JP2008122091A - Method for evaluating cantilever resonance characteristics - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、走査型プローブ顕微鏡(SPM:Scanning Probe Microscope)に属し、その内の原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)に関しており、特にダイナミックモードで使用するAFMのカンチレバー共振特性評価法に関している。 The present invention belongs to a scanning probe microscope (SPM), and relates to an atomic force microscope (AFM), and more particularly, to a method for evaluating a cantilever resonance characteristic of an AFM used in a dynamic mode. .
走査型プローブ顕微鏡は、走査型トンネル顕微鏡(STM:Scanning Tunneling Microscope)や原子間力顕微鏡に分類される。原子間力顕微鏡は、探針を用いて絶縁物試料の表面や、液体中にある試料の表面を撫でることで原子サイズでの観察を行なうことができることから広範に用いられている。観察用の探針は、カンチレバーの先端に固定され、カンチレバーの動きから探針の動きを検出している。観察の形態は、カンチレバーの動作によって、スタティックモードとダイナミックモード、あるいは、間欠接触モードに分類される。また、試料と探針が接触する接触(コンタクト)モードと、接触しない非接触(ノンコンタクト)モードにも分類される。 The scanning probe microscope is classified into a scanning tunneling microscope (STM) and an atomic force microscope. Atomic force microscopes are widely used because they can be observed at the atomic size by stroking the surface of an insulator sample or the surface of a sample in a liquid using a probe. The observation probe is fixed to the tip of the cantilever, and the movement of the probe is detected from the movement of the cantilever. The form of observation is classified into a static mode and a dynamic mode, or an intermittent contact mode, depending on the operation of the cantilever. Moreover, it is classified into a contact (contact) mode in which the sample and the probe are in contact and a non-contact (non-contact) mode in which the sample and the probe are not in contact.
また、特殊な使用方法として、ダイナミックモードに使用するAFMの探針を試料に接触させた状態で使用することにより超音波顕微鏡として用いて局所弾性を検出する例もある。本発明は、このような用途にも用いることができる。 In addition, as a special method of use, there is an example in which local elasticity is detected using an ultrasonic microscope by using an AFM probe used in a dynamic mode in contact with a sample. The present invention can also be used for such applications.
例えば、スタティックモードでは、カンチレバーに特別な振動を与えない。試料と探針の距離の制御は、カンチレバーのたわみの大きさから測定された力を用いる。この力と探針−試料間の距離の関係は、探針−試料間の距離と力の関係のグラフ(フォースカーブ)を得ることで計測することが可能である。 For example, in the static mode, no special vibration is given to the cantilever. The distance between the sample and the probe is controlled using a force measured from the deflection of the cantilever. The relationship between the force and the distance between the probe and the sample can be measured by obtaining a graph (force curve) of the relationship between the distance between the probe and the sample and the force.
AFMにおける画像化は、スタティックモードで用いる場合は、探針が試料の表面から受ける原子間力あるいは分子間力によって起こるカンチレバーのたわみを検出してそれをマッピングするものである。通常は、カンチレバーのたわみが一定になるように探針と試料間の距離を制御し、その制御信号をマッピングして画像化する。 Imaging in AFM, when used in the static mode, detects and maps cantilever deflection caused by the atomic or intermolecular force that the probe receives from the surface of the sample. Usually, the distance between the probe and the sample is controlled so that the deflection of the cantilever is constant, and the control signal is mapped and imaged.
一方、ダイナミックモードでは、カンチレバーに微小の振動を与える。この振動は、探針を試料に近づける、あるいは間欠接触させた状態で、試料と探針の距離が一定になるように制御を行うために用いる。より具体的には、探針の振動を検出し、これを帰還信号として用いることで、カンチレバーの振動振幅や共振周波数が一定となるように制御を行う。例えば、カンチレバー振幅一定の制御を行うダイナミックモードにおいては、探針と試料の相互作用のある状態で、共振特性を得ることにより、探針−試料間の距離と相互作用(共振周波数および共振定数)の関係を得ることが可能になる。これの結果をマッピングすることで表面状態を画像化することができる。 On the other hand, in the dynamic mode, a minute vibration is given to the cantilever. This vibration is used to control the distance between the sample and the probe to be constant while the probe is brought close to the sample or in intermittent contact. More specifically, the vibration of the probe is detected and used as a feedback signal, thereby controlling the vibration amplitude and resonance frequency of the cantilever to be constant. For example, in the dynamic mode in which the control of the cantilever amplitude is constant, the distance between the probe and the sample and the interaction (resonance frequency and resonance constant) are obtained by obtaining the resonance characteristics in a state where the probe and the sample interact. It becomes possible to obtain the relationship. By mapping these results, the surface state can be imaged.
より具体的には、以下の様にする。つまり、ダイナミックモードで用いる場合は、カンチレバーを微細に振動させ、その振動振幅を観察するが、その際に、カンチレバーをその固有振動周波数近くで励振することにより固有振動付近での安定な振動を持続させることができる。一般に、カンチレバーの固有振動数は、探針が引力や斥力の外力を受けることによって、低周波数側または高周波側にずれることが知られており、ダイナミックモードでは、この固有振動数のずれ、または、固有振動のずれにより、励振周波数と固有振動の周波数の差が変化するために起こる振幅変化を検出して用いる。つまり、帰還回路を用いて、このずれが相殺されるように探針と試料間の距離を制御し、その際の制御信号、または、カンチレバーの位置情報(Z軸の上下)を画像化する。この帰還回路の帰還信号には
、共振の中心点の移動や、カンチレバーの振動振幅の変化、あるいは共振の中心点付近における位相値が用いられる。
More specifically, it is as follows. In other words, when used in the dynamic mode, the cantilever is vibrated finely and the vibration amplitude is observed, but at that time, the cantilever is excited near its natural vibration frequency to maintain stable vibration near the natural vibration. Can be made. Generally, it is known that the natural frequency of the cantilever shifts to the low frequency side or the high frequency side when the probe receives an external force such as attractive force or repulsive force. A change in amplitude that occurs because the difference between the excitation frequency and the natural vibration frequency changes due to the deviation of the natural vibration is detected and used. In other words, the feedback circuit is used to control the distance between the probe and the sample so that the deviation is offset, and the control signal or the cantilever position information (up and down on the Z axis) is imaged. For the feedback signal of this feedback circuit, the movement of the resonance center point, the change in the vibration amplitude of the cantilever, or the phase value near the resonance center point is used.
例えば、図6(a)は共振の中心点の周波数を制御する周波数制御に関するものである。探針が試料からある程度離れている場合の共振特性イと、探針と試料がさらに接近する場合の共振特性ロを示すように、共振周波数の差δfが生じる。この差δfが生じないように探針と試料間の距離を制御すると、その制御信号が試料の凹凸に関する信号となる。このように共振周波数を一定に保つためには、(1)共振特性の全体像あるいはその一部を描き出して、その中心が変化しないようにするように探針と試料間の距離を制御し、その制御信号の分布を画像化するのが周波数制御方式である。 For example, FIG. 6A relates to frequency control for controlling the frequency of the resonance center point. A resonance frequency difference δf is generated, as shown by a resonance characteristic a when the probe is separated from the sample to some extent and a resonance characteristic b when the probe and the sample are further closer. When the distance between the probe and the sample is controlled so that this difference δf does not occur, the control signal becomes a signal related to the unevenness of the sample. In order to keep the resonance frequency constant in this way, (1) the entire image of the resonance characteristics or a part thereof is drawn, and the distance between the probe and the sample is controlled so that the center does not change, The frequency control method is to image the distribution of the control signal.
また、図6(b)は、振幅制御に関するものである。共振特性が上記と同様にしてずれる場合で、共振特性の中心周波数の近く、周波数f、で励振する場合に、共振周波数が周波数fにより近い場合に振動振幅が大きくなることがわかる。その振動振幅を検出して帰還信号に用い、上記と同様に差δfを相殺するように探針と試料間の距離を制御し、この振動振幅が一定になるようにして、その制御信号を試料の凹凸に関する信号として用いるのが振幅制御方式である。この場合、探針が試料と相互作用(ファンデルワールス力)、または、接触することによるカンチレバーの振幅の減衰も含めて、振幅制御される。 FIG. 6B relates to amplitude control. It can be seen that when the resonance characteristics are shifted in the same manner as described above, when the excitation is performed at the frequency f near the center frequency of the resonance characteristics, the vibration amplitude increases when the resonance frequency is closer to the frequency f. The vibration amplitude is detected and used as a feedback signal. Similarly to the above, the distance between the probe and the sample is controlled so as to cancel the difference δf, and the control signal is used so that the vibration amplitude becomes constant. The amplitude control method is used as a signal relating to the unevenness of the above. In this case, the amplitude is controlled including the attenuation of the amplitude of the cantilever due to the interaction of the probe with the sample (Van der Waals force) or contact.
ダイナミックモードのAFMの例を図7に示す。この構成では、カンチレバーで反射された光を2分割あるいは4分割構成の光電変換器で電気信号に変換し、これをZ軸制御に用いる。そのZ軸制御信号とXY面をスキャンする信号とを用いて画像化処理を行なって三次元限表示する。このZ軸制御には、上記のような振幅制御や周波数制御を行う。 An example of the AFM in the dynamic mode is shown in FIG. In this configuration, the light reflected by the cantilever is converted into an electric signal by a photoelectric converter having a two-part or four-part structure, and this is used for Z-axis control. The Z-axis control signal and the signal for scanning the XY plane are used to perform an imaging process to display a three-dimensional limit. In this Z-axis control, amplitude control and frequency control as described above are performed.
その他に、共振点でおこる位相の変化を利用する方法も考えられる。励振信号と検出信号とを比較してみると、共振点の前後で位相の極性が変化することが知られており、この移相値を相殺するように探針と試料間の距離を制御して画像化してもよいことは明らかである。 In addition, a method using a phase change occurring at the resonance point is also conceivable. Comparing the excitation signal and the detection signal, it is known that the polarity of the phase changes before and after the resonance point, and the distance between the probe and the sample is controlled to cancel this phase shift value. Obviously, it may be imaged.
特許文献1では、原子間力顕微鏡における試料観察方法が開示されている。この方法は、カンチレバーに取り付けられた探針を試料に接触させた状態で、カンチレバーが常に共振状態となるようにカンチレバーを励振し、その共振状態におけるカンチレバーの振幅を検出し、その検出された振幅に基づいてカンチレバーのQ値を求めるものである。
また、特許文献2では、振幅変調した励振信号を用いているが、その励振信号を試料と探針間の電界として、または、磁界発生手段の駆動信号として印加している。
In
本発明では、共振特性を直接測定するものであり、上記のようにQ値を間接的に決定するものではない。特許文献1の開示では、共振特性の形状が予め得られている場合は、Q値をほぼ正確に評価することは可能であるが、決まった形状を示さない場合は、誤ったQ値を得ることになる。また、特許文献2の開示では、導電性の探針や磁性体の探針を用いることになり、探針の材料が制限されている。
AFMのカンチレバーの共振特性は、測定試料から離間している場合は、鋭い特性を示
すが、AFMとして使う場合の共振特性は、試料に依存して共振特性がなだらかになることが知られている。これは、カンチレバー自体の特性に加えて、探針から試料に振動エネルギーを散逸するためである。逆に、カンチレバーの共振特性を評価することによって、散逸に関する分布図をつくることができ、試料の表面構造あるいは内部構造についての知見を得ることができる。
The resonance characteristics of the AFM cantilever are sharp when separated from the measurement sample, but the resonance characteristics when used as an AFM are known to be gentle depending on the sample. . This is to dissipate vibration energy from the probe to the sample in addition to the characteristics of the cantilever itself. Conversely, by evaluating the resonance characteristics of the cantilever, a distribution map regarding dissipation can be created, and knowledge about the surface structure or internal structure of the sample can be obtained.
カンチレバーを励振しその振動を検出する回路は、共振特性をもった電気回路と見なすことが出来る。一般に、電気回路の共振特性は、ネットワークアナライザを用いて測定される。しかし、この場合、周波数を変化させて伝達特性を測定することが問題となる。つまり、ネットワークアナライザをカンチレバーに適用する場合は、その共振周波数に注目する。このため、その共振周波数近くで周波数を変化させて伝達特性を測定することになる。当然のことながら、カンチレバーを励振する周波数を変化させると探針の振動振幅が変化する。このため、試料と探針の距離が変化して、その相互作用が変化してしまう。探針の振動振幅を一定にして共振特性を測定するには、その振動振幅を変えない様にしつつカンチレバーの振動を励振するために印加する信号の強度を調整する必要がある。しかし、励振信号の強度を増すに従って、高次の振動モードが出やすくなり、周波数特性を取得する上で障害となる。このように、試料と接触状態を一定に保ったままの状態で、共振特性を取得することは困難であった。 A circuit that excites the cantilever and detects the vibration can be regarded as an electric circuit having resonance characteristics. In general, the resonance characteristics of an electric circuit are measured using a network analyzer. However, in this case, it is problematic to measure the transfer characteristics by changing the frequency. That is, when applying a network analyzer to a cantilever, pay attention to its resonance frequency. For this reason, the transfer characteristic is measured by changing the frequency near the resonance frequency. As a matter of course, when the frequency for exciting the cantilever is changed, the vibration amplitude of the probe changes. For this reason, the distance between the sample and the probe changes, and the interaction changes. In order to measure the resonance characteristics while keeping the vibration amplitude of the probe constant, it is necessary to adjust the intensity of the signal applied in order to excite the vibration of the cantilever without changing the vibration amplitude. However, as the intensity of the excitation signal is increased, higher-order vibration modes are likely to occur, which is an obstacle to obtaining the frequency characteristics. As described above, it is difficult to obtain the resonance characteristics while keeping the contact state with the sample constant.
また、AFMを非接触ダイナミックモードで使用する場合は、試料と探針間の距離を一定に制御するために、励振信号の強度を一定にして、探針の振動振幅が一定になるように試料と探針間の距離を調整する(振幅制御方式)。あるいは、カンチレバーの共振周波数が一定になるように試料と探針間の距離を調整する(周波数制御方式)。しかし、不均質な試料を計測する場合には、カンチレバーの振動エネルギーの散逸特性もまた不均一であるため、振幅一定の制御では試料と探針の距離を一定に保つことが不可能であり、高さ変化に対応しない画像データとなることがある。また、周波数制御方式においては、共振周波数の変化は、探針と試料との相互作用の結果生じるものであることから、上記の振幅制御方式と類似の事情により、この方式でも、不均質な試料の場合には、試料と探針の距離を一定に保つことができない。これを補正するには、力とエネルギー散逸量と試料−探針間の距離の関係を得ることが必要である。本発明は、このような議論の基礎データとなる共振特性を容易に得るための方法を提案する。 When AFM is used in the non-contact dynamic mode, in order to keep the distance between the sample and the probe constant, the intensity of the excitation signal is made constant and the vibration amplitude of the probe is made constant. Adjust the distance between the probe and the probe (amplitude control method). Alternatively, the distance between the sample and the probe is adjusted so that the resonance frequency of the cantilever is constant (frequency control method). However, when measuring an inhomogeneous sample, the dissipative characteristics of the vibration energy of the cantilever are also inhomogeneous, so it is impossible to keep the distance between the sample and the probe constant with constant amplitude control. The image data may not correspond to the height change. In the frequency control method, the change in the resonance frequency is a result of the interaction between the probe and the sample. In this case, the distance between the sample and the probe cannot be kept constant. In order to correct this, it is necessary to obtain the relationship among the force, the amount of energy dissipation, and the distance between the sample and the probe. The present invention proposes a method for easily obtaining the resonance characteristics as basic data for such discussion.
この発明のAFMでは、ダイナミックモードで使用する際に、容易にカンチレバーの共振特性を得ることができる。 The AFM of the present invention can easily obtain the cantilever resonance characteristics when used in the dynamic mode.
まず、本発明は、カンチレバー共振特性評価法であって、探針のついたカンチレバーと、該カンチレバーの振動を励振する励振素子と、該励振素子を駆動するための電気信号発生器と、カンチレバーの振動を検出する振動検出素子と、該振動検出素子からの信号の周波数分布を分析するスペクトル分析器と、当該スペクトル分析器の出力から測定しようとする値を導く演算装置と、を備えた原子間力顕微鏡をダイナミックモードで用いて試料を観測することを想定する。この原子間力顕微鏡を用いた観測において、
(1)単一周波数成分を主成分としカンチレバーの位置を制御するための位置制御電気信号に、上記の電気信号の主成分の周波数成分の近傍にある複数の周波数成分をもった付加電気信号を加えた合成電気信号で駆動する励振素子で上記のカンチレバーの振動を励振し、
(2)上記のカンチレバーの振動を振動検出素子で検出して検出信号に変換し、
上記の検出信号の周波数分布を得て、
(3)得られた周波数分布から、カンチレバーの共振特性を導出することを特徴とする。
First, the present invention is a cantilever resonance characteristic evaluation method, comprising a cantilever with a probe, an excitation element for exciting the vibration of the cantilever, an electric signal generator for driving the excitation element, and a cantilever An interatomic unit comprising: a vibration detection element that detects vibration; a spectrum analyzer that analyzes a frequency distribution of a signal from the vibration detection element; and an arithmetic unit that derives a value to be measured from the output of the spectrum analyzer. Assume that a sample is observed using a force microscope in dynamic mode. In observation using this atomic force microscope,
(1) An additional electric signal having a plurality of frequency components in the vicinity of the frequency component of the main component of the electric signal is added to the position control electric signal for controlling the position of the cantilever whose main component is a single frequency component. Exciting the vibration of the above cantilever with the excitation element that is driven by the added composite electrical signal,
(2) The vibration of the cantilever is detected by a vibration detecting element and converted into a detection signal,
Obtain the frequency distribution of the above detection signal,
(3) The resonance characteristic of the cantilever is derived from the obtained frequency distribution.
また、本発明は、上記の付加電気信号は、上記の位置制御電気信号の主成分の周波数を含む周波数帯にあり、上記の付加信号の周波数に対する振幅分布において、周波数に対する強度分布を上記のスペクトル強度で除して、カンチレバーの共振特性を得るものである。 Further, according to the present invention, the additional electric signal is in a frequency band including a frequency of a main component of the position control electric signal, and the amplitude distribution with respect to the frequency in the amplitude distribution with respect to the frequency of the additional signal has the spectrum described above. By dividing by the strength, the resonance characteristics of the cantilever are obtained.
さらに、上記の付加信号は、予め決められた周波数領域で、周波数が周期的に変化する信号である。 Further, the additional signal is a signal whose frequency periodically changes in a predetermined frequency region.
特に、付加電気信号の振幅は、位置制御電気信号に比べて小さいものとする。 In particular, the amplitude of the additional electrical signal is smaller than that of the position control electrical signal.
また、上記の合成電気信号は、位置制御電気信号を複数の周波数成分からなる予め決められた変調信号で変調して得たものである。 The synthesized electric signal is obtained by modulating the position control electric signal with a predetermined modulation signal composed of a plurality of frequency components.
また、上記の変調信号は、予め決められた密度分布をもった雑音信号である。 The modulated signal is a noise signal having a predetermined density distribution.
さらに、本発明のカンチレバー共振特性評価法は、
探針のついたカンチレバーと、該カンチレバーの振動を励振する励振素子と、該励振素子を駆動するための電気信号発生器と、カンチレバーの振動を検出する振動検出素子と、該振動検出素子からの信号の周波数分布を分析するスペクトル分析器と、該スペクトル分析器の出力から測定しようとする値を導く演算装置と、を備えた原子間力顕微鏡をダイナミックモードで用いて試料を観測する場合に適用するもので、
(1)カンチレバーの共振周波数を含む予め決められた幅の周波数帯で周波数の変化する励振用電気信号で駆動する励振素子で上記のカンチレバーの振動を励振し、
(2)上記のカンチレバーの振動を振動検出素子で検出して電気検出信号に変換し、
(3)上記の電気検出信号の周波数分布を得て、
(4)得られた周波数分布から、カンチレバーの共振点を見出し、
(5)上記の共振点の周波数を帰還情報として、上記のカンチレバーと観測試料との距離を制御するものである。
Furthermore, the cantilever resonance characteristic evaluation method of the present invention is:
A cantilever with a probe, an excitation element for exciting the vibration of the cantilever, an electric signal generator for driving the excitation element, a vibration detection element for detecting the vibration of the cantilever, and from the vibration detection element Applicable when observing a sample using an atomic force microscope equipped with a spectrum analyzer that analyzes the frequency distribution of the signal and an arithmetic unit that derives a value to be measured from the output of the spectrum analyzer in a dynamic mode What to do
(1) Exciting the vibration of the cantilever with an excitation element driven by an electrical signal for excitation whose frequency changes in a frequency band of a predetermined width including the resonance frequency of the cantilever,
(2) The vibration of the cantilever is detected by a vibration detecting element and converted into an electric detection signal,
(3) Obtaining the frequency distribution of the above electric detection signal,
(4) From the obtained frequency distribution, find the resonance point of the cantilever,
(5) The distance between the cantilever and the observation sample is controlled using the frequency of the resonance point as feedback information.
上記の励振用電気信号は、上記の予め決められた幅の周波数帯で、複数のピークを示すスペクトル、あるいは周波数分布の明らかな雑音信号スペクトルをもつものであればよい。 The excitation electrical signal may be any signal having a spectrum showing a plurality of peaks or a noise signal spectrum with a clear frequency distribution in the frequency band of the predetermined width.
本発明は、上記のカンチレバー共振特性評価法を観測試料の予め決められた複数の観測点について行い、さらに、観測点に対応した点に表示するものである。 In the present invention, the above-described cantilever resonance characteristic evaluation method is performed for a plurality of predetermined observation points of the observation sample, and further displayed at points corresponding to the observation points.
以下に、この発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。以下の説明においては、同じ機能あるいは類似の機能をもった装置に、特別な理由がない場合には、同じ符号を用いるものとする。 Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In the following description, devices having the same function or similar functions are denoted by the same reference numerals unless there is a special reason.
図1は、本発明を適用するためのAFMのブロック図である。観察試料2上に置かれた探針6をもったカンチレバー5で、レーザ光源3からの光を反射し、反射された光を4分割検出器8で光電変換し、成分抽出器9で、注目する変位の変位成分を抽出する。抽出された変位成分は、Z制御信号弁別器22で目的とする制御信号にする。この制御信号を、制御目標値設定部20で設定された目標値とZ制御信号出力発生部16で比較して誤差信号を発生する。この誤差信号を観察台1用のZ軸駆動部18に印加し、観察試料2と探針6の先端の距離を一定に保つ。
FIG. 1 is a block diagram of an AFM for applying the present invention. The
振動子7は励振素子であって、電歪効果あるいは磁歪効果を用いた振動子である。この振動子の振動でカンチレバー5を励振する。この振動子7には、Z制御用信号発生器14からの信号を信号合成・カンチレバー駆動部12で増幅した信号を印加する。信号合成・カンチレバー駆動部12では、Z制御用信号発生器14からの信号を共振特性計測用信号発生器13からの信号で変調する、あるいはそれらを合波することで合成する。
The vibrator 7 is an excitation element and is a vibrator using an electrostrictive effect or a magnetostrictive effect. The
Z制御用信号発生器14からの信号をZ制御用信号出力発生部16に印加するのは、Z制御信号弁別器22で弁別した信号からZ制御用信号を再生するためである。つまり、Z制御信号出力発生部16では、振幅制御方式の時には、Z制御用信号で、例えば、同期検波行う。また、周波数制御方式の時には、Z制御信号弁別器22でスペクトル分布の最大振幅の周波数位置を見出して、Z制御用信号発生器14からの信号と比較し、Z制御信号出力発生部16で誤差信号を発生する。前記のスペクトル分布としては、スペクトル分析器10からの出力を用いてもよい。
The reason why the signal from the Z
成分抽出器9からの出力は、また、スペクトル分析器10でカンチレバー5を励振する周波数帯でのスペクトルを分析する。このスペクトル強度は、共振特性計測用信号発生器13に含まれる励振信号のスペクトル強度に依存するため、共振特性計測用信号発生器13のスペクトル強度で規格化した後、表示/伝送部23で表示あるいは伝送する。
The output from the
Z軸駆動信号が観察試料2の表面凹凸を表すので、画像表示部19が、XYスキャン部18からの信号に対応する2次元平面にそれをマッピングする。
Since the Z-axis drive signal represents the surface unevenness of the
図2は、特に振幅制御を行う場合の構成を示すブロック図である。Z制御信号弁別器22からの信号をRMS−DC変換し誤差信号を発生する点において、図1の構成を特化したものである。この場合、Z制御信号弁別器22は、簡単な構成の場合には帯域濾波器である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration particularly when amplitude control is performed. The configuration shown in FIG. 1 is specialized in that the signal from the Z
図3は、共振特性計測用とZ制御用とそれぞれの振動子を用いる例を示すブロック図である。共振特性計測用信号発生器13からの信号はカンチレバー駆動部12aで増幅して振動子7aに印加する。同様に、Z制御用信号発生器14からの信号をカンチレバー駆動部12bで増幅して振動子7bに印加する。これによって、信号を合波する電気回路を省くことが出来、また、それぞれに適したカンチレバー駆動部を用いることができる。
FIG. 3 is a block diagram illustrating an example in which the respective resonators for resonance characteristic measurement and Z control are used. A signal from the resonance characteristic
上記のAFMを用いて試料表面を観察する場合に、Z制御用信号と共振特性計測用の信号とは複数の組み合わせから選択することができる。この例を図4、5に示す。図中、破線はカンチレバーの共振特性を、三角はZ制御用信号の周波数を示す。そのAは振幅制御方式用であり、Bは周波数制御方式用である。 When the sample surface is observed using the AFM, the Z control signal and the resonance characteristic measurement signal can be selected from a plurality of combinations. Examples of this are shown in FIGS. In the figure, the broken line indicates the resonance characteristic of the cantilever, and the triangle indicates the frequency of the Z control signal. A is for the amplitude control method, and B is for the frequency control method.
図4(a)は、共振特性計測用の信号として、周波数f1−f2間を掃引する掃引発振器からの信号を用い、周波数制御方式のZ制御用信号として周波数fbの信号を用いる。これらの2つの信号は、図1、2の構成のAFMについては合波するが、図3のAFMの場合は、電気的に合波する必要がない。faはカンチレバーの共振特性がピークとなる周波数である。この周波数掃引は、スペクトル分析器の掃引よりも早いことが望ましい。また、振幅制御方式で用いる場合は、fbの代わりに周波数faの信号のように共振特性の肩に位置する信号を用いる。これは、探針と観察試料間の距離を一定に保つための帰還を容易にするためである。積分制御や微分制御などの非線形制御が可能な場合は、ピークの位置でもよい事は明らかである。 In FIG. 4A, a signal from a sweep oscillator that sweeps between frequencies f1 and f2 is used as a resonance characteristic measurement signal, and a signal of frequency fb is used as a Z control signal in the frequency control method. These two signals are combined for the AFM of the configuration of FIGS. 1 and 2, but in the case of the AFM of FIG. 3, there is no need to electrically combine them. fa is a frequency at which the resonance characteristic of the cantilever peaks. This frequency sweep is preferably faster than the spectrum analyzer sweep. In the case of using the amplitude control method, a signal located on the shoulder of the resonance characteristic such as a signal of frequency fa is used instead of fb. This is for facilitating feedback to keep the distance between the probe and the observation sample constant. If nonlinear control such as integral control or differential control is possible, it is obvious that the peak position may be used.
また、図4(a)では、共振特性計測用の信号は、カンチレバーの共振特性と同様に、fbについて、ほぼ対称に書かれているが、これらは、対称である必要はなく、図4(b)に示す様に、共振特性計測用の信号帯域がカンチレバーの共振特性の帯域をカバーしていればよい。 Further, in FIG. 4A, the resonance characteristic measurement signal is written almost symmetrically with respect to fb, similarly to the resonance characteristic of the cantilever. However, these need not be symmetrical, and FIG. As shown in b), it suffices if the signal band for measuring resonance characteristics covers the band of resonance characteristics of the cantilever.
図4(c)では、Z制御用信号を帯域幅W1のノイズで振幅変調した例を示す。この場合には、図1の信号合成・カンチレバー駆動部12で行なう合成は変調である。また、帯域幅W1の非雑音信号で変調してもよい事は明らかである。
FIG. 4C shows an example in which the Z control signal is amplitude-modulated with noise of the bandwidth W1. In this case, the signal synthesis and synthesis performed by the
図4(d)では、Z制御用信号を帯域幅W1の信号で振幅変調した例を示す。この場合も、図1の信号合成・カンチレバー駆動部12で行なう合成は変調である。また、帯域幅W1のノイズ信号で変調してもよい事は明らかである。
FIG. 4D shows an example in which the Z control signal is amplitude-modulated with a signal of the bandwidth W1. Also in this case, the signal synthesis and synthesis performed by the
図4(e)では、Z制御用信号をパルス変調して櫛型信号を生成するか、櫛型信号発生器からの櫛型信号を用いて、Z制御用信号と共振特性計測用の信号とを同時に生成する例を示す。この場合は、カンチレバーの共振特性のピークに位置する最強の成分の信号である周波数fbの信号を周波数制御方式に用い、周波数faの信号を振幅制御方式に用いる。共振特性計測用の信号強度は一様でないので、カンチレバーの振動スペクトルを共振特性計測用の信号強度で規格化する。 In FIG. 4E, the Z control signal is pulse-modulated to generate a comb signal, or the comb control signal from the comb signal generator is used to generate the Z control signal and the resonance characteristic measurement signal. An example of simultaneously generating In this case, the signal of the frequency fb that is the strongest component signal located at the peak of the resonance characteristic of the cantilever is used for the frequency control method, and the signal of the frequency fa is used for the amplitude control method. Since the signal intensity for measuring the resonance characteristics is not uniform, the vibration spectrum of the cantilever is normalized with the signal intensity for measuring the resonance characteristics.
図4(f)は、カンチレバーの共振特性のピークに位置する最強の成分の信号である周波数faの信号を振幅制御方式に用い、それから外れた周波数fbの信号を周波数制御方式に用いる例を示す。この場合、スペクトル分析器10でカンチレバー5を励振する周波数帯でのスペクトルを分析し補間することで、fbは櫛型信号のどれかに一致している必要は無くなる。
FIG. 4 (f) shows an example in which the signal of the frequency fa, which is the strongest component signal located at the peak of the resonance characteristic of the cantilever, is used for the amplitude control method, and the signal of the frequency fb deviated from it is used for the frequency control method. . In this case, by analyzing and interpolating the spectrum in the frequency band where the
図5(g)は、スペクトル分析器10でカンチレバー5を励振する周波数帯でのスペクトルを分析し補間することで、共振特性計測用の信号のみを印加するようにした例である。図5(g)のfaあるいはfbの位置の強度を帰還することによって、それぞれ振幅制御方式、周波数制御方式を構成することができる。
FIG. 5G shows an example in which only the resonance characteristic measurement signal is applied by analyzing and interpolating the spectrum in the frequency band where the
図5(h)は、帯域幅W1のノイズ信号で片側帯波変調するとともに周波数f1−f2間を掃引する掃引発振器からの信号と合波した例を示す。図には、振幅制御方式を示したが、周波数制御方式でも適用することができる。 FIG. 5 (h) shows an example in which one-side band modulation is performed with a noise signal having a bandwidth W1 and combined with a signal from a sweep oscillator that sweeps between frequencies f1 and f2. Although the amplitude control method is shown in the figure, the frequency control method can also be applied.
共振特性のQ値が劣化するとQ値にほぼ比例して励振効率が劣化することが知られている。従って、Q値の変化する試料を観察する場合で、例えば振幅制御を行う場合は、探針と試料間の距離がQ値に依存することが分かる。これから、共振特性の幅に関する情報を帰還信号に反映することが望ましい事が分かる。つまり、共振特性の幅が増大してQ値が低下した場合には、検出強度だけでは容易に決めることができないので、散逸がある場合の共振特性と、基準となる共振特性と、振幅を検出する周波数位置と、の三者を考慮して探針と観測試料間の距離の調整を行なうことが望ましい。しかし、この調整は一般に複雑であるから、Q値の変化が大きい時には、つまり基準となる共振特性にくらべて散逸が非常に大きいときには、帰還信号としては、共振特性の中心位置、あるいは、共振点の中心点からの移相量を用いることが望ましい。 It is known that when the Q value of the resonance characteristic is deteriorated, the excitation efficiency is deteriorated substantially in proportion to the Q value. Therefore, it is understood that the distance between the probe and the sample depends on the Q value when the sample whose Q value changes is observed, for example, when amplitude control is performed. From this, it can be seen that it is desirable to reflect information related to the width of the resonance characteristic in the feedback signal. In other words, when the width of the resonance characteristic increases and the Q value decreases, it cannot be easily determined by the detected intensity alone, so the resonance characteristic when there is dissipation, the reference resonance characteristic, and the amplitude are detected. It is desirable to adjust the distance between the probe and the observation sample in consideration of the three frequency positions. However, since this adjustment is generally complicated, when the change in the Q value is large, that is, when the dissipation is very large compared to the reference resonance characteristic, the feedback signal is the center position of the resonance characteristic or the resonance point. It is desirable to use the amount of phase shift from the center point.
1 観察台
2 観察試料
3 レーザ光源
4 光路
5 カンチレバー
6 探針
7、7a、7b 振動子
8 4分割検出器
9 成分抽出器
10 スペクトル分析器
11 規格化部
12 信号合成・カンチレバー駆動部
12a、12b カンチレバー駆動部
13 共振特性計測用信号発生器
14 Z制御用信号発生器
16 Z制御信号出力発生部
17 Z軸駆動部
18 XYスキャン部
19 画像表示部
20 制御目標値設定部
21 RMS−DC変換+誤差信号発生部
22 Z制御信号弁別器
DESCRIPTION OF
Claims (9)
該カンチレバーの振動を励振する励振素子と、
該励振素子を駆動するための電気信号発生器と、
カンチレバーの振動を検出する振動検出素子と、
該振動検出素子からの信号の周波数分布を分析するスペクトル分析器と、
該スペクトル分析器の出力から測定しようとする値を導く演算装置と、を備えた原子間力顕微鏡のダイナミックモードで用いた観測において、
(1)単一周波数成分を主成分としカンチレバーの位置を制御するための位置制御電気信号に、上記の電気信号の主成分の周波数成分の近傍にある複数の周波数成分をもった付加電気信号を加えた合成電気信号で駆動する励振素子で上記のカンチレバーの振動を励振し、
(2)上記のカンチレバーの振動を振動検出素子で検出して検出信号に変換し、
上記の検出信号の周波数分布を得て、
(3)得られた周波数分布から、カンチレバーの共振特性を導出することを特徴とするカンチレバー共振特性評価法。 A cantilever with a probe,
An excitation element for exciting the vibration of the cantilever;
An electrical signal generator for driving the excitation element;
A vibration detecting element for detecting the vibration of the cantilever;
A spectrum analyzer for analyzing a frequency distribution of a signal from the vibration detecting element;
In the observation using the dynamic mode of the atomic force microscope provided with an arithmetic unit for deriving a value to be measured from the output of the spectrum analyzer,
(1) An additional electric signal having a plurality of frequency components in the vicinity of the frequency component of the main component of the electric signal is added to the position control electric signal for controlling the position of the cantilever whose main component is a single frequency component. Exciting the vibration of the above cantilever with the excitation element that is driven by the added composite electrical signal,
(2) The vibration of the cantilever is detected by a vibration detecting element and converted into a detection signal,
Obtain the frequency distribution of the above detection signal,
(3) A method for evaluating cantilever resonance characteristics, wherein the resonance characteristics of the cantilever are derived from the obtained frequency distribution.
上記の付加信号の周波数に対する振幅分布において、周波数に対する強度分布を上記のスペクトル強度で除して、カンチレバーの共振特性を得ることを特徴とする請求項1に記載のカンチレバー共振特性評価法。 The additional electric signal is in a frequency band including the main component frequency of the position control electric signal,
The cantilever resonance characteristic evaluation method according to claim 1, wherein in the amplitude distribution with respect to the frequency of the additional signal, the resonance distribution of the cantilever is obtained by dividing the intensity distribution with respect to the frequency by the spectrum intensity.
該カンチレバーの振動を励振する励振素子と、
該励振素子を駆動するための電気信号発生器と、
カンチレバーの振動を検出する振動検出素子と、
該振動検出素子からの信号の周波数分布を分析するスペクトル分析器と、
該スペクトル分析器の出力から測定しようとする値を導く演算装置と、を備えた原子間力顕微鏡をダイナミックモードで用いて試料を観測する場合に、
(1)カンチレバーの共振周波数を含む予め決められた幅の周波数帯で周波数の変化する励振用電気信号で駆動する励振素子で上記のカンチレバーの振動を励振し、
(2)上記のカンチレバーの振動を振動検出素子で検出して電気検出信号に変換し、
(3)上記の電気検出信号の周波数分布を得て、
(4)得られた周波数分布から、カンチレバーの共振点を見出し、
(5)上記の共振点の周波数を帰還情報として、上記のカンチレバーと観測試料との距離
を制御することを特徴とするカンチレバー共振特性評価法。 A cantilever with a probe,
An excitation element for exciting the vibration of the cantilever;
An electrical signal generator for driving the excitation element;
A vibration detecting element for detecting the vibration of the cantilever;
A spectrum analyzer for analyzing a frequency distribution of a signal from the vibration detecting element;
When observing a sample using an atomic force microscope equipped with an arithmetic device that derives a value to be measured from the output of the spectrum analyzer in a dynamic mode,
(1) Exciting the vibration of the cantilever with an excitation element driven by an electrical signal for excitation whose frequency changes in a frequency band of a predetermined width including the resonance frequency of the cantilever,
(2) The vibration of the cantilever is detected by a vibration detecting element and converted into an electric detection signal,
(3) Obtaining the frequency distribution of the above electric detection signal,
(4) From the obtained frequency distribution, find the resonance point of the cantilever,
(5) A method for evaluating a cantilever resonance characteristic, wherein the distance between the cantilever and the observation sample is controlled using the frequency of the resonance point as feedback information.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009145385A1 (en) * | 2008-05-30 | 2009-12-03 | Cantis | Resonance characteristic measurement apparatus of cantilever structure and measurement method thereof |
JP2014504737A (en) * | 2011-01-31 | 2014-02-24 | インフィニテシマ リミテッド | Adaptive mode scanning probe microscope |
CN115031831A (en) * | 2022-06-20 | 2022-09-09 | 清华大学 | Acoustic resonance switch device |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06147882A (en) * | 1992-11-09 | 1994-05-27 | Ricoh Co Ltd | Physical quantity measuring equipment |
JP2000039390A (en) * | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Nikon Corp | Non-contact atomic force microscope |
JP2002277378A (en) * | 2001-03-22 | 2002-09-25 | Jeol Ltd | Method of observing sample in atomic force microscope, and atomic force microscope |
JP2002350323A (en) * | 2001-05-24 | 2002-12-04 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | Probe for scanning probe microscope |
JP2003532060A (en) * | 2000-04-20 | 2003-10-28 | ザ ユニバーシティ オブ ブリストル | Resonant probe driving apparatus and scanning probe microscope using the same |
JP2004163390A (en) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Korea Electronics Telecommun | Noncontact surface measuring device and measuring method |
JP2004294218A (en) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Kansai Tlo Kk | Measuring method of physical property value and scanning probe microscope |
JP2005535903A (en) * | 2002-08-16 | 2005-11-24 | フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. | Method for measuring tribological properties of a sample surface using an atomic force scanning microscope and atomic force scanning microscope therefor |
JP2005331509A (en) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Japan Science & Technology Agency | Method and device for measuring object by variable natural oscillation cantilever |
JP2006292720A (en) * | 2005-03-14 | 2006-10-26 | Jeol Ltd | Atomic force microscope and method for forming energy dissipation image using the same |
JP2007505324A (en) * | 2003-05-15 | 2007-03-08 | フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. | Method and apparatus for exciting non-contact torsional vibrations in a spring cantilever with one side fixed in an atomic force microscope |
-
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06147882A (en) * | 1992-11-09 | 1994-05-27 | Ricoh Co Ltd | Physical quantity measuring equipment |
JP2000039390A (en) * | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Nikon Corp | Non-contact atomic force microscope |
JP2003532060A (en) * | 2000-04-20 | 2003-10-28 | ザ ユニバーシティ オブ ブリストル | Resonant probe driving apparatus and scanning probe microscope using the same |
JP2002277378A (en) * | 2001-03-22 | 2002-09-25 | Jeol Ltd | Method of observing sample in atomic force microscope, and atomic force microscope |
JP2002350323A (en) * | 2001-05-24 | 2002-12-04 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | Probe for scanning probe microscope |
JP2005535903A (en) * | 2002-08-16 | 2005-11-24 | フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. | Method for measuring tribological properties of a sample surface using an atomic force scanning microscope and atomic force scanning microscope therefor |
JP2004163390A (en) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Korea Electronics Telecommun | Noncontact surface measuring device and measuring method |
JP2004294218A (en) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Kansai Tlo Kk | Measuring method of physical property value and scanning probe microscope |
JP2007505324A (en) * | 2003-05-15 | 2007-03-08 | フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. | Method and apparatus for exciting non-contact torsional vibrations in a spring cantilever with one side fixed in an atomic force microscope |
JP2005331509A (en) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Japan Science & Technology Agency | Method and device for measuring object by variable natural oscillation cantilever |
JP2006292720A (en) * | 2005-03-14 | 2006-10-26 | Jeol Ltd | Atomic force microscope and method for forming energy dissipation image using the same |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009145385A1 (en) * | 2008-05-30 | 2009-12-03 | Cantis | Resonance characteristic measurement apparatus of cantilever structure and measurement method thereof |
JP2014504737A (en) * | 2011-01-31 | 2014-02-24 | インフィニテシマ リミテッド | Adaptive mode scanning probe microscope |
CN115031831A (en) * | 2022-06-20 | 2022-09-09 | 清华大学 | Acoustic resonance switch device |
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Publication number | Publication date |
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