JP2008104704A - Radiographic apparatus - Google Patents
Radiographic apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008104704A JP2008104704A JP2006291172A JP2006291172A JP2008104704A JP 2008104704 A JP2008104704 A JP 2008104704A JP 2006291172 A JP2006291172 A JP 2006291172A JP 2006291172 A JP2006291172 A JP 2006291172A JP 2008104704 A JP2008104704 A JP 2008104704A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- operation amount
- uniformity
- ray
- irradiation field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 73
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 48
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 35
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 7
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 10
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 7
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
Description
この発明は、放射線撮像を行う放射線撮像装置に係り、特に、放射線照射手段から照射される放射線の照視野を制御する技術に関する。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus that performs radiation imaging, and more particularly to a technique for controlling an irradiation field of radiation emitted from radiation irradiating means.
放射線撮像装置として、X線透視撮影装置を例に採って説明する。近年、X線透視撮影装置におけるX線撮影では、骨によるX線の吸収度に基づいて骨に含有されているCa(カルシウム)量を測定する骨塩定量を行うケースが増えてきている。骨塩定量を行うには、X線管(放射線照射手段)から照射されて被検体Mを透過したX線を、X線フィルムやフラットパネル型X線検出器(FPD)などに代表されるX線検出器で検出して、検出されたX線に基づいて骨が映った画像を得る。かかる骨塩定量では照視野内で検出されるX線フィルムのフィルム濃度の均一性(照視野の均一性)が要求される。 An explanation will be given by taking an X-ray fluoroscopic imaging apparatus as an example of the radiation imaging apparatus. In recent years, in X-ray imaging using an X-ray fluoroscopic apparatus, cases of bone mineral quantification in which the amount of Ca (calcium) contained in bone is measured based on the degree of X-ray absorption by the bone have been increasing. In order to perform bone mineral quantification, X-rays irradiated from an X-ray tube (radiation irradiation means) and transmitted through the subject M are converted into X-rays represented by an X-ray film, a flat panel X-ray detector (FPD) or the like. Detection is performed by a line detector, and an image showing bones is obtained based on the detected X-rays. Such bone mineral quantification requires uniformity of the film density of the X-ray film detected in the irradiation field (uniformity of the irradiation field).
一般的に、X線管では、図8に示すようにアノード(「ターゲット」とも呼ばれる)A側のX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなる。なお、図8中の符号Cはカソード(陰極)である。これは「ヒール効果」とも呼ばれるX線管固有の特性である(例えば、特許文献1、2参照)。照視野内のX線強度の均一性を規定する規格は、国際電気標準会議(IEC: International Electrotechnical Commission)、日本工業規格(JIS: Japanese Industrial Standard)ともに、照視野の中心(視野中心)を100%としたときに30%以上必要と規定されている。しかし、骨塩定量を行う場合には30%程度では不十分であり、80%あるいは90%の均一性が求められる。
In general, in an X-ray tube, the X-ray intensity on the anode (also referred to as “target”) A side is weaker than the center O of the irradiation field, as shown in FIG. In addition, the code | symbol C in FIG. 8 is a cathode (cathode). This is a characteristic unique to the X-ray tube, also called “heel effect” (see, for example,
そこで、均一性を十分に確保するためには、上述した特許文献1のようにフィルタによってヒール効果を補正する、あるいは上述した特許文献2のようにX線の線量を予め測定して、線量の強い部位ほど厚く形成された金属性のフィルタをX線管の照射口に設けることで一様なX線強度分布を得る。その他にも、図9に示すように、カソードCから出射される電子ビームや、カソードCとアノードAとを結ぶ軸に平行な軸を管軸Axとしたときに、管軸Axに対して垂直な軸Bxの方向を使用する、図10に示すように、カソードCのターゲットアングルθを大きくしたX線管を使用する、あるいは図11(b)に示すように、焦点・フィルム間距離(FFD)を図11(a)よりも大きく取ることで一様なX線強度分布を得る。
Therefore, in order to ensure sufficient uniformity, the heel effect is corrected by a filter as in
ヒール効果は上述したようにアノードA側にX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなるので、図9中の管軸Axの方向に対してX線強度分布の変化が大きく、図9中の軸Bxの方向に対してX線強度分布の変化が小さい。そこで、図9に示すような撮影手技を行う。また、ヒール効果では、アノード(ターゲット)A中で発生したX線がターゲット中を透過する間に減弱され、特にカソードC側や照視野の中心O側に出射されたX線よりもアノードA側に出射されたX線の方が透過する長さが長い分だけ減弱されて、アノードA側にX線強度が照視野の中心Oに対して弱くなる。そこで、図10に示す構造のX線管を使用する。X線強度が90%、すなわち照視野の均一性が90%以上の部分を、図11中の斜線のハッチングで示すと、図11(a)のようにFFDが小さいと90%以上の部分での照視野も限られるが、図11(b)のようにFFDが大きいと90%以上の部分での照視野も大きくとることができる。
上述したように、骨塩定量を行うX線撮影では、フィルム濃度の均一性(照視野の均一性)を確保するためにFFDを大きくとる必要がある。一方で、通常のX線撮影では、上述したように30%程度のフィルム濃度の均一性で十分である。しかし、骨塩定量を行うX線撮影を通常のX線撮影とオペレータ(技師)が勘違いして、短いFFDで撮影した場合には、80%あるいは90%のフィルム濃度の均一性が確保できない。その結果、骨塩定量の測定結果が不正確となる。また、その場合には被検体に対して無駄な被曝を与えてしまう。 As described above, in X-ray imaging that performs bone mineral quantification, it is necessary to increase the FFD in order to ensure the uniformity of film density (uniformity of illumination field). On the other hand, in normal X-ray imaging, a film density uniformity of about 30% is sufficient as described above. However, when X-ray imaging for bone mineral content determination is mistaken for normal X-ray imaging and an operator (engineer) and imaging is performed with a short FFD, uniformity of film density of 80% or 90% cannot be ensured. As a result, the measurement result of bone mineral quantification becomes inaccurate. In this case, useless exposure is given to the subject.
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、照視野の均一性を確保することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。 This invention is made in view of such a situation, and it aims at providing the radiation imaging device which can ensure the uniformity of an irradiation visual field.
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段を備え、前記被検体を透過した放射線を検出し、その検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段から照射される放射線の照視野を操作する照視野操作手段と、放射線強度分布として表される照視野内の位置と放射線強度との相関関係を予め記憶した相関関係記憶手段と、設定された照視野の均一性および前記相関関係記憶手段に予め記憶された相関関係に基づいて、前記設定された均一性に該当する放射線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算する操作量演算手段と、その操作量演算手段で演算された操作量で前記照視野操作手段を操作することで照視野を制御する照視野制御手段とを備えることを特徴とするものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention according to
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、放射線強度分布として表される照視野内の位置と放射線強度との相関関係を相関関係記憶手段に予め記憶する。設定された照視野の均一性および上述の相関関係記憶手段に予め記憶された相関関係に基づいて、操作量演算手段は上述の設定された均一性に該当する放射線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算する。その操作量演算手段で演算された操作量で照視野制御手段が操作することで照視野を制御する。その結果、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量が演算され、さらにその操作量で照視野制御手段が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野を放射線照射手段から照射することができる。したがって、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。 [Operation / Effect] According to the first aspect of the present invention, the correlation between the position in the irradiation field expressed as the radiation intensity distribution and the radiation intensity is stored in the correlation storage means in advance. Based on the set uniformity of the irradiation field and the correlation stored in advance in the above-described correlation storage unit, the operation amount calculation unit is provided in the irradiation field according to the radiation intensity corresponding to the above-described set uniformity. The operation amount of the illumination field corresponding to the position is calculated. The illumination field control means controls the illumination field by operating with the operation amount calculated by the operation amount calculation means. As a result, if the target uniformity is set, the operation amount of the illumination field is calculated, and the illumination field control means controls the illumination field by operating the operation amount. The visual field can be irradiated from the radiation irradiation means. Therefore, the uniformity of the irradiation field can be ensured according to the purpose of imaging.
上述した発明では、設定された均一性を入力する入力手段を備えてもよいし(請求項2に記載の発明)、装置の外部にある外部装置との間で転送する転送手段を備え、転送手段から設定された均一性を転送してもよい(請求項3に記載の発明)。すなわち、請求項2に記載の発明の場合には、入力手段に均一性を入力設定して、請求項3に記載の発明の場合には、設定された均一性のデータを外部装置から転送手段を介してこの発明に係る放射線撮像装置に転送することで入力設定する。
In the above-described invention, an input means for inputting the set uniformity may be provided (the invention according to claim 2), or a transfer means for transferring to / from an external device outside the device is provided. The uniformity set by the means may be transferred (the invention according to claim 3). That is, in the case of the invention described in
また、上述したこれらの発明の一例は、放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することである(請求項4に記載の発明)。 In addition, in the examples of the inventions described above, when the radiation intensity is distributed symmetrically at the center of the irradiation field, the distance from the center to the position corresponding to the radiation intensity to be set is the manipulated variable. The calculating means calculates and calculates an operation amount based on a radiation intensity to be set corresponding to the set uniformity by calculating an operation amount corresponding to the calculated distance. Item 4).
放射線強度が照視野の中心で対称に分布する場合には、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに同じ距離となる。その距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算するのが可能になる。このように操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することになる。 When the radiation intensity is distributed symmetrically at the center of the irradiation field, there are two distances from the center to the location corresponding to the radiation intensity to be set in one direction, including the reverse direction. Are the same distance from each other. The operation amount calculation means calculates the distance, and can calculate the operation amount corresponding to the calculated distance. By calculating the operation amount in this way, the operation amount is calculated based on the radiation intensity to be set corresponding to the set uniformity.
また、上述したこれらの発明の他の一例は、放射線強度分布について、放射線強度が照視野の中心で非対称に分布する場合には、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離が複数存在し、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択して操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することである(請求項5に記載の発明)。 In addition, in another example of these inventions described above, when the radiation intensity is distributed asymmetrically at the center of the irradiation field, the distance from the center to the location corresponding to the radiation intensity to be set is The operation amount calculation means calculates the operation amount corresponding to the calculated distance by selecting the shortest distance from the plurality of existing distances, and corresponds to the set uniformity. The operation amount is calculated based on the radiation intensity to be set (the invention according to claim 5).
放射線強度が照視野の中心で非対称に分布する場合には、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心から設定すべき放射線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに異なる距離となる。したがって、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択することで、その選択された距離における放射線強度よりも小さい放射線強度が設定されることはない。その距離を操作量演算手段は演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量を演算するのが可能になる。このように操作量を演算することで、設定された均一性に該当する設定すべき放射線強度に基づいて、操作量を演算することになる。 When the radiation intensity is distributed asymmetrically at the center of the irradiation field, there are two distances from the center to the location corresponding to the radiation intensity to be set in one direction, including the reverse direction. Are different distances from each other. Therefore, by selecting the shortest distance from among a plurality of existing distances, a radiation intensity smaller than the radiation intensity at the selected distance is not set. The operation amount calculation means calculates the distance, and can calculate the operation amount corresponding to the calculated distance. By calculating the operation amount in this way, the operation amount is calculated based on the radiation intensity to be set corresponding to the set uniformity.
この発明に係る放射線撮像装置によれば、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量が演算され、さらにその操作量で照視野操作手段が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野を放射線照射手段から照射することができ、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。 According to the radiation imaging apparatus according to the present invention, if the target uniformity is set, the operation amount of the illumination field is calculated, and the illumination field operation means is operated by the operation amount to control the illumination field. The irradiation field having the target uniformity can be irradiated from the radiation irradiation means, and the uniformity of the irradiation field can be ensured according to the purpose of imaging.
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図1は、実施例に係るX線透視撮影装置のブロック図である。本実施例では放射線撮像装置としてX線透視撮影装置を例に採って説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram of an X-ray fluoroscopic apparatus according to an embodiment. In this embodiment, a radiographic imaging apparatus will be described as an example of a radiographic imaging apparatus.
X線透視撮影装置は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板1と、その被検体Mに向けてX線を照射するX線管2と、被検体Mを透過したX線を検出するフラットパネル型X線検出器(以下、「FPD」と略記する)3とを備えている。なお、X線検出器としては、FPD以外にもイメージインテンシファイアやX線フィルムでもよい。X線管2は、この発明における放射線照射手段に相当する。
As shown in FIG. 1, the X-ray fluoroscopic imaging apparatus transmits a
X線透視撮影装置は、他に、天板1の昇降および水平移動を制御する天板制御部4や、FPD3の走査を制御するFPD制御部5や、X線管2の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部6を有するX線管制御部7や、FPD3から電荷信号であるX線検出信号をディジタル化して取り出すA/D変換器8や、A/D変換器8から出力されたX線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部9や、これらの各構成部を統括するコントローラ10や、処理された画像などを記憶するメモリ部11や、オペレータが入力設定を行う入力部12や、処理された画像などを表示するモニタ13などを備えている。
In addition, the X-ray fluoroscopic apparatus includes a top
天板制御部4は、天板1を水平移動させて被検体Mを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Mを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。FPD制御部5は、FPD3を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部6は、X線を照射させるための管電圧や管電流を発生してX線管2に与え、X線管制御部7は、X線管2を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、X線管2側のコリメータ16(図2、図4を参照)の照視野の設定の制御などを行う。なお、X線管2やFPD3の走査の際には、X線管2から照射されたX線をFPD3が検出できるようにX線管2およびFPD3が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
The top
本実施例では、X線管制御部7は、照視野の操作量d(図4を参照)でコリメータ16(図2、図4を参照)を操作することで照視野を制御する。したがって、X線管制御部7は、この発明における照視野制御手段に相当する。照視野の操作量はコリメータ16の「開き量」とも呼ばれる。
In this embodiment, the X-ray
コントローラ10は、中央演算処理装置(CPU)などで構成されており、メモリ部11は、ROM(Read-only Memory)やRAM(Random-Access Memory)などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部12は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。X線透視撮影装置では、被検体Mを透過したX線をFPD3が検出して、検出されたX線に基づいて画像処理部9で画像処理を行うことで被検体Mの撮像を行う。
The
本実施例では、メモリ部11には、X線強度分布(図4、図6を参照)として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を予め記憶した相関関係メモリ部11aを備えている。また、メモリ部11のROMには、設定された照視野の均一性および上述した相関関係メモリ部11aに予め記憶された相関関係に基づいて、設定された均一性に該当するX線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量を演算するプログラムが予め記憶されており、そのプログラムをコントローラ10が実行する。したがって、コントローラ10は、この発明における操作量演算手段の機能を備えている。したがって、相関関係メモリ部11aは、この発明における相関関係記憶手段に相当する。また、入力部12は、後述するタッチパネル12a(図2、図3を参照)を備えており、設定された均一性を入力する。したがって、タッチパネル12aを含んだ入力部12は、この発明における入力手段に相当する。
In the present embodiment, the
次に、撮像系について図2、図3を参照して説明する。図2は、X線透視撮影装置の撮像系の具体的構成を示す概略図であり、図3は、入力部の一例を示すタッチパネルの概略図である。 Next, the imaging system will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a specific configuration of an imaging system of the fluoroscopic imaging apparatus, and FIG. 3 is a schematic diagram of a touch panel illustrating an example of an input unit.
図2に示すように、上述したX線管2を天井から懸垂支持するための保持器14を備えている。懸垂支持されたX線管2にはランプ15を配設するとともに、照射側にはコリメータ16を配設している。コリメータ16は、X線管2から照射されるX線の照視野を操作する。ランプ15から照射される光もコリメータ16によって操作される。したがって、ランプ15から照射される光によってX線の照視野をオペレータは視認することができる。なお、ランプ15を必ずしも備える必要はない。また、X線管2は保持器14によって懸垂支持されるタイプに限定されず、FPD3とともに支持されるタイプや、回診用に合わせて運搬可能なタイプなどであってもよい。コリメータ16は、この発明における照視野操作手段に相当する。
As shown in FIG. 2, a
懸垂支持されたX線管2の側方には、タッチパネル12aを配設している。このタッチパネル12aには、図3に示すように例えば「30%」、「50%」、「80%」、「90%」というような均一性の設定画面を設けており、オペレータがこの画面に触れることで、触れられた画面に該当した均一性を入力設定する。例えば、「30%」に触れることで「30%」の均一性を入力設定する。同じように「50%」に触れることで「50%」の均一性を入力設定し、「80%」に触れることで「80%」の均一性を入力設定し、「90%」に触れることで「90%」の均一性を入力設定する。
A
次に、設定された均一性に基づく一連の照視野の制御について、図4〜図6を参照して説明する。図4(a)〜図4(c)は、各々の照視野の操作量(開き量)ごとの照視野およびX線強度分布を示した模式図であり、図5は、X線強度分布として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を示したグラフであり、図6は、各々の照視野の操作量(開き量)ごとの図4とは別のX線強度分布を示した模式図である。図4では、X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときのX線強度分布であって、図6では、X線強度が照視野の中心Oで対称に分布したときのX線強度分布である。 Next, a series of illumination field control based on the set uniformity will be described with reference to FIGS. 4 (a) to 4 (c) are schematic diagrams showing the irradiation field and the X-ray intensity distribution for each operation amount (opening amount) of each irradiation field, and FIG. 5 shows the X-ray intensity distribution. FIG. 6 is a graph showing the correlation between the position in the irradiation field represented and the X-ray intensity, and FIG. 6 is an X-ray intensity distribution different from FIG. 4 for each operation amount (opening amount) of each irradiation field. It is the schematic diagram which showed. 4 shows an X-ray intensity distribution when the X-ray intensity is asymmetrically distributed at the center O of the irradiation field, and FIG. 6 shows an X-ray intensity when the X-ray intensity is distributed symmetrically at the center O of the irradiation field. Intensity distribution.
X線強度分布は照視野の均一性を表し、つまり照視野の均一の度合いを示す。従来の図8でも述べたように、図4や図6に示すように照視野の中心OでのX線強度を100%としたときに中心から離れるにしたがって強度は低くなって均一性が保てなくなる。X線強度分布は、照視野内の位置とX線強度との相関関係で表され、図5に示すような分布となる。なお、図5のグラフは、図4と同様にX線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときのX線強度分布である。X線管2またはX線透視撮影装置の出荷前の工場での段階で、かかる相関関係を予め求める。その後にX線管2またはX線透視撮影装置を出荷する。
The X-ray intensity distribution represents the uniformity of the illuminated field, that is, the degree of uniformity of the illuminated field. As described in FIG. 8 of the prior art, as shown in FIGS. 4 and 6, when the X-ray intensity at the center O of the illumination field is 100%, the intensity decreases as the distance from the center decreases, and the uniformity is maintained. It ’s gone. The X-ray intensity distribution is represented by the correlation between the position in the irradiation field and the X-ray intensity, and is a distribution as shown in FIG. The graph of FIG. 5 shows the X-ray intensity distribution when the X-ray intensity is distributed asymmetrically at the center O of the irradiation field as in FIG. Such correlation is obtained in advance at the stage of the factory before shipment of the
照視野の操作量(開き量)dを最大にした状態で、被検体として水や銅板などのファントムを用いて撮影を行う。そして、照視野の位置に応じてX線強度を測定して、図5に示すような分布を測定する。なお、X線管2(図1、図2を参照)の種類(例えばターゲットアングルが互いに異なるX線管、アノードやカソードの構造や材料が異なるX線管など)が複数存在する場合には、各々の種類に応じてX線強度分布を測定する。なお、照視野の操作量dを必ずしも最大した状態でX線強度分布を測定する必要はないが、出荷後の実際の撮影時において、照視野の操作量dを最大にして撮影を行うことも考慮して、照視野の操作量dを最大にしてX線強度分布を測定するのが好ましい。このように測定されたX線強度分布を、照視野内の位置とX線強度との相関関係として、上述したように相関関係メモリ部11a(図1を参照)に予め記憶した後に出荷する。また、ファントムを入れない状態で照視野の操作量(開き量)dを最大にした状態で撮影を行ってもよい。
Imaging is performed using a phantom such as water or a copper plate as the subject in a state where the operation amount (opening amount) d of the irradiation field is maximized. Then, the X-ray intensity is measured according to the position of the irradiation field, and the distribution as shown in FIG. 5 is measured. In addition, when there are a plurality of types of X-ray tubes 2 (see FIGS. 1 and 2) (for example, X-ray tubes having different target angles, X-ray tubes having different anode and cathode structures and materials, etc.) X-ray intensity distribution is measured according to each kind. It is not always necessary to measure the X-ray intensity distribution with the irradiation field manipulated variable d maximized, but in actual imaging after shipment, the irradiation field manipulated variable d may be maximized. Considering this, it is preferable to measure the X-ray intensity distribution with the maximum manipulated variable d of the irradiation field. The X-ray intensity distribution measured in this way is stored in advance in the
X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布したときについて説明する。操作量(開き量)dを最大にした状態を図4(a)に示す。このとき、カソードC側では50%を超えるが、アノードA側では30%未満になる。タッチパネル12a(図2、図3を参照)から30%を入力設定した場合には、30%に該当するX線強度は、図4(b)に示すとおりである。このX線強度に応じた照視野内の位置は、X線強度分布が図中の実線から二点鎖線に変化する部分である。この位置に該当する照視野の操作量dは、図4(b)に示すとおりである。この位置がわかることで操作量dを演算することが可能になる。タッチパネル12aから90%を入力設定した場合には、90%に該当するX線強度は、図4(c)に示すとおりである。このX線強度に応じた照視野内の位置は、X線強度分布が図中の実線から二点鎖線に変化する部分である。この位置に該当する照視野の操作量dは、図4(c)に示すとおりである。
The case where the X-ray intensity is distributed asymmetrically at the center O of the illumination field will be described. FIG. 4A shows a state where the operation amount (opening amount) d is maximized. At this time, it exceeds 50% on the cathode C side, but is less than 30% on the anode A side. When 30% is input and set from the
ここで、X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布(本実施例ではアノードA側がカソードC側よりも強度が小さく分布)している関係で、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに異なる距離となる。90%と入力設定した場合には、アノードA側では90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分までとなる。しかし、逆のカソードC側では90%に該当するX線強度は、図中の実線に示す部分のみならず二点鎖線の部分まで延びるので、中心OからX線強度に相当する箇所までの距離は実線および二点鎖線に対応した部分までとなり、距離が互いに異なる。したがって、複数存在する距離の中からもっとも短い距離を選択することで、その選択された距離におけるX線強度よりも小さいX線強度が設定されることはない。90%と入力設定した場合には、アノードA側の距離がもっとも短い距離となるので、その距離を選択することで、その選択された距離におけるX線強度は図4(b)に示すようにカソードC側においても100%と90%を超えており、その選択された距離におけるX線強度よりも小さいX線強度が設定されることはない。 Here, the X-ray intensity is asymmetrically distributed at the center O of the illumination field (in this embodiment, the anode A side has a smaller intensity distribution than the cathode C side), and in one direction including the reverse direction. There are two distances from the center O to the portion corresponding to the X-ray intensity to be set, but they are different from each other. When 90% is input and set, the X-ray intensity to be set corresponding to 90% on the anode A side is a portion indicated by a solid line in the figure, and therefore corresponds to the X-ray intensity to be set from the center O. The distance to the location is up to the portion corresponding to the solid line. However, on the opposite cathode C side, the X-ray intensity corresponding to 90% extends not only to the part indicated by the solid line in the figure but also to the two-dot chain line part, so the distance from the center O to the part corresponding to the X-ray intensity. Is up to the portion corresponding to the solid line and the two-dot chain line, and the distances are different from each other. Therefore, by selecting the shortest distance from a plurality of existing distances, an X-ray intensity smaller than the X-ray intensity at the selected distance is not set. When 90% is input and set, the distance on the anode A side is the shortest distance, and by selecting this distance, the X-ray intensity at the selected distance is as shown in FIG. The cathode C side also exceeds 100% and 90%, and an X-ray intensity smaller than the X-ray intensity at the selected distance is not set.
その距離を演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量dを演算するのが可能になる。このように操作量dを演算することで、設定された均一性に該当する設定すべきX線強度に基づいて、操作量dを演算することになる。 It is possible to calculate the operation amount d corresponding to the calculated distance while calculating the distance. By calculating the operation amount d in this way, the operation amount d is calculated based on the X-ray intensity to be set corresponding to the set uniformity.
X線強度が照視野の中心Oで対称に分布したときには、操作量dを変えると、図6(a)〜図6(c)に示すとおりとなる。X線強度が照視野の中心Oで対称に分布している関係で、逆方向も含めて、ある一方向では、その中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は2つ存在するが、両者は互いに同じ距離となる。90%と入力設定した場合には、アノードA側では90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分までとなる。逆のカソードC側でも90%に該当する設定すべきX線強度は、図中の実線に示す部分であるので、中心Oから設定すべきX線強度に相当する箇所までの距離は実線に対応した部分となり、距離は同じである。 When the X-ray intensity is distributed symmetrically at the center O of the irradiation field, the operation amount d is changed as shown in FIGS. 6 (a) to 6 (c). Since the X-ray intensity is symmetrically distributed at the center O of the irradiation field, there are two distances from the center O to the position corresponding to the X-ray intensity to be set in one direction including the reverse direction. Although they exist, they are the same distance from each other. When 90% is input and set, the X-ray intensity to be set corresponding to 90% on the anode A side is a portion indicated by a solid line in the figure, and therefore corresponds to the X-ray intensity to be set from the center O. The distance to the location is up to the portion corresponding to the solid line. The X-ray intensity to be set corresponding to 90% on the reverse cathode C side is the portion indicated by the solid line in the figure, so the distance from the center O to the location corresponding to the X-ray intensity to be set corresponds to the solid line. The distance is the same.
X線強度が照視野の中心Oで非対称に分布している場合と同様に、その距離を演算するとともに、演算されたその距離に該当する操作量dを演算するのが可能になる。このように操作量dを演算することで、設定された均一性に該当する設定すべきX線強度に基づいて、操作量dを演算することになる。 Similar to the case where the X-ray intensity is distributed asymmetrically at the center O of the irradiation field, it is possible to calculate the distance and to calculate the operation amount d corresponding to the calculated distance. By calculating the operation amount d in this way, the operation amount d is calculated based on the X-ray intensity to be set corresponding to the set uniformity.
本実施例に係るX線透視撮影装置によれば、X線強度分布として表される照視野内の位置とX線強度との相関関係を相関関係メモリ部11aに予め記憶する。設定された照視野の均一性および上述の相関関係メモリ部11aに予め記憶された相関関係に基づいて、コントローラ10は上述の設定された均一性に該当するX線強度に応じた照視野内の位置に該当する照視野の操作量dを演算する。そのコントローラ10で演算された操作量dでX線管制御部7が操作することで照視野を制御する。その結果、目的の均一性を設定すれば、照視野の操作量dが演算され、さらにその操作量dでX線管制御部7が操作することで照視野を制御するので、目的の均一性を有した照視野をX線管2から照射することができる。したがって、撮像の目的に合わせて照視野の均一性を確保することができる。
According to the X-ray fluoroscopic apparatus according to the present embodiment, the correlation between the position in the irradiation field expressed as the X-ray intensity distribution and the X-ray intensity is stored in the
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as follows.
(1)上述した実施例では、放射線撮像装置としてX線透視撮影装置を例に採って説明したが、PET(Positron Emission Tomography)装置やSPECT(Single Photon Emission CT)装置などに代表されるECT(Emission Computed Tomography)装置のように、X線以外の放射線(PET装置の場合にはγ線)を検出して、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置に適用してもよい。 (1) In the above-described embodiments, the X-ray fluoroscopic imaging apparatus has been described as an example of the radiation imaging apparatus. However, an ECT (typically represented by a PET (Positron Emission Tomography) apparatus, a SPECT (Single Photon Emission CT) apparatus, or the like). A radiation imaging apparatus that performs radiation imaging by detecting radiation other than X-rays (gamma rays in the case of a PET apparatus) and obtaining a radiation image based on the detected radiation, such as an Emission Computed Tomography apparatus You may apply.
(2)上述した実施例では、図1に示すようなX線透視撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばC型アームに配設されたX線撮像装置にも適用してもよい。また、この発明は、X線CT装置にも適用してもよい。 (2) In the above-described embodiment, the X-ray fluoroscopic apparatus as shown in FIG. 1 has been described as an example. However, the present invention is also applied to, for example, an X-ray imaging apparatus disposed on a C-arm. May be. The present invention may also be applied to an X-ray CT apparatus.
(3)上述した実施例では、図1に示すように被検体Mを水平姿勢にしてX線撮影を行ったが、被検体を立位姿勢にしてX線撮影を行ってもよいし、斜め方向にしてX線撮影を行ってもよい。 (3) In the embodiment described above, X-ray imaging was performed with the subject M in a horizontal posture as shown in FIG. 1, but X-ray imaging may be performed with the subject in a standing posture, or obliquely. X-ray imaging may be performed in the direction.
(4)上述した実施例では、設定された均一性を入力する入力手段としてタッチパネル12aを例に採って説明したが、タッチパネル12a以外のマウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスに適用してもよい。
(4) In the above-described embodiment, the
(5)上述した実施例では、タッチパネル12aなどに代表される入力手段に均一性を入力設定したが、図7に示すように、装置の外部にある外部装置との間で転送するケーブル17を備え、ケーブル17から設定された均一性を転送してもよい。すなわち、設定された均一性のデータを外部装置からケーブル17を介して装置に転送することで入力設定する。かかる構成は、例えば院内のネットワーク(装置、ケーブル17、外部装置からなるネットワーク)から医者がオーダーした手技情報(設定された均一性のデータ)が送られるシステムの場合には有用であって、その情報に応じて均一性を自動的に設定することが可能である。ケーブル17は、この発明における転送手段に相当する。なお、ケーブル17以外にも、無線LAN(Local Area Network)などに例示されるように、通常において用いられる転送手段であれば、特に限定されない。
(5) In the above-described embodiment, the uniformity is input and set to the input means represented by the
2 … X線管
7 … X線管制御部
10 … コントローラ
11a … 相関関係メモリ部
12 … 入力部
12a … タッチパネル
16 … コリメータ
d … 照視野の操作量(開き量)
O … 照視野の中心
M … 被検体
DESCRIPTION OF
O… Center of illumination field M… Subject
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006291172A JP4817065B2 (en) | 2006-10-26 | 2006-10-26 | Radiation imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006291172A JP4817065B2 (en) | 2006-10-26 | 2006-10-26 | Radiation imaging device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008104704A true JP2008104704A (en) | 2008-05-08 |
JP4817065B2 JP4817065B2 (en) | 2011-11-16 |
Family
ID=39438559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006291172A Expired - Fee Related JP4817065B2 (en) | 2006-10-26 | 2006-10-26 | Radiation imaging device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4817065B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013051550A1 (en) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 株式会社 東芝 | X-ray diagnostic device and dosage administration method |
JP2014503941A (en) * | 2010-11-08 | 2014-02-13 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | Judgment of change in X-ray emission yield of X-ray light source |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08275935A (en) * | 1995-04-06 | 1996-10-22 | Toshiba Corp | Radiography device |
JPH0928823A (en) * | 1995-07-20 | 1997-02-04 | Siemens Medical Syst Inc | Method and device to adjust emission from radioactive ray generator |
JP2001061831A (en) * | 1999-08-25 | 2001-03-13 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct device |
JP2002320607A (en) * | 2001-04-26 | 2002-11-05 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct apparatus |
JP2003111754A (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-15 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Gantry device in x-ray ct system and control method therefor |
JP2004016499A (en) * | 2002-06-17 | 2004-01-22 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X-ray ct equipment and operation console |
JP2004214130A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Shimadzu Corp | Device for uniformly irradiating x-ray |
JP2005169110A (en) * | 2003-12-05 | 2005-06-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Method and system for target angle heel effect compensation |
JP2005185648A (en) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Exposed dose calculation method and radiography system |
WO2005092195A1 (en) * | 2004-03-29 | 2005-10-06 | National Institute Of Radiological Sciences | Heel effect correction filter, x-ray irradiator, x-ray ct apparatus, and x-ray ct imaging method |
JP2006513764A (en) * | 2003-02-20 | 2006-04-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Asymmetric cone beam |
JP2008023241A (en) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Morita Mfg Co Ltd | Digital x-ray photography device and method |
-
2006
- 2006-10-26 JP JP2006291172A patent/JP4817065B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08275935A (en) * | 1995-04-06 | 1996-10-22 | Toshiba Corp | Radiography device |
JPH0928823A (en) * | 1995-07-20 | 1997-02-04 | Siemens Medical Syst Inc | Method and device to adjust emission from radioactive ray generator |
JP2001061831A (en) * | 1999-08-25 | 2001-03-13 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct device |
JP2002320607A (en) * | 2001-04-26 | 2002-11-05 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct apparatus |
JP2003111754A (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-15 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Gantry device in x-ray ct system and control method therefor |
JP2004016499A (en) * | 2002-06-17 | 2004-01-22 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X-ray ct equipment and operation console |
JP2004214130A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Shimadzu Corp | Device for uniformly irradiating x-ray |
JP2006513764A (en) * | 2003-02-20 | 2006-04-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Asymmetric cone beam |
JP2005169110A (en) * | 2003-12-05 | 2005-06-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Method and system for target angle heel effect compensation |
JP2005185648A (en) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Exposed dose calculation method and radiography system |
WO2005092195A1 (en) * | 2004-03-29 | 2005-10-06 | National Institute Of Radiological Sciences | Heel effect correction filter, x-ray irradiator, x-ray ct apparatus, and x-ray ct imaging method |
JP2008023241A (en) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Morita Mfg Co Ltd | Digital x-ray photography device and method |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014503941A (en) * | 2010-11-08 | 2014-02-13 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | Judgment of change in X-ray emission yield of X-ray light source |
WO2013051550A1 (en) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 株式会社 東芝 | X-ray diagnostic device and dosage administration method |
JP2013081576A (en) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Toshiba Corp | X-ray diagnostic device and dose management method |
US9538977B2 (en) | 2011-10-07 | 2017-01-10 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray diagnosis apparatus and dose distribution data generation method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4817065B2 (en) | 2011-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101642425B1 (en) | A radiographic imaging apparatus and a method of controlling the radiographic imaging | |
Krol et al. | Scatter reduction in mammography with air gap | |
JP6902979B2 (en) | Image processing device, control device, image processing method, and image processing program | |
JP2008148866A (en) | X-ray image diagnostic apparatus and moving control method | |
JP3673791B2 (en) | Radiographic apparatus and radiographic method | |
JP2012110709A (en) | System and method for including and correcting subject orientation data in digital radiographic image | |
JP4505639B2 (en) | Moving body tracking irradiation apparatus and program | |
JP4817065B2 (en) | Radiation imaging device | |
KR20160050761A (en) | A radiographic imaging apparatus and a method of controlling the radiographic imaging | |
KR20160042572A (en) | A radiographic imaging apparatus, a method of controlling the radiographic imaging apparatus and a computed tomography | |
JP2006204744A (en) | Radiological imaging apparatus and radiological imaging system | |
JP2006334046A (en) | Radiographic equipment and radiographing method | |
JP4559312B2 (en) | Radiography equipment | |
WO2018070272A1 (en) | Radiation imaging system and control method therefor, control device and control method therefor, and computer program | |
JP2011067543A (en) | Radiation controller, radiographic system and imaging condition setting method | |
CN112641456B (en) | Substance identification device, PCCT device, and substance identification method | |
JP2011182974A (en) | Controller for radiation source, radiographic system, and method for updating exposure conditions | |
JP6765871B2 (en) | Radiation imaging equipment, radiography systems, radiography methods, and programs | |
JP7257761B2 (en) | Radiographic inspection equipment | |
JP5304115B2 (en) | Radiation imaging system | |
JP2017169715A (en) | Image processing device, radiographic image capturing system, image processing method, and image processing program | |
JP5515592B2 (en) | X-ray imaging device | |
JP2008125610A (en) | Radiographic x-ray equipment | |
JP2006090752A (en) | Radiation diagnostic equipment and attenuation coefficient compensation method | |
US20080019480A1 (en) | Method and apparatus for controlling x-ray machine to irradiate a narrowed portion |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090114 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110120 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110201 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110805 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110818 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140909 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4817065 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140909 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |