JP2008145414A - Life estimation method and system from truncated life test - Google Patents

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JP2008145414A JP2007171679A JP2007171679A JP2008145414A JP 2008145414 A JP2008145414 A JP 2008145414A JP 2007171679 A JP2007171679 A JP 2007171679A JP 2007171679 A JP2007171679 A JP 2007171679A JP 2008145414 A JP2008145414 A JP 2008145414A
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Takumi Fujita
工 藤田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person from the undamaged time while the testing object is still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test. <P>SOLUTION: A computer generates the Weibull random numbers having established rate lives to the undamaged time by the testing number of pieces, and surveys the remaining random numbers removed in order of shorter of the random numbers by the number of testing pieces whether larger than the undamaged time or not. This treatment is repeated by the established number of times. A process for investigating the probability being ≥ investigated undamaged time is repeated from the prescribed shortest life to the longest life successively to the Weibull distribution having the lives successively changed in established rate for every repeated time. From the relation between the obtained life and the probability existing ≥ the undamaged time, the generation probability is determined as the lot life of the inspection object by reading out the value to be the life obtained by subtracting the prescribed reliability from 100%. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は、軸受またはその他の機械部品の寿命試験として、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、打切り時間後の試験継続等を行ったときに、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる方法、装置、プログラムに関する。   This invention is a life test for bearings or other machine parts. In a censorship test that determines that the required life is satisfied if the test continues without damage until the censorship time, which is the target time, the test continues after the censorship time, etc. The present invention relates to a method, apparatus, and program for estimating the life of a lot of a test target product from an unbreakage time during which the test is continued without damaging at least some of the test target products.

寿命試験は、軸受等の機械部品の性能を評価するために欠かせない試験の1つである。寿命試験には、大きく分けて(1)実機の使用環境に近い条件で試験を行う実機試験と、(2)比較的過酷な条件で寿命試験を行う加速試験がある。前者は、製品が有限時間内に破損するケースが極めて少ないため、ある目標時間まで破損することなく試験が継続すれば、寿命は問題ないと判断する試験である(以下、このような試験を「打切り試験」と呼ぶ)。一方、後者は、比較的短時間で破損が発生するので、ワイブルプロットで寿命が算出でき(例えば非特許文献1)、その算出寿命から性能の優劣を判定する試験である(以下、このような試験を「加速試験」と呼ぶ)。   The life test is one of the tests indispensable for evaluating the performance of mechanical parts such as bearings. Life tests can be broadly classified into (1) actual machine tests that perform tests under conditions close to the actual operating environment and (2) accelerated tests that perform life tests under relatively harsh conditions. The former is a test that determines that there is no problem in the service life if the test continues without damage until a certain target time because the product is rarely damaged within a finite time (hereinafter referred to as " Called “censored test”). On the other hand, since the latter occurs in a relatively short time, the life can be calculated by Weibull plot (for example, Non-Patent Document 1), and is a test for determining the superiority or inferiority of the performance from the calculated life (hereinafter, such as this The test is called “accelerated test”).

従来より、寿命試験は経験を積んだ熟練者が行っており、試験条件や試験個数を決める寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈に対して経験的に確からしい判断ができたと考えられる。
図22に、従来から行われてきた寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈の手順を、打切り試験と加速試験ごとに示す。
また、現在、寿命試験において経験的に判断されているものの詳細を、表1に示す。
Conventionally, the experienced life test has been conducted by experienced experts, and it is considered that he was able to make empirical judgments on the design of the life test and the interpretation of the life test results to determine the test conditions and the number of tests.
FIG. 22 shows the procedure of the life test design and the interpretation of the life test results that have been conventionally performed for each of the abort test and the acceleration test.
The details of what is currently determined empirically in the life test are shown in Table 1.

Figure 2008145414
Figure 2008145414

なお、ワイブル分布を機械部品の寿命判断に用いるものは、種々の特許文献,非特許文献に提案されている。
特開2006−040203号公報 特開2002−277382号公報 特開2005−226829号公報 真壁肇著、信頼性工学入門79、1991年発行
In addition, what uses Weibull distribution for the lifetime judgment of a machine component is proposed by various patent documents and nonpatent literature.
JP 2006-040203 A JP 2002-277382 A JP 2005-226829 A Author Makabe Satoshi, Introduction to Reliability Engineering 79, published in 1991

打切り試験は、打切り時間が経過すると要求寿命が満足されたとする試験であるが、納期に余裕がある場合など、打切り時間の経過後も引き続いて試験を継続し、その試験対象品の寿命水準を確認したい場合がある。このような状況は、しばしば発生する。
しかし、従来、このような打切り試験の継続で試験対象品の寿命水準を試算する適切な方法がなかった。
また、上記試験対象品の寿命水準として、対象ロットの寿命が何時間以上であるかという寿命の下限だけでなく、そのロットの寿命の上限が何時間であるかという上限を知りたい場合があるが、このような寿命の上限を試算する方法についても、従来は適切な方法がなかった。
The censorship test is a test in which the required life is satisfied after the censoring time has elapsed, but the test is continued after the censoring time has elapsed, such as when there is a margin for delivery, and the life level of the product under test is determined. You may want to check. This situation often occurs.
However, conventionally, there has been no appropriate method for estimating the life level of the product under test by continuing such a truncation test.
In addition, there is a case where it is desired to know not only the lower limit of the life of the target lot as the life level of the above test object but also the upper limit of the upper limit of the life of the lot. However, there has been no suitable method for estimating the upper limit of such life.

この発明の目的は、打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても寿命水準を試算することのできる方法、装置、およびその方法の実施のためのコンピュータプログラムを提供することである。
この発明の他の目的は、打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても寿命の上限を試算することのできる方法、装置、およびその方法の実施のためのコンピュータプログラムを提供することである。
The object of the present invention is to easily and quickly calculate the life level of the lot of the test object from the non-breakage time in which the test is continued without damaging at least a part of the test object in the censoring test. It is possible to provide a method and an apparatus capable of being estimated and reliable, and capable of estimating the life level even if not skilled, and a computer program for carrying out the method.
Another object of the present invention is to easily and quickly calculate the upper limit of the life of a lot of the test object from the non-breakage time during which the test is continued without damaging at least a part of the test object. It is possible to provide a method, an apparatus, and a computer program for carrying out the method, which can be performed and have high reliability, and can estimate the upper limit of the lifetime without being an expert.

この発明における第1の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力する入力過程(E1)と、
上記コンピュータに、寿命を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程(E2)とを含む。
上記所定信頼度の寿命は、例えばL10寿命(90%の信頼度の寿命)や、L50寿命(50%の信頼度の寿命)等である。未破損時間および寿命は、必ずしも時間の単位でなくても良く、例えば、軸受を回転させて試験を行うときの回転回数等の負荷回数で表示されていても良い。
The life estimation method from the first life end test in the present invention is such that a test object consisting of a bearing or other machine part or test piece is placed in a predetermined use environment condition and is not damaged until the end time which is a target time. If the test continues, it is determined that the test target product will be tested from the non-breakage time during which the test is continued without damaging at least part of the test target product in the censorship test that determines that the required life for the specified reliability is satisfied. A method for estimating the life of a lot,
Input process to input the Weibull slope value of the test target product, the number of test target products, the number of undamaged or damaged items as the number of undamaged test target items, and the unbreakage time as input information to the computer (E1),
A computer calculation processing step (E2) for causing the computer to calculate a lifetime and display a calculation result on a screen of a display device.
The lifetime with the predetermined reliability is, for example, an L10 lifetime (90% reliability lifetime), an L50 lifetime (50% reliability lifetime), or the like. The non-breakage time and the life may not necessarily be a unit of time, and may be displayed, for example, by the number of loads such as the number of rotations when the test is performed by rotating the bearing.

上記コンピュータ演算処理過程(E2)として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手順(G22)と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手順(G23)と、
この設定割合寿命充足調査手順(G23)を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手順(G24)と、
この異寿命充足調査手順(G24)により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手順(G25)と、
を実行する。
As the computer calculation process (E2),
A random number generation procedure (G21) using a Weibull random number, which is a random number according to the Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis procedure (G22) for checking whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest number among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number are equal to or longer than the undamaged time;
A set percentage life satisfaction investigation procedure (G23) for repeating the random number generation procedure and the random number analysis procedure a set number of times, and examining the probability of being in the unbreakage time or more examined in the random number analysis procedure in each iteration of the repetition;
This set ratio life satisfaction check procedure (G23) is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life that is gradually longer. Different life satisfaction investigation procedure (G24),
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction investigation procedure (G24) and the probability that it is longer than the unbreakage time, read the life when the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%, and then the product to be tested The life reading procedure (G25) determined as the life of the lot of
Execute.

ワイブル分布は、次式、   The Weibull distribution is given by

Figure 2008145414
Figure 2008145414

ただし、m:ワイブルスロープ、α:尺度因子、γ:最小寿命、
によって特定される。
Where m: Weibull slope, α: scale factor, γ: minimum life,
Specified by.

軸受等の機械部品の寿命は、ワイブル分布に従うとされている。ワイブル分布は、ワイブルスロープm、尺度因子α、最小寿命γの3つのパラメータを持っており、ワイブルスロープmによって指数分布、対数正規分布、正規分布を表現できる万能分布として知られている。量産される軸受等では、ワイブルスロープは実績値が既知である場合が多く、この発明方法において、ワイブルスロープには、試験対象となる機械部品の実績値を用いることが好ましい。実績値がない場合は、適宜の方法で見積もったワイブルスロープを用いてもよい。最小寿命γは、種々の規格、例えばISO等によって計算方法が定められており、そのように定められたいずれかの計算方法を用いることが好ましい。尺度因子αは、ワイブルスロープの値、要求寿命の信頼度、要求寿命の値、および上記最小寿命γから一義的に決定される演算式があり、その演算式を用いて特定しても良い。   The life of mechanical parts such as bearings is said to follow the Weibull distribution. The Weibull distribution has three parameters, a Weibull slope m, a scale factor α, and a minimum life γ, and is known as a universal distribution that can express an exponential distribution, a lognormal distribution, and a normal distribution by the Weibull slope m. In mass-produced bearings and the like, the actual value of the Weibull slope is often known, and in the method of the present invention, it is preferable to use the actual value of the machine part to be tested as the Weibull slope. If there is no actual value, a Weibull slope estimated by an appropriate method may be used. The calculation method of the minimum life γ is determined by various standards such as ISO, and it is preferable to use any one of the calculation methods determined as such. The scale factor α has an arithmetic expression that is uniquely determined from the value of the Weibull slope, the reliability of the required life, the value of the required life, and the minimum life γ, and may be specified using the arithmetic expression.

この方法によると、未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる。この手順を設定回数、例えば数千回数繰り返し、未破損時間以上にある確率を調べる。この確率を、順次異なる寿命を持つワイブル分布に対して求める。
このようにして得れた寿命と未破損時間以上にある確率の関係は、どのような寿命分布であれば、上記未破損時間まで未破損である確率が高いかということを示している。したがって、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値(L10寿命であれば、100%から90%を引いた10%)となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定めることができる。
このように、種々の寿命のワイブル乱数を試験個数だけ発生させ、破損個数分を除いた残存乱数により、どのような寿命分布であれば、上記未破損時間まで未破損である確率が高いかという確率分布を求めるようにしたため、未破損時間から試験対象品の寿命水準を高い信頼度で求めることができる。また、上記の処理はコンピュータシミュレーションとし、コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力するだけで、寿命水準が出力されるようにしたため、熟練を要することなく、簡単に、かつ迅速に、未破損時間から寿命水準を求めることができる。
According to this method, weibull random numbers, which are random numbers according to the Weibull distribution having a set life against unbreakage time, are generated for the number of tests, and among the generated number of Weibull random numbers, the random number for the number of breakage is short. Check whether the remaining random numbers removed in order from the one are longer than the unbreakage time. This procedure is repeated a set number of times, for example, thousands of times, and the probability of being over the unbreakage time is examined. This probability is obtained for a Weibull distribution having sequentially different lifetimes.
The relationship between the life thus obtained and the probability of being longer than the unbreakage time indicates what kind of life distribution the probability of being unbroken up to the unbreakage time is high. Therefore, the life of the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% (if the life is L10, 10% obtained by subtracting 90% from 100%) and determined as the life of the lot of the test object. be able to.
In this way, weibull random numbers of various lifetimes are generated for the number of tests, and the remaining random numbers excluding the number of breakage are used to determine what life distribution is likely to be unbroken until the unbreakage time. Since the probability distribution is obtained, the life level of the test object can be obtained with high reliability from the unbreakage time. In addition, the above processing is a computer simulation, and as input information to the computer, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged items or the number of breakage that is the number of undamaged test items Since the life level is output only by inputting the unbreakage time, the life level can be easily and quickly obtained from the unbreakage time without requiring skill.

この発明における第1の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる装置であって、
演算処理装置(1)と、この演算処理装置(1)の出力を画面に表示する表示装置(2)と、上記演算処理装置(2)に入力を行う入力手段(3)とを備える。
The apparatus for estimating the life from the first life-end-of-life test in the present invention places a test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece in a predetermined use environment condition, and does not break until the end time, which is a target time. If the test continues, it is determined that the test target product will be tested from the non-breakage time during which the test is continued without damaging at least part of the test target product in the censorship test that determines that the required life for the specified reliability is satisfied. A device for estimating the life of a lot,
An arithmetic processing device (1), a display device (2) for displaying the output of the arithmetic processing device (1) on a screen, and an input means (3) for inputting to the arithmetic processing device (2) are provided.

上記演算処理装置(1)は、上記表示装置(2)の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段(7E)と、
実行命令の入力に応答して、寿命を見積もる演算をし上記表示の画面に出力する寿命見積もり演算手段(22)とを備える。
The arithmetic processing unit (1) displays, on the screen of the display unit (2), as input information, the value of the Weibull slope of the test object, the test number of the test object, and the number of undamaged test objects. A prompt screen output means (7E) for performing display for prompting input of the number of breakage or the number of breakage and the unbreakage time;
In response to the input of the execution command, a life estimation calculating means (22) for calculating the life and outputting it to the display screen is provided.

上記寿命見積もり演算手段(22)は、乱数発生手段(23)と、乱数分析手段(24)と、設定割合寿命充足調査手段(25)と、異寿命充足調査手段(26)と、寿命読み取り手段(27)と、読取結果出力手段(28)とを備える。   The life estimation calculation means (22) includes a random number generation means (23), a random number analysis means (24), a set rate life satisfaction investigation means (25), a different life satisfaction investigation means (26), and a life reading means. (27) and reading result output means (28).

乱数発生手段(23)は、未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させる手段であり、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる。   The random number generation means (23) is means for generating Weibull random numbers, which are random numbers according to the Weibull distribution having a set ratio of lifetime with respect to the unbreakage time, for the number of tests, and the Weibull distribution includes a Weibull slope of the input information. Use the value.

乱数分析手段(24)は、発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる手段である。   The random number analyzing means (24) is a means for examining whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest number among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number are equal to or longer than the undamaged time.

設定割合寿命充足調査手段(25)は、上記乱数発生手段(23)および上記乱数分析手段(24)の処理を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手段(24)で調べた未破損時間以上にある確率を調べる手段である。   The set ratio life satisfaction checking means (25) repeats the processes of the random number generating means (23) and the random number analyzing means (24) a set number of times, and the random number analyzing means (24) examined by the random number analyzing means (24) at each of the repetitions. It is a means of examining the probability of being over time.

異寿命充足調査手段(26)は、上記設定割合寿命充足調査手段(25)の処理を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す手段である。   The different life satisfaction surveying means (26) repeats the processing of the set percentage life satisfaction surveying means (25) from the predetermined shortest life shorter than the breakage time to the predetermined longest life that is gradually longer. It is a means for repeating the Weibull distribution with sequentially changed lifetimes.

寿命読み取り手段(27)は、異寿命充足調査手段(26)の処理により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取る手段である。   The life reading means (27) is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% from the relationship between the life obtained by the processing of the different life satisfaction investigation means (26) and the probability that it is longer than the unbreakage time. Is a means for reading the life determined as the life of the lot of the test object.

読取結果出力手段は、寿命読み取り手段で読み取った寿命を上記表示装置に出力させる手段である。   The reading result output means is means for outputting the life read by the life reading means to the display device.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、この発明の寿命見積もり方法を実施して、未破損時間から寿命水準を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。   The apparatus for estimating the life from the life censoring test of this configuration can easily and quickly obtain the life level from the unbreakage time by carrying out the life estimation method of the present invention, and can be highly reliable. Even if it is not a person, the life level can be appropriately determined from the unbreakage time.

この発明における第1の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラムは、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順(F1)と、
実行命令に応答して、寿命を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命演算手順(F2)とを含む。
The life estimation program from the first life cutoff test in the present invention is:
A program executable on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the product under test, the number of test products under test, the number of undamaged or damaged products, the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage. A prompt screen output procedure (F1) for prompting display;
A life calculation procedure (F2) for calculating the life and displaying it on the screen of the display device in response to the execution command.

上記寿命演算手順(F2)は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手順(G22)と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手順(G23)と、
この設定割合寿命充足調査手順(G23)を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手順(G24)と、
この異寿命充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手順(G25)と、
を含む。
The above life calculation procedure (F2)
A random number generation procedure (G21) using a Weibull random number, which is a random number according to the Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis procedure (G22) for checking whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest number among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number are equal to or longer than the undamaged time;
A set percentage life satisfaction investigation procedure (G23) for repeating the random number generation procedure and the random number analysis procedure a set number of times, and examining the probability of being in the unbreakage time or more examined in the random number analysis procedure in each iteration of the repetition;
This set ratio life satisfaction check procedure (G23) is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life that is gradually longer. Different life satisfaction investigation procedure (G24),
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction survey procedure and the probability that it is longer than the unbreakage time, read the life of which the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%. Life reading procedure (G25) determined as the life,
including.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラムは、この発明の寿命見積もり方法の実施に使用され、未破損時間から寿命水準を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。   The life estimation program from the life end-of-life test of this configuration is used in the implementation of the life estimation method of the present invention, the life level can be easily and quickly determined from the unbreakage time, and can be highly reliable. Even if it is not an expert, a life level can be calculated | required appropriately from unbreakage time.

この発明における第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、寿命の上限、つまりその寿命試験の結果からその寿命以上は期待できないと上限を見積もる方法である。
すなわち、第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、
軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および上記未破損時間(一部の試験対象品が破損し残りの対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間)を入力する入力過程(E1A)と、
上記コンピュータに、上記寿命の上限を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程(E2A)とを含む。
上記所定信頼度の寿命は、例えばL10寿命(90%の信頼度の寿命)や、L50寿命(50%の信頼度の寿命)等である。未破損時間および寿命は、必ずしも時間の単位でなくても良く、例えば、軸受を回転させて試験を行うときの回転回数等の負荷回数で表示されていても良い。
The life estimation method from the second life cutoff test in the present invention is a method for estimating the upper limit of the lifetime, that is, the upper limit that cannot be expected from the result of the lifetime test.
That is, the life estimation method from the second life cutoff test is:
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. In the censorship test that is judged to be satisfactory, the upper limit of the service life of the lot under test is estimated from the unbreakage time during which the test continues without causing damage to some of the test target products and the remaining target products. And
As input information to the computer, the value of the Weibull slope of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items that are the number of untested products under test, and the unbreakage time (some An input process (E1A) for inputting a non-breakage time during which the test is continued without damaging the test target product and the remaining target product being damaged,
A computer calculation process (E2A) for causing the computer to calculate the upper limit of the lifetime and to display a calculation result on a screen of a display device.
The lifetime with the predetermined reliability is, for example, an L10 lifetime (90% reliability lifetime), an L50 lifetime (50% reliability lifetime), or the like. The non-breakage time and the life may not necessarily be a unit of time, and may be displayed, for example, by the number of loads such as the number of rotations when the test is performed by rotating the bearing.

上記コンピュータ演算処理過程(E2A)として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21A)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順(G22A)と、
上記乱数発生手順(G21A)および上記乱数分析手順(G22A)を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順(G23A)と、
この設定割合寿命非充足調査手順(G23A)を、上記未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順(G24A)と、
この異寿命非充足調査手順(G24A)により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順(G25A)と、を実行する。
前記100%から減算する所定信頼度は、例えば90%とする。
As the computer calculation process (E2A),
A random number generation procedure (G21A) using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
A random number analysis procedure (G22A) for checking whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated number of tests is equal to or less than the unbreakage time;
The above-mentioned random number generation procedure (G21A) and the above random number analysis procedure (G22A) are repeated a set number of times, and the set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) for examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the above-mentioned unbreakage time When,
This set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) is changed to a Weibull distribution with a life in which the set ratio is sequentially changed every time from a predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to a predetermined longest long life. And the different life non-satisfaction investigation procedure (G24A),
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure (G24A) and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read. The life upper limit reading procedure (G25A) determined as the upper limit of the life of the product lot is executed.
The predetermined reliability to be subtracted from 100% is, for example, 90%.

なお、上記寿命上限読み取り手順(G25A)は、より具体的には、上記異寿命非充足調査手順(G24A)により調べた各設定割合寿命毎の未破損時間以下になる確率を、寿命と未破損時間以下になる確率の関係である累積確率分布とし、この累積確率分布から、発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める手順とされる。   More specifically, the life upper limit reading procedure (G25A) is more specifically set to the probability that the failure is less than or equal to the unbreakage time for each set ratio life determined by the different life non-satisfaction investigation procedure (G24A). The cumulative probability distribution, which is the relationship of the probability of being less than or equal to the time, is read from this cumulative probability distribution, and the lifetime at which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read as the upper limit of the lifetime of the lot under test. It is assumed that the procedure is determined.

この方法によると、未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる。この手順を設定回数、例えば数千回数繰り返し、未破損時間以上にある確率を調べる。この確率を、順次異なる寿命を持つワイブル分布に対して求める。
このようにして得られた寿命と未破損時間以下にある確率の関係は、どのような寿命分布であれば、最も短い方から破損個数までの試験対象品の寿命が上記未破損時間以下になる確率が高いかということを示している。したがって、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値(L10寿命であれば、100%から90%を引いた10%)となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定めることができる。
このように、種々の寿命のワイブル乱数を試験個数だけ発生させ、どのような寿命分布であれば、最も短い方から破損個数までの試験対象品の寿命が未破損時間以下になる確率が高いかという確率分布を求めるようにしたため、未破損時間から試験対象品の寿命の上限を高い信頼度で求めることができる。また、上記の処理はコンピュータシミュレーションとし、コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力するだけで、寿命水準が出力されるようにしたため、熟練を要することなく、簡単に、かつ迅速に、未破損時間から寿命の上限を求めることができる。
According to this method, weibull random numbers, which are random numbers according to the Weibull distribution with a set life against unbreakage time, are generated for the number of tests, and from the smallest number of Weibull random numbers for the number of generated tests to the number of breakage. It is checked whether or not the random number is less than the unbreakage time. This procedure is repeated a set number of times, for example, thousands of times, and the probability of being over the unbreakage time is examined. This probability is obtained for a Weibull distribution having sequentially different lifetimes.
The relationship between the life thus obtained and the probability of being below the unbreakage time is that the life of the product under test from the shortest to the number of breakages is less than the above-mentioned unbreakage time for any life distribution. It indicates whether the probability is high. Therefore, by reading the life when the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% (if the life is L10, 10% obtained by subtracting 90% from 100%), the upper limit of the life of the lot of the test object is read. Can be determined.
In this way, weibull random numbers with various lifetimes are generated for the number of test pieces, and what kind of life distribution is there is a high probability that the life of the product under test from the shortest to the number of breakage will be less than the unbreakage time? Thus, the upper limit of the life of the test object can be obtained with high reliability from the unbreakage time. In addition, the above processing is a computer simulation, and as input information to the computer, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged items or the number of breakage that is the number of undamaged test items Since the life level is output only by inputting the unbreakage time, the upper limit of the life can be easily and quickly obtained from the unbreakage time without requiring skill.

この発明における第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、第1の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法と併用しても良い。
すなわち、第1の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から、試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる方法を含み、この上限を見積もる方法として、上記コンピュータに、上記寿命の上限を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程(E2A)を含む。
The life estimation method from the second life end test in this invention may be used in combination with the life estimation method from the first life end test.
That is, in the life estimation method from the first life-end-of-life test, the lot of the test object is determined from the non-breakage time during which the test is continued without damaging a part of the test object and the remaining test object. As a method for estimating the upper limit, the computer includes a computer calculation process (E2A) in which the computer calculates the upper limit of the lifetime and displays the calculation result on the screen of the display device.

上記コンピュータ演算処理過程(E2A)として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21A)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順(G22A)と、
上記乱数発生手順(G1A)および乱数分析手順(G22A)を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順(G23A)と、
この設定割合寿命非充足調査手順(G23A)を、上記未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順(G24A)と、
この異寿命非充足調査手順(G24A)により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順(G25A)と、 を実行する。
As the computer calculation process (E2A),
A random number generation procedure (G21A) using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
A random number analysis procedure (G22A) for checking whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated number of tests is equal to or less than the unbreakage time;
A set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) that repeats the random number generation procedure (G1A) and the random number analysis procedure (G22A) a set number of times, and examines the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage is below the unbreakage time; ,
This set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) is changed to a Weibull distribution with a life in which the set ratio is sequentially changed every time from a predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to a predetermined longest long life. And the different life non-satisfaction investigation procedure (G24A),
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure (G24A) and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read. The life upper limit reading procedure (G25A) determined as the upper limit of the life of the product lot is executed.

この第1,第2の方法の併用により、試験対象品のロットの寿命の下限と上限の両方を求めることができる。なお、第1,第2の方法の併用する場合、共通する処理、例えば入力処理は、重複して行うことなく、1回で済むようにできる。   By the combined use of the first and second methods, both the lower limit and the upper limit of the life of the test object lot can be obtained. When the first and second methods are used in combination, common processing, for example, input processing, can be performed only once, without being repeated.

この発明における第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、寿命の上限を見積もる装置である。
すなわち、第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、
軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる装置であって、
演算処理装置(1)と、この演算処理装置(1)の出力を画面に表示する表示装置(2)と、上記演算処理装置(1)に入力を行う入力手段(3)とを備える。
The lifetime estimation apparatus from the second lifetime termination test in the present invention is an apparatus that estimates the upper limit of the lifetime.
That is, the life estimation device from the second life cutoff test is
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. This is a device that estimates the upper limit of the life of a lot of test target products from the unbreakage time during which the test is continued and the part of the test target product is damaged and the remaining target products are not damaged. And
An arithmetic processing device (1), a display device (2) for displaying the output of the arithmetic processing device (1) on a screen, and an input means (3) for inputting to the arithmetic processing device (1) are provided.

上記演算処理装置(1)は、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段(7EA)と、
実行命令の入力に応答して、寿命の上限を見積もる演算を行いその演算結果を上記表示の画面に出力する寿命上限見積もり演算手段(22A)とを備える。
The arithmetic processing unit (1)
On the screen of the above display device, as input information, the value of the Weibull slope of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items that are the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage Prompting screen output means (7EA) for performing display prompting,
Responsive to the input of the execution command, a life upper limit estimating calculating means (22A) is provided for performing an operation for estimating the upper limit of the life and outputting the operation result to the display screen.

上記寿命上限見積もり演算手段(22A)は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手段(23A)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手段(24A)と、
上記乱数発生手段(23A)および上記乱数分析手段(24A)の処理を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手段(25A)と、
この設定割合寿命非充足調査手段(25A)の処理を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手段(26A)と、
この異寿命非充足調査手段(26A)により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手段(29A)と、
この手段(29A)で読み取った寿命の上限を上記表示装置(2)に出力させる読取結果出力手段(28A)と、
を備える。
The lifetime upper limit calculating means (22A)
A random number generator (23A) that generates a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for the number of test pieces, and uses the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis means (24A) for checking whether or not the random number from the smallest one to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated test number is equal to or less than the unbreakage time;
The set ratio life non-satisfaction investigation means (in which the random number generation means (23A) and the random number analysis means (24A) are repeated a set number of times to determine the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the unbreakage time ( 25A)
This set ratio life non-satisfaction investigation means (25A) is processed into a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed every time from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest longevity. The different life non-satisfaction investigation means (26A) to be repeated,
From the relationship between the life obtained by the different life non-satisfaction investigation means (26A) and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read. Life upper limit reading means (29A) for determining the upper limit of the life of a product lot,
A reading result output means (28A) for causing the display device (2) to output the upper limit of the life read by the means (29A);
Is provided.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、この発明の第2の寿命見積もり方法を実施して、未破損時間から寿命の上限を、簡単、迅速に求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命の上限を適切に求めることができる。   The apparatus for estimating the life from the life censoring test of this configuration implements the second life estimation method of the present invention, and can easily and quickly obtain the upper limit of the life from the unbreakage time and is highly reliable. Even if it is not an expert, the upper limit of a lifetime can be calculated | required appropriately from unbreakage time.

この発明における第2の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラムは、寿命の上限を見積もるプログラムである。
すなわち、第2の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラムは、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順(F1A)と、
実行命令に応答して、上記寿命の上限を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命上限演算手順(F2A)とを含む。
The lifetime estimation program from the second lifetime termination test in the present invention is a program for estimating the upper limit of the lifetime.
That is, the lifetime estimation program from the second lifetime censoring test is
A program executable on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the product under test, the number of test products under test, the number of undamaged or damaged products, the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage. A prompt screen output procedure (F1A) for prompting display;
A lifetime upper limit calculation procedure (F2A) that calculates the upper limit of the lifetime and displays it on the screen of the display device in response to the execution command.

上記寿命上限演算手順(F1A)は、
上記未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21A)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順(G22A)と、
上記乱数発生手順(G21A)および上記乱数分析手順(G22A)を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順(G23A)と、
この設定割合寿命非充足調査手順(G23A)を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順(G24A)と、
この異寿命非充足調査手順(G24A)により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順(G25A)と、を含む。
The above life upper limit calculation procedure (F1A)
A random number generation procedure (G21A) using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for a test number, and using the Weibull slope value of the input information for the Weibull distribution; ,
A random number analysis procedure (G22A) for checking whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated number of tests is equal to or less than the unbreakage time;
The above-mentioned random number generation procedure (G21A) and the above random number analysis procedure (G22A) are repeated a set number of times, and the set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) for examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the above-mentioned unbreakage time When,
For the Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from the predetermined shortest life shorter than the breakage time to the predetermined longest life that is gradually longer than the predetermined maximum life Repeat different life non-satisfaction investigation procedure (G24A),
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure (G24A) and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read. And a life upper limit reading procedure (G25A) determined as the upper limit of the life of the product lot.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラムは、この発明の第2の寿命見積もり方法の実施に使用され、未破損時間から寿命の上限を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。   The lifetime estimation program from the lifetime censoring test of this configuration is used to implement the second lifetime estimation method of the present invention, and the upper limit of the lifetime can be easily and quickly determined from the unbreakage time and is highly reliable. Even if it is not an expert, a life level can be calculated | required appropriately from unbreakage time.

この発明の第1の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法、装置、プログラムによると、種々の寿命のワイブル乱数を試験個数だけ発生させ、破損個数分を除いた残存乱数により、どのような寿命分布であれば、上記未破損時間まで未破損である確率が高いかという確率分布を求めるようにしたため、未破損時間から試験対象品の寿命水準を高い信頼度で求めることができる。また、コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力するだけで、寿命水準が出力されるようにしたため、熟練を要することなく、簡単に、かつ迅速に、未破損時間から寿命水準を求めることができる。
この発明の第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法、装置、プログラムによると、種々の寿命のワイブル乱数を試験個数だけ発生させ、どのような寿命分布であれば、最も短い方から破損個数までの試験対象品の寿命が未破損時間以下になる確率が高いかという確率分布を求めるようにしたため、未破損時間から試験対象品の寿命の上限を高い信頼度で求めることができる。また、コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力するだけで、寿命の上限が出力されるようにしたため、熟練を要することなく、簡単に、かつ迅速に、未破損時間から寿命の上限を求めることができる。
According to the life estimation method, apparatus, and program from the first life censoring test according to the present invention, weibull random numbers with various lifetimes are generated for the number of tests, and the remaining random numbers excluding the number of breakages are used to determine the life distribution. If there is, the probability distribution indicating whether the probability of non-breakage is high until the non-breakage time is obtained, so that the life level of the product to be tested can be obtained with high reliability from the non-breakage time. In addition, the computer inputs the Weibull slope value of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items, which is the number of untested products under test, and the time of unbreakage. Thus, since the life level is output, the life level can be easily and quickly obtained from the unbreakage time without requiring skill.
According to the life estimation method, apparatus, and program from the second life censoring test of the present invention, weibull random numbers with various lifetimes are generated for the number of tests. Since the probability distribution that the probability that the life of the test object is less than the unbreakage time is high is obtained, the upper limit of the life of the test object can be obtained with high reliability from the unbreakage time. In addition, the computer inputs the Weibull slope value of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items, which is the number of untested products under test, and the time of unbreakage. Thus, since the upper limit of the life is output, the upper limit of the life can be obtained from the unbreakage time easily and quickly without requiring skill.

この発明の第1の実施形態を説明する。この寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、軸受を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、打切り時間後の試験継続等を行ったときに、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる方法である。なお、軸受の他の機械部品や、軸受またはその他の機械部品の試験片の打切り試験における打切り時間を見積もる場合にも適用できる。
この実施形態の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、例えば、一つのロットの軸受の中から一部の軸受を抜き取って打切り寿命試験を行い、そのロットの寿命を確認する試験等に適用される。
A first embodiment of the present invention will be described. The service life estimation method based on the service life endurance test is based on the service endurance test that determines that the required service life will be satisfied if the bearing is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target end time. This is a method for estimating the life of a lot of a test target product from an unbreakage time during which the test is continued without damaging at least a part of the test target product when the test is continued after a certain period of time. Note that the present invention can also be applied to the case of estimating the cut-off time in a cut-off test of another mechanical part of a bearing or a test piece of the bearing or other mechanical part.
The life estimation method from the life cut-off test of this embodiment is applied to, for example, a test in which a part of the bearings in one lot is extracted to perform a cut-off life test and the life of the lot is confirmed. .

以下、この実施形態を図面と共に説明する。この寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、図1に示すコンピュータ1に、寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム21を実行させることで行う。コンピュータ1はパーソナルコンピュータ等からなり、中央処理装置4およびメモリ5を有し、所定のオペレーションシステムによって動作するものである。コンピュータ1には、液晶表示装置等の画面によって表示可能な表示装置2と、キーボードやマウス等の入力装置3が接続され、あるいは付属して設けられている。コンピュータ1、表示装置2、入力装置3、および寿命見積もりプログラム21により、図2に各機能達成手段をブロックで示した寿命見積もり装置が構成される。同図の寿命見積もり装置の構成については、後に説明する。
寿命見積もりプログラム21は、コンピュータ1で実行可能なプログラムであって、図4および図5に流れ図で示す手順を備えるものである。同図の内容は、後に説明する。
Hereinafter, this embodiment will be described with reference to the drawings. The life estimation method from the life cutoff test is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 1 to execute the life estimation program 21 from the life cutoff test. The computer 1 is composed of a personal computer or the like, has a central processing unit 4 and a memory 5, and operates by a predetermined operation system. The computer 1 is provided with a display device 2 that can be displayed on a screen such as a liquid crystal display device and an input device 3 such as a keyboard and a mouse. The computer 1, the display device 2, the input device 3, and the life estimation program 21 constitute a life estimation device in which each function achievement means is shown as a block in FIG. The configuration of the lifetime estimation apparatus shown in FIG.
The life estimation program 21 is a program that can be executed by the computer 1 and has the procedures shown in the flowcharts of FIGS. 4 and 5. The contents of this figure will be described later.

この寿命見積もり方法は、図2に示すように、コンピュータ1に対して所定の情報を入力する入力過程E1と、コンピュータ1で演算処理を行って演算結果を出力するコンピュータ演算処理過程E2とからなる。   As shown in FIG. 2, this life estimation method includes an input process E1 for inputting predetermined information to the computer 1 and a computer calculation process E2 for performing calculation processing on the computer 1 and outputting a calculation result. .

入力過程E1では、図7に示すように所定の入力情報の入力を促す入力画面2aが、コンピュータ1の出力によって表示装置2に表示される。この画面では、入力情報として打切り試験の対象となる軸受のワイブルスロープの値、試験開始時の試験個数、未破損個数および未破損時間の入力を促す表示を行わせる。ワイブルスロープの値には、試験対象となる型番の軸受における実績値を入力する。
実績値は10個以上の試験で得た結果を用いることが望ましく、より好ましくは20個以上の試験結果である。
In the input process E1, as shown in FIG. 7, an input screen 2a for prompting input of predetermined input information is displayed on the display device 2 by the output of the computer 1. On this screen, the display prompts the user to input the value of the Weibull slope of the bearing to be subjected to the abort test, the number of tests at the start of the test, the number of unbroken parts, and the unbreakage time as input information. As the Weibull slope value, the actual value of the bearing of the model number to be tested is input.
As the actual value, it is desirable to use a result obtained by 10 or more tests, and more preferably 20 or more test results.

図3のコンピュータ演算処理過程E2では、入力された未破損時間,未破損個数等からその試験対象品を含むロットの寿命水準となる寿命を演算し、その演算結果を、図8のように出力画面2bに表示する。すなわち、少なくともいえる寿命の計算結果が同図のように出力される。   In the computer calculation processing step E2 of FIG. 3, the life which is the life level of the lot including the test object is calculated from the input unbreakage time, unbreakage number, etc., and the calculation result is output as shown in FIG. It is displayed on the screen 2b. That is, at least the life calculation result can be output as shown in the figure.

図1の寿命見積もりプログラム21は、コンピュータ1で実行可能なプログラムであって、図4,図5に流れ図で示す手順を備える。図4に示すように、寿命見積もりプログラム21は、促し画面出力手順F1と寿命演算手順F2とでなり、促し画面出力手順F1では、図7と共に前述した入力画面2aを出力する。この入力画面2aに対して、上記各入力情報が入力手段3から入力され、かつ入力画面2aのOKキーのクリック等によって実行命令が入力手段3から入力されると、寿命演算手順F2が実行される。同図の入力画面2aに対して入力する過程が、図3の入力過程A1であり、同図のコンピュータ演算処理過程E2は図4の寿命演算手順F2を実行する過程である。   The life estimation program 21 shown in FIG. 1 is a program that can be executed by the computer 1 and includes procedures shown in flowcharts in FIGS. 4 and 5. As shown in FIG. 4, the life estimation program 21 includes a prompt screen output procedure F1 and a life calculation procedure F2, and the prompt screen output procedure F1 outputs the input screen 2a described above together with FIG. When the input information is input from the input means 3 to the input screen 2a and an execution command is input from the input means 3 by clicking the OK key on the input screen 2a, the life calculation procedure F2 is executed. The The process of inputting to the input screen 2a in the figure is the input process A1 in FIG. 3, and the computer calculation process E2 in the figure is a process of executing the life calculation procedure F2 in FIG.

寿命演算手順F2は、図5に流れ図で示す各手順で構成される。この流れ図には、各手順G21〜G26毎の具体的な処理例を併記してある。   The life calculation procedure F2 is configured by each procedure shown in the flowchart in FIG. In this flowchart, a specific processing example for each of the procedures G21 to G26 is also shown.

理解の容易のため、図5の流れ図を説明する前に、同図の流れ図の処理につき、全数未破損である場合に限定した処理を、具体的数値例と共に、図6と共に説明する。   For the sake of easy understanding, before explaining the flowchart of FIG. 5, the processing limited to the case where all of the processes in the flowchart of FIG.

図6は、継続している全数未破損の打切り試験の途中結果から寿命を算出するための手順を示す。今、目標品質がL10寿命で1000時間を保証するための試験を行っている状況を考える。納期が3ヶ月(2100時間)であったため、試験個数を6個用意して全数打切り時間が1860時間の打切り試験を開始した。
試験は破損が発生することなく継続し、全数打切り時間が1860時間を経過したので目標品質を保証できるという結果が得られた。試験を終了してもよいが、試験機を他の調査で今すぐ使用するという状況ではないので、その製品の寿命水準を把握しておくという目的で更に試験を継続するということになった。
FIG. 6 shows a procedure for calculating the lifetime from the intermediate results of the uncompleted abortion test that has been continued. Consider a situation where a test is being performed to guarantee 1000 hours with a target quality of L10 life. Since the delivery time was 3 months (2100 hours), 6 test pieces were prepared, and a censoring test with a total censoring time of 1860 hours was started.
The test was continued without causing any damage, and the result that the target quality could be guaranteed because the total cut-off time passed 1860 hours. Although the test may be terminated, it is not the situation that the testing machine is used immediately for other investigations, so the test was continued for the purpose of grasping the life level of the product.

今、試験が継続して3000時間が経過し、試験片6個全数未破損という状況から言える寿命を試算する。まず、現在の全数未破損時間である3000の1/10倍(=300時間)のL10寿命を持つワイブル分布(ワイブルスロープは実績から設定して1.85)から乱数を6個発生し(手順G21′)、得られた乱数6個すべてが3000時間以上になるかどうかを調べる(手順G22′)。   Now, the test is continued and 3000 hours have passed, and the life that can be said from the situation where all the six test pieces are not damaged is estimated. First, six random numbers are generated from a Weibull distribution (Weibull slope is set to 1.85 from the actual results) having an L10 life of 1/10 times 3000 (= 300 hours), which is the current total unbreakage time (procedure) G21 ′), it is checked whether all six random numbers obtained are over 3000 hours (procedure G22 ′).

次に、この作業を5000回繰り返し、5000回中何回の頻度で3000時間を越える状況が発生するのかを調べる(G23′)。これらは、ワイブルスロープ1.85、L10寿命300時間の寿命である6個の試験片を寿命試験したときに、どのくらいの確率で3000時間全数未破損になるかを調査していることに対応する。   Next, this operation is repeated 5000 times, and it is examined how many times in 5000 times the situation exceeding 3000 hours occurs (G23 ′). These correspond to investigating the probability that all the specimens will be unbroken for 3000 hours when 6 specimens having a Weibull slope of 1.85 and an L10 life of 300 hours are tested. .

さらに、この確率の調査を3000時間よりも1/10、2/10、3/10…11/10 …200/10倍のL10寿命を持つワイブル分布で行う(G24′)。このように得られた確率につき、横軸をそのL10寿命、縦軸を3000時間全数未破損の確率としたものが図9(A)になる。この図は、どのような寿命分布であれば3000時間全数未剥離になる確率が高いかということを示している。10%の頻度でしか3000時間全数未剥離のデータが得られない寿命分布は、L10寿命が1530時間のものである。したがって、3000時間全数未剥離のデータが得られる場合は、90%の確率でL10寿命が15630時間以上であるといえる。このように、発生確率が10%(L10寿命の信頼度90%を100%から引いた値)に対応する時間を読み取って、その試験対象品のロットのL10寿命が15630時間以上であると読み取る(G25′)。
以上が全数打切り試験の途中結果から寿命を算出する方法である。
Further, this probability is investigated with a Weibull distribution having an L10 life of 1/10, 2/10, 3/10 ... 11/10 ... 200/10 times longer than 3000 hours (G24 '). With respect to the probabilities thus obtained, FIG. 9 (A) shows the probability that the horizontal axis is the L10 life and the vertical axis is the total number of unbroken 3000 hours. This figure shows what kind of life distribution has a high probability of non-peeling for 3000 hours. The life distribution in which the data for which no peeling is completed for 3000 hours can be obtained only at a frequency of 10% is the L10 life of 1530 hours. Therefore, when data that is not peeled off for 3000 hours is obtained, it can be said that the L10 life is 15630 hours or more with a probability of 90%. Thus, the time corresponding to the occurrence probability of 10% (the value obtained by subtracting the reliability of 90% of L10 life from 100%) is read, and the L10 life of the lot of the test object is read as 15630 hours or more. (G25 ').
The above is the method for calculating the lifetime from the intermediate result of the total number truncation test.

次に、破損が生じた場合を含む寿命打切り試験から言える寿命について説明する。上記の表1の打切り試験の解釈(2) の項目に示すように、打切り試験の破損状況が複雑でも、その試験片の寿命水準を確認したい状況を想定している。例えば、試験個数10個の試験を行い、その内の2個の試験片は破損したが、その他の8個の試験片は未破損であったため、目標品質を満たすことができたが、引き続き試験を継続して、その試験片の寿命水準を確かめたい状況を想定している。   Next, the life that can be said from the life cutoff test including the case where breakage occurs will be described. As shown in the item of interpretation (2) of the censoring test in Table 1 above, it is assumed that even if the crushing state of the censoring test is complicated, the life level of the test piece is to be confirmed. For example, a test of 10 test pieces was performed, and two of the test pieces were damaged, but the other eight test pieces were not damaged, so that the target quality could be satisfied. It is assumed that the user wants to confirm the life level of the test piece.

ここでは、総試験軸受中に少数の軸受に破損が発生した状況から寿命を試算する方法について説明する。図5の流れ図は、破損が生じた場合を含む寿命打切り試験から言える寿命の演算手順を示す。
図5の流れ図において、具体例を示す注釈部分を参照して説明する。基本的な手順は、図6と共に前述した全数打切り試験結果から寿命を見積もる手順と同様である。
Here, a method for estimating the service life from a situation in which a small number of bearings are damaged in the total test bearing will be described. The flowchart of FIG. 5 shows the calculation procedure of the life that can be said from the life truncation test including the case where damage occurs.
In the flowchart of FIG. 5, description will be made with reference to an annotation portion showing a specific example. The basic procedure is the same as the procedure for estimating the lifetime from the result of the total number abort test described above with reference to FIG.

以下、説明を簡単にするため、具体例を挙げる。目標品質がL10寿命で1000時間を保証するための試験を行っている状況を考える。納期が5ヶ月(3600時間)であったため、試験個数を6個用意して全数打切り時間が1860時間の打切り試験を開始した。試験を継続している途中、1個の試験片が1000時間で破損した。1000時間は、試験を中止する基準である全数打切り時間の設定値1860時間よりも短いが、試験を中止する基準(要求品質が満たされないとして試験を中止する基準時間)412時間を越えていたため、引き続き試験を継続することになった。目標品質を満たすためには、残存試験片の打切り時間が2626時間になるが、納期的には問題ない状況である。試験を継続した結果、残存試験片が2626時間で破損しなかったため、その製品は目標品質を満たすことができた。試験を終了してもよいが、試験機を他の調査で今すぐ使用するという状況ではないので、その製品の寿命水準を把握しておくという目的で更に試験を継続するということになった。
なお、全数未破損時の打切り時間、一部破損時の打切り時間、および試験中止基準時間は、適宜の方法で見積もることができるが、ここでは説明を省略する。
In order to simplify the description, specific examples will be given below. Consider a situation in which a test is performed to ensure that the target quality is 1000 hours with an L10 life. Since the delivery time was 5 months (3600 hours), six test pieces were prepared, and a censoring test with a total censoring time of 1860 hours was started. While continuing the test, one test piece was damaged in 1000 hours. 1000 hours is shorter than the set value 1860 hours of the total truncation time, which is the criterion for canceling the test, but exceeded the criterion for canceling the test (reference time for canceling the test if the required quality is not satisfied), which is 412 hours. The test was continued. In order to satisfy the target quality, the cut-off time of the remaining test piece is 2626 hours, but there is no problem in terms of delivery time. As a result of continuing the test, since the remaining test piece did not break in 2626 hours, the product could meet the target quality. Although the test may be terminated, it is not the situation that the testing machine is used immediately for other investigations, so the test was continued for the purpose of grasping the life level of the product.
Note that the abort time when all the parts are not damaged, the abort time when partly damaged, and the test stop reference time can be estimated by an appropriate method, but the description is omitted here.

今、試験を継続して3000時間経過し、試験片6個中5個が未破損という状況から言える寿命を試算する。
まず、現在の全数未破損時間である3000時間よりも、適宜の設定割合、例えば1/10倍(=300時間)のL10寿命を持つワイブル分布(ワイブルスロープは実績から設定して1.85)から乱数を6個発生する(手順G21)。
次に、得られた6個の乱数を昇順に並び替え、最も小さな乱数以外の5個のデータが3000時間以上になるかどうかを調べる(手順G22)。
Now, the test is continued for 3000 hours, and the life that can be said from the situation that 5 out of 6 test pieces are not damaged is estimated.
First, the Weibull distribution with an L10 life of an appropriate set ratio, for example, 1/10 times (= 300 hours), compared to the current total unbreakage time of 3000 hours (Weibull slope is 1.85 set from actual results) 6 random numbers are generated (step G21).
Next, the obtained six random numbers are rearranged in ascending order, and it is examined whether five data other than the smallest random number are 3000 hours or more (procedure G22).

次に、この作業を設定回数(この例では5000回)繰り返し、5000回中何回の頻度で3000時間を越える状況が発生するのかを調べる(手順G23)。
これらは、ワイブルスロープ1.85、L10寿命300時間の寿命である6個の試験片を寿命試験したときに、一番短寿命である試験片以外の5個の試験片がどのくらいの確率で3000時間未破損になるかを調査していることに対応する。
Next, this operation is repeated a set number of times (5000 times in this example), and it is checked how many times in 5000 times a situation exceeding 3000 hours occurs (procedure G23).
When a test is performed on six test pieces having a Weibull slope of 1.85 and an L10 life of 300 hours, the probability that the five test specimens other than the test specimen having the shortest life will be 3000. Corresponds to investigating whether time is not damaged.

さらに、この確率の調査を3000時間の1/10、2/10、3/10…11/10 …200/10倍のL10寿命を持つワイブル分布で行う(手順G24)。これは、この方法で寿命演算できる最短寿命を3000時間の1/10、最長寿命を3000時間の200/10倍と設定した場合の演算範囲である。   Further, this probability is investigated with a Weibull distribution having an L10 life of 1/10, 2/10, 3/10 ... 11/10 ... 200/10 times 3000 hours (procedure G24). This is the calculation range when the shortest life that can be calculated by this method is set to 1/10 of 3000 hours and the longest life is set to 200/10 times 3000 hours.

このように順次割合変更しながら、上記手順G23で得た確率について、横軸をL10寿命、縦軸を3000時間6個中5個未破損の確率としたものを作図したものが、図10(B)になる。この図は、どのような寿命分布であれば、最も短寿命である試験軸受以外の5個の試験片が3000時間全数未剥離になる確率が高いかということを示している。10%(L10寿命の信頼度である90%を100%から引いた値)の頻度でしか、3000時間6個中5個未剥離のデータが得られない寿命分布は、L10寿命が1099時間のものである。   As shown in FIG. 10 (), the probability obtained in the procedure G23 is plotted with the abscissa indicating the L10 life and the ordinate indicating the probability of 5 non-damaged items in 3000 hours. B). This figure shows what kind of life distribution the five specimens other than the test bearing with the shortest life are likely to be unseparated for 3000 hours. The life distribution in which only 5 out of 3000 pieces of data can be obtained at a frequency of 10% (the value obtained by subtracting 90%, which is the reliability of the L10 life from 100%), is that the L10 life is 1099 hours. Is.

したがって、最も短寿命である試験片以外の5個の試験片が3000時間全数未剥離になる状況は、90%の確率でL10寿命が1099時間以上である状況といえる。このように、寿命分布と、残存乱数が未破損時間以上全数未剥離になる確率の関係から、(100%)−(信頼度)の時間を読み取り、その軸受のロットの水準となる寿命とする(手順G25)。このように読み取った寿命を、表示装置2の出力画面2bに表示する(手順G26)。   Therefore, it can be said that the situation in which all five test pieces other than the test piece having the shortest life are not peeled for 3000 hours is a situation in which the L10 life is 1099 hours or more with a probability of 90%. As described above, from the relationship between the life distribution and the probability that the remaining random numbers are not peeled over the unbreakage time, the time of (100%)-(reliability) is read, and the life corresponding to the level of the bearing lot is obtained. (Procedure G25). The life thus read is displayed on the output screen 2b of the display device 2 (procedure G26).

以上が総試験軸受中の少数の試験軸受に破損が発生した状況から寿命を算出する方法である。ここで、この状況の試験は、1000時間全数未破損という状況と考えることもできるし、6個中5個の試験片が3000時間未破損という状況と考えることもできるので、どちらの状況で寿命を試算すればよいかという疑問が残る。このような時には、いずれを採用するかを適宜設定しておけば良い。例えば、2つの状況で寿命の試算を行い、寿命が長く見積もられるほうを採用してもよい。表2に6個の試験片が1000,2000,3000時間全数未剥離であったとき試算できる寿命と6個中5個の試験片が1000,2000,3000時間未剥離であったとき試算できる寿命を示す。   The above is the method for calculating the life from the situation in which a small number of test bearings in the total test bearing are damaged. Here, the test in this situation can be considered as a situation in which the total number of 1000 hours has not been damaged, or it can be considered that 5 out of 6 specimens have not been damaged for 3000 hours. The question remains as to whether or not In such a case, it may be set as appropriate which one is adopted. For example, it is possible to employ a method in which the lifetime is estimated in two situations and the lifetime is estimated to be long. Table 2 shows the life that can be estimated when 6 specimens have not been peeled for 1000, 2000, and 3000 hours, and the life that can be estimated when 5 out of 6 specimens have not been peeled for 1000, 2000, and 3000 hours. Indicates.

Figure 2008145414
Figure 2008145414

6個中全数の未破損時間1000時間であった時試算できる寿命は、6個中5個の試験片が3000時間未剥離であったとき試算できる寿命よりも短くなることが分かる。この場合、例えば、寿命が長く見積もられるもの(6個中5個の試験片が3000時間未剥離であったとき試算できる寿命)を採用することにする。   It can be seen that the life that can be calculated when the total unbreakage time of 6 pieces is 1000 hours is shorter than the life that can be calculated when 5 pieces of 6 pieces have not been peeled for 3000 hours. In this case, for example, the one whose life is estimated to be long (the life that can be estimated when 5 out of 6 specimens have not been peeled for 3000 hours) is adopted.

表3に試験結果の別の例を示す。   Table 3 shows another example of the test result.

Figure 2008145414
Figure 2008145414

この試験結果は、(1) 6個中6個が3050時間以上、(2) 6個中5個が4000時間以上、(3) 6個中4個6000時間以上の3通りの解釈が可能である。表4にそれぞれの解釈で計算を行った結果を示す。   This test result can be interpreted in three ways: (1) 6 out of 6 are over 3050 hours, (2) 5 out of 6 are over 4000 hours, and (3) 4 out of 6 are over 6000 hours. is there. Table 4 shows the results of calculation with each interpretation.

Figure 2008145414
Figure 2008145414

計算の結果、6個中4個が6000時間以上であると解釈するほうが、最も長寿命側の判定ができる。したがって、この試験結果からは、L10寿命が1742時間以上であるといえる。   As a result of calculation, it is possible to determine the longest life side by interpreting that 4 out of 6 are 6000 hours or more. Therefore, it can be said from this test result that the L10 life is 1742 hours or more.

図4,図5に示した寿命見積もりプログラム21についての上記の説明は、具体的に数値を例にとって説明したが、この寿命見積もりプログラム21は、整理すると、次の手順により構成される。   The above description of the life estimation program 21 shown in FIG. 4 and FIG. 5 has been specifically described by taking numerical values as an example, but this life estimation program 21 is configured by the following procedure.

この実施形態の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム21は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順(G1)と、
実行命令に応答して、寿命を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命演算手順(G2)とを含む。
The life estimation program 21 from the life cutoff test of this embodiment is:
A program executable on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the test object, the number of test objects, the number of undamaged or damaged items, and the unbreakage time as input information. Prompt screen output procedure (G1) for prompting display,
A life calculation procedure (G2) for calculating the life and displaying it on the screen of the display device in response to the execution command.

上記寿命演算手順(G2)は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手順(G22)と、
上記乱数発生手順(G1)および上記乱数分析手順(G22)を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手順(G23)と、
この設定割合寿命充足調査手順(G23)を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手順(G24)と、
この異寿命充足調査手順(G24)により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手順(G25)と、
寿命出力手順(G26)とを含む。
The life calculation procedure (G2) is
A random number generation procedure (G21) using a Weibull random number, which is a random number according to the Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis procedure (G22) for checking whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest number among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number are equal to or longer than the undamaged time;
The above-described random number generation procedure (G1) and the above random number analysis procedure (G22) are repeated a set number of times, and the set ratio life satisfaction investigation procedure (G23) for examining the probability of being in the unbreakage time or more examined in the above random number analysis procedure at each iteration. When,
This set ratio life satisfaction check procedure (G23) is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life that is gradually longer. Different life satisfaction investigation procedure (G24),
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction investigation procedure (G24) and the probability that it is longer than the unbreakage time, read the life when the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%, and then the product to be tested The life reading procedure (G25) determined as the life of the lot of
Life output procedure (G26).

設定割合寿命充足調査手順(G23)は、上記乱数発生手順(G1)および上記乱数分析手順(G22)を設定回数繰り返させる手順(G231)と、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる確率調査の手順(G232)とでなる。   The set proportion life satisfaction survey procedure (G23) includes the procedure (G231) of repeating the random number generation procedure (G1) and the random number analysis procedure (G22) a set number of times, and the random number analysis procedure in each of the repetitions. This is a probability investigation procedure (G232) for examining the probability of being at or above the breakage time.

異寿命充足調査手順(G24)は、設定割合寿命充足調査手順(G23)を、所定の最長寿命に達するまで繰り返させる繰り返し手順(G241)と、繰り返し毎に上記設定割合を順次変更する割合変更手順(G242)とでなる。なお、設定割合の初期値(上記の具体例では1/10)は、手順G21で定めておく。   The different life satisfaction investigation procedure (G24) includes a repetition procedure (G241) for repeating the set percentage life satisfaction investigation procedure (G23) until a predetermined maximum life is reached, and a ratio change procedure for sequentially changing the set ratio for each repetition. (G242). Note that the initial value of the set ratio (1/10 in the above specific example) is determined in step G21.

上記乱数発生手順(手順B21)の詳細について説明する。この手順B21は、ワイブル分布特定手順(G211)と、その特定したワイブル分布に従ってワイブル乱数を発生させる手順(G212)とでなる。ワイブル分布特定手順(G211)では、次のワイブル分布を特定する。
一般に軸受の寿命分布は次式1)のワイブル分布に従うと言われている。
Details of the random number generation procedure (procedure B21) will be described. This procedure B21 includes a Weibull distribution identification procedure (G211) and a procedure (G212) for generating a Weibull random number according to the identified Weibull distribution. In the Weibull distribution specifying procedure (G211), the next Weibull distribution is specified.
Generally, it is said that the bearing life distribution follows the Weibull distribution of the following equation 1).

Figure 2008145414
Figure 2008145414

ただし、m:ワイブルスロープ、α:尺度因子、γ:最小寿命、
ワイブル分布は、3つのパラメータを持っており、ワイブルスロープmによって指数分布、対数正規分布、正規分布を表現できる万能分布として知られている。参考として、図11に各種パラメータを変化させた時のワイブル分布の変化を示す。ワイブルスロープmは、分布の形状を支配するパラメータであり、この値が小さいほどばらつきの大きい分布ということができる。尺度因子αは、横軸(寿命)のスケールを変化させるもので、この値が大きいほど寿命は相対的に長くなる。最小寿命γは、寿命分布の横軸(寿命)を単にシフトさせるものである。
Where m: Weibull slope, α: scale factor, γ: minimum life,
The Weibull distribution has three parameters and is known as a universal distribution that can express an exponential distribution, a lognormal distribution, and a normal distribution by the Weibull slope m. As a reference, FIG. 11 shows changes in the Weibull distribution when various parameters are changed. The Weibull slope m is a parameter that governs the shape of the distribution, and it can be said that the smaller the value, the larger the variation. The scale factor α changes the scale of the horizontal axis (lifetime), and the larger the value, the longer the life. The minimum life γ simply shifts the horizontal axis (life) of the life distribution.

この実施形態では、ワイブル乱数を発生させるが、この乱数を発生させるためにはワイブル分布の3つのパラメータを決定する必要がある。決め方の手順は、例えば以下のようになる。
1)ワイブルスロープmを実績から決定する。
2)乱数を発生させたい分布の信頼度(例えばL10寿命であるか、あるいはL50寿
命であるか)を決定する。
3)信頼度から求めたワイブルスロープmから、最小寿命γを所定の数式を使って決定
する。例えば、L10寿命またはL50寿命から求めた尺度因子αから、
最小寿命γを、例えば、以下の2)式を使って決定する。
この式は、1990年制定のISOの最小寿命であり、実験値からの回帰式である。
In this embodiment, a Weibull random number is generated. In order to generate this random number, it is necessary to determine three parameters of the Weibull distribution. The procedure for deciding is, for example, as follows.
1) The Weibull slope m is determined from the results.
2) Determine the reliability of the distribution for which random numbers are to be generated (for example, whether the life is L10 or L50).
3) From the Weibull slope m obtained from the reliability, the minimum life γ is determined using a predetermined mathematical formula. For example, from the scale factor α obtained from the L10 life or L50 life,
The minimum lifetime γ is determined using, for example, the following equation 2).
This equation is the minimum life of ISO established in 1990, and is a regression equation from experimental values.

Figure 2008145414
Figure 2008145414

これは、R≦10の値で、R=0(L10寿命でのa1)のとき、この式は1になるという式である。過去のISOの最少寿命考慮の式では、L10寿命以下の寿命は、この式にL10寿命を書けた値ということで定義されている。Rは信頼度に対応する値(100−Rが信頼度となる値)である。
なお、最小寿命の定め方については、各種の規格(例えばISO)において、時代と共に変更される場合があるが、規格の変更に伴い、実施時の規格に応じた定め方を採用すれば良い。また、最小寿命は、材料試験条件によっても変化するのでより一般的な式で記述するほうが良いとの主張もあり、適宜の値を用いれば良い。
This is an expression such that this value becomes 1 when R ≦ 10 and R = 0 (a1 with L10 life). In a formula that takes into account the minimum lifetime of ISO in the past, a lifetime that is less than or equal to the L10 lifetime is defined as a value that can write the L10 lifetime in this formula. R is a value corresponding to the reliability (a value at which 100-R is the reliability).
Note that the method of determining the minimum life may be changed with the times in various standards (for example, ISO), but a method according to the standard at the time of implementation may be adopted along with the change of the standard. In addition, there is a claim that it is better to describe the minimum life by a more general formula because it changes depending on the material test conditions, and an appropriate value may be used.

ワイブル乱数の発生(手順G212)につき説明する。乱数とは、定性的にはでたらめな数列であって、発生頻度が均一(等確率)で、その発生に規則性がない(無規則性)というものであるが、完全な乱数を発生させることは不可能である。そこで、コンピュータで発生させることのできる疑似乱数を使う。簡易な乱数発生アルゴリズムでは、例えば10進法で20桁ぐらいの周期性が見られるが、周期性が6千桁以上の周期性となるものもあり、このような周期性の少ない乱数発生アルゴリズムを用いることが好ましい。   The generation of the Weibull random number (procedure G212) will be described. Random numbers are qualitatively random sequences that have a uniform frequency of occurrence (equal probability) and no regularity in their generation (irregularity). Is impossible. Therefore, pseudorandom numbers that can be generated by a computer are used. A simple random number generation algorithm, for example, has a periodicity of about 20 digits in decimal notation, but some periodicity has a periodicity of 6,000 digits or more. It is preferable to use it.

この実施形態では、一様な乱数ではなく、ワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を発生させる。このため発生方法には工夫が必要になる。確率密度関数が複雑な場合、その分布に従う乱数を発生するには棄却法と呼ばれる方法を用いればよく、この実施形態においても、棄却法を用いる。
確率密度関数f(x)の変域が図12のように、0からX0 の範囲にあるとみなされるものとし、その変域内でのf(x)の最大値をMとする。RNを区間〔0,1 〕での一様擬似乱数とするとX0 ・RNにより、区間〔0,x0〕での一様擬似乱数xiを発生することができる。同様にして、M・RNにより、区間〔0,M 〕での一様擬似乱数yiを発生することができる。そこで、このようにして発生させた乱数xi,yiがf(xi)> yi となる条件を満足する場合には、乱数xiは与えられた確率密度分布に従うものとして採用し、満足しなければ、その乱数xiを不採用とする。この作業を繰り返し、確率密度分布に従う確率で乱数xiを採用し、確率密度分布に従う乱数の数列を作っていく方法を棄却法という。この方法は、条件に合わない乱数を捨てることになるので乱数発生法としては効率がよくないが、よい一様乱数さえ得られれば原理的に正しい数列が得られる方法である。
In this embodiment, a Weibull random number that is not a uniform random number but a random number according to the Weibull distribution is generated. For this reason, a device is required for the generation method. When the probability density function is complicated, a method called a rejection method may be used to generate random numbers according to the distribution, and the rejection method is also used in this embodiment.
As shown in FIG. 12, it is assumed that the domain of the probability density function f (x) is in the range of 0 to X0, and the maximum value of f (x) within the domain is M. If RN is a uniform pseudorandom number in the interval [0,1], a uniform pseudorandom number xi in the interval [0, x0] can be generated by X0 · RN. Similarly, uniform pseudorandom numbers yi in the interval [0, M] can be generated by M · RN. Therefore, when the generated random numbers xi, yi satisfy the condition that f (xi)> yi, the random number xi is adopted as following the given probability density distribution. The random number xi is not adopted. A method of repeating this work, adopting random numbers xi with a probability according to the probability density distribution, and creating a sequence of random numbers according to the probability density distribution is called a rejection method. This method is not efficient as a random number generation method because random numbers that do not meet the conditions are discarded. However, in principle, if a good uniform random number is obtained, a correct number sequence can be obtained.

図2と共に寿命打切り試験からの寿命見積もり装置につき説明する。この寿命見積もり装置は、打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる装置であって、演算処理装置であるコンピュータ1と、このコンピュータ1の出力を画面に表示する表示装置2と、コンピュータ1に入力を行う入力装置3とを備える。
コンピュータ1は、表示装置2の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段7Eと、
実行命令の入力に応答して、寿命を見積もる演算を行いその演算結果を上記表示の画面に出力する寿命見積もり演算手段22とを備える。
With reference to FIG. 2, a life estimation apparatus based on the life cutoff test will be described. This life estimation device is a device that estimates the life of a lot of a test target product from an unbreakage time during which the test is continued without damaging at least a part of the test target product in a censoring test. A computer 1, a display device 2 that displays the output of the computer 1 on a screen, and an input device 3 that inputs the computer 1 are provided.
The computer 1 displays, on the screen of the display device 2, as input information, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged or broken objects, which is the number of undamaged test objects, Prompting screen output means 7E for performing display prompting for the input of breakage time;
Responsive to the input of the execution command, it includes life estimation calculation means 22 that performs a calculation for estimating the life and outputs the calculation result to the display screen.

寿命見積もり演算手段22は、乱数発生手段23と、乱数分析手段24と、設定割合寿命充足調査手段25と、異寿命充足調査手段26と、寿命読み取り手段27と、読取結果出力手段28とを備える。   The life estimation calculation means 22 includes a random number generation means 23, a random number analysis means 24, a set rate life satisfaction investigation means 25, a different life satisfaction investigation means 26, a life reading means 27, and a reading result output means 28. .

乱数発生手段23は、未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させる手段であり、図5の手順G21で説明した処理を行う。上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる。
乱数発生手段23は、ワイブル分布特定部23aと、乱数発生部23bとからなる。ワイブル分布特定部23aは、図5の手順G211で説明した処理を行い、乱数発生部23bは、図5の手順G212Dで説明した処理を行う。
The random number generation means 23 is a means for generating Weibull random numbers, which are random numbers according to the Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for the number of tests, and performs the processing described in the procedure G21 in FIG. The Weibull distribution uses the value of the Weibull slope of the input information.
The random number generating means 23 includes a Weibull distribution specifying unit 23a and a random number generating unit 23b. The Weibull distribution specifying unit 23a performs the process described in the procedure G211 in FIG. 5, and the random number generation unit 23b performs the process described in the procedure G212D in FIG.

乱数分析手段24は、発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる手段であり、図5の流れ図における手順G22で説明した処理を行う。   The random number analyzing means 24 is a means for checking whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest one among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number is equal to or longer than the undamaged time. The process described in the procedure G22 in the flowchart of FIG.

設定割合寿命充足調査手段25は、上記乱数発生手段23および上記乱数分析手段24の処理を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手段24で調べた未破損時間以上にある確率を調べる手段であり、図5の流れ図における手順G23で説明した処理を行う。   The set ratio life satisfaction check means 25 repeats the processes of the random number generation means 23 and the random number analysis means 24 for a set number of times, and checks the probability of being equal to or greater than the unbreakage time checked by the random number analysis means 24 in each repetition. The process described in the procedure G23 in the flowchart of FIG. 5 is performed.

異寿命充足調査手段26は、上記設定割合寿命充足調査手段26の処理を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す手段であり、図5の流れ図における手順G24で説明した処理を行う。   The different life satisfaction checking means 26 is a life in which the set ratio is sequentially changed every time the processing of the set percentage life satisfaction checking means 26 is repeated from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life gradually longer. The process described in step G24 in the flowchart of FIG. 5 is performed.

寿命読み取り手段27は、異寿命充足調査手段26の処理により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取る手段であり、図5の流れ図における手順G25で説明した処理を行う。   The life reading means 27 calculates a life whose occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%, based on the relationship between the life obtained by the processing of the different life satisfaction surveying means 26 and the probability that it is longer than the unbreakage time. This is a means for reading and determining the life of the lot of the test object, and performs the process described in the procedure G25 in the flowchart of FIG.

読取結果出力手段28は、寿命読み取り手段27で読み取った寿命を上記表示装置2に出力させる手段であり、図5の流れ図における手順G26で説明した処理を行う。   The read result output means 28 is a means for causing the display device 2 to output the life read by the life read means 27, and performs the processing described in the procedure G26 in the flowchart of FIG.

この発明の第2の寿命見積もり方法、装置、プログラムに係る実施形態を、図13ないし図21と共に説明する。なお、この実施形態において、特に説明した事項の他は、図1ないし図12に示す第1の実施形態と同様である。
この実施形態は、寿命打切り試験の結果から、寿命の上限、つまりその試験結果からはそれ以上の寿命が期待できないという判断を行う方法等に係る。
A second embodiment of the lifetime estimation method, apparatus, and program according to the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, the matters other than those specifically described are the same as those in the first embodiment shown in FIGS.
This embodiment relates to a method of determining from the result of the life cutoff test that the upper limit of the life, that is, no longer life can be expected from the test result.

この実施形態の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法も、第1の実施形態と同じく、軸受を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、適用される。
ただし、この方法は、一部の試験対象品が破損し残りの対象品が破損することなく試験を継続している場合に適用され、未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる方法である。
軸受の他の機械部品や、軸受またはその他の機械部品の試験片の打切り試験における打切り時間を見積もる場合にも適用できる。
この実施形態の寿命打切り試験からの寿命見積もり方法も、例えば、一つのロットの軸受の中から一部の軸受を抜き取って打切り寿命試験を行い、そのロットの寿命を確認する試験等に適用される。
As with the first embodiment, the life estimation method from the life cutoff test of this embodiment is also required if the bearing is placed in a predetermined use environment condition and the test continues without being broken until the cutoff time, which is the target time. It is applied in the censoring test that judges that the life is satisfied.
However, this method is applied when a part of the test target product is damaged and the test is continued without damaging the remaining target product, and the upper limit of the life of the test target lot is estimated from the non-breakage time. Is the method.
The present invention can also be applied to the case of estimating the cut-off time in a cut-off test of another mechanical part of a bearing or a test piece of a bearing or other mechanical part.
The life estimation method from the life cut-off test of this embodiment is also applied to, for example, a test in which a part of bearings is extracted from a lot of bearings, a cut-off life test is performed, and the life of the lot is confirmed. .

以下、この実施形態を図面と共に説明する。この寿命打切り試験からの寿命見積もり方法は、図13に示すコンピュータ1に、寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム21Aを実行させることで行う。コンピュータ1はパーソナルコンピュータ等からなり、中央処理装置4およびメモリ5を有し、所定のオペレーションシステムによって動作するものである。コンピュータ1には、液晶表示装置等の画面によって表示可能な表示装置2と、キーボードやマウス等の入力装置3が接続され、あるいは付属して設けられている。コンピュータ1、表示装置2、入力装置3、および寿命見積もりプログラム21Aにより、図14に各機能達成手段をブロックで示した寿命見積もり装置が構成される。
寿命見積もりプログラム21Aは、コンピュータ1で実行可能なプログラムであって、図16および図17に流れ図で示す手順を備えるものである。
なお、この実施形態における寿命見積もりプログラム21Aは、第1の実施形態における寿命見積もりプログラム21と同じコンピュータ1で実行され、例えば第1の実施形態における寿命計算の後に、この実施形態による寿命の上限の計算を行うようにすることが望ましい。すなわち、第1の実施形態に係る寿命打切り試験からの寿命見積もり方法と、第2の実施形態に係る寿命打切り試験からの寿命見積もり方法とは、併用することができる。その場合、オペレータの入力事項のうち、重複する入力事項は一度で行うようにし、入力処理を兼用することができるできる。この第1,第2の寿命見積もり方法併用により、試験対象品のロットの寿命の下限値と上限値との両方を知ることができる。
Hereinafter, this embodiment will be described with reference to the drawings. The life estimation method from the life end test is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 13 to execute the life estimation program 21A from the life end test. The computer 1 is composed of a personal computer or the like, has a central processing unit 4 and a memory 5, and operates by a predetermined operation system. The computer 1 is provided with a display device 2 that can be displayed on a screen such as a liquid crystal display device and an input device 3 such as a keyboard and a mouse. The computer 1, the display device 2, the input device 3, and the life estimation program 21A constitute a life estimation device in which each function achievement means is shown as a block in FIG.
The life estimation program 21A is a program that can be executed by the computer 1, and has the procedures shown in the flowcharts of FIGS.
The life estimation program 21A in this embodiment is executed by the same computer 1 as the life estimation program 21 in the first embodiment. For example, after the life calculation in the first embodiment, the upper limit of the life in this embodiment is calculated. It is desirable to perform the calculation. That is, the life estimation method from the life end test according to the first embodiment and the life estimation method from the life end test according to the second embodiment can be used in combination. In this case, among the input items of the operator, duplicate input items can be performed at a time, and the input process can also be used. By using the first and second life estimation methods together, it is possible to know both the lower limit value and the upper limit value of the life of the lot of the test object.

この寿命見積もり方法は、図15に示すように、コンピュータ1に対して所定の情報を入力する入力過程E1Aと、コンピュータ1で演算処理を行って演算結果を出力するコンピュータ演算処理過程E2Aとからなる。   As shown in FIG. 15, this life estimation method includes an input process E1A for inputting predetermined information to the computer 1 and a computer arithmetic processing process E2A for performing arithmetic processing on the computer 1 and outputting the arithmetic result. .

入力過程E1では、図19に示すように所定の入力情報の入力を促す入力画面2aAが、コンピュータ1の出力によって表示装置2に表示される。この入力画面2aA、およびこの入力画面に対して行う入力は、第1の実施形態(図1ないし図12)と同様であるので、重複する説明を省略する。ただし、この実施形態では、見積もる寿命は、L10寿命およびL50寿命の上限であり、その旨の表示が行われる。   In the input process E1, as shown in FIG. 19, an input screen 2aA for prompting input of predetermined input information is displayed on the display device 2 by the output of the computer 1. Since this input screen 2aA and the input performed on this input screen are the same as those in the first embodiment (FIGS. 1 to 12), a duplicate description is omitted. However, in this embodiment, the estimated lifetime is the upper limit of the L10 lifetime and the L50 lifetime, and a message to that effect is displayed.

図15のコンピュータ演算処理過程E2Aでは、入力された未破損時間,未破損個数等からその試験対象品を含むロットの寿命の上限(その試験結果からはその寿命以上は期待できないという値)を演算し、その演算結果を、図20のように出力画面2bAに表示する。すなわち、ロットの寿命の上限値が、同図のように出力される。この上限値は、L10寿命およびL50寿命の各々について出力される。   In the computer calculation process E2A in FIG. 15, the upper limit of the life of the lot including the test object is calculated from the input unbreakage time, the number of unbroken pieces, etc. Then, the calculation result is displayed on the output screen 2bA as shown in FIG. That is, the upper limit value of the lot life is output as shown in FIG. This upper limit value is output for each of the L10 life and the L50 life.

図13の寿命見積もりプログラム21Aは、コンピュータ1で実行可能なプログラムであって、図16,図17に流れ図で示す手順を備える。図16に示すように、寿命見積もりプログラム21Aは、促し画面出力手順F1Aと寿命上限演算手順F2Aとでなり、促し画面出力手順F1では、図19と共に前述した入力画面2aAを出力する。この入力画面2aAに対して、上記各入力情報が入力手段3から入力され、かつ入力画面2aAのOKキーのクリック等によって実行命令が入力手段3から入力されると、寿命上限演算手順F2Aが実行される。同図の入力画面2aAに対して入力する過程が、図15の入力過程E1Aであり、同図のコンピュータ演算処理過程E2Aは図16の寿命上限演算手順F2Aを実行する過程である。   The life estimation program 21A shown in FIG. 13 is a program that can be executed by the computer 1, and includes procedures shown in flowcharts in FIGS. As shown in FIG. 16, the life estimation program 21A includes a prompt screen output procedure F1A and a life upper limit calculation procedure F2A, and the prompt screen output procedure F1 outputs the input screen 2aA described above with FIG. When the input information is input to the input screen 2aA from the input unit 3 and an execution command is input from the input unit 3 by clicking the OK key on the input screen 2aA, the life upper limit calculation procedure F2A is executed. Is done. The input process E1A in FIG. 15 is a process input to the input screen 2aA in FIG. 15, and the computer calculation process E2A in FIG. 15 is a process for executing the life upper limit calculation procedure F2A in FIG.

寿命上限演算手順F2Aは、図17に流れ図で示す各手順で構成される。この流れ図には、各手順G21A〜G26A毎の具体的な処理例を併記してある。   The life upper limit calculation procedure F2A is configured by the respective procedures shown in the flowchart in FIG. In this flowchart, a specific processing example for each of the procedures G21A to G26A is also shown.

理解の容易のため、図17の流れ図を説明する前に、同図の流れ図の処理につき、1個破損である場合に限定した処理を、具体的数値例と共に、図18と共に説明する。   For the sake of easy understanding, before describing the flowchart of FIG. 17, the processing limited to the case of one breakage in the processing of the flowchart of FIG.

図18は、継続している全数未破損の打切り試験の途中結果から寿命の上限を算出するための手順を示す。
今、6個の試験片の試験が継続して3000時間が経過し、その中の1個の試験片が破損したという状況からいえる寿命範囲を試算する。なお、第1の実施形態により、6個す ての試験片が3000時間以上であった場合の少なくともいえる寿命(90%の確率で保証できる下限のL10寿命)は1530時間以上であると求めることができる。
以下、図18と共に、寿命の上限を求めていく。現在、6個中1個の試験片が3000時間で破損しているが、その破損時間の0.5倍(=1500時間)のL10寿命を持つワイブル分布(ワイブルスロープは実績から設定して1.85)から乱数を6個発生させる(G21A′)。
得られた乱数6個を昇順に並び替え、最も小さい乱数が3000時間以下になるか否かを調べる(G22A)。
次に、この作業を5000回繰り返し、最も小さい乱数が3000時間以下になる状況が5000回中何回の頻度で発生するのかの確率を調べる(G23A′)。
これらは、ワイブルスロープ1.85、L10寿命1500時間の寿命である6個の試験片を寿命試験したときに、最も短い寿命の試験片ではどのくらいの確率で3000時間以下のデータが出るのかを調査していることに対応する。
さらに、この確率の調査を3000時間よりも、0.5、1、1.5…25倍のL0寿命を持つワイブル分布で行う(G24A′)。
この調査の結果から累積確率分布を求め、10%の確率分布となる時間を読み取る(G25A′)。すなわち、横軸をそのL10寿命、縦軸を最も短い試験片の寿命が3000時間以下になる確率としたものが、図21(B)である。この図は、どのような寿命分布であれば、最も短い試験片の寿命が3000時間以下になる確率が高いかということを示している。
この図から、L10寿命が7316時間の寿命分布を持つ試験片から6個中1個の試験片が3000時間以下の破損が生じることは10%のレアケースである。したがって、6個中1個の試験片が3000時間以下のデータが得られる試験片群の寿命は、90%の確率で、L10寿命が7316時間以下であるといえる。これより、寿命の範囲は1530時間以上7316時間以下であるといえる。
FIG. 18 shows a procedure for calculating the upper limit of the life from the intermediate results of the unbroken abort test that has been continued.
Now, the life span which can be said from the situation in which the test of six test pieces has continued for 3000 hours and one of the test pieces has been damaged is estimated. According to the first embodiment, it is required that at least the life that can be said when all six test pieces are 3000 hours or longer (the lower limit L10 life that can be guaranteed with a probability of 90%) is 1530 hours or longer. Can do.
Hereinafter, the upper limit of the lifetime is obtained together with FIG. At present, one of the six specimens is damaged in 3000 hours, but the Weibull distribution has an L10 life of 0.5 times the failure time (= 1500 hours). .85), 6 random numbers are generated (G21A ′).
The obtained six random numbers are rearranged in ascending order, and it is checked whether the smallest random number is 3000 hours or less (G22A).
Next, this operation is repeated 5000 times, and the probability of how often the situation in which the smallest random number is 3000 hours or less occurs in 5000 times is examined (G23A ′).
These are investigations of the probability that data with less than 3000 hours will be obtained with the shortest life test piece when 6 test pieces with Weibull slope 1.85 and L10 life 1500 hours are tested. Corresponding to what you are doing.
Further, this probability is investigated with a Weibull distribution having an L0 life of 0.5, 1, 1.5... 25 times longer than 3000 hours (G24A ′).
The cumulative probability distribution is obtained from the result of this investigation, and the time when the probability distribution becomes 10% is read (G25A ′). That is, FIG. 21B shows the probability that the L10 life is plotted on the horizontal axis and the life of the shortest test piece is 3000 hours or less on the vertical axis. This figure shows what kind of life distribution the probability that the life of the shortest specimen is 3000 hours or less is high.
From this figure, it is a rare case of 10% that one of the six test pieces from the test piece having a life distribution of L316 life of 7316 hours is damaged for 3000 hours or less. Accordingly, it can be said that the life of the test piece group from which data of 3000 test pieces or less is obtained for one of the 6 test pieces is 90%, and the L10 life is 7316 hours or less. From this, it can be said that the range of lifetime is 1530 hours or more and 7316 hours or less.

以上が1個以上の破損データが得られた場合の寿命の上限を計算する方法である。この方法を応用すれば、2個の破損データが得られた場合でも寿命上限を計算することができる。これらの計算は、上記の寿命見積もりプログラム21,21Aを使って行うが、その入力と出力の結果を図19,図20に示す。ここで、ワイブルスロープは試験個数が10個以上の実際の試験から求めた実績値を入力することが望ましい。
以上のことから明らかなように、この寿命上限の計算方法によれば、その結果からその寿命以上は期待できないという判断が可能になる。
The above is a method for calculating the upper limit of the lifetime when one or more pieces of damaged data are obtained. If this method is applied, the upper limit of the life can be calculated even when two pieces of damaged data are obtained. These calculations are performed using the life estimation programs 21 and 21A, and the input and output results are shown in FIGS. Here, as for the Weibull slope, it is desirable to input an actual value obtained from an actual test having 10 or more test pieces.
As is apparent from the above, according to the method for calculating the upper limit of the life, it is possible to judge from the result that the life beyond the expected value cannot be expected.

次に、図17と共に、寿命上限演算手順F2A、つまり1個以上の破損データが得られた場合の寿命の上限を計算する手順の詳細を説明する。同図の流れ図において、具体例を示す注釈部分を参照して説明する。基本的な手順は、図18と前述した手順と同様である。   Next, the details of the life upper limit calculation procedure F2A, that is, the procedure for calculating the upper limit of the life when one or more pieces of damaged data are obtained will be described with reference to FIG. Description will be made with reference to an annotation portion showing a specific example in the flowchart of FIG. The basic procedure is the same as that shown in FIG.

図17につき、説明が重複するが、図18につき説明した例を具体例として用いる。以下の説明における括弧内の数値は具体例である。
いま、n個(6個)の試験片の試験が継続して所定の未破損時間(3000時間)が経過し、その中のm個(1個)の試験片が破損したという状況から言える寿命範囲を試算する。
Although the description overlaps with FIG. 17, the example described with reference to FIG. 18 is used as a specific example. The numerical values in parentheses in the following description are specific examples.
Now, n (six) test pieces continue to be tested, a predetermined unbreakage time (3000 hours) has passed, and m (one) test piece can be said to have been damaged. Estimate the range.

まず、ステップG21A(乱数発生手順)の処理を説明する。n個中m個(6個中1個)の試験片が所定の未破損時間T(3000時間)で破損しているが、そのm個の試験片が破損した破損時間である上記未破損時間Tに対する設定割合(0.5倍=(1500時間))のL10寿命を持つワイブル分布(ワイブルスロープは実績から設定して1.85から乱数をn個(6個)発生させる。この処理中のワイブル分布の特定(G211A)および乱数発生(G212A)の方法は、第1の実施形態で説明した方法と同様である。   First, the process of step G21A (random number generation procedure) will be described. The above-mentioned unbreakage time, which is the breakage time when m pieces of n pieces (1 piece out of 6 pieces) have been broken within a predetermined unbreakage time T (3000 hours). Weibull distribution with L10 life (0.5 times = (1500 hours)) with respect to T (Weibull slope is set from results and generates n (6) random numbers from 1.85. The method of specifying the Weibull distribution (G211A) and random number generation (G212A) is the same as the method described in the first embodiment.

ついで、乱数分析手順(G22A)では、得られた乱数n個(6個)を昇順に並び替え、最も小さい方から破損個数m個までの乱数が上記未破損時間T(3000時間)以下になるか否かを調べる。破損個数mが1個の場合は、一番小さい乱数が3000時間以下になるか否かを調べる。   Next, in the random number analysis procedure (G22A), the obtained random numbers n (6) are rearranged in ascending order, and random numbers from the smallest to the number m of damaged pieces are equal to or shorter than the unbreakage time T (3000 hours). Check whether or not. When the number of breakage m is 1, it is checked whether the smallest random number is 3000 hours or less.

次に、設定割合寿命非充足調査手順(G23A)では、上記乱数発生手順(G21A)と乱数分析手順(G22A)を設定回数(5000回)繰り返し(G231A)、最も小さい方から破損個数mまでの乱数が上記未破損時間T以下になるか否かを調べる(G232A)。破損個数mが1個である場合は、一番小さい乱数が3000時間以下になる状況が5000回中何回の頻度で発生するのかの確率を調べる。
これらは、ワイブルスロープ1.85、L10寿命が、(設定割合)×T(1500時間)の寿命であるn個(6個)の試験片を寿命試験したときに、最も小さい方から破損個数mまでの試験片ではどのくらいの確率で未破損時間T(3000時間)以下のデータが出るのかを調査していることに対応する。
Next, in the set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A), the random number generation procedure (G21A) and the random number analysis procedure (G22A) are repeated a set number of times (5000 times) (G231A). It is examined whether the random number is equal to or less than the unbreakage time T (G232A). When the number of breakage m is 1, the probability of how often the situation where the smallest random number is 3000 hours or less occurs in 5000 times is examined.
These are the Weibull slope 1.85 and the L10 life is (set ratio) × T (1500 hours). This corresponds to the investigation of the probability that the data of the unbreakage time T (3000 hours) or less appears in the test specimens up to.

さらに、異寿命充足調査手順(G24A)では、上記確率の調査(G23A)を、上記未破損時間T(m個の破損が生じた破損時間)(3000時間)よりも、0.5、1、1.5…25倍のL0寿命を持つワイブル分布で行う。   Furthermore, in the different life satisfaction investigation procedure (G24A), the probability investigation (G23A) is performed by 0.5, 1 or more than the unbreakage time T (breakage time when m breakage occurs) (3000 hours). 1.5 ... Weibull distribution with 25 times the L0 life.

寿命上限読み取り手順(G25A)では、上記異寿命充足調査手順(G24A)の結果から累積確率分布を求め、その発生確率が100%から所定信頼度(90%)を減算した値(10%)の確率分布となる寿命時間を読み取る(G25A)。
すなわち、横軸をそのL10寿命、縦軸を最も短い試験片の寿命が未破損時間T(3000時間)以下になる確率としたものが、図21(B)である。この図は、どのような寿命分布であれば、最も短い方から破損個数m(1個)までの試験片の寿命が未破損時間T(3000時間)以下になる確率が高いかということを示している。
この図から、L10寿命が7316時間の寿命分布を持つ試験片から6個中1個の試験片が3000時間以下の破損が生じることは10%のレアケースである。したがって、6個中1個の試験片が3000時間以下のデータが得られる試験片群の寿命は、90%の確率で、L10寿命が7316時間以下であるといえる。これより、寿命の範囲は1530時間以上7316時間以下であるといえる。
In the life upper limit reading procedure (G25A), the cumulative probability distribution is obtained from the result of the different life satisfaction survey procedure (G24A), and the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability (90%) from 100% (10%). Read the lifetime which becomes a probability distribution (G25A).
That is, FIG. 21B shows the probability that the abscissa indicates the L10 life and the ordinate indicates the probability that the life of the shortest test piece is less than the unbreakage time T (3000 hours). This figure shows what kind of life distribution has a high probability that the life of the test piece from the shortest to the number m (1) of damage will be less than the unbreakage time T (3000 hours). ing.
From this figure, it is a rare case of 10% that one of the six test pieces from the test piece having a life distribution of L316 life of 7316 hours is damaged for 3000 hours or less. Accordingly, it can be said that the life of the test piece group from which data of 3000 test pieces or less is obtained for one of the 6 test pieces is 90%, and the L10 life is 7316 hours or less. From this, it can be said that the range of lifetime is 1530 hours or more and 7316 hours or less.

寿命上限出力手順(G26A)では、寿命上限読み取り手順(G25A)で読み取った寿命の上限を、表示装置2の出力画面2bに表示する。
以上が、寿命上限演算手順F2A、つまり1個以上の破損データが得られた場合の寿命の上限を計算する手順である。
In the life upper limit output procedure (G26A), the upper limit of the life read in the life upper limit reading procedure (G25A) is displayed on the output screen 2b of the display device 2.
The above is the life upper limit calculation procedure F2A, that is, the procedure for calculating the upper limit of the life when one or more pieces of damaged data are obtained.

このように、種々の寿命のワイブル乱数を試験個数だけ発生させ、どのような寿命分布であれば、最も短い方から破損個数までの試験対象品の寿命が未破損時間以下になる確率が高いかという確率分布を求めるようにしたため、未破損時間から試験対象品の寿命の上限を高い信頼度で求めることができる。また、上記の処理はコンピュータシミュレーションとし、コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力するだけで、寿命水準が出力されるようにしたため、熟練を要することなく、簡単に、かつ迅速に、未破損時間から寿命の上限を求めることができる。   In this way, weibull random numbers with various lifetimes are generated for the number of test pieces, and what kind of life distribution is there is a high probability that the life of the product under test from the shortest to the number of breakage will be less than the unbreakage time? Thus, the upper limit of the life of the test object can be obtained with high reliability from the unbreakage time. In addition, the above processing is a computer simulation, and as input information to the computer, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged items or the number of breakage that is the number of undamaged test items Since the life level is output only by inputting the unbreakage time, the upper limit of the life can be easily and quickly obtained from the unbreakage time without requiring skill.

図17,図18に示した寿命見積もりプログラム21Aについての上記の説明は、具体的に数値を例にとって説明したが、この寿命見積もりプログラム21Aは、整理すると、次の手順で構成される。   The above description of the life estimation program 21A shown in FIG. 17 and FIG. 18 has been specifically described by taking numerical values as an example, but this life estimation program 21A is configured by the following procedure.

この実施形態の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム21Aは、寿命の上限を コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順(G1A)と、
実行命令に応答して、寿命を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命上限演算手順(G2A)とを含む。
The life estimation program 21A from the life end-of-life test of this embodiment is a program that can execute the upper limit of the life on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the product under test, the number of test products under test, the number of undamaged or damaged products, the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage. A prompt screen output procedure (G1A) for performing a prompt display;
And a life upper limit calculation procedure (G2A) for calculating the life and displaying it on the screen of the display device in response to the execution command.

上記寿命上限演算手順(G2A)は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順(G21A)と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間未満になるか否かを調べる乱数分析手順(G22A)と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間未満になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順(G23A)と、
この設定割合寿命非充足調査手順(G23A)を、上記未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順(24A)と、
この異寿命非充足調査手順により得られた寿命と未破損時間未満になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順(G25A)と、
寿命上限出力手順(G26A)とを含む。
The above life upper limit calculation procedure (G2A)
A random number generation procedure (G21A) using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for the test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
A random number analysis procedure (G22A) for examining whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated number of tests is less than the unbreakage time;
A set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) for repeating the random number generation procedure and the random number analysis procedure a set number of times, and examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the unbreakage time;
This set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) is changed to a Weibull distribution with a life in which the set ratio is sequentially changed every time from a predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to a predetermined longest long life. The different life non-satisfaction investigation procedure (24A)
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read to determine the lot of the test object. Life upper limit reading procedure (G25A) determined as the upper limit of the life of
Life upper limit output procedure (G26A).

設定割合寿命非充足調査手順(G23A)は、上記乱数発生手順(G21A)および上記乱数分析手順(G22A)を設定回数繰り返させる手順(G231A)と、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間未満になる確率を調べる確率調査の手順(G232A)とでなる。   The set ratio life non-satisfaction investigation procedure (G23A) was examined by the procedure (G231A) of repeating the random number generation procedure (G21A) and the random number analysis procedure (G22A) a set number of times, and the random number analysis procedure in each of these repetitions. This is a probability investigation procedure (G232A) for examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the unbreakage time.

異寿命非充足調査手順(G24A)は、設定割合寿命非充足調査手順(G23A)を、所定の最長寿命に達するまで繰り返させる繰り返し手順(G241A)と、繰り返し毎に上記設定割合を順次変更する割合変更手順(G242A)とでなる。なお、設定割合の初期値(上記の具体例では5/10)は、乱数発生手順G21Aで定めておく。   The different life non-satisfaction investigation procedure (G24A) includes a repetition procedure (G241A) in which the set rate life non-satisfaction investigation procedure (G23A) is repeated until a predetermined maximum life is reached, and a rate at which the set ratio is sequentially changed for each repetition. The change procedure (G242A) is performed. The initial value of the set ratio (5/10 in the above specific example) is determined by the random number generation procedure G21A.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム21Aは、この発明の第2の寿命見積もり方法の実施に使用され、未破損時間から寿命の上限を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。   The life estimation program 21A from the life end-of-life test of this configuration is used for the execution of the second life estimation method of the present invention, and the upper limit of the life can be easily and quickly determined from the unbreakage time and is reliable. It can be high, and even if it is not an expert, a life level can be calculated | required appropriately from unbreakage time.

図14と共に、第2の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置について説明する。この寿命打切り試験からの寿命見積もり装置は、寿命の上限を見積もる装置である。
この寿命見積もり装置は、上記打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる装置であって、演算処理装置であるコンピュータ1と、このコンピュータ1の出力を画面に表示する表示装置2と、コンピュータ1に入力を行う入力手段3とを備える。
With reference to FIG. 14, a life estimation apparatus from the second life cutoff test will be described. The life estimation device from this life cutoff test is a device that estimates the upper limit of the life.
This life estimation device estimates the upper limit of the life of a lot of test target products from the unbreakage time during which the test is continued without causing damage to some of the test target products and the remaining target products in the censoring test. A computer 1 that is an arithmetic processing unit, a display device 2 that displays an output of the computer 1 on a screen, and an input unit 3 that inputs the computer 1 are provided.

コンピュータ1は、表示装置2の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段7EAと、
実行命令の入力に応答して、寿命の上限を見積もる演算を行いその演算結果を上記表示の画面に出力する寿命上限見積もり演算手段22Aとを備える。
The computer 1 displays, on the screen of the display device 2, as input information, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged or broken objects, which is the number of undamaged test objects, Prompt screen output means 7EA for performing display prompting for the input of breakage time;
Responsive to the input of the execution command, a life upper limit estimating calculating means 22A is provided for calculating the upper limit of the life and outputting the operation result to the display screen.

寿命上限見積もり演算手段22Aは、乱数発生手段23Aと、乱数分析手段24Aと、設定割合寿命非充足調査手段25Aと、異寿命非充足調査手段26Aと、寿命読み取り手段27Aと、読取結果出力手段28Aとを備える。   The life upper limit estimation calculation means 22A includes a random number generation means 23A, a random number analysis means 24A, a set ratio life non-satisfaction investigation means 25A, a different life non-satisfaction investigation means 26A, a life reading means 27A, and a read result output means 28A. With.

乱数発生手段23Aは、未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させる手段であり、図17の手順G21Aで説明した処理を行う。上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる。
乱数発生手段23は、ワイブル分布特定部23Aaと、乱数発生部23Abとからなる。ワイブル分布特定部23Aaは、図17の手順G211Aで説明した処理を行い、乱数発生部23Abは、図17の手順G212Aで説明した処理を行う。
The random number generation means 23A is means for generating Weibull random numbers, which are random numbers according to the Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for the number of tests, and performs the processing described in the procedure G21A in FIG. The Weibull distribution uses the value of the Weibull slope of the input information.
The random number generating means 23 includes a Weibull distribution specifying unit 23Aa and a random number generating unit 23Ab. The Weibull distribution identification unit 23Aa performs the process described in the procedure G211A in FIG. 17, and the random number generation unit 23Ab performs the process described in the procedure G212A in FIG.

乱数分析手段24Aは、発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間未満になるか否かを調べる手段であり、図17の流れ図における手順G22Aで説明した処理を行う。   The random number analysis means 24A is a means for checking whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the generated Weibull random numbers for the test number is less than the unbreakage time, and the procedure G22A in the flowchart of FIG. Perform the process described in.

設定割合寿命非充足調査手段25Aは、上記乱数発生手段23Aおよび上記乱数分析手段24Aの処理を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間未満になる確率を調べる手段であり、図17の流れ図における手順G23Aで説明した処理を行う。   The set ratio life non-satisfaction investigation means 25A is a means for examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the unbreakage time by repeating the processes of the random number generation means 23A and the random number analysis means 24A a set number of times. Yes, the processing described in the procedure G23A in the flowchart of FIG. 17 is performed.

異寿命非充足調査手段26Aは、上記設定割合寿命非充足調査手段25Aの処理を、未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す手段であり、図17の流れ図における手順G24Aで説明した処理を行う。   The different life non-satisfaction investigation means 26A sequentially performs the above-described set ratios every time the processing of the set ratio life non-satisfaction investigation means 25A is repeated from a predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to a predetermined longest life gradually longer. This is a means for repeating the Weibull distribution with the changed lifetime, and performs the processing described in the procedure G24A in the flowchart of FIG.

寿命上限読み取り手段29Aは、異寿命非充足調査手段26Aの処理により得られた寿命と未破損時間未満になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める手段であって、図17の流れ図における手順G25Aで説明した処理を行う。   In the life upper limit reading means 29A, the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% from the relationship between the life obtained by the processing of the different life non-satisfaction investigation means 26A and the probability of being less than the unbreakage time. A means for reading the life and determining the upper limit of the life of the lot of the test object, and performs the process described in the procedure G25A in the flowchart of FIG.

読取結果出力手段Aは、寿命上限読み取り手段29Aで読み取った寿命の上限を上記表示装置2に出力させる手段であり、図17の流れ図における手順G26Aで説明した処理を行う。   The reading result output means A is means for outputting the upper limit of the life read by the life upper limit reading means 29A to the display device 2, and performs the processing described in the procedure G26A in the flowchart of FIG.

この構成の寿命打切り試験からの寿命見積もり装置によると、この実施形態における第2の寿命見積もり方法を実施して、未破損時間から寿命の上限を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命の上限を適切に求めることができる。   According to the lifetime estimation apparatus from the lifetime censoring test of this configuration, the second lifetime estimation method in this embodiment can be implemented, and the upper limit of the lifetime can be easily and quickly determined from the unbreakage time, and the reliability Even if it is not an expert, the upper limit of a lifetime can be calculated | required appropriately from unbreakage time.

この発明の一実施形態に係る寿命見積もり装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the lifetime estimation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 同寿命見積もり装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the lifetime estimation apparatus. 同寿命見積もり装置を用いた寿命見積もり方法の概略流れ図である。It is a schematic flowchart of the lifetime estimation method using the lifetime estimation apparatus. 同寿命見積もり方法を実施する寿命見積もりプログラムの概略の流れ図である。It is a general | schematic flowchart of the lifetime estimation program which implements the same lifetime estimation method. 同プログラムにおける寿命演算手順の詳細を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the detail of the lifetime calculation procedure in the program. 同流れ図を特定の数値の場合に適用した例を示す概略流れ図である。It is a schematic flowchart which shows the example which applied the same flowchart to the case of a specific numerical value. 図1の寿命見積もり装置における入力画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input screen in the lifetime estimation apparatus of FIG. 図1の寿命見積もり装置における出力画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an output screen in the lifetime estimation apparatus of FIG. (A)はワイブル分布の例のグラフ、(B)は寿命分布と全数未破損となる確率の関係を示すグラフである。(A) is a graph of an example of the Weibull distribution, and (B) is a graph showing the relationship between the life distribution and the probability that the whole is not damaged. (A)はワイブル分布の例のグラフ、(B)は寿命分布と6個中5個未破損となる確率の関係を示すグラフである。(A) is a graph of an example of the Weibull distribution, and (B) is a graph showing the relationship between the life distribution and the probability that 5 out of 6 are not damaged. ワイブル分布の各パラメータの影響例を示すグラフである。It is a graph which shows the example of influence of each parameter of a Weibull distribution. ワイブル分布の定め方を示すグラフである。It is a graph which shows how to define a Weibull distribution. この発明の第2の実施形態に係る寿命見積もり装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the lifetime estimation apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 同寿命見積もり装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the lifetime estimation apparatus. 同寿命見積もり装置を用いた寿命見積もり方法の概略流れ図である。It is a schematic flowchart of the lifetime estimation method using the lifetime estimation apparatus. 同寿命見積もり方法を実施する寿命見積もりプログラムの概略の流れ図である。It is a general | schematic flowchart of the lifetime estimation program which implements the same lifetime estimation method. 同プログラムにおける寿命演算手順の詳細を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the detail of the lifetime calculation procedure in the program. 同流れ図を特定の数値の場合に適用した例を示す概略流れ図である。It is a schematic flowchart which shows the example which applied the same flowchart to the case of a specific numerical value. 図13の寿命見積もり装置における入力画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input screen in the lifetime estimation apparatus of FIG. 図13の寿命見積もり装置における出力画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an output screen in the lifetime estimation apparatus of FIG. 所定割合寿命が非充足となる頻度を示すグラフ、(B)は寿命と累積確率の関係を示すグラフである。The graph which shows the frequency by which a predetermined ratio lifetime becomes unsatisfactory, (B) is a graph which shows the relationship between a lifetime and a cumulative probability. 従来の打切りおよび加速試験の手順を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the procedure of the conventional truncation and acceleration test.

符号の説明Explanation of symbols

1…コンピュータ(演算処理手段)
2…表示装置
3…入力装置
7E…促し画面出力手段
21…寿命見積もりプログラム
22…寿命見積もり演算手段
23……乱数発生手段
24…乱数分析手段
25…設定割合寿命調査手段
26…異寿命充足調査手段
27…寿命読み取り手段
28…読取結果出力手段
21A…寿命見積もりプログラム
7EA…促し画面出力手段
22A…寿命上限見積もり演算手段
23A……乱数発生手段
24A…乱数分析手段
25A…設定割合寿命非充足調査手段
26A…異寿命非充足充足調査手段
27A…寿命読み取り手段
28A…読取結果出力手段
1 Computer (arithmetic processing means)
2 ... Display device 3 ... Input device 7E ... Prompt screen output means 21 ... Life estimation program 22 ... Life estimation calculation means 23 ... Random number generation means 24 ... Random number analysis means 25 ... Set ratio life investigation means 26 ... Different life fulfillment investigation means 27 ... Life reading means 28 ... Reading result output means 21A ... Life estimation program 7EA ... Prompt screen output means 22A ... Life upper limit estimation calculation means 23A ... Random number generation means 24A ... Random number analysis means 25A ... Set ratio life unsatisfaction investigation means 26A ... Unsatisfactory life fulfillment investigation means 27A ... Life reading means 28A ... Read result output means

Claims (8)

軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間を入力する入力過程と、
上記コンピュータに、寿命を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程とを含み、
上記コンピュータ演算処理過程として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手順と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手順と、
この設定割合寿命充足調査手順を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手順と、
この異寿命充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手順と、
を実行する寿命打切り試験からの寿命見積もり方法。
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. A method for estimating the life of a lot of a test object from an unbreakage time in which the test is continued without damaging at least a part of the test object in a censoring test judged to be satisfactory,
Input process to input the Weibull slope value of the test target product, the number of test target products, the number of undamaged or damaged items as the number of undamaged test target items, and the unbreakage time as input information to the computer When,
The computer includes a computer calculation process for calculating the life and displaying the calculation result on the screen of the display device,
As the above computer processing process,
A random number generation procedure using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution,
Random number analysis procedure to check whether or not the remaining random numbers from the Weibull random number for the generated test number, in which the random number for the damaged number is removed in order from the shortest, is equal to or longer than the unbreakage time,
The above set random number generation procedure and the above random number analysis procedure are repeated a set number of times, and the set ratio life satisfaction survey procedure for examining the probability of being equal to or greater than the unbreakage time examined in the above random number analysis procedure in each of the repetitions;
This set percentage life satisfaction survey procedure is repeated for a Weibull distribution with a life in which the above set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the failure time to a predetermined longest life that is gradually longer. Investigation procedure;
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction survey procedure and the probability that it is longer than the unbreakage time, read the life of which the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%. The life reading procedure determined as the life,
A lifetime estimation method from a lifetime censoring test.
軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、少なくとも一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命を見積もる装置であって、
演算処理装置と、この演算処理装置の出力を画面に表示する表示装置と、上記演算処理装置に入力を行う入力手段とを備え、
上記演算処理装置は、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段と、
実行命令の入力に応答して、寿命を見積もる演算を行いその演算結果を上記表示の画面に出力する寿命見積もり演算手段とを備え、
上記寿命見積もり演算手段は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手段と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手段と、
上記乱数発生手段および上記乱数分析手段の処理を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手段で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手段と、
この設定割合寿命充足調査手段の処理を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手段と、
この異寿命充足調査手段により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手段と、
この手段で読み取った寿命を上記表示装置に出力させる読取結果出力手段と、
を備えた寿命打切り試験からの寿命見積もり装置。
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. An apparatus for estimating the life of a lot of a test object from an unbreakage time in which the test is continued without damaging at least a part of the test object in a censoring test that is judged to be satisfactory,
An arithmetic processing device, a display device for displaying the output of the arithmetic processing device on a screen, and input means for inputting to the arithmetic processing device,
The arithmetic processing unit is
On the screen of the above display device, as input information, the value of the Weibull slope of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items that are the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage Prompting screen output means for performing prompting display,
In response to the input of the execution instruction, the life estimation operation means for performing the operation of estimating the life and outputting the operation result to the display screen is provided.
The life estimation calculation means is
A random number generating means using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis means for checking whether or not the remaining random numbers obtained by removing the random numbers corresponding to the damaged number in order from the shortest among the Weibull random numbers corresponding to the generated test number, are equal to or longer than the undamaged time,
A set ratio life satisfaction investigation means for repeating the process of the random number generation means and the random number analysis means for a set number of times, and examining the probability of being equal to or greater than the unbreakage time examined by the random number analysis means in each iteration of the repetition;
The process of the set ratio life satisfaction survey means is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life that is gradually longer. A life satisfaction survey means;
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction survey means and the probability that it is longer than the unbreakage time, the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%. A life reading means defined as a life;
Read result output means for outputting the life read by this means to the display device;
Life estimation device from life censoring test with
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順と、
実行命令に応答して、寿命を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命演算手順とを含み、
上記寿命演算手順は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、破損個数分の乱数を短いものから順に除いた残りの乱数が未破損時間以上になるか否かを調べる乱数分析手順と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、この繰り返しの各回おける上記乱数分析手順で調べた未破損時間以上にある確率を調べる設定割合寿命充足調査手順と、
この設定割合寿命充足調査手順を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命充足調査手順と、
この異寿命充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以上にある確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命と定める寿命読み取り手順と、
を含む寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム。
A program executable on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the product under test, the number of test products under test, the number of undamaged or damaged products, the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage. Prompt screen output procedure for prompting display,
In response to the execution command, a life calculation procedure for calculating the life and displaying on the screen of the display device,
The above life calculation procedure is
A random number generation procedure using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution,
Random number analysis procedure to check whether or not the remaining random numbers from the Weibull random number for the generated test number, in which the random number for the damaged number is removed in order from the shortest, is equal to or longer than the unbreakage time,
The above set random number generation procedure and the above random number analysis procedure are repeated a set number of times, and the set ratio life satisfaction survey procedure for examining the probability of being equal to or greater than the unbreakage time examined in the above random number analysis procedure in each of the repetitions;
This set percentage life satisfaction survey procedure is repeated for a Weibull distribution with a life in which the above set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the failure time to a predetermined longest life that is gradually longer. Investigation procedure;
From the relationship between the life obtained by this different life satisfaction survey procedure and the probability that it is longer than the unbreakage time, read the life of which the probability of occurrence is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100%. The life reading procedure determined as the life,
Life estimation program from the life censoring test including.
軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および上記未破損時間を入力する入力過程と、
上記コンピュータに、上記寿命の上限を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程とを含み、
上記コンピュータ演算処理過程として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順と、
上記乱数発生手順および乱数分析手順を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順と、
この設定割合寿命非充足調査手順を、上記未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順と、
この異寿命非充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順と、
を実行する寿命打切り試験からの寿命見積もり方法。
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. In the censorship test that is judged to be satisfactory, a method is used to estimate the upper limit of the life of the lot under test from the unbreakage time during which the test continues without causing damage to some of the test subject and the rest of the test subject. There,
Inputs to the computer as input information the Weibull slope value of the product under test, the number of tests of the product under test, the number of undamaged or broken items that is the number of untested products under test, and the above-mentioned unbreakage time Process,
A computer operation process for causing the computer to calculate the upper limit of the lifetime and to display an operation result on a screen of a display device,
As the above computer processing process,
A random number generation procedure using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution,
Random number analysis procedure to check whether the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random number for the generated number of tests is less than the unbreakage time,
Repeat the above random number generation procedure and random number analysis procedure a set number of times, and set random life non-satisfaction investigation procedure to examine the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the above unbreakage time,
This set ratio life non-satisfaction investigation procedure is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from the predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to the predetermined longest life gradually longer. A different life non-satisfaction investigation procedure,
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read to determine the lot of the test object. The life upper limit reading procedure determined as the life upper limit of
A lifetime estimation method from a lifetime censoring test.
請求項4において、前記100%から減算する所定信頼度が90%である寿命打切り試験からの寿命見積もり方法。   The life estimation method from the life truncation test according to claim 4, wherein the predetermined reliability subtracted from 100% is 90%. 請求項1において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から、試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる方法を含み、この上限を見積もる方法として、上記コンピュータに、上記寿命の上限を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程を含み、
上記コンピュータ演算処理過程として、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順と、
上記乱数発生手順および乱数分析手順を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順と、
この設定割合寿命非充足調査手順を、上記未破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順と、
この異寿命非充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順と、
を実行する寿命打切り試験からの寿命見積もり方法。
In Claim 1, including a method for estimating the upper limit of the life of a lot of the test object from an unbreakage time in which the test is continued without damaging a part of the test object and the remaining test object being damaged, As a method of estimating the upper limit, the computer includes a computer calculation process for calculating the upper limit of the lifetime and displaying the calculation result on the screen of the display device,
As the above computer processing process,
A random number generation procedure using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution,
Random number analysis procedure to check whether the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random number for the generated number of tests is less than the unbreakage time,
Repeat the above random number generation procedure and random number analysis procedure a set number of times, and set random life non-satisfaction investigation procedure to examine the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be less than the above unbreakage time,
This set ratio life non-satisfaction investigation procedure is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from the predetermined shortest life shorter than the unbreakage time to the predetermined longest life gradually longer. A different life non-satisfaction investigation procedure,
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read to determine the lot of the test object. The life upper limit reading procedure determined as the life upper limit of
A lifetime estimation method from a lifetime censoring test.
軸受またはその他の機械部品または試験片からなる試験対象品を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、所定信頼度の寿命についての要求寿命を満足すると判断する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命の上限を見積もる装置であって、
演算処理装置と、この演算処理装置の出力を画面に表示する表示装置と、上記演算処理装置に入力を行う入力手段とを備え、
上記演算処理装置は、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および上記未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段と、
実行命令の入力に応答して、寿命の上限を見積もる演算を行いその演算結果を上記表示の画面に出力する寿命上限見積もり演算手段とを備え、
上記寿命上限見積もり演算手段は、
未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手段と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手段と、
上記乱数発生手段および上記乱数分析手段の処理を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手段と、
この設定割合寿命非充足調査手段の処理を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手段と、
この異寿命非充足調査手段により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手段と、
この手段で読み取った寿命の上限を上記表示装置に出力させる読取結果出力手段と、
を備えた寿命打切り試験からの寿命見積もり装置。
If the test object consisting of a bearing or other mechanical part or test piece is placed in the specified operating environment conditions and the test continues without damage until the target time, which is the cutoff time, the required life for the life with the specified reliability can be obtained. A device that estimates the upper limit of the life of a lot under test from the non-breakage time during which the test is continued without causing damage to some of the test target products and the remaining test target products being damaged. There,
An arithmetic processing device, a display device for displaying the output of the arithmetic processing device on a screen, and input means for inputting to the arithmetic processing device,
The arithmetic processing unit is
On the screen of the display device, as input information, the value of the Weibull slope of the test object, the number of tests of the test object, the number of undamaged or broken objects, which is the number of undamaged test objects, and the unbreakage time A prompt screen output means for performing a display prompting input;
In response to the input of the execution command, a life upper limit estimation calculating means for performing an operation for estimating the upper limit of the life and outputting the operation result to the display screen is provided.
The above life upper limit estimation calculating means is:
A random number generating means using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to an unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis means for checking whether or not the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random numbers for the generated number of tests is equal to or less than the unbreakage time,
The set ratio life non-satisfaction investigation means for repeating the process of the random number generation means and the random number analysis means for a set number of times, and examining the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be equal to or less than the unbreakage time;
The processing of the set ratio life non-satisfaction investigation means is repeated for a Weibull distribution having a life in which the set ratio is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest life that is gradually longer. Different life expectancy survey means,
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation means and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read to determine the lot of the test object. A life upper limit reading means that defines the upper limit of the life of
Reading result output means for causing the display device to output the upper limit of the life read by this means;
Life estimation device from life censoring test with
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品のワイブルスロープの値、試験対象品の試験個数、未破損の試験対象品の個数である未破損個数または破損個数、および未破損時間の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順と、
実行命令に応答して、上記寿命の上限を演算し上記表示装置の画面に表示させる寿命上限演算手順とを含み、
上記寿命上限演算手順は、
上記未破損時間に対する設定割合の寿命を持つワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を試験個数分発生させ、上記ワイブル分布には上記入力情報のワイブルスロープの値を用いる乱数発生手順と、
発生した試験個数分のワイブル乱数のうち、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になるか否かを調べる乱数分析手順と、
上記乱数発生手順および上記乱数分析手順を設定回数繰り返し、最も小さい方から破損個数までの乱数が上記未破損時間以下になる確率を調べる設定割合寿命非充足調査手順と、
この設定割合寿命非充足調査手順を、破損時間よりも短い所定の最短寿命から次第に長い所定の最長寿命まで、繰り返し毎に、上記設定割合を順次変更した寿命を持つワイブル分布に対して繰り返す異寿命非充足調査手順と、
この異寿命非充足調査手順により得られた寿命と未破損時間以下になる確率の関係から、その発生確率が、100%から所定信頼度を減算した値となる寿命を読み取って試験対象品のロットの寿命の上限と定める寿命上限読み取り手順と、
を含む寿命打切り試験からの寿命見積もりプログラム。
A program executable on a computer,
On the screen of the display device, input the value of the Weibull slope of the product under test, the number of test products under test, the number of undamaged or damaged products, the number of undamaged products under test, and the time of unbreakage. Prompt screen output procedure for prompting display,
In response to the execution command, the upper limit of the lifetime is calculated and displayed on the screen of the display device.
The above life limit calculation procedure is as follows:
A random number generation procedure using a Weibull random number, which is a random number according to a Weibull distribution having a set life with respect to the unbreakage time, for a test number, and using the value of the Weibull slope of the input information for the Weibull distribution;
Random number analysis procedure to check whether the random number from the smallest to the number of breakage among the Weibull random number for the generated number of tests is less than the unbreakage time,
Repeat the above random number generation procedure and the above random number analysis procedure a set number of times, and set random life non-satisfaction investigation procedure to examine the probability that the random number from the smallest one to the number of breakage will be below the above unbreakage time,
This set percentage life non-satisfaction investigation procedure is repeated for a Weibull distribution with a life in which the above set percentage is sequentially changed from a predetermined shortest life shorter than the breakage time to a predetermined longest longest life. Unsatisfied investigation procedures;
From the relationship between the life obtained by this different life non-satisfaction investigation procedure and the probability of being less than the unbreakage time, the life of which the occurrence probability is a value obtained by subtracting the predetermined reliability from 100% is read to determine the lot of the test object. The life upper limit reading procedure determined as the life upper limit of
Life estimation program from the life censoring test including.
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