JP2008270532A - Substrate with built-in inductor and manufacturing method thereof - Google Patents

Substrate with built-in inductor and manufacturing method thereof Download PDF

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JP2008270532A JP2007111643A JP2007111643A JP2008270532A JP 2008270532 A JP2008270532 A JP 2008270532A JP 2007111643 A JP2007111643 A JP 2007111643A JP 2007111643 A JP2007111643 A JP 2007111643A JP 2008270532 A JP2008270532 A JP 2008270532A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate with a built-in inductor which is easy in thickening the film, and has low resistance. <P>SOLUTION: The substrate with a built-in inductor comprises a substrate 30, an inductor 12 bonded on the substrate 30, and wiring layers 40-44 connected electrically to a first connection part A on one end side of the inductor 12 and to a second connection part B on the other end side, respectively. The thickness of the inductor 12 is set to be thicker than those of the wiring layers 40-44. The inductor 12 is formed by bonding an inductor member 12a obtained by press-working with a metal plate 10 to the substrate 30 using an adhesive layer 14. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明はインダクタ内蔵基板及びその製造方法に係り、さらに詳しくは、電子部品が実装される配線基板に適用できるインダクタ内蔵基板及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an inductor-embedded substrate and a manufacturing method thereof, and more particularly to an inductor-embedded substrate applicable to a wiring substrate on which electronic components are mounted and a manufacturing method thereof.

近年、電子機器の進展に伴って、電子部品が実装される配線基板の小型化・高機能化が求められている。例えば、携帯電話をはじめとする無線通信機器に使用されるRFモジュール向けの配線基板では、キャパシタ、インダクタ及び抵抗などが内蔵された受動素子内蔵基板が使用されている。インダクタは、電源回路でノイズ抑制、整流、平滑のために使用されたり、高周波回路のフィルタとして使用されたりする。   In recent years, with the progress of electronic devices, there is a demand for miniaturization and high functionality of a wiring board on which electronic components are mounted. For example, in a wiring board for an RF module used in a wireless communication device such as a mobile phone, a passive element built-in board with a built-in capacitor, inductor, resistor, and the like is used. Inductors are used for noise suppression, rectification, and smoothing in power supply circuits, and are used as filters for high-frequency circuits.

特許文献1には、誘電体層の上にコイルパターン、コンデンサ電極及び配線パターンを形成し、さらにコイルパターンの近傍に磁性体を配置することにより、高いL値のインダクタと大容量のコンデンサが共通の誘電体層の上に形成された構造の回路部品内蔵基板を得ることが記載されている。   In Patent Document 1, a coil pattern, a capacitor electrode, and a wiring pattern are formed on a dielectric layer, and a magnetic material is disposed in the vicinity of the coil pattern, so that a high L-value inductor and a large-capacity capacitor are common. It is described that a circuit component built-in substrate having a structure formed on a dielectric layer is obtained.

また、特許文献2には、金属シートをプレス加工などで機械加工して渦巻状の平面コイルを形成し、平面コイルを補強要素に貼着させることにより、平面コイルを強固にすることが記載されている。   Patent Document 2 describes that a metal sheet is machined by pressing or the like to form a spiral planar coil, and the planar coil is adhered to a reinforcing element, thereby strengthening the planar coil. ing.

また、特許文献3には、絶縁基板に設けられた打ち抜き溝に回路導体を挿入し、絶縁基板の両面にプリプレグシートを設けることにより、回路導体が埋め込まれた回路基板を製造することが記載されている。
特開2002−344106号公報 特開平6−310324号公報 特開2004−7010号公報
Further, Patent Document 3 describes that a circuit board in which a circuit conductor is embedded is manufactured by inserting a circuit conductor into a punching groove provided in the insulating board and providing prepreg sheets on both sides of the insulating board. ing.
JP 2002-344106 A JP-A-6-310324 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-7010

配線基板にインダクタを内蔵させる方法としては、配線層の形成工程と同様にめっき法に基づいてスパイラル状の金属パターン層を基板の上に形成してインダクタを得る方法が採用される。従って、配線層の形成工程で同時にインダクタを形成する場合は、インダクタの厚みは配線層の厚み(例えば30μm程度)と同一に設定される。   As a method of incorporating an inductor in a wiring board, a method of obtaining an inductor by forming a spiral metal pattern layer on a substrate based on a plating method as in the wiring layer forming step is employed. Therefore, when the inductor is simultaneously formed in the wiring layer forming step, the thickness of the inductor is set to be the same as the thickness of the wiring layer (for example, about 30 μm).

近年では、電子機器の低消費電力化、さらには半導体チップ(LSI)の低電圧化に伴って、抵抗の低いインダクタが要求されている。インダクタの抵抗が高いと伝送ロスの増大を招いたり、インダクタの発熱による消費電力のロスが発生したりするからである。インダクタの抵抗はその断面積に大きく依存するので、インダクタの厚膜化が要求されることになる。   In recent years, inductors with low resistance have been demanded with the reduction in power consumption of electronic devices and the reduction in voltage of semiconductor chips (LSIs). This is because if the resistance of the inductor is high, an increase in transmission loss is caused, or a loss of power consumption due to heat generation of the inductor occurs. Since the resistance of an inductor greatly depends on its cross-sectional area, it is required to increase the thickness of the inductor.

しかしながら、上記したようなめっき法によってインダクタを形成する方法では、厚膜化には限界にあり、インダクタの低抵抗化の要求に対応することが困難になる問題がある。   However, in the method of forming an inductor by the plating method as described above, there is a limit in increasing the film thickness, and there is a problem that it becomes difficult to meet the demand for lowering the resistance of the inductor.

本発明は以上の課題を鑑みて創作されたものであり、容易に厚膜化できて抵抗の低いインダクタが内蔵されたインダクタ内蔵基板及びその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an inductor-embedded substrate in which an inductor having a low resistance can be easily formed and a method for manufacturing the same.

上記課題を解決するため、本発明はインダクタ内蔵基板に係り、基板と、前記基板の上に接着されたインダクタと、前記インダクタの一端側の第1接続部と他端側の第2接続部とにそれぞれ電気的に接続された配線層とを有し、前記インダクタの厚みは前記配線層の厚みより厚いことを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention relates to a substrate with a built-in inductor, a substrate, an inductor bonded onto the substrate, a first connection portion on one end side of the inductor, and a second connection portion on the other end side. And a wiring layer electrically connected to each other, wherein the thickness of the inductor is larger than the thickness of the wiring layer.

本発明のインダクタ内蔵基板のインダクタは、厚みの厚い(例えば100〜300μm)金属板がプレス加工されて得られるインダクタ部材が基板の上に接着されて形成されるので、めっき法などで形成される配線層の厚み(30μm程度)よりもかなり厚く設定することができる。これにより、基板に内蔵されるインダクタの抵抗を十分に下げることができるので、高周波回路において伝送ロスを招いたり、消費電力のロスが発生したりすることが防止される。   The inductor of the substrate with a built-in inductor according to the present invention is formed by plating or the like because an inductor member obtained by pressing a thick metal plate (for example, 100 to 300 μm) is bonded onto the substrate. It can be set considerably thicker than the thickness of the wiring layer (about 30 μm). As a result, the resistance of the inductor built in the substrate can be sufficiently lowered, so that it is possible to prevent a transmission loss or a loss of power consumption in the high-frequency circuit.

本発明の一つに好適な態様では、インダクタの上に絶縁層が設けられており、インダクタの第1接続部及び第2接続部をそれぞれ貫通するスルーホールが絶縁層の上面から基板の下面側まで貫通して形成されている。そして、スルーホール内に配線層に繋がる貫通配線部が形成されており、インダクタの第1、第2接続部が貫通配線部を介して配線層にそれぞれ接続されている。   In a preferred aspect of the present invention, an insulating layer is provided on the inductor, and through-holes penetrating the first connecting portion and the second connecting portion of the inductor respectively extend from the upper surface of the insulating layer to the lower surface side of the substrate. It is formed to penetrate. A through wiring portion connected to the wiring layer is formed in the through hole, and the first and second connection portions of the inductor are respectively connected to the wiring layer through the through wiring portion.

また、本発明の別の好適な態様では、インダクタの上に絶縁層が設けられており、絶縁層にインダクタの第1接続部及び第2接続部に到達するビアホールが形成されている。そして、インダクタの第1、第2接続部はビアホールを介して配線層にそれぞれ接続されている。   In another preferred aspect of the present invention, an insulating layer is provided on the inductor, and via holes reaching the first connection portion and the second connection portion of the inductor are formed in the insulating layer. The first and second connection portions of the inductor are connected to the wiring layer through via holes, respectively.

また、上記課題を解決するため、本発明はインダクタ内蔵基板の製造方法に係り、金属板をプレス加工することにより得られたインダクタ部材を基板の上に接着してインダクタを形成する工程と、前記インダクタの一端側の第1接続部と他端側の第2接続部とにそれぞれ電気的に接続される配線層を形成する工程とを有し、前記インダクタの厚みは前記配線層の厚みより厚いことをすることを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention relates to a method of manufacturing a substrate with a built-in inductor, a step of forming an inductor by bonding an inductor member obtained by pressing a metal plate on a substrate, Forming a wiring layer electrically connected to the first connection portion on one end side of the inductor and the second connection portion on the other end side, and the thickness of the inductor is thicker than the thickness of the wiring layer It is characterized by doing things.

本発明の製造方法を使用することにより、上記した発明のインダクタ内蔵基板を容易に製造することができる。本発明では、金属板をプレス加工して得られるインダクタ部材を使用するので、めっき法では形成困難な厚膜のインダクタであっても容易に基板に内蔵させることができる。   By using the manufacturing method of the present invention, the above-described inductor-embedded substrate can be easily manufactured. In the present invention, an inductor member obtained by pressing a metal plate is used, so that even a thick film inductor that is difficult to form by plating can be easily built into the substrate.

以上説明したように、本発明では、抵抗の低いインダクタを基板に容易に内蔵することができるので、損失の少ないインダクタ内蔵基板を構成することができる。   As described above, according to the present invention, an inductor having a low resistance can be easily built in the substrate, so that a substrate with a built-in inductor with low loss can be configured.

以下、本発明の実施の形態について、添付の図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

(第1の実施の形態)
図1〜図5は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図、図6は同じくインダクタ内蔵基板を示す断面図、図7は第1実施形態のインダクタ内蔵基板に半導体チップが実装されて構成される半導体装置を示す断面図である。
(First embodiment)
1 to 5 are cross-sectional views showing a method of manufacturing an inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the present invention, FIG. 6 is a cross-sectional view showing the inductor-embedded substrate, and FIG. It is sectional drawing which shows the semiconductor device comprised by mounting a chip | tip.

第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法では、まず、図1(a)に示すように、厚みが100〜300μmの銅板10を用意する。次いで、図1(b)に示すように、下型22及び上型24から構成される金型20を用意する。この金型20は銅板10をプレス加工してスパイラル(渦巻)状のインダクタ部材を形成するためのものであり、下型22にはスパイラル状の開口部22aが設けられている。そして、上型24は下型22の開口部22aに対応するスパイラル状の突出部を備えている。   In the method for manufacturing a substrate with a built-in inductor according to the first embodiment, first, a copper plate 10 having a thickness of 100 to 300 μm is prepared as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 1B, a mold 20 composed of a lower mold 22 and an upper mold 24 is prepared. The mold 20 is for forming a spiral (spiral) inductor member by pressing the copper plate 10, and the lower mold 22 is provided with a spiral opening 22a. The upper mold 24 includes a spiral protrusion corresponding to the opening 22 a of the lower mold 22.

続いて、図1(b)及び(c)に示すように、下型22の上に銅板10を配置し、上型24を下側に移動させて銅板10を押圧することにより、下型22の開口部22a上の銅板10の部分を打ち抜く。これにより、図2に示すように、銅板10が打ち抜き加工されてスパイラル状のインダクタ部材12aが得られる。   Subsequently, as shown in FIGS. 1B and 1C, the copper plate 10 is disposed on the lower die 22, and the upper die 24 is moved downward to press the copper plate 10, thereby lowering the lower die 22. A portion of the copper plate 10 on the opening 22a is punched out. Thereby, as shown in FIG. 2, the copper plate 10 is stamped and the spiral inductor member 12a is obtained.

本実施形態では、厚みの厚い銅板10をプレス加工することによりインダクタ部材12aを得るので、めっき法を使用する方法よりもインダクタ部材12aの厚みを格段に厚くすることができる。これにより、抵抗の低いインダクタ部材12aを容易に得ることができる。図2に示すように、スパイラル状のインダクタ部材12aの内側の一端側には第1接続部Aが画定されており、外側の他端側には第2接続部Bが画定されている。なお、本実施形態では、銅板10をプレス加工してインダクタ部材12aを得る形態を例示するが、インダクタを構成できる他の金属材料からなる金属板を使用してもよい。また、金属板として銅箔などの金属箔を使用してもよい。   In this embodiment, since the inductor member 12a is obtained by pressing the thick copper plate 10, the inductor member 12a can be made much thicker than a method using a plating method. Thereby, the inductor member 12a having a low resistance can be easily obtained. As shown in FIG. 2, a first connection portion A is defined on one end side inside the spiral inductor member 12a, and a second connection portion B is defined on the other end side outside. In the present embodiment, an example in which the inductor member 12a is obtained by pressing the copper plate 10 is illustrated, but a metal plate made of another metal material that can constitute the inductor may be used. Moreover, you may use metal foil, such as copper foil, as a metal plate.

次いで、図3(a)に示すように、樹脂などの絶縁材料からなるコア基板30の両面側に第1配線層40をそれぞれ形成する。図3(a)の構造体は各種の方法で形成できるが、例えば、樹脂基板の両面側に銅箔が貼着された銅張積層板を用意し、その銅箔をパターニングすることにより容易に形成することができる。コア基板30の上面側にはインダクタ部材12aが配置されるインダクタ配置領域Rが画定されている。   Next, as shown in FIG. 3A, first wiring layers 40 are formed on both sides of the core substrate 30 made of an insulating material such as resin. The structure shown in FIG. 3A can be formed by various methods. For example, a copper-clad laminate having a copper foil attached to both sides of a resin substrate is prepared, and the copper foil is easily patterned. Can be formed. An inductor placement region R in which the inductor member 12 a is placed is defined on the upper surface side of the core substrate 30.

続いて、図3(b)に示すように、前述したインダクタ部材12aを接着層14を介してコア基板30のインダクタ配置領域Rに接着する。接着層14としては、半硬化状態の樹脂フィルムを熱処理して硬化させてもよいし、あるいは液状の接着剤を使用してもよい。これにより、図3(c)に示すように、コア基板30の上面にスパイラル状のインダクタ12が形成される。なお、図3(b)及び(c)では、図2のインダクタ部材12aのうちの第1、第2接続部A,Bの近傍部が模式的に描かれている。   Subsequently, as illustrated in FIG. 3B, the above-described inductor member 12 a is bonded to the inductor arrangement region R of the core substrate 30 through the adhesive layer 14. As the adhesive layer 14, a semi-cured resin film may be cured by heat treatment, or a liquid adhesive may be used. As a result, as shown in FIG. 3C, the spiral inductor 12 is formed on the upper surface of the core substrate 30. 3B and 3C, the vicinity of the first and second connection portions A and B in the inductor member 12a of FIG. 2 is schematically illustrated.

このようにして、プレス加工によって得られたインダクタ部材12aをコア基板30の上に接着することにより、厚膜(好適には100μm〜300μm)のインダクタ12をコア基板30の上に容易に形成することができる。インダクタ12のライン:スペースは、例えば100μm:100μmに設定される。   In this way, the inductor member 12 a obtained by press working is bonded onto the core substrate 30, whereby the thick film (preferably 100 μm to 300 μm) inductor 12 is easily formed on the core substrate 30. be able to. The line: space of the inductor 12 is set to 100 μm: 100 μm, for example.

なお、銅張積層板の銅箔をパターニングする方法やめっき法によってインダクタを形成する場合は、実用レベルではその厚みは30μm程度が限界であることを考慮すると、本実施形態ではかなり厚いインダクタ12を形成できることが理解される。   When an inductor is formed by a method of patterning a copper foil of a copper clad laminate or a plating method, considering that the thickness is about 30 μm at a practical level, the present embodiment uses a considerably thick inductor 12. It is understood that it can be formed.

次いで、図4(a)に示すように、コア基板30の上面側に、第1配線層40及びインダクタ12を被覆する第1層間絶縁層50を形成する。さらに、コア基板30の下面側にも第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50を形成する。第1層間絶縁層50は、例えばエポキシ樹脂などの樹脂フィルムが貼着されて形成される。本実施形態では、厚みが300μm以上のインダクタ12であっても容易に形成することができるが、第1層間絶縁層50に段差が発生する場合があるので、その場合は第1層間絶縁層50の表面を研磨して平坦化する。   Next, as shown in FIG. 4A, a first interlayer insulating layer 50 that covers the first wiring layer 40 and the inductor 12 is formed on the upper surface side of the core substrate 30. Further, a first interlayer insulating layer 50 that covers the first wiring layer 40 is also formed on the lower surface side of the core substrate 30. The first interlayer insulating layer 50 is formed by adhering a resin film such as an epoxy resin, for example. In the present embodiment, even the inductor 12 having a thickness of 300 μm or more can be easily formed. However, a step may occur in the first interlayer insulating layer 50. In this case, the first interlayer insulating layer 50 The surface of is polished and flattened.

続いて、図4(b)に示すように、図4(a)の構造体において、インダクタ12の第1接続部A及び第2接続部Bをそれぞれ貫通するように、コア基板30の上側の第1層間絶縁層50の上面から下側の第1層間絶縁層50の下面までドリルで貫通加工することにより、第1スルーホールTH1及び第2スルーホールTH2を形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 4B, in the structure of FIG. 4A, the upper side of the core substrate 30 is passed through the first connection portion A and the second connection portion B of the inductor 12, respectively. The first through hole TH1 and the second through hole TH2 are formed by drilling from the upper surface of the first interlayer insulating layer 50 to the lower surface of the lower first interlayer insulating layer 50 with a drill.

第1スルーホールTH1は、上側の第1層間絶縁層50と、インダクタ12の内側の第1接続部Aと、接着層14と、コア基板30と、下側の第1配線層40及び第1層間絶縁層50とを貫通して形成される。また、第2スルーホールTH2は、上側の第1層間絶縁層50と、インダクタ12の外側の第2接続部Bと、接着層14と、コア基板30と、下側の第1層間絶縁層50とを貫通して形成される。   The first through hole TH1 includes the upper first interlayer insulating layer 50, the first connection portion A inside the inductor 12, the adhesive layer 14, the core substrate 30, the lower first wiring layer 40, and the first It is formed through the interlayer insulating layer 50. In addition, the second through hole TH2 includes the upper first interlayer insulating layer 50, the second connecting portion B outside the inductor 12, the adhesive layer 14, the core substrate 30, and the lower first interlayer insulating layer 50. And is formed through.

第1スルーホールTH1内には、インダクタ12の第1接続部A及び下側の第1配線層40の内部が露出し、第2スルーホールTH2内には、インダクタ12の第2接続部Bの内部が露出する。   The first connection hole A of the inductor 12 and the inside of the lower first wiring layer 40 are exposed in the first through hole TH1, and the second connection hole B of the inductor 12 is exposed in the second through hole TH2. The inside is exposed.

さらに、図4(c)に示すように、コア基板30の下面側の第1層間絶縁層50をレーザで加工することにより、コア基板30の下面側の第1配線層40に到達する第1ビアホールVH1を形成する。なお、第1層間絶縁層50に形成する第1ビアホールVH1は必要に応じて形成すればよく、省略してもよい。   Further, as shown in FIG. 4C, the first interlayer insulating layer 50 on the lower surface side of the core substrate 30 is processed with a laser, thereby reaching the first wiring layer 40 on the lower surface side of the core substrate 30. A via hole VH1 is formed. The first via hole VH1 formed in the first interlayer insulating layer 50 may be formed as necessary and may be omitted.

次いで、図5(a)に示すように、コア基板30の両面側の第1層間絶縁層50上と、第1、第2スルーホールTH1,TH2内及び第1ビアホールVH1内に、無電解めっきによって銅などからなるシード層(不図示)を形成する。さらに、シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきによってシード層の上に銅などからなる金属めっき層(不図示)を形成することにより、シード層及び金属めっき層から構成される金属層41aを得る。このとき、第1、第2スルーホールTH1,TH2の中に金属めっき層が充填されて金属層41aに繋がる貫通配線部41bが形成される。   Next, as shown in FIG. 5A, electroless plating is performed on the first interlayer insulating layer 50 on both sides of the core substrate 30, and in the first and second through holes TH1 and TH2, and in the first via hole VH1. To form a seed layer (not shown) made of copper or the like. Furthermore, a metal plating layer (not shown) made of copper or the like is formed on the seed layer by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path, thereby forming a metal layer 41a composed of the seed layer and the metal plating layer. obtain. At this time, the first and second through holes TH1 and TH2 are filled with the metal plating layer to form the through wiring portion 41b connected to the metal layer 41a.

続いて、図5(b)に示すように、フォトリソグラフィ及びエッチングによってコア基板30の両面側の金属層41aをパターニングすることにより、コア基板30の両面側の第1層間絶縁層50の上に第2配線層42をそれぞれ形成する。コア基板30の両面側の第2配線層42は、第1、第2スルーホールTH1,TH2内の貫通配線部41bを介して相互接続されて形成される。また、コア基板30の下面側の第2配線層42は第1ビアホールVH1を介して第1配線層40に電気的に接続される。   Subsequently, as shown in FIG. 5B, the metal layers 41a on both sides of the core substrate 30 are patterned by photolithography and etching, so that the first interlayer insulating layer 50 on both sides of the core substrate 30 is formed. A second wiring layer 42 is formed. The second wiring layers 42 on both sides of the core substrate 30 are formed to be interconnected through the through wiring portions 41b in the first and second through holes TH1 and TH2. The second wiring layer 42 on the lower surface side of the core substrate 30 is electrically connected to the first wiring layer 40 through the first via hole VH1.

これにより、インダクタ12の第1接続部Aが第1スルーホールTH1内の貫通配線部41bを介して第2配線層42に電気的に接続される。また同様に、インダクタ12の第2接続部Bが第2スルーホールTH2内の貫通配線部41bを介して第2配線層42に電気的に接続される。   As a result, the first connection portion A of the inductor 12 is electrically connected to the second wiring layer 42 via the through wiring portion 41b in the first through hole TH1. Similarly, the second connection portion B of the inductor 12 is electrically connected to the second wiring layer 42 through the through wiring portion 41b in the second through hole TH2.

なお、第1、第2スルーホールTH1,TH2の側面にスルーホールめっき層が形成され、内部の孔に樹脂が充填されていてもよい。この場合は、コア基板30の両面側の第2配線層42がスルーホールめっき層を介して相互接続される。   Note that through-hole plating layers may be formed on the side surfaces of the first and second through-holes TH1 and TH2, and the internal holes may be filled with resin. In this case, the second wiring layers 42 on both sides of the core substrate 30 are interconnected via the through-hole plating layer.

このようにして、インダクタ12の第1接続部A及び第2接続部Bが第2配線層42にそれぞれ接続されることにより、第2配線層42の線路の間にインダクタ12が接続される。なお、第2配線層42及び貫通配線部41bの形成方法は、上記した方法の他に、セミアディティブ法などの各種の配線形成方法を使用することができる。   In this way, the first connection portion A and the second connection portion B of the inductor 12 are connected to the second wiring layer 42, whereby the inductor 12 is connected between the lines of the second wiring layer 42. In addition to the method described above, various wiring forming methods such as a semi-additive method can be used as a method for forming the second wiring layer 42 and the through wiring portion 41b.

次いで、図5(c)に示すように、コア基板30の両面側に、第2配線層42を被覆する第2層間絶縁層52をそれぞれ形成する。さらに、コア基板30の両面側の第2層間絶縁層52をレーザで加工することにより、第2配線層42に到達する第2ビアホールVH2をそれぞれ形成する。その後に、コア基板30の両面側の第2層間絶縁層52の上に、セミアディティブ法などにより第2ビアホールVH2を介して第2配線層42に接続される第3配線層44をそれぞれ形成する。   Next, as shown in FIG. 5C, the second interlayer insulating layer 52 that covers the second wiring layer 42 is formed on both sides of the core substrate 30. Furthermore, the second via holes VH2 reaching the second wiring layer 42 are formed by processing the second interlayer insulating layers 52 on both sides of the core substrate 30 with a laser. Thereafter, the third wiring layers 44 connected to the second wiring layer 42 through the second via holes VH2 are formed on the second interlayer insulating layers 52 on both sides of the core substrate 30 by a semi-additive method or the like. .

次いで、図6に示すように、コア基板30の両面側に、第3配線層44の接続部上に開口部55aが設けられたソルダレジスト55をそれぞれ形成する。さらに、ソルダレジスト55の開口部55a内の第3配線層44の上に下から順にNi層及びAu層がめっきによって形成されてコンタクト層(不図示)が形成される。これにより、第1実施形態のインダクタ内蔵基板1が得られる。   Next, as illustrated in FIG. 6, solder resists 55 each having an opening 55 a on the connection portion of the third wiring layer 44 are formed on both surfaces of the core substrate 30. Further, a Ni layer and an Au layer are formed in order from the bottom on the third wiring layer 44 in the opening 55a of the solder resist 55 to form a contact layer (not shown). Thereby, the substrate 1 with a built-in inductor according to the first embodiment is obtained.

なお、本実施形態では、コア基板30の両面側に3層の配線層(第1〜第3配線層40,42,44)を形成したが、配線層の積層数は任意に設定することができる。また、本実施形態では、コア基板30の上にインダクタ12を直接形成したが、第1又は第2層間絶縁層50,52を基板としてそれらの上にインダクタ12を形成してもよい。つまり、インダクタ12は、基板として機能する様々な絶縁体の上に形成することができる。   In the present embodiment, three wiring layers (first to third wiring layers 40, 42, 44) are formed on both sides of the core substrate 30, but the number of wiring layers stacked can be arbitrarily set. it can. In this embodiment, the inductor 12 is directly formed on the core substrate 30. However, the inductor 12 may be formed on the first or second interlayer insulating layers 50 and 52 as a substrate. That is, the inductor 12 can be formed on various insulators that function as a substrate.

そして、図7に示すように、半導体チップ60(LSIチップ)のバンプ62がコア基板30の上面側の第3配線層44の接続部にフリップチップ接続される。さらに、半導体チップ60の下側の隙間にアンダーフィル樹脂64が充填される。また、コア基板30の下面側の第3配線層44の接続部にはんだボールが搭載されるなどして外部接続端子70が設けられる。このようにして、本実施形態のインダクタ内蔵基板1に半導体チップ60が実装されて構成される半導体装置2が得られる。   As shown in FIG. 7, the bumps 62 of the semiconductor chip 60 (LSI chip) are flip-chip connected to the connection portions of the third wiring layer 44 on the upper surface side of the core substrate 30. Further, an underfill resin 64 is filled in the gap below the semiconductor chip 60. The external connection terminals 70 are provided by mounting solder balls on the connection portions of the third wiring layer 44 on the lower surface side of the core substrate 30. In this way, the semiconductor device 2 configured by mounting the semiconductor chip 60 on the inductor-embedded substrate 1 of the present embodiment is obtained.

図6に示すように、第1実施形態のインダクタ基板1では、両面側に第1配線層40を備えたコア基板30のインダクタ配置領域R(図3(a))に、銅板10がプレス加工されて得られたインダクタ12が接着層14によって接着されて形成されている。コア基板30の上面側には、インダクタ12及び第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50が形成されている。また、コア基板30の下面側にも第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50が形成されている。   As shown in FIG. 6, in the inductor substrate 1 of the first embodiment, the copper plate 10 is pressed into the inductor placement region R (FIG. 3A) of the core substrate 30 provided with the first wiring layer 40 on both sides. The inductor 12 obtained in this way is formed by being adhered by an adhesive layer 14. A first interlayer insulating layer 50 that covers the inductor 12 and the first wiring layer 40 is formed on the upper surface side of the core substrate 30. A first interlayer insulating layer 50 that covers the first wiring layer 40 is also formed on the lower surface side of the core substrate 30.

さらに、インダクタ12の内側の第1接続部Aを貫通した状態で、上側の第1層間絶縁層50の上面から下側の第1層間絶縁層50の下面まで貫通する第1スルーホールTH1が形成されている。また同様に、インダクタ12の外側の第2接続部Bを貫通した状態で、上側の第1層間絶縁層50の上面から下側の第1層間絶縁層50の下面まで貫通する第2スルーホールTH2が形成されている。   Further, a first through hole TH1 penetrating from the upper surface of the upper first interlayer insulating layer 50 to the lower surface of the lower first interlayer insulating layer 50 in a state of penetrating the first connection portion A inside the inductor 12 is formed. Has been. Similarly, the second through hole TH2 penetrating from the upper surface of the upper first interlayer insulating layer 50 to the lower surface of the lower first interlayer insulating layer 50 in a state of penetrating the second connection portion B outside the inductor 12. Is formed.

そして、コア基板30の両面側の第1層間絶縁層50の上に、第1、第2スルーホールTH1,TH2に充填された貫通配線部41bを介して相互接続される第2配線層42がそれぞれ形成されている。このようにして、インダクタ12の内側の第1接続部Aは貫通配線部41bを介して第2配線層42に電気的に接続されている。また、インダクタ12の外側の第2接続部Bは貫通配線部41bを介して第2配線層42に電気的に接続されている。第2配線層42の線路の間に接続されたインダクタ12は、電源回路でノイズ抑制、整流、平滑のために使用されたり、電気信号を伝える高周波回路でフィルタとして使用されたりする。   Then, on the first interlayer insulating layer 50 on both sides of the core substrate 30, the second wiring layer 42 interconnected through the through wiring portion 41b filled in the first and second through holes TH1 and TH2 is provided. Each is formed. Thus, the first connection portion A inside the inductor 12 is electrically connected to the second wiring layer 42 through the through wiring portion 41b. Further, the second connection portion B outside the inductor 12 is electrically connected to the second wiring layer 42 through the through wiring portion 41b. The inductor 12 connected between the lines of the second wiring layer 42 is used for noise suppression, rectification, and smoothing in a power supply circuit, or used as a filter in a high-frequency circuit that transmits an electric signal.

また、コア基板30の下面側の第1層間絶縁層50には第1配線層40に到達する第1ビアホールVH1が設けられており、第2配線層42が第1ビアホールVH1を介して第1配線層40に接続されている。   The first interlayer insulating layer 50 on the lower surface side of the core substrate 30 is provided with a first via hole VH1 reaching the first wiring layer 40, and the second wiring layer 42 is first through the first via hole VH1. Connected to the wiring layer 40.

コア基板30の両面側の第2配線層42の上には第2層間絶縁層52がそれぞれ形成されており、第2層間絶縁層52には第2配線層42に到達する第2ビアホールVH2がそれぞれ形成されている。さらに、コア基板30の両面側の第2層間絶縁層52の上に、第2ビアホールVH2を介して第2配線層42に接続される第3配線層44がそれぞれ形成されている。また、コア基板30の両面側の第2層間絶縁層52の上に、第3配線層44の接続部上に開口部55aが設けられたソルダレジスト55がそれぞれ形成されている。   A second interlayer insulating layer 52 is formed on each of the second wiring layers 42 on both sides of the core substrate 30, and a second via hole VH 2 reaching the second wiring layer 42 is formed in the second interlayer insulating layer 52. Each is formed. Further, third wiring layers 44 connected to the second wiring layer 42 through the second via holes VH2 are respectively formed on the second interlayer insulating layers 52 on both sides of the core substrate 30. Further, solder resists 55 each having an opening 55 a on the connection portion of the third wiring layer 44 are formed on the second interlayer insulating layer 52 on both sides of the core substrate 30.

以上説明したように、本実施形態のインダクタ内蔵基板1では、プレス加工によって得られるインダクタ12をコア基板30の上に接着するようにしたので、めっき法でインダクタを形成する場合よりも格段に厚みを厚く設定することができる。これにより、インダクタ12の抵抗を十分に下げることができるので、高周波回路において伝送ロスを招いたり、消費電力のロスが発生したりすることが防止される。   As described above, in the inductor-embedded substrate 1 according to the present embodiment, the inductor 12 obtained by press working is bonded onto the core substrate 30. Therefore, the thickness is much larger than when the inductor is formed by plating. Can be set thick. As a result, the resistance of the inductor 12 can be sufficiently lowered, so that it is possible to prevent a transmission loss or a loss of power consumption from occurring in the high-frequency circuit.

また、インダクタ12と配線層との接続方式として、インダクタ12の第1、第2接続部A,Bやコア基板30などを貫通する第1、第2スルーホールTH1,TH2を形成し、その中に充填される貫通配線部41bを介してインダクタ12と配線層を接続するようにしている。これにより、配線層の引き回しを最低限に抑えることができるので、インダクタ内蔵基板の小型化を図れると共に、高性能な半導体チップの実装基板として利用することができる。   Further, as a method of connecting the inductor 12 and the wiring layer, first and second through holes TH1 and TH2 penetrating the first and second connection portions A and B of the inductor 12, the core substrate 30, and the like are formed, The inductor 12 and the wiring layer are connected to each other through the through wiring portion 41b filled in the wiring. As a result, routing of the wiring layer can be minimized, so that the inductor-embedded substrate can be miniaturized and used as a high-performance semiconductor chip mounting substrate.

(第2の実施の形態)
図8及び図9は本発明の第2実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図、図10は同じくインダクタ内蔵基板を示す断面図、図11は第2実施形態のインダクタ内蔵基板に半導体チップが実装されて構成される半導体装置を示す断面図である。
(Second Embodiment)
8 and 9 are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing an inductor-embedded substrate according to a second embodiment of the present invention, FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating the inductor-embedded substrate, and FIG. It is sectional drawing which shows the semiconductor device comprised by mounting a chip | tip.

第2実施形態が第1実施形態と異なる点はインダクタと配線層との接続方式にあるので、第2実施形態では、第1実施形態と同一工程及び同一要素についてはその詳しい説明を省略する。   Since the second embodiment is different from the first embodiment in the connection method between the inductor and the wiring layer, in the second embodiment, detailed description of the same steps and the same elements as those in the first embodiment is omitted.

第2実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法では、まず、図8(a)に示すように、コア基板30にスルーホールTHが形成され、その中に充填された貫通配線部41bを介して相互接続された第1配線層40がコア基板30の両面側にそれぞれ形成された構造体を用意する。第1実施形態と同様に、コア基板30の上面にはインダクタ配置領域Rが画定されている。   In the method of manufacturing a substrate with a built-in inductor according to the second embodiment, first, as shown in FIG. 8A, a through hole TH is formed in the core substrate 30, and the mutual through the through wiring portion 41b filled therein. A structure in which the connected first wiring layers 40 are formed on both sides of the core substrate 30 is prepared. Similar to the first embodiment, an inductor arrangement region R is defined on the upper surface of the core substrate 30.

図8(a)の構造体を得る方法は、コア基板30(樹脂基板又は銅張積層板)にスルーホールTHを形成し、めっきによってスルーホールTH内に貫通配線部41bを充填すると同時に、それに繋がる金属層をコア基板30の両面側に形成した後に、金属層をパターニングする。なお、スルーホールTHの側面にスルーホールめっき層が形成され、内部の孔に樹脂が充填されていてもよい。   The method of obtaining the structure of FIG. 8A is to form a through hole TH in the core substrate 30 (resin substrate or copper-clad laminate) and fill the through hole TH in the through hole TH by plating. After the metal layers to be connected are formed on both sides of the core substrate 30, the metal layers are patterned. Note that a through-hole plating layer may be formed on the side surface of the through-hole TH, and an internal hole may be filled with resin.

次いで、図8(b)に示すように、第1実施形態と同様に、銅板10をプレス加工して得られるインダクタ部材12aをコア基板30の上面のインダクタ配置領域Rに接着層14によって接着することにより、コア基板30の上にインダクタ12を形成する。   Next, as shown in FIG. 8B, similarly to the first embodiment, the inductor member 12 a obtained by pressing the copper plate 10 is bonded to the inductor arrangement region R on the upper surface of the core substrate 30 by the adhesive layer 14. As a result, the inductor 12 is formed on the core substrate 30.

続いて、図8(c)に示すように、コア基板30の上面側にインダクタ12及び第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50を形成する。さらに、コア基板30の下面側に第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50を形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 8C, a first interlayer insulating layer 50 that covers the inductor 12 and the first wiring layer 40 is formed on the upper surface side of the core substrate 30. Further, a first interlayer insulating layer 50 that covers the first wiring layer 40 is formed on the lower surface side of the core substrate 30.

次いで、図8(d)に示すように、コア基板30の上面側の第1層間絶縁層50をレーザで加工することにより、インダクタ12の第1、第2接続部A,Bにそれぞれ到達する第1ビアホールVH1と第1配線層40に到達する第2ビアホールVH2を形成する。さらに、コア基板30の下面側の第1層間絶縁層50をレーザで加工することにより、第1配線層40に到達する第2ビアホールVH2を形成する。   Next, as shown in FIG. 8D, the first interlayer insulating layer 50 on the upper surface side of the core substrate 30 is processed by laser to reach the first and second connection portions A and B of the inductor 12, respectively. A first via hole VH1 and a second via hole VH2 reaching the first wiring layer 40 are formed. Furthermore, the second via hole VH2 reaching the first wiring layer 40 is formed by processing the first interlayer insulating layer 50 on the lower surface side of the core substrate 30 with a laser.

続いて、図9(a)に示すように、コア基板30の両面側において、第1ビアホールVH1及び第2ビアホールVH2内と第1層間絶縁層50の上に無電解めっきによりシード層(不図示)をそれぞれ形成する。その後に、シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより金属めっき層(不図示)を形成することにより、シード層及び金属めっき層から構成される金属層41aをそれぞれ得る。   Subsequently, as shown in FIG. 9A, a seed layer (not shown) is formed by electroless plating on the first via hole VH1 and the second via hole VH2 and on the first interlayer insulating layer 50 on both sides of the core substrate 30. ) Respectively. Thereafter, a metal plating layer (not shown) is formed by electrolytic plating using the seed layer as a plating power feeding path, thereby obtaining metal layers 41a each composed of the seed layer and the metal plating layer.

さらに、図9(b)に示すように、コア基板30の両面側の金属層41aをパターニングすることにより、第1層間絶縁層50の上に第2配線層42をそれぞれ形成する。コア基板30の上面側では、第2配線層42は、第1ビアホールVH1を介してインダクタ12の第1接続部A及び第2接続部Bにそれぞれ接続されると共に、第2ビアホールVH2を介して第1配線層40に接続される。また、コア基板30の下面側では、第2配線層42が第2ビアホールVH2を介して第1配線層40に接続される。   Further, as shown in FIG. 9B, the second wiring layer 42 is formed on the first interlayer insulating layer 50 by patterning the metal layers 41 a on both sides of the core substrate 30. On the upper surface side of the core substrate 30, the second wiring layer 42 is connected to the first connection portion A and the second connection portion B of the inductor 12 via the first via hole VH <b> 1, and via the second via hole VH <b> 2. Connected to the first wiring layer 40. On the lower surface side of the core substrate 30, the second wiring layer 42 is connected to the first wiring layer 40 through the second via hole VH 2.

このようにして、インダクタ12の第1接続部A及び第2接続部Bに第2配線層42がそれぞれ接続されることにより、インダクタ12が第2配線層42の線路の間に接続される。   Thus, the inductor 12 is connected between the lines of the second wiring layer 42 by connecting the second wiring layer 42 to the first connection part A and the second connection part B of the inductor 12.

なお、第2配線層42の形成方法は、上記した方法の他に、セミアディティブ法などの各種の配線形成方法を使用することができる。   In addition to the method described above, various wiring forming methods such as a semi-additive method can be used as the method for forming the second wiring layer 42.

続いて、図9(c)に示すように、第1実施形態と同様に、コア基板30の両面側に、第2配線層42の上に第3ビアホールVH3が設けられた第2層間絶縁層52をそれぞれ形成する。その後に、コア基板30の両面側の第2層間絶縁層52の上に、第3ビアホールVH3を介して第2配線層42に接続される第3配線層44をそれぞれ形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 9C, as in the first embodiment, the second interlayer insulating layer in which the third via hole VH3 is provided on the second wiring layer 42 on both sides of the core substrate 30. 52 are formed. Thereafter, the third wiring layers 44 connected to the second wiring layer 42 through the third via holes VH3 are respectively formed on the second interlayer insulating layers 52 on both sides of the core substrate 30.

さらに、図10に示すように、コア基板30の両面側に、第3配線層44の接続部上に開口部55aが設けられたソルダレジスト55をそれぞれ形成する。その後に、第1実施形態と同様に、ソルダレジスト55の開口部55a内の第3配線層44上にコンタクト層(不図示)が形成される。これにより、第2実施形態のインダクタ内蔵基板1aが得られる。   Further, as shown in FIG. 10, solder resists 55 each having an opening 55 a on the connection portion of the third wiring layer 44 are formed on both sides of the core substrate 30. Thereafter, as in the first embodiment, a contact layer (not shown) is formed on the third wiring layer 44 in the opening 55a of the solder resist 55. Thereby, the substrate with built-in inductor 1a of the second embodiment is obtained.

そして、図11に示すように、第1実施形態と同様に、半導体チップ60のバンプ62がコア基板30の上面側の第3配線層44の接続部にフリップチップ接続される。さらに、半導体チップ60の下側の隙間にアンダーフィル樹脂64が充填される。また、コア基板30の下面側の第3配線層44の接続部に外部接続端子70が設けられる。このようにして、第2実施形態のインダクタ内蔵基板1aに半導体チップ60が実装して構成される半導体装置2aが得られる。   As shown in FIG. 11, as in the first embodiment, the bumps 62 of the semiconductor chip 60 are flip-chip connected to the connection portions of the third wiring layer 44 on the upper surface side of the core substrate 30. Further, an underfill resin 64 is filled in the gap below the semiconductor chip 60. In addition, external connection terminals 70 are provided at the connection portions of the third wiring layer 44 on the lower surface side of the core substrate 30. In this way, the semiconductor device 2a configured by mounting the semiconductor chip 60 on the inductor-embedded substrate 1a of the second embodiment is obtained.

図10に示すように、第2実施形態のインダクタ内蔵基板1aでは、コア基板30のインダクタ配置領域R(図8(a))に、銅板10がプレス加工されて得られたインダクタ部材12aが接着層14によって接着されてインダクタ12が形成されている。コア基板30のインダクタ配置領域Rの横方向にスルーホールTHが設けられており、その中に貫通配線部41bが充填されている。コア基板の両面側には貫通配線部41bに繋がって相互接続された第1配線層40がそれぞれ形成されている。   As shown in FIG. 10, in the inductor-embedded substrate 1a of the second embodiment, the inductor member 12a obtained by pressing the copper plate 10 is bonded to the inductor arrangement region R (FIG. 8A) of the core substrate 30. The inductor 12 is formed by being bonded by the layer 14. A through hole TH is provided in the lateral direction of the inductor arrangement region R of the core substrate 30, and the through wiring portion 41b is filled therein. A first wiring layer 40 connected to the through wiring portion 41b and interconnected is formed on both surfaces of the core substrate.

コア基板30の上面側には、インダクタ12及び第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50が形成されている。第1層間絶縁層50には、インダクタ12に到達する第1ビアホールVH1と第1配線層40に到達する第2ビアホールVH2とが設けられている。さらに、第1層間絶縁層50の上に第2配線層42が形成されている。第2配線層42は第1ビアホールVH1を介してインダクタ12の第1接続部Aに接続されると共に、第2ビアホールVH2を介して第1配線層40に接続されている。また、他の第2配線層42は第1ビアホールVH1を介してインダクタ12の第2接続部Bに接続されると共に、第2ビアホールVH2を介して第1配線層40に接続されている。   A first interlayer insulating layer 50 that covers the inductor 12 and the first wiring layer 40 is formed on the upper surface side of the core substrate 30. The first interlayer insulating layer 50 is provided with a first via hole VH1 reaching the inductor 12 and a second via hole VH2 reaching the first wiring layer 40. Further, a second wiring layer 42 is formed on the first interlayer insulating layer 50. The second wiring layer 42 is connected to the first connection portion A of the inductor 12 through the first via hole VH1, and is connected to the first wiring layer 40 through the second via hole VH2. The other second wiring layer 42 is connected to the second connection portion B of the inductor 12 through the first via hole VH1 and is connected to the first wiring layer 40 through the second via hole VH2.

このように、第2実施形態では、インダクタ12の第1、第2接続部A,Bにスルーホールは形成されず、インダクタ12を被覆する第1層間絶縁層50に設けられた第1ビアホールVH1を介して第1、第2接続部A,Bが第2配線層42にそれぞれ接続される。このようにして、インダクタ12が第2配線層42の線路の間に接続されている。   As described above, in the second embodiment, through holes are not formed in the first and second connection portions A and B of the inductor 12, and the first via hole VH <b> 1 provided in the first interlayer insulating layer 50 covering the inductor 12. The first and second connection portions A and B are connected to the second wiring layer 42 through the first and second wiring layers 42, respectively. In this way, the inductor 12 is connected between the lines of the second wiring layer 42.

コア基板30の下面側には、第1配線層40を被覆する第1層間絶縁層50が形成されており、第1層間絶縁層50には第1配線層40に到達する第2ビアホールVH2が設けられている。さらに、第1層間絶縁層50の上に第2ビアホールVH2を介して第1配線層40に接続された第2配線層42が形成されている。   A first interlayer insulating layer 50 that covers the first wiring layer 40 is formed on the lower surface side of the core substrate 30, and a second via hole VH 2 that reaches the first wiring layer 40 is formed in the first interlayer insulating layer 50. Is provided. Further, a second wiring layer 42 connected to the first wiring layer 40 via the second via hole VH2 is formed on the first interlayer insulating layer 50.

また、コア基板30の両面側の第2配線層42上には、それに到達する第3ビアホールVH3が設けられた第2層間絶縁層52がそれぞれ形成されており、第2層間絶縁層52の上には第3ビアホールVH3を介して第2配線層42に接続される第3配線層44がそれぞれ形成されている。さらに、コア基板30の両面側には、第3配線層44の接続部上に開口部55aが設けられたソルダレジスト55がそれぞれ形成されている。   Further, on the second wiring layer 42 on both sides of the core substrate 30, a second interlayer insulating layer 52 provided with a third via hole VH3 reaching to the second wiring layer 42 is formed. A third wiring layer 44 connected to the second wiring layer 42 through the third via hole VH3 is formed respectively. Furthermore, solder resists 55 each having an opening 55 a are formed on the connection portion of the third wiring layer 44 on both sides of the core substrate 30.

第2実施形態では、インダクタ12の第1、第2接続部A,Bがその上の第1層間絶縁層50に設けられた第1ビアホールVH1を介して第2配線層42に接続されるようにしたので、一般的なビルドアップ配線の形成方法によりインダクタ12を配線層に接続して配線基板に容易に内蔵することができる。   In the second embodiment, the first and second connection portions A and B of the inductor 12 are connected to the second wiring layer 42 via the first via hole VH1 provided in the first interlayer insulating layer 50 thereon. Therefore, the inductor 12 can be easily built in the wiring board by connecting it to the wiring layer by a general build-up wiring forming method.

第2実施形態では、コア基板30のスルーホールTHを省略し、コア基板30の上面側のみにインダクタ12に接続される配線層を形成してもよい。この場合は、図11において、半導体チップ60の横方向に外部接続端子が設けられる。   In the second embodiment, the through hole TH of the core substrate 30 may be omitted, and a wiring layer connected to the inductor 12 may be formed only on the upper surface side of the core substrate 30. In this case, an external connection terminal is provided in the lateral direction of the semiconductor chip 60 in FIG.

第2実施形態においても、銅板10をプレス加工して得られるインダクタ部材12aをコア基板30の上に接着してインダクタ12を形成するので、第1実施形態と同様な効果を奏する。   Also in the second embodiment, since the inductor 12 is formed by bonding the inductor member 12a obtained by pressing the copper plate 10 on the core substrate 30, the same effects as those of the first embodiment are obtained.

なお、前述した第1、第2実施形態において、インダクタ12の形状としてスパイラル状以外の形状を採用してもよいし、キャパシタや抵抗などの受動素子をさらに内蔵させてもよい。   In the first and second embodiments described above, the inductor 12 may have a shape other than the spiral shape, or may include a passive element such as a capacitor or a resistor.

図1(a)〜(c)は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その1)である。1A to 1C are cross-sectional views (No. 1) showing a method for manufacturing a substrate with a built-in inductor according to a first embodiment of the present invention. 図2は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その2)である。FIG. 2 is a sectional view (No. 2) showing the method for manufacturing the inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the present invention. 図3(a)〜(c)は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その3)である。3A to 3C are cross-sectional views (part 3) illustrating the method for manufacturing the inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the present invention. 図4(a)〜(c)は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その4)である。4A to 4C are cross-sectional views (part 4) showing the method for manufacturing the substrate with a built-in inductor according to the first embodiment of the present invention. 図5(a)〜(c)は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その5)である。5A to 5C are sectional views (No. 5) showing the method for manufacturing the inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the invention. 図6は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板を示す断面図である。FIG. 6 is a sectional view showing the inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the present invention. 図7は本発明の第1実施形態のインダクタ内蔵基板に半導体チップが実装されて構成される半導体装置を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a semiconductor device configured by mounting a semiconductor chip on the inductor-embedded substrate according to the first embodiment of the present invention. 図8(a)〜(d)は本発明の第2実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その1)である8A to 8D are cross-sectional views (part 1) showing the method for manufacturing the inductor-embedded substrate according to the second embodiment of the present invention. 図9(a)〜(c)は本発明の第2実施形態のインダクタ内蔵基板の製造方法を示す断面図(その2)である。9A to 9C are cross-sectional views (part 2) showing the method for manufacturing the inductor-embedded substrate according to the second embodiment of the present invention. 図10は本発明の第2実施形態のインダクタ内蔵基板を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a substrate with a built-in inductor according to a second embodiment of the present invention. 図11は本発明の第2実施形態のインダクタ内蔵基板に半導体チップが実装されて構成される半導体装置を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing a semiconductor device configured by mounting a semiconductor chip on a substrate with a built-in inductor according to a second embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1,1a…インダクタ内蔵基板、2,2a…半導体装置、10…銅板、12a…インダクタ部材、12…インダクタ、14…接着層、20…金型、22…下型、22a、55a…開口部、24…上型、30…コア基板、40…第1配線層、41a…金属層、41b…貫通配線部、42…第2配線層、44…第3配線層、50…第1層間絶縁層、52…第2層間絶縁層、55…ソルダレジスト、A…第1接続部、B…第2接続部、R…インダクタ配置領域、TH…スルーホール、VH1…第1ビアホール、VH2…第2ビアホール。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1a ... Inductor built-in board | substrate, 2, 2a ... Semiconductor device, 10 ... Copper plate, 12a ... Inductor member, 12 ... Inductor, 14 ... Adhesive layer, 20 ... Mold, 22 ... Lower mold | type, 22a, 55a ... Opening part, 24 ... upper mold, 30 ... core substrate, 40 ... first wiring layer, 41a ... metal layer, 41b ... through wiring portion, 42 ... second wiring layer, 44 ... third wiring layer, 50 ... first interlayer insulating layer, 52 ... second interlayer insulating layer, 55 ... solder resist, A ... first connection part, B ... second connection part, R ... inductor arrangement region, TH ... through hole, VH1 ... first via hole, VH2 ... second via hole.

Claims (10)

基板と、
前記基板の上に接着されたインダクタと、
前記インダクタの一端側の第1接続部と他端側の第2接続部とにそれぞれ電気的に接続された配線層とを有し、
前記インダクタの厚みは、前記配線層の厚みより厚いことを特徴とするインダクタ内蔵基板。
A substrate,
An inductor bonded onto the substrate;
A wiring layer electrically connected to each of the first connection portion on one end side and the second connection portion on the other end side of the inductor;
The inductor-embedded substrate, wherein the inductor is thicker than the wiring layer.
前記インダクタは、金属板がプレス加工されて得られるインダクタ部材が前記基板の上に接着層によって接着されたものであることを特徴とする請求項1に記載のインダクタ内蔵基板。   2. The inductor built-in substrate according to claim 1, wherein an inductor member obtained by pressing a metal plate is bonded to the substrate by an adhesive layer. 前記インダクタの上に絶縁層が設けられており、
前記インダクタの前記第1接続部及び前記第2接続部をそれぞれ貫通するスルーホールが前記絶縁層の上面から前記基板の下面側まで貫通して形成されており、かつ前記スルーホール内に前記配線層に繋がる貫通配線部がそれぞれ形成されており、前記第1接続部及び前記第2接続部が前記貫通配線部を介して前記配線層にそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のインダクタ内蔵基板。
An insulating layer is provided on the inductor;
A through hole penetrating each of the first connection portion and the second connection portion of the inductor is formed to penetrate from the upper surface of the insulating layer to the lower surface side of the substrate, and the wiring layer is formed in the through hole. A through wiring portion connected to each other is formed, and the first connection portion and the second connection portion are respectively connected to the wiring layer through the through wiring portion. The substrate with a built-in inductor described in 1.
前記インダクタの上に絶縁層が設けられており、
前記絶縁層に前記インダクタの前記第1接続部及び前記第2接続部に到達するビアホールがそれぞれ形成されており、前記第1接続部及び前記第2接続部は前記ビアホールを介して前記配線層にそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のインダクタ内蔵基板。
An insulating layer is provided on the inductor;
Via holes reaching the first connection portion and the second connection portion of the inductor are respectively formed in the insulating layer, and the first connection portion and the second connection portion are formed in the wiring layer through the via holes. The inductor-embedded substrate according to claim 1, wherein each of the substrates is connected.
前記インダクタは、銅からなり、その厚みが100乃至300μmであることを特徴とする請求項1又は2に記載のインダクタ内蔵基板。   3. The inductor-embedded substrate according to claim 1, wherein the inductor is made of copper and has a thickness of 100 to 300 μm. 金属板をプレス加工することにより得られたインダクタ部材を基板の上に接着してインダクタを形成する工程と、
前記インダクタの一端側の第1接続部と他端側の第2接続部とにそれぞれ電気的に接続される配線層を形成する工程とを有し、
前記インダクタの厚みは、前記配線層の厚みより厚いことを特徴とするインダクタ内蔵基板の製造方法。
Bonding an inductor member obtained by pressing a metal plate on a substrate to form an inductor;
Forming a wiring layer electrically connected to each of the first connection portion on one end side and the second connection portion on the other end side of the inductor,
The method of manufacturing a substrate with a built-in inductor, wherein the inductor has a thickness greater than that of the wiring layer.
前記配線層を形成する工程は、
前記インダクタの上に絶縁層を形成する工程と、
前記インダクタの前記第1接続部及び前記第2接続部を貫通するスルーホールを前記絶縁層の上面から前記基板の下面側までそれぞれ形成する工程と、
前記スルーホール内に前記第1接続部及び前記第2接続部に接続される貫通配線部をそれぞれ形成すると共に、前記貫通配線部にそれぞれ繋がる前記配線層を前記絶縁層の上に形成する工程とを含むことを特徴とする請求項6に記載のインダクタ内蔵基板の製造方法。
The step of forming the wiring layer includes:
Forming an insulating layer on the inductor;
Forming through holes penetrating the first connection portion and the second connection portion of the inductor from the upper surface of the insulating layer to the lower surface side of the substrate;
Forming a through wiring portion connected to the first connection portion and the second connection portion in the through hole, respectively, and forming the wiring layer connected to the through wiring portion on the insulating layer; The method for manufacturing a substrate with a built-in inductor according to claim 6, comprising:
前記配線層を形成する工程は、
前記インダクタの上に絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層を加工することにより、前記インダクタの前記第1接続部及び前記第2接続部にそれぞれ到達するビアホールを形成する工程と、
前記ビアホールを介して前記インダクタの前記第1接続部及び前記第2接続部にそれぞれ接続される前記配線層を前記絶縁層の上に形成する工程とを含むことを特徴とする請求項6に記載のインダクタ内蔵基板の製造方法。
The step of forming the wiring layer includes:
Forming an insulating layer on the inductor;
Forming via holes respectively reaching the first connection portion and the second connection portion of the inductor by processing the insulating layer;
And forming the wiring layer connected to the first connection portion and the second connection portion of the inductor via the via hole on the insulating layer. Manufacturing method for substrate with built-in inductor.
前記インダクタは、銅からなり、その厚みが100乃至300μmであることを特徴とする請求項6乃至8のいずれか一項に記載のインダクタ内蔵基板の製造方法。   The method of manufacturing a substrate with a built-in inductor according to any one of claims 6 to 8, wherein the inductor is made of copper and has a thickness of 100 to 300 µm. 前記基板の両面側には、該基板を貫通して形成されるスルーホールを介して相互接続された第1配線層が前記インダクタの横方向にそれぞれ形成されており、前記絶縁層の上に形成された前記配線層が第2配線層であり、
前記ビアホールを形成する工程において、前記第1配線層に到達するビアホールを同時に形成し、
前記インダクタに接続された前記第2配線層は前記ビアホールを介して前記第1配線層に接続されることを特徴とする請求項8に記載のインダクタ内蔵基板の製造方法。
A first wiring layer interconnected via through-holes formed through the substrate is formed on both sides of the substrate in the lateral direction of the inductor, and is formed on the insulating layer. The wiring layer formed is a second wiring layer;
In the step of forming the via hole, a via hole reaching the first wiring layer is simultaneously formed,
9. The method of manufacturing a substrate with a built-in inductor according to claim 8, wherein the second wiring layer connected to the inductor is connected to the first wiring layer through the via hole.
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