JP2008241267A - Thermocouple and its manufacturing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、熱電対およびその製造方法に関し、より具体的には、狭隘箇所の温度測定を精度よく行なうことが可能な熱電対およびその製造方法に関するものである。 The present invention relates to a thermocouple and a method for manufacturing the thermocouple, and more specifically to a thermocouple capable of accurately measuring a temperature at a narrow portion and a method for manufacturing the thermocouple.
放熱装置中を流れる熱媒体や金属製造装置内の溶融金属等の温度分布を精度よく知ることは、放熱装置や金属製造装置の開発において非常に重要である。たとえば自動車用の半導体モジュールの放熱装置における冷却水の温度分布や、鋼の連続鋳造設備における凝固直前の溶鋼温度の分布等の正確な把握は、これら装置の開発にとって非常に有用である。しかし、現状の熱電対はこのような要求に十分応えるものとはなっていない。たとえば、絶縁基板上に形成した異種金属膜の接合部の上を保護膜で覆う薄膜状熱電対が提案されている(特許文献1、2)が、薄膜状熱電対では、狭隘な箇所の測温を精度(位置精度、温度精度)よく行うことは難しい。このような問題を打開するために、熱電対を形成する金属線の先端部に絶縁膜で被覆したものが提案されている(非特許文献1)。このような熱電対によれば、位置精度の高い、また狭隘な箇所の測温が可能となる。
しかし、上記の金属線等に絶縁膜が付された熱電対では、溶媒に溶解した耐熱性樹脂の塗布により金属線に絶縁コートを形成するため、乾燥・固化した後でピット等が発生しやすく、絶縁信頼性が高くなく、またこのため繰り返し塗布によって分厚い絶縁膜を形成する必要がある。分厚い絶縁膜は、その絶縁膜の材質にも依存するが、通常、膜厚が厚いことに起因して、温度の安定に長時間を要したり、測定時の高温状態から室温までの繰り返し使用により、金属線から剥離しやすい問題を生じる。このため、絶縁信頼性が高く、位置精度等に優れた熱電対の開発が望まれている。 However, in the thermocouple with an insulating film attached to the above metal wire, etc., an insulating coat is formed on the metal wire by applying a heat resistant resin dissolved in a solvent, so that pits etc. are likely to occur after drying and solidification. Insulation reliability is not high, and for this reason, it is necessary to form a thick insulating film by repeated coating. A thick insulating film depends on the material of the insulating film, but usually it takes a long time to stabilize the temperature due to its thick film thickness, or it can be used repeatedly from high temperature to room temperature during measurement. This causes a problem of being easily peeled off from the metal wire. For this reason, development of a thermocouple having high insulation reliability and excellent positional accuracy is desired.
本発明は、絶縁信頼性が高く、位置精度等に優れた熱電対を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a thermocouple having high insulation reliability and excellent positional accuracy.
本発明の熱電対は、2つの異種金属線を融着させて形成した融着部を備える熱電対である。この熱電対は、融着部および異種金属線が、DLC(Diamond Like Carbon)層で被覆されていることを特徴とする。 The thermocouple of the present invention is a thermocouple having a fusion part formed by fusing two different metal wires. This thermocouple is characterized in that the fused portion and the dissimilar metal wire are covered with a DLC (Diamond Like Carbon) layer.
DLCは、炭素同士の結合形態がダイヤモンド構造(sp3結合)、グラファイト構造(sp2結合)、およびアモルファス構造からなり、また部分的に水素との結合を含むために、長距離秩序的には決まった結晶構造を持たない構造となっている。電気絶縁性は、上記結晶の部分の直列配列における電気抵抗が最も高い部分で決まる傾向があるため、DLCの電気抵抗は、ダイヤモンド構造の高い電気抵抗に近づいたものとなる。また、可撓性などの機械的性質については、グラファイト構造が含まれるため、通常の絶縁体に比べて、弾力性に富むとともに摩擦が小さい。 DLC is composed of a diamond structure (sp 3 bond), a graphite structure (sp 2 bond), and an amorphous structure, and partially includes bonds with hydrogen. The structure does not have a fixed crystal structure. Since the electric insulation tends to be determined by the portion having the highest electric resistance in the series arrangement of the crystal parts, the electric resistance of the DLC is close to the high electric resistance of the diamond structure. Further, regarding mechanical properties such as flexibility, since it includes a graphite structure, it is more elastic and has less friction than ordinary insulators.
径がミリ単位またはそれ以下の線状体に、気相プロセスで被覆膜を形成することは、一般に、易しくない。このため、通常、裸の熱電対または熱電対本体に、直接、気相プロセスで絶縁膜を形成することは思いつかない。しかし、絶縁信頼性の高い薄い厚みの絶縁層を形成するために、気相プロセスが有効かもしれないと考えた結果、本発明に辿り着いた。本発明の完成には、絶縁層としてDLC層を思いついた大きな要素もあるが、直接、熱電対の線材を被覆する絶縁層を気相プロセスで形成できるかもしれないと想起したことも大きな要因である。 In general, it is not easy to form a coating film on a linear body having a diameter of a millimeter unit or less by a gas phase process. For this reason, it is usually unthinkable to form an insulating film directly on a bare thermocouple or thermocouple body by a vapor phase process. However, as a result of thinking that a vapor phase process may be effective for forming a thin insulating layer with high insulation reliability, the present invention has been achieved. To complete the present invention, there is a big factor that came up with a DLC layer as an insulating layer, but it was also due to the fact that the insulating layer that directly covers the thermocouple wire could be formed by a gas phase process. is there.
この結果、上記の構成により、高い電気絶縁性を有し、平滑で摺動性に富み、かつ剥離しにくい層で熱電対の本体部を被覆することができる。DLC層は比較的低温の気相プロセスで形成されるため、割れやピット(気孔)の少ない緻密な絶縁層を形成することができ、絶縁信頼性の高い絶縁層を得ることができる。ここで、気相プロセスとは、絶縁層を構成する材料を、原子状、分子状、イオン状のいずれかの状態を経て融着部等に付着する、いわゆるドライプロセスをいう。 As a result, according to the above configuration, the thermocouple body can be covered with a layer having high electrical insulation, smoothness, slidability, and hardly peeling. Since the DLC layer is formed by a gas phase process at a relatively low temperature, a dense insulating layer with few cracks and pits (pores) can be formed, and an insulating layer with high insulation reliability can be obtained. Here, the vapor phase process refers to a so-called dry process in which the material constituting the insulating layer is attached to the fused portion or the like through any one of atomic, molecular, and ionic states.
上記のDLC層の厚みを2μm以下とすることができる。これにより、熱電対本体部の金属線等からの剥離を、より一層確実に防止することができる。この構成によれば、融着部とその付近の金属線が薄い絶縁層で被覆されているので、狭隘な箇所の温度を、短時間で精度よく測定することができる。DLC層はそれ自体の内部応力が比較的大きいため、厚みが2μmを超えると、過酷な条件下では金属線からの剥離が生じ易くなり、また周囲の熱が絶縁層を伝わって融着部に到達するのに時間がかかるようになる。DLC層の厚みは、上記の剥離の抑止および熱伝導時間の短縮という点から、1.5μm以下、さらには1.3μm以下とするのがよい。また線の周囲を取り囲むようにDLC層を設けることにより剥離耐性を上げる効果も期待できる。 The thickness of the DLC layer can be 2 μm or less. Thereby, peeling from the metal wire etc. of a thermocouple main-body part can be prevented much more reliably. According to this configuration, since the fused portion and the metal wire in the vicinity thereof are covered with the thin insulating layer, the temperature of the narrow portion can be accurately measured in a short time. Since the internal stress of the DLC layer is relatively large, if the thickness exceeds 2 μm, peeling from the metal wire is likely to occur under severe conditions, and the surrounding heat is transmitted through the insulating layer to the fused portion. It takes time to reach. The thickness of the DLC layer is preferably 1.5 μm or less, more preferably 1.3 μm or less, from the viewpoints of inhibiting the above-described peeling and shortening the heat conduction time. Moreover, the effect which raises peeling tolerance can also be anticipated by providing a DLC layer so that the circumference | surroundings of a line may be enclosed.
上記の熱電対の本体部をタイプKまたはタイプTとすることができる。これにより、たとえば地球上の自動車の使用環境温度のすべてをカバーでき、自動車の放熱装置における熱媒体の温度分布等を精度よく把握することができる。もちろん、自動車以外の用途で、使用可能な温度域で使用することができる。なお、K、Tタイプは、JIS C1602-1995の熱電対の種類を表し、Kタイプは、プラス脚(金属線)=ニッケルおよびクロムを主とした合金(クロメル)、マイナス脚=ニッケルを主とした合金(アルメル)で、使用温度範囲は−200〜1000℃であり、過熱使用限度温度は1200℃である。Tタイプは、プラス脚=銅、マイナス脚=銅およびニッケルを主とした合金(コンスタンタン)で、使用温度範囲は−200〜300℃であり、過熱使用限度温度は350℃である。 The main body of the thermocouple can be of type K or type T. Thereby, for example, it is possible to cover all the operating environment temperatures of automobiles on the earth, and to accurately grasp the temperature distribution of the heat medium in the heat radiating device of the automobile. Of course, it can be used in a usable temperature range for applications other than automobiles. The K and T types represent the types of JIS C1602-1995 thermocouples. The K type is mainly made of plus leg (metal wire) = nickel and chromium alloy (chromel) and minus leg = nickel. The temperature range of use is −200 to 1000 ° C., and the overheat use limit temperature is 1200 ° C. The T type is an alloy (constantan) mainly composed of plus leg = copper, minus leg = copper and nickel, the use temperature range is −200 to 300 ° C., and the overheat use limit temperature is 350 ° C.
本発明の熱電対の製造方法は、2つの異種金属線を融着させて融着部を形成する工程と、融着部および異種金属線の表面に、気相プロセスによりDLC層を形成する工程とを備えることを特徴とする。 The thermocouple manufacturing method of the present invention includes a step of fusing two dissimilar metal wires to form a fused portion, and a step of forming a DLC layer on the surface of the fused portion and the dissimilar metal wire by a vapor phase process. It is characterized by providing.
この構成によれば、融着部とその付近の金属線(熱電対の本体部)を、緻密で薄いDLC層で被覆することができ、DLC層を形成した後または高温流動体の測温を行った後、室温に冷却しても熱応力により当該DLC層が割れて剥離することを抑止することができる。この場合、DLC層は厚みは、絶縁性確保という点から、たとえば5μm以下とするのがよい。DLC層の厚みが5μmを超えると、金属線からの剥離が生じ易くなり、また周囲の熱が絶縁層を伝わって融着部に到達するのに時間がかかるようになる。DLC層の厚みは、上記の剥離の抑止および測温時の熱伝導時間の短縮という点から、2μm以下、さらには1.5μm以下、一層好ましくは1.3μm以下とするのがよい。 According to this configuration, the fused portion and the metal wire in the vicinity thereof (thermocouple main body) can be covered with a dense and thin DLC layer, and the temperature of the high-temperature fluid can be measured after the DLC layer is formed. After performing, even if it cools to room temperature, it can suppress that the said DLC layer cracks and peels with a thermal stress. In this case, the thickness of the DLC layer is preferably 5 μm or less from the viewpoint of ensuring insulation. When the thickness of the DLC layer exceeds 5 μm, peeling from the metal wire is likely to occur, and it takes time for the surrounding heat to travel through the insulating layer and reach the fused portion. The thickness of the DLC layer is preferably 2 μm or less, more preferably 1.5 μm or less, and even more preferably 1.3 μm or less, from the viewpoints of inhibiting the peeling and shortening the heat conduction time during temperature measurement.
気相プロセスは、上述のように、縁層を構成する材料を、原子状、分子状、イオンの各状態を経て融着部等に付着する、いわゆるドライプロセスをいう。積極的に除外するプロセスとして、溶剤を用いた塗装などウェットプロセスがある。具体的な気相プロセスとして、熱CVD( Chemical Vapor Deposition )法、プラズマCVD法、PVD( Physical Vapor Deposition )法(蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法)、プラズマ利用イオン注入( Plasma Source Ion Implantation )法などを挙げることができる。これらの方法により、緻密な絶縁層を形成することができ、絶縁信頼性の高い絶縁層を得ることができる。 As described above, the gas phase process refers to a so-called dry process in which the material constituting the edge layer is attached to the fused portion or the like through each of atomic, molecular, and ionic states. There is a wet process such as painting with a solvent as a process to be positively excluded. Specific vapor phase processes include thermal CVD (Chemical Vapor Deposition), plasma CVD, PVD (Physical Vapor Deposition) (evaporation, ion plating, sputtering), plasma ion implantation (Plasma Source Ion Implantation) ) Method. By these methods, a dense insulating layer can be formed, and an insulating layer with high insulation reliability can be obtained.
上記のDLC層形成工程では、融着部を含む2つの金属線が交差する狭隘部表面が、前記DLC層を形成する雰囲気に対向暴露される状態を、DLC層形成工程の時間に対して所定の時間比率、とりながら行なうことができる。これによって、DLC層が形成されにくい箇所にも確実に所定厚みのDLC層を形成することができる。対向暴露とは、雰囲気が所定方向から飛来してくる場合には、その飛来元に向かう姿勢をとって暴露することをいい、また所定方向に飛来せずに静止状態の雰囲気を形成する場合は、その雰囲気の中心部に向かう姿勢をとって暴露することをいう。熱電対本体を回転させながら行うことにより、上記の姿勢を実現することができる。また、DLC層形成工程の時間に対して所定の時間比率とは、DLC層が熱電対本体のいずれかの箇所に形成されうる状態になっている時間に対する時間比率をいう。 In the DLC layer forming step, a state in which the surface of the narrow portion where the two metal lines including the fused portion intersect is exposed to the atmosphere for forming the DLC layer is predetermined with respect to the time of the DLC layer forming step. It can be done while taking the time ratio. As a result, it is possible to reliably form the DLC layer having a predetermined thickness even in a place where it is difficult to form the DLC layer. Opposite exposure means that when the atmosphere comes from a predetermined direction, it means to take an attitude toward the source, and when a static atmosphere is formed without flying in a predetermined direction. It means to take a posture toward the center of the atmosphere and expose it. The above posture can be realized by rotating the thermocouple main body. Further, the predetermined time ratio with respect to the time of the DLC layer forming step refers to a time ratio with respect to a time during which the DLC layer is in a state where it can be formed at any location of the thermocouple body.
上記のDLC層形成工程では、DLCの原料ガスをイオン化して、熱電対の本体部またはその支持部材にバイアス電圧を印加することができる。これにより、熱電対が有する線状体という、気相プロセスで直接、被膜を形成しにくい形状であるにもかかわらず、効率よくDLC層を形成することができる。 In the DLC layer forming step, a DLC source gas can be ionized and a bias voltage can be applied to the main body of the thermocouple or its support member. This makes it possible to efficiently form the DLC layer despite the shape of the linear body of the thermocouple that is difficult to form a film directly in the gas phase process.
また、上記のDLC層形成工程では、積極的には加熱しないで、DLC層で被覆してもよい。これにより、剥離しにくく電気絶縁性に優れたDLC層を形成することができる。ここで、積極的に加熱しないとは、ヒーターやランプ、通電等による能動的な加熱はしないが、膜形成のプロセスで発生する熱による温度上昇(いわば自然加熱)を冷却するということまではしない(放置する)方法であることをいう。 Further, in the above DLC layer forming step, the DLC layer may be covered without being actively heated. Thereby, it is possible to form a DLC layer that is hardly peeled off and excellent in electrical insulation. Here, not actively heating does not mean active heating by heaters, lamps, energization, etc., but it does not even cool the temperature rise (natural heating) due to heat generated in the film formation process. It means that it is a (left) method.
本発明の熱電対およびその製造方法によれば、絶縁信頼性が高く、位置精度の高い測温が可能となる。 According to the thermocouple and the manufacturing method thereof of the present invention, temperature measurement with high insulation reliability and high positional accuracy is possible.
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における熱電対10を示す図であり、また図2は、その先端部の拡大断面図である。図1において、熱電対10の本体は、Kタイプであり、プラス脚11を構成するニッケルおよびクロムを主とする合金のクロメル線と、マイナス脚12を構成するニッケルを主とした合金のアルメル線と、それらが融着されて形成された融着部3とからなる。DLC層5は、融着部3、プラス脚11およびマイナス脚12を被覆する。とくに図2に示すように、融着部3がプラス脚11とマイナス脚12と交差する狭隘部Nの表面も完全に被覆している。融着部3を含む融着部付近がDLC層5に完璧に被覆されないと、電気伝導性の流体の測温をする場合など、その流体の温度に正確に対応した起電力が生じないため、正確な測温ができないからである。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a diagram showing a
DLCは、上記したように、炭素同士の結合形態がダイヤモンド構造(sp3結合)と、グラファイト構造(sp2結合)およびアモルファス結合からなり、また部分的に水素との結合を含むために、長距離秩序的には決まった結晶構造を持たない構造となっている。図1および図2に示すDLC層5の比抵抗は、(10+6〜10+8)Ωcm以上となっている。DLC層の表面粗さは80〜100Å程度であり、平滑性に優れており、また緻密である。また摩擦係数は0.1〜0.25と低く、摺動性にも優れている。硬度はHV1000〜4000と硬い。
As described above, DLC has a long bond because the carbon-carbon bond form is composed of a diamond structure (sp 3 bond), a graphite structure (sp 2 bond), and an amorphous bond, and partially includes a bond with hydrogen. It is a structure that does not have a fixed crystal structure in order of distance. The specific resistance of the
DLC層5の厚みは5μm以下とするのがよいが、2μm以下とするのが、時間応答性などの点から好ましい。さらに好ましくは、1.5μm以下、さらには1.3μm以下である。DLC膜5は、可撓性が高いため、また厚みを上記のように薄くすることにより、プラス脚11やマイナス脚12を構成する金属線の変形に追随して変形することができる。
The thickness of the
この結果、融着部とその付近の金属線が薄い絶縁層で被覆されているので、狭隘な箇所の温度を、短時間で精度よく測定することができる。DLC層の厚みが2μmを超えると、過酷な条件下では金属線からの剥離が生じ易くなり、また周囲の熱が絶縁層を伝わって融着部に到達するのに時間がかかるようになる。DLC層の厚みは、上記の剥離の抑止および熱伝導時間の短縮という点から、1.5μm以下、さらには1.3μm以下とするのがよい。 As a result, since the fused portion and the metal wire in the vicinity thereof are covered with the thin insulating layer, the temperature of the narrow portion can be measured accurately in a short time. When the thickness of the DLC layer exceeds 2 μm, peeling from the metal wire is likely to occur under severe conditions, and it takes time for ambient heat to travel through the insulating layer and reach the fused portion. The thickness of the DLC layer is preferably 1.5 μm or less, more preferably 1.3 μm or less, from the viewpoints of inhibiting the above-described peeling and shortening the heat conduction time.
(実施の形態2)
図3は、本発明の実施の形態2における熱電対の製造方法の原理を示す図である。図3に示す装置を用いて、高周波プラズマCVD法により、熱電対本体部3,11,12にDLC層を形成する。原料ガスにはメタン(CH4)を用い、対向するアノード電極とカソード電極との間に、高周波電力印加によってグロー放電を生じ、メタンを分解して、回転する棒状の支持部材19に支持された熱電対本体3,11,12にDLC層を形成する。成膜温度は200℃未満であり、水素含有率を30〜40atm%とすることができる。なお、熱電対本体部については、市販または自家製の熱電対を用いることができる。
(Embodiment 2)
FIG. 3 is a diagram illustrating the principle of a thermocouple manufacturing method according to Embodiment 2 of the present invention. Using the apparatus shown in FIG. 3, DLC layers are formed on the thermocouple
DLC層形成の際の熱電対の本体部の温度(成膜温度)は、異種金属界面での合金形成防止という点から、熱電対の本体部のタイプに応じた過熱使用限度温度の1/2以下とするのがよく、たとえばKタイプの過熱使用限度温度は1200℃、またTタイプの過熱使用限度温度は350℃であるので、それぞれ、600℃以下または175℃以下とするのがよい。温度精度をさらに高める上で、望ましくはDLC層形成の際の熱電対の本体部の温度(成膜温度)は、室温とするのがよい。 The temperature (deposition temperature) of the thermocouple main body when forming the DLC layer is ½ of the superheat limit temperature corresponding to the type of the thermocouple main body from the viewpoint of preventing alloy formation at the dissimilar metal interface. For example, the K type superheat use limit temperature is 1200 ° C., and the T type superheat use limit temperature is 350 ° C., so that it is preferably 600 ° C. or less or 175 ° C. or less, respectively. In order to further increase the temperature accuracy, it is desirable that the temperature (film formation temperature) of the thermocouple main body when forming the DLC layer be room temperature.
上記気相プロセスの方法によれば、面粗度が良好であり、平滑性に優れたDLC層を得ることができる。また、熱電対本体3,11,12が回転するので、狭隘部Nの表面にもDLC層を形成することができる。さらに、印加する高周波電力を短い周期でオンオフ繰り返すことにより、均質な層の形成が可能となる。
According to the method of the above gas phase process, a DLC layer having good surface roughness and excellent smoothness can be obtained. In addition, since the
(実施の形態3)
図4は、本発明の実施の形態3の熱電対の製造方法の原理を示す図である。本実施の形態では、イオン化蒸着法によって熱電対本体部へDLC層を形成する。このイオン化蒸着法では、タングステン(W)フィラメントから生じる熱電子を利用して原料ガスであるベンゼン(C6H6)を分解しイオン化し、支持部材19および/または熱電対本体11,12,3に加えられるバイアス電圧によって、DLC層を熱電対本体3,11,12に形成する。図4に示す方式によれば、成膜温度を200℃未満とし、水素含有率を15atm%程度とすることができ、高硬度とすることができる。このように水素量によって硬さをコントロールできるので、用途に合わせて使い分けることができる。
(Embodiment 3)
FIG. 4 is a diagram illustrating the principle of the thermocouple manufacturing method according to the third embodiment of the present invention. In the present embodiment, the DLC layer is formed on the thermocouple main body by ionization vapor deposition. In this ionization deposition method, benzene (C 6 H 6 ), which is a raw material gas, is decomposed and ionized using thermoelectrons generated from a tungsten (W) filament, and the
上記の方法によれば、バイアス電圧が熱電対本体11,12,3に加えられるので、熱電対本体11,12,3をめがけて集中的にイオンが飛来して堆積する。このため、線状体でありながら、熱電対本体11,12,3に効率よくDLC層を形成することができる。とくに狭隘箇所NへのDLC層の完全な被覆に対して、効果的である。支持部材19および熱電対本体11,12,3は、バイアス電圧を印加されながら回転する必要があり、そのための回転機構および電圧伝達機構が必要であるが、常用の回転駆動装置(図示せず)を含む機構20を用いて実現することができる。
According to the above method, since a bias voltage is applied to the
(実施の形態4)
図5は、本発明の実施の形態4における熱電対の製造方法の原理を示す図である。本実施の形態では、アーク式イオンプレーティング法によってDLC層を成膜する。この方法では、固体のグラファイト原料を陰極とし、真空容器(トリガー)を陽極として、この間に直流電圧を印加することにより真空中でアーク放電を起す。このアーク放電により炭素元素のプラズマを発生させ、支持部材19および/または熱電対本体11,12,3には蒸発源よりもさらに負のバイアス電圧を印加して、プラズマ中の炭素イオンを熱電対本体11,12,3に向けて加速させ、成膜を行う。この方式によれば、水素を含まないHV3000程度の硬質のDLC層を形成することができる。
(Embodiment 4)
FIG. 5 is a diagram illustrating the principle of a thermocouple manufacturing method according to Embodiment 4 of the present invention. In this embodiment, the DLC layer is formed by an arc ion plating method. In this method, a solid graphite raw material is used as a cathode, a vacuum vessel (trigger) is used as an anode, and an arc discharge is generated in a vacuum by applying a DC voltage therebetween. A plasma of carbon element is generated by this arc discharge, and a negative bias voltage is applied to the
上記の方法においても、バイアス電圧が熱電対本体11,12,3に加えられるので、熱電対本体11,12,3をめがけて集中的にイオンが飛来して堆積する。このため、線状体でありながら、熱電対本体11,12,3に効率よくDLC層を形成することができる。とくに狭隘箇所NへのDLC層の完全な被覆に対して、効果的である。支持部材19および熱電対本体11,12,3は、バイアス電圧を印加されながら回転する必要があり、そのための回転機構および電圧伝達機構が必要であるが、図示しない回転駆動装置を含む機構20を用いて実現することができる。上記の方法のほかに、パルスプラズマを利用したイオン注入技術(PSII:Plasma Source Ion Implantation)を応用してDLC層を形成することもできる。
Also in the above method, since the bias voltage is applied to the
上記において、本発明の実施の形態および実施例について説明を行ったが、上記に開示された本発明の実施の形態および実施例は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこれら発明の実施の形態に限定されない。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。 Although the embodiments and examples of the present invention have been described above, the embodiments and examples of the present invention disclosed above are merely examples, and the scope of the present invention is the implementation of these inventions. It is not limited to the form. The scope of the present invention is indicated by the description of the scope of claims, and further includes meanings equivalent to the description of the scope of claims and all modifications within the scope.
本発明の熱電対およびその製造方法によれば、電気伝導性の流体中の温度分布を、時間応答性に優れ、位置および温度について高い精度の温度測定を可能にする。 According to the thermocouple and the manufacturing method thereof of the present invention, the temperature distribution in the electrically conductive fluid is excellent in time responsiveness, and enables highly accurate temperature measurement with respect to position and temperature.
3 融着部、5 DLC層、10 熱電対、11,12 金属線(プラス脚、マイナス脚)、19 支持部材、20 電圧印加軸受機構、N 狭隘部。 3 fusion part, 5 DLC layer, 10 thermocouple, 11, 12 metal wire (plus leg, minus leg), 19 support member, 20 voltage application bearing mechanism, N narrow part.
Claims (7)
前記融着部および異種金属線が、DLC(Diamond Like Carbon)層で被覆されていることを特徴とする、熱電対。 A thermocouple having a fusion part formed by fusing two different metal wires,
The thermocouple, wherein the fusion bonded portion and the dissimilar metal wire are covered with a DLC (Diamond Like Carbon) layer.
前記融着部および2つの異種金属線の表面に、気相プロセスによりDLC層を形成する工程とを備えることを特徴とする、熱電対の製造方法。 A step of fusing two dissimilar metal wires to form a fused portion;
And a step of forming a DLC layer by a vapor phase process on the surface of the fused portion and the two different metal wires.
The method for manufacturing a thermocouple according to any one of claims 4 to 6, wherein in the DLC layer forming step, the DLC layer is coated without being actively heated.
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2007
- 2007-03-24 JP JP2007078008A patent/JP2008241267A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016211855A (en) * | 2015-04-28 | 2016-12-15 | 株式会社岡崎製作所 | Sheath thermocouple, and method of manufacturing tip of the same |
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