JP2008151593A - Testing apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a space in a testing apparatus occupied by a cooling section for cooling a plurality of circuit boards. <P>SOLUTION: The testing apparatus for testing a device under test comprises: a test head having a plurality of circuit boards for generating a test signal applied to the device under test in accordance with an input control signal and for receiving an output signal of the device under test; the cooling section for accommodating and cooling the plurality of circuit boards; and a connecting section for interfacing signals between the device under test and the circuit boards. The cooling section comprises: a cooling case which accommodates the plurality of circuit boards and has apertures in its upper plane and lower plane; a surface side print circuit board which seals one aperture of the cooling section and interfaces signals between the plurality of circuit boards and the connecting section; a rear face side print circuit board which seals the other aperture of the cooling case and supplies control signals to the plurality of circuit boards; and a cooling medium supplying section for circulating a cooling liquid inside the cooling case. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、被試験デバイスを試験する試験装置に関する。特に本発明は、試験装置の回路基板を冷却する冷却部を備える試験装置に関する。   The present invention relates to a test apparatus for testing a device under test. In particular, the present invention relates to a test apparatus including a cooling unit that cools a circuit board of the test apparatus.

被試験デバイスを試験する試験装置において、試験装置の回路基板を冷却する冷却装置が知られている(例えば特許文献1参照)。試験装置は、複数の回路基板を有する場合がある。この場合、それぞれの回路基板を個別に金属のシールドケースに格納して、冷却することが考えられる。この場合、回路基板と、被試験デバイス等とを接続するべく、回路基板のコネクタ等を、シールドケースの外部に表出させる。例えば、コネクタが回路基板の端部に設けられ、回路部分が回路基板の内側に設けられている場合、シールドケースは、回路基板の回路部分を覆うように設けられる。また、それぞれの回路基板を個別にシールドケースに格納して、冷媒を循環させる隔壁を回路基板上に設けて冷媒の流路を生成することにより、回路基板の全体を効率よく冷却することも考えられる。   In a test apparatus for testing a device under test, a cooling apparatus that cools a circuit board of the test apparatus is known (for example, see Patent Document 1). The test apparatus may have a plurality of circuit boards. In this case, it can be considered that each circuit board is individually stored in a metal shield case and cooled. In this case, in order to connect the circuit board and the device under test, the connector of the circuit board is exposed outside the shield case. For example, when the connector is provided at the end of the circuit board and the circuit part is provided inside the circuit board, the shield case is provided so as to cover the circuit part of the circuit board. It is also possible to efficiently cool the entire circuit board by individually storing each circuit board in a shield case and providing a partition wall for circulating the refrigerant on the circuit board to generate a refrigerant flow path. It is done.

特開平10−51169号公報JP-A-10-511169

しかし、それぞれの回路基板を個別に冷却することが、好ましくない場合も考えられる。例えば、回路基板を個別にシールドケースに格納するので、多数の回路基板を冷却する場合に、シールドケースの厚みにより、回路基板を載置するためのスペースが大きくなってしまう場合が考えられる。このため、回路基板を載置するためのスペースが限られている場合に、多数の回路基板を個別に冷却することは、必ずしも好ましくない。また、シールドケースは、回路基板の一部を覆うように設けられ、コネクタ等を外部に表出させるので、複数の回路基板を一つのシールドケースで冷却することは困難である。   However, it may be undesirable to individually cool each circuit board. For example, since the circuit boards are individually stored in the shield case, when a large number of circuit boards are cooled, the space for mounting the circuit boards may be increased due to the thickness of the shield case. For this reason, when the space for mounting the circuit board is limited, it is not necessarily preferable to individually cool a large number of circuit boards. Further, since the shield case is provided so as to cover a part of the circuit board and the connector and the like are exposed to the outside, it is difficult to cool the plurality of circuit boards with one shield case.

また、回路基板上に隔壁を設けることが、好ましくない場合も考えられる。例えば、回路基板上に隔壁を設けるので、回路素子を配置するスペースが圧迫されてしまう。このため、多数の回路素子を回路基板に配置する場合に、回路基板上に隔壁を設けることは、必ずしも好ましくない。   In addition, it may be undesirable to provide a partition wall on the circuit board. For example, since the partition walls are provided on the circuit board, the space for arranging the circuit elements is compressed. For this reason, when arranging many circuit elements on a circuit board, it is not necessarily desirable to provide a partition on a circuit board.

このため、本発明の一つの側面においては、上記の課題を解決する試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。   Therefore, an object of one aspect of the present invention is to provide a test apparatus that solves the above problems. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.

上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、与えられる制御信号に応じて被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、被試験デバイスを載置し、被試験デバイスと回路基板との間で信号を受け渡す接続部とを備え、冷却部は、複数の回路基板を内部に格納し、上面及び下面に開口を有する冷却筐体と、冷却筐体の一方の開口を封止し、複数の回路基板と接続部との間で信号を受け渡す表面側プリント基板と、冷却筐体の他方の開口を封止し、複数の回路基板に制御信号を供給する裏面側プリント基板と、冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部とを有する試験装置を提供する。   In order to solve the above problems, in a first aspect of the present invention, a test apparatus for testing a device under test generates a test signal to be supplied to the device under test in accordance with a given control signal. A test head having a plurality of circuit boards for receiving the output signals of the test device, a cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards, and a device to be tested are placed between the device under test and the circuit boards. A cooling unit that houses a plurality of circuit boards therein, seals one opening of the cooling case, and a plurality of circuits. A front-side printed circuit board that passes signals between the circuit board and the connection section, a back-side printed circuit board that seals the other opening of the cooling housing and supplies control signals to a plurality of circuit boards, and a cooling housing Refrigerant that circulates cooling liquid inside Providing a test device having a feeding portion.

本発明の第2の形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、与えられる制御信号に応じて被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、被試験デバイスを載置し、被試験デバイスと回路基板との間で信号を受け渡す接続部とを備え、冷却部は、複数の回路基板を内部に格納する冷却筐体と、冷却筐体の内部において、隣接する回路基板の面が対向するように保持する保持部と、冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、冷却筐体の内部において、隣接する回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する基板間流路に流れる冷却液体の流量を調整する隔壁とを有する試験装置を提供する。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test, which generates a test signal to be supplied to the device under test according to a given control signal and receives an output signal of the device under test. A test head having a circuit board, a cooling part for storing and cooling a plurality of circuit boards, and a connection part for placing a device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board The cooling unit includes a cooling housing that stores a plurality of circuit boards therein, a holding unit that holds the surfaces of adjacent circuit boards facing each other inside the cooling housing, and a cooling unit that cools the inside of the cooling housing. Provided for each inter-substrate flow path formed by the adjacent circuit board in the coolant supply section for circulating the liquid and the cooling housing, and adjusts the flow rate of the cooling liquid flowing through the corresponding inter-substrate flow path With bulkhead Providing a test device having.

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。   The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and sub-combinations of these feature groups can also be the invention.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention. However, the following embodiments do not limit the invention according to the scope of claims, and all combinations of features described in the embodiments are included. It is not necessarily essential for the solution of the invention.

図1は、本発明の一つの実施形態に係る試験装置100の構成の一例を示す図である。試験装置100は、半導体チップ等の被試験デバイス200を試験する装置であって、接続部10、テストヘッド30、冷却部40、及びメインフレーム20を備える。   FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a configuration of a test apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. The test apparatus 100 is an apparatus for testing a device under test 200 such as a semiconductor chip, and includes a connection unit 10, a test head 30, a cooling unit 40, and a main frame 20.

メインフレーム20は、テストヘッド30を制御して、被試験デバイス200を試験する。例えばメインフレーム20は、テストヘッド30に制御信号を供給することにより、テストヘッド30に試験信号を生成させ、被試験デバイス200に供給させる。また、メインフレーム20は、テストヘッド30における被試験デバイス200の試験結果を受け取ってよい。   The main frame 20 controls the test head 30 to test the device under test 200. For example, the main frame 20 supplies a control signal to the test head 30 to cause the test head 30 to generate a test signal and supply it to the device under test 200. Further, the main frame 20 may receive a test result of the device under test 200 in the test head 30.

テストヘッド30は、メインフレーム20から与えられる制御信号に応じて、被試験デバイス200に供給する試験信号を生成して、被試験デバイスに供給する。例えばテストヘッド30は、所定の論理パターンを有する試験信号を生成してよい。また、テストヘッド30は、被試験デバイス200の出力信号を受け取り、被試験デバイス200の良否を判定する。例えばテストヘッド30は、当該出力信号の論理パターンと、予め定められた期待値の論理パターンとを比較することにより、被試験デバイス200の良否を判定してよい。   The test head 30 generates a test signal to be supplied to the device under test 200 according to a control signal given from the main frame 20 and supplies the test signal to the device under test. For example, the test head 30 may generate a test signal having a predetermined logic pattern. The test head 30 receives the output signal of the device under test 200 and determines whether the device under test 200 is good or bad. For example, the test head 30 may determine pass / fail of the device under test 200 by comparing the logic pattern of the output signal with a logic pattern of a predetermined expected value.

テストヘッド30は、複数の回路基板80を有する。回路基板80は、制御信号に応じて試験信号を生成して、被試験デバイス200の出力信号に基づいて被試験デバイス200の良否を判定してよい。また、2以上の回路基板80を用いて試験信号を生成してよく、2以上の回路基板80を用いて被試験デバイス200の良否を判定してよい。回路基板80は、試験内容、被試験デバイス200の種別等に応じて、交換可能に設けられる。   The test head 30 has a plurality of circuit boards 80. The circuit board 80 may generate a test signal according to the control signal and determine whether the device under test 200 is good or bad based on the output signal of the device under test 200. Further, the test signal may be generated using two or more circuit boards 80, and the quality of the device under test 200 may be determined using two or more circuit boards 80. The circuit board 80 is provided in a replaceable manner according to the test contents, the type of the device under test 200, and the like.

冷却部40は、複数の回路基板80を格納して冷却する。本例において冷却部40は、テストヘッド30に設けられる。接続部10は、被試験デバイス200と、回路基板80との間で信号を受け渡す。例えば接続部10は、被試験デバイス200を載置して、被試験デバイス200と電気的に接続されるソケットボードであってよい。また接続部10は、被試験デバイス200に対向して設けられ、プローブピンにより被試験デバイス200と電気的に接続されるプローブカードであってもよい。   The cooling unit 40 stores and cools the plurality of circuit boards 80. In this example, the cooling unit 40 is provided in the test head 30. The connection unit 10 passes signals between the device under test 200 and the circuit board 80. For example, the connection unit 10 may be a socket board that places the device under test 200 and is electrically connected to the device under test 200. The connection unit 10 may be a probe card that is provided to face the device under test 200 and is electrically connected to the device under test 200 by probe pins.

図2は、冷却部40の斜視図の一例を示す。冷却部40は、冷却筐体42、表面側プリント基板50、裏面側プリント基板60、供給パイプ44、排出パイプ46、及び冷媒供給部48を有する。冷却筐体42は、複数の回路基板80を内部に格納する。また、冷却筐体42は、上面及び下面に開口を有する。例えば冷却筐体42は、6面体の形状を有しており、対向するいずれか2面において開口を有してよい。また、冷却筐体42の、開口している上面及び下面以外の側面は、例えば金属材料で形成されてよい。   FIG. 2 shows an example of a perspective view of the cooling unit 40. The cooling unit 40 includes a cooling housing 42, a front surface side printed circuit board 50, a back surface side printed circuit board 60, a supply pipe 44, a discharge pipe 46, and a refrigerant supply unit 48. The cooling housing 42 stores a plurality of circuit boards 80 therein. Moreover, the cooling housing | casing 42 has opening in an upper surface and a lower surface. For example, the cooling housing 42 has a hexahedral shape, and may have an opening on any two opposing surfaces. Further, the side surfaces of the cooling casing 42 other than the opened upper and lower surfaces may be formed of, for example, a metal material.

表面側プリント基板50は、冷却筐体42の上面の開口を封止する。つまり、表面側プリント基板50は、冷却筐体42の上面の開口より大きい面積を有して、当該開口の全体を覆って設けられる。また、表面側プリント基板50の外部に表出する面には、コネクタ52が設けられる。コネクタ52は、表面側プリント基板50に設けられるスルーホール等の伝送経路を介して、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と電気的に接続される。またコネクタ52は、接続部10と電気的に接続される。このような構成により、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と、接続部10とを電気的に接続することができる。   The front surface side printed circuit board 50 seals the opening on the upper surface of the cooling housing 42. That is, the front side printed circuit board 50 has an area larger than the opening on the upper surface of the cooling housing 42 and is provided so as to cover the entire opening. A connector 52 is provided on the surface exposed to the outside of the front surface side printed board 50. The connector 52 is electrically connected to a circuit board 80 stored inside the cooling casing 42 via a transmission path such as a through hole provided in the front surface side printed board 50. The connector 52 is electrically connected to the connection unit 10. With such a configuration, it is possible to electrically connect the circuit board 80 stored in the cooling housing 42 and the connection unit 10.

裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の下面の開口を封止する。裏面側プリント基板60の構成は、表面側プリント基板60と同様であってよい。例えば裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の下面の開口より大きい面積を有しており、コネクタ52、スルーホール等を有してよい。裏面側プリント基板60は、冷却筐体42の内部に格納された回路基板80と、メインフレームとを電気的に接続する。   The back side printed circuit board 60 seals the opening on the lower surface of the cooling housing 42. The configuration of the back side printed board 60 may be the same as that of the front side printed board 60. For example, the back side printed circuit board 60 has an area larger than the opening on the lower surface of the cooling housing 42, and may have a connector 52, a through hole, and the like. The back side printed circuit board 60 electrically connects the circuit board 80 stored in the cooling housing 42 and the main frame.

供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42のいずれかの側面に設けられる。つまり、供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42において、表面側プリント基板50又は裏面側プリント基板60のいずれかが設けられる面とは異なる面に設けられる。冷媒供給部48は、冷却筐体42の内部に冷却液体を循環させることにより、複数の回路基板80を冷却する。   The supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are provided on either side of the cooling housing 42. That is, the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are provided on a surface different from the surface on which either the front surface side printed circuit board 50 or the back surface side printed circuit board 60 is provided in the cooling housing 42. The refrigerant supply unit 48 cools the plurality of circuit boards 80 by circulating the cooling liquid inside the cooling housing 42.

例えば冷媒供給部48は、供給パイプ44を介して、冷却筐体42の内部に冷却液体を供給する。また、冷媒供給部48は、排出パイプ46を介して、冷却筐体42の内部から冷却液体を受け取る。冷媒供給部48は、受け取った冷却液体に蓄積された熱量を放熱させて、冷却筐体42の内部に循環させる。供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42の各頂点のうち、対角の2点の近傍に設けられてよい。   For example, the refrigerant supply unit 48 supplies the cooling liquid to the inside of the cooling housing 42 via the supply pipe 44. Further, the refrigerant supply unit 48 receives the cooling liquid from the inside of the cooling housing 42 via the discharge pipe 46. The refrigerant supply unit 48 dissipates the heat accumulated in the received cooling liquid and circulates it inside the cooling casing 42. The supply pipe 44 and the discharge pipe 46 may be provided in the vicinity of two diagonal points among the apexes of the cooling housing 42.

本例における冷却部40によれば、冷却筐体42の上面及び下面を、プリント基板で封止しているので、回路基板80のコネクタ等を冷却筐体42の外部に表出させずに、接続部10及びメインフレーム20を電気的に接続することができる。つまり、それぞれの回路基板80の全体を冷却筐体42に格納することができるので、複数の回路基板80を一括して冷却することができる。このため、多数の回路基板80を冷却する場合であっても、冷却筐体42、及び回路基板80が設けられるべきスペースを低減することができる。   According to the cooling unit 40 in this example, since the upper surface and the lower surface of the cooling housing 42 are sealed with the printed circuit board, without exposing the connectors of the circuit board 80 to the outside of the cooling housing 42, The connection unit 10 and the main frame 20 can be electrically connected. That is, since the entire circuit boards 80 can be stored in the cooling housing 42, a plurality of circuit boards 80 can be cooled together. For this reason, even when many circuit boards 80 are cooled, the space where the cooling housing 42 and the circuit boards 80 should be provided can be reduced.

図3は、冷却部40における、図2に示したA−A'断面の一例を示す図である。また、図4は、冷却部40における、図2に示したB−B'断面の一例を示す図である。回路基板80は、図3に示す表面及びその裏面に、回路素子が設けられる。   FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the AA ′ cross section illustrated in FIG. 2 in the cooling unit 40. FIG. 4 is a diagram showing an example of the BB ′ cross section shown in FIG. The circuit board 80 is provided with circuit elements on the front surface and the back surface thereof shown in FIG.

図3及び図4に示すように、それぞれの回路基板80の一端が表面側プリント基板50と対向して、且つそれぞれの回路基板80の他端が裏面側プリント基板60と対向して設けられる。それぞれの回路基板80の一端に設けられたスプリングピン82等により、それぞれの回路基板80を、表面側プリント基板50と電気的に接続することができる。また、それぞれの回路基板80の他端に設けられたコネクタ84により、それぞれの回路基板80を、裏面側プリント基板60と電気的に接続することができる。   As shown in FIGS. 3 and 4, one end of each circuit board 80 is provided to face the front surface side printed board 50, and the other end of each circuit board 80 is provided to face the back side printed board 60. Each circuit board 80 can be electrically connected to the surface-side printed board 50 by a spring pin 82 or the like provided at one end of each circuit board 80. Further, each circuit board 80 can be electrically connected to the back side printed circuit board 60 by a connector 84 provided at the other end of each circuit board 80.

表面側プリント基板50には、冷却筐体42の内部と外部との間で信号を伝送するホール配線54が設けられる。また裏面側プリント基板60には、冷却筐体42の内部と外部との間で信号を伝送するホール配線64が設けられる。   The front-side printed circuit board 50 is provided with a hole wiring 54 that transmits a signal between the inside and the outside of the cooling housing 42. In addition, the back side printed circuit board 60 is provided with a hole wiring 64 for transmitting a signal between the inside and the outside of the cooling housing 42.

例えばホール配線54及びホール配線64は、表面側プリント基板50又は裏面側プリント基板60の、冷却筐体42の内部に表出する面と、冷却筐体42の外部に表出する面との間を貫通する貫通孔と、当該貫通孔に充填される導電材料を有してよい。また、ホール配線54及びホール配線64の当該貫通孔の開口は、導電材料で封止されてよい。例えばホール配線54及びホール配線64は、当該貫通孔の開口を覆うパッドを有してよい。   For example, the hole wiring 54 and the hole wiring 64 are formed between the surface of the front surface side printed board 50 or the back surface side printed board 60 that is exposed inside the cooling casing 42 and the surface that is exposed outside the cooling casing 42. And a conductive material filled in the through hole. Moreover, the opening of the through hole of the hole wiring 54 and the hole wiring 64 may be sealed with a conductive material. For example, the hole wiring 54 and the hole wiring 64 may have a pad that covers the opening of the through hole.

また、ホール配線54及びホール配線64のそれぞれは、それぞれの回路基板80に対して少なくとも一つ設けられる。例えばホール配線54は、それぞれの回路基板80に設けられたスプリングピン82に対応して設けられる。ホール配線54の冷却筐体42の内側のパッドと、対応するスプリングピン82とが電気的に接続される。   Further, at least one of the hall wiring 54 and the hall wiring 64 is provided for each circuit board 80. For example, the hole wiring 54 is provided corresponding to the spring pin 82 provided on each circuit board 80. Pads inside the cooling housing 42 of the hole wiring 54 and the corresponding spring pins 82 are electrically connected.

それぞれのスプリングピン82は、対応する回路基板80の一端から表面側プリント基板50に向かって、回路基板80の当該端面より突出して設けられる。スプリングピン82は、表面側プリント基板50からスプリングピン82の方向における押圧力に応じて伸縮するピンである。表面側プリント基板60は、それぞれのスプリングピン82に対応する位置に、ホール配線54を有する。   Each spring pin 82 is provided so as to protrude from one end of the corresponding circuit board 80 toward the front surface side printed board 50 from the end face of the circuit board 80. The spring pin 82 is a pin that expands and contracts according to the pressing force in the direction from the front surface side printed board 50 to the spring pin 82. The front surface side printed circuit board 60 has hole wirings 54 at positions corresponding to the respective spring pins 82.

コネクタ52は、表面側プリント基板50の表面において、ホール配線54と、接続部10とを電気的に接続する。例えばコネクタ52は、ホール配線54のパッドに接触する端子と、接続部10からのケーブルに接触する端子とを有してよい。コネクタ52は、回路基板80毎に設けられてよい。このような構成により、それぞれの回路基板80を、接続部10に電気的に接続することができる。   The connector 52 electrically connects the hole wiring 54 and the connection portion 10 on the surface of the front surface side printed board 50. For example, the connector 52 may include a terminal that contacts the pad of the hole wiring 54 and a terminal that contacts the cable from the connection unit 10. The connector 52 may be provided for each circuit board 80. With such a configuration, each circuit board 80 can be electrically connected to the connection portion 10.

また、回路基板80の他端に設けられるコネクタ84は、対応するホール配線64と、回路基板80とを電気的に接続する。例えばコネクタ84は、裏面側プリント基板60に設けられるホール配線64の、冷却筐体42の内側に設けられるパッドに接触する端子と、回路基板80の配線と接触する端子とを有してよい。コネクタ84は、回路基板80の端部に設けられるカードエッジコネクタであってよい。またコネクタ84は、裏面側プリント基板60に設けられるコネクタに対して、裏面側プリント基板60と略水平な方向から挿入することにより嵌合するライトアングルコネクタであってよい。   A connector 84 provided at the other end of the circuit board 80 electrically connects the corresponding hole wiring 64 and the circuit board 80. For example, the connector 84 may include a terminal that contacts the pad provided inside the cooling housing 42 of the hole wiring 64 provided on the back surface side printed board 60 and a terminal that contacts the wiring of the circuit board 80. The connector 84 may be a card edge connector provided at the end of the circuit board 80. Further, the connector 84 may be a right angle connector that is fitted to a connector provided on the back surface side printed circuit board 60 by being inserted in a substantially horizontal direction with the back surface side printed circuit board 60.

またコネクタ84は、回路基板80を冷却筐体42に固定する保持部として機能してもよい。コネクタ84は、図4に示すように、冷却筐体42の内部において、隣接する回路基板80の面が対向するように保持する。また、コネクタ84は、図4に示すように、それぞれの回路基板80を略平行に保持する。   The connector 84 may function as a holding unit that fixes the circuit board 80 to the cooling housing 42. As shown in FIG. 4, the connector 84 is held inside the cooling housing 42 so that the surfaces of the adjacent circuit boards 80 face each other. Further, as shown in FIG. 4, the connector 84 holds the circuit boards 80 substantially in parallel.

ホール配線64の、冷却筐体42の外側のパッドにより、マザーボード90に設けられたスプリングピン92と電気的に接続される。マザーボード90は、例えば冷却部40とメインフレーム20とを電気的に接続する基板である。このような構成により、それぞれの回路基板80を、メインフレーム20と電気的に接続することができる。   The hole wiring 64 is electrically connected to a spring pin 92 provided on the mother board 90 by a pad outside the cooling housing 42. The motherboard 90 is a substrate that electrically connects the cooling unit 40 and the main frame 20, for example. With such a configuration, each circuit board 80 can be electrically connected to the main frame 20.

また、冷却筐体42と、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60との接続箇所には、密閉度を向上させるゴムパッキン等のシール材が設けられていることが好ましい。本例における冷却部40によれば、冷却筐体42の内部を密閉し、且つ冷却筐体42の内部と外部とを電気的に接続することができる。このため、複数の回路基板80を一括して冷却することができる。   Further, it is preferable that a sealing material such as a rubber packing for improving the sealing degree is provided at a connection portion between the cooling casing 42 and the front surface side printed circuit board 50 and the rear surface side printed circuit board 60. According to the cooling unit 40 in this example, the inside of the cooling housing 42 can be sealed, and the inside and the outside of the cooling housing 42 can be electrically connected. For this reason, the plurality of circuit boards 80 can be cooled together.

図5は、ホール配線54の構成の一例を示す図である。ホール配線54は、第1パッド56、第1ビアホール66、配線層70、第2ビアホール68、及び第2パッド58を有する。また、ホール配線64も、ホール配線54と同一の構成を有してよい。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the configuration of the hole wiring 54. The hole wiring 54 includes a first pad 56, a first via hole 66, a wiring layer 70, a second via hole 68, and a second pad 58. Also, the hole wiring 64 may have the same configuration as the hole wiring 54.

第1パッド56は、表面側プリント基板50の表面に設けられる。また、第2パッド58は、表面側プリント基板50の裏面に設けられる。配線層70は、表面側プリント基板50の内部に設けられる。例えば配線層70は、表面側プリント基板50の表面及び裏面の略中間の層に設けられる。   The first pad 56 is provided on the surface of the front side printed circuit board 50. The second pad 58 is provided on the back surface of the front surface side printed board 50. The wiring layer 70 is provided inside the front surface side printed board 50. For example, the wiring layer 70 is provided in a substantially intermediate layer between the front surface and the back surface of the front surface side printed board 50.

第1ビアホール66は、表面側プリント基板50の表面に設けられた第1パッド56から、配線層70まで貫通して設けられる。また第1ビアホールの少なくとも内壁には、導電材料が形成される。これにより、第1パッド56と配線層70とを電気的に接続する。   The first via hole 66 is provided so as to penetrate from the first pad 56 provided on the surface side printed circuit board 50 to the wiring layer 70. A conductive material is formed on at least the inner wall of the first via hole. Thereby, the first pad 56 and the wiring layer 70 are electrically connected.

第2ビアホール68は、表面側プリント基板50の裏面に設けられた第2パッド58から、配線層70まで貫通して設けられる。また第2ビアホールの少なくとも内壁には、導電材料が形成される。これにより、第2パッド58と配線層70とを電気的に接続する。つまり、第1パッド56と第2パッド58とを電気的に接続する。配線層70は、ホール配線54毎に独立して設けられてよい。また、第2ビアホール68は、対応する第1ビアホール66とは異なる直線上に設けられる。このような構成により、ホール配線54における密閉度を向上させ、冷却筐体42の内部から冷却液体が漏れることを防ぐことができる。   The second via hole 68 is provided so as to penetrate from the second pad 58 provided on the back surface of the front surface side printed board 50 to the wiring layer 70. A conductive material is formed on at least the inner wall of the second via hole. Thereby, the second pad 58 and the wiring layer 70 are electrically connected. That is, the first pad 56 and the second pad 58 are electrically connected. The wiring layer 70 may be provided independently for each hole wiring 54. The second via hole 68 is provided on a straight line different from the corresponding first via hole 66. With such a configuration, the sealing degree in the hole wiring 54 can be improved, and the cooling liquid can be prevented from leaking from the inside of the cooling casing 42.

図6は、表面側プリント基板50の表面に設けられる補強材72の一例を示す。尚、本例においては、コネクタ52を省略して説明する。図6(a)は、表面側プリント基板50の表面図の一例を示す。また図6(b)は、図6(a)におけるC−C'断面の一例を示す。   FIG. 6 shows an example of the reinforcing material 72 provided on the surface of the front surface side printed board 50. In this example, the connector 52 is omitted. FIG. 6A shows an example of a surface view of the front surface side printed board 50. FIG. 6B shows an example of a CC ′ cross section in FIG.

補強材72は、表面側プリント基板50の、予め定められた基板面積毎に設けられる。例えば補強材72は、図6(a)に示すように格子状に設けられてよい。各格子の面積は略同一であってよい。補強材72は、表面側プリント基板50の単位面積当たりの物理的な強度が、冷却筐体42の単位面積当たりの物理的な強度と略同一となるように設けられてよい。例えば補強材72は、冷却筐体42と略同一の材料で形成されており、補強材72の、表面側プリント基板50の表面に垂直な方向における厚さは、冷却筐体42の各側面の厚さより大きくてよい。また、裏面側プリント基板60にも、同様の補強材72が設けられてよい。   The reinforcing material 72 is provided for each predetermined board area of the front surface side printed board 50. For example, the reinforcing material 72 may be provided in a lattice shape as shown in FIG. The area of each lattice may be substantially the same. The reinforcing material 72 may be provided so that the physical strength per unit area of the front-side printed circuit board 50 is substantially the same as the physical strength per unit area of the cooling housing 42. For example, the reinforcing material 72 is made of substantially the same material as that of the cooling housing 42, and the thickness of the reinforcing material 72 in the direction perpendicular to the surface of the front surface side printed circuit board 50 is set on each side surface of the cooling housing 42. It may be larger than the thickness. Further, a similar reinforcing material 72 may be provided on the back side printed board 60.

試験装置100は、テストヘッド30を回転させて、被試験デバイス200と電気的に接続させる場合がある。このような場合であっても、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60の強度が、冷却筐体42の強度と同程度に補強されているので、冷却部40の破損を防ぐことができる。   The test apparatus 100 may be electrically connected to the device under test 200 by rotating the test head 30. Even in such a case, the strength of the front surface side printed circuit board 50 and the back surface side printed circuit board 60 is reinforced to the same degree as the strength of the cooling housing 42, and therefore the breakage of the cooling unit 40 can be prevented. .

図7は、冷却部40における斜視図の他の例を示す。本例における冷却部40は、供給パイプ44及び排出パイプ46が、冷却筐体42の同一の面に設けられる点で、図2に示した冷却部40と相違する。他の構成は、図2に示した冷却部40と同一であってよい。例えば供給パイプ44及び排出パイプ46は、冷却筐体42の正面又は背面のいずれか一方の面における対角の近傍に設けられてよい。ここで、冷却筐体42の正面又は背面とは、冷却筐体42において、表面側プリント基板50及び裏面側プリント基板60が設けられない4面のうちの、対向するいずれかの2面である。   FIG. 7 shows another example of a perspective view of the cooling unit 40. The cooling unit 40 in this example is different from the cooling unit 40 shown in FIG. 2 in that the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are provided on the same surface of the cooling housing 42. The other configuration may be the same as that of the cooling unit 40 shown in FIG. For example, the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 may be provided in the vicinity of the diagonal on either the front surface or the back surface of the cooling housing 42. Here, the front surface or the back surface of the cooling housing 42 is any two surfaces of the cooling housing 42 that face each other out of the four surfaces on which the front surface side printed circuit board 50 and the back surface side printed circuit board 60 are not provided. .

図8は、冷却筐体42の内部構造の一例を示す図である。本例においては、表面側プリント基板50の方向から、冷却筐体42の内部を見た図を示す。尚、本例における冷却部40は、図2から図5に示した冷却部40に対して、隔壁74を更に備え、また供給パイプ44及び排出パイプ46が、冷却筐体42の同一の面に設けられる点で、図2から図5おいて説明した冷却部40と相違する。他の構成は、図2から図5において説明した冷却部40と同一であってよい。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the internal structure of the cooling housing 42. In this example, the figure which looked at the inside of the cooling housing | casing 42 from the direction of the surface side printed circuit board 50 is shown. The cooling unit 40 in this example further includes a partition wall 74 with respect to the cooling unit 40 shown in FIGS. 2 to 5, and the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are on the same surface of the cooling housing 42. It is different from the cooling unit 40 described in FIGS. 2 to 5 in that it is provided. Other configurations may be the same as those of the cooling unit 40 described with reference to FIGS.

上述したように、それぞれの回路基板80は、冷却筐体42の内部において、隣接する回路基板80の面が対向するように、保持部により略平行に保持される。また、保持部は、回路基板80の面と、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられる冷却筐体42の面とが略平行に対向するように、それぞれの回路基板80を保持する。これにより、隣接する回路基板80の間に、冷却液体が流れる基板間流路が形成される。また、複数の回路基板80のうち、両端に設けられた回路基板80と、冷却筐体42の正面及び背面との間にも、同様に冷却液体が流れる基板間流路が形成される。   As described above, the respective circuit boards 80 are held substantially in parallel by the holding portions in the cooling housing 42 so that the surfaces of the adjacent circuit boards 80 face each other. The holding unit holds each circuit board 80 so that the surface of the circuit board 80 and the surface of the cooling housing 42 on which the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are provided are substantially parallel to each other. Thereby, an inter-substrate flow path through which the cooling liquid flows is formed between adjacent circuit boards 80. Further, between the circuit boards 80 among the plurality of circuit boards 80, an inter-substrate flow path through which the cooling liquid similarly flows is formed between the circuit boards 80 provided at both ends and the front and back surfaces of the cooling housing 42.

また、保持部は、それぞれの回路基板80を、冷却筐体42の上面(本例では、表面側プリント基板50)及び冷却筐体42の下面(本例では、裏面側プリント基板60)に接触させて保持する。例えば、それぞれの回路基板80のスプリングピン82が、冷却筐体42の上面に接触する。また、それぞれの回路基板80のコネクタ84が、冷却筐体42の下面に接触する。   In addition, the holding unit contacts each circuit board 80 with the upper surface of the cooling housing 42 (in this example, the front surface side printed circuit board 50) and the lower surface of the cooling housing 42 (in this example, the back surface side printed circuit board 60). Let hold. For example, the spring pin 82 of each circuit board 80 contacts the upper surface of the cooling housing 42. Further, the connector 84 of each circuit board 80 contacts the lower surface of the cooling housing 42.

また、保持部は、それぞれの回路基板80を、冷却筐体42の上面及び下面以外の面と接触させずに保持する。これにより、冷却筐体42の側面(本例では、冷却筐体42の6面のうち、上面、下面、正面、及び背面以外の2つの面)と、回路基板80との間に、冷却液体が流れる外側流路が形成される。   The holding unit holds each circuit board 80 without bringing it into contact with a surface other than the upper surface and the lower surface of the cooling housing 42. Thus, the cooling liquid is provided between the side surface of the cooling housing 42 (in this example, two surfaces other than the top surface, the bottom surface, the front surface, and the back surface among the six surfaces of the cooling housing 42) and the circuit board 80. An outer flow path through which the gas flows is formed.

このような構成により、冷却筐体42の内部において、供給パイプ44から供給された冷却液体が、冷却筐体42の側面に沿った第1外側流路102に流れる。また、第1外側流路102から、略直交するそれぞれの基板間流路104に冷却液体が流れる。そして、それぞれの基板間流路104を通過した冷却液体が、冷却筐体42の側面に沿った第2外側流路106に流れ、排出パイプ46から排出される。このような構成により、冷却筐体42の内部に冷却液体を循環させ、それぞれの回路基板80を冷却することができる。   With such a configuration, the cooling liquid supplied from the supply pipe 44 flows into the first outer flow path 102 along the side surface of the cooling casing 42 inside the cooling casing 42. In addition, the cooling liquid flows from the first outer channel 102 to each inter-substrate channel 104 that is substantially orthogonal. Then, the cooling liquid that has passed through each inter-substrate flow path 104 flows into the second outer flow path 106 along the side surface of the cooling housing 42 and is discharged from the discharge pipe 46. With such a configuration, it is possible to circulate the cooling liquid inside the cooling housing 42 and cool the respective circuit boards 80.

但し、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられる冷却筐体42の面からの距離が大きい基板間流路104は、当該距離がより小さい基板間流路104に比べ、冷却液体の流量が小さくなることも考えられる。このため、冷却部40は、基板間流路104毎に隔壁を設け、対応する基板間流路104に流れる冷却液体の流量が略均等となるように調整する。   However, the inter-substrate flow path 104 having a large distance from the surface of the cooling housing 42 where the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are provided has a smaller cooling liquid flow rate than the inter-substrate flow path 104 having a smaller distance. It is also possible. For this reason, the cooling unit 40 provides a partition for each inter-substrate flow path 104 and adjusts the flow rate of the cooling liquid flowing through the corresponding inter-substrate flow path 104 to be substantially equal.

それぞれの隔壁74は、冷却筐体42の側面と、回路基板80との間に、それぞれの基板間流路104に対応して設けられる。例えば、それぞれの隔壁74は、第1外側流路102から、対応する基板間流路104に、冷却液体を通過させる開口部76を形成するように設けられてよい。また、それぞれの隔壁74は、対応する基板間流路104から、第2外側流路106に、冷却液体を通過させる開口部76を形成するように設けられてよい。   Each partition wall 74 is provided between the side surface of the cooling housing 42 and the circuit board 80 so as to correspond to each inter-substrate flow path 104. For example, each partition wall 74 may be provided so as to form an opening 76 through which the cooling liquid passes from the first outer channel 102 to the corresponding inter-substrate channel 104. Each partition wall 74 may be provided so as to form an opening 76 through which the cooling liquid passes from the corresponding inter-substrate channel 104 to the second outer channel 106.

例えば隔壁74は、冷却筐体42の上面から下面に渡って形成される。本例では、隔壁74は、裏面側プリント基板60の、冷却筐体42の内側に表出する面に固定され、且つ表面側プリント基板50の、冷却筐体42の内側に表出する面に接触して設けられる。また、隔壁74は、冷却筐体42の側面と略平行に延伸して設けられてよい。   For example, the partition wall 74 is formed from the upper surface to the lower surface of the cooling housing 42. In this example, the partition wall 74 is fixed to the surface of the back side printed circuit board 60 that is exposed inside the cooling casing 42, and the surface that is exposed to the inside of the cooling casing 42 of the front surface side printed circuit board 50. Provided in contact. The partition wall 74 may be provided so as to extend substantially parallel to the side surface of the cooling housing 42.

また、隔壁74は、それぞれの回路基板80の端部の近傍に、回路基板80と略直行して設けられてよい。それぞれの隔壁74は、一体に形成されてよく、また分離して形成されてもよい。分離して形成される場合、それぞれの隔壁74の間隙による開口部76を、冷却液体が通過する。   Further, the partition walls 74 may be provided in the vicinity of the end portions of the respective circuit boards 80 so as to be substantially perpendicular to the circuit boards 80. Each partition 74 may be formed integrally or may be formed separately. When formed separately, the cooling liquid passes through the openings 76 formed by the gaps between the partition walls 74.

また、隔壁74は、それぞれの開口部76の面積が、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に応じた面積となるように、設けられてよい。例えばそれぞれの隔壁74の面積を、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に応じて小さくすることにより、それぞれの開口部76の面積を、供給パイプ44及び排出パイプ46からの距離に略比例して大きくしてよい。   The partition walls 74 may be provided so that the area of each opening 76 is an area corresponding to the distance from the supply pipe 44 and the discharge pipe 46. For example, by reducing the area of each partition wall 74 according to the distance from the supply pipe 44 and the discharge pipe 46, the area of each opening 76 is substantially proportional to the distance from the supply pipe 44 and the discharge pipe 46. You can make it bigger.

また、隔壁74は、対応する回路基板80の消費電力に応じて、開口部76の面積を調整するように設けられてもよい。例えば、対応する回路基板80の消費電力がより大きい開口部76の面積を、より大きくしてよい。隔壁74は、回路基板80の消費電力に応じて交換可能に設けられてよい。例えばそれぞれの隔壁74は、裏面側プリント基板60に、面積が異なる他の隔壁74と交換可能に固定されてよい。   The partition wall 74 may be provided so as to adjust the area of the opening 76 in accordance with the power consumption of the corresponding circuit board 80. For example, the area of the opening 76 where the power consumption of the corresponding circuit board 80 is larger may be increased. The partition wall 74 may be provided in a replaceable manner according to the power consumption of the circuit board 80. For example, each partition 74 may be fixed to the back side printed circuit board 60 so as to be exchangeable with another partition 74 having a different area.

また、冷却部40は、それぞれの開口部76の面積を、対応する回路基板80の消費電力に応じて制御する開口制御部を更に備えてよい。例えばそれぞれの隔壁74は、裏面側プリント基板60に固定される固定部と、当該固定部に対してスライド可能に設けられたスライド部とを有しており、開口制御部は、当該スライド部をスライドさせることにより、開口部76の面積を調整してよい。このような構成により、それぞれの基板間流路に流れる冷却液体の流量を調整することができる。このため、それぞれの回路基板80を効率よく冷却することができる。   The cooling unit 40 may further include an opening control unit that controls the area of each opening 76 according to the power consumption of the corresponding circuit board 80. For example, each partition wall 74 has a fixed portion fixed to the back surface side printed circuit board 60 and a slide portion provided so as to be slidable with respect to the fixed portion, and the opening control portion includes the slide portion. The area of the opening 76 may be adjusted by sliding. With such a configuration, it is possible to adjust the flow rate of the cooling liquid flowing in each inter-substrate flow path. For this reason, each circuit board 80 can be efficiently cooled.

図9は、テストヘッド30の構成の他の例を示す図である。本例におけるテストヘッド30は、複数の冷却部40を備える。図7に示したように、供給パイプ44及び排出パイプ46を、冷却筐体42における同一の面に設けることにより、複数の冷却部40を並べて載置することができる。つまり、それぞれの冷却部40の、供給パイプ44及び排出パイプ46が設けられていない面を隣り合わせることにより、複数の冷却部40を並べて載置することができる。このため、冷却部40が設置されるスペースを低減することができる。   FIG. 9 is a diagram illustrating another example of the configuration of the test head 30. The test head 30 in this example includes a plurality of cooling units 40. As shown in FIG. 7, by providing the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 on the same surface of the cooling housing 42, a plurality of cooling units 40 can be mounted side by side. That is, a plurality of cooling units 40 can be mounted side by side by adjoining the surfaces of the cooling units 40 where the supply pipe 44 and the discharge pipe 46 are not provided. For this reason, the space where the cooling unit 40 is installed can be reduced.

図10は、回路基板80の構成の一例を示す図である。回路基板80は、回路素子86、ペルチェ素子88、温度検出部96、及び個別温度制御部98を備える。ペルチェ素子88は、回路基板80に設けられる回路のうち、予め定められた回路素子86の表面に設けられる。例えばペルチェ素子88は、遅延素子等の、温度変動に対する特性変動が大きい回路素子86に設けられてよい。ペルチェ素子88は、電圧が印加されることにより、一方の面の熱量を他方の面に移動させる素子である。   FIG. 10 is a diagram illustrating an example of the configuration of the circuit board 80. The circuit board 80 includes a circuit element 86, a Peltier element 88, a temperature detection unit 96, and an individual temperature control unit 98. The Peltier element 88 is provided on the surface of a predetermined circuit element 86 among the circuits provided on the circuit board 80. For example, the Peltier element 88 may be provided in a circuit element 86 having a large characteristic variation with respect to a temperature variation, such as a delay element. The Peltier element 88 is an element that moves the amount of heat of one surface to the other surface when a voltage is applied.

温度検出部96は、ペルチェ素子88が設けられた回路素子86の温度を検出する。例えば温度検出部96は、回路素子86に設けられた熱電対、サーミスタ等の抵抗を検出することにより、回路素子86の温度を検出してよい。   The temperature detection unit 96 detects the temperature of the circuit element 86 provided with the Peltier element 88. For example, the temperature detection unit 96 may detect the temperature of the circuit element 86 by detecting the resistance of a thermocouple, thermistor, or the like provided in the circuit element 86.

個別温度制御部98は、温度検出部96が検出した回路素子86の温度に基づいて、対応するペルチェ素子88を制御する。例えば個別温度制御部98は、回路素子86が、予め定められた温度を維持するように、ペルチェ素子88に与える電圧を調整する。このような構成により、冷却液体による冷却にばらつきが有る場合であっても、回路基板80を精度よく動作させることができる。   The individual temperature control unit 98 controls the corresponding Peltier element 88 based on the temperature of the circuit element 86 detected by the temperature detection unit 96. For example, the individual temperature control unit 98 adjusts the voltage applied to the Peltier element 88 so that the circuit element 86 maintains a predetermined temperature. With such a configuration, the circuit board 80 can be operated with high accuracy even when the cooling by the cooling liquid varies.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

本発明の一つの実施形態に係る試験装置100の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the test apparatus 100 which concerns on one embodiment of this invention. 冷却部40の斜視図の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the perspective view of the cooling unit. 冷却部40における、図2に示したA−A'断面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the AA 'cross section shown in FIG. 冷却部40における、図2に示したB−B'断面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the BB 'cross section shown in FIG. ホール配線54の構成の一例を示す図である。3 is a diagram illustrating an example of a configuration of a hole wiring 54. FIG. 表面側プリント基板50の表面に設けられる補強材72の一例を示す。図6(a)は、表面側プリント基板50の表面図の一例を示す。また図6(b)は、図6(a)におけるC−C'断面の一例を示す。An example of the reinforcing material 72 provided on the surface of the front surface side printed circuit board 50 is shown. FIG. 6A shows an example of a surface view of the front surface side printed board 50. FIG. 6B shows an example of a CC ′ cross section in FIG. 冷却部40における斜視図の他の例を示す。The other example of the perspective view in the cooling unit 40 is shown. 冷却筐体42の内部構造の一例を示す図である。3 is a diagram illustrating an example of an internal structure of a cooling housing 42. FIG. テストヘッド30の構成の他の例を示す図である。4 is a diagram illustrating another example of the configuration of the test head 30. FIG. 回路基板80の構成の一例を示す図である。3 is a diagram illustrating an example of a configuration of a circuit board 80. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・接続部、20・・・メインフレーム、30・・・テストヘッド、40・・・冷却部、42・・・冷却筐体、44・・・供給パイプ、46・・・排出パイプ、48・・・冷媒供給部、50・・・表面側プリント基板、52・・・コネクタ、54・・・ホール配線、56・・・第1パッド、58・・・第2パッド、60・・・裏面側プリント基板、64・・・ホール配線、66・・・第1ビアホール、68・・・第2ビアホール、70・・・配線層、72・・・補強財、74・・・隔壁、76・・・開口部、80・・・回路基板、82・・・スプリングピン、84・・・コネクタ、86・・・回路素子、88・・・ペルチェ素子、90・・・マザーボード、92・・・スプリングピン、96・・・温度検出部、98・・・個別温度制御部、100・・・試験装置、102・・・第1外側流路、104・・・基板間流路、106・・・第2外側流路、200・・・被試験デバイス DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Connection part, 20 ... Main frame, 30 ... Test head, 40 ... Cooling part, 42 ... Cooling housing, 44 ... Supply pipe, 46 ... Discharge pipe, 48 ... Refrigerant supply unit, 50 ... Front side printed circuit board, 52 ... Connector, 54 ... Hall wiring, 56 ... First pad, 58 ... Second pad, 60 ... Back side printed circuit board, 64 ... hole wiring, 66 ... first via hole, 68 ... second via hole, 70 ... wiring layer, 72 ... reinforcing goods, 74 ... partition wall, 76 ..Opening part, 80 ... circuit board, 82 ... spring pin, 84 ... connector, 86 ... circuit element, 88 ... Peltier element, 90 ... motherboard, 92 ... spring Pin, 96 ... temperature detector, 98 ... individual temperature control , 100 ... test apparatus, 102 ... first outer channel, 104 ... substrate inter-channel, 106 ... second outer channel, 200 ... device under test

Claims (19)

被試験デバイスを試験する試験装置であって、
与えられる制御信号に応じて前記被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、前記被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、
前記複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、
前記被試験デバイスを載置し、前記被試験デバイスと前記回路基板との間で信号を受け渡す接続部と
を備え、
前記冷却部は、
前記複数の回路基板を内部に格納し、上面及び下面に開口を有する冷却筐体と、
前記冷却筐体の一方の開口を封止し、前記複数の回路基板と前記接続部との間で信号を受け渡す表面側プリント基板と、
前記冷却筐体の他方の開口を封止し、前記複数の回路基板に前記制御信号を供給する裏面側プリント基板と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と
を有する試験装置。
A test apparatus for testing a device under test,
A test head having a plurality of circuit boards for generating a test signal to be supplied to the device under test in response to a given control signal and receiving an output signal of the device under test;
A cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards;
A mounting part for placing the device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board;
The cooling part is
A plurality of circuit boards stored therein, and a cooling housing having openings on the upper surface and the lower surface;
Sealing one opening of the cooling housing, and a surface-side printed board that passes signals between the plurality of circuit boards and the connection part,
Sealing the other opening of the cooling housing and supplying the control signal to the plurality of circuit boards;
A test apparatus comprising: a refrigerant supply unit configured to circulate a cooling liquid inside the cooling casing.
前記表面側プリント基板及び前記裏面側プリント基板には、前記冷却筐体の内部と外部との間で信号を伝送するホール配線が設けられる
請求項1に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 1, wherein a hole wiring for transmitting a signal between the inside and the outside of the cooling housing is provided on the front surface side printed board and the back surface side printed board.
前記ホール配線の開口は、導電材料で封止される
請求項2に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 2, wherein the opening of the hole wiring is sealed with a conductive material.
前記ホール配線は、それぞれの前記回路基板に対して少なくとも一つ設けられる
請求項2に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 2, wherein at least one hole wiring is provided for each circuit board.
前記複数の回路基板は、それぞれの前記回路基板の一端が前記表面側プリント基板と対向し、且つそれぞれの前記回路基板の他端が前記裏面側プリント基板と対向するように設けられ、
それぞれの前記回路基板は、それぞれの前記一端から前記表面側プリント基板に向かって、前記回路基板の端面より突出して設けられたスプリングピンを有し、
前記表面側プリント基板は、それぞれの前記スプリングピンに対応する位置に、前記ホール配線を有する
請求項2に記載の試験装置。
The plurality of circuit boards are provided such that one end of each circuit board faces the front surface side printed board and the other end of each circuit board faces the back surface side printed board,
Each of the circuit boards has a spring pin provided so as to protrude from the end face of the circuit board toward the front surface side printed board from the one end.
The test apparatus according to claim 2, wherein the surface-side printed board has the hole wiring at a position corresponding to each of the spring pins.
それぞれの前記回路基板は、それぞれの前記他端に、前記裏面側プリント基板の前記ホール配線と接続されるコネクタを有する
請求項5に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 5, wherein each of the circuit boards has a connector connected to the hole wiring of the back printed circuit board at the other end.
前記ホール配線は、
基板の内部に設けられた配線層と、
前記基板の表面から前記配線層まで設けられた第1ビアホールと、
前記基板の裏面から前記配線層まで設けられた第2ビアホールと
を有する請求項2に記載の試験装置。
The hole wiring is
A wiring layer provided inside the substrate;
A first via hole provided from the surface of the substrate to the wiring layer;
The test apparatus according to claim 2, further comprising: a second via hole provided from the back surface of the substrate to the wiring layer.
前記表面側プリント基板及び前記裏面側プリント基板には、予め定められた基板面積毎に補強材が設けられる
請求項1に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 1, wherein the front surface side printed board and the back surface side printed board are provided with a reinforcing material for each predetermined board area.
前記冷却部は、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板の面が対向するように保持する保持部と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する前記基板間流路に流れる前記冷却液体の流量を調整する隔壁と
を更に有する請求項1に記載の試験装置。
The cooling part is
Inside the cooling housing, a holding part that holds the adjacent circuit board faces to face each other,
A coolant supply section for circulating a cooling liquid inside the cooling housing;
A partition that is provided for each inter-substrate flow path formed by the adjacent circuit boards inside the cooling housing and adjusts the flow rate of the cooling liquid flowing through the corresponding inter-substrate flow path. The test apparatus according to claim 1.
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
与えられる制御信号に応じて前記被試験デバイスに供給する試験信号を生成し、前記被試験デバイスの出力信号を受け取る複数の回路基板を有するテストヘッドと、
前記複数の回路基板を格納して冷却する冷却部と、
前記被試験デバイスを載置し、前記被試験デバイスと前記回路基板との間で信号を受け渡す接続部と
を備え、
前記冷却部は、
前記複数の回路基板を内部に格納する冷却筐体と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板の面が対向するように保持する保持部と、
前記冷却筐体の内部に冷却液体を循環させる冷媒供給部と、
前記冷却筐体の内部において、隣接する前記回路基板により形成されるそれぞれの基板間流路毎に設けられ、対応する前記基板間流路に流れる前記冷却液体の流量を調整する隔壁と
を有する試験装置。
A test apparatus for testing a device under test,
A test head having a plurality of circuit boards for generating a test signal to be supplied to the device under test in response to a given control signal and receiving an output signal of the device under test;
A cooling unit for storing and cooling the plurality of circuit boards;
A mounting part for placing the device under test and passing a signal between the device under test and the circuit board;
The cooling part is
A cooling housing for storing the plurality of circuit boards therein;
Inside the cooling housing, a holding part that holds the adjacent circuit board faces to face each other,
A coolant supply section for circulating a cooling liquid inside the cooling housing;
A test provided in each of the inter-substrate flow paths formed by the adjacent circuit boards in the cooling casing, and a partition for adjusting the flow rate of the cooling liquid flowing in the corresponding inter-substrate flow path. apparatus.
前記保持部は、それぞれの前記回路基板を略平行に保持する
請求項10に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 10, wherein the holding unit holds the circuit boards substantially in parallel.
前記保持部は、それぞれの前記回路基板を、前記冷却筐体の上面及び下面に接触させ、且つ前記冷却筐体の前記上面及び前記下面以外の他の面と接触させずに保持し、
前記隔壁は、前記冷却筐体の前記他の面のうちの前記回路基板と略垂直な側面と、前記回路基板との間に、前記冷却筐体の前記上面から前記下面に渡って形成される
請求項11に記載の試験装置。
The holding unit holds each circuit board in contact with the upper surface and the lower surface of the cooling housing and without contacting the other surfaces other than the upper surface and the lower surface of the cooling housing;
The partition is formed from the upper surface to the lower surface of the cooling housing between a side surface substantially perpendicular to the circuit board of the other surfaces of the cooling housing and the circuit board. The test apparatus according to claim 11.
前記隔壁は、それぞれの前記基板間流路に対応する位置に、前記冷却筐体の前記側面に沿って形成される外側流路と、隣接する前記回路基板により形成される基板間流路との間に流れる前記冷却液体の流量を調整する開口部をそれぞれ有する
請求項12に記載の試験装置。
The partition wall includes an outer channel formed along the side surface of the cooling housing at a position corresponding to each inter-substrate channel, and an inter-substrate channel formed by the adjacent circuit board. The test apparatus according to claim 12, further comprising openings for adjusting the flow rate of the cooling liquid flowing therebetween.
それぞれの前記開口部の面積を、対応する前記回路基板の消費電力に応じて制御する開口制御部を更に備える
請求項13に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 13, further comprising an opening control unit that controls an area of each opening according to power consumption of the corresponding circuit board.
前記冷媒供給部は、前記回路基板の面と対向する前記冷却筐体の正面又は背面のいずれか一方に、前記冷却液体を前記冷却筐体の内部に供給する供給パイプ、及び前記冷却液体を前記冷却筐体の外部に排出する排出パイプの双方を接続する
請求項13に記載の試験装置。
The refrigerant supply unit has a supply pipe for supplying the cooling liquid to the inside of the cooling casing, either on a front surface or a rear surface of the cooling casing facing the surface of the circuit board, and the cooling liquid The test apparatus according to claim 13, wherein both the discharge pipes that discharge to the outside of the cooling housing are connected.
前記供給パイプは、前記冷却筐体の前記正面又は背面のいずれか一方の、いずれかの頂点近傍に接続され、
前記排出パイプは、前記冷却筐体の前記正面又は背面のいずれか一方の、前記供給パイプと対角の位置に接続される
請求項15に記載の試験装置。
The supply pipe is connected to either one of the front or back of the cooling housing, near any vertex,
The test apparatus according to claim 15, wherein the discharge pipe is connected to a position diagonal to the supply pipe on either the front surface or the back surface of the cooling housing.
前記隔壁のそれぞれの前記開口部は、前記供給パイプ及び前記排出パイプが接続される前記冷却筐体の前記正面又は背面からの距離に応じた面積を有する
請求項16に記載の試験装置。
17. The test apparatus according to claim 16, wherein each opening of the partition wall has an area corresponding to a distance from the front surface or the back surface of the cooling housing to which the supply pipe and the discharge pipe are connected.
前記隔壁は、面積が異なる他の隔壁と交換可能に設けられる
請求項13に記載の試験装置。
The test apparatus according to claim 13, wherein the partition wall is provided to be exchangeable with another partition wall having a different area.
前記回路基板は、
予め定められた回路素子の温度を検出する温度検出部と、
当該回路素子を冷却するペルチェ素子と、
前記温度検出部が検出した当該回路素子の温度に基づいて、対応する前記ペルチェ素子を制御する個別温度制御部と
を有する請求項10に記載の試験装置。
The circuit board is
A temperature detecting unit for detecting a temperature of a predetermined circuit element;
A Peltier element for cooling the circuit element;
The test apparatus according to claim 10, further comprising: an individual temperature control unit that controls the corresponding Peltier element based on the temperature of the circuit element detected by the temperature detection unit.
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