JP2008045912A - Voltage detection circuit, and timepiece equipped with the voltage detection circuit - Google Patents
Voltage detection circuit, and timepiece equipped with the voltage detection circuit Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明は、電圧検出回路、及びその電圧検出回路を備える時計に関する。 The present invention relates to a voltage detection circuit and a timepiece including the voltage detection circuit.
従来、時計などの携帯電子機器に実装されるマイクロコンピュータにおいては、電源電圧値と所定の電圧値(以下、比較電圧値とする)とを比較する電圧検出回路が内蔵され、電源電圧の変化等を検出し、その検出結果に応じて制御を行うものが知られている。
ここで、マイクロコンピュータとは、記憶装置、入出力装置、及び処理装置を備えて構成されるIC(Integraged Circuit)等をいう。
2. Description of the Related Art Conventionally, a microcomputer mounted on a portable electronic device such as a watch has a built-in voltage detection circuit that compares a power supply voltage value with a predetermined voltage value (hereinafter referred to as a comparison voltage value), and changes in power supply voltage, etc. Are known, and control is performed according to the detection result.
Here, the microcomputer refers to an integrated circuit (IC) that includes a storage device, an input / output device, and a processing device.
また、比較電圧値を所定数の電圧値(以下、選択電圧値とする)から選択することができる電圧検出回路も利用されている。例えば、特許文献1には集積回路上で実現される電圧検出回路が開示されており、比較電圧値を8個の選択電圧値から選択することができる。
これにより、例えば、比較電圧値を低い電圧値から高い電圧値に順次変更して電源電圧値と比較することにより、電源電圧値が、いずれの選択電圧値間の領域にあるのかを検出することができる。したがって、現在の電源電圧値に応じた制御を柔軟に行うことができる。
A voltage detection circuit that can select a comparison voltage value from a predetermined number of voltage values (hereinafter referred to as a selection voltage value) is also used. For example,
Thus, for example, by detecting the power supply voltage value in the region between the selected voltage values by sequentially changing the comparison voltage value from the low voltage value to the high voltage value and comparing it with the power supply voltage value. Can do. Therefore, control according to the current power supply voltage value can be flexibly performed.
ところで、携帯電子機器の電源には、ボタン電池のほか、太陽電池、回転錘を用いた発電機まで様々な電源が利用されている。そのため、電源電圧も1.5V、3Vなど様々であり、また、電源電圧が同じであっても、変化の特性が異なる場合もあるため、電圧検出回路には、それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値を備えることが求められている。 By the way, as a power source for portable electronic devices, various power sources such as a solar cell and a generator using a rotating weight are used in addition to a button battery. For this reason, the power supply voltage is various, such as 1.5V and 3V, and even if the power supply voltage is the same, the characteristics of the change may be different. It is required to provide a selection voltage value corresponding to the type or the like.
なお、電池の種類としては、マンガン、リチウム、酸化銀等の一次電池、マンガンカーボンリチウム、マンガンチタンリチウム、コバルトチタンリチウム等の二次電池が例として挙げられる。
また、携帯電子機器の種類としては、前述した時計のほか、腕時計、携帯電話、ノートパソコン等が例として挙げられる。
In addition, as a kind of battery, secondary batteries, such as primary batteries, such as manganese, lithium, silver oxide, manganese carbon lithium, manganese titanium lithium, cobalt titanium lithium, are mentioned as an example.
Examples of portable electronic devices include watches, mobile phones, notebook computers, and the like in addition to the above-described watches.
それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値を備えるには、例えば、特許文献1では、配線パターンを変更することにより、1つの選択電圧値に対して複数の電圧値を選択可能に集積回路を設計し、配線パターンを変更した複数の半導体マスクのオプションを用意しておく方法が考えられる。
これにより、それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じてオプションを選択して集積回路を製造することにより、電圧検出回路は、それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値を備えることができる。
For example, in
As a result, the integrated circuit is manufactured by selecting an option according to the type of each battery or portable electronic device, etc., so that the voltage detection circuit can select the selected voltage value according to the type of each battery or portable electronic device. Can be provided.
しかしながら、このような方法によると、集積回路の製造後においては新たに選択電圧値を変更することができないため、それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じて異なる集積回路が必要となり、電圧検出回路の汎用性に欠ける。
さらに、例えば、1つの選択電圧値に対して10個の電圧値を選択可能に集積回路を設計しておく場合には、用意する半導体マスクのオプション数が非常に多くなり、また、スペースの確保が困難なため現実的ではない。
However, according to such a method, since the selection voltage value cannot be newly changed after the integrated circuit is manufactured, a different integrated circuit is required depending on the type of each battery or portable electronic device. The versatility of the detection circuit is lacking.
Furthermore, for example, when an integrated circuit is designed so that ten voltage values can be selected with respect to one selection voltage value, the number of options of semiconductor masks to be prepared becomes very large, and space is secured. It is not realistic because it is difficult.
また、例えば、1つの選択電圧値に対して2〜3個の電圧値を選択可能に集積回路を設計しておく場合には、選択可能な2〜3個の電圧値の中に、比較電圧値としたい電圧値がない場合には、その選択電圧値は利用できず、選択電圧値の選択肢が少なくなる。
さらに、選択可能な2〜3個の電圧値の中に、比較電圧値としたい電圧値が2以上あった場合には、いずれかの電圧値しか選択電圧値として選択することができないため、他の電圧値を比較電圧値とすることができない。
For example, when an integrated circuit is designed so that two to three voltage values can be selected with respect to one selection voltage value, the comparison voltage is included in the selectable two to three voltage values. When there is no voltage value to be set as the value, the selected voltage value cannot be used, and the selection voltage value options are reduced.
Furthermore, if there are two or more voltage values that are to be set as comparison voltage values among the selectable voltage values, only one of the voltage values can be selected as the selection voltage value. Cannot be used as a comparison voltage value.
また、集積回路の検査をする際には、用意した半導体マスクのオプション数と同数の集積回路を製造し、これら全てについて検査する必要があり、製造効率が低下する。 Further, when inspecting the integrated circuit, it is necessary to manufacture the same number of integrated circuits as the number of options of the prepared semiconductor masks, and it is necessary to inspect all of them, which reduces the manufacturing efficiency.
本発明は、上述のような課題に鑑みてなされたものであり、製造後においても新たに選択電圧値を変更することができ、電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値の設定自由度が高く、汎用性の高い電圧検出回路及びその電圧検出回路を備える時計を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and the selection voltage value can be newly changed even after manufacturing, and the selection voltage value can be set according to the type of battery or portable electronic device. An object of the present invention is to provide a voltage detection circuit having a high degree of freedom and high versatility and a timepiece including the voltage detection circuit.
本発明の電圧検出回路は、選択候補となる複数の電圧値が記憶された選択候補電圧記憶手段と、前記複数の電圧値の中から所定数の電圧値を選択する電圧選択手段と、前記電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を選択電圧値として割り付ける選択電圧割付手段と、前記選択電圧値の中から検出対象の電圧値と比較する比較電圧値を設定する比較電圧設定手段と、前記検出対象電圧値と、前記比較電圧値とを比較する電圧比較手段とを備えて構成されることを特徴とする。 The voltage detection circuit according to the present invention includes a selection candidate voltage storage unit that stores a plurality of voltage values as selection candidates, a voltage selection unit that selects a predetermined number of voltage values from the plurality of voltage values, and the voltage A selection voltage allocating unit that allocates a predetermined number of voltage values selected by the selection unit as a selection voltage value; a comparison voltage setting unit that sets a comparison voltage value to be compared with a voltage value to be detected from the selection voltage value; It is characterized by comprising voltage comparison means for comparing the detection target voltage value with the comparison voltage value.
このような構成によれば、選択候補電圧記憶手段に記憶された複数の電圧値(以下、選択候補電圧値とする)の中から、例えば、プログラムにおいてフラグを立てること等により、電圧選択手段が所定数の電圧値を選択することができる。そして、選択電圧割付手段が、電圧選択手段により選択された所定数の電圧値を選択電圧値として割り付けることができる。
したがって、製造後においても新たに選択電圧値を変更することができ、汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。
According to such a configuration, the voltage selection means can be set by setting a flag in the program from among a plurality of voltage values stored in the selection candidate voltage storage means (hereinafter referred to as selection candidate voltage values). A predetermined number of voltage values can be selected. The selection voltage assigning unit can assign a predetermined number of voltage values selected by the voltage selection unit as the selection voltage value.
Therefore, the selection voltage value can be newly changed even after manufacture, and a highly versatile voltage detection circuit can be provided.
また、選択候補電圧記憶手段に選択候補電圧値が記憶され、電圧選択手段により、選択候補電圧値の中から比較電圧値としたい所定数、例えば、8個の電圧値を選択することができる。そして、選択電圧割付手段が、これら8個の電圧値を選択電圧値として割り付けることができる。すなわち、複数の半導体マスクのオプションを用意しておく方法と異なり、比較電圧値としたい電圧値を、選択候補電圧値の中から適切に選択して過不足なく選択電圧値とすることができる。さらに、1つの半導体マスクを用意すればよく、製造効率を高めることができる。
したがって、電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値の設定自由度が高く、汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。
Further, the selection candidate voltage value is stored in the selection candidate voltage storage means, and the voltage selection means can select a predetermined number, for example, eight voltage values to be used as the comparison voltage value from the selection candidate voltage values. The selection voltage assigning means can assign these eight voltage values as the selection voltage values. That is, unlike the method of preparing a plurality of semiconductor mask options, a voltage value to be used as a comparison voltage value can be appropriately selected from selection candidate voltage values to be a selection voltage value without excess or deficiency. Furthermore, it is only necessary to prepare one semiconductor mask, and the manufacturing efficiency can be increased.
Therefore, it is possible to provide a highly versatile voltage detection circuit with a high degree of freedom in setting a selection voltage value according to the type of battery or portable electronic device.
本発明では、前記選択電圧割付手段は、前記電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を、昇順、または降順に並べて選択電圧値として割り付けることが好ましい。
例えば、選択電圧割付手段が、電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を順不同で選択電圧値として割り付けた場合、比較電圧値を低い電圧値から高い電圧値に順次変更して電源電圧値と比較することにより、電源電圧値が、いずれの選択電圧値間の領域にあるのかを検出するようなプログラムにおいては、マクロ等により電圧値の順序を変更する必要がある。さらに、このようなプログラムは、電池や携帯電子機器の種類等に応じて別々のプログラムを作成しなければならず、効率的ではない。
In the present invention, it is preferable that the selection voltage allocating unit arranges a predetermined number of voltage values selected by the voltage selecting unit in ascending or descending order and allocates the selected voltage values as selection voltage values.
For example, when the selection voltage allocating unit allocates a predetermined number of voltage values selected by the voltage selection unit as selection voltage values in random order, the comparison voltage value is sequentially changed from a low voltage value to a high voltage value to supply voltage value In a program for detecting which power supply voltage value is in which region between the selected voltage values by comparing with the above, it is necessary to change the order of the voltage values by a macro or the like. Furthermore, such a program must be created separately according to the type of battery, portable electronic device, and the like, and is not efficient.
しかしながら、このような構成によれば、選択電圧割付手段が、電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を、昇順、または降順に並べて選択電圧値として割り付けるから、前述のようなプログラムにおいても、マクロ等により電圧値の順序を変更する必要がなく命令数を減少させることができる。さらに、電池や携帯電子機器の種類等が異なる場合であっても同一のプログラムを利用することができ、効率的なプログラムを作成することができる。 However, according to such a configuration, the selection voltage assigning means arranges a predetermined number of voltage values selected by the voltage selection means in ascending order or descending order and assigns them as selection voltage values. The number of instructions can be reduced without having to change the order of voltage values by using a macro or the like. Furthermore, even if the types of batteries and portable electronic devices are different, the same program can be used, and an efficient program can be created.
本発明では、前記選択電圧割付手段は、前記複数の電圧値を半数に分割して高電圧群、及び低電圧群とする選択候補電圧分割部と、前記高電圧群に属する電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択される電圧値を、大きい順に選択電圧値として割り付ける高電圧群割付部と、前記低電圧群に属する電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択される電圧値を、小さい順に選択電圧値として割り付ける低電圧群割付部とを備えて構成され、前記高電圧群割付部は、前記高電圧群に属する電圧値を降順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、各電圧値を割り付ける際には、当該割り付ける電圧値よりも大きい電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択されない電圧値の数だけ、前記初期位置から大きい電圧値の方向へシフトした位置に割り付け、前記低電圧群割付部は、前記低電圧群に属する電圧値を昇順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、各電圧値を割り付ける際には、当該割り付ける電圧値よりも小さい電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択されない電圧値の数だけ、前記初期位置から小さい電圧値の方向へシフトした位置に割り付けることが好ましい。 In the present invention, the selection voltage allocating means divides the plurality of voltage values in half to select a high voltage group and a low voltage group as a selection candidate voltage dividing unit, and among the voltage values belonging to the high voltage group, A high voltage group allocating unit that allocates voltage values selected by the voltage selection unit as selection voltage values in descending order, and a voltage value selected by the voltage selection unit among the voltage values belonging to the low voltage group is small. A low voltage group allocating unit that sequentially allocates as a selected voltage value, and the high voltage group allocating unit arranges voltage values belonging to the high voltage group in descending order, and sets an initial position according to the sequence, When assigning each voltage value, among the voltage values larger than the assigned voltage value, the number of voltage values not selected by the voltage selection means is shifted to a position shifted from the initial position toward the larger voltage value. The low voltage group assigning unit arranges the voltage values belonging to the low voltage group in ascending order, sets an initial position according to the order, and assigns each voltage value to the assigned voltage value. Of the small voltage values, the number of voltage values not selected by the voltage selection means is preferably allocated to positions shifted from the initial position in the direction of small voltage values.
このような構成によれば、高電圧群割付部と、低電圧群割付部とを同一のアルゴリズムで実現することができるから、例えば、同一の回路を使用して効率的に電圧選択手段により選択される高電圧群、及び低電圧群に属する電圧値を選択電圧値として割り付けることができ、回路規模を縮小することができる。
また、選択候補電圧分割部が、選択候補電圧値を半数に分割して高電圧群、及び低電圧群とするから、選択候補電圧値を半数に分割していない場合と比較して、初期位置からのシフト数を少なくすることができ、回路規模を縮小することができる。
According to such a configuration, the high voltage group allocating unit and the low voltage group allocating unit can be realized by the same algorithm. For example, the voltage selection unit can efficiently select the voltage using the same circuit. The voltage values belonging to the high voltage group and the low voltage group can be assigned as selection voltage values, and the circuit scale can be reduced.
In addition, since the selection candidate voltage dividing unit divides the selection candidate voltage value in half to obtain a high voltage group and a low voltage group, the initial position is compared with the case where the selection candidate voltage value is not divided in half. The number of shifts from can be reduced, and the circuit scale can be reduced.
本発明では、前記選択候補電圧記憶手段には、前記複数の電圧値が、当該複数の電圧値が属する電圧系統ごとに記憶され、前記電圧選択手段は、前記各電圧系統に属する複数の電圧値の中から電圧系統ごとに所定数の電圧値を選択し、前記選択電圧割付手段は、前記電圧選択手段により選択される電圧系統ごとの所定数の電圧値を選択電圧値として割り付け、前記比較電圧設定手段は、前記各電圧系統の中から1つの電圧系統を選択するとともに、当該電圧系統に属する選択電圧値の中から検出対象の電圧値と比較する比較電圧値を設定することが好ましい。 In the present invention, the selection candidate voltage storage means stores the plurality of voltage values for each voltage system to which the plurality of voltage values belong, and the voltage selection means includes a plurality of voltage values belonging to each voltage system. A predetermined number of voltage values are selected for each voltage system, and the selection voltage allocating unit allocates a predetermined number of voltage values for each voltage system selected by the voltage selection unit as a selection voltage value, and the comparison voltage The setting means preferably selects one voltage system from the voltage systems and sets a comparison voltage value to be compared with the voltage value to be detected from the selected voltage values belonging to the voltage system.
このような構成によれば、例えば、選択候補電圧記憶手段に、1.5V系、及び3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値が記憶されている場合には、比較電圧設定手段が、1.5V系、及び3V系の電圧系統からいずれかの電圧系統を選択することができる。すなわち、電池や携帯電子機器の種類等に応じて電源電圧が異なる場合であっても、電源電圧に応じて電圧系統を選択することができ、さらに汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。 According to such a configuration, for example, when the selection candidate voltage values belonging to the 1.5V system and 3V system voltage systems are stored in the selection candidate voltage storage unit, the comparison voltage setting unit has 1 Any one of the voltage systems can be selected from the 5V system and the 3V system. That is, even when the power supply voltage differs depending on the type of battery or portable electronic device, the voltage system can be selected according to the power supply voltage, and a more versatile voltage detection circuit can be provided. it can.
本発明の時計は、前述した電圧検出回路と、前記電圧検出回路の検出結果に基づいて制御を行う制御手段とを備えて構成されることを特徴とする。
このような構成によれば、時計が、前述した電圧検出回路を備えているから、それぞれの電池や時計の種類等が異なる場合であっても、同一の電圧検出回路を備えて構成することができ、例えば、時計の構造設計、周辺回路設計、及びソフトウェア設計などを容易にすることができる。
The timepiece of the present invention includes the voltage detection circuit described above and a control unit that performs control based on the detection result of the voltage detection circuit.
According to such a configuration, since the timepiece includes the voltage detection circuit described above, the same voltage detection circuit can be configured even if the types of batteries and timepieces are different. For example, the structure design of the watch, the peripheral circuit design, the software design, and the like can be facilitated.
また、例えば、電波修正時計のように、電波の受信を行う時計においては、受信感度を高めるために、通常の時計と比較して3V程度の高い電源電圧を使用することが好ましい。一方、通常の時計の場合には、入手し易い1.5V程度の電源電圧でよい。
このような場合であっても、時計が、前述した電圧検出回路を備えているから、電波修正時計のような高い電源電圧を使用することが好ましい時計であっても、通常の時計であっても、同一の電圧検出回路を備えて構成することができる。
For example, in a timepiece that receives radio waves, such as a radio-controlled timepiece, it is preferable to use a power supply voltage that is about 3 V higher than that of a normal timepiece in order to increase reception sensitivity. On the other hand, in the case of a normal timepiece, an easily available power supply voltage of about 1.5V may be used.
Even in such a case, since the timepiece includes the voltage detection circuit described above, even a timepiece that preferably uses a high power supply voltage such as a radio-controlled timepiece is an ordinary timepiece. The same voltage detection circuit can be provided.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の実施形態における時計に実装されるマイクロコンピュータを示す図である。
マイクロコンピュータ1は、処理装置としてのCPU(Central Processing Unit)2と、記憶装置としてのROM(Read Only Memory)3、及びRAM(Random Access Memory)4と、周辺回路5と、マイクロコンピュータ1に電源を供給する電池6と、水晶振動子7と、マイクロコンピュータ1を外部デバイスと接続する入出力装置としての各種ポート8とを備えて構成される。
なお、ROM3としては、マスクROM、EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM)、フラッシュROM等が例として挙げられる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a microcomputer mounted on a timepiece according to an embodiment of the present invention.
The
Examples of
CPU2、ROM3、及びRAM4は、プログラムを実行して周辺回路5を動作させる。
なお、本実施形態においては、制御手段は、CPU2、ROM3、及びRAM4により構成される。
周辺回路5は、周辺回路5の各回路を制御するための情報を記憶する周辺回路制御レジスタ51と、電圧検出回路としてのSVD(Supply Voltage Detector)回路52と、水晶振動子7が接続され、マイクロコンピュータ1を動作させるクロックを生成するとともに、生成したクロックを周辺回路5の各回路に供給する発振回路53とを備える。
なお、プログラムにより、CPU2は、データバス9を介して周辺回路制御レジスタ51にデータの書き込み、読み出しを行う。
The
In the present embodiment, the control means is constituted by the
The
The
また、周辺回路5には、前述した回路の他、定電圧発生回路、分周回路、入力ポート回路、出力ポート回路、入出力ポート回路、モーター回路、LCD回路、ストップウォッチ回路、タイマー回路、ブザー回路等の様々な回路を備えている。
なお、本実施形態においては、周辺回路制御レジスタ51と、SVD回路52の動作について主に説明し、その他の回路の動作については説明を省略する。
The
In the present embodiment, operations of the peripheral
次に、周辺回路制御レジスタ51、及びSVD回路52の動作について、図2〜図6を参照して説明する。
なお、本実施形態においては、電圧検出回路は、周辺回路制御レジスタ51、及びSVD回路52により構成される。
周辺回路制御レジスタ51は、図2に示すように、SVDDT511と、SVDON512と、SVDSX513と、SVDCHG514と、選択候補電圧記憶手段としてのS15VXXX515、及びS3VXXX516とを備える。
Next, operations of the peripheral
In the present embodiment, the voltage detection circuit includes a peripheral
As shown in FIG. 2, the peripheral circuit control register 51 includes
SVDDT511には、電圧比較手段が、比較電圧値と、検出対象電圧値とを比較した結果がラッチされる。なお、本実施形態では、検出対象電圧値として電池6の電源電圧を検出する。
SVDON512は、電圧比較手段に電源電圧値と、比較電圧値との比較を実行させる。
SVDSX513は、選択電圧値の中から検出対象電圧値と比較する比較電圧値を設定する設定情報を記憶する。
SVDCHG514は、1.5V系の電圧系統に属する選択電圧値と、3V系の電圧系統に属する選択電圧値とを選択する選択情報を記憶する。
In
The
The
The
S15VXXX515は、1.5V系の電圧系統に属する選択候補電圧値を記憶する。
S3VXXX516は、3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値を記憶する。
なお、SVDSX513のXには、データビット番号0〜2が付され、S15VXXX515、及びS3VXXX516のXXXには、選択候補電圧値の小数点を除いた数字が付されている。
S15VXXX515 stores selection candidate voltage values belonging to the 1.5V system voltage system.
Note that data bit
周辺回路制御レジスタ51の各データビットは、図3のレジスタマップに示すように、アドレスFF04H〜FF65HのデータビットD0〜D3に対応付けられている。
図3は、周辺回路制御レジスタ51のSVD回路に関する部分のレジスタマップであり、縦方向に各アドレス値を、横方向にレジスタの各データビット、及び注釈を表示したものである。
Each data bit of the peripheral circuit control register 51 is associated with data bits D0 to D3 of addresses FF04H to FF65H as shown in the register map of FIG.
FIG. 3 is a register map of a portion related to the SVD circuit of the peripheral
各データビットの下部位置には、各データビットの属性(R:読み出し可、W:書き込み可)が記載されている。
また、注釈には、図3中左からデータビット名、Init(データビット値の初期値)、データビット値が1の時の状態、データビット値が0の時の状態、及びコメントが記載されている。
At the lower position of each data bit, the attribute of each data bit (R: read enabled, W: write enabled) is described.
Also, in the annotation, the data bit name, Init (initial value of the data bit value), the state when the data bit value is 1, the state when the data bit value is 0, and the comment are described from the left in FIG. ing.
例えば、アドレスFF04HのデータビットD3は、データビット名がSVDCHGであり、読み出し、書き込みが可能なデータビットである。また、SVDCHGは、SVD電圧系選択のためのデータビットであり、データビット値が0の時は、1.5V系の電圧系統に属する選択電圧値を選択し、データビット値が1の時は、3V系の電圧系統に属する選択電圧値を選択する。なお、データビット値の初期値は0である。 For example, the data bit D3 of the address FF04H is a data bit whose name is SVDCHG and can be read and written. SVDCHG is a data bit for selecting the SVD voltage system. When the data bit value is 0, the selection voltage value belonging to the 1.5V system voltage system is selected, and when the data bit value is 1, A selection voltage value belonging to the 3V system voltage system is selected. The initial value of the data bit value is 0.
図3に示すレジスタマップ上では、SVDDT511はFF05HのD1に、SVDON512はFF05HのD0に、SVDSX513はFF04HのD0〜D2に、SVDCHG514はFF04HのD3に、S15VXXX515は、FF60H〜FF61HのD0〜D3、及びFF62HのD0〜D1に、S3VXXX516は、FF62HのD2〜D3、及びFF63H〜FF65HのD0〜D3にそれぞれ該当する。 On the register map shown in FIG. 3, SVDDT511 is D1 of FF05H, SVDON512 is D0 of FF05H, SVDCSX513 is D0 to D2 of FF04H, SVDCHG514 is D3 of FF04H, S15VXXX515 is D0 to D3 of FF60H to FF61H, S3VXXX516 corresponds to D2 to D3 of FF62H and D0 to D3 of FF63H to FF65H, respectively.
ここで、1.5V系の電圧系統に属する選択候補電圧値は、S15VXXX515のFF60HのD0からFF62HのD1に昇順に記憶されている。また、3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値は、S3VXXX516のFF62HのD2からFF65HのD3に昇順に記憶されている。
なお、本実施形態では、その他のデータビットについては説明を省略する。
Here, the selection candidate voltage values belonging to the 1.5V system voltage system are stored in ascending order from D0 of FF60H of S15VXXX515 to D1 of FF62H. The selection candidate voltage values belonging to the 3V system voltage system are stored in ascending order from D2 of FF62H of S3VXXX516 to D3 of FF65H.
In the present embodiment, description of other data bits is omitted.
SVD回路52は、図2に示すように、電圧選択手段としての電圧選択回路521と、選択電圧割付手段としての選択電圧割付回路522と、比較電圧設定手段としての比較電圧設定回路523と、電圧比較手段としての電圧比較回路524と、トランジスタ525とを備えて構成される。
電圧選択回路521は、S15VXXX515、及びS3VXXX516に記憶された選択候補電圧値の中から所定数の電圧値を選択する。具体的には、電圧選択回路521は、S15VXXX515、及びS3VXXX516のデータビット値が1の電圧値を選択する。なお、本実施形態では、所定数は「8」であり、S15VXXX515、及びS3VXXX516のデータビット値が1の電圧値の数は各8個とする必要がある。
As shown in FIG. 2, the
The
例えば、データビット値が初期値のままであったとすれば、電圧選択回路521は、1.5V系の電圧系統に属する電圧値として、1.05V、1.1V、1.15V、1.2V、1.25V、1.3V、1.4V、及び1.5Vを選択する。また、電圧選択回路521は、同様に3V系の電圧系統に属する電圧値として、1.7V、1.8V、1.9V、2.0V、2.1V、2.3V、2.6V、及び2.7Vを選択する。
For example, if the data bit value remains the initial value, the
一方、初期値以外の所定数の電圧値を選択する場合には、プログラムにより、CPU2が、データバス9を介してS15VXXX515、及びS3VXXX516の選択する電圧値に対応する各データビット値に1を、選択しない電圧値に対応する各データビット値に0をそれぞれ書き込むことにより、電圧選択回路521が選択する電圧値を変更することができる。すなわち、電池6や時計の種類等に応じて、プログラムにより、所定数の電圧値を選択することができる。
On the other hand, when a predetermined number of voltage values other than the initial value are selected, the program causes the
選択電圧割付回路522は、選択候補電圧分割部5221と、高電圧群割付部5222と、低電圧群割付部5223とを備える。
以下、3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値を例として選択電圧割付回路522の動作を詳述する。ここで、図4のデータビット値欄が示すように、電圧選択回路521により3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値の中から1.8V、2.0V、2.2V、2.3V、2.35V、2.5V、2.6V、及び2.7Vの電圧値が選択されたものとする。
The selection
Hereinafter, the operation of the selection
選択候補電圧分割部5221は、選択候補電圧値を半数に分割して高電圧群、及び低電圧群とする。すなわち、図4に示すように、3V系の電圧系統に属する選択候補電圧値を分割した場合には、14個の選択候補電圧値を7個ごとに分け、2.7V〜2.3Vまでを高電圧群、2.25V〜1.7Vまでを低電圧群として分割する。
ここで、説明のため、図4の記号欄が示すように、高電圧群には電圧値の高いほうからA〜Gの記号を付し、低電圧群には電圧値の低いほうからa〜gの記号を付す。
The selection candidate
Here, for explanation, as shown in the symbol column of FIG. 4, symbols A to G are assigned to the high voltage group from the higher voltage value, and a to The symbol g is attached.
高電圧群割付部5222は、まず、高電圧群に属する電圧値を降順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、電圧選択回路521により選択される電圧値を大きい順に割り付ける。
ここで、本実施形態においては、SVDSX513のビット値(位置)の大きい順に、電圧選択回路521により選択される電圧値を大きい順に選択電圧値として割り付ける。すなわち、図5に示すように、2.7V〜2.3Vまでの各電圧値の初期位置は、SVDSX513のビット値7〜1となる(図5中白丸で表示)。
The high voltage
Here, in the present embodiment, the voltage values selected by the
なお、図5に示す矢印は、各電圧値におけるSVDSX513に選択電圧値として割付可能な範囲を示している。例えば、2.5Vの電圧値は、SVDSX513のビット値4が初期位置であり、SVDSX513のビット値4〜7に選択電圧値として割付可能であることを示している。
Note that the arrows shown in FIG. 5 indicate ranges that can be assigned as selection voltage values to
図6は、選択電圧割付回路522による割り付け例を示す図である。ここで、電圧選択回路521により選択される電圧値は、その数値が枠で囲まれている。また、各電圧値が選択電圧値として割り付けられるSVDSX513のビット値は、図6中黒丸で表示されている。
高電圧群割付部5222は、図6に示すように、各電圧値を割り付ける際には、割り付ける電圧値よりも大きい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数だけ、初期位置から大きい電圧値の方向へシフトした位置に割り付ける。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of assignment by the selection
As shown in FIG. 6, the high voltage
なお、図4に示すように、AB間、DE間、ab間、及びde間には半加算器が接続され、この半加算器からは、各2つのデータビット値に含まれる1の数が出力される。
また、A〜C間、D〜F間、a〜c間、及びd〜f間には全加算器が接続され、この全加算器からは、各3つのデータビット値に含まれる1の数が出力される。
As shown in FIG. 4, half adders are connected between AB, DE, ab, and de. From this half adder, the number of 1s included in each of the two data bit values is as follows. Is output.
A full adder is connected between A and C, between D and F, between a and c, and between d and f. From this full adder, the number of 1s included in each of three data bit values Is output.
したがって、半加算器、及び全加算器に入力されるデータビット値の数は既知であるから、半加算器、及び全加算器に入力されるデータビット値に含まれる0の数、すなわち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数を求めることができる。
Therefore, since the number of data bit values input to the half adder and the full adder is known, the number of 0s included in the data bit value input to the half adder and the full adder, that is, the voltage The number of voltage values not selected by the
以下、高電圧群割付部5222が、電圧選択回路521により選択される高電圧群に属する電圧値を選択電圧値として割り付ける手順について詳述する。
まず、2.7Vを割り付ける際、2.7Vよりも大きい電圧値がないため、そのまま初期位置であるSVDSX513のビット値7に割り付ける。
Hereinafter, a procedure in which the high voltage
First, when 2.7V is assigned, since there is no voltage value larger than 2.7V, it is assigned as it is to the
次に、2.6Vの電圧値を割り付ける際、2.6Vよりも大きい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はAB間の半加算器の出力により求められ、1つ(2.65V)である。
したがって、2.6Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値5から大きい電圧値の方向へ1つシフトしてSVDSX513のビット値6に割り付ける。
Next, when allocating a voltage value of 2.6V, the number of voltage values not selected by the
Therefore, the
次に、2.5Vの電圧値を割り付ける際、2.5Vよりも大きい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はA〜C間の全加算器の出力により求められ、1つ(2.65V)である。
したがって、2.5Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値4から大きい電圧値の方向へ1つシフトしてSVDSX513のビット値5に割り付ける。
Next, when allocating a voltage value of 2.5 V, the number of voltage values not selected by the
Accordingly, the
次に、2.35Vの電圧値を割り付ける際、2.35Vよりも大きい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はA〜C間の全加算器の出力、及びDE間の半加算器の出力により求められ、2つ(2.65V、及び2.4V)である。
したがって、2.35Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値2から大きい電圧値の方向へ2つシフトしてSVDSX513のビット値4に割り付ける。
Next, when allocating a voltage value of 2.35V, among the voltage values larger than 2.35V, the number of voltage values not selected by the
Therefore, the
次に、2.3Vの電圧値を割り付ける際、2.3Vよりも大きい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はA〜C間の全加算器の出力、及びD〜F間の全加算器の出力により求められ、2つ(2.65V、及び2.4V)である。
したがって、2.3Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値1から大きい電圧値の方向へ2つシフトしてSVDSX513のビット値3に割り付ける。
Next, when allocating a voltage value of 2.3 V, among the voltage values greater than 2.3 V, the number of voltage values not selected by the
Therefore, the
低電圧群割付部5223は、まず、低電圧群に属する電圧値を昇順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、電圧選択回路521により選択される電圧値を小さい順に割り付ける。
ここで、本実施形態においては、SVDSX513のビット値(位置)の小さい順に、電圧選択回路521により選択される電圧値を小さい順に選択電圧値として割り付ける。すなわち、図5に示すように、1.7V〜2.25Vまでの各電圧値の初期位置は、SVDSX513のビット値0〜6となる(図5中白丸で表示)。
The low voltage
Here, in the present embodiment, the voltage values selected by the
低電圧群割付部5223は、図6に示すように、各電圧値を割り付ける際には、割り付ける電圧値よりも小さい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数だけ、初期位置から小さい電圧値の方向へシフトした位置に割り付ける。
As shown in FIG. 6, the low voltage
以下、低電圧群割付部5223が、電圧選択回路521により選択される低電圧群に属する電圧値を選択電圧値として割り付ける手順について詳述する。
まず、1.8Vの電圧値を割り付ける際、1.8Vよりも小さい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はab間の半加算器の出力により求められ、1つ(1.7V)である。
したがって、1.8Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値1から小さい電圧値の方向へ1つシフトしてSVDSX513のビット値0に割り付ける。
Hereinafter, a procedure in which the low voltage
First, when allocating a voltage value of 1.8 V, the number of voltage values not selected by the
Therefore, the
次に、2.0Vの電圧値を割り付ける際、2.0Vよりも小さい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はa〜c間の全加算器の出力により求められ、2つ(1.7V、及び1.9V)である。
したがって、2.0Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値3から小さい電圧値の方向へ2つシフトしてSVDSX513のビット値1に割り付ける。
Next, when assigning a voltage value of 2.0 V, the number of voltage values not selected by the
Therefore, the
次に、2.2Vの電圧値を割り付ける際、2.2Vよりも小さい電圧値のうち、電圧選択回路521により選択されない電圧値の数はa〜c間の全加算器の出力、及びde間の半加算器の出力により求められ、3つ(1.7V、1.9V、及び2.1V)である。
したがって、2.2Vの電圧値の初期位置であるSVDSX513のビット値5から小さい電圧値の方向へ3つシフトしてSVDSX513のビット値2に割り付ける。
Next, when assigning a voltage value of 2.2V, among the voltage values smaller than 2.2V, the number of voltage values not selected by the
Accordingly, the
したがって、選択電圧割付回路522により、SVDSX513のビット値0〜7に、1.8V、2.0V、2.2V、2.3V、2.35V、2.5V、及び2.7Vの各選択電圧値が昇順に割り付けられる。
Therefore, the selection
比較電圧設定回路523は、SVDSX513、及びSVDCHG514のデータビット値に基づいて比較電圧値を設定する。
例えば、データビット値が初期値のままであったとすれば、電圧選択回路521、及び選択電圧割付回路522により、SVDSX513のビット値0〜7に、1.5V系の電圧系統に属する電圧値として、1.05V、1.1V、1.15V、1.2V、1.25V、1.3V、1.4V、及び1.5Vの各選択電圧値が昇順に割り付けられ、同様に3V系の電圧系統に属する電圧値として、1.7V、1.8V、1.9V、2.0V、2.1V、2.3V、2.6V、及び2.7Vの各選択電圧値が昇順に割り付けられる。
The comparison
For example, if the data bit value remains the initial value, the
そして、比較電圧設定回路523は、SVDCHG514のデータビット値が0であるから、1.5V系の電圧系統に属する選択電圧値を選択し、FF04HのD0〜D2が全て0であるから、SVDSX513のビット値は0となり、1.5V系の電圧系統に属する選択電圧値の中からSVDSX513のビット値0に対応した1.05Vを比較電圧値として設定する。
Then, since the data bit value of
電圧比較回路524は、SVDON512に1が書き込まれると、トランジスタ525が導通することにより、電池6の電源電圧値と、比較電圧設定回路523により設定された比較電圧値(1.05V)とを比較する。そして、電圧比較回路524は、比較結果をSVDDT511にラッチする。なお、本実施形態においては、電源電圧値が比較電圧値未満の場合には、SVDDT511は1にラッチされ、電源電圧値が比較電圧値以上の場合には、SVDDT511は0にラッチされる。
したがって、CPU2が、プログラムにより、SVDDT511を読み出すことにより、電源電圧値と比較電圧値とを比較した結果を検出することができる。
When 1 is written to the
Therefore, the
前記実施形態に係るマイクロコンピュータ1によれば、次のような効果がある。
(1)S15VXXX515、及びS3VXXX516に記憶された選択候補電圧値の中から、プログラムにより、電圧選択回路521が8個の電圧値を選択することができる。そして、選択電圧割付回路522が、電圧選択回路521により選択された所定数の電圧値を選択電圧値として割り付けることができるから、製造後においても新たに選択電圧値を変更することができ、汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。また、複数の半導体マスクのオプションを用意しておく方法と異なり、比較電圧値としたい電圧値を、選択候補電圧値の中から適切に選択して過不足なく選択電圧値とすることができる。さらに、1つの半導体マスクを用意すればよく、製造効率を高めることができる。したがって、電池や携帯電子機器の種類等に応じた選択電圧値の設定自由度が高く、汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。
The
(1) The
(2)選択電圧割付回路522は、電圧選択回路521により選択される所定数の電圧値を昇順に並べてSVDSX513に選択電圧値として割り付けることができる。これにより、電源電圧値が、いずれの選択電圧値間の領域にあるのかを検出するようなプログラムにおいても、マクロ等により電圧値の順序を変更する必要がなく命令数を減少させることができる。さらに、電池や携帯電子機器の種類等が異なる場合であっても同一のプログラムを利用することができ、効率的なプログラムを作成することができる。
(2) The selection
(3)高電圧群割付部5222と、低電圧群割付部5223とを同一のアルゴリズムで実現することができるから、例えば、同一の回路を使用して効率的に電圧選択回路521により選択される高電圧群、及び低電圧群に属する電圧値をSVDSX513に選択電圧値として割り付けることができ、回路規模を縮小することができる。
(4)選択候補電圧分割部5221が、選択候補電圧値を半数に分割して高電圧群、及び低電圧群とするから、選択候補電圧値を半数に分割していない場合と比較して、シフト数を少なくすることができ、回路規模を縮小することができる。
(3) Since the high voltage
(4) Since the selection candidate
(5)比較電圧設定回路523が、1.5V系、及び3V系の電圧系統からいずれかの電圧系統を選択することができる。すなわち、電池や携帯電子機器の種類等に応じて電源電圧が異なる場合であっても、電源電圧に応じて電圧系統を選択することができ、さらに汎用性の高い電圧検出回路を提供することができる。
(5) The comparison
(6)マイクロコンピュータ1は、電圧検出回路を備えているから、マイクロコンピュータ1を時計に実装することにより、時計に実装される電池の電源電圧が異なる場合であっても、同一のマイクロコンピュータを備えて構成することができ、例えば、時計の構造設計、周辺回路設計、及びソフトウェア設計などを容易にすることができる。さらに、電波修正時計のような高い電源電圧を使用することが好ましい時計であっても、通常の時計であっても、同一の電圧検出回路を備えて構成することができる。
(6) Since the
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、本実施形態においては、S15VXXX515、及びS3VXXX516により記憶された選択候補電圧値は、1.5V系が10個、3V系が14個の電圧値であったが、これ以外の電圧値であっても、これ以上の数があってもよく、要するに、それぞれの電池や携帯電子機器の種類等に応じて記憶すればよい。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and modifications, improvements, etc. within a scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
For example, in the present embodiment, the selection candidate voltage values stored by S15VXXX515 and S3VXXX516 are 10 voltage values for the 1.5V system and 14 voltage values for the 3V system. However, there may be more than this, and in short, it may be stored according to the type of each battery or portable electronic device.
また、選択電圧割付回路522は、電圧選択回路521により選択される1.5V系、及び3V系の各電圧値を昇順に並べて周辺回路制御レジスタ51のSVDSX513に選択電圧値として割り付けていたが、降順に並べて割り付けてもよく、要するに、マクロ等により電圧値の順序を変更する必要がなく命令数を減少させることができ、効率的なプログラムを作成することができればよい。
In addition, the selection
さらに、選択電圧割付回路522は、電圧選択回路521により選択される1.5V系、及び3V系の各電圧値を順不同に割り付けてもよく、要するに、複数の電圧値の中から所定数の電圧値を選択して選択電圧値として割り付けることができればよい。
また、選択電圧割付回路522は、電圧選択回路521により選択される1.5V系、及び3V系の各電圧値を順不同に割り付けた場合には、マクロ等により各電圧値を昇順、または降順に並べてもよく、要するに、例えば、電源電圧値が、いずれの選択電圧値間の領域にあるのかを検出するようなプログラムを作成することができればよい。
Further, the selection
In addition, the selection
また、選択電圧割付回路522は、選択候補電圧分割部5221と、高電圧群割付部5222と、低電圧群割付部5223とにより構成されていたが、他の構成で実現してもよく、要するに、電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を選択電圧値として割り付けることができればよい。
The selection
また、電圧系統は、1.5V系、及び3V系のみであったが、これ以外の電圧系統を周辺回路制御レジスタ51に記憶させてもよく、さらに多数の電圧系統を周辺回路制御レジスタ51に記憶させてもよく、要するに、電圧系統を選択することができればよい。
さらに、電圧系統は、選択することができなくてもよく、要するに、電源系統が1つであっても、この電源系統に属する複数の電圧値の中から所定数の電圧値を選択して選択電圧値として割り付けることができればよい。
Further, although the voltage system is only 1.5V system and 3V system, other voltage systems may be stored in the peripheral
Further, the voltage system may not be selectable. In short, even if there is only one power supply system, a predetermined number of voltage values are selected and selected from among a plurality of voltage values belonging to this power supply system. What is necessary is just to be able to allocate as a voltage value.
また、電圧検出回路は、時計に実装されるマイクロコンピュータに内蔵されていたが、他の電子機器に実装してもよく、要するに、電圧検出回路を実装可能な電子機器であればよい。 Further, the voltage detection circuit is built in the microcomputer mounted on the watch, but may be mounted on other electronic devices. In short, any electronic device that can mount the voltage detection circuit may be used.
1…マイクロコンピュータ、2…CPU、3…ROM、4…RAM、5…周辺回路、6…電池、8…各種ポート、51…周辺回路制御レジスタ、52…SVD回路、511…SVDDT、512…SVDON、513…SVDSX、514…SVDCHG、515…S15VXXX、516…S3VXXX、521…電圧選択回路、522…選択電圧割付回路、523…比較電圧設定回路、524…電圧比較回路、5221…選択候補電圧分割部、5222…高電圧群割付部、5223…低電圧群割付部。
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記複数の電圧値の中から所定数の電圧値を選択する電圧選択手段と、
前記電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を選択電圧値として割り付ける選択電圧割付手段と、
前記選択電圧値の中から検出対象の電圧値と比較する比較電圧値を設定する比較電圧設定手段と、
前記検出対象電圧値と、前記比較電圧値とを比較する電圧比較手段とを備えて構成されることを特徴とする電圧検出回路。 Selection candidate voltage storage means in which a plurality of voltage values to be selection candidates are stored;
Voltage selection means for selecting a predetermined number of voltage values from the plurality of voltage values;
Selection voltage assigning means for assigning a predetermined number of voltage values selected by the voltage selection means as selection voltage values;
Comparison voltage setting means for setting a comparison voltage value to be compared with the voltage value to be detected from the selected voltage value;
A voltage detection circuit comprising voltage comparison means for comparing the detection target voltage value with the comparison voltage value.
前記選択電圧割付手段は、前記電圧選択手段により選択される所定数の電圧値を、昇順、または降順に並べて選択電圧値として割り付けることを特徴とする電圧検出回路。 The voltage detection circuit according to claim 1,
The selection voltage allocating unit arranges a predetermined number of voltage values selected by the voltage selection unit in ascending or descending order and allocates the selected voltage values as selection voltage values.
前記選択電圧割付手段は、前記複数の電圧値を半数に分割して高電圧群、及び低電圧群とする選択候補電圧分割部と、
前記高電圧群に属する電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択される電圧値を、大きい順に選択電圧値として割り付ける高電圧群割付部と、
前記低電圧群に属する電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択される電圧値を、小さい順に選択電圧値として割り付ける低電圧群割付部とを備えて構成され、
前記高電圧群割付部は、前記高電圧群に属する電圧値を降順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、各電圧値を割り付ける際には、当該割り付ける電圧値よりも大きい電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択されない電圧値の数だけ、前記初期位置から大きい電圧値の方向へシフトした位置に割り付け、
前記低電圧群割付部は、前記低電圧群に属する電圧値を昇順に並べ、その順序に応じて初期位置を設定し、各電圧値を割り付ける際には、当該割り付ける電圧値よりも小さい電圧値のうち、前記電圧選択手段により選択されない電圧値の数だけ、前記初期位置から小さい電圧値の方向へシフトした位置に割り付けることを特徴とする電圧検出回路。 The voltage detection circuit according to claim 2,
The selection voltage allocating means divides the plurality of voltage values into half to select a high-voltage group and a low-voltage group as a selection candidate voltage dividing unit;
Among the voltage values belonging to the high voltage group, a high voltage group allocating unit that allocates the voltage values selected by the voltage selecting means as the selected voltage value in descending order;
Among the voltage values belonging to the low voltage group, a voltage value selected by the voltage selection means is configured to include a low voltage group allocating unit that allocates the selected voltage value in ascending order.
The high voltage group allocating unit arranges voltage values belonging to the high voltage group in descending order, sets an initial position according to the order, and assigns each voltage value to a voltage value larger than the assigned voltage value. Of these, the number of voltage values not selected by the voltage selection means is allocated to a position shifted from the initial position toward a larger voltage value,
The low voltage group allocating unit arranges voltage values belonging to the low voltage group in ascending order, sets an initial position according to the order, and assigns each voltage value to a voltage value smaller than the assigned voltage value. Among these, the voltage detection circuit is assigned to positions shifted from the initial position toward a smaller voltage value by the number of voltage values not selected by the voltage selection means.
前記選択候補電圧記憶手段には、前記複数の電圧値が、当該複数の電圧値が属する電圧系統ごとに記憶され、
前記電圧選択手段は、前記各電圧系統に属する複数の電圧値の中から電圧系統ごとに所定数の電圧値を選択し、
前記選択電圧割付手段は、前記電圧選択手段により選択される電圧系統ごとの所定数の電圧値を選択電圧値として割り付け、
前記比較電圧設定手段は、前記各電圧系統の中から1つの電圧系統を選択するとともに、当該電圧系統に属する選択電圧値の中から検出対象の電圧値と比較する比較電圧値を設定することを特徴とする電圧検出回路。 The voltage detection circuit according to any one of claims 1 to 3,
In the selection candidate voltage storage means, the plurality of voltage values are stored for each voltage system to which the plurality of voltage values belong,
The voltage selection means selects a predetermined number of voltage values for each voltage system from a plurality of voltage values belonging to each voltage system,
The selection voltage allocation means allocates a predetermined number of voltage values for each voltage system selected by the voltage selection means as selection voltage values,
The comparison voltage setting means selects one voltage system from each of the voltage systems, and sets a comparison voltage value to be compared with a voltage value to be detected from selected voltage values belonging to the voltage system. A characteristic voltage detection circuit.
前記電圧検出回路の検出結果に基づいて制御を行う制御手段とを備えて構成されることを特徴とする時計。 A voltage detection circuit according to any one of claims 1 to 4,
A timepiece comprising control means for performing control based on a detection result of the voltage detection circuit.
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