JP2008151593A - Testing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被試験デバイスを試験する試験装置に関する。特に本発明は、試験装置の回路基板を冷却する冷却部を備える試験装置に関する。 The present invention relates to a test apparatus for testing a device under test. In particular, the present invention relates to a test apparatus including a cooling unit that cools a circuit board of the test apparatus.
被試験デバイスを試験する試験装置において、試験装置の回路基板を冷却する冷却装置が知られている(例えば特許文献1参照)。試験装置は、複数の回路基板を有する場合がある。この場合、それぞれの回路基板を個別に金属のシールドケースに格納して、冷却することが考えられる。この場合、回路基板と、被試験デバイス等とを接続するべく、回路基板のコネクタ等を、シールドケースの外部に表出させる。例えば、コネクタが回路基板の端部に設けられ、回路部分が回路基板の内側に設けられている場合、シールドケースは、回路基板の回路部分を覆うように設けられる。また、それぞれの回路基板を個別にシールドケースに格納して、冷媒を循環させる隔壁を回路基板上に設けて冷媒の流路を生成することにより、回路基板の全体を効率よく冷却することも考えられる。 In a test apparatus for testing a device under test, a cooling apparatus that cools a circuit board of the test apparatus is known (for example, see Patent Document 1). The test apparatus may have a plurality of circuit boards. In this case, it can be considered that each circuit board is individually stored in a metal shield case and cooled. In this case, in order to connect the circuit board and the device under test, the connector of the circuit board is exposed outside the shield case. For example, when the connector is provided at the end of the circuit board and the circuit part is provided inside the circuit board, the shield case is provided so as to cover the circuit part of the circuit board. It is also possible to efficiently cool the entire circuit board by individually storing each circuit board in a shield case and providing a partition wall for circulating the refrigerant on the circuit board to generate a refrigerant flow path. It is done.
しかし、それぞれの回路基板を個別に冷却することが、好ましくない場合も考えられる。例えば、回路基板を個別にシールドケースに格納するので、多数の回路基板を冷却する場合に、シールドケースの厚みにより、回路基板を載置するためのスペースが大きくなってしまう場合が考えられる。このため、回路基板を載置するためのスペースが限られている場合に、多数の回路基板を個別に冷却することは、必ずしも好ましくない。また、シールドケースは、回路基板の一部を覆うように設けられ、コネクタ等を外部に表出させるので、複数の回路基板を一つのシールドケースで冷却することは困難である。 However, it may be undesirable to individually cool each circuit board. For example, since the circuit boards are individually stored in the shield case, when a large number of circuit boards are cooled, the space for mounting the circuit boards may be increased due to the thickness of the shield case. For this reason, when the space for mounting the circuit board is limited, it is not necessarily preferable to individually cool a large number of circuit boards. Further, since the shield case is provided so as to cover a part of the circuit board and the connector and the like are exposed to the outside, it is difficult to cool the plurality of circuit boards with one shield case.
また、回路基板上に隔壁を設けることが、好ましくない場合も考えられる。例えば、回路基板上に隔壁を設けるので、回路素子を配置するスペースが圧迫されてしまう。このため、多数の回路素子を回路基板に配置する場合に、回路基板上に隔壁を設けることは、必ずしも好ましくない。 In addition, it may be undesirable to provide a partition wall on the circuit board. For example, since the partition walls are provided on the circuit board, the space for arranging the circuit elements is compressed. For this reason, when arranging many circuit elements on a circuit board, it is not necessarily desirable to provide a partition on a circuit board.
このため、本発明の一つの側面においては、上記の課題を解決する試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。 Therefore, an object of one aspect of the present invention is to provide a test apparatus that solves the above problems. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.
上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、与えられる制御信号に応じて被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、被試験デバイスを載置し、被試験デバイスと回路基板との間で信号を受け渡す接続部とを備え、冷却部は、複数の回路基板を内部に格納し、上面及び下面に開口を有する冷却筐体と、冷却筐体の一方の開口を封止し、複数の回路基板と接続部との間で信号を受け渡す表面側プリント基板と、冷却筐体の他方の開口を封止し、複数の回路基板に制御信号を供給する裏面側プリント基板と、冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部とを有する試験装置を提供する。 In order to solve the above problems, in a first aspect of the present invention, a test apparatus for testing a device under test generates a test signal to be supplied to the device under test in accordance with a given control signal. A test head having a plurality of circuit boards for receiving the output signals of the test device, a cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards, and a device to be tested are placed between the device under test and the circuit boards. A cooling unit that houses a plurality of circuit boards therein, seals one opening of the cooling case, and a plurality of circuits. A front-side printed circuit board that passes signals between the circuit board and the connection section, a back-side printed circuit board that seals the other opening of the cooling housing and supplies control signals to a plurality of circuit boards, and a cooling housing Refrigerant that circulates cooling liquid inside Providing a test device having a feeding portion.
本発明の第2の形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、与えられる制御信号に応じて被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、被試験デバイスを載置し、被試験デバイスと回路基板との間で信号を受け渡す接続部とを備え、冷却部は、複数の回路基板を内部に格納する冷却筐体と、冷却筐体の内部において、隣接する回路基板の面が対向するように保持する保持部と、冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、冷却筐体の内部において、隣接する回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する基板間流路に流れる冷却液体の流量を調整する隔壁とを有する試験装置を提供する。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test, which generates a test signal to be supplied to the device under test according to a given control signal and receives an output signal of the device under test. A test head having a circuit board, a cooling part for storing and cooling a plurality of circuit boards, and a connection part for placing a device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board The cooling unit includes a cooling housing that stores a plurality of circuit boards therein, a holding unit that holds the surfaces of adjacent circuit boards facing each other inside the cooling housing, and a cooling unit that cools the inside of the cooling housing. Provided for each inter-substrate flow path formed by the adjacent circuit board in the coolant supply section for circulating the liquid and the cooling housing, and adjusts the flow rate of the cooling liquid flowing through the corresponding inter-substrate flow path With bulkhead Providing a test device having.
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。 The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and sub-combinations of these feature groups can also be the invention.
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention. However, the following embodiments do not limit the invention according to the scope of claims, and all combinations of features described in the embodiments are included. It is not necessarily essential for the solution of the invention.
図1は、本発明の一つの実施形態に係る試験装置100の構成の一例を示す図である。試験装置100は、半導体チップ等の被試験デバイス200を試験する装置であって、接続部10、テストヘッド30、冷却部40、及びメインフレーム20を備える。
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a configuration of a
メインフレーム20は、テストヘッド30を制御して、被試験デバイス200を試験する。例えばメインフレーム20は、テストヘッド30に制御信号を供給することにより、テストヘッド30に試験信号を生成させ、被試験デバイス200に供給させる。また、メインフレーム20は、テストヘッド30における被試験デバイス200の試験結果を受け取ってよい。
The
テストヘッド30は、メインフレーム20から与えられる制御信号に応じて、被試験デバイス200に供給する試験信号を生成して、被試験デバイスに供給する。例えばテストヘッド30は、所定の論理パターンを有する試験信号を生成してよい。また、テストヘッド30は、被試験デバイス200の出力信号を受け取り、被試験デバイス200の良否を判定する。例えばテストヘッド30は、当該出力信号の論理パターンと、予め定められた期待値の論理パターンとを比較することにより、被試験デバイス200の良否を判定してよい。
The
テストヘッド30は、複数の回路基板80を有する。回路基板80は、制御信号に応じて試験信号を生成して、被試験デバイス200の出力信号に基づいて被試験デバイス200の良否を判定してよい。また、2以上の回路基板80を用いて試験信号を生成してよく、2以上の回路基板80を用いて被試験デバイス200の良否を判定してよい。回路基板80は、試験内容、被試験デバイス200の種別等に応じて、交換可能に設けられる。
The
冷却部40は、複数の回路基板80を格納して冷却する。本例において冷却部40は、テストヘッド30に設けられる。接続部10は、被試験デバイス200と、回路基板80との間で信号を受け渡す。例えば接続部10は、被試験デバイス200を載置して、被試験デバイス200と電気的に接続されるソケットボードであってよい。また接続部10は、被試験デバイス200に対向して設けられ、プローブピンにより被試験デバイス200と電気的に接続されるプローブカードであってもよい。
The
図2は、冷却部40の斜視図の一例を示す。冷却部40は、冷却筐体42、表面側プリント基板50、裏面側プリント基板60、供給パイプ44、排出パイプ46、及び冷媒供給部48を有する。冷却筐体42は、複数の回路基板80を内部に格納する。また、冷却筐体42は、上面及び下面に開口を有する。例えば冷却筐体42は、6面体の形状を有しており、対向するいずれか2面において開口を有してよい。また、冷却筐体42の、開口している上面及び下面以外の側面は、例えば金属材料で形成されてよい。
FIG. 2 shows an example of a perspective view of the
表面側プリント基板50は、冷却筐体42の上面の開口を封止する。つまり、表面側プリント基板50は、冷却筐体42の上面の開口より大きい面積を有して、当該開口の全体を覆って設けられる。また、表面側プリント基板50の外部に表出する面には、コネクタ52が設けられる。コネクタ52は、表面側プリント基板50に設けられるスルーホール等の伝送経路を介して、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と電気的に接続される。またコネクタ52は、接続部10と電気的に接続される。このような構成により、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と、接続部10とを電気的に接続することができる。
The front surface side printed
裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の下面の開口を封止する。裏面側プリント基板60の構成は、表面側プリント基板60と同様であってよい。例えば裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の下面の開口より大きい面積を有しており、コネクタ52、スルーホール等を有してよい。裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と、メインフレームとを電気的に接続する。
The back side printed
供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42のいずれかの側面に設けられる。つまり、供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42において、表面側プリント基板50又は裏面側プリント基板60のいずれかが設けられる面とは異なる面に設けられる。冷媒供給部48は、冷却筐体42の内部に冷却液体を循環させることにより、複数の回路基板80を冷却する。
The
例えば冷媒供給部48は、供給パイプ44を介して、冷却筐体42の内部に冷却液体を供給する。また、冷媒供給部48は、排出パイプ46を介して、冷却筐体42の内部から冷却液体を受け取る。冷媒供給部48は、受け取った冷却液体に蓄積された熱量を放熱させて、冷却筐体42の内部に循環させる。供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42の各頂点のうち、対角の2点の近傍に設けられてよい。
For example, the
本例における冷却部40によれば、冷却筐体42の上面及び下面を、プリント基板で封止しているので、回路基板80のコネクタ等を冷却筐体42の外部に表出させずに、接続部10及びメインフレーム20を電気的に接続することができる。つまり、それぞれの回路基板80の全体を冷却筐体42に格納することができるので、複数の回路基板80を一括して冷却することができる。このため、多数の回路基板80を冷却する場合であっても、冷却筐体42、及び回路基板80が設けられるべきスペースを低減することができる。
According to the
図3は、冷却部40における、図2に示したA−A'断面の一例を示す図である。また、図4は、冷却部40における、図2に示したB−B'断面の一例を示す図である。回路基板80は、図3に示す表面及びその裏面に、回路素子が設けられる。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the AA ′ cross section illustrated in FIG. 2 in the
図3及び図4に示すように、それぞれの回路基板80の一端が表面側プリント基板50と対向して、且つそれぞれの回路基板80の他端が裏面側プリント基板60と対向して設けられる。それぞれの回路基板80の一端に設けられたスプリングピン82等により、それぞれの回路基板80を、表面側プリント基板50と電気的に接続することができる。また、それぞれの回路基板80の他端に設けられたコネクタ84により、それぞれの回路基板80を、裏面側プリント基板60と電気的に接続することができる。
As shown in FIGS. 3 and 4, one end of each
表面側プリント基板50には、冷却筐体42の内部と外部との間で信号を伝送するホール配線54が設けられる。また裏面側プリント基板60には、冷却筐体42の内部と外部との間で信号を伝送するホール配線64が設けられる。
The front-side printed
例えばホール配線54及びホール配線64は、表面側プリント基板50又は裏面側プリント基板60の、冷却筐体42の内部に表出する面と、冷却筐体42の外部に表出する面との間を貫通する貫通孔と、当該貫通孔に充填される導電材料を有してよい。また、ホール配線54及びホール配線64の当該貫通孔の開口は、導電材料で封止されてよい。例えばホール配線54及びホール配線64は、当該貫通孔の開口を覆うパッドを有してよい。
For example, the
また、ホール配線54及びホール配線64のそれぞれは、それぞれの回路基板80に対して少なくとも一つ設けられる。例えばホール配線54は、それぞれの回路基板80に設けられたスプリングピン82に対応して設けられる。ホール配線54の冷却筐体42の内側のパッドと、対応するスプリングピン82とが電気的に接続される。
Further, at least one of the
それぞれのスプリングピン82は、対応する回路基板80の一端から表面側プリント基板50に向かって、回路基板80の当該端面より突出して設けられる。スプリングピン82は、表面側プリント基板50からスプリングピン82の方向における押圧力に応じて伸縮するピンである。表面側プリント基板60は、それぞれのスプリングピン82に対応する位置に、ホール配線54を有する。
Each
コネクタ52は、表面側プリント基板50の表面において、ホール配線54と、接続部10とを電気的に接続する。例えばコネクタ52は、ホール配線54のパッドに接触する端子と、接続部10からのケーブルに接触する端子とを有してよい。コネクタ52は、回路基板80毎に設けられてよい。このような構成により、それぞれの回路基板80を、接続部10に電気的に接続することができる。
The
また、回路基板80の他端に設けられるコネクタ84は、対応するホール配線64と、回路基板80とを電気的に接続する。例えばコネクタ84は、裏面側プリント基板60に設けられるホール配線64の、冷却筐体42の内側に設けられるパッドに接触する端子と、回路基板80の配線と接触する端子とを有してよい。コネクタ84は、回路基板80の端部に設けられるカードエッジコネクタであってよい。またコネクタ84は、裏面側プリント基板60に設けられるコネクタに対して、裏面側プリント基板60と略水平な方向から挿入することにより嵌合するライトアングルコネクタであってよい。
A
またコネクタ84は、回路基板80を冷却筐体42に固定する保持部として機能してもよい。コネクタ84は、図4に示すように、冷却筐体42の内部において、隣接する回路基板80の面が対向するように保持する。また、コネクタ84は、図4に示すように、それぞれの回路基板80を略平行に保持する。
The
ホール配線64の、冷却筐体42の外側のパッドにより、マザーボード90に設けられたスプリングピン92と電気的に接続される。マザーボード90は、例えば冷却部40とメインフレーム20とを電気的に接続する基板である。このような構成により、それぞれの回路基板80を、メインフレーム20と電気的に接続することができる。
The
また、冷却筐体42と、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60との接続箇所には、密閉度を向上させるゴムパッキン等のシール材が設けられていることが好ましい。本例における冷却部40によれば、冷却筐体42の内部を密閉し、且つ冷却筐体42の内部と外部とを電気的に接続することができる。このため、複数の回路基板80を一括して冷却することができる。
Further, it is preferable that a sealing material such as a rubber packing for improving the sealing degree is provided at a connection portion between the cooling
図5は、ホール配線54の構成の一例を示す図である。ホール配線54は、第1パッド56、第1ビアホール66、配線層70、第2ビアホール68、及び第2パッド58を有する。また、ホール配線64も、ホール配線54と同一の構成を有してよい。
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the configuration of the
第1パッド56は、表面側プリント基板50の表面に設けられる。また、第2パッド58は、表面側プリント基板50の裏面に設けられる。配線層70は、表面側プリント基板50の内部に設けられる。例えば配線層70は、表面側プリント基板50の表面及び裏面の略中間の層に設けられる。
The
第1ビアホール66は、表面側プリント基板50の表面に設けられた第1パッド56から、配線層70まで貫通して設けられる。また第1ビアホールの少なくとも内壁には、導電材料が形成される。これにより、第1パッド56と配線層70とを電気的に接続する。
The first via
第2ビアホール68は、表面側プリント基板50の裏面に設けられた第2パッド58から、配線層70まで貫通して設けられる。また第2ビアホールの少なくとも内壁には、導電材料が形成される。これにより、第2パッド58と配線層70とを電気的に接続する。つまり、第1パッド56と第2パッド58とを電気的に接続する。配線層70は、ホール配線54毎に独立して設けられてよい。また、第2ビアホール68は、対応する第1ビアホール66とは異なる直線上に設けられる。このような構成により、ホール配線54における密閉度を向上させ、冷却筐体42の内部から冷却液体が漏れることを防ぐことができる。
The second via
図6は、表面側プリント基板50の表面に設けられる補強材72の一例を示す。尚、本例においては、コネクタ52を省略して説明する。図6(a)は、表面側プリント基板50の表面図の一例を示す。また図6(b)は、図6(a)におけるC−C'断面の一例を示す。
FIG. 6 shows an example of the reinforcing
補強材72は、表面側プリント基板50の、予め定められた基板面積毎に設けられる。例えば補強材72は、図6(a)に示すように格子状に設けられてよい。各格子の面積は略同一であってよい。補強材72は、表面側プリント基板50の単位面積当たりの物理的な強度が、冷却筐体42の単位面積当たりの物理的な強度と略同一となるように設けられてよい。例えば補強材72は、冷却筐体42と略同一の材料で形成されており、補強材72の、表面側プリント基板50の表面に垂直な方向における厚さは、冷却筐体42の各側面の厚さより大きくてよい。また、裏面側プリント基板60にも、同様の補強材72が設けられてよい。
The reinforcing
試験装置100は、テストヘッド30を回転させて、被試験デバイス200と電気的に接続させる場合がある。このような場合であっても、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60の強度が、冷却筐体42の強度と同程度に補強されているので、冷却部40の破損を防ぐことができる。
The
図7は、冷却部40における斜視図の他の例を示す。本例における冷却部40は、供給パイプ44及び排出パイプ46が、冷却筐体42の同一の面に設けられる点で、図2に示した冷却部40と相違する。他の構成は、図2に示した冷却部40と同一であってよい。例えば供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42の正面又は背面のいずれか一方の面における対角の近傍に設けられてよい。ここで、冷却筐体42の正面又は背面とは、冷却筐体42において、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60が設けられない4面のうちの、対向するいずれかの2面である。
FIG. 7 shows another example of a perspective view of the cooling
図8は、冷却筐体42の内部構造の一例を示す図である。本例においては、表面側プリント基板50の方向から、冷却筐体42の内部を見た図を示す。尚、本例における冷却部40は、図2から図5に示した冷却部40に対して、隔壁74を更に備え、また供給パイプ44及び排出パイプ46が、冷却筐体42の同一の面に設けられる点で、図2から図5おいて説明した冷却部40と相違する。他の構成は、図2から図5において説明した冷却部40と同一であってよい。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the internal structure of the cooling
上述したように、それぞれの回路基板80は、冷却筐体42の内部において、隣接する回路基板80の面が対向するように、保持部により略平行に保持される。また、保持部は、回路基板80の面と、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられる冷却筐体42の面とが略平行に対向するように、それぞれの回路基板80を保持する。これにより、隣接する回路基板80の間に、冷却液体が流れる基板間流路が形成される。また、複数の回路基板80のうち、両端に設けられた回路基板80と、冷却筐体42の正面及び背面との間にも、同様に冷却液体が流れる基板間流路が形成される。
As described above, the
また、保持部は、それぞれの回路基板80を、冷却筐体42の上面(本例では、表面側プリント基板50)及び冷却筐体42の下面(本例では、裏面側プリント基板60)に接触させて保持する。例えば、それぞれの回路基板80のスプリングピン82が、冷却筐体42の上面に接触する。また、それぞれの回路基板80のコネクタ84が、冷却筐体42の下面に接触する。
In addition, the holding unit contacts each
また、保持部は、それぞれの回路基板80を、冷却筐体42の上面及び下面以外の面と接触させずに保持する。これにより、冷却筐体42の側面(本例では、冷却筐体42の6面のうち、上面、下面、正面、及び背面以外の2つの面)と、回路基板80との間に、冷却液体が流れる外側流路が形成される。
The holding unit holds each
このような構成により、冷却筐体42の内部において、供給パイプ44から供給された冷却液体が、冷却筐体42の側面に沿った第1外側流路102に流れる。また、第1外側流路102から、略直交するそれぞれの基板間流路104に冷却液体が流れる。そして、それぞれの基板間流路104を通過した冷却液体が、冷却筐体42の側面に沿った第2外側流路106に流れ、排出パイプ46から排出される。このような構成により、冷却筐体42の内部に冷却液体を循環させ、それぞれの回路基板80を冷却することができる。
With such a configuration, the cooling liquid supplied from the
但し、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられる冷却筐体42の面からの距離が大きい基板間流路104は、当該距離がより小さい基板間流路104に比べ、冷却液体の流量が小さくなることも考えられる。このため、冷却部40は、基板間流路104毎に隔壁を設け、対応する基板間流路104に流れる冷却液体の流量が略均等となるように調整する。
However, the
それぞれの隔壁74は、冷却筐体42の側面と、回路基板80との間に、それぞれの基板間流路104に対応して設けられる。例えば、それぞれの隔壁74は、第1外側流路102から、対応する基板間流路104に、冷却液体を通過させる開口部76を形成するように設けられてよい。また、それぞれの隔壁74は、対応する基板間流路104から、第2外側流路106に、冷却液体を通過させる開口部76を形成するように設けられてよい。
Each
例えば隔壁74は、冷却筐体42の上面から下面に渡って形成される。本例では、隔壁74は、裏面側プリント基板60の、冷却筐体42の内側に表出する面に固定され、且つ表面側プリント基板50の、冷却筐体42の内側に表出する面に接触して設けられる。また、隔壁74は、冷却筐体42の側面と略平行に延伸して設けられてよい。
For example, the
また、隔壁74は、それぞれの回路基板80の端部の近傍に、回路基板80と略直行して設けられてよい。それぞれの隔壁74は、一体に形成されてよく、また分離して形成されてもよい。分離して形成される場合、それぞれの隔壁74の間隙による開口部76を、冷却液体が通過する。
Further, the
また、隔壁74は、それぞれの開口部76の面積が、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に応じた面積となるように、設けられてよい。例えばそれぞれの隔壁74の面積を、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に応じて小さくすることにより、それぞれの開口部76の面積を、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に略比例して大きくしてよい。
The
また、隔壁74は、対応する回路基板80の消費電力に応じて、開口部76の面積を調整するように設けられてもよい。例えば、対応する回路基板80の消費電力がより大きい開口部76の面積を、より大きくしてよい。隔壁74は、回路基板80の消費電力に応じて交換可能に設けられてよい。例えばそれぞれの隔壁74は、裏面側プリント基板60に、面積が異なる他の隔壁74と交換可能に固定されてよい。
The
また、冷却部40は、それぞれの開口部76の面積を、対応する回路基板80の消費電力に応じて制御する開口制御部を更に備えてよい。例えばそれぞれの隔壁74は、裏面側プリント基板60に固定される固定部と、当該固定部に対してスライド可能に設けられたスライド部とを有しており、開口制御部は、当該スライド部をスライドさせることにより、開口部76の面積を調整してよい。このような構成により、それぞれの基板間流路に流れる冷却液体の流量を調整することができる。このため、それぞれの回路基板80を効率よく冷却することができる。
The cooling
図9は、テストヘッド30の構成の他の例を示す図である。本例におけるテストヘッド30は、複数の冷却部40を備える。図7に示したように、供給パイプ44及び排出パイプ46を、冷却筐体42における同一の面に設けることにより、複数の冷却部40を並べて載置することができる。つまり、それぞれの冷却部40の、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられていない面を隣り合わせることにより、複数の冷却部40を並べて載置することができる。このため、冷却部40が設置されるスペースを低減することができる。
FIG. 9 is a diagram illustrating another example of the configuration of the
図10は、回路基板80の構成の一例を示す図である。回路基板80は、回路素子86、ペルチェ素子88、温度検出部96、及び個別温度制御部98を備える。ペルチェ素子88は、回路基板80に設けられる回路のうち、予め定められた回路素子86の表面に設けられる。例えばペルチェ素子88は、遅延素子等の、温度変動に対する特性変動が大きい回路素子86に設けられてよい。ペルチェ素子88は、電圧が印加されることにより、一方の面の熱量を他方の面に移動させる素子である。
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of the configuration of the
温度検出部96は、ペルチェ素子88が設けられた回路素子86の温度を検出する。例えば温度検出部96は、回路素子86に設けられた熱電対、サーミスタ等の抵抗を検出することにより、回路素子86の温度を検出してよい。
The
個別温度制御部98は、温度検出部96が検出した回路素子86の温度に基づいて、対応するペルチェ素子88を制御する。例えば個別温度制御部98は、回路素子86が、予め定められた温度を維持するように、ペルチェ素子88に与える電圧を調整する。このような構成により、冷却液体による冷却にばらつきが有る場合であっても、回路基板80を精度よく動作させることができる。
The individual
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。 As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.
10・・・接続部、20・・・メインフレーム、30・・・テストヘッド、40・・・冷却部、42・・・冷却筐体、44・・・供給パイプ、46・・・排出パイプ、48・・・冷媒供給部、50・・・表面側プリント基板、52・・・コネクタ、54・・・ホール配線、56・・・第1パッド、58・・・第2パッド、60・・・裏面側プリント基板、64・・・ホール配線、66・・・第1ビアホール、68・・・第2ビアホール、70・・・配線層、72・・・補強財、74・・・隔壁、76・・・開口部、80・・・回路基板、82・・・スプリングピン、84・・・コネクタ、86・・・回路素子、88・・・ペルチェ素子、90・・・マザーボード、92・・・スプリングピン、96・・・温度検出部、98・・・個別温度制御部、100・・・試験装置、102・・・第1外側流路、104・・・基板間流路、106・・・第2外側流路、200・・・被試験デバイス
DESCRIPTION OF
Claims (19)
与えられる制御信号に応じて前記被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、前記被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、
前記複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、
前記被試験デバイスを載置し、前記被試験デバイスと前記回路基板との間で信号を受け渡す接続部と
を備え、
前記冷却部は、
前記複数の回路基板を内部に格納し、上面及び下面に開口を有する冷却筐体と、
前記冷却筐体の一方の開口を封止し、前記複数の回路基板と前記接続部との間で信号を受け渡す表面側プリント基板と、
前記冷却筐体の他方の開口を封止し、前記複数の回路基板に前記制御信号を供給する裏面側プリント基板と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と
を有する試験装置。 A test apparatus for testing a device under test,
A test head having a plurality of circuit boards for generating a test signal to be supplied to the device under test in response to a given control signal and receiving an output signal of the device under test;
A cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards;
A mounting part for placing the device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board;
The cooling part is
A plurality of circuit boards stored therein, and a cooling housing having openings on the upper surface and the lower surface;
Sealing one opening of the cooling housing, and a surface-side printed board that passes signals between the plurality of circuit boards and the connection part,
Sealing the other opening of the cooling housing and supplying the control signal to the plurality of circuit boards;
A test apparatus comprising: a refrigerant supply unit configured to circulate a cooling liquid inside the cooling casing.
請求項1に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 1, wherein a hole wiring for transmitting a signal between the inside and the outside of the cooling housing is provided on the front surface side printed board and the back surface side printed board.
請求項2に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 2, wherein the opening of the hole wiring is sealed with a conductive material.
請求項2に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 2, wherein at least one hole wiring is provided for each circuit board.
それぞれの前記回路基板は、それぞれの前記一端から前記表面側プリント基板に向かって、前記回路基板の端面より突出して設けられたスプリングピンを有し、
前記表面側プリント基板は、それぞれの前記スプリングピンに対応する位置に、前記ホール配線を有する
請求項2に記載の試験装置。 The plurality of circuit boards are provided such that one end of each circuit board faces the front surface side printed board and the other end of each circuit board faces the back surface side printed board,
Each of the circuit boards has a spring pin provided so as to protrude from the end face of the circuit board toward the front surface side printed board from the one end.
The test apparatus according to claim 2, wherein the surface-side printed board has the hole wiring at a position corresponding to each of the spring pins.
請求項5に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 5, wherein each of the circuit boards has a connector connected to the hole wiring of the back printed circuit board at the other end.
基板の内部に設けられた配線層と、
前記基板の表面から前記配線層まで設けられた第1ビアホールと、
前記基板の裏面から前記配線層まで設けられた第2ビアホールと
を有する請求項2に記載の試験装置。 The hole wiring is
A wiring layer provided inside the substrate;
A first via hole provided from the surface of the substrate to the wiring layer;
The test apparatus according to claim 2, further comprising: a second via hole provided from the back surface of the substrate to the wiring layer.
請求項1に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 1, wherein the front surface side printed board and the back surface side printed board are provided with a reinforcing material for each predetermined board area.
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板の面が対向するように保持する保持部と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する前記基板間流路に流れる前記冷却液体の流量を調整する隔壁と
を更に有する請求項1に記載の試験装置。 The cooling part is
Inside the cooling housing, a holding part that holds the adjacent circuit board faces to face each other,
A coolant supply section for circulating a cooling liquid inside the cooling housing;
A partition that is provided for each inter-substrate flow path formed by the adjacent circuit boards inside the cooling housing and adjusts the flow rate of the cooling liquid flowing through the corresponding inter-substrate flow path. The test apparatus according to claim 1.
与えられる制御信号に応じて前記被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、前記被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、
前記複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、
前記被試験デバイスを載置し、前記被試験デバイスと前記回路基板との間で信号を受け渡す接続部と
を備え、
前記冷却部は、
前記複数の回路基板を内部に格納する冷却筐体と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板の面が対向するように保持する保持部と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する前記基板間流路に流れる前記冷却液体の流量を調整する隔壁と
を有する試験装置。 A test apparatus for testing a device under test,
A test head having a plurality of circuit boards for generating a test signal to be supplied to the device under test in response to a given control signal and receiving an output signal of the device under test;
A cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards;
A mounting part for placing the device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board;
The cooling part is
A cooling housing for storing the plurality of circuit boards therein;
Inside the cooling housing, a holding part that holds the adjacent circuit board faces to face each other,
A coolant supply section for circulating a cooling liquid inside the cooling housing;
A test provided in each of the inter-substrate flow paths formed by the adjacent circuit boards in the cooling casing, and a partition for adjusting the flow rate of the cooling liquid flowing in the corresponding inter-substrate flow path. apparatus.
請求項10に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 10, wherein the holding unit holds the circuit boards substantially in parallel.
前記隔壁は、前記冷却筐体の前記他の面のうちの前記回路基板と略垂直な側面と、前記回路基板との間に、前記冷却筐体の前記上面から前記下面に渡って形成される
請求項11に記載の試験装置。 The holding unit holds each circuit board in contact with the upper surface and the lower surface of the cooling housing and without contacting the other surfaces other than the upper surface and the lower surface of the cooling housing;
The partition is formed from the upper surface to the lower surface of the cooling housing between a side surface substantially perpendicular to the circuit board of the other surfaces of the cooling housing and the circuit board. The test apparatus according to claim 11.
請求項12に記載の試験装置。 The partition wall includes an outer channel formed along the side surface of the cooling housing at a position corresponding to each inter-substrate channel, and an inter-substrate channel formed by the adjacent circuit board. The test apparatus according to claim 12, further comprising openings for adjusting the flow rate of the cooling liquid flowing therebetween.
請求項13に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 13, further comprising an opening control unit that controls an area of each opening according to power consumption of the corresponding circuit board.
請求項13に記載の試験装置。 The refrigerant supply unit has a supply pipe for supplying the cooling liquid to the inside of the cooling casing, either on a front surface or a rear surface of the cooling casing facing the surface of the circuit board, and the cooling liquid The test apparatus according to claim 13, wherein both the discharge pipes that discharge to the outside of the cooling housing are connected.
前記排出パイプは、前記冷却筐体の前記正面又は背面のいずれか一方の、前記供給パイプと対角の位置に接続される
請求項15に記載の試験装置。 The supply pipe is connected to either one of the front or back of the cooling housing, near any vertex,
The test apparatus according to claim 15, wherein the discharge pipe is connected to a position diagonal to the supply pipe on either the front surface or the back surface of the cooling housing.
請求項16に記載の試験装置。 17. The test apparatus according to claim 16, wherein each opening of the partition wall has an area corresponding to a distance from the front surface or the back surface of the cooling housing to which the supply pipe and the discharge pipe are connected.
請求項13に記載の試験装置。 The test apparatus according to claim 13, wherein the partition wall is provided to be exchangeable with another partition wall having a different area.
予め定められた回路素子の温度を検出する温度検出部と、
当該回路素子を冷却するペルチェ素子と、
前記温度検出部が検出した当該回路素子の温度に基づいて、対応する前記ペルチェ素子を制御する個別温度制御部と
を有する請求項10に記載の試験装置。 The circuit board is
A temperature detecting unit for detecting a temperature of a predetermined circuit element;
A Peltier element for cooling the circuit element;
The test apparatus according to claim 10, further comprising: an individual temperature control unit that controls the corresponding Peltier element based on the temperature of the circuit element detected by the temperature detection unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006338702A JP2008151593A (en) | 2006-12-15 | 2006-12-15 | Testing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006338702A JP2008151593A (en) | 2006-12-15 | 2006-12-15 | Testing apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=39653909
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006338702A Withdrawn JP2008151593A (en) | 2006-12-15 | 2006-12-15 | Testing apparatus |
Country Status (1)
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- 2006-12-15 JP JP2006338702A patent/JP2008151593A/en not_active Withdrawn
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