JP2008141080A - Wafer container - Google Patents

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Tadao Iwaki
岩城  忠雄
Nobufumi Kato
宣文 加藤
Kunihiko Moriya
邦彦 守屋
Toshiya Umeda
俊哉 梅田
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ADOHANDO KK
Nippon Puretec Co Ltd
Miraial Co Ltd
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ADOHANDO KK
Nippon Puretec Co Ltd
Miraial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wafer container capable of efficiently removing contamination gas which has an adverse effect on a semiconductor wafer out of the space in a container with simple, non-bulky, and inexpensive configuration, and capable of selectively and effectively performing contamination gas removal so as to correspond to use environments. <P>SOLUTION: At least one kind of chemical absorber 19 for adsorbing specific gas component is arranged over almost entire range, expanding in the axial direction of a plurality of semiconductor wafers W, in at least one space which is formed with an inside wall space of a lid 2 and a wafer support body 7. The chemical absorber is attached to the wafer support body 7 by an absorber hooking part 18 formed at reinforcing frames 15 and 16 of the chemical absorber 19. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は、複数の半導体ウエハを外部環境から隔離された清浄な環境中に収納して輸送、保管するために使用されるウエハ収納容器に関する。   The present invention relates to a wafer storage container used for storing and transporting and storing a plurality of semiconductor wafers in a clean environment isolated from the external environment.

ウエハ収納容器には一般に、容器本体と、その容器本体の開口部を気密に塞ぐ蓋体とが設けられていて、複数の半導体ウエハを収納した状態で、外部環境から隔離された完全な密閉状態にすることができる。しかし、容器内外の環境要因により、容器内の空気中には有機ガス成分、酸性ガス成分及びアルカリ性ガス成分等のような、半導体ウエハに対して悪影響を及ぼす可能性のある種々のガス(以下、「汚染ガス」という)が含まれている。そこで従来は、汚染ガスを吸着するためのケミカルアブソーバを容器内に配置したり(例えば、特許文献1、2)、ケミカルアブソーバに加えてさらに容器内に循環気流を形成したりするためのファンモータ等を配置していた(特許文献3)。
特許第3336652号公報 特開2004−260087号公報 特開2001−77188号公報
In general, a wafer storage container is provided with a container main body and a lid that hermetically closes the opening of the container main body, and a plurality of semiconductor wafers are stored in a completely sealed state isolated from the external environment. Can be. However, due to environmental factors inside and outside the container, various gases (hereinafter, referred to as “organic gas component”, “acid gas component”, “alkaline gas component”, etc.) that may adversely affect the semiconductor wafer in the air inside the container. "Contaminated gas"). Therefore, conventionally, a fan motor for arranging a chemical absorber for adsorbing a pollutant gas in a container (for example, Patent Documents 1 and 2) or for forming a circulating airflow in the container in addition to the chemical absorber. Etc. (Patent Document 3).
Japanese Patent No. 3336652 JP 2004-260087 A JP 2001-77188 A

しかし、特許文献1、2に記載された発明等のように容器内の適宜の位置にケミカルアブソーバを配置しても、容器内の汚染ガスを効率よく吸着除去することはできず、汚染ガスによる半導体ウエハに対する悪影響防止の効果は限定的なものでしかなかった。また、引用文献3に記載された発明等のように、容器内に循環気流を形成するためのファンモータ等を配置すると、容器内の汚染ガスを効率よく吸着除去することができるようになるが、容器の構成が大掛かりになるため、非常に取り扱い難くなると同時に大幅なコスト高になってしまう。また、従来のウエハ収納容器では、使用されるケミカルアブソーバの種類が使用環境等に対応して精査されていないため、容器中に含まれる各種汚染ガスの一部のガスしか吸着除去できない場合が少なくなかった。   However, even if the chemical absorber is disposed at an appropriate position in the container as in the inventions described in Patent Documents 1 and 2, the contaminated gas in the container cannot be efficiently adsorbed and removed. The effect of preventing adverse effects on the semiconductor wafer has been limited. In addition, when a fan motor or the like for forming a circulating airflow is arranged in the container as in the invention described in the cited document 3, the contaminated gas in the container can be efficiently adsorbed and removed. Since the structure of the container becomes large, it becomes very difficult to handle and at the same time, the cost is greatly increased. In addition, since the types of chemical absorbers used in conventional wafer storage containers have not been scrutinized according to the usage environment, there are few cases where only a part of various polluted gases contained in the container can be adsorbed and removed. There wasn't.

本発明は、半導体ウエハに悪影響を及ぼす汚染ガスを、シンプルでかさばらない低コストの構成で容器内の空間から効率的に除去することができ、さらに、そのような汚染ガス除去を使用環境等に対応して選択的かつ効果的に行うことができるウエハ収納容器を提供することを目的とする。   The present invention can efficiently remove pollutant gases that adversely affect semiconductor wafers from the space in the container with a simple and low-cost configuration, and further, such pollutant gas removal can be used in a use environment or the like. It is an object of the present invention to provide a wafer container that can be selectively and effectively performed.

上記の目的を達成するため、本発明のウエハ収納容器は、複数の半導体ウエハを収納するための容器本体と、シールを介して、容器本体の一面に形成された開口部を気密に塞ぐように容器本体に対して着脱自在に取り付けられる蓋体と、容器本体内において複数の半導体ウエハを軸方向に所定の間隔をあけて支持するためのウエハ支持体と、複数の半導体ウエハの外縁に対向する蓋体の内壁面の領域に複数の半導体ウエハの軸方向に伸びた状態に形成された凹部と、ウエハ支持体と協働して複数の半導体ウエハを押さえて固定するように凹部内に配置されたウエハ押さえ部材とを有するウエハ収納容器において、特定のガス成分を吸着するための少なくとも一種類のケミカルアブソーバが、上記容器本体と上記ウエハ支持体との間隙であって上記複数の半導体ウエハにおける軸方向の略全範囲にわたって配置されているものである。   In order to achieve the above object, the wafer storage container of the present invention airtightly closes the container body for storing a plurality of semiconductor wafers and an opening formed on one surface of the container body via a seal. A lid that is detachably attached to the container body, a wafer support that supports a plurality of semiconductor wafers in the container body at predetermined intervals in the axial direction, and an outer edge of the plurality of semiconductor wafers. A concave portion formed in the axial direction of the plurality of semiconductor wafers in the region of the inner wall surface of the lid body and a concave portion disposed in the concave portion so as to press and fix the plurality of semiconductor wafers in cooperation with the wafer support. In a wafer storage container having a wafer holding member, at least one chemical absorber for adsorbing a specific gas component is a gap between the container body and the wafer support. In which they are arranged over substantially the entire range of axial direction in the serial plurality of semiconductor wafers.

なお、ウエハ支持体には、ケミカルアブソーバが配置された空間と半導体ウエハが配置された空間との間の通気を確保するための通気孔が略全域にわたって形成されているとよい。   In addition, it is preferable that the wafer support is formed with a vent hole for substantially the entire area to ensure ventilation between the space in which the chemical absorber is arranged and the space in which the semiconductor wafer is arranged.

また、ケミカルアブソーバの外縁全体に沿って補強フレームが設けられていてもよい。
さらに、容器本体とウエハ支持体によって形成された空間内に配置されたケミカルアブソーバが、その空間内からの離脱をウエハ支持体自体により規制されていてもよい。あるいは、ケミカルアブソーバをウエハ支持体に係止するためのアブソーバ係止部が、上記補強フレームに形成されていてもよい。
Further, a reinforcing frame may be provided along the entire outer edge of the chemical absorber.
Further, the chemical absorber disposed in the space formed by the container main body and the wafer support may be regulated by the wafer support itself from being detached from the space. Or the absorber latching | locking part for latching a chemical absorber to a wafer support body may be formed in the said reinforcement frame.

本発明によれば、蓋体の内壁面に形成された凹部内の空間がそこに配置されたウエハ押さえ部材により仕切られて、その空間内にケミカルアブソーバが配置されていることにより、ウエハ収納容器をシンプルでかさばらない低コストの構成にすることができる。そして、ケミカルアブソーバが配置された凹部が、複数の半導体ウエハの軸方向に伸びた状態に形成されていることにより、半導体ウエハに悪影響を及ぼす汚染ガスを容器内の空間から効率的に除去することができる。また、ケミカルアブソーバに用いる化学吸着剤として、所定の有機ガス成分を吸着する有機ガス用化学吸着剤、所定の酸性ガス成分を吸着する酸性ガス用化学吸着剤、及び所定のアルカリ性ガス成分を吸着するアルカリ性ガス用化学吸着剤の中の一つ又は複数を選択することにより、汚染ガス除去を使用環境等に対応して選択的かつ効果的に行うことができる。   According to the present invention, the space in the recess formed in the inner wall surface of the lid is partitioned by the wafer pressing member disposed therein, and the chemical absorber is disposed in the space, thereby the wafer storage container. Can be made a simple and low-cost configuration. In addition, the recesses in which the chemical absorbers are arranged are formed so as to extend in the axial direction of a plurality of semiconductor wafers, thereby efficiently removing pollutant gases that adversely affect the semiconductor wafers from the space in the container. Can do. Moreover, as a chemical adsorbent used for a chemical absorber, an organic gas chemical adsorbent that adsorbs a predetermined organic gas component, an acidic gas chemical adsorbent that adsorbs a predetermined acidic gas component, and a predetermined alkaline gas component are adsorbed. By selecting one or more of the alkaline gas chemical adsorbents, it is possible to selectively and effectively remove the pollutant gas in accordance with the environment of use.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1はウエハ収納容器の側面断面図、図2はウエハ収納容器の内部を示す斜視図、および図3は容器本体の部分正面断面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1 is a side sectional view of the wafer storage container, FIG. 2 is a perspective view showing the inside of the wafer storage container, and FIG. 3 is a partial front sectional view of the container main body.

各図に示される1は、例えばポリカーボネート等のような汚染ガス発生の比較的少ないプラスチック材によって形成された容器本体である。容器本体1は、複数(この実施の形態では25枚)の半導体ウエハWを収納することができる大きさで、その上面または側面だけが開口した形状に形成されている。そして、容器本体1の内側には、複数の半導体ウエハWをそれらの軸方向に一定の間隔をあけた整列状態で支持することができる一対のウエハ支持体7が、あい対向して容器本体1の内壁面に沿って配置されている。プラスチック材で形成された各ウエハ支持体7には、半導体ウエハWを載せるためのV状の断面形状をしたウエハ支持溝8が例えば25個ずつ等間隔に形成されている。一対のウエハ支持体7の間に存在し開口に対向する容器本体1の底部は空間になっている。なお、ウエハ支持体7の構成はこの実施の形態に限定されるものではない。   Reference numeral 1 shown in each figure denotes a container body made of a plastic material that generates relatively little pollutant gas, such as polycarbonate. The container body 1 is sized to accommodate a plurality (25 in this embodiment) of semiconductor wafers W, and is formed in a shape having only an upper surface or a side surface opened. A pair of wafer supports 7 that can support a plurality of semiconductor wafers W in an aligned state with a certain interval therebetween in the axial direction are opposed to each other inside the container body 1. It is arranged along the inner wall surface. On each wafer support 7 formed of a plastic material, for example, 25 wafer support grooves 8 having a V-shaped cross-sectional shape for placing the semiconductor wafer W are formed at equal intervals. The bottom of the container body 1 that exists between the pair of wafer supports 7 and faces the opening is a space. The configuration of the wafer support 7 is not limited to this embodiment.

容器本体1の開口部には蓋体2が着脱自在に取り付けられる。蓋体2が容器本体1に取り付けられた状態では、弾力性のある部材で環状に形成されたシール材3により容器本体1の開口部が気密に塞がれて、ウエハ収納容器内が外部環境から隔離された完全な密閉状態になる。なお、シール材3はこの実施の形態では蓋体2に取り付けられているが、蓋体2自体でシール材3を形成してもよく、あるいはシール材3を容器本体1側に設けても差し支えない。国際半導体製造装置材料協会の規格によって公知のように、機械装置によって自動的に蓋の開閉を行うことが可能なウエハ収納容器には、蓋体2を容器本体1に対してロックするための図示していない一対のラッチ機構を有している。これら各ラッチ機構は蓋体2を真っ直ぐに貫通する状態に蓋体2内の外縁寄りの位置に配置されており、蓋体2はラッチ機構を内蔵するのに十分な厚みに形成されている。   A lid 2 is detachably attached to the opening of the container body 1. In a state where the lid 2 is attached to the container body 1, the opening of the container body 1 is hermetically closed by the sealing material 3 formed in an annular shape with a resilient member, and the inside of the wafer storage container is externally Completely sealed, isolated from Although the sealing material 3 is attached to the lid 2 in this embodiment, the sealing material 3 may be formed by the lid 2 itself, or the sealing material 3 may be provided on the container body 1 side. Absent. As is known by the standards of the International Semiconductor Manufacturing Equipment Material Association, a wafer storage container that can be automatically opened and closed by a mechanical device is a diagram for locking the lid 2 to the container body 1. It has a pair of latch mechanisms not shown. Each of these latch mechanisms is arranged at a position near the outer edge in the lid body 2 so as to pass through the lid body 2 straight, and the lid body 2 is formed with a thickness sufficient to incorporate the latch mechanism.

蓋体2の内壁面(即ち裏側の面)には、図示しない一対のラッチ機構が配置された肉厚の厚い部分の間の位置に凹部4が形成されて、その部分は蓋体2の厚みが薄くなっている。凹部4は、容器本体1の底面に対して垂直に保持された複数の半導体ウエハWの外縁に上方から対向する状態に蓋体2の中心線を挟んでその両側に均等な幅をとって形成され、その底面が一定の深さの平面になっている。そして凹部4は、図1に示されるように複数の半導体ウエハWの軸方向に真っ直ぐに伸びて、両端が各々シール材3の内側付近に隣接する大きさの長方形状に形成され、複数の半導体ウエハW全部の外縁に対向する大きさになっている。   On the inner wall surface (that is, the back surface) of the lid body 2, a recess 4 is formed at a position between thick portions where a pair of latch mechanisms (not shown) are arranged, and this portion is the thickness of the lid body 2. Is thinner. The recess 4 is formed with a uniform width on both sides of the center line of the lid 2 so as to face the outer edges of the plurality of semiconductor wafers W held perpendicular to the bottom surface of the container body 1 from above. The bottom surface is a plane having a certain depth. The recess 4 extends straight in the axial direction of the plurality of semiconductor wafers W as shown in FIG. 1 and is formed in a rectangular shape with both ends adjacent to the inside of the sealing material 3. The size is opposite to the outer edge of the entire wafer W.

そのような凹部4内には、容器本体1内に配置された一対のウエハ支持体7と協働して全部の半導体ウエハWを上方から弾力的に押さえて固定するためのプラスチック材等からなるウエハ押さえ部材5が配置されている。この実施の形態のウエハ押さえ部材5は、凹部4の長手方向の中心線を挟んでその両側に分かれて一対配置されていて、自己の弾性又は蓋体2に形成された係止突起(図示せず)等により蓋体2に対して分離自在に係止されている。各ウエハ押さえ部材5は、基部付近以外の部分が、ウエハ支持体7のウエハ支持溝8に対応して、図示しないスリットにより半導体ウエハWの軸方向に隙間をあけて細長く均等に分割されている。この実施の形態では、各ウエハ押さえ部材5がスリットにより25分割されている。   Such a recess 4 is made of a plastic material or the like for elastically pressing and fixing all the semiconductor wafers W from above in cooperation with a pair of wafer supports 7 arranged in the container body 1. A wafer pressing member 5 is disposed. A pair of wafer pressing members 5 of this embodiment are arranged on both sides of the center line in the longitudinal direction of the concave portion 4 and are arranged in a pair, and are elastic or have locking projections (not shown) formed on the lid 2. Or the like) so as to be separable from the lid body 2. The portions other than the vicinity of the base of each wafer pressing member 5 are divided into elongated and even portions with a gap in the axial direction of the semiconductor wafer W by a slit (not shown) corresponding to the wafer support groove 8 of the wafer support 7. . In this embodiment, each wafer pressing member 5 is divided into 25 by slits.

一対のウエハ押さえ部材5は、蓋体2の内壁面に形成された凹部4内の空間を、複数の半導体ウエハWの軸方向に伸びた三つの領域に仕切る形状に形成されている。具体的には、各ウエハ押さえ部材5が、各々の基部寄りの半部で凹部4の底面との間に長方形状の空間を形成し、各々の先端寄りの半部どうしでさらに凹部4の底面との間に第3の空間を形成する形状に曲げて形成されている。各ウエハ押さえ部材5の先端寄りの半部は半導体ウエハWに触れる位置まで突出していて、そこに形成されたV状の断面形状のウエハ押さえ溝6内に半導体ウエハWが嵌められて、ウエハ押さえ部材5が半導体ウエハWに押し付けられて弾性変形した状態になっている。   The pair of wafer pressing members 5 is formed in a shape that divides the space in the recess 4 formed on the inner wall surface of the lid 2 into three regions extending in the axial direction of the plurality of semiconductor wafers W. Specifically, each wafer pressing member 5 forms a rectangular space between the half part near the base and the bottom surface of the recess 4, and the bottom half of the recess 4 further between the half parts near the tip. Are bent into a shape that forms a third space between them. A half of the wafer pressing member 5 near the tip protrudes to a position where it touches the semiconductor wafer W, and the semiconductor wafer W is fitted into a wafer pressing groove 6 having a V-shaped cross section formed therein, thereby The member 5 is pressed against the semiconductor wafer W and is elastically deformed.

一方、図1と図3に示すように、容器本体1とウエハ支持体7とで囲まれることにより形成された二つの空間のうちの少なくとも一つの空間内には、ケミカルアブソーバ9および10が配されている。このケミカルアブソーバ9および10は、図1に示すように、半導体ウエハWの軸方向に伸びて半導体ウエハWが配されている領域のほぼ全領域にわたって配されている。このケミカルアブソーバ9および10は、所定の有機ガス成分を吸着する有機ガス用化学吸着剤、所定の酸性ガス成分を吸着する酸性ガス用化学吸着剤、及び所定のアルカリ性ガス成分を吸着するアルカリ性ガス用化学吸着剤のうちの少なくとも一種類を用いたケミカルアブソーバとなっている。この実施の形態においては、ケミカルアブソーバは一方の空間に2つ、他方の空間に2つの計4つ配されている場合を示したが、所定のガス吸着特性を確保することが可能であれば、両空間に1つずつ配しても良いし、片側の空間に1つだけ配しても良い。ウエハ支持体7には、各ケミカルアブソーバ9と10が配置された空間と半導体ウエハWが配置された空間との間の通気を確保するための通気孔が略全域にわたって形成されている。具体的には、この実施の形態においては各ウエハ支持体7を分割するスリットが通気孔になっている。なお、ウエハ収納容器内の空気を循環させるためのファンモータその他の装置は一切設けられていない。   On the other hand, as shown in FIGS. 1 and 3, chemical absorbers 9 and 10 are disposed in at least one of the two spaces formed by being surrounded by the container body 1 and the wafer support 7. Has been. As shown in FIG. 1, the chemical absorbers 9 and 10 are disposed over substantially the entire region where the semiconductor wafer W is disposed extending in the axial direction of the semiconductor wafer W. The chemical absorbers 9 and 10 are an organic gas chemical adsorbent that adsorbs a predetermined organic gas component, an acidic gas chemical adsorbent that adsorbs a predetermined acidic gas component, and an alkaline gas adsorbed a predetermined alkaline gas component. It is a chemical absorber using at least one kind of chemical adsorbent. In this embodiment, a case where two chemical absorbers are arranged in total, two in one space and two in the other space has been shown. However, if it is possible to ensure predetermined gas adsorption characteristics One may be arranged in both spaces, or only one in one space. The wafer support 7 is formed with vent holes for ensuring ventilation between the space in which the chemical absorbers 9 and 10 are disposed and the space in which the semiconductor wafer W is disposed. Specifically, in this embodiment, a slit for dividing each wafer support 7 is a vent hole. A fan motor and other devices for circulating the air in the wafer storage container are not provided at all.

図4にウエハ支持体7の具体的構成を示す。図4はウエハ支持体の構成を示す斜視図である。ウエハ支持体7は、半導体ウエハWの周縁方向に伸びてその軸方向に複数整列したフィン13と、これらのフィン13を連結する結合部14とから主に構成されており、フィン13と結合部14とで囲繞される空間がスリットになっている。そして、最下部に位置する結合部14はスリットによってV溝形状に切込みが入れられており、これがウエハ支持溝8を形成している。また、最上部ぶ位置する結合部14の側部には一対の上部係止部11が、最下部に位置する結合部14の側部には一対の下部係止部12が形成されている。これらウエハ支持体7に形成された上部係止部11と下部係止部12とは、容器本体1の内部側面に設けられた図示しない係止溝に篏合して、ウエハ支持体7を容器本体1に取り付ける作用をする。   FIG. 4 shows a specific configuration of the wafer support 7. FIG. 4 is a perspective view showing the configuration of the wafer support. The wafer support 7 is mainly composed of fins 13 extending in the peripheral direction of the semiconductor wafer W and aligned in the axial direction thereof, and coupling portions 14 that connect these fins 13. The space surrounded by 14 is a slit. The coupling portion 14 located at the bottom is cut into a V-groove shape by a slit, which forms a wafer support groove 8. In addition, a pair of upper locking portions 11 is formed on the side of the coupling portion 14 positioned at the top, and a pair of lower locking portions 12 is formed on the side of the coupling portion 14 positioned at the bottom. The upper locking portion 11 and the lower locking portion 12 formed on the wafer support 7 are engaged with locking grooves (not shown) provided on the inner side surface of the container main body 1 so that the wafer support 7 is placed in the container. It acts to attach to the main body 1.

ケミカルアブソーバとしては、酸性ガス用化学吸着剤とアルカリ性ガス用化学吸着剤、および有機ガス用化学吸着剤を用いたものを適切に配することで効果的な不純物ガス吸着を行うことができる。すなわち、有機ガス用化学吸着剤を酸性ガス用化学吸着剤とアルカリガス用化学吸着剤との間に位置させることで、酸性ガス用化学吸着剤とアルカリ性ガス用化学吸着剤とが相互に影響を与えることを防止することができる。なお、有機ガス用化学吸着剤用のガス吸着剤としては例えば活性炭等を用いて、芳香族炭化水素、シロキサン成分、アルコール類、エステル類等の有機物よりなるガスを吸着除去することができる。活性炭は活性炭粉末を不織布袋等の中に入れたものを用いても良いが、シート状に加工した活性炭シートを用いるのが便利である。活性炭シートとしては、繊維状活性炭そのものを不織布状にしたもの、又は不織布状のシートを形成する過程でこれに粉末の活性炭を添着したもの等を用いることができる。   As the chemical absorber, effective impurity gas adsorption can be performed by appropriately arranging a chemical adsorbent for acidic gas, a chemical adsorbent for alkaline gas, and a chemical adsorbent for organic gas. In other words, by placing the organic gas chemical adsorbent between the acid gas chemical adsorbent and the alkali gas chemical adsorbent, the acid gas chemical adsorbent and the alkaline gas chemical adsorbent interact with each other. Giving can be prevented. In addition, as a gas adsorbent for organic gas chemical adsorbents, for example, activated carbon or the like can be used to adsorb and remove gases composed of organic substances such as aromatic hydrocarbons, siloxane components, alcohols, and esters. The activated carbon may be obtained by putting activated carbon powder in a non-woven bag or the like, but it is convenient to use an activated carbon sheet processed into a sheet. As the activated carbon sheet, it is possible to use a fibrous activated carbon itself made into a nonwoven fabric, or a material in which powdered activated carbon is added to the nonwoven fabric in the process of forming a nonwoven fabric sheet.

酸性ガス用化学吸着剤用のガス吸着剤としては、例えば活性炭に例えば炭酸カリウム等のアルカリ性化合物を添着した吸着剤を用いて、硝酸、硫酸、塩酸、リン酸等の酸性物質よりなるガスを吸着除去することができる。また、アルカリ性ガス用化学吸着剤用のガス吸着剤としては、例えば活性炭に例えばリン酸等の酸性化合物を添着した吸着剤を用いて、アンモニア、アミン類等のアルカリ性物質よりなるガスを吸着除去することができる。また、吸着剤としては活性炭以外にも、表面活性処理をした金属繊維やセラミック吸着剤などをも用いることができる。   As a gas adsorbent for a chemical adsorbent for acidic gas, for example, an adsorbent in which an alkaline compound such as potassium carbonate is attached to activated carbon is used to adsorb a gas composed of an acidic substance such as nitric acid, sulfuric acid, hydrochloric acid, and phosphoric acid. Can be removed. Further, as a gas adsorbent for an alkaline gas chemical adsorbent, for example, an adsorbent in which an acidic compound such as phosphoric acid is attached to activated carbon is used to adsorb and remove a gas composed of an alkaline substance such as ammonia or amines. be able to. Further, as the adsorbent, in addition to activated carbon, metal fibers subjected to surface activation treatment, ceramic adsorbent, and the like can be used.

図12は、上述の実施の形態に係るウエハ収納容器内の汚染ガス除去の効果を確認するために行った実験の、ガスクロマトグラフィ質量分析装置による分析結果を示している。比較のために、ケミカルアブソーバ9と10が使用されない場合(図13)と、ケミカルアブソーバ9と10が半導体ウエハWの径方向に一か所に配置された場合(図14)についても同一条件にて実験を行った。なお、ウエハ収納容器は実験前に蓋体2を開いて有機濃度の高い室内(即ち、普通の建物の室内)に一週間保管し、クリーンルーム内で直径30cmの半導体ウエハW25枚とケミカルアブソーバ9と10とをセットした。そして、蓋体2を閉じて三日間放置後に、テナックス管を用いてウエハ収納容器内の空気をサンプリングし、ガスクロマトグラフィ質量分析装置による分析を行った。その結果、上述の実施の形態に示したようにケミカルアブソーバ9と10を図1および図3に示すように配置することにより、ウエハ収納容器内の汚染ガスが著しく減少することが確認された。このように、有機ガス用化学吸着剤、酸性ガス用化学吸着剤、及びアルカリ性ガス用化学吸着剤の三種類の化学吸着剤を全て配置すれば汚染ガスの大半を吸着除去することができ、ウエハ収納容器の使用環境等に合わせて一つ又は複数の化学吸着剤を選択することで、効率的かつ効果的に汚染ガスを吸着除去することができる。   FIG. 12 shows the analysis result by the gas chromatography mass spectrometer of the experiment conducted for confirming the effect of removing the pollutant gas in the wafer storage container according to the above embodiment. For comparison, the same conditions apply when the chemical absorbers 9 and 10 are not used (FIG. 13) and when the chemical absorbers 9 and 10 are arranged at one location in the radial direction of the semiconductor wafer W (FIG. 14). The experiment was conducted. Before the experiment, the wafer storage container was opened in the lid 2 and stored in a room with a high organic concentration (that is, a room in a normal building) for a week. In the clean room, 25 wafers W having a diameter of 30 cm, the chemical absorber 9 and 10 was set. Then, the lid 2 was closed and left for 3 days, and then the air in the wafer storage container was sampled using a Tenax tube and analyzed by a gas chromatography mass spectrometer. As a result, it was confirmed that the contamination gas in the wafer storage container is remarkably reduced by arranging the chemical absorbers 9 and 10 as shown in the above-described embodiment as shown in FIGS. In this way, if all three types of chemical adsorbents, organic gas chemical adsorbent, acidic gas chemical adsorbent, and alkaline gas chemical adsorbent, are arranged, most of the polluted gases can be adsorbed and removed. By selecting one or a plurality of chemical adsorbents according to the usage environment of the storage container, the pollutant gas can be adsorbed and removed efficiently and effectively.

上述のようにしてウエハ収納容器内に配置される各ケミカルアブソーバ19は、気体は通過するが固形粒子は通過しない多孔質の膜状フィルタ(メンブレンフィルタ)で囲繞してその内側に封止するのが好ましい。そのようにすることで、ケミカルアブソーバを形成するガス吸着物質がケミカルアブソーバ外に拡散することを防止することができると同時に、ガス吸着物質の吸着機能が空気中のガス以外の粒状物等によって劣化することを防止することができる。そのような膜状フィルタとしては、PTFEやPFA等のような四フッ化エチレン樹脂系の多孔質フィルムを用いることができ、厚みを例えば0.02〜0.05mm程度と極めて薄く形成することができる。   Each chemical absorber 19 arranged in the wafer storage container as described above is surrounded by a porous membrane filter (membrane filter) through which gas passes but solid particles do not pass and is sealed inside. Is preferred. By doing so, it is possible to prevent the gas adsorbing material forming the chemical absorber from diffusing out of the chemical absorber, and at the same time, the adsorption function of the gas adsorbing material is deteriorated by particulates other than gas in the air. Can be prevented. As such a membrane filter, a tetrafluoroethylene resin-based porous film such as PTFE or PFA can be used, and the thickness can be extremely thin, for example, about 0.02 to 0.05 mm. it can.

図7は、そのような膜状フィルタ20と21で化学吸着剤を囲繞して封止する状態を略示しており、ここでは三つに分割された化学吸着剤22、23、および24が同一面に並べられて二枚の膜状フィルタ20と21の間にサンドイッチ状に配置されている。三つの化学吸着剤22、23、および24は、同種のフィルタでもよいが異なる種類のフィルタであってもよい。そして、図8に示されるように、重ね合わされた二枚の膜状フィルタ20と21を外縁部と各化学吸着剤22、23、および24の間の部分とにおいて互いに融着することにより、化学吸着剤が膜状フィルタの内側に封止された状態になる。このとき、膜状フィルタ20は3つの部分20a、20b、および20cに分断されて機能することになる。25が融着部である。   FIG. 7 schematically shows a state in which the chemical adsorbent is surrounded and sealed with such membrane filters 20 and 21, where the chemical adsorbents 22, 23, and 24 divided into three are the same. The two membrane filters 20 and 21 are arranged on the surface in a sandwich shape. The three chemical adsorbents 22, 23, and 24 may be the same type of filter, but may be different types of filters. Then, as shown in FIG. 8, the two membrane filters 20 and 21 overlapped with each other are fused to each other at the outer edge portion and the portion between the chemical adsorbents 22, 23 and 24. The adsorbent is sealed inside the membrane filter. At this time, the membrane filter 20 is divided into three parts 20a, 20b, and 20c to function. Reference numeral 25 denotes a fused portion.

図9は、有機ガス用化学吸着剤27と酸性ガス用化学吸着剤26とアルカリ性ガス用化学吸着剤28の三つの化学吸着剤を、酸性ガス用化学吸着剤26とアルカリ性ガス用化学吸着剤28とで有機ガス用化学吸着剤27を挟み込んだ状態に積層形成して配置した状態を略示している。このように三種類の化学吸着剤26、27、および28を積層することにより面積効率が向上し、有機ガス用化学吸着剤27を酸性ガス用化学吸着剤26とアルカリ性ガス用化学吸着剤28との間に挟み込む配置にすることにより、酸性ガス用化学吸着剤26とアルカリ性ガス用化学吸着剤27とが相互に化学反応を起こすことを防止することができる。そして、この場合にも、図9に示されるように、積層された三種類の化学吸着剤26、27、および28を、気体は通過するが固形粒子は通過しない多孔質の膜状フィルタ20と21で一まとめに囲繞して、図10に示されるように膜状フィルタ20と21の外縁部を全周にわたって融着するとよい。25が融着部であり、その効果は前述の通りである。図13に示されるように、三種類の各化学吸着剤を各々長手方向に複数に分割して26a、26b、27a、27b、および28a、28bとし、各分割片どうしを積層して膜状フィルタ20と21内に封止するようにしてもよい。   FIG. 9 shows three chemical adsorbents: an organic gas chemical adsorbent 27, an acidic gas chemical adsorbent 26, and an alkaline gas chemical adsorbent 28, and an acidic gas chemical adsorbent 26 and an alkaline gas chemical adsorbent 28. And schematically show a state where the organic gas chemical adsorbent 27 is sandwiched and disposed. Thus, by stacking the three types of chemical adsorbents 26, 27, and 28, the area efficiency is improved, and the organic gas chemical adsorbent 27 is converted into an acidic gas chemical adsorbent 26 and an alkaline gas chemical adsorbent 28. Therefore, the acidic gas chemical adsorbent 26 and the alkaline gas chemical adsorbent 27 can be prevented from causing a chemical reaction with each other. Also in this case, as shown in FIG. 9, a porous membrane filter 20 through which gas passes but solid particles do not pass through the three types of stacked chemical adsorbents 26, 27, and 28. The outer peripheral portions of the membrane filters 20 and 21 may be fused all around as shown in FIG. Reference numeral 25 denotes a fused portion, and the effect thereof is as described above. As shown in FIG. 13, each of the three types of chemical adsorbents is divided into a plurality of pieces in the longitudinal direction to form 26a, 26b, 27a, 27b, and 28a, 28b, and the divided pieces are stacked to form a membrane filter. You may make it seal in 20 and 21. FIG.

なお、ケミカルアブソーバ19を容器本体1とウエハ支持体7との間に形成される空間内に安定した状態に保持するために、図5に示されるように、化学吸着剤を囲繞する膜状フィルタの外縁の融着部に沿って、例えば板状のプラスチック材からなる補強フレーム15と16とを設けてもよい。一対の補強フレーム15と16でケミカルアブソーバ19の融着部を挟み込む構成を採る場合には、きつく嵌まり合う係合ピン17aと係合孔17bを各々補強フレーム16と15に形成しておくと容易に組み立てることができる。二枚の補強フレームのうち容器本体1の内壁に面する方の補強フレーム16は、膜状フィルタの全面に面する板状に形成しても差し支えない。また、2枚の補強フレームにはケミカルアブソーバが環境に暴露するように開口が設けられている。   In order to keep the chemical absorber 19 in a stable state in the space formed between the container body 1 and the wafer support 7, as shown in FIG. 5, a membrane filter surrounding the chemical adsorbent. Reinforcing frames 15 and 16 made of, for example, a plate-like plastic material may be provided along the fusion part at the outer edge of the plate. When adopting a configuration in which the fused portion of the chemical absorber 19 is sandwiched between the pair of reinforcing frames 15 and 16, it is possible to form the engaging pins 17a and the engaging holes 17b that fit tightly in the reinforcing frames 16 and 15, respectively. Can be easily assembled. Of the two reinforcing frames, the reinforcing frame 16 facing the inner wall of the container body 1 may be formed in a plate shape facing the entire surface of the membrane filter. The two reinforcing frames are provided with openings so that the chemical absorber is exposed to the environment.

また、図8と図9に示されるように、ケミカルアブソーバ19を係止するためのアブソーバ係止部18を補強フレームに形成してもよい。本実施形態のアブソーバ係止部18は抜け防止のためのフックを持ったスナップ構造をしており、図4に示したウエハ支持体7に設けられた上部係止部11または下部係止部12に篏合して、ウエハ支持体7に脱着自在に取り付けることができる。   Further, as shown in FIGS. 8 and 9, an absorber locking portion 18 for locking the chemical absorber 19 may be formed on the reinforcing frame. The absorber locking portion 18 of the present embodiment has a snap structure with a hook for preventing removal, and the upper locking portion 11 or the lower locking portion 12 provided on the wafer support 7 shown in FIG. And can be detachably attached to the wafer support 7.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、例えばウエハ支持体7の形状等はどのようなものであってもよく、ウエハ押え部材5と協働して複数の半導体ウエハWを押さえて固定する機能を有していて、ケミカルアブソーバ9と10が配置された空間と半導体ウエハWが配置された空間との間の通気を確保するための通気路が形成されているものであればよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the shape of the wafer support 7 may be any shape, and a plurality of semiconductor wafers W are cooperated with the wafer pressing member 5. In which an air passage is formed to ensure air flow between the space in which the chemical absorbers 9 and 10 are disposed and the space in which the semiconductor wafer W is disposed. I just need it.

本発明に係るウエハ収納容器の側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the wafer storage container which concerns on this invention. 本発明に係るウエハ収納容器の内部配置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal arrangement | positioning of the wafer storage container which concerns on this invention. 本発明に係るウエハ収納容器の部分正面断面図である。It is a partial front sectional view of a wafer storage container concerning the present invention. 本発明に係るウエハ収納容器のウエハ支持体を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the wafer support body of the wafer storage container which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの補強構造を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the reinforcement structure of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの補強構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the reinforcement structure of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの斜視図である。It is a perspective view of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの斜視図である。It is a perspective view of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るケミカルアブソーバの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the chemical absorber which concerns on this invention. 本発明に係るウエハ収納容器による汚染ガス除去の効果を確認する実験後の残留ガスの分析結果を示す線図である。It is a diagram which shows the analysis result of the residual gas after the experiment which confirms the effect of the pollutant gas removal by the wafer storage container which concerns on this invention. 本発明に係るウエハ収納容器による汚染ガス除去の効果と対比するために、ケミカルアブソーバを省いた場合の実験後の残留ガスの分析結果を示す線図である。It is a diagram which shows the analysis result of the residual gas after an experiment at the time of omitting a chemical absorber, in order to contrast with the effect of the pollutant gas removal by the wafer storage container which concerns on this invention. 本発明に係るウエハ収納容器による汚染ガス除去の効果と対比するために、ケミカルアブソーバを半導体ウエハの面と平行に配置した場合の実験後の残留ガスの分析結果を示す線図である。It is a diagram which shows the analysis result of the residual gas after an experiment at the time of arrange | positioning a chemical absorber in parallel with the surface of a semiconductor wafer, in order to contrast with the effect of the pollutant gas removal by the wafer storage container which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 容器本体
2 蓋体
3 シール材
4 凹部
5 ウエハ押さえ部材
7 ウエハ支持体
9、10 ケミカルアブソーバ
15、16 補強フレーム
18 アブソーバ係止部
20、21 膜状フィルタ
25 融着部
26 酸性ガス用化学吸着剤
27 有機ガス用化学吸着剤
28 アルカリ性ガス用化学吸着剤
W 半導体ウエハ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Container main body 2 Cover body 3 Sealing material 4 Recessed part 5 Wafer holding member 7 Wafer support 9, 10 Chemical absorber 15, 16 Reinforcement frame 18 Absorber latching part 20, 21 Membrane filter 25 Fusion part 26 Chemical adsorption for acid gas Agent 27 Chemical Adsorbent for Organic Gas 28 Chemical Adsorbent for Alkaline Gas W Semiconductor Wafer

Claims (4)

複数の半導体ウエハを収納するための容器本体と、シールを介して、上記容器本体の一面に形成された開口部を気密に塞ぐように上記容器本体に対して着脱自在に取り付けられる蓋体と、上記容器本体内において上記複数の半導体ウエハをその軸方向に所定の間隔をあけて支持するためのウエハ支持体と、上記複数の半導体ウエハの外縁に対向する上記蓋体の内壁面の領域に上記複数の半導体ウエハの面に対して略垂直な方向に伸びた状態に形成された凹部と、上記ウエハ支持体と協働して上記複数の半導体ウエハを押さえて固定するように上記凹部内に配置されたウエハ押さえ部材とを有するウエハ収納容器において、
特定のガス成分を吸着するための少なくとも一種類のケミカルアブソーバが、上記容器本体と上記ウエハ支持体との間隙であって上記複数の半導体ウエハにおける軸方向の略全範囲にわたって配置されていることを特徴とするウエハ収納容器。
A container body for storing a plurality of semiconductor wafers, and a lid body detachably attached to the container body so as to hermetically close an opening formed on one surface of the container body through a seal; A wafer support for supporting the plurality of semiconductor wafers at predetermined intervals in the axial direction in the container body, and an area of the inner wall surface of the lid facing the outer edge of the plurality of semiconductor wafers. A recess formed in a direction substantially perpendicular to the surface of the plurality of semiconductor wafers, and disposed in the recess so as to press and fix the plurality of semiconductor wafers in cooperation with the wafer support. In a wafer storage container having a wafer holding member made,
That at least one chemical absorber for adsorbing a specific gas component is disposed over substantially the entire axial range of the plurality of semiconductor wafers in the gap between the container body and the wafer support. A wafer storage container.
上記ウエハ支持体には、上記ケミカルアブソーバが配置された空間と上記半導体ウエハが配置された空間との間の通気を確保するための通気孔が略全域にわたって形成されている請求項1記載のウエハ収納容器。   2. The wafer according to claim 1, wherein the wafer support is formed with vent holes for substantially ensuring ventilation between the space in which the chemical absorber is disposed and the space in which the semiconductor wafer is disposed. Storage container. 上記ケミカルアブソーバの外縁全体に沿って補強フレームが設けられており、当該ケミカルアブソーバを上記ウエハ支持体に係止するためのアブソーバ係止部が、前記補強フレームに形成されている請求項1または2のいずれかの項に記載のウエハ収納容器。   A reinforcing frame is provided along the entire outer edge of the chemical absorber, and an absorber locking portion for locking the chemical absorber to the wafer support is formed in the reinforcing frame. The wafer storage container according to any one of the above. 上記補強フレームは、少なくとも上記半導体ウエハ側の面に上記ケミカルアブソーバを露出させるための開口を有している請求項3記載のウエハ収納容器。   4. The wafer storage container according to claim 3, wherein the reinforcing frame has an opening for exposing the chemical absorber at least on a surface of the semiconductor wafer.
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