JP2008047730A - Wavelength-variable light source and optical fault imaging device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、発振波長が可変な外部共振器型の波長可変光源、および該波長可変光源を用いてOCT(Optical Coherence Tomography)計測により測定対象の光断層画像を取得する光断層画像化装置に関する。 The present invention relates to an external resonator type wavelength tunable light source having a variable oscillation wavelength, and an optical tomographic imaging apparatus that acquires an optical tomographic image of a measurement target by OCT (Optical Coherence Tomography) using the wavelength tunable light source.
従来、広い波長幅を高速に波長掃引可能な光源としては、例えば図13〜図15に示すような、外部共振器の光路中に回折格子等の波長分散素子を挿入し、その素子自体の角度または素子に入射する光線の角度を高速に変化させることで、光増幅器に帰還する光の波長を高速に切り替える方式のものが考案されている。 Conventionally, as a light source capable of sweeping a wide wavelength width at high speed, a wavelength dispersive element such as a diffraction grating is inserted in the optical path of an external resonator as shown in FIGS. Alternatively, a method of switching the wavelength of light returning to the optical amplifier at high speed by changing the angle of light incident on the element at high speed has been devised.
図13に示すLittrow型の光源は、半導体レーザ111の射出光をコリメートレンズ112で平行光に変換した後、回折格子113へ入射させて、波長分散された回折光のうち、特定の波長の光のみを半導体レーザ111に帰還させて発振波長を選択する。回折格子113を回転させることにより帰還する光の波長が変化して、波長掃引がなされる(例えば、特許文献1参照)。
The Littrow type light source shown in FIG. 13 converts the light emitted from the
図14に示すLittman型の光源は、半導体レーザ111の射出光をコリメートレンズ112で平行光に変換した後、回折格子113へ入射させて、波長分散された回折光をミラー114で反射する。そして、ミラー114の反射面に直交する特定の波長の光のみを回折格子113へ逆光路で再入射させて半導体レーザ111に帰還させることにより、発振波長を選択する。ミラー114を回転させることにより帰還する光の波長が変化して、波長掃引がなされる。
The Littman type light source shown in FIG. 14 converts the light emitted from the
なお、図13および図14に示す構成のように、光増幅器が半導体レーザの様な点光源の場合には、半導体レーザ111や半導体レーザ111と光結合する光ファイバ(不図示)の端面を正確に捉え続ける必要がある。回折格子やミラーに傾き誤差がある場合には、帰還光の集光位置ずれが発生し、半導体レーザへの帰還光量変動が生じ、これにより出力されるレーザ光の波長安定性や出力安定性が損なわれる。
13 and 14, when the optical amplifier is a point light source such as a semiconductor laser, the end face of the optical fiber (not shown) optically coupled to the
図15に示す光源は、高速波長掃引を目指したものであり、図14のミラー114をポリゴンミラー125に置換し、回折格子113とポリゴンミラー125の間にリレー用の2つのレンズ124a、124bを設けている。図15に示す光源では、ポリゴンミラー125の回転により帰還光の波長が変化して、波長掃引がなされる(例えば、特許文献2参照)。
The light source shown in FIG. 15 is intended for high-speed wavelength sweep. The
また、特許文献3には、光偏向素子から射出される光の走査方向に沿って、透過させる光の波長が連続的に変化するように構成された光フィルタを用いた光源が記載されている。この構成では、走査に伴い光フィルタで選択される波長が変化し、その波長の光をミラーで帰還させることにより波長掃引がなされる。
特許文献4には、半導体素子からの射出光を外部共振器の一端に配置された回折格子で反射し、途中の光路に配置された揺動ミラーにより回折格子への入射角を変更することにより、発振波長を選択して変化させる光源が記載されている。この光源では、外部共振器の他端に、半導体素子からの射出光を反射させるとともに、発振光を外部へ透過させるチャープド・ブラッグ・グレーティングを配置し、さらにこのチャープド・ブラッグ・グレーティングにより共振器長を調節するようにしている。
In
一方、上記のような波長掃引が可能な波長可変光源の重要な用途として、SS−OCT(Swept source OCT)計測を利用した光断層画像化装置(SS−OCT装置)が知られている。光断層画像化装置は、光源から射出されたコヒーレンス光を測定光と参照光とに分割した後、測定光が測定対象に照射されたときの反射光と参照光とを合波し、反射光と参照光との干渉光の強度に基づいて光断層画像を取得するものである。SS−OCT装置では、光源から射出される光の周波数を時間的に変化させながら、反射光と参照光とを干渉させ、得られる干渉光を検出して、光周波数領域のインターフェログラムから所定の測定対象の深さ位置における反射強度を検出し、これを用いて断層画像を生成する。
ところで、図13〜図15に示す回折格子等の波長分散素子を用いた光源では、波長分解能を確保するために波長分散素子に入射する光束径を大きくする必要があり、結果として光学系が大きくなってしまい、装置の大型化を招くという問題がある。 By the way, in the light source using the wavelength dispersion element such as the diffraction grating shown in FIGS. 13 to 15, it is necessary to increase the diameter of the light beam incident on the wavelength dispersion element in order to ensure the wavelength resolution, resulting in a large optical system. As a result, there is a problem that the size of the apparatus is increased.
さらに、図15に示すポリゴンミラーを用いた光源では、ポリゴンミラーの反射面の中心と回折格子とを共役位置にするための光学系が必要となり、これもまた装置の大型化を招くことになる。 Further, the light source using the polygon mirror shown in FIG. 15 requires an optical system for bringing the center of the reflection surface of the polygon mirror and the diffraction grating into a conjugate position, which also increases the size of the apparatus. .
特許文献3に記載された光フィルタとミラーを組み合わせた構成では、光増幅器射出端面とミラーとが共役位置にあり、この点では光学系は安定しているが、光フィルタとミラーを組み合わせているために、以下(1)、(2)の制約条件が生じ、設置を難しくしている。(1)光フィルタは、透過させる選択波長以外の波長の光を反射するため、光フィルタからの反射光が光増幅器に帰還しないように光フィルタを光軸に対し傾けて配置する必要がある。(2)光増幅器射出端面とミラーとが共役位置にあるため、ミラーはビームウエスト位置に配置されるが、波長分解能を高くするには光フィルタをビームウエスト位置のビームの焦点深度内、すなわちミラーの近傍に配置する必要がある。また、実際には、特許文献3に記載されているような誘電体多層膜によりサブnmの波長幅で、かつ選択波長が連続的に変化するバンドパスフィルタを作製するのは技術的に非常に困難である。
In the configuration in which the optical filter and the mirror described in
そこで、本発明は上記事情を鑑みなされたもので、コンパクトで簡素化された構成の波長可変光源、および該波長可変光源を備えた光断層画像化装置を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a tunable light source having a compact and simplified configuration, and an optical tomographic imaging apparatus including the tunable light source.
本発明の波長可変光源は、光増幅手段と、該光増幅手段からの光が入射され、入射位置に応じた波長の光を選択的に反射する波長選択手段と、前記入射位置が変化するように、前記光増幅手段からの光と前記波長選択手段とを相対移動させる相対移動手段とを備え、前記波長選択手段が、前記相対移動の方向に沿って格子間隔が変化するように構成されたブラッグ・グレーティングであることを特徴とするものである。 The wavelength tunable light source according to the present invention includes an optical amplifying unit, a wavelength selecting unit that selectively reflects light having a wavelength corresponding to the incident position, and the incident position changes. And a relative moving means for relatively moving the light from the light amplifying means and the wavelength selecting means, and the wavelength selecting means is configured such that the grating interval changes along the direction of the relative movement. It is a Bragg grating.
ここで、「ブラッグ・グレーティング」は、内部に形成された回折格子の格子間隔に基づくブラッグ回折条件に合致した波長の光のみを選択的に反射させることができるものである。 Here, the “Bragg grating” is capable of selectively reflecting only light having a wavelength that matches the Bragg diffraction condition based on the grating interval of the diffraction grating formed inside.
上記波長可変光源が、波長掃引するものである場合は、ブラッグ・グレーティングの格子間隔は連続的に変化していることが好ましいが、用途によっては、段階的に変化しているようにしてもよい。 When the wavelength tunable light source is one that sweeps the wavelength, it is preferable that the grating interval of the Bragg grating is continuously changed. However, depending on the application, it may be changed stepwise. .
前記光増幅手段としては、例えば半導体レーザを用いることができ、その場合には該半導体レーザの射出端面の1つを共振器の端部を構成する反射面として利用することができる。 As the optical amplifying means, for example, a semiconductor laser can be used. In that case, one of the emission end faces of the semiconductor laser can be used as a reflection face constituting the end of the resonator.
上記波長可変光源において、光増幅手段の射出面とブラッグ・グレーティングとを光学的に共役な位置関係にする光学系をさらに備えることが好ましい。 The wavelength tunable light source preferably further includes an optical system that optically conjugates the exit surface of the optical amplification means and the Bragg grating.
前記相対移動手段が、前記光増幅手段からの光を偏向する偏向手段、または前記ブラッグ・グレーティングを移動させる移動手段であってもよい。 The relative moving means may be a deflecting means for deflecting light from the optical amplifying means, or a moving means for moving the Bragg grating.
ここで、偏向手段としては、ポリゴンミラー等の回転偏光ミラーでもよく、あるいはガルバノミラーやトーションミラー等の往復偏向ミラーでもよい。また、移動手段としては、例えばリニアモータ等の平行移動手段を用いてもよい。 Here, the deflecting means may be a rotating polarizing mirror such as a polygon mirror, or a reciprocating deflecting mirror such as a galvano mirror or a torsion mirror. Moreover, as a moving means, you may use parallel moving means, such as a linear motor, for example.
前記相対移動手段が、回転体を前記光増幅手段からの光の光軸と略平行な回転中心軸の周りに回転させるものであり、前記ブラッグ・グレーティングが、前記回転体に、前記回転中心軸を中心とする円周方向に格子間隔が変化するように設けられたものであってもよい。 The relative movement means rotates the rotating body around a rotation center axis substantially parallel to the optical axis of the light from the light amplification means, and the Bragg grating moves the rotation body to the rotation center axis. May be provided so that the lattice spacing changes in the circumferential direction centering on the.
前記ブラッグ・グレーティングが、前記回転体が1周する間に、前記ブラッグ・グレーティングからの反射光の波長の単調変化が複数回起こるようにしてもよい。 The Bragg grating may be configured such that a monotonous change in the wavelength of reflected light from the Bragg grating occurs a plurality of times while the rotating body makes one round.
前記相対移動により前記ブラッグ・グレーティングからの反射光の波長が掃引され、前記掃引の方向が常に一方向であるように構成されていることが好ましい。 It is preferable that the wavelength of reflected light from the Bragg grating is swept by the relative movement, and the sweep direction is always one direction.
ここで「掃引の方向」とは、波長の変化の方向、すなわち、短波長から長波長へ変化する方向、あるいは長波長から短波長へ変化する方向を意味する。 Here, the “sweep direction” means the direction of wavelength change, that is, the direction of changing from a short wavelength to a long wavelength, or the direction of changing from a long wavelength to a short wavelength.
さらに、本発明の光断層画像化装置は、前記波長可変光源と、前記波長可変光源から射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、を備えたことを特徴とするものである。 Furthermore, the optical tomographic imaging apparatus according to the present invention includes the wavelength tunable light source, a light dividing unit that divides the light emitted from the wavelength tunable light source into measurement light and reference light, and the measurement light irradiates the measurement target. A combining means for combining the reflected light from the measurement object and the reference light when detected, and an interference light for detecting interference light between the reflected light and the reference light combined by the combining means It is characterized by comprising detection means and image acquisition means for acquiring a tomographic image of the measurement object from the interference light detected by the interference light detection means.
本発明の波長可変光源によれば、ブラッグ・グレーティングの格子間隔の変化方向に沿って光増幅手段からの光のブラッグ・グレーティングへの入射位置を変化させることができるので、格子間隔に基づいたブラッグ回折条件に一致した波長の光のみを選択的にブラッグ・グレーティングで反射し、かつその波長を変化させることができる。本発明の波長可変光源を従来の平面型回折格子を用いた光源に比べると、少ない構成部品で同様の効果が得られ、また、光束径を大きくする必要がないため、コンパクトで簡素化された構成の波長可変光源を実現することができる。 According to the wavelength tunable light source of the present invention, the incident position of the light from the optical amplifying means on the Bragg grating can be changed along the changing direction of the grating interval of the Bragg grating. Therefore, the Bragg grating based on the grating interval is used. Only light having a wavelength that matches the diffraction conditions can be selectively reflected by the Bragg grating and its wavelength can be changed. Compared with a conventional light source using a planar diffraction grating, the wavelength tunable light source of the present invention can achieve the same effect with a small number of components, and it is not necessary to increase the beam diameter, so it is compact and simplified. A wavelength tunable light source having the configuration can be realized.
本発明の波長可変光源において、光増幅手段の射出面とブラッグ・グレーティングとを光学的に共役な位置関係にする光学系をさらに備えた場合には、各光学部品の調整精度が低くてもブラッグ・グレーティングからの戻り光を安定して光増幅手段の射出面に帰還させることができ、光増幅手段からの出力の安定性を確保できる。 In the wavelength tunable light source according to the present invention, when the optical system is further provided with an optically conjugate positional relationship between the exit surface of the optical amplifying means and the Bragg grating, the Bragg is not necessary even if the adjustment accuracy of each optical component is low. The return light from the grating can be stably returned to the exit surface of the optical amplifying means, and the stability of the output from the optical amplifying means can be ensured.
前記相対移動手段が、回転体を前記光増幅手段からの光の光軸と略平行な回転中心軸の周りに回転させるものであり、前記ブラッグ・グレーティングが、前記回転体に、前記回転中心軸を中心とする円周方向に格子間隔が変化するように設けられたものである場合には、高速の波長掃引が可能になる。 The relative movement means rotates the rotating body around a rotation center axis substantially parallel to the optical axis of the light from the light amplification means, and the Bragg grating moves the rotation body to the rotation center axis. In the case where the grating spacing is changed in the circumferential direction centering on, a high-speed wavelength sweep is possible.
前記ブラッグ・グレーティングが、前記回転体が1周する間に、前記ブラッグ・グレーティングからの反射光の波長の単調変化が複数回起こるように構成されている場合には、より高速の波長掃引が可能になる。 If the Bragg grating is configured so that the monotonous change in the wavelength of the reflected light from the Bragg grating occurs multiple times during the rotation of the rotating body, a faster wavelength sweep is possible. become.
前記相対移動により、前記ブラッグ・グレーティングからの反射光の波長が掃引され、前記掃引の方向が常に一方向であるように構成すれば、光増幅器が波長の掃引方向に依存して出力光のスペクトル形状に大きな差異を生じるものであっても、出力光のスペクトル形状を一定にできる。 If the wavelength of the reflected light from the Bragg grating is swept by the relative movement and the sweep direction is always one direction, the optical amplifier depends on the wavelength sweep direction and the spectrum of the output light Even if there is a large difference in shape, the spectral shape of the output light can be made constant.
また、本発明の光断層画像化装置は、コンパクトで簡素化された構成の波長可変光源を備えることができる。 In addition, the optical tomographic imaging apparatus of the present invention can include a wavelength variable light source having a compact and simplified configuration.
以下、図面を参照して本発明の波長可変光源および該波長可変光源を備えた光断層画像化装置の実施形態を詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施形態による光断層画像化装置1の構成を示す図である。光断層画像化装置1は、例えば体腔内の生体組織や細胞等の測定対象の断層画像を前述のSS−OCT計測により取得するものである。 Hereinafter, embodiments of a wavelength tunable light source and an optical tomographic imaging apparatus including the wavelength tunable light source according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical tomographic imaging apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention. The optical tomographic imaging apparatus 1 acquires, for example, a tomographic image of a measurement target such as a living tissue or a cell in a body cavity by the above-described SS-OCT measurement.
光断層画像化装置1は、発振波長を一定の周期で掃引させながらレーザ光L0を射出する光源ユニット10と、光源ユニット10から射出された光L0を測定光L1と参照光L2とに分割する光分割手段3と、光分割手段3により分割された参照光L2の光路長を調整する光路長調整手段20と、光分割手段3により分割された測定光L1を測定対象Sまで導波するプローブ30と、プローブ30から測定光L1が測定対象Sに照射されたとき測定対象Sで反射した反射光L3と参照光L2とを合波する合波手段4と、合波手段4により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を検出する干渉光検出手段40と、干渉光検出手段40により検出された干渉光L4を周波数解析することにより測定対象Sの断層画像を取得する画像取得手段50とを有している。
The optical tomographic imaging apparatus 1 divides the light L0 emitted from the
光源ユニット10は、光増幅手段としての半導体レーザ11と、波長選択手段としてのブラッグ・グレーティング15と、相対移動手段としての偏向手段13を備えた外部共振器型の波長可変光源である。光源ユニット10についての詳細は後述する。
The
光分割手段3は、例えば2×2の光ファイバカプラから構成されており、光源ユニット10から光ファイバFB0、FB1を介して導波した光L0を測定光L1と参照光L2に分割する。光分割手段3は、2本の光ファイバFB2、FB3にそれぞれ光学的に接続されており、測定光L1は光ファイバFB2により導波され、参照光L2は光ファイバFB3により導波される。なお、本実施形態における光分割手段3は、合波手段4としても機能するものである。
The light splitting means 3 is composed of, for example, a 2 × 2 optical fiber coupler, and splits the light L0 guided from the
光ファイバFB2にはプローブ30が光学的に接続されており、測定光L1は光ファイバFB2からプローブ30へ導波される。プローブ30は、たとえば鉗子口から鉗子チャンネルを介して体腔内に挿入されるものであって、光学コネクタ31により光ファイバFB2に対し着脱可能に取り付けられている。
The
光プローブ30は、先端が閉じられた円筒状のプローブ外筒32と、このプローブ外筒32の内部空間に、該外筒32の軸方向に延びる状態に配設された1本の光ファイバ33と、光ファイバ33の先端から射出した光L1をプローブ外筒32の周方向に偏向させるプリズムミラー34と、光ファイバ33の先端から射出した光L1を、プローブ外筒32の周外方に配された被走査体としての測定対象Sにおいて収束するように集光するロッドレンズ35と、プリズムミラー34を光ファイバ33の軸を回転軸として回転させるモータ36とを備えている。
The
一方、光ファイバFB3における参照光L2の射出側には光路長調整手段20が配置されている。光路長調整手段20は、測定対象Sに対する断層画像の取得を開始する位置を調整するために、参照光L2の光路長を変更するものであって、光ファイバFB3から射出された参照光L2を反射させる反射ミラー22と、反射ミラー22と光ファイバFB3との間に配置された第1光学レンズ21aと、第1光学レンズ21aと反射ミラー22との間に配置された第2光学レンズ21bとを有している。
On the other hand, the optical path length adjusting means 20 is disposed on the side of the optical fiber FB3 where the reference light L2 is emitted. The optical path
第1光学レンズ21aは、光ファイバFB3のコアから射出された参照光L2を平行光にするとともに、反射ミラー22により反射された参照光L2を光ファイバFB3のコアに集光する機能を有している。また、第2光学レンズ21bは、第1光学レンズ21aにより平行光にされた参照光L2を反射ミラー22上に集光するとともに、反射ミラー22により反射された参照光L2を平行光にする機能を有している。
The first
したがって、光ファイバFB3から射出した参照光L2は、第1光学レンズ21aにより平行光になり、第2光学レンズ21bにより反射ミラー22上に集光される。その後、反射ミラー22により反射された参照光L2は、第2光学レンズ21bにより平行光になり、第1光学レンズ21aにより光ファイバFB3のコアに集光される。
Therefore, the reference light L2 emitted from the optical fiber FB3 is converted into parallel light by the first
さらに光路長調整手段20は、第2光学レンズ21bと反射ミラー22とを固定した基台23と、該基台23を第1光学レンズ21aの光軸方向に移動させるミラー移動手段24とを有している。そして基台23が矢印A方向に移動することにより、参照光L2の光路長が変更するよう構成されている。
Further, the optical path length adjusting means 20 has a base 23 to which the second
合波手段4は、前述のとおり2×2の光ファイバカプラからなり、光路長調整手段20により光路長が変更された参照光L2と、測定対象Sからの反射光L3とを合波し光ファイバFB4を介して干渉光検出手段40側に射出するように構成されている。 The multiplexing means 4 is composed of a 2 × 2 optical fiber coupler as described above, and combines the reference light L2 whose optical path length has been changed by the optical path length adjusting means 20 and the reflected light L3 from the measuring object S to be light. It is configured to emit light toward the interference light detection means 40 via the fiber FB4.
干渉光検出手段40は、合波手段4により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を検出する。なお本例の装置においては、干渉光検出手段40に、干渉光L4を光分割手段3で二分した光を光検出器40aと光検出器40bとに導き、演算手段41においてバランス検波を行う機構を有している。この機構により、光強度ゆらぎの影響を抑え、より鮮明な画像を得ることが出来る。
The interference
上記演算手段41は例えばパーソナルコンピュータ等のコンピュータシステムからなる画像取得手段50に接続され、画像取得手段50はCRTや液晶表示装置等からなる表示装置60に接続されている。画像取得手段50は干渉光検出手段40において検出された干渉光L4をフーリエ変換することにより、測定対象Sの各深さ位置における反射情報を取得する。そして、画像取得手段50は、測定対象Sの各深さ位置における反射光L3の強度を用いて測定対象Sの断層画像を取得し、この断層画像が表示装置60において表示される。
The computing means 41 is connected to an image acquisition means 50 comprising a computer system such as a personal computer, for example, and the image acquisition means 50 is connected to a
ここで、干渉光検出手段40および画像取得手段50における干渉光L4の検出および画像の生成について簡単に説明する。なお、この点の詳細については「武田 光夫、「光周波数走査スペクトル干渉顕微鏡」、光技術コンタクト、2003、Vol41、No7、p426−p432」に詳しい記載がなされている。 Here, the detection of the interference light L4 and the generation of the image in the interference light detection means 40 and the image acquisition means 50 will be briefly described. Details of this point are described in “Mitsuo Takeda,“ Optical Frequency Scanning Spectrum Interference Microscope ”, Optical Technology Contact, 2003, Vol41, No7, p426-p432”.
測定光L1が測定対象Sに照射されたとき、測定対象Sの各深さからの反射光L3と参照光L2とがいろいろな光路長差をもって干渉しあう際の各光路長差lに対する干渉縞の光強度をS(l)とすると、干渉光検出手段40において検出される光強度I(k)は、
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl ・・・(1)
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。式(1)は波数kを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、画像取得手段50において、干渉光検出手段40が検出したスペクトル干渉縞をフーリエ変換にかけて周波数解析を行い、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成することができる。
When the measurement light L1 is irradiated onto the measurement object S, interference fringes with respect to each optical path length difference l when the reflected light L3 from the depth of the measurement object S and the reference light L2 interfere with each other with various optical path length differences. S (l) is the light intensity I (k) detected by the interference light detection means 40.
I (k) = ∫ 0 ∞ S (l) [1 + cos (kl)] dl (1)
It is represented by Here, k is the wave number, and l is the optical path length difference. Formula (1) can be considered to be given as an interferogram in the optical frequency domain with the wave number k as a variable. For this reason, in the image acquisition means 50, the spectral interference fringes detected by the interference light detection means 40 are subjected to frequency analysis by Fourier transform, and the light intensity S (l) of the interference light L4 is determined, thereby measuring the measurement object S. It is possible to acquire distance information from the start position and reflection intensity information and generate a tomographic image.
次に、上記構成を有する光断層画像化装置1の動作例について説明する。まず、可動ステージ23が矢印A方向に移動することにより、測定可能領域内に測定対象Sが位置するように光路長の調整が行われる。その後、光源ユニット10から光L0が射出され、光L0は光分割手段3により測定光L1と参照光L2とに分割される。測定光L1はプローブ30により体腔内に導波され測定対象Sに照射される。そして、測定対象Sからの反射光L3が反射ミラー22において反射した参照光L2と合波手段4により合波され、反射光L3と参照光L2との干渉光L4が干渉光検出手段40により検出される。この検出された干渉光L4の信号が画像取得手段50において周波数解析されることにより断層画像が取得される。
Next, an operation example of the optical tomographic imaging apparatus 1 having the above configuration will be described. First, when the
なお、プローブ30を回転させて、測定対象Sに対して測定光L1を1次元方向に走査させれば、この走査方向に沿った各部分において測定対象Sの深さ方向の情報が得られるので、この走査方向を含む断層面についての断層画像を取得することができる。また、測定対象Sに対して測定光L1を、上記走査方向に対して直交する第2の方向に走査させることにより、この第2の方向を含む断層面についての断層画像をさらに取得することも可能である。
If the
以下、光源ユニット10についての詳細な説明を記載する。光源ユニット10は、半導体レーザ11と、半導体レーザ11の射出端面11b側に配置されたコリメートレンズ12と、偏向手段13と、集光レンズ14と、ブラッグ・グレーティング15と、半導体レーザ11の射出端面11a側に配置された光結合用のレンズ16とを有する。射出端面11bには反射防止膜(ARコート)が施されている。
Hereinafter, a detailed description of the
ブラッグ・グレーティング15は、内部に回折格子が形成され、その格子間隔に基づくブラッグ回折条件に合致した波長の光のみを選択的に反射するものである。さらに、本実施形態のブラッグ・グレーティング15は、入射光の光軸と直交する方向のうちの一方向に沿って、格子間隔が連続的に変化するように構成されたチャープ・ブラッグ・グレーティングであり、そのため、ブラッグ・グレーティング15により反射される光の波長は入射位置に応じて選択されたものとなる。また、ブラッグ・グレーティング15は、上記一方向および入射光の光軸方向の両方に直交する方向(図1の紙面に垂直な方向)には、入射ビーム径以上の幅を有している。 The Bragg grating 15 has a diffraction grating formed therein, and selectively reflects only light having a wavelength that matches the Bragg diffraction condition based on the grating interval. Further, the Bragg grating 15 of the present embodiment is a chirped Bragg grating configured such that the lattice spacing continuously changes along one of the directions orthogonal to the optical axis of incident light. Therefore, the wavelength of light reflected by the Bragg grating 15 is selected according to the incident position. Further, the Bragg grating 15 has a width equal to or larger than the incident beam diameter in a direction perpendicular to both the one direction and the optical axis direction of the incident light (a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1).
偏向手段13は、半導体レーザ11からの光を偏向して、該光のブラッグ・グレーティング15における入射位置を格子間隔の変化方向に沿って変化させる。本実施形態では、偏向手段13を、ガルバノミラー等の往復偏向ミラーにより構成しているが、ポリゴンミラー等の回転偏向ミラーにより構成してもよい。
The deflecting means 13 deflects the light from the
半導体レーザ11の射出端面11bから射出した光は、コリメートレンズ12により平行光に変換された後、偏向手段13により偏向されて、集光レンズ14により集光されて、ビームの集光位置に配置されたブラッグ・グレーティング15に入射する。ブラッグ・グレーティング15では、入射位置の格子間隔に基づくブラッグ回折条件に合致した狭帯域の特定波長の光のみが反射されて戻り光となる。この戻り光は、逆光路を通り、集光レンズ14、偏向手段13、コリメートレンズ12を経て、半導体レーザ11に帰還する。そして、半導体レーザ11の射出端面11aとブラッグ・グレーティング15とを両端部として構成された外部共振器により発振した狭帯域の波長のレーザ光L0が半導体レーザ11の射出端面11aから射出される。
The light emitted from the
光源ユニット10では、偏向手段13によりビームが格子間隔の変化方向に沿ってブラッグ・グレーティング15を走査するので、戻り光の波長はλ1…λnのように連続的に変化し、半導体レーザ11から発振光として射出されるレーザ光L0の波長もλ1…λnのように連続的に変化し、波長掃引することができる。偏向ミラーとして、トーションミラーを使用すれば、ブラッグ・グレーティング15上を高速に走査することが可能となり、数10kHzでの波長掃引が可能となる。
In the
ブラッグ・グレーティング15は、集光レンズ14によるビームウエスト位置、またはビームウエスト位置前後の焦点深度が確保可能な範囲に配置されている。また、ブラッグ・グレーティング15の格子間隔の変化する方向と、偏向手段13により偏向される光の移動方向とを一致させている。これらのことから、波長分解能の高い光学系が構成され、戻り光の波長帯域を狭くできる。
The Bragg grating 15 is arranged in a range where a beam waist position by the
ブラッグ・グレーティング15の波長選択幅Δλとブラッグ・グレーティング15の厚さdの関係は下式(1)で表される。ここで、λB:ブラッグ波長、n:ブラッグ・グレーティング15の屈折率である。
波長選択幅Δλを小さく、すなわち波長分解能は高くするためには、ブラッグ・グレーティング15の厚さは厚い方が好ましい。λB=1μm、n=1.5でΔλ=0.1nmとすると、d=3.3mmとなる。一方、ビームウエスト位置でのビーム半径w0と焦点深度z0(ビーム径が√2w0になる光軸方向におけるビームウエスト位置からの距離)の関係は下式(2)で表される。
ビームウエスト位置でのビーム直径が50μmφ(すなわちw0=25μm)、λB=1μmの場合、z0=1.96mmとなるので、光軸方向における焦点深度が確保可能な範囲は、ビームウエスト位置を中心としてその前後の計3.9mmの範囲となる。したがって、上記のd=3.3mmのブラッグ・グレーティング15の厚さ内では十分細いビーム径を維持できる。 When the beam diameter at the beam waist position is 50 μmφ (that is, w 0 = 25 μm) and λ B = 1 μm, z 0 = 1.96 mm. Therefore, the range in which the focal depth in the optical axis direction can be secured is the beam waist position. Is a total range of 3.9 mm before and after the center. Therefore, a sufficiently small beam diameter can be maintained within the thickness of the Bragg grating 15 having the above d = 3.3 mm.
また上記ビーム径において拡がり角は下式(3)からθ=12.7mrad=0.73°となる。
ブラッグ・グレーティング15への入射角度θと選択波長であるブラッグ波長λBの式は、格子間隔をΛとして、下式(4)で表される。
式(4)より、入射角度0(垂直入射)〜12.7mradにおけるブラッグ波長λBのずれは0.08nm程度であるので、上記ビーム径の拡がりによる反射光の波長幅の実質的な拡がりはないと言える。なおここでは、格子間隔Λは、λB=1μm、θ=0(垂直入射)に対して最適化されているものとして、Λ=1/(2×1.5)として計算している。 From equation (4), the deviation of the Bragg wavelength λ B at an incident angle of 0 (normal incidence) to 12.7 mrad is about 0.08 nm, and therefore the substantial spread of the wavelength width of the reflected light due to the spread of the beam diameter is as follows. I can say no. Here, the lattice spacing Λ is calculated as Λ = 1 / (2 × 1.5) assuming that λ B = 1 μm and θ = 0 (normal incidence).
光源ユニット10の光学系では、偏向手段13を瞳位置とし、集光レンズ14のブラッグ・グレーティング15側がテレセントリックとなるように構成している。かかる構成により、集光レンズ14からブラッグ・グレーティング15へ向かう光の主光線は走査位置によらず集光レンズ14の光軸に平行となるので、ブラッグ・グレーティング15を集光レンズ14の光軸に垂直に配置することにより、ブラッグ・グレーティング15で反射された戻り光が入射光と同一光路を逆向きに帰還させることができる。
The optical system of the
また、光源ユニット10のコリメートレンズ12および集光レンズ14からなる光学系では、半導体レーザ11の射出端面11bとブラッグ・グレーティング15が光学的に共役な位置関係にあるように構成している。かかる構成により、各光学部品の調整精度が低くても、安定して戻り光を半導体レーザ11に帰還させることができる。
The optical system including the
以上述べた光源ユニット10によれば、従来の平面型回折格子を用いた光源に比べると光束径を大きくする必要がないため、装置の大型化を招くこともなく、単純かつコンパクトな構成を実現でき、高い波長分解能で安定して波長掃引が可能である。
According to the
なお、ブラッグ・グレーティングを用いた波長掃引は、ブラッグ・グレーティングにおける入射位置、すなわち、ブラッグ・グレーティングとその入射光との相対位置が変化すればよいため、以下に述べる第2の実施形態の光源ユニットのように、入射光を固定してブラッグ・グレーティングを移動させることによっても実現可能である。 In the wavelength sweep using the Bragg grating, since the incident position in the Bragg grating, that is, the relative position between the Bragg grating and the incident light only needs to be changed, the light source unit of the second embodiment described below is used. As described above, this can also be realized by fixing the incident light and moving the Bragg grating.
以下、本発明の別の実施形態による光源ユニットについて説明する。以下に説明する光源ユニットは、図1に示す光源ユニット10同様に光断層画像化装置1に適用可能であり、その場合は、光源ユニット以外の構成は同様となるため、以下では光源ユニットのみ図示して説明し、他の構成の説明は省略する。
Hereinafter, a light source unit according to another embodiment of the present invention will be described. The light source unit described below can be applied to the optical tomographic imaging apparatus 1 in the same manner as the
本発明の第2の実施形態による光源ユニット210について、図2を参照しながら説明する。光源ユニット210は、図1の光源ユニット10と比較すると、ブラッグ・グレーティング15を移動させるBG移動手段216を設けて、偏向手段13を除去した点が特徴である。また、光源ユニット210では、光源ユニット10のコリメートレンズ12と集光レンズ14の代わりにそれぞれコリメートレンズ212と集光レンズ214を用いているが、光を偏向させないため、集光レンズ214は集光レンズ14よりも小径にできる。
A
ブラッグ・グレーティング15は、格子間隔の変化する方向が、入射光の光軸と直交するように配置されている。そして、BG移動手段216により、格子間隔の変化する方向にブラッグ・グレーティング15が移動し、これにより、ブラッグ・グレーティング15における入射位置が変化し、本実施形態においても第1の実施形態の光源ユニット10と同様に波長掃引することができる。 The Bragg grating 15 is arranged so that the direction in which the lattice spacing changes is perpendicular to the optical axis of the incident light. Then, the BG moving means 216 moves the Bragg grating 15 in the direction in which the lattice spacing changes, whereby the incident position on the Bragg grating 15 changes, and in this embodiment as well, the light source unit of the first embodiment As in the case of 10, the wavelength can be swept.
BG移動手段216としては、リニアモータ等の平行移動体にブラッグ・グレーティング15を設置して所定速度でブラッグ・グレーティング15を移動させるものなどを用いることができる。
As the
図3に、図2の光源ユニット210の変形例の光源ユニット211を示す。光源ユニット211は、光源ユニット210のブラッグ・グレーティング15の代わりに格子間隔が連続的ではなく階段状に変化する階段型ブラッグ・グレーティング215を用いたものであり、この場合は、時間に対して波長が階段状に変化するように波長変化させることができる。
FIG. 3 shows a
上記第1、第2の実施形態の光源ユニット10、210の波長掃引は、偏向手段13、またはBG移動手段216によるブラッグ・グレーティング15の往復運動のため、図4に示すように、最短波長λ1、から最長波長をλn、最長波長をλnから最短波長λ1となっている。つまり、掃引の周期T内の波長の掃引方向が、短波長から長波長、長波長から短波長の両方向となっている。半導体レーザ等を光増幅器として用いた波長可変光源では、文献「R. Huber et. al. “Three-dimensional and C-mode OCT imaging with a compact, frequency swept laser source at 1300 nm” OPTICS EXPRESS Vol. 13, No. 26, 10523-10538」に記載されているように、光増幅器の特性のために、発生する光のスペクトル分布の形状が波長の掃引方向によって大きな差異が生じるという不具合がある。以下に述べる第3、第4の実施形態の光源ユニットは、この点を考慮したものである。
The wavelength sweeping of the
次に、本発明の第3の実施形態による光源ユニット310について、図5を参照しながら説明する。光源ユニット310は、半導体レーザ11と、コリメートレンズ12と、偏向ミラー群313と、集光レンズ314と、ブラッグ・グレーティング群315とを備えている。
Next, a
偏向ミラー群313は、偏向手段として機能する2つの偏向ミラー313a、313bからなる。偏向ミラー313a、313bは共にガルバノミラー等の往復偏向ミラーであるが、偏向方向が略直交するように配置されており、偏向ミラー群313により偏向された光は2次元的に光走査することになる。本実施形態では、偏向ミラー313a、313bを交互に駆動させ、偏向ミラー313a、313bの一方の偏向ミラーの駆動による光走査終了後に他方の偏向ミラーを駆動させて光路を切替え、光が長方形の辺上を一方向に周回走査するようにしている。
The deflecting
ブラッグ・グレーティング群315は、波長選択手段として機能する2つのブラッグ・グレーティング315a、315bからなる。ブラッグ・グレーティング315a、315bは共に図1に示すブラッグ・グレーティング15と同様に、格子間隔が連続的に変化するように構成されたチャープ・ブラッグ・グレーティングであり、チャープの方向、すなわち格子間隔の変化方向が互いに逆向きになるように並列に隣接配置されている。そして、偏向ミラー313a、313bの光走査の長方形の長辺方向が、ブラッグ・グレーティング315a、315bの格子間隔の変化方向となるように配置されている。
The Bragg
光源ユニット310において、半導体レーザ11を射出した光は、コリメートレンズ12により平行光に変換され、偏向ミラー313a、偏向ミラー313bによりこの順に偏向され、集光レンズ314により集光された後、ブラッグ・グレーティング群315に入射し、ブラッグ・グレーティング315a、315bの上を長方形を描くように走査する。
In the
ここで、光が格子間隔の変化方向を走査しているときには半導体レーザ11を発光させ、光が格子間隔の変化方向に直交する方向を走査しているときには半導体レーザ11を発光させないようにしておけば、光源ユニット310における波長掃引は図6に示すようになる。つまり、ブラッグ・グレーティング315aとブラッグ・グレーティング315bは、チャープの方向が逆向きに配置されているため、戻り光は、最短波長λ1から最長波長λnへ変化するように常に短波長から長波長への一方向になる。したがって、光源ユニット310によれば、光増幅器が波長の掃引方向に依存して出力光のスペクトル形状に大きな差異を生じるものであっても、出力光のスペクトル形状を一定にすることができる。なお、波長掃引の方向は、上記方向に限定されず、長波長から短波長の方向でもよい。
Here, the
次に、本発明の第4の実施形態による光断層画像化装置について、図7を参照しながら説明する。光源ユニット410は、図2の光源ユニット210と比較すると、基本的に、図2のブラッグ・グレーティング15およびBG移動手段216をそれぞれ、回転体415の円盤上に設置されたブラッグ・グレーティング415a(図7の斜線部)およびBG回転手段416に置換したものである。
Next, an optical tomographic imaging apparatus according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Compared with the
BG回転手段416は、回転体415を、半導体レーザ11からの光の光軸と略平行な回転中心軸417の周りに回転させるものであり、相対移動手段として機能する。ブラッグ・グレーティング415aは、回転体415に回転中心軸417を中心とする円周方向に格子間隔が変化するように設けられたリング状のチャープ・ブラッグ・グレーティングであり、波長選択手段として機能する。BG回転手段416により、ブラッグ・グレーティング415aは、回転体415と一体的に回転する。
The BG
光源ユニット410において、半導体レーザ11を射出した光は、コリメートレンズ212により平行光に変換され、集光レンズ214により集光された後、ブラッグ・グレーティング415aに入射する。回転体415の回転に伴い、ブラッグ・グレーティング415aの格子間隔の異なる部分に光が入射し、戻り光の波長が変化して、波長掃引がなされる。
In the
回転体415の回転方向に対してブラッグ・グレーティング415aの格子間隔がなめらかに変化するよう構成すれば、回転体415の回転に伴い、戻り光の波長がなめらかに変化し、発振波長を掃引することができる。回転体415の高速回転により、高速な波長掃引が可能である。
If the lattice spacing of the Bragg grating 415a changes smoothly with respect to the rotation direction of the
また、ブラッグ・グレーティング415aからの反射光の波長の単調変化が複数回起こるように、回転体415が1周する間に、ブラッグ・グレーティング415aの格子間隔の単調変化が複数回起こるように構成しておけば、1周の間で複数回の波長掃引が行われるため、より高速な波長掃引が可能になる。その際には、前述した波長の掃引方向によって発生する光のスペクトル分布の形状に大きな差異が生じるという光増幅器の特性を考慮して、回転体415の回転による波長の掃引の方向が同一になるように構成されていることが望ましい。
Further, the monotonous change in the lattice spacing of the Bragg grating 415a occurs multiple times during the rotation of the
なお、円盤上に設けられたブラッグ・グレーティング415aについても、図3に示すブラッグ・グレーティング215のように階段状に格子間隔が変化するよう構成してもよい。 The Bragg grating 415a provided on the disk may also be configured such that the lattice spacing changes stepwise like the Bragg grating 215 shown in FIG.
次に、図8〜図11を参照しながら、ブラッグ・グレーティングの作製方法の例について説明する。まず、簡単のために、格子間隔が一定のブラッグ・グレーティングの作製方法について説明する。図8に示すように、単一の光源から射出した平行光の記録光70をプリズム等の光分割手段71により2つのビームに分割する。分割後の各光路にミラー72、73を配置して各ビームの光路を折り曲げて再び交わるようにし、この交点に感光体74を配置する。このとき、感光体74の法線が2つのビームの交差角の2等分線と一致するように配置する。このような配置により、感光体74内部で2つのビームが干渉して干渉縞が形成され、図9(A)に概念的に示すように、感光体74内部に回折格子が形成され、ブラッグ・グレーティングを作製することができる。この感光体74に所定の波長幅をもつ光Lが入射すると、図9(B)に示すように、このブラッグ・グレーティングがもつ選択波長の光LBのみを反射するようになる。
Next, an example of a method for manufacturing a Bragg grating will be described with reference to FIGS. First, for the sake of simplicity, a method for manufacturing a Bragg grating with a constant lattice spacing will be described. As shown in FIG. 8,
このときの記録波長(記録光の波長):λ、交差角:φとすると、感光体74に形成される格子間隔Λは下式(5)で与えられる。
垂直入射時を考えると、式(4)と式(5)から、λB=nλ/sin(φ/2)である。ここで、φ/2は感光体74の法線と感光体74へ入射するビームとのなす角であるからφ/2<π/2である。よって、sin(ψ/2)<1である。また、n>1である。以上より、選択波長(ブラッグ波長)λBは記録波長λより長くなる。記録波長を532nmとした場合、一般的なOCT装置に用いられる光源の波長1000nm程度の選択波長を得るにはφ/2=53°とすればよい。
Considering the case of normal incidence, λ B = nλ / sin (φ / 2) from the equations (4) and (5). Here, φ / 2 is an angle formed by the normal line of the
図1に示したようなチャープ・ブラッグ・グレーティングの作製方法としては、スリット状のビームを感光体74へのビームの入射角度を徐々に変えながら感光体に照射する方法が考えられるが、以下に説明する方法を使えば一括記録が可能である。
As a method for manufacturing the chirped Bragg grating as shown in FIG. 1, a method of irradiating the photosensitive member with a slit beam while gradually changing the incident angle of the beam to the
まず、図10に示すような、断面が三角形でその頂角が徐々に変化するプリズム75とフォトポリマー等の積層型の感光体76を用意する。このプリズム75の頂角に対向する面が、感光体76の入射面に密着するように配置して、プリズム75の両側から2つのビームに分割された記録光70を等角度で入射させる。感光体76への入射角はプリズム76の頂角の変化に沿って徐々に変化するため、感光体76に形成される干渉縞の間隔も徐々に変化していき、格子間隔が徐々に変化したチャープ・ブラッグ・グレーティングを作製することができる。
First, as shown in FIG. 10, a
また、図3に示すような階段型ブラッグ・グレーティングを作製する場合は、図11に示すような、頂角が階段状に変化するプリズム77を図10のプリズム75の代わりに用いればよい。
When a staircase type Bragg grating as shown in FIG. 3 is manufactured, a
なお、本発明に使用可能なブラッグ・グレーティングは上記作製方法で作製されたものに限定されず、如何なる方法で作製されたものであってもよい。 The Bragg grating that can be used in the present invention is not limited to the one produced by the above production method, and may be produced by any method.
なお、本発明の実施形態は上記実施形態に限定されず、発明の要旨を変更しない限りにおいて、種々の変形が可能である。例えば、第1の実施形態の光源ユニット10の代わりに、図12に示すような、コリメートレンズ12と半導体レーザ11の間に光ファイバ511と結合レンズ512を配置して、半導体レーザ11と偏向手段13の間を光ファイバで接続した構成の光源ユニット510を採用してもよい。
The embodiment of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without changing the gist of the invention. For example, instead of the
また、波長掃引を示す例として、図4および図6では、時間に対して波長が線形変化する例を挙げたが、時間に対する波長変化は、上記例に限定されるものではなく、例えば時間に対して波長の逆数が線形変化するようにしてもよく、任意に選択可能である。時間に対する波長変化は、ブラッグ・グレーティングの格子間隔の分布、または相対移動手段の速度変化等を適宜設定することにより、任意に選択可能である。 In addition, as an example showing the wavelength sweep, in FIGS. 4 and 6, an example in which the wavelength is linearly changed with respect to time is given. However, the wavelength change with respect to time is not limited to the above example. On the other hand, the reciprocal of the wavelength may change linearly, and can be arbitrarily selected. The wavelength change with respect to time can be arbitrarily selected by appropriately setting the distribution of the lattice spacing of the Bragg grating or the speed change of the relative moving means.
1 光断層画像化装置
2 光ファイバカプラ
3 光分割手段
4 合波手段
10 光源ユニット
11 半導体レーザ
11a、11b 射出端面
12 コリメートレンズ
13 偏向手段
14 集光レンズ
15、415a ブラッグ・グレーティング
20 光路長調整手段
30 プローブ
40 干渉光検出手段
40a、40b 光検出器
41 演算手段
50 画像取得手段
60 表示装置
216 BG移動手段
313 偏向ミラー群
315 ブラッグ・グレーティング群
415 回転体
416 BG回転手段
417 回転中心軸
L0 光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
S 測定対象
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical
Claims (7)
該光増幅手段からの光が入射され、入射位置に応じた波長の光を選択的に反射する波長選択手段と、
前記入射位置が変化するように、前記光増幅手段からの光と前記波長選択手段とを相対移動させる相対移動手段とを備え、
前記波長選択手段が、前記相対移動の方向に沿って格子間隔が変化するように構成されたブラッグ・グレーティングであることを特徴とする波長可変光源。 Optical amplification means;
Wavelength selecting means for receiving light from the light amplifying means and selectively reflecting light having a wavelength corresponding to the incident position;
Relative movement means for relatively moving the light from the light amplification means and the wavelength selection means so that the incident position changes,
The wavelength tunable light source, wherein the wavelength selection unit is a Bragg grating configured such that a grating interval changes along the relative movement direction.
前記ブラッグ・グレーティングが、前記回転体に、前記回転中心軸を中心とする円周方向に格子間隔が変化するように設けられたものであることを特徴とする請求項1記載の波長可変光源。 The relative movement means rotates the rotating body around a rotation center axis substantially parallel to an optical axis of light from the light amplification means;
2. The wavelength tunable light source according to claim 1, wherein the Bragg grating is provided on the rotating body so that a lattice interval changes in a circumferential direction centering on the rotation center axis.
前記掃引の方向が常に一方向であるように構成されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の波長可変光源。 The relative movement sweeps the wavelength of the reflected light from the Bragg grating,
6. The wavelength tunable light source according to claim 1, wherein the sweep direction is always one direction.
前記波長可変光源から射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。 The wavelength tunable light source according to any one of claims 1 to 6,
A light splitting means for splitting light emitted from the wavelength tunable light source into measurement light and reference light;
A multiplexing means for multiplexing the reflected light from the measurement object and the reference light when the measurement light is irradiated to the measurement object;
Interference light detection means for detecting interference light between the reflected light and the reference light multiplexed by the multiplexing means;
An optical tomographic imaging apparatus comprising: an image acquisition unit configured to acquire a tomographic image of the measurement target from the interference light detected by the interference light detection unit.
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