JP2008116378A - Light pulse tester - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被測定光ファイバに第1の測定周期でパルス光を複数回出射し、このパルス光の戻り光を受光部が検出して被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器に関し、詳しくは、短時間で精度よく測定を行なうことができる光パルス試験器に関するものである。 The present invention relates to an optical pulse tester that emits pulsed light to a measured optical fiber a plurality of times at a first measurement period, and a light receiving unit detects the return light of the pulsed light to measure the measured optical fiber. Specifically, the present invention relates to an optical pulse tester capable of performing measurement with high accuracy in a short time.
光信号によってデータ通信等を行なう光通信システムでは、光信号を伝送する光ファイバを監視することが重要になっている。そして、光ファイバの敷設、保守等において光パルス試験器(以下、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)と略す)が用いられる。OTDRは、OTDRの入出射端の測定コネクタから被測定光ファイバに対して繰り返しパルス光を入射し、被測定光ファイバからの反射光および後方散乱光のレベルおよび受光時間を測定することで、被測定光ファイバの断線、損失等の状態を測定する。 In an optical communication system that performs data communication using an optical signal, it is important to monitor an optical fiber that transmits the optical signal. An optical pulse tester (hereinafter abbreviated as OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)) is used for laying and maintaining optical fibers. In OTDR, pulse light is repeatedly incident on the optical fiber under measurement from the measurement connector at the input / output end of the OTDR, and the levels of the reflected light and backscattered light from the optical fiber to be measured and the light reception time are measured. Measure the state of the measurement optical fiber such as breakage and loss.
図3は、従来のOTDRの構成を示した図である(例えば、特許文献1参照)。図3において、被測定光ファイバF1は、断線、損失等の測定が行なわれる被測定対象の光ファイバである。OTDR100は、被測定光ファイバF1に接続される測定コネクタCNを有し、この測定コネクタCNからパルス光を被測定光ファイバF1に出力し、このパルス光の戻り光(反射光または後方散乱光)が測定コネクタCNを介して入力される。 FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a conventional OTDR (see, for example, Patent Document 1). In FIG. 3, an optical fiber to be measured F1 is an optical fiber to be measured on which measurement of disconnection, loss, and the like is performed. The OTDR 100 has a measurement connector CN connected to the optical fiber F1 to be measured, and outputs pulsed light from the measurement connector CN to the optical fiber F1 to be measured, and return light (reflected light or backscattered light) of this pulsed light. Is input via the measurement connector CN.
また、OTDR100は、発光部10、光カプラ20、バンドパスフィルタ(以下、BPFと略す)30、受光部40、記憶部50、信号処理部60、表示部70を有する。発光部10は、パルス光を出力する。光カプラ20は、発光部10からのパルス光をバンドパスフィルタ30に出力し、被測定光ファイバF1からの戻り光を受光部40に出力する。BPF30は、光カプラ20と測定コネクタCNの間に設けられ、所定の波長帯(発光部10のパルス光の波長を含む)の光のみを透過する。受光部40は、光カプラ20からの光を受光する。記憶部50は、受光部からのデータを記憶する。
The OTDR 100 includes a
信号処理部60は、リファレンス値(以下、REF値と略す)演算手段61、補正手段62、戻り光演算手段63を有し、発光部10のパルス光の出力のタイミングを制御し、記憶部50のデータを読み出す。REF値演算手段61は、記憶部50のデータからREF値を求める。補正手段62は、REF値演算手段61のREF値で、記憶部50のデータを補正する。戻り光演算手段63は、補正手段62の補正データが入力される。表示部70は、信号処理部60の処理結果を表示する。
The
このような装置の動作を説明する。ここで、図4は、戻り光信号の測定結果の一例を示した図である。横軸は測定コネクタCNからの距離(受光部40からの時系列データを距離に変換したもの)であり、縦軸は戻り光の光パワーである。 The operation of such an apparatus will be described. Here, FIG. 4 is a diagram showing an example of the measurement result of the return optical signal. The horizontal axis represents the distance from the measurement connector CN (the time series data from the light receiving unit 40 converted into the distance), and the vertical axis represents the optical power of the return light.
発光部10が、信号処理部60からの指示に従って所定のタイミングでパルス光を出力する。そして、発光部10から出力されたパルス光が、光カプラ20、BPF30、測定コネクタCNを経て、被測定光ファイバF1に入射する。被測定光ファイバF1内部では、レイリー散乱が発生し、その一部はパルス光の進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてOTDR100に戻ってくる。また、被測定光ファイバF1の接続点で発生するフレネル反射光もOTDR100に戻ってくる。
The
そして、被測定光ファイバF1からの戻り光が、測定コネクタCN、BPF30、光カプラ20を経て受光部40に入射する。さらに、受光部40のOE変換回路(図示せず)が、入射光を、この入射光の光パワーに応じた電気信号(光電流)に変換する。そして、受光部40のIV変換回路(図示せず)が、光電流を電圧に変換し、受光部40の増幅回路(図示せず)が、変換した電圧を所望のレベルまで増幅する。
Then, the return light from the measured optical fiber F1 enters the light receiving unit 40 through the measurement connectors CN,
さらに、受光部40のAD変換回路(図示せず)が、アナログ信号をデジタル信号にAD変換して時系列順に記憶部50にデータを格納する。ここで、受光部40からのデータを実測データとよぶ。なお、戻り光の信号レベルは非常に微弱なのでダイナミックレンジを拡大するため、パルス光を繰り返し(例えば、2^8〜2^18回程度)被測定光ファイバF1に出力し、複数回分の実測データを記憶部50に格納する。 Further, an AD conversion circuit (not shown) of the light receiving unit 40 AD-converts an analog signal into a digital signal and stores the data in the storage unit 50 in chronological order. Here, the data from the light receiving unit 40 is referred to as actually measured data. Since the signal level of the return light is very weak, in order to expand the dynamic range, pulse light is repeatedly output (for example, 2 ^ 8 to 2 ^ 18 times) to the measured optical fiber F1 and measured data for a plurality of times. Is stored in the storage unit 50.
また、実測データは、表示部60の表示画面に表示する部分(図4中のA1)よりも、さらに長い距離分(図4中のA0)取得する。なお、図4中のA0の範囲が測定周期となる。
Further, the actual measurement data is acquired for a longer distance (A0 in FIG. 4) than the portion (A1 in FIG. 4) displayed on the display screen of the
図4に示す測定波形例にあるように、被測定光ファイバF1は、OTDR100の測定コネクタCN側の近端(図4の横軸の左端)から遠端に向けた損失をもつため、右下がりの波形を示す。また、被測定光ファイバF1の遠端以降は、OTDR100の受光部40内の各回路のノイズフロアレベルを表示している。
As shown in the measurement waveform example shown in FIG. 4, the optical fiber to be measured F1 has a loss from the near end (left end of the horizontal axis in FIG. 4) on the measurement connector CN side of the
そして、信号処理部60のREF値演算手段61が、記憶部50から複数個の実測データ(図2中のA0の部分)を読み出し、同じ距離位置の実測データで加算して平均する。さらに、REF値演算手段61が、実測データ(同じ距離位置で平均化したもの)のうち、被測定光ファイバF1からの戻り光の信号レベルが、受光部40で生ずるノイズに十分埋もれていると思われる部分(図4中のA3)のデータから、基準値としてのREF値を求める。なお、REF値を求めるデータを、リファレンスデータ(以下、REFデータと呼ぶ)とする。このREFデータの中央値または平均値がREF値となる。そして、求めたREF値を、補正手段62に出力する。
Then, the REF value calculation means 61 of the
そして、補正手段62が、記憶部50から実測データを読み出し、読み出した実測データをREF値で減算し、戻り光演算手段63に出力する。補正手段62による実測データ全てに対する減算が終了すると、戻り光演算手段63が、補正後(減算後)の実測データを同じ距離位置で平均し、平均後の実測データのA1の部分を表示部70に表示する。
Then, the
REF値演算手段61が、REF値を求め、補正手段62が、実測データをREF値で補正することにより、直線性の改善を図ることができる。 The REF value calculation means 61 obtains the REF value, and the correction means 62 corrects the actually measured data with the REF value, whereby the linearity can be improved.
このREF値を求める場合、REFデータの取得位置A3が、被測定光ファイバF1からの戻り光信号の戻ってくる位置(時間帯)に近すぎると、戻り光信号の影響を完全に除去することができない。そのため、戻り光信号の影響が全く無い真のREF値と比較すると、REF値が大きくなってしまう。このようなREF値を用いて実測データを補正すると過度の補正となり、逆に直線性の劣化(いわゆる、波形の吸い込み現象)を生じ、測定精度が悪くなるという問題があった。 When obtaining this REF value, if the acquisition position A3 of the REF data is too close to the position (time zone) where the return optical signal from the measured optical fiber F1 returns, the influence of the return optical signal is completely removed. I can't. For this reason, the REF value is increased as compared with a true REF value that is not affected by the return optical signal. When the actual measurement data is corrected using such a REF value, there is an excessive correction, and on the contrary, linearity deterioration (so-called waveform suction phenomenon) occurs, and there is a problem that measurement accuracy deteriorates.
一方、戻り光信号の影響を極力小さくするには、REFデータ取得部分A3を、発光部10のLD(図示せず)の発光タイミングよりも十分長く(被測定光ファイバF1からの戻り光信号が戻ってくる時間帯から十分長く)取ればよい。図4においては、画面表示およびREFデータにも使用しない部分A2のデータを長く取ればよい。 On the other hand, in order to minimize the influence of the return optical signal, the REF data acquisition portion A3 is made sufficiently longer than the light emission timing of the LD (not shown) of the light emitting unit 10 (the return optical signal from the optical fiber F1 to be measured is It should be taken long enough from the time of return). In FIG. 4, the data of the portion A2 that is not used for the screen display and the REF data may be long.
しかしながら、戻り光信号の影響を極力小さくするため、A2の部分を長くすると、1回の測定周期が長くなる。画面表示部分A1に対して部分A2が小さく、1回の測定周期あたりの時間損失が小さいとしても、上述のようにOTDR100は、2^8〜2^18回程度の測定し、これらの平均値を最終的な測定結果としている。つまり、1回ごとの時間損失が小さくとも、最終的な測定結果を得るための全測定時間においては、非常に大きな測定時間の損失になるという問題があった。
However, if the A2 portion is lengthened in order to minimize the influence of the return optical signal, one measurement cycle is lengthened. Even if the portion A2 is small with respect to the screen display portion A1 and the time loss per measurement cycle is small, the
そこで本発明の目的は、短時間で精度よく測定を行なうことができる光パルス試験器を実現することにある。 Therefore, an object of the present invention is to realize an optical pulse tester capable of performing measurement with high accuracy in a short time.
請求項1記載の発明は、
被測定光ファイバに第1の測定周期でパルス光を複数回出射し、このパルス光の戻り光を受光部が検出して前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
前記受光部からの戻り光のデータを記憶する実測データ記憶部と、
パルス光の出射を止め、前記第1の測定周期よりも短い第2の測定周期で前記受光部からのデータを記憶するリファレンスデータ記憶部と、
このリファレンスデータ記憶部のデータからリファレンス値を求めるリファレンス値演算手段と、
このリファレンス値演算手段の求めたリファレンス値で、前記実測データ記憶部のデータを補正する補正手段と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記被測定光ファイバの測定結果を表示する表示部を有し、
前記第1の測定周期は、前記表示部に表示されるデータ分の時間であることを特徴とするものである。
The invention described in
In an optical pulse tester that emits pulsed light to a measured optical fiber a plurality of times at a first measurement period, and a light receiving unit detects return light of the pulsed light to measure the measured optical fiber,
An actual measurement data storage unit for storing data of return light from the light receiving unit;
A reference data storage unit for stopping emission of pulsed light and storing data from the light receiving unit in a second measurement cycle shorter than the first measurement cycle;
A reference value calculation means for obtaining a reference value from the data in the reference data storage unit;
A correction means for correcting the data in the actual measurement data storage section with the reference value obtained by the reference value calculation means is provided.
The invention according to
A display unit for displaying a measurement result of the optical fiber to be measured;
The first measurement period is a time corresponding to data displayed on the display unit.
本発明によれば、パルス光の発光を止めることにより、受光部で生ずるノイズのみのデータを用いてリファレンス値演算手段がリファレンス値を求める。そして、補正手段が、戻り光のデータをリファレンス値で補正する。これにより、戻り光のデータからリファレンスデータを抽出する場合と比較して、無駄なデータの取得を抑えることができる。従って、最終的な測定結果を得るための全測定時間を短縮することができ、短時間で精度よく測定を行なうことができる。 According to the present invention, by stopping the emission of the pulsed light, the reference value calculation means obtains the reference value using only the noise data generated in the light receiving unit. Then, the correction means corrects the return light data with the reference value. Thereby, it is possible to suppress the acquisition of useless data as compared with the case of extracting the reference data from the return light data. Therefore, the total measurement time for obtaining the final measurement result can be shortened, and the measurement can be performed with high accuracy in a short time.
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図3と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図1において、記憶部50の代わりに記憶部80が設けられ、信号処理部60の代わりに信号処理部90が設けられる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. In FIG. 1, a
記憶部80は、REFデータを記憶するREFデータ記憶部81、REF値を記憶するREF値記憶部82、実測データを記憶する実測データ記憶部83が設けられる。
The
信号処理部90は、REF値演算手段91、補正手段92、戻り光演算手段93を有し、発光部10のパルス光の出力のタイミングを制御し、記憶部80のデータを読み出す。
The
REF値演算手段91は、REFデータ記憶部81のREFデータを読み出してREF値を求め、求めたREF値をREF値記憶部82に格納する。補正手段92は、REF値記憶部82のREF値で、実測データ83のデータを補正する。戻り光演算手段93は、補正手段93によって補正された実測データが入力される。表示部70は、信号処理部90の処理結果を表示する。
The REF value calculation unit 91 reads the REF data in the REF data storage unit 81 to obtain the REF value, and stores the obtained REF value in the REF value storage unit 82. The correction unit 92 corrects the data of the actual measurement data 83 with the REF value of the REF value storage unit 82. The return light calculation means 93 receives the actual measurement data corrected by the correction means 93. The
このような装置の動作を説明する。ここで、図2は、測定結果の一例を示した図である。横軸は測定コネクタCNからの距離(受光部40からの時系列データを距離に変換したもの)であり、縦軸は光パワーである。また、図2(a)は、戻り光信号の測定結果であり、図2(b)は、パルス光が出射されていない状態での測定結果である。 The operation of such an apparatus will be described. Here, FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the measurement result. The horizontal axis represents the distance from the measurement connector CN (the time series data from the light receiving unit 40 converted into the distance), and the vertical axis represents the optical power. FIG. 2A shows the measurement result of the return light signal, and FIG. 2B shows the measurement result in a state where no pulsed light is emitted.
図1に示す装置では、被測定光ファイバF1にパルス光を出射し、その戻り光を測定する動作を行なう。その後、パルス光の発光を止めて、REF値を求める動作を行なう。さらに、戻り光の実測データをREF値で補正して被測定光ファイバFを測定する動作を行なう。 In the apparatus shown in FIG. 1, pulsed light is emitted to the optical fiber F1 to be measured, and the return light is measured. Thereafter, the emission of the pulsed light is stopped and the operation for obtaining the REF value is performed. Furthermore, the measurement optical fiber F is measured by correcting the actual measurement data of the return light with the REF value.
まず、被測定光ファイバF1にパルス光を出射し、その戻り光を測定する動作から説明する。発光部10が、信号処理部90からの指示に従って所定のタイミングでパルス光を出力する。そして、発光部10から出力されたパルス光が、光カプラ20、BPF30、測定コネクタCNを経て、被測定光ファイバF1に入射する。被測定光ファイバF1内部では、レイリー散乱が発生し、その一部はパルス光の進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてOTDR100に戻ってくる。また、被測定光ファイバF1の接続点で発生するフレネル反射光もOTDR100に戻ってくる。
First, the operation of emitting pulsed light to the measured optical fiber F1 and measuring the return light will be described. The
そして、被測定光ファイバF1からの戻り光が、測定コネクタCN、BPF30、光カプラ20を経て受光部40に入射する。さらに、受光部40のOE変換回路(図示せず)が、入射光を、この入射光の光パワーに応じた電気信号(光電流)に変換する。そして、受光部40のIV変換回路(図示せず)が、光電流を電圧に変換し、受光部40の増幅回路(図示せず)が、変換した電圧を所望のレベルまで増幅する。
Then, the return light from the measured optical fiber F1 enters the light receiving unit 40 through the measurement connectors CN,
さらに、受光部40のAD変換回路(図示せず)が、アナログ信号をデジタル信号にAD変換して時系列順に記憶部80の実測データ記憶部83にデータを格納する。なお、戻り光の信号レベルは非常に微弱なのでダイナミックレンジを拡大するため、パルス光を繰り返し(例えば、2^8〜2^18回程度)被測定光ファイバF1に出力し、複数回分の実測データを記憶部83に格納する。
Further, an AD conversion circuit (not shown) of the light receiving unit 40 AD-converts the analog signal into a digital signal, and stores the data in the measured data storage unit 83 of the
また、画面表示部分のみの実測データを測定するだけなので、図3に示す装置のような部分A2や、REFデータ取得部分A3を取得する必要が無い。従って、図2(a)に示すように、画面表示部分≒1回分の測定周期(第1の測定周期)となる。 Further, since only the actual measurement data of the screen display part is measured, there is no need to acquire the part A2 and the REF data acquisition part A3 as in the apparatus shown in FIG. Therefore, as shown in FIG. 2A, the screen display portion is approximately equal to one measurement cycle (first measurement cycle).
次に、パルス光の発光を止めて、REF値を求める動作を行なう。
所定回数分の実測データの測定が終了すると、信号処理部90が、発光部10にパルス光の発光を停止させる。そして、受光部40が、受光部40で生ずるノイズのみの実測データをREFデータとして、REFデータ記憶部81に格納する。発光部10からパルス光が発光されていないので、図2(b)に示すようにREFデータ取得部分≒1回分の測定周期(第2の測定周期)となる。
Next, the emission of the pulsed light is stopped and the operation for obtaining the REF value is performed.
When the measurement of the measurement data for a predetermined number of times is completed, the
そして、所定回数分のREFデータをREFデータ記憶部81に格納すると、REF値演算手段91が、REFデータ記憶部81からREFデータを読み出し、同じ距離位置のREFデータを加算して平均する。さらに、平均した全REFデータの中央値または平均値を求め、求めた中央値または平均値をREF値としてREF値記憶部82に格納する。このように、REF値は、受光部40のノイズフロアレベルに対応する。 When the REF data for a predetermined number of times is stored in the REF data storage unit 81, the REF value calculation means 91 reads the REF data from the REF data storage unit 81, adds the REF data at the same distance position, and averages them. Further, a median value or average value of all averaged REF data is obtained, and the obtained median value or average value is stored in the REF value storage unit 82 as a REF value. Thus, the REF value corresponds to the noise floor level of the light receiving unit 40.
次に、戻り光の実測データをREF値で補正して被測定光ファイバFを測定する動作を行なう。
補正手段92が、REF値記憶部82からREF値を読み出す。そして、補正手段92が、実測データ記憶部83から実測データを順番に読み出し、それぞれをREF値で減算して補正し、補正した実測データ(以下、補正データ)を戻り光演算手段93に出力する。そして、戻り光演算手段93が、同じ距離位置の補正データを加算して平均化する。さらに、戻り光演算手段93が、パルス光を出力したタイミングと戻り光を受光部40で受光した時間とから、被測定光ファイバF1の距離測定、戻り光の光信号レベル測定を行ない、測定結果を横軸を距離、縦軸を戻り光の光パワー(光信号レベル)として表示部70に表示する。
Next, an operation of measuring the measured optical fiber F by correcting the actual measurement data of the return light with the REF value is performed.
The correction unit 92 reads the REF value from the REF value storage unit 82. Then, the correction unit 92 sequentially reads the actual measurement data from the actual measurement data storage unit 83, subtracts each by the REF value, corrects it, and outputs the corrected actual measurement data (hereinafter, correction data) to the return
このように、パルス光の発光を止め、REF値演算手段91が、受光部40で生ずるノイズのみの実測データを用いてREF値を求める。そして、補正手段92が、戻り光の実測データをREF値で補正するので、(戻り光の実測データ測定時間)≒(画面表示部分)≒(第1の測定周期)とでき、(REFデータ測定時間)≒(第2の測定周期)とできる。つまり、図3に示す装置のように無駄な実測データ(図4中のA2の部分)を取得する必要が無い。一般的に、実測データの測定点数は、距離分解能にもよるが2000点程度必要であるが、REFデータは、受光部40で生ずるノイズを求めるだけなので100〜1000点程度で十分である。つまり、(REFデータの第1の測定周期)<(戻り光信号の第2の測定周期)となる。これにより、最終的な測定結果を得るための全測定時間を短縮することができる。従って、短時間で精度よく測定を行なうことができる In this way, the emission of the pulsed light is stopped, and the REF value calculation unit 91 obtains the REF value using the actual measurement data of only the noise generated in the light receiving unit 40. Then, the correction means 92 corrects the actual measurement data of the return light with the REF value, so that (actual measurement data measurement time of the return light) ≈ (screen display portion) ≈ (first measurement cycle), and (REF data measurement) Time) ≈ (second measurement cycle). That is, it is not necessary to acquire useless actual measurement data (A2 portion in FIG. 4) unlike the apparatus shown in FIG. In general, the number of measurement points of actual measurement data is about 2000 points depending on the distance resolution, but about 100 to 1000 points are sufficient for the REF data because only noise generated in the light receiving unit 40 is obtained. That is, (first measurement period of REF data) <(second measurement period of the return optical signal). Thereby, the total measurement time for obtaining the final measurement result can be shortened. Therefore, it is possible to measure accurately in a short time.
また、REFデータは、受光部40で生ずるノイズを求められれば十分なので、REFデータの測定回数は、戻り光の実測データの測定回数よりも小さくすることができる。これにより、全測定時間を短縮することができる。 Further, since it is sufficient for the REF data to obtain noise generated in the light receiving unit 40, the number of times of measurement of the REF data can be made smaller than the number of times of measurement of the actual measurement data of the return light. Thereby, the total measurement time can be shortened.
また、戻り光の測定と、REFデータの測定とは、分離されているので、REFデータの測定までに、所定の時間を空けることもできる。これにより、パルス光の戻り光の影響が全くない状態で、REFデータの測定をすることができ、REFデータの測定点数、測定回数を更に減少させても十分精度の高いREF値を算出することができる。従って、演算量も減り、全測定時間を短縮することができる。 Further, since the measurement of the return light and the measurement of the REF data are separated, it is possible to leave a predetermined time before the measurement of the REF data. As a result, REF data can be measured without any influence of the return light of the pulsed light, and a sufficiently accurate REF value can be calculated even if the number of REF data measurement points and the number of measurements are further reduced. Can do. Accordingly, the amount of calculation is reduced and the total measurement time can be shortened.
また、従来と同程度の全測定時間で測定する場合、戻り光の測定回数を増やすことができ、平均化処理の加算回数を増やすことができる。これにより、測定のダイナミックレンジを改善することができる。 In addition, when measurement is performed with the same total measurement time as in the conventional case, the number of returned light measurements can be increased, and the number of averaging processing additions can be increased. Thereby, the dynamic range of measurement can be improved.
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
REFデータの測定及びREF値の算出を、戻り光の測定をした後に行なう構成を示したが、REF値を先に算出し、その後、戻り光の測定を行なってもよい。
The present invention is not limited to this, and may be as shown below.
Although the configuration in which the measurement of the REF data and the calculation of the REF value is performed after the return light is measured is shown, the REF value may be calculated first and then the return light may be measured.
また、同一の測定条件(測定周期、パルス光の光パワー、測定距離レンジ等の測定条件)で被測定光ファイバFの繰り返し測定を行なう場合、最終的な測定結果ごとにREF値を求めずに、同一のREF値を用いて実測データを補正してもよい。これによりREF値を求める時間を省略することができるので、さらなる測定時間の短縮ができる。 Further, when the measurement optical fiber F is repeatedly measured under the same measurement conditions (measurement conditions such as measurement period, optical power of pulsed light, and measurement distance range), the REF value is not obtained for each final measurement result. The measured data may be corrected using the same REF value. Thereby, the time for obtaining the REF value can be omitted, so that the measurement time can be further shortened.
また、平均化の回数が大きく戻り光の測定時間が非常に長くなる場合、例えば、2^18回の測定を行なう場合、2^9回の測定が終わったところでREFデータを取得し、2^18回の測定が終わったところで再度REFデータの取得を行なってもよい。これにより、長時間測定中における測定環境(例えば、温度)の変化による影響を抑えることができる。 Also, when the number of times of averaging is large and the measurement time of the return light becomes very long, for example, when measuring 2 ^ 18 times, REF data is acquired when 2 ^ 9 measurements are completed, and 2 ^ REF data may be acquired again after 18 measurements. Thereby, the influence by the change of the measurement environment (for example, temperature) during long-time measurement can be suppressed.
そして、補正手段92が、実測データそれぞれをREF値で補正し、その後に同じ距離位置の実測データ同士で平均化する構成を示したが、同じ距離値の実測データ同士で平均化し、平均化した実測データをREF値で補正してもよい。 And the correction means 92 showed the structure which correct | amends each actual measurement data by REF value, and averages between the actual measurement data of the same distance position after that, Averaged between the actual measurement data of the same distance value, and averaged The actual measurement data may be corrected with the REF value.
40 受光部
70 表示部
81 REFデータ記憶部
83 実測データ記憶部
91 REF値演算手段
92 補正手段
F1 被測定光ファイバ
40
Claims (2)
前記受光部からの戻り光のデータを記憶する実測データ記憶部と、
パルス光の出射を止め、前記第1の測定周期よりも短い第2の測定周期で前記受光部からのデータを記憶するリファレンスデータ記憶部と、
このリファレンスデータ記憶部のデータからリファレンス値を求めるリファレンス値演算手段と、
このリファレンス値演算手段の求めたリファレンス値で、前記実測データ記憶部のデータを補正する補正手段と
を設けたことを特徴とする光パルス試験器。 In an optical pulse tester that emits pulsed light to a measured optical fiber a plurality of times at a first measurement period, and a light receiving unit detects return light of the pulsed light to measure the measured optical fiber,
An actual measurement data storage unit for storing data of return light from the light receiving unit;
A reference data storage unit for stopping emission of pulsed light and storing data from the light receiving unit in a second measurement cycle shorter than the first measurement cycle;
A reference value calculation means for obtaining a reference value from the data in the reference data storage unit;
An optical pulse tester provided with a correction means for correcting the data in the actual measurement data storage section with the reference value obtained by the reference value calculation means.
前記第1の測定周期は、前記表示部に表示されるデータ分の時間であることを特徴とする請求項1記載の光パルス試験器。 A display unit for displaying a measurement result of the optical fiber to be measured;
The optical pulse tester according to claim 1, wherein the first measurement period is a time corresponding to data displayed on the display unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301209A JP2008116378A (en) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | Light pulse tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301209A JP2008116378A (en) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | Light pulse tester |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008116378A true JP2008116378A (en) | 2008-05-22 |
Family
ID=39502417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006301209A Pending JP2008116378A (en) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | Light pulse tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008116378A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010054347A (en) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Anritsu Corp | Optical pulse tester |
-
2006
- 2006-11-07 JP JP2006301209A patent/JP2008116378A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010054347A (en) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Anritsu Corp | Optical pulse tester |
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