにして、第1層間絶縁膜34上に、表示用データ線6a、ドレイン電極42、光検出用データ線7a、ドレイン電極46、該ドレイン電極46の延設部分からなる接続電極46Aが形成される。表示用データ線6a、ドレイン電極42は、同時に形成されるコンタクトホールH2、H3によってTFT素子22のソース領域、ドレイン領域にそれぞれ接続する。また、光検出用データ線7a、ドレイン電極46は、同時に形成されるコンタクトホールH4,H5によってトランジスタ40のソース領域、ドレイン領域にそれぞれ接続する。さらに、貫通孔51内に接続電極46Aが形成されることによって、受光素子30を収容するコンタクトホールH1が構成される。   Next, as shown in FIG. 4A, the mask M is peeled off to fill the through holes 61 to 64 formed in the gate insulating film 33 and the first interlayer insulating film 34, and the inner surface ( A metal film (not shown) such as Al covering the inner side wall and the exposed underlying protective film is formed on the first interlayer insulating film 34, and patterning using a resist is performed on the metal film in the same manner as described above. Thus, on the first interlayer insulating film 34, the display data line 6a, the drain electrode 42, the light detection data line 7a, the drain electrode 46, and the connection electrode 46A including the extended portion of the drain electrode 46 are formed. Is done. The display data line 6a and the drain electrode 42 are connected to the source region and the drain region of the TFT element 22 through contact holes H2 and H3 formed simultaneously. The photodetection data line 7a and the drain electrode 46 are connected to the source region and the drain region of the transistor 40 through contact holes H4 and H5 that are formed simultaneously. Further, the connection electrode 46 </ b> A is formed in the through hole 51, thereby forming a contact hole H <b> 1 that accommodates the light receiving element 30.

次に、図4(b)に示すように、コンタクトホールH1内の接続電極46A上に受光素子30を形成する。受光素子30は、既存の製品を配置しても良いし、接続電極46A上にN型半導体層55、真性半導体層56、P型半導体層57をこの順で積層し、これらをパターニングしてもよい。   Next, as shown in FIG. 4B, the light receiving element 30 is formed on the connection electrode 46A in the contact hole H1. As the light receiving element 30, an existing product may be arranged, or an N-type semiconductor layer 55, an intrinsic semiconductor layer 56, and a P-type semiconductor layer 57 may be stacked in this order on the connection electrode 46A, and these may be patterned. Good.

そして、図5に示すように、光検出用データ線7a、表示用データ線6a、ドレイン電極42,ドレイン電極46(接続電極46Aを含む)、受光素子30を覆う第2層間絶縁膜35を形成するとともに、第2層間絶縁膜35の表面を覆う第3層間絶縁膜36を形成する。これら第3層間絶縁膜36及び第2層間絶縁膜35には、TFT素子22のドレイン電極42上となる箇所に貫通孔65が形成され、受光素子30上となる箇所に貫通孔66が形成されている。   Then, as shown in FIG. 5, the light detection data line 7a, the display data line 6a, the drain electrode 42, the drain electrode 46 (including the connection electrode 46A), and the second interlayer insulating film 35 covering the light receiving element 30 are formed. At the same time, a third interlayer insulating film 36 covering the surface of the second interlayer insulating film 35 is formed. In the third interlayer insulating film 36 and the second interlayer insulating film 35, a through hole 65 is formed at a location on the drain electrode 42 of the TFT element 22, and a through hole 66 is formed at a location on the light receiving element 30. ing.

その後、図6(a)に示すように、第3層間絶縁膜36上に画素電極9と定電位線48を形成する。画素電極9は、第3層間絶縁膜36に形成された貫通孔65をAl等の金属材料で埋めることによって形成されるコンタクトホールH7を介して、TFT素子22のドレイン電極42と電気的に接続する。また、定電位線48は、第3層間絶縁膜36に形成された貫通孔66をAl等の金属材料で埋めることによって形成されるコンタクトホールH8を介して、トランジスタ40のドレイン電極46と電気的に接続する。   Thereafter, as shown in FIG. 6A, the pixel electrode 9 and the constant potential line 48 are formed on the third interlayer insulating film 36. The pixel electrode 9 is electrically connected to the drain electrode 42 of the TFT element 22 through a contact hole H7 formed by filling a through hole 65 formed in the third interlayer insulating film 36 with a metal material such as Al. To do. The constant potential line 48 is electrically connected to the drain electrode 46 of the transistor 40 through a contact hole H8 formed by filling a through hole 66 formed in the third interlayer insulating film 36 with a metal material such as Al. Connect to.

そして、図6(b)に示すように、これら画素電極9と定電位線48を覆うようにして、所定方向にラビングされた配向膜を第3層間絶縁膜36上に形成する。以上により、液晶表示装置1の素子基板11が完成する。   Then, as shown in FIG. 6B, an alignment film rubbed in a predetermined direction is formed on the third interlayer insulating film 36 so as to cover the pixel electrode 9 and the constant potential line 48. Thus, the element substrate 11 of the liquid crystal display device 1 is completed.

本実施形態の液晶表示装置1は、複数の画素100cのいずれにおいても、表示用画素100b及び光検出用画素100aにより構成されている。光検出用画素100aにおいて、定電位線48と接続電極46Aとにおいて受光素子30に逆バイアスを印加した状態で、受光素子30が受光すると該受光素子30に光電流が流れる。また、光検出用走査線8aによって、画素100aに形成されているトランジスタ40をオンさせれば、光検出用データ線7aに光電流に応じた信号が出力されることになる。したがって、複数の画素100cのうち、いずれの画素100aにおいて、受光素子30がどのレベルの光を受光したかを検出することができる。   The liquid crystal display device 1 of the present embodiment includes a display pixel 100b and a light detection pixel 100a in any of the plurality of pixels 100c. In the light detection pixel 100a, when the light receiving element 30 receives light with a reverse bias applied to the light receiving element 30 at the constant potential line 48 and the connection electrode 46A, a photocurrent flows through the light receiving element 30. If the transistor 40 formed in the pixel 100a is turned on by the photodetection scanning line 8a, a signal corresponding to the photocurrent is output to the photodetection data line 7a. Therefore, it is possible to detect which level of light is received by the light receiving element 30 in any of the plurality of pixels 100c.

本実施形態では、受光素子30を、ドレイン電極46の延設配線からなる接続電極46Aによって内面が覆われたコンタクトホールH1内に備えているので、バックライトからの光を遮断すると同時に、液晶パネル内の迷光(受光素子30の検出エリア外の光など、受光素子30の側方から入射してくる光)を遮光することができる。すなわち、コンタクトホールH1の内面がAl等の金属膜によって覆われているため、コンタクトホールH1全体が遮光性(反射性)を有したものとなる。そのため、迷光が受光素子30に入り込んで誤作動を引き起こすという事態が解消され、画像表示領域10aにおける正確な接触判定を行うことができる。また、コンタクトホールH1がテーパ形状とされているので、指向性を持たせることができ、集光効率が向上する。これにより、より正確なタッチ検出を行うことが可能となっている。   In the present embodiment, since the light receiving element 30 is provided in the contact hole H1 whose inner surface is covered with the connection electrode 46A made of the extended wiring of the drain electrode 46, the liquid crystal panel is simultaneously cut off from the light from the backlight. The internal stray light (light incident from the side of the light receiving element 30 such as light outside the detection area of the light receiving element 30) can be shielded. That is, since the inner surface of the contact hole H1 is covered with a metal film such as Al, the entire contact hole H1 has a light shielding property (reflectivity). Therefore, the situation where stray light enters the light receiving element 30 and causes malfunction is eliminated, and accurate contact determination in the image display region 10a can be performed. Further, since the contact hole H1 has a tapered shape, directivity can be provided, and the light collection efficiency is improved. As a result, more accurate touch detection can be performed.

また、上述したように、貫通孔51の内面を覆う接続電極46Aを、表示用データ線6a、TFT素子22のドレイン電極42、光検出用データ線7a、トランジスタ40のドレイン電極46と同時に形成することができるので、製造工程を増やすことなく、遮光性を有したコンタクトホールH1を形成することができる。このように、装置構成を複雑化することなく、正確な接触判定を行うことを可能とした液晶装置とすることができる。   Further, as described above, the connection electrode 46A covering the inner surface of the through hole 51 is formed simultaneously with the display data line 6a, the drain electrode 42 of the TFT element 22, the light detection data line 7a, and the drain electrode 46 of the transistor 40. Therefore, the contact hole H1 having a light shielding property can be formed without increasing the number of manufacturing steps. In this manner, a liquid crystal device that can perform accurate contact determination without complicating the device configuration can be provided.

なお、受光素子30は、フォトダイオードに限定されることはなく、CdS(cadmium sulfide)、CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)等の光を検出可能な種々の構成を採用することができる。また、受光素子30は、画像表示領域10aにおける全ての画素100cに設ける必要はない。すなわち、隣接する受光素子30の間隔が、タッチ判定される被対象物、例えば人間の指の幅よりも狭くなっていればよい。   The light receiving element 30 is not limited to a photodiode, and various configurations capable of detecting light, such as CdS (cadmium sulfide) and CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor), can be employed. Further, the light receiving elements 30 are not necessarily provided in all the pixels 100c in the image display area 10a. That is, the interval between the adjacent light receiving elements 30 only needs to be narrower than the width of an object to be touched, for example, a human finger.

また、図7に示すように、画像表示領域10aにおける複数の画素100cのうちのいくつかを、光検出用画素100aとし、受光素子を備えて画素電極を有しない構成としてもよい。また、隣り合う複数の画素100cに亘って1個の受光素子30を設けてもよい。さらに、図中のJ,K(二点鎖線で囲んだ丸)に示すように、異なる色光の発光素子(緑色発光素子G、青色発光素子B、赤色発光素子R)の組み合わせからなる画素100c内に受光素子30を組み込んで構成してもよい。   Further, as shown in FIG. 7, some of the plurality of pixels 100c in the image display region 10a may be configured as light detection pixels 100a, including light receiving elements, and having no pixel electrodes. Further, one light receiving element 30 may be provided across a plurality of adjacent pixels 100c. Furthermore, as indicated by J and K (circles surrounded by a two-dot chain line) in the figure, the inside of the pixel 100c formed of a combination of light emitting elements of different color light (green light emitting element G, blue light emitting element B, red light emitting element R). Alternatively, the light receiving element 30 may be incorporated.

また、受光素子30を画像表示領域10aの全域に配置する必要はない。例えばタッチ判定を行うアイコンの位置が画像表示領域10aの所定の場所に固定されている場合には、アイコン上に受光素子30を配置すればよい。さらに、受光素子30は、ユーザの指により外光を遮断された場合、或いは指先によって反射された光を検出する場合のいずれにおいても、陰影関係を逆転させることで対応することができる。   Further, it is not necessary to arrange the light receiving elements 30 over the entire image display area 10a. For example, when the position of the icon for touch determination is fixed at a predetermined location in the image display area 10a, the light receiving element 30 may be disposed on the icon. Furthermore, the light receiving element 30 can deal with the case where the shadow relationship is reversed either when the external light is blocked by the user's finger or when the light reflected by the fingertip is detected.

(変形例)
図8に示すように、下地保護膜32上のコンタクトホールH1と平面的に重なる領域に、Poly−SiからなるSi層77を設けてもよい。このSi層77は、下地保護膜32上の半導体層41,45と同時にパターン形成され、第1層間絶縁膜34及びゲート絶縁膜33に貫通孔51を形成する際のエッチストッパー層として機能する。これにより、下地保護膜32までエッチングされることが防止され、所望とする形状の貫通孔51を形成することができる。これにより、深さが均一化されるので受光素子の収容深さが一定となり、検出特性が均一になる。
(Modification)
As shown in FIG. 8, an Si layer 77 made of Poly-Si may be provided in a region overlapping the contact hole H1 on the base protective film 32 in a planar manner. The Si layer 77 is patterned simultaneously with the semiconductor layers 41 and 45 on the base protective film 32 and functions as an etch stopper layer when the through hole 51 is formed in the first interlayer insulating film 34 and the gate insulating film 33. This prevents the base protective film 32 from being etched, and the through hole 51 having a desired shape can be formed. Thereby, since the depth is made uniform, the accommodation depth of the light receiving element becomes constant, and the detection characteristics become uniform.

[第2の実施形態]
本発明の第2の実施形態は、受光素子を備えた有機EL装置である。
図9は、本実施形態の有機EL(エレクトロルミネッセンス)装置を示す断面図である。
〔有機EL装置〕
図9に示す有機EL装置90(電気光学装置)では、発光層91における発光光を封止基板92側から取り出すので、素子基板93の基板本体94として透明基板のほか不透明基板を用いることも可能である。透明基板としては、ガラスや石英、樹脂(プラスチック、プラスチックフィルム)等を用いることが可能であり、特にガラス基板が好適に用いられる。
[Second Embodiment]
The second embodiment of the present invention is an organic EL device including a light receiving element.
FIG. 9 is a cross-sectional view showing the organic EL (electroluminescence) device of the present embodiment.
[Organic EL device]
In the organic EL device 90 (electro-optical device) shown in FIG. 9, the light emitted from the light emitting layer 91 is taken out from the sealing substrate 92 side. It is. As the transparent substrate, glass, quartz, resin (plastic, plastic film) or the like can be used, and a glass substrate is particularly preferably used.

素子基板93は、発光素子3のTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)素子(駆動素子)22や、受光素子30のトランジスタ40などを含む駆動回路部5を有して構成されている。なお、駆動回路を備えた半導体素子(ICチップ)を素子基板93に実装して、有機EL装置90を構成することも可能である。   The element substrate 93 includes a driving circuit unit 5 including a TFT (Thin Film Transistor) element (driving element) 22 of the light emitting element 3 and a transistor 40 of the light receiving element 30. Note that the organic EL device 90 can be configured by mounting a semiconductor element (IC chip) including a drive circuit on the element substrate 93.

基板本体94上には、その表面から、下地保護膜32、ゲート絶縁膜33、第1層間絶縁膜34、第2層間絶縁膜35、第3層間絶縁膜36、有機隔壁99が順次積層されている。受光素子30は、第1層間絶縁膜34に形成されたテーパ形状のコンタクトホールH1内に備えられ、貫通孔51の内面に沿う接続電極46Aを介して、トランジスタ40のドレイン電極46に電気的に接続されている。   On the substrate main body 94, a base protective film 32, a gate insulating film 33, a first interlayer insulating film 34, a second interlayer insulating film 35, a third interlayer insulating film 36, and an organic partition wall 99 are sequentially stacked from the surface. Yes. The light receiving element 30 is provided in the tapered contact hole H1 formed in the first interlayer insulating film 34, and is electrically connected to the drain electrode 46 of the transistor 40 via the connection electrode 46A along the inner surface of the through hole 51. It is connected.

駆動回路部5の表面上には、感光性、絶縁性および耐熱性を備えたアクリル系やポリイミド系等の樹脂材料を主体とする、第2層間絶縁膜35、第3層間絶縁膜36が形成されている。これら第2層間絶縁膜35、第3層間絶縁膜36は、第1層間絶縁膜34上に形成される表示用データ線6a、TFT素子22のドレイン電極42、光検出用データ線7a、トランジスタ40のドレイン電極46(接続電極46a)、受光素子30などによる表面の凹凸を抑制するよう機能するとともに、後述の画素電極9及び定電位線48に対する絶縁性を確保するよう機能する。   On the surface of the drive circuit section 5, a second interlayer insulating film 35 and a third interlayer insulating film 36, which are mainly made of a resin material such as acrylic or polyimide having photosensitivity, insulation and heat resistance, are formed. Has been. The second interlayer insulating film 35 and the third interlayer insulating film 36 include a display data line 6a formed on the first interlayer insulating film 34, a drain electrode 42 of the TFT element 22, a light detection data line 7a, and a transistor 40. Functions to suppress surface irregularities due to the drain electrode 46 (connection electrode 46a), the light receiving element 30, and the like, and also functions to ensure insulation with respect to the pixel electrode 9 and the constant potential line 48 described later.

第3層間絶縁膜36の表面には、ITOからなる複数の画素電極9、定電位線48が形成されている。画素電極9は発光素子3の形成領域よりも広く形成され開口率の向上が図られている。画素電極9は、第3層間絶縁膜36に形成されたコンタクトホールH7を介してTFT素子22のドレイン電極42と電気的に接続されている。また、定電位線48は、第3層間絶縁膜36に形成されたコンタクトホールH8を介してトランジスタ40のドレイン電極46と電気的に接続されている。   On the surface of the third interlayer insulating film 36, a plurality of pixel electrodes 9 and constant potential lines 48 made of ITO are formed. The pixel electrode 9 is formed wider than the region where the light emitting element 3 is formed to improve the aperture ratio. The pixel electrode 9 is electrically connected to the drain electrode 42 of the TFT element 22 through a contact hole H 7 formed in the third interlayer insulating film 36. The constant potential line 48 is electrically connected to the drain electrode 46 of the transistor 40 through a contact hole H8 formed in the third interlayer insulating film 36.

また、第3層間絶縁膜36上の画素電極9の周囲には、ポリイミド等の有機絶縁材料からなる有機隔壁99が形成されている。この有機隔壁99は画素電極9の周縁部に乗り上げるように形成され、有機隔壁99の開口部101aの底部には画素電極9が露出している。そして、開口部101aの内側における画素電極9の表面に複数の機能膜が積層形成されて、発光素子3が構成されている。すなわち、有機隔壁99の開口部101aにより、発光素子3の形成領域が規定されている。   An organic partition wall 99 made of an organic insulating material such as polyimide is formed around the pixel electrode 9 on the third interlayer insulating film 36. The organic partition 99 is formed so as to run on the peripheral edge of the pixel electrode 9, and the pixel electrode 9 is exposed at the bottom of the opening 101 a of the organic partition 99. A plurality of functional films are stacked on the surface of the pixel electrode 9 inside the opening 101a to form the light emitting element 3. That is, the formation region of the light emitting element 3 is defined by the opening 101 a of the organic partition wall 99.

発光素子3は、陽極として機能する画素電極9と、有機EL物質からなる発光層91と、陰極として機能する共通電極120とを、少なくとも積層して構成されている。この発光素子3により画像表示単位となるサブ画素が構成され、異なる色光の発光素子(緑色発光素子3G、青色発光素子3B、赤色発光素子3R)の組み合わせにより1個の画素が構成されている。   The light emitting element 3 is configured by stacking at least a pixel electrode 9 that functions as an anode, a light emitting layer 91 made of an organic EL material, and a common electrode 120 that functions as a cathode. The light emitting element 3 constitutes a sub-pixel as an image display unit, and one pixel is constituted by a combination of light emitting elements of different color light (green light emitting element 3G, blue light emitting element 3B, red light emitting element 3R).

なお、画素電極9と発光層91との間に、画素電極9から供給された正孔を発光層91に注入/輸送する正孔注入層を設けてもよい。正孔注入層の形成材料としては、特に3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルフォン酸(PEDOT/PSS)の分散液が好適に用いられる。具体的には、分散媒としてのポリスチレンスルフォン酸に、3,4−ポリエチレンジオキシチオフェンを分散させ、さらにこれを水に分散させたものが好適に用いられる。   A hole injection layer that injects / transports holes supplied from the pixel electrode 9 to the light emitting layer 91 may be provided between the pixel electrode 9 and the light emitting layer 91. As the material for forming the hole injection layer, a dispersion of 3,4-polyethylenedioxythiophene / polystyrene sulfonic acid (PEDOT / PSS) is particularly preferably used. Specifically, a material obtained by dispersing 3,4-polyethylenedioxythiophene in polystyrene sulfonic acid as a dispersion medium and further dispersing it in water is preferably used.

発光層91を形成するための材料としては、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の発光材料が用いられる。具体的には、(ポリ)フルオレン誘導体(PF)、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体(PPV)、ポリフェニレン誘導体(PP)、ポリパラフェニレン誘導体(PPP)、ポリビニルカルバゾール(PVK)、ポリチオフェン誘導体、ポリメチルフェニルシラン(PMPS)などのポリシラン系などが好適に用いられる。   As a material for forming the light emitting layer 91, a known light emitting material capable of emitting fluorescence or phosphorescence is used. Specifically, (poly) fluorene derivative (PF), (poly) paraphenylene vinylene derivative (PPV), polyphenylene derivative (PP), polyparaphenylene derivative (PPP), polyvinyl carbazole (PVK), polythiophene derivative, polymethyl Polysilanes such as phenylsilane (PMPS) are preferably used.

共通電極120は、陰極として発光層91上に形成されている。共通電極120は、仕事関数の小さいマグネシウム(Mg)、リチウム(Li)若しくはカルシウム(Ca)を含む材料を用いる。   The common electrode 120 is formed on the light emitting layer 91 as a cathode. The common electrode 120 is formed using a material containing magnesium (Mg), lithium (Li), or calcium (Ca) having a low work function.

共通電極120の表面には、SiO等からなる無機封止膜121が形成されている。さらに接着層122を介して、ガラス等の透明材料からなる封止基板92が貼り合わされている。この無機封止膜121により、封止基板92側から発光素子3への水分や酸素等の浸入が防止されている。なお、共通電極120の全体を覆う封止キャップを基板本体94の周縁部に固着し、その封止キャップの内側に水分や酸素等を吸収するゲッター剤を配置してもよい。 An inorganic sealing film 121 made of SiO 2 or the like is formed on the surface of the common electrode 120. Further, a sealing substrate 92 made of a transparent material such as glass is bonded through an adhesive layer 122. The inorganic sealing film 121 prevents moisture, oxygen, and the like from entering the light emitting element 3 from the sealing substrate 92 side. A sealing cap that covers the entire common electrode 120 may be fixed to the periphery of the substrate body 94, and a getter agent that absorbs moisture, oxygen, or the like may be disposed inside the sealing cap.

上述した有機EL装置90では、外部から供給された画像信号が、TFT素子22により所定のタイミングで画素電極9に印加される。そして、その画素電極9から注入された正孔と、共通電極120から注入された電子とが、発光層91で再結合して所定波長の光が放出される。なお発光層91は画素電極9との接触領域において正孔の注入を受けるので、発光層91のうち画素電極9との接触領域が発光部になる。その発光部から共通電極120側に放出された光は、透明材料からなる封止基板92を透過して外部に取り出される。これにより、封止基板92側において画像表示が行われるようになっている。   In the organic EL device 90 described above, an image signal supplied from the outside is applied to the pixel electrode 9 by the TFT element 22 at a predetermined timing. Then, the holes injected from the pixel electrode 9 and the electrons injected from the common electrode 120 are recombined in the light emitting layer 91 to emit light having a predetermined wavelength. Since the light emitting layer 91 receives holes injected in the contact region with the pixel electrode 9, the contact region with the pixel electrode 9 in the light emitting layer 91 becomes a light emitting portion. The light emitted from the light emitting portion to the common electrode 120 side is extracted through the sealing substrate 92 made of a transparent material. Thereby, image display is performed on the sealing substrate 92 side.

本実施形態の有機EL装置90においても、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。上述したように、テーパ形状のコンタクトホールH1内に受光素子30を備えているので、接続電極46Aによって装置内の迷光(受光素子30の検出エリア外の光など、受光素子30の側方から入射してくる光)を遮光することができる。そのため、迷光が受光素子30に入り込んで誤作動を引き起こすという事態が解消され、画像表示領域における正確な接触判定を行うことができる。また、コンタクトホールH1がテーパ形状とされているので、指向性を持たせることができ、集光効率が向上する。これにより、より正確なタッチ検出を行うことが可能となっている。   Also in the organic EL device 90 of the present embodiment, the same effect as in the above embodiment can be obtained. As described above, since the light receiving element 30 is provided in the tapered contact hole H1, stray light in the apparatus (light outside the detection area of the light receiving element 30 or the like is incident from the side of the light receiving element 30 by the connection electrode 46A. Incoming light) can be shielded. Therefore, the situation where stray light enters the light receiving element 30 and causes malfunction is eliminated, and accurate contact determination in the image display area can be performed. Further, since the contact hole H1 has a tapered shape, directivity can be provided, and the light collection efficiency is improved. As a result, more accurate touch detection can be performed.

[第3の実施形態]
本発明の第3の実施形態は、受光素子を備えた電気泳動表示装置である。
図10は、本実施形態の電気泳動表示装置を示す断面図である。
[Third Embodiment]
The third embodiment of the present invention is an electrophoretic display device including a light receiving element.
FIG. 10 is a cross-sectional view showing the electrophoretic display device of this embodiment.

電気泳動表示装置130は、図10に示すように、素子基板131と、素子基板131に対向するように設けられた対向基板132と、これら両基板131,132の間に設けられた電気泳動層133とから構成されている。   As shown in FIG. 10, the electrophoretic display device 130 includes an element substrate 131, a counter substrate 132 provided so as to face the element substrate 131, and an electrophoretic layer provided between the substrates 131 and 132. 133.

素子基板131は、基板本体131A上に、下地保護膜32、ゲート絶縁膜33、第1層間絶縁膜34、第2層間絶縁膜35、第3層間絶縁膜36が順次積層されている。受光素子30は、第1層間絶縁膜34に形成されたテーパ形状のコンタクトホールH1内に備えられ、貫通孔51の内面に沿う接続電極46Aを介して、トランジスタ40のドレイン電極46に電気的に接続されている。   In the element substrate 131, a base protective film 32, a gate insulating film 33, a first interlayer insulating film 34, a second interlayer insulating film 35, and a third interlayer insulating film 36 are sequentially stacked on a substrate body 131A. The light receiving element 30 is provided in the tapered contact hole H1 formed in the first interlayer insulating film 34, and is electrically connected to the drain electrode 46 of the transistor 40 via the connection electrode 46A along the inner surface of the through hole 51. It is connected.

電気泳動層133は、マイクロカプセル80aを複数備えた構成となっている。
マイクロカプセル80aは樹脂皮膜によって形成されており、マイクロカプセル80aの大きさは表示用画素100bの大きさと同程度とされ、画素電極9上に配置されている。なお、マイクロカプセル80aを一画素100cと同程度の大きさに形成し、画像表示領域の略全域を覆うように複数配置してもよい。マイクロカプセル80aには、分散媒81、電気泳動粒子82等を有する電気泳動分散液83が封入されている。電気泳動分散液83は、電界を印加することにより、電気泳動粒子82の分布状態が変化し、電気泳動分散液83の光学特性が変化するものである。
The electrophoretic layer 133 has a configuration including a plurality of microcapsules 80a.
The microcapsule 80 a is formed of a resin film, and the size of the microcapsule 80 a is approximately the same as the size of the display pixel 100 b and is disposed on the pixel electrode 9. Note that a plurality of microcapsules 80a may be formed so as to be approximately the same size as one pixel 100c, and a plurality of microcapsules 80a may be arranged so as to cover substantially the entire image display area. An electrophoretic dispersion 83 having a dispersion medium 81, electrophoretic particles 82, and the like is sealed in the microcapsule 80a. In the electrophoretic dispersion 83, the distribution state of the electrophoretic particles 82 is changed by applying an electric field, and the optical characteristics of the electrophoretic dispersion 83 are changed.

次に、分散媒81、電気泳動粒子82を有する電気泳動分散液83について説明する。
電気泳動分散液83は、染料によって染色された分散媒81中に電気泳動粒子82を分散させた構成となっている。電気泳動粒子82は、無機酸化物又は無機水酸化物からなる直径0.01μm〜10μm程度の略球状の微粒子であり、上記分散媒81と異なる色相(白色及び黒色を含む)を有している。このように酸化物又は水酸化物からなる電気泳動粒子82には固有の表面等電点が存在し、分散媒81の水素イオン指数pHによってその表面電荷密度(帯電量)が変化するようになる。
Next, the electrophoretic dispersion 83 having the dispersion medium 81 and the electrophoretic particles 82 will be described.
The electrophoretic dispersion 83 has a configuration in which electrophoretic particles 82 are dispersed in a dispersion medium 81 dyed with a dye. The electrophoretic particles 82 are substantially spherical fine particles having a diameter of about 0.01 μm to 10 μm made of an inorganic oxide or an inorganic hydroxide, and have a hue (including white and black) different from that of the dispersion medium 81. . As described above, the electrophoretic particles 82 made of oxide or hydroxide have a unique surface isoelectric point, and the surface charge density (charge amount) changes depending on the hydrogen ion exponent pH of the dispersion medium 81. .

ここで、表面等電点とは、水溶液中における両性電解質の電荷の代数和がゼロとなる状態を水素イオン指数pHによって示したものである。例えば、分散媒81のpHが電気泳動粒子82の表面等電点に等しい場合には、粒子の実効電荷はゼロとなり、粒子は外部電界に対して無反応な状態となる。   Here, the surface isoelectric point indicates a state in which the algebraic sum of the charge of the amphoteric electrolyte in the aqueous solution is zero by the hydrogen ion exponent pH. For example, when the pH of the dispersion medium 81 is equal to the surface isoelectric point of the electrophoretic particle 82, the effective charge of the particle is zero, and the particle is in an unreactive state with respect to the external electric field.

電気泳動粒子82としては、例えば、二酸化チタン、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、ベンガラ、酸化アルミニウム、黒色低次酸化チタン、酸化クロム、ベーマイト、FeOOH、二酸化珪素、水酸化マグネシウム、水酸化ニッケル、酸化ジルコニウム、酸化銅等が用いられている。   Examples of the electrophoretic particles 82 include titanium dioxide, zinc oxide, magnesium oxide, bengara, aluminum oxide, black low-order titanium oxide, chromium oxide, boehmite, FeOOH, silicon dioxide, magnesium hydroxide, nickel hydroxide, zirconium oxide, Copper oxide or the like is used.

また、このような電気泳動粒子82は、単独の微粒子としてだけでなく、各種表面改質を施した状態でも用いることが可能である。このような表面改質の方法としては、例えば、粒子表面をアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂等のポリマーでコーティング処理する方法や、シラン系、チタネート系、アルミニウム系、弗素系等のカップリング剤でカップリング処理する方法や、アクリル系モノマー、スチレンモノマー、エポキシ系モノマー、イソシアネート系モノマー等とグラフト重合処理する方法等があり、これらの処理を単独又は二種類以上組み合わせて行うことができる。   Such electrophoretic particles 82 can be used not only as individual fine particles but also in a state where various surface modifications are performed. Examples of such surface modification methods include a method of coating the particle surface with a polymer such as an acrylic resin, an epoxy resin, a polyester resin, or a polyurethane resin, or a silane-based, titanate-based, aluminum-based, or fluorine-based method. There are a coupling treatment method with a coupling agent, a graft polymerization treatment method with an acrylic monomer, a styrene monomer, an epoxy monomer, an isocyanate monomer, etc., and these treatments may be performed alone or in combination of two or more. it can.

分散媒81には、炭化水素、ハロゲン化炭化水素、エーテル等の非水系有機溶媒が用いられており、スピリトブラック、オイルイエロー、オイルブルー、オイルグリーン、バリファーストブルー、マクロレックスブルー、オイルブラウン、スーダンブラック、ファーストオレンジ等の染料によって染色されて、電気泳動粒子82と異なる色相を呈している。   For the dispersion medium 81, non-aqueous organic solvents such as hydrocarbons, halogenated hydrocarbons, and ethers are used. Spirit black, oil yellow, oil blue, oil green, Bali first blue, macrolex blue, oil brown, It is dyed with a dye such as Sudan Black or Fast Orange and has a hue different from that of the electrophoretic particles 82.

一方、対向基板132は、基板本体132Aの表面全体にITOからなる共通電極95が蒸着方等により形成されている。   On the other hand, in the counter substrate 132, a common electrode 95 made of ITO is formed on the entire surface of the substrate body 132A by vapor deposition or the like.

次に、以上のような構成の電気泳動表示装置130は、画像表示領域の外部に設けられた駆動回路により表示用走査線3aから走査信号を入力すると、TFT素子22が一定期間だけオン状態となる。そして、オン状態となったTFT素子22に画像信号が入力されることで、画素電極9に画像信号が書き込まれる。書き込まれた画像信号は、画素電極9と共通電極95との間で保持される。そのため、例えば画素電極9が正、共通電極95が負となるような画像信号を入力すると、画素電極9と共通電極95との間に配置された電気泳動層133を構成して正に帯電している黒色の電気泳動粒子82が共通電極95に移動する。これにより、画素領域の黒表示が行われる。以上のようにして、画像表示を行う。   Next, when the scanning signal is input from the display scanning line 3a by the driving circuit provided outside the image display area, the electrophoretic display device 130 configured as described above is kept in the on state for a certain period. Become. Then, when an image signal is input to the TFT element 22 that is turned on, the image signal is written to the pixel electrode 9. The written image signal is held between the pixel electrode 9 and the common electrode 95. Therefore, for example, when an image signal in which the pixel electrode 9 is positive and the common electrode 95 is negative is input, the electrophoretic layer 133 disposed between the pixel electrode 9 and the common electrode 95 is configured to be positively charged. The black electrophoretic particles 82 are moved to the common electrode 95. Thereby, black display of the pixel region is performed. Image display is performed as described above.

本実施形態の電気泳動表示装置130においても、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。上述したように、テーパ形状のコンタクトホールH1内に受光素子30を備えているので、接続電極46Aによって装置内の迷光(受光素子30の検出エリア外の光など、受光素子30の側方から入射してくる光)を遮光することができる。そのため、迷光が受光素子30に入り込んで当該受光素子30が誤作動を引き起こすという事態が解消され、画像表示領域における正確な接触判定を行うことができる。また、コンタクトホールH1がテーパ形状とされているので、指向性を持たせることができ、集光効率が向上する。これにより、より正確なタッチ検出を行うことが可能となっている。   Also in the electrophoretic display device 130 of the present embodiment, the same effects as those of the above embodiment can be obtained. As described above, since the light receiving element 30 is provided in the tapered contact hole H1, stray light in the apparatus (light outside the detection area of the light receiving element 30 or the like is incident from the side of the light receiving element 30 by the connection electrode 46A. Incoming light) can be shielded. Therefore, the situation where stray light enters the light receiving element 30 and causes the light receiving element 30 to malfunction is eliminated, and accurate contact determination in the image display area can be performed. Further, since the contact hole H1 has a tapered shape, directivity can be provided, and the light collection efficiency is improved. As a result, more accurate touch detection can be performed.

なお、本実施形態においては、電気泳動層133を、電気泳動分散液83を内包した複数のマイクロカプセル80aから構成するとしたが、例えばシール材によって接続された基板131,132間に、電気泳動粒子82を有する電気泳動分散液83を直接配置するように構成してもよい。また、マイクロカプセル80aは1画素内に複数配置されていてもよい。   In the present embodiment, the electrophoretic layer 133 is composed of a plurality of microcapsules 80a enclosing the electrophoretic dispersion 83. For example, the electrophoretic particles are interposed between the substrates 131 and 132 connected by a sealing material. The electrophoretic dispersion 83 having 82 may be arranged directly. A plurality of microcapsules 80a may be arranged in one pixel.

以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもなく、上記各実施形態を組み合わせても良い。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   The preferred embodiments according to the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings. However, it goes without saying that the present invention is not limited to such examples, and the above embodiments may be combined. It is obvious for those skilled in the art that various changes or modifications can be conceived within the scope of the technical idea described in the claims. It is understood that it belongs to.

例えば、受光素子30を収容するコンタクトホールは、基板面に対して略垂直とされる内側壁を有した通常のコンタクトホールであってもよい。このようなコンタクトホールの内面に金属膜を設ければ、コンタクトホールが遮光性(反射性)を有したものとなるので、受光素子30に対する迷光対策は十分になし得たものとなる。しかしながら、上記実施形態に示すように、コンタクトホールH1の形状をテーパ形状とすることによって集光効果を向上させて受光素子30による検出精度を高めることが好ましい。   For example, the contact hole that accommodates the light receiving element 30 may be a normal contact hole having an inner wall that is substantially perpendicular to the substrate surface. If a metal film is provided on the inner surface of such a contact hole, the contact hole has a light shielding property (reflectivity), and therefore, a sufficient countermeasure against stray light for the light receiving element 30 can be achieved. However, as shown in the above embodiment, it is preferable that the contact hole H1 has a tapered shape to improve the light collection effect and increase the detection accuracy by the light receiving element 30.

また、上記実施形態においては、迷光を遮光する金属膜として受光素子30を駆動するトランジスタ40の電極(ドレイン電極46)を利用するとしたが、その他材料からなる遮光部材を利用してもよい。また、遮光部材は、コンタクトホールH1の内面全体に設けるようにしてもよいし、コンタクトホールH1の内側壁のみに設けるようにしても良い。また、遮光性を有した層にコンタクトホールを形成するとしてもよい。   In the above embodiment, the electrode (drain electrode 46) of the transistor 40 that drives the light receiving element 30 is used as the metal film that blocks stray light. However, a light blocking member made of other materials may be used. Further, the light shielding member may be provided on the entire inner surface of the contact hole H1, or may be provided only on the inner wall of the contact hole H1. Alternatively, a contact hole may be formed in the light-shielding layer.

(電子機器)
次に、上述の実施形態で説明した電気光学装置を備えた電子機器について説明する。
図11(a)に示すように、電子機器の実施形態の一例であるモバイル型のパーソナルコンピュータ140は、キーボード141を備えた本体部142と、表示ユニット143とを有している。表示ユニット143は、前述した電気光学装置からなる表示部200を備えている。
(Electronics)
Next, an electronic apparatus including the electro-optical device described in the above embodiment will be described.
As shown in FIG. 11A, a mobile personal computer 140, which is an example of an embodiment of an electronic device, includes a main body 142 including a keyboard 141 and a display unit 143. The display unit 143 includes the display unit 200 that includes the electro-optical device described above.

図11(b)示すように、電子機器の実施形態の別の例である携帯電話機145は、複数の操作ボタン146と、前述した電気光学装置からなる表示部200とを有している。   As shown in FIG. 11B, a mobile phone 145, which is another example of the embodiment of the electronic apparatus, includes a plurality of operation buttons 146 and the display unit 200 including the above-described electro-optical device.

このように、パーソナルコンピュータ140および携帯電話機145は、上述した電気光学装置を備えているので、画素に表示欠陥が生じることをより効果的に防止することのできるパーソナルコンピュータ140および携帯電話機145を提供することができる。   As described above, since the personal computer 140 and the mobile phone 145 include the above-described electro-optical device, the personal computer 140 and the mobile phone 145 can be more effectively prevented from causing display defects in the pixels. can do.

また、図12(a)は電子ペーパーの構成を示す斜視図であり、電子ペーパー1400は、本発明の電気泳動表示装置を表示部1401として備える。電子ペーパー1400は、従来の紙と同様の質感及び柔軟性を有する書き換え可能なシートからなる本体1402を備えて構成されている。   FIG. 12A is a perspective view illustrating a configuration of electronic paper. The electronic paper 1400 includes the electrophoretic display device of the present invention as a display portion 1401. The electronic paper 1400 includes a main body 1402 made of a rewritable sheet having the same texture and flexibility as conventional paper.

また、図12(b)は、電子ノートの構成を示す斜視図であり、電子ノート1500は、図12(a)で示した電子ペーパー1400が複数枚束ねられ、カバー1501に挟まれているものである。カバー1501は、例えば外部の装置から送られる表示データを入力する不図示の表示データ入力手段を備える。これにより、その表示データに応じて、電子ペーパーが束ねられた状態のまま、表示内容を変更したり更新したりできる。   FIG. 12B is a perspective view showing the configuration of the electronic notebook. The electronic notebook 1500 includes a plurality of electronic papers 1400 shown in FIG. It is. The cover 1501 includes display data input means (not shown) that inputs display data sent from an external device, for example. Thereby, according to the display data, the display content can be changed or updated while the electronic paper is bundled.

また、上述した例に加えて、他の例として、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器などにおいて応用することができる。本発明に係る電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても好適に用いることができる。   In addition to the above-described examples, other examples include a liquid crystal television, a viewfinder type and a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a workstation, a videophone, and a POS terminal. It can be applied to devices equipped with a touch panel. The electro-optical device according to the present invention can also be suitably used as a display unit of such an electronic apparatus.

第1実施形態の液晶表示装置を示す等価回路図である。1 is an equivalent circuit diagram illustrating a liquid crystal display device according to a first embodiment. 液晶装置の1画素分の具体的な構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the specific structural example for 1 pixel of a liquid crystal device. 液晶表示装置における素子基板の製造工程図である。It is a manufacturing-process figure of the element substrate in a liquid crystal display device. 図3に続く製造工程図である。FIG. 4 is a manufacturing process diagram following FIG. 3. 図4に続く製造工程図である。FIG. 5 is a manufacturing process diagram following FIG. 4; 図5に続く製造工程図である。FIG. 6 is a manufacturing process diagram following FIG. 5; 受光素子の配置例を示す平面構成図である。It is a plane block diagram which shows the example of arrangement | positioning of a light receiving element. 液晶表示装置の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of a liquid crystal display device. 第2実施形態の有機EL装置における1画素分の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example for 1 pixel in the organic electroluminescent apparatus of 2nd Embodiment. 第3実施形態の電気泳動表示装置における1画素分の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example for 1 pixel in the electrophoretic display device of 3rd Embodiment. 電子機器の実施例を示す概略構成図。The schematic block diagram which shows the Example of an electronic device. 電子機器の他の実施例を示す概略構成図。The schematic block diagram which shows the other Example of an electronic device.

符号の説明Explanation of symbols

1…液晶表示装置(電気光学装置)、90…有機EL装置(電気光学装置)、130…電気泳動表示装置(電気光学装置)、30…受光素子、11…素子基板、34…第1層間絶縁膜、33…ゲート絶縁膜、35…第2層間絶縁膜、36…第3層間絶縁膜、51…貫通孔、46A…接続電極(金属膜)、22…TFT素子(画素駆動用素子)、42…ドレイン電極、77…Si層、93…素子基板、131…素子基板、H1…コンタクトホール   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal display device (electro-optical device), 90 ... Organic EL device (electro-optical device), 130 ... Electrophoretic display device (electro-optical device), 30 ... Light receiving element, 11 ... Element substrate, 34 ... 1st interlayer insulation Film 33 33 gate insulating film 35 second interlayer insulating film 36 third interlayer insulating film 51 through hole 46A connection electrode (metal film) 22 TFT element (pixel driving element) 42 ... Drain electrode, 77 ... Si layer, 93 ... Element substrate, 131 ... Element substrate, H1 ... Contact hole

Claims (15)

周囲の外光を受光する受光素子を備えてなる電気光学装置であって、
基板上に設けられる絶縁膜に前記受光素子を収容する孔が設けられ、
前記孔の少なくとも内側壁が遮光性を有していることを特徴とする電気光学装置。
An electro-optical device comprising a light receiving element that receives ambient ambient light,
A hole for accommodating the light receiving element is provided in an insulating film provided on the substrate,
An electro-optical device, wherein at least an inner wall of the hole has a light shielding property.
前記孔の内側壁がテーパ形状となっていることを特徴とする請求項1記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 1, wherein an inner wall of the hole has a tapered shape. 前記孔の少なくとも内側壁に金属膜が設けられていることを特徴とする請求項1又は2記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 1, wherein a metal film is provided on at least an inner wall of the hole. 前記孔の底部を含む内面に前記金属膜が設けられていることを特徴とする請求項3記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 3, wherein the metal film is provided on an inner surface including a bottom portion of the hole. 前記金属膜が前記受光素子の電極であることを特徴とする請求項3又は4に記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 3, wherein the metal film is an electrode of the light receiving element. 前記金属膜が、画素を駆動する駆動素子の電極と共通の材料を用いて形成されていることを特徴とする請求項3乃至5のいずれか一項に記載の電気光学装置。   6. The electro-optical device according to claim 3, wherein the metal film is formed using a material common to an electrode of a driving element that drives a pixel. 前記孔は、前記基板上に設けられる複数の前記絶縁膜を貫通して形成され、
前記絶縁膜の下層であって前記孔と平面的に重なる領域に、Si層が設けられていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The hole is formed through a plurality of the insulating films provided on the substrate,
The electro-optical device according to claim 1, wherein an Si layer is provided in a region below the insulating film and overlapping the hole in a plane.
前記Si層は、画素を駆動する駆動素子のSi層と同層又は共通の配線層と形成されていることを特徴とする請求項7記載の電気光学装置。   8. The electro-optical device according to claim 7, wherein the Si layer is formed in the same layer as the Si layer of a driving element for driving a pixel or a common wiring layer. 前記受光素子がPINダイオードであることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 1, wherein the light receiving element is a PIN diode. 周囲の外光を受光する受光素子を備えてなる電気光学装置の製造方法であって、
基板上に絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜に、少なくとも内側壁が遮光性を有する孔を形成する工程と、
前記孔内に前記受光素子を設ける工程と、を備えることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device including a light receiving element that receives ambient ambient light,
Forming an insulating film on the substrate;
Forming a hole having at least an inner wall light-shielding in the insulating film;
And a step of providing the light receiving element in the hole.
前記孔をテーパ形状に形成することを特徴とする請求項10記載の電気光学装置の製造方法。   The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 10, wherein the hole is formed in a tapered shape. 前記孔の少なくとも内側壁に金属膜を形成する工程を備えることを特徴とする請求項10又は11記載の電気光学装置の製造方法。   12. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 10, further comprising a step of forming a metal film on at least an inner wall of the hole. 前記金属膜を、前記受光素子を駆動する駆動素子の電極を形成する工程と共通の工程で形成することを特徴とする請求項12記載の電気光学装置の製造方法。   13. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 12, wherein the metal film is formed in a step common to a step of forming an electrode of a driving element that drives the light receiving element. 前記絶縁膜の下層であって前記孔と平面的に重なる領域に、Si層を形成する工程を備えることを特徴とする請求項10乃至13のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法。   14. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 10, further comprising a step of forming a Si layer in a region that is a lower layer of the insulating film and that overlaps the hole in a planar manner. . 請求項1乃至9のいずれか1項に記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1.
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