JP2008231235A - Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet for semiconductor device using the same, cover-lay film and copper-clad laminate - Google Patents

Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet for semiconductor device using the same, cover-lay film and copper-clad laminate Download PDF

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JP2008231235A JP2007072393A JP2007072393A JP2008231235A JP 2008231235 A JP2008231235 A JP 2008231235A JP 2007072393 A JP2007072393 A JP 2007072393A JP 2007072393 A JP2007072393 A JP 2007072393A JP 2008231235 A JP2008231235 A JP 2008231235A
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Kyohei Matsukawa
恭兵 松川
Tetsuya Yamamoto
哲也 山本
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adhesive composition for semiconductor devices having excellent adhesiveness and keeping high adhesiveness even in a high-temperature environment. <P>SOLUTION: The adhesive composition for semiconductor devices contains (A) a tetrazole compound, (B) an epoxy resin containing phosphorus in the repeating unit and (C) a curing agent. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体装置用接着剤組成物およびそれを用いた半導体装置用接着剤シート、カバーレイフィルム並びに銅張積層板に関する。   The present invention relates to an adhesive composition for a semiconductor device, an adhesive sheet for a semiconductor device, a coverlay film, and a copper clad laminate using the same.

フレキシブルプリント配線基板(FPC)は、一般に、ポリイミドフィルムやポリエチレンテレフタレートフィルムなどに代表されるベースフィルムの片面又は両面に接着剤層を介して銅箔を設けた銅張積層板(CCL)に、リソグラフィー技術などを適用してパターン回路を形成し、この上に保護層となるカバーレイフィルムを設けたものである。FPCは全体の厚みが約100μm以下であり、また折り曲げ可能であることから、近年の軽薄短小化された種々の電子機器に採用されている。   A flexible printed circuit board (FPC) is generally formed by lithography on a copper clad laminate (CCL) in which a copper foil is provided on one or both sides of a base film typified by a polyimide film or a polyethylene terephthalate film via an adhesive layer. A pattern circuit is formed by applying a technique or the like, and a coverlay film serving as a protective layer is provided thereon. The FPC has an overall thickness of about 100 μm or less and can be bent, so that it has been adopted in various electronic devices that have been made lighter and thinner in recent years.

近年、電子機器内の使用部品および素子、CPUの高性能化、小型化に伴って、その発熱量が著しく増加し、電子機器内の平均温度も上昇する傾向にある。例えば、連続使用中のノートパソコンや車載用機器では80℃以上に達することもある。常温での使用を前提とした従来のFPC材料は、使用環境温度が50〜80℃に上昇すると、接着剤層の熱劣化により、接着性等の性能が低下する課題があった。   In recent years, as the components and elements used in electronic devices and the performance and size of CPUs become smaller, the amount of heat generated has increased significantly, and the average temperature in electronic devices tends to increase. For example, it may reach 80 ° C. or more in a notebook computer or a vehicle-mounted device that is continuously used. The conventional FPC material premised on use at room temperature has a problem that performance such as adhesiveness decreases due to thermal deterioration of the adhesive layer when the use environment temperature rises to 50 to 80 ° C.

一方、環境への影響が社会問題として重要視される中、電気・電子製品に要求される難燃性規制は、人体に対する安全性を考慮したより高い安全性に移行しつつある。すなわち電気・電子製品は単に燃えにくいだけでなく、有害ガスや発煙の発生が少ないことが要望されている。従来、電子部品を搭載するガラスエポキシ基板、銅張積層板、フレキシブルプリント配線基板、封止材において、火災防止・遅延などの安全性の理由から、難燃剤としてテトラブロモビスフェノールAを中心とする誘導体(臭素化エポキシ樹脂等)が広く一般に使用されていた。しかしながら、このような臭素化エポキシ樹脂は優れた難燃性を有するものの、熱分解により腐食性の臭素および臭化水素を発生するだけでなく、酸素存在下で分解した場合には、毒性の強いポリブロムジベンゾフランおよびポリブロムジベンゾジオキシンが生成する可能性がある。このような理由から、従来の臭素化エポキシ樹脂に変わるものとして、リン含有エポキシ樹脂を含む難燃性樹脂組成物が広く検討されている(例えば、特許文献1〜3参照)。リン含有エポキシ樹脂は、リン化合物とエポキシ樹脂とを反応させて得られるため、添加型難燃剤のようにFPC材料の耐熱性やブリード性が低下するといった問題はなく、難燃効果を発現させると共に、FPC材料の半田耐熱性、密着性に優れたハロゲンを含まない難燃性樹脂組成物である。しかしながら、このような難燃性樹脂組成物は、上述したような50〜80℃の環境温度で長時間使用すると、接着剤層の熱劣化により、銅箔との密着性が低下する課題があった。
特開2001−151990号公報 特開2001−123049号公報 特開2003−105167号公報
On the other hand, while the impact on the environment is regarded as an important social issue, the flame retardant regulations required for electrical and electronic products are shifting to higher safety considering safety for human bodies. In other words, electrical and electronic products are not only difficult to burn, but are also required to generate less harmful gases and fumes. Conventionally, derivatives that mainly contain tetrabromobisphenol A as a flame retardant for glass epoxy boards, copper-clad laminates, flexible printed wiring boards, and encapsulants for mounting electronic components, for safety reasons such as fire prevention and delay. (Brominated epoxy resins, etc.) were widely used in general. However, although such brominated epoxy resins have excellent flame retardancy, they not only generate corrosive bromine and hydrogen bromide by thermal decomposition, but are also highly toxic when decomposed in the presence of oxygen. Polybrominated dibenzofurans and polybrominated dibenzodioxins can be produced. For these reasons, flame retardant resin compositions containing phosphorus-containing epoxy resins have been widely studied as alternatives to conventional brominated epoxy resins (see, for example, Patent Documents 1 to 3). Since the phosphorus-containing epoxy resin is obtained by reacting a phosphorus compound and an epoxy resin, there is no problem that the heat resistance and bleedability of the FPC material is lowered unlike the additive type flame retardant, and the flame retardant effect is exhibited. This is a flame-retardant resin composition containing no halogen and having excellent solder heat resistance and adhesion of the FPC material. However, when such a flame retardant resin composition is used at an environmental temperature of 50 to 80 ° C. for a long time as described above, there is a problem that the adhesiveness with the copper foil is lowered due to thermal deterioration of the adhesive layer. It was.
JP 2001-151990 A JP 2001-123049 A JP 2003-105167 A

上記課題に鑑み、本発明は、接着性に優れ、高温環境下でも良好な接着性を維持することができる半導体装置用接着剤組成物を提供することを目的とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an adhesive composition for a semiconductor device that is excellent in adhesiveness and can maintain good adhesiveness even in a high temperature environment.

本発明は、(A)テトラゾール系化合物、(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂および(C)硬化剤を含有することを特徴とする半導体装置用接着剤組成物、およびそれを用いた半導体装置用接着剤シート、カバーレイフィルムならびに銅張積層板である。   The present invention includes (A) a tetrazole-based compound, (B) an epoxy resin containing phosphorus in a repeating unit, and (C) a curing agent, and an adhesive composition for a semiconductor device, which uses the same. An adhesive sheet for semiconductor devices, a coverlay film, and a copper clad laminate.

本発明の半導体装置用接着剤組成物は、接着性に優れ、高温高湿下においても良好な接着性を維持することができる。本発明の半導体装置用接着剤組成物を用いることにより、高温高湿下における接着性に優れた半導体装置用接着剤シート、カバーレイフィルムおよび銅張積層板を得ることができる。   The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention is excellent in adhesiveness and can maintain good adhesiveness even under high temperature and high humidity. By using the adhesive composition for a semiconductor device of the present invention, it is possible to obtain an adhesive sheet for a semiconductor device, a cover lay film, and a copper clad laminate excellent in adhesiveness under high temperature and high humidity.

以下に本発明を詳細に説明する。   The present invention is described in detail below.

本発明の半導体装置用接着剤組成物(以下、接着剤組成物という)は、(A)テトラゾール系化合物、(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂および(C)硬化剤を含有する。(A)成分および(B)成分を組み合わせて含有することにより、接着性が向上し、高温高湿下においても高い接着性を維持することができる。   The adhesive composition for a semiconductor device of the present invention (hereinafter referred to as an adhesive composition) contains (A) a tetrazole-based compound, (B) an epoxy resin containing phosphorus in a repeating unit, and (C) a curing agent. By containing a combination of the component (A) and the component (B), the adhesion is improved, and high adhesion can be maintained even under high temperature and high humidity.

(A)テトラゾール系化合物は、窒素4原子および炭素1原子で構成される5員環を有する化合物である。本発明に用いられる(A)テトラゾール系化合物としては、テトラゾール、テトラゾール塩、ビステトラゾール、水素原子を炭素数1〜3の低級アルキル基で置換したテトラゾール誘導体などを挙げることができる。具体的には、1H−テトラゾール、5−メチル−1H−テトラゾール、5−フェニル−1H−テトラゾール、5−アミノ−1H−テトラゾール、5,5’−ビ−1H−テトラゾール、および前記テトラゾール化合物の金属塩やアミン塩、アンモニウム塩、ピペラジン塩、グアニジン塩などの各種無機塩や有機塩などが挙げられる。また、前記1H−テトラゾール系化合物の互変異性体である2H−テトラゾール系化合物誘導体を用いてもよい。これらは単独もしくは二種類以上用いることができる。   (A) A tetrazole compound is a compound having a 5-membered ring composed of 4 atoms of nitrogen and 1 atom of carbon. Examples of (A) tetrazole compounds used in the present invention include tetrazole, tetrazole salts, bistetrazole, and tetrazole derivatives in which a hydrogen atom is substituted with a lower alkyl group having 1 to 3 carbon atoms. Specifically, 1H-tetrazole, 5-methyl-1H-tetrazole, 5-phenyl-1H-tetrazole, 5-amino-1H-tetrazole, 5,5′-bi-1H-tetrazole, and metals of the tetrazole compounds Examples thereof include various inorganic and organic salts such as salts, amine salts, ammonium salts, piperazine salts, and guanidine salts. Further, a 2H-tetrazole compound derivative which is a tautomer of the 1H-tetrazole compound may be used. These can be used alone or in combination of two or more.

本発明においては、前記各テトラゾール系化合物のうち、熱分解温度を高くできることから無機塩や有機塩を用いることが好ましい。高温環境下における接着性、半田耐熱性に優れる点から、5,5’−ビ−1H−テトラゾールのアミン塩が好ましい。   In the present invention, among the tetrazole compounds, an inorganic salt or an organic salt is preferably used because the thermal decomposition temperature can be increased. An amine salt of 5,5'-bi-1H-tetrazole is preferable from the viewpoint of excellent adhesiveness and solder heat resistance in a high temperature environment.

本発明において、(A)テトラゾール系化合物の熱分解点は300℃以上であることが好ましい。熱分解点の高いテトラゾール系化合物を含有することにより、半田耐熱性を向上させることができる。   In this invention, it is preferable that the thermal decomposition point of (A) tetrazole type compound is 300 degreeC or more. By containing a tetrazole compound having a high thermal decomposition point, the solder heat resistance can be improved.

300℃以上の熱分解点を有する、ビステトラゾール系化合物のアミン塩としては、例えば、5,5’−ビ−1H−テトラゾール・ジアンモニウム(熱分解温度325〜380℃)、5,5’−ビ−1H−テトラゾール・ピペラジン(熱分解温度350〜375℃)、5,5’−ビ−1H−テトラゾール・グアニジン(熱分解温度340〜370℃)を例示することができる。   Examples of amine salts of bistetrazole compounds having a thermal decomposition point of 300 ° C. or higher include, for example, 5,5′-bi-1H-tetrazole diammonium (thermal decomposition temperature 325 to 380 ° C.), 5,5′- Examples thereof include bi-1H-tetrazole / piperazine (thermal decomposition temperature: 350 to 375 ° C.) and 5,5′-bi-1H-tetrazole / guanidine (thermal decomposition temperature: 340 to 370 ° C.).

本発明において、(A)テトラゾール系化合物の含有量は、接着剤組成物中1重量%以上が好ましい。また、接着剤層を形成する際の流動性の観点から10重量%以下が好ましく、5重量%以下がより好ましい。   In the present invention, the content of the (A) tetrazole compound is preferably 1% by weight or more in the adhesive composition. Moreover, 10 weight% or less is preferable from a fluid viewpoint at the time of forming an adhesive bond layer, and 5 weight% or less is more preferable.

本発明の接着剤組成物は、(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂を含有する。このようなエポキシ樹脂は、9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、レゾルシルジフェニルフォスフェート、フェニルホスフィン酸、ジフェニルフォスフィン酸等の従来の反応型リン系難燃剤と異なり、接着剤組成物のベースとなるエポキシ樹脂中の繰り返し単位にリンを含むものである。そのため、接着力等の調整が容易であり、また、未反応のリン化合物を残すことなくリンを樹脂マトリックス中に固定することができる。そのため、従来の反応型リン系難燃剤にくらべて吸水率がより小さく、リンの加水分解による弊害もほとんどない。   The adhesive composition of the present invention contains (B) an epoxy resin containing phosphorus in the repeating unit. Such an epoxy resin may be a conventional reactive phosphorus-based difficulty such as 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, resorcyl diphenyl phosphate, phenylphosphinic acid, diphenylphosphinic acid and the like. Unlike the flame retardant, the repeating unit in the epoxy resin which is the base of the adhesive composition contains phosphorus. Therefore, adjustment of adhesive force etc. is easy, and phosphorus can be fixed in the resin matrix without leaving an unreacted phosphorus compound. Therefore, the water absorption is smaller than that of the conventional reactive phosphorus-based flame retardant, and there is almost no adverse effect due to the hydrolysis of phosphorus.

(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂としては、特に限定されるものではないが、例えば、9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシドやその誘導体と、1,4−ベンゾキノン、1,2−ベンゾキノン、トルキノン、1,4−ナフトキノン等が反応して得られる化合物に、エポキシ樹脂を予め反応させたもの等が挙げられる。   (B) The epoxy resin containing phosphorus in the repeating unit is not particularly limited. For example, 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide and derivatives thereof; Examples include compounds obtained by reacting an epoxy resin in advance with a compound obtained by reacting 1,4-benzoquinone, 1,2-benzoquinone, tolquinone, 1,4-naphthoquinone, and the like.

リンは高い難燃効果を有する一方、吸湿性を併せ持つため、(B)成分は、含まれるリンの量が少なく、かつ、燃えにくい化学構造を有することが好ましい。本発明において、(B)成分のエポキシ樹脂は、下記一般式(1)または(2)で表される構造を繰り返し単位に有することが好ましい。   Since phosphorus has a high flame retardant effect and also has hygroscopicity, it is preferable that the component (B) has a chemical structure in which the amount of phosphorus contained is small and it is difficult to burn. In this invention, it is preferable that the epoxy resin of (B) component has a structure represented by the following general formula (1) or (2) in a repeating unit.

Figure 2008231235
Figure 2008231235

また、(B)成分中におけるリン含有量は、難燃性の観点から4重量%以上が好ましく、4.2重量%以上がより好ましい。また、得られる接着剤組成物の貯蔵安定性、溶剤溶解性の観点から、5重量%以下が好ましく、4.8重量%以下がより好ましい。   Further, the phosphorus content in the component (B) is preferably 4% by weight or more, more preferably 4.2% by weight or more from the viewpoint of flame retardancy. Further, from the viewpoint of storage stability and solvent solubility of the obtained adhesive composition, it is preferably 5% by weight or less, and more preferably 4.8% by weight or less.

また、本発明の接着剤組成物は(C)硬化剤を含有する。硬化剤としては、例えば、芳香族ポリアミンである3,3’,5,5’−テトラメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’,5,5’−テトラエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,2’,3,3’−テトラクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,4,4’−トリアミノジフェニルスルホン等やフェノールノボラック樹脂などが挙げられる。また、硬化速度や接着剤膜の適度な柔軟性を調整するために、ジシアンジアミド、酸無水物系などの硬化剤を用いることもできる。また、弾性率が高い接着剤層の場合には、接着性に優れ、柔軟構造を有するジシアンジアミドを用いることが好ましい。   Moreover, the adhesive composition of this invention contains (C) hardening | curing agent. Examples of the curing agent include 3,3 ′, 5,5′-tetramethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3 ′, 5,5′-tetraethyl-4,4′- which is an aromatic polyamine. Diaminodiphenylmethane, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3′-dichloro-4,4′-diaminodiphenylmethane, 2,2 ′, 3,3′- Tetrachloro-4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,4 ' -Diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminobenzophenone, 3,4,4'-triaminodiphenyl sulfone, etc., phenol Such as novolac resin and the like. Further, a curing agent such as dicyandiamide or an acid anhydride may be used in order to adjust the curing speed and appropriate flexibility of the adhesive film. In the case of an adhesive layer having a high elastic modulus, it is preferable to use dicyandiamide having excellent adhesiveness and a flexible structure.

また、本発明の接着剤組成物中のリン含有量は、難燃性の観点から2重量%以上が好ましく、3重量%以上がより好ましい。また、硬化後の架橋密度を適度な範囲に調整する観点から10重量%以下が好ましく、7重量%以下がより好ましい。接着剤組成物中、(B)成分以外にも反応型リン化合物を含有してもかまわない。半田耐熱性、接着性、絶縁性、加工性をより向上させるために、接着剤組成物中のリンのうち12%以上が(B)成分由来のリンであることが好ましい。なお、上記リン含有量は元素分析法により測定することができる。   Further, the phosphorus content in the adhesive composition of the present invention is preferably 2% by weight or more, more preferably 3% by weight or more from the viewpoint of flame retardancy. Moreover, 10 weight% or less is preferable from a viewpoint of adjusting the crosslinking density after hardening to an appropriate range, and 7 weight% or less is more preferable. In the adhesive composition, a reactive phosphorus compound may be contained in addition to the component (B). In order to further improve solder heat resistance, adhesiveness, insulation, and processability, it is preferable that 12% or more of the phosphorus in the adhesive composition is phosphorus derived from the component (B). The phosphorus content can be measured by elemental analysis.

また、本発明の接着剤組成物中の窒素含有量は、難燃性の観点から0.5重量%以上が好ましく、1重量%以上がより好ましい。また、硬化後の吸湿性を抑えるために10重量%以下が好ましく、8重量%以下がより好ましい。なお、上記窒素含有量は元素分析法により測定することができる。   Further, the nitrogen content in the adhesive composition of the present invention is preferably 0.5% by weight or more, more preferably 1% by weight or more from the viewpoint of flame retardancy. Moreover, in order to suppress the hygroscopicity after hardening, 10 weight% or less is preferable and 8 weight% or less is more preferable. The nitrogen content can be measured by elemental analysis.

また、本発明の接着剤組成物は、必要に応じてリンを含有しないエポキシ樹脂、フェノール樹脂、硬化促進剤、エラストマーなどを含有してもよい。   Moreover, the adhesive composition of this invention may contain the epoxy resin, phenol resin, hardening accelerator, elastomer, etc. which do not contain phosphorus as needed.

リンを含有しないエポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するものなら特に制限されず、例えば、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、レゾルシノール、ジヒドロキシナフタレン、ジシクロペンタジエンジフェノール等のジグリシジルエーテル、エポキシ化フェノールノボラック、エポキシ化クレゾールノボラック、エポキシ化トリスフェニロールメタン、エポキシ化テトラフェニロールエタン、エポキシ化メタキシレンジアミン、シクロヘキサンエポキサイド等の脂環式エポキシ等が挙げられる。具体的には、YD−128(東都化成(株)製)、“エピコート”(登録商標)828、“エピコート”(登録商標)180(油化シェルエポキシ(株)製)等が例示できる。   The epoxy resin not containing phosphorus is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in one molecule. For example, bisphenol F, bisphenol A, bisphenol S, resorcinol, dihydroxynaphthalene, dicyclopentadiene diphenol, etc. Examples thereof include alicyclic epoxies such as diglycidyl ether, epoxidized phenol novolak, epoxidized cresol novolak, epoxidized trisphenylol methane, epoxidized tetraphenylol ethane, epoxidized metaxylene diamine, and cyclohexane epoxide. Specific examples include YD-128 (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), “Epicoat” (registered trademark) 828, “Epicoat” (registered trademark) 180 (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.), and the like.

フェノール樹脂としては、ノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂等の公知のフェノール樹脂が挙げられる。例えば、フェノール、クレゾール、p−t−ブチルフェノール、ノニルフェノール、p−フェニルフェノール等のアラルキル置換フェノール、テルペン、ジシクロペンタジエン等の環状アルキル変性フェノール、ニトロ基、シアノ基、アミノ基等のヘテロ原子を含む官能基を有するもの、ナフタレン、アントラセン等の骨格を有するもの、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、レゾルシノール、ピロガロール等の多官能性フェノール、メラミン変性又はトリアジン変性フェノール等の窒素含有フェノールからなる樹脂が挙げられる。   As a phenol resin, well-known phenol resins, such as a novolak type phenol resin and a resol type phenol resin, are mentioned. For example, aralkyl-substituted phenols such as phenol, cresol, p-t-butylphenol, nonylphenol and p-phenylphenol, cyclic alkyl-modified phenols such as terpene and dicyclopentadiene, and heteroatoms such as nitro group, cyano group and amino group Resins composed of functional groups, those having skeletons such as naphthalene and anthracene, polyfunctional phenols such as bisphenol F, bisphenol A, bisphenol S, resorcinol, pyrogallol, and nitrogen-containing phenols such as melamine-modified or triazine-modified phenol Can be mentioned.

また、硬化促進剤としては、三フッ化ホウ素トリエチルアミン錯体等の三フッ化ホウ素のアミン錯体、2−アルキル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−アルキルイミダゾール等のイミダゾール誘導体、無水フタル酸、無水トリメリット酸等の有機酸、ジシアンジアミド等が挙げられる。これらを単独または2種以上用いてもよい。   Further, examples of the curing accelerator include boron trifluoride amine complexes such as boron trifluoride triethylamine complex, 2-alkyl-4-methylimidazole, imidazole derivatives such as 2-phenyl-4-alkylimidazole, phthalic anhydride, Examples include organic acids such as trimellitic anhydride, dicyandiamide, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

エラストマーとしては、アクリルゴム、アクリロニトリルブタジエンゴム、カルボキシル基含有アクリロニトリルブタジエンゴム(以下NBR−Cと称する)等の変性タイプを挙げることができる。例えば、NBR−Cの例として、アクリロニトリルとブタジエンを約10/90〜50/50のモル比で共重合した共重合ゴムの末端基をカルボキシル化したもの、あるいはアクリロニトリル、ブタジエンとアクリル酸、マレイン酸などのカルボキシル基含有重合性単量体の三元共重合ゴムなどが挙げられる。具体的なNBR−Cとしては、PNR−1H(日本合成ゴム(株)製)、“ニポール”(登録商標)1072J、“ニポール”(登録商標)DN612、“ニポール”(登録商標)DN631J(以上日本ゼオン(株)製)、“ハイカー”(登録商標)CTBN(BFグッドリッチ社製)等が挙げられる。NBR−Cの含有量は、接着剤組成物中の全エポキシ樹脂100重量部に対し、16.7重量部以上が好ましい。また、半田耐熱性の観点からは200重量部以下が好ましい。   Examples of the elastomer include modified types such as acrylic rubber, acrylonitrile butadiene rubber, and carboxyl group-containing acrylonitrile butadiene rubber (hereinafter referred to as NBR-C). For example, as an example of NBR-C, the terminal group of a copolymer rubber obtained by copolymerizing acrylonitrile and butadiene at a molar ratio of about 10/90 to 50/50, or acrylonitrile, butadiene and acrylic acid, maleic acid And terpolymer rubbers of carboxyl group-containing polymerizable monomers such as As specific NBR-C, PNR-1H (manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.), “Nipol” (registered trademark) 1072J, “Nipol” (registered trademark) DN612, “Nipol” (registered trademark) DN631J (above) Nippon Zeon Co., Ltd.), “Hiker” (registered trademark) CTBN (manufactured by BF Goodrich), and the like. The content of NBR-C is preferably 16.7 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of the total epoxy resin in the adhesive composition. Further, from the viewpoint of solder heat resistance, 200 parts by weight or less is preferable.

本発明の接着剤組成物は、イミダゾールシランを含有することが好ましい。イミダゾールシランを含有することにより、耐熱性、金属表面に対する防錆効果、金属との接着性を向上させることができる。また、必要に応じて、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシランなどを含有してもよい。   The adhesive composition of the present invention preferably contains imidazole silane. By containing imidazole silane, the heat resistance, the antirust effect on the metal surface, and the adhesion to the metal can be improved. If necessary, vinyltriethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) Ethyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, etc. It may contain.

さらに上記成分以外に必要に応じて無機粒子を含有してもよい。無機粒子としては、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、カルシウム・アルミネート水和物等の金属水酸化物や、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、シリカ、アルミナ、酸化ジルコニウム、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、酸化チタン、酸化鉄、酸化コバルト、酸化クロム、タルク等の金属酸化物、アルミニウム、金、銀、ニッケル、鉄等の金属微粒子、あるいはカーボンブラック、ガラスが挙げられるが、特に難燃性の点で水酸化アルミニウムが好ましい。これらを単独または2種以上用いてもよい。無機粒子の平均粒径は透明性と分散安定性を考慮すると、0.2〜5μmが好ましい。ここで、平均粒径はレーザー回析散乱法等で求めた粒度分布において、累積重量が50%となる径を指す。また、含有量はNBR−C100重量部に対して30〜300重量部が適当である。   Furthermore, you may contain an inorganic particle other than the said component as needed. Inorganic particles include metal hydroxides such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium aluminate hydrate, zinc oxide, magnesium oxide, silica, alumina, zirconium oxide, antimony trioxide, antimony pentoxide, and oxidation. Examples include metal oxides such as titanium, iron oxide, cobalt oxide, chromium oxide, and talc, metal fine particles such as aluminum, gold, silver, nickel, and iron, carbon black, and glass. Aluminum oxide is preferred. These may be used alone or in combination of two or more. The average particle diameter of the inorganic particles is preferably 0.2 to 5 μm in consideration of transparency and dispersion stability. Here, the average particle diameter refers to the diameter at which the cumulative weight becomes 50% in the particle size distribution obtained by the laser diffraction scattering method or the like. The content is suitably 30 to 300 parts by weight with respect to 100 parts by weight of NBR-C.

また、接着剤組成物の特性を損なわない範囲で酸化防止剤、イオン補足剤、メラミンおよびその誘導体、各種リン酸エステルなどのリン化合物、ホスファゼン系化合物などのリン窒素含有化合物、シリコーン系化合物の有機、無機成分を添加することは何ら制限されるものではない。上記各種リン酸エステルなどのリン化合物として具体的には、“アデカスタブ“PFR、FP−600、FP−700(以上(株)ADEKA製)、SP−703、SP−670(以上四国化成工業(株)製)、PX−200、CR−733S、CR−741(以上大八化学工業(株)製)等が挙げられる。   In addition, antioxidants, ion-supplementing agents, melamine and derivatives thereof, phosphorus compounds such as various phosphate esters, phosphorus nitrogen-containing compounds such as phosphazene compounds, and organic compounds of silicone compounds as long as the properties of the adhesive composition are not impaired. The addition of the inorganic component is not limited at all. Specific examples of phosphorus compounds such as the above-mentioned various phosphate esters include “ADK STAB” PFR, FP-600, FP-700 (above, manufactured by ADEKA), SP-703, SP-670 (above, Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) ), PX-200, CR-733S, CR-741 (manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd.) and the like.

次に、本発明の半導体装置用接着剤シート(以下、接着剤シートという)について説明する。本発明の接着剤シートは、本発明の接着剤組成物から形成される接着剤層と、少なくとも1層の剥離可能な保護フィルムを有する。   Next, the adhesive sheet for semiconductor devices (hereinafter referred to as an adhesive sheet) of the present invention will be described. The adhesive sheet of the present invention has an adhesive layer formed from the adhesive composition of the present invention and at least one peelable protective film.

剥離可能な保護フィルムとしては接着剤層およびそれを用いたカバーレイフィルムの形態を損なうことなく剥離できれば特に限定されない。例えば、シリコーンあるいはフッ素化合物のコーティング処理を施したポリエステルフィルム、ポリオレフィンフィルム、およびこれらをラミネートした紙が挙げられる。   The peelable protective film is not particularly limited as long as it can be peeled without impairing the form of the adhesive layer and the coverlay film using the adhesive layer. For example, a polyester film, a polyolefin film, and a paper obtained by laminating these with a silicone or fluorine compound coating treatment may be mentioned.

接着剤シートの構成例としては、例えば、剥離可能なポリエステル保護フィルム(12.5〜150μm)/接着剤層(10〜100μm)/剥離可能なポリエステル保護フィルム(12.5〜150μm)等が挙げられる。また、それぞれの保護フィルムの接着剤層に対する剥離力をF1、F2(F1>F2)としたとき、F1−F2は好ましくは5N/m以上、さらに好ましくは10N/m以上である。F1−F2が5N/m以上であれば、一方の保護フィルムを安定して剥離することができる。また、剥離力F1、F2はいずれも1〜200N/mが好ましく、より好ましくは3〜150N/m、さらに好ましくは3〜100N/mである。   Examples of the configuration of the adhesive sheet include a peelable polyester protective film (12.5 to 150 μm) / an adhesive layer (10 to 100 μm) / a peelable polyester protective film (12.5 to 150 μm). It is done. Moreover, when the peeling force with respect to the adhesive bond layer of each protective film is set to F1 and F2 (F1> F2), F1-F2 is preferably 5 N / m or more, more preferably 10 N / m or more. If F1-F2 is 5 N / m or more, one protective film can be peeled stably. Moreover, as for peeling force F1, F2, all are 1-200 N / m, More preferably, it is 3-150 N / m, More preferably, it is 3-100 N / m.

保護フィルムは、加工時に視認性のため、例えば顔料により着色が施されていてもよい。これにより、先に剥離する側の保護フィルムが簡便に認識できるため、誤使用を避けることができる。   The protective film may be colored with a pigment, for example, for visibility during processing. Thereby, since the protective film of the side which peels previously can be recognized easily, misuse can be avoided.

次に、本発明のカバーレイフィルムについて説明する。本発明のカバーレイフィルムは、絶縁性フィルムと、本発明の接着剤組成物から形成される接着剤層と、剥離可能な保護フィルムとをこの順に有する。絶縁性フィルムとしては、ポリイミド、ポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルスルホン、ポリエーテルケトン、アラミド、ポリカーボネート、ポリアリレート等のプラスチックからなるフィルムが挙げられ、複数のフィルムを積層してもよい。絶縁性フィルムの厚さは5〜200μmが好ましい。また、必要に応じて加水分解、コロナ放電、低温プラズマ、物理的粗面化、易接着コーティング処理等の表面処理を施したものでもよい。   Next, the coverlay film of the present invention will be described. The coverlay film of this invention has an insulating film, the adhesive bond layer formed from the adhesive composition of this invention, and the peelable protective film in this order. Examples of the insulating film include films made of plastics such as polyimide, polyester, polyphenylene sulfide, polyether sulfone, polyether ketone, aramid, polycarbonate, and polyarylate, and a plurality of films may be laminated. The thickness of the insulating film is preferably 5 to 200 μm. Further, it may be subjected to surface treatment such as hydrolysis, corona discharge, low-temperature plasma, physical roughening, and easy adhesion coating treatment as necessary.

本発明のカバーレイフィルムの主な構成としては、例えば、ポリイミドフィルムまたはアラミドフィルム等の絶縁性フィルム(12.5〜125μm)/接着剤層(5〜50μm)/剥離可能な保護フィルム(12.5〜125μm)が挙げられる。   As a main structure of the coverlay film of the present invention, for example, an insulating film (12.5 to 125 μm) such as polyimide film or aramid film / adhesive layer (5 to 50 μm) / peelable protective film (12. 5 to 125 μm).

次に、本発明の銅張積層板について説明する。本発明の銅張積層板は、絶縁性フィルムと、本発明の接着剤組成物から形成される接着剤層と、銅箔とをこの順に有する。絶縁性フィルムとしては、前記カバーレイフィルムの絶縁性フィルムとして例示したものを用いることができる。銅箔は、一般的に圧延銅箔、電解銅箔等を用いることができるが、得られる銅張積層板の屈曲特性をより安定させる観点から、圧延銅箔が好ましい。本発明の銅張積層板の主な構成としては、例えば、片面品:銅箔(9〜35μm)/接着剤層(5〜20μm)/ポリイミドフィルム(12.5〜125μm)、両面品:銅箔(9〜35μm)/接着剤層(5〜20μm)/ポリイミドフィルム(12.5〜125μm)/接着剤層(5〜20μm)/銅箔(9〜35μm)等が挙げられる。   Next, the copper clad laminate of the present invention will be described. The copper clad laminated board of this invention has an insulating film, the adhesive bond layer formed from the adhesive composition of this invention, and copper foil in this order. As the insulating film, those exemplified as the insulating film of the coverlay film can be used. In general, rolled copper foil, electrolytic copper foil, and the like can be used as the copper foil, but rolled copper foil is preferable from the viewpoint of further stabilizing the bending characteristics of the obtained copper-clad laminate. The main configuration of the copper-clad laminate of the present invention is, for example, single-sided product: copper foil (9 to 35 μm) / adhesive layer (5 to 20 μm) / polyimide film (12.5 to 125 μm), double-sided product: copper Examples include foil (9 to 35 μm) / adhesive layer (5 to 20 μm) / polyimide film (12.5 to 125 μm) / adhesive layer (5 to 20 μm) / copper foil (9 to 35 μm).

次に、本発明の接着剤シートから得られるテープオートメーティッドボンディング(TAB)用接着剤付きテープについて説明する。TAB用接着剤付きテープとしては、剥離可能なポリエステル保護フィルム(12.5〜150μm)/接着剤層(5〜200μm)/剥離可能なポリエステル保護フィルム(12.5〜150μm)等を所定の規格幅(29.7〜60.6mm)にスリットした接着剤シートを、幅35〜70mmの規格幅の絶縁性フィルムの中央部に100〜160℃、10N/cm、5m/分の条件で熱ロールラミネートして作製されたもの等が例示される。   Next, a tape with an adhesive for tape automated bonding (TAB) obtained from the adhesive sheet of the present invention will be described. As tape with adhesive for TAB, peelable polyester protective film (12.5 to 150 μm) / adhesive layer (5 to 200 μm) / releasable polyester protective film (12.5 to 150 μm) and the like are specified standards. An adhesive sheet slit to a width (29.7 to 60.6 mm) is heated in a central portion of an insulating film having a standard width of 35 to 70 mm at 100 to 160 ° C., 10 N / cm, and 5 m / min. Examples produced by laminating are exemplified.

次に、本発明の接着剤シート、銅張積層板、カバーレイフィルムおよびそれを用いたテープオートメーティッドボンディング(TAB)用接着剤付きテープの製造方法について、例を挙げて説明する。   Next, the manufacturing method of the adhesive sheet of this invention, a copper clad laminated board, a coverlay film, and the tape with an adhesive for tape automated bonding (TAB) using the same is given, giving an example.

(1)半導体装置用接着剤シートの作製:本発明の接着剤組成物を溶剤に溶解した塗料を、両面ともに離型処理を行ったポリエステルフィルム上に塗布、乾燥し、接着剤層を形成する。接着剤層の膜厚は10〜100μmが好ましい。乾燥条件は、一般的に100〜200℃、1〜5分である。溶剤は特に限定されないが、トルエン、キシレン、クロルベンゼン等の芳香族系、メチルエチルケトン、メチルエチルイソブチルケトン(MIBK)等のケトン系、ジメチルホルムアミド(DMF)、ジメチルアセトアミド、Nメチルピロドリン等の非プロトン系極性溶剤を挙げることができる。これらを2種以上用いてもよい。   (1) Fabrication of adhesive sheet for semiconductor device: A paint prepared by dissolving the adhesive composition of the present invention in a solvent is applied on a polyester film subjected to a release treatment on both sides and dried to form an adhesive layer. . The film thickness of the adhesive layer is preferably 10 to 100 μm. Drying conditions are generally 100 to 200 ° C. and 1 to 5 minutes. Solvents are not particularly limited, but aromatics such as toluene, xylene and chlorobenzene, ketones such as methyl ethyl ketone and methyl ethyl isobutyl ketone (MIBK), aprotic such as dimethylformamide (DMF), dimethylacetamide and N-methylpyrodoline Mention may be made of system polar solvents. Two or more of these may be used.

乾燥した接着剤層上に、さらに高い離型性を有するポリエステルあるいはポリオレフィン系の保護フィルムをラミネートして、本発明の接着剤シートを得る。さらに接着剤厚みを増す場合は、接着剤層を複数回積層すればよい。また、必要により、ラミネート後に、例えば40〜100℃で1〜200時間程度エージングして接着剤層の硬化度を調整してもよい。   On the dried adhesive layer, a polyester or polyolefin protective film having higher releasability is laminated to obtain the adhesive sheet of the present invention. In order to further increase the adhesive thickness, the adhesive layer may be laminated a plurality of times. Moreover, you may adjust the hardening degree of an adhesive bond layer, for example after aging at 40-100 degreeC for about 1 to 200 hours after a lamination.

(2)銅張積層板の作製:本発明の接着剤組成物を溶剤に溶解した接着剤溶液を作製する。溶剤としては、MEK(メチルエチルケトン)、MIBK(メチルイソブチルケトン)、CB(クロロベンゼン)、BA(ベンジルアルコール)等が挙げられる。この接着剤溶液をバーコータで、厚さ25μmのポリイミドフィルム(東レデュポン(株)製“カプトン”(登録商標)100V−P)に約10μmの乾燥厚さとなるように塗布し、150℃で5分間乾燥し、接着剤層を形成する。この接着剤層に、シリコーン離型剤付きの厚さ25μmのポリエステルフィルムをラミネートして接着剤シートを得る。その後、前記接着剤シートのポリエステルフィルムをはがして、1/2ozの圧延銅箔の非光沢面に100℃、2.7MPaでラミネートし、その後エアオーブン中で、150℃×5時間の加熱を行い、銅張積層板を作製する。両面銅張積層板を作製する場合は、前記のように片面接着剤シートを作製した後、反対側の面に再度同様に接着剤層を形成して両面接着剤シートを作製し、その両面に銅箔をラミネートすればよい。   (2) Production of copper clad laminate: An adhesive solution in which the adhesive composition of the present invention is dissolved in a solvent is produced. Examples of the solvent include MEK (methyl ethyl ketone), MIBK (methyl isobutyl ketone), CB (chlorobenzene), BA (benzyl alcohol) and the like. This adhesive solution was applied to a 25 μm-thick polyimide film (“Kapton” (registered trademark) 100V-P, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) with a bar coater to a dry thickness of about 10 μm, and at 150 ° C. for 5 minutes. Dry to form an adhesive layer. A 25 μm thick polyester film with a silicone release agent is laminated on this adhesive layer to obtain an adhesive sheet. Thereafter, the polyester film of the adhesive sheet is peeled off, laminated to the non-glossy surface of a 1/2 oz rolled copper foil at 100 ° C. and 2.7 MPa, and then heated at 150 ° C. for 5 hours in an air oven. Then, a copper clad laminate is produced. When producing a double-sided copper-clad laminate, after producing a single-sided adhesive sheet as described above, an adhesive layer is again formed on the opposite side in the same manner to produce a double-sided adhesive sheet. What is necessary is just to laminate a copper foil.

(3)カバーレイフィルムの作製:上記(2)と同様の方法で作製した接着剤溶液を用いて、バーコータで、厚さ25μmのポリイミドフィルム(東レデュポン(株)製“カプトン”(登録商標)100V−P)に約30μmの乾燥厚さとなるように塗布し、150℃で5分間乾燥し、接着剤層を形成する。この接着剤層に、シリコーン離型剤付きの厚さ25μmのポリエステルフィルムをラミネートしてカバーレイフィルムを得る。その後、接着剤の浸みだし量が適正になるように50℃、20〜50時間のエージングを施し、接着剤層の硬化度を調整することが一般的である。   (3) Production of coverlay film: 25 μm-thick polyimide film (“Kapton” (registered trademark) manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) using an adhesive solution produced by the same method as in (2) above, using a bar coater 100V-P) so as to have a dry thickness of about 30 μm, and dried at 150 ° C. for 5 minutes to form an adhesive layer. A coverlay film is obtained by laminating a 25 μm thick polyester film with a silicone release agent on this adhesive layer. Then, it is common to perform the aging of 50 degreeC and 20 to 50 hours so that the amount of oozing out of an adhesive agent may become appropriate, and to adjust the hardening degree of an adhesive bond layer.

(4)テープオートメーティッドボンディング(TAB)用接着剤付きテープの作製:ポリイミド等の絶縁性フィルムに接着剤組成物溶液をコーティング法により塗工、乾燥して接着剤層を形成した後、所定の幅にスリットし、接着剤付きテープを得る。また、離型性を付与したポリエステルフィルム等の保護フィルム上に接着剤組成物溶液をコーティング法により塗工、乾燥して接着剤層を形成した後、29.7〜60.6mmの規格幅にスリットした接着剤付きテープを、幅35〜70mmの規格幅の絶縁性フィルムの中央部に100〜160℃、10N/cm、5m/分の条件で熱ロールラミネートする方法でTAB用接着剤付きテープ形状として用いてもよい。   (4) Production of tape with adhesive for tape automated bonding (TAB): After applying an adhesive composition solution to an insulating film such as polyimide by a coating method and drying to form an adhesive layer, a predetermined adhesive layer is formed. Slit to width to get tape with adhesive. In addition, the adhesive composition solution is applied by a coating method on a protective film such as a polyester film having a releasability and dried to form an adhesive layer, and then the standard width is 29.7 to 60.6 mm. Tape with adhesive for TAB by a method of laminating the slit tape with adhesive on the central part of an insulating film with a standard width of 35 to 70 mm under conditions of 100 to 160 ° C., 10 N / cm, 5 m / min. It may be used as a shape.

本発明の接着剤シート、カバーレイフィルム、銅張積層板の用途としては、例えば、銅張積層板およびカバーレイフィルムからなるフレキシブルプリント回路基板、複数のフレキシブルプリント回路基板を接着剤シートを用いて積層した多層銅張ポリイミドフィルム回路基板や、リジッド積層板とフレキシブルプリント回路基板を接着剤シート等を用いて積層したフレックスリジッド回路基板、TAB用基板、各種パーケージ用途(CSP、BGA)などが挙げられる。   Examples of the use of the adhesive sheet, cover lay film, and copper clad laminate of the present invention include, for example, a flexible printed circuit board composed of a copper clad laminate and a cover lay film, and a plurality of flexible printed circuit boards using an adhesive sheet. Examples include laminated multilayer copper-clad polyimide film circuit boards, flex-rigid circuit boards obtained by laminating rigid laminate boards and flexible printed circuit boards using adhesive sheets, TAB boards, and various package applications (CSP, BGA). .

以下に、一般的なTAB用基板の製造方法および半導体接続用回路基板の製造方法について、例を挙げて説明する。   Hereinafter, a general method for manufacturing a TAB substrate and a method for manufacturing a circuit board for semiconductor connection will be described with examples.

(5)TAB用基板の製造方法例
上記(4)に記載の方法で得られたTAB用接着剤付きテープに、3〜35μmの電解または圧延銅箔を、110〜180℃、30N/cm、1m/分の条件でラミネートする。必要に応じてエアオーブン中で、80〜300℃、1〜24時間段階的加熱硬化処理を行い、TAB用基板を作製する。この際に、銅箔張り合わせ前にTAB用接着剤付きテープにデバイス孔およびハンダボール孔を穿孔してもよい。
(5) Manufacturing method example of TAB substrate A 3-35 μm electrolytic or rolled copper foil is applied to a tape with an adhesive for TAB obtained by the method described in (4) above, at 110 to 180 ° C., 30 N / cm, Laminate at 1 m / min. If necessary, a stepwise heat curing treatment is performed in an air oven at 80 to 300 ° C. for 1 to 24 hours to produce a TAB substrate. At this time, device holes and solder ball holes may be drilled in the TAB adhesive-attached tape before the copper foil is laminated.

(6)半導体接続用回路基板の製造方法例
上記(2)に記載の方法で得られた銅張積層板、(5)に記載の方法で得られたTAB用基板の銅箔面に常法によりフォトレジスト膜形成、エッチング、レジスト剥離、電解金メッキ、ソルダーレジスト膜形成を行い、半導体接続用回路基板を作製する。
(6) Manufacturing method example of circuit board for semiconductor connection Copper-clad laminate obtained by the method described in the above (2), copper foil surface of the TAB substrate obtained by the method described in (5) Then, photoresist film formation, etching, resist stripping, electrolytic gold plating, and solder resist film formation are performed to produce a circuit board for semiconductor connection.

以下に実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。実施例の説明に入る前に銅張積層板の各評価方法について述べる。   EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. Each evaluation method of the copper clad laminate will be described before the description of the examples.

(1)各特性の評価方法
A.剥離強度(ピール)
JIS−C6481に準拠して行った。銅張積層板にエッチングにより2mm幅の銅箔パターンを作製し、テンシロン(オリエンテック(株)製、UTM−11−5HR型)を用いて2mm幅の銅箔を90度方向に引き剥がした場合の強度を測定した(引張速度:50mm/分)。
B.半田耐熱性
JIS−C6481に準拠した方法で行った。銅張積層板を20mm角にカットし、40℃、90%RHの雰囲気下で24時間調湿した後、すみやかに所定の温度の半田浴上に30秒浮かべ、ポリイミドフィルムの膨れおよび剥がれのない最高温度を測定した。
C.難燃性
銅張積層板の銅箔を全面エッチングしたサンプルを作製し、評価方法はUL94難燃性試験に準拠した。
D.耐熱剥離強度(耐熱ピール)
銅張積層板を170℃で5時間加熱処理した後、上記Aと同様に剥離強度を測定した。
(1) Evaluation method of each characteristic Peel strength (peel)
This was performed according to JIS-C6481. When a 2 mm wide copper foil pattern is produced on a copper clad laminate by etching and the 2 mm wide copper foil is peeled off in a 90-degree direction using Tensilon (Orientec Co., Ltd., UTM-11-5HR type) Was measured (tensile speed: 50 mm / min).
B. Solder heat resistance It carried out by the method based on JIS-C6481. Cut the copper-clad laminate into 20 mm squares, adjust the humidity for 24 hours in an atmosphere of 40 ° C. and 90% RH, immediately float on a solder bath at a predetermined temperature for 30 seconds, and the polyimide film does not swell or peel off The maximum temperature was measured.
C. Flame retardancy A sample obtained by etching the entire copper foil of the copper clad laminate was prepared, and the evaluation method was based on the UL94 flame retardancy test.
D. Heat-resistant peel strength (heat-resistant peel)
After heat-treating the copper clad laminate at 170 ° C. for 5 hours, the peel strength was measured in the same manner as A described above.

実施例1
テトラゾール系化合物(永和化成工業(株)製“セルテトラ”BHT−PIPE、窒素含有率62.5%)、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製、Ep834)、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製、ZX−1548−4、リン含有率4%)、カルボキシル化NBR(日本合成ゴム(株)製、PNR−1H)、硬化剤(4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’DDS)、難燃剤(大塚化学(株)製、SPB−100、リン含有率13%、窒素含有率6%)を表1の組成比(単位:固形分重量部)となるように加え、ベンジルアルコールを加えて3Pa・s以下に調整した後、30℃で攪拌、混合して接着剤溶液を作製した。この接着剤溶液をバーコーダーで、厚さ25μmのポリイミドフィルム(東レデュポン(株)製“カプトン”(登録商標)100V−P)に約10μmの乾燥厚みとなるように塗布し、150℃で5分間乾燥し、シリコーン離型剤付きの厚さ25μmのポリエステルフィルムをラミネートして接着剤シートを得た。同作業をもう一度繰り返すことによって得た両面銅張積層板用接着剤シートに、1/2ozの圧延銅箔(日鉱グールド・フォイル(株)製、BHY箔)の非光沢面を合わせるようにラミネートし、銅張積層板を作製した。得られた銅張積層板の特性を表1に示す。
Example 1
Tetrazole compounds (“Certetra” BHT-PIPE manufactured by Eiwa Chemical Industries, Ltd., nitrogen content 62.5%), bisphenol A epoxy resin (Japan Epoxy Resin Co., Ltd., Ep834), phosphorus-containing epoxy resin (Toto Kasei Co., Ltd., ZX-1548-4, phosphorus content 4%), carboxylated NBR (Nippon Synthetic Rubber Co., PNR-1H), curing agent (4,4′-diaminodiphenylsulfone, 4, 4′DDS), a flame retardant (manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., SPB-100, phosphorus content 13%, nitrogen content 6%) is added so as to have the composition ratio (unit: solid part by weight) shown in Table 1 Benzyl alcohol was added to adjust to 3 Pa · s or less, and the mixture was stirred and mixed at 30 ° C. to prepare an adhesive solution. This adhesive solution was applied to a 25 μm-thick polyimide film (“Kapton” (registered trademark) 100V-P, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) with a bar coder so as to have a dry thickness of about 10 μm. After drying for a minute, a 25 μm thick polyester film with a silicone release agent was laminated to obtain an adhesive sheet. The adhesive sheet for double-sided copper-clad laminate obtained by repeating the same operation once again is laminated so that the non-glossy surface of 1 / 2oz rolled copper foil (BHY foil, manufactured by Nikko Gould Foil Co., Ltd.) is matched. A copper-clad laminate was prepared. The properties of the obtained copper clad laminate are shown in Table 1.

実施例2〜5、比較例1〜3
表1に示した原料および組成比(単位:固形分重量部)で調合した接着剤を用い、実施例1と同様に銅張積層板を作製した。得られた銅張積層板の特性を表1に示す。
Examples 2-5, Comparative Examples 1-3
A copper-clad laminate was prepared in the same manner as in Example 1 using the adhesive prepared with the raw materials and the composition ratio (unit: solid weight part) shown in Table 1. The properties of the obtained copper clad laminate are shown in Table 1.

なお表1に記載した各成分は次のとおりである。
BHT−PIPE:5,5’−ビ−1H−テトラゾール・ピペラジン(永和化成工業(株)製、窒素含有率62.5%)
BHT−2NH3:5,5’−ビ−1H−テトラゾール・ジアンモニウム(永和化成工業(株)製、窒素含有率81.4%)
1H−TZ:1H−テトラゾール(東京化成工業(株)製、窒素含有率79.9%)
ZX−1548−4:リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製、リン含有率4%)
Ep834:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製)
PNR−1H:カルボキシル化NBR(日本合成ゴム(株)製)
SPB−100:ホスファゼン(大塚化学(株)製、リン含有率13%、窒素含有率6%)
4,4’DDS:4,4’−ジアミノジフェニルスルホン(和歌山精化(株)製)
In addition, each component described in Table 1 is as follows.
BHT-PIPE: 5,5′-bi-1H-tetrazole / piperazine (manufactured by Eiwa Chemical Industry Co., Ltd., nitrogen content 62.5%)
BHT-2NH3: 5,5′-bi-1H-tetrazole diammonium (manufactured by Eiwa Chemical Industry Co., Ltd., nitrogen content 81.4%)
1H-TZ: 1H-tetrazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., nitrogen content 79.9%)
ZX-1548-4: Phosphorus-containing epoxy resin (Toto Kasei Co., Ltd., phosphorus content 4%)
Ep834: Bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.)
PNR-1H: Carboxylated NBR (manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd.)
SPB-100: Phosphazene (Otsuka Chemical Co., Ltd., phosphorus content 13%, nitrogen content 6%)
4,4′DDS: 4,4′-diaminodiphenylsulfone (manufactured by Wakayama Seika Co., Ltd.)

Figure 2008231235
Figure 2008231235

表1の実施例1〜5、比較例1〜3から、本発明の銅張積層板は、接着性および高温環境下における接着性に優れていることがわかる。   From Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3 in Table 1, it can be seen that the copper-clad laminate of the present invention is excellent in adhesiveness and adhesiveness in a high temperature environment.

Claims (8)

(A)テトラゾール系化合物、(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂および(C)硬化剤を含有することを特徴とする半導体装置用接着剤組成物。 An adhesive composition for a semiconductor device comprising (A) a tetrazole-based compound, (B) an epoxy resin containing phosphorus in a repeating unit, and (C) a curing agent. 前記(B)繰り返し単位にリンを含有するエポキシ樹脂が、一般式(1)または(2)で表される構造を繰り返し単位に有するエポキシ樹脂を含むことを特徴とする請求項1記載の半導体装置用接着剤組成物。
Figure 2008231235
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the (B) epoxy resin containing phosphorus in the repeating unit includes an epoxy resin having a structure represented by the general formula (1) or (2) in the repeating unit. Adhesive composition.
Figure 2008231235
前記(A)テトラゾール系化合物の熱分解点が300℃以上であることを特徴とする請求項1または2記載の半導体装置用接着剤組成物。 The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the thermal decomposition point of the (A) tetrazole-based compound is 300 ° C or higher. 前記(A)テトラゾール系化合物が、ビステトラゾール系化合物のアミン塩を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の半導体装置用接着剤組成物。 The adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, wherein the (A) tetrazole-based compound contains an amine salt of a bistetrazole-based compound. 半導体装置用接着剤組成物中のリン含有量が2〜10重量%であり、窒素含有量が0.5〜10重量%であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の半導体装置用接着剤組成物。 The phosphorus content in the adhesive composition for a semiconductor device is 2 to 10% by weight, and the nitrogen content is 0.5 to 10% by weight. Adhesive composition for semiconductor devices. 請求項1〜5のいずれかに記載の半導体装置用接着剤組成物から形成される接着剤層と、少なくとも1層の剥離可能な保護フィルムを有する半導体装置用接着剤シート。 An adhesive sheet for a semiconductor device, comprising an adhesive layer formed from the adhesive composition for a semiconductor device according to any one of claims 1 to 5 and at least one peelable protective film. 絶縁性フィルムと、請求項1〜5のいずれかに記載の半導体装置用接着剤組成物から形成される接着剤層と、剥離可能な保護フィルムとをこの順に有することを特徴とするカバーレイフィルム。 A coverlay film comprising an insulating film, an adhesive layer formed from the adhesive composition for a semiconductor device according to claim 1, and a peelable protective film in this order. . 絶縁性フィルムと、請求項1〜5のいずれかに記載の半導体装置用接着剤組成物から形成される接着剤層と、銅箔とをこの順に有することを特徴とする銅張積層板。 A copper-clad laminate comprising an insulating film, an adhesive layer formed from the adhesive composition for a semiconductor device according to any one of claims 1 to 5, and a copper foil in this order.
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