JP2008194985A - Manufacturing method of liquid ejection head - Google Patents

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Takeshi Sekizaki
健 関崎
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of liquid ejection head capable of preventing poor connection from occurring during wire bonding to a wiring pattern. <P>SOLUTION: In the manufacturing method of liquid ejection head having a flow channel forming substrate where a pressure generating chamber in communication with a nozzle opening for jetting droplets is formed, a piezoelectric element arranged in one face side of the flow channel forming substrate, a bonded substrate bonded to the flow channel forming substrate, and a wiring pattern connected to the piezoelectric element and arranged on the surface of the opposite side of the flow channel forming substrate of the bonding substrate, the wiring pattern 200 is formed by forming a plating metal layer 204 of a predetermined pattern on the surface of the bonding substrate 30 by plating, and the surface of the plating metal layer 204 is flattened by pressing the same by a predetermined pressure by a press member 250. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

液体を噴射する液体噴射ヘッドの製造方法に関し、特に、液体としてインクを吐出するインクジェット式記録ヘッドの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a liquid ejecting head that ejects liquid, and more particularly, to a method for manufacturing an ink jet recording head that ejects ink as a liquid.

液滴を吐出する液体噴射ヘッドの代表例としては、インク滴を吐出するインクジェット式記録ヘッドが挙げられる。このインクジェット式記録ヘッドとしては、例えば、ノズル開口に連通する圧力発生室とこの圧力発生室に連通する連通部とが形成される流路形成基板と、この流路形成基板の一方面側に形成される圧電素子と、流路形成基板の圧電素子側の面に接合され圧電素子を保持するための圧電素子保持部を有する接合基板とを具備し、この接合基板上に配線パターンを介して駆動ICが実装されたものがある(例えば、特許文献1参照)。   A typical example of a liquid ejecting head that ejects droplets is an ink jet recording head that ejects ink droplets. As the ink jet recording head, for example, a flow path forming substrate in which a pressure generating chamber communicating with the nozzle opening and a communicating portion communicating with the pressure generating chamber are formed, and formed on one surface side of the flow path forming substrate. And a bonding substrate having a piezoelectric element holding portion bonded to the surface of the flow path forming substrate on the piezoelectric element side and holding the piezoelectric element, and driven on the bonding substrate via a wiring pattern Some ICs are mounted (see, for example, Patent Document 1).

また、このような接合基板上の配線パターンは、例えば、金(Au)等の材料を無電解めっきすることによって形成されていた。   Further, such a wiring pattern on the bonding substrate is formed by electroless plating a material such as gold (Au).

特開2004−148813号公報JP 2004-148813 A

このように無電解めっきによって配線パターンを形成することで、比較的短時間で所定の厚さとすることができる。しかしながら、無電解めっき方法では、大量のめっき液中に接合基板を浸漬させるため、例えば、接合基板表面のイオン濃度を一定に管理することは難しく、配線パターン表面にめっきムラや、異常析出等が発生してしまうという問題がある。また、このように配線パターンの表面に、例えば、異常析出等によって凸部が形成されてしまっていると、例えば、配線パターンと駆動ICとをワイヤボンディングする際に、配線パターン側のボンディング不良が発生してしまう虞がある。   By forming the wiring pattern by electroless plating in this way, the predetermined thickness can be achieved in a relatively short time. However, in the electroless plating method, since the bonding substrate is immersed in a large amount of plating solution, for example, it is difficult to maintain a constant ion concentration on the bonding substrate surface, and uneven plating, abnormal deposition, etc. on the wiring pattern surface are difficult. There is a problem that it occurs. In addition, when a convex portion is formed on the surface of the wiring pattern due to, for example, abnormal precipitation, for example, when the wiring pattern and the driving IC are wire-bonded, bonding defects on the wiring pattern side are caused. There is a risk that it will occur.

また従来は、このようなボンディング不良等を防止するために、配線パターン表面の凸部を、針等によって機械的に除去していたが、配線パターンを傷つけて断線等の不良が発生するという問題があった。   Conventionally, in order to prevent such bonding failure, the convex portion on the surface of the wiring pattern is mechanically removed with a needle or the like, but there is a problem that the wiring pattern is damaged and defects such as disconnection occur. was there.

なお、このような問題は、インクを吐出するインクジェット式記録ヘッドの製造方法だけでなく、勿論、インク以外の液体を吐出する他の液体噴射ヘッドの製造方法においても、同様に存在する。   Such a problem exists not only in a method for manufacturing an ink jet recording head that discharges ink, but also in a method for manufacturing another liquid ejecting head that discharges liquid other than ink.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、配線パターンへのワイヤボンディング時等に、接続不良が発生するのを防止することができる液体噴射ヘッドの製造方法を提供することを目的とする。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides a method for manufacturing a liquid jet head capable of preventing a connection failure from occurring during wire bonding to a wiring pattern. Objective.

上記課題を解決する本発明は、液滴を噴射するノズル開口に連通する圧力発生室が形成される流路形成基板と、該流路形成基板の一方面側に設けられる圧電素子と、該流路形成基板に接合された接合基板とを有し、該接合基板の前記流路形成基板とは反対側の表面に前記圧電素子に接続される配線パターンが設けられた液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記接合基板の表面にめっきにより所定パターンのめっき金属層を形成することで前記配線パターンを形成し、前記めっき金属層の表面をプレス部材によって所定圧力で加圧することで平坦化することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法にある。
かかる本発明では、めっき金属層の表面、すなわち、配線パターンの表面が良好に平坦化される。したがって、例えば、ボンディングワイヤすることによって、配線パターンに良好に配線を接続することができるようになる。
The present invention that solves the above-described problems includes a flow path forming substrate in which a pressure generation chamber communicating with a nozzle opening for ejecting droplets is formed, a piezoelectric element provided on one side of the flow path forming substrate, and the flow A method of manufacturing a liquid jet head, comprising: a bonding substrate bonded to a path forming substrate; and a wiring pattern connected to the piezoelectric element on a surface opposite to the flow path forming substrate of the bonding substrate. The wiring pattern is formed by forming a plating metal layer having a predetermined pattern on the surface of the bonding substrate by plating, and the surface of the plating metal layer is flattened by pressing with a predetermined pressure by a press member. The method of manufacturing a liquid jet head characterized by the above.
In the present invention, the surface of the plated metal layer, that is, the surface of the wiring pattern is flattened satisfactorily. Therefore, for example, by bonding wires, it is possible to connect the wiring to the wiring pattern satisfactorily.

ここで、本発明では、前記めっき金属層の表面をプレス部材で加圧することで、前記めっき金属層の表面に形成される当該めっき金属層と同一材料からなる凸部を平坦化する。したがって、平坦化しても、配線パターン(めっき金属層)は良好に形成される。   Here, in this invention, the convex part which consists of the same material as the said plating metal layer formed in the surface of the said plating metal layer is planarized by pressurizing the surface of the said plating metal layer with a press member. Therefore, the wiring pattern (plated metal layer) can be satisfactorily formed even when planarized.

また、本発明では、前記流路形成基板の一方面側に前記圧電素子を形成する工程と、前記配線パターンが形成された前記接合基板を前記流路形成基板に接合する工程と、前記流路形成基板に前記圧力発生室を形成する工程とを有し、前記接合基板を前記流路形成基板に接合する工程において、プレス部材によって前記接合基板を前記流路形成基板側に加圧することで接着すると共に前記めっき金属層の表面を平坦化するようにしてもよい。これにより、めっき金属層の表面を良好に平坦化することができ且つ製造工程を簡略化することができる。   In the present invention, the step of forming the piezoelectric element on one surface side of the flow path forming substrate, the step of bonding the bonding substrate on which the wiring pattern is formed to the flow path forming substrate, and the flow path Forming the pressure generating chamber on the formation substrate, and in the step of bonding the bonding substrate to the flow path formation substrate, the bonding substrate is bonded by pressurizing the bonding substrate toward the flow path formation substrate by a press member. In addition, the surface of the plated metal layer may be flattened. As a result, the surface of the plated metal layer can be satisfactorily flattened and the manufacturing process can be simplified.

また、前記めっき金属層が金からなることが好ましい。これにより、めっき金属層を比較的良好に形成することができ、且つ表面を良好に平坦化することができる。   The plated metal layer is preferably made of gold. Thereby, a plating metal layer can be formed comparatively favorable, and the surface can be planarized satisfactorily.

また、前記接合基板がシリコンウェハからなる接合基板用ウェハに複数一体的に形成されている場合、前記めっき金属層の表面を平坦化する際には、前記接合基板用ウェハ上に形成された前記めっき金属層を50〜300(kgf)の荷重で加圧することが好ましい。このように所定の荷重を加えることで、接合基板の割れを防止しつつめっき金属層の表面をより確実に平坦化することができる。   Further, when a plurality of the bonding substrates are integrally formed on a bonding substrate wafer made of a silicon wafer, when the surface of the plating metal layer is planarized, the bonding substrate is formed on the bonding substrate wafer. It is preferable to pressurize the plating metal layer with a load of 50 to 300 (kgf). By applying a predetermined load in this way, the surface of the plated metal layer can be more reliably flattened while preventing the bonded substrate from cracking.

また、前記配線パターン上には、前記圧電素子を駆動するための駆動回路を実装すると共に、該駆動回路と前記配線パターンとをワイヤボンディングによって電気的に接続する。上述したように配線パターンの表面が平坦化されていることで、駆動回路と配線パターンとをワイヤボンディングによって確実に接続することができる。   A drive circuit for driving the piezoelectric element is mounted on the wiring pattern, and the drive circuit and the wiring pattern are electrically connected by wire bonding. Since the surface of the wiring pattern is flattened as described above, the drive circuit and the wiring pattern can be reliably connected by wire bonding.

以下に本発明を実施形態に基づいて詳細に説明する。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る製造方法によって製造されるインクジェット式記録ヘッドの分解斜視図であり、図2は、図1の平面図及び断面図である。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments.
(Embodiment 1)
1 is an exploded perspective view of an ink jet recording head manufactured by a manufacturing method according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a plan view and a cross-sectional view of FIG.

図示するように、流路形成基板10は、本実施形態では結晶面方位が(110)であるシリコン単結晶基板からなり、その一方面には酸化膜からなる弾性膜50が形成されている。流路形成基板10には、隔壁11によって区画された複数の圧力発生室12がその幅方向に並設されている。   As shown in the figure, the flow path forming substrate 10 is a silicon single crystal substrate having a crystal plane orientation of (110) in this embodiment, and an elastic film 50 made of an oxide film is formed on one surface thereof. In the flow path forming substrate 10, a plurality of pressure generating chambers 12 partitioned by a partition wall 11 are arranged in parallel in the width direction.

また、流路形成基板10の圧力発生室12の長手方向一端部側には、隔壁11によって区画され各圧力発生室12に連通するインク供給路13と連通路14とが設けられている。さらに、連通路14の外側には、各連通路14と連通する連通部15が設けられている。この連通部15は、後述する接合基板30のリザーバ部32と連通して、各圧力発生室12の共通のインク室(液体室)となるリザーバ100の一部を構成する。   Further, an ink supply path 13 and a communication path 14 that are partitioned by a partition wall 11 and communicate with each pressure generation chamber 12 are provided on one end side in the longitudinal direction of the pressure generation chamber 12 of the flow path forming substrate 10. Furthermore, a communication portion 15 that communicates with each communication path 14 is provided outside the communication path 14. The communication portion 15 communicates with a reservoir portion 32 of the bonding substrate 30 to be described later, and constitutes a part of the reservoir 100 serving as a common ink chamber (liquid chamber) for each pressure generating chamber 12.

ここで、インク供給路13は、圧力発生室12よりも狭い断面積となるように形成されており、連通部15から圧力発生室12に流入するインクの流路抵抗を一定に保持している。例えば、本実施形態では、インク供給路13は、リザーバ100と各圧力発生室12との間の圧力発生室12側の流路を幅方向に絞ることで、圧力発生室12の幅より小さい幅で形成されている。なお、本実施形態では、流路の幅を片側から絞ることでインク供給路を形成したが、流路の幅を両側から絞ることでインク供給路を形成してもよい。また、流路の幅を絞るのではなく、厚さ方向から絞ることでインク供給路を形成してもよい。各連通路14は、圧力発生室12の幅方向両側の隔壁11を連通部15側に延設してインク供給路13と連通部15との間の空間を区画することで形成されている。   Here, the ink supply path 13 is formed to have a narrower cross-sectional area than the pressure generation chamber 12, and the flow path resistance of the ink flowing into the pressure generation chamber 12 from the communication portion 15 is kept constant. . For example, in this embodiment, the ink supply path 13 has a width smaller than the width of the pressure generation chamber 12 by narrowing the flow path on the pressure generation chamber 12 side between the reservoir 100 and each pressure generation chamber 12 in the width direction. It is formed with. In this embodiment, the ink supply path is formed by narrowing the width of the flow path from one side. However, the ink supply path may be formed by narrowing the width of the flow path from both sides. Further, the ink supply path may be formed by narrowing from the thickness direction instead of narrowing the width of the flow path. Each communication path 14 is formed by extending the partition walls 11 on both sides in the width direction of the pressure generating chamber 12 to the communication part 15 side to partition the space between the ink supply path 13 and the communication part 15.

流路形成基板10の材料として、本実施形態ではシリコン単結晶基板を用いているが、勿論これに限定されず、例えば、ガラスセラミックス、ステンレス鋼等を用いてもよい。   As a material for the flow path forming substrate 10, a silicon single crystal substrate is used in the present embodiment. However, the material is not limited to this, and glass ceramics, stainless steel, etc. may be used.

流路形成基板10の開口面側には、複数のノズル開口21が穿設されたノズルプレート20が、例えば、接着剤や熱溶着フィルム等によって固着されており、各ノズル開口21は、各圧力発生室12のインク供給路13とは反対側の端部近傍にそれぞれ連通している。なお、ノズルプレート20は、例えば、ガラスセラミックス、シリコン単結晶基板、ステンレス鋼などからなる。   A nozzle plate 20 in which a plurality of nozzle openings 21 are formed is fixed to the opening surface side of the flow path forming substrate 10 by, for example, an adhesive or a heat welding film. The generation chamber 12 communicates with the vicinity of the end opposite to the ink supply path 13. The nozzle plate 20 is made of, for example, glass ceramics, a silicon single crystal substrate, stainless steel, or the like.

一方、流路形成基板10の開口面とは反対側の面には、上述したように弾性膜50が形成され、この弾性膜50上には、弾性膜50とは異なる材料の酸化膜からなる絶縁体膜55が形成されている。さらに、この絶縁体膜55上には下電極膜60と、厚さが例えば、約0.5〜5[μm]の圧電体層70と、上電極膜80とからなる圧電素子300が形成されている。ここで、圧電素子300は、下電極膜60、圧電体層70及び上電極膜80を含む部分をいう。一般的には、圧電素子300の何れか一方の電極を共通電極とし、他方の電極を圧電体層70と共に圧力発生室12毎にパターニングして個別電極とする。そして、ここでは圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる振動板とを合わせてアクチュエータ装置と称する。なお、上述した例では、弾性膜50、絶縁体膜55及び下電極膜60が実質的に振動板として作用するが、弾性膜50、絶縁体膜55を設けずに、下電極膜60のみを残して下電極膜60を振動板としてもよい。また、圧電素子300自体が実質的に振動板を兼ねるようにしてもよい。さらに、このような各圧電素子300の上電極膜80には、例えば、金(Au)等からなるリード電極90がそれぞれ接続されており、このリード電極90を介して各圧電素子300に選択的に電圧が印加されるようになっている。   On the other hand, the elastic film 50 is formed on the surface opposite to the opening surface of the flow path forming substrate 10 as described above. The elastic film 50 is made of an oxide film made of a material different from that of the elastic film 50. An insulator film 55 is formed. Further, a piezoelectric element 300 including a lower electrode film 60, a piezoelectric layer 70 having a thickness of, for example, about 0.5 to 5 μm, and an upper electrode film 80 is formed on the insulator film 55. ing. Here, the piezoelectric element 300 refers to a portion including the lower electrode film 60, the piezoelectric layer 70, and the upper electrode film 80. In general, one of the electrodes of the piezoelectric element 300 is used as a common electrode, and the other electrode is patterned together with the piezoelectric layer 70 for each pressure generating chamber 12 to form individual electrodes. Here, the piezoelectric element 300 and the vibration plate that is displaced by driving the piezoelectric element 300 are collectively referred to as an actuator device. In the above-described example, the elastic film 50, the insulator film 55, and the lower electrode film 60 substantially function as a vibration plate, but only the lower electrode film 60 is provided without providing the elastic film 50 and the insulator film 55. The lower electrode film 60 may be left as a diaphragm. Further, the piezoelectric element 300 itself may substantially serve as a diaphragm. Further, a lead electrode 90 made of, for example, gold (Au) or the like is connected to the upper electrode film 80 of each piezoelectric element 300, and is selectively connected to each piezoelectric element 300 via the lead electrode 90. A voltage is applied to.

このような圧電素子300が形成された流路形成基板10上には、圧電素子300を接合するための圧電素子保持部31を有する接合基板30が、例えば、接着層35によって接合されている。なお、圧電素子保持部31によって画成される空間は、密封されていても、密封されていなくてもよい。また、接合基板30には、複数の圧力発生室12に供給するインクが貯留されるリザーバ100の少なくとも一部を構成するリザーバ部32が設けられている。このリザーバ部32は、本実施形態では、接合基板30を厚さ方向に貫通して圧力発生室12の幅方向に亘って形成されており、上述のように流路形成基板10の連通部15と連通されてリザーバ100を構成している。なお、流路形成基板10の連通部15を圧力発生室12毎に複数に分割して、リザーバ部32のみをリザーバとしてもよい。さらに、例えば、流路形成基板10に圧力発生室12のみを設け、流路形成基板10と接合基板30との間に介在する部材(例えば、弾性膜50、絶縁体膜55等)にリザーバと各圧力発生室12とを連通するインク供給路13を設けるようにしてもよい。   On the flow path forming substrate 10 on which such a piezoelectric element 300 is formed, a bonding substrate 30 having a piezoelectric element holding portion 31 for bonding the piezoelectric element 300 is bonded by, for example, an adhesive layer 35. Note that the space defined by the piezoelectric element holding portion 31 may be sealed or may not be sealed. Further, the bonding substrate 30 is provided with a reservoir portion 32 that constitutes at least a part of the reservoir 100 in which the ink supplied to the plurality of pressure generating chambers 12 is stored. In the present embodiment, the reservoir portion 32 is formed across the bonding substrate 30 in the thickness direction and across the width direction of the pressure generating chamber 12. As described above, the communication portion 15 of the flow path forming substrate 10. The reservoir 100 is configured to be communicated with each other. Note that the communication portion 15 of the flow path forming substrate 10 may be divided into a plurality for each pressure generation chamber 12 and only the reservoir portion 32 may be used as the reservoir. Further, for example, only the pressure generating chamber 12 is provided in the flow path forming substrate 10, and the reservoir (member such as the elastic film 50, the insulator film 55, etc.) interposed between the flow path forming substrate 10 and the bonding substrate 30 is provided with the reservoir. An ink supply path 13 that communicates with each pressure generation chamber 12 may be provided.

このような接合基板30としては、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料、例えば、ガラス材料、セラミック材料等を用いることが好ましく、本実施形態では、流路形成基板10と同一材料であるシリコン単結晶基板を用いている。   As such a bonding substrate 30, it is preferable to use a material substantially the same as the coefficient of thermal expansion of the flow path forming substrate 10, for example, a glass material, a ceramic material or the like. A silicon single crystal substrate as a material is used.

また、接合基板30には、接合基板30を厚さ方向に貫通する貫通孔33が設けられており、各圧電素子300から引き出されたリード電極90の端部近傍は、この貫通孔33内に露出されている。また、接合基板30上には、複数の配線からなる配線パターン200が形成されており、この配線パターン200上には、複数の圧電素子300を駆動するための駆動回路210、例えば、回路基板、半導体集積回路(IC)等が固定されている。そして、駆動回路210とリード電極90とは、貫通孔33内に延設されるボンディングワイヤ等の導電性ワイヤからなる第1の接続配線220によって電気的に接続されている。また、駆動回路210と配線パターン200とが、ボンディングワイヤ等の導電性ワイヤからなる第2の接続配線230によって電気的に接続されている。なお、配線パターン200のパターン形状は、特に限定されるものではない。   Further, the bonding substrate 30 is provided with a through hole 33 that penetrates the bonding substrate 30 in the thickness direction, and the vicinity of the end portion of the lead electrode 90 drawn from each piezoelectric element 300 is in the through hole 33. Exposed. In addition, a wiring pattern 200 including a plurality of wirings is formed on the bonding substrate 30, and a driving circuit 210 for driving the plurality of piezoelectric elements 300, such as a circuit board, is formed on the wiring pattern 200. A semiconductor integrated circuit (IC) or the like is fixed. The drive circuit 210 and the lead electrode 90 are electrically connected by a first connection wiring 220 made of a conductive wire such as a bonding wire extending in the through hole 33. Further, the drive circuit 210 and the wiring pattern 200 are electrically connected by a second connection wiring 230 made of a conductive wire such as a bonding wire. The pattern shape of the wiring pattern 200 is not particularly limited.

また、このような接合基板30上には、封止膜41及び固定板42とからなるコンプライアンス基板40が接合されている。ここで、封止膜41は、剛性が低く可撓性を有する有機材料からなり、この封止膜41によってリザーバ部32の一方面が封止されている。また、固定板42は、金属等の硬質の材料で形成される。この固定板42のリザーバ100に対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部43となっており、リザーバ100の一方面は可撓性を有する封止膜41のみで封止されている。   In addition, a compliance substrate 40 including a sealing film 41 and a fixing plate 42 is bonded onto the bonding substrate 30. Here, the sealing film 41 is made of an organic material having low rigidity and flexibility, and one surface of the reservoir portion 32 is sealed by the sealing film 41. The fixing plate 42 is made of a hard material such as metal. A region of the fixing plate 42 facing the reservoir 100 is an opening 43 that is completely removed in the thickness direction, and one surface of the reservoir 100 is sealed only with a flexible sealing film 41. ing.

このような本実施形態のインクジェット式記録ヘッドでは、図示しない外部インク供給手段と接続したインク導入口からインクを取り込み、リザーバ100からノズル開口21に至るまで内部をインクで満たした後、駆動回路210からの記録信号に従い、圧力発生室12に対応するそれぞれの下電極膜60と上電極膜80との間に電圧を印加し圧電素子300を撓み変形させることによって、各圧力発生室12内の圧力が高まりノズル開口21からインク滴が吐出される。   In such an ink jet recording head of this embodiment, ink is taken in from an ink introduction port connected to an external ink supply means (not shown), and the interior from the reservoir 100 to the nozzle opening 21 is filled with ink, and then the drive circuit 210 is filled. In accordance with the recording signal from, pressure is applied between the lower electrode film 60 and the upper electrode film 80 corresponding to the pressure generation chamber 12 to bend and deform the piezoelectric element 300, whereby the pressure in each pressure generation chamber 12 is changed. And the ink droplets are ejected from the nozzle openings 21.

以下、このようなインクジェット式記録ヘッドの製造方法について、図3〜図7を参照して説明する。なお、図3、図4及び図7は、圧力発生室の長手方向の断面図であり、図5及び図6は、圧力発生室の幅方向の断面図である。   Hereinafter, a method for manufacturing such an ink jet recording head will be described with reference to FIGS. 3, 4, and 7 are cross-sectional views in the longitudinal direction of the pressure generation chamber, and FIGS. 5 and 6 are cross-sectional views in the width direction of the pressure generation chamber.

シリコンウェハであり流路形成基板10が複数一体的に形成される流路形成基板用ウェハ110の一方面側に圧電素子を形成する。   A piezoelectric element is formed on one side of a flow path forming substrate wafer 110 which is a silicon wafer and in which a plurality of flow path forming substrates 10 are integrally formed.

まず、図3(a)に示すように、シリコンウェハであり流路形成基板10が複数一体的に形成される流路形成基板用ウェハ110の表面に弾性膜50を構成する第1の酸化膜51を形成する。次に、図3(b)に示すように、弾性膜50上に、第1の酸化膜51とは異なる材料からなる第2の酸化膜である絶縁体膜55を形成する。   First, as shown in FIG. 3A, a first oxide film that constitutes an elastic film 50 on the surface of a flow path forming substrate wafer 110 that is a silicon wafer and in which a plurality of flow path forming substrates 10 are integrally formed. 51 is formed. Next, as illustrated in FIG. 3B, an insulator film 55, which is a second oxide film made of a material different from the first oxide film 51, is formed on the elastic film 50.

次いで、図3(c)に示すように、絶縁体膜55上に下電極膜60を形成した後、この下電極膜60を所定形状にパターニングする。次に、図3(d)に示すように、例えば、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等からなる圧電体層70と、上電極膜80とを流路形成基板用ウェハ110の全面に形成し、これら圧電体層70及び上電極膜80を、各圧力発生室12に対向する領域にパターニングして圧電素子300を形成する。   Next, as shown in FIG. 3C, after forming the lower electrode film 60 on the insulator film 55, the lower electrode film 60 is patterned into a predetermined shape. Next, as shown in FIG. 3D, for example, a piezoelectric layer 70 made of lead zirconate titanate (PZT) or the like and an upper electrode film 80 are formed on the entire surface of the flow path forming substrate wafer 110. Then, the piezoelectric layer 300 and the upper electrode film 80 are patterned in a region facing each pressure generating chamber 12 to form the piezoelectric element 300.

次に、図3(e)に示すように、リード電極90を形成する。具体的には、まず流路形成基板用ウェハ110の全面に亘って、密着層91を形成し、この密着層91上に、金属層92を形成する。そして、この金属層92上に、例えば、レジスト等からなるマスクパターン(図示なし)を形成し、このマスクパターンを介して金属層92及び密着層91を圧電素子300毎にパターニングすることによってリード電極90を形成する。   Next, as shown in FIG. 3E, lead electrodes 90 are formed. Specifically, first, an adhesion layer 91 is formed over the entire surface of the flow path forming substrate wafer 110, and a metal layer 92 is formed on the adhesion layer 91. Then, a mask pattern (not shown) made of, for example, a resist is formed on the metal layer 92, and the metal layer 92 and the adhesion layer 91 are patterned for each piezoelectric element 300 through the mask pattern, thereby leading to the lead electrode. 90 is formed.

一方、接合基板30が複数一体的に形成される接合基板用ウェハ130上に、配線パターン200を形成する。なお、接合基板用ウェハ130には、圧電素子保持部31、リザーバ部32及び貫通孔33を、例えば、異方性エッチングによって予め形成しておく。   On the other hand, a wiring pattern 200 is formed on a bonding substrate wafer 130 on which a plurality of bonding substrates 30 are integrally formed. Note that the piezoelectric element holding portion 31, the reservoir portion 32, and the through hole 33 are formed in advance in the bonding substrate wafer 130 by, for example, anisotropic etching.

具体的には、まず図4(a)に示すように、接合基板用ウェハ130の全面に、例えば、スパッタリング法等によって、ニッケルクロム(NiCr)からなり厚さが20[nm]程度の密着層201と、金(Au)からなり厚さが200[nm]程度の金属層202とを形成する。次いで、図4(b)に示すように、これら金属層202と密着層201とを、フォトリソグラフィ法により順次パターニングして、所定形状のベース金属層203を形成する。次に、図4(c)に示すように、ベース金属層203(金属層202)上に、例えば、無電解めっきによって金(Au)からなり厚さが1[mm]程度のめっき金属層204を形成する。すなわち、金属層202上に金(Au)を析出させることによってめっき金属層204を形成して配線パターン200とする。このとき、図4(c)のB−B′断面図である図5に示すように、めっき金属層204の表面には、金(Au)が異常析出することで、或いは金(Au)の異物が付着することで凸部205が形成されてしまう。なお、めっき金属層204の表面には、金属層202の材料と同一の材料、すなわち、金(Au)の異物は付着することがあるが、金属層202とは異なる材料からなる異物は殆ど付着することはない。   Specifically, first, as shown in FIG. 4A, an adhesion layer made of nickel chromium (NiCr) and having a thickness of about 20 [nm] is formed on the entire surface of the bonding substrate wafer 130 by, for example, sputtering. 201 and a metal layer 202 made of gold (Au) and having a thickness of about 200 [nm] are formed. Next, as shown in FIG. 4B, the metal layer 202 and the adhesion layer 201 are sequentially patterned by photolithography to form a base metal layer 203 having a predetermined shape. Next, as shown in FIG. 4C, a plated metal layer 204 made of gold (Au) and having a thickness of about 1 mm is formed on the base metal layer 203 (metal layer 202) by, for example, electroless plating. Form. That is, the plated metal layer 204 is formed by depositing gold (Au) on the metal layer 202 to form the wiring pattern 200. At this time, as shown in FIG. 5 which is a BB ′ cross-sectional view of FIG. 4C, gold (Au) is abnormally deposited on the surface of the plated metal layer 204 or gold (Au). The convex part 205 will be formed because a foreign material adheres. In addition, although the same material as the material of the metal layer 202, that is, gold (Au) foreign matter may adhere to the surface of the plated metal layer 204, almost all foreign matter made of a material different from the metal layer 202 adheres. Never do.

次に、このように表面に配線パターン200が形成された接合基板用ウェハ130を、図6(a)に示すように、流路形成基板用ウェハ110上に、例えば、エポキシ系の接着剤等からなる接着層35を介して接合する。具体的には、接合基板用ウェハ130を流路形成基板用ウェハ110上に接着層35を介して載置し、図6(b)に示すように、接合基板用ウェハ130上に形成された配線パターン200表面を、例えば、金属板等からなるプレス部材250によって、流路形成基板用ウェハ110側に所定圧力で加圧する。これにより、接合基板用ウェハ130が流路形成基板用ウェハ110に加圧接着され、また同時に、配線パターン200(めっき金属層204)の表面が平坦化される(図6(c))。   Next, the bonding substrate wafer 130 having the wiring pattern 200 formed on the surface as described above is formed on the flow path forming substrate wafer 110, for example, an epoxy-based adhesive or the like, as shown in FIG. It joins through the adhesive layer 35 which consists of. Specifically, the bonding substrate wafer 130 is placed on the flow path forming substrate wafer 110 via the adhesive layer 35, and is formed on the bonding substrate wafer 130 as shown in FIG. The surface of the wiring pattern 200 is pressed with a predetermined pressure to the flow path forming substrate wafer 110 side by a pressing member 250 made of, for example, a metal plate. Thereby, the bonding substrate wafer 130 is pressure-bonded to the flow path forming substrate wafer 110, and at the same time, the surface of the wiring pattern 200 (plated metal layer 204) is flattened (FIG. 6C).

このようにプレス部材250によって配線パターン200表面を加圧する圧力は、接合基板用ウェハ130及び流路形成基板用ウェハ110等が割れない程度の圧力であればよいが、例えば、50〜300[kgf]程度の圧力とすることが好ましい。これにより、配線パターン200(めっき金属層204)の表面を良好に平坦化することができ、且つ接合基板用ウェハ130と流路形成基板用ウェハ110とを良好に接合することができる。   Thus, the pressure for pressing the surface of the wiring pattern 200 by the press member 250 may be a pressure that does not break the bonding substrate wafer 130, the flow path forming substrate wafer 110, etc., for example, 50 to 300 [kgf It is preferable to set the pressure to a degree. Thereby, the surface of the wiring pattern 200 (plated metal layer 204) can be satisfactorily flattened, and the bonding substrate wafer 130 and the flow path forming substrate wafer 110 can be bonded well.

次いで、図7(a)に示すように、流路形成基板用ウェハ110をある程度の厚さまで薄くした後、図7(b)に示すように、流路形成基板用ウェハ110上に、例えば、保護膜52を新たに形成して所定形状にパターニングする。そして、図8(a)に示すように、この保護膜52をマスクとして流路形成基板用ウェハ110を異方性エッチング(ウェットエッチング)して、流路形成基板用ウェハ110に圧力発生室12、インク供給路13、連通路14及び連通部15を形成する。すなわち、流路形成基板用ウェハ110を、例えば、水酸化カリウム(KOH)水溶液等のエッチング液によって、弾性膜50が露出するまで流路形成基板用ウェハ110をエッチングすることより、圧力発生室12等を同時に形成する。また、弾性膜50及び絶縁体膜55を除去して連通部15とリザーバ部32とを連通させる。   Next, as shown in FIG. 7A, after the flow path forming substrate wafer 110 is thinned to a certain thickness, as shown in FIG. 7B, on the flow path forming substrate wafer 110, for example, A protective film 52 is newly formed and patterned into a predetermined shape. Then, as shown in FIG. 8A, the flow path forming substrate wafer 110 is anisotropically etched (wet etching) using the protective film 52 as a mask, and the pressure generating chamber 12 is applied to the flow path forming substrate wafer 110. The ink supply path 13, the communication path 14, and the communication part 15 are formed. That is, the flow path forming substrate wafer 110 is etched by using an etchant such as an aqueous potassium hydroxide (KOH) solution until the elastic film 50 is exposed. Etc. are formed simultaneously. Further, the elastic film 50 and the insulator film 55 are removed, and the communication part 15 and the reservoir part 32 are communicated.

次いで、図8(b)に示すように、接合基板用ウェハ130に形成された配線パターン200上に駆動回路210を実装し、駆動回路210とリード電極90及び配線パターン200とをワイヤボンディングすることによって電気的に接続する。すなわち、駆動回路210とリード電極90とを第1の接続配線220で接続すると共に、駆動回路210と配線パターン200とを第2の接続配線230によって接続する。   Next, as shown in FIG. 8B, the driving circuit 210 is mounted on the wiring pattern 200 formed on the bonding substrate wafer 130, and the driving circuit 210, the lead electrode 90, and the wiring pattern 200 are wire-bonded. Electrically connect with. That is, the drive circuit 210 and the lead electrode 90 are connected by the first connection wiring 220, and the drive circuit 210 and the wiring pattern 200 are connected by the second connection wiring 230.

このとき、上述したように配線パターン200の表面が平坦化されているため、ボンディング不良が発生することなく、第2の接続配線230が配線パターン200に良好に接続される。したがって、接続不良等が発生することなく信頼性の高いインクジェット式記録ヘッドを製造することができる。   At this time, since the surface of the wiring pattern 200 is flattened as described above, the second connection wiring 230 is satisfactorily connected to the wiring pattern 200 without causing bonding failure. Therefore, a highly reliable ink jet recording head can be manufactured without causing a connection failure or the like.

なお、その後は、流路形成基板用ウェハ110及び接合基板用ウェハ130の外周縁部の不要部分を、例えば、ダイシング等により切断することによって除去する。そして、流路形成基板用ウェハ110の接合基板用ウェハ130とは反対側の面に、ノズル開口21が穿設されたノズルプレート20を接合すると共に、接合基板用ウェハ130にコンプライアンス基板40を接合する。そして、これら流路形成基板用ウェハ110、接合基板用ウェハ130等を図1に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10等に分割することによって上述した構造のインクジェット式記録ヘッドが製造される。   After that, unnecessary portions of the outer peripheral edge portions of the flow path forming substrate wafer 110 and the bonding substrate wafer 130 are removed by cutting, for example, by dicing. The nozzle plate 20 having the nozzle openings 21 is bonded to the surface of the flow path forming substrate wafer 110 opposite to the bonded substrate wafer 130, and the compliance substrate 40 is bonded to the bonded substrate wafer 130. To do. Then, by dividing the flow path forming substrate wafer 110, the bonding substrate wafer 130 and the like into a single chip size flow path forming substrate 10 as shown in FIG. Is done.

(他の実施形態)
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、上述の実施形態では、流路形成基板用ウェハに接合基板用ウェハを接合する際に、接合基板用ウェハに形成された配線パターンの表面を同時に平坦化するようにしたが、勿論、流路形成基板用ウェハと接合基板用ウェハとを接合する接合工程とは別に、配線パターンの表面を加圧して平坦化する平坦化工程を実施するようにしてもよい。
(Other embodiments)
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to embodiment mentioned above. For example, in the above-described embodiment, when the bonding substrate wafer is bonded to the flow path forming substrate wafer, the surface of the wiring pattern formed on the bonding substrate wafer is simultaneously flattened. In addition to the bonding step of bonding the path forming substrate wafer and the bonding substrate wafer, a flattening step of pressing and flattening the surface of the wiring pattern may be performed.

この場合、駆動回路210上のボンディングパッドと第2の接続配線230を介して接続する接合基板30上の配線パターン200を接合基板30の圧電素子保持部31に対向していない領域に形成することが好ましい。また流路形成基板10の配線パターン200に対向する領域にインク供給路13を形成しておくことが好ましい。このようにすることで、配線パターン200は、接合基板30の板厚が厚い領域であり、且つ流路形成基板10も剛性が高い領域に形成されることになる。したがって、配線パターン200を平坦化するための加圧する圧力を高めても、接合基板30や流路形成基板10が割れることなく、配線パターン200の表面をより確実に平坦化することができる。   In this case, the wiring pattern 200 on the bonding substrate 30 connected to the bonding pad on the driving circuit 210 via the second connection wiring 230 is formed in a region not facing the piezoelectric element holding portion 31 of the bonding substrate 30. Is preferred. The ink supply path 13 is preferably formed in a region of the flow path forming substrate 10 facing the wiring pattern 200. By doing in this way, the wiring pattern 200 is an area | region where the board thickness of the joining board | substrate 30 is thick, and the flow path formation board | substrate 10 is also formed in an area | region where rigidity is high. Therefore, even if the pressure to pressurize the wiring pattern 200 is increased, the surface of the wiring pattern 200 can be more reliably flattened without cracking the bonding substrate 30 and the flow path forming substrate 10.

また、接合工程とは別に平坦化工程を実施する場合、この平坦化工程は、接合基板用ウェハを流路形成基板用ウェハに接合する前に実施しても良いし、接合後に実施するようにしてもよい。何れにしても配線パターン上に駆動回路を実装する前に平坦化工程を実施すればよい。   Further, when a planarization step is performed separately from the bonding step, the planarization step may be performed before the bonding substrate wafer is bonded to the flow path forming substrate wafer or after the bonding. May be. In any case, the planarization process may be performed before mounting the drive circuit on the wiring pattern.

なお、上述した実施形態においては、液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドを挙げて説明したが、本発明は、広く液体噴射ヘッド全般を対象としたものであり、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドの製造方法にも勿論適用することができる。その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンタ等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレー等のカラーフィルタの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレー、FED(電界放出ディスプレー)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。   In the above-described embodiment, an ink jet recording head has been described as an example of a liquid ejecting head. However, the present invention is widely intended for all liquid ejecting heads and ejects liquids other than ink. Of course, the present invention can also be applied to a method of manufacturing a liquid jet head. Other liquid ejecting heads include, for example, various recording heads used in image recording apparatuses such as printers, color material ejecting heads used in the manufacture of color filters such as liquid crystal displays, organic EL displays, and FEDs (field emission displays). Examples thereof include an electrode material ejection head used for electrode formation, a bioorganic matter ejection head used for biochip production, and the like.

実施形態1に係る記録ヘッドの分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view of the recording head according to the first embodiment. 実施形態1に係る記録ヘッドの平面図及び断面図である。2A and 2B are a plan view and a cross-sectional view of the recording head according to the first embodiment. 実施形態1に係る製造工程を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る製造工程を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process according to Embodiment 1. FIG. 配線パターンの表面状態を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the surface state of a wiring pattern typically. 実施形態1に係る製造工程を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る製造工程を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る製造工程を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process according to Embodiment 1. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10 流路形成基板、 12 圧力発生室、 13 インク供給路、 14 連通路、 15 連通部、 20 ノズルプレート、 21 ノズル開口、 30 接合基板、 31 圧電素子保持部、 32 リザーバ部、 40 コンプライアンス基板、 50 弾性膜、 55 絶縁体膜、 60 下電極膜、 70 圧電体層、 80 上電極膜、 90 リード電極、 91 密着層、 92 金属層、 95 不連続金属層、 100 リザーバ、 110 流路形成基板用ウェハ、 130 接合基板用ウェハ、 200 配線パターン、 210 駆動回路、 220 第1の接続配線、 230 第2の接続配線、 250 プレス部材、 300 圧電素子   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Flow path formation board | substrate, 12 Pressure generation chamber, 13 Ink supply path, 14 Communication path, 15 Communication part, 20 Nozzle plate, 21 Nozzle opening, 30 Bonding board, 31 Piezoelectric element holding part, 32 Reservoir part, 40 Compliance board, 50 elastic film, 55 insulator film, 60 lower electrode film, 70 piezoelectric layer, 80 upper electrode film, 90 lead electrode, 91 adhesion layer, 92 metal layer, 95 discontinuous metal layer, 100 reservoir, 110 flow path forming substrate Wafer, 130 bonding substrate wafer, 200 wiring pattern, 210 drive circuit, 220 first connection wiring, 230 second connection wiring, 250 press member, 300 piezoelectric element

Claims (6)

液滴を噴射するノズル開口に連通する圧力発生室が形成される流路形成基板と、該流路形成基板の一方面側に設けられる圧電素子と、該流路形成基板に接合された接合基板とを有し、該接合基板の前記流路形成基板とは反対側の表面に前記圧電素子に接続される配線パターンが設けられた液体噴射ヘッドの製造方法であって、
前記接合基板の表面にめっきにより所定パターンのめっき金属層を形成することで前記配線パターンを形成し、前記めっき金属層の表面をプレス部材によって所定圧力で加圧することで平坦化することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
A flow path forming substrate in which a pressure generation chamber communicating with a nozzle opening for ejecting liquid droplets is formed, a piezoelectric element provided on one surface side of the flow path forming substrate, and a bonding substrate bonded to the flow path forming substrate And a manufacturing method of a liquid ejecting head provided with a wiring pattern connected to the piezoelectric element on a surface of the bonding substrate opposite to the flow path forming substrate,
The wiring pattern is formed by forming a plating metal layer having a predetermined pattern by plating on the surface of the bonding substrate, and the surface of the plating metal layer is flattened by pressurizing with a press member with a predetermined pressure. A method for manufacturing a liquid jet head.
前記めっき金属層の表面をプレス部材で加圧することで、前記めっき金属層の表面に形成される当該めっき金属層と同一材料からなる凸部を平坦化することを特徴とする請求項1に記載の液体噴射ヘッドの製造方法。   The convex part which consists of the same material as the said plating metal layer formed in the surface of the said plating metal layer is planarized by pressurizing the surface of the said plating metal layer with a press member. Manufacturing method of the liquid jet head of the present invention. 前記流路形成基板の一方面側に前記圧電素子を形成する工程と、前記配線パターンが形成された前記接合基板を前記流路形成基板に接合する工程と、前記流路形成基板に前記圧力発生室を形成する工程とを有し、
前記接合基板を前記流路形成基板に接合する工程では、プレス部材によって前記接合基板を前記流路形成基板側に加圧することで接着すると共に前記めっき金属層の表面を平坦化することを特徴とする請求項1又は2に記載の液体噴射ヘッドの製造方法。
Forming the piezoelectric element on one surface side of the flow path forming substrate, bonding the bonding substrate on which the wiring pattern is formed to the flow path forming substrate, and generating the pressure on the flow path forming substrate. Forming a chamber,
In the step of bonding the bonding substrate to the flow path forming substrate, the bonding substrate is bonded to the flow path forming substrate side by pressing with a press member, and the surface of the plated metal layer is flattened. The method of manufacturing a liquid jet head according to claim 1.
前記めっき金属層が金からなることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法。   The method of manufacturing a liquid jet head according to claim 1, wherein the plated metal layer is made of gold. 前記接合基板がシリコンウェハからなる接合基板用ウェハに複数一体的に形成され、前記めっき金属層の表面を平坦化する際には、前記接合基板用ウェハ上に形成された前記めっき金属層を50〜300(kgf)の荷重で加圧すること特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法。   When the bonding substrate is integrally formed on a bonding substrate wafer made of a silicon wafer and the surface of the plating metal layer is flattened, the plating metal layer formed on the bonding substrate wafer is 50 The method of manufacturing a liquid jet head according to claim 1, wherein pressurization is performed with a load of ˜300 (kgf). 前記配線パターン上に、前記圧電素子を駆動するための駆動回路を実装すると共に、該駆動回路と前記配線パターンとをワイヤボンディングによって電気的に接続することを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法。   6. A driving circuit for driving the piezoelectric element is mounted on the wiring pattern, and the driving circuit and the wiring pattern are electrically connected by wire bonding. A method for manufacturing a liquid jet head according to claim 1.
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