JP2008051504A - Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure - Google Patents

Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure Download PDF

Info

Publication number
JP2008051504A
JP2008051504A JP2006224825A JP2006224825A JP2008051504A JP 2008051504 A JP2008051504 A JP 2008051504A JP 2006224825 A JP2006224825 A JP 2006224825A JP 2006224825 A JP2006224825 A JP 2006224825A JP 2008051504 A JP2008051504 A JP 2008051504A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier gas
sample gas
ionized
excited
ionization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006224825A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenzo Hiraoka
賢三 平岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Yamanashi NUC
Original Assignee
University of Yamanashi NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Yamanashi NUC filed Critical University of Yamanashi NUC
Priority to JP2006224825A priority Critical patent/JP2008051504A/en
Publication of JP2008051504A publication Critical patent/JP2008051504A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To analyze even a trace amount of sample with high sensitivity. <P>SOLUTION: Carrier gas is introduced into the first ionization chamber 11 and excited/ionized, and a high-speed current of the excited/ionized carrier gas is formed and jetted into the second ionization chamber 21, and sample gas is introduced into the second ionization chamber 21 by a negative pressure generated by jetting of the high-speed current, and an excitation species or ions included in the carrier gas are applied to the sample gas in the second ionization chamber 21, to thereby generate sample gas ions. The generated sample gas ions are jetted from a nozzle 20A into a mass spectrometer. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は試料ガスの大気圧下におけるイオン化方法および装置に関する。   The present invention relates to a method and apparatus for ionizing a sample gas under atmospheric pressure.

実時間直接分析(DART:Direct Analysis in Real Time)のためのイオン化方法および装置が既に提案されている。
Robert B. Cody, James A. Laramee, and H. Dupont Durst “Versatile New lon Source for the Analysis of Materials in Open Air under Ambient Conditions” Analytical Chemistry, Vol. 77, No. 8, April 15, 2005 2297
An ionization method and apparatus for direct analysis in real time (DART) has already been proposed.
Robert B. Cody, James A. Laramee, and H. Dupont Durst “Versatile New lon Source for the Analysis of Materials in Open Air under Ambient Conditions” Analytical Chemistry, Vol. 77, No. 8, April 15, 2005 2297

この方法は,チューブ内で生成したイオンや励起種をノズルから噴出させて,外気の蒸気をイオン化させるものである。この方法では,放電で生成したイオンや励起種が大気圧下で広く発散し,有効に試料分子をイオン化することができない。このため,感度の大きな犠牲を伴う。   In this method, ions generated in the tube and excited species are ejected from a nozzle to ionize the vapor of the outside air. In this method, ions generated by discharge and excited species diverge widely under atmospheric pressure, and sample molecules cannot be effectively ionized. For this reason, there is a great sacrifice of sensitivity.

この発明は,微量の試料でも高い感度で分析が可能となるイオン化方法および装置を提供するものである。   The present invention provides an ionization method and apparatus capable of analyzing even a very small amount of sample with high sensitivity.

この発明によるイオン化方法は,キャリアガスを第1イオン化室に導入して励起・イオン化(励起および/またはイオン化)し,励起・イオン化されたキャリアガスの高速流を形成して第2イオン化室に噴射し,上記高速流の噴射により生じる負圧(アスピレーター効果)によって試料ガスを上記第2イオン化室に導入し,上記第2イオン化室において試料ガスにキャリアガス中に含まれる励起種またはイオンを作用させて試料ガスイオンを生成するものである。   In the ionization method according to the present invention, a carrier gas is introduced into a first ionization chamber and excited and ionized (excitation and / or ionization), and a high-speed flow of the excited and ionized carrier gas is formed and injected into the second ionization chamber. The sample gas is introduced into the second ionization chamber by the negative pressure (aspirator effect) generated by the jet of the high-speed flow, and the excited species or ions contained in the carrier gas are allowed to act on the sample gas in the second ionization chamber. Sample gas ions are generated.

この発明によるイオン化装置は,キャリアガス導入管が接続され,このキャリアガス導入管を通して導入されるキャリアガスを励起・イオン化(励起および/またはイオン化)するイオン化装置を備えた第1ハウジング,上記第1ハウジングに連続して設けられ,励起・イオン化されたキャリアガスの高速流を形成する高速流形成流路,ならびに上記高速流形成流路の出口が開口しており,上記出口から噴射される上記高速流により生じる負圧によって導入される試料ガスの導入管が接続され,導入された試料ガスに上記励起・イオン化されたキャリアガスを作用させてイオン化された試料ガスイオンを分析装置に噴射するノズルを備えた第2ハウジングを有するものである。   The ionization apparatus according to the present invention includes a first housing having an ionization apparatus connected to a carrier gas introduction pipe and excited and ionized (excitation and / or ionization) of the carrier gas introduced through the carrier gas introduction pipe. A high-speed flow forming channel that is provided continuously in the housing and forms a high-speed flow of excited and ionized carrier gas, and an outlet of the high-speed flow forming channel is open, and the high-speed jet ejected from the outlet A sample gas introduction pipe introduced by the negative pressure generated by the flow is connected, and a nozzle for injecting ion gas sample ions to the analyzer by causing the excited and ionized carrier gas to act on the introduced sample gas. A second housing provided with the second housing;

第2ハウジングのノズルは質量分析装置のイオン導入オリフィスの近くに配置され,ノズルから噴射される試料ガスイオンが分析装置に導入され,質量分析される。   The nozzle of the second housing is arranged near the ion introduction orifice of the mass spectrometer, and sample gas ions ejected from the nozzle are introduced into the analyzer and subjected to mass analysis.

この発明によると,励起・イオン化されたキャリアガスが第2イオン化室に噴射されるので,その負圧によって試料ガスが第2イオン化室に導入される。第2イオン化室内において試料ガスにキャリアガス中の励起種やイオンが作用するので,試料ガスは効率よくイオン化される。これによって,微量の試料でも高い感度で分析することが可能となる。   According to the present invention, since the excited and ionized carrier gas is injected into the second ionization chamber, the sample gas is introduced into the second ionization chamber by the negative pressure. Since the excited species and ions in the carrier gas act on the sample gas in the second ionization chamber, the sample gas is efficiently ionized. As a result, even a very small amount of sample can be analyzed with high sensitivity.

図1はイオン化装置を示すものである。   FIG. 1 shows an ionization apparatus.

絶縁性チューブ(たとえばガラス管)(絶縁性第1ハウジング)10内に放電電極針(たとえばステンレス鋼またはタングステン)(金属製線状体)14がチューブ10内壁と接触しない状態で保持され,絶縁性チューブ10の先端付近までのびている。たとえば,絶縁性チューブ10内にその末端付近で絶縁性保持部材(ゴムまたは合成樹脂製)13をきつく嵌め入れ,この絶縁性保持部材13に放電電極針14を突き通すことにより,放電針14が保持される。放電電極針14が存在する絶縁性チューブ10の内部が第1イオン化室11である。   Insulating tube (for example, glass tube) (insulating first housing) 10 is held in a state in which discharge electrode needle (for example, stainless steel or tungsten) (metal linear body) 14 is not in contact with the inner wall of tube 10 and is insulative It extends to the vicinity of the tip of the tube 10. For example, an insulating holding member (rubber or synthetic resin) 13 is tightly fitted in the insulating tube 10 near its end, and the discharge electrode needle 14 is inserted into the insulating holding member 13 to hold the discharge needle 14 Is done. The inside of the insulating tube 10 where the discharge electrode needle 14 exists is a first ionization chamber 11.

絶縁性チューブ10にはキャリアガス導入管12が接続され,キャリアガス源からキャリアガスが導入管12を通って第1イオン化室11内に導入される。キャリアガスとしては,ヘリウム,酸素,窒素ガスや希ガスが用いられる。   A carrier gas introduction pipe 12 is connected to the insulating tube 10, and a carrier gas is introduced from the carrier gas source through the introduction pipe 12 into the first ionization chamber 11. As the carrier gas, helium, oxygen, nitrogen gas or rare gas is used.

放電電極針14に正または負の高電圧が印加され,コロナ放電(放電プラズマ)を生じさせる。これにより第1イオン化室11内に導入されたキャリアガスが励起・イオン化(励起および/またはイオン化)される。具体的には,正電圧放電では,正イオンと原子,分子励起種,負電圧放電では電子と原子,分子励起種が発生する。以下の説明では放電電極針14に負の高電圧が印加されるものとする。なお,キャリアガスの励起・イオン化法としては他に高周波放電を利用する方法などがある。   A positive or negative high voltage is applied to the discharge electrode needle 14 to cause corona discharge (discharge plasma). As a result, the carrier gas introduced into the first ionization chamber 11 is excited and ionized (excited and / or ionized). Specifically, in positive voltage discharge, positive ions and atoms and molecular excited species are generated, and in negative voltage discharge, electrons, atoms and molecular excited species are generated. In the following description, it is assumed that a negative high voltage is applied to the discharge electrode needle 14. Other carrier gas excitation / ionization methods include high-frequency discharge.

絶縁性チューブ10の先端には金属管(たとえばステンレス鋼または真ちゅう)10Aが固定され,この金属管10Aに,錐状の部分をもつ金属製(たとえばステンレス鋼または真ちゅう)絞り管(高速流形成流路(部材))30が挿入され,かつ固定されている。絞り管30は,絶縁性チューブ10の金属管10Aに挿入される短い筒状部分30Bと,先端の細い出口部分30Aと,これらの両部分30B,30Aをつなぐ錐状(円錐状)部分とを備えている。   A metal tube (for example, stainless steel or brass) 10A is fixed to the tip of the insulating tube 10, and a metal (for example, stainless steel or brass) throttle tube (high-speed flow forming flow) having a conical portion is attached to the metal tube 10A. A path (member) 30 is inserted and fixed. The throttle tube 30 has a short cylindrical portion 30B inserted into the metal tube 10A of the insulating tube 10, a narrow outlet portion 30A, and a conical (conical) portion connecting these portions 30B and 30A. I have.

さらに絞り管30に被せるように金属製キャップ(たとえばステンレス鋼または真ちゅう)(第2ハウジング)20が設けられている。すなわち,キャップ20は円筒形でその基部が絞り管30の筒状部分30Bに嵌め合わされ,先端部のほぼ全体が閉塞され,先端部の中央部のみが外方に突出したノズル20Aとして開口している。   Further, a metal cap (for example, stainless steel or brass) (second housing) 20 is provided so as to cover the throttle tube 30. That is, the cap 20 has a cylindrical shape, and its base portion is fitted into the cylindrical portion 30B of the throttle tube 30, almost the entire tip portion is closed, and only the central portion of the tip portion opens as a nozzle 20A protruding outward. Yes.

キャップ20と絞り管30との間(キャップ20の内部)には空間があり,ここが第2イオン化室21である。キャップ20の周面には試料ガス導入管(試料用キャピラリー)23の先端が接続され,第2イオン化室21に開口している。   There is a space between the cap 20 and the throttle tube 30 (inside the cap 20), and this is the second ionization chamber 21. A tip end of a sample gas introduction tube (sample capillary) 23 is connected to the peripheral surface of the cap 20 and opens to the second ionization chamber 21.

絞り管30は2つの機能をもつ。その一は,絶縁性チューブ10の先端の金属管10Aとともに,放電電極針14の対極となる電極として働くことである。そのために,絞り管30は接地されている(これに嵌め入れられたキャップ20も同電位である)。また,第1イオン化室でキャリアガスが励起・イオン化されることにより生じる電子はこの絞り管30により捕捉され,キャリアガスイオンの再結合が防止される。   The throttle tube 30 has two functions. One of them is that it works as a counter electrode of the discharge electrode needle 14 together with the metal tube 10A at the tip of the insulating tube 10. For this purpose, the throttle tube 30 is grounded (the cap 20 fitted therein is also at the same potential). Further, electrons generated by excitation and ionization of the carrier gas in the first ionization chamber are captured by the throttle tube 30 to prevent recombination of carrier gas ions.

絞り管30のもう一つの作用はキャリアガスの進行方向に向ってその内径が徐々に小さくなることによって励起・イオン化されたキャリアガスの高速流を形成する流路として働くことである。したがって励起・イオン化されたキャリアガスイオンはその出口部分30Aから第2イオン化室21に向って噴射されることになる。   Another action of the throttle tube 30 is to act as a flow path that forms a high-speed flow of the excited and ionized carrier gas by gradually reducing the inner diameter of the throttle tube 30 in the traveling direction of the carrier gas. Accordingly, the excited and ionized carrier gas ions are ejected from the outlet portion 30A toward the second ionization chamber 21.

試料ガス導入管23の外端は試料の近くまたは試料ガス源に開口している。たとえば,試料ガス導入管23の外端は,ガスクロマトグラフの出口に接続することができるし,試料ガスの容器に入れておくことができるし,対象物に単に近づけておくだけでもよい。試料ガス導入管23に試料ガスを積極的に注入してもよい。   The outer end of the sample gas introduction pipe 23 opens near the sample or to the sample gas source. For example, the outer end of the sample gas introduction pipe 23 can be connected to the outlet of the gas chromatograph, can be placed in a sample gas container, or simply be close to the object. The sample gas may be positively injected into the sample gas introduction pipe 23.

いずれにしても,上述のように,絞り管30の出口30Aから励起・イオン化されたキャリアガスが第2イオン化室21内に高速流として噴射されるから,これによって負圧が生じ(アスピレーター効果),試料ガス導入管23を通して試料ガスが第2イオン化室21内に吸引される。そして,第2イオン化室21内において,導入された試料ガスにキャリアガス中のイオンや励起種が作用して,試料ガスがイオン化される。たとえば,試料ガスはイオン−分子反応によりイオン化される。また試料ガスは生成したキャリアガスの励起種(ぺニングイオン化)もしくは電子(電子付着反応)によってもイオン化される。放電電極針14に負の高電圧を印加した場合にはキャリアガス(特に希ガス)の励起種を用いて,ぺニングイオン化を起こさせることで,種々のイオン化エネルギーをもつ分子を選択的にイオン化できる。とくに,ガソリンや石油成分など,無極性分子のイオン化に好適である。   In any case, as described above, the carrier gas excited and ionized from the outlet 30A of the throttle tube 30 is jetted into the second ionization chamber 21 as a high-speed flow, thereby generating a negative pressure (aspirator effect). The sample gas is sucked into the second ionization chamber 21 through the sample gas introduction pipe 23. In the second ionization chamber 21, ions and excited species in the carrier gas act on the introduced sample gas, and the sample gas is ionized. For example, the sample gas is ionized by an ion-molecule reaction. The sample gas is also ionized by excited species (Penning ionization) or electrons (electron attachment reaction) of the generated carrier gas. When negative high voltage is applied to the discharge electrode needle 14, molecules with various ionization energies are selectively ionized by causing Penning ionization using excited species of carrier gas (especially rare gas). it can. It is particularly suitable for ionization of nonpolar molecules such as gasoline and petroleum components.

キャップ20のノズル20Aは,質量分析装置40のスキーマ41のイオンサンプリングオリフィス42に近接して配置されている。イオン化された試料ガスはノズル20Aから噴出(噴射,噴霧)し,オリフィス42から分析装置の真空部に導入され,質量分析される。   The nozzle 20A of the cap 20 is disposed close to the ion sampling orifice 42 of the schema 41 of the mass spectrometer 40. The ionized sample gas is ejected (injected or sprayed) from the nozzle 20A, introduced into the vacuum portion of the analyzer from the orifice 42, and subjected to mass analysis.

要すれば,キャップ20にヒータを設け,またはレーザ光照射により,第2イオン化室内の温度を調整して(加熱して)感度を高めることもできる。   If necessary, the cap 20 can be provided with a heater, or the temperature in the second ionization chamber can be adjusted (heated) by laser light irradiation to increase the sensitivity.

図2は図1に示す大気圧下イオン化装置を用いてイオン化されたアニソール(anisole)(CHOCH)について得られた質量分析結果(マススペクトル)を示している。ヘリウム(He)ガスを用いた大気圧下ペニングイオン化(APPeI:Atmospheric-pressure Penning ionization)で,スニフィング(sniffing)法を用いた(すなわち,上記のアスピレーター効果によってアニソールのガスが吸引される)。アニソールは第2イオン化室内においてイオン化され,広く発散することがないので,高い感度が得られていることが分る。 FIG. 2 shows a mass analysis result (mass spectrum) obtained for anisole (CH 3 OCH 6 H 5 ) ionized using the ionizer under atmospheric pressure shown in FIG. Atmospheric-pressure penning ionization (APPeI) using helium (He) gas, a sniffing method was used (that is, anisole gas was sucked by the aspirator effect). Since anisole is ionized in the second ionization chamber and does not diverge widely, it can be seen that high sensitivity is obtained.

イオン化装置の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of an ionization apparatus. イオン化装置によってイオン化された試料についての質量分析結果の一例を示すマススペクトルである。It is a mass spectrum which shows an example of the mass spectrometry result about the sample ionized by the ionizer.

符号の説明Explanation of symbols

10 絶縁性チューブ(第1ハウジング)
11 第1イオン化室
12 キャリアガス導入管
14 放電電極針
20 キャップ(第2ハウジング)
20A ノズル
21 第2イオン化室
23 試料ガス導入管
30 絞り管(高速流形成流路)
10 Insulating tube (first housing)
11 First ionization chamber
12 Carrier gas introduction pipe
14 Discharge electrode needle
20 Cap (second housing)
20A nozzle
21 Second ionization chamber
23 Sample gas introduction pipe
30 Restrictor (High-speed flow forming flow path)

Claims (5)

キャリアガスを第1イオン化室に導入して励起・イオン化し,
励起・イオン化されたキャリアガスの高速流を形成して第2イオン化室に噴射し,
上記高速流の噴射により生じる負圧によって試料ガスを上記第2イオン化室に導入し,上記第2イオン化室において試料ガスにキャリアガス中に含まれる励起種またはイオンを作用させて試料ガスイオンを生成する,
試料ガスの大気圧下イオン化方法。
A carrier gas is introduced into the first ionization chamber to be excited and ionized,
A high-speed flow of excited and ionized carrier gas is formed and injected into the second ionization chamber,
The sample gas is introduced into the second ionization chamber by the negative pressure generated by the jet of the high-speed flow, and the sample gas ions are generated by causing the excited species or ions contained in the carrier gas to act on the sample gas in the second ionization chamber. Do,
A method for ionizing a sample gas under atmospheric pressure.
生成した試料ガスイオンを分析装置に噴射する,請求項1に記載のイオン化方法。   The ionization method according to claim 1, wherein the generated sample gas ions are jetted to an analyzer. 第1イオン化室においてキャリアガスをコロナ放電により励起・イオン化する,請求項1または2に記載のイオン化方法。   The ionization method according to claim 1 or 2, wherein the carrier gas is excited and ionized by corona discharge in the first ionization chamber. キャリアガス導入管が接続され,このキャリアガス導入管を通して導入されるキャリアガスを励起・イオン化するイオン化装置を備えた第1ハウジング,
上記第1ハウジングに連続して設けられ,励起・イオン化されたキャリアガスの高速流を形成する高速流形成流路,ならびに
上記高速流形成流路の出口が開口しており,上記出口から噴射される上記高速流により生じる負圧によって導入される試料ガスの導入管が接続され,導入された試料ガスに上記励起・イオン化されたキャリアガスを作用させてイオン化された試料ガスイオンを分析装置に噴射するノズルを備えた第2ハウジング,
を有する試料ガスの大気圧下イオン化装置。
A first housing having an ionizer connected to a carrier gas introduction pipe and exciting and ionizing the carrier gas introduced through the carrier gas introduction pipe;
A high-speed flow forming channel that is continuously provided in the first housing and forms a high-speed flow of excited and ionized carrier gas, and an outlet of the high-speed flow forming channel are opened, and are injected from the outlet. A sample gas introduction tube introduced by the negative pressure generated by the high-speed flow is connected, and the excited and ionized carrier gas is allowed to act on the introduced sample gas to inject ionized sample gas ions to the analyzer. A second housing with a nozzle to perform,
A sample gas ionization apparatus under atmospheric pressure.
上記第1ハウジングのイオン化装置が,放電電極を備え,コロナ放電によりキャリアガスを励起・イオン化するものである,請求項4に記載のイオン化装置。   The ionization apparatus according to claim 4, wherein the ionization apparatus of the first housing includes a discharge electrode and excites and ionizes the carrier gas by corona discharge.
JP2006224825A 2006-08-22 2006-08-22 Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure Pending JP2008051504A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006224825A JP2008051504A (en) 2006-08-22 2006-08-22 Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006224825A JP2008051504A (en) 2006-08-22 2006-08-22 Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008051504A true JP2008051504A (en) 2008-03-06

Family

ID=39235723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006224825A Pending JP2008051504A (en) 2006-08-22 2006-08-22 Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008051504A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008070281A (en) * 2006-09-15 2008-03-27 Shimadzu Corp Charging device
CN104237371A (en) * 2014-09-11 2014-12-24 上海应用技术学院 Simple device for realizing real-time direct injection analysis of mass spectrometer and application of simple device
WO2015119108A1 (en) * 2014-02-04 2015-08-13 株式会社バイオクロマト Coupling device for mass spectrometer

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008070281A (en) * 2006-09-15 2008-03-27 Shimadzu Corp Charging device
WO2015119108A1 (en) * 2014-02-04 2015-08-13 株式会社バイオクロマト Coupling device for mass spectrometer
US9570278B2 (en) 2014-02-04 2017-02-14 Biochromato, Inc. Coupling device for mass spectrometry apparatus
US20170103878A1 (en) * 2014-02-04 2017-04-13 Biochromato, Inc. Coupling device for mass spectrometry apparatus
US9779925B2 (en) 2014-02-04 2017-10-03 Biochromato, Inc. Coupling device for mass spectrometry apparatus
CN104237371A (en) * 2014-09-11 2014-12-24 上海应用技术学院 Simple device for realizing real-time direct injection analysis of mass spectrometer and application of simple device
CN104237371B (en) * 2014-09-11 2017-01-11 上海应用技术学院 Simple device for realizing real-time direct injection analysis of mass spectrometer and application of simple device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7378652B2 (en) Nebulizer with plasma source
Bruins Atmospheric-pressure-ionization mass spectrometry: I. Instrumentation and ionization techniques
US9607818B2 (en) Multimode ionization device
US9184037B2 (en) Mass spectrometer and mass analyzing method
US8637812B2 (en) Sample excitation apparatus and method for spectroscopic analysis
EP3069375B1 (en) Concentric apci surface ionization ion source, ion guide, and method of use
CN110024076B (en) Ionization device and mass spectrometer
US7091493B2 (en) Method of and apparatus for ionizing sample gas
KR20060013498A (en) Atmospheric pressure ion source
EP3491659B1 (en) Low temperature plasma probe with auxiliary heated gas jet
CN104616963B (en) Plasma spray spectrometry ionization source
US8481927B2 (en) High yield atmospheric pressure ion source for ion spectrometers in vacuum
CN113826187A (en) Mass spectrometry method and mass spectrometry device
KR102746344B1 (en) A solid ion source
JP2008051504A (en) Method and apparatus for ionizing sample gas under atmospheric pressure
US7026611B2 (en) Analytical instruments, ionization sources, and ionization methods
US20250140544A1 (en) Mass spectrometer ion source
US9524859B2 (en) Pulsed ion beam source for electrospray mass spectrometry
US8835838B2 (en) Method and apparatus for analysis and ion source
CN223401564U (en) Ionization and focusing integrated ion source and mass spectrum analysis instrument
CN106158573A (en) A kind of sample introduction ionizing system for mass spectrometer
CA2937047A1 (en) Method for ionizing laser plumes through atmospheric pressure chemical ionization
WO2007008191A1 (en) Nebulizer with plasma source
JP2024057924A (en) Mass Spectrometer
JP2025029786A (en) Ion Analysis Equipment