JP2008141002A - Semiconductor package - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a downsized semiconductor package which provides highly efficient thermal control and progresses high output performance. <P>SOLUTION: A base 11 of a package body 10 is formed of a substrate material for a semiconductor, a circuit pattern 141 is directly formed at the predetermined part of one surface of the base 11, and an insulating layer is formed at the part of the other surface corresponding to the circuit pattern. An electronic component is wire-connected to the circuit pattern, and a semiconductor element 14 is formed on the base. An external connection terminal 15 electrically connected to the semiconductor element 14 is arranged so as to protrude from a frame 12. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は、例えば各種の電子部品を構成する半導体素子が収容配置される半導体パッケージに関する。   The present invention relates to a semiconductor package in which, for example, semiconductor elements constituting various electronic components are accommodated.

一般に、半導体パッケージは、パッケージ本体を熱伝導率の高い銅や銅合金で形成して、このパッケージ本体には、Si(シリコン)基板等の半導体用基板材料製の基板上に回路パターンを実装した各種の電子部品を構成する半導体素子が熱的に結合されて収容配置される。また、このパッケージ本体には、外部接続用の接続端子が突設され、この接続端子が印刷配線基板の回路に電気的に接続されて使用に供される。   In general, in a semiconductor package, a package body is formed of copper or a copper alloy having high thermal conductivity, and a circuit pattern is mounted on the package body on a substrate made of a semiconductor substrate material such as a Si (silicon) substrate. Semiconductor elements constituting various electronic components are thermally coupled and accommodated. The package body is provided with a connection terminal for external connection, and the connection terminal is electrically connected to the circuit of the printed wiring board for use.

ところで、このような半導体パッケージは、その使用により、半導体素子が駆動され、発熱してその温度が許容値を超えると、所望の部品性能を確保することが困難となる。このため、半導体パッケージにおいては、半導体素子の熱をパッケージ本体に伝達した後、パッケージ本体から放熱板に熱移送させて排熱することにより、半導体素子の温度を許容値に保つように熱制御する方法が採られている。   By the way, when such a semiconductor package is used, a semiconductor element is driven and generates heat, and when its temperature exceeds an allowable value, it becomes difficult to ensure desired component performance. For this reason, in the semiconductor package, after the heat of the semiconductor element is transferred to the package body, the heat is transferred from the package body to the heat radiating plate to exhaust the heat, so that the temperature of the semiconductor element is controlled to maintain an allowable value. The method is taken.

一方、このような半導体パッケージは、その半導体素子の高出力化の要請と共に、小型化の要請が強くあり、その要請を満足するために、半導体素子の熱制御が大きな課題の一つとなっている。   On the other hand, in such a semiconductor package, there is a strong demand for miniaturization along with a demand for higher output of the semiconductor element, and thermal control of the semiconductor element is one of the major issues in order to satisfy the demand. .

そこで、半導体パッケージにおいては、その駆動に伴う熱を効率よく排熱して、半導体素子の温度を許容値に熱制御するための各種の冷却構造が開発されている。このような冷却構造としては、例えば基板に実装するパッケージ本体上に放熱フィンを設け、この放熱フィンの上から冷媒を吹付けて半導体素子の駆動に伴う熱を強制的に排熱する構成のものが提案されている(例えば,特許文献1参照)。
実開平5−4498号公報
Therefore, various cooling structures have been developed in semiconductor packages for efficiently exhausting the heat associated with the driving and controlling the temperature of the semiconductor element to an allowable value. As such a cooling structure, for example, a heat dissipating fin is provided on a package body mounted on a substrate, and a heat is forcibly exhausted by blowing a refrigerant from the heat dissipating fin to drive the semiconductor element. Has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
Japanese Utility Model Publication No. 5-4498

しかしながら、上記冷却構造では、半導体パッケージのパッケージ本体上に直接的に冷媒を吹付けて強制的に冷却する構成上、半導体素子の高出力化による発熱量が増加すればするほど、基板との接触部位の温度上昇を招くために、許容温度に保つことが困難となるという不都合を有する。   However, in the above cooling structure, the coolant is directly blown onto the package body of the semiconductor package to forcibly cool it. As the amount of heat generated by the higher output of the semiconductor element increases, the contact with the substrate increases. Since the temperature of the part is increased, there is a disadvantage that it is difficult to maintain the temperature at an allowable temperature.

係る熱制御の問題は、特に、半導体素子の高出力化を促進して、性能の向上を図る場合における重要な課題となっている。   Such a problem of thermal control is an important issue particularly in the case of improving performance by promoting higher output of the semiconductor element.

この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、小型化を実現したうえで、高効率な熱制御を実現して、高出力化の促進を図り得るようにした半導体パッケージを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a semiconductor package that can achieve miniaturization and realize high-efficiency thermal control to promote high output. Objective.

この発明は、少なくとも一部が半導体用基板材料で形成され、この基板材料部位に回路パターンを実装してなる半導体素子が設けられたパッケージ本体と、このパッケージ本体に外部接続可能に設けられ、前記半導体素子と電気的に接続された外部接続端子とを備えて半導体パッケージを構成した。   The present invention provides a package body in which at least a part is formed of a semiconductor substrate material, and a semiconductor element formed by mounting a circuit pattern on the substrate material portion, and is provided to be externally connectable to the package body. A semiconductor package was configured with an external connection terminal electrically connected to the semiconductor element.

上記構成によれば、パッケージ本体には、半導体素子が、その一部の半導体用基板材料部位に直接的に回路パターンが実装されて形成され、該半導体用基板材料部位が半導体素子の基板の役を果たすように構成されていることにより、その半導体素子からの熱伝導経路の短縮化が図れると共に、発生した熱の広がりを、多く取ることが可能となる。従って、半導体素子の温度上昇の低減化が図れて、パッケージ本体の小型化を確保したうえで、半導体素子の高出力化の促進を図ることが可能となる。   According to the above configuration, the semiconductor element is formed in the package body by directly mounting the circuit pattern on a part of the semiconductor substrate material portion, and the semiconductor substrate material portion serves as a substrate of the semiconductor element. Therefore, the heat conduction path from the semiconductor element can be shortened, and a large amount of generated heat can be spread. Therefore, it is possible to reduce the temperature rise of the semiconductor element, to ensure the miniaturization of the package body, and to promote higher output of the semiconductor element.

以上述べたように、この発明によれば、小型化を実現したうえで、高効率な熱制御を実現して、高出力化の促進を図り得るようにした半導体パッケージを提供することができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to provide a semiconductor package that can realize miniaturization and realize high-efficiency thermal control to promote high output.

以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1及び図2は、この発明の一実施の形態に係る半導体パッケージの外観構成を示すもので、図1は、パッケージ本体10の上面側から見た状態を示し、図2は、パッケージ本体10の底面側から見た状態を示す。   1 and 2 show an external configuration of a semiconductor package according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a state viewed from the upper surface side of the package body 10, and FIG. The state seen from the bottom side of is shown.

即ち、パッケージ本体10は、ベース部11、枠状のフレーム部12及び蓋体13で形成される。このうちベース部11は、例えばSiC(炭化けい素)、Si(シリコン)等の半導体用基板材料で形成される。このベース部11には、その一方面の所定部位に直接的に回路パターン141が形成され(図3参照)、この回路パターン141に対応する他方面の部位には、例えば絶縁層が形成される。そして、回路パターン141に対して、図示しない電子部品が配線接続され、上記ベース部11には、半導体素子14が形成される。   That is, the package body 10 is formed by the base portion 11, the frame-shaped frame portion 12, and the lid body 13. Of these, the base portion 11 is formed of a semiconductor substrate material such as SiC (silicon carbide) or Si (silicon). In the base portion 11, a circuit pattern 141 is directly formed at a predetermined portion on one surface thereof (see FIG. 3), and an insulating layer is formed on the other surface portion corresponding to the circuit pattern 141, for example. . An electronic component (not shown) is connected to the circuit pattern 141 by wiring, and the semiconductor element 14 is formed in the base portion 11.

また、ベース部11上には、上記フレーム部12が上記半導体素子14を囲んで設けられる。このフレーム部12は、例えば銅、銅合金等の金属材料で形成され、その対向する両側壁には、上記ベース部11の半導体素子14に電気的に接続される外部接続端子15,15がそれぞれ外部接続可能に突設される。この外部接続端子15,15は、図示しない外部機器に配線接続される。   Further, the frame portion 12 is provided on the base portion 11 so as to surround the semiconductor element 14. The frame portion 12 is formed of a metal material such as copper or a copper alloy, and external connection terminals 15 and 15 electrically connected to the semiconductor element 14 of the base portion 11 are provided on opposite side walls thereof. Projected to allow external connection. The external connection terminals 15 and 15 are wired and connected to an external device (not shown).

さらに、ベース部11の上記外部接続端子15を挟んだ両端部には、例えば凹状の取付け部111,111がそれぞれ設けられる。これにより、ベース部11は、例えば取付け部111,111が、図示しない支持台等に取付けられて上記パッケージ本体10が位置決め配置される。   Furthermore, for example, concave mounting portions 111 and 111 are provided at both ends of the base portion 11 with the external connection terminal 15 interposed therebetween. As a result, for example, the mounting portions 111 and 111 are attached to a support base (not shown) in the base portion 11, and the package body 10 is positioned and arranged.

上記フレーム部12の開口側には、上記蓋体13が被着されて閉塞される。この蓋体13は、例えば上記フレーム部12と同様に銅、銅合金等の金属材料で形成され、該フレーム部12と協働して上記ベース部11の一部を基板とする上記半導体素子14を密閉収容する。   On the opening side of the frame portion 12, the lid body 13 is attached and closed. The lid 13 is formed of a metal material such as copper or a copper alloy, for example, similarly to the frame 12, and cooperates with the frame 12 to use the semiconductor element 14 as a part of the base 11. In a sealed manner.

上記構成により、パッケージ本体10は、そのベース部11が、例えば図示しない放熱部に熱的に結合された状態で、その取付け部111,111が上記支持台等に取付けられて設置される。そして、このパッケージ本体10は、そのフレーム部12から突設された外部接続端子15,15が図示しない外部機器に電気的に接続されて所望の電子機器システムが構築される。   With the above-described configuration, the package body 10 is installed with its attachment portions 111 and 111 attached to the support base or the like with its base portion 11 thermally coupled to, for example, a heat radiating portion (not shown). The package main body 10 is configured such that a desired electronic device system is constructed by electrically connecting external connection terminals 15 and 15 projecting from the frame 12 to an external device (not shown).

ここで、半導体用基板材料製のベース部11の一部を基板として構成した半導体素子14は、上記外部機器を介して駆動され、その駆動に伴い発熱される。この半導体素子14の熱伝達経路は、そのパッケージ本体10のベース部11である半導体用基板材料から直接的に上記放熱部に至る経路を有する。   Here, the semiconductor element 14 configured with a part of the base portion 11 made of a semiconductor substrate material as a substrate is driven through the external device, and generates heat in accordance with the driving. The heat transfer path of the semiconductor element 14 has a path from the semiconductor substrate material, which is the base portion 11 of the package body 10, directly to the heat radiating portion.

この熱伝達経路は、半導体素子14を構成する回路パターン141を直接的に形成したベース部11を利用して構成されている。このベース部11の一部を、その構成に含む半導体素子14は、ベース部11と別体の基板を備えた場合に比して熱伝達経路の短縮化が図れ、その熱抵抗の削減を図ることができる。   This heat transfer path is configured by using the base portion 11 in which the circuit pattern 141 constituting the semiconductor element 14 is directly formed. The semiconductor element 14 including a part of the base portion 11 in the configuration can shorten the heat transfer path and reduce the thermal resistance as compared with the case where a substrate separate from the base portion 11 is provided. be able to.

そして、上記半導体素子14は、熱伝達経路的にベース部11全体が、その基板面を構成することとなり、大きな熱伝達面積が得られるため、その熱の広がりを多く採ることができる。この結果、パッケージ本体10内の半導体素子14で発生した熱は、効率的に上記放熱部に熱移送されて放熱され、半導体素子14が許容温度に熱制御される。   In the semiconductor element 14, the entire base portion 11 constitutes the substrate surface in the heat transfer path, and a large heat transfer area can be obtained, so that the heat spread can be increased. As a result, the heat generated in the semiconductor element 14 in the package body 10 is efficiently transferred to the heat radiating portion and dissipated, and the semiconductor element 14 is thermally controlled to an allowable temperature.

ここで、上記放熱部としては、例えば図4及び図5に示す空気等の気体を供給する空冷式、あるいは図6乃至図8に示す冷却液を供給する液冷式等の冷却流体を供給することにより、強制的に冷却する放熱手段が構成される。   Here, as the heat radiating unit, for example, a cooling fluid such as an air cooling type that supplies a gas such as air shown in FIGS. 4 and 5 or a liquid cooling type that supplies a cooling liquid shown in FIGS. Thus, a heat radiation means for forcibly cooling is configured.

すなわち、図4及び図5に示す空冷式では、例えば上記ベース部11の背面側に、放熱フィン16が上記ベース部11上の半導体素子14に対応して設けられる。また、ベース部11の背面側には、ダクト17が放熱フィン16を囲んで設けられる。このダクト17は、外部より空気を放熱フィン16に案内することにより、該放熱フィン16の放熱効率を促進する。   That is, in the air cooling type shown in FIGS. 4 and 5, for example, on the back side of the base portion 11, the radiation fins 16 are provided corresponding to the semiconductor elements 14 on the base portion 11. A duct 17 is provided on the back side of the base portion 11 so as to surround the heat radiation fins 16. The duct 17 promotes the heat radiation efficiency of the heat radiation fin 16 by guiding air from the outside to the heat radiation fin 16.

これにより、パッケージ本体10内の半導体素子14の熱は、ベース部11より直接的に放熱フィン16に熱移送される。すると、この熱は、放熱フィン16に対してダクト17を介して導かれる空気により強制的に排熱され、ここに、ベース部11の一部を、その構成に含む半導体素子14を許容温度に効率よく熱制御することができる。   Thereby, the heat of the semiconductor element 14 in the package body 10 is directly transferred to the heat radiation fins 16 from the base portion 11. Then, this heat is forcibly exhausted by the air guided through the duct 17 to the radiating fins 16, and here, the semiconductor element 14 including a part of the base portion 11 in the configuration is allowed to have an allowable temperature. The heat can be controlled efficiently.

また、図6乃至図8に示す液冷式では、例えば上記ベース部11の背面側に凹状の冷却液供給部18がOリング19を介して密閉構造に配置される(図7及び図8参照)。そして、この冷却液供給部18内には、上記ベース部11の背面側に上記半導体素子14に設けられた放熱フィン20が収容配置される。また、冷却液供給部18には、液供給口181及び液出口182が設けられ、この液供給口181及び液出口182には、図示しない液供給源が配管接続される。   Further, in the liquid cooling system shown in FIGS. 6 to 8, for example, a concave cooling liquid supply unit 18 is disposed in a sealed structure on the back side of the base portion 11 via an O-ring 19 (see FIGS. 7 and 8). ). And in this coolant supply part 18, the radiation fin 20 provided in the said semiconductor element 14 is accommodated by the back side of the said base part 11, and is arrange | positioned. The coolant supply unit 18 is provided with a liquid supply port 181 and a liquid outlet 182, and a liquid supply source (not shown) is connected to the liquid supply port 181 and the liquid outlet 182 by piping.

これにより、冷却液供給部18は、その液供給口181に上記液供給源(図示せず)からの冷却液が供給されると、その冷却液が循環されて液出口182から排出される。この冷却液は、パッケージ本体10のベース部11の放熱フィン20に熱移送された熱を奪って液出口182から排出されて排熱することにより、ベース部11の一部を、その構成に含む半導体素子14を許容温度に効率よく熱制御する。   Thus, when the coolant supplied from the liquid supply source (not shown) is supplied to the liquid supply port 181, the coolant supply unit 18 is circulated and discharged from the liquid outlet 182. The cooling liquid takes heat transferred to the radiating fins 20 of the base portion 11 of the package body 10 and is discharged from the liquid outlet 182 to exhaust heat, thereby including a part of the base portion 11 in its configuration. The semiconductor element 14 is efficiently thermally controlled to an allowable temperature.

このように、上記半導体パッケージは、パッケージ本体10のベース部11を、半導体用基板材料で形成して、このベース部11の一部に回路パターン141を直接的に実装した半導体素子14を形成し、この半導体素子14に電気的に接続される外部接続端子15を、フレーム部11より突設配置するように構成した。   As described above, in the semiconductor package, the base part 11 of the package body 10 is formed of a semiconductor substrate material, and the semiconductor element 14 in which the circuit pattern 141 is directly mounted on a part of the base part 11 is formed. The external connection terminals 15 that are electrically connected to the semiconductor element 14 are arranged so as to protrude from the frame portion 11.

これによれば、パッケージ本体10は、半導体素子14が、その半導体用基板材料製のベース部11と回路パターン141とにより形成され、そのベース部11自体が半導体素子14の基板を構成していることにより、半導体素子14からの熱伝導経路の短縮化が図れると共に、その発生した熱がベース部11全体に効率よく広がる。これにより、半導体素子14の温度上昇の低減化が図れて、パッケージ本体10の小型化を実現したうえで、半導体素子14の高出力化の促進を実現することができる。   According to this, in the package body 10, the semiconductor element 14 is formed by the base portion 11 made of the semiconductor substrate material and the circuit pattern 141, and the base portion 11 itself constitutes the substrate of the semiconductor element 14. As a result, the heat conduction path from the semiconductor element 14 can be shortened, and the generated heat is efficiently spread throughout the base portion 11. As a result, the temperature rise of the semiconductor element 14 can be reduced, the package body 10 can be reduced in size, and the high output of the semiconductor element 14 can be promoted.

なお、上記実施の形態では、パッケージ本体10のベース部11を、半導体用基板材料で形成して、ベース部11の一部を基板として、半導体素子14を配置するように構成した場合について説明したが、これに限ることなく、その他、図9乃至図11に示すように構成してもよく、同様に有効な効果が期待される。但し、この図9乃至図11の実施の形態においては、上記図1〜図3及び図6〜図8と同一部分について同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。   In the above-described embodiment, a case has been described in which the base portion 11 of the package body 10 is formed of a semiconductor substrate material, and a part of the base portion 11 is used as a substrate to arrange the semiconductor element 14. However, the present invention is not limited to this, and other configurations as shown in FIGS. 9 to 11 may be used, and similarly effective effects are expected. However, in the embodiment of FIGS. 9 to 11, the same parts as those in FIGS. 1 to 3 and FIGS. 6 to 8 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

即ち、この実施の形態では、ベース部21を銅、銅合金等の金属材料で形成して、このベース部21の例えばフレーム部12で囲まれた領域の一部に、半導体用基板材料を埋め込んだりして素子形成部位22を設ける。このベース部21の一部を構成する素子形成部位22には、その上面側に回路パターン141(図3参照)が直接的に実装されて半導体素子14が形成され、この半導体素子14が上記パッケージ本体10のフレーム部12内に収容配置される。そして、上記素子形成部位22の背面側には、放熱フィン23が半導体素子14に対応して設けられる。   That is, in this embodiment, the base portion 21 is formed of a metal material such as copper or a copper alloy, and the semiconductor substrate material is embedded in a part of the region surrounded by the frame portion 12 of the base portion 21. The element forming portion 22 is provided. A circuit pattern 141 (see FIG. 3) is directly mounted on the upper surface side of the element forming portion 22 constituting a part of the base portion 21 to form the semiconductor element 14, and the semiconductor element 14 is mounted on the package. It is accommodated in the frame portion 12 of the main body 10. Further, on the back side of the element forming portion 22, heat radiating fins 23 are provided corresponding to the semiconductor elements 14.

上記ベース部21の背面側には、例えば上述した液冷式放熱手段を構成する冷却液供給部18が上記素子形成部位22の放熱フィン23を覆うように取付けられる。この冷却液供給部には、上述したようにその液供給口181に上記液供給源からの冷却液が供給されて、その冷却液が液出口182から排出されることにより、上記放熱フィン23を強制的に冷却して熱制御する。   On the back side of the base portion 21, for example, a coolant supply portion 18 constituting the above-described liquid cooling type heat dissipating means is attached so as to cover the heat dissipating fins 23 of the element forming portion 22. As described above, the cooling liquid supply unit is supplied with the cooling liquid from the liquid supply source to the liquid supply port 181, and the cooling liquid is discharged from the liquid outlet 182. Forced cooling and thermal control.

これにより、同様に半導体素子14からの熱伝導経路の短縮化が図れると共に、その発生した熱がベース部21全体に効率よく広がり、半導体素子14の温度上昇の低減化が図れて、パッケージ本体10の小型化を実現したうえで、半導体素子14の高出力化の促進を実現することができる。   Accordingly, the heat conduction path from the semiconductor element 14 can be shortened in the same manner, and the generated heat can be efficiently spread over the entire base portion 21 to reduce the temperature rise of the semiconductor element 14. It is possible to realize an increase in the output of the semiconductor element 14 while realizing a reduction in size.

また、上記ベース部21の一部に配する素子形成部位22としては、ベース部21に複数個を分離して設けて、この複数の素子形成部位22にそれぞれに半導体素子14を形成するように構成してもよい。   Further, as the element forming portions 22 arranged in a part of the base portion 21, a plurality of element forming portions 22 are provided separately in the base portion 21, and the semiconductor elements 14 are formed in the plurality of element forming portions 22, respectively. It may be configured.

さらに、この図9乃至11に示す実施の形態においても、ベース部21に配する放熱手段としては、その他、例えば上記図4及び図5に示すダクト構造の放熱フィン16を設けて、空冷式放熱手段を配するように構成してもよい。   Further, in the embodiment shown in FIGS. 9 to 11, as the heat radiating means disposed on the base portion 21, for example, the radiating fins 16 having the duct structure shown in FIGS. You may comprise so that a means may be arranged.

なお、上記各実施の形態においては、放熱手段として、上記実施の形態で説明した空冷式あるいは液冷式の構成に限るものでなく、その他、各種放熱構造のものが適用可能である。   In each of the above embodiments, the heat radiating means is not limited to the air-cooled or liquid-cooled configuration described in the above embodiment, and various other heat radiating structures can be applied.

よって、この発明は、上記実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。   Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention in the implementation stage. Further, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements.

例えば実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。   For example, even if some constituent requirements are deleted from all the constituent requirements shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effect described in the effect of the invention can be obtained. In such a case, a configuration in which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.

この発明の一実施の形態に係る半導体パッケージを上面側から見た状態を示した斜視図である。It is the perspective view which showed the state which looked at the semiconductor package which concerns on one embodiment of this invention from the upper surface side. 図1の半導体パッケージを下面側から見た状態を示した斜視図である。It is the perspective view which showed the state which looked at the semiconductor package of FIG. 1 from the lower surface side. 図1のベース部に半導体素子を形成する回路パターンを実装した状態を示した図である。It is the figure which showed the state which mounted the circuit pattern which forms a semiconductor element in the base part of FIG. 図1のベース部に空冷式放熱手段を設けた状態において蓋体の一部を破断して示した斜視図である。It is the perspective view which fractured | ruptured and showed a part of cover body in the state which provided the air-cooling type thermal radiation means in the base part of FIG. 図4の要部を拡大して示した図である。It is the figure which expanded and showed the principal part of FIG. 図1のベース部に液冷式放熱手段を設けた状態の外観を示した斜視図である。It is the perspective view which showed the external appearance in the state which provided the liquid-cooling-type heat radiation means in the base part of FIG. 図6の一部を破断して示した図である。It is the figure which fractured and showed a part of FIG. 図7の要部を拡大して示した図である。It is the figure which expanded and showed the principal part of FIG. この発明の他の実施の形態に係る半導体パッケージの要部を取出して示した斜視図である。It is the perspective view which took out and showed the principal part of the semiconductor package which concerns on other embodiment of this invention. 図9を側面から見た状態を示した図である。It is the figure which showed the state which looked at FIG. 9 from the side. 図10の要部を拡大して示した図である。It is the figure which expanded and showed the principal part of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10…パッケージ本体、11…ベース部、111…取付け部、12…フレーム部、13…蓋体、14…半導体素子、141…回路パターン、15…外部接続端子、16…放熱フィン、17…ダクト、18…冷却液供給部、181…液供給口、182…液出口、19…Oリング、20…放熱フィン、21…ベース部、22…素子形成部位、23…放熱フィン。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Package main body, 11 ... Base part, 111 ... Mounting part, 12 ... Frame part, 13 ... Cover body, 14 ... Semiconductor element, 141 ... Circuit pattern, 15 ... External connection terminal, 16 ... Radiation fin, 17 ... Duct, DESCRIPTION OF SYMBOLS 18 ... Coolant supply part, 181 ... Liquid supply port, 182 ... Liquid outlet, 19 ... O-ring, 20 ... Radiation fin, 21 ... Base part, 22 ... Element formation part, 23 ... Radiation fin

Claims (5)

少なくとも一部が半導体用基板材料で形成され、この基板材料部位に回路パターンを実装してなる半導体素子が設けられたパッケージ本体と、
このパッケージ本体に外部接続可能に設けられ、前記半導体素子と電気的に接続された外部接続端子と、
を具備することを特徴とする半導体パッケージ。
A package body in which at least a part is formed of a semiconductor substrate material, and a semiconductor element formed by mounting a circuit pattern on the substrate material portion is provided;
An external connection terminal provided in the package body so as to be externally connectable and electrically connected to the semiconductor element;
A semiconductor package comprising:
前記パッケージ本体には、少なくとも一部が半導体素子を形成してなる回路パターンの実装される半導体用基板材料で構成されたベース部と、ベース部を囲うフレーム部と、フレーム部を閉塞する蓋体で形成されることを特徴とする請求項1記載の半導体パッケージ。   The package body includes a base portion made of a semiconductor substrate material on which a circuit pattern formed of at least a part of a semiconductor element is mounted, a frame portion surrounding the base portion, and a lid for closing the frame portion The semiconductor package according to claim 1, wherein the semiconductor package is formed by: 前記ベース部には、放熱フィンが設けられることを特徴とする請求項2記載の半導体パッケージ。   The semiconductor package according to claim 2, wherein the base portion is provided with heat radiating fins. 前記ベース部には、前記放熱フィンに対して冷却流体を供給する冷却流体供給口及び冷却流体排出口を有した冷却流体供給部を備えることを特徴とする請求項3記載の半導体パッケージ。   The semiconductor package according to claim 3, wherein the base portion includes a cooling fluid supply portion having a cooling fluid supply port for supplying a cooling fluid to the radiating fin and a cooling fluid discharge port. 前記ベース部には、取付け部が設けられることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか記載の半導体パッケージ。   The semiconductor package according to claim 2, wherein an attachment portion is provided on the base portion.
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