JP2008052220A - Tilt mirror element - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve normal production yield in a manufacturing process in which a dual shaft electrostatic type tilt mirror element is easily manufactured. <P>SOLUTION: An element 1 is composed of an SOI substrate 100 which is composed of a first silicon layer 100a and a second silicon layer 100b which are connected to each other via an oxidized layer 120. The element 1 has: a mirror part 2; a movable frame 3 which supports the mirror part 2 via a first hinge 5; a fixed frame 4 which supports the movable frame 3 via a second hinge 6; a first comb-teeth electrode 7 disposed between the mirror part 2 and the movable frame 3; and a second comb-teeth electrode 8 disposed between the movable frame 3 and the fixed frame 4. The first comb-teeth electrode 7 is formed on the second silicon layer 100b and the first hinge 5 is formed on the first silicon layer 100a. The two silicon layers 100a and 100b of the mirror part 2 are electrically interconnected via contact holes 9. The tilt mirror element is easily manufactured because a pair of comb-teeth electrodes are simultaneously formed. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ミラー面を有するミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させ、外部から入射される光ビームを2次元的に偏向又はスキャンする2軸静電型のチルトミラー素子に関する。   The present invention relates to a two-axis electrostatic tilt mirror element that rotates a mirror portion having a mirror surface around two rotation axes to deflect or scan a light beam incident from the outside in a two-dimensional manner.

従来より、例えばバーコードリーダやプロジェクタ等の光学機器には、ミラー面が設けられたミラー部を揺動させて、そのミラー面に入射した光ビーム等をスキャンするチルトミラー素子が搭載されている。このようなチルトミラー素子としては、例えば、マイクロマシニング技術を用いて成形される小型のものであって、静電力によりミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させて、光ビームを2次元的に偏向又はスキャンする2軸静電型のものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, for example, optical devices such as a barcode reader and a projector are equipped with a tilt mirror element that swings a mirror portion provided with a mirror surface and scans a light beam incident on the mirror surface. . As such a tilt mirror element, for example, a small one formed by using micromachining technology, the mirror portion is rotated around two rotation axes by electrostatic force, and the light beam is two-dimensionally moved. A two-axis electrostatic type that deflects or scans is known (for example, see Patent Document 1).

このようなチルトミラー素子は、ミラー部と、ミラー部を支持する可動フレームと、可動フレームを支持する固定フレームとを有している。ミラー部と可動フレーム、及び可動フレームと固定フレームとは、それぞれ互いにヒンジにより連結されている。ミラー部と可動フレームとの間、及び可動フレームと固定フレームとの間には、それぞれ、互いに噛み合う一対の櫛歯電極が形成されている。この櫛歯電極は、例えば互いの電極が2μm乃至5μm程度の間隔で噛み合うように形成されており、互いの電極間に電圧が印加されることにより静電力を発生する。このようなチルトミラー素子では、ミラー部と可動フレームとの間の櫛歯電極と、可動フレームと固定フレームとの間の櫛歯電極がそれぞれ発生する駆動力により、それぞれのヒンジを捻りながら、ミラー部が可動フレームに対して回動し、可動フレームが固定フレームに対して回動する。これにより、ミラー部が、2つの回転軸周りに回転運動し、スキャン動作を行う。   Such a tilt mirror element has a mirror part, a movable frame that supports the mirror part, and a fixed frame that supports the movable frame. The mirror part and the movable frame, and the movable frame and the fixed frame are connected to each other by hinges. A pair of comb-shaped electrodes that mesh with each other are formed between the mirror portion and the movable frame, and between the movable frame and the fixed frame. The comb electrodes are formed, for example, so that the electrodes are engaged with each other at intervals of about 2 μm to 5 μm, and an electrostatic force is generated when a voltage is applied between the electrodes. In such a tilt mirror element, each of the mirrors is twisted by a driving force generated by a comb-shaped electrode between the mirror portion and the movable frame and a comb-shaped electrode between the movable frame and the fixed frame. The part rotates with respect to the movable frame, and the movable frame rotates with respect to the fixed frame. As a result, the mirror unit rotates around the two rotation axes to perform a scanning operation.

ここで、ミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させるためには、ミラー部と可動フレームとの間に設けられた櫛歯電極が、ミラー部側の電極と可動フレーム側の電極とが互いに絶縁された状態に構成されており、両電極間に電圧を印加できるように構成されていなければならない。そこで、例えば特許文献1には、2つの互いに絶縁されたシリコン層を有するSOI(Silicon on Insulator)基板により構成され、一方のシリコン層にミラー部と可動フレームとを連結するヒンジと上記櫛歯電極のうちミラー部側の電極とが形成され、もう一方のシリコン層に上記櫛歯電極のうち可動フレーム側の電極が形成された構成を有するチルトミラー素子が示されている。このチルトミラー素子では、互いに対向し櫛歯電極を構成する電極同士が同一のシリコン層に形成されていないので、ミラー部と可動フレームとが電気的に絶縁されており、上記櫛歯電極に電圧を印加することができる。また、このような構造とは別の構造として、例えば、可動フレームのうちミラー部と可動フレームとを連結するヒンジが形成されている部位と上記櫛歯電極のうち可動フレーム側の電極が形成されている部位とを絶縁するように、可動フレームに絶縁分離構造が形成されたチルトミラー素子も知られている。
特開2004‐13099号公報
Here, in order to rotate the mirror part around two rotation axes, the comb-tooth electrode provided between the mirror part and the movable frame is connected to the mirror part electrode and the movable frame side electrode to each other. It must be configured in an insulated state so that a voltage can be applied between both electrodes. Therefore, for example, in Patent Document 1, a hinge configured by an SOI (Silicon on Insulator) substrate having two silicon layers insulated from each other, a hinge connecting the mirror portion and the movable frame to one silicon layer, and the comb electrode A tilt mirror element having a configuration in which an electrode on the mirror part side is formed and an electrode on the movable frame side among the comb-tooth electrodes is formed on the other silicon layer is shown. In this tilt mirror element, the electrodes that are opposed to each other and that constitute the comb electrode are not formed on the same silicon layer, so that the mirror part and the movable frame are electrically insulated, and a voltage is applied to the comb electrode. Can be applied. Further, as a structure different from such a structure, for example, a part of the movable frame where a hinge for connecting the mirror portion and the movable frame is formed and an electrode on the movable frame side of the comb-shaped electrode is formed. There is also known a tilt mirror element in which an insulating separation structure is formed on a movable frame so as to insulate it from a portion that is present.
Japanese Patent Laid-Open No. 2004-13099

しかしながら、上記のような特許文献1に記載されているようなチルトミラー素子を作製するには、一対の櫛歯電極を形成する際、SOI基板の各シリコン層の表面から、ミラー部側の電極と可動フレーム側の電極とをそれぞれ形成しなければならない。そのため、電極等をエッチング等により形成する際、電極同士が狭い間隔で互いに噛み合うように互いに精密な位置決めが必要であり、素子の作製が困難であり、良品率を高くすることが困難であるという問題があった。   However, in order to manufacture the tilt mirror element as described in Patent Document 1 as described above, when forming a pair of comb electrodes, electrodes on the mirror portion side are formed from the surface of each silicon layer of the SOI substrate. And the electrode on the movable frame side must be formed respectively. Therefore, when forming electrodes etc. by etching or the like, it is necessary to precisely position each other so that the electrodes mesh with each other at a narrow interval, it is difficult to manufacture the element, and it is difficult to increase the yield rate. There was a problem.

一方、可動フレームに絶縁分離構造を形成するためには、可動フレーム内の絶縁分離構造を設ける部位に溝を形成する工程、その溝の端面を酸化させる工程、溝にポリシリコン等を埋め込む工程、及びチルトミラー素子を形成する基板の表面を研磨する工程等を行う必要がある。そのため、チルトミラー素子の製造工程が複雑になり、チルトミラー素子の作製が困難であるという問題があった。   On the other hand, in order to form an insulating separation structure in the movable frame, a step of forming a groove in a portion where the insulating separation structure in the movable frame is provided, a step of oxidizing the end surface of the groove, a step of embedding polysilicon or the like in the groove, In addition, it is necessary to perform a step of polishing the surface of the substrate on which the tilt mirror element is formed. For this reason, the manufacturing process of the tilt mirror element becomes complicated, and it is difficult to manufacture the tilt mirror element.

本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、容易に作製可能で製造時の良品率が高い2軸静電型のチルトミラー素子を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a biaxial electrostatic tilt mirror element that can be easily manufactured and has a high yield rate at the time of manufacture.

上記目的を達成するため、請求項1の発明は、外部から入射した光を反射するミラー面を有するミラー部と、前記ミラー部を支持する可動フレームと、前記可動フレームを支持する固定フレームと、前記ミラー部と可動フレームとを連結する1つの軸となる第1のヒンジと、前記可動フレームと固定フレームとを連結するもう1つの軸となる第2のヒンジと、前記ミラー部と可動フレームとに互いに噛み合うように配設され、前記ミラー部に回転運動を与えるための一対の第1の櫛歯電極と、前記可動フレームと固定フレームとに互いに噛み合うように配設され、前記可動フレームに回転運動を与えるための一対の第2の櫛歯電極と、を備えた2軸静電型のチルトミラー素子において、前記チルトミラー素子は、2層のシリコン層が絶縁膜を介し互いに接合されて成るSOI(Silicon on Insulator)基板から構成されており、前記SOI基板の一方のシリコン層には、前記第1のヒンジが形成されており、前記SOI基板の他方のシリコン層には、前記第1の櫛歯電極が形成されており、前記SOI基板のうち前記ミラー部が形成された部位の前記2つのシリコン層同士を電気的に接続する導電構造を備え、前記導電構造を介して、前記第1の櫛歯電極のうち前記ミラー部側の電極が、前記第1のヒンジが形成されているシリコン層と同電位とされているものである。   In order to achieve the above object, the invention of claim 1 includes a mirror part having a mirror surface that reflects light incident from the outside, a movable frame that supports the mirror part, a fixed frame that supports the movable frame, A first hinge that serves as one axis that couples the mirror part and the movable frame; a second hinge that serves as another axis that couples the movable frame and the fixed frame; and the mirror part and the movable frame. Are arranged so as to mesh with each other, and are arranged so as to mesh with each other with the pair of first comb electrodes for giving a rotational motion to the mirror part, and the movable frame and the fixed frame, and rotate with respect to the movable frame. A biaxial electrostatic tilt mirror element having a pair of second comb electrodes for imparting motion, wherein the tilt mirror element includes two insulating layers formed of an insulating film. The SOI substrate is composed of an SOI (Silicon on Insulator) substrate bonded to each other. The first hinge is formed on one silicon layer of the SOI substrate, and the other silicon layer of the SOI substrate is formed on the other silicon layer. Is provided with a conductive structure in which the first comb-shaped electrode is formed and electrically connects the two silicon layers of the SOI substrate where the mirror portion is formed, and the conductive structure is Thus, the electrode on the mirror part side of the first comb-tooth electrode is set to the same potential as the silicon layer on which the first hinge is formed.

請求項2の発明は、請求項1に記載のチルトミラー素子において、前記ミラー面は、前記第1のヒンジが形成されているシリコン層に配設されているものである。   According to a second aspect of the present invention, in the tilt mirror element according to the first aspect, the mirror surface is disposed on a silicon layer on which the first hinge is formed.

請求項3の発明は、請求項1に記載のチルトミラー素子において、前記ミラー面は、前記第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層に配設されているものである。   According to a third aspect of the present invention, in the tilt mirror element according to the first aspect, the mirror surface is disposed on a silicon layer on which the first comb electrode is formed.

請求項1の発明によれば、一対の第1の櫛歯電極は、第1のヒンジが形成されているシリコン層とは異なるシリコン層に形成されており、第1の櫛歯電極のうちミラー部側の電極は第1のヒンジが形成されているシリコン層と同電位になるように構成されているので、一対の櫛歯電極を構成する各電極を同時に形成して、チルトミラー素子を作製することができる。可動フレームに絶縁分離構造を形成するような複雑な工程が必要なく、容易にミラー部と可動フレームとが絶縁された構造を形成することができるので、チルトミラー素子を容易に作製することができ、チルトミラー素子の良品率が高くなる。   According to invention of Claim 1, a pair of 1st comb-tooth electrode is formed in the silicon layer different from the silicon layer in which the 1st hinge is formed, and it is a mirror among 1st comb-tooth electrodes. Since the part-side electrode is configured to have the same potential as the silicon layer on which the first hinge is formed, each electrode constituting a pair of comb electrodes is formed simultaneously to produce a tilt mirror element. can do. A complicated process of forming an insulating separation structure on the movable frame is not required, and a structure in which the mirror portion and the movable frame are insulated can be easily formed, so that the tilt mirror element can be easily manufactured. Therefore, the yield rate of tilt mirror elements is increased.

請求項2の発明によれば、ミラー面が、第1のヒンジが形成されているシリコン層に配設されているので、第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層の厚さにかかわらず、ミラー部が形成された2つのシリコン層のうちミラー面が配設されているシリコン層の厚さを任意に選択することができる。従って、第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層を厚くしてミラー部を回転させる駆動力を増大させると共に、ミラー面が配設されているシリコン層を薄くしてミラー部を軽量化することにより、ミラー部の共振周波数や振れ角を増大させ、チルトミラー素子を高性能化することができる。   According to the invention of claim 2, since the mirror surface is disposed on the silicon layer on which the first hinge is formed, it depends on the thickness of the silicon layer on which the first comb electrode is formed. The thickness of the silicon layer on which the mirror surface is disposed can be arbitrarily selected from the two silicon layers formed with the mirror portion. Therefore, the silicon layer on which the first comb electrode is formed is thickened to increase the driving force for rotating the mirror part, and the silicon layer on which the mirror surface is disposed is thinned to reduce the weight of the mirror part. By doing so, it is possible to increase the resonance frequency and the swing angle of the mirror part and to improve the performance of the tilt mirror element.

請求項3の発明によれば、ミラー面が、第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層に配設されているので、ミラー面が配設されているシリコン層の厚さにかかわらず、ミラー部が形成された2つのシリコン層のうち第1のヒンジが形成されているシリコン層の厚さを任意に選択することができ、第1のヒンジのばね定数を広い範囲の中で設定してミラー部の共振周波数を広い範囲で調整できる。   According to invention of Claim 3, since the mirror surface is arrange | positioned by the silicon layer in which the 1st comb-tooth electrode is formed, irrespective of the thickness of the silicon layer in which the mirror surface is arrange | positioned The thickness of the silicon layer on which the first hinge is formed can be arbitrarily selected from the two silicon layers on which the mirror part is formed, and the spring constant of the first hinge can be set within a wide range. Thus, the resonance frequency of the mirror portion can be adjusted in a wide range.

以下、本発明の第1の実施形態について図面を参照しつつ説明する。図1(a)、(b)、図2、及び図3(a)、(b)、(c)、(d)は、本実施形態に係るチルトミラー素子(以下、素子と称する)の一例を示す。素子1は、例えば、バーコードリーダ、外部のスクリーン等に画像を投影するプロジェクタ装置、又は光スイッチ等の光学機器に搭載される小型のものであり、外部の光源等(図示せず)から入射する光ビーム等をスキャン動作させる機能を有している。   Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 (a), (b), FIG. 2, and FIGS. 3 (a), (b), (c), and (d) are examples of tilt mirror elements (hereinafter referred to as elements) according to the present embodiment. Indicates. The element 1 is a small device mounted on an optical device such as a barcode reader, an external screen or the like, or an optical device such as an optical switch, and is incident from an external light source (not shown). It has a function of performing a scanning operation of a light beam or the like.

先ず、この素子1の構成について以下に説明する。素子1は、導電性を有する第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとをシリコンの酸化膜(絶縁膜)120を介して接合して成る、3層のSOI(Silicon on Insulator)基板100から構成されている。酸化膜120は絶縁性を有しているので、第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとは互いに絶縁されている。この素子1は、例えば、上面視で一辺が数mm程度の略正方形である直方体状の素子であり、例えば、ガラス等の支持基板150上に配置されて光学機器等に搭載される。なお、支持基板150は図3(c)、(d)に図示しており、図1(a)、(b)、(c)、(d)及び図2においては図示を省略している。   First, the configuration of the element 1 will be described below. The element 1 includes a three-layer SOI (Silicon on Insulator) substrate formed by bonding a conductive first silicon layer 100a and a second silicon layer 100b via a silicon oxide film (insulating film) 120. 100. Since the oxide film 120 has an insulating property, the first silicon layer 100a and the second silicon layer 100b are insulated from each other. The element 1 is, for example, a rectangular parallelepiped element having a substantially square shape with a side of about several millimeters when viewed from above, and is disposed on a support substrate 150 such as glass and mounted on an optical device or the like. The support substrate 150 is shown in FIGS. 3C and 3D, and is not shown in FIGS. 1A, 1B, 1C, and 2D.

この素子1は、上面視で略矩形形状であり上面にミラー面20が形成されたミラー部2と、ミラー部2の周囲を囲むように略矩形の環状に形成された可動フレーム3と、可動フレーム3の周囲を囲むように形成され、素子1の側周部となる固定フレーム4とを有している。ミラー部2と可動フレーム3とは、互いに並んで1つの軸を成すように、ミラー部2の互いに対向する2側面から各面に直交するように形成された梁状の2つの第1のヒンジ5により連結されている。一方、可動フレーム3と固定フレーム4とは、第1のヒンジ5の長手方向と直交する方向に、互いに並んで1つの軸を成すように形成された梁状の2つの第2のヒンジ6により連結されている。第1のヒンジ5及び第2のヒンジ6は、それらそれぞれが成す軸が、上面視でミラー部2の重心位置を通過するように形成されている。ミラー部2は、第1のヒンジ5を回転軸として、可動フレーム3に対して回動可能に可動フレーム3に支持されている。一方、可動フレーム3は、第2のヒンジ6を回転軸として、固定フレーム4に対して回動可能に固定フレーム4に支持されている。すなわち、ミラー部2は、第1のヒンジ5と第2のヒンジ6とによりそれぞれ構成される2つの軸周りに、2次元的に回動可能に構成されている。以下、第1のヒンジ5の長手方向をX方向と称し、第2のヒンジ6の長手方向をY方向と称し、X方向とY方向に直交する垂直な方向をZ方向と称する。   The element 1 has a substantially rectangular shape in a top view and a mirror portion 2 having a mirror surface 20 formed on the upper surface, a movable frame 3 formed in a substantially rectangular annular shape so as to surround the periphery of the mirror portion 2, and movable The frame 3 is formed so as to surround the periphery of the frame 3 and has a fixed frame 4 that serves as a side peripheral portion of the element 1. The mirror part 2 and the movable frame 3 are formed as two beam-shaped first hinges formed so as to be orthogonal to each surface from two mutually facing side surfaces of the mirror part 2 so as to form one axis side by side with each other. 5 are connected. On the other hand, the movable frame 3 and the fixed frame 4 are formed by two beam-like second hinges 6 formed so as to form one axis along with each other in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the first hinge 5. It is connected. The first hinge 5 and the second hinge 6 are formed such that their respective axes pass through the center of gravity of the mirror unit 2 when viewed from above. The mirror unit 2 is supported by the movable frame 3 so as to be rotatable with respect to the movable frame 3 about the first hinge 5 as a rotation axis. On the other hand, the movable frame 3 is supported by the fixed frame 4 so as to be rotatable with respect to the fixed frame 4 with the second hinge 6 as a rotation axis. In other words, the mirror unit 2 is configured to be two-dimensionally rotatable around two axes respectively constituted by the first hinge 5 and the second hinge 6. Hereinafter, the longitudinal direction of the first hinge 5 is referred to as an X direction, the longitudinal direction of the second hinge 6 is referred to as a Y direction, and a perpendicular direction orthogonal to the X direction and the Y direction is referred to as a Z direction.

この素子1は静電力を用いてミラー部2を回動させるものであり、ミラー部2と可動フレーム3との間の第1のヒンジ5が形成されていない部位には第1の櫛歯電極7が形成されており、可動フレーム3と固定フレーム4との間の第2のヒンジ6が形成されていない部位には第2の櫛歯電極8が形成されている。第1の櫛歯電極7は、ミラー部2のうちX方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極2aと、可動フレーム3のうち電極2aに対向する部位にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第2の櫛歯電極8は、可動フレーム3のうちY方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3bと、固定フレーム4のうち電極3bに対向する部位にそれぞれ形成された電極4aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8において、電極2a,3a間の隙間や、電極3b,4a間の隙間は、例えば、2μm乃至5μm程度の大きさとなるように構成されている。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、それぞれの電極2a,3a間、又は電極3b,4a間に電圧が印加されることにより、互いの電極2a,3a間、又は電極3b,4aに、互いに引き合う方向に作用する静電力を発生する。   This element 1 rotates the mirror part 2 using an electrostatic force, and a first comb-tooth electrode is provided at a portion where the first hinge 5 between the mirror part 2 and the movable frame 3 is not formed. 7 is formed, and a second comb electrode 8 is formed at a portion where the second hinge 6 between the movable frame 3 and the fixed frame 4 is not formed. The first comb-teeth electrode 7 includes an electrode 2a formed in a comb-teeth shape on two side surfaces substantially orthogonal to the X direction of the mirror portion 2, and a comb tooth on a portion of the movable frame 3 facing the electrode 2a. A pair of electrodes 3a formed in a shape are arranged so as to mesh with each other. The second comb-teeth electrode 8 is formed on each of the movable frame 3 on the two side surfaces that are substantially orthogonal to the Y direction, respectively, and on the portion of the fixed frame 4 that faces the electrode 3b. The electrodes 4a are arranged so as to mesh with each other. In the first comb electrode 7 and the second comb electrode 8, the gap between the electrodes 2 a and 3 a and the gap between the electrodes 3 b and 4 a are configured to have a size of about 2 μm to 5 μm, for example. Yes. The first comb-teeth electrode 7 and the second comb-teeth electrode 8 are applied between the electrodes 2a and 3a, or between the electrodes 2a and 3a, or between the electrodes 2a and 3a, or between the electrodes An electrostatic force acting in the direction attracting each other is generated in 3b and 4a.

ミラー部2、可動フレーム3、固定フレーム4等は、それぞれ、後述するようにSOI基板100をマイクロマシニング技術を用いて加工することにより形成されており、それぞれ、SOI基板100の上記の3層で構成されている。以下に、素子1の各部位について、SOI基板100の各層の構造について説明する。   The mirror unit 2, the movable frame 3, the fixed frame 4 and the like are each formed by processing the SOI substrate 100 using a micromachining technique as will be described later, and each of the above three layers of the SOI substrate 100. It is configured. Hereinafter, the structure of each layer of the SOI substrate 100 will be described for each part of the element 1.

ミラー部2のうち第1のシリコン層100aにより形成された部位には、第1のヒンジ5が接続されている。また、ミラー部2のうち、第2のシリコン層100bにより形成された部位には、第1の櫛歯電極7を構成する電極2aが形成されている。ミラー部2において、ミラー面20は、ミラー部2の上面となる第1のシリコン層100aの上面に、ミラー部2が静止状態のとき略Z方向がその法線方向となるように形成されている。ミラー面20は、例えばアルミニウム膜等であり、外部から入射した光ビームを反射する。なお、ミラー面20の材質はこれに限られるものではなく、素子1によりスキャンする光ビームの種類等に応じて、金等、種々の材質を選択可能である。ミラー部2の下面となる第2のシリコン層100bの下面には、酸化膜120が露出するように、ミラー部2の側面を残してくりぬかれた肉抜部2cが形成されている。これにより、肉抜部2cが形成されていない場合よりもミラー部2が軽量化され、ミラー部2の揺動角を大きくすることができるように構成されている。   A first hinge 5 is connected to a portion of the mirror portion 2 formed by the first silicon layer 100a. In addition, an electrode 2 a constituting the first comb-tooth electrode 7 is formed in a portion of the mirror portion 2 formed by the second silicon layer 100 b. In the mirror unit 2, the mirror surface 20 is formed on the upper surface of the first silicon layer 100 a that is the upper surface of the mirror unit 2 such that the substantially Z direction is the normal direction when the mirror unit 2 is stationary. Yes. The mirror surface 20 is an aluminum film, for example, and reflects a light beam incident from the outside. The material of the mirror surface 20 is not limited to this, and various materials such as gold can be selected according to the type of light beam scanned by the element 1. On the lower surface of the second silicon layer 100b, which is the lower surface of the mirror portion 2, a hollow portion 2c is formed by leaving the side surface of the mirror portion 2 so that the oxide film 120 is exposed. Thereby, the mirror part 2 is reduced in weight compared with the case where the thinning part 2c is not formed, and the swing angle of the mirror part 2 can be increased.

可動フレーム3のうち、第1のシリコン層100aにより形成された部位は、第1のヒンジ5に連結される部位と第2のヒンジ6に連結される部位とを接続するように、下方の酸化膜120上にリブ形状に形成されている。そして、可動フレーム3のうち酸化膜120及び第2のシリコン層100bにより形成された部位は、ミラー部2を囲むように環状に形成されている。第2のヒンジ6は、可動フレーム3を形成するSOI基板100の上記3層のうち、酸化膜120と第2のシリコン層100bにも接続されており、固定フレーム4と可動フレーム3は、SOI基板100の上記3層それぞれにおいて連結されている。可動フレーム3のうち、第2のシリコン層100bには、ミラー部2の電極2aと向き合うように形成された電極3aと、第2の櫛歯電極8を構成する電極3bとが形成されている。電極3bと噛み合う電極4aは、固定フレーム4のうち第2のシリコン層100bに形成されている。   Of the movable frame 3, the part formed by the first silicon layer 100 a is oxidized downward so as to connect the part connected to the first hinge 5 and the part connected to the second hinge 6. Ribs are formed on the film 120. A portion of the movable frame 3 formed by the oxide film 120 and the second silicon layer 100 b is formed in an annular shape so as to surround the mirror portion 2. The second hinge 6 is also connected to the oxide film 120 and the second silicon layer 100b among the three layers of the SOI substrate 100 forming the movable frame 3, and the fixed frame 4 and the movable frame 3 are connected to the SOI substrate 100. The three layers of the substrate 100 are connected to each other. In the movable frame 3, the second silicon layer 100 b is formed with an electrode 3 a formed so as to face the electrode 2 a of the mirror portion 2 and an electrode 3 b constituting the second comb-tooth electrode 8. . The electrode 4 a that meshes with the electrode 3 b is formed on the second silicon layer 100 b of the fixed frame 4.

このように、この素子1では、互いに絶縁された第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bのうち、第1のシリコン層100aには、第1のヒンジ5が形成されており、第2のシリコン層100bには、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が共に形成されている。   Thus, in the element 1, the first hinge 5 is formed in the first silicon layer 100a out of the first silicon layer 100a and the second silicon layer 100b that are insulated from each other. Both the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 are formed on the second silicon layer 100b.

ここで、ミラー部2の第1のシリコン層100aの上面のうち、ミラー面20が形成されていない部位には、複数(例えば8つ)のコンタクトホール(導電構造)9が形成されている。このコンタクトホール9は、第1のシリコン層100aと酸化膜120を貫通し、上面に第2のシリコン層100bが露出するように形成した貫通孔内に、例えば銅等、導電性を有する金属が充填されて構成されている。このように設けられたコンタクトホール9を介して、ミラー部2を構成する第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとは電気的に接続されており、第1の櫛歯電極7のうちミラー部2側の電極2aが、第1のシリコン層100aと同電位となるように構成されている。また、固定フレーム4を形成する第2のシリコン層100bのうち、第2のヒンジ6が接続されている部位と、第2の櫛歯電極8を構成する電極4aが形成されている部位とは、両部位間に酸化膜120まで達するように掘り込まれた絶縁溝部4gが形成されていることにより、電気的に絶縁されている。すなわち、本実施形態においては、固定フレーム4のうち、第1のシリコン層100aにより形成された部位4cが電極2aと同電位となり、第2のシリコン層100bにより形成され第2のヒンジ6が接続されている部位4dが電極3a,3bと同電位となり、第2のシリコン層100bにより形成された他の部位4eが電極4aとなるように形成されている。そして、この素子1は、各部位4c,4d,4eに設けられた電極パッド(図示せず)の電位を変更することにより、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8に電圧を印加してミラー部2を回転運動させることができるように構成されている。   Here, a plurality of (for example, eight) contact holes (conductive structures) 9 are formed in a portion of the upper surface of the first silicon layer 100a of the mirror portion 2 where the mirror surface 20 is not formed. This contact hole 9 penetrates through the first silicon layer 100a and the oxide film 120, and a conductive metal such as copper is formed in a through hole formed so that the second silicon layer 100b is exposed on the upper surface. Filled and configured. The first silicon layer 100a and the second silicon layer 100b constituting the mirror part 2 are electrically connected via the contact hole 9 provided in this way, and the first comb-tooth electrode 7 Of these, the electrode 2a on the mirror part 2 side is configured to have the same potential as that of the first silicon layer 100a. In addition, in the second silicon layer 100b that forms the fixed frame 4, a portion where the second hinge 6 is connected and a portion where the electrode 4a constituting the second comb-tooth electrode 8 is formed The insulating groove 4g dug so as to reach the oxide film 120 is formed between the two parts, thereby being electrically insulated. That is, in the present embodiment, a portion 4c formed by the first silicon layer 100a in the fixed frame 4 has the same potential as the electrode 2a, and the second hinge 6 formed by the second silicon layer 100b is connected. The formed portion 4d has the same potential as the electrodes 3a and 3b, and the other portion 4e formed by the second silicon layer 100b is formed to be the electrode 4a. And this element 1 changes the electric potential of the electrode pad (not shown) provided in each site | part 4c, 4d, 4e by changing the electric potential to the 1st comb-tooth electrode 7 and the 2nd comb-tooth electrode 8. Is applied so that the mirror unit 2 can be rotated.

次に、上記のように構成された素子1の動作について説明する。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、それぞれ、いわゆる垂直静電コムとして動作し、ミラー部2は、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が所定の駆動周波数で駆動力を発生することにより駆動される。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、例えば、電極3a,3bが基準電位に接続された状態で、電極2a、及び電極4aの電位をそれぞれ周期的に変化させることにより駆動され、静電力を発生する。この素子1においては、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8それぞれが、例えば矩形波形状の電圧が印加されて周期的に駆動力を発生するように構成されている。   Next, the operation of the element 1 configured as described above will be described. The first comb-teeth electrode 7 and the second comb-teeth electrode 8 each operate as a so-called vertical electrostatic comb, and the mirror unit 2 includes the first comb-teeth electrode 7 and the second comb-teeth electrode 8 that are predetermined. It is driven by generating a driving force at a driving frequency of. The first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 are obtained by, for example, periodically changing the potentials of the electrodes 2a and 4a while the electrodes 3a and 3b are connected to the reference potential. Driven to generate electrostatic force. In the element 1, each of the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 is configured to generate a driving force periodically when a rectangular wave voltage is applied, for example.

上述のように形成されたミラー部2や可動フレーム3は、一般に多くの場合、その成型時に内部応力等が生じることにより、静止状態でも水平姿勢ではなく、きわめて僅かであるが傾いている。そのため、例えば第1の櫛歯電極7が駆動されると、静止状態からであっても、ミラー部2に略垂直な方向の駆動力が加わり、ミラー部2が第1のヒンジ5を回転軸として第1のヒンジ5を捻りながら回動する。そして、第1の櫛歯電極7の駆動力を、ミラー部2が電極2a,3aが完全に重なりあうような姿勢となったときに解除すると、ミラー部2は、その慣性力により、第1のヒンジ5を捻りながら回動を継続する。そして、ミラー部2の回動方向への慣性力と、第1のヒンジ5の復元力とが等しくなったとき、ミラー部2のその方向への回動が止まる。このとき、第1の櫛歯電極7が再び駆動され、ミラー部2は、第1のヒンジ5の復元力と第1の櫛歯電極7の駆動力により、それまでとは逆の方向への回動を開始する。ミラー部2は、このような第1の櫛歯電極7の駆動力と第1のヒンジ5の復元力による回動を繰り返して、第1のヒンジ5周りに揺動する。可動フレーム3も、ミラー部2の回動時と略同様に、第2の櫛歯電極8の駆動力と第2のヒンジ6の復元力による回動を繰り返して、第2のヒンジ6周りに揺動する。このとき、ミラー部2の姿勢が可動フレーム3の揺動に応じて変化するので、ミラー部2は、2次元的な揺動を繰り返す。   In many cases, the mirror part 2 and the movable frame 3 formed as described above are inclined in a very slight but not horizontal state even in a stationary state due to an internal stress or the like generated at the time of molding. Therefore, for example, when the first comb-tooth electrode 7 is driven, a driving force in a direction substantially perpendicular to the mirror portion 2 is applied even when the first comb-tooth electrode 7 is in a stationary state, and the mirror portion 2 causes the first hinge 5 to rotate. The first hinge 5 is rotated while being twisted. Then, when the driving force of the first comb electrode 7 is released when the mirror portion 2 is in a posture such that the electrodes 2a and 3a are completely overlapped, the mirror portion 2 has the first force due to its inertial force. The rotation is continued while twisting the hinge 5. Then, when the inertial force in the turning direction of the mirror part 2 and the restoring force of the first hinge 5 become equal, the turning of the mirror part 2 in that direction stops. At this time, the first comb-teeth electrode 7 is driven again, and the mirror unit 2 moves in the opposite direction to the previous direction by the restoring force of the first hinge 5 and the driving force of the first comb-teeth electrode 7. Start turning. The mirror part 2 repeats the rotation by the driving force of the first comb electrode 7 and the restoring force of the first hinge 5 and swings around the first hinge 5. The movable frame 3 also repeats rotation by the driving force of the second comb-tooth electrode 8 and the restoring force of the second hinge 6 in substantially the same manner as when the mirror unit 2 rotates, and moves around the second hinge 6. Swing. At this time, since the posture of the mirror unit 2 changes according to the swing of the movable frame 3, the mirror unit 2 repeats two-dimensional swing.

ここで、第1の櫛歯電極7は、ミラー部2と第1のヒンジ5により構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。また、第2の櫛歯電極8は、ミラー部2及び可動フレーム3と第2のヒンジ6とにより構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。これにより、ミラー部2が共振現象を伴って駆動され、その揺動角が大きくなるように構成されている。なお、第1の櫛歯電極7や第2の櫛歯電極8の電圧の印加態様や駆動周波数は、上述に限られるものではなく、例えば、駆動電圧が正弦波形で印加されるように構成されていても、また、電極3a,3bの電位が、電極2a及び電極4aの電位と共に変化するように構成されていてもよい。   Here, the first comb-teeth electrode 7 is driven by applying a voltage having a frequency approximately twice the resonance frequency of the vibration system constituted by the mirror portion 2 and the first hinge 5. The second comb electrode 8 is driven by applying a voltage having a frequency approximately twice the resonance frequency of the vibration system constituted by the mirror unit 2, the movable frame 3, and the second hinge 6. Thereby, the mirror part 2 is driven with a resonance phenomenon, and the swing angle thereof is increased. Note that the voltage application mode and drive frequency of the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 are not limited to those described above, and for example, the drive voltage is configured to be applied in a sine waveform. Alternatively, the potentials of the electrodes 3a and 3b may be configured to change with the potentials of the electrodes 2a and 4a.

次に、図4(a)、(b)、(c)、及び図5(a)、(b)、(c)を参照しつつ、素子1の製造工程について説明する。なお、素子1は、例えば4インチ程度の大きさのSOI基板100上に複数個同時に形成された後、ダイシングされて個別の素子1に分割され製造される。なお、加工前のSOI基板100においては、第2のシリコン層100bは所定の厚さよりも厚く構成されている。   Next, the manufacturing process of the element 1 will be described with reference to FIGS. 4 (a), (b), (c) and FIGS. 5 (a), (b), (c). For example, a plurality of elements 1 are simultaneously formed on an SOI substrate 100 having a size of about 4 inches, and then diced to be divided into individual elements 1 to be manufactured. In the SOI substrate 100 before processing, the second silicon layer 100b is configured to be thicker than a predetermined thickness.

先ず、SOI基板100の第1のシリコン層100aに、ミラー部2と、それに連結する第1のヒンジ5と、第1のヒンジ5から固定フレーム4までを接続する部位とをエッチングにより形成する。また、ミラー部2の上面のうちミラー面20が形成される部位の周縁部に、貫通孔9aを、ミラー部2等と同時に形成する(図4(a)、(b)、(c)参照)。次に、ミラー部2のうち第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとを電気的に接続するために、貫通孔9a内に銅等の金属を埋め込み、コンタクトホール9を形成する。また、ミラー部2上に、光ビームの反射率を向上するためのアルミニウム等の薄膜を蒸着し、ミラー面20を形成する(図5(a)、(b)、(c))。このように素子1の上部を加工した後、第2のシリコン層100bを研磨して、所定の厚さまで薄くする。そして、第2のシリコン層100b内に、ミラー部2の下部となる部位と、可動フレーム3及び固定フレーム4と、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8と、それらを連結する第2のヒンジ6とをエッチングにより形成する。なお、コンタクトホール9、ミラー面20、櫛歯電極7,8、及びヒンジ5,6等の形成の順番は、工程上の都合により前後しても構わない。その後、固定フレーム4の下面を支持基板150に接合して素子1を補強し、図3(a)、(b)、(c)、(d)に示すような素子1が製造される。   First, in the first silicon layer 100a of the SOI substrate 100, the mirror portion 2, the first hinge 5 connected to the mirror portion 2, and the portion connecting the first hinge 5 to the fixed frame 4 are formed by etching. Further, a through hole 9a is formed simultaneously with the mirror portion 2 and the like in the peripheral portion of the portion of the upper surface of the mirror portion 2 where the mirror surface 20 is formed (see FIGS. 4A, 4B, and 4C). ). Next, in order to electrically connect the first silicon layer 100a and the second silicon layer 100b in the mirror part 2, a metal such as copper is embedded in the through hole 9a to form the contact hole 9. Further, a thin film such as aluminum for improving the reflectance of the light beam is deposited on the mirror portion 2 to form the mirror surface 20 (FIGS. 5A, 5B, and 5C). After the upper portion of the element 1 is processed in this manner, the second silicon layer 100b is polished and thinned to a predetermined thickness. And in the 2nd silicon layer 100b, the part used as the lower part of the mirror part 2, the movable frame 3, the fixed frame 4, the 1st comb-tooth electrode 7, and the 2nd comb-tooth electrode 8, and these are connected. The second hinge 6 to be formed is formed by etching. The order of formation of the contact hole 9, the mirror surface 20, the comb electrodes 7 and 8, and the hinges 5 and 6 may be changed depending on the process. Thereafter, the lower surface of the fixed frame 4 is joined to the support substrate 150 to reinforce the element 1, and the element 1 as shown in FIGS. 3A, 3B, 3C, and 3D is manufactured.

このように、本実施形態においては、SOI基板100を用いて、一対の第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8を構成する各電極2a,3a,3b,4aを第2のシリコン層100bに同時に形成し、素子1を作製する。従って、可動フレーム3に絶縁分離構造を形成するような複雑な工程が必要なく、容易にミラー部2と可動フレーム3とが絶縁された構造を形成することができるので、素子1を容易に作製することができ、素子1の良品率が高くなる。また、ミラー面20は、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層に形成されているので、ミラー部2が形成されている部位の2つのシリコン層100a,100bのうち、ミラー面20が形成されている第1のシリコン層100aの厚さを、第2のシリコン層100bの厚さにかかわらず任意に選択することができる。従って、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bを厚くしてミラー部2を回転させる駆動力を増大させると共に、第1のシリコン層100aを薄くしてミラー部2を軽量化することにより、ミラー部2の共振周波数や振れ角を増大させ、素子1を高性能化することができる。   As described above, in the present embodiment, each of the electrodes 2a, 3a, 3b, and 4a constituting the pair of first comb-tooth electrode 7 and second comb-tooth electrode 8 is formed using the SOI substrate 100. The device 1 is formed by forming the silicon layer 100b at the same time. Therefore, a complicated process for forming an insulating separation structure on the movable frame 3 is not required, and a structure in which the mirror portion 2 and the movable frame 3 are insulated can be easily formed. And the yield rate of the element 1 is increased. Further, since the mirror surface 20 is formed in the first silicon layer where the first hinge 5 is formed, the mirror surface 20 of the two silicon layers 100a and 100b where the mirror part 2 is formed is the mirror surface. The thickness of the first silicon layer 100a on which the surface 20 is formed can be arbitrarily selected regardless of the thickness of the second silicon layer 100b. Therefore, the second silicon layer 100b on which the first comb-teeth electrode 7 is formed is thickened to increase the driving force for rotating the mirror part 2, and the first silicon layer 100a is thinned to make the mirror part 2 thin. By reducing the weight, the resonance frequency and deflection angle of the mirror unit 2 can be increased, and the element 1 can be improved in performance.

次に、本発明の第2の実施形態に係る素子について、図6(a)、(b)、(c)、(d)を参照して説明する。以下の各実施形態において、上述の第1の実施形態と同様の構成部材には同一の符号を付し、上述の実施形態と相違する部分についてのみ説明する。   Next, an element according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 (a), (b), (c), and (d). In each of the following embodiments, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and only the portions different from those in the above embodiment will be described.

第2の実施形態に係る素子31は、ミラー面30が、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bに形成されている点で、上述の素子1とは相違する。換言すると、この素子31は、上述の素子1とは逆に、SOI基板100のうち、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が形成されている第2のシリコン層100bの表面が、ミラー面30が形成された上面となり、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層100aの表面が下面となる。   The element 31 according to the second embodiment is different from the element 1 described above in that the mirror surface 30 is formed on the second silicon layer 100b on which the first comb-tooth electrode 7 is formed. . In other words, the element 31 is, unlike the element 1 described above, of the second silicon layer 100b of the SOI substrate 100 where the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8 are formed. The surface becomes the upper surface on which the mirror surface 30 is formed, and the surface of the first silicon layer 100a on which the first hinge 5 is formed becomes the lower surface.

素子31においては、上述のコンタクトホール9に替えて、ミラー部32に、素子31の上面から第2のシリコン層100bと酸化膜120とを貫通するように形成されたコンタクトホール39が形成されている。すなわち、第1の櫛歯電極7のうちミラー部32側の電極32aは、コンタクトホール39を介して、固定フレーム4のうち第1のシリコン層100aにより構成された部位4cと電気的に接続されて同電位となっている。また、ミラー部32のうち第1のシリコン層100aの下面には、酸化膜120が下方に露出するように、ミラー部32の側面を残してくりぬかれた肉抜部32cが形成されている。これにより、肉抜部32cが形成されていない場合よりもミラー部32が軽量化され、ミラー部32の揺動角を大きくすることができるように構成されている。   In the element 31, instead of the contact hole 9 described above, a contact hole 39 formed so as to penetrate the second silicon layer 100b and the oxide film 120 from the upper surface of the element 31 is formed in the mirror portion 32. Yes. That is, the electrode 32a on the mirror part 32 side of the first comb-tooth electrode 7 is electrically connected to the part 4c of the fixed frame 4 constituted by the first silicon layer 100a through the contact hole 39. Are at the same potential. Further, on the lower surface of the first silicon layer 100a in the mirror portion 32, a hollow portion 32c is formed by leaving the side surface of the mirror portion 32 so that the oxide film 120 is exposed downward. Thereby, the mirror part 32 is reduced in weight compared with the case where the lightening part 32c is not formed, and the swing angle of the mirror part 32 can be increased.

次に、図7(a)、(b)、(c)、及び図8(a)、(b)、(c)を参照しつつ、素子31の製造工程について説明する。素子31の製造時にも、上述の第1の実施形態と略同様に、SOI基板100のうち、第1のシリコン層100aの加工から開始する。先ず、SOI基板100の第1のシリコン層100aに、ミラー部32と、それに連結する第1のヒンジ5と、第1のヒンジ5から固定フレーム4までを接続する部位とをエッチングにより形成する。また、それと同時に、ミラー部32の下面に、肉抜部32cを形成する(図7(a)、(b)、(c)参照)。   Next, a manufacturing process of the element 31 will be described with reference to FIGS. 7A, 7 </ b> B, and 7 </ b> C and FIGS. 8A, 8 </ b> B, and 8 </ b> C. Also when the element 31 is manufactured, the processing starts from the processing of the first silicon layer 100a in the SOI substrate 100 in substantially the same manner as in the first embodiment. First, in the first silicon layer 100a of the SOI substrate 100, the mirror portion 32, the first hinge 5 connected to the mirror portion 32, and the portion connecting the first hinge 5 to the fixed frame 4 are formed by etching. At the same time, a lightening portion 32c is formed on the lower surface of the mirror portion 32 (see FIGS. 7A, 7B, and 7C).

次に、第2のシリコン層100bの加工を行う。先ず、第2のシリコン層100bを研磨して所定の厚さまで薄くする。そして、薄くした第2のシリコン層100bのうち、ミラー面30を形成する部位の周辺部位に、貫通孔を形成した後銅等の金属を埋め込むことによりコンタクトホール39を形成する。また、第2のシリコン層100bの上面に、上述の第1の実施形態と同様にミラー面30を形成する(図8(a)、(b)、(c))。そして、第2のシリコン層100b内に、可動フレーム3及び固定フレーム4と、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8と、それらを連結する第2のヒンジ6とをエッチングにより形成する。なお、コンタクトホール39、ミラー面30、櫛歯電極7,8、及びヒンジ5,6等の形成の順番は、工程上の都合により前後しても構わない。その後、固定フレーム4の下面を支持基板150に接合して素子31を補強し、図6(a)、(b)、(c)、(d)に示すような素子31が製造される。   Next, the second silicon layer 100b is processed. First, the second silicon layer 100b is polished and thinned to a predetermined thickness. Then, in the thinned second silicon layer 100b, a contact hole 39 is formed by embedding a metal such as copper after forming a through hole in the peripheral portion of the portion where the mirror surface 30 is formed. Further, the mirror surface 30 is formed on the upper surface of the second silicon layer 100b as in the first embodiment (FIGS. 8A, 8B, and 8C). Then, in the second silicon layer 100b, the movable frame 3 and the fixed frame 4, the first comb electrode 7 and the second comb electrode 8, and the second hinge 6 connecting them are etched. Form. Note that the order of forming the contact hole 39, the mirror surface 30, the comb-tooth electrodes 7, 8, the hinges 5, 6, etc. may be changed depending on the convenience of the process. Thereafter, the lower surface of the fixed frame 4 is joined to the support substrate 150 to reinforce the element 31, and the element 31 as shown in FIGS. 6A, 6B, 6C, and 6D is manufactured.

このように、第2の実施形態においては、ミラー面30が、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bに形成されているので、ミラー部32が形成されている部位の2つのシリコン層100a,100bのうち、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層100aの厚さを、第2のシリコン層100bの厚さにかかわらず任意に選択することができる。従って、第1のヒンジ5のばね定数の設定範囲が広くなり、ミラー部32の共振周波数を調整可能な範囲が広くなる。また、第1の櫛歯電極7と第2の櫛歯電極8とを構成する各電極2a,3a,3b,4aを同時に形成して素子31を作製することができるので、素子31を容易に作製することができ、素子31の良品率が高くなる。   Thus, in the second embodiment, since the mirror surface 30 is formed on the second silicon layer 100b on which the first comb-tooth electrode 7 is formed, the mirror portion 32 is formed. Of the two silicon layers 100a and 100b in the region, the thickness of the first silicon layer 100a on which the first hinge 5 is formed is arbitrarily selected regardless of the thickness of the second silicon layer 100b. Can do. Accordingly, the setting range of the spring constant of the first hinge 5 is widened, and the range in which the resonance frequency of the mirror part 32 can be adjusted is widened. In addition, since the element 31 can be manufactured by simultaneously forming the electrodes 2a, 3a, 3b, and 4a constituting the first comb-tooth electrode 7 and the second comb-tooth electrode 8, the element 31 can be easily formed. It can be manufactured, and the yield rate of the element 31 is increased.

なお、本発明は上記実施形態の構成に限定されるものではなく、発明の趣旨を変更しない範囲で適宜に種々の変形が可能である。例えば、ミラー部のうち第1のシリコン層と第2のシリコン層とは、上述のようなコンタクトホールではなく、他の導電構造を設けることにより互いに電気的に接続されていてもよい。また、第1の櫛歯電極と、第2の櫛歯電極は、互いに異なるシリコン層に形成されていてもよい。すなわち、本発明では、ミラー部と可動フレームとを接続する第1のヒンジと、ミラー部と可動フレームとの間の第1の櫛歯電極とを互いに異なるシリコン層に配置し、ミラー部の2つのシリコン層を互いに電気的に接続する導電構造を設けて、SOI基板を用いてチルトミラー素子を構成することにより、一対の櫛歯電極を同時に形成してチルトミラー素子を容易に作製することができる。   In addition, this invention is not limited to the structure of the said embodiment, A various deformation | transformation is possible suitably in the range which does not change the meaning of invention. For example, the first silicon layer and the second silicon layer in the mirror portion may be electrically connected to each other by providing another conductive structure instead of the contact hole as described above. Further, the first comb-tooth electrode and the second comb-tooth electrode may be formed in different silicon layers. That is, in the present invention, the first hinge that connects the mirror part and the movable frame and the first comb-tooth electrode between the mirror part and the movable frame are arranged in different silicon layers, and the mirror part 2 By providing a conductive structure that electrically connects two silicon layers to each other and forming a tilt mirror element using an SOI substrate, a pair of comb-tooth electrodes can be simultaneously formed to easily manufacture the tilt mirror element. it can.

(a)は本発明の第1の実施形態に係るチルトミラー素子を示す斜視図、(b)は(a)の下面を示す斜視図。(A) is a perspective view which shows the tilt mirror element based on the 1st Embodiment of this invention, (b) is a perspective view which shows the lower surface of (a). 図1(a)のS−S線における断面を示す斜視図。The perspective view which shows the cross section in the SS line | wire of Fig.1 (a). (a)は上記チルトミラー素子の平面図、(b)は(a)の裏面図、(c)は(a)のA−A線における側断面図、(d)は(a)のB−B線における側断面図。(A) is a plan view of the tilt mirror element, (b) is a back view of (a), (c) is a side sectional view taken along line AA of (a), and (d) is B- of (a). The sectional side view in the B line. (a)は上記チルトミラー素子の製造工程を示す平面図、(b)は(a)のA−A線における側断面図、(c)は(a)のB−B線における側断面図。(A) is a top view which shows the manufacturing process of the said tilt mirror element, (b) is a sectional side view in the AA line of (a), (c) is a sectional side view in the BB line of (a). (a)は上記チルトミラー素子の製造工程の図4より後の工程を示す平面図、(b)は(a)のA−A線における側断面図、(c)は(a)のB−B線における側断面図。4A is a plan view showing a process subsequent to FIG. 4 in the manufacturing process of the tilt mirror element, FIG. 4B is a side sectional view taken along line AA in FIG. 4A, and FIG. The sectional side view in the B line. (a)は本発明の第2の実施形態に係るチルトミラー素子を示す平面図、(b)は(a)の裏面図、(c)は(a)のA−A線における側断面図、(d)は(a)のB−B線における側断面図。(A) is a top view which shows the tilt mirror element based on the 2nd Embodiment of this invention, (b) is a back view of (a), (c) is a sectional side view in the AA of (a), (D) is a sectional side view in the BB line of (a). (a)は上記チルトミラー素子の製造工程を示す平面図、(b)は(a)のA−A線における側断面図、(c)は(a)のB−B線における側断面図。(A) is a top view which shows the manufacturing process of the said tilt mirror element, (b) is a sectional side view in the AA line of (a), (c) is a sectional side view in the BB line of (a). (a)は上記チルトミラー素子の製造工程の図7より後の工程を示す平面図、(b)は(a)のA−A線における側断面図、(c)は(a)のB−B線における側断面図。(A) is a top view which shows the process after FIG. 7 of the manufacturing process of the said tilt mirror element, (b) is a sectional side view in the AA of (a), (c) is B- of (a). The sectional side view in the B line.

符号の説明Explanation of symbols

1,31 チルトミラー素子
2,32 ミラー部
2a,32a (ミラー部側の)電極
3 可動フレーム
4 固定フレーム
5 第1のヒンジ
6 第2のヒンジ
7 第1の櫛歯電極
8 第2の櫛歯電極
9,39 コンタクトホール(導電構造)
20,30 ミラー面
100 SOI基板
100a 第1のシリコン層
100b 第2のシリコン層
120 酸化膜(絶縁膜)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,31 Tilt mirror element 2,32 Mirror part 2a, 32a (Mirror part side) electrode 3 Movable frame 4 Fixed frame 5 1st hinge 6 2nd hinge 7 1st comb-tooth electrode 8 2nd comb-tooth Electrode 9,39 Contact hole (conductive structure)
20, 30 Mirror surface 100 SOI substrate 100a First silicon layer 100b Second silicon layer 120 Oxide film (insulating film)

Claims (3)

外部から入射した光を反射するミラー面を有するミラー部と、前記ミラー部を支持する可動フレームと、前記可動フレームを支持する固定フレームと、前記ミラー部と可動フレームとを連結する1つの軸となる第1のヒンジと、前記可動フレームと固定フレームとを連結するもう1つの軸となる第2のヒンジと、前記ミラー部と可動フレームとに互いに噛み合うように配設され、前記ミラー部に回転運動を与えるための一対の第1の櫛歯電極と、前記可動フレームと固定フレームとに互いに噛み合うように配設され、前記可動フレームに回転運動を与えるための一対の第2の櫛歯電極と、を備えた2軸静電型のチルトミラー素子において、
前記チルトミラー素子は、2層のシリコン層が絶縁膜を介し互いに接合されて成るSOI(Silicon on Insulator)基板から構成されており、
前記SOI基板の一方のシリコン層には、前記第1のヒンジが形成されており、
前記SOI基板の他方のシリコン層には、前記第1の櫛歯電極が形成されており、
前記SOI基板のうち前記ミラー部が形成された部位の前記2つのシリコン層同士を電気的に接続する導電構造を備え、前記導電構造を介して、前記第1の櫛歯電極のうち前記ミラー部側の電極が、前記第1のヒンジが形成されているシリコン層と同電位とされていることを特徴とするチルトミラー素子。
A mirror portion having a mirror surface that reflects light incident from the outside, a movable frame that supports the mirror portion, a fixed frame that supports the movable frame, and a single shaft that connects the mirror portion and the movable frame; The first hinge, the second hinge serving as another shaft for connecting the movable frame and the fixed frame, and the mirror portion and the movable frame are arranged to mesh with each other and rotate to the mirror portion. A pair of first comb-teeth electrodes for imparting motion, and a pair of second comb-teeth electrodes disposed to mesh with the movable frame and the fixed frame, and for imparting rotational motion to the movable frame; In a biaxial electrostatic tilt mirror element comprising:
The tilt mirror element is composed of an SOI (Silicon on Insulator) substrate in which two silicon layers are bonded to each other via an insulating film,
The first hinge is formed on one silicon layer of the SOI substrate,
The first comb electrode is formed on the other silicon layer of the SOI substrate,
A conductive structure that electrically connects the two silicon layers of the SOI substrate where the mirror portion is formed, and the mirror portion of the first comb-shaped electrode via the conductive structure. A tilt mirror element characterized in that a side electrode has the same potential as the silicon layer on which the first hinge is formed.
前記ミラー面は、前記第1のヒンジが形成されているシリコン層に配設されていることを特徴とする請求項1に記載のチルトミラー素子。   2. The tilt mirror element according to claim 1, wherein the mirror surface is disposed on a silicon layer on which the first hinge is formed. 前記ミラー面は、前記第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層に配設されていることを特徴とする請求項1に記載のチルトミラー素子。
2. The tilt mirror element according to claim 1, wherein the mirror surface is disposed on a silicon layer on which the first comb electrode is formed.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010220344A (en) * 2009-03-16 2010-09-30 Panasonic Electric Works Co Ltd Movable structure and micro mirror element using the same
JP2011039227A (en) * 2009-08-10 2011-02-24 Nippon Signal Co Ltd:The Planar-type actuator
JP2011186330A (en) * 2010-03-10 2011-09-22 Toshiba Corp Laser beam scanning apparatus
WO2012099112A1 (en) * 2011-01-21 2012-07-26 オリンパス株式会社 Optical deflector
JP2014508653A (en) * 2011-02-25 2014-04-10 ハルティング コマンデイトゲゼルシャフト アウフ アクチエン Removable micro and nano elements for space-saving use
JP2014113684A (en) * 2012-11-13 2014-06-26 Canon Inc Electrostatic comb-shaped actuator, variable shape mirror using electrostatic comb-shaped actuator, compensation optical system using electrostatic comb-shaped actuator, and scanning laser microscope
US10287160B2 (en) 2014-09-11 2019-05-14 Sony Corporation Electrostatic device
JP2021132462A (en) * 2020-02-19 2021-09-09 国立大学法人静岡大学 Manufacturing method of vibration element, manufacturing method of vibration power generation element, vibration element, and vibration power generation element
CN113985601A (en) * 2021-11-04 2022-01-28 珩图科技(上海)有限公司 MEMS micro-mirror adopting controllable shape memory alloy and manufacturing method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004013099A (en) * 2002-06-11 2004-01-15 Fujitsu Ltd Micro-mirror element and method of manufacturing the same
JP2005128551A (en) * 2003-10-24 2005-05-19 Samsung Electronics Co Ltd Frequency modulatable resonant optical scanner
JP2007171780A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Sony Corp Drive device and manufacturing method therefor, and display apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004013099A (en) * 2002-06-11 2004-01-15 Fujitsu Ltd Micro-mirror element and method of manufacturing the same
JP2005128551A (en) * 2003-10-24 2005-05-19 Samsung Electronics Co Ltd Frequency modulatable resonant optical scanner
JP2007171780A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Sony Corp Drive device and manufacturing method therefor, and display apparatus

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010220344A (en) * 2009-03-16 2010-09-30 Panasonic Electric Works Co Ltd Movable structure and micro mirror element using the same
JP2011039227A (en) * 2009-08-10 2011-02-24 Nippon Signal Co Ltd:The Planar-type actuator
JP2011186330A (en) * 2010-03-10 2011-09-22 Toshiba Corp Laser beam scanning apparatus
US8879136B2 (en) 2011-01-21 2014-11-04 Olympus Corporation Light deflector
WO2012099112A1 (en) * 2011-01-21 2012-07-26 オリンパス株式会社 Optical deflector
JP2012163939A (en) * 2011-01-21 2012-08-30 Olympus Corp Light deflector
JP2014508653A (en) * 2011-02-25 2014-04-10 ハルティング コマンデイトゲゼルシャフト アウフ アクチエン Removable micro and nano elements for space-saving use
JP2014113684A (en) * 2012-11-13 2014-06-26 Canon Inc Electrostatic comb-shaped actuator, variable shape mirror using electrostatic comb-shaped actuator, compensation optical system using electrostatic comb-shaped actuator, and scanning laser microscope
US10287160B2 (en) 2014-09-11 2019-05-14 Sony Corporation Electrostatic device
US10669150B2 (en) 2014-09-11 2020-06-02 Sony Corporation Electrostatic device
JP2021132462A (en) * 2020-02-19 2021-09-09 国立大学法人静岡大学 Manufacturing method of vibration element, manufacturing method of vibration power generation element, vibration element, and vibration power generation element
JP7369399B2 (en) 2020-02-19 2023-10-26 国立大学法人静岡大学 Method for manufacturing a vibration element, method for manufacturing a vibration power generation element, vibration element, and vibration power generation element
CN113985601A (en) * 2021-11-04 2022-01-28 珩图科技(上海)有限公司 MEMS micro-mirror adopting controllable shape memory alloy and manufacturing method

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