JP2008205508A - Substrate carrier, and vacuum processing apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate carrier for carrying a chucked insulating substrate. <P>SOLUTION: A chucking device 23 having electrodes of 4 mm wide arranged at an interval of 2 mm or less is fixed to the arm 22 of a substrate carrier 20. Since a big gradient force is obtained, an insulating substrate 11 can be chucked. The insulating substrate 11 can be carried in a suspended state or standing state. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板搬送装置にかかり、特に、絶縁性の基板を吸着した状態で搬送できる基板搬送装置に関する。   The present invention relates to a substrate transfer apparatus, and more particularly to a substrate transfer apparatus that can transfer an insulating substrate while adsorbing the insulating substrate.

従来より、真空装置内への基板の搬出入には基板搬送ロボットが用いられている。
図10(a)の符号110は、真空処理装置(スパッタリング装置)であり、真空槽112と基板搬送装置120を有している。真空槽112内の天井側にはカソード電極113が配置されており、底壁側には基板吸着装置114が配置されている。
Conventionally, a substrate transfer robot has been used for loading and unloading a substrate into and from a vacuum apparatus.
Reference numeral 110 in FIG. 10A denotes a vacuum processing apparatus (sputtering apparatus), which includes a vacuum chamber 112 and a substrate transfer apparatus 120. A cathode electrode 113 is disposed on the ceiling side in the vacuum chamber 112, and a substrate adsorption device 114 is disposed on the bottom wall side.

基板搬送装置120は、駆動装置121と、該駆動装置121に取り付けられた腕部122と、該腕部122の先端に取り付けられた載置部123とを有している。   The substrate transfer device 120 includes a driving device 121, an arm portion 122 attached to the driving device 121, and a placement portion 123 attached to the tip of the arm portion 122.

真空槽112内に基板を搬入する際には、載置部123上に基板111を乗せ、腕部122を水平移動させ、基板111を基板吸着装置114上に静止させる。   When the substrate is carried into the vacuum chamber 112, the substrate 111 is placed on the placement unit 123, the arm unit 122 is moved horizontally, and the substrate 111 is stopped on the substrate suction device 114.

次いで、真空槽112底部に配置された昇降機構106を動作させ、基板111を載置部123上から基板吸着装置114上に移し替える。   Next, the lifting mechanism 106 arranged at the bottom of the vacuum chamber 112 is operated to transfer the substrate 111 from the placement unit 123 onto the substrate suction device 114.

基板吸着装置114は、図11に示すように、誘電体130内に2枚の電極1311、1312が配置されており、その電極1311、1312間に正負の電圧を印加すると、基板111が電極となり、基板111と電極1311、1312間にそれぞれコンデンサ1321、1322が形成される。このコンデンサ1321、1322の電極間に静電吸着力が生じ、それによって基板111が誘電体130表面に静電吸着される。図10(b)はその状態を示している。 As shown in FIG. 11, the substrate attracting device 114 has two electrodes 131 1 and 131 2 disposed in a dielectric 130. When a positive and negative voltage is applied between the electrodes 131 1 and 131 2 , 111 serves as an electrode, and capacitors 132 1 and 132 2 are formed between the substrate 111 and the electrodes 131 1 and 131 2 , respectively. An electrostatic attracting force is generated between the electrodes of the capacitors 132 1 and 132 2 , whereby the substrate 111 is electrostatically attracted to the surface of the dielectric 130. FIG. 10B shows this state.

図10(b)の状態から、腕部122及び載置部123を真空槽112から抜き出し、真空槽112を密閉し、スパッタリングガスを導入し、カソード電極113に配置されたターゲットのスパッタリングを行う。   10B, the arm portion 122 and the mounting portion 123 are extracted from the vacuum chamber 112, the vacuum chamber 112 is sealed, a sputtering gas is introduced, and the target disposed on the cathode electrode 113 is sputtered.

上記のように、基板111を基板搬送装置120の載置部123上に乗せて搬送する場合、基板111は載置部123の窪み上に置かれている。高速に移動させたい場合には、載置部123上に機械的にクランプしたり、載置部123に、上記のような基板吸着装置を配置し、静電吸着しながら基板111を搬送する必要がある。   As described above, when the substrate 111 is transported on the placement unit 123 of the substrate transport apparatus 120, the substrate 111 is placed on the recess of the placement unit 123. When it is desired to move at high speed, it is necessary to mechanically clamp on the mounting portion 123 or to arrange the substrate suction device as described above on the mounting portion 123 and transport the substrate 111 while electrostatically attracting. There is.

しかしながら液晶ディスプレイ用の大型ガラス基板の場合には、基板が絶縁性物質で構成されているため、電極との間にコンデンサが形成されず、上記符号114のような基板吸着装置を応用した基板搬送装置を用いることはできない。   However, in the case of a large glass substrate for a liquid crystal display, since the substrate is made of an insulating material, a capacitor is not formed between the substrate and the substrate transport using the substrate suction device as indicated by reference numeral 114 above. The device cannot be used.

従って、従来技術の基板搬送装置では、ガラス基板を機械的にクランプして搬送しているが、基板のエッジ部分が破損する場合があり、歩留まりを低下させる原因になっている。
特開平02−288352号公報 特開平06−061334号公報
Therefore, in the substrate transport apparatus of the prior art, the glass substrate is mechanically clamped and transported, but the edge portion of the substrate may be damaged, causing a decrease in yield.
Japanese Patent Laid-Open No. 02-288352 Japanese Patent Laid-Open No. 06-061334

本発明は上記従来技術の課題を解決するために創作されたものであり、その目的は、絶縁性の基板を吸着しながら搬送できる基板搬送装置を提供することにある。   The present invention was created to solve the above-described problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a substrate transfer apparatus that can transfer an insulating substrate while adsorbing it.

基板を従来技術の吸着装置上に配置した場合、電極と基板との間には誘電体層が存するため、基板と電極とは誘電体層を間に挟んだコンデンサーを形成する。従って、基板と電極の間に電圧が印加されると、電極と基板には互いに逆極性の電荷が生じ、両者の間にクーロン力が発現され、基板が吸着装置に吸着される。   When the substrate is placed on a conventional adsorption device, a dielectric layer exists between the electrode and the substrate, and thus the substrate and the electrode form a capacitor with the dielectric layer interposed therebetween. Therefore, when a voltage is applied between the substrate and the electrode, charges having opposite polarities are generated on the electrode and the substrate, a Coulomb force is developed between the two, and the substrate is adsorbed by the adsorption device.

一般的には、静電吸着力Fは、下記式で表される。
F = 1/2・a・(V/d)2
aは誘電率に依存する定数、Vは電圧、dは誘電層の厚み(電極間距離)である。
Generally, the electrostatic attraction force F is expressed by the following formula.
F = 1/2 · a · (V / d) 2
a is a constant depending on the dielectric constant, V is the voltage, and d is the thickness of the dielectric layer (distance between the electrodes).

誘電体には、Al23、AlN、SiC、サイアロン、ダイヤモンド、ポリイミド、シリコーンゴム等の高い誘電率を持った材料が使用されている。 As the dielectric, a material having a high dielectric constant such as Al 2 O 3 , AlN, SiC, sialon, diamond, polyimide, silicone rubber or the like is used.

上式は、誘電分極現象のみを考慮した吸着力であり、得られる吸着力は非常に小さい。そこで従来より、誘電層の抵抗率を108から1012Ω・cm程度にし、基板と電極間に微小なリーク電流を生じさせ、ジョンセン・ラーベック効果による大きな吸着力を得ていた。 The above equation is an adsorption force considering only the dielectric polarization phenomenon, and the obtained adsorption force is very small. Therefore, conventionally, the dielectric layer has a resistivity of about 10 8 to 10 12 Ω · cm, a minute leakage current is generated between the substrate and the electrode, and a large adsorption force due to the Johnsen-Rahbek effect has been obtained.

ガラス基板の場合、その純度を調整し、リーク電流を流すことは可能であるが、液晶表示装置等に用いられるガラス基板には不純物の極めて少ない高純度なものが要求されるため、リーク電流が流れず、ジョンセン・ラーベック効果は得られない。   In the case of a glass substrate, it is possible to adjust the purity and flow a leakage current. However, since a glass substrate used for a liquid crystal display device or the like is required to have a high purity with very few impurities, the leakage current is low. It does not flow and the Johnsen Rabeck effect cannot be obtained.

また、ジョンセン・ラーベック効果は抵抗率に依存しているから、基板温度が変化すると吸着力も変化してしまう。特に、近年では、基板温度は数100度の高温から−100℃付近の低温まで変化するから、ジョンセン・ラーベック効果による吸着力は不安定になりやすい。   Further, since the Johnsen-Rahbek effect depends on the resistivity, the adsorption force also changes when the substrate temperature changes. In particular, in recent years, since the substrate temperature changes from a high temperature of several hundred degrees to a low temperature around −100 ° C., the adsorption force due to the Johnsen-Rahbek effect tends to become unstable.

そこで本発明の発明者等は、グラディエント力に着目し、本発明を完成するに至ったのである。グラディエント力とは、不均一電場中の誘電体に作用する力であり、不均一な電場E中に分極率αの誘電体を置いたとき、その誘電体には、単位体積当たり次式で表されるグラディエント力が働く。   Thus, the inventors of the present invention have focused on the gradient force and have completed the present invention. The gradient force is a force acting on a dielectric in a non-uniform electric field. When a dielectric having a polarizability α is placed in a non-uniform electric field E, the dielectric is expressed by the following equation per unit volume. The gradient power that works is working.

f = 1/2・α・grad(E2)
従って、ガラス基板等の誘電体に対し、grad(E2)が大きくなるように電極を配置すればよい。従来技術の電極を用いた場合と、本発明の電極を用いた場合の吸着力の比較結果を下記表に示す。
f = 1/2 · α · grad (E 2 )
Therefore, an electrode may be arranged so that grad (E 2 ) becomes large with respect to a dielectric such as a glass substrate. The following table shows the comparison results of the adsorptive power when using the electrode of the prior art and when using the electrode of the present invention.

Figure 2008205508
Figure 2008205508

本発明の電極…電極幅4mm、電極間距離1mm
従来技術の電極…電極幅8mm、電極間距離2mm
誘電体層…Al23
誘電体層の体積抵抗率…1012Ω・cm
誘電体層厚み……500μm
基板材質…ソーダライムガラス
基板の大きさ…100×100×5mm
基板の体積抵抗率…1017Ω・cm(常温)
上記表1から分かるように、本発明に用いられる電極は、従来技術の電極に比べ、1.5倍の吸着力が得られている。
Electrode of the present invention: electrode width 4 mm, distance between electrodes 1 mm
Conventional electrode: electrode width 8 mm, distance between electrodes 2 mm
Dielectric layer… Al 2 O 3
Volume resistivity of dielectric layer: 10 12 Ω · cm
Dielectric layer thickness: 500μm
Substrate material ... Soda lime glass Size of substrate ... 100x100x5mm
Substrate volume resistivity: 10 17 Ω · cm (room temperature)
As can be seen from Table 1 above, the electrode used in the present invention has an adsorption power 1.5 times that of the prior art electrode.

また、ガラスの比重を3g/cm3とすると、実験に用いた基板の荷重は150gであるが、本発明に用いた電極の吸着力は、印加電圧を±5kVとした場合(電極間の電圧は10kV)、基板換算で45kgf以上であるから、実験に用いた基板の厚み以上の厚みの基板を吊り下げた状態で吸着することも可能なことが分かる。 When the specific gravity of the glass is 3 g / cm 3 , the load of the substrate used in the experiment is 150 g. However, the adsorption force of the electrode used in the present invention is as follows when the applied voltage is ± 5 kV (voltage between the electrodes). 10 kV) and 45 kgf or more in terms of the substrate, it can be seen that the substrate having a thickness equal to or larger than the thickness of the substrate used in the experiment can be adsorbed in a suspended state.

本発明は以上の知見に基づいて創作されたものであり、その請求項1記載された発明は、移動可能に構成された腕部と、前記腕部に設けられ、前記腕部の移動によって移動するように構成された吸着装置とを有する基板搬送装置であって、前記吸着装置には、幅4mm以下であって、間隔2mm以下の第1、第2の電極が設けられ、前記第1、第2の電極には、前記第1、第2の電極間に少なくとも1.0×106V/m以上の電界を形成できる電源が接続され、前記第1、第2の電極は、前記吸着装置の下方を向いた吸着面に設けられ、前記電源によって前記第1、第2の電極間に電圧を印加し、真空雰囲気中で前記吸着面に絶縁基板を吸着して前記絶縁基板を吊り下げながら前記吸着装置を移動できるように構成された基板搬送装置である。
請求項2記載の発明は、請求項記載の基板搬送装置であって、前記第1、第2の電極の表面には誘電体層が配置され、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記誘電体層に接触するように構成された基板搬送装置である。
請求項3記載の発明は、請求項記載の基板搬送装置であって、前記第1、第2の電極の表面は露出され、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記第1、第2の電極に接触するように構成された基板搬送装置である。
請求項4記載の発明は、請求項記載の基板搬送装置であって、前記第1、第2の電極間には突部が設けられ、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記突部に当接され、前記絶縁基板と前記第1、第2の電極間には隙間が形成されるように構成された基板搬送装置である。
請求項5記載の発明は、請求項乃至請求項のいずれか1項記載の基板搬送装置であって、前記腕部に前記吸着装置が複数設けられ、前記各吸着装置の前記吸着面は同じ高さにされ、前記各吸着装置によって一枚の前記絶縁基板を吸着できるように構成された基板搬送装置である。
請求項6記載の発明は、請求項記載の基板搬送装置であって、複数の前記吸着装置のうち、所望の前記吸着装置に電圧を供給できるように構成された基板搬送装置である。
請求項7記載の発明は、真空槽と、請求項乃至請求項のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、前記基板搬送装置で前記絶縁基板を吸着して吊り下げて、前記絶縁基板を前記真空槽に搬入と搬出ができるように構成された真空処理装置である。
請求項8記載の発明は、真空槽と請求項乃至請求項のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、前記真空槽内には前記吸着装置が配置され、前記真空槽内で前記絶縁基板を前記吸着装置に吸着させて移動させ、前記吸着された前記絶縁基板と、該絶縁基板の下方に配置された他の基板との間の位置合わせができるように構成された真空処理装置である。
The present invention has been created based on the above findings, the invention described in the claim 1, an arm portion that is movable in, provided in the arm portion, by the movement of the arms A substrate transport apparatus having a suction device configured to move, wherein the suction device is provided with first and second electrodes having a width of 4 mm or less and an interval of 2 mm or less. The second electrode is connected to a power source capable of forming an electric field of at least 1.0 × 10 6 V / m or more between the first and second electrodes, and the first and second electrodes are Provided on the suction surface facing downward of the suction device, a voltage is applied between the first and second electrodes by the power source, the insulating substrate is sucked on the suction surface in a vacuum atmosphere, and the insulating substrate is suspended. A substrate transfer device configured to be able to move the suction device while being lowered. That.
According to a second aspect of the invention, there is provided a substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the first, on the surface of the second electrode is disposed the dielectric layers, when adsorbing the insulating substrate to the suction surface In addition, the insulating substrate is a substrate transfer device configured to be in contact with the dielectric layer.
According to a third aspect of the invention, there is provided a substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the surface of said first, second electrodes are exposed, when adsorbing the insulating substrate to the suction surface, said insulating substrate Is a substrate transfer device configured to come into contact with the first and second electrodes.
Fourth aspect of the present invention, there is provided a substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the first, between the second electrode projections are provided, upon adsorbing the insulating substrate to the suction surface, The substrate transfer apparatus is configured such that the insulating substrate is in contact with the protrusion and a gap is formed between the insulating substrate and the first and second electrodes.
Invention of claim 5, wherein, a substrate transfer apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the suction device is provided with a plurality of said arms, the suction surface of the respective adsorbers The substrate transfer device is configured to have the same height and be configured to be able to suck one piece of the insulating substrate by each of the suction devices.
A sixth aspect of the present invention is the substrate transfer apparatus according to the fifth aspect , wherein the substrate transfer apparatus is configured to be able to supply a voltage to the desired suction apparatus among the plurality of suction apparatuses.
Invention of claim 7, wherein a vacuum chamber having a substrate transfer apparatus according to any one of claims 1 to 6, hung by adsorbing the insulating substrate by the substrate transfer device, the It is a vacuum processing apparatus configured to carry an insulating substrate into and out of the vacuum chamber.
Invention of Claim 8 has a vacuum chamber and the board | substrate conveyance apparatus of any one of Claim 1 thru | or 6 , The said adsorption | suction apparatus is arrange | positioned in the said vacuum chamber, In the said vacuum chamber, Vacuum processing configured to adsorb and move the insulating substrate to the adsorption device and to align the adsorbed insulating substrate with another substrate arranged below the insulating substrate Device.

なお、本発明に用いる第1、第2の電極を配置する誘電体は、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、炭化珪素、サイアロン、ダイヤモンド、ポリイミド、シリコーンゴム等の材料を用いることができる。   Note that a material such as aluminum oxide, aluminum nitride, silicon carbide, sialon, diamond, polyimide, or silicone rubber can be used as the dielectric for disposing the first and second electrodes used in the present invention.

また、真空槽や搬送室の電位を接地電位とした場合、第1、第2の電極の一方には正電圧を印加し、他方には負電圧を印加するように構成するとよい。または第1、第2の電極の一方に、正電圧又は負電圧のいずれか一方の電圧を印加し、他方の電極を接地電位にしてもよい。   Further, when the potential of the vacuum chamber or the transfer chamber is set to the ground potential, a positive voltage may be applied to one of the first and second electrodes, and a negative voltage may be applied to the other. Alternatively, either the positive voltage or the negative voltage may be applied to one of the first and second electrodes, and the other electrode may be set to the ground potential.

その場合に、第1、第2の電極間の電場が1.0×106V/m以上になるようにすると、実用上問題のない大きさの絶縁性基板を吸着できることが実験で確認されている。特に、絶縁性基板を起立させたり、吊り下げた状態にする際には、印加電圧を大きくし、形成する電場を大きくすると安全性が向上し、基板が倒れたり落下したりする危険を避けることができる。 In that case, it was experimentally confirmed that an insulating substrate having a size with no practical problem can be adsorbed by setting the electric field between the first and second electrodes to 1.0 × 10 6 V / m or more. ing. In particular, when the insulating substrate is erected or suspended, increasing the applied voltage and increasing the electric field formed will improve safety and avoid the risk of the substrate falling or falling. Can do.

真空雰囲気中で絶縁性基板を吸着した状態で搬送することができる。
特に、絶縁性基板を起立姿勢にしたり、吊り下げた状態で搬送できるので、種々のプロセスに対応することができる。
また、絶縁性基板を真空雰囲気中で位置合わせができるので、真空処理した基板と基板を真空雰囲気中で貼り合わせて密封すると、成膜面を大気中に取り出さないでディスプレイ用のパネルを封止することができる。
更に、複数の吸着装置を用いた場合には、小型の吸着装置を複数個配置して大型の絶縁性基板を吸着することができる。
The insulating substrate can be conveyed while adsorbed in a vacuum atmosphere.
In particular, since the insulating substrate can be conveyed in a standing posture or suspended, it can be used for various processes.
In addition, since the insulating substrate can be aligned in a vacuum atmosphere, sealing the panel for display without removing the film-forming surface into the atmosphere when the vacuum-treated substrate and the substrate are bonded and sealed in a vacuum atmosphere can do.
Further, when a plurality of adsorption devices are used, a plurality of small adsorption devices can be arranged to adsorb a large insulating substrate.

本発明の基板搬送装置を図面を用いて説明する。
図1を参照し、符号10は本発明の一例の真空処理装置であり、符号20は、本発明の一例の基板搬送装置を示している。
A substrate transfer apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
Referring to FIG. 1, reference numeral 10 denotes a vacuum processing apparatus according to an example of the present invention, and reference numeral 20 denotes an example of a substrate transfer apparatus according to the present invention.

真空処理装置10は、真空槽12と搬送室15とを有しており、真空槽12の天井側にはカソード電極13が配置されており、底壁には載置台14が配置されている。   The vacuum processing apparatus 10 includes a vacuum chamber 12 and a transfer chamber 15, a cathode electrode 13 is disposed on the ceiling side of the vacuum chamber 12, and a mounting table 14 is disposed on the bottom wall.

搬送室15内には、上述の基板搬送装置20が配置されている。この基板搬送装置20は、駆動装置21と、腕部22と、吸着装置23とを有している。   In the transfer chamber 15, the above-described substrate transfer device 20 is disposed. The substrate transfer device 20 includes a driving device 21, an arm portion 22, and a suction device 23.

駆動装置21内には、図示しないモータが配置されており、腕部22の一端は、このモータに接続されており、水平面内での伸縮移動と垂直方向への移動ができるように構成されている。   A motor (not shown) is disposed in the drive device 21, and one end of the arm portion 22 is connected to the motor, and is configured to be able to extend and contract in the horizontal plane and move in the vertical direction. Yes.

吸着装置23は、腕部22の他端に設けられており、腕部の移動に伴って、水平方向と垂直方向に移動できるように構成されている。   The suction device 23 is provided at the other end of the arm portion 22 and is configured to move in the horizontal direction and the vertical direction as the arm portion moves.

この吸着装置23の断面図を図2(a)に示す。この吸着装置23は、金属板24と、該金属板24上に配置された誘電体25を有している。この誘電体はAl23を主成分とするセラミックス製であり、その内部に第1、第2の電極271、272が埋め込まれている。 A sectional view of the adsorption device 23 is shown in FIG. The adsorption device 23 includes a metal plate 24 and a dielectric 25 disposed on the metal plate 24. This dielectric is made of ceramics mainly composed of Al 2 O 3 , and first and second electrodes 27 1 and 27 2 are embedded therein.

第1、第2の電極271、272の平面図を同図(b)に示す。第1、第2の電極271、272は櫛状に成形されており、その歯の部分が互いに噛み合うように配置されている。同図(a)は同図(b)のA−A線断面図に相当する。第1、第2の電極271、272の幅は4mm、電極間の間隔は1mmである。 A plan view of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 is shown in FIG. The first and second electrodes 27 1 and 27 2 are formed in a comb shape, and are arranged so that their tooth portions mesh with each other. FIG. 6A corresponds to a cross-sectional view taken along line AA in FIG. The widths of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 are 4 mm, and the distance between the electrodes is 1 mm.

第1、第2の電極271、272の表面には、誘電体25によって構成された厚さ500μm以下(例えば400μm)の誘電体層26が配置されている。 On the surfaces of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 , a dielectric layer 26 having a thickness of 500 μm or less (for example, 400 μm) constituted by the dielectric 25 is disposed.

真空槽12及び搬送室15の外部には、スパッタ電源16と、吸着電源17と、コンピュータ18とが配置されている。カソード電極13はスパッタ電源16に接続されており、第1、第2の電極271、272は吸着電源17に接続されている。 A sputtering power source 16, a suction power source 17, and a computer 18 are disposed outside the vacuum chamber 12 and the transfer chamber 15. The cathode electrode 13 is connected to a sputtering power source 16, and the first and second electrodes 27 1 and 27 2 are connected to an adsorption power source 17.

搬送室15には、図示しない搬出入室が接続されており、スパッタリング作業を行う場合には、搬出入室内に成膜対象の絶縁性基板を配置し、真空槽12と、搬送室15と、搬出入室とを真空雰囲気にしておく。   An unillustrated unloading / unloading chamber is connected to the transfer chamber 15, and when performing a sputtering operation, an insulating substrate to be deposited is placed in the load / unload chamber, and the vacuum chamber 12, the transfer chamber 15, Keep the entrance and vacuum atmosphere.

スパッタ電源16と吸着電源17とは、コンピュータ18に接続されており、先ず、コンピュータ18によって基板搬送装置20を動作させ、搬出入室内に配置された絶縁性基板を吸着装置23上に乗せる。   The sputter power supply 16 and the suction power supply 17 are connected to a computer 18. First, the substrate transport device 20 is operated by the computer 18 to place an insulating substrate placed in the carry-in / out chamber on the suction device 23.

次いで、吸着電源17を起動し、第1、第2の電極271、272間に所定の大きさの電圧を印加する。 Next, the suction power source 17 is activated, and a voltage having a predetermined magnitude is applied between the first and second electrodes 27 1 and 27 2 .

真空槽12と搬送室15は、接地電位に接続されており、接地電位に対し、第1、第2の電極271 、27 2 の一方には正電圧を印加し、他方には負電圧を印加し、絶縁性基板内部に1.0×106V/以上の電場を形成すると、絶縁性基板は誘電体層26表面に吸着される。 The vacuum chamber 12 and the transfer chamber 15 are connected to a ground potential. A positive voltage is applied to one of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 and a negative voltage is applied to the other with respect to the ground potential. When an electric field of 1.0 × 10 6 V / m or more is formed inside the insulating substrate by application, the insulating substrate is adsorbed on the surface of the dielectric layer 26.

図3は、その状態を模式的に示した図である。符号11は、吸着装置23上に配置された絶縁性基板(ここではガラス基板)を示しており、符号Eは電場を示している。また、符号fは絶縁性基板11に働くグラディエント力の方向を示している。   FIG. 3 is a diagram schematically showing the state. The code | symbol 11 has shown the insulating board | substrate (here glass substrate) arrange | positioned on the adsorption | suction apparatus 23, and the code | symbol E has shown the electric field. The symbol f indicates the direction of the gradient force acting on the insulating substrate 11.

その状態で腕部22を伸縮させ、絶縁性基板11を搬出入室内から取り出し、真空槽12内に搬入する。その際、絶縁性基板11は吸着装置23表面に強く密着されているので、吸着装置20を高速移動させても、絶縁性基板11は吸着装置20上から脱落することが無い。また、絶縁性基板11は機械的にクランプされているのではないため、クランプによってダストが発生したり、端部が欠けたりすることはない。   In this state, the arm portion 22 is expanded and contracted, and the insulating substrate 11 is taken out from the carry-in / out chamber and carried into the vacuum chamber 12. At that time, since the insulating substrate 11 is strongly adhered to the surface of the adsorption device 23, the insulating substrate 11 does not fall off the adsorption device 20 even if the adsorption device 20 is moved at a high speed. Moreover, since the insulating substrate 11 is not mechanically clamped, dust is not generated by the clamp and the end portion is not chipped.

図1は、絶縁性基板11が載置台14上に静止された状態を示している。
この状態で第1、第2の電極271、272への電圧印加を停止し、絶縁性基板11への吸着を解除した後、吸着装置23を降下させ、絶縁性基板11を載置台14上に移し替える。
FIG. 1 shows a state in which the insulating substrate 11 is stationary on the mounting table 14.
In this state, the application of voltage to the first and second electrodes 27 1 and 27 2 is stopped and the suction to the insulating substrate 11 is released. Then, the suction device 23 is lowered to place the insulating substrate 11 on the mounting table 14. Move up.

次いで、吸着装置23及び腕部22を真空槽12内から抜き出し、真空槽12と搬送室15の間を閉じ、真空槽12を密閉した状態でアルゴンガスを導入する。   Next, the adsorption device 23 and the arm portion 22 are extracted from the vacuum chamber 12, the space between the vacuum chamber 12 and the transfer chamber 15 is closed, and argon gas is introduced in a state where the vacuum chamber 12 is sealed.

真空槽12内が所定圧力で安定したところで、コンピュータ18によってスパッタ電源16を起動し、カソード電極13に電圧を印加し、カソード電極13に配置されたターゲットをスパッタリングすると、絶縁性基板11の成膜面10(絶縁性基板11の表面)に金属薄膜等の薄膜を形成することができる。   When the inside of the vacuum chamber 12 is stabilized at a predetermined pressure, the sputtering power source 16 is activated by the computer 18, a voltage is applied to the cathode electrode 13, and the target disposed on the cathode electrode 13 is sputtered. A thin film such as a metal thin film can be formed on the surface 10 (the surface of the insulating substrate 11).

上記の吸着装置23では、第1、第2の電極271、272表面に、誘電体層26が配置されていたが、図4(a)の吸着装置31では、第1、第2の電極271、272が誘電体25表面に露出した構造となっている。また、同図(b)の吸着装置32では、第1、第2の電極271、272の底面部分が誘電体25表面に食い込んだ構造となっている。 In the adsorption device 23, the dielectric layer 26 is disposed on the surfaces of the first and second electrodes 27 1 and 27 2. However, in the adsorption device 31 of FIG. 4A, the first and second electrodes are arranged. The electrodes 27 1 and 27 2 are exposed on the surface of the dielectric 25. Further, the adsorption device 32 of FIG. 5B has a structure in which the bottom surface portions of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 are cut into the surface of the dielectric 25.

このような吸着装置31、32上に絶縁性基板11を配置した場合には、絶縁性基板11は第1、第2の電極271、272と直接接触し、絶縁性基板11が第1、第2の電極271、272に非常に近接しているので、大きなグラディエント力を得ることができる。この場合、絶縁性基板11には電流は流れないので、第1、第2の電極271、272間が短絡することはない。 When the insulating substrate 11 is disposed on the adsorption devices 31 and 32, the insulating substrate 11 is in direct contact with the first and second electrodes 27 1 and 27 2, and the insulating substrate 11 is the first. Since the second electrodes 27 1 and 27 2 are very close to each other, a large gradient force can be obtained. In this case, since no current flows through the insulating substrate 11, the first and second electrodes 27 1 and 27 2 are not short-circuited.

次に、同図(c)の吸着装置33は、第1、第2の電極271、272の表面が、誘電体25表面と同一高さに形成された構造になっている。この吸着装置33上に絶縁性基板11を配置した場合には、絶縁性基板11裏面は第1、第2の電極271、272と誘電体25表面に接触する。 Next, the adsorption device 33 in FIG. 3C has a structure in which the surfaces of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 are formed at the same height as the surface of the dielectric 25. When the insulating substrate 11 is disposed on the adsorption device 33, the back surface of the insulating substrate 11 is in contact with the first and second electrodes 27 1 and 27 2 and the surface of the dielectric 25.

同図(d)の吸着装置34は、誘電体25表面に形成された溝28内に第1、第2の電極271、272が配置された構造となっている。第1、第2の電極271、272の表面は、誘電体25表面よりもひくく、溝28の奥まった部分に位置されており、結局、、第1、第2の電極271、272間には、誘電体25を構成する物質から成る突部29が配置された構造になっている。 The adsorbing device 34 in FIG. 4D has a structure in which first and second electrodes 27 1 and 27 2 are disposed in a groove 28 formed on the surface of the dielectric 25. The surfaces of the first and second electrodes 27 1 , 27 2 are located on the deeper part of the groove 28 than the surface of the dielectric 25. Eventually, the first and second electrodes 27 1 , 27 are located. Between the two, a projecting portion 29 made of a material constituting the dielectric 25 is arranged.

突部29の先端部分は同じ高さになっているから、この吸着装置34上に絶縁性基板11を配置した場合には、絶縁性基板11裏面は突部29先端に当接され、第1、第2の電極271、272の間には隙間が形成されることになる。 Since the tip portion of the protrusion 29 has the same height, when the insulating substrate 11 is arranged on the suction device 34, the back surface of the insulating substrate 11 is brought into contact with the tip of the protrusion 29, and the first portion A gap is formed between the second electrodes 27 1 and 27 2 .

以上の図4(a)〜(d)に示した吸着装置31〜34を腕部22の先端に取り付けた基板搬送装置も本発明に含まれる。   A substrate transfer apparatus in which the suction devices 31 to 34 shown in FIGS. 4A to 4D are attached to the tip of the arm portion 22 is also included in the present invention.

更に、第1、第2の電極のパターンは、図2に示した第1、第2の電極271、272のパターンに限定されるものではない。 Further, the pattern of the first and second electrodes is not limited to the pattern of the first and second electrodes 27 1 and 27 2 shown in FIG.

図5(a)の吸着装置35は、櫛状であって、その櫛の歯の部分が同心円状に配置された第1、第2の電極411、412を有している。第1、第2の電極411、412の櫛の歯の部分は互いに絶縁された状態で交互に配置されている。 The adsorption device 35 in FIG. 5A has a comb-like shape, and has first and second electrodes 41 1 and 41 2 in which the comb teeth are arranged concentrically. The comb teeth of the first and second electrodes 41 1 and 41 2 are alternately arranged in a state of being insulated from each other.

同図(b)の吸着装置36は、8個の電極を有している。この8個の電極は、同じ極性の電圧が印加される4個の第1の電極42A1、42B1、42C1、42D1と、その電圧とは異なる極性の電圧が印加される4個の第2の電極42A2、42B2、42C2、42D2とで構成されている。印加する電圧の大きさは必要に応じて任意に設定することができる。 The adsorbing device 36 in FIG. 5B has eight electrodes. The eight electrodes include four first electrodes 42A 1 , 42B 1 , 42C 1 , 42D 1 to which voltages having the same polarity are applied, and four voltages to which voltages having different polarities are applied. The second electrode 42A 2 , 42B 2 , 42C 2 , 42D 2 is constituted. The magnitude of the applied voltage can be arbitrarily set as required.

第1の電極42A1、42B1、42C1、42D1と、第2の電極42A2、42B2、42C2、42D2とは、櫛状にパターニングされており、櫛の歯の部分が同心円状に配置されている。また、第1の電極42A1、42B1、42C1、42D1と、第2の電極42A2、42B2、42C2、42D2の櫛の歯の部分は非接触で噛み合うように交互に配置されている。 The first electrodes 42A 1 , 42B 1 , 42C 1 , 42D 1 and the second electrodes 42A 2 , 42B 2 , 42C 2 , 42D 2 are patterned in a comb shape, and the comb teeth are concentric. Arranged in a shape. The first electrodes 42A 1 , 42B 1 , 42C 1 , 42D 1 and the comb electrodes of the second electrodes 42A 2 , 42B 2 , 42C 2 , 42D 2 are alternately arranged so as to engage with each other without contact. Has been.

同図(c)の吸着装置37は、第1、第2の電極431、432が、二重渦巻き状に配置されたものである。 The adsorbing device 37 in FIG. 5C is a device in which first and second electrodes 43 1 and 43 2 are arranged in a double spiral shape.

上記吸着装置35〜37を腕部22先端に取り付けた基板搬送装置も本発明に含まれる。   A substrate transfer device in which the suction devices 35 to 37 are attached to the tip of the arm portion 22 is also included in the present invention.

以上は、図6に示したように、搬送対象の絶縁性基板11aの成膜面10aが鉛直上方を向いた場合について説明したが、本発明の基板搬送装置はそれに限定されるものではない。   As described above, as shown in FIG. 6, the case where the film formation surface 10a of the insulating substrate 11a to be transported is directed vertically upward has been described, but the substrate transport apparatus of the present invention is not limited thereto.

同図の起立姿勢の絶縁性基板11bのように、成膜面10bを横方向を向けた状態でも搬送することができる。   Like the insulating substrate 11b in the standing posture in the figure, the film formation surface 10b can be transported even in the horizontal direction.

この場合には、吸着装置23、31〜37の吸着面を鉛直にし、絶縁性基板11bの成膜面10bとは反対側の面を吸着すればよい。   In this case, the suction surfaces of the suction devices 23 and 31 to 37 may be made vertical and the surface opposite to the film formation surface 10b of the insulating substrate 11b may be sucked.

また、同図の基板11cの成膜面10cは鉛直下方を向いているが、この姿勢の基板11cを搬送する場合、吸着装置23、31〜37の吸着面(第1、第2の電極が形成された面)を下方に向け、基板11cの成膜面10cとは反対側の面を吸着すればよい。この場合には、基板11cは吊り下げられた状態で搬送されることになる。   In addition, the film-forming surface 10c of the substrate 11c in the figure is directed vertically downward. However, when the substrate 11c in this posture is transported, the suction surfaces (first and second electrodes of the suction devices 23, 31 to 37). The formed surface) may be directed downward, and the surface of the substrate 11c opposite to the film forming surface 10c may be adsorbed. In this case, the substrate 11c is transported in a suspended state.

大型のセラミックスの板(誘電体25)を製造することは困難であるため、以上説明した基板搬送装置では、大型の絶縁性基板を搬送することは困難である。   Since it is difficult to manufacture a large ceramic plate (dielectric 25), it is difficult to transport a large insulating substrate with the substrate transport apparatus described above.

それに対し、図7の基板搬送装置53は、腕部52に複数の吸着装置381〜389(ここでは9個)が設けられている。各吸着装置381〜389は、上記吸着装置23、31〜37のいずれかの構成が採用されており、各吸着装置381〜389の吸着面は、同一平面上に配置されている。従って、この基板搬送装置53では、小型の吸着装置381〜389を用い、図8のように、大型の絶縁性基板11dを吸着することができる。 On the other hand, the substrate transport device 53 of FIG. 7 is provided with a plurality of suction devices 38 1 to 38 9 (here, nine) on the arm portion 52. Each adsorber 38 1-38 9 in the configuration of any of the above adsorber 23,31~37 is employed, the suction surface of the suction device 38 1 to 38 9 are arranged on the same plane . Accordingly, in the substrate transfer apparatus 53, using the suction device 38 1 to 38 9 small, as shown in FIG. 8, can adsorb a large insulating substrate 11d.

また、図9に示した2台の基板搬送装置54、55は、腕部57、58先端に吸着装置39、40が取り付けられている。この吸着装置39、40についても、上記吸着装置23、31〜37のいずれかの構成が採用されており、一方の吸着装置39の吸着面は鉛直下方に向けられ、他方の吸着装置40の吸着面は鉛直上方に向けられている。   Further, in the two substrate transfer devices 54 and 55 shown in FIG. 9, the suction devices 39 and 40 are attached to the tips of the arm portions 57 and 58, respectively. Also for the adsorption devices 39 and 40, any one of the above-described adsorption devices 23 and 31 to 37 is adopted, the adsorption surface of one adsorption device 39 is directed vertically downward, and the adsorption of the other adsorption device 40 is adopted. The surface is oriented vertically upward.

一方の吸着装置39に絶縁性基板11eを吸着して吊り下げ、他方の吸着装置40上に絶縁性基板11fを配置して吸着すると、2枚の絶縁性基板11e、11fは水平に対向する。   When the insulating substrate 11e is adsorbed and suspended on one adsorption device 39, and the insulating substrate 11f is arranged and adsorbed on the other adsorption device 40, the two insulating substrates 11e and 11f face each other horizontally.

その状態で2枚の絶縁性基板11e、11fを水平方向に相対移動させ、位置合わせをした状態で、吸着装置39、40を垂直方向に移動させると、2枚の絶縁性基板11e、11fの成膜面10e、10fを向き合わせた状態で貼り合わせることができる。   In this state, the two insulating substrates 11e and 11f are moved relative to each other in the horizontal direction, and when the suction devices 39 and 40 are moved in the vertical direction in the aligned state, the two insulating substrates 11e and 11f are moved. The film formation surfaces 10e and 10f can be bonded together.

このとき、成膜面10e、10fは吸着装置39、40とは接触しておらず、真空処理された直後の状態が維持されている。この成膜面10e、10fは溝がパターニングされている等、平坦でなくてもよく、また、蛍光物質等が塗布されていてもよい。更に、成膜面10e、10fは薄膜を形成する面には限定されず、真空処理される面を広く含む。   At this time, the film formation surfaces 10e and 10f are not in contact with the adsorption devices 39 and 40, and the state immediately after the vacuum processing is maintained. The film-forming surfaces 10e and 10f do not have to be flat, for example, grooves are patterned, and a fluorescent material or the like may be applied. Furthermore, the film formation surfaces 10e and 10f are not limited to the surface on which the thin film is formed, but include a wide range of surfaces to be vacuum processed.

なお、上記真空処理装置10はスパッタリング装置であったが、本発明の基板搬送装置23、53〜55は、CVD装置、エッチング装置、イオン注入装置等の真空中で処理対象物を真空処理する装置の他、真空雰囲気中で絶縁性基板を位置合わせする装置に広く使用することができる。   Although the vacuum processing apparatus 10 is a sputtering apparatus, the substrate transfer apparatuses 23 and 53 to 55 according to the present invention are apparatuses that perform vacuum processing on an object to be processed in a vacuum such as a CVD apparatus, an etching apparatus, or an ion implantation apparatus. Besides, it can be widely used in an apparatus for aligning an insulating substrate in a vacuum atmosphere.

また、本発明の第1、第2の電極間の電界強度は絶縁破壊が起こらない範囲で大きい方がよく、1.0×106V/m以上の強度の電場を形成することが望ましい。 In addition, the electric field strength between the first and second electrodes of the present invention should be as large as possible without causing dielectric breakdown, and it is desirable to form an electric field having a strength of 1.0 × 10 6 V / m or more.

従って、第1、第2の電極間の距離は、絶縁破壊が生じない範囲で狭い方が望ましい。第1、第2の電極は、例えば導電性カーボンで構成されており、スクリーン印刷法やマスクを用いて成膜する方法(PVD、CVD、イオン注入)によって形成することができる。また、エッチング技術を用いて形成することができる。いずれの形成方法によっても、電極間の距離をどの程度近接させることができるかは、各形成方法のパターニング精度に依存する。   Therefore, it is desirable that the distance between the first and second electrodes be narrow as long as dielectric breakdown does not occur. The first and second electrodes are made of, for example, conductive carbon, and can be formed by a screen printing method or a method of forming a film using a mask (PVD, CVD, ion implantation). Moreover, it can form using an etching technique. The degree to which the distance between the electrodes can be made close by any forming method depends on the patterning accuracy of each forming method.

また、第1、第2の電極が対向した部分の長さは長い方が吸着力が大きくなるので、電極幅は狭い方が望ましい。その幅をどの程度小さくできるかもパターニング精度に依存する。   Further, the longer the length of the portion where the first and second electrodes face each other, the greater the adsorption force. Therefore, it is desirable that the electrode width is narrow. How much the width can be reduced depends on the patterning accuracy.

本発明の基板搬送装置と真空処理装置の一例を示す図The figure which shows an example of the board | substrate conveyance apparatus and vacuum processing apparatus of this invention (a):本発明に用いられる吸着装置の一例の断面図 (b):その第1、第2の電極のパターンを示す図(a): Cross-sectional view of an example of an adsorption device used in the present invention (b): A diagram showing patterns of the first and second electrodes 電場の形成状態を説明するための図Illustration for explaining the state of electric field formation (a)〜(d):本発明に用いられる吸着装置の第二例〜第五例の断面図(a)-(d): Sectional drawing of 2nd example-5th example of adsorption | suction apparatus used for this invention (a)〜(c):本発明に用いられる吸着装置の第1、第2の電極配置方法の第二例〜第四例を説明するための図(a)-(c): The figure for demonstrating the 2nd example-the 4th example of the 1st, 2nd electrode arrangement | positioning method of the adsorption | suction apparatus used for this invention. 様々な姿勢の絶縁性基板を示す図Diagram showing insulating substrates in various positions 複数の吸着装置を有する基板搬送装置の例Example of substrate transfer device with multiple suction devices その基板搬送装置に絶縁性基板を吸着させた状態を示す図The figure which shows the state which made the board | substrate conveyance apparatus adsorb the insulating board | substrate 本発明の基板搬送装置を位置合わせに応用した例を示す図The figure which shows the example which applied the board | substrate conveyance apparatus of this invention to position alignment (a)、(b):従来技術の基板搬送装置を説明するための図(a), (b): The figure for demonstrating the board | substrate conveyance apparatus of a prior art (a)、(b):クーロン力を利用した従来の静電吸着装置を説明するための図(a), (b): The figure for demonstrating the conventional electrostatic attraction apparatus using Coulomb force

符号の説明Explanation of symbols

20、53〜55……基板搬送装置
22、52、57、58……腕部
23、31〜40……吸着装置
26……誘電体層
271、411、42A1、42B1、42C1、42D1、431……第1の電極
272、412、42A2、42B2、42C2、42D2、432……第2の電極
29……突部
10……真空処理装置
11、11a〜11f……絶縁性基板
12……真空槽
17……電源
20, 53 to 55... Substrate transfer device 22, 52, 57, 58... Arm portion 23, 31 to 40... Attracting device 26 .. dielectric layers 27 1 , 41 1 , 42 A 1 , 42 B 1 , 42 C 1 , 42D 1 , 43 1 ...... first electrode 27 2 , 41 2 , 42A 2 , 42B 2 , 42C 2 , 42D 2 , 43 2 ...... second electrode 29 ...... projection 10 ...... vacuum processing apparatus 11 , 11a to 11f …… Insulating substrate 12 …… Vacuum chamber 17 …… Power supply

Claims (17)

移動可能に構成された腕部と、
前記腕部に設けられ、腕部の移動によって移動可能に構成された吸着装置とを有する基板搬送装置であって、
前記吸着装置には、幅4mm以下であって、間隔2mm以下の第1、第2の電極が設けられ、
前記吸着装置は、前記第1、第2の電極間に電圧を印加した状態で移動できるように構成された基板搬送装置。
An arm configured to be movable;
A substrate transfer device provided on the arm portion and having a suction device configured to be movable by movement of the arm portion,
The adsorption device is provided with first and second electrodes having a width of 4 mm or less and an interval of 2 mm or less,
The adsorption apparatus is a substrate transfer apparatus configured to be movable with a voltage applied between the first and second electrodes.
前記第1、第2の電極表面には誘電体層が配置され、前記吸着装置表面に基板を密着させたときに、前記第1、第2の電極と前記基板とに間には誘電体層が存するように構成された請求項1記載の基板搬送装置。 A dielectric layer is disposed on the surfaces of the first and second electrodes, and when a substrate is brought into close contact with the surface of the adsorption device, a dielectric layer is interposed between the first and second electrodes and the substrate. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the substrate transfer apparatus is configured to exist. 前記第1、第2の電極表面は露出され、前記吸着装置に基板を密着させたときに、前記第1、第2の電極と前記基板とは接触するように構成された請求項1記載の基板搬送装置。 2. The structure according to claim 1, wherein the surfaces of the first and second electrodes are exposed, and the first and second electrodes are in contact with the substrate when the substrate is brought into close contact with the adsorption device. Substrate transfer device. 前記第1、第2の電極間には突部が設けられ、前記吸着装置に基板を密着させたときに、前記基板は前記突部に当接され、前記基板と前記第1、第2の電極間には隙間が形成されるように構成された請求項1記載の基板搬送装置。 A protrusion is provided between the first and second electrodes, and when the substrate is brought into close contact with the suction device, the substrate is brought into contact with the protrusion, and the substrate and the first and second electrodes The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein a gap is formed between the electrodes. 前記吸着装置を複数有する請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の基板搬送装置であって、前記各吸着装置表面は略同じ高さにされ、前記各吸着装置のうちの所望のものに電圧を供給できるように構成された基板搬送装置。 5. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the adsorption devices are provided, wherein the surfaces of the adsorption devices are substantially the same height, and a desired one of the adsorption devices. A substrate transfer device configured to supply a voltage to the substrate. 電源を有し、該電源により、少なくとも前記第1、第2の電極間に1.0×106V/m以上の電界を形成できるように構成された請求項1乃至請求項5のいずれか1記載の基板搬送装置。 6. The apparatus according to claim 1, further comprising: a power source configured to form an electric field of at least 1.0 × 10 6 V / m between the first and second electrodes. The substrate transfer apparatus according to 1. 真空槽と、請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、
前記基板搬送装置の前記吸着装置上に絶縁性基板を吸着した状態で、前記絶縁性基板を前記真空槽に搬入又は搬出できるように構成された真空処理装置。
A vacuum chamber; and a substrate transfer device according to any one of claims 1 to 6,
A vacuum processing apparatus configured to allow the insulating substrate to be carried into or out of the vacuum chamber in a state where the insulating substrate is adsorbed onto the adsorption device of the substrate transfer apparatus.
真空槽と、請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、
前記真空槽内には少なくとも前記吸着装置が配置され、前記真空槽内を真空雰囲気にして、絶縁性基板を前記吸着装置に吸着させ、前記真空槽内で前記絶縁性基板を吊り下げられるように構成された真空処理装置。
A vacuum chamber; and a substrate transfer device according to any one of claims 1 to 6,
At least the suction device is disposed in the vacuum chamber, the vacuum chamber is placed in a vacuum atmosphere, the insulating substrate is sucked by the suction device, and the insulating substrate is suspended in the vacuum chamber. Constructed vacuum processing equipment.
前記吊り下げられた絶縁性基板の下方に他の基板が配置され、前記吊り下げられた絶縁性基板と前記他の基板との相対的な位置合わせができるように構成された請求項8記載の真空処理装置。 The other board | substrate is arrange | positioned under the said suspended insulation board | substrate, and it was comprised so that the relative alignment of the said suspended board | substrate and the said other board | substrate could be performed. Vacuum processing equipment. 移動可能に構成された腕部と、
前記腕部に設けられ、前記腕部の移動によって移動するように構成された吸着装置とを有する基板搬送装置であって、
前記吸着装置には、幅4mm以下であって、間隔2mm以下の第1、第2の電極が設けられ、
前記第1、第2の電極には、前記第1、第2の電極間に少なくとも1.0×106V/m以上の電界を形成できる電源が接続され、
前記第1、第2の電極は、前記吸着装置の下方を向いた吸着面に設けられ、前記電源によって前記第1、第2の電極間に電圧を印加し、真空雰囲気中で前記吸着面に絶縁基板を吸着して前記絶縁基板を吊り下げながら前記吸着装置を移動できるように構成された基板搬送装置。
An arm configured to be movable;
A substrate transfer device having a suction device provided on the arm portion and configured to move by movement of the arm portion,
The adsorption device is provided with first and second electrodes having a width of 4 mm or less and an interval of 2 mm or less,
A power source capable of forming an electric field of at least 1.0 × 10 6 V / m or more is connected between the first and second electrodes, the first and second electrodes,
The first and second electrodes are provided on a suction surface facing downward of the suction device, a voltage is applied between the first and second electrodes by the power source, and the suction surface is applied to the suction surface in a vacuum atmosphere. A substrate transfer device configured to move the suction device while sucking the insulating substrate and suspending the insulating substrate.
前記第1、第2の電極の表面には誘電体層が配置され、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記誘電体層に接触するように構成された請求項10記載の基板搬送装置。   A dielectric layer is disposed on the surfaces of the first and second electrodes, and the insulating substrate is configured to come into contact with the dielectric layer when the insulating substrate is attracted to the attracting surface. 10. The substrate transfer apparatus according to 10. 前記第1、第2の電極の表面は露出され、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記第1、第2の電極に接触するように構成された請求項10記載の基板搬送装置。   11. The surfaces of the first and second electrodes are exposed, and the insulating substrate is configured to contact the first and second electrodes when the insulating substrate is adsorbed on the adsorption surface. The board | substrate conveyance apparatus of description. 前記第1、第2の電極間には突部が設けられ、前記吸着面に前記絶縁基板を吸着したときに、前記絶縁基板は前記突部に当接され、前記絶縁基板と前記第1、第2の電極間には隙間が形成されるように構成された請求項10記載の基板搬送装置。   A protrusion is provided between the first and second electrodes, and when the insulating substrate is adsorbed on the adsorption surface, the insulating substrate is brought into contact with the protrusion, and the insulating substrate and the first, The board | substrate conveyance apparatus of Claim 10 comprised so that a clearance gap might be formed between 2nd electrodes. 前記腕部に前記吸着装置が複数設けられ、前記各吸着装置の前記吸着面は同じ高さにされ、前記各吸着装置によって一枚の前記絶縁基板を吸着できるように構成された請求項10乃至請求項13のいずれか1項記載の基板搬送装置。   The said arm part is provided with two or more said adsorption | suction apparatuses, The said adsorption | suction surface of each said adsorption | suction apparatus is made the same height, It was comprised so that the said one insulating substrate could be adsorb | sucked by each said adsorption | suction apparatus. The board | substrate conveyance apparatus of any one of Claim 13. 複数の前記吸着装置のうち、所望の前記吸着装置に電圧を供給できるように構成された請求項14記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 14, wherein a voltage can be supplied to a desired suction apparatus among the plurality of suction apparatuses. 真空槽と、請求項10乃至請求項15のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、
前記基板搬送装置で前記絶縁基板を吸着して吊り下げて、前記絶縁基板を前記真空槽に搬入と搬出ができるように構成された真空処理装置。
A substrate transfer device according to any one of claims 10 to 15 having a vacuum chamber,
A vacuum processing apparatus configured to adsorb and suspend the insulating substrate by the substrate transfer device so that the insulating substrate can be carried into and out of the vacuum chamber.
真空槽と請求項10乃至請求項15のいずれか1項記載の基板搬送装置を有し、
前記真空槽内には前記吸着装置が配置され、
前記真空槽内で前記絶縁基板を前記吸着装置に吸着させて移動させ、
前記吸着された前記絶縁基板と、該絶縁基板の下方に配置された他の基板との間の位置合わせができるように構成された真空処理装置。
A substrate transport device according to any one of claims 10 to 15 having a vacuum chamber,
The adsorption device is disposed in the vacuum chamber,
In the vacuum chamber, the insulating substrate is adsorbed and moved by the adsorption device,
A vacuum processing apparatus configured to perform alignment between the adsorbed insulating substrate and another substrate disposed below the insulating substrate.
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