JP2008130817A - Pattern drawing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、カラーフィルタ用ガラス基板、フラットパネルディスプレイ用ガラス基板、半導体基板、プリント基板等の基板の表面にパターンを描画するパターン描画装置に関する。 The present invention relates to a pattern drawing apparatus for drawing a pattern on the surface of a substrate such as a glass substrate for a color filter, a glass substrate for a flat panel display, a semiconductor substrate, or a printed board.
従来より、感光材料が塗布された基板の表面に光を照射することにより、基板の表面に所定のパターンを描画するパターン描画装置が知られている。パターン描画装置は、基板を載置するステージと、ステージを移動させるための移動機構と、ステージ上の基板の表面に光を照射する複数の光学ヘッドとを備えている。パターン描画装置は、ステージとともに基板を水平方向に移動させつつ、複数の光学ヘッドから光を照射することにより、基板の表面に所定のパターンを描画する。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a pattern drawing apparatus that draws a predetermined pattern on the surface of a substrate by irradiating light onto the surface of the substrate coated with a photosensitive material. The pattern drawing apparatus includes a stage on which a substrate is placed, a moving mechanism for moving the stage, and a plurality of optical heads that irradiate light onto the surface of the substrate on the stage. The pattern drawing apparatus draws a predetermined pattern on the surface of the substrate by irradiating light from a plurality of optical heads while moving the substrate in the horizontal direction together with the stage.
このようなパターン描画装置の各光学ヘッドの内部には、所定の遮光部が形成されたガラス板であるアパーチャが搭載されている。光源から出射された光は、各光学ヘッド内においてアパーチャを通過することにより、所定パターンの光束となって基板の表面に照射される。パターン描画装置は、このように複数の光学ヘッドにそれぞれアパーチャを搭載する構成となっている。このため、各アパーチャのサイズを小さくすることができ、アパーチャの撓みの問題が少なくなるとともにアパーチャの取り扱いも容易となる。 An aperture, which is a glass plate on which a predetermined light shielding portion is formed, is mounted inside each optical head of such a pattern drawing apparatus. The light emitted from the light source passes through the aperture in each optical head, and is irradiated onto the surface of the substrate as a light beam having a predetermined pattern. As described above, the pattern drawing apparatus is configured such that an aperture is mounted on each of a plurality of optical heads. For this reason, the size of each aperture can be reduced, the problem of deflection of the aperture is reduced, and handling of the aperture is facilitated.
このようなパターン描画装置の構成は、例えば特許文献1に開示されている。
The configuration of such a pattern drawing apparatus is disclosed in
このようなパターン描画装置において、各光学ヘッドに搭載されるアパーチャは、描画すべきパターンに応じて交換される。しかしながら、アパーチャの交換作業をオペレータが手動で行うようにすると、使用済みのアパーチャを光学ヘッドから取り外し、新しいアパーチャを光学ヘッドに取り付ける作業を、全ての光学ヘッドについて行わなければならないため、オペレータの作業負担が増大する。また、オペレータがアパーチャに直接触れることにより、アパーチャにパーティクル等の異物を付着させてしまう恐れもある。 In such a pattern writing apparatus, the aperture mounted on each optical head is exchanged according to the pattern to be drawn. However, if the operator manually replaces the aperture, the operator must remove the used aperture from the optical head and attach a new aperture to the optical head. The burden increases. Further, when the operator directly touches the aperture, there is a possibility that foreign matters such as particles adhere to the aperture.
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、複数の光学ヘッドに搭載されるアパーチャの交換作業を自動化し、アパーチャを効率よく交換するとともに、アパーチャの汚染も防止することができるパターン描画装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and is a pattern that can automatically replace apertures mounted on a plurality of optical heads, efficiently replace the apertures, and prevent contamination of the apertures. An object is to provide a drawing apparatus.
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、所定方向に沿って配列された複数の光学ヘッドから基板に向けて光を照射することにより、基板の表面にパターンを描画するパターン描画装置において、前記複数の光学ヘッドのそれぞれにおいて、所定のパターン形状に光を透過させるためのアパーチャ部材を保持するアパーチャ保持手段と、前記アパーチャ保持手段に保持されるアパーチャ部材を交換するアパーチャ交換手段と、を備え、前記アパーチャ交換手段は、前記アパーチャ部材を保持しつつ搬送するハンド部と、前記ハンド部を、少なくとも前記複数の光学ヘッドが配列された範囲内に亘って前記所定方向と平行な方向に移動させる移動手段と、前記移動手段により前記ハンド部を前記複数のアパーチャ保持手段のそれぞれに対向する位置に移動させた後、前記ハンド部を前記アパーチャ保持手段に対して接近および離間させることにより、前記アパーチャ保持手段と前記ハンド部との間でアパーチャ部材の受け渡しを行う制御手段と、を有することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to
請求項2に係る発明は、請求項1に記載のパターン描画装置において、前記アパーチャ保持手段を、前記光学ヘッド内の照射位置と前記ハンド部の移動経路上の位置との間で進退移動させる進退手段を更に備えることを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the pattern drawing apparatus according to the first aspect, the aperture holding means moves forward and backward between an irradiation position in the optical head and a position on the movement path of the hand unit. The apparatus further comprises means.
請求項3に係る発明は、請求項1または請求項2に記載のパターン描画装置において、前記ハンド部は、一対の保持爪によりアパーチャ部材の端部を摘むことによりアパーチャ部材を保持することを特徴とする。
The invention according to claim 3 is the pattern drawing apparatus according to
請求項4に係る発明は、請求項1から請求項3までのいずれかに記載のパターン描画装置において、前記アパーチャ保持手段は、前記ハンド部の進入を許容するための切り欠き部を有することを特徴とする。
The invention according to claim 4 is the pattern drawing apparatus according to any one of
請求項5に係る発明は、請求項1から請求項4までのいずれかに記載のパターン描画装置において、前記移動手段による前記ハンド部の移動経路上に配置され、アパーチャ部材を収納するカセット部を更に備えることを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, in the pattern drawing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, the cassette unit that is disposed on the moving path of the hand unit by the moving unit and stores the aperture member is provided. It is further provided with the feature.
請求項6に係る発明は、請求項5に記載のパターン描画装置において、前記カセット部は、複数のアパーチャ部材を上下方向に多段に収納するものであり、前記カセット部を昇降移動させる昇降手段を更に備えることを特徴とする。 According to a sixth aspect of the present invention, in the pattern drawing apparatus according to the fifth aspect, the cassette unit stores a plurality of aperture members in multiple stages in the vertical direction, and elevating means for moving the cassette unit up and down is provided. It is further provided with the feature.
請求項7に係る発明は、請求項5または請求項6に記載のパターン描画装置において、前記カセット部は、所定の回動軸の周囲に複数の収納部を有し、前記回動軸を中心として前記カセット部を回動させる回動手段を更に備えることを特徴とする。
The invention according to
請求項8に係る発明は、請求項5から請求項7までのいずれかに記載のパターン描画装置において、前記カセット部は、アパーチャ部材の両端部を保持するためのガイド部を有し、前記ガイド部は、アパーチャ部材の両端部を載置する載置面と、前記載置面の外側においてせり上がるテーパ面とを有することを特徴とする。 According to an eighth aspect of the present invention, in the pattern drawing apparatus according to any one of the fifth to seventh aspects, the cassette portion has a guide portion for holding both end portions of an aperture member, and the guide The portion has a mounting surface on which both end portions of the aperture member are mounted, and a tapered surface that rises outside the mounting surface.
請求項9に係る発明は、請求項1から請求項8までのいずれかに記載のパターン描画装置において、前記アパーチャ保持手段は、アパーチャ部材を固定する状態と、アパーチャ部材の固定を解除する状態とを切り替える固定解除手段を有することを特徴とする。
The invention according to claim 9 is the pattern drawing apparatus according to any one of
請求項1〜9に記載の発明によれば、パターン描画装置は、ハンド部を複数の光学ヘッドに沿って移動させた後、ハンド部をアパーチャ保持手段に対して接近および離間させることにより、アパーチャ保持手段とハンド部との間でアパーチャ部材の受け渡しを行う。このため、アパーチャ部材を自動的かつ効率よく交換することができ、アパーチャ部材の汚染も防止することができる。 According to the first to ninth aspects of the present invention, the pattern drawing apparatus moves the hand portion along the plurality of optical heads, and then moves the hand portion toward and away from the aperture holding means, thereby the aperture. The aperture member is transferred between the holding means and the hand portion. For this reason, an aperture member can be replaced automatically and efficiently, and contamination of the aperture member can also be prevented.
特に、請求項2に記載の発明によれば、パターン描画装置は、アパーチャ保持手段を、光学ヘッド内の照射位置とハンド部の移動経路上の位置との間で進退移動させる進退手段を更に備える。このため、ハンド部の移動経路上でアパーチャ部材の受け渡し動作を行うことができ、また、ハンド部を移動させるときにはアパーチャ保持手段を退避させることができる。 In particular, according to the second aspect of the present invention, the pattern drawing apparatus further includes advancing / retreating means for moving the aperture holding means between the irradiation position in the optical head and the position on the movement path of the hand unit. . For this reason, it is possible to perform the transfer operation of the aperture member on the movement path of the hand unit, and it is possible to retract the aperture holding means when moving the hand unit.
特に、請求項3に記載の発明によれば、ハンド部は、一対の保持爪によりアパーチャ部材の端部を摘むことによりアパーチャ部材を保持する。このため、アパーチャ保持部内の深い位置までハンド部を挿入することなく、アパーチャ部材の受け渡し動作を行うことができる。 In particular, according to the third aspect of the present invention, the hand portion holds the aperture member by pinching the end portion of the aperture member with the pair of holding claws. For this reason, the transfer operation of the aperture member can be performed without inserting the hand portion to a deep position in the aperture holding portion.
特に、請求項4に記載の発明によれば、アパーチャ保持手段は、ハンド部の進入を許容するための切り欠き部を有する。このため、アパーチャ保持手段とハンド部との干渉を回避しつつ、アパーチャ部材の受け渡し動作を行うことができる。 In particular, according to the fourth aspect of the present invention, the aperture holding means has a notch for allowing the hand portion to enter. For this reason, it is possible to perform the transfer operation of the aperture member while avoiding interference between the aperture holding means and the hand portion.
特に、請求項5に記載の発明によれば、パターン描画装置は、移動手段によるハンド部の移動経路上に配置され、アパーチャ部材を収納するカセット部を更に備える。このため、使用済みのアパーチャ部材や交換用のアパーチャ部材を1箇所に纏めて収納することができる。 In particular, according to the fifth aspect of the present invention, the pattern drawing apparatus further includes a cassette portion that is disposed on the moving path of the hand portion by the moving means and that stores the aperture member. For this reason, the used aperture member and the replacement aperture member can be stored together in one place.
特に、請求項6に記載の発明によれば、カセット部は、複数のアパーチャ部材を上下方向に多段に収納するものであり、パターン描画装置は、カセット部を昇降移動させる昇降手段を更に備える。このため、複数のアパーチャ部材をコンパクトに収納することができ、また、アパーチャ部材の取り出しまたは収納を行う段に応じてカセット部の高さを調節することができる。 In particular, according to the invention described in claim 6, the cassette unit accommodates a plurality of aperture members in multiple stages in the vertical direction, and the pattern drawing apparatus further includes elevating means for elevating and moving the cassette unit. For this reason, a plurality of aperture members can be stored in a compact manner, and the height of the cassette portion can be adjusted according to the stage at which the aperture member is taken out or stored.
特に、請求項7に記載の発明によれば、カセット部は、所定の回動軸の周囲に複数の収納部を有し、パターン描画装置は、回動軸を中心としてカセット部を回動させる回動手段を更に備える。このため、使用済みのアパーチャと交換用のアパーチャとを複数の収納部に分けて収納することができ、また、各収納部を容易に切り替えることができる。 In particular, according to the seventh aspect of the present invention, the cassette unit has a plurality of storage units around a predetermined rotation axis, and the pattern drawing device rotates the cassette unit around the rotation axis. Rotating means is further provided. Therefore, the used aperture and the replacement aperture can be stored separately in a plurality of storage units, and each storage unit can be easily switched.
特に、請求項8に記載の発明によれば、カセット部は、アパーチャ部材の両端部を保持するためのガイド部を有し、ガイド部は、アパーチャ部材の両端部を載置する載置面と、載置面の外側においてせり上がるテーパ面とを有する。このため、アパーチャ部材の位置が水平方向に多少ずれていても載置面上にアパーチャ部材を載置することができ、アパーチャ部材をカセット部に容易に収納することができる。 In particular, according to the eighth aspect of the present invention, the cassette portion has guide portions for holding both end portions of the aperture member, and the guide portion includes a mounting surface on which both end portions of the aperture member are mounted. And a tapered surface that rises outside the mounting surface. For this reason, even if the position of the aperture member is slightly deviated in the horizontal direction, the aperture member can be placed on the placement surface, and the aperture member can be easily stored in the cassette portion.
特に、請求項9に記載の発明によれば、アパーチャ保持手段は、アパーチャ部材を固定する状態と、アパーチャ部材の固定を解除する状態とを切り替える固定解除手段を有する。このため、描画処理時にはアパーチャ部材を確実に保持することができ、また、アパーチャ部材の交換時にはアパーチャ部材を容易に取り出すことができる。 In particular, according to the ninth aspect of the present invention, the aperture holding means has the fixing release means for switching between a state in which the aperture member is fixed and a state in which the fixation of the aperture member is released. Therefore, the aperture member can be securely held during the drawing process, and the aperture member can be easily taken out when the aperture member is replaced.
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、以下の説明において参照される各図には、各部材の位置関係や動作方向を明確化するために、共通のXYZ直交座標系が付されている。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, in each figure referred in the following description, in order to clarify the positional relationship and operation direction of each member, the common XYZ orthogonal coordinate system is attached | subjected.
<1.パターン描画装置の全体構成>
図1は、本発明の一実施形態に係るパターン描画装置1の側面図である。また、図2は、パターン描画装置1を図1のII−II位置から見た上面図である。パターン描画装置1は、液晶表示装置のカラーフィルタを製造する工程において、カラーフィルタ用のガラス基板(以下、単に「基板」という。)9の上面に所定のパターンを描画するための装置である。図1および図2に示したように、パターン描画装置1は、基板9を保持するためのステージ10と、ステージ10に連結されたステージ駆動部20と、複数の光学ヘッド32a〜32gを有するヘッド部30と、各光学ヘッド32a,32b,…,32gに搭載されているアパーチャAPを交換するためのアパーチャ交換部40と、装置各部の動作を制御するための制御部50とを備えている。
<1. Overall Configuration of Pattern Drawing Device>
FIG. 1 is a side view of a
ステージ10は、平板状の外形を有し、その上面に基板9を水平姿勢に載置して保持するための保持部である。ステージ10の上面には複数の吸引孔(図示省略)が形成されている。このため、ステージ10上に基板9を載置したときには、吸引孔の吸引圧により基板9はステージ10の上面に固定保持される。なお、ステージ10上に保持された基板9の表面には、カラーレジスト等の感光材料の層が形成されている。
The
ステージ駆動部20は、ステージ10を主走査方向(Y軸方向)、副走査方向(X軸方向)、および回転方向(Z軸周りの回転方向)に移動させるための機構である。ステージ駆動部20は、ステージ10を回転させる回転機構21と、ステージ10を回転可能に支持する支持プレート22と、支持プレート22を副走査方向に移動させる副走査機構23と、副走査機構23を介して支持プレート22を支持するベースプレート24と、ベースプレート24を主走査方向に移動させる主走査機構25と、を有している。
The
回転機構21は、ステージ10の−Y側の端部に取り付けられた移動子と、支持プレート22の上面に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ21aを有している。また、ステージ10の中央部下面側と支持プレート22との間には回転軸21bが設けられている。このため、リニアモータ21aを動作させると、固定子に沿って移動子がX軸方向に移動し、支持プレート22上の回転軸21bを中心としてステージ10が所定角度の範囲内で回転する。
The
副走査機構23は、支持プレート22の下面に取り付けられた移動子とベースプレート24の上面に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ23aを有している。また、支持プレート22とベースプレート24との間には、副走査方向にのびる一対のガイド部23bが設けられている。このため、リニアモータ23aを動作させると、ベースプレート24上のガイド部23bに沿って支持プレート22が副走査方向に移動する。
The
主走査機構25は、ベースプレート24の下面に取り付けられた移動子と本装置1の基台60上に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ25aを有している。また、ベースプレート24と基台60との間には、主走査方向にのびる一対のガイド部25bが設けられている。このため、リニアモータ25aを動作させると、基台60上のガイド部25bに沿ってベースプレート24が主走査方向に移動する。
The
ヘッド部30は、ステージ10上に保持された基板9の上面に所定パターンのパルス光を照射するための機構である。ヘッド部30は、ステージ10およびステージ駆動部20を跨ぐようにして基台60上に架設されたフレーム31と、フレーム31に副走査方向に沿って等間隔に取り付けられた7つの光学ヘッド32a〜32gとを有している。各光学ヘッド32a,32b,…,32gには、照明光学系33を介して1つのレーザ発振器34が接続されている。また、レーザ発振器34にはレーザ駆動部35が接続されている。このため、レーザ駆動部35を動作させると、レーザ発振器34からパルス光が発振され、発振されたパルス光は照明光学系33を介して各光学ヘッド32a,32b,…,32g内に導入される。
The
各光学ヘッド32a,32b,…,32gの内部には、パルス光を部分的に遮光するためのアパーチャユニット36と、パルス光を基板9の上面に結像させるための投影光学系37とが設けられている。アパーチャユニット36には、所定の遮光パターンが形成されたガラス板であるアパーチャAPがセットされている。アパーチャAPは、例えば100mm×150mm程度の小片である。照明光学系33を介して各光学ヘッド32a,32b,…,32g内に導入されたパルス光は、アパーチャユニット36にセットされたアパーチャAPを通過する際に部分的に遮光され、所定パターンの光束として投影光学系37へ入射する。そして、投影光学系37を通過したパルス光が基板9の上面に照射されることにより、基板9上の感光材料に所定のパターンが描画される。
In each of the
図3は、アパーチャユニット36の詳細を示した上面図である。図3に示したように、アパーチャユニット36は、アパーチャAPを載置するための載置台361を有している。載置台361は、平板状の部材により構成されており、その上面にアパーチャAPが載置される。載置台361の中央部には、上下方向にパルス光を通過させるための窓部361aが形成されている。また、載置台361の−X側の側部には、後述するハンド部41の進入を許容するための切り欠き部361bが形成されている。
FIG. 3 is a top view showing details of the
載置台361の上部には、載置台361上に載置されたアパーチャAPの側部に当接する当接ピン362,363が設けられている。−Y側に配置された一対の当接ピン362は、それぞれバネ362aを介して載置台361に取り付けられている。このため、載置台361上に載置されたアパーチャAPの−Y側の側面には一対の当接ピン362が当接し、アパーチャAPは各当接ピン362から主走査方向の付勢力を受ける。
At the upper part of the mounting table 361, contact pins 362 and 363 that contact the side portion of the aperture AP mounted on the mounting table 361 are provided. The pair of contact pins 362 arranged on the −Y side are each attached to the mounting table 361 via a spring 362a. For this reason, a pair of contact pins 362 contact the side surface on the −Y side of the aperture AP mounted on the mounting table 361, and the aperture AP receives an urging force in the main scanning direction from each
また、載置台361上の+Y側に配置された一対の当接ピン363は、それぞれモータ等により構成された当接ピン駆動部363aに接続されている。このため、当接ピン駆動部363aを動作させると、一対の当接ピン363がそれぞれ主走査方向に進退移動する。パターン描画装置は、一対の当接ピン363によりアパーチャAPの+Y側の側面を押圧してアパーチャAPを固定する状態と、一対の当接ピン363をアパーチャAPから離間させてアパーチャの固定を解除する状態とを切り替えることができる。これにより、パターン描画装置は、描画処理時にはアパーチャAPを確実に保持することができ、また、アパーチャAPの交換時にはアパーチャAPを容易に取り出すことができる。
In addition, the pair of contact pins 363 arranged on the + Y side on the mounting table 361 are connected to contact
また、アパーチャユニット36は、アパーチャユニット36を主走査方向に進退移動させる進退機構364に接続されている。図4は、進退機構364の概略構成を示した側面図である。進退機構364は、フレーム31から−Y側に突き出した梁部364aに沿ってアパーチャユニット36を進退移動させる機構である。具体的には、進退機構364は、梁部364aの下面に主走査方向に沿って敷設されたリニアガイドと、梁部364aとアパーチャユニット36との間に設けられたリニアモータとにより構成されている。そして、リニアモータを動作させることにより、リニアガイドに沿ってアパーチャユニット36が主走査方向に進退移動する構成となっている。
The
進退機構364は、複数の光学ヘッド32a〜32gのそれぞれに設けられており、各光学ヘッド32a,32b,…,32gのアパーチャユニット36を、各光学ヘッド32a,32b,…,32g内の照射位置と後述するハンド部41の移動経路上の位置との間で進退移動させる。このため、各光学ヘッド32a,32b,…,32gに搭載されたアパーチャAPを交換するときには、後述するハンド部41の移動経路上でアパーチャAPの受け渡し動作を行うことができる。
The advance /
図1および図2に戻り、アパーチャ交換部40は、各光学ヘッド32a,32b,…,32gに搭載されたアパーチャAPを交換するための機構である。アパーチャ交換部40は、アパーチャAPを保持するためのハンド部41と、ヘッド部30の−Y側においてハンド部41を上下方向および副走査方向に移動させるためのハンド移動機構42と、交換前または交換後のアパーチャAPを収納するためのカセット部43とを有している。
Returning to FIG. 1 and FIG. 2, the
図5は、ハンド部41およびハンド移動機構42の付近を+Y側から見た側面図である。また、図6は、ハンド部41およびハンド移動機構42の付近の上面図である。図5および図6に示したように、ハンド部41は、一対の保持爪411、412によってアパーチャAPを−X側から摘んで保持する。一対の保持爪411,412は、それぞれモータ(例えばステッピングモータ)413に接続されている。このため、モータ413を動作させると、一対の保持爪411,412が互いに接近方向および離間方向に移動し、これによりアパーチャAPの保持および保持解除の動作が実現される。
FIG. 5 is a side view of the vicinity of the
また、保持爪411の先端部下面側および保持爪412の先端部上面側には、それぞれクッション性の材料(例えば、ウレタン)からなる当接部411a,412aが設けられている。このため、アパーチャAPを保持するときには、保持爪411,412はそれぞれ当接部411a,412aを介してアパーチャAPに当接し、アパーチャAPの損傷を防止する。
Further,
ハンド移動機構42は、ハンド部41を昇降移動させるための昇降機構421と、昇降機構421およびハンド部41を一体として副走査方向に横行移動させるための横行機構422とを有している。図1に示したように、横行機構422は、フレーム31上部の−Y側に付き出した部分に設けられており、屈曲形成されたアーム部423を介して下方に配置された昇降機構421およびハンド部41と接続されている。
The
図5に示したように、昇降機構421は、上下方向に立設されたボールネジ421aと、ボールネジ421aを回転させるためのモータ(例えばACサーボモータ)421bと、ボールネジ421aに沿って敷設された一対のリニアガイド421cとを有している。また、ハンド部41は、ボールネジ421aに螺合連結されている。このため、モータ421を動作させると、ボールネジ421aが回転し、リニアガイド421cに沿ってハンド部41が昇降移動する。
As shown in FIG. 5, the elevating
一方、図6に示したように、横行機構422は、副走査方向にのびるボールネジ422aと、ボールネジ422aを回転させるためのモータ(例えばACサーボモータ)422bと、ボールネジ422aに沿って敷設された一対のリニアガイド422cとを有している。また、アーム部423は、ボールネジ422aに螺合連結されている。このため、モータ422bを動作させると、ボールネジ422aが回転し、リニアガイド422cに沿ってアーム部423、昇降機構421、およびハンド部41が一体として副走査方向に横行移動する。
On the other hand, as shown in FIG. 6, the
ハンド部41によりアパーチャAPを保持しつつ、上記の昇降機構421および横行機構422を動作させると、ヘッド部30に沿ってアパーチャAPが上下方向および副走査方向に搬送される。これにより、後述するカセット部43と、各光学ヘッド32a,32b,…,32gの−Y側の位置(各アパーチャユニット36が進出する位置)との間でアパーチャAPを搬送することができる。また、上記の各位置においてアパーチャAPの受け渡し動作を行うときには、カセット部43またはアパーチャユニット36の高さに応じてアパーチャAPの上下位置を調節することができる。
When the
ハンド部41の移動経路上の最も+X側の位置には、交換用のアパーチャAPを収納するためのカセット部43が設けられている。図7は、カセット部43をXZ平面に沿って切断した縦断面図である。図7に示したように、カセット部43は、使用済みのアパーチャAPを収納するための第1収納部431と、交換用のアパーチャAPを収納するための第2収納部432とを有しており、これらの収納部431,432には、それぞれ7枚(光学ヘッド32a〜32gの数と同数)のアパーチャAPを上下に多段に収納できる構成となっている。各収納部431,432の各段には、アパーチャAPの+Y側および−Y側の側部を下方から受けるための一対のガイド部433が設けられている。アパーチャAPは、このような一対のガイド部433上に両端部を載置された状態で各段に収納される。
At the position on the most + X side on the movement path of the
図8は、一対のガイド部433をYZ平面に沿って切断した縦断面図である。図8に示したように、各ガイド部433には、アパーチャAPの端部を載置するための載置面433aと、載置面433aの外側においてせり上がるテーパ面433bとが形成されている。このため、ガイド部433にアパーチャAPをセットするときにアパーチャAPの位置が載置面433aの上方から多少水平方向にずれていたとしても、アパーチャAPはテーパ面433bに沿って載置面433a上まで滑り落ち、その水平位置が補正される。このため、ガイド部433上にアパーチャAPを容易にセットすることができる。また、載置面433a上に載置されたアパーチャAPの周囲には若干の隙間d(例えば0.5mm)が確保されるように、載置面433aの幅が規定されている。このため、テーパ面433bの内側にアパーチャAPが嵌合してしまうことはなく、アパーチャAPの載置および取り出しの動作を円滑に行うことができる。
FIG. 8 is a longitudinal sectional view of the pair of
図9は、カセット部43に接続されている駆動機構の構成を示した図である。図9に示したように、カセット部43の下部には第1ギヤ434aが取り付けられており、カセット部43および第1ギヤ434aは、昇降台44上に立設された回動軸434bの周りに回動可能となっている。また、第1ギヤ434aは第2ギヤ434cと噛合されており、第2ギヤ434cは昇降台44上に設けられたモータ(例えばステッピングモータ)434dと接続されている。このため、モータ434dを動作させると、第2ギヤ434cを介して第1ギヤ434aに駆動力が伝達され、回動軸434bを中心としてカセット部43が回動する。すなわち、上記の第1ギヤ434a、回動軸434b、第2ギヤ434c、およびモータ434dが、カセット部43を回動させるための回動機構434を構成している。回動機構434は、第1収納部431がハンド部41側を向く状態と、第2収納部432がハンド部41側を向く状態とを切り替えることができる。
FIG. 9 is a diagram showing the configuration of the drive mechanism connected to the
また、カセット部43の側方には、鉛直方向に立設されたボールネジ435aと、ボールネジを回転させるためのモータ(例えば、ACサーボモータ)435bと、ボールネジ435aに沿ってのびるガイド軸435cとが設けられている。そして、上記の昇降台44は、ボールネジ435aおよびガイド軸435cに連結されている。このため、モータ435bを動作させると、ボールネジ435aが回転し、昇降台44および昇降台44上の回動機構434およびカセット部43が、ガイド軸435cに沿って昇降移動する。すなわち、上記のボールネジ435a、モータ435b、およびガイド軸435cが、カセット部43を昇降移動させるための昇降機構435を構成している。昇降機構435は、アパーチャAPの取り出しまたは収納を行う段に応じてカセット部43の高さを調節することができる。
Further, on the side of the
なお、カセット部43は昇降台44の上部から取り外し可能となっている。オペレータは、第1収納部431からアパーチャAPを取り出したり、第2収納部432にアパーチャAPを挿入したりするときには、昇降台44上からカセット部43を取り外して作業を行う。
The
制御部50は、パターン描画装置1内の上記各部の動作を制御するための処理部である。図10は、パターン描画装置1の上記各部と制御部50との間の接続構成を示したブロック図である。図10に示したように、制御部50は、上記のリニアモータ21a,23a,25a、レーザ駆動部35、照明光学系33、投影光学系37、当接ピン駆動部363a、進退機構364、モータ413,421b,422b,434d,435bと電気的に接続されており、これらの動作を制御する。なお、制御部50は、例えば、CPUやメモリを有するコンピュータにより構成され、コンピュータにインストールされたプログラムに従ってコンピュータが動作することにより上記の制御を行う。
The
このようなパターン描画装置1において描画処理を行うときには、入力された描画データに従い、ステージ10を主走査方向および副走査方向に移動させつつ、各光学ヘッド32a,32b,…,32gからパルス光を照射し、基板9上にパターンを描画する。具体的には、まず、ステージ10を主走査方向に移動させつつ、各光学ヘッド32a,32b,…,32gからパルス光を照射する。これにより、基板9の上面には所定の露光幅(例えば50mm幅)で複数本のパターンが主走査方向に描画される。1回の主走査方向への描画が終了すると、パターン描画装置1は、ステージ10を副走査方向に露光幅分だけ移動させ、ステージ10を再び主走査方向に移動させつつ、各光学ヘッド32a,32b,…,32gからパルス光を照射する。このように、パターン描画装置1は、光学ヘッド32a,32b,…,32gの露光幅ずつ基板9を副走査方向にずらしながら、主走査方向への描画を所定回数(例えば4回)繰り返すことにより、基板9上にカラーフィルタ用のパターンを描画する。
When performing a drawing process in such a
<2.アパーチャ交換時の動作>
続いて、上記のパターン描画装置1において各光学ヘッド32a,32b,…,32gに搭載されたアパーチャAPを交換するときの動作について、図11のフローチャートおよび図12〜図22の動作状態図を参照しつつ説明する。なお、図12〜図22の動作状態図の中では、使用済みのアパーチャAPは無地の矩形で示されており、また、交換用のアパーチャAPはハッチング付きの矩形で示されている。
<2. Operation during aperture replacement>
Subsequently, regarding the operation when the aperture AP mounted on each of the
このパターン描画装置1においてアパーチャAPを交換するときには、まず、オペレータが、カセット部43を昇降台44上から取り外し、カセット部43の第2収納部432の7つの段にそれぞれ交換用のアパーチャAPを挿入する。そして、オペレータは、カセット部43を昇降台44上にセットする(ステップS1)。オペレータは、カセット部43を所定方向(例えば、第1収納部431が+Y側を向く方向)にセットするが、セット後に回動機構434が動作し、第1収納部431がハンド部41側を向くようにカセット部43の向きが調整される。その後、オペレータは制御部50に対して所定の指示入力を行い、当該指示入力に基づいて、パターン描画装置1がアパーチャAPの自動交換処理を開始する。
When replacing the aperture AP in the
パターン描画装置1は、まず、昇降機構434によりカセット部43の高さ位置を調節する(ステップS2)。これにより、第1収納部431の最上段がハンド部41と同等の高さに位置決めされ、第1収納部431は、最上段へのアパーチャAPの挿入を待ち受ける状態となる。次に、アパーチャ交換部40は、横行機構422を動作させ、最も−X側の光学ヘッド32gよりも更に−X側の位置までハンド部41を移動させる(ステップS3,図12の状態)。その後、光学ヘッド32gは、進退機構364によりアパーチャユニット36を−Y方向に進出させる(ステップS4,図13の状態)。このとき、ハンド部41は光学ヘッド32gよりも−X側に位置しているため、アパーチャユニット36とハンド部41とが干渉することはない。
First, the
−Y側に進出したアパーチャユニット36は、当接ピン駆動部363aにより当接ピン363を後退させ(図3参照)、アパーチャAPの固定を解除する。一方、アパーチャ交換部40は、ハンド部41をアパーチャユニット36に接近させ、載置台361の切り欠き部361に保持爪411,412を挿入させるとともに、載置台361上のアパーチャAPを保持爪411,412で摘んで保持する(ステップS5,図14の状態)。そして、アパーチャ交換部40は、ハンド部41を若干上昇させるとともに−X方向に後退させ、アパーチャユニット36からアパーチャAPを取り出す(ステップS6)。
The
アパーチャユニット36からアパーチャAPが取り出されると、光学ヘッド32gは、進退機構364によりアパーチャユニット36を後退させる(ステップS7,図15の状態)。これにより、ハンド部41とカセット部43との間にアパーチャAPの搬送経路が確保される。その後、アパーチャ交換部40は、ハンド部41を+X方向に移動させて、アパーチャAPをカセット部43まで搬送する(ステップS8)。ハンド部41は、カセット部43に接近すると、第1収納部431の最上段にアパーチャAPを挿入し、アパーチャAPを若干下降させるとともにアパーチャAPの保持を解除することにより、アパーチャAPをガイド部433上に載置する(ステップS9,図16の状態)。
When the aperture AP is taken out from the
第1収納部431の最上段にアパーチャAPが収納されると、ハンド部41は−X側に一旦退避する。そして、カセット部43は、回動機構433により回動され、第2収納部432がハンド部41側を向く状態に切り替えられる(ステップS10,図17の状態)。その後、ハンド部41は再びカセット部43に接近し、第2収納部432の最上段に収納された交換用のアパーチャAPを保持爪411,412で摘んで保持する(図18の状態)。そして、ハンド部41を若干上昇させるとともにハンド部41を−X側に後退させることにより、第2収納部432からアパーチャAPを取り出す(ステップS11)。
When the aperture AP is stored in the uppermost stage of the
第2収納部432からアパーチャAPが取り出されると、ハンド部41は、光学ヘッド32gよりも−X側の位置まで移動することにより、アパーチャAPを−X方向に搬送する(ステップS12,図19の状態)。そして、光学ヘッド32gは、進退機構364によりアパーチャユニット36を−Y方向に進出させる(ステップS13,図20の状態)。
When the aperture AP is taken out from the
アパーチャ交換部40は、−Y方向に進出されたアパーチャユニット36にハンド部41を接近させ、ハンド部41を若干下降させるとともにアパーチャAPの保持を解除することにより、アパーチャAPを載置台361上に載置する(ステップS14,図21の状態)。アパーチャユニット36は、一対の当接ピン363を前進させることによりアパーチャAPを固定する。その後、ハンド部41が−X方向に退避するとともに、アパーチャユニット36が+Y方向に後退し、光学ヘッド32gについてのアパーチャAPの交換処理が終了する(ステップS15,図22の状態)。
The
光学ヘッド32gについてのアパーチャAPの交換処理が終了すると、パターン描画装置1は、回動機構433によりカセット部43を回動させ、第1収納部431がハンド部41側を向く状態に切り替える(ステップS16)。そして、ステップS2に戻り、第1収納部431の上から2つ目の段がハンド部41と同等の高さとなるようにカセット部43の高さ位置を調節する。その後、光学ヘッド32fについてステップS3〜S16の動作を再び行い、光学ヘッド32fについてのアパーチャAPの交換処理を行う。
When the aperture AP replacement process for the
以下、カセット部43の高さ位置を一段ずつ上昇させながら残りの光学ヘッド32e,32d,32c,32b,32aについても同様の動作を順次に行い、各光学ヘッドに搭載されたアパーチャAPの交換処理を行う。その結果、カセット部43の第1収納部431には、光学ヘッド32g,32f,32e,32d,32c,32b,32aから取り出された使用済みのアパーチャAPが上段から順に収納される。また、交換用のアパーチャAPは、第2収納部432の上段から順に取り出され、光学ヘッド32g,32f,32e,32d,32c,32b,32aの各アパーチャユニット36に搭載される。そして、全ての光学ヘッド32a〜32gについてアパーチャAPの交換処理が完了すると、パターン描画装置1は、アパーチャAPの自動交換処理を終了する。
Thereafter, the same operation is sequentially performed on the remaining
以上のように、このパターン描画装置1は、主としてアパーチャ交換部40とアパーチャユニット36とを制御部50からの指令に基づいて動作させることにより、各光学ヘッド32a,32b,…,32gに搭載されたアパーチャAPの交換処理を行う。具体的には、複数の光学ヘッド32a〜32gに沿ってハンド部41を移動させ、−Y側へ進出させたアパーチャユニット36に対してハンド部41を接近および離間させることにより、アパーチャAPの受け渡しを行う。このため、アパーチャAPを自動的かつ効率よく交換することができ、アパーチャAPの汚染も防止することができる。
As described above, the
また、このパターン描画装置1のハンド部41は、一対の保持爪411,412によりアパーチャAPの端部を摘むことによりアパーチャAPを保持する。このため、アパーチャユニット36およびカセット部43の深い位置までハンド部41を挿入することなく、アパーチャAPの受け渡しを行うことができる。
Further, the
<3.変形例>
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記の例に限定されるものではない。例えば、上記のパターン描画装置1は、モータとボールネジとを組み合わせた機構や、リニアモータを用いた機構により、各部の動作を実現していたが、他の公知の駆動機構を利用して同等の動作を実現する構成であってもよい。
<3. Modification>
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, this invention is not limited to said example. For example, the
また、上記のパターン描画装置1では、進退機構364によりアパーチャユニット36を−Y側に進出させ、ハンド移動機構42の横行機構422を利用してハンド部41をアパーチャユニット36に接近させる構成であったが、必ずしもこのような動作関係でなくてもよい。例えば、ハンド部41を主走査方向に進退移動させる機構を追加し、各光学ヘッド32a,32b,…,32g内で静止するアパーチャユニット36内にハンド部41を−Y側から接近させる構成であってもよい。
In the
また、上記のパターン描画装置1では、カセット部43は2つの収納部431,432を有していたが、収納部431は1つであってもよく、また、シャフト433bの周りに回動可能な3つ以上の収納部を設けた構成であってもよい。
In the
また、上記のパターン描画装置1は、7つの光学ヘッド32a〜32gを有するものであったが、光学ヘッドの数は7つに限定されるものではない。また、上記のパターン描画装置1は、カラーフィルタ用のガラス基板9を処理対象としていたが、TFT(Thin Film Transistor)用のガラス基板、半導体基板、プリント基板、プラズマ表示装置用ガラス基板等の他の基板を処理対象とするものであってもよい。
Moreover, although said
1 パターン描画装置
9 基板
10 ステージ
20 ステージ駆動部
30 ヘッド部
32a〜32g 光学ヘッド
36 アパーチャユニット
40 アパーチャ交換部
41 ハンド部
42 ハンド移動機構
43 カセット部
361b 切り欠き部
362,363 当接ピン
364 進退機構
411、412 保持爪
421 昇降機構
422 横行機構
431 第1収納部
432 第2収納部
433 ガイド部
434 回動機構
435 昇降機構
50 制御部
AP アパーチャ
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記複数の光学ヘッドのそれぞれにおいて、所定のパターン形状に光を透過させるためのアパーチャ部材を保持するアパーチャ保持手段と、
前記アパーチャ保持手段に保持されるアパーチャ部材を交換するアパーチャ交換手段と、
を備え、
前記アパーチャ交換手段は、
前記アパーチャ部材を保持しつつ搬送するハンド部と、
前記ハンド部を、少なくとも前記複数の光学ヘッドが配列された範囲内に亘って前記所定方向と平行な方向に移動させる移動手段と、
前記移動手段により前記ハンド部を前記複数のアパーチャ保持手段のそれぞれに対向する位置に移動させた後、前記ハンド部を前記アパーチャ保持手段に対して接近および離間させることにより、前記アパーチャ保持手段と前記ハンド部との間でアパーチャ部材の受け渡しを行う制御手段と、
を有することを特徴とするパターン描画装置。 In a pattern drawing apparatus that draws a pattern on the surface of a substrate by irradiating light toward the substrate from a plurality of optical heads arranged along a predetermined direction,
Aperture holding means for holding an aperture member for transmitting light in a predetermined pattern shape in each of the plurality of optical heads;
Aperture replacement means for replacing the aperture member held by the aperture holding means;
With
The aperture exchange means is
A hand unit that conveys the aperture member while holding the aperture member;
Moving means for moving the hand unit in a direction parallel to the predetermined direction over at least a range in which the plurality of optical heads are arranged;
After the hand unit is moved to a position facing each of the plurality of aperture holding units by the moving unit, the hand unit is moved closer to and away from the aperture holding unit, thereby the aperture holding unit and the aperture holding unit. Control means for delivering the aperture member to and from the hand unit;
A pattern drawing apparatus comprising:
前記アパーチャ保持手段を、前記光学ヘッド内の照射位置と前記ハンド部の移動経路上の位置との間で進退移動させる進退手段を更に備えることを特徴とするパターン描画装置。 The pattern drawing apparatus according to claim 1,
The pattern drawing apparatus, further comprising: advancing / retreating means for moving the aperture holding means back and forth between an irradiation position in the optical head and a position on a moving path of the hand unit.
前記ハンド部は、一対の保持爪によりアパーチャ部材の端部を摘むことによりアパーチャ部材を保持することを特徴とするパターン描画装置。 The pattern drawing apparatus according to claim 1 or 2,
The pattern drawing apparatus, wherein the hand unit holds the aperture member by gripping an end portion of the aperture member with a pair of holding claws.
前記アパーチャ保持手段は、前記ハンド部の進入を許容するための切り欠き部を有することを特徴とするパターン描画装置。 In the pattern drawing apparatus in any one of Claim 1- Claim 3,
The pattern drawing apparatus, wherein the aperture holding means has a notch for allowing the hand portion to enter.
前記移動手段による前記ハンド部の移動経路上に配置され、アパーチャ部材を収納するカセット部を更に備えることを特徴とするパターン描画装置。 The pattern drawing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
A pattern drawing apparatus, further comprising a cassette unit disposed on a moving path of the hand unit by the moving unit and storing an aperture member.
前記カセット部は、複数のアパーチャ部材を上下方向に多段に収納するものであり、
前記カセット部を昇降移動させる昇降手段を更に備えることを特徴とするパターン描画装置。 The pattern drawing apparatus according to claim 5, wherein
The cassette unit is for storing a plurality of aperture members in multiple stages in the vertical direction,
A pattern drawing apparatus, further comprising elevating means for elevating and moving the cassette unit.
前記カセット部は、所定の回動軸の周囲に複数の収納部を有し、
前記回動軸を中心として前記カセット部を回動させる回動手段を更に備えることを特徴とするパターン描画装置。 In the pattern drawing apparatus according to claim 5 or 6,
The cassette unit has a plurality of storage units around a predetermined rotation axis,
A pattern drawing apparatus, further comprising a rotating means for rotating the cassette portion about the rotation axis.
前記カセット部は、アパーチャ部材の両端部を保持するためのガイド部を有し、
前記ガイド部は、アパーチャ部材の両端部を載置する載置面と、前記載置面の外側においてせり上がるテーパ面とを有することを特徴とするパターン描画装置。 In the pattern drawing apparatus in any one of Claim 5 to Claim 7,
The cassette portion has guide portions for holding both end portions of the aperture member,
The pattern drawing apparatus, wherein the guide portion includes a placement surface on which both end portions of the aperture member are placed, and a tapered surface that rises outside the placement surface.
前記アパーチャ保持手段は、アパーチャ部材を固定する状態と、アパーチャ部材の固定を解除する状態とを切り替える固定解除手段を有することを特徴とするパターン描画装置。 In the pattern drawing apparatus in any one of Claim 1- Claim 8,
The pattern drawing apparatus, wherein the aperture holding means includes fixing release means for switching between a state of fixing the aperture member and a state of releasing the fixing of the aperture member.
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Cited By (1)
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