JP2008051532A - Autoanalyzer - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an autoanalyzer capable of easily eliminating various error mistakes. <P>SOLUTION: The autoanalyzer has an analyzing part including a reaction disk, a reagent disk, a dispensing mechanism, etc. an operation part containing a computer and a memory device of analyzing indication data, a measuring result or error mistake data and has a maintenance function for eliminating an error mistake cause with respect to the error mistake data including an alarm, measuring data abnormality and the forgetting of maintenance. This autoanalyzer also has the function of establishing the individual restoration corresponding relation of the maintenance function to the error mistake data and automatically extracting the individual maintenance function to be executed on reference to the restoration corresponding relation with respect to caused error mistakes to report the extraction result to an operator and the function of collectively performing the individual maintenance function with respect to the extraction result. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、自動分析装置に係り、特に、安定稼動と測定精度を要する患者検体の測定に使用する自動分析装置に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer, and more particularly to an automatic analyzer used for measurement of a patient sample that requires stable operation and measurement accuracy.

自動分析装置は、例えば、特開平9−211003号公報(特許文献1)に示されるように、定期的にメンテナンス機能の実施を必要とする。   The automatic analyzer needs to perform a maintenance function periodically as disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 9-210103 (Patent Document 1).

メンテナンス機能は、アラーム、計測データ異常、メンテナンス忘れを含む各種のエラーミス情報に対する修復機能である。   The maintenance function is a repair function for various types of error error information including alarms, measurement data abnormalities, and forgetting maintenance.

複数のメンテナンス機能についての実施すべき周期情報を設定することにより、前回のメンテナンス機能の実施から規定時間を超過した場合には、再度メンテナンス機能の実施が必要であることを操作者へ報告している。   By setting the periodic information to be performed for multiple maintenance functions, if the specified time has passed since the previous maintenance function, report to the operator that the maintenance function needs to be performed again. Yes.

この報告により操作者は実施すべき単一のメンテナンス機能を選択して実施するか、または関連付けされた固定数のメンテナンス機能を一括で実施している。   This report allows the operator to select and implement a single maintenance function to be performed, or to perform a fixed number of associated maintenance functions at once.

特開平9−211003号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-210103

操作者がメンテナンスの実施を怠ったことにより装置にトラブルを含むエラーミス情報が発生した場合、そのエラーミスを迅速に解消する必要がある。   When error information including trouble occurs in the apparatus due to the operator's failure to perform maintenance, it is necessary to quickly resolve the error mistake.

しかし、操作者が装置に不慣れの場合には、エラーミスの原因特定に時間を要してしまう。   However, if the operator is unfamiliar with the apparatus, it takes time to identify the cause of the error mistake.

本発明は、上記の課題に鑑み、種々のエラーミスが一挙に容易に解消できる自動分析装置を提供することを目的とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an automatic analyzer that can easily eliminate various error mistakes at once.

本発明は、反応ディスク、試薬ディスク、分注機構等を含む分析部と、コンピュータを含む操作部と、分析指示情報、測定結果やエラーミス情報を記憶する記憶装置を有し、アラーム、計測データ異常、メンテナンス忘れを含む前記エラーミス情報に対しエラーミス原因の解消をするメンテナンス機能を有する自動分析装置において、前記エラーミス情報に対する前記メンテナンス機能の個別的な修復対応関係を確立し、発生するエラーミスに対しては前記修復対応関係に照らして実施すべき個々のメンテナンス機能を自動的に抽出し、抽出の結果を操作者へ報知する機能を有するとともに、抽出の結果に個々のメンテナンス機能を一括して実施できる機能を有することを特徴とする。   The present invention has an analysis unit including a reaction disk, a reagent disk, a dispensing mechanism, etc., an operation unit including a computer, and a storage device for storing analysis instruction information, measurement results and error error information, and alarms, measurement data In an automatic analyzer having a maintenance function that eliminates the cause of an error error with respect to the error error information including abnormality and forgetting maintenance, an error that occurs by establishing an individual repair correspondence relationship of the maintenance function for the error error information In the case of mistakes, individual maintenance functions that should be implemented in the light of the above-mentioned repair correspondence are automatically extracted, and the operator is notified of the extraction results, and the individual maintenance functions are collectively included in the extraction results. It has the function which can be implemented as a feature.

本発明によれば、種々のエラーミスが一挙に容易に解消できる。   According to the present invention, various error mistakes can be easily solved at once.

以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

図1は、自動分析装置の原理的な全体構成概略図である。   FIG. 1 is a schematic diagram of the overall configuration of the automatic analyzer.

自動分析装置は、インターフェース106をもつ操作部101、分析部108、記憶装置107、データを印刷する印刷装置105等を有する。   The automatic analyzer includes an operation unit 101 having an interface 106, an analysis unit 108, a storage device 107, a printing device 105 for printing data, and the like.

操作部101は、データを表示する表示装置104をもつコンピュータ、データを入力するためのキーボード102やマウス103を有する。   The operation unit 101 includes a computer having a display device 104 for displaying data, a keyboard 102 and a mouse 103 for inputting data.

記憶装置107は、コンピュータを介して分析部108に分析部と接続され、分析指示情報、測定結果や各種情報を記憶する。   The storage device 107 is connected to the analysis unit via the computer and stores analysis instruction information, measurement results, and various information.

インターフェース106を介して操作部101と接続している分析部108は、反応ディスク109を有する。反応ディスク109の同心円周上に反応容器110が複数個設置されている。試薬ディスク111の同心円周上には、種々の試薬が入った試薬ボトル112が複数個設置されている。   The analysis unit 108 connected to the operation unit 101 via the interface 106 has a reaction disk 109. A plurality of reaction vessels 110 are installed on the concentric circumference of the reaction disk 109. On the concentric circumference of the reagent disk 111, a plurality of reagent bottles 112 containing various reagents are installed.

反応ディスク109の周囲には、検体分注プローブ(分注機構)113、攪拌装置114、洗浄装置115、光源116、多波長光度計117が、各々配置されている。   Around the reaction disk 109, a specimen dispensing probe (dispensing mechanism) 113, a stirring device 114, a cleaning device 115, a light source 116, and a multi-wavelength photometer 117 are arranged.

反応ディスク109、及び試薬ディスク111の間には、試薬分注プローブ(分注機構)118が配置されている。   A reagent dispensing probe (dispensing mechanism) 118 is disposed between the reaction disk 109 and the reagent disk 111.

また、検体分注プローブ(分注機構)113の回転円周上には、ラック搬送ベルト119が設置されている。ラック120は、ラック搬送ベルト119の上を移動する。検体を入れた検体容器121は、ラック120の中に複数個設置されている。   A rack transport belt 119 is installed on the rotation circumference of the sample dispensing probe (dispensing mechanism) 113. The rack 120 moves on the rack transport belt 119. A plurality of specimen containers 121 containing specimens are installed in the rack 120.

これらの機構動作はすべて、インターフェース122を介してコンピュータ123により制御されている。   All of these mechanism operations are controlled by the computer 123 via the interface 122.

操作者は、操作部101の表示装置104と、キーボード102、または、マウス103を使って分析装置に分析指示を与える。分析指示は、記憶装置107に記憶されると共に、インターフェース106を介して分析部108に送信される。   The operator gives an analysis instruction to the analysis device using the display device 104 of the operation unit 101, the keyboard 102, or the mouse 103. The analysis instruction is stored in the storage device 107 and is transmitted to the analysis unit 108 via the interface 106.

分析部108は受信した分析指示に従い、次のように分析動作を行う。   The analysis unit 108 performs the analysis operation as follows in accordance with the received analysis instruction.

検体分注プローブ(分注機構)113が、検体容器121の中に入った検体を所定量だけ反応容器110に分注する。   A sample dispensing probe (dispensing mechanism) 113 dispenses a predetermined amount of the sample contained in the sample container 121 into the reaction container 110.

一つの検体容器121に対する分注を完了したら、次の検体容器121が検体分注プローブ(分注機構)113の真下に来るようにラック搬送ベルト119がラック120を移動する。   When the dispensing of one sample container 121 is completed, the rack transport belt 119 moves the rack 120 so that the next sample container 121 is directly below the sample dispensing probe (dispensing mechanism) 113.

ラック120上の検体容器121全ての分注を完了したら、ラック120はラック搬送ベルト119により搬出する。検体を分注された反応容器110は反応ディスク109の回転動作により、反応ディスク109上を回転移動する。   When the dispensing of all the sample containers 121 on the rack 120 is completed, the rack 120 is carried out by the rack transport belt 119. The reaction container 110 into which the sample is dispensed rotates on the reaction disk 109 by the rotation operation of the reaction disk 109.

その間に反応容器110の中の検体に対し、試薬分注プローブ(分注機構)118による試薬ボトル112内の試薬の分注、攪拌装置114による反応液の攪拌、光源116、及び多波長光度計117による吸光度の測定が行われ、後に洗浄装置115によって分析の終了した反応容器110が洗浄される。   Meanwhile, the reagent in the reagent bottle 112 is dispensed by the reagent dispensing probe (dispensing mechanism) 118 with respect to the specimen in the reaction container 110, the reaction liquid is stirred by the stirring device 114, the light source 116, and the multiwavelength photometer. Absorbance is measured by 117, and the reaction vessel 110 that has been analyzed is later cleaned by the cleaning device 115.

測定された吸光度信号はA/Dコンバータ124を経由し、インターフェース122を介してコンピュータ123へ入る。   The measured absorbance signal enters the computer 123 via the interface 122 via the A / D converter 124.

この吸光度信号から、あらかじめ被検物質ごとに設定された分析法に基づき、標準液検体の場合は設定された濃度データから検量線データが算出され、患者検体及びコントロール検体の場合は標準液検体の測定で得られる検量線データから濃度データが算出される。   From this absorbance signal, based on the analysis method set for each test substance in advance, calibration curve data is calculated from the set concentration data in the case of a standard solution sample, and in the case of a patient sample and a control sample, Concentration data is calculated from calibration curve data obtained by measurement.

これらのデータは測定結果として、検体の種類を記号化した情報を付加した後、インターフェース106を介して操作部101に送信される。   These data are transmitted as measurement results to the operation unit 101 via the interface 106 after adding information symbolizing the type of specimen.

操作部101は、受信した測定の結果を記憶装置107に記憶すると共に、表示装置104、および印刷装置105に出力する。   The operation unit 101 stores the received measurement result in the storage device 107 and outputs it to the display device 104 and the printing device 105.

表示装置104に表示される各種の画面を用いて、アラーム、計測データ異常、メンテナンス忘れを含む各種のエラーミス情報に対する修復がメンテナンス機能により実施される。   Using the various screens displayed on the display device 104, the maintenance function implements repairs for various error error information including alarms, measurement data abnormalities, and maintenance forgotten.

以下に本発明の主要部である表示装置104が表示する画面と、画面を用いて操作について説明する。   The screen displayed on the display device 104, which is the main part of the present invention, and operations using the screen will be described below.

図2は、操作部101の表示装置104に表示された推奨メンテナンス画面である。   FIG. 2 is a recommended maintenance screen displayed on the display device 104 of the operation unit 101.

この画面は、メンテナンス機能の実施により回避すべきアラームが発生されると共に、検体中の被検物質の濃度にデータ異常が付加され、さらに操作者が実施を怠っているメンテナンス機能が存在する複数のエラーミス情報が例として挙げられている。   In this screen, an alarm that should be avoided by the execution of the maintenance function is generated, data abnormality is added to the concentration of the test substance in the sample, and there are a plurality of maintenance functions that the operator has neglected to perform. Error error information is given as an example.

このような状況下では、自動的に抽出されたメンテナンス機能が一括動作リストボックス201に表示されると共に、それぞれのメンテナンス機能が抽出された理由がメンテナンス推奨要因202に表示される。   Under such circumstances, automatically extracted maintenance functions are displayed in the collective action list box 201, and the reason why each maintenance function is extracted is displayed in the maintenance recommended factor 202.

操作者が一括動作実行ボタン203を押下することで一括動作リストボックス201に表示されたメンテナンス機能がインターフェース106を介して分析部108に送信され、分析部108が一括動作リストボックス201に表示されたメンテナンス機能を順次実施することで自動分析装置のエラーミスを迅速に解消することができる。   When the operator presses the batch operation execution button 203, the maintenance function displayed in the batch operation list box 201 is transmitted to the analysis unit 108 via the interface 106, and the analysis unit 108 is displayed in the batch operation list box 201. By executing the maintenance function sequentially, error errors of the automatic analyzer can be quickly resolved.

一括動作編集ボタン204については後に説明する。   The batch operation editing button 204 will be described later.

メンテナンス機能抽出における処理フローについて図を引用して説明する。   A processing flow in maintenance function extraction will be described with reference to the drawings.

まず、自動分析装置の記憶装置に記憶保持されている発生したアラームの情報を参照し(301)、その発生したアラームがメンテナンス機能の実施により解消可能かを確認しする(302)。   First, the information on the generated alarm stored and held in the storage device of the automatic analyzer is referred to (301), and it is confirmed whether the generated alarm can be resolved by performing the maintenance function (302).

解消可能の場合には、該当するメンテナンス機能が抽出の候補となっていないこと確認し(303)、そのメンテナンス機能を抽出の候補として記憶すると同時に、推奨要因が「アラーム」であることを記憶する(304)。   If it can be resolved, it is confirmed that the corresponding maintenance function is not an extraction candidate (303), and the maintenance function is stored as an extraction candidate, and at the same time, the recommended factor is “alarm”. (304).

また、検体中の被検物質に付加されたデータ異常の情報を参照し(305)、その発生したデータ異常がメンテナンス機能の実施により解消可能かを確認(306)する。   Further, the information on the data abnormality added to the test substance in the sample is referred to (305), and it is confirmed whether the generated data abnormality can be resolved by performing the maintenance function (306).

解消可能の場合には、該当するメンテナンス機能が抽出の候補となっていないこと確認し(307)、そのメンテナンス機能を抽出の候補として記憶すると同時に、推奨要因が「データ異常」であることを記憶する(308)。   If it can be resolved, it is confirmed that the corresponding maintenance function is not a candidate for extraction (307), and the maintenance function is stored as a candidate for extraction, and at the same time, it is stored that the recommended factor is “data abnormality”. (308).

また、装置内に保持されているメンテナンス機能についての実施すべき周期情報と、過去に実施したメンテナンス機能の履歴情報を参照し(309)、前回のメンテナンス機能の実施から規定時間が超過しているかを確認(310)する。   Also, reference is made to the period information to be performed for the maintenance function held in the apparatus and the history information of the maintenance function performed in the past (309), and whether the specified time has passed since the previous maintenance function was performed. Is confirmed (310).

規定時間が経過している場合には、該当するメンテナンス機能が抽出の候補となっていないこと確認し(311)、そのメンテナンス機能を抽出の候補として記憶すると同時に、推奨要因が「タイムアウト」であることを記憶する(312)。   If the specified time has elapsed, it is confirmed that the corresponding maintenance function is not a candidate for extraction (311), and the maintenance function is stored as a candidate for extraction, and at the same time, the recommended factor is “timeout” (312).

次に、前述の304、308、および312を記憶装置107に記憶保持し(313)、一括動作リストボックス201に表示する(314)。   Next, the above-mentioned 304, 308, and 312 are stored in the storage device 107 (313) and displayed in the collective operation list box 201 (314).

この後、操作者が一括動作実行ボタン203を押下するのを待つ(315)。   Thereafter, it waits for the operator to press the batch operation execution button 203 (315).

一括動作実行ボタン203が押下された場合には、一括動作リストボックス201に表示している複数のメンテナンス機能をインターフェース106を介して分析部108に送信し(316)、分析部108がメンテナンス機能を順次実施する(317)。   When the batch operation execution button 203 is pressed, a plurality of maintenance functions displayed in the batch operation list box 201 are transmitted to the analysis unit 108 via the interface 106 (316), and the analysis unit 108 performs the maintenance function. It carries out sequentially (317).

図3に示す302の操作について、図4の(イ)を用いて以下に説明する。   The operation 302 shown in FIG. 3 will be described below with reference to FIG.

ここでは、前述の301で発生したアラームの情報を参照した際に、保持されていたアラームの情報が「001」と、「003」である場合を例に挙げる。   Here, a case will be described as an example in which the information of the alarms held when referring to the information of the alarms generated in the above 301 is “001” and “003”.

この場合には、アラーム用メンテナンス機能パターン定義401から「001」のアラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン402と、「003」のアラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン403が選択され、これらの論理和により複数アラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン404が作成される。   In this case, the maintenance function execution pattern 402 corresponding to the alarm “001” and the maintenance function execution pattern 403 corresponding to the alarm “003” are selected from the alarm maintenance function pattern definition 401, and these logics are selected. The execution pattern 404 of the maintenance function corresponding to a plurality of alarms is created by the sum.

この結果、発生したアラームは、メンテナンス機能「B」と、メンテナンス機能「D」の実施により解消可能であると判断される。   As a result, it is determined that the generated alarm can be resolved by performing the maintenance function “B” and the maintenance function “D”.

図3に示す306の操作について図4の(ロ)を用いて以下に説明する。   The operation of 306 shown in FIG. 3 will be described below with reference to FIG.

ここでは、前述の305で発生したデータ異常の情報を参照した際に、保持されていたデータ異常の情報が「(2)」と、「(5)」である場合を例に挙げる。   Here, a case will be described as an example where the information on the data abnormality that is held when referring to the information on the data abnormality that has occurred in 305 is “(2)” and “(5)”.

この場合には、データ異常用メンテナンス機能パターン定義405から「(2)」のデータ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン406と、「(5)」のデータ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン407が選択され、これらの論理和により複数データ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン408が作成される。   In this case, the maintenance function execution pattern 406 corresponding to the data abnormality “(2)” from the maintenance function pattern definition 405 for data abnormality and the maintenance function execution pattern 407 corresponding to the data abnormality “(5)”. The maintenance function execution pattern 408 corresponding to a plurality of data abnormalities is created by the logical sum of these.

この結果、発生したデータ異常は、メンテナンス機能「C」と、メンテナンス機能「D」の実施により解消可能であると判断される。   As a result, it is determined that the data abnormality that has occurred can be resolved by performing the maintenance function “C” and the maintenance function “D”.

上述したアラーム用メンテナンス機能パターン定義401、データ異常用メンテナンス機能パターン定義405等は、エラーミス情報に対するメンテナンス機能の個別的な修復対応関係を定義したものである。   The alarm maintenance function pattern definition 401, the data abnormality maintenance function pattern definition 405, and the like described above define individual repair correspondence relationships of the maintenance function with respect to error error information.

この確立された修復対応関係に照らして、発生するエラーミスの修復解消がメンテナン機能により実施される。   In light of this established repair correspondence, repair and cancellation of error errors that occur is performed by the maintenance function.

このように、発生するエラーミスに対しては修復対応関係に照らして実施すべき個々のメンテナンス機能が自動的に抽出され、抽出の結果が報知されるので、操作者は個々のメンテナンス機能を一括して実施できる。種々のエラーミスが一挙に容易に解消できる。   In this way, for the error mistakes that occur, the individual maintenance functions that should be performed in light of the repair correspondence relationship are automatically extracted, and the extraction results are notified, so the operator can batch the individual maintenance functions. Can be implemented. Various error mistakes can be easily resolved at once.

なお、図4の(イ)に示す404内のBは図2の一括動作リスト欄のセルブランク測定に、同じく404内のDは図2の一括動作リスト欄の反応系洗浄にそれぞれ対応する。   4B corresponds to cell blank measurement in the batch operation list column of FIG. 2, and D in 404 corresponds to reaction system cleaning in the batch operation list column of FIG.

図4の(ロ)に示す408内のCは図2の一括動作リスト欄の反応槽水交換に、セルブランク測定に、同じく408内のDは図2の一括動作リスト欄の反応系洗浄にそれぞれ対応する。   C in 408 shown in (b) of FIG. 4 is for reaction tank water exchange in the batch operation list column of FIG. 2, cell blank measurement, and D in 408 is for reaction system cleaning in the batch operation list column of FIG. Each corresponds.

図5は、図2の一括動作編集ボタン204を操作者が押下することで表示される、操作部101の推奨メンテナンス編集画面である。   FIG. 5 is a recommended maintenance editing screen of the operation unit 101 displayed when the operator presses the batch operation editing button 204 of FIG.

メンテナンス項目リストボックス501には、自動的に抽出されなかったメンテナンス機能が表示され、一括動作リストボックス502には、自動的に抽出されたメンテナンス機能が表示される。   Maintenance functions that are not automatically extracted are displayed in the maintenance item list box 501, and maintenance functions that are automatically extracted are displayed in the batch operation list box 502.

抽出されなかったメンテナンス機能は一括動作追加ボタン503を押下することで一括動作リストボックス502に追加することができる。予め項目リストボックス501より追加したい項目を選択しておく。   Maintenance functions that have not been extracted can be added to the batch operation list box 502 by pressing a batch operation addition button 503. An item to be added is selected from the item list box 501 in advance.

また、抽出されたメンテナンス機能は一括動作解除ボタン504を押下することで一括動作リストボックス502から解除することができる。予め一括動作リストボックス502より削除したい項目を選択しておく。   The extracted maintenance function can be canceled from the batch operation list box 502 by pressing a batch operation cancel button 504. Items to be deleted are selected in advance from the batch operation list box 502.

一括動作追加ボタン503を押下することで一括動作リストボックス502に追加されたメンテナンス機能については、メンテナンス推奨要因505が「マニュアル追加」となる。   For the maintenance function added to the batch operation list box 502 by pressing the batch operation addition button 503, the maintenance recommendation factor 505 is “manual addition”.

また、抽出条件設定506において抽出に使用する情報、および日付等を操作者が設定した後、再抽出ボタン507を押下することでメンテナンス機能を再び抽出することができる。   In addition, the maintenance function can be extracted again by pressing the re-extraction button 507 after the operator sets information used for extraction in the extraction condition setting 506, the date, and the like.

例えば、過去1週間に発生したアラームの情報を使用してのメンテナンス機能の抽出や、過去5日間に実施されていないメンテナンス機能の抽出が可能である。   For example, it is possible to extract a maintenance function using information on alarms that have occurred in the past week, or to extract a maintenance function that has not been performed in the past five days.

記憶装置に記憶されている過去の実施記録を参照してメンテナンス機能の追加/削除はできるので、使い易い。   Since the maintenance function can be added / deleted with reference to the past execution record stored in the storage device, it is easy to use.

図5の一括動作実行ボタン508の押下で、一括動作リストボックス502に表示されているメンテナンス機能が実施される。戻りボタン509の押下で、図2の推奨メンテナンス画面に戻る。   When the collective operation execution button 508 in FIG. 5 is pressed, the maintenance function displayed in the collective operation list box 502 is executed. Pressing the return button 509 returns to the recommended maintenance screen of FIG.

図6は、操作部101のアラーム画面である。   FIG. 6 is an alarm screen of the operation unit 101.

本画面は、操作部101が分析部108からインターフェース106を介して受信したアラームの情報を表示するための画面であり、本画面に表示された情報は記憶装置107に保存される。   This screen is a screen for displaying alarm information received by the operation unit 101 from the analysis unit 108 via the interface 106, and the information displayed on this screen is stored in the storage device 107.

アラームメッセージ601はトラブルの名称を操作者に報告するためのものであり、アラーム発生日時602はトラブルの発生日付と時刻を操作者に報告するためのものである。   The alarm message 601 is for reporting the trouble name to the operator, and the alarm occurrence date and time 602 is for reporting the trouble occurrence date and time to the operator.

図6の例では、「セル洗剤不足」と「セルブランク異常?」のアラームが発生していることを示している。   In the example of FIG. 6, it is shown that alarms “cell detergent shortage” and “cell blank abnormality?” Have occurred.

図7は、操作部101の測定結果画面である。   FIG. 7 is a measurement result screen of the operation unit 101.

本画面は、操作部101が分析部108からインターフェース106を介して受信した受信した測定結果を表示するための画面であり、検体リストボックス701と項目リストボックス702から構成される。   This screen is a screen for displaying the measurement results received by the operation unit 101 from the analysis unit 108 via the interface 106, and includes a sample list box 701 and an item list box 702.

操作者が検体リストボックス701から任意の検体を選択すると、選択された検体の各被検物質の測定結果が項目リストボックス702に表示される。項目リストボックス702は、被検物質名703、測定結果704、測定結果データ異常705から構成される。   When the operator selects an arbitrary sample from the sample list box 701, the measurement result of each test substance of the selected sample is displayed in the item list box 702. The item list box 702 includes a test substance name 703, a measurement result 704, and a measurement result data abnormality 705.

図7の例では、被検物質名AST、および被検物質名TPについては、測定結果のデータ異常が「なし」、被検物質名LDについては、測定結果のデータ異常が「i」、被検物質名IPについては、測定結果のデータ異常が「A」であることを示している。   In the example of FIG. 7, for the test substance name AST and the test substance name TP, the measurement result data abnormality is “none”, and for the test substance name LD, the measurement result data abnormality is “i”. For the test substance name IP, the data abnormality of the measurement result is “A”.

図6、図7の画面ではメンテナンス機能が実施されない。図2や後述する図8の画面に移行してメンテナンス機能が実施される。図6、図7の画面では移行用ボタンが省略されている。   The maintenance function is not performed on the screens of FIGS. The maintenance function is performed by moving to the screen of FIG. 2 or FIG. The transition buttons are omitted from the screens of FIGS.

図8は、操作部101のメンテナンス画面である。   FIG. 8 is a maintenance screen of the operation unit 101.

本画面は、メンテナンス項目リストボックス801に表示されているメンテナンス機能を操作者が選択するための画面であり、選択されたメンテナンス機能は、メンテナンス実行ボタン802を押下することでインターフェース106を介して分析部108に送信され、分析部108において実施される。   This screen is a screen for the operator to select the maintenance function displayed in the maintenance item list box 801. The selected maintenance function is analyzed via the interface 106 by pressing the maintenance execution button 802. The data is transmitted to the unit 108 and executed by the analysis unit 108.

このメンテナンス機能の実施情報は記憶装置107に保存され、メンテナンス機能を実施した日付がメンテナンス実施日803に表示される。   The maintenance function execution information is stored in the storage device 107, and the date when the maintenance function is executed is displayed as the maintenance execution date 803.

図8の例では、メンテナンス機能「反応系洗浄」とメンテナンス機能「光度計チェック」について、前回のメンテナンス機能の実施から規定時間を超過しており、再度メンテナンス機能の実施が必要であること示している。   The example in Fig. 8 shows that the maintenance function "Reaction system cleaning" and the maintenance function "Photometer check" have exceeded the specified time since the previous maintenance function, and the maintenance function needs to be performed again. Yes.

図8のメンテナンス画面は、複数のメンテナンス機能を一括して実施できない。一つ毎の選択実施なる。この画面の推奨メンテナンス移行用ボタン804を押下で、図2の推奨メンテナンス画面に移行する。   The maintenance screen in FIG. 8 cannot perform a plurality of maintenance functions at once. Each one will be selected. When the recommended maintenance shift button 804 on this screen is pressed, the screen shifts to the recommended maintenance screen of FIG.

以上述べたように本発明の実施例によれば、操作者がメンテナンスの実施を怠ったことにより自動分析装置にエラーミスが発生した場合、操作者が装置に不慣れであってもそのエラーミスを迅速に解消することができる。   As described above, according to the embodiment of the present invention, when an error error occurs in the automatic analyzer due to the operator's failure to perform maintenance, the error error is corrected even if the operator is unfamiliar with the device. It can be resolved quickly.

本発明の実施例に係わるもので、分析装置の全体構成概略図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The whole structure schematic of an analyzer concerning the Example of this invention. 本発明の実施例に係わるもので、本発明を適用した推奨メンテナンス画面。A recommended maintenance screen to which the present invention is applied according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施例に係わるもので、メンテナンス機能抽出における処理フロー図。The processing flow figure in the maintenance function extraction concerning the Example of this invention. 本発明の実施例に係わるもので、メンテナンス機能抽出における判定概略図(アラーム用メンテナンス機能パターン定義、データ異常用メンテナンス機能パターン定義を示す)。FIG. 5 is a schematic diagram of determination in maintenance function extraction according to an embodiment of the present invention (representing alarm maintenance function pattern definition and data abnormality maintenance function pattern definition). 本発明の実施例に係わるもので、本発明を適用した推奨メンテナンス編集画面。The recommended maintenance edit screen to which the present invention is applied according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施例に係わるもので、本発明の推奨メンテナンス画面に移る前のアラーム画面。The alarm screen before moving to the recommended maintenance screen of the present invention according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施例に係わるもので、本発明の推奨メンテナンス画面に移る前の測定結果画面。The measurement result screen before moving to the recommended maintenance screen of the present invention according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施例に係わるもので、本発明の推奨メンテナンス画面に移る前のメンテナンス画面。The maintenance screen which concerns on the Example of this invention, and moves to the recommended maintenance screen of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

101…操作部、102…キーボード、103…マウス、104…表示装置、105…印刷装置、106…インターフェース、107…記憶装置、108…分析部、109…反応ディスク、110…反応容器、111…試薬ディスク、112…試薬ボトル、(分注機構)…検体分注プローブ、114…攪拌装置、115…洗浄装置、116…光源、117…多波長光度計、118…試薬分注プローブ(分注機構)、119…ラック搬送ベルト、120…ラック、121…検体容器、122…インターフェース、123…コンピュータ、124…A/Dコンバータ、201…一括動作リストボックス、202…メンテナンス推奨要因、203…一括動作実行ボタン、204…一括動作編集ボタン401、アラーム用メンテナンス機能パターン定義、402…「001」のアラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン、403…「003」のアラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン、404…複数アラームに対応したメンテナンス機能の実施パターン、405…データ異常用メンテナンス機能パターン定義、406…「(2)」のデータ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン、407…「(5)」のデータ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン、408…複数データ異常に対応したメンテナンス機能の実施パターン、501…メンテナンス項目リストボックス、502…一括動作リストボックス、503…一括動作追加ボタン、504…一括動作解除ボタン、505…メンテナンス推奨要因、506…抽出条件設定、507…再抽出ボタン、508…一括動作実行ボタン、509…戻りボタン、601…アラームメッセージ、602…アラーム発生日時、701…検体リストボックス、702…項目リストボックス、703…被検物質名、704…測定結果、705…測定結果データ異常、801…メンテナンス項目リストボックス、802…メンテナンス実行ボタン、803…メンテナンス実施日、804…推奨メンテナンス移行用ボタン。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 ... Operation part, 102 ... Keyboard, 103 ... Mouse, 104 ... Display apparatus, 105 ... Printing apparatus, 106 ... Interface, 107 ... Memory | storage device, 108 ... Analysis part, 109 ... Reaction disk, 110 ... Reaction container, 111 ... Reagent Disc 112, reagent bottle, (dispensing mechanism) ... specimen dispensing probe, 114 ... stirring device, 115 ... washing device, 116 ... light source, 117 ... multi-wavelength photometer, 118 ... reagent dispensing probe (dispensing mechanism) DESCRIPTION OF SYMBOLS 119 ... Rack conveyance belt, 120 ... Rack, 121 ... Sample container, 122 ... Interface, 123 ... Computer, 124 ... A / D converter, 201 ... Batch operation list box, 202 ... Maintenance recommended factor, 203 ... Batch operation execution button 204 ... Batch action edit button 401, maintenance function pattern for alarm , 402 ... Maintenance function execution pattern corresponding to the alarm “001”, 403. Maintenance function execution pattern corresponding to the alarm “003”, 404. Maintenance function execution pattern corresponding to a plurality of alarms, 405. Maintenance function pattern definition for 406 ... Maintenance function execution pattern corresponding to data abnormality of "(2)", 407 ... Maintenance function execution pattern corresponding to data abnormality of "(5)", 408 ... Multiple data abnormality Corresponding maintenance function execution pattern, 501 ... maintenance item list box, 502 ... batch operation list box, 503 ... batch operation addition button, 504 ... batch operation release button, 505 ... maintenance recommended factor, 506 ... extraction condition setting, 507 ... Re-extract button, 08: Collective action execution button, 509 ... Return button, 601 ... Alarm message, 602 ... Alarm occurrence date / time, 701 ... Sample list box, 702 ... Item list box, 703 ... Test substance name, 704 ... Measurement result, 705 ... Measurement Result data abnormality, 801 ... maintenance item list box, 802 ... maintenance execution button, 803 ... maintenance date, 804 ... recommended maintenance transition button.

Claims (5)

反応ディスク、試薬ディスク、分注機構等を含む分析部と、コンピュータを含む操作部と、分析指示情報、測定結果やエラーミス情報を記憶する記憶装置を有し、
アラーム、計測データ異常、メンテナンス忘れを含む前記エラーミス情報に対しエラーミス原因の解消をするメンテナンス機能を有する自動分析装置において、
前記エラーミス情報に対する前記メンテナンス機能の個別的な修復対応関係を確立し、発生するエラーミスに対しては前記修復対応関係に照らして実施すべき個々のメンテナンス機能を自動的に抽出し、抽出の結果を操作者へ報知する機能を有するとともに、抽出の結果に個々のメンテナンス機能を一括して実施できる機能を有することを特徴とした自動分析装置。
An analysis unit including a reaction disk, a reagent disk, a dispensing mechanism, etc., an operation unit including a computer, and a storage device for storing analysis instruction information, measurement results and error error information,
In the automatic analyzer having a maintenance function to eliminate the cause of error error for the error error information including alarm, measurement data abnormality, forgetting maintenance,
Establish an individual repair correspondence relationship of the maintenance function for the error error information, and automatically extract individual maintenance functions to be performed in light of the repair correspondence relationship for the error error that occurs. An automatic analyzer characterized by having a function of notifying an operator of the result and a function of performing individual maintenance functions collectively on the extraction result.
請求項1記載の自動分析装置において、
前記メンテナンス機能についての実施すべき周期情報と、過去に実施したメンテナンス機能の履歴情報を前記記憶装置に記憶し、その周期情報や履歴情報より実施すべきメンテナンス機能を自動的に抽出することを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 1,
The periodic information to be performed on the maintenance function and the history information on the maintenance function performed in the past are stored in the storage device, and the maintenance function to be performed is automatically extracted from the periodic information and the history information. An automatic analyzer.
請求項1または2記載の自動分析装置において、
前記記憶装置に記憶されている情報の中から、実施すべきメンテナンス機能を操作者の条件設定に従い抽出できる選択抽出機能を有することを特徴とした自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 1 or 2,
An automatic analyzer having a selective extraction function capable of extracting a maintenance function to be performed from information stored in the storage device according to an operator's condition setting.
請求項1〜3の何れかに記載された自動分析装置において、
前記抽出の結果を操作者へ報知する画面を有し、この画面で抽出の結果を操作者が任意に編集できる編集機能を有することを特徴とした自動分析装置。
In the automatic analyzer as described in any one of Claims 1-3,
An automatic analyzer having a screen for notifying an operator of the extraction result, and having an editing function that allows the operator to arbitrarily edit the extraction result on this screen.
請求項4に記載された自動分析装置において、
前記編集機能の画面で、前記メンテナンス機能の項目の追加/削除は前記記憶装置に記憶されている過去の実施記録よりメンテナンス機能の項目を抽出できることを特徴とした自動分析装置。
In the automatic analyzer according to claim 4,
The automatic analysis apparatus characterized in that, in the editing function screen, the maintenance function item can be extracted from the past execution record stored in the storage device for the addition / deletion of the maintenance function item.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012018103A (en) * 2010-07-09 2012-01-26 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzing device
WO2012120755A1 (en) * 2011-03-04 2012-09-13 株式会社 日立ハイテクノロジーズ Analysis device
JP2013083452A (en) * 2011-10-06 2013-05-09 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JP2013534310A (en) * 2010-08-05 2013-09-02 エフ ホフマン−ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト How to aggregate task data objects and provide aggregate views
WO2014073684A1 (en) * 2012-11-12 2014-05-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer device
JP2015099160A (en) * 2008-09-03 2015-05-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
WO2019189869A1 (en) * 2018-03-29 2019-10-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automated analysis system
US11087876B2 (en) * 2017-07-14 2021-08-10 Horiba, Ltd. Specimen analysis apparatus
CN113508294A (en) * 2019-03-11 2021-10-15 株式会社岛津制作所 Analysis system

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0280962A (en) * 1988-09-16 1990-03-22 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JPH05334140A (en) * 1992-05-27 1993-12-17 Omron Corp Maintenance data output device for apparatus
JPH0832281A (en) * 1994-07-14 1996-02-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Quality analyzing method
JPH09211003A (en) * 1996-02-01 1997-08-15 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JP2002091913A (en) * 2000-09-12 2002-03-29 Techno Digital:Kk Remote maintenance system, and maintenance device and supporting device used for the same
JP2002116212A (en) * 2001-08-16 2002-04-19 Horiba Ltd Analyzer and display device for analyzer
JP2003044128A (en) * 2001-08-01 2003-02-14 Olympus Optical Co Ltd Controller
JP2005326182A (en) * 2004-05-12 2005-11-24 Sysmex Corp Clinical specimen processing device and clinical sample processing system
JP2006031259A (en) * 2004-07-14 2006-02-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Power supply device
JP2006071649A (en) * 2001-12-05 2006-03-16 Sysmex Corp Apparatus for analyzing biological material
JP2006084253A (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Chemo Sero Therapeut Res Inst Inspection device and inspection method

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0280962A (en) * 1988-09-16 1990-03-22 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JPH05334140A (en) * 1992-05-27 1993-12-17 Omron Corp Maintenance data output device for apparatus
JPH0832281A (en) * 1994-07-14 1996-02-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Quality analyzing method
JPH09211003A (en) * 1996-02-01 1997-08-15 Hitachi Ltd Automatic analyzer
JP2002091913A (en) * 2000-09-12 2002-03-29 Techno Digital:Kk Remote maintenance system, and maintenance device and supporting device used for the same
JP2003044128A (en) * 2001-08-01 2003-02-14 Olympus Optical Co Ltd Controller
JP2002116212A (en) * 2001-08-16 2002-04-19 Horiba Ltd Analyzer and display device for analyzer
JP2006071649A (en) * 2001-12-05 2006-03-16 Sysmex Corp Apparatus for analyzing biological material
JP2005326182A (en) * 2004-05-12 2005-11-24 Sysmex Corp Clinical specimen processing device and clinical sample processing system
JP2006031259A (en) * 2004-07-14 2006-02-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Power supply device
JP2006084253A (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Chemo Sero Therapeut Res Inst Inspection device and inspection method

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015099160A (en) * 2008-09-03 2015-05-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
JP2016085233A (en) * 2008-09-03 2016-05-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
JP2012018103A (en) * 2010-07-09 2012-01-26 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzing device
US9927941B2 (en) 2010-08-05 2018-03-27 Roche Diagnostics Operations, Inc. Method for aggregating task data objects and for providing an aggregated view
JP2013534310A (en) * 2010-08-05 2013-09-02 エフ ホフマン−ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト How to aggregate task data objects and provide aggregate views
JP2015108641A (en) * 2011-03-04 2015-06-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ Clinical examination analysis device
WO2012120755A1 (en) * 2011-03-04 2012-09-13 株式会社 日立ハイテクノロジーズ Analysis device
JPWO2012120755A1 (en) * 2011-03-04 2014-07-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ Analysis equipment
EP2682755A4 (en) * 2011-03-04 2014-08-27 Hitachi High Tech Corp Analysis device
EP2682755A1 (en) * 2011-03-04 2014-01-08 Hitachi High-Technologies Corporation Analysis device
CN103348249A (en) * 2011-03-04 2013-10-09 株式会社日立高新技术 Analysis device
US9978044B2 (en) 2011-03-04 2018-05-22 Hitachi High-Technologies Corporation Analyzing device
JP2013083452A (en) * 2011-10-06 2013-05-09 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JPWO2014073684A1 (en) * 2012-11-12 2016-09-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
WO2014073684A1 (en) * 2012-11-12 2014-05-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer device
CN104769438A (en) * 2012-11-12 2015-07-08 株式会社日立高新技术 Automatic analyzer device
US11087876B2 (en) * 2017-07-14 2021-08-10 Horiba, Ltd. Specimen analysis apparatus
WO2019189869A1 (en) * 2018-03-29 2019-10-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automated analysis system
CN111108391A (en) * 2018-03-29 2020-05-05 株式会社日立高新技术 Automatic analysis system
JPWO2019189869A1 (en) * 2018-03-29 2020-10-22 株式会社日立ハイテク Automatic analysis system
US10962559B2 (en) 2018-03-29 2021-03-30 Hitachi High-Tech Corporation Automated analysis system
CN111108391B (en) * 2018-03-29 2021-06-29 株式会社日立高新技术 Automatic analysis system
CN113508294A (en) * 2019-03-11 2021-10-15 株式会社岛津制作所 Analysis system

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