JP2008117381A - Time sequential data analyzer, time sequential data analysis system, time sequential data analysis method, program and recording medium - Google Patents

Time sequential data analyzer, time sequential data analysis system, time sequential data analysis method, program and recording medium Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a time sequential data analyzer capable of performing optimum modeling. <P>SOLUTION: The time sequential data analyzer 2 for analyzing the time sequential data of a prediction object characteristic value in a prescribed system on the basis of the detected result information of two or more kinds of characteristic values in the system comprises: a target variable acquisition part 12 for acquiring the time sequential data composed of the past detected result of the prediction object characteristic value; a smoothed data extraction part 32 for calculating smoothed data for which the time sequential data are smoothed by a prescribed reference; a differential data extraction part 34 for calculating a difference between the time sequential data and the smoothed data as differential data; a smoothed data modeling part 42 for specifying the correspondence relation of time lapse and the variation of the smoothed data as a smoothed data variation model by analyzing the past variation of the smoothed data; and a differential data modeling part 44 for specifying the kind of the characteristic value affecting the variation of the differential data as a variation factor characteristic value and specifying the correspondence relation of the variation of the variation factor characteristic value and the variation of the differential data as a differential data variation model. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、時系列データを解析する時系列データ解析装置に関するものである。   The present invention relates to a time series data analysis apparatus for analyzing time series data.

従来、製品の製造ラインにおける品質特性の監視と異常時における原因の推定には、一般に管理図が用いられている。管理図は、工程における偶然原因による特性値のばらつきと、異常原因による特性値のばらつきとを判断して、工程を管理するために考案されたものである。管理図は、縦軸が特性値、横軸が時刻を示し、時系列に沿って横方向にプロットされた特性値である管理線と、プロットされた特性値の製品としての許容範囲の上限および下限を合理的に判断して決定した位置にプロットされた、上下2本の管理限界線とからなる。   Conventionally, control charts are generally used for monitoring quality characteristics in product production lines and estimating causes in the event of an abnormality. The control chart is devised for managing the process by judging the variation in the characteristic value due to the accidental cause in the process and the variation in the characteristic value due to the abnormality cause. The control chart shows the characteristic value on the vertical axis, the time on the horizontal axis, the control line that is the characteristic value plotted in the horizontal direction along the time series, the upper limit of the allowable range as the product of the plotted characteristic value, and It consists of two upper and lower control limit lines plotted at positions determined by reasonably determining the lower limit.

工程の状態をあらわす特性値が点としてプロットされたとき、全ての点が上下2本の管理限界線内にあって、点の並び方に特徴的な傾向がなければ、工程は安定状態にあるとみなすことができる。一方、点が管理限界線の外にでた場合、また点の並び方に特徴的な傾向があらわれた場合には、工程は安定状態にないとみなすことができる。この場合、工程に異常状態が生じていると判断して、その原因を調べて処置をとる必要がある。   When characteristic values representing the state of a process are plotted as points, if all the points are within the upper and lower two control limit lines and there is no characteristic tendency in the arrangement of points, the process is in a stable state. Can be considered. On the other hand, if the point is outside the control limit line or if a characteristic tendency appears in the arrangement of the points, the process can be regarded as not in a stable state. In this case, it is necessary to determine that an abnormal state has occurred in the process, investigate the cause, and take action.

計測不可能な要因を含む、製造ラインを構成する様々な要因によって品質特性にばらつきが発生するので、管理図は、工程における偶然原因による特性値のばらつき、および異常原因による特性値のばらつきを判断し、工程が安定な状態にあるかどうかを調べるために、広く使われている。   Because quality characteristics vary due to various factors that make up the production line, including factors that cannot be measured, the control chart determines variations in characteristic values due to accidental causes in the process and variations in characteristic values due to abnormal causes However, it is widely used to check whether the process is in a stable state.

現状、複数の製造工程を通して製品を製造する製造ラインにおいて、すべての工程を通過した後に、最終的な品質評価を行っている。すなわち、途中の工程では品質評価を行っていない。このため、初期の工程に原因がある不良製品に対する調整や修正などが品質評価を行う段階では難しくなっている。   At present, in a production line that manufactures products through a plurality of manufacturing processes, final quality evaluation is performed after passing through all the processes. That is, quality evaluation is not performed in the middle process. For this reason, it is difficult to make adjustments and corrections for defective products caused by the initial process at the stage of quality evaluation.

上記の問題を解決するために、最終的な品質評価を行う前に、最終的な品質評価で得られる特性値を予測する様々な方法が考案されている。   In order to solve the above problems, various methods have been devised for predicting the characteristic values obtained by the final quality evaluation before performing the final quality evaluation.

特許文献1には、時系列データの予測装置の予測性能を向上させることを目的とする時系列データの予測装置が開示されている。   Patent Document 1 discloses a time-series data prediction apparatus for the purpose of improving the prediction performance of a time-series data prediction apparatus.

上記の予測装置では、フィードフォワード型ニューラルネットワークを用いて構築された第1の時系列予測手段と、ARIMAモデルを用いて構築された第2の時系列予測手段と、使用条件、第1・第2の時系列予測手段の予測結果、および実測結果を入力し、使用条件毎に各予想結果および実測結果を比較することで、時系列予測手段毎に使用条件に応じて予測能力の優劣を測定する使用特性測定手段と、使用条件、予測結果、および使用特性測定手段による測定結果を入力し、使用条件および測定結果に基づいて、重み付加算方法により、予測結果を統合して最終的な予測結果を出力する統合判断手段を備えることが示されている。   In the above prediction apparatus, the first time series prediction means constructed using the feedforward type neural network, the second time series prediction means constructed using the ARIMA model, the use conditions, the first and the second Input the prediction results and actual measurement results of 2 time series prediction means, and compare the prediction results and actual measurement results for each usage condition, and measure the superiority of the prediction capability according to the usage conditions for each time series prediction means Use characteristic measurement means, use conditions, prediction results, and measurement results from the use characteristic measurement means are input, and based on the use conditions and measurement results, the weighted addition method is used to integrate the prediction results for final prediction. It is shown that an integrated judgment means for outputting the result is provided.

また、特許文献2には、リカレントネットワークによる予測方法が開示されている。   Patent Document 2 discloses a prediction method using a recurrent network.

上記の予測方法では、フィードバック結合を持ち、かつ時系列データを学習したリカレントネットワークにより予測を行っている。具体的には、ネットワークを初期化するステップと、目的とする出力データの連続点まで前処理としてネットワークにより予測を行い、予測終了時のネットワークの状態を保存するステップと、上記保存するステップで保存されたネットワークの状態から当該ネットワークにより予測を行うステップを備えることが示されている。   In the above prediction method, prediction is performed by a recurrent network having feedback coupling and learning time series data. Specifically, the network is initialized, the network is predicted up to the continuous point of the target output data as preprocessing, the network state at the end of the prediction is stored, and the above-mentioned storing step is performed. It is shown that the method includes a step of performing prediction by the network from the state of the generated network.

また、特許文献3には、作業に於いて危険作業に至る工程を時系列的な作業手順や作業環境の変化の連鎖と捕らえ、その因果関係を時系列的に解析し、危険作業を予測する予測システムについて開示されている。   Further, Patent Document 3 captures a process leading to a dangerous work in a work as a chain of time-series work procedures and a change in work environment, analyzes the causal relationship in time series, and predicts a dangerous work. A prediction system is disclosed.

上記の予測システムでは、解析対象となる作業手順の分解と前後関係の整理を行い、災害の要因を抽出し、因果関係を整理し、作業と災害要因とを結合させてペトリネットで表現し、ペトリネットを用いて作業に関するシミュレーションを行い、作業方法や作業環境等の改善を行い、所定の安全性を満足するまで処理を繰り返すことが示されている。   In the above prediction system, the work procedure to be analyzed is decomposed and the context is organized, the factors of the disaster are extracted, the causal relationships are organized, the work and the disaster factors are combined and expressed in a Petri net, It is shown that a simulation relating to work is performed using a Petri net, the work method and work environment are improved, and the process is repeated until a predetermined safety is satisfied.

また、特許文献4には、過去の短い時間の時系列データから精度の高い予測を行えるようにした時系列データの予測方法が開示されている。   Further, Patent Document 4 discloses a method for predicting time-series data that enables highly accurate prediction from time-series data of a short time in the past.

上記の予測方法では、予測しようとする時系列データのみではなく、相関のある他の時系列データに対しても埋め込みを行い、これらを結合して拡大ベクトルを作り、ベクトル空間内で局所的な当て嵌め等を行って予測値を得ることが示されている。
特開平7−084983号公報(1995年3月31日公開) 特開平10−283335号公報(1998年10月21日公開) 特開2001−351057号公報(2001年12月21日公開) 特開平9−282306号公報(1997年10月31日公開)
In the above prediction method, not only the time-series data to be predicted but also other correlated time-series data are embedded, and these are combined to create an expanded vector, which is localized in the vector space. It is shown that a predicted value is obtained by performing fitting or the like.
JP 7-049883 A (published on March 31, 1995) JP 10-283335 A (published October 21, 1998) Japanese Patent Laid-Open No. 2001-351057 (released on December 21, 2001) JP 9-282306 A (published October 31, 1997)

一般に品質特性を監視する際に用いられる管理図では、品質の傾向を見ることができるが、その原因が生産ラインの機器にあるものであるのか、あるいは、周囲の環境などによるものであるのかの判断ができない。   Control charts generally used for monitoring quality characteristics can show trends in quality, but whether the cause is in the equipment on the production line or the surrounding environment I can't judge.

また、特許文献1および2に記載されているような、AR、ARMA、およびARIMAなどの平滑化変動モデルを用いた採集品質特性の予測や、NN、リカレントNN、およびRBFネットワークなどの差分変動モデル手法を用いた最終品質特性の予測や、上記の2つの手法を組み合わせた予測では、最終工程の品質特性の変化のみに着目しているため、突発的な変化に対応することができない。さらに、最終工程の品質特性に影響を及ぼす前工程の要因がばらついている場合、最終工程の品質特性にもばらつきが発生し、予測が困難になるという問題を生じる。   Further, as described in Patent Documents 1 and 2, prediction of collection quality characteristics using smoothing variation models such as AR, ARMA, and ARIMA, and differential variation models such as NN, recurrent NN, and RBF network In the prediction of the final quality characteristic using the method and the prediction combining the above two methods, attention is paid only to the change in the quality characteristic of the final process, and thus it is not possible to cope with the sudden change. Furthermore, when the factors of the previous process that affect the quality characteristics of the final process vary, there is a problem that the quality characteristics of the final process also vary and prediction becomes difficult.

また、特許文献3に記載されているような、統計量を用いた製造ラインの各種特性と最終品質特性とのモデル化や、製造ラインの各種特性と最終品質特性の関係を構造化する構成では、実際の製造ラインでは、最終工程も含め様々な要因が直接的または間接的に影響する上に、計測不可能な要因によっても変化するために、正確な因果関係の構築は難しい。特に、計測不可能な要因による変化は、誤差としてモデリングに影響を及ぼすという問題を生じる。   In addition, as described in Patent Document 3, in the configuration for modeling the various characteristics of the production line using the statistics and the final quality characteristics, and for structuring the relationship between the various characteristics of the production line and the final quality characteristics, In an actual production line, various factors including the final process are directly or indirectly affected, and change due to factors that cannot be measured. Therefore, it is difficult to construct an accurate causal relationship. In particular, a change due to an unmeasurable factor causes a problem of affecting modeling as an error.

また、特許文献4に記載されているような、最終品質特性を時系列予測により近似し、傾向と実測との残差が計測可能な他の要因により影響するものとして、計測可能な前工程の要因と当該残差とを統計的に関連付け、前者の近似予測と後者の統計的な予測の合算により、最終的な予測を行う構成では、時系列予測に予測不可能な要因が混入し、予測精度が低下するため、統計的に関連付けるデータの信頼性が低下するという問題を生じる。   Further, as described in Patent Document 4, the final quality characteristics are approximated by time series prediction, and the residual of the trend and the actual measurement is influenced by other measurable factors. In a configuration where the factor and the residual are statistically correlated, and the final prediction is performed by adding the approximate approximation of the former and the statistical prediction of the latter, unpredictable factors are mixed in the time-series prediction. Since the accuracy is lowered, there arises a problem that the reliability of the statistically associated data is lowered.

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、予測する特性値との相関関係が存在すると判断した変動を抽出することで、可能な限り最適なモデル化を行うことが可能な時系列データ解析装置を実現することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to perform modeling that is as optimal as possible by extracting fluctuations that have been determined to have a correlation with a predicted characteristic value. It is to realize a time-series data analysis apparatus capable of performing the above-described process.

本発明に係る特性値予測装置は、上記課題を解決するために、所定のシステムにおける複種類の特性値の検知結果情報に基づいて該システムにおける予測対象特性値の時系列データを解析する時系列データ解析装置であって、上記予測対象特性値の過去の検知結果からなる時系列データを取得する時系列データ取得手段と、上記時系列データを所定の基準で平滑化した平滑化データを算出する平滑化データ取得手段と、上記時系列データと上記平滑化データとの差を差分データとして算出する差分データ取得手段と、上記平滑化データの過去の変動を解析することによって、時間経過と上記平滑化データの変動との対応関係を平滑化データ変動モデルとして特定する平滑化データモデリング手段と、上記差分データの変動に影響を与える上記特性値の種類を変動要因特性値として特定し、該変動要因特性値の変動と上記差分データの変動との対応関係を差分データ変動モデルとして特定する差分データモデリング手段とを備えている。   In order to solve the above-described problem, the characteristic value prediction apparatus according to the present invention analyzes time series data of prediction target characteristic values in the system based on detection result information of multiple types of characteristic values in a predetermined system. A data analysis device that calculates time-series data acquisition means for acquiring time-series data consisting of past detection results of the prediction target characteristic value, and smoothed data obtained by smoothing the time-series data according to a predetermined reference Smoothing data acquisition means, difference data acquisition means for calculating the difference between the time series data and the smoothed data as difference data, and analysis of past fluctuations in the smoothed data, thereby allowing the passage of time and the smoothing data. Smoothing data modeling means for specifying the correspondence relationship with the fluctuation of the smoothed data as a smoothing data fluctuation model, and the above-mentioned affecting the fluctuation of the difference data It identifies the type of sexual values as variables characteristic value, and a differential data modeling means for identifying a correspondence between the variation of the change and the difference data of the fluctuation factor characteristic value as difference data variation model.

上記の構成によれば、過去の検知結果からなる時系列データを取得し、所定の基準で平滑化して平滑化データとすることで、環境の変化や、時間の経過や、その他の突発的な要因によって発生するばらつきを平均化し、平滑化することができる。この平滑化データは、ばらつきを取り除いた本来の特性値を示していると考えることができる。そこで、この平滑化データとして得られた特性値の値と、実測値の差分をとることによって、上記のばらつきの大きさを抽出できると考えられる。   According to the above configuration, by acquiring time-series data consisting of past detection results and smoothing them according to a predetermined standard to obtain smoothed data, changes in the environment, the passage of time, and other unexpected Variations caused by factors can be averaged and smoothed. This smoothed data can be considered to show the original characteristic value from which the variation is removed. Therefore, it is considered that the magnitude of the variation can be extracted by taking the difference between the characteristic value obtained as the smoothed data and the measured value.

そこで、これらの平滑化データおよび差分データをモデリングすることによって、環境の変化や、時間の経過などによる、いわゆる経時変化や外部の環境に起因する特性値のばらつきと、突発的な要因、例えば、具体的な因果関係を示すデータをセンサ情報などから得ることができる事象に起因する特性値のばらつきに分離することができる。これによって、特性値のばらつきの種類に応じて、例えば、平滑化変動モデルや差分変動モデルなどを作成するのに適切なモデル化手法を、各特性値に対して適用することができる。   Therefore, by modeling these smoothed data and difference data, variation in the characteristic value due to changes in the environment, the passage of time, etc., so-called temporal changes and the external environment, and sudden factors, for example, Data indicating a specific causal relationship can be separated into variations in characteristic values caused by events that can be obtained from sensor information or the like. Accordingly, for example, a modeling method suitable for creating a smoothing variation model, a difference variation model, or the like can be applied to each characteristic value according to the type of variation in the characteristic value.

上記の各工程によって、予測対象特性値を変動させる変動要因を種類に応じて分離し、変動要因の種類に応じた適切なモデル化手法を適用したモデルを作成することができる。   By each of the above steps, a variation factor that varies the prediction target characteristic value is separated according to the type, and a model to which an appropriate modeling method according to the type of the variation factor is applied can be created.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記差分データモデリング手段として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、上記差分データモデリング手段は、上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、上記学習データから上記差分データの目標値に基づいて中間層ニューロンの中心点を選定する第1中心点選定手段と、選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段と、上記ネットワーク構築手段によって構築した動径基底関数ネットワークに上記学習データを適用することにより差分データの推定値を算出し、算出した推定値と上記差分データの変動との誤差に基づいて、中間層ニューロンの新たな中心点を選定する第2中心点選定手段とを備えており、上記ネットワーク構築手段は、第1および第2中心点選定手段が選定した中心点に基づいて、中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することを特徴としている。   In the time-series data analysis device, a radial basis function network having an intermediate layer neuron is used as the difference data modeling means, and the difference data modeling means includes the fluctuation of the variation factor characteristic value and the difference data. Learning data generating means for generating learning data including fluctuations, first center point selecting means for selecting the center point of the intermediate layer neuron based on the target value of the difference data from the learning data, and based on the selected center point The network construction means for constructing the radial basis function network and the network construction means are constructed by calculating the output value of the intermediate layer and calculating the weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer. Of the difference data by applying the above learning data to the measured radial basis function network And a second center point selecting means for selecting a new center point of the intermediate layer neuron based on an error between the calculated estimated value and the fluctuation of the difference data. The output value of the intermediate layer is calculated based on the center point selected by the first and second center point selection means, and the weight value of the neuron is calculated based on the calculated output value of the intermediate layer.

上記の構成によれば、予測精度向上させたいポイントを抽出して、所望のポイントの予測精度を向上させることができるので、最終的に判断したい点について正確に予測することで対策を実施する、または、実施しないという判断を正確に行うことができる。   According to the above configuration, it is possible to extract a point to be improved in prediction accuracy and improve the prediction accuracy of a desired point, so that a measure is implemented by accurately predicting a point to be finally determined. Alternatively, it is possible to accurately determine that the operation is not performed.

具体例をあげれば、例えば、製造ラインにおける最終品質の予測であれば、管理限界値付近の値を精度良く予測することで、最終品質が良か否かを正確に予測することで、対策を実施するか実施しないかを正確に判断することができるので、製品に対する対策コストを最適化することができる。   As a specific example, for example, in the case of predicting the final quality in the production line, by accurately predicting whether or not the final quality is good by accurately predicting the value near the control limit value, the countermeasure can be taken. Since it can be accurately determined whether or not to implement, the cost of measures for the product can be optimized.

また、別の具体例をあげれば、例えば、事務所や工場などにおいて、将来消費する電力を予測し、電力供給者と契約したデマンドを超過する可能性があれば、電力を消費する機器の稼動を一時的に停止するなどの対策を行うシステムの場合、予め設定されたデマンド電力付近の値を精度良く予測することにより、対策を実施するか実施しないかを正確に判断することができるので、デマンド超過による事業への影響を最小限に抑えることが可能になる。   As another specific example, for example, in an office or factory, if the power consumed in the future is predicted and the demand contracted with the power supplier may be exceeded, the operation of the device that consumes the power In the case of a system that takes countermeasures such as temporarily stopping the system, it is possible to accurately determine whether the countermeasure is implemented or not by accurately predicting a value around the preset demand power. It is possible to minimize the impact on the business due to excess demand.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記差分データモデリング手段として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、上記差分データモデリング手段は、上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、k−means法により、上記学習データから中間層ニューロンに合致する代表点を選定する代表点選定手段と、選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段とを備えてもよい。   In the time-series data analysis device, a radial basis function network having an intermediate layer neuron is used as the difference data modeling means, and the difference data modeling means includes the fluctuation of the variation factor characteristic value and the difference data. Learning data generating means for generating learning data including fluctuations, representative point selecting means for selecting a representative point matching the intermediate layer neuron from the learning data by the k-means method, and an intermediate layer based on the selected center point Network construction means for constructing the radial basis function network by calculating the weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer.

上記の構成によれば、k−means法により代表点とする中間層ニューロンを選択するため、動径基底関数ネットワークの学習を短時間で行うことができるという効果を奏する。   According to said structure, since the intermediate | middle layer neuron made into a representative point is selected by k-means method, there exists an effect that the learning of a radial basis function network can be performed in a short time.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記平滑化データ変動モデルおよび上記差分データ変動モデルから、予測対象時点の特性値の変動要因を推定する変動要因推定手段をさらに備えることを特徴としている。   The time-series data analysis apparatus further includes a fluctuation factor estimating unit that estimates a fluctuation factor of the characteristic value at the prediction target time point from the smoothed data fluctuation model and the difference data fluctuation model.

上記の構成によれば、上記平滑化データ変動モデルおよび上記差分データ変動モデルから、対象の特性値の変動が時系列変化による変動か、時系列変化による変動ではないか、突発的な変動、例えば、センサによって計測したある計測結果から変動の原因を特定できる、因果関係の明確な変動か、因果関係の明確な変動ではないかを判断し、特性値の変動要因を推定することができる。   According to the above configuration, from the smoothed data variation model and the difference data variation model, whether the variation of the target characteristic value is a variation due to a time series change, a variation due to a time series change, or a sudden variation, for example, The cause of the fluctuation can be identified from a certain measurement result measured by the sensor, it is judged whether the causal relation is a clear fluctuation or the causal relation is a clear fluctuation, and the fluctuation factor of the characteristic value can be estimated.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記平滑化データ変動モデルまたは上記差分データ変動モデルから、予測対象時点での特性値を予測する予測手段をさらに備えることを特徴としている。   The time-series data analysis apparatus further includes a prediction unit that predicts a characteristic value at a prediction target time point from the smoothed data fluctuation model or the difference data fluctuation model.

上記の構成によれば、上記平滑化データ変動モデルおよび上記差分データ変動モデルから、ある時点における対象の特性値の変動を予測することができる。   According to said structure, the fluctuation | variation of the target characteristic value in a certain time can be estimated from the said smoothing data fluctuation | variation model and the said difference data fluctuation | variation model.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記予測対象の時点での上記変動要因の特性値を取得し、上記差分データ変動モデルに基づいて上記差分データの予測値を算出する差分データ予測手段と、予測すべき時点での上記平滑化データの予測値を上記平滑化データ変動モデルに基づいて算出する平滑化データ予測手段と、上記差分データ予測手段による予測結果と、上記平滑化データ予測手段による予測結果とに基づいて、上記測定対象特性値の予測値を算出する予測統合手段とを備えることを特徴としている。   In the time-series data analysis device, a difference data prediction unit that acquires a characteristic value of the variation factor at the time of the prediction target and calculates a predicted value of the difference data based on the difference data variation model; The smoothed data predicting means for calculating the predicted value of the smoothed data at the time to be predicted based on the smoothed data fluctuation model, the prediction result by the difference data predicting means, and the smoothed data predicting means And a prediction integration unit that calculates a predicted value of the measurement target characteristic value based on a prediction result.

上記の構成によれば、最適なモデル化手法でモデル生成を行った複数のモデルを用いて予測を行い、複数の予測モデルに基づく予測結果を合算することで、より正確な予測を行うことができる。   According to the above configuration, more accurate prediction can be performed by performing prediction using a plurality of models generated by an optimal modeling method and adding the prediction results based on the plurality of prediction models. it can.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記所定のシステムにおける複数種類の特性値は、生産システムにおける生産ラインの各工程で検知されるセンサ情報であり、上記予測対象の時系列データは、上記生産ラインにおける生産対象物の品質特性の時系列データであることを特徴としている。   In the time series data analysis apparatus, the plurality of types of characteristic values in the predetermined system are sensor information detected in each step of the production line in the production system, and the time series data to be predicted is It is characterized by time-series data of quality characteristics of production objects in the production line.

上記の構成によれば、予測対象の時点より前の段階、例えば、生産ラインで生産している製品を回収して、途中の工程をやり直すことができる段階で予測対象の時点を予測することで、不良品が作成される前に調整を行い、予期せぬ不良品の生成を抑えることができる。   According to the above configuration, the prediction target time point is predicted at a stage before the prediction target time point, for example, at a stage where a product produced on the production line can be collected and an intermediate process can be performed again. Adjustments can be made before a defective product is created to prevent the generation of unexpected defective products.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記平滑化データ予測手段による予測結果から、上記生産対象物の経時変化に伴う品質特性の変移を管理するための閾値である経時異常原因推定基準値の上限値および下限値を設定する閾値設定手段をさらに備えることを特徴としている。   In the time-series data analysis apparatus, the temporal abnormality cause estimation reference value, which is a threshold for managing the change in quality characteristics accompanying the temporal change of the production object, is obtained from the prediction result by the smoothed data prediction unit. Threshold setting means for setting an upper limit value and a lower limit value is further provided.

また、上記の時系列データ解析装置では、上記差分データ予測手段による予測結果から、上記生産対象物の突発変化に伴う品質特性の異常を管理するための閾値である突発異常原因推定基準値の上限値および下限値を設定する閾値設定手段をさらに備えることを特徴としている。   In the time-series data analysis apparatus, the upper limit of the sudden abnormality cause estimation reference value, which is a threshold value for managing the quality characteristic abnormality accompanying the sudden change of the production object, based on the prediction result by the difference data prediction unit. Threshold setting means for setting the value and the lower limit value is further provided.

上記の構成によれば、従来直線で設定していた管理限界に対して、品質特性の経時に伴う変移と突発変化に伴う品質特性の異常の、おのおのに対し、異常の判断基準を設定することができる。   According to the above configuration, the judgment criteria for abnormality are set for each of the change in quality characteristics over time and the abnormality in quality characteristics due to sudden change with respect to the control limit set in the straight line. Can do.

また、上記の時系列データ解析と、センサからセンサ情報を取得し、上記時系列データ取得手段に時系列データとして入力するための目的変数検査装置と、センサからセンサ情報を取得し、上記平滑化データモデリング手段および上記差分データモデリング手段に学習パラメータとして入力するための説明変数検査装置と、上記センサ情報の取得を管理する管理装置とを備えることによって、モデル作成システムを構成することができる。   In addition, the time-series data analysis and the objective variable inspection device for acquiring sensor information from the sensor and inputting it as time-series data to the time-series data acquisition means, the sensor information from the sensor, and the smoothing A model creation system can be configured by including an explanatory variable inspection apparatus for inputting data as learning parameters to the data modeling means and the differential data modeling means, and a management apparatus for managing acquisition of the sensor information.

本発明の判断方法は、所定のシステムにおける複数の種類の特性値を検知し、検知結果情報に基づいて該システムにおける予測対象特性値の変動要因を特定できるモデルを作成するモデル生成方法であって、上記予測対象特性値の過去の検知結果からなる時系列データを取得するステップと、上記時系列データを所定の基準で平滑化した平滑化データを算出するステップと、上記時系列データと上記平滑化データとの差を差分データとして算出するステップと、上記平滑化データの過去の変動を解析することによって、時間経過と上記平滑化データの変動との対応関係を平滑化データ変動モデルとして特定するステップと、上記差分データの変動に影響を与える上記特性値の種類を変動要因特性値として特定し、該変動要因特性値の変動と上記差分データの変動との対応関係を差分データ変動モデルとして特定するステップを備えることを特徴としている。   The determination method of the present invention is a model generation method for detecting a plurality of types of characteristic values in a predetermined system and creating a model that can identify a variation factor of a prediction target characteristic value in the system based on detection result information. Obtaining time series data comprising past detection results of the prediction target characteristic value; calculating smoothed data obtained by smoothing the time series data according to a predetermined reference; and the time series data and the smoothing Calculating the difference between the smoothed data as differential data and analyzing the past fluctuations in the smoothed data, thereby specifying the correspondence between the passage of time and the smoothed data as a smoothed data fluctuation model Identifying the step and the type of the characteristic value that affects the fluctuation of the difference data as the fluctuation factor characteristic value, and It is characterized in that it comprises a step of identifying correspondence between the variation of the difference data as the difference data variation model.

上記の構成によれば、上述と同様の効果を奏することができる。   According to said structure, there can exist an effect similar to the above-mentioned.

なお、上記判断方法を、コンピュータの制御によりコンピュータ上で実行させることができる。さらに、上記のプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶させることにより、任意のコンピュータ上で実行させることができる。   In addition, the said determination method can be performed on a computer by control of a computer. Furthermore, by storing the above program in a computer-readable recording medium, the program can be executed on any computer.

本発明に係る特性値予測装置および特性値予測方法は、以上のように、過去に取得した複数のセンサ情報に基づく目的変数から、平滑化した目的変数を取り除くことによって、上記特性値と相関関係が存在すると判断した原因特定変動を抽出することができるので、原因特定変動を取り除いた予測モデルと、原因変動に基づく予測モデルを生成し、最適な手法を適用してモデルを作成し、特性値の予測を行うことができるという効果を奏する。   The characteristic value prediction apparatus and characteristic value prediction method according to the present invention, as described above, correlate with the characteristic value by removing the smoothed objective variable from the objective variable based on a plurality of sensor information acquired in the past. The cause-specific variation determined to exist can be extracted, so a prediction model that eliminates the cause-specific variation and a prediction model based on the cause variation are generated, a model is created by applying the optimal method, and the characteristic value There is an effect that it is possible to predict.

〔実施形態1〕
本発明の一実施形態について図1〜図17に基づいて説明すると以下の通りである。なお、以下では、一例として基板の部品取り付けからハンダの溶着までの基板実装工程における品質特性予測について説明を行うが、これに限るものではない。例えば、各地の気温に基づく消費電力予想などであってもよい。適切な目的変数および設定変を定義し、異なる特性を分離し、特性ごとにモデリングを行えば、どのような予測であってもよい。
Embodiment 1
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. In the following, quality characteristic prediction in a substrate mounting process from mounting of a component of a substrate to welding of a solder will be described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, it may be a power consumption prediction based on the temperature of each place. Any prediction can be used as long as appropriate objective variables and setting variables are defined, different characteristics are separated, and modeling is performed for each characteristic.

上記構成において、本発明の予測システムが品質特性を予測する際の動作を、図1に基づき説明すると、以下の通りである。図1は、本実施形態における予測装置を用いた予測システムの概略を示す機能ブロック図である。本実施形態の予測システム1は、取得部10、学習部20、予測部70、および工程処理装置80を備えている。以下、各部について詳細を説明する。   In the above configuration, the operation when the prediction system of the present invention predicts the quality characteristic will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a functional block diagram illustrating an outline of a prediction system using the prediction device according to the present embodiment. The prediction system 1 of this embodiment includes an acquisition unit 10, a learning unit 20, a prediction unit 70, and a process processing device 80. Details of each part will be described below.

取得部10は、工程処理装置80内の検査装置から、センサ情報などのデータを取得して学習部20に入力する。この取得部10には、目的変数取得部12および説明変数取得部14が含まれている。目的変数取得部12は、工程処理装置80内の検査装置から、目的変数に対応するデータを、説明変数取得部14は、工程処理装置80内の検査装置から、説明変数に対応するデータを取得する。なお、目的変数および説明変数と、各変数に対応するデータについて、詳細は後述する。   The acquisition unit 10 acquires data such as sensor information from the inspection device in the process processing apparatus 80 and inputs the data to the learning unit 20. The acquisition unit 10 includes an objective variable acquisition unit 12 and an explanatory variable acquisition unit 14. The objective variable acquisition unit 12 acquires data corresponding to the objective variable from the inspection device in the process processing device 80, and the explanatory variable acquisition unit 14 acquires data corresponding to the explanatory variable from the inspection device in the process processing device 80. To do. Details of the objective variable, the explanatory variable, and the data corresponding to each variable will be described later.

学習部20は、取得部10から入力されたデータに基づいて、差分変動モデル52および平滑化変動モデル54の作成を行う。なお、各モデルの作成方法について、詳細は後述する。この学習部20は、特性分離部30、予測学習部40、差分変動モデル52、平滑化変動モデル54、およびパラメータ設定部60を備えている。   The learning unit 20 creates the difference variation model 52 and the smoothing variation model 54 based on the data input from the acquisition unit 10. The details of how to create each model will be described later. The learning unit 20 includes a characteristic separation unit 30, a prediction learning unit 40, a difference variation model 52, a smoothing variation model 54, and a parameter setting unit 60.

特性分離部30は、入力された目標変数データから特性値を抽出し、予測学習に用いるものである。この特性分離部30は、平滑化データ抽出部32、および差分データ抽出部34を備えている。   The characteristic separation unit 30 extracts characteristic values from the input target variable data and uses them for predictive learning. The characteristic separation unit 30 includes a smoothed data extraction unit 32 and a difference data extraction unit 34.

平滑化データ抽出部32は、傾向変動、すなわち、因果関係で表現できない変動に対する特性値を抽出するものである。具体例をあげれば、基板実装におけるハンダの経時変化や、周囲の気温の変化などを指す。この平滑化データ抽出部32で抽出された傾向変動の特性値は、平滑化変動モデルの作成に用いられる。   The smoothed data extraction unit 32 extracts characteristic values for trend fluctuations, that is, fluctuations that cannot be expressed by causal relationships. As specific examples, it refers to changes in solder over time in board mounting, changes in ambient temperature, and the like. The characteristic value of the trend variation extracted by the smoothed data extraction unit 32 is used to create a smoothing variation model.

差分データ抽出部34は、因果関係による変動に対する特性値を抽出するものである。具体例をあげれば、基盤実装における部品の縦ずれ、横ずれ、ハンダ量の過多や、その他の直接的要因などを指す。この差分データ抽出部34で抽出された因果関係の変動の特性値は、差分変動モデルの作成に用いられる。   The difference data extraction unit 34 extracts a characteristic value with respect to variation due to the causal relationship. Specific examples include vertical displacement, lateral displacement, excessive amount of solder, and other direct factors in board mounting. The characteristic value of the causal relationship variation extracted by the difference data extraction unit 34 is used to create a difference variation model.

ここで、本実施形態における因果関係の用語について説明する。ここでいう因果関係とは、測定に用いられる基板自身、または、測定される部品自身に基づく特性値の変動をさすものでる。基板または部品に原因がなく、主として製造ラインの装置や周囲の環境によって変動する特性値を因果関係で表現できないものとしている。ハンダの経時変化とは、製造ラインにおいてハンダが保存され、必要な場合に基板に印刷されて部品の接合に用いられる場合に、長時間、ハンダ表面が空気に触れた状態にあるために、徐々にハンダの粘度などが変化していくことを指している。   Here, the term of the causal relationship in this embodiment is demonstrated. The causal relationship here refers to a change in the characteristic value based on the substrate itself used for measurement or the component itself to be measured. It is assumed that there is no cause in the board or component, and the characteristic value that varies mainly depending on the device of the production line and the surrounding environment cannot be expressed by the causal relationship. Solder aging means that the solder surface is kept in contact with air for a long time when the solder is stored in the production line and printed on the board when necessary and used for joining parts. It means that the viscosity of solder changes.

予測学習部40は、特性分離部30の各部で抽出された各特性値に基づいて、各モデルの作成を行うものである。この予測学習部40は、平滑化データモデリング部42、および差分データモデリング部44を含んでいる。平滑化データモデリング部42は、平滑化データ抽出部32によって抽出されたデータに基づいて平滑化変動モデル54の作成を行う。差分データモデリング部44は、差分データ抽出部34によって抽出されたデータに基づいて差分変動モデル52の作成を行う。   The prediction learning unit 40 creates each model based on each characteristic value extracted by each unit of the characteristic separation unit 30. The prediction learning unit 40 includes a smoothed data modeling unit 42 and a difference data modeling unit 44. The smoothed data modeling unit 42 creates a smoothed variation model 54 based on the data extracted by the smoothed data extracting unit 32. The difference data modeling unit 44 creates the difference variation model 52 based on the data extracted by the difference data extraction unit 34.

なお、本実施形態では、一例として、平滑化変動予測モデリング機能にはARを、差分データモデリング機能には階層型ニューラルネットワークの一種である動径基底関数ネットワーク(RBFN)を用いるものとするが、これに限るものではない。例えば、平滑化変動予測には、自己回帰移動平均(ARMA)、自己回帰和分移動平均(ARIMA)などを用いてもよいし、差分変動予測には、ニューラルネットワーク(NN)、リカレントNNなどを用いてもよい。   In this embodiment, as an example, AR is used for the smoothing fluctuation prediction modeling function, and a radial basis function network (RBFN), which is a kind of hierarchical neural network, is used for the difference data modeling function. This is not a limitation. For example, autoregressive moving average (ARMA), autoregressive integrated moving average (ARIMA), or the like may be used for smoothing fluctuation prediction, and neural network (NN), recurrent NN, or the like may be used for differential fluctuation prediction. It may be used.

差分変動モデル52は、差分データモデリング部44よって作成され、平滑化変動予測に用いられる。平滑化変動モデル54は、平滑化データモデリング部42によって作成され、差分変動予測に用いられる。パラメータ設定部60は、差分変動予測の誤差に基づいて、差分データモデリング44の平滑化平滑化データモデリング機能のパラメータ、および特性分離部30の特性分離機能のパラメータを調節する。   The difference variation model 52 is created by the difference data modeling unit 44 and used for smoothing variation prediction. The smoothed fluctuation model 54 is created by the smoothed data modeling unit 42 and used for difference fluctuation prediction. The parameter setting unit 60 adjusts the parameter of the smoothing / smoothing data modeling function of the difference data modeling 44 and the parameter of the characteristic separation function of the characteristic separation unit 30 based on the difference fluctuation prediction error.

予測部70は、作成した各モデルを用いて学習した結果を用いて、実際に最終品質特性の予測を行う機能ブロックである。この予測部70には、差分変動予測部72、平滑化予測部74、予測統合部76、および原因推定部78が含まれている。差分変動予測部72は、差分変動モデル52に基づいて因果関係による変動予測を行う。平滑化予測部74は、平滑化変動モデル54に基づいて傾向変動による変動予測を行う。これらの2つの予測結果は、予測統合部76において統合処理が行われ、最終的な品質特性の予測が行われる。   The prediction unit 70 is a functional block that actually predicts a final quality characteristic using a result learned using each created model. The prediction unit 70 includes a difference variation prediction unit 72, a smoothing prediction unit 74, a prediction integration unit 76, and a cause estimation unit 78. The difference fluctuation prediction unit 72 performs fluctuation prediction based on the causal relationship based on the difference fluctuation model 52. The smoothing prediction unit 74 performs fluctuation prediction based on trend fluctuation based on the smoothing fluctuation model 54. These two prediction results are integrated in the prediction integration unit 76, and final quality characteristics are predicted.

なお、本発明では、前工程における計測値を説明変数とし、最終的な品質特性の予測を目的変数と定義する。本実施形態の基板実装における例では、説明変数として、部品の縦ずれ、部品の横ずれなどを用い、最終的な品質特性である目的変数として、フィレット長を用いるが、これに限定されるものではない。   In the present invention, the measurement value in the previous process is defined as an explanatory variable, and the final quality characteristic prediction is defined as an objective variable. In the board mounting example of this embodiment, the vertical shift of the component, the horizontal shift of the component, etc. are used as the explanatory variables, and the fillet length is used as the objective variable which is the final quality characteristic, but is not limited to this. Absent.

原因推定部78は、予測統合部76によって統合された最終的な品質特性の予測値と、管理限界の値とを用いて、異常の兆候を検出し、その原因究明などを行うことができる。また、管理限界値を動的に変更し、時系列に基づく原因を製造工程にフィードバックして改善を行うことや、基板実装における最終工程である、ハンダに熱を加えて部品を固定するリフロー処理を行う前に、不良が発生しそうな基板を取り除き改善を行うことができる。   The cause estimating unit 78 can detect a sign of abnormality using the predicted value of the final quality characteristic integrated by the prediction integrating unit 76 and the value of the control limit, and investigate the cause. In addition, the control limit value is dynamically changed, the cause based on the time series is fed back to the manufacturing process for improvement, and the final process in board mounting is the reflow process that heats the solder and fixes the parts Before performing the steps, it is possible to remove the substrate that is likely to be defective and improve the substrate.

工程処理装置80は、実際に基板実装における各作業、および各作業段階における特性値の計測を行うための装置である。この工程処理装置80には、印刷検査装置82、ずれ検査装置84、フィレット長検査装置86、工程管理装置90、印刷装置92、装着装置94、およびリフロー装置96が含まれている。   The process processing apparatus 80 is an apparatus for actually measuring each work in the substrate mounting and characteristic values in each work stage. The process processing device 80 includes a print inspection device 82, a displacement inspection device 84, a fillet length inspection device 86, a process management device 90, a printing device 92, a mounting device 94, and a reflow device 96.

印刷検査装置82は、基板に印刷されたクリームハンダの量などを検査するためのセンサ装置である。ずれ検査装置84は、基板に配置された電子部品の位置ずれを検査するためのセンサ装置である。フィレット長検査装置86は、リフロー処理後に固定されたハンダのフィレット長を検査するためのセンサ装置である。各センサ装置は、光学カメラなどの画像入力装置であってもよいし、導通テストや部品の故障テストを行うようなテスト装置であってもよい。   The print inspection device 82 is a sensor device for inspecting the amount of cream solder printed on the substrate. The deviation inspection device 84 is a sensor device for inspecting the positional deviation of the electronic components arranged on the substrate. The fillet length inspection device 86 is a sensor device for inspecting the fillet length of solder fixed after the reflow process. Each sensor device may be an image input device such as an optical camera, or may be a test device that performs a continuity test or a component failure test.

工程管理装置90、各検査装置および各工程処理装置の制御および監視を行うための制御装置である。本実施形態では、コンピュータ(PC)によってその機能を実現するものとする。工程管理装置90は、予測部72の予測結果や、各検査装置における検査結果などに基づいて工程処理を停止または処理動作を修正するものであってもよい。   This is a control device for controlling and monitoring the process management device 90, each inspection device, and each process processing device. In the present embodiment, the function is realized by a computer (PC). The process management device 90 may stop the process processing or correct the processing operation based on the prediction result of the prediction unit 72, the inspection result in each inspection device, or the like.

印刷装置92、工程管理装置90の指示に基づいて、プリント配線済みの基板に対してクリームハンダの印刷処理を行う。装着装置94、工程管理装置90の指示に基づいて、基板に対して電子部品の配置などを行う。リフロー装置96は、工程管理装置90の指示に基づいて、部品やハンダの配置された基板に対して熱を加え、クリームハンダを溶融させて部品を基板に接合する。   Based on the instructions of the printing device 92 and the process management device 90, a cream solder printing process is performed on the printed wiring board. Based on instructions from the mounting device 94 and the process management device 90, the electronic components are arranged on the board. The reflow device 96 applies heat to the substrate on which the components and solder are arranged based on an instruction from the process management device 90, melts the cream solder, and joins the components to the substrate.

次に、本実施形態の予測システム1を用いて実際に予測を行う処理の流れについて、図2を参照して説明する。予測システム1で行う処理は、大きく学習プロセスと予測/判定プロセスに分けられる。まず、学習プロセスから処理手順を説明する。   Next, the flow of processing for actually performing prediction using the prediction system 1 of the present embodiment will be described with reference to FIG. Processing performed in the prediction system 1 is roughly divided into a learning process and a prediction / determination process. First, the processing procedure will be described from the learning process.

学習プロセスでは、システムから取得したセンサ情報などの入力データに基づいて、予測モデルを作成することで学習を行う。まず、予測システム1の取得部10が、システムから目的変数および説明変数の取得を行う。本実施形態において、目的変数は基板実装における部品Aのフィレット長、説明変数は部品Aの横ずれ、部品Aの縦ずれ、および部品Aのハンダ量として説明を行うが、これに限るものではない。   In the learning process, learning is performed by creating a prediction model based on input data such as sensor information acquired from the system. First, the acquisition unit 10 of the prediction system 1 acquires objective variables and explanatory variables from the system. In this embodiment, the objective variable is described as the fillet length of the component A in board mounting, and the explanatory variable is described as the lateral shift of the component A, the vertical shift of the component A, and the solder amount of the component A, but is not limited thereto.

まず、説明変数について説明する。基板実装の各工程の完了後には、各工程で行われた処理の良否を判断するために検査装置によって検査が行われる。具体例をあげると、印刷装置92によってプリント配線を印刷する工程が完了した後には、印刷検査装置82によって印刷の良否を判断するためデータが取得される。また、装着装置94によって部品が装着される工程が完了した後には、ずれ検査装置84によって部品装着位置の良否を判断するためにデータが収集される。本実施形態では、部品Aの横ずれ、部品Aの縦ずれ、および部品Aのハンダの量を検査装置で検査し、説明変数として取得する。   First, explanatory variables will be described. After completion of each process of board mounting, inspection is performed by an inspection apparatus in order to determine whether the processing performed in each process is acceptable. As a specific example, after the process of printing the printed wiring by the printing device 92 is completed, the print inspection device 82 acquires data for judging whether printing is good or bad. In addition, after the process of mounting the component by the mounting device 94 is completed, data is collected by the deviation inspection device 84 in order to determine whether the component mounting position is acceptable. In the present embodiment, the lateral displacement of the component A, the longitudinal displacement of the component A, and the amount of solder of the component A are inspected by an inspection apparatus and acquired as explanatory variables.

次に、目的変数について説明する。本実施形態では、部品Aのフィレット長を最終的に予測する特性値としてパラメータの設定を行う。フィレットとは、ハンダによって基盤またはランドと、部品または端子との間に形成されるなだらかな曲面を指し、フィレット長は、部品の位置ずれ、ハンダの量、ぬれ性能などのハンダの特性、クリームハンダの処方、ランド設計、加熱条件、およびその他の要因によって変動する。フィレット長は、基板に配置された部品およびハンダに熱を加え、基板を冷まし、リフロー処理を完了することで確定される。   Next, the objective variable will be described. In the present embodiment, parameters are set as characteristic values for finally predicting the fillet length of the part A. Fillet refers to the gentle curved surface formed between the base or land and the component or terminal by solder. Fillet length refers to solder characteristics such as component misalignment, amount of solder, wetting performance, cream solder Varies with prescription, land design, heating conditions, and other factors. The fillet length is determined by applying heat to components and solder placed on the substrate, cooling the substrate, and completing the reflow process.

基板実装の工程において、リフロー装置96によってリフロー処理が完了した実装基板は、フィレット長検査装置86によってフィレット長が検査される。ここで得られたフィレット長のデータは、目的変数取得部12によって取得され、特性分離部30に入力される。   In the substrate mounting process, the fillet length is inspected by the fillet length inspection device 86 for the mounting substrate for which the reflow processing has been completed by the reflow device 96. The fillet length data obtained here is acquired by the objective variable acquisition unit 12 and input to the characteristic separation unit 30.

特性分離部30では、取得した目的変数を平滑化することで、直近の複数の時刻に対応する、所定の連続する期間のデータの平均的な値とし、目的変数を時間の流れに沿った、連続するなだらかなグラフとする。これは、実際の目的変数では、突発的要因、例えば、パーツの配置のずれなどといった要因で、目的変数に変動が生じている可能性があるからである。   The characteristic separation unit 30 smoothes the acquired objective variable to obtain an average value of data in a predetermined continuous period corresponding to the most recent times, and the objective variable is in accordance with the flow of time. Let it be a continuous smooth graph. This is because in the actual objective variable, there is a possibility that the objective variable is fluctuated due to an unexpected factor, for example, a deviation in the arrangement of parts.

上記の目的関数の変動について、図13を参照して説明する。図13は、時間の流れに沿った目的変数および説明変数の値の変化を示すグラフである。   The variation of the objective function will be described with reference to FIG. FIG. 13 is a graph showing changes in values of the objective variable and the explanatory variable along the flow of time.

一番上の図のグラフ101は、目的変数(品質特性)の変化を示している。縦軸は、部品Aのフィレット長を示している。二番目の図のグラフ102は、説明変数(部品Aの縦ずれ)の変化を示している。縦軸は、部品のずれを示している。三番目の図のグラフ103は、説明変数(部品Aの横ずれ)の変化を示している。縦軸は、部品Aのずれを示している。これらの説明変数の入力は、製造ラインにおいて下のグラフに対応する工程から順に処理される。   The graph 101 in the uppermost diagram shows changes in the objective variable (quality characteristics). The vertical axis represents the fillet length of the part A. The graph 102 in the second diagram shows the change in the explanatory variable (vertical deviation of the part A). The vertical axis represents the component shift. A graph 103 in the third diagram shows a change in the explanatory variable (lateral deviation of the part A). The vertical axis represents the deviation of the part A. The input of these explanatory variables is processed in order from the process corresponding to the lower graph in the production line.

上記3つのグラフの横軸は、経過時刻を示している。なお、一番上のグラフにおける点線のグラフ100は、グラフ101の値を平滑化したものである。平滑化の処理を行うことによって得られたグラフ100は、突発的な要因を排除した、温度、湿度、製造工程における機械の調子、ハンダの変質などといった、基板自身に起因しない、周りの環境などに起因し、経過時刻に伴う変動であると捉えることができる。本実施形態では、このような変動を「時系列変動(傾向変動、経時変化)」と呼び、基板や基板に配置されたパーツの配置などに起因する、経過時刻に伴って変動しない、突発的な変動を「因果変動」と呼ぶものとする。   The horizontal axis of the three graphs indicates the elapsed time. A dotted line graph 100 in the top graph is a smoothed value of the graph 101. The graph 100 obtained by performing the smoothing process is a surrounding environment that does not originate from the substrate itself, such as temperature, humidity, machine condition in the manufacturing process, solder deterioration, etc., excluding sudden factors. Due to the above, it can be considered that the fluctuation is associated with the elapsed time. In this embodiment, such variation is called “time-series variation (trend variation, time-dependent variation)”, and it does not vary with the elapsed time due to the placement of the substrate and the parts placed on the substrate. Such fluctuation is called “causal fluctuation”.

特性分離処理では、平滑化によって平滑化データを計算し、平滑化データおよび実測値の残差を差分データとして抽出する処理を行う。特性分離部30で行われる平滑化処理および特性分離処理については、詳細は後述するものとする。上記の処理で平滑化データおよび差分データを分離することで、それぞれの変動に適したモデル化手法を用いてモデリングを行うことができる。再び、図2に戻って学習プロセスの処理について説明を続ける。   In the characteristic separation process, smoothed data is calculated by smoothing, and a process of extracting the residual between the smoothed data and the actually measured value as difference data is performed. The smoothing process and the characteristic separation process performed by the characteristic separation unit 30 will be described later in detail. By separating the smoothed data and difference data by the above processing, modeling can be performed using a modeling technique suitable for each variation. Returning again to FIG. 2, the description of the learning process will be continued.

特性分離部30によって平滑化データおよび差分データに分離された目的変数は、それぞれ、平滑化データモデリング部42および差分データモデリング部44に入力される。平滑化データモデリング部42は、平滑化データに分類された目的関数、すなわち、平滑化された目的変数と、平滑化変動モデル54からのフィードバックを含む入力とに基づいて、平滑化変動モデル54を生成する。差分データモデリング部44は、差分データに分類された目的変数と、複数の説明変数とに基づいて、差分変動モデル52を生成する。   The objective variables separated into the smoothed data and the difference data by the characteristic separating unit 30 are input to the smoothed data modeling unit 42 and the difference data modeling unit 44, respectively. The smoothed data modeling unit 42 calculates the smoothing variation model 54 based on the objective function classified into the smoothed data, that is, the smoothed objective variable and the input including feedback from the smoothing variation model 54. Generate. The difference data modeling unit 44 generates a difference variation model 52 based on the objective variable classified as difference data and a plurality of explanatory variables.

上記の平滑化変動モデル54および差分変動モデル52は、パラメータ設定部60によって、経過時刻に沿って次々入力される目的変数並びに説明変数に基づいて各予測モデルを更新され、差分変動予測の誤差に基づいて、各モデリング部におけるモデル生成処理のパラメータと、特性分離部30における特性分離処理のパラメータの調整とが行われる。   In the smoothing variation model 54 and the difference variation model 52, the parameter setting unit 60 updates each prediction model based on the objective variable and the explanatory variable input one after another along the elapsed time. Based on this, the parameter of the model generation process in each modeling unit and the parameter of the characteristic separation process in the characteristic separation unit 30 are adjusted.

なお、各モデルの作成には、各予測項目に適した手法を用いる。ここでは、平滑化変動予測モデリングにはARを、差分変動予測モデリングにはRBFネットワークを用いて、モデルの生成を行うものとするが、これに限らず、NN、リカレントNN、統計量を用いた各種特性と最終品質特性とのモデル化、製造ラインの各種特性と最終品質特性との関係の構造化、最終品質特性を平滑化変動により近似し計算可能な前工程の要因と当該残差とを統計的に関連付けて近似予測と統計的な予測を合算して予測する手法、および、その他の様々な手法を用いるものであってもよい。   Note that a method suitable for each prediction item is used to create each model. Here, model generation is performed using AR for smoothing fluctuation prediction modeling and an RBF network for differential fluctuation prediction modeling, but not limited to this, NN, recurrent NN, and statistics are used. Modeling various characteristics and final quality characteristics, structuring the relationship between various characteristics and final quality characteristics of the production line, approximating the final quality characteristics by smoothing variation and calculating the factors of the previous process and the residual A method of statistically associating and predicting by adding approximate prediction and statistical prediction, and various other methods may be used.

上記の処理が繰り返されることによって各設定パラメータを調整し、予測モデルを生成・更新・構築して行くことで学習を行う。   Learning is performed by adjusting each setting parameter by repeating the above processing, and generating, updating, and constructing a prediction model.

次に、予測/判定プロセスについて説明する。予測/判定プロセスでは、過去の所定数の目的変数から次の目的変数の値を予測し、一連の工程における現在の幾つかの説明変数から現在の目的変数の値を予測する。具体的には、図13の例で示せば、a1およびa2の目的変数の値からa3を予測し、b3およびc3の説明変数の値からa3の目的変数の値を予測する。この例では、所定の数は最近の2つの目的変数となる。   Next, the prediction / determination process will be described. In the prediction / judgment process, the value of the next target variable is predicted from a predetermined number of target variables in the past, and the current target variable value is predicted from several current explanatory variables in a series of steps. Specifically, in the example of FIG. 13, a3 is predicted from the values of the objective variables a1 and a2, and the value of the objective variable a3 is predicted from the values of the explanatory variables b3 and c3. In this example, the predetermined number is the two most recent objective variables.

なお、学習プロセスとは異なり、予測/判定プロセスでは、幾つかの説明変数のみを入力する。図2の例では、3つの説明変数のうち2つのみを入力し、学習プロセスの学習結果によって判明した、直接影響する変数のみを用いるものとする。本実施形態では、部品Aの横ずれ、および、部品Bの縦ずれのみを説明変数として入力し、部品Aのハンダ量については、予測に直接影響しない変数として入力を行わない。   Note that, unlike the learning process, only some explanatory variables are input in the prediction / determination process. In the example of FIG. 2, it is assumed that only two of the three explanatory variables are input and only directly influenced variables that are found from the learning results of the learning process are used. In the present embodiment, only the lateral shift of the part A and the vertical shift of the part B are input as explanatory variables, and the solder amount of the part A is not input as a variable that does not directly affect the prediction.

まず、平滑化変動予測に基づく傾向変更の予測から説明する。システムから取得された目的変数は、平滑化データ抽出部32において、学習プロセスで調整したパラメータに基づいて傾向変動が抽出される。抽出された傾向変動は、平滑化予測部74に入力される。平滑化予測部74では、平滑化データ抽出部おいて抽出された傾向変動と、差分変動モデル54とに基づいて傾向変動の予測値を算出する。   First, the trend change prediction based on the smoothing fluctuation prediction will be described. In the objective variable acquired from the system, the trend data is extracted in the smoothed data extraction unit 32 based on the parameters adjusted in the learning process. The extracted trend variation is input to the smoothing prediction unit 74. The smoothing prediction unit 74 calculates a predicted value of the trend variation based on the trend variation extracted by the smoothing data extraction unit and the difference variation model 54.

次に、差分変動予測に基づく差分データの予測について説明する。システムから取得された説明変数は、前述のように、予測に直接影響しないと判断された説明変数を除いて差分変動予測部72に入力される。差分変動予測部72では、入力された説明変数と、差分変動モデルとに基づいて差分データの予測値を算出する。   Next, prediction of difference data based on difference fluctuation prediction will be described. As described above, the explanatory variables acquired from the system are input to the difference fluctuation prediction unit 72 except for the explanatory variables determined not to directly affect the prediction. The difference fluctuation prediction unit 72 calculates a predicted value of the difference data based on the input explanatory variable and the difference fluctuation model.

以上の入力値に基づいて算出された傾向変動および差分データの予測値は、予測統合部で統合され、最終予測値の算出が行われる。それぞれの予測モデルは、モデルに適合する手法を用いてモデルリングされているので、各モデルの予測値を統合することで、より正確な最終予測値の予測が可能となる。   The trend variation calculated based on the above input values and the predicted value of the difference data are integrated by the prediction integration unit, and the final predicted value is calculated. Since each prediction model is modeled using a method suitable for the model, it is possible to predict the final prediction value more accurately by integrating the prediction values of each model.

このように算出された最終予測値と、入力された説明変数とから、原因推定部78は、品質特性の変化の原因が生産ラインなどの因果変動にあるのか、製造ラインの装置や外部の環境などの傾向変動にあるのかを判断することができる。   From the final predicted value calculated in this way and the input explanatory variable, the cause estimating unit 78 determines whether the cause of the change in the quality characteristic is a causal variation such as a production line, a production line device, or an external environment. It is possible to determine whether there is a trend change.

次に、学習プロセスで行う処理内容について、図3を参照して詳細を説明する。図3は、学習プロセスで行われる実際の処理の流れについて示したフロー図である。   Next, details of processing performed in the learning process will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a flowchart showing the flow of actual processing performed in the learning process.

まず、学習プロセスが開始されると、取得部10の目的変数取得部12および説明変数取得部14によって、次々に流れてくる実装基板から、順次、説明変数群および目的変数が測定される(S101、S102)。測定された目的変数は、平滑化データ抽出部32で平滑化処理され、平滑化データ(傾向変動)として抽出される(S103)。その後、差分データ抽出部34は、抽出された平滑化データと、S101で測定された目的変数との残差を差分データとして抽出する。   First, when the learning process is started, the explanatory variable group and the objective variable are sequentially measured from the mounting boards that flow one after another by the objective variable acquisition unit 12 and the explanatory variable acquisition unit 14 of the acquisition unit 10 (S101). , S102). The measured objective variable is smoothed by the smoothed data extraction unit 32 and extracted as smoothed data (trend fluctuation) (S103). Thereafter, the difference data extraction unit 34 extracts the residual between the extracted smoothed data and the objective variable measured in S101 as difference data.

S103で抽出された平滑化データ(傾向変動)は、平滑化データモデリング部42で平滑化変動モデル54としてモデル化される(S105)。また、S104で抽出された差分データは、差分データモデリング部44で差分変動モデル52としてモデル化される(S106)。その後、パラメータ設定部60は、S105およびS106のモデル化処理に用いたデータに基づいて、平滑化データモデリング部42および特性分離部30に反映させるパラメータの調整を行う(S107)。パラメータの調節処理について、詳細は後述する。パラメータ調節の結果は、図3のフロー図の(1)の位置で反映され、S103の抽出処理におよびS106の差分変動のモデル化に反映される。   The smoothed data (trend variation) extracted in S103 is modeled as a smoothed variation model 54 by the smoothed data modeling unit 42 (S105). Further, the difference data extracted in S104 is modeled as a difference variation model 52 by the difference data modeling unit 44 (S106). Thereafter, the parameter setting unit 60 adjusts parameters to be reflected in the smoothed data modeling unit 42 and the characteristic separation unit 30 based on the data used for the modeling processing in S105 and S106 (S107). Details of the parameter adjustment processing will be described later. The result of parameter adjustment is reflected at the position (1) in the flowchart of FIG. 3, and is reflected in the extraction process in S103 and the modeling of the difference variation in S106.

次に、パラメータ調節の処理内容について、図4を参照して詳細を説明する。図4は、パラメータ設定部60で処理されるパラメータの調節処理の流れについて示したフロー図である。   Next, details of the parameter adjustment processing will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a flowchart showing the flow of parameter adjustment processing performed by the parameter setting unit 60.

まず、パラメータ調整処理が開始されると、パラメータ設定部60によって、目的変数取得部12および説明変数取得部14で取得済の目的変数および説明変数群が呼び出される(S201)。呼び出された各変数は、差分変動予測部72および平滑化予測部74の予測機能を用いて、予測処理を行う。予測処理について、詳細は後述する。   First, when the parameter adjustment process is started, the parameter setting unit 60 calls the objective variable and the explanatory variable group acquired by the objective variable acquisition unit 12 and the explanatory variable acquisition unit 14 (S201). Each called variable performs a prediction process using the prediction functions of the difference fluctuation prediction unit 72 and the smoothing prediction unit 74. Details of the prediction process will be described later.

次に、パラメータ設定部60は、予測機能を用いて計算された予測結果から、当該説明変数の因果変動の再現性を抽出する(S204)。抽出した再現性に基づいて、パラメータ設定部60は、因果関係の再現性が十分であるかを判断する(S204)。因果関係の再現性が十分であると判断した場合(S204でYes)、パラメータ調節処理は終了する。因果関係の再現性が十分ではないと判断した場合(S204でNo)、処理はS205に進む。   Next, the parameter setting unit 60 extracts the reproducibility of the causal variation of the explanatory variable from the prediction result calculated using the prediction function (S204). Based on the extracted reproducibility, the parameter setting unit 60 determines whether the reproducibility of the causal relationship is sufficient (S204). If it is determined that the reproducibility of the causal relationship is sufficient (Yes in S204), the parameter adjustment process ends. If it is determined that the reproducibility of the causal relationship is not sufficient (No in S204), the process proceeds to S205.

S205において、因果関係が平滑化されることによって再現されているかどうか判断する(S205)。因果関係が平滑化されて再現されていると判断した場合(S206でYes)、処理はS206に進む。因果関係が平滑化されて再現されていない判断した場合(S206でNo)、処理はS207に進む。   In S205, it is determined whether the causal relationship is reproduced by being smoothed (S205). If it is determined that the causal relationship has been smoothed and reproduced (Yes in S206), the process proceeds to S206. If it is determined that the causal relationship has not been smoothed and reproduced (No in S206), the process proceeds to S207.

S206において、目的変数の平滑化に用いるデータサイズを短くするパラメータ調整を行う。これによって、図3の(1)にパラメータ調整を反映する。同様に、S207において、目的変数の平滑化に用いるデータサイズを長くするパラメータ調整を行う。これによって、図3の(1)にパラメータ調整を反映する。   In S206, parameter adjustment is performed to shorten the data size used for smoothing the objective variable. As a result, the parameter adjustment is reflected in (1) of FIG. Similarly, in S207, parameter adjustment is performed to increase the data size used for smoothing the objective variable. As a result, the parameter adjustment is reflected in (1) of FIG.

次に、予測/判定プロセスで行う処理内容について、図5を参照して詳細を説明する。図5は、予想/判定プロセスで行われる実際の処理の流れについて示したフロー図である。   Next, details of processing performed in the prediction / determination process will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a flowchart showing an actual processing flow performed in the prediction / determination process.

まず、予想/判定プロセスが開始されると、取得部10の目的変数取得部12および説明変数取得部14によって、次々に流れてくる実装基板から、順次、説明変数群および目的変数が測定される(S301、S302)。   First, when the prediction / determination process is started, the explanatory variable group and the objective variable are sequentially measured from the mounting boards that flow one after another by the objective variable acquisition unit 12 and the explanatory variable acquisition unit 14 of the acquisition unit 10. (S301, S302).

測定された目的変数は、平滑化データ抽出部32で平滑化処理され、平滑化データ(傾向変動)として抽出される(S303)。その後、平滑化予測部74は、平滑化された平滑化データと、学習処理が反映された平滑化変動モデル54とに基づいて、平滑化変動予測を行う(S305)。平滑化変動予測を行った結果は、予測統合部76に入力される。   The measured objective variable is smoothed by the smoothed data extraction unit 32 and extracted as smoothed data (trend fluctuation) (S303). Thereafter, the smoothing prediction unit 74 performs smoothing fluctuation prediction based on the smoothed smoothed data and the smoothing fluctuation model 54 reflecting the learning process (S305). The result of the smoothed fluctuation prediction is input to the prediction integration unit 76.

一方、測定された説明変数群は、目的変数に直接影響を及ぼす説明変数のみが選別され、差分変動予測部72に入力される(S304)。その後、差分変動予測部72は、選別された説明変数群および学習処理が反映された差分変動モデル52とに基づいて差分変動予測を行う(S306)。   On the other hand, from the measured explanatory variable group, only explanatory variables that directly affect the objective variable are selected and input to the difference fluctuation prediction unit 72 (S304). Thereafter, the difference fluctuation prediction unit 72 performs difference fluctuation prediction based on the selected explanatory variable group and the difference fluctuation model 52 reflecting the learning process (S306).

その後、予測統合部76は、S305で行った平滑化変動予測と、S306で行った差分変動予測とを合算して、最終的な予測結果を算出する(S307)。その後、算出した最終予測結果に基づいて、原因推定部78は、不良原因の推定処理を行う(S308)。原因推定処理について、詳細は後述する。   Thereafter, the prediction integration unit 76 adds the smoothed fluctuation prediction performed in S305 and the difference fluctuation prediction performed in S306 to calculate a final prediction result (S307). Thereafter, based on the calculated final prediction result, the cause estimating unit 78 performs defect cause estimation processing (S308). Details of the cause estimation process will be described later.

次に、原因推定処理で行う処理内容について、図6を参照して詳細を説明する。図6は、原因推定処理において原因推定部78で行われる実際の処理の流れについて示したフロー図である。   Next, details of processing performed in the cause estimation processing will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart showing the flow of actual processing performed by the cause estimating unit 78 in the cause estimating process.

まず、原因推定処理が開始されると、原因推定部78は、最終予測値が管理限界を超えているかどうか確認し(S401)、判断する(S402)。最終予測値が管理限界を超えている場合(S402でYes)、処理はS403に進む。最終予測値が管理限界を超えていない場合(S402でNo)、処理は終了する。   First, when the cause estimation process is started, the cause estimation unit 78 checks whether or not the final predicted value exceeds the management limit (S401), and determines (S402). If the final predicted value exceeds the management limit (Yes in S402), the process proceeds to S403. If the final predicted value does not exceed the management limit (No in S402), the process ends.

S403において、平滑化データ予測(平滑化変動予測)が管理限界を超えているかどうかを確認し(S403)、管理限界を超えている場合には(S404でYes)、処理はS405に進む。管理限界を超えていない場合には(S404でNo)、処理はS406に進む。管理限界を超えている場合には、異常の主な原因は経時変化であるので、これを通知する処理を行う(S405)。管理限界を超えていない場合には、異常の主な原因は前工程における要因であるので、これを通知する処理を行う(S406)。その後、原因推定処理を終了する。   In S403, it is confirmed whether the smoothed data prediction (smoothing fluctuation prediction) exceeds the control limit (S403). If the control limit is exceeded (Yes in S404), the process proceeds to S405. If the control limit is not exceeded (No in S404), the process proceeds to S406. If the control limit is exceeded, the main cause of the abnormality is a change with time, and processing for notifying this is performed (S405). If the control limit is not exceeded, the main cause of the abnormality is a factor in the previous process, and processing for notifying this is performed (S406). Thereafter, the cause estimation process is terminated.

次に、差分データモデリング部で行う処理内容について、図7〜図12を参照して詳細を説明する。図7は、差分データモデリングを行う動径基底関数ネットワーク(RBFN)の処理の流れについて示したフロー図である。図8は、RBFNで処理を行う際に用いる各種計算に用いられる変数の一覧を説明する表を示す図である。図9は、差分データモデリング部に用いられるRBFN予測モデルの構造を示す図である。図10は、差分データモデリング部で用いられるガウス関数を表す図である。図11(a)および図11(b)は、上記のRBFN予想モデルにおける既定関数の配置の概略を示す図である。図12は、RBFN予想モデルにおける中心点の選定について説明する図である。   Next, details of processing performed in the differential data modeling unit will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a flowchart showing the flow of processing of a radial basis function network (RBFN) that performs differential data modeling. FIG. 8 is a diagram illustrating a table for explaining a list of variables used for various calculations used when processing is performed by the RBFN. FIG. 9 is a diagram illustrating the structure of the RBFN prediction model used in the differential data modeling unit. FIG. 10 is a diagram illustrating a Gaussian function used in the differential data modeling unit. FIG. 11A and FIG. 11B are diagrams showing an outline of the arrangement of default functions in the above RBFN prediction model. FIG. 12 is a diagram for explaining selection of the center point in the RBFN prediction model.

ここで、RBFNについての概略について説明する。RBFNは、3層からなるフィードフォワード型のネットワークで(図9参照)、多層パーセプトロンと同様に任意の非線形関数を近似することができる。RBF(動径基底関数)とは、入力空間において局所的に反応する関数を指す。つまり、中心で最大値または最小値を取り、中心から離れるに従って単調に減少または増加していくような関数を指す。このような関数は多数存在するが、頻繁に使用されるのものが、図10に示すようなガウス関数である。   Here, an outline of RBFN will be described. RBFN is a feed-forward type network consisting of three layers (see FIG. 9), and can approximate an arbitrary nonlinear function in the same way as a multilayer perceptron. RBF (radial basis function) refers to a function that reacts locally in the input space. That is, a function that takes a maximum value or a minimum value at the center and monotonously decreases or increases as the distance from the center increases. Although many such functions exist, a frequently used one is a Gaussian function as shown in FIG.

ガウス関数は、次の式1に示すような数式で表される。   The Gaussian function is expressed by the following mathematical formula 1.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

ここで、h(x)は中間層素子からの出力値、x(=x、Λ、x)は入力層素子からの入力データ、cはガウス関数の中心点、rはガウス関数の半径を指している。 Here, h j (x) is the output value from the intermediate layer element, x (= x 1 , Λ, x n ) is the input data from the input layer element, c j is the center point of the Gaussian function, and r is the Gaussian function Points to the radius.

基底関数ネットワークモデルの構造は、図9に示すとおり、素子数n個の入力層、素子数m個の中間層、素子数l個の出力層の3層からなる。各層は、入出力を行う素子から構成されている。各層間の素子は結線により結ばれているが、同じ層内の素子同士は結合されていない。   As shown in FIG. 9, the basis function network model has three layers: an input layer with n elements, an intermediate layer with m elements, and an output layer with l elements. Each layer is composed of elements that input and output. The elements between the layers are connected by wiring, but the elements in the same layer are not coupled to each other.

このモデルのx1、…、xに、a、…、a、0(x)にa+Δtを学習データとして与えることで予測モデルとすることができる。ただし、a、…、a、at+1、…a+Δtは時系列データ、Δtは、現在時刻をtとした場合に予測したい先の期間を示す。なお、h(x)とは、x、…xを要素とするベクトルであり、0(x)も同様である。 X1 of this model, ..., the x n, a 1, ..., can be a predictive model by giving a t + Delta] t as learning data in a t, 0 (x). However, a 1 ,..., A t , a t + 1 ,... A t + Δt are time-series data, and Δt indicates a previous period to be predicted when the current time is t. Note that h (x) is a vector whose elements are x 1 ,..., X n , and 0 (x) is the same.

中間層における各素の出力は、基底関数の一つである釣鐘状のガウス関数を用いる(図10)。基底関数を用いた予測学習モデルでは、図9の中間層から出力層への重み(w)、既定関数h(x)の中心位置c、および半径rを決定することを指す。RBFNでは、基底関数の重み付き和によって非線形関数を表現している。基底関数の中心、幅、結合重みを変更することでRBFNの形は変化する。実測値であるデータに基づいて、実測値のデータとRBFNの出力との誤差が小さくなるように適切なパラメータを推定することが、RBFNにおける学習となる。 The output of each element in the intermediate layer uses a bell-shaped Gaussian function which is one of the basis functions (FIG. 10). In the predictive learning model using the basis function, this means that the weight (w i ) from the intermediate layer to the output layer, the center position c j of the default function h (x), and the radius r are determined in FIG. In RBFN, a nonlinear function is expressed by a weighted sum of basis functions. The shape of RBFN changes by changing the center, width, and coupling weight of the basis function. Based on data that is actually measured values, learning in the RBFN is to estimate an appropriate parameter so that an error between the actually measured value data and the output of the RBFN is small.

基底関数の配置のイメージについて、図11に示す。図11(a)に示すように個々の基底関数を配置し、図11(b)に示すように基底関数を配置することで、応答局面を作成する。   FIG. 11 shows an image of the arrangement of basis functions. As shown in FIG. 11A, individual basis functions are arranged, and as shown in FIG. 11B, response functions are created.

基底関数の中心、幅、結合重みを変更することでRBFNの形は変化する。すなわち、
データに基づいて、データとRBFNの出力との誤差が小さくなるように適切なパラメータを推定することが、RBFNにおける学習となる。
The shape of RBFN changes by changing the center, width, and coupling weight of the basis function. That is,
Learning in the RBFN is to estimate an appropriate parameter based on the data so that an error between the data and the output of the RBFN is reduced.

次に、RBFNでの処理の流れについて説明する。差分データモデリング処理が開始されると、説明変数の選択が行われる(S501)。説明変数の具体的内容については、後述する。次に、学習データの作成が行われる(S502)。本実施形態では、学習データとして、有効な説明変数について、過去の実測値と因果による変動とをRBFNの入出力関係の集合としている。   Next, the flow of processing in RBFN will be described. When the differential data modeling process is started, an explanatory variable is selected (S501). Specific contents of the explanatory variables will be described later. Next, learning data is created (S502). In the present embodiment, as the learning data, the past measured values and the causal variation are used as a set of RBFN input / output relationships for the effective explanatory variables.

その後、S503において、k−means法を用いて、S502で作成した集合の中から中間層ニューロン数に合致するだけの中心点を選定する。S504において、S503で選定した代表点を中間層の各ニューロンの中心点と位置付け、基底の半径rを持つRBFに従い、全ての説明変数のデータ集合について、中間層の出力値を算出する。最後に、S505において、中間層と出力層との間のネットの重みwを算出する。この際、ネットの重みの算出が正常に終了するように、正規化パラメータεを利用する。 Thereafter, in S503, center points that match the number of intermediate layer neurons are selected from the set created in S502 using the k-means method. In S504, the representative point selected in S503 is positioned as the center point of each neuron in the intermediate layer, and the output values of the intermediate layer are calculated for all explanatory variable data sets according to the RBF having the base radius r. Finally, in S505, a net weight w i between the intermediate layer and the output layer is calculated. At this time, the normalization parameter ε is used so that the calculation of the net weight ends normally.

k−means法は、非階層的なクラスタ分析(クラスタリング)の代表的な手法である。k−means法では、あらかじめ固定された数のクラスタのおのおのにその代表であるプロトタイプを与え、それぞれの個体を最も近いプロトタイプに割り当てることでクラスタリングを行う。個体が割り当てられたら、次は、割り当てられた個体から新たなプロトタイプを算出する。このように、プロトタイプの算出と個体の割り当てを収束するまで繰り返すことで、適切なプロトタイプの推定とデータの分割が行われる。   The k-means method is a typical technique for non-hierarchical cluster analysis (clustering). In the k-means method, a prototype that is representative of each of a fixed number of clusters is given, and clustering is performed by assigning each individual to the closest prototype. Once an individual is assigned, next, a new prototype is calculated from the assigned individual. As described above, by repeating the calculation of the prototype and the assignment of the individual until convergence, an appropriate prototype estimation and data division are performed.

k−means法のアルゴリズムは、1)k個のクラスタの中心をランダムに設定する、2)それぞれの個体を最も近い中心に割り当てる、3)クラスタごとに中心を計算しなおし、すべてのクラスタ中心が変化しなければ終了し、それ以外は2)へ戻る、というものである。   The algorithm of the k-means method is as follows: 1) randomly set the centers of k clusters, 2) assign each individual to the nearest center, 3) recalculate the center for each cluster, and all cluster centers If there is no change, the process ends. Otherwise, the process returns to 2).

次に、図8を参照して、上述の各処理で行われる計算処理について詳細を説明する。図8は、上述の各処理で行われる計算処理で用いられる変数についての説明する説明図である。各行に示された変数について、詳細を上から順に説明する。   Next, with reference to FIG. 8, the details of the calculation process performed in each of the above-described processes will be described. FIG. 8 is an explanatory diagram for explaining variables used in the calculation process performed in each of the above-described processes. Details of the variables shown in each row will be described in order from the top.

は現在時刻を示す変数である。y(t)は、目的変数の時刻tにおける実測値である。y(t)は、製造工程では最終工程の品質評価指標となる。x(t)は、説明変数の時刻tにおける実測値である。x(t)は、製造工程では中間工程のi番目の特性に関する観測値となる。Nは、すべての説明変数の数を示す変数である。 Tc is a variable indicating the current time. y (t) is an actual measurement value of the objective variable at time t. y (t) is a quality evaluation index for the final process in the manufacturing process. x i (t) is an actual measurement value at the time t of the explanatory variable. x i (t) is an observed value related to the i-th characteristic of the intermediate process in the manufacturing process. N is a variable indicating the number of all explanatory variables.

ts(t)は、目的変数の時刻tにおける平滑化データの実測値である。yce(t)は、目的変数の時刻tにおける因果による変動の実測値である。y^ts(t)(本明細書では、y^は、yの上にハット記号^を付加した記号を示すものとする)は、目的変数の時刻tにおける平滑化データの予測値である。y^ceは(t)は、目的変数の時刻tにおける因果による変動の予測値である。y^(t)は、目的変数の時刻tにおける予測値である。なお、ハット記号^は、予測値に対して付加されている。 Y ts (t) is an actual measurement value of the smoothed data at the time t of the objective variable. y ce (t) is an actual measurement value of the causal variation at time t of the objective variable. y ^ ts (t) (in this specification, y ^ indicates a symbol obtained by adding a hat symbol ^ on y) is a predicted value of the smoothed data at the time t of the objective variable. y ^ ce is a predicted value of the causal variation at time t of the objective variable. y ^ (t) is a predicted value of the objective variable at time t. The hat symbol ^ is added to the predicted value.

は、目的変数に直接的に影響を及ぼす説明変数の数である。Tは、目的変数の系列を平滑化する際の遅延時間である。Tは、平滑化した目的変数の次点を予測するために利用する過去の計測値の数である。なお、Tは、現在の直前の値を基点として、過去にさかのぼる。Tは、平滑化した目的変数の変化が安定していると仮定する時間である。α(t)は、平滑化変動予測における時刻tでの過去i時間前の実測値が現在の値に影響を及ぼす重み集合である。 N s is the number of explanatory variables that directly affect the objective variable. T d is a delay time when the target variable series is smoothed. T l is the number of past measurement values used to predict the next point of the smoothed objective variable. Note that T l dates back to the past, starting from the value immediately before the current point. T s is the time when it is assumed that the change in the smoothed objective variable is stable. α i (t) is a weight set in which the actual measurement value before the past i hours at time t in the smoothing fluctuation prediction affects the current value.

は、動径基底ネットワーク(RBFN)の中間層ニューロンの数である。rは、RBFNの中間層における各ニューロンの基底関数の半径である。wは、RBFNのi番目の中間層ニューロンと出力層ニューロンを結合するネットワークの重み集合である。εは、RBFNの中間層と出力層を結合するネットワークの重み集合を算出する際の演算を確実に実行するためのパラメータである。cijは、RBFNの中間層のi番目ニューロンの中心点におけるj番目の目的変数に対応する中心値である。z(t)は、RBFNの中間層のi番目ニューロンの時刻tにおける出力値である。 N h is the number of intermediate layer neurons of the radial basis network (RBFN). r is the radius of the basis function of each neuron in the intermediate layer of RBFN. w i is a weight set of a network connecting the i-th intermediate layer neuron and the output layer neuron of RBFN. ε is a parameter for reliably executing an operation when calculating a weight set of a network connecting the intermediate layer and the output layer of RBFN. c ij is a central value corresponding to the j-th objective variable at the central point of the i-th neuron in the intermediate layer of RBFN. z i (t) is an output value at time t of the i-th neuron in the intermediate layer of RBFN.

なお、上記の変数のうち、T、T、N、r、w、ε、Cijは、パラメータとして指定する。 Of the above variables, T d , T s , N h , r, w i , ε, and C ij are designated as parameters.

まず、特性分離機能において、特性分離処理を行う計算式について説明する。式2は、計測した目的変数を平滑化し、平滑化データを算出する式である。   First, a calculation formula for performing the characteristic separation process in the characteristic separation function will be described. Expression 2 is an expression for smoothing the measured objective variable and calculating smoothed data.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

数2で抽出した、平滑化された目的変数と、計測された目的変数との残差を、式3を用いて抽出し、因果による変動を算出する。   The residual between the smoothed objective variable extracted by Equation 2 and the measured objective variable is extracted using Equation 3 to calculate the causal variation.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

上記の式2および式3を計測された目的変数に対して適用することによって、特性分離処理を行う。   The characteristic separation process is performed by applying the above Equations 2 and 3 to the measured objective variable.

次に、各予測モデルによる予測学習処理について説明を行う。平滑化データ(傾向変動)の平滑化変動予測によるモデル化では、自己回帰分析を用いて、1単位時刻前の時刻T−1を起点として、過去T時間のデータの予測関係を定式化する。この際、時刻tを予測するための関係式は、回帰係数α(T)を用いて、式4のように定式化される。 Next, the prediction learning process by each prediction model is demonstrated. In modeling by smoothed fluctuation prediction of smoothed data (trend fluctuation), autoregressive analysis is used to formulate the prediction relationship of data of past T s time starting from time T c −1 one unit time before. To do. At this time, the relational expression for predicting the time t is formulated as Expression 4 using the regression coefficient α i (T c ).

Figure 2008117381
Figure 2008117381

これを過去T単位時間分作成し、連立方程式にする。このようにして得られた連立方程式を解き、過去T単位時間の区間の回帰計数α(T)を算出する。 This is created for the past T s unit time to make simultaneous equations. The simultaneous equations thus obtained are solved to calculate the regression coefficient α i (T c ) for the interval of the past T s unit time.

次に、差分データに基づく予測学習処理について説明を行う。差分データの差分変動予測によるモデル化では、ステップ1において、観測した説明変数群から、因果構造獲得を用いて、目的変数に直接的に影響を及ぼす有効な説明変数群の選択を行う。   Next, predictive learning processing based on difference data will be described. In the modeling based on the difference fluctuation prediction of the difference data, in step 1, an effective explanatory variable group that directly affects the objective variable is selected from the observed explanatory variable group by using causal structure acquisition.

その後、ステップ2において、有効な説明変数群を入力とし、因果による変動を出力とする動径基底関数ネットワークを構築する。   After that, in step 2, a radial basis function network is constructed which takes valid explanatory variable groups as inputs and outputs variations due to causality.

具体的には、ステップ2−1において、ステップ1で選択した有効な説明変数群について、過去T時間の実測値と因果による変動をRBFNの入出力関係の集合とする。その後、ステップ2−2において、k−means法により、ステップ2−1で作成する集合の中から、中間層ニューロン数に合致するだけの代表点を選定する。 Specifically, in step 2-1, for valid explanation variable group selected in step 1, the variation due to the measured value and the causal past T s times a set of RBFN the input-output relationship. Thereafter, in step 2-2, representative points that match the number of intermediate layer neurons are selected from the set created in step 2-1 by the k-means method.

なお、k−means法により代表点を選定する代わりに、目的変数の目標値やRBFNの入出力関係の誤差を用いて、図12に示すように予測精度を向上させたいポイントを抽出して学習を行ってもよい。この方法については、別の実施形態で後述する。   In addition, instead of selecting representative points by the k-means method, using the target value of the objective variable or the error in the input / output relationship of the RBFN, the points to improve the prediction accuracy as shown in FIG. 12 are extracted and learned. May be performed. This method will be described later in another embodiment.

その後、ステップ2−3として、ステップ2−2で選定した代表点を中間層の各ニューロンの中心点と位置付け、既定の半径rを持つRBFに従い、すべての説明変数群のデータ集合について、式5を用いて中間層の出力値を算出する。   Thereafter, as step 2-3, the representative point selected in step 2-2 is positioned as the center point of each neuron in the intermediate layer, and according to the RBF having a predetermined radius r, the data set of all explanatory variable groups is expressed by equation 5 Is used to calculate the output value of the intermediate layer.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

その後、最後に、ステップ2−4として、その後、中間層と出力層の間のネット重みwを算出する。この際、ネット重みの算出が正常に終了するように、正規化パラメータεを利用する。 Then, finally, as step 2-4, the net weight w i between the intermediate layer and the output layer is calculated thereafter. At this time, the normalization parameter ε is used so that the calculation of the net weight ends normally.

次に、予測統合部76における、平滑化変動モデルを用いて平滑化データを平滑化変動予測する予測機能の処理について説明を行う。式6は、次点での平滑化データを予測するための式である。   Next, processing of a prediction function in the prediction integration unit 76 that predicts smoothed fluctuations of smoothed data using a smoothed fluctuation model will be described. Expression 6 is an expression for predicting smoothed data at the next point.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

次に、因果構造獲得で有効と判断した目的変数群をRBFNに入力し、次点の差分データを式7により予測する。   Next, the objective variable group determined to be effective in the causal structure acquisition is input to RBFN, and the difference data of the next point is predicted by Expression 7.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

最後に、式6および式7で求めた上記2つの学習モデルによる予測結果を、式8を用いて合算する。   Finally, the prediction results based on the two learning models obtained by Expression 6 and Expression 7 are added together using Expression 8.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

これによって、より正確な予測結果を導き出すことが出来る。   As a result, a more accurate prediction result can be derived.

次に、原因推定部78において、原因推定処理を行う際の手順について説明する。まず、ステップ1として、式9によって平滑化変動予測を適用して、次点における平滑化データを算出する。   Next, a procedure when the cause estimation unit 78 performs cause estimation processing will be described. First, as step 1, smoothing data at the next point is calculated by applying smoothing fluctuation prediction according to equation (9).

Figure 2008117381
Figure 2008117381

次に、ステップ2として、過去N点における差分データを算出し、式10に適用することによって、その標準偏差σを算出する。   Next, as step 2, the difference data at the past N points is calculated and applied to Equation 10 to calculate the standard deviation σ.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

その後、ステップ3として、ステップ1で得られた変動の中心と標準偏差を用い、例えば、3σといった幅を持つ経時異常原因推定基準値(LTAL、HTAL)を、式11および式12で定義する。   Thereafter, as step 3, using the center of fluctuation and the standard deviation obtained in step 1, for example, a temporal abnormality cause estimation reference value (LTAL, HTAL) having a width of 3σ is defined by equations 11 and 12.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

Figure 2008117381
Figure 2008117381

また、ステップ1で得られた変動を中心として、差分データの標準偏差を用いて、例えば、3σといったの幅を持つ突発異常原因推定基準値(LAAL、HAAL)を、式13および式14で定義する。   Further, by using the standard deviation of the difference data with the fluctuation obtained in Step 1 as the center, for example, the sudden abnormality cause estimation reference value (LAAL, HAAL) having a width of 3σ is defined by Expression 13 and Expression 14. To do.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

Figure 2008117381
Figure 2008117381

最後に、ステップ4として、ステップ3で得られる二種の異常原因推定基準値に対して、計測された現時点での変動が基準を超している場合、現時点の製品をNGとし、超えていない場合、現時点の製品をOKと判断する。   Finally, as Step 4, if the measured current fluctuation exceeds the standard for the two types of abnormal cause estimation standard values obtained in Step 3, the current product is NG and not exceeded In this case, it is determined that the current product is OK.

以上の計算を適用することによって、各機能ブロックで行われる処理が実行される。   By applying the above calculation, processing performed in each functional block is executed.

次に、以上の計算処理を行うことによって各機能を実行し、学習処理を行った後に、予測処理を行った結果の一例について、図14〜図17を参照して説明する。   Next, an example of a result of performing a prediction process after performing each function by performing the above calculation process and performing a learning process will be described with reference to FIGS.

図14〜図17は、上記の学習および予測処理を、平滑化:45、予測次数:15、学習セット:100、RBFN中間層ニューロン数:10、RBFNσ:0.3、RBFNλ:0.1のパラメータで適用した結果を示すグラフである。図14〜図17のグラフでは、実測値105、平滑化実測値106、平滑化予測値107、補完済み予測値108、正常/異常フラグ109、および突発異常原因推定基準値110(突発異常原因推定基準下限LAAL110a、突発異常原因推定基準上限:HAAL110b)のうち、いくつかが選び出されて示されている。   14 to 17, the learning and prediction processes described above are performed by smoothing: 45, prediction order: 15, learning set: 100, RBFN intermediate layer neuron number: 10, RBFNσ: 0.3, and RBFNλ: 0.1. It is a graph which shows the result applied with a parameter. 14 to 17, the measured value 105, the smoothed measured value 106, the smoothed predicted value 107, the complemented predicted value 108, the normal / abnormal flag 109, and the sudden abnormality cause estimation reference value 110 (the sudden abnormality cause estimation). Among the reference lower limit LAAL110a and the sudden abnormality cause estimation reference upper limit: HAAL110b), some are selected and shown.

図14では、実測値105、平滑化実測値106、突発異常原因推定基準値110aおよび110bがグラフに示されている。実測値105には、数多くのばらつきが含まれるため、管理限界110aを超している数値が20回以上検出されていることが分かる。   In FIG. 14, the measured value 105, the smoothed measured value 106, and the sudden abnormality cause estimation reference values 110a and 110b are shown in the graph. Since the actual measurement value 105 includes many variations, it can be seen that a numerical value exceeding the control limit 110a is detected 20 times or more.

図15では、平滑化実測値106、平滑化予測値107、突発異常原因推定基準値110aおよび100bがグラフに示されている。補完された予測値では、突発異常原因推定基準値110aを超える数値が6回検出されていることが分かる。   In FIG. 15, the smoothed actual measurement value 106, the smoothed predicted value 107, and the sudden abnormality cause estimation reference values 110a and 100b are shown in the graph. It can be seen that a numerical value exceeding the sudden abnormality cause estimation reference value 110a is detected six times in the complemented predicted value.

図16では、平滑化実測値106、補完済み予測値108、突発異常原因推定基準値110aおよび100bがグラフに示されている。補完された予測値では、突発異常原因推定基準値110aを超える数値が12回検出されていることが分かる。   In FIG. 16, the smoothed actual measurement value 106, the complemented predicted value 108, and the sudden abnormality cause estimation reference values 110a and 100b are shown in the graph. It can be seen that in the supplemented predicted value, a numerical value exceeding the sudden abnormality cause estimation reference value 110a is detected 12 times.

図17では、平滑化実測値106、正常/異常フラグ109、突発異常原因推定基準値110aおよび100bがグラフに示されている。図14〜図16のデータより、9回異常フラグが検出されていることが分かる。   In FIG. 17, the smoothed actual measurement value 106, the normal / abnormal flag 109, and the sudden abnormality cause estimation reference values 110a and 100b are shown in the graph. It can be seen from the data of FIGS. 14 to 16 that the abnormality flag has been detected nine times.

以上のように、本実施形態の予測装置2は、過去に取得した複数のセンサ情報から、ある時点における特性値を予測する特性値予測装置2であって、過去に取得した複数のセンサ情報を説明変数として取得する説明変数取得部14と、予測する特性値を複数の時点のセンサ情報から目的変数として時系列に沿って取得する目的変数取得部12と、時系列に沿った複数の目的変数を所定の範囲で平滑化することによって、ばらつきを平滑化した目的変数を傾向変動として抽出する平滑化データ抽出部32と、時系列に沿った複数の目的変数から平滑化した目的変数を取り除くことで、特性値との相関関係が存在すると判断した原因特定変動として抽出する差分データ抽出部34と、原因特定変動から、平滑化変動モデル54を作成する差分データモデリング部44と、差分変動モデル54からある時点における特性値を予測する差分変動予測部72とを備えている。   As described above, the prediction device 2 according to the present embodiment is a characteristic value prediction device 2 that predicts a characteristic value at a certain point of time from a plurality of sensor information acquired in the past, and the plurality of sensor information acquired in the past. An explanatory variable acquisition unit 14 that acquires as an explanatory variable, an objective variable acquisition unit 12 that acquires characteristic values to be predicted from multiple pieces of sensor information as target variables along a time series, and a plurality of objective variables along a time series Is smoothed within a predetermined range, and a smoothed data extraction unit 32 that extracts a target variable smoothed from variations as a trend variation, and removes the target variable smoothed from a plurality of target variables in time series. Thus, the difference data extraction unit 34 that extracts the cause-specific variation determined to have a correlation with the characteristic value, and the difference data that creates the smoothing variation model 54 from the cause-specific variation. A modeling unit 44, and a difference fluctuation prediction unit 72 for predicting a characteristic value at some point from the difference variation model 54.

上記の構成によれば、過去に取得した複数のセンサ情報に基づく目的変数から、平滑化した目的変数を取り除くことによって、上記特性値と相関関係が存在すると判断した原因特定変動を抽出することができるので、原因特定変動を取り除いた予測モデルと、原因変動に基づく予測モデルを生成し、最適な手法を適用してモデルを作成し、特性値の予測を行うことができる。   According to the above configuration, by extracting the smoothed objective variable from the objective variables based on a plurality of sensor information acquired in the past, it is possible to extract the cause specifying variation determined to have a correlation with the characteristic value. Therefore, it is possible to generate a prediction model from which the cause-specific variation is removed and a prediction model based on the cause variation, create a model by applying an optimum method, and predict characteristic values.

また、本実施形態の予測装置2では、差分データモデリング部44として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、差分データモデリング部44は、上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、k−means法により、上記学習データから中間層ニューロンに合致する代表点を選定する代表点選定手段と、選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段とを備えてもよい。   Further, in the prediction device 2 of the present embodiment, a radial basis function network having an intermediate layer neuron is used as the difference data modeling unit 44, and the difference data modeling unit 44 uses the fluctuation of the variation factor characteristic value and the difference data. Learning data generating means for generating learning data including fluctuations, representative point selecting means for selecting a representative point matching the intermediate layer neuron from the learning data by the k-means method, and an intermediate layer based on the selected center point Network construction means for constructing the radial basis function network by calculating the weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer.

上記の構成によれば、k−means法により代表点とする中間層ニューロンを選択するため、動径基底関数ネットワークの学習を短時間で行うことができる。   According to the above configuration, since the intermediate layer neuron as a representative point is selected by the k-means method, the learning of the radial basis function network can be performed in a short time.

また、本実施形態の予測装置2では、ある時点における特性値は、生産ラインの最終工程における品質特性であり、上記過去に取得した複数のセンサ情報は、上記生産ラインの検査手段によるセンサ情報であり、上記最終工程は、上記生産ラインにおける当該工程の終了後に修正が不可能な工程であり、上記説明変数は、上記各センサ装置によって生産ラインの各工程の完了後に検査手段によって取得されたセンサ情報であり、上記目的変数は、上記最終工程の完了後に検査手段によって取得されたセンサ情報であることが好ましい。   In the prediction device 2 of the present embodiment, the characteristic value at a certain point in time is a quality characteristic in the final process of the production line, and the plurality of pieces of sensor information acquired in the past are sensor information by the inspection unit of the production line. The final process is a process that cannot be corrected after the process in the production line is completed, and the explanatory variables are sensors acquired by the inspection means after the completion of each process of the production line by the sensor devices. Preferably, the objective variable is sensor information acquired by the inspection means after completion of the final process.

上記の構成によれば、やり直しが可能な生産ラインの終了段階までのセンサ情報に基づいて、終了後に修正が不可能な最終工程の特性値を予測することができるので、生産している製品の良否を予め判断し、修正を行うことができる。   According to the above configuration, the characteristic value of the final process that cannot be corrected after completion can be predicted based on the sensor information up to the end stage of the production line that can be redone. The quality can be determined in advance and corrected.

また、本実施形態の予測装置2では、平滑化変動モデル54から予測を行う平滑化予測部74と、平滑化予測部74による予測結果と、差分変動予測部72による予測結果とに基づいて、最終工程の特性値を予測する予測統合部76とを備えることが好ましい。   Moreover, in the prediction apparatus 2 of this embodiment, based on the smoothing prediction part 74 which performs prediction from the smoothing fluctuation model 54, the prediction result by the smoothing prediction part 74, and the prediction result by the difference fluctuation prediction part 72, It is preferable to include a prediction integration unit 76 that predicts the characteristic value of the final process.

上記の構成によれば、最適なモデル化手法でモデル生成を行った平滑化変動モデル54と、差分変動モデル52とに基づいて、2つの予測モデルに基づく予測結果を合算することで、より正確な予測を行うことができる。   According to the above configuration, the prediction results based on the two prediction models are added together based on the smoothed variation model 54 and the difference variation model 52 that have been generated by the optimal modeling method, thereby making it more accurate. Predictions can be made.

また、本実施形態の予測装置2では、平滑化予測部74による予測結果と、差分変動予測部72による予測結果から閾値を動的に設定するパラメータ設定部60をさらに備えることが好ましい。   In addition, the prediction device 2 of the present embodiment preferably further includes a parameter setting unit 60 that dynamically sets a threshold value based on the prediction result by the smoothing prediction unit 74 and the prediction result by the difference fluctuation prediction unit 72.

上記の構成によれば、従来直線で設定していた管理限界に対して、品質特性の経時に伴う変移と突発変化に伴う品質特性の異常の、おのおのに対し、異常の判断基準を設定することができる。   According to the above configuration, the judgment criteria for abnormality are set for each of the change in quality characteristics over time and the abnormality in quality characteristics due to sudden change with respect to the control limit set in the straight line. Can do.

また、本実施形態の予測装置2では、予測統合部76によって予測された最終工程の特性値と、差分変動モデル52および説明変数のうち少なくとも一方とから、最終工程の特性値と関連の高い説明変数を判断することが好ましい。   Further, in the prediction device 2 of the present embodiment, a description highly related to the characteristic value of the final process from the characteristic value of the final process predicted by the prediction integration unit 76 and at least one of the difference variation model 52 and the explanatory variable. It is preferable to determine the variable.

上記の構成によれば、最終工程の特性値に影響を与えた原因を特定することによって、不良の発生原因を特定し、工程、環境、設定等の改善を行うことができる。なお、上述の説明では、基板実装品質特性予測への適用例について、目的変数が部品Aのフィレット長で、説明変数が部品Aのハンダ量、部品Aの縦ずれ、および部品Aの横ズレの場合について説明したが、これに限るものではない。消費電力予想へ適用し、目的変数が基幹電力量で、説明変数が計測ポイントAの気温、計測ポイントBの気温、および計測ポイントCの気温であってもよい。予測を行いたい目的変数および予測に影響すると考えられる変数である説明変数が適切に設定され、因果関係を考慮する予測モデルを形成することができれば、本実施形態と略同様の効果が得られる。   According to the above configuration, it is possible to identify the cause of the defect by identifying the cause that has affected the characteristic value of the final process, and to improve the process, environment, settings, and the like. In the above description, regarding the application example to the board mounting quality characteristic prediction, the objective variable is the fillet length of the component A, the explanatory variables are the solder amount of the component A, the vertical deviation of the component A, and the lateral deviation of the component A. Although the case has been described, the present invention is not limited to this. Applying to power consumption prediction, the objective variable may be the basic electric energy, and the explanatory variable may be the temperature at measurement point A, the temperature at measurement point B, and the temperature at measurement point C. If an objective variable to be predicted and an explanatory variable that is considered to affect the prediction are appropriately set and a prediction model that takes into account the causal relationship can be formed, the same effects as in the present embodiment can be obtained.

ただし、本実施形態のように、基板実装などの生産工程における最終工程の目的変数の予測に適用した場合は、最終工程における処理、ここではリフロー処理を実行する前にリフロー処理後の状態を予測できるので、基板の良否をリフロー処理の前に判定し、リフロー処理の前に部品の位置などを補正することによって、不良品の発生を防ぐことができるので、特に効果が大きい。   However, when applied to the prediction of the objective variable of the final process in a production process such as board mounting as in this embodiment, the state after the reflow process is predicted before executing the process in the final process, here the reflow process. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of defective products by determining the quality of the substrate before the reflow process and correcting the position of the component before the reflow process, which is particularly effective.

〔実施形態2〕
本実施形態の予測システムでは、図1から図17に示されるシステムに比べて、差分変動の非線形予測におけるモデル化の処理の方法が一部異なる構成となっており、その他の構成は同様である。具体的には、図8に示すパラメータのうち、上記実施形態では用いなかった、(1)目標値付近に配置するRBFNの中間層ニューロンの数Nk、および(2)目標値Tを新たなパラメータとして使用する構成となっている。
[Embodiment 2]
The prediction system of the present embodiment has a configuration in which part of the modeling processing method in the non-linear prediction of the difference fluctuation is different from the system shown in FIGS. 1 to 17, and the other configurations are the same. . Specifically, among the parameters shown in FIG. 8, was not used in the above embodiment, the number N k, and (2) the target value T a of RBFN intermediate layer neurons located in the vicinity of (1) a target value newly It is configured to be used as a simple parameter.

なお、上記実施形態で説明した構成と同様の機能を有する構成には同一の符号を付して、その説明を省略する。   In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure which has the function similar to the structure demonstrated in the said embodiment, and the description is abbreviate | omitted.

上記構成において、差分データに基づく予測学習処理について、図12および図18に基づき説明すると、以下の通りである。   In the above configuration, the predictive learning process based on the difference data will be described as follows based on FIG. 12 and FIG.

本実施形態における差分データモデリングの処理の手順は以下の通りである。   The procedure of differential data modeling processing in this embodiment is as follows.

差分データの差分変動予測によるモデル化では、ステップ1において、観測した説明変数群から、因果構造獲得を用いて、目的変数に直接的に影響を及ぼす有効な説明変数群の選択を行う。   In the modeling based on the difference fluctuation prediction of the difference data, in step 1, an effective explanatory variable group that directly affects the objective variable is selected from the observed explanatory variable group by using causal structure acquisition.

その後、ステップ2において、有効な説明変数群を入力とし、因果による変動を出力とする動径基底関数ネットワークを構築する。   After that, in step 2, a radial basis function network is constructed which takes valid explanatory variable groups as inputs and outputs variations due to causality.

具体的には、ステップ2−1において、ステップ1で選択した有効な説明変数群について、過去T時間の実測値と因果による変動をRBFNの入出力関係の集合とする。その後、ステップ2−2において、ステップ2−1で作成する入出力関係の集合の中から、目的変数が目標値に近い上位の中心点をN個選定する。 Specifically, in step 2-1, for valid explanation variable group selected in step 1, the variation due to the measured value and the causal past T s times a set of RBFN the input-output relationship. Thereafter, in step 2-2, N k upper center points whose objective variables are close to the target value are selected from the set of input / output relationships created in step 2-1.

その後、ステップ2−3として、ステップ2−2で選定した代表点を中間層の各ニューロンの中心点と位置付け、既定の半径rを持つRBFに従い、すべての説明変数群のデータ集合について、式5を用いて中間層の出力値を算出する。   Thereafter, as step 2-3, the representative point selected in step 2-2 is positioned as the center point of each neuron in the intermediate layer, and according to the RBF having a predetermined radius r, the data set of all explanatory variable groups is expressed by equation 5 Is used to calculate the output value of the intermediate layer.

Figure 2008117381
Figure 2008117381

その後、ステップ2−4として、その後、中間層と出力層の間のネット重みwを算出する。この際、ネット重みの算出が正常に終了するように、正規化パラメータεを利用する。 Thereafter, as step 2-4, the net weight w i between the intermediate layer and the output layer is calculated thereafter. At this time, the normalization parameter ε is used so that the calculation of the net weight ends normally.

その後、ステップ2−5として、ステップ2−4で構築したRBFNと、ステップ2−1で作成したRBFNの入出力関係との誤差を算出する。さらに、ステップ2−6として、ステップ2−5で算出した誤差が大きい中心点をN−N個選定する。 Thereafter, as Step 2-5, an error between the RBFN constructed in Step 2-4 and the input / output relationship of the RBFN created in Step 2-1 is calculated. Further, as step 2-6, N h -N k center points with large errors calculated in step 2-5 are selected.

最後に、ステップ2−7として、ステップ2−6で選定した中心点をステップ2−4で構築したRBFNに追加するRBFの新たな中心点と位置付け、ステップ2−3およびステップ2−4と同様に半径rを決定し、中間層の出力値を算出し、重みwを算出する処理を繰り返す。 Finally, as Step 2-7, the center point selected in Step 2-6 is positioned as a new center point of RBF added to the RBFN constructed in Step 2-4, and is the same as Step 2-3 and Step 2-4. The radius r is determined, the output value of the intermediate layer is calculated, and the process of calculating the weight w i is repeated.

上記の処理によって、図12に示すように、予測精度を向上させたい任意のポイントを抽出することによって、予測精度向上させたいポイントを抽出して、所望のポイントの予測精度を向上させることができるので、最終的に判断したい点について正確に予測することで対策を実施する、または、実施しないという判断を正確に行うことができる。   With the above processing, as shown in FIG. 12, by extracting an arbitrary point for which the prediction accuracy is to be improved, a point for which the prediction accuracy is to be improved can be extracted and the prediction accuracy of a desired point can be improved. Therefore, it is possible to accurately determine whether or not to implement a measure by accurately predicting a point to be finally determined.

以上のように、本実施形態の予測装置2は、差分データモデリング部44として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、差分データモデリング部44は、上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、上記学習データから上記差分データの目標値に基づいて中間層ニューロンの中心点を選定する第1中心点選定手段と、選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段と、上記ネットワーク構築手段によって構築した動径基底関数ネットワークに上記学習データを適用することにより差分データの推定値を算出し、算出した推定値と上記差分データの変動との誤差に基づいて、中間層ニューロンの新たな中心点を選定する第2中心点選定手段とを備えており、上記ネットワーク構築手段は、第1および第2中心点選定手段が選定した中心点に基づいて、中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出している。   As described above, the prediction device 2 of the present embodiment uses a radial basis function network having an intermediate layer neuron as the difference data modeling unit 44, and the difference data modeling unit 44 uses the fluctuation of the variation factor characteristic value and the above-described variation factor characteristic value. Learning data generating means for generating learning data including fluctuations of difference data, first center point selecting means for selecting a center point of an intermediate layer neuron from the learning data based on a target value of the difference data, and a selected center Network construction means for constructing the radial basis function network by calculating an output value of the intermediate layer based on the points, and calculating a weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer, and the network construction By applying the above learning data to a radial basis function network constructed by means of And a second center point selecting means for selecting a new center point of the intermediate layer neuron based on an error between the calculated and calculated estimated value and the fluctuation of the difference data. The output value of the intermediate layer is calculated based on the center point selected by the second center point selection means, and the weight value of the neuron is calculated based on the calculated output value of the intermediate layer.

上記の構成によれば、予測精度向上させたいポイントを抽出して、所望のポイントの予測精度を向上させることができるので、最終的に判断したい点について正確に予測することで対策を実施する、または、実施しないという判断を正確に行うことができる。   According to the above configuration, it is possible to extract a point to be improved in prediction accuracy and improve the prediction accuracy of a desired point, so that a measure is implemented by accurately predicting a point to be finally determined. Alternatively, it is possible to accurately determine that the operation is not performed.

具体例をあげれば、製造ラインにおける最終品質の予測であれば、管理限界値付近の値を精度良く予測することで、最終品質が良か否かを正確に予測することで、対策の実施するか実施しないかを正確に判断することができるので、製品に対する対策コストを最適化することができる。   For example, if the final quality is predicted in the production line, measures are taken by accurately predicting whether the final quality is good or not by accurately predicting values near the control limit value. Since it is possible to accurately determine whether or not to implement, the cost of measures for the product can be optimized.

また、別の具体例をあげれば、事務所や工場などにおいて、将来消費する電力を予測し、電力供給者と契約したデマンドを超過する可能性があれば、電力を消費する機器の稼動を一時的に停止するなどの対策を行うシステムの場合、予め設定されたデマンド電力付近の値を精度良く予測することにより、対策を実施するか実施しないかを正確に判断することができるので、デマンド超過による事業への影響を最小限に抑えることが可能になる。   As another specific example, in the office or factory, the future power consumption is predicted, and if there is a possibility that the demand contracted with the power supplier may be exceeded, the operation of the equipment that consumes power is temporarily suspended. In the case of a system that takes measures such as stopping automatically, it is possible to accurately determine whether measures are to be implemented or not by accurately predicting values near the preset demand power, so that demand exceeds It is possible to minimize the impact on the business.

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

最後に、本発明の予測システム1の各ブロック、特に学習部20および予測部70は、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。   Finally, each block of the prediction system 1 of the present invention, in particular, the learning unit 20 and the prediction unit 70 may be configured by hardware logic, or may be realized by software using a CPU as follows.

すなわち、予測システム1は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するCPU(central processing unit)、上記プログラムを格納したROM(read only memory)、上記プログラムを展開するRAM(random access memory)、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置(記録媒体)などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである予測システム1の制御プログラムのプログラムコード(実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム)をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記予測システム1に供給し、そのコンピュータ(またはCPUやMPU)が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。   That is, the prediction system 1 includes a CPU (central processing unit) that executes instructions of a control program that realizes each function, a ROM (read only memory) that stores the program, a RAM (random access memory) that expands the program, A storage device (recording medium) such as a memory for storing the program and various data is provided. An object of the present invention is to provide a recording medium in which a program code (execution format program, intermediate code program, source program) of a control program of the prediction system 1 that is software that realizes the above-described functions is recorded so as to be readable by a computer. This can also be achieved by supplying the prediction system 1 and reading and executing the program code recorded on the recording medium by the computer (or CPU or MPU).

上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー(登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクやCD−ROM/MO/MD/DVD/CD−R等の光ディスクを含むディスク系、ICカード(メモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROM/EPROM/EEPROM/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることができる。   Examples of the recording medium include tapes such as magnetic tapes and cassette tapes, magnetic disks such as floppy (registered trademark) disks / hard disks, and disks including optical disks such as CD-ROM / MO / MD / DVD / CD-R. Card system such as IC card, IC card (including memory card) / optical card, or semiconductor memory system such as mask ROM / EPROM / EEPROM / flash ROM.

また、予測システム1を通信ネットワークと接続可能に構成し、通信ネットワークを介して上記プログラムコードを供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網、仮想専用網(virtual private network)、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送、ケーブルTV回線、電話線、ADSL回線等の有線でも、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線、HDR、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。   Moreover, the prediction system 1 may be configured to be connectable to a communication network, and the program code may be supplied via the communication network. The communication network is not particularly limited. For example, the Internet, intranet, extranet, LAN, ISDN, VAN, CATV communication network, virtual private network, telephone line network, mobile communication network, satellite communication. A net or the like is available. Also, the transmission medium constituting the communication network is not particularly limited. For example, even in the case of wired such as IEEE 1394, USB, power line carrier, cable TV line, telephone line, ADSL line, etc., infrared rays such as IrDA and remote control, Bluetooth ( (Registered trademark), 802.11 wireless, HDR, mobile phone network, satellite line, terrestrial digital network, and the like can also be used. The present invention can also be realized in the form of a computer data signal embedded in a carrier wave in which the program code is embodied by electronic transmission.

以上のように、本発明の予測システム1および予測装置2は、過去に取得した複数のセンサ情報に基づく目的変数から、平滑化した目的変数を取り除くことによって、上記特性値と相関関係が存在すると判断した原因特定変動を抽出することができるので、原因特定変動を取り除いた予測モデルと、原因変動に基づく予測モデルを生成し、最適な手法を適用してモデルを作成し、特性値の予測を行うことができるので、生産ラインにおける最終品質特性の予測装置や、センサ情報に基づいてその他の様々な事象に対する予測を行う予測装置として好適に利用することができる。   As described above, the prediction system 1 and the prediction device 2 of the present invention have a correlation with the characteristic value by removing the smoothed objective variable from the objective variable based on a plurality of sensor information acquired in the past. Since the identified cause-specific variation can be extracted, a prediction model that eliminates the cause-specific variation and a prediction model based on the cause variation are generated, and the model is created by applying the optimal method to predict the characteristic value. Since it can be performed, it can be suitably used as a predicting device for final quality characteristics in a production line or a predicting device for predicting various other events based on sensor information.

本発明の実施形態を示すものであり、予測システムの要部構成を示すブロック図である。1, showing an embodiment of the present invention, is a block diagram illustrating a main configuration of a prediction system. FIG. 上記の予測システムにおいて、学習処理および予測/判定処理を行う際の処理の流れについて示した概略図である。It is the schematic shown about the flow of the process at the time of performing a learning process and a prediction / determination process in said prediction system. 上記の予測システムにおいて、特性分離処理および予測学習処理を実行する際の処理の流れを示すフロー図である。In the above prediction system, it is a flowchart showing the flow of processing when executing the characteristic separation processing and the prediction learning processing. 上記の予測システムにおいて、パラメータ調整処理を実行する際の処理の流れを示すフロー図である。It is a flowchart which shows the flow of a process at the time of performing a parameter adjustment process in said prediction system. 上記の予測システムにおいて、予測処理を実行する際の処理の流れを示すフロー図である。It is a flowchart which shows the flow of a process at the time of performing a prediction process in said prediction system. 上記の予測システムにおいて、原因推定処理を実行する際の処理の流れを示すフロー図である。In said prediction system, it is a flowchart which shows the flow of a process at the time of performing a cause estimation process. 上記の予測システムにおいて、差分データモデリング処理の一例を示すフロー図である。In said prediction system, it is a flowchart which shows an example of a difference data modeling process. 上記の予測システムにおいて、処理を行う際に用いる各種計算に用いられる変数の一覧を説明する表を示す図である。In said prediction system, it is a figure which shows the table | surface explaining the list | wrist of the variable used for the various calculations used when processing. 上記の予測システムにおいて、差分データモデリング部に用いられる基底関数ネットワーク予測モデルの構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the basis function network prediction model used for a difference data modeling part in said prediction system. 上記の差分データモデリング部で用いられるガウス関数を表す図である。It is a figure showing the Gaussian function used in said difference data modeling part. 図11(a)および図11(b)は、上記の基底関数ネットワーク予想モデルにおける既定関数の配置の概略を示す図である。FIG. 11A and FIG. 11B are diagrams showing an outline of the arrangement of default functions in the basis function network prediction model. 上記の基底関数ネットワーク予想モデルにおける中心点の選定について説明する図である。It is a figure explaining selection of the center point in said basis function network prediction model. 上記の予測システムにおいて、目的変数および説明変数の関係を説明するグラフを示す図である。It is a figure which shows the graph explaining the relationship between an objective variable and explanatory variables in said prediction system. 上記の予測システムを用いて予測した結果のグラフを示す図であり、実測値、平滑化実測値、突発異常原因推定基準の上限および下限が示されている。It is a figure which shows the graph of the result predicted using said prediction system, and the upper limit and lower limit of a measured value, a smoothing measured value, and a sudden abnormality cause estimation standard are shown. 上記の予測システムを用いて予測した結果のグラフを示す図であり、平滑化実測値、平滑化予測値、突発異常原因推定基準の上限および下限が示されている。It is a figure which shows the graph of the result predicted using said prediction system, and shows the smoothing actual value, smoothing prediction value, and the upper limit and minimum of sudden abnormality cause estimation reference | standard. 上記の予測システムを用いて予測した結果のグラフを示す図であり、平滑化実測値、補完済み予測値、突発異常原因推定基準の上限および下限が示されている。It is a figure which shows the graph of the result predicted using said prediction system, and shows the smoothing actual value, the complemented prediction value, and the upper limit and the minimum of a sudden abnormality cause estimation reference | standard. 上記の予測システムを用いて予測した結果のグラフを示す図であり、実測値、正常/異常フラグ、突発異常原因推定基準の上限および下限が示されている。It is a figure which shows the graph of the result predicted using said prediction system, and the upper limit and lower limit of a measured value, a normal / abnormal flag, and a sudden abnormality cause estimation reference | standard are shown. 上記の予測システムにおいて、差分データモデリング処理の別の一例を示すフロー図である。In said prediction system, it is a flowchart which shows another example of a difference data modeling process.

符号の説明Explanation of symbols

1 時系列データ解析システム
2 時系列データ解析装置(時系列データ解析装置)
10 取得部
12 目的変数取得部(目的変数取得手段)
14 説明変数取得部(説明変数取得手段)
20 学習部
30 特性分離部
32 平滑化データ抽出部(平滑化データ抽出手段)
34 差分データ抽出部(差分データ抽出手段)
40 予測学習部
42 平滑化データモデリング部(平滑化データモデリング手段)
44 差分データモデリング部(差分データモデリング手段)
52 差分変動モデル(差分データ変動モデル)
54 平滑化変動モデル(平滑化データ変動モデル)
60 パラメータ設定部(閾値設定手段)
70 予測部
72 差分変動予測部(差分変動予測手段)
74 平滑化変動予測部(平滑化変動予測手段)
76 予測統合部(予測統合手段)
78 原因推定部(変動要因推定手段)
80 工程処理装置
82 印刷検査装置(説明変数検査装置)
84 ずれ検査装置(説明変数検査装置)
86 フィレット長検査装置(目的変数検査装置)
90 工程管理装置
92 印刷装置
94 装着装置
96 リフロー装置
1 Time Series Data Analysis System 2 Time Series Data Analysis Device (Time Series Data Analysis Device)
10 Acquisition Unit 12 Objective Variable Acquisition Unit (Objective Variable Acquisition Means)
14 Explanation variable acquisition part (Explanation variable acquisition means)
20 learning unit 30 characteristic separating unit 32 smoothed data extracting unit (smoothed data extracting means)
34 Difference data extraction unit (difference data extraction means)
40 Prediction learning unit 42 Smoothing data modeling unit (smoothing data modeling means)
44 Differential data modeling unit (differential data modeling means)
52 Differential Fluctuation Model (Differential Data Fluctuation Model)
54 Smoothing fluctuation model (smoothing data fluctuation model)
60 Parameter setting unit (threshold setting means)
70 Prediction Unit 72 Difference Variation Prediction Unit (Difference Variation Prediction Unit)
74 Smoothing fluctuation prediction unit (smoothing fluctuation prediction means)
76 Predictive Integration Unit (Predictive Integration Unit)
78 Cause estimation part (variation factor estimation means)
80 process processing equipment 82 printing inspection equipment (explanatory variable inspection equipment)
84 Deviation inspection device (Explanatory variable inspection device)
86 Fillet length inspection device (objective variable inspection device)
90 Process management device 92 Printing device 94 Mounting device 96 Reflow device

Claims (13)

所定のシステムにおける複数種類の特性値の検知結果情報に基づいて該システムにおける予測対象特性値の時系列データを解析する時系列データ解析装置であって、
上記予測対象特性値の過去の検知結果からなる時系列データを取得する時系列データ取得手段と、
上記時系列データを所定の基準で平滑化した平滑化データを算出する平滑化データ取得手段と、
上記時系列データと上記平滑化データとの差を差分データとして算出する差分データ取得手段と、
上記平滑化データの過去の変動を解析することによって、時間経過と上記平滑化データの変動との対応関係を平滑化データ変動モデルとして特定する平滑化データモデリング手段と、
上記差分データの変動に影響を与える上記特性値の種類を変動要因特性値として特定し、該変動要因特性値の変動と上記差分データの変動との対応関係を差分データ変動モデルとして特定する差分データモデリング手段とを備えることを特徴とする時系列データ解析装置。
A time-series data analysis device that analyzes time-series data of prediction target characteristic values in the system based on detection result information of a plurality of types of characteristic values in a predetermined system,
Time-series data acquisition means for acquiring time-series data consisting of past detection results of the prediction target characteristic value;
Smoothed data acquisition means for calculating smoothed data obtained by smoothing the time series data according to a predetermined standard;
Difference data acquisition means for calculating a difference between the time series data and the smoothed data as difference data;
Smoothing data modeling means for identifying a correspondence relationship between the passage of time and the fluctuation of the smoothed data as a smoothed data fluctuation model by analyzing past fluctuations of the smoothed data;
Difference data that specifies the type of the characteristic value that affects the fluctuation of the difference data as a fluctuation factor characteristic value, and specifies the correspondence between the fluctuation of the fluctuation factor characteristic value and the fluctuation of the difference data as a difference data fluctuation model A time-series data analysis apparatus comprising a modeling means.
上記差分データモデリング手段として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、
上記差分データモデリング手段は、
上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、
上記学習データから上記差分データの目標値に基づいて中間層ニューロンの中心点を選定する第1中心点選定手段と、
選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段と、
上記ネットワーク構築手段によって構築した動径基底関数ネットワークに上記学習データを適用することにより差分データの推定値を算出し、算出した推定値と上記差分データの変動との誤差に基づいて、中間層ニューロンの新たな中心点を選定する第2中心点選定手段とを備えており、
上記ネットワーク構築手段は、第1および第2中心点選定手段が選定した中心点に基づいて、中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することを特徴とする請求項1に記載の時系列データ解析装置。
As the differential data modeling means, a radial basis function network with intermediate layer neurons is used,
The differential data modeling means is
Learning data generating means for generating learning data including fluctuation of the fluctuation factor characteristic value and fluctuation of the difference data;
First center point selection means for selecting a center point of the intermediate layer neuron based on the target value of the difference data from the learning data;
A network construction means for constructing the radial basis function network by calculating an output value of the intermediate layer based on the selected center point, and calculating a weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer;
By applying the learning data to the radial basis function network constructed by the network construction means, an estimated value of the difference data is calculated, and an intermediate layer neuron is calculated based on an error between the calculated estimated value and the fluctuation of the difference data. And a second center point selecting means for selecting a new center point of
The network construction means calculates an intermediate layer output value based on the center point selected by the first and second center point selection means, and calculates a neuron weight value based on the calculated intermediate layer output value. The time-series data analysis apparatus according to claim 1.
上記差分データモデリング手段として、中間層ニューロンを持つ動径基底関数ネットワークを用い、
上記差分データモデリング手段は、
上記変動要因特性値の変動および上記差分データの変動を含む学習データを生成する学習データ生成手段と、
k−means法により、上記学習データから中間層ニューロンに合致する代表点を選定する代表点選定手段と、
選定した中心点に基づいて中間層の出力値を算出し、算出した中間層の出力値に基づいてニューロンの重み値を算出することによって、上記動径基底関数ネットワークを構築するネットワーク構築手段と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の時系列データ解析装置。
As the differential data modeling means, a radial basis function network with intermediate layer neurons is used,
The differential data modeling means is
Learning data generating means for generating learning data including fluctuation of the fluctuation factor characteristic value and fluctuation of the difference data;
a representative point selecting means for selecting a representative point matching the intermediate layer neuron from the learning data by the k-means method;
Network construction means for constructing the radial basis function network by calculating an output value of the intermediate layer based on the selected center point, and calculating a weight value of the neuron based on the calculated output value of the intermediate layer,
The time-series data analysis device according to claim 1, comprising:
上記平滑化データ変動モデルおよび上記差分データ変動モデルから、予測対象時点の特性値の変動要因を推定する変動要因推定手段をさらに備えることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の時系列データ解析装置。   The variation factor estimating means for estimating the variation factor of the characteristic value at the prediction target time point from the smoothed data variation model and the difference data variation model is further provided. Time series data analysis device. 上記平滑化データ変動モデルまたは上記差分データ変動モデルから、予測対象時点での特性値を予測する予測手段をさらに備えることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の時系列データ解析装置。   The time-series data according to any one of claims 1 to 3, further comprising a predicting unit that predicts a characteristic value at a prediction target time point from the smoothed data variation model or the difference data variation model. Analysis device. 上記予測手段が、
上記予測対象時点の特性値を取得し、上記差分データ変動モデルに基づいて上記差分データの予測値を算出する差分データ予測手段と、
上記予測対象時点の平滑化データの予測値を上記平滑化データ変動モデルに基づいて算出する平滑化データ予測手段と、
上記差分データ予測手段による予測結果と、上記平滑化データ予測手段による予測結果とに基づいて、上記測定対象時点の特性値の予測値を算出する予測統合手段とを備えることを特徴とする請求項5に記載の時系列データ解析装置。
The prediction means is
A difference data prediction means for obtaining a characteristic value at the time of the prediction target and calculating a predicted value of the difference data based on the difference data fluctuation model;
Smoothed data prediction means for calculating a predicted value of the smoothed data at the prediction target time based on the smoothed data variation model;
The prediction integration means for calculating the prediction value of the characteristic value at the measurement target time point based on the prediction result by the difference data prediction means and the prediction result by the smoothed data prediction means. 5. The time-series data analysis device according to 5.
上記所定のシステムにおける複数種類の特性値は、生産システムにおける生産ラインの各工程で検知されるセンサ情報であり、
上記予測対象の時系列データは、上記生産ラインにおける生産対象物の品質特性の時系列データであることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の時系列データ解析装置。
The plurality of types of characteristic values in the predetermined system are sensor information detected in each process of the production line in the production system,
The time series data analysis apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the time series data to be predicted is time series data of quality characteristics of a production object in the production line.
上記平滑化データ予測手段による予測結果から、上記生産対象物の品質特性を管理するための閾値である管理限界値の上限値および下限値を設定する閾値設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項7に記載の時系列データ解析装置。   The apparatus further comprises threshold setting means for setting an upper limit value and a lower limit value of control limit values, which are threshold values for managing quality characteristics of the production object, based on a prediction result by the smoothed data prediction means. Item 8. The time-series data analysis device according to Item 7. 上記差分データ予測手段による予測結果から、上記生産対象物の突発変化に伴う品質の異常を管理するための閾値である突発異常原因推定基準の上限値および下限値を設定する閾値設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項7に記載の時系列データ解析装置。   Threshold setting means for setting an upper limit value and a lower limit value of a sudden abnormality cause estimation criterion, which is a threshold value for managing quality abnormality due to sudden change of the production object, from the prediction result by the difference data prediction means. The time-series data analysis apparatus according to claim 7. 請求項1から9のいずれか1項に記載の時系列データ解析装置と、
センサからセンサ情報を取得し、上記時系列データ取得手段に時系列データとして入力するための目的変数検査装置と、
センサからセンサ情報を取得し、上記平滑化データモデリング手段および上記差分データモデリング手段に学習パラメータとして入力するための説明変数検査装置と、
上記センサ情報の取得を管理する管理装置とを備えるモデル作成システム。
A time series data analysis device according to any one of claims 1 to 9,
An objective variable inspection device for acquiring sensor information from a sensor and inputting it as time-series data to the time-series data acquisition means,
Explanatory variable inspection device for acquiring sensor information from a sensor and inputting it as a learning parameter to the smoothed data modeling means and the differential data modeling means;
A model creation system comprising: a management device that manages acquisition of the sensor information.
所定のシステムにおける複数種類の特性値の検知結果情報に基づいて該システムにおける予測対象特性値の時系列データを解析する時系列データ解析方法であって、
上記予測対象特性値の過去の検知結果からなる時系列データを取得するステップと、
上記時系列データを所定の基準で平滑化した平滑化データを算出するステップと、
上記時系列データと上記平滑化データとの差を差分データとして算出するステップと、
上記平滑化データの過去の変動を解析することによって、時間経過と上記平滑化データの変動との対応関係を平滑化データ変動モデルとして特定するステップと、
上記差分データの変動に影響を与える上記特性値の種類を変動要因特性値として特定し、該変動要因特性値の変動と上記差分データの変動との対応関係を差分データ変動モデルとして特定するステップを備えることを特徴とする時系列データ解析方法。
A time-series data analysis method for analyzing time-series data of prediction target characteristic values in the system based on detection result information of a plurality of types of characteristic values in a predetermined system,
Obtaining time-series data consisting of past detection results of the prediction target characteristic value;
Calculating smoothed data obtained by smoothing the time series data according to a predetermined standard;
Calculating a difference between the time series data and the smoothed data as difference data;
Identifying the correspondence between the passage of time and the fluctuation of the smoothed data as a smoothed data fluctuation model by analyzing the past fluctuation of the smoothed data;
Identifying the type of the characteristic value that affects the variation of the difference data as a variation factor characteristic value, and identifying the correspondence between the variation of the variation factor characteristic value and the variation of the difference data as a difference data variation model A time-series data analysis method characterized by comprising:
請求項1から9に記載の時系列データ解析装置を動作させるためのプログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるためのプログラム。   A program for operating the time-series data analysis device according to claim 1, wherein the computer functions as each of the above-described means. 請求項12に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。   A computer-readable recording medium on which the program according to claim 12 is recorded.
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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010057552A (en) * 2008-09-01 2010-03-18 Omron Healthcare Co Ltd Management apparatus of biological index
WO2011064876A1 (en) * 2009-11-27 2011-06-03 株式会社東芝 Prediction model generator
US20150371150A1 (en) * 2014-06-20 2015-12-24 International Business Machines Corporation Analysis device, analysis method, and program
JP2016532949A (en) * 2013-07-26 2016-10-20 ザ ダン アンド ブラッドストリート コーポレーションThe Dun And Bradstreet Corporation System and method for deriving critical change attributes from data signals that have been selected and analyzed over a period of time to predict future changes in conventional predictors
KR101785547B1 (en) * 2016-07-08 2017-10-17 한양대학교 산학협력단 Apparatus and method for predicting fluctuation of periodic time data
KR20190033393A (en) * 2017-09-21 2019-03-29 한림대학교 산학협력단 Method and apparatus for making economics graghs
CN109784528A (en) * 2018-12-05 2019-05-21 鲁东大学 Water quality prediction method and device based on time series and support vector regression
JP2020140580A (en) * 2019-02-28 2020-09-03 日本電信電話株式会社 Detection device and detection program
CN112070284A (en) * 2020-08-24 2020-12-11 上海东普信息科技有限公司 Screening method, device, equipment and storage medium for component prediction
JP6815570B1 (en) * 2020-02-20 2021-01-20 三菱電機株式会社 Electrostatic sorting device
CN113169036A (en) * 2018-11-30 2021-07-23 东京毅力科创株式会社 Virtual measurement device, virtual measurement method, and virtual measurement program
CN113205109A (en) * 2020-01-30 2021-08-03 株式会社斯库林集团 Data processing method, data processing apparatus, and storage medium
WO2021205581A1 (en) * 2020-04-08 2021-10-14 富士通株式会社 Information processing system, information processing device, information processing method, and information processing program
CN114415575A (en) * 2022-01-27 2022-04-29 电子科技大学 Real-time data-driven three-dimensional virtual monitoring and intelligent early warning system for welding workshop
JP7395987B2 (en) 2019-11-22 2023-12-12 株式会社リコー Information processing systems, methods, and programs
WO2024053020A1 (en) * 2022-09-07 2024-03-14 株式会社日立製作所 System and method for estimating factor of difference between simulation result and actual result
JP7487126B2 (en) 2021-02-17 2024-05-20 五洋建設株式会社 Method for constructing a learning model, method for estimating wave amplitude, method for estimating time-dependent change in vertical position of water surface, device for estimating wave amplitude, and program

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003044830A (en) * 2001-07-30 2003-02-14 Ricoh Co Ltd Neural network, neural network system, program and recording medium
JP2004110602A (en) * 2002-09-20 2004-04-08 Shoichi Tejima Method and program for extracting feature for diagnosis/monitoring of facility or inspection of defective/non-defective product from waveform pattern data
JP2004326346A (en) * 2003-04-23 2004-11-18 Hitachi Ltd Demand forecasting device and method, and production planning support device and method
JP2005249633A (en) * 2004-03-05 2005-09-15 Toppan Printing Co Ltd Inspection method of streaky defect in cyclic pattern
JP2007095046A (en) * 2005-09-01 2007-04-12 Nagaoka Univ Of Technology Method and device for learning/forecasting irregular time serial data using recurrent neural network, and weather forecasting method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003044830A (en) * 2001-07-30 2003-02-14 Ricoh Co Ltd Neural network, neural network system, program and recording medium
JP2004110602A (en) * 2002-09-20 2004-04-08 Shoichi Tejima Method and program for extracting feature for diagnosis/monitoring of facility or inspection of defective/non-defective product from waveform pattern data
JP2004326346A (en) * 2003-04-23 2004-11-18 Hitachi Ltd Demand forecasting device and method, and production planning support device and method
JP2005249633A (en) * 2004-03-05 2005-09-15 Toppan Printing Co Ltd Inspection method of streaky defect in cyclic pattern
JP2007095046A (en) * 2005-09-01 2007-04-12 Nagaoka Univ Of Technology Method and device for learning/forecasting irregular time serial data using recurrent neural network, and weather forecasting method

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
村川 正宏, 他3名: "RBFネットワークを用いた時変環境におけるQ−learning−遺伝的アルゴリズムによる有用度関数の", 電子情報通信学会論文誌, vol. 第J81-D-II巻, 第12号, JPN6012045716, 25 December 1998 (1998-12-25), pages 2828 - 2840, ISSN: 0002318687 *
浅野 敏郎, 他1名: "ラディアル基底関数ネットを用いた色むらの評価", 電気学会研究会資料 IIS−00−13〜21, JPN6012045719, 10 August 2000 (2000-08-10), pages 5 - 8, ISSN: 0002318688 *

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010057552A (en) * 2008-09-01 2010-03-18 Omron Healthcare Co Ltd Management apparatus of biological index
WO2011064876A1 (en) * 2009-11-27 2011-06-03 株式会社東芝 Prediction model generator
JP2016532949A (en) * 2013-07-26 2016-10-20 ザ ダン アンド ブラッドストリート コーポレーションThe Dun And Bradstreet Corporation System and method for deriving critical change attributes from data signals that have been selected and analyzed over a period of time to predict future changes in conventional predictors
US20150371150A1 (en) * 2014-06-20 2015-12-24 International Business Machines Corporation Analysis device, analysis method, and program
JP2016006587A (en) * 2014-06-20 2016-01-14 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Machines Corporation Analysis device, analysis method, and program
US9626631B2 (en) * 2014-06-20 2017-04-18 International Business Machines Corporation Analysis device, analysis method, and program
US20170132531A1 (en) * 2014-06-20 2017-05-11 International Business Machines Corporation Analysis device, analysis method, and program
KR101785547B1 (en) * 2016-07-08 2017-10-17 한양대학교 산학협력단 Apparatus and method for predicting fluctuation of periodic time data
KR20190033393A (en) * 2017-09-21 2019-03-29 한림대학교 산학협력단 Method and apparatus for making economics graghs
KR101991507B1 (en) 2017-09-21 2019-06-20 한림대학교 산학협력단 Method and apparatus for making economics graghs
CN113169036A (en) * 2018-11-30 2021-07-23 东京毅力科创株式会社 Virtual measurement device, virtual measurement method, and virtual measurement program
CN109784528A (en) * 2018-12-05 2019-05-21 鲁东大学 Water quality prediction method and device based on time series and support vector regression
WO2020175147A1 (en) * 2019-02-28 2020-09-03 日本電信電話株式会社 Detection device and detection program
JP7103274B2 (en) 2019-02-28 2022-07-20 日本電信電話株式会社 Detection device and detection program
JP2020140580A (en) * 2019-02-28 2020-09-03 日本電信電話株式会社 Detection device and detection program
JP7395987B2 (en) 2019-11-22 2023-12-12 株式会社リコー Information processing systems, methods, and programs
CN113205109A (en) * 2020-01-30 2021-08-03 株式会社斯库林集团 Data processing method, data processing apparatus, and storage medium
JP6815570B1 (en) * 2020-02-20 2021-01-20 三菱電機株式会社 Electrostatic sorting device
WO2021166178A1 (en) * 2020-02-20 2021-08-26 三菱電機株式会社 Electrostatic separator and electrostatic separation method
JPWO2021205581A1 (en) * 2020-04-08 2021-10-14
JP7376832B2 (en) 2020-04-08 2023-11-09 富士通株式会社 Information processing system, information processing device, information processing method, and information processing program
WO2021205581A1 (en) * 2020-04-08 2021-10-14 富士通株式会社 Information processing system, information processing device, information processing method, and information processing program
CN112070284A (en) * 2020-08-24 2020-12-11 上海东普信息科技有限公司 Screening method, device, equipment and storage medium for component prediction
JP7487126B2 (en) 2021-02-17 2024-05-20 五洋建設株式会社 Method for constructing a learning model, method for estimating wave amplitude, method for estimating time-dependent change in vertical position of water surface, device for estimating wave amplitude, and program
CN114415575A (en) * 2022-01-27 2022-04-29 电子科技大学 Real-time data-driven three-dimensional virtual monitoring and intelligent early warning system for welding workshop
WO2024053020A1 (en) * 2022-09-07 2024-03-14 株式会社日立製作所 System and method for estimating factor of difference between simulation result and actual result

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JP5157359B2 (en) 2013-03-06

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