JP2008104761A5 - - Google Patents

Claims (20)

1. ガントリおよび寝台の少なくとも一方が被検体の体軸方向に沿って移動する間に、Ｘ線を前記被検体に照射して、前記被検体の投影データを作成するスキャン手段と、
   前記投影データを逆投影して得られた複数の断層像間の前記体軸方向のＣＴ値の変化量を、該断層像に含まれる画素領域について特定するＣＴ値変化特定手段と、
   前記特定されたＣＴ値の変化量に応じて、アーチファクトを低減するための前記複数の断層像間の体軸方向の画像処理を行う画像処理条件を選定する画像処理条件選定手段と、
   前記画像処理条件選定手段において選定された画像処理条件を用いて前記複数の断層像間の体軸方向の画像処理を行うアーチファクト低減手段と
   を備えることを特徴とするＸ線断層撮影装置。
2. 前記Ｘ線断層撮影装置は、前記ＣＴ値の変化量が所定範囲である前記画素領域が前記断層像に含まれる所定領域内に占める比率を計算するアーチファクト比計算手段と、
   前記比率がしきい値より大きい場合に、該画素領域に前記アーチファクトを低減するための複数の断層像間の体軸方向の画像処理を行うと判定する判定手段と
   をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載のＸ線断層撮影装置。
3. 前記アーチファクト低減手段における前記複数の断層像間の体軸方向の画像処理は、前記複数の断層像の画素領域に、前記画像処理条件として選定された重み付け係数を乗算してそれらを加算する処理を含むことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＸ線断層撮影装置。
4. 前記画像処理条件選定手段は、前記ＣＴ値の変化量が所定範囲である場合に、前記重み付け係数を０よりも大きくすることを特徴とする請求項３に記載のＸ線断層撮影装置。
5. 前記画像処理条件選定手段は、前記体軸方向の複数の画素領域の数に応じて、前記重み付け係数を変えることを特徴とする請求項３または請求項４に記載のＸ線断層撮影装置。
6. 前記画像処理条件選定手段は、前記ＣＴ値の変化量に応じて、前記重み付け係数を変えることを特徴とする請求項３または請求項４に記載のＸ線断層撮影装置。
7. 前記ＣＴ値変化特定手段は、前記ＣＴ値の変化量に応じて指標値を決定することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載のＸ線断層撮影装置。
8. 前記指標値に応じて、前記画素領域に対して、前記体軸方向の複数の画素領域に重み付け係数を乗算してそれらを加算することを特徴とする請求項７に記載のＸ線断層撮影装置。
9. 前記所定範囲が３ＨＵないし３００ＨＵであることを特徴とする請求項２または請求項４に記載のＸ線断層撮影装置。
10. 前記画素領域は、一画素または複数画素からなることを特徴とする請求項１ないし請求項９に記載のＸ線断層撮影装置。
11. Ｘ線による断層像のアーチファクトの低減方法において、
    ガントリおよび寝台の少なくとも一方が被検体の体軸方向に沿って移動する間に、Ｘ線を前記被検体に照射して得られた前記被検体の投影データを逆投影して得られた複数の断層像間の前記体軸方向のＣＴ値の変化量を、該断層像に含まれる画素領域について特定するステップと、
    前記特定されたＣＴ値の変化量に応じて、アーチファクトを低減するための前記複数の断層像間の体軸方向の画像処理を行う画像処理条件を選定するステップと、
    前記選定された画像処理条件を用いて画像処理を行うステップと
    を備えることを特徴とするアーチファクトの低減方法。
12. さらに、
    前記ＣＴ値の変化量が所定範囲である前記画素領域が前記断層像に含まれる所定領域内に占める比率を計算するステップと、
    前記比率がしきい値より大きい場合に、該画素領域に前記アーチファクトを低減するための複数の断層像間の体軸方向の画像処理を行うと判定するステップと
    を備えることを特徴とする請求項１１に記載のアーチファクトの低減方法。
13. 前記アーチファクトを低減するための複数の断層像間の体軸方向の画像処理は、前記複数の断層像の画素領域に、前記画像処理条件として選定された重み付け係数を乗算してそれらを加算する処理を含むことを特徴とする請求項１１または請求項１２に記載のアーチファクトの低減方法。
14. 前記画像処理条件を選定するステップは、前記ＣＴ値の変化量が所定範囲である場合に、前記重み付け係数を０よりも大きくすることを特徴とする請求項１３に記載のアーチファクトの低減方法。
15. 前記体軸方向の複数の画素領域の数に応じて、前記重み付け係数を変えることを特徴とする請求項１３または請求項１４に記載のアーチファクトの低減方法。
16. 前記ＣＴ値の変化量に応じて、前記重み付け係数を変えることを特徴とする請求項１３または請求項１４に記載のアーチファクトの低減方法。
17. 前記特定されたＣＴ値の変化量に応じて指標値を決定することを特徴とする請求項１１から請求項１６のいずれか一項に記載のＸ線断層撮影装置。
18. 前記被検体の部位に応じて、前記重み付け係数を変えることを特徴とする請求項１３ないし請求項１７のいずれか一項に記載のアーチファクトの低減方法。
19. 前記ＣＴ値の変化量が３ＨＵないし３００ＨＵである場合に、前記画素領域に対してアーチファクトを低減することを特徴とする請求項１１ないし請求項１８に記載のアーチファクトの低減方法。
20. 前記ＣＴ値の変化量が０ＨＵないし３００ＨＵである場合に、前記画素領域に対してアーチファクトを低減するとともにノイズを低減することを特徴とする請求項１１ないし請求項１８に記載のアーチファクトの低減方法。