JP2008186749A - Method of forming display member - Google Patents

Method of forming display member Download PDF

Info

Publication number
JP2008186749A
JP2008186749A JP2007020664A JP2007020664A JP2008186749A JP 2008186749 A JP2008186749 A JP 2008186749A JP 2007020664 A JP2007020664 A JP 2007020664A JP 2007020664 A JP2007020664 A JP 2007020664A JP 2008186749 A JP2008186749 A JP 2008186749A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dielectric layer
volume
particles
raw material
glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2007020664A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Kobayashi
康宏 小林
Manabu Kawasaki
学 川▲さき▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toray Industries Inc filed Critical Toray Industries Inc
Priority to JP2007020664A priority Critical patent/JP2008186749A/en
Publication of JP2008186749A publication Critical patent/JP2008186749A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a display member having a thin dielectric layer of high withstanding voltage over an electrode pattern formed on a substrate. <P>SOLUTION: The dielectric layer is formed by an aerosol deposition method using a raw material including aluminum oxide particles of a purity of 98% or more by weight as the principal ingredient. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネル(以下PDPとする)、電界放射ディスプレイ(以下FEDとする)などの平面ディスプレイに用いる誘電体層の形成方法に関するものである。   The present invention relates to a method for forming a dielectric layer used in a flat display such as a plasma display panel (hereinafter referred to as PDP) or a field emission display (hereinafter referred to as FED).

近年、PDP、FED、蛍光表示管、液晶表示装置、エレクトロルミネッセンスディスプレイ、発光ダイオードなどの平面ディスプレイの開発が急速に進められている。このうち、PDPは、前面ガラス基板と背面ガラス基板との間に備えられた放電空間内で対向するアノード電極とカソード電極間にプラズマ放電を生じさせ、上記放電空間内に封入されているガスから発生した紫外線を、放電空間内に設けた蛍光体に照射することにより表示を行うものである。FEDは、ゲート電極−カソード間に印加された電圧により電界放射された電子が、アノードに向かって進行し、カソード−アノード間に存在する蛍光体に衝突することにより表示を行うものである。PDPや蛍光表示管などのガス放電タイプのディスプレイは、各駆動電極(維持・放電電極、アドレス電極)間、及び、電極と放電空間を絶縁し、放電を維持するための誘電体層を必要とする。また、FEDなどの電界放射型ディスプレイは、ゲート電極とカソードを絶縁するための誘電体層を必要とする。これらPDPやFEDなどの誘電体層においては、電極間を絶縁するために高い耐電圧特性が要求される。また、PDP前面板誘電体層においては、輝度向上のために放電電極との反応による着色(黄変)を防ぎ、高い透明性を実現することが要求される。   In recent years, development of flat displays such as PDPs, FEDs, fluorescent display tubes, liquid crystal display devices, electroluminescence displays, and light emitting diodes has been rapidly advanced. Among these, the PDP causes plasma discharge between the anode electrode and the cathode electrode facing each other in the discharge space provided between the front glass substrate and the rear glass substrate, and from the gas sealed in the discharge space. Display is performed by irradiating the generated ultraviolet rays to a phosphor provided in the discharge space. In the FED, display is performed when electrons radiated by a voltage applied between a gate electrode and a cathode travel toward an anode and collide with a phosphor existing between the cathode and the anode. Gas discharge type displays such as PDPs and fluorescent display tubes require dielectric layers between the drive electrodes (sustain / discharge electrodes, address electrodes) and between the electrodes and the discharge space to maintain the discharge. To do. In addition, a field emission display such as an FED requires a dielectric layer for insulating the gate electrode and the cathode. These dielectric layers such as PDP and FED are required to have high withstand voltage characteristics in order to insulate the electrodes. In addition, the PDP front plate dielectric layer is required to prevent coloring (yellowing) due to reaction with the discharge electrode and to achieve high transparency in order to improve luminance.

従来、このような誘電体層を形成する方法として、ガラス粉末と有機バインダーを主成分とする誘電体ガラスペーストを、ダイコーター、スクリーン印刷などにより所定の膜厚に塗布した後、焼成する方法が知られている。しかし、本手法では誘電体ガラスの組成によっては電極との反応により誘電体層が着色(黄変)しやすくなることや焼成時に発生する気泡による欠陥を生じやすいという問題がある。これを防ぐため、高軟化点ガラスを下層、低軟化点ガラスを上層とした二層構造の誘電体層を形成する方法が提案されている(特許文献1参照)。この手法では、膜厚を40μm程度と厚くする必要があるため、PDP前面板用としては透明性が十分でなく、また材料コストが高くなってしまうという問題があった。さらに、塗布・乾燥・焼成プロセス数の増大により生産性が良くない。一方、ガラスペーストを用いない形成方法が検討されており、例えば、誘電体層としてシリカ薄膜をプラズマ化学蒸着(プラズマCVD)法により形成する方法が提案されている(特許文献2参照)。しかし、この方法においては、厚膜化が困難であるため、十分な耐電圧を得ることができないという問題があった。
特開2005−317247号公報 特開2000−021304号公報
Conventionally, as a method for forming such a dielectric layer, there is a method in which a dielectric glass paste mainly composed of glass powder and an organic binder is applied to a predetermined film thickness by a die coater, screen printing or the like and then baked. Are known. However, in this method, depending on the composition of the dielectric glass, there is a problem that the dielectric layer is likely to be colored (yellowing) due to reaction with the electrode, and defects due to bubbles generated during firing are likely to occur. In order to prevent this, a method of forming a dielectric layer having a two-layer structure in which a high softening point glass is a lower layer and a low softening point glass is an upper layer has been proposed (see Patent Document 1). In this method, since it is necessary to increase the film thickness to about 40 μm, there is a problem that the transparency is not sufficient for the PDP front plate and the material cost is increased. Furthermore, productivity is not good due to an increase in the number of coating / drying / firing processes. On the other hand, formation methods that do not use glass paste have been studied. For example, a method of forming a silica thin film as a dielectric layer by a plasma chemical vapor deposition (plasma CVD) method has been proposed (see Patent Document 2). However, this method has a problem that a sufficient withstand voltage cannot be obtained because it is difficult to increase the film thickness.
JP 2005-317247 A JP 2000-021304 A

そこで本発明は、上記従来技術の問題点に着目し、高性能なディスプレイ部材を実現、提供することにある。具体的には、基板上に形成した電極パターン上に膜厚が薄く、耐電圧が高く、黄変のないディスプレイ用誘電体層の形成方法を提供することを課題とする。   Accordingly, the present invention aims to realize and provide a high-performance display member by paying attention to the problems of the prior art. Specifically, it is an object of the present invention to provide a method for forming a dielectric layer for a display having a thin film thickness, a high withstand voltage, and no yellowing on an electrode pattern formed on a substrate.

上記課題を解決するために本発明は以下の構成を有する。
(1)基板上に電極パターンおよび該電極パターンを覆う誘電体層を有するディスプレイ用部材の製造方法であって、純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜100体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により誘電体層を形成することを特徴とするディスプレイ用部材の製造方法。
(2)前記誘電体層の形成に用いる原料が酸化ジルコニウム粒子または酸化ストロンチウム粒子を5〜20体積%含む(1)記載のディスプレイ用部材の製造方法。
(3)前記誘電体層の形成に用いる原料がガラス粒子を5〜20体積%含む(1)または(2)記載のディスプレイ用部材の製造方法。
(4)(1)〜(3)のいずれかに記載の方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらに純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜100体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により第2の誘電体層を形成するディスプレイ用部材の製造方法。
(5)前記第2の誘電体層の形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度が、前記第1の誘電体層の形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度よりも大きい(4)記載のディスプレイ用部材の製造方法。
(6)(1)〜(3)のいずれかに記載の方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらに純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜95体積%、ガラス粒子を5〜20体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により第2の誘電体層を形成し、前記第2の誘電体層の形成に用いる原料中のガラス粒子の体積濃度が、前記第1の誘電体層の形成に用いる原料中のガラス粒子の体積濃度よりも大きいディスプレイ用部材の製造方法。
(7)(1)〜(3)のいずれかの方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらにガラス粉末と有機成分を含むガラスペーストを塗布し、焼成することにより第2の誘電体層を形成するディスプレイ用部材の製造方法。
In order to solve the above problems, the present invention has the following configuration.
(1) A method for producing a display member having an electrode pattern and a dielectric layer covering the electrode pattern on a substrate, wherein an aerosol is produced using a raw material containing 80 to 100% by volume of aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more A method for producing a display member, comprising forming a dielectric layer by a deposition method.
(2) The method for manufacturing a display member according to (1), wherein the raw material used for forming the dielectric layer contains 5 to 20 vol% of zirconium oxide particles or strontium oxide particles.
(3) The method for producing a display member according to (1) or (2), wherein the raw material used for forming the dielectric layer contains 5 to 20% by volume of glass particles.
(4) A first dielectric layer is formed by the method described in any one of (1) to (3), and aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more are further added on the first dielectric layer to 80%. A method for producing a display member, wherein a second dielectric layer is formed by an aerosol deposition method using a raw material containing ~ 100% by volume.
(5) The volume-based concentration of aluminum oxide particles in the raw material used for forming the second dielectric layer is greater than the volume-based concentration of aluminum oxide particles in the raw material used for forming the first dielectric layer. (4) The manufacturing method of the member for a display as described in (4).
(6) A first dielectric layer is formed by the method described in any one of (1) to (3), and aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more are further added on the first dielectric layer. The second dielectric layer is formed by an aerosol deposition method using a raw material containing ~ 95% by volume and 5-20% by volume of glass particles, and the glass particles in the raw material used for forming the second dielectric layer A method for producing a display member, wherein a volume concentration is larger than a volume concentration of glass particles in a raw material used for forming the first dielectric layer.
(7) A first dielectric layer is formed by any one of the methods (1) to (3), and a glass paste further containing glass powder and an organic component is applied on the first dielectric layer, A method for manufacturing a display member, wherein the second dielectric layer is formed by firing.

本発明によれば、特定の原料を用いたエアロゾルデポジション法により誘電体層を形成することによって、基板上に形成した電極パターン上に、膜厚が薄く、耐電圧が高く、黄変のない誘電体層を形成できる。それゆえ、高性能なディスプレイ用部材を実現、提供できる。   According to the present invention, by forming a dielectric layer by an aerosol deposition method using a specific raw material, a thin film thickness, high withstand voltage, and no yellowing are formed on an electrode pattern formed on a substrate. A dielectric layer can be formed. Therefore, a high-performance display member can be realized and provided.

本発明に用いる基板としては、ソーダガラスや耐熱ガラスである“PP8”(日本電気硝子株式会社製)、“PD200”(旭硝子株式会社製)を用いることができる。ガラス基板のサイズは特に限定はなく、厚みは1〜5mmのものを用いることができる。   As the substrate used in the present invention, soda glass or heat-resistant glass “PP8” (manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) or “PD200” (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) can be used. The size of the glass substrate is not particularly limited, and a glass substrate having a thickness of 1 to 5 mm can be used.

本発明では、基板上に形成した電極パターン上に、特定の粒子を用いてエアロゾルデポジション法により誘電体層を形成することが必須である。   In the present invention, it is essential to form a dielectric layer by an aerosol deposition method using specific particles on an electrode pattern formed on a substrate.

本発明における電極パターンについて説明する。PDP前面板における電極パターンは、例えば、酸化インジウム錫(ITO)、酸化錫、酸化亜鉛などの導電性金属酸化物からなる幅広の透明電極上に、細幅の銀またはクロム−銅−クロム電極を積層させた構成を有する。PDP背面板、FEDにおける電極パターンは、例えば、銀、銅、金、クロム、チタン、アルミニウム、モリブデン、タングステン、ニオブ、酸化錫、酸化インジウム、酸化インジウム錫(ITO)、酸化亜鉛、酸化アンチモン、酸化アンチモン錫、などの金属または金属酸化物からなる。電極パターンの形成は、印刷法、スラリー法、蒸着法、スパッタリング、スリットダイコーター、スピンコーティング等の成膜技術を利用し、例えばフォトリソグラフィー法により所望のパターンを形成する。   The electrode pattern in the present invention will be described. The electrode pattern on the PDP front plate is, for example, a narrow silver or chromium-copper-chromium electrode on a wide transparent electrode made of a conductive metal oxide such as indium tin oxide (ITO), tin oxide, zinc oxide. It has a laminated structure. The electrode patterns in the PDP back plate and FED are, for example, silver, copper, gold, chromium, titanium, aluminum, molybdenum, tungsten, niobium, tin oxide, indium oxide, indium tin oxide (ITO), zinc oxide, antimony oxide, oxide It consists of metals or metal oxides such as antimony tin. The electrode pattern is formed using a film forming technique such as a printing method, a slurry method, a vapor deposition method, sputtering, a slit die coater, or a spin coating, and a desired pattern is formed by, for example, a photolithography method.

本発明におけるエアロゾルデポジション法とは、キャリアガスと粒子を撹拌・混合しエアロゾル化した後に、エアロゾルをノズルから基板に高速衝突・堆積させることにより成膜する手法である。図1は、本発明のディスプレイ部材の製造方法に用いる誘電体層形成装置の模式図である。この誘電体層形成装置は、誘電体層形成ユニット1とエアロゾル発生ユニット2とを有している。エアロゾル発生ユニット2で原料となる粒子のエアロゾル化が行なわれ、誘電体層形成ユニット1でエアロゾル化した粒子を高速衝突・堆積させ、誘電体層が形成される。エアロゾル発生ユニット2は、原料となる粒子を内部に有するエアロゾル発生器3と、エアロゾル発生器3内で粒子とキャリアガスとを撹拌・混合しエアロゾルを発生させるために用いられるキャリアガス用の高圧ガスボンベ4と、高圧ガスボンベ4とエアロゾル発生器3を繋ぐガス搬送管5と、エアロゾル発生器3とノズル7を繋ぐエアロゾル搬送管6とを有している。ノズル7の噴射口は基板と対向する向きに誘電体層形成室8に配設されている。ノズル7は固定されており、基板をのせたステージ9を動かすことにより、基板上の決められた範囲を成膜することができる。本手法においては、粒子をエアロゾル化できるのであれば、焼成処理を行わなくても緻密で安定した性能を有する誘電体層が形成される。   The aerosol deposition method in the present invention is a technique for forming a film by agitating and mixing a carrier gas and particles to form an aerosol and then colliding and depositing the aerosol from a nozzle on a substrate at high speed. FIG. 1 is a schematic view of a dielectric layer forming apparatus used in the method for producing a display member of the present invention. This dielectric layer forming apparatus has a dielectric layer forming unit 1 and an aerosol generating unit 2. The aerosol generation unit 2 performs aerosolization of the particles as a raw material, and the particles formed by the aerosol in the dielectric layer forming unit 1 are collided and deposited at high speed to form a dielectric layer. The aerosol generating unit 2 includes an aerosol generator 3 having particles as raw materials therein, and a high-pressure gas cylinder for carrier gas used to generate the aerosol by stirring and mixing the particles and the carrier gas in the aerosol generator 3. 4, a gas transport pipe 5 that connects the high-pressure gas cylinder 4 and the aerosol generator 3, and an aerosol transport pipe 6 that connects the aerosol generator 3 and the nozzle 7. The injection port of the nozzle 7 is disposed in the dielectric layer forming chamber 8 so as to face the substrate. The nozzle 7 is fixed, and a predetermined range on the substrate can be formed by moving the stage 9 on which the substrate is placed. In this method, if the particles can be aerosolized, a dielectric layer having a dense and stable performance can be formed without firing.

キャリアガスとしては、窒素や酸素、乾燥空気、炭酸ガスが好ましい。ヘリウム等の希ガス類は、粒子衝突時に放電が起きやすく、透明性の高い誘電体層を得ることが困難となる場合があり好ましくない。   As the carrier gas, nitrogen, oxygen, dry air, or carbon dioxide gas is preferable. A rare gas such as helium is not preferable because discharge is likely to occur at the time of particle collision, and it may be difficult to obtain a highly transparent dielectric layer.

誘電体層形成室8内は、0.1〜1000Paに減圧することが好ましい。0.1Pa未満の場合は、設定した減圧度に達するまでに時間がかかり生産性が低下する場合がある。1000Paを越えた場合は、粒子の表面の新生面が別の微粒子の表面あるいは新生面に接触するまで、面の活性を保持することが困難となる場合がある。   The inside of the dielectric layer forming chamber 8 is preferably decompressed to 0.1 to 1000 Pa. If it is less than 0.1 Pa, it may take time to reach the set pressure reduction degree, and productivity may be reduced. When the pressure exceeds 1000 Pa, it may be difficult to maintain the activity of the surface until the new surface of the particle surface comes into contact with the surface of another fine particle or the new surface.

本発明において、エアロゾルデポジション法による誘電体層形成に用いる原料としては、酸化珪素粒子、酸化アルミニウム粒子、酸化ストロンチウム粒子、酸化ジルコニウム粒子などの金属酸化物粒子、あるいは、ガラス粒子を用いることができるが、主成分として純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を含む原料を用いることが必要である。原料として、純度98重量%以上の酸化アルミニウムを全原料中80〜100体積%含有することで、膜厚が薄く、かつ、耐電圧が高い誘電体層を実現できる。このような効果が得られる理由としては、酸化アルミニウム粒子そのものの耐電圧が高いこと、及び、エアロゾルデポジション法と酸化アルミニウム粒子の相性が良く緻密な膜を形成することが容易であるということが考えられる。   In the present invention, metal oxide particles such as silicon oxide particles, aluminum oxide particles, strontium oxide particles, zirconium oxide particles, or glass particles can be used as a raw material used for forming the dielectric layer by the aerosol deposition method. However, it is necessary to use a raw material containing aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more as a main component. By containing 80 to 100% by volume of aluminum oxide having a purity of 98% by weight or more as a raw material, a dielectric layer having a thin film thickness and a high withstand voltage can be realized. The reason why such an effect can be obtained is that the withstand voltage of the aluminum oxide particles themselves is high, and that it is easy to form a dense film with good compatibility between the aerosol deposition method and the aluminum oxide particles. Conceivable.

さらに、副成分として酸化ストロンチウム粒子、酸化ジルコニウム粒子から選ばれる少なくとも1種の粒子を全粒子中5〜20体積%含有することで、形成した誘電体層の耐電圧を向上させる効果が得られる。   Furthermore, the effect of improving the withstand voltage of the formed dielectric layer can be obtained by containing 5 to 20% by volume of at least one particle selected from strontium oxide particles and zirconium oxide particles as a subcomponent.

また、副成分としてガラス粒子を全粒子中5〜20体積%以下含有することで、形成した誘電体層の透過率を向上させる効果が得られる。   Moreover, the effect which improves the transmittance | permeability of the formed dielectric material layer is acquired by containing 5-20 volume% or less of glass particles in all the particles as a subcomponent.

本発明で用いる酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化ストロンチウム粒子の粒子径は、重量分布曲線における50%粒子径(平均粒子径)d50が0.1μm以上2.0μm以下、かつ、最大粒子径dmaxが3.0μm以下であることが好ましい。平均粒子径が0.1μmより小さくなると、基板衝突時の運動エネルギーが小さいため緻密な誘電体層が得られにくく、好ましくない。また、平均粒子径が2.0μmより大きくなる、あるいは、最大粒子径が3.0μmより大きくなると、形成された誘電体層が表面平滑性に劣るため、好ましくない。粒子の平均粒子径d50及び最大粒子径dmaxは、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置(例えば、日機装製「MT3300」)などの測定装置により測定することができる。 The particle diameters of the aluminum oxide, zirconium oxide, and strontium oxide particles used in the present invention are 50% particle diameter (average particle diameter) d 50 in the weight distribution curve of 0.1 μm to 2.0 μm and the maximum particle diameter d max. Is preferably 3.0 μm or less. If the average particle diameter is smaller than 0.1 μm, the kinetic energy at the time of substrate collision is small, and it is difficult to obtain a dense dielectric layer, which is not preferable. Moreover, when the average particle diameter is larger than 2.0 μm or the maximum particle diameter is larger than 3.0 μm, the formed dielectric layer is inferior in surface smoothness, which is not preferable. The average particle diameter d 50 and the maximum particle diameter d max of the particles can be measured by a measuring apparatus such as a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus (for example, “MT3300” manufactured by Nikkiso).

本発明でエアロゾルデポジション法に用いるガラス粒子の粒子径は、d50が0.5μm以上5.0μm以下、かつ、最大粒子径dmaxが10.0μm以下であることが好ましい。平均粒子径が0.5μmより小さくなると、基板衝突時の運動エネルギーが小さいため緻密な誘電体層が得られにくく、好ましくない。また、平均粒子径が5.0μmより大きくなる、あるいは、最大粒子径が10.0μmより大きくなると、形成された誘電体層が表面平滑性に劣るため、好ましくない。 As for the particle diameter of the glass particles used in the aerosol deposition method in the present invention, d 50 is preferably 0.5 μm or more and 5.0 μm or less, and the maximum particle diameter d max is preferably 10.0 μm or less. If the average particle diameter is smaller than 0.5 μm, the kinetic energy at the time of substrate collision is small, and it is difficult to obtain a dense dielectric layer, which is not preferable. On the other hand, when the average particle diameter is larger than 5.0 μm or the maximum particle diameter is larger than 10.0 μm, the formed dielectric layer is inferior in surface smoothness, which is not preferable.

本発明で用いる酸化アルミニウム粒子の純度は98重量%以上であることが必要である。純度98重量%未満では、不純物の影響により緻密な誘電体層が得られないため、耐電圧及び透過率が低くなり、特にPDP前面板用途において好ましくない。粒子の純度は、例えば誘導結合プラズマ発光分光分析装置によって分析できる。   The purity of the aluminum oxide particles used in the present invention needs to be 98% by weight or more. If the purity is less than 98% by weight, a dense dielectric layer cannot be obtained due to the influence of impurities, so that the withstand voltage and the transmittance are lowered, which is not preferable particularly for the PDP front plate application. The purity of the particles can be analyzed by, for example, an inductively coupled plasma emission spectrometer.

本発明の他の様態として、基板上に形成された電極パターン上に2層構造の誘電体層を形成することも好ましい。2層構造とは、まず、基板上に形成された電極パターン上にエアロゾルデポジション法によって第1の誘電体層を形成し、さらに、該第1の誘電体層上に、第2の誘電体層を形成することにより、形成される構造である。2層構造の誘電体層を形成することにより、例えば、第1の誘電体層には黄変を抑制する効果をもつ誘電体層を形成し、第2の誘電体層には透明性の高い誘電体層を形成することで、耐電圧、透過率ともに向上させることができるなどの利点が考えられる。   As another aspect of the present invention, it is also preferable to form a dielectric layer having a two-layer structure on an electrode pattern formed on a substrate. In the two-layer structure, first, a first dielectric layer is formed on an electrode pattern formed on a substrate by an aerosol deposition method, and then a second dielectric is formed on the first dielectric layer. It is a structure formed by forming a layer. By forming a dielectric layer having a two-layer structure, for example, a dielectric layer having an effect of suppressing yellowing is formed on the first dielectric layer, and the second dielectric layer has high transparency. By forming the dielectric layer, it is conceivable that both withstand voltage and transmittance can be improved.

2層構造の誘電体層として、第1の誘電体層、第2の誘電体層ともに上述のエアロゾルデポジション法で形成することが好ましい。   It is preferable that the first dielectric layer and the second dielectric layer are both formed by the above-described aerosol deposition method as the two-layered dielectric layer.

この場合、特に黄変抑制や電極を構成する金属元素のマイグレーション防止のため、第2の誘電体層形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度を、第1の誘電体層形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度よりも大きくするとよい。   In this case, the volume-based concentration of the aluminum oxide particles in the raw material used for forming the second dielectric layer is used for the formation of the first dielectric layer, particularly in order to suppress yellowing and prevent migration of the metal element constituting the electrode. The concentration may be larger than the volume-based concentration of aluminum oxide particles in the raw material to be used.

また、第1の誘電体層で黄変抑制や電極を構成する金属元素のマイグレーション防止をし、第2の誘電体層で高い透過率及び表面平滑性を実現するため、第2の誘電体層形成に用いられる粒子に含まれるガラス粒子の体積濃度を、第1の誘電体層形成に用いられる粒子に含まれるガラス粒子の体積濃度よりも大きくするとよい。   In addition, the second dielectric layer is used to suppress yellowing and prevent migration of metal elements constituting the electrode with the first dielectric layer, and to achieve high transmittance and surface smoothness with the second dielectric layer. The volume concentration of the glass particles contained in the particles used for the formation may be larger than the volume concentration of the glass particles contained in the particles used for forming the first dielectric layer.

2層構造の誘電体層の形成においては、従来のガラスペースト法との組み合わせも可能である。例えば、第1の誘電体層を上述のエアロゾルデポジション法により形成し、第2の誘電体層をガラスペーストを用いて形成することなどが挙げられる。第1の誘電体層を上述のエアロゾルデポジション法で行うことによって黄変を防ぐことができ、エアロゾルデポジション法による第1の誘電体層とガラスペースト法による第2の誘電体層からなる2層構成の誘電体層とすることによって、エアロゾルデポジション法による第1の誘電体層が比較的薄くても高い耐電圧を示し、かつ透過率の高い誘電体層を得ることができる。   In forming a dielectric layer having a two-layer structure, a combination with a conventional glass paste method is also possible. For example, the first dielectric layer may be formed by the above-described aerosol deposition method, and the second dielectric layer may be formed using a glass paste. Yellowing can be prevented by performing the first dielectric layer by the above-described aerosol deposition method, and the first dielectric layer is composed of the first dielectric layer by the aerosol deposition method and the second dielectric layer by the glass paste method. By using a dielectric layer having a layer structure, a dielectric layer having high withstand voltage and high transmittance can be obtained even when the first dielectric layer formed by the aerosol deposition method is relatively thin.

本発明で用いるガラスペーストとは、無機成分としてガラス粉末、有機成分としてバインダーポリマー、有機溶媒を含むものであり、さらに必要に応じてフィラー粉末、酸化防止剤、分散剤、可塑剤、有機あるいは無機の沈殿防止剤やレベリング剤等の添加成分を加えても良い。   The glass paste used in the present invention includes glass powder as an inorganic component, a binder polymer and an organic solvent as organic components, and further, filler powder, antioxidant, dispersant, plasticizer, organic or inorganic as necessary. Additional components such as suspending agents and leveling agents may be added.

ガラス粉末としては、低軟化点ガラス粉末であることが好ましく、公知のガラス絶縁材料が適用できるが、例えば鉛ホウ珪酸ガラスや、ビスマスホウ珪酸、亜鉛ホウ珪酸などの高い透明性を示すガラスを用いることができる。本発明において低軟化点ガラス粉末とは、軟化点が400〜600℃の範囲であるガラス粉末を指す。具体的には、ガラス粉末が少なくとも酸化鉛、酸化ビスマス、酸化亜鉛のいずれかを含有し、その合計量が酸化物換算で40〜80重量%の組成範囲からなるものが挙げられる。ガラス粉末の軟化点は、TMA(熱機械分析)により測定することができる。   The glass powder is preferably a low softening point glass powder, and a known glass insulating material can be applied. For example, lead borosilicate glass, bismuth borosilicate glass, or glass showing high transparency such as zinc borosilicate should be used. Can do. In the present invention, the low softening point glass powder refers to a glass powder having a softening point in the range of 400 to 600 ° C. Specifically, the glass powder contains at least any one of lead oxide, bismuth oxide, and zinc oxide, and the total amount is 40 to 80% by weight in terms of oxide. The softening point of the glass powder can be measured by TMA (thermomechanical analysis).

バインダーポリマーとしては、焼成時に酸化または/および分解または/および気化し、炭化物が無機物中に残存しない特性をもつことが好ましい。この特性を満たす物として、例えば、メチルセルロース、エチルセルロース等のセルロース化合物、高分子量ポリエーテル、アクリル系樹脂などを用いることができる。セルロース化合物とは、例えばメチルセルロース、エチルセルロースなどをさし、アクリル系樹脂とは、例えば、メチルアクリレート、メチルメタクリレート、ブチルメタクリレート、エチルアクリレート、エチルメタクリレート、イソプロピルアクリレート、イソプロピルメタアクリレート、イソブチルアクリレート、イソブチルメタクリレートなどの重合体もしくは共重合体からなる樹脂を挙げることができる。   As the binder polymer, it is preferable that the binder polymer has a characteristic that it is oxidized or / and decomposed or / and vaporized at the time of firing so that the carbide does not remain in the inorganic substance. For example, cellulose compounds such as methyl cellulose and ethyl cellulose, high molecular weight polyethers, acrylic resins, and the like can be used as materials satisfying these characteristics. The cellulose compound refers to, for example, methyl cellulose, ethyl cellulose, and the acrylic resin refers to, for example, methyl acrylate, methyl methacrylate, butyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, isopropyl acrylate, isopropyl methacrylate, isobutyl acrylate, isobutyl methacrylate, etc. And a resin comprising a polymer or a copolymer.

有機溶媒は、ガラスペーストを基板に塗布する時の粘度を塗布方法に応じて調整するために使用される。このとき使用される有機溶媒としては、例えば、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルエチルケトン、ジオキサン、アセトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、イソブチルアルコール、イソプロピルアルコール、テルピネオール、テトラヒドロフラン、ジメチルスルフォキシド、γ−ブチロラクトン、ブロモベンゼン、クロロベンゼン、ジブロモベンゼン、ジクロロベンゼン、ブロモ安息香酸、クロロ安息香酸などやこれらのうちの1種以上を含有する有機溶媒混合物が挙げられる。   The organic solvent is used to adjust the viscosity when the glass paste is applied to the substrate according to the application method. Examples of the organic solvent used at this time include, for example, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, terpineol, tetrahydrofuran, dimethyl sulfoxide, and γ-butyrolactone. , Bromobenzene, chlorobenzene, dibromobenzene, dichlorobenzene, bromobenzoic acid, chlorobenzoic acid, and the like, and organic solvent mixtures containing one or more of these.

本発明のガラスペーストには、フィラー粉末を添加することができる。本発明におけるフィラー粉末とは、誘電体層の強度を改善するために添加されるものであり、焼成温度でも溶融流動しにくい無機粒子を指す。具体的には、600℃以下で軟化点や融点、分解温度を有さず、600℃において固体として存在するような無機粒子をいう。フィラー粉末として、軟化点が650〜1200℃である高軟化点ガラス粉末や、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、酸化チタンなどの金属酸化物粉末から選ばれた少なくとも1種を添加することができる。本発明においては、ガラス粉末とフィラー粉末の割合が、ガラス粉末70〜100体積%、フィラー粉末0〜30体積%であることが好ましい。フィラー粉末を含有することで、焼成による収縮を抑制し、焼成後に突起異物がなく、強度に優れた誘電体層を形成できる。フィラー粉末が30体積%より多いと、焼成時の焼結が困難になり、焼成後の誘電体層の空隙率が大きくなる傾向があるため好ましくない。   Filler powder can be added to the glass paste of the present invention. The filler powder in the present invention is added to improve the strength of the dielectric layer, and refers to inorganic particles that hardly melt and flow even at the firing temperature. Specifically, it refers to an inorganic particle that does not have a softening point, a melting point, or a decomposition temperature at 600 ° C. or less and exists as a solid at 600 ° C. As the filler powder, at least one selected from a high softening point glass powder having a softening point of 650 to 1200 ° C. and a metal oxide powder such as aluminum oxide, silicon oxide, magnesium oxide, zirconium oxide, and titanium oxide is added. be able to. In this invention, it is preferable that the ratio of glass powder and filler powder is 70-100 volume% of glass powder and 0-30 volume% of filler powder. By containing the filler powder, shrinkage due to firing can be suppressed, and there can be formed a dielectric layer having no protruding foreign matter and excellent in strength after firing. When the filler powder is more than 30% by volume, sintering during firing becomes difficult, and the porosity of the dielectric layer after firing tends to increase, which is not preferable.

ガラスペーストによる誘電体層の形成方法は特に限定されないが、例えば,スクリーン印刷、バーコーター、ロールコーター、ダイコーター、ブレードコーター、スピンコーターなどにより、エアロゾルデポジション法により形成された第1の誘電体層上にガラスペーストを塗布した後、通風オーブン、ホットプレート、赤外線乾燥炉、真空乾燥など任意なものを用いて、ペースト中の有機溶媒に応じて異なるが、一般的には、70〜250℃で5〜60分間乾燥し、厚膜を形成することができる。次に焼成炉にて焼成を行う。焼成雰囲気や温度は、ペーストや基板の種類により異なるが、空気中や窒素、水素等の雰囲気下で焼成する。焼成炉としては、バッチ式の焼成炉やローラー搬送式の連続型焼成炉を用いることができる。焼成温度は、使用する樹脂が十分に脱バインダーする温度で行うのがよい。一般的には、430〜650℃で焼成を行う。焼成温度が低すぎると樹脂成分が残存しやすく、高すぎるとガラス基板に歪みが生じ割れてしまうことがあり好ましくない。本発明においては、エアロゾルデポジション法により形成した誘電体層を焼成してもよい。   The method for forming the dielectric layer using glass paste is not particularly limited. For example, the first dielectric formed by the aerosol deposition method using screen printing, bar coater, roll coater, die coater, blade coater, spin coater, or the like. After applying the glass paste on the layer, it varies depending on the organic solvent in the paste using an optional oven such as a ventilated oven, hot plate, infrared drying oven, vacuum drying, etc., but generally 70 to 250 ° C. Can be dried for 5 to 60 minutes to form a thick film. Next, firing is performed in a firing furnace. The firing atmosphere and temperature vary depending on the type of paste and substrate, but firing is performed in air, in an atmosphere of nitrogen, hydrogen, or the like. As the firing furnace, a batch-type firing furnace or a roller conveyance type continuous firing furnace can be used. The baking temperature is preferably a temperature at which the resin to be used sufficiently debinds. Generally, baking is performed at 430 to 650 ° C. If the firing temperature is too low, the resin component tends to remain, and if it is too high, the glass substrate may be distorted and cracked. In the present invention, a dielectric layer formed by an aerosol deposition method may be fired.

PDP前面板は、上述の方法で基板上に形成した電極を覆う透明な誘電体層を形成し、その上に保護膜として酸化マグネシウム層を形成することで、PDP前面板を作製する。   The PDP front plate is formed by forming a transparent dielectric layer covering the electrodes formed on the substrate by the above-described method, and forming a magnesium oxide layer thereon as a protective film.

PDP背面板は、上述のように基板上に形成した電極を覆う誘電体層を形成し、その上に隔壁ペーストを用いて、スクリーン印刷法、サンドブラスト法、感光性ペースト法などの方法により、隔壁パターンを形成する。さらに、形成した隔壁間に蛍光体ペーストを、スクリーン印刷法、感光性ペースト法、ディスペンサー法などの方法により蛍光体層を形成することで、PDP背面板を作製する。   As described above, the PDP back plate is formed by forming a dielectric layer covering the electrode formed on the substrate as described above, and using a partition paste on the dielectric layer, by a method such as a screen printing method, a sand blast method, or a photosensitive paste method. Form a pattern. Further, a phosphor layer is formed between the formed barrier ribs by a method such as a screen printing method, a photosensitive paste method, or a dispenser method, thereby producing a PDP back plate.

FEDは、上述の方法で基板上に形成した電極を覆う誘電体層パターンを形成し、その上に金属物質の蒸着及びパターニング、あるいは、金属ペーストのスクリーン印刷によりゲート電極及びゲートホールを形成する。さらに、ゲート電極上に、前記ゲート電極と同様の形成方法により、収束電極を形成し、ゲートホールにスクリーン印刷法、スラリー法、ダイコーター法などにより、電界放射源を形成することで、FEDカソード基板を作製する。   The FED forms a dielectric layer pattern that covers the electrode formed on the substrate by the above-described method, and forms a gate electrode and a gate hole thereon by vapor deposition and patterning of a metal material or screen printing of a metal paste. Further, a focusing electrode is formed on the gate electrode by the same formation method as the gate electrode, and a field emission source is formed in the gate hole by a screen printing method, a slurry method, a die coater method, etc. A substrate is produced.

以下に本発明について実施例を用いて具体的に説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではない。エアロゾルデポジション法における誘電体層形成条件、ガラスペーストの作製方法、基板の作製方法、形成した誘電体層の評価方法について説明する。
(エアロゾルデポジション法における誘電体層形成条件)
実施例記載のエアロゾルデポジション法による誘電体層形成条件は下記の通りである。
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. However, the present invention is not limited to this. The dielectric layer formation conditions in the aerosol deposition method, the glass paste preparation method, the substrate preparation method, and the evaluation method of the formed dielectric layer will be described.
(Conditions for forming the dielectric layer in the aerosol deposition method)
The dielectric layer formation conditions by the aerosol deposition method described in the examples are as follows.

誘電体層形成範囲:30mm×30mm
使用ノズル:幅30mm×0.3mmスリットノズル
到達圧力:11Pa
キャリアガス:窒素
ノズルギャップ:13mm
ステージ移動速度:4mm/sec
膜厚:粒子の吐出時間により調整
原料:表1記載の粒子
Dielectric layer formation range: 30 mm x 30 mm
Used nozzle: width 30 mm x 0.3 mm slit nozzle Ultimate pressure: 11 Pa
Carrier gas: Nitrogen Nozzle gap: 13mm
Stage moving speed: 4mm / sec
Film thickness: adjusted by particle ejection time Raw material: Particles listed in Table 1

Figure 2008186749
Figure 2008186749

(ガラスペーストの作製方法)
バインダーポリマー、有機溶媒を混合、溶解し、その後、ガラス粒子を添加し、3本ローラーで混練することによってガラス粒子および有機成分からなるペーストを作成した。ペーストは塗布の前処理として、遠心脱泡機により脱泡した。各成分は、以下の組成を用いた。
(Production method of glass paste)
A binder polymer and an organic solvent were mixed and dissolved, then glass particles were added, and kneaded with three rollers to prepare a paste composed of glass particles and organic components. The paste was defoamed with a centrifugal defoamer as a pretreatment for application. The following compositions were used for each component.

バインダーポリマー: エチルセルロース樹脂、5.0重量%
有機溶媒:テルピネオール、50.0重量%
ガラス粒子:ガラス転移点459℃、軟化点561℃の亜鉛−硼素系ガラス(表1のD2)、45.0重量%
(基板の作製方法)
耐電圧測定及び透過率測定用として、5インチ角のガラス基板(PD−200;旭硝子株式会社製)上にITOをスパッタすることにより、ITO電極付き基板を作製した。
Binder polymer: Ethyl cellulose resin, 5.0% by weight
Organic solvent: Terpineol, 50.0% by weight
Glass particles: Zinc-boron glass (D2 in Table 1) having a glass transition point of 459 ° C and a softening point of 561 ° C, 45.0% by weight
(Manufacturing method of substrate)
A substrate with an ITO electrode was produced by sputtering ITO on a 5-inch square glass substrate (PD-200; manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) for withstand voltage measurement and transmittance measurement.

黄変評価用として、感光性銀ペーストを用いて銀電極パターンを形成した。感光性銀ペーストの組成は、次の通りとした。   For yellowing evaluation, a silver electrode pattern was formed using a photosensitive silver paste. The composition of the photosensitive silver paste was as follows.

銀粒子:三井金属鉱業株式会社製SPN10J、73.0重量%
ガラス粒子:ガラス転移点460℃、軟化点495℃のビスマスホウ珪酸ガラス、2.5重量%
バインダーポリマー:スチレン/メチルメタクリレート/メタクリル酸共重合体のカルボキシル基に対して0.4当量のグリシジルメタクリレートを付加反応し、重量平均分子量43000、酸価95のポリマー、16.5重量%
モノマー:トリメチロールプロパントリアクリレート、3.9重量%
重合開始剤:チバスペシャリティーケミカルズ株式会社製IC369、1.6重量%
分散剤:ソルスパース20000、0.5重量%
有機溶媒:ガンマブチロラクトン、2.0重量%
5インチ角のガラス基板上に、スクリーン印刷法(印刷版:SUS#325)により、感光性銀ペーストを塗布し、120℃で10分乾燥した。露光・現像により電極パターンを形成した後、最高温度590℃(最高温度保持時間18分)で焼成することにより、銀電極付き基板を作製した。
(形成した誘電体層の評価方法)
(耐電圧の測定方法)
実施例1〜10、及び比較例1〜3で得た誘電体層上に、銀ペースト(昭栄化学工業株式会社製 N−2051)を用いて、5mm×9mmの長方形の銀電極パターンを4箇所スクリーン印刷にて塗布し、乾燥、焼成することで耐電圧評価試料を作製した。耐電圧/絶縁抵抗試験器(菊水電子工業株式会社製、TOS9201)を用いて、試料のITO電極と銀電極間に交流電圧を2秒間印加し、そのときに流れる電流値が0.5μA未満である限り印加する電圧を徐々に上げていき、その電流値が0.5μA以上になる直前の電圧を形成した誘電体層の耐電圧とした。測定結果を表2に示す。耐電圧が1.3kV以上である場合を耐電圧が十分高いとし、耐電圧が1.3kV未満である場合を耐電圧が不十分であるとした。
(全光線透過率の測定方法)
実施例1〜10、及び比較例1〜3で得た誘電体層の全光線透過率(以下、透過率と略記する)を分光光度計(日立製作所株式会社製、U−3410)により測定した結果を表2に示す。透過率が70%以上である場合を透過率が高いとし、透過率が70%未満である場合を透過率が不十分であるとした。
(黄変の評価)
実施例1〜10、及び比較例1〜6で得た誘電体層について、分光測色計(ミノルタ製、CM−2002)によりb値を測定し、b値が5未満であれば○、b値が5以上であれば×として黄変を評価した。評価結果を表2に示す。
Silver particles: Mitsui Mining & Mining Co., Ltd. SPN10J, 73.0 wt%
Glass particles: bismuth borosilicate glass having a glass transition point of 460 ° C. and a softening point of 495 ° C., 2.5% by weight
Binder polymer: Addition reaction of 0.4 equivalent of glycidyl methacrylate to the carboxyl group of the styrene / methyl methacrylate / methacrylic acid copolymer, a polymer having a weight average molecular weight of 43,000 and an acid value of 95, 16.5% by weight
Monomer: Trimethylolpropane triacrylate, 3.9% by weight
Polymerization initiator: IC369 manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd., 1.6% by weight
Dispersant: Solsperse 20000, 0.5% by weight
Organic solvent: gamma butyrolactone, 2.0% by weight
A photosensitive silver paste was applied on a 5-inch square glass substrate by a screen printing method (printing plate: SUS # 325) and dried at 120 ° C. for 10 minutes. After forming an electrode pattern by exposure and development, a substrate with a silver electrode was prepared by firing at a maximum temperature of 590 ° C. (maximum temperature holding time of 18 minutes).
(Evaluation method of the formed dielectric layer)
(Measurement method of withstand voltage)
Four 5 mm × 9 mm rectangular silver electrode patterns were formed on the dielectric layers obtained in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 3 using a silver paste (N-2051 manufactured by Shoei Chemical Industry Co., Ltd.). The withstand voltage evaluation sample was produced by applying by screen printing, drying and firing. Using a withstand voltage / insulation resistance tester (KOSUI ELECTRONICS CO., LTD., TOS9201), an AC voltage was applied between the ITO electrode and silver electrode of the sample for 2 seconds, and the current value flowing at that time was less than 0.5 μA. The applied voltage was gradually increased as much as possible, and the withstand voltage of the dielectric layer on which the voltage immediately before the current value reached 0.5 μA or more was defined. The measurement results are shown in Table 2. When the withstand voltage is 1.3 kV or more, the withstand voltage is sufficiently high, and when the withstand voltage is less than 1.3 kV, the withstand voltage is insufficient.
(Measurement method of total light transmittance)
The total light transmittance (hereinafter abbreviated as transmittance) of the dielectric layers obtained in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 3 was measured with a spectrophotometer (manufactured by Hitachi, Ltd., U-3410). The results are shown in Table 2. When the transmittance is 70% or more, the transmittance is high, and when the transmittance is less than 70%, the transmittance is insufficient.
(Evaluation of yellowing)
For dielectric layers obtained in Examples 1-10, and Comparative Examples 1 to 6, spectrophotometer (Minolta, CM-2002) b * values measured by, if the b * value is less than 5 ○ When the b * value is 5 or more, yellowing was evaluated as x. The evaluation results are shown in Table 2.

Figure 2008186749
Figure 2008186749

表2中の形成法に示したADはエアロゾルデポジション法を表し、GPはガラスペースト法を表す。原料に示したA1、A2、B、C、D1、D2は表1記載の粒子を表す。
(実施例1)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより、ITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に酸化アルミニウムからなる膜厚15μmの誘電体層を得た。十分高い耐電圧を示し、高い透過率を示した。
(比較例1)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A2)を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。粒子の純度が低いため、耐電圧、透過率ともに不十分であった。
(比較例2)
上述のガラスペーストをITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に、スクリーン印刷法(印刷版:SUS#325)により52μmの塗布厚みになるように塗布を行い、100℃で15分乾燥した後、最高温度580℃(最高温度保持時間15分)で焼成し、ガラスからなる膜厚15μmの誘電体層を得た。十分高い透過率を示したが、耐電圧は不十分であった。さらに、誘電体層の黄変が見られた。
(実施例2)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中15体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。原料に耐電圧の高い酸化ジルコニウム粒子を含有するため、高い透過率を示し、実施例1よりも高い耐電圧を示した。
(比較例3)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中70体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中30体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。酸化アルミニウム粒子の体積濃度が80体積%以下であり、十分緻密な誘電体層が得られなかったため、耐電圧、透過率ともに不十分であった。
(実施例3)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ストロンチウム粒子(C)を全粒子中15体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。原料に耐電圧の高い酸化ストロンチウム粒子を含有するため、高い透過率を示し、実施例1よりも高い耐電圧を示した。
(実施例4)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中90体積%含み、かつ、ガラス粒子(D1)を全粒子中10体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。十分高い耐電圧を示し、高い透過率を示した。
(実施例5)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中10体積%含み、かつ、酸化ストロンチウム粒子(C)を全粒子中5体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。原料に耐電圧の高い酸化ジルコニウム粒子、酸化ストロンチウム粒子を含有するため、高い透過率を示し、実施例1よりも高い耐電圧を示した。
(実施例6)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中84体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中8体積%含み、かつ、ガラス粒子(D1)を全粒子中8体積%含む原料を用いた以外は、実施例1と同様に実施し、誘電体層を形成した。高い透過率を示し、実施例1よりも高い耐電圧を示した。
(実施例7)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中15体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより、ITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に第1の誘電体層を形成し、さらにその上に、誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ストロンチウム粒子(C)を全粒子中15体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより第2の誘電体層を形成し、膜厚15μmの2層構造の誘電体層を得た。原料に耐電圧の高い酸化ジルコニウム粒子、酸化ストロンチウム粒子を含有するため、高い透過率を示し、実施例1よりも高い耐電圧を示した。
(実施例8)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中82体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中18体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することによりITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に第1の誘電体層を形成し、さらにその上に、誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中95体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中5体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより第2の誘電体層を形成し、膜厚15μmの2層構造の誘電体層を得た。第1の誘電体層の原料に18体積%、第2の誘電体層の原料に5体積%の酸化ジルコニウム粒子を含有するため、第1の誘電体層で高い耐電圧が確保され、第2の誘電体層で高い透過率が確保され、実施例2、3、5、7の誘電体層と比べて、同等の耐電圧を示し、より高い透過率を示した。
(実施例9)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、酸化ジルコニウム粒子(B)を全粒子中10体積%含み、かつ、ガラス粒子(D1)を全粒子中5体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することによりITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に第1の誘電体層を形成し、さらにその上に、誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を全粒子中85体積%含み、かつ、ガラス粒子(D1)を全粒子中15体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより第2の誘電体層を形成し、膜厚15μmの2層構造の誘電体層を得た。第1の誘電体層の原料に5体積%、第2の誘電体層の原料に15体積%のガラス粒子を含有するため、実施例1〜3、5〜8よりも高い透過率を示した。
(実施例10)
誘電体の原料として酸化アルミニウム粒子(A1)を用いてエアロゾルデポジション法を実施することにより、ITO電極付き基板及び銀電極付き基板上に第1の誘電体層を形成し、さらにその上に、誘電体の原料としてガラスペーストを用いて、スクリーン印刷法により40μmの塗布厚みになるように塗布を行い、100℃で15分乾燥した後、最高温度580℃(最高温度保持時間15分)で焼成することで第2の誘電体層を形成し、膜厚15μmの2層構造の誘電体層を得た。第2の誘電体層はガラスペーストを用いて形成しているが、第1の誘電体層をエアロゾルデポジション法により形成しているため、高い耐電圧を維持したまま、実施例1〜9よりも高い透過率を示した。
AD shown in the formation method in Table 2 represents an aerosol deposition method, and GP represents a glass paste method. A1, A2, B, C, D1, and D2 shown in the raw materials represent the particles shown in Table 1.
(Example 1)
By performing the aerosol deposition method using aluminum oxide particles (A1) as a dielectric material, a dielectric layer having a thickness of 15 μm made of aluminum oxide was obtained on the substrate with ITO electrode and the substrate with silver electrode. It showed a sufficiently high withstand voltage and a high transmittance.
(Comparative Example 1)
A dielectric layer was formed in the same manner as in Example 1 except that the aluminum oxide particles (A2) were used as the dielectric material. Since the purity of the particles was low, both withstand voltage and transmittance were insufficient.
(Comparative Example 2)
After applying the above glass paste on a substrate with an ITO electrode and a substrate with a silver electrode by a screen printing method (printing plate: SUS # 325) to a coating thickness of 52 μm and drying at 100 ° C. for 15 minutes, Firing was performed at a maximum temperature of 580 ° C. (maximum temperature holding time: 15 minutes) to obtain a dielectric layer made of glass and having a thickness of 15 μm. Although the transmittance was sufficiently high, the withstand voltage was insufficient. Furthermore, yellowing of the dielectric layer was observed.
(Example 2)
The same procedure as in Example 1 was performed except that a raw material containing 85% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles and 15% by volume of zirconium oxide particles (B) in all particles was used as a dielectric raw material. Then, a dielectric layer was formed. Since the raw material contains zirconium oxide particles having a high withstand voltage, it showed a high transmittance and a withstand voltage higher than that of Example 1.
(Comparative Example 3)
The same procedure as in Example 1 was performed except that a raw material containing 70% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles and 30% by volume of zirconium oxide particles (B) in all particles was used as a dielectric raw material. Then, a dielectric layer was formed. Since the volume concentration of the aluminum oxide particles was 80% by volume or less and a sufficiently dense dielectric layer could not be obtained, both the withstand voltage and the transmittance were insufficient.
(Example 3)
The same operation as in Example 1 was conducted except that a raw material containing 85% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles and 15% by volume of strontium oxide particles (C) in all particles was used as a dielectric raw material. Then, a dielectric layer was formed. Since the strontium oxide particles having a high withstand voltage were contained in the raw material, the transmittance was high and the withstand voltage was higher than that of Example 1.
Example 4
The same procedure as in Example 1 was carried out except that a raw material containing 90% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles and 10% by volume of glass particles (D1) in all particles was used as a dielectric raw material. A dielectric layer was formed. It showed a sufficiently high withstand voltage and a high transmittance.
(Example 5)
As a dielectric material, aluminum oxide particles (A1) are contained in 85% by volume in all particles, zirconium oxide particles (B) are contained in 10% by volume in all particles, and strontium oxide particles (C) are contained in 5% in all particles. A dielectric layer was formed in the same manner as in Example 1 except that the raw material containing volume% was used. Since the raw material contains zirconium oxide particles and strontium oxide particles having high withstand voltage, the raw material showed high transmittance and higher withstand voltage than Example 1.
(Example 6)
As a dielectric material, aluminum oxide particles (A1) are contained in 84% by volume in all particles, zirconium oxide particles (B) are contained in 8% by volume in all particles, and glass particles (D1) are contained in 8% by volume. A dielectric layer was formed in the same manner as in Example 1 except that a raw material containing% was used. A high transmittance was exhibited, and a withstand voltage higher than that of Example 1 was exhibited.
(Example 7)
By carrying out the aerosol deposition method using a raw material containing 85% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles as a raw material of the dielectric and 15% by volume of zirconium oxide particles (B) in all particles, A first dielectric layer is formed on a substrate with an ITO electrode and a substrate with a silver electrode, and further contains 85% by volume of aluminum oxide particles (A1) as a dielectric raw material, and strontium oxide. A second dielectric layer was formed by performing an aerosol deposition method using a raw material containing 15% by volume of particles (C) in all particles, and a dielectric layer having a two-layer structure with a thickness of 15 μm was obtained. Since the raw material contains zirconium oxide particles and strontium oxide particles having high withstand voltage, the raw material showed high transmittance and higher withstand voltage than Example 1.
(Example 8)
By performing an aerosol deposition method using a raw material containing 82% by volume of aluminum oxide particles (A1) in all particles and 18% by volume of zirconium oxide particles (B) in all particles as a dielectric raw material, ITO is used. A first dielectric layer is formed on a substrate with an electrode and a substrate with a silver electrode, and further contains 95% by volume of aluminum oxide particles (A1) as a dielectric material on the total particles, and zirconium oxide particles A second dielectric layer was formed by performing an aerosol deposition method using a raw material containing 5% by volume of (B) in all particles, and a dielectric layer having a two-layer structure with a film thickness of 15 μm was obtained. Since the first dielectric layer material contains 18% by volume of zirconium oxide particles and the second dielectric layer material contains 5% by volume of zirconium oxide particles, a high withstand voltage is secured in the first dielectric layer. A high transmittance was ensured by the dielectric layer of Example 2, 3, 5 and 7, and the same dielectric strength was exhibited as compared with the dielectric layers of Examples 2, 3, 5, and 7.
Example 9
As a dielectric material, aluminum oxide particles (A1) are contained in 85% by volume in all particles, zirconium oxide particles (B) are contained in 10% by volume in all particles, and glass particles (D1) are contained in 5% by volume. The first dielectric layer is formed on the substrate with an ITO electrode and the substrate with a silver electrode by carrying out an aerosol deposition method using a raw material containing 1% of aluminum oxide particles (as a dielectric raw material) A second dielectric layer is formed by performing an aerosol deposition method using a raw material containing 85% by volume of A1) in all particles and 15% by volume of glass particles (D1) in all particles, A dielectric layer having a two-layer structure having a thickness of 15 μm was obtained. Since the first dielectric layer material contains 5% by volume of glass particles and the second dielectric layer material contains 15% by volume of glass particles, the transmittance was higher than those of Examples 1-3 and 5-8. .
(Example 10)
By performing an aerosol deposition method using aluminum oxide particles (A1) as a dielectric raw material, a first dielectric layer is formed on the substrate with the ITO electrode and the substrate with the silver electrode, and further, Using glass paste as a raw material for the dielectric, it is applied to a coating thickness of 40 μm by screen printing, dried at 100 ° C. for 15 minutes, and then fired at a maximum temperature of 580 ° C. (maximum temperature holding time of 15 minutes). As a result, a second dielectric layer was formed, and a dielectric layer having a thickness of 15 μm and a two-layer structure was obtained. Although the 2nd dielectric material layer is formed using the glass paste, since the 1st dielectric material layer is formed by the aerosol deposition method, from Examples 1-9, maintaining a high withstand voltage. Also showed high transmittance.

実施例1〜10の誘電体層は、耐電圧が1.3kV以上であり、十分高い耐電圧を示した。一方、比較例1〜3の誘電体層は、耐電圧が1.3kV未満であり、耐電圧は不十分であった。   The dielectric layers of Examples 1 to 10 had a withstand voltage of 1.3 kV or higher and a sufficiently high withstand voltage. On the other hand, the dielectric layers of Comparative Examples 1 to 3 had a withstand voltage of less than 1.3 kV, and the withstand voltage was insufficient.

実施例1〜10、比較例2の誘電体層は、透過率が70%以上であり、透過率に優れるものであった。一方、比較例1、3の誘電体層は、透過率が70%未満であり、PDP前面板用途としては透過率が不十分であった。   The dielectric layers of Examples 1 to 10 and Comparative Example 2 had a transmittance of 70% or more, and were excellent in the transmittance. On the other hand, the dielectric layers of Comparative Examples 1 and 3 had a transmittance of less than 70%, and the transmittance was insufficient for PDP front plate applications.

以上の結果から、実施例1〜10の誘電体層は、FED誘電体層及びPDP誘電体層などのディスプレイ用誘電体層に用いることができ、本発明における誘電体層形成方法が有用であることが示された。
(実施例11)
以下の製造方法により、PDPを製造し、評価を実施した。
From the above results, the dielectric layers of Examples 1 to 10 can be used for display dielectric layers such as FED dielectric layers and PDP dielectric layers, and the dielectric layer forming method of the present invention is useful. It was shown that.
(Example 11)
PDP was manufactured and evaluated by the following manufacturing method.

1.前面板および背面板の作製
前面板は以下のように作製した。まず、5インチ角のガラス基板(PD−200;旭硝子(株)製)上に、ITOを用いて、スキャン電極のストライプパターンとサステイン電極のストライプパターンの対からなる透明電極パターンを形成した。スキャン電極とサステイン電極の線幅はそれぞれ、300μm、厚みは100nmとした。スキャン電極とサステイン電極のギャップは80μmとした。透明電極パターンのピッチは1080μmとした。透明電極パターンおよび以下に記載するバス電極パターン、誘電体層、MgO保護膜は、基板の中央部8cm角四方でパネルとして同駆動条件で点灯できるように形成し、電極については、適宜、基板端面まで引き出し部を形成した。
1. Preparation of front plate and back plate The front plate was prepared as follows. First, on a 5-inch square glass substrate (PD-200; manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), a transparent electrode pattern composed of a pair of a scan electrode stripe pattern and a sustain electrode stripe pattern was formed using ITO. The scan electrode and the sustain electrode each had a line width of 300 μm and a thickness of 100 nm. The gap between the scan electrode and the sustain electrode was 80 μm. The pitch of the transparent electrode pattern was 1080 μm. The transparent electrode pattern and the bus electrode pattern, dielectric layer, and MgO protective film described below are formed so that they can be lit under the same driving conditions as a panel in the central 8 cm square of the substrate. The drawer part was formed until.

次に透明電極パターン上にバス電極のストライプパターンの対からなるバス電極パターンを形成した。バス電極のストライプパターンの厚みは3μm、幅は100μm、隣り合うストライプパターンのギャップは440μmとした。バス電極は図1のように、透明電極パターンの端部に沿って、透明電極パターンと平行になるように形成した。バス電極ペーストを乾燥後厚みが5μmとなるように、スクリーン印刷法(印刷版:SUS#325)により、塗布し、90℃、10分間乾燥した。乾燥後、ピッチ1080μm、線幅105μmのストライプパターンを有するネガ型クロムマスクをセットして露光した。露光後、0.5%エタノールアミン水溶液中で現像し、その後、熱風乾燥機を用いて、200℃、15分の加熱を行い、その後、580℃、15分間焼成することで所望のパターンを得た。   Next, a bus electrode pattern composed of a pair of bus electrode stripe patterns was formed on the transparent electrode pattern. The bus electrode stripe pattern had a thickness of 3 μm, a width of 100 μm, and a gap between adjacent stripe patterns of 440 μm. As shown in FIG. 1, the bus electrode was formed along the end of the transparent electrode pattern so as to be parallel to the transparent electrode pattern. The bus electrode paste was applied by a screen printing method (printing plate: SUS # 325) so as to have a thickness of 5 μm after drying, and dried at 90 ° C. for 10 minutes. After drying, a negative chrome mask having a stripe pattern with a pitch of 1080 μm and a line width of 105 μm was set and exposed. After exposure, development is performed in a 0.5% ethanolamine aqueous solution, followed by heating at 200 ° C. for 15 minutes using a hot air dryer, and then baking at 580 ° C. for 15 minutes to obtain a desired pattern. It was.

次に、実施例1記載の方法に従い、透明電極パターンおよびバス電極パターンを覆うように、透明誘電体層を形成した。   Next, according to the method described in Example 1, a transparent dielectric layer was formed so as to cover the transparent electrode pattern and the bus electrode pattern.

次に、透明誘電体層上に、電子ビーム蒸着法により厚み0.8μmのMgO保護膜を形成することで、前面板を完成させた。   Next, an MgO protective film having a thickness of 0.8 μm was formed on the transparent dielectric layer by an electron beam evaporation method, thereby completing the front plate.

背面板は以下のようにして作製した。5インチ角のガラス基板(PD−200;旭硝子(株)製)上に、前面板の電極ペーストの形成と同様の手法により、ピッチ240μm、線幅80μm、厚み3μmのアドレス電極のストライプパターンを形成した。アドレス電極パターンおよび以下に記載する誘電体層、隔壁パターン、蛍光体パターンは、基板の中央部8cm角四方でパネルとして同駆動条件で点灯できるように形成し、電極については、適宜、基板端面まで引き出し部を形成した。   The back plate was produced as follows. A stripe pattern of address electrodes having a pitch of 240 μm, a line width of 80 μm, and a thickness of 3 μm is formed on a 5-inch square glass substrate (PD-200; manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) in the same manner as the electrode paste on the front plate. did. The address electrode pattern and the dielectric layer, barrier rib pattern, and phosphor pattern described below are formed so that they can be lit under the same driving conditions as a panel in the central 8 cm square of the substrate. A drawer portion was formed.

次に、誘電体ペーストを用いて、焼成後厚み10μmの誘電体層を形成した。誘電体ペーストを乾燥後厚みが20μmとなるように、スクリーン印刷法(印刷版:SUS#325)により、塗布し、90℃、10分間乾燥した。乾燥後、580℃、15分間焼成することにより誘電体層を形成した。なお、誘電体ペーストに用いる無機成分は、焼成後に光散乱で白色を呈すようなガラス粉末を組み合わせて用いた。   Next, a dielectric layer having a thickness of 10 μm after firing was formed using the dielectric paste. The dielectric paste was applied by a screen printing method (printing plate: SUS # 325) so that the thickness after drying was 20 μm, and dried at 90 ° C. for 10 minutes. After drying, a dielectric layer was formed by baking at 580 ° C. for 15 minutes. In addition, the inorganic component used for the dielectric paste was used in combination with a glass powder exhibiting white color by light scattering after firing.

次に、厚み120μm、線幅(底部幅)100μm、ピッチ240μmのストライプ状の隔壁パターンを形成し、隣り合う隔壁の中間にアドレス電極を配した。隔壁の形成には感光性の隔壁ペーストを用いた。隔壁ペーストを乾燥後厚みが180μmになるようにダイコート塗布し、100℃、30分乾燥した。乾燥後、線幅70μm、ピッチ240μmのストライプ状を有するネガ型クロムマスクを用いて露光した。露光後、0.5%エタノールアミン水溶液中で現像した後に、590℃、30分焼成を行うことにより所望の隔壁パターンを得た。   Next, a stripe-shaped barrier rib pattern having a thickness of 120 μm, a line width (bottom width) of 100 μm, and a pitch of 240 μm was formed, and an address electrode was disposed between the adjacent barrier ribs. A photosensitive partition paste was used to form the partition. The barrier rib paste was dried and then die-coated to a thickness of 180 μm and dried at 100 ° C. for 30 minutes. After drying, the film was exposed using a negative chrome mask having a stripe shape with a line width of 70 μm and a pitch of 240 μm. After exposure, development was performed in a 0.5% ethanolamine aqueous solution, followed by baking at 590 ° C. for 30 minutes to obtain a desired partition wall pattern.

隔壁のストライプパターンの溝部および内壁部に、焼成後の厚みが10〜15μmとなるように赤、緑、青の蛍光体層を形成して背面板を完成した。蛍光体ペーストをディスペンス法で塗布し、その後、乾燥、焼成することで蛍光体層を得た。   Red, green, and blue phosphor layers were formed on the grooves and inner walls of the stripe pattern of the partition walls so that the thickness after firing was 10 to 15 μm, thereby completing the back plate. A phosphor paste was applied by a dispensing method, and then dried and baked to obtain a phosphor layer.

2.前面板および背面板の張り合わせ
前記で製造した背面板の周縁部に封着ペーストを設置し、仮焼成を390℃で10分行った後、150℃に保持した状態で前面板と背面板の位置を合わせた。位置合わせにおいて、バス電極とアドレス電極が直交し、かつ、基板中央部の8cm角のエリアで同駆動条件で点灯できるようにした。なお、前記保持温度は、本焼成を行うまで保持し続けた。その後、480℃で30分間、本焼成を行い、前面板と背面板を貼り合わせた。封着ペーストは、軟化点398℃のビスマス系ガラス粉末を主成分とするものを用いた。
2. Lamination of the front plate and the back plate Positioning of the front plate and the back plate in a state where the sealing paste is placed on the peripheral portion of the back plate manufactured above and pre-baked at 390 ° C. for 10 minutes and then held at 150 ° C. Together. In alignment, the bus electrode and the address electrode are orthogonal to each other, and can be lit under the same driving conditions in an 8 cm square area in the center of the substrate. The holding temperature was kept until the main baking was performed. Then, main baking was performed for 30 minutes at 480 degreeC, and the front board and the back board were bonded together. As the sealing paste, a paste mainly composed of bismuth glass powder having a softening point of 398 ° C. was used.

3.PDPの製造および評価
前記の前面板および背面板の貼り合わせ、封着を行った後、Xe5%−Nebal.ガスを66.5kPaまで封入した。最後に、駆動回路を実装し、24時間のエージングを行い、PDPを完成した。
3. Production and Evaluation of PDP After bonding and sealing the front plate and the back plate, Xe 5% -Nebal. Gas was sealed up to 66.5 kPa. Finally, a drive circuit was mounted and aging was performed for 24 hours to complete the PDP.

前記の製造方法により得られたPDPを評価した。前面板誘電体の黄変は観察されず、輝度が明るく、表示不良のない、駆動電圧が安定したディスプレイを得ることができた。
(実施例12)
前面板作製工程において、実施例10記載の方法に従い、透明電極パターンおよびバス電極パターンを覆うように透明誘電体層を形成した以外は、実施例11と同様の方法にてPDPを製造した。
The PDP obtained by the above production method was evaluated. No yellowing of the front plate dielectric was observed, and a display with high brightness, no display defects, and a stable driving voltage could be obtained.
(Example 12)
A PDP was produced in the same manner as in Example 11 except that the transparent dielectric layer was formed so as to cover the transparent electrode pattern and the bus electrode pattern according to the method described in Example 10 in the front plate production process.

前記の製造方法により得られたPDPを評価した。前面板誘電体の黄変は観察されず、輝度が明るく、表示不良のない、駆動電圧が安定したディスプレイを得ることができた。   The PDP obtained by the above production method was evaluated. No yellowing of the front plate dielectric was observed, and a display with high brightness, no display defects, and a stable driving voltage could be obtained.

本発明のディスプレイ部材の製造方法に用いる誘電体層形成装置の模式図である。It is a schematic diagram of the dielectric material layer forming apparatus used for the manufacturing method of the display member of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1:誘電体層形成ユニット
2:エアロゾル発生ユニット
3:エアロゾル発生器
4:高圧ガスボンベ
5:ガス搬送管
6:エアロゾル搬送管
7:ノズル
8:誘電体層形成室
9:ステージ
10:基板
1: Dielectric layer forming unit 2: Aerosol generating unit 3: Aerosol generator 4: High-pressure gas cylinder 5: Gas conveying pipe 6: Aerosol conveying pipe 7: Nozzle 8: Dielectric layer forming chamber 9: Stage 10: Substrate

Claims (7)

基板上に電極パターンおよび該電極パターンを覆う誘電体層を有するディスプレイ用部材の製造方法であって、純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜100体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により誘電体層を形成することを特徴とするディスプレイ用部材の製造方法。 A method for producing a display member having an electrode pattern and a dielectric layer covering the electrode pattern on a substrate, wherein an aerosol deposition method using a raw material containing 80 to 100% by volume of aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more A method for producing a display member, comprising: forming a dielectric layer by: 前記誘電体層の形成に用いる原料が酸化ジルコニウム粒子または酸化ストロンチウム粒子を5〜20体積%含む請求項1記載のディスプレイ用部材の製造方法。 The manufacturing method of the member for a display of Claim 1 with which the raw material used for formation of the said dielectric material layer contains 5-20 volume% of zirconium oxide particles or strontium oxide particles. 前記誘電体層の形成に用いる原料がガラス粒子を5〜20体積%含む請求項1または2記載のディスプレイ用部材の製造方法。 The manufacturing method of the member for a display of Claim 1 or 2 with which the raw material used for formation of the said dielectric material layer contains 5-20 volume% of glass particles. 請求項1〜3のいずれかに記載の方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらに純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜100体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により第2の誘電体層を形成するディスプレイ用部材の製造方法。 A first dielectric layer is formed by the method according to claim 1, and aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more are further contained on the first dielectric layer by 80 to 100% by volume. A method for manufacturing a display member, wherein a second dielectric layer is formed by an aerosol deposition method using a raw material. 前記第2の誘電体層の形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度が、前記第1の誘電体層の形成に用いる原料中の酸化アルミニウム粒子の体積基準の濃度よりも大きい請求項4記載のディスプレイ用部材の製造方法。 The volume-based concentration of aluminum oxide particles in the raw material used for forming the second dielectric layer is higher than the volume-based concentration of aluminum oxide particles in the raw material used for forming the first dielectric layer. Item 5. A method for producing a display member according to Item 4. 請求項1〜3のいずれかに記載の方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらに純度98重量%以上の酸化アルミニウム粒子を80〜95体積%、ガラス粒子を5〜20体積%含む原料を用いてエアロゾルデポジション法により第2の誘電体層を形成し、前記第2の誘電体層の形成に用いる原料中のガラス粒子の体積濃度が、前記第1の誘電体層の形成に用いる原料中のガラス粒子の体積濃度よりも大きいディスプレイ用部材の製造方法。 A first dielectric layer is formed by the method according to any one of claims 1 to 3, and aluminum oxide particles having a purity of 98% by weight or more are further added on the first dielectric layer by 80 to 95% by volume, A second dielectric layer is formed by an aerosol deposition method using a raw material containing 5 to 20% by volume of glass particles, and the volume concentration of the glass particles in the raw material used for forming the second dielectric layer is The manufacturing method of the member for a display larger than the volume concentration of the glass particle in the raw material used for formation of a 1st dielectric material layer. 請求項1〜3のいずれかの方法により第1の誘電体層を形成し、該第1の誘電体層上に、さらにガラス粉末と有機成分を含むガラスペーストを塗布し、焼成することにより第2の誘電体層を形成するディスプレイ用部材の製造方法。 A first dielectric layer is formed by the method according to any one of claims 1 to 3, and a glass paste further containing glass powder and an organic component is applied onto the first dielectric layer, followed by firing. A manufacturing method of a member for display which forms 2 dielectric layers.
JP2007020664A 2007-01-31 2007-01-31 Method of forming display member Withdrawn JP2008186749A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007020664A JP2008186749A (en) 2007-01-31 2007-01-31 Method of forming display member

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007020664A JP2008186749A (en) 2007-01-31 2007-01-31 Method of forming display member

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008186749A true JP2008186749A (en) 2008-08-14

Family

ID=39729637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007020664A Withdrawn JP2008186749A (en) 2007-01-31 2007-01-31 Method of forming display member

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008186749A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012073333A (en) * 2010-09-28 2012-04-12 Panasonic Corp Method for forming airtight sealing structure, and electronic device having airtight sealing structure

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012073333A (en) * 2010-09-28 2012-04-12 Panasonic Corp Method for forming airtight sealing structure, and electronic device having airtight sealing structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100812866B1 (en) Plasma display panel and method of making the same
US20070080639A1 (en) Flat display panel and its method of manufacture
JP4372807B2 (en) Plasma display panel and manufacturing method thereof
KR20050019289A (en) Plasma display panel and manufacturing method thereof
JP2004238247A (en) Glass ceramic composition and thick film glass paste composition
JPH10233157A (en) Plasma display panel protective layer, and forming method for the layer
JP2007109410A (en) Manufacturing method of plasma display panel and plasma display panel
WO2006004262A1 (en) Front panel for plasma display panel of high efficiency containing nanotips, and process for preparation of the same
JP2008186749A (en) Method of forming display member
EP1788608A1 (en) Flat Panel Display Device and Method of Manufacture
JP5243469B2 (en) Plasma display panel and manufacturing method thereof
JP3979813B2 (en) Method for manufacturing substrate for plasma display panel
KR100524777B1 (en) Manufacturing method for plasma display panel
JP2009037890A (en) Method for manufacturing plasma display member
KR20060116117A (en) Manufacturing method of plasma display panel
JP2012009368A (en) Plasma display panel
US7781952B2 (en) Green phosphor for plasma display panel and plasma display panel including phosphor layer formed of the green phosphor
JP2007308320A (en) Dielectric composition, dielectric paste composition, and dielectric obtained by using the paste composition
JP2009295372A (en) Method for manufacturing plasma display panel
JP2007230804A (en) Inorganic material paste, method of manufacturing member for flat display and flat display
JP2009009877A (en) Manufacturing method of plasma display member
WO2012117666A1 (en) Plasma display panel
WO2012117665A1 (en) Plasma display panel
WO2012117664A1 (en) Plasma display panel
KR20050081078A (en) Plasma display panel and manufacturing method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100119

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100319

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20100526