JP2008226452A - Optical pickup device and its light source unit - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical pickup device for recording and reproducing a plurality of optical information recording media, which simplifies the assembly thereof and improves work efficiency and is resistant to a temperature change and change with time, and to provide its light source unit. <P>SOLUTION: The optical pickup device 10 is characterized in that a first light source 11 used for recording/reproducing a first optical information recording media, a second light source 12 used for recording/reproducing a second optical information recording media and an optical detecting means 50 for receiving and detecting a luminous flux reflected from an information recording surface are integrated into a unit 60. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、光源から出射した光束を集光光学系で光情報記録媒体の透明基板を介して情報記録面に集光させ、情報記録面上に情報を記録又は情報記録面上の情報を再生する(記録/再生)光ピックアップ装置及びその光源ユニットに関し、特に、透明基板の厚さが異なる複数の光情報記録媒体の記録/再生をする光ピックアップ装置及びその光源ユニットに関する。   In the present invention, a light beam emitted from a light source is condensed on an information recording surface via a transparent substrate of an optical information recording medium by a condensing optical system, and information is recorded on the information recording surface or information on the information recording surface is reproduced. In particular, the present invention relates to an optical pickup apparatus and a light source unit for recording / reproducing a plurality of optical information recording media having transparent substrates having different thicknesses.

近年、短波長赤色半導体レーザの実用化に伴い、光情報記録媒体(以下、光ディスクともいう)として、従来のCD(コンパクトディスク)と同程度の大きさで大容量化させた高密度のDVD(デジタルビデオディスク)が商品化されている。このDVDでは、635nm若しくは650nmの短波長半導体レーザを使用したときの対物レンズの光ディスク側の開口数を約0.6を必要とする。なお、DVDは、トラックピッチ0.74μm、最短ピット長0.4μmであり、CDのトラックピッチ1.6μm、最短ピット長0.83μmに対して半分以下に高密度化されている。   In recent years, along with the practical use of short-wavelength red semiconductor lasers, high-density DVDs with the same size and large capacity as conventional CDs (compact discs) are used as optical information recording media (hereinafter also referred to as optical discs). Digital video disc) has been commercialized. In this DVD, the numerical aperture on the optical disk side of the objective lens when using a short wavelength semiconductor laser of 635 nm or 650 nm is required to be about 0.6. Note that the DVD has a track pitch of 0.74 μm and a shortest pit length of 0.4 μm, and has a density less than half that of a CD track pitch of 1.6 μm and the shortest pit length of 0.83 μm.

この新たな光ディスクであるDVDを記録/再生する光ピックアップ装置には、透明基板の厚さが0.6mmのDVDに対して、透明基板の厚さが1.2mmのCDとの互換性が要求され、種々の検討がなされている。その一つとして、特許文献1に記載されるような1つの短波長半導体レーザ(光源)と1つの集光光学系でDVDおよびCDの再生を行う光ピックアップ装置が提案されている。   This optical pickup device for recording / reproducing DVD, which is a new optical disc, requires compatibility with a CD having a transparent substrate thickness of 1.2 mm for a DVD having a transparent substrate thickness of 0.6 mm. Various studies have been made. As one of them, an optical pickup device that reproduces a DVD and a CD with one short wavelength semiconductor laser (light source) and one condensing optical system as described in Patent Document 1 has been proposed.

また、近年、書き込み可能な光ディスクであるCD−R(追記型コンパクトディスク)の普及に伴い、光ピックアップ装置として、このCD−Rとの互換性をも要求されている。ところが、上記公報に記載されるような短波長半導体レーザ1つを光源として用いた光ピックアップ装置では、CD−Rに対して記録/再生ができない。これは、CD−Rの反射率が短波長側では低下しており、必要とする信号(再生信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号)が得られないためである。   In recent years, with the widespread use of CD-R (write-once compact disc), which is a writable optical disc, compatibility with this CD-R is also required as an optical pickup device. However, an optical pickup device using one short-wavelength semiconductor laser as described in the above publication cannot record / reproduce with respect to a CD-R. This is because the reflectance of the CD-R is lowered on the short wavelength side, and required signals (reproduction signal, focus error signal, tracking error signal) cannot be obtained.

そこで、特許文献2に記載されるように、光学系を1つとした上で、光源を対応する光ディスク毎(DVD用とCD−R用)に2つ設けた光ピックアップ装置が提案されている。
特開平7−57271号公報 特開平8−55363号公報
Therefore, as described in Patent Document 2, there has been proposed an optical pickup device in which two optical sources are provided for each corresponding optical disc (for DVD and for CD-R) after having one optical system.
JP 7-57271 A JP-A-8-55363

しかしながら、光ピックアップ装置では精密な精度で組立が要求されるところ、このように、光ピックアップ装置の部品点数を増やすと、精密な精度で組立をすることが難しくなるばかりでなく、組立に要する作業効率が悪化し、生産性が低下する。さらに、これら部品各々を光ピックアップ装置内で離散した状態で固定すると、温度変化(熱)、経年変化によりそれぞれが変化(変形)し、所定の配置とは異なる配置となり、所期の性能を果たさなくなるという問題が生じる。   However, the optical pickup device requires assembly with high precision. Thus, when the number of parts of the optical pickup device is increased, it becomes difficult to assemble with high precision, as well as the work required for assembly. Efficiency deteriorates and productivity decreases. Furthermore, if each of these components is fixed in a discrete state in the optical pickup device, each changes (deforms) due to temperature change (heat) and aging, resulting in an arrangement different from the predetermined arrangement and achieving the desired performance. The problem of disappearing arises.

そこで、本発明では、複数の光情報記録媒体を記録/再生する光ピックアップ装置において、装置の組立の簡略化、作業効率の向上を図るとともに、温度変化、経年変化に対して強い光ピックアップ装置およびその光源ユニットを提供することを課題とする。   Therefore, in the present invention, in an optical pickup device that records / reproduces a plurality of optical information recording media, the assembly of the device is simplified, the working efficiency is improved, and an optical pickup device that is resistant to temperature change and secular change, and It is an object to provide the light source unit.

(1)光源から出射した光束を集光光学系で光情報記録媒体の透明基板を介して情報記録面に集光させ、情報記録面上に情報を記録又は情報記録面上の情報を再生する(記録/再生)光ピックアップ装置であって、前記光情報記録媒体として、透明基板の厚さがt1の第1光情報記録媒体と透明基板の厚さがt2(ただし、t2≠t1)の第2光情報記録媒体とが用いられる光ピックアップ装置において、第1光情報記録媒体の記録/再生を行うための第1光源と、第2光情報記録媒体の記録/再生を行うための第2光源と、情報記録面から反射した光束を受光し検出する光検出手段と、光源から出射した光束を光情報記録媒体へと導くとともに、光情報記録媒体の情報記録面で反射した光束を前記光検出手段へと導くように、光源から出射した光束及び/又は情報記録面で反射した光束を変更する変更手段と、を有し、前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段を、ユニット化したことを特徴とする光ピックアップ装置。   (1) A light beam emitted from a light source is condensed on an information recording surface by a condensing optical system via a transparent substrate of an optical information recording medium, and information is recorded on the information recording surface or information on the information recording surface is reproduced. (Recording / reproducing) An optical pickup device, wherein the optical information recording medium is a first optical information recording medium having a transparent substrate thickness t1 and a transparent substrate having a thickness t2 (where t2 ≠ t1). In an optical pickup device using a two-optical information recording medium, a first light source for recording / reproducing the first optical information recording medium and a second light source for recording / reproducing the second optical information recording medium And a light detection means for receiving and detecting the light beam reflected from the information recording surface, and guiding the light beam emitted from the light source to the optical information recording medium and detecting the light beam reflected by the information recording surface of the optical information recording medium. Emanating from the light source to lead to means Changing means for changing the reflected light beam and / or the light beam reflected by the information recording surface, and the first light source, the second light source and the light detecting means are unitized. .

(2)前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段を隣接配置したことを特徴とする(1)に記載の光ピックアップ装置。   (2) The optical pickup device according to (1), wherein the first light source, the second light source, and the light detection unit are arranged adjacent to each other.

(3)前記第1光源、前記第2光源、前記光検出手段のうち、少なくとも1つを、ユニット内の位置を調整できるよう構成したことを特徴とする(1)又は(2)に記載の光ピックアップ装置。   (3) According to (1) or (2), at least one of the first light source, the second light source, and the light detection means is configured to be able to adjust a position in the unit. Optical pickup device.

(4)前記変更手段を、前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段とともにユニット化したことを特徴とする(1)〜(3)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (4) The optical pickup device according to any one of (1) to (3), wherein the changing unit is unitized with the first light source, the second light source, and the light detecting unit.

(5)前記変更手段は、ホログラムにより構成されていることを特徴とする(1)〜(4)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (5) The optical pickup device according to any one of (1) to (4), wherein the changing unit is configured by a hologram.

(6)前記第1光源又は前記第2光源のうち一方の光源から出射した光束は、前記集光光学系に斜方から入射することを特徴とする(1)〜(5)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (6) The light beam emitted from one of the first light source and the second light source is incident obliquely on the condensing optical system. Any one of (1) to (5) The optical pickup device described in 1.

(7)前記斜方から入射する光源は、光情報記録媒体の記録/再生に必要な集光光学系の光情報記録媒体側の開口数が小さい方の光情報記録媒体の記録/再生を行うための光源であることを特徴とする(6)に記載の光ピックアップ装置。   (7) The obliquely incident light source performs recording / reproducing of the optical information recording medium having a smaller numerical aperture on the optical information recording medium side of the condensing optical system necessary for recording / reproducing of the optical information recording medium. (6) The optical pickup device as described in (6) above.

(8)前記第1光源から出射した光束と、前記第2光源から出射した光束を合成する合成手段を有することを特徴とする(1)〜(5)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (8) The optical pickup according to any one of (1) to (5), further including a combining unit that combines the light beam emitted from the first light source and the light beam emitted from the second light source. apparatus.

(9)前記合成手段を、前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段とともにユニット化したことを特徴とする(8)に記載の光ピックアップ装置。   (9) The optical pickup device according to (8), wherein the combining unit is unitized together with the first light source, the second light source, and the light detecting unit.

(10)前記変更手段と前記合成手段は、一つの光学部材の一方面に形成された変更手段として機能するホログラムと、他方面に形成された合成手段として機能するホログラムとで構成されることを特徴とする(8)又は(9)に記載の光ピックアップ装置。   (10) The changing means and the synthesizing means are composed of a hologram functioning as a changing means formed on one surface of one optical member and a hologram functioning as a synthesizing means formed on the other surface. The optical pickup device according to (8) or (9), which is characterized.

(11)前記合成手段を、前記変更手段より光情報記録媒体側に配置したことを特徴とする(8)〜(10)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (11) The optical pickup device according to any one of (8) to (10), wherein the combining unit is arranged closer to the optical information recording medium than the changing unit.

(12)前記合成手段は、光情報記録媒体の記録/再生に必要な集光光学系の光情報記録媒体側の開口数が小さい方の光情報記録媒体の記録/再生を行うための光源から出射された光束の光路を変更して、他方の光源から出射された光束と合成することを特徴とする(8)〜(11)のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。   (12) The combining means includes a light source for recording / reproducing the optical information recording medium having a smaller numerical aperture on the optical information recording medium side of the condensing optical system necessary for recording / reproducing of the optical information recording medium. The optical pickup device according to any one of (8) to (11), wherein the optical path of the emitted light beam is changed to be combined with the light beam emitted from the other light source.

(13)第1半導体レーザと、第1半導体レーザとは異なる波長の第2半導体レーザとが一体化された光ピックアップ装置の光源ユニットにおいて、前記第1半導体レーザの光出射方向と前記第2半導体レーザの光出射方向とが同じ方向であり、前記第1半導体レーザと前記第2半導体レーザとは導電層を挟んで積層したことを特徴とする光ピックアップ装置の光源ユニット。   (13) In a light source unit of an optical pickup device in which a first semiconductor laser and a second semiconductor laser having a wavelength different from that of the first semiconductor laser are integrated, a light emission direction of the first semiconductor laser and the second semiconductor A light source unit of an optical pickup device, wherein a light emitting direction of a laser is the same direction, and the first semiconductor laser and the second semiconductor laser are stacked with a conductive layer interposed therebetween.

本発明によると、複数の光情報記録媒体を記録/再生する光ピックアップ装置において、装置の組立の簡略化、作業効率の向上を図るとともに、温度変化に対して強い光ピックアップ装置とすることができる。   According to the present invention, in an optical pickup device that records / reproduces a plurality of optical information recording media, the assembly of the device can be simplified, the working efficiency can be improved, and the optical pickup device can be resistant to temperature changes. .

以下、図面を参照して本発明を説明する。なお、以下に説明する際の図面中の一点鎖線は光軸を表すものとし、細線は第1光源から出射した光束(ただし、絞りによって制限された周縁光線)を、破線は第2光源から出射した光束(ただし、絞りによって制限された周縁光線)を表している(ただし、第2光源から出射した光束のうち第1光源から出射した光束と同じ場合は、細線で表している)。   The present invention will be described below with reference to the drawings. In the following description, the alternate long and short dash line in the drawings represents the optical axis, the thin line represents the light beam emitted from the first light source (however, the peripheral light beam is limited by the diaphragm), and the broken line represents the second light source. (In the case where the same luminous flux emitted from the first light source out of the luminous flux emitted from the second light source is represented by a thin line).

(第1の実施の形態)
第1の実施の形態について説明する。図1は光ピックアップ装置10の概略構成図である。
(First embodiment)
A first embodiment will be described. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device 10.

本実施の形態のピックアップ装置10は、光情報記録媒体である光ディスク20として透明基板21の厚さの異なる複数の光ディスク20を記録/再生(光ディスク20の情報記録面22上に情報を記録又は情報記録面22上の情報を再生することを、記録/再生ともいう)するものである。以下、この複数の光ディスク20は、透明基板の厚さt1の第1光ディスクと、第1光ディスクの透明基板の厚さt1とは異なる厚さt2の第2光ディスクとして説明する。また、第1光ディスクの記録/再生するために必要な集光光学系(後述する)の光ディスク側の必要開口数をNA1とし、第2光ディスクの記録/再生するために必要な集光光学系の光ディスク側の必要開口数をNA2とする(以下の説明では、第1光ディスクは、第2光ディスクより高密度の情報記録媒体であるので、NA1>NA2である)。なお、以下の説明中で、DVD(含DVD−RAM)とは第1光ディスクを指しており、この場合、透明基板の厚さt1=0.6mmであり、CD(含CD−R)とは第2光ディスクを指しており、この場合、t2=1.2mm(すなわち、t1<t2)である。   The pickup apparatus 10 according to the present embodiment records / reproduces a plurality of optical disks 20 having different thicknesses of the transparent substrate 21 as the optical disk 20 that is an optical information recording medium (records information on the information recording surface 22 of the optical disk 20 or records information). (Reproducing information on the recording surface 22 is also referred to as recording / reproducing). Hereinafter, the plurality of optical discs 20 will be described as a first optical disc having a transparent substrate thickness t1 and a second optical disc having a thickness t2 different from the transparent substrate thickness t1 of the first optical disc. In addition, the required numerical aperture on the optical disk side of the condensing optical system (described later) necessary for recording / reproducing the first optical disk is NA1, and the condensing optical system necessary for recording / reproducing the second optical disk is NA1. The required numerical aperture on the optical disk side is NA2. (In the following description, since the first optical disk is an information recording medium having a higher density than the second optical disk, NA1> NA2). In the following description, DVD (including DVD-RAM) refers to the first optical disk. In this case, the thickness of the transparent substrate is t1 = 0.6 mm, and CD (including CD-R) is It points to the second optical disk, and in this case, t2 = 1.2 mm (that is, t1 <t2).

本実施の形態のピックアップ装置10では、光源として第1光源である第1半導体レーザ11(波長λ=610nm〜670nm)と第2光源である第2半導体レーザ12(波長λ=740nm〜870nm)とを有している。この第1半導体レーザ11は第1光ディスクの記録/再生する際に使用される光源であり、第2半導体レーザ12は第2光ディスクの記録/再生する際に使用される光源である。これら第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12は、記録/再生する光ディスクに応じて排他的に使用される。   In the pickup device 10 of the present embodiment, a first semiconductor laser 11 (wavelength λ = 610 nm to 670 nm) as a first light source and a second semiconductor laser 12 (wavelength λ = 740 nm to 870 nm) as a second light source are used as light sources. have. The first semiconductor laser 11 is a light source used when recording / reproducing the first optical disk, and the second semiconductor laser 12 is a light source used when recording / reproducing the second optical disk. The first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are used exclusively according to the optical disk to be recorded / reproduced.

合成手段30は、第1半導体レーザ11から出射された光束と第2半導体レーザ12から出射された光束とを合成することが可能な手段である。すなわち、この合成手段30は、第1半導体レーザ11から出射された光束、あるいは、第2半導体レーザ12から出射された光束を、後述する1つの集光光学系を介して、それぞれ第1光ディスクあるいは第2光ディスクに集光させるために、同一(ほぼ同一でもよい)光路となす手段である。本実施の形態では、合成手段30として偏光プリズム(複屈折性プレート)で構成し、第1半導体レーザ11から出射された光束は常光線として光路を変更せずにそのまま通過させ、第2半導体レーザ12から出射された光束は異常光線として光路を変更している。なお、この合成手段30として、ホログラムを用いてもよい。   The combining unit 30 is a unit capable of combining the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 and the light beam emitted from the second semiconductor laser 12. That is, the synthesizing unit 30 converts the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 or the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 to the first optical disk or the optical disc through one condensing optical system described later, respectively. In order to collect light on the second optical disk, the optical path is the same (may be substantially the same). In the present embodiment, the synthesizing unit 30 is constituted by a polarizing prism (birefringent plate), and the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 is passed as it is without changing the optical path as an ordinary ray, and the second semiconductor laser. The light beam emitted from 12 changes the optical path as an extraordinary ray. Note that a hologram may be used as the synthesizing means 30.

集光光学系13は、第1半導体レーザ11あるいは第2半導体レーザ12から出射された光束を、光ディスク20の透明基板21を介して、情報記録面22上に集光させ、スポットを形成させる手段である。本実施の形態では、集光光学系13として、光源から出射された光束を平行光(略平行でもよい)に変換するコリメータレンズ131と、コリメータレンズ131によって平行光とされた光束を集光させる対物レンズ132とを有している。このように、本実施の形態では、1つの集光光学系13を用いて複数の光ディスクの記録/再生を行うので、光ピックアップ装置10を低コストかつ簡単な構造で実現させることができる。   The condensing optical system 13 condenses the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 or the second semiconductor laser 12 on the information recording surface 22 via the transparent substrate 21 of the optical disc 20 to form a spot. It is. In the present embodiment, as the condensing optical system 13, a collimator lens 131 that converts a light beam emitted from a light source into parallel light (may be substantially parallel) and a light beam that has been converted into parallel light by the collimator lens 131 are collected. And an objective lens 132. As described above, in the present embodiment, since a plurality of optical discs are recorded / reproduced using one condensing optical system 13, the optical pickup device 10 can be realized with a low cost and a simple structure.

なお、本実施の形態では、集光光学系13として、コリメータレンズ131と対物レンズ132とを用いた、いわゆる無限系の集光光学系13であるが、コリメータレンズ131がなく光源(第1半導体レーザ11あるいは第2半導体レーザ12)からの発散光を直接集光させる対物レンズ132のみ、いわゆる有限系の集光光学系13や、光源からの発散光の発散度合を減じるレンズ又は光源からの光束を収れん光に変更する(カップリング)レンズとこれらレンズを介した光束を集光させる対物レンズ132とを用いた、いわゆる準有限系の集光光学系13であってもよい。   In the present embodiment, the condensing optical system 13 is a so-called infinite condensing optical system 13 using a collimator lens 131 and an objective lens 132, but there is no collimator lens 131 and the light source (first semiconductor). Only the objective lens 132 that directly condenses the divergent light from the laser 11 or the second semiconductor laser 12), a so-called finite condensing optical system 13, a lens that reduces the divergence of the divergent light from the light source, or the light flux from the light source. It is also possible to use a so-called quasi-finite condensing optical system 13 using a lens that changes (coupling) the light into a convergent light and an objective lens 132 that condenses the light beam through these lenses.

また、光路内には、1/4波長板14および絞り15が設けられている。1/4波長板14はコリメータレンズ131を透過した光を直線偏光から円偏光に変え、絞り15は光束を開口数NA1以上の所定の開口数に制限する。本実施の形態では、絞り15は固定の開口数を有する絞りであり、余分な機構を必要とせず、低コスト化を実現できるものであるが、第2光ディスクの記録/再生時には開口数NA2に相当する開口数に制限するよう、絞り15の開口数を可変としてもよい。   Further, a quarter wavelength plate 14 and a diaphragm 15 are provided in the optical path. The quarter-wave plate 14 changes the light transmitted through the collimator lens 131 from linearly polarized light to circularly polarized light, and the diaphragm 15 limits the light beam to a predetermined numerical aperture greater than or equal to the numerical aperture NA1. In the present embodiment, the diaphragm 15 is a diaphragm having a fixed numerical aperture, and does not require an extra mechanism and can achieve a reduction in cost. However, the numerical aperture NA2 is reduced during recording / reproduction of the second optical disk. The numerical aperture of the diaphragm 15 may be variable so as to limit to the corresponding numerical aperture.

変更手段40は、光源(第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12)から出射した光束を光ディスク20へと導くとともに、光ディスク20の情報記録面22上から反射した光束を後述する光検出手段50へと導くように、光源(第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12)から出射した光束の光路、及び/又は、光ディスク20の情報記録面22上から反射した光束の光路を変更する手段である。すなわち、変更手段40は、変更手段40と光ディスク20との間で、光源(第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12)から出射した光束の光路と光ディスク20の情報記録面22上から反射した光束の光路とを同じにさせる手段である。本実施の形態では、偏光性ホログラムで構成し、光源から出射した光束の光路は変更せずに、光ディスク20の情報記録面22上から反射した光束を回折させ、後述する光検出手段50へと導くように変更する。   The changing unit 40 guides the light beam emitted from the light source (the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12) to the optical disc 20, and the light detection unit 50 described later on the light beam reflected from the information recording surface 22 of the optical disc 20. Means for changing the optical path of the luminous flux emitted from the light source (the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12) and / or the optical path of the luminous flux reflected from the information recording surface 22 of the optical disc 20 is there. That is, the changing means 40 is reflected between the changing means 40 and the optical disc 20 from the optical path of the light beam emitted from the light source (the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12) and the information recording surface 22 of the optical disc 20. It is a means for making the optical path of the light beam the same. In this embodiment, the light beam is composed of a polarization hologram, and the light beam reflected from the information recording surface 22 of the optical disk 20 is diffracted without changing the optical path of the light beam emitted from the light source, and is passed to the light detection means 50 described later. Change to guide.

なお、偏光性ホログラムとは、ホログラムを構成する媒質に複屈折性を有するもの(例えば、ニオブ酸リチウム)を用い、ホログラムに入射する光束の偏光の向きに応じてその回折効率が異なるようにしたものである。1/4波長板14と併用することで、光検出手段50への戻り光量を増大させ、信号のS/N比を向上させ、光源への戻り光を抑えてレーザノイズを低減させることができる。   Note that a polarizing hologram uses a birefringent medium (for example, lithium niobate) as a medium constituting the hologram, and the diffraction efficiency varies depending on the polarization direction of the light beam incident on the hologram. Is. By using in combination with the quarter-wave plate 14, the amount of light returning to the light detection means 50 can be increased, the S / N ratio of the signal can be improved, the return light to the light source can be suppressed, and laser noise can be reduced. .

光検出手段50は、変更手段40を介して(変更手段40によって光路を変更された)、情報記録面22上から反射した光束を受光し検出する手段である。この光検出手段50により、情報記録面上から反射した光束の光量分布変化を検出して、図示しない演算回路によって合焦検出(フォーカスエラー信号)、トラック検出(トラッキングエラー信号)、情報の読み取り(再生信号)がなされる。なお、合焦検出、トラック検出は、非点収差法、ナイフエッジ法、SSD法、位相差検出(DPD)法、プッシュブル(PP)法、3ビーム法など種々の公知の方法により行うことができる。   The light detecting means 50 is a means for receiving and detecting the light beam reflected from the information recording surface 22 via the changing means 40 (the optical path is changed by the changing means 40). The light detection means 50 detects a change in the light amount distribution of the light beam reflected from the information recording surface, and performs focus detection (focus error signal), track detection (tracking error signal), and information reading (not shown) by an arithmetic circuit (not shown). Playback signal). The focus detection and track detection can be performed by various known methods such as an astigmatism method, knife edge method, SSD method, phase difference detection (DPD) method, pushbull (PP) method, and three beam method. it can.

2次元アクチュエータ16は、対物レンズ132を移動させる手段であり、演算回路により得られた合焦検出に基づいて移動させるフォーカシング制御用とトラック検出に基づいて移動させるトラッキング制御用とがある。本実施の形態の2次元アクチュエータ(フォーカシング制御用)16は、第1光ディスク(DVD)の記録/再生時には、DVDの情報記録面上のビームスポット(第1半導体レーザ11から出射された光束を集光光学系により集光されたスポット)が最小となる(最小錯乱円となる)よう(ベストフォーカス)に、また、第2光ディスク(CD)の記録/再生時には、CDの情報記録面上のビームスポット(第2半導体レーザ12から出射された光束を集光光学系により集光されたスポット)が最小錯乱円となる位置よりも対物レンズ132に近い前側位置に、対物レンズ132を移動させる。   The two-dimensional actuator 16 is a means for moving the objective lens 132, and includes a focusing control for moving based on the focus detection obtained by the arithmetic circuit and a tracking control for moving based on the track detection. The two-dimensional actuator (for focusing control) 16 of the present embodiment collects a beam spot (light beam emitted from the first semiconductor laser 11) on the information recording surface of the DVD during recording / reproduction of the first optical disk (DVD). The beam on the information recording surface of the CD is set so that the spot collected by the optical optical system is minimized (becomes the minimum circle of confusion) (best focus), and at the time of recording / reproduction of the second optical disc (CD). The objective lens 132 is moved to a front position closer to the objective lens 132 than the position where the spot (spot where the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 is condensed by the condensing optical system) is the minimum circle of confusion.

これは、第2光ディスクを記録/再生する場合、第2光ディスクの透明基板の厚さt2が第1光ディスクの透明基板の厚さt1より厚くなることで球面収差が発生し、近軸焦点位置より後方の位置であってビームスポットが最小錯乱円となる位置では、スポットサイズが大きく第2光ディスクのピット(情報)を読むことができない。しかしながら、最小錯乱円となる位置より対物レンズ132に近い位置である前側位置では、中央部に光量が集中した核と核の周囲に不要光であるフレアとからなる全体として最小錯乱円より大きいスポットが形成される。したがって、第2光ディスクを記録/再生する場合、対物レンズ132を前側位置に移動させ、この核を光検出手段50で検出して、合焦検出、トラック検出、情報の読み取りを行う。   This is because when the second optical disc is recorded / reproduced, spherical aberration occurs due to the thickness t2 of the transparent substrate of the second optical disc becoming thicker than the thickness t1 of the transparent substrate of the first optical disc. At the rear position where the beam spot is the minimum circle of confusion, the spot size is large and pits (information) on the second optical disk cannot be read. However, at the front position, which is closer to the objective lens 132 than the position of the minimum circle of confusion, a spot larger than the minimum circle of confusion as a whole consisting of a nucleus in which the amount of light is concentrated in the center and flare that is unnecessary light around the nucleus. Is formed. Therefore, when recording / reproducing the second optical disk, the objective lens 132 is moved to the front side position, and this nucleus is detected by the light detection means 50, thereby performing focus detection, track detection, and information reading.

このように、光ピックアップ装置10においては、第1光ディスクの記録/再生は、第1半導体レーザ11から出射した光束を、集光光学系13で第1光ディスクの透明基板を介して情報記録面に集光させ、情報記録面から反射した光束を光検出手段で受光して行われ、また、第2光ディスクの記録/再生は、第2半導体レーザ12から出射した光束を、集光光学系13で第2光ディスクの透明基板を介して情報記録面に集光させ、情報記録面から反射した光束を光検出手段で受光して行われる。   As described above, in the optical pickup device 10, recording / reproduction of the first optical disk is performed by using the condensing optical system 13 to transmit the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 to the information recording surface via the transparent substrate of the first optical disk. The light beam collected and reflected from the information recording surface is received by the light detection means, and recording / reproduction of the second optical disk is performed by the light collection optical system 13 using the light beam emitted from the second semiconductor laser 12. The light is condensed on the information recording surface via the transparent substrate of the second optical disk, and the light beam reflected from the information recording surface is received by the light detection means.

そこで、本実施の形態では、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50を、ユニット60化している。これについて、ユニット60の斜視図である図2をも参照して説明する。   Therefore, in the present embodiment, the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 are unitized. This will be described with reference to FIG. 2 which is a perspective view of the unit 60.

第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50は、ユニット60としてユニット化されている。ここで、本発明でいう「ユニット」あるいは「ユニット化」とは、ユニット化されている部材や手段が一体となって光ピックアップ装置10に組み込みができるようになっていることであり、すなわち、装置の組立時に1部品として組み付けることができる状態のことである。   The first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 are unitized as a unit 60. Here, “unit” or “unitized” in the present invention means that a unitized member or means can be integrated into the optical pickup device 10, that is, It is a state that can be assembled as one part when the apparatus is assembled.

本実施の形態では、ユニット60の基板61に、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50を設けることにより、ユニット化している。したがって、光ピックアップ装置10の組立時には、各々の部材をそれぞれ調整しつつ光ピックアップ装置10の組立を行うのではなく、このユニット60を取り付けるだけで、ユニット化された部材を組み付けることができ、組立の簡略化、作業効率の向上を図ることができる。しかも、経年変化、温度変化に対しても強い構造となる。すなわち、個々の部品を近接させることで、機械的なストレスや経年変化、温度変化による寸法変化量が小さくなり、また、変更手段40から見たときの光源11、12と光検出手段50が近接した光路上となるため、共役性が維持しやすくなる。   In the present embodiment, the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 are provided on the substrate 61 of the unit 60 to form a unit. Therefore, when assembling the optical pickup device 10, the optical pickup device 10 is not assembled while adjusting each member, but the unitized member can be assembled simply by attaching the unit 60. Can be simplified and work efficiency can be improved. Moreover, the structure is strong against aging and temperature changes. That is, by bringing individual parts close to each other, the amount of dimensional change due to mechanical stress, secular change, and temperature change is reduced, and the light sources 11 and 12 and the light detecting means 50 as viewed from the changing means 40 are close to each other. Therefore, it is easy to maintain the conjugate property.

なお、ユニット化にする際には、本実施の形態では、第1半導体レーザ11の発光点と第2半導体レーザ12の発光点と光検出手段50の受光面とを同一平面となるように配置しているが、必ずしも同一平面にする必要はない。また、本実施の形態のように、第1半導体レーザ11の出射面(発光点)と第2半導体レーザ12の出射面(発光点)とを同方向に向け近接配置することにより、半導体レーザの後面出射光を検出する図示しない受光素子を兼用することができ、さらに低コスト化を実現できる。   In the case of unitization, in the present embodiment, the light emitting point of the first semiconductor laser 11, the light emitting point of the second semiconductor laser 12, and the light receiving surface of the light detection means 50 are arranged on the same plane. However, they are not necessarily in the same plane. Further, as in the present embodiment, the emission surface (light emission point) of the first semiconductor laser 11 and the emission surface (light emission point) of the second semiconductor laser 12 are arranged close to each other in the same direction, so that A light receiving element (not shown) for detecting the rear emission light can also be used, and further cost reduction can be realized.

また、このユニット60を構成する際には、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50のうち、少なくとも1つをユニット60内での位置を調整可能なように設けることにより、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50の関係を容易に調整できるようになる。特に、ユニット60の外部から調整可能なように設けることにより、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50間の位置誤差を吸収させることができる。   Further, when configuring the unit 60, by providing at least one of the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 so that the position in the unit 60 can be adjusted. The relationship among the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 can be easily adjusted. In particular, the positional error among the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12 and the light detection means 50 can be absorbed by providing the unit 60 so as to be adjustable from the outside.

また、本実施の形態においては、ユニット60を光ピックアップ装置10に組み付ける前に、変更手段40をユニット60に設けるように構成している。すなわち、変更手段40を第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50とともにユニット化するようにしている。これにより、さらに組立の簡略化、作業の効率化の向上を図ることができる。特に、ユニット60に変更手段40を設ける際には、調整可能に設けることにより、組立後の調整を容易に行うことができる。   In the present embodiment, the changing means 40 is provided in the unit 60 before the unit 60 is assembled to the optical pickup device 10. That is, the changing means 40 is unitized with the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12 and the light detecting means 50. As a result, it is possible to further simplify assembly and improve work efficiency. In particular, when the changing means 40 is provided in the unit 60, the adjustment after assembly can be easily performed by providing the changing means 40 in an adjustable manner.

また、本実施の形態においては、変更手段40を合成手段30より光源側に配置、逆に言えば、合成手段30を変更手段40より光ディスク側に配置していることにより、変更手段40により光路を変更する際に、第1半導体レーザ11から出射し第1光ディスクから反射した光束と、第2半導体レーザ12から出射し第2光ディスクから反射した光束とが、変更手段40上で異なる位置を通過すること(図2の変更手段40上に示した斜線部)になり、変更手段40であるホログラムに各々の光束を任意の方向に変更することができる。特に、本実施の形態では、第1光ディスクから反射し変更手段40によって変更された光束と、第2光ディスクから反射し変更手段40によって変更された光束とが、光検出手段50上の同じ位置に結像するように、ホログラムを形成している。そのため、本実施の形態では、第1光ディスクから反射した光束の検出と第2光ディスクから反射した光束の検出とを同じ受光素子(光検出手段50)で行うことができ、低コスト化を実現できる。   Further, in the present embodiment, the changing unit 40 is disposed on the light source side from the combining unit 30, or conversely, the combining unit 30 is disposed on the optical disc side from the changing unit 40. , The light beam emitted from the first semiconductor laser 11 and reflected from the first optical disk and the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 and reflected from the second optical disk pass through different positions on the changing means 40. 2 (the hatched portion shown on the changing means 40 in FIG. 2), and each light beam can be changed in an arbitrary direction to the hologram as the changing means 40. In particular, in the present embodiment, the light beam reflected from the first optical disk and changed by the changing means 40 and the light beam reflected from the second optical disk and changed by the changing means 40 are at the same position on the light detection means 50. A hologram is formed so as to form an image. Therefore, in the present embodiment, the detection of the light beam reflected from the first optical disk and the detection of the light beam reflected from the second optical disk can be performed by the same light receiving element (light detection means 50), and cost reduction can be realized. .

なお、本実施の形態のように変更手段40を合成手段30より光源側に配置するのではなく、図3に示すように、合成手段30を変更手段40より光源側に配置してもよい。この(図3)場合、合成手段30は、偏光ホログラムで構成しており、そのために、第2半導体レーザ12を第1半導体レーザ11に対して傾けて配置している。また、この(図3)場合、第1光ディスクから反射した光束が変更手段40を通過する位置と、第2光ディスクから反射した光束が変更手段40を通過する位置とが同じになるので、それぞれの光検出手段50上での結像位置が異なり、それぞれの光束を検出する受光素子(光検出手段50)を設けるようにする。なお、この(図3)場合、ユニット60の外壁には、光ディスクから反射した光束を通過させるために、その分だけ合成手段30を小さくし、開口62が設けている。また、この(図3)場合、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12、光検出手段50及び合成手段30をユニット60に設けてユニット化しているが、さらに、変更手段40をもユニット化してもよく、さらに、1/4波長板14を変更手段40に接着して、一体化してもよい。   Instead of disposing the changing unit 40 closer to the light source than the combining unit 30 as in the present embodiment, the combining unit 30 may be disposed closer to the light source than the changing unit 40 as shown in FIG. In this case (FIG. 3), the synthesizing means 30 is composed of a polarization hologram, and for this purpose, the second semiconductor laser 12 is arranged to be inclined with respect to the first semiconductor laser 11. In this case (FIG. 3), the position where the light beam reflected from the first optical disk passes through the changing means 40 is the same as the position where the light beam reflected from the second optical disk passes through the changing means 40. The imaging positions on the light detection means 50 are different, and a light receiving element (light detection means 50) for detecting each light beam is provided. In this case (FIG. 3), in order to allow the light beam reflected from the optical disk to pass through the outer wall of the unit 60, the synthesizing means 30 is made smaller by that amount and an opening 62 is provided. In this case (FIG. 3), the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, the light detecting means 50, and the synthesizing means 30 are provided in the unit 60 and unitized, but the changing means 40 is also unitized. Further, the quarter wavelength plate 14 may be bonded to the changing means 40 and integrated.

また、本実施の形態においては、ユニット化する際に、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とを隣接して設けているので、合成手段30による合成する際、光路の変更に余分な負担を与えることなく合成することができる。また、本実施の形態では、必要開口数が小さい方の光ディスク(すなわち第2光ディスク)の記録/再生に使用する第2半導体レーザ12から出射された光束の光路を変更する(すなわち、必要開口数が大きい方の第1光ディスクの記録/再生に使用する第1半導体レーザ11から出射された光束の光路を変更しない)ので、より集光特性が要求される第1光ディスクの記録/再生を良好にするばかりでなく、第2光ディスクの記録/再生も行うことができる。   Further, in the present embodiment, the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are provided adjacent to each other when unitized. Therefore, when combining by the combining means 30, it is unnecessary for changing the optical path. It can be synthesized without giving a burden. Further, in the present embodiment, the optical path of the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 used for recording / reproduction of the optical disk having the smaller required numerical aperture (that is, the second optical disk) is changed (that is, the required numerical aperture). The optical path of the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 used for recording / reproduction of the first optical disk having a larger value is not changed), so that the recording / reproduction of the first optical disk, which requires more light condensing characteristics, can be performed satisfactorily. In addition, recording / reproduction of the second optical disk can be performed.

(第2の実施の形態)
次に第2の実施の形態について、第2の実施の形態の光ピックアップ装置10の概略構成図である図4に基づいて説明する。上述した第1の実施の形態においては、合成手段30と変更手段40とをそれぞれ別体の光学部材で構成したが、本実施の形態においては、1つの光学部材で構成したものである。なお、上述した第1の実施の形態と同一の機能・構成要素を用いる場合には同じ図番を付し、断らない限り既に説明したものと同じとし、説明を省略する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. 4 which is a schematic configuration diagram of the optical pickup device 10 of the second embodiment. In the first embodiment described above, the synthesizing means 30 and the changing means 40 are each constituted by separate optical members, but in this embodiment, they are constituted by one optical member. In addition, when using the same function and component as 1st Embodiment mentioned above, the same figure number is attached | subjected and it is the same as already demonstrated unless it refuses, and description is abbreviate | omitted.

本実施の形態では、1つの光学部材70の光源側の面に変更手段40として機能するホログラムを設け、光ディスク側の面に合成手段として機能するホログラムを設けている。これにより、合成手段30及び変更手段40を光ピックアップ装置10に組み付ける際の作業性が向上する。さらに、本実施の形態では、ユニット60を光ピックアップ装置10に組み付ける前に、光学部材70をユニット60に設けるように構成している。すなわち、光学部材70(合成手段30と変更手段40)を第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50とともにユニット化するようにしている。これにより、さらに組立の簡略化、作業の効率化の向上を図ることができる。特に、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50のうち、少なくとも1つをユニット60内での位置を調整可能なように設けることにより、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12及び光検出手段50の関係を、合成手段30及び変更手段40の関係から容易に調整できるようになる。特に、ユニット60の外部から調整可能なように設けることにより、ユニット60の組立時の調整を容易に行うことができる。   In the present embodiment, a hologram that functions as the changing means 40 is provided on the light source side surface of one optical member 70, and a hologram that functions as the combining means is provided on the optical disk side surface. Thereby, workability at the time of assembling the synthesizing unit 30 and the changing unit 40 to the optical pickup device 10 is improved. Further, in the present embodiment, the optical member 70 is provided in the unit 60 before the unit 60 is assembled to the optical pickup device 10. That is, the optical member 70 (the synthesizing unit 30 and the changing unit 40) is unitized together with the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detecting unit 50. As a result, it is possible to further simplify assembly and improve work efficiency. In particular, by providing at least one of the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12 and the light detection means 50 so that the position in the unit 60 can be adjusted, the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser are provided. The relationship between the laser 12 and the light detecting means 50 can be easily adjusted from the relationship between the synthesizing means 30 and the changing means 40. In particular, by providing the unit 60 so as to be adjustable from the outside, the unit 60 can be easily adjusted during assembly.

また、本実施の形態では、光学部材70の光源側の面に変更手段40を光ディスク側の面に合成手段30を設けたので、第1光ディスクから反射した光束の検出と第2光ディスクから反射した光束とを共通の光検出手段50の受光素子(図示せず)を用いることができる。しかしながら、図5に示すように、光学部材70の光源側の面に合成手段30を光ディスク側に変更手段40を設けてもよい。   In the present embodiment, since the changing means 40 is provided on the light source side surface of the optical member 70 and the combining means 30 is provided on the optical disk side surface, detection of the light beam reflected from the first optical disk and reflection from the second optical disk are performed. A light receiving element (not shown) of the light detecting means 50 that shares the light beam can be used. However, as shown in FIG. 5, the combining means 30 may be provided on the light source side surface of the optical member 70 and the changing means 40 may be provided on the optical disk side.

(第3の実施の形態)
次に第3の実施の形態について、第3の実施の形態の光ピックアップ装置10の概略構成図である図6に基づいて説明する。上述した第1、2の実施の形態においては、合成手段30を用いて、第1半導体レーザ11から出射された光束の光軸と第2半導体レーザ12から出射された光束の光軸とを一致させ、集光光学系13の光軸と一致させるようにしたが、本実施の形態においては、一方の光源から出射された光束を、集光光学系13に斜方から入射させるように構成したものである。なお、上述した第1の実施の形態と同一の機能・構成要素を用いる場合には同じ図番を付し、断らない限り既に説明したものと同じとし、説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment will be described based on FIG. 6 which is a schematic configuration diagram of the optical pickup device 10 of the third embodiment. In the first and second embodiments described above, the optical axis of the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 and the optical axis of the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 are matched by using the combining means 30. In this embodiment, the light beam emitted from one light source is configured to enter the condensing optical system 13 from an oblique direction. Is. In addition, when using the same function and component as 1st Embodiment mentioned above, the same figure number is attached | subjected and it is the same as already demonstrated unless it refuses, and description is abbreviate | omitted.

本実施の形態においては、必要開口数が小さい方の第2光ディスクの記録/再生に使用する第2半導体レーザ12から出射された光束が、集光光学系13の斜方から入射するように構成している。一方、必要開口数が大きい方の第1光ディスクの記録/再生に使用する第1半導体レーザ11から出射された光束は、集光光学系に斜方から入射させない(換言すると、集光光学系13の光軸と第1半導体レーザ11から出射された光束の光軸とが一致)ように構成している。これに伴い、合成手段30を省いている。   In the present embodiment, the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 used for recording / reproduction of the second optical disk having the smaller required numerical aperture is configured to enter from the oblique direction of the condensing optical system 13. is doing. On the other hand, the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 used for recording / reproduction of the first optical disk having the larger required numerical aperture is not incident on the condensing optical system obliquely (in other words, the condensing optical system 13). And the optical axis of the light beam emitted from the first semiconductor laser 11 coincide with each other). Accordingly, the synthesizing means 30 is omitted.

このように構成することにより、本実施の形態では、一方の光源から出射した光束を集光光学系13に斜方から入射するので、第1、2の実施の形態では必要であった合成手段30が不要となり、低コスト化を実現できるばかりでなく、組立作業の効率化を図ることができる。また、本実施の形態では、必要な開口数の小さい第2半導体レーザ12から出射した光束を集光光学系13に斜方から入射させたので、より集光特性が要求される第1光ディスクの記録/再生を損なうことなく、若干の余裕のある第2光ディスクの記録/再生も行うことができる。   With this configuration, in this embodiment, the light beam emitted from one of the light sources is incident on the condensing optical system 13 from an oblique direction. Therefore, the synthesizing means required in the first and second embodiments is used. 30 is not necessary, so that not only cost reduction can be realized, but also the efficiency of assembly work can be improved. In the present embodiment, since the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 having a small numerical aperture is incident on the condensing optical system 13 from an oblique direction, the first optical disc that requires more condensing characteristics is used. Recording / reproduction of the second optical disk with a slight margin can be performed without impairing recording / reproduction.

また、本実施の形態においては、コリメータレンズ131から絞り15までの距離が、コリメータレンズ131の焦点距離とほぼ等しくなるように配置しているので、第2半導体レーザ12の光束の中心が絞り15の中心と一致し、対物レンズ132に入射する光束の光量分布の対称性が向上する。したがって、対物レンズ132がシフトしたときの光量分布変動を小さくすることができ、トラッキングレンジを広くすることができる。また、絞り15から対物レンズ132までの距離を、対物レンズ132の焦点距離と同じになるように配置すると、対物レンズ132から第2光ディスクへ向かう光束は、対物レンズ132の光軸と平行になり好ましい。   In the present embodiment, since the distance from the collimator lens 131 to the stop 15 is set to be substantially equal to the focal length of the collimator lens 131, the center of the light beam of the second semiconductor laser 12 is the stop 15. The symmetry of the light quantity distribution of the light beam incident on the objective lens 132 is improved. Therefore, it is possible to reduce the light amount distribution fluctuation when the objective lens 132 is shifted, and to widen the tracking range. If the distance from the diaphragm 15 to the objective lens 132 is set to be the same as the focal length of the objective lens 132, the light beam traveling from the objective lens 132 to the second optical disk is parallel to the optical axis of the objective lens 132. preferable.

また、本実施の形態において、変更手段40と光ディスクとの間の光路中に、第2半導体レーザ12の波長で凹レンズとしての作用を有し、第1半導体レーザ11の波長では作用しない波長選択性ホログラム素子を設けることにより、透明基板の厚さが厚くなることによって生じるオーバー方向の球面収差を補正することができる。すなわち、光路中に、第2半導体レーザ12の波長で凹レンズ作用するホログラム素子を設けることにより、第2半導体レーザ12の波長では厚い透明基板の光ディスクに、第1半導体レーザの波長では薄い透明基板の光ディスクに対応した光ピックアップ装置10とすることができる。この場合、ホログラム素子のホログラムの格子構造深さは、光路長として第1半導体レーザ11の波長λ1でnλ1(ただし、n=整数)と、第2半導体レーザ12の波長λ2で(n+1/2)λ2(ただし、n=整数)との公倍数となるような深さに選ぶことにより容易に行うことができる。   Further, in the present embodiment, in the optical path between the changing means 40 and the optical disc, the wavelength selectivity that acts as a concave lens at the wavelength of the second semiconductor laser 12 and does not act at the wavelength of the first semiconductor laser 11. By providing the hologram element, it is possible to correct the spherical aberration in the over direction caused by the increase in the thickness of the transparent substrate. That is, by providing a hologram element that acts as a concave lens at the wavelength of the second semiconductor laser 12 in the optical path, an optical disk with a thick transparent substrate at the wavelength of the second semiconductor laser 12 and a thin transparent substrate at the wavelength of the first semiconductor laser are provided. The optical pickup device 10 corresponding to the optical disk can be obtained. In this case, the grating structure depth of the hologram element is such that the optical path length is nλ1 (where n = integer) at the wavelength λ1 of the first semiconductor laser 11 and (n + 1/2) at the wavelength λ2 of the second semiconductor laser 12. This can be done easily by selecting a depth that is a common multiple of λ2 (where n = integer).

以上詳述した第1〜第3の実施の形態において、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12、光検出手段50各々は、ユニット60の基板61に直接設けるようにしたが、これに限られることはない。例えば、図7(a)に示すように、2つの半導体レーザ11、12を積層してもよい。すなわち、半導体レーザには、その発光に伴う熱を逃がすためのヒートシンク81が必須となるが、このヒートシンク81上の導電性の面に第1半導体レーザ11を設ける。そして、第1半導体レーザ11上に導電層であるアルミニウムを蒸着し、この導電層上(すなわち、第1半導体レーザ11上)に第2半導体レーザ12を積層する。そして、第2半導体レーザ12上を導電層であるアルミニウムを蒸着する。一方、第1半導体レーザ11の下方には光検出手段50を設ける。そして、各導電層にワイヤー82〜84をボンディングして、駆動電流を流すためのワイヤー82〜84を設ける。すなわち、ワイヤー82、83間に駆動電流を流すことにより第1半導体レーザ11が発光し、ワイヤー83、84間に駆動電流を流すことにより第2半導体レーザ12が発光する(端子83が共通電極となり、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12間の導電層が共通導電層となる)。光ピックアップ装置においては、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とを排他的に発光させるので、このように構成することにより、省スペース化、簡素化等の点で好ましい。   In the first to third embodiments described in detail above, each of the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 is provided directly on the substrate 61 of the unit 60. Will never be. For example, as shown in FIG. 7A, two semiconductor lasers 11 and 12 may be stacked. That is, a heat sink 81 for releasing heat associated with light emission is essential for the semiconductor laser, but the first semiconductor laser 11 is provided on the conductive surface on the heat sink 81. Then, aluminum as a conductive layer is vapor-deposited on the first semiconductor laser 11, and the second semiconductor laser 12 is laminated on the conductive layer (that is, on the first semiconductor laser 11). Then, aluminum as a conductive layer is deposited on the second semiconductor laser 12. On the other hand, a light detection means 50 is provided below the first semiconductor laser 11. Then, the wires 82 to 84 are bonded to the respective conductive layers, and the wires 82 to 84 for supplying a driving current are provided. That is, the first semiconductor laser 11 emits light when a drive current is passed between the wires 82 and 83, and the second semiconductor laser 12 emits light when a drive current is passed between the wires 83 and 84 (the terminal 83 serves as a common electrode). The conductive layer between the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 becomes a common conductive layer). In the optical pickup device, the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 emit light exclusively, and thus the configuration is preferable in terms of space saving and simplification.

また、この(図7(a))場合、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12から出射される光束は、各々半値全角で10°、30°程度の楕円形状であり、発散角の広い方向に第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とが並ぶ。また、この並ぶ方向を、光ピックアップ装置として、光ディスクのタンジェンシャル方向となるようにすることにより、タンジェンシャル方向のスポットサイズを小さくすることができる。さらに、第3の実施の形態のように、一方の光束が集光光学系の軸外光束となる場合であっても、対物レンズ16がトラッキングによりシフトしたときの光量変化に非対称性が生じにくく、さらに、集光光学系に斜入射することにより生じる非点収差を、半導体レーザが有する非点収差で打ち消すことができる。なお、この場合、第1半導体レーザ11を光軸上に、第2半導体レーザ12を光軸外に配置し、第2半導体レーザ12の非点収差が第1半導体レーザ11より大きくなるように選ぶことが好ましい。   In this case (FIG. 7A), the light beams emitted from the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are elliptical shapes having a full width at half maximum of about 10 ° and 30 °, respectively, and have a wide divergence angle. The first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are arranged in the direction. In addition, the spot size in the tangential direction can be reduced by making this arrangement direction the tangential direction of the optical disk as an optical pickup device. Furthermore, as in the third embodiment, even when one of the light beams is an off-axis light beam of the condensing optical system, asymmetry hardly occurs in the light amount change when the objective lens 16 is shifted by tracking. Furthermore, the astigmatism caused by oblique incidence on the condensing optical system can be canceled by the astigmatism of the semiconductor laser. In this case, the first semiconductor laser 11 is arranged on the optical axis, the second semiconductor laser 12 is arranged outside the optical axis, and the astigmatism of the second semiconductor laser 12 is selected to be larger than that of the first semiconductor laser 11. It is preferable.

このように2つの半導体レーザ11、12を積層することにより、第1半導体レーザ11の発光点111と第2半導体レーザ12の発光点121とのずれが、100μm程度にすることが可能となり、各々の半導体レーザ11、12を基板61上に並べるよりは近接させることができる。また、一方の半導体レーザ(この例では第1半導体レーザ11)は、発光点111側を直接ヒートシンク上に設けることができ、放熱上有利となる。   By laminating the two semiconductor lasers 11 and 12 in this way, the deviation between the light emission point 111 of the first semiconductor laser 11 and the light emission point 121 of the second semiconductor laser 12 can be set to about 100 μm. The semiconductor lasers 11 and 12 can be brought closer to each other than being arranged on the substrate 61. In addition, one of the semiconductor lasers (in this example, the first semiconductor laser 11) can provide the light emitting point 111 directly on the heat sink, which is advantageous for heat dissipation.

また、この(図7(a))場合においては、それぞれの発光点111、121を光軸方向にずらして配置することにより、積層した半導体レーザ11、12各々から出射した光束が、他の半導体レーザもしくはヒートシンクによってけられることがないようにしたが、これに限られず、図7(b)に示すように、発光点111、121を同一平面(光検出手段50の受光面も含めて)上にしてもよい。   Further, in this case (FIG. 7A), the light emitted from each of the stacked semiconductor lasers 11 and 12 is changed to other semiconductors by arranging the light emitting points 111 and 121 so as to be shifted in the optical axis direction. However, the present invention is not limited to this. As shown in FIG. 7B, the light emitting points 111 and 121 are on the same plane (including the light receiving surface of the light detecting means 50). It may be.

なお、図7(b)に示した例は、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12を同一平面上に設けただけでなく、さらに、第1半導体レーザ11の発光点111に近い側の側面に導電層であるアルミニウムを蒸着して、その上に第2半導体レーザ12の発光点121に近い側の側面が接するように積層し、発光点111、121とを密着させた状態で積層して、発光点111、121間が10μm以内に近接配置するようにしたものである。このため、図7(b)に示す例では、上述した第1、2の実施の形態に用いる場合、合成手段30を省略することができ、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザを共に集光光学系のほぼ光軸上として使用することができるので、集光性能上好ましい。   In the example shown in FIG. 7B, not only the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are provided on the same plane, but also on the side closer to the light emitting point 111 of the first semiconductor laser 11. Aluminum, which is a conductive layer, is vapor-deposited on the side surface, and laminated so that the side surface close to the light emitting point 121 of the second semiconductor laser 12 is in contact therewith, and the light emitting points 111 and 121 are laminated in close contact with each other. Thus, the light emitting points 111 and 121 are arranged close to each other within 10 μm. Therefore, in the example shown in FIG. 7B, when used in the first and second embodiments described above, the synthesizing means 30 can be omitted, and both the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser are collected. Since it can be used almost on the optical axis of the optical optical system, it is preferable in terms of light collecting performance.

また、以上詳述した第1〜第3の実施の形態において、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12、光検出手段50は、一直線に並ぶように、ユニット60の基板61に設けたが、これに限らず、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とが並ぶ方向とは異なる位置に光検出手段50を設けてもよい。また、第1半導体レーザ11及び第2半導体レーザ12から出射した光束が直接合成手段30あるいは変更手段40に入射するようにしたが、ミラー等により光路を変更させた後入射するようにしてもよい。この例を図8に示す。   In the first to third embodiments described in detail above, the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 are provided on the substrate 61 of the unit 60 so as to be aligned. Not limited to this, the light detection means 50 may be provided at a position different from the direction in which the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are arranged. In addition, the light beams emitted from the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are directly incident on the combining unit 30 or the changing unit 40. However, they may be incident after the optical path is changed by a mirror or the like. . An example of this is shown in FIG.

図8において、受光手段50は、シリコン基板51上に半導体プロセスにより受光素子52が形成されている。このシリコン基板51に2つの凹部53及び2つのミラー部54を設けている。そして、この凹部53に、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とを実装する。したがって、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とが並ぶ方向とは異なる位置に光検出手段50が配置され、かつ、第1半導体レーザ11及び第2半導体レーザ12から出射した光束が変更された後合成手段30あるいは変更手段40に入射するようにさせることができる。   In FIG. 8, the light receiving means 50 has a light receiving element 52 formed on a silicon substrate 51 by a semiconductor process. The silicon substrate 51 is provided with two concave portions 53 and two mirror portions 54. Then, the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are mounted in the recess 53. Therefore, the light detection means 50 is disposed at a position different from the direction in which the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are arranged, and the light beams emitted from the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are changed. After that, the light can enter the combining means 30 or the changing means 40.

また、図8のように、受光素子52の基板51上に半導体レーザ11、12を実装することにより、よりコンパクトなユニット60を構成することができる。また、部品点数を減らし、精密組立や作業の効率化ができる。なお、図8においては、ミラー部54を形成したが、ミラー部54の代わりに合成手段30を実装するようにしてもよい。   Further, as shown in FIG. 8, a more compact unit 60 can be configured by mounting the semiconductor lasers 11 and 12 on the substrate 51 of the light receiving element 52. In addition, the number of parts can be reduced to improve precision assembly and work efficiency. Although the mirror unit 54 is formed in FIG. 8, the combining unit 30 may be mounted instead of the mirror unit 54.

なお、以上の説明においては、CD(含CD−R)は第2光ディスクを指すものとし、第2半導体レーザ12を第2光ディスクの記録/再生を行うための光源としたが、第2半導体レーザ12をCD−Rの記録/再生を行うための光源とし、CDの記録/再生は第1半導体レーザ11で行ってもよい。   In the above description, CD (including CD-R) refers to the second optical disk, and the second semiconductor laser 12 is the light source for recording / reproducing the second optical disk. 12 may be a light source for recording / reproducing a CD-R, and recording / reproducing of the CD may be performed by the first semiconductor laser 11.

(具体例1)
上述した光ピックアップ装置10のうち、図1、4、6に用いられるユニット60の配置の具体例を図9に示す。図9(a)はユニット60の配置関係を示した図であり、図9(b)は本具体例の変更手段40であるホログラム素子の拡大模式図である。なお、本具体例では、第1半導体レーザ11の波長をλ1=640nm、第2半導体レーザ12の波長をλ2=790nm、変更手段40であるホログラム素子40と光源(11、12)の発光点、光検出手段50の受光面との間の距離をL=10mm、ホログラム素子40の平均ピッチp=5μm、第1半導体レーザ11を集光光学系の光軸上に配置したものとする。
(Specific example 1)
FIG. 9 shows a specific example of the arrangement of the units 60 used in FIGS. 1, 4, and 6 in the optical pickup device 10 described above. FIG. 9A is a diagram showing the arrangement relationship of the units 60, and FIG. 9B is an enlarged schematic diagram of a hologram element that is the changing means 40 of this specific example. In this specific example, the wavelength of the first semiconductor laser 11 is λ1 = 640 nm, the wavelength of the second semiconductor laser 12 is λ2 = 790 nm, the light emitting points of the hologram element 40 as the changing means 40 and the light sources (11, 12), It is assumed that the distance from the light receiving surface of the light detection means 50 is L = 10 mm, the average pitch p of the hologram element 40 is 5 μm, and the first semiconductor laser 11 is disposed on the optical axis of the condensing optical system.

第1半導体レーザ11から出射した光束は、ホログラム素子40を0次光として通過直進し、第1光ディスクの情報記録面より反射して再び元の光路をたどりホログラム素子40へ入射する。本具体例ではホログラム素子40の平均ピッチp=5μmであるので、±1次光は±λ1/p(≒±7.3°)回折し、第1半導体レーザ11からd1(=1.28mm)離れて光検出手段50上に結像する。なお、本具体例のようにホログラム素子40をブレーズド化することで、±1次光のうち一方のみへの回折効率を高くすることができる。   The light beam emitted from the first semiconductor laser 11 travels straight through the hologram element 40 as zero-order light, is reflected from the information recording surface of the first optical disk, travels along the original optical path, and enters the hologram element 40 again. In this specific example, since the average pitch p of the hologram element 40 is 5 μm, the ± 1st order light is diffracted by ± λ1 / p (≈ ± 7.3 °) and d1 (= 1.28 mm) from the first semiconductor laser 11. An image is formed on the light detection means 50 at a distance. Note that, by making the hologram element 40 blazed as in this specific example, it is possible to increase the diffraction efficiency to only one of the ± first-order lights.

第2半導体レーザ12から出射した光束も、上述と同様に、ホログラム素子40を0次光として通過直進し、第1光ディスクの情報記録面より反射して再び元の光路をたどりホログラム素子40へ入射する。ホログラム素子40は、この波長λ2では、約9°回折し、第2半導体レーザ12からd2(=1.58mm)離れて光検出手段50上に結像する。   Similarly to the above, the light beam emitted from the second semiconductor laser 12 travels straight through the hologram element 40 as zero-order light, is reflected from the information recording surface of the first optical disc, retraces the original optical path, and enters the hologram element 40. To do. The hologram element 40 diffracts about 9 ° at this wavelength λ2, and forms an image on the light detection means 50 at a distance d2 (= 1.58 mm) from the second semiconductor laser 12.

このように、第1半導体レーザ11と第2半導体レーザ12とを0.3mm離し、光検出手段50の受光面の中心が第1半導体レーザ11から1.28mm、第2半導体レーザ12から1.58mm離して、同一平面上で配置する。   Thus, the first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are separated by 0.3 mm, the center of the light receiving surface of the light detection means 50 is 1.28 mm from the first semiconductor laser 11, and the first semiconductor laser 12 is 1. 58mm apart and placed on the same plane.

このようにして配置したユニット60を用いて、光ディスクの記録/再生を行った結果、DVDから反射した光束と、CDから反射した光束とを同じ光検出手段50で検出することができ、しかも、DVD、CDともに、良好に記録/再生を行うことができる。   As a result of recording / reproducing of the optical disk using the unit 60 arranged in this way, the light beam reflected from the DVD and the light beam reflected from the CD can be detected by the same light detection means 50, and Both DVD and CD can be recorded / reproduced satisfactorily.

(具体例2)
次に、光検出手段50の具体的構成を含めた具体例を図10に示す。図10はユニット60内の構成を模式的に示した図であるので、ユニット60等は記載を省略する。第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12、光検出手段50の受光素子を同一平面上に配置している。なお、第1半導体レーザ11、第2半導体レーザ12は、ヒートシンク81上に個々に設けられたものであり、発光点111、121とは反対側に、1つの光検出器85が設けられている。この光検出器85は、半導体レーザ11、12から出射した光束の光量が所定の光量となるようにAPC(オートパワーコントロール)回路で半導体レーザ11、12の電流制御するため、半導体レーザ11、12の後方から出射された光の光量を検出する光検出器であり、本実施の形態では半導体レーザ11、12を1つの光検出器85で検出する。
(Specific example 2)
Next, a specific example including a specific configuration of the light detection means 50 is shown in FIG. Since FIG. 10 is a diagram schematically showing the configuration in the unit 60, the description of the unit 60 and the like is omitted. The light receiving elements of the first semiconductor laser 11, the second semiconductor laser 12, and the light detection means 50 are arranged on the same plane. The first semiconductor laser 11 and the second semiconductor laser 12 are individually provided on the heat sink 81, and one photodetector 85 is provided on the side opposite to the light emitting points 111 and 121. . The photodetector 85 controls the current of the semiconductor lasers 11 and 12 with an APC (auto power control) circuit so that the amount of light emitted from the semiconductor lasers 11 and 12 becomes a predetermined light amount. In the present embodiment, the semiconductor lasers 11 and 12 are detected by a single photodetector 85.

また、本具体例では、フォーカスエラー信号をナイフエッジ法で検出するよう構成したものであり、そのために、光検出手段50の受光面には、A1〜D2の8つの受光素子(受光面)が設けられている。また、変更手段40にはホログラム素子を用い、このホログラム素子をA〜Dの4分割しており、各分割面が光検出手段50の受光面に結像するように、分割Aを平均ピッチp=4.25μm、分割Bの平均ピッチp=4.75μm、分割Cの平均ピッチp=5.25μm、分割Dの平均ピッチp=5.75μmにしている。   In this specific example, the focus error signal is detected by the knife edge method. For this reason, eight light receiving elements (light receiving surfaces) A1 to D2 are provided on the light receiving surface of the light detecting means 50. Is provided. Further, a hologram element is used as the changing means 40. This hologram element is divided into four parts A to D, and the division A is average pitch p so that each divided surface forms an image on the light receiving surface of the light detecting means 50. = 4.25 μm, the average pitch p of division B = 4.75 μm, the average pitch p of division C = 5.25 μm, and the average pitch p of division D = 5.75 μm.

この具体例においては、2つの半導体レーザ11、12と光検出手段50とを予め決められた精度でユニット60(図示せず)内に固定し、これらに対して、ホログラム素子40を、光軸方向、回転方向に調整して固定することにより良好な調整を行うことができ、しかも、その作業は非常に簡便となった。   In this specific example, the two semiconductor lasers 11 and 12 and the light detection means 50 are fixed in a unit 60 (not shown) with a predetermined accuracy, and the hologram element 40 is connected to the optical axis. By adjusting and fixing in the direction and the rotation direction, good adjustment can be performed, and the operation becomes very simple.

なお、この具体例においては、フォーカスエラー信号FEは、
FE=(A2+B1+C1+D2)−(A1+B2+C2+D1)
によって得ることができる。なお、A1〜D2は、各受光面での検出した光量である。
In this specific example, the focus error signal FE is
FE = (A2 + B1 + C1 + D2) − (A1 + B2 + C2 + D1)
Can be obtained by: A1 to D2 are the amounts of light detected at the respective light receiving surfaces.

また、この具体例において、トラッキングエラー信号TEは、位相差検出(DPD)法の場合、
TE=(A1+A2+C1+C2)−(B1+B2+D1+D2)
によって得ることができ、プッシュブル(PP)法の場合、
TE=(A1+A2+B1+B2)−(C1+C2+D1+D2)
によって得ることができ、情報信号は全体の総和
A1+A2+B1+B2+C1+C2+D1+D2で検出することができる。なお、A1〜D2は、各受光面での検出した光量である。
In this specific example, the tracking error signal TE is the phase difference detection (DPD) method,
TE = (A1 + A2 + C1 + C2) − (B1 + B2 + D1 + D2)
In the case of the push bull (PP) method,
TE = (A1 + A2 + B1 + B2) − (C1 + C2 + D1 + D2)
The information signal can be detected by the total sum A1 + A2 + B1 + B2 + C1 + C2 + D1 + D2. A1 to D2 are the amounts of light detected at the respective light receiving surfaces.

また、本具体例の場合、受光面A1〜D2が、半導体レーザ11、12から離れるに従いその受光面積を大きくする(詳細には、半導体レーザ11、12と光検出手段50とが並ぶ方向と同方向に長くする)ことにより、半導体レーザ11、12の波長の違いによる、変更手段40による回折角のバラツキの影響を吸収することができる。すなわち、第2半導体レーザ12の光束は、第1半導体レーザ11の光束よりも、光検出手段50上において、半導体レーザ11、12と光検出手段50とが並ぶ方向と同方向に(受光面A1、A2からD1、D2までの距離が)のびたようになるため、そののびた範囲をカバーできるように、受光面を設けておく。   In the case of this specific example, the light receiving surfaces A1 to D2 increase in the light receiving area as they move away from the semiconductor lasers 11 and 12 (in detail, the same as the direction in which the semiconductor lasers 11 and 12 and the light detection means 50 are arranged). By making it longer in the direction), it is possible to absorb the influence of the variation in the diffraction angle by the changing means 40 due to the difference in the wavelengths of the semiconductor lasers 11 and 12. That is, the light flux of the second semiconductor laser 12 is more in the same direction than the light flux of the first semiconductor laser 11 in the direction in which the semiconductor lasers 11 and 12 and the light detection means 50 are aligned (the light receiving surface A1). , The distance from A2 to D1, D2 is extended), so that a light receiving surface is provided so as to cover the extended range.

第1の実施の形態の光ピックアップ装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the optical pick-up apparatus of 1st Embodiment. ユニットの斜視図である。It is a perspective view of a unit. 第1の実施の形態の変形例の光ピックアップ装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the optical pick-up apparatus of the modification of 1st Embodiment. 第2の実施の形態の光ピックアップ装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the optical pick-up apparatus of 2nd Embodiment. 第2の実施の形態の変形例の光ピックアップ装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the optical pick-up apparatus of the modification of 2nd Embodiment. 第3の実施の形態の光ピックアップ装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the optical pick-up apparatus of 3rd Embodiment. ユニットの変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of a unit. ユニットの変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification of a unit. 具体例1を示す図である。It is a figure which shows the specific example 1. FIG. 具体例2を示す図である。It is a figure which shows the specific example 2. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10 光ピックアップ装置。   10 Optical pickup device.

11 第1半導体レーザ(第1光源)
12 第2半導体レーザ(第2光源)
13 集光光学系
15 絞り
20 光ディスク(光情報記録媒体)
21 透明基板
22 情報記録面
30 合成手段
40 変更手段
50 光検出手段
60 ユニット
70 光学部材
81 ヒートシンク
111、121 発光点
11 First semiconductor laser (first light source)
12 Second semiconductor laser (second light source)
13 Condensing optical system 15 Aperture 20 Optical disc (optical information recording medium)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 Transparent substrate 22 Information recording surface 30 Synthesis | combination means 40 Change means 50 Photodetection means 60 Unit 70 Optical member 81 Heat sink 111,121 Light emission point

Claims (13)

光源から出射した光束を集光光学系で光情報記録媒体の透明基板を介して情報記録面に集光させ、情報記録面上に情報を記録又は情報記録面上の情報を再生する(記録/再生)光ピックアップ装置であって、前記光情報記録媒体として、透明基板の厚さがt1の第1光情報記録媒体と透明基板の厚さがt2(ただし、t2≠t1)の第2光情報記録媒体とが用いられる光ピックアップ装置において、
第1光情報記録媒体の記録/再生を行うための第1光源と、
第2光情報記録媒体の記録/再生を行うための第2光源と、
情報記録面から反射した光束を受光し検出する光検出手段と、
光源から出射した光束を光情報記録媒体へと導くとともに、光情報記録媒体の情報記録面で反射した光束を前記光検出手段へと導くように、光源から出射した光束及び/又は情報記録面で反射した光束を変更する変更手段と、を有し、
前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段を、ユニット化したことを特徴とする光ピックアップ装置。
The light beam emitted from the light source is condensed on the information recording surface via the transparent substrate of the optical information recording medium by the condensing optical system, and information is recorded on the information recording surface or information on the information recording surface is reproduced (recording / recording). A reproduction) optical pickup device, wherein the optical information recording medium is a first optical information recording medium having a transparent substrate thickness of t1 and a second optical information having a thickness of the transparent substrate of t2 (where t2 ≠ t1). In an optical pickup device used with a recording medium,
A first light source for recording / reproducing the first optical information recording medium;
A second light source for recording / reproducing the second optical information recording medium;
A light detecting means for receiving and detecting a light beam reflected from the information recording surface;
The light beam emitted from the light source and / or the information recording surface is guided so that the light beam emitted from the light source is guided to the optical information recording medium and the light beam reflected by the information recording surface of the optical information recording medium is guided to the light detection means. Changing means for changing the reflected luminous flux,
An optical pickup device, wherein the first light source, the second light source, and the light detection means are unitized.
前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段を隣接配置したことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。 The optical pickup device according to claim 1, wherein the first light source, the second light source, and the light detection unit are arranged adjacent to each other. 前記第1光源、前記第2光源、前記光検出手段のうち、少なくとも1つを、ユニット内の位置を調整できるよう構成したことを特徴とする請求項1又は2に記載の光ピックアップ装置。 3. The optical pickup device according to claim 1, wherein at least one of the first light source, the second light source, and the light detection unit is configured to be able to adjust a position in the unit. 前記変更手段を、前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段とともにユニット化したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 The optical pickup device according to claim 1, wherein the changing unit is unitized with the first light source, the second light source, and the light detecting unit. 前記変更手段は、ホログラムにより構成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 The optical pick-up apparatus according to claim 1, wherein the changing unit includes a hologram. 前記第1光源又は前記第2光源のうち一方の光源から出射した光束は、前記集光光学系に斜方から入射することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 The light according to claim 1, wherein a light beam emitted from one of the first light source and the second light source is incident obliquely on the condensing optical system. Pickup device. 前記斜方から入射する光源は、光情報記録媒体の記録/再生に必要な集光光学系の光情報記録媒体側の開口数が小さい方の光情報記録媒体の記録/再生を行うための光源であることを特徴とする請求項6に記載の光ピックアップ装置。 The obliquely incident light source is a light source for recording / reproducing an optical information recording medium having a smaller numerical aperture on the optical information recording medium side of a condensing optical system required for recording / reproducing of the optical information recording medium. The optical pickup device according to claim 6, wherein: 前記第1光源から出射した光束と、前記第2光源から出射した光束を合成する合成手段を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 The optical pickup device according to claim 1, further comprising a combining unit that combines the light beam emitted from the first light source and the light beam emitted from the second light source. 前記合成手段を、前記第1光源、前記第2光源及び前記光検出手段とともにユニット化したことを特徴とする請求項8に記載の光ピックアップ装置。 9. The optical pickup apparatus according to claim 8, wherein the combining unit is unitized with the first light source, the second light source, and the light detection unit. 前記変更手段と前記合成手段は、一つの光学部材の一方面に形成された変更手段として機能するホログラムと、他方面に形成された合成手段として機能するホログラムとで構成されることを特徴とする請求項8又は9に記載の光ピックアップ装置。 The changing means and the synthesizing means are composed of a hologram functioning as changing means formed on one surface of one optical member and a hologram functioning as synthesizing means formed on the other surface. The optical pickup device according to claim 8 or 9. 前記合成手段を、前記変更手段より光情報記録媒体側に配置したことを特徴とする請求項8〜10のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 11. The optical pickup device according to claim 8, wherein the synthesizing unit is disposed closer to the optical information recording medium than the changing unit. 前記合成手段は、光情報記録媒体の記録/再生に必要な集光光学系の光情報記録媒体側の開口数が小さい方の光情報記録媒体の記録/再生を行うための光源から出射された光束の光路を変更して、他方の光源から出射された光束と合成することを特徴とする請求項8〜11のいずれか1つに記載の光ピックアップ装置。 The combining means is emitted from a light source for recording / reproducing the optical information recording medium having a smaller numerical aperture on the optical information recording medium side of the condensing optical system necessary for recording / reproducing of the optical information recording medium. The optical pickup device according to claim 8, wherein the optical path is changed to be combined with a light beam emitted from the other light source. 第1半導体レーザと、第1半導体レーザとは異なる波長の第2半導体レーザとが一体化された光ピックアップ装置の光源ユニットにおいて、
前記第1半導体レーザの光出射方向と前記第2半導体レーザの光出射方向とが同じ方向であり、前記第1半導体レーザと前記第2半導体レーザとは導電層を挟んで積層したことを特徴とする光ピックアップ装置の光源ユニット。
In the light source unit of the optical pickup device in which the first semiconductor laser and the second semiconductor laser having a wavelength different from the first semiconductor laser are integrated,
The light emitting direction of the first semiconductor laser and the light emitting direction of the second semiconductor laser are the same direction, and the first semiconductor laser and the second semiconductor laser are stacked with a conductive layer interposed therebetween. A light source unit for an optical pickup device.
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