JP2008032540A - Surface shape measuring apparatus and method for detecting anomaly of stylus load - Google Patents

Surface shape measuring apparatus and method for detecting anomaly of stylus load Download PDF

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JP2008032540A JP2006206436A JP2006206436A JP2008032540A JP 2008032540 A JP2008032540 A JP 2008032540A JP 2006206436 A JP2006206436 A JP 2006206436A JP 2006206436 A JP2006206436 A JP 2006206436A JP 2008032540 A JP2008032540 A JP 2008032540A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent a stylus and a pickup from being broken due to excessive loads acting on the stylus by detecting anomalies of loads acting the stylus in a surface shape measuring apparatus having the stylus which comes into contact with surfaces of objects to be measured. <P>SOLUTION: The surface shape measuring apparatus 1 for measuring the surface shape of an object to be measured W by relatively moving the stylus 11 as keeping the stylus 11 in contact with a surface of the object to be measured W, detecting displacements of the stylus 11 caused by irregularities of the surface of the object to be measured W, and creating displacement signals, includes a stylus-load-anomaly detection part 62 for detecting anomalies in changes in the displacement signals as anomalies in loads actin on the stylus 11. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、触針を被測定物の表面に接触させながら相対移動させ、このとき被測定物の表面の起伏により生じる触針の変位を検出した変位信号を生成して、被測定物の表面形状を測定する表面形状測定装置に関し、特にこの触針、若しくは触針の変位を検出するピックアップ部の破損を防止する技術に関する。   In the present invention, the stylus is moved relative to the surface of the object to be measured, and at this time, a displacement signal is generated by detecting the displacement of the stylus caused by the undulation of the surface of the object to be measured, The present invention relates to a surface shape measuring apparatus for measuring a shape, and more particularly, to a technique for preventing damage to the stylus or a pickup unit that detects displacement of the stylus.

表面形状測定装置は、被測定物の表面に所定の測定圧力で触針を押しつけながら、この触針と被測定物を相対移動させ、そのとき被測定物の表面の起伏により生じる触針の変位量を電気信号に変換して、電気信号に変換された変位信号をコンピュータ等の計算機で読み取り、被測定物に対する触針の相対移動長の長さを有する線分上の各点に、順次読み取った各変位量を配置して、被測定物の表面形状データを作成するものである(例えば、下記特許文献1)。図1に、表面形状測定装置の基本構成を示す。   The surface shape measuring device moves the stylus and the object to be measured while pressing the stylus against the surface of the object to be measured with a predetermined measurement pressure, and the displacement of the stylus caused by the undulation of the surface of the object to be measured at that time. The amount is converted into an electrical signal, the displacement signal converted into an electrical signal is read by a computer or other computer, and sequentially read at each point on the line segment having the relative movement length of the stylus with respect to the object to be measured. Each displacement amount is arranged to create surface shape data of an object to be measured (for example, Patent Document 1 below). FIG. 1 shows a basic configuration of the surface shape measuring apparatus.

表面形状測定装置1には、被測定物を載置するためのXY平面に沿ったテーブル2が設けられる。テーブル2にはコラム3が立設される。そしてコラム3には可動部4が取り付けられる。コラム3には図示しないモータが内蔵されており、このモータによって可動部4をコラム3に沿って(すなわちZ方向に沿って)上下に昇降することが可能である。
可動部4にはホルダ5が設けられ、このホルダ5に腕部10を取り付け、さらに腕部10の先にピックアップ6を取り付ける。可動部4もまた図示しないモータを内蔵しており、ホルダ5をX方向に駆動することが可能である。
The surface shape measuring apparatus 1 is provided with a table 2 along the XY plane for placing an object to be measured. A column 3 is erected on the table 2. A movable portion 4 is attached to the column 3. The column 3 incorporates a motor (not shown), and the motor can move the movable portion 4 up and down along the column 3 (that is, along the Z direction).
The movable part 4 is provided with a holder 5, an arm part 10 is attached to the holder 5, and a pickup 6 is attached to the tip of the arm part 10. The movable part 4 also incorporates a motor (not shown), and the holder 5 can be driven in the X direction.

腕部10の先端には、テーブル2上に載置された被測定物の表面粗さを測定するための測定子(ピックアップ)6が設けられ、このピックアップ6には、一方の端に触針11が設けられたカンチレバー7が取り付けられる。図2にピックアップの内部構造を示す。
ピックアップ6は、カンチレバー7の長手方向と触針11の突出方向とに直角な方向を回転軸としてカンチレバー7を揺動可能に支える支点21と、カンチレバー7に付勢を与え、触針11を一定の測定圧力で被測定物Wの測定面103に押し当てるための、バネ等の弾性体である付勢手段22と、を備える。
A measuring element (pickup) 6 for measuring the surface roughness of the object to be measured placed on the table 2 is provided at the tip of the arm 10, and the pickup 6 has a stylus at one end. A cantilever 7 provided with 11 is attached. FIG. 2 shows the internal structure of the pickup.
The pickup 6 has a fulcrum 21 that supports the cantilever 7 so as to be swingable about a direction perpendicular to the longitudinal direction of the cantilever 7 and the protruding direction of the stylus 11, and urges the cantilever 7 to keep the stylus 11 constant. And an urging means 22 that is an elastic body such as a spring for pressing against the measurement surface 103 of the workpiece W with the measurement pressure.

触針11を測定面103を押し当てた状態で、表面形状測定装置1の動作を制御するコンピュータ等の計算部40が、移動機構駆動回路50を介して駆動部4をX方向に一定速度で移動させる。すると触針11には、測定面103の起伏に応じて、付勢手段22による測定圧力の方向に変位が生じる(すなわち、可動部4の所定の基準面に対して上下方向に変位が生じる)。この触針11の変位によってカンチレバー7が揺動し、この揺動量がピックアップ6内の差動トランスによって電気信号に変換される。   While the stylus 11 is pressed against the measurement surface 103, the calculation unit 40 such as a computer that controls the operation of the surface shape measuring apparatus 1 moves the driving unit 4 at a constant speed in the X direction via the moving mechanism driving circuit 50. Move. Then, the stylus 11 is displaced in the direction of the measurement pressure by the urging means 22 according to the undulation of the measurement surface 103 (that is, the displacement is caused in the vertical direction with respect to a predetermined reference surface of the movable portion 4). . The cantilever 7 swings due to the displacement of the stylus 11, and the swing amount is converted into an electric signal by the differential transformer in the pickup 6.

図示の構成例では、差動トランスは、励磁された1次コイル23と、2つの2次コイル25と、その中心部に挿入された磁性体コア26を備えて構成され、磁性体コア26はカンチレバー7に固定される。触針11の変位に応じてカンチレバーが回転すると、これに応じて磁性体コア26がコイル内で移動し、1次コイル23に対する2つの2次コイル25のそれぞれの相互インダクタンスが変化する。このため2つの2次コイル25の誘導電圧に違いが生じ、コアの移動量すなわち触針11の変位量に応じた出力電圧を得ることができる。差動トランスの代わりに差動インダクタンス、レーザ干渉計や光学エンコーダが用いられることもある。   In the illustrated configuration example, the differential transformer is configured to include an excited primary coil 23, two secondary coils 25, and a magnetic core 26 inserted in the center thereof. It is fixed to the cantilever 7. When the cantilever rotates in accordance with the displacement of the stylus 11, the magnetic core 26 moves in the coil accordingly, and the mutual inductances of the two secondary coils 25 with respect to the primary coil 23 change. For this reason, a difference occurs between the induced voltages of the two secondary coils 25, and an output voltage corresponding to the amount of movement of the core, that is, the amount of displacement of the stylus 11 can be obtained. A differential inductance, a laser interferometer, or an optical encoder may be used instead of the differential transformer.

ピックアップ6の出力信号は、アナログディジタル変換回路(ADC)30に入力されて、アナログディジタル変換回路30はこのアナログ信号を所定のサンプリング周期でディジタル形式の変位信号列に変換する。
ディジタル形式の変位信号列は計算機40に入力される。計算機40は、可動部4を一定速度で移動させながら順次読み取った各変位信号の値を、可動部4の移動長の長さを有する線分上の各点に各々配置して被測定物の表面形状データを作成する。
The output signal of the pickup 6 is input to an analog / digital conversion circuit (ADC) 30. The analog / digital conversion circuit 30 converts the analog signal into a digital displacement signal string at a predetermined sampling period.
A digital displacement signal train is input to the computer 40. The calculator 40 arranges the values of the displacement signals sequentially read while moving the movable part 4 at a constant speed at each point on the line segment having the length of the movable part 4 to move the measured object. Create surface shape data.

特開2002−107144号公報JP 2002-107144 A 特開平2005−127934号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-127934

上述のような、触針11を被測定物に接触させる表面形状測定装置1では、被測定物の表面に穴や段差があるとそこに触針11がひっかかり、触針11に過大な荷重が作用する場合がある。しかし従来の表面形状測定装置1では触針11に作用する荷重の検出手段を有しないため、触針11に過大な荷重が作用したまま可動部4やコラム3を駆動し続けてしまい、触針11を破損することがある。   In the surface shape measuring apparatus 1 for bringing the stylus 11 into contact with the object to be measured as described above, if there is a hole or a step on the surface of the object to be measured, the stylus 11 is caught there, and an excessive load is applied to the stylus 11. May work. However, since the conventional surface shape measuring apparatus 1 does not have a means for detecting the load acting on the stylus 11, the movable portion 4 and the column 3 continue to be driven with an excessive load acting on the stylus 11, and the stylus 11 may be damaged.

特に図3の(A)に示すように、被測定物Wの横穴101の内側面の表面形状を測定する場合には、図において点線で示した測定開始点まで触針を移動する場合に、触針11を穴101の奥にぶつけて破損しやすい。
また図3の(B)に示すように、被測定物Wの表面に穴102がある場合に、触針11が穴102に落ちてしまい、これに引っかかって触針11を破損することがある。
In particular, as shown in FIG. 3A, when measuring the surface shape of the inner surface of the horizontal hole 101 of the workpiece W, when moving the stylus to the measurement start point indicated by the dotted line in the figure, The stylus 11 hits the back of the hole 101 and is easily damaged.
Further, as shown in FIG. 3B, when the hole 102 is present on the surface of the workpiece W, the stylus 11 falls into the hole 102 and may be caught by the stylus 11 to be damaged. .

また従来の表面形状測定装置1では、測定中でない触針11の移動時、例えば測定開始点まで触針11の移動の際には、ピックアップ6の出力信号を監視していないため、このような移動時に触針11を障害物にぶつけて、触針11やピックアップ6を破損することがあった。
上記問題点に鑑み、本発明は被測定物の表面に接触する触針を有する表面形状測定装置において、触針に作用する荷重の異常を検出することを可能にすることにより、触針に作用する過大な荷重による触針やピックアップの破損を防止することを目的とする。
Further, since the conventional surface shape measuring apparatus 1 does not monitor the output signal of the pickup 6 when the stylus 11 is not being measured, for example, when the stylus 11 is moved to the measurement start point, such an output signal is not monitored. When moving, the stylus 11 hits against an obstacle, and the stylus 11 and the pickup 6 may be damaged.
In view of the above problems, the present invention is a surface shape measuring device having a stylus that contacts the surface of an object to be measured. The purpose is to prevent damage to the stylus and pickup due to excessive load.

上記目的を達成するために本発明では、触針に作用する荷重の異常を検出するために触針の変位量を検出した変位信号を用いる。
触針が正常に測定面上を移動している場合には、触針の変位量を検出した変位信号の値は、その変動範囲や変化率はある一定程度の範囲内に止まっている。一方で、触針が測定面上の凹凸などに引っかかっている場合や障害にぶつかっている場合などの触針に過大な荷重が作用する異常時には、例えば変位信号の変化が少なくなり、または例えば通常生じえない大きさの変化が生じる。
したがって、このような変位信号の異常を検出することにより、上記の例のような触針に過大な荷重が作用する状態を検出することができる。
In order to achieve the above object, the present invention uses a displacement signal obtained by detecting the displacement of the stylus in order to detect an abnormality in the load acting on the stylus.
When the stylus is moving normally on the measurement surface, the value of the displacement signal for detecting the displacement amount of the stylus remains within a certain range of the fluctuation range and rate of change. On the other hand, when the stylus is caught by irregularities on the measurement surface or when it hits an obstacle, for example, when the load is excessively applied to the stylus, for example, the change of the displacement signal is reduced or, for example, normal A change in size that cannot occur.
Therefore, by detecting such an abnormality in the displacement signal, it is possible to detect a state in which an excessive load is applied to the stylus as in the above example.

本発明の第1形態による表面形状測定装置によれば、触針を被測定物の表面に接触させながら相対移動させ、このとき被測定物の表面の起伏により生じる触針の変位を検出した変位信号を生成して、被測定物の表面形状を測定する表面形状測定装置であって、変位信号の変化の異常を、触針に作用する荷重の異常として検出する触針荷重異常検出部を備えた表面形状測定装置が提供される。   According to the surface shape measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention, the displacement is detected by moving the stylus while making contact with the surface of the object to be measured, and detecting the displacement of the stylus caused by the undulation of the surface of the object to be measured. A surface shape measuring device that generates a signal and measures the surface shape of an object to be measured, and includes a stylus load abnormality detection unit that detects an abnormality in a displacement signal as an abnormality in a load acting on the stylus. An apparatus for measuring the surface shape is provided.

また、本発明の第2形態による触針荷重の異常検出方法によれば、触針を被測定物の表面に接触させながら相対移動させ、このとき被測定物の表面の起伏により生じる触針の変位を検出した変位信号を生成して、被測定物の表面形状を測定する表面形状測定において、変位信号の変化の異常を、触針に作用する荷重の異常として検出する。   Further, according to the stylus load abnormality detection method according to the second aspect of the present invention, the stylus is moved relative to the surface of the object to be measured while being in contact with the surface of the object to be measured. In the surface shape measurement for measuring the surface shape of the object to be measured by generating a displacement signal in which the displacement is detected, an abnormal change in the displacement signal is detected as an abnormal load acting on the stylus.

触針に作用する荷重の異常を検出した場合には、例えば被測定物と触針とを相対移動させる移動機構を停止させる。これにより触針やその変位量を検出するセンサの破損を防止することができる。
変位信号の変化の異常を検出するために、例えば、変位信号を周波数領域信号に変換し、この周波数領域信号の変化が所定の許容幅を超えるとき、変位信号の変化に異常があると判定してもよい。
触針が正常に測定面上を移動している場合には、触針の移動速度と測定面の粗さに応じて変位信号に所定の周波数範囲内の周波数成分が生じ周波数領域信号の変化が安定しているが、上記のような異常な状態が生じると周波数領域信号の変化が大きくなるため、このような周波数領域信号の変化を検出することで、触針に作用する荷重の異常を検出することが可能となる。
When an abnormality in the load acting on the stylus is detected, for example, a moving mechanism that moves the object to be measured and the stylus relatively is stopped. This can prevent damage to the stylus and the sensor that detects the amount of displacement.
In order to detect an abnormal change in the displacement signal, for example, the displacement signal is converted into a frequency domain signal, and when the change in the frequency domain signal exceeds a predetermined allowable range, it is determined that the change in the displacement signal is abnormal. May be.
When the stylus is moving normally on the measurement surface, a frequency component within a predetermined frequency range is generated in the displacement signal according to the moving speed of the stylus and the roughness of the measurement surface, and the frequency domain signal changes. Although it is stable, if an abnormal condition such as that described above occurs, the change in the frequency domain signal will increase, and by detecting such a change in the frequency domain signal, an abnormality in the load acting on the stylus can be detected. It becomes possible to do.

所定の許容幅は、周波数領域信号に含まれる、所定の周波数帯域よりも低い周波数信号成分の許容強度範囲として定めてよい。このとき所定の周波数帯域を、触針を被測定物の表面の起伏に沿わせながら触針と被測定物とを相対移動させたとき周波数領域信号に生じることが予定される信号の周波数の範囲として定めてよい。
また、周波数領域信号の所定の変化幅を、最大強度の周波数成分がある周波数の許容周波数範囲として定めてもよい。
The predetermined allowable range may be defined as an allowable intensity range of a frequency signal component included in the frequency domain signal and lower than a predetermined frequency band. At this time, the predetermined frequency band is the frequency range of the signal that is expected to occur in the frequency domain signal when the stylus and the object to be measured are moved relative to each other while keeping the stylus along the undulation of the surface of the object to be measured. May be defined as
Further, the predetermined change width of the frequency domain signal may be determined as an allowable frequency range of a frequency having a frequency component having the maximum intensity.

図2に示すカンチレバーのような、揺動可能なレバー部材で触針を支持し、このレバー部材の揺動量を検出して変位信号を生成する場合には、例えば触針が測定表面に引っかかり又は障害物にぶつかったままの状態で触針を移動させようとすると、レバー部材が歪んでその揺動量を検出した変位信号の変化が過大になる。したがってこのときの変位信号の微分値が所定の閾値を超えるか否かを判定することによって、触針に作用する荷重の異常を検出することが可能となる。この微分値に代えて変位信号の移動平均値の微分値を使用してもよい。   When the stylus is supported by a swingable lever member such as the cantilever shown in FIG. 2 and the displacement signal is generated by detecting the swing amount of the lever member, for example, the stylus is caught on the measurement surface or If an attempt is made to move the stylus while striking an obstacle, the lever member is distorted and the displacement signal detected by detecting the amount of oscillation becomes excessive. Therefore, by determining whether or not the differential value of the displacement signal at this time exceeds a predetermined threshold value, it is possible to detect an abnormality in the load acting on the stylus. Instead of this differential value, a differential value of the moving average value of the displacement signal may be used.

本発明は被測定物の表面に接触する触針を有する表面形状測定装置において、触針に作用する荷重の異常を検出することを可能にすることにより、触針に作用する過大な荷重による触針やピックアップの破損を防止することが可能となる。   The present invention provides a surface shape measuring apparatus having a stylus that is in contact with the surface of an object to be measured, thereby enabling detection of an abnormality in a load acting on the stylus, thereby detecting a touch caused by an excessive load acting on the stylus. It becomes possible to prevent breakage of the needle and the pickup.

以下、添付する図面を参照して本発明の実施例を説明する。図4の(A)は、図1及び図2に示す表面形状測定装置を制御して、本発明による表面形状測定装置を実現する計算部の概略構成例を示す図である。本発明の実施例による表面形状測定装置のその他の構成要素は、図1及び図2に示す表面形状測定装置1と同様であるため、記載の重複を防ぐために説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 4A is a diagram illustrating a schematic configuration example of a calculation unit that controls the surface shape measuring apparatus illustrated in FIGS. 1 and 2 to realize the surface shape measuring apparatus according to the present invention. The other components of the surface shape measuring apparatus according to the embodiment of the present invention are the same as those of the surface shape measuring apparatus 1 shown in FIGS.

コンピュータ等で実現される計算部40は、表面形状測定装置1の制御プログラムや、またピックアップ6からの出力信号を処理して表面形状データを作成するプログラムなどを実行するCPU41と、CPU41による各プログラムの実行に必要なデータを記憶するための、RAM及びROMなどの主記憶装置42と、CPU41が実行する各プログラムや作成した表面形状データを保存するための副記憶装置43と、ピックアップ6からの出力信号をアナログディジタル変換回路30にてディジタル信号に変換した変位信号を計算部40に入力し、また可動部4の動作を制御する制御信号を移動機構駆動回路50に出力するためのインターフェース部(I/F)44と、を備えて構成される。   The calculation unit 40 realized by a computer or the like includes a CPU 41 that executes a control program for the surface shape measuring apparatus 1 and a program that processes output signals from the pickup 6 to create surface shape data, and each program by the CPU 41. A main storage device 42 such as a RAM and a ROM for storing data necessary for the execution of the program, a sub storage device 43 for storing each program executed by the CPU 41 and the created surface shape data, and a pickup 6 A displacement signal obtained by converting the output signal into a digital signal by the analog-digital conversion circuit 30 is input to the calculation unit 40, and an interface unit for outputting a control signal for controlling the operation of the movable unit 4 to the moving mechanism drive circuit 50 ( I / F) 44.

図4の(B)は、図4の(A)に示す計算部40により実現される機能ブロック図である。計算部40は、副記憶装置43に記憶した所定のプログラムをCPU41で実行することにより、少なくとも表面形状データ作成部60と、移動機構制御部61と、触針荷重異常検出部62の機能ブロックを実現する。
表面形状データ作成部60は、ピックアップ6の移動に伴って変化する変位信号の列を順次入力し、ピックアップ6の移動長の長さの線分上の各点に、これら入力した変位信号の値を順次配置して、被測定物の表面形状データを作成する。
FIG. 4B is a functional block diagram realized by the calculation unit 40 shown in FIG. The calculation unit 40 executes a predetermined program stored in the secondary storage device 43 by the CPU 41, thereby at least functional blocks of the surface shape data creation unit 60, the movement mechanism control unit 61, and the stylus load abnormality detection unit 62. Realize.
The surface shape data creation unit 60 sequentially inputs a sequence of displacement signals that change with the movement of the pickup 6, and values of the input displacement signals are input to each point on the line segment of the movement length of the pickup 6. Are sequentially arranged to create surface shape data of the object to be measured.

移動機構制御部61は、コラム3及び可動部4を駆動して触針11を測定開始位置まで運搬させ、また測定中は可動部4を一定速度で駆動するための移動機構制御命令を生成して移動機構駆動回路50に供給する。また移動機構制御部61は、表面形状データの作成に必要な可動部4の移動量やX座標値などのデータを、表面形状データ作成部60に供給する。   The movement mechanism control unit 61 drives the column 3 and the movable part 4 to carry the stylus 11 to the measurement start position, and generates a movement mechanism control command for driving the movable part 4 at a constant speed during the measurement. To the moving mechanism drive circuit 50. Further, the movement mechanism control unit 61 supplies the surface shape data creation unit 60 with data such as the amount of movement of the movable unit 4 and the X coordinate value necessary for creating the surface shape data.

触針荷重異常検出部62は、移動機構制御部61がコラム3又は可動部4を駆動していることを示す動作信号を受信して、移動機構制御部61がコラム3又は可動部4を駆動している間、変位信号を監視する。そして変位信号の変化の異常を検出したとき、触針11に作用する荷重の異常があったことを示す触針荷重異常信号を生成し、表面形状データ作成部60及び移動機構制御部61に出力する。触針荷重異常信号を受信した表面形状データ作成部60は表面形状データの作成を停止し、触針荷重異常信号を受信した移動機構制御部61はコラム3又は可動部4の駆動を停止する。
なお、本実施例では、これらの機能ブロック60〜62を、CPU41が所定のプログラムを実行することによって実現されるソフトウエアモジュールとして実現したが、これらの機能の一部又はその全部を専用のハードウエア回路により実現してもよい。
The stylus load abnormality detection unit 62 receives an operation signal indicating that the movement mechanism control unit 61 is driving the column 3 or the movable unit 4, and the movement mechanism control unit 61 drives the column 3 or the movable unit 4. The displacement signal is monitored during the operation. When an abnormality in the displacement signal is detected, a stylus load abnormality signal indicating that there is an abnormality in the load acting on the stylus 11 is generated and output to the surface shape data creation unit 60 and the movement mechanism control unit 61. To do. The surface shape data creation unit 60 that has received the stylus load abnormality signal stops the creation of the surface shape data, and the movement mechanism control unit 61 that has received the stylus load abnormality signal stops driving the column 3 or the movable unit 4.
In the present embodiment, these functional blocks 60 to 62 are realized as software modules that are realized by the CPU 41 executing a predetermined program. However, some or all of these functions are dedicated hardware. It may be realized by a wear circuit.

図5の(A)は触針荷重異常検出部62の第1構成例を示す図である。触針荷重異常検出部62は、ピックアップ6から出力された変位信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしたディジタル信号の列である変位信号列を、周波数領域信号に変換する高速フーリエ変換部(FFT)71と、この周波数領域信号により示される各周波数における信号強度のうち、所定の周波数帯よりも低い周波数成分の信号強度を検出する低周波数成分強度測定部72と、検出した信号強度を所定の強度閾値Tfiと比較する比較部73と、検出した信号強度が閾値Tfiより強いとき、変位信号の変化の異常があったと判定し、触針11に作用する荷重の異常が生じたことを示す触針荷重異常信号を生成する触針荷重異常信号生成部74と、を備える。   FIG. 5A is a diagram illustrating a first configuration example of the stylus load abnormality detection unit 62. The stylus load abnormality detection unit 62 converts a displacement signal sequence, which is a sequence of digital signals obtained by sampling the displacement signal output from the pickup 6 at a predetermined sampling period, into a frequency domain signal, and a fast Fourier transform unit (FFT) 71. And a low frequency component strength measuring unit 72 for detecting a signal strength of a frequency component lower than a predetermined frequency band out of signal strengths at each frequency indicated by the frequency domain signal, and the detected signal strength as a predetermined strength threshold value. The comparison unit 73 that compares with Tfi, and when the detected signal intensity is stronger than the threshold value Tfi, it is determined that there is an abnormality in the change of the displacement signal, and a stylus load indicating that an abnormality in the load acting on the stylus 11 has occurred. A stylus load abnormality signal generation unit 74 that generates an abnormality signal.

ここで高速フーリエ変換部(FFT)71には、移動機構制御部61から動作信号を受信している間はずっと動作して周波数領域信号を生成するため、触針荷重異常検出部62は、表面形状測定装置1が表面形状を測定している間だけでなく、触針11をコラム3及び可動部4により移動させている間、常時触針11に作用する荷重に異常が生じたか否かを監視する。
以下、図6の(A)及び図6の(B)、図7の(A)〜図7の(C)、図8の(A)〜図8の(C)、並びに図9を参照して、図5に示す触針荷重異常検出部62による、触針荷重の異常検出方法を説明する。
Here, since the fast Fourier transform unit (FFT) 71 generates a frequency domain signal by operating while receiving an operation signal from the moving mechanism control unit 61, the stylus load abnormality detection unit 62 Whether or not the load acting on the stylus 11 is always abnormal while the stylus 11 is moved by the column 3 and the movable part 4 as well as while the shape measuring device 1 measures the surface shape. Monitor.
6 (A) and FIG. 6 (B), FIG. 7 (A) to FIG. 7 (C), FIG. 8 (A) to FIG. 8 (C), and FIG. A stylus load abnormality detection method by the stylus load abnormality detection unit 62 shown in FIG. 5 will be described.

図6の(A)はカンチレバー7を引いているときに触針11が凹凸に引っかかった様子を示す図であり、図6の(B)は図6の(A)の状態で現れる変位信号のグラフである。
図6の(A)において、カンチレバー7を引く動作の際に触針11が被測定物Wの凹凸に引っかかると点線で示すように触針11がせり上がりこれによってカンチレバー7が上を向いたままとなる。
このため変位信号は、図6の(B)に示すように触針11が被測定物Wの凹凸に引っかかる時刻t1以前には被測定物Wの表面の起伏に沿って増減を繰り返すところ、時刻t1以降では、信号値が急激に上昇したまま減少しなくなる。
FIG. 6A is a view showing a state in which the stylus 11 is caught by the projections and depressions when the cantilever 7 is pulled, and FIG. 6B shows a displacement signal that appears in the state of FIG. It is a graph.
In FIG. 6A, when the stylus 11 is caught by the unevenness of the workpiece W during the pulling operation of the cantilever 7, the stylus 11 rises as indicated by a dotted line, and the cantilever 7 remains upward. It becomes.
For this reason, as shown in FIG. 6B, the displacement signal repeatedly increases and decreases along the undulations on the surface of the workpiece W before time t1 when the stylus 11 is caught by the unevenness of the workpiece W. After t1, the signal value does not decrease while rapidly increasing.

図7の(A)は横穴の奥に触針をぶつけた様子を示す図であり、図7の(B)はカンチレバーを押しているときに触針が凹凸に引っかかった様子を示す図であり、図7の(C)は図7の(A)及び図7の(C)の状態で現れる変位信号のグラフである。
図7の(A)及び図7の(B)に示す状態では、カンチレバー7が下側に凸に曲がる。これをカンチレバー7の揺動を検出するピックアップ6側から見ると、カンチレバー7が下を向いたままの状態と同じになる。このため変位信号は、図7の(C)に示すように信号値が急激に減少したまま上昇しなくなる。
(A) in FIG. 7 is a diagram showing a state in which the stylus is hit against the back of the horizontal hole, and (B) in FIG. 7 is a diagram showing a state in which the stylus is caught by the unevenness when the cantilever is pressed. FIG. 7C is a graph of the displacement signal that appears in the states of FIG. 7A and FIG.
In the state shown in FIG. 7A and FIG. 7B, the cantilever 7 is bent convexly downward. When this is seen from the side of the pickup 6 that detects the swing of the cantilever 7, it becomes the same as the state where the cantilever 7 is facing downward. Therefore, the displacement signal does not rise with the signal value rapidly decreasing as shown in FIG.

図8の(A)は時間領域における変位信号のグラフであり、(B)は(A)の変位信号の(a)部分の周波数領域信号であり、(C)は(A)の変位信号の(b)部分の周波数領域信号である。
図8の(A)の(a)部分の波形は、触針11は被測定物Wの表面に沿った状態で可動部4により一定速度に移動していることを示しており、このとき変位信号は、被測定物Wの表面の表面粗さと可動部4の速度にしたがって振動する。このため図8の(A)の(a)部分の変位信号を図8の(B)に示すように周波数領域信号に変換して示すと、図示のとおり、変位信号は、主に、被測定物Wの表面粗さの範囲と可動部4の速度とにより定まる所定の周波数帯域f1〜f2内の周波数成分を含んでいる。
8A is a graph of the displacement signal in the time domain, FIG. 8B is a frequency domain signal of the (a) portion of the displacement signal of FIG. 8A, and FIG. 8C is the displacement signal of FIG. (B) The frequency domain signal of the part.
The waveform of the portion (a) in FIG. 8A indicates that the stylus 11 is moved at a constant speed by the movable portion 4 along the surface of the object W to be measured. The signal vibrates according to the surface roughness of the surface of the workpiece W and the speed of the movable part 4. For this reason, when the displacement signal of part (a) in FIG. 8A is converted into a frequency domain signal as shown in FIG. 8B, the displacement signal is mainly measured as shown in FIG. It includes frequency components within a predetermined frequency band f1 to f2 determined by the surface roughness range of the object W and the speed of the movable part 4.

これに対して図8の(A)の(b)部分の波形は、時刻t1において、触針11が被測定物Wの表面の凹凸に引っかかり、または横穴の奥に触針11がぶつかったため、変位信号が上昇または減少したまま振動しなくなったことを示している。このため図8の(A)の(b)部分の変位信号を図8の(C)に示すように周波数領域信号に変換して示すと、図示の通り、変位信号に、所定の周波数帯域f1〜f2よりも低い周波数成分が強くなる。
したがって変位信号を周波数領域信号に変換し、所定の周波数帯域f1〜f2よりも低い周波数成分の信号強度の変化を検出することによって、触針11に作用する荷重に異常が生じたか否かを判定できる。
On the other hand, the waveform of part (b) of FIG. 8A shows that the stylus 11 is caught by the irregularities on the surface of the object W to be measured or the stylus 11 hits the back of the horizontal hole at time t1. This shows that the displacement signal does not vibrate while increasing or decreasing. For this reason, when the displacement signal of part (b) of FIG. 8A is converted into a frequency domain signal as shown in FIG. 8C, the displacement signal is converted into a predetermined frequency band f1 as shown in the figure. The frequency component lower than ~ f2 becomes stronger.
Therefore, it is determined whether or not an abnormality has occurred in the load acting on the stylus 11 by converting a displacement signal into a frequency domain signal and detecting a change in signal intensity of a frequency component lower than a predetermined frequency band f1 to f2. it can.

図9は、本発明による触針荷重の異常検出方法の第1例を示すフローチャートである。
ステップS11において、移動機構制御部61は、移動機構駆動回路50に移動機構制御信号を出力して可動部4を駆動し、触針11を被測定物Wの表面に沿わせた状態で触針11と被測定物Wとを一定速度で相対移動させる。
ステップS12において、ピックアップ6が触針11の変位を検出しアナログ信号である変位信号を発生させる。そしてステップS13において、アナログディジタル変換回路30は、所定のサンプリング周期でピックアップ6の出力信号をサンプリングして、ディジタル形式の変位信号列に変換する。
FIG. 9 is a flowchart showing a first example of a stylus load abnormality detection method according to the present invention.
In step S <b> 11, the moving mechanism control unit 61 outputs a moving mechanism control signal to the moving mechanism drive circuit 50 to drive the movable unit 4, and the stylus is placed along the surface of the object W to be measured. 11 and the workpiece W are relatively moved at a constant speed.
In step S12, the pickup 6 detects the displacement of the stylus 11 and generates a displacement signal that is an analog signal. In step S13, the analog-digital conversion circuit 30 samples the output signal of the pickup 6 at a predetermined sampling period and converts it into a digital displacement signal sequence.

ステップS14において、図5の(A)に示す触針荷重異常検出部62の高速フーリエ変換部71は、変位信号列をフーリエ変換して周波数領域信号を生成する。
ステップS15において、低周波数成分強度検出部72は、予め設定された被測定物Wの表面粗さと可動部4の速度の設定値から、触針11を被測定物Wの表面の起伏に沿わせながら触針11と被測定物Wとを相対移動させたとき生じる周波数成分の周波数範囲f1〜f2を推定する。そして、高速フーリエ変換部71により変換された周波数領域信号により示される各周波数の信号強度のうち、周波数範囲f1〜f2より低い周波数範囲における信号強度の最大値を検出する。
または、低周波数成分強度検出部72には周波数範囲f1〜f2が予め設定され、低周波数成分強度検出部72は、周波数領域信号により示される各周波数の信号強度のうち、予め設定された周波数範囲f1〜f2より低い周波数範囲における信号強度の最大値を検出する。
In step S14, the fast Fourier transform unit 71 of the stylus load abnormality detection unit 62 shown in FIG. 5A performs a Fourier transform on the displacement signal sequence to generate a frequency domain signal.
In step S <b> 15, the low frequency component intensity detection unit 72 causes the stylus 11 to follow the undulation of the surface of the object W to be measured based on the preset surface roughness of the object W to be measured and the speed setting value of the movable unit 4. The frequency ranges f1 to f2 of the frequency components generated when the stylus 11 and the workpiece W are relatively moved are estimated. And the maximum value of the signal strength in the frequency range lower than the frequency ranges f1 to f2 is detected from the signal strength of each frequency indicated by the frequency domain signal converted by the fast Fourier transform unit 71.
Alternatively, the frequency range f1 to f2 is set in advance in the low frequency component intensity detection unit 72, and the low frequency component intensity detection unit 72 has a preset frequency range out of the signal intensity of each frequency indicated by the frequency domain signal. The maximum value of the signal strength in the frequency range lower than f1 to f2 is detected.

ステップS16において、比較部73は、低周波数成分強度検出部72が検出した信号強度の最大値と所定の閾値Tfiとを比較する。すなわち信号強度の最大値Imaxが許容強度範囲内(Imax≦Tfi)であるか否かを判定する。信号強度の最大値が所定の閾値Tfi以下であるときは、処理をステップS11に戻して触針11の移動を続ける。
一方、信号強度の最大値が所定の閾値Tfiを超えるときは、ステップS17において触針荷重異常信号生成部74は、変位信号の変化に異常があり触針11に過大な荷重が作用していると判断して、ステップS18にて触針異常荷重信号を出力する。
In step S <b> 16, the comparison unit 73 compares the maximum value of the signal intensity detected by the low frequency component intensity detection unit 72 with a predetermined threshold Tfi. That is, it is determined whether or not the maximum value Imax of the signal intensity is within the allowable intensity range (Imax ≦ Tfi). When the maximum value of the signal intensity is equal to or less than the predetermined threshold value Tfi, the process returns to step S11 and the movement of the stylus 11 is continued.
On the other hand, when the maximum value of the signal intensity exceeds the predetermined threshold value Tfi, the stylus load abnormality signal generation unit 74 has an abnormality in the change of the displacement signal and an excessive load is applied to the stylus 11 in step S17. In step S18, a stylus abnormal load signal is output.

ステップS19にて、触針荷重異常信号を受信した表面形状データ作成部60は表面形状データの作成を停止し、触針荷重異常信号を受信した移動機構制御部61はコラム3又は可動部4の駆動を停止する。
なおステップS15において、低周波数成分強度検出部72は、周波数範囲f1〜f2より低い周波数範囲における信号強度の最大値を出力する代わりに、周波数範囲f1〜f2より低い周波数範囲における信号強度の平均値を出力してもよい。
また、触針荷重異常信号生成部74は、移動機構制御部61に触針荷重異常信号を出力してコラム3又は可動部4の駆動を停止させるため、本願の特許請求の範囲に係る移動機構停止部に対応する。
In step S <b> 19, the surface shape data creation unit 60 that has received the stylus load abnormality signal stops creating the surface shape data, and the movement mechanism control unit 61 that has received the stylus load abnormality signal receives the column 3 or the movable unit 4. Stop driving.
In step S15, the low frequency component intensity detection unit 72 outputs the average value of the signal intensity in the frequency range lower than the frequency range f1 to f2 instead of outputting the maximum value of the signal intensity in the frequency range lower than the frequency range f1 to f2. May be output.
Further, the stylus load abnormality signal generation unit 74 outputs a stylus load abnormality signal to the movement mechanism control unit 61 to stop the driving of the column 3 or the movable unit 4, and therefore the movement mechanism according to the claims of the present application. Corresponds to the stop.

図5の(B)は、触針荷重異常検出部62の第2構成例を示す図である。本構成例では、変位信号に含まれる最大の強度の周波数成分が、上記周波数範囲f1〜f2と同じ許容周波数範囲内にあるか否かを判定する。
このため、高速フーリエ変換部71にて変換された周波数領域信号を入力し、変位信号に含まれる最大の強度の周波数成分の周波数(最大強度周波数)を検出する最大強度周波数検出部75を設ける。
そして比較部73にて、最大強度周波数検出部75により検出された最大強度周波数を、許容周波数範囲の上下限値f1、f2と比較して、最大強度周波数が許容周波数範囲f1〜f2の間にあるか否かを判定し、触針荷重異常信号生成部74は、最大強度周波数が許容周波数範囲f1〜f2の間にないとき、触針荷重異常信号を生成する。
または、比較部73は、最大強度周波数検出部75により検出された最大強度周波数fmaxを許容周波数範囲の下限値f2と比較することにより、最大強度周波数fmaxが許容周波数範囲(fmax≧f2)にあるか否かを判定し、最大強度周波数fmaxがf2より低いとき、触針荷重異常信号生成部74が触針荷重異常信号を生成する。
FIG. 5B is a diagram illustrating a second configuration example of the stylus load abnormality detection unit 62. In this configuration example, it is determined whether or not the frequency component having the maximum intensity included in the displacement signal is within the same allowable frequency range as the frequency ranges f1 to f2.
For this reason, a maximum intensity frequency detection unit 75 that receives the frequency domain signal converted by the fast Fourier transform unit 71 and detects the frequency (maximum intensity frequency) of the maximum intensity frequency component included in the displacement signal is provided.
The comparison unit 73 compares the maximum intensity frequency detected by the maximum intensity frequency detection unit 75 with the upper and lower limit values f1 and f2 of the allowable frequency range, and the maximum intensity frequency is between the allowable frequency ranges f1 and f2. It is determined whether or not there is, and the stylus load abnormality signal generation unit 74 generates a stylus load abnormality signal when the maximum intensity frequency is not between the allowable frequency ranges f1 and f2.
Alternatively, the comparison unit 73 compares the maximum intensity frequency fmax detected by the maximum intensity frequency detection unit 75 with the lower limit value f2 of the allowable frequency range, so that the maximum intensity frequency fmax is within the allowable frequency range (fmax ≧ f2). When the maximum intensity frequency fmax is lower than f2, the stylus load abnormality signal generation unit 74 generates a stylus load abnormality signal.

図10の(A)及び図10の(B)は変位信号とその微分値の変化を示すグラフである。図10の(A)に示すとおり、触針11が被測定物Wの凹凸に引っかかる時刻t1以前には、変位信号は、被測定物Wの表面の起伏に応じてある程度の有限な変化率で増減を繰り返すところ、時刻t1以降では信号値が急激に上昇(又は減少)する。したがってこの変位信号の微分値は、図10の(B)に示すとおり、時刻t1以前はある一定の範囲内で変化するが、時刻t1以降では急激に変化する。   FIG. 10A and FIG. 10B are graphs showing changes in the displacement signal and its differential value. As shown in FIG. 10A, before the time t1 when the stylus 11 is caught by the unevenness of the workpiece W, the displacement signal has a certain finite change rate according to the undulation of the surface of the workpiece W. When the increase / decrease is repeated, the signal value rapidly increases (or decreases) after time t1. Therefore, as shown in FIG. 10B, the differential value of the displacement signal changes within a certain range before time t1, but rapidly changes after time t1.

そこで、以下に示す触針荷重異常検出部62の第3例では、変位信号の微分値を算出してこの微分値が所定の閾値Tiを超えるとき、変位信号の変化に異常があり、触針11に過大な荷重が作用していると判定する。
図11の(A)は、触針荷重異常検出部62の第3構成例を示す図である。触針荷重異常検出部62は、入力した変位信号の微分値の絶対値を演算する微分演算部76を備え、微分演算部76によって算出された微分値の絶対値が比較部73によって所定の閾値Tiと比較され、触針荷重異常信号生成部74は、微分値の絶対値が所定の閾値Tiよりも大きいとき、触針荷重異常信号を生成する。
微分演算部76は、移動機構制御部61から動作信号を受信している間は常時変位信号の微分値の絶対値を出力する。したがって触針荷重異常検出部62は、表面形状測定装置1が表面形状を測定している間だけでなく、触針11をコラム3及び可動部4により移動させている間、常時触針11に作用する荷重に異常が生じたか否かを監視する。
Therefore, in the third example of the stylus load abnormality detection unit 62 shown below, when the differential value of the displacement signal is calculated and this differential value exceeds a predetermined threshold value Ti, the change in the displacement signal is abnormal, and the stylus 11 is determined that an excessive load is acting.
FIG. 11A is a diagram illustrating a third configuration example of the stylus load abnormality detection unit 62. The stylus load abnormality detection unit 62 includes a differential calculation unit 76 that calculates the absolute value of the differential value of the input displacement signal, and the absolute value of the differential value calculated by the differential calculation unit 76 is set to a predetermined threshold value by the comparison unit 73. Compared with Ti, the stylus load abnormality signal generation unit 74 generates a stylus load abnormality signal when the absolute value of the differential value is larger than a predetermined threshold value Ti.
The differential calculation unit 76 always outputs the absolute value of the differential value of the displacement signal while receiving the operation signal from the moving mechanism control unit 61. Therefore, the stylus load abnormality detection unit 62 is not always applied to the stylus 11 while the stylus 11 is moved by the column 3 and the movable unit 4 as well as the surface shape measuring device 1 is measuring the surface shape. Monitor whether the applied load is abnormal.

図12は、本発明による触針荷重の異常検出方法の第2例を示すフローチャートである。図9に示した異常検出方法と同様に、ステップS11において移動機構制御部61が可動部4を駆動し、ステップS12においてピックアップ6が変位信号を発生させる。そしてステップS13において、アナログディジタル変換回路30は、ピックアップ6の出力信号をディジタル形式の変位信号列に変換する。
ステップS21において、微分演算部76は、入力した変位信号の微分値の絶対値を演算する。ステップS22において、比較部73が微分値の絶対値と所定の閾値Tiと比較し、微分値の絶対値が所定の閾値Ti以下であるときは、処理をステップS11に戻して触針11の移動を続ける。
FIG. 12 is a flowchart showing a second example of the stylus load abnormality detection method according to the present invention. Similarly to the abnormality detection method shown in FIG. 9, the moving mechanism control unit 61 drives the movable unit 4 in step S11, and the pickup 6 generates a displacement signal in step S12. In step S13, the analog-digital conversion circuit 30 converts the output signal of the pickup 6 into a digital displacement signal string.
In step S21, the differential calculation unit 76 calculates the absolute value of the differential value of the input displacement signal. In step S22, the comparison unit 73 compares the absolute value of the differential value with a predetermined threshold value Ti. If the absolute value of the differential value is less than or equal to the predetermined threshold value Ti, the process returns to step S11 and the stylus 11 moves. Continue.

一方、微分値の絶対値が所定の閾値Tiを超えるときは、ステップS17において触針荷重異常信号生成部74は、変位信号の変化に異常があり触針11に過大な荷重が作用していると判断して、ステップS18にて触針異常荷重信号を出力する。
ステップS19にて、触針荷重異常信号を受信した表面形状データ作成部60は表面形状データの作成を停止し、触針荷重異常信号を受信した移動機構制御部61はコラム3又は可動部4の駆動を停止する。
On the other hand, when the absolute value of the differential value exceeds the predetermined threshold value Ti, in step S17, the stylus load abnormality signal generation unit 74 has an abnormality in the change of the displacement signal and an excessive load is acting on the stylus 11. In step S18, a stylus abnormal load signal is output.
In step S <b> 19, the surface shape data creation unit 60 that has received the stylus load abnormality signal stops creating the surface shape data, and the movement mechanism control unit 61 that has received the stylus load abnormality signal receives the column 3 or the movable unit 4. Stop driving.

実際の測定では、ピックアップ6の出力信号をディジタル変換した変位信号を直接微分すると、変位信号の変化が大きすぎて、正常に測定している状態と触針11が測定物表面の凹凸等の障害物に引っかかっている状態との区別が困難になることもある。
そこで、ステップS21にて変位信号の微分値の絶対値を算出する代わりに、変位信号の移動平均値の微分値の絶対値を算出して、これをステップS22にて所定の閾値Tiと比較して変位信号の変化の異常を検出してもよい。
図11の(B)は、触針荷重異常検出部62の第4構成例を示す図である。本構成例では、変位信号の移動平均値を算出するために、ディジタルフィルタ等で実現される移動平均部77を備え、微分演算部76は移動平均部77で算出された変位信号の移動平均値の微分値を出力する。
In actual measurement, if the displacement signal obtained by digitally converting the output signal of the pickup 6 is directly differentiated, the displacement signal changes too much, and the normal measurement state and the stylus 11 are obstructed such as irregularities on the surface of the measurement object. It may be difficult to distinguish from a state of being caught on an object.
Therefore, instead of calculating the absolute value of the differential value of the displacement signal in step S21, the absolute value of the differential value of the moving average value of the displacement signal is calculated and compared with a predetermined threshold value Ti in step S22. Thus, an abnormality in the change of the displacement signal may be detected.
FIG. 11B is a diagram illustrating a fourth configuration example of the stylus load abnormality detection unit 62. In this configuration example, in order to calculate the moving average value of the displacement signal, a moving average unit 77 realized by a digital filter or the like is provided, and the differential operation unit 76 calculates the moving average value of the displacement signal calculated by the moving average unit 77. The derivative value of is output.

本発明は、被測定物の表面に触針を沿わせながら被測定物と触針とを相対移動させ、被測定物の表面形状を測定する表面形状測定装置に関し、特にこの触針、若しくは触針の変位を検出するピックアップ部の破損を防止する技術に関する。   The present invention relates to a surface shape measuring apparatus for measuring the surface shape of a measurement object by moving the measurement object and the stylus while moving the stylus along the surface of the measurement object. The present invention relates to a technique for preventing breakage of a pickup unit that detects displacement of a needle.

表面形状測定装置の基本構成図である。It is a basic lineblock diagram of a surface shape measuring device. ピックアップの内部構造を示す概略図である。It is the schematic which shows the internal structure of a pick-up. (A)は触針が被測定物の横穴の奥にぶつかる様子を示す図であり、(B)は触針が被測定物の穴に引っかかる様子を示す図である。(A) is a figure which shows a mode that a stylus collides in the back of the horizontal hole of a to-be-measured object, (B) is a figure which shows a mode that a stylus is caught in the hole of a to-be-measured object. (A)は図1及び図2に示す表面形状測定装置を制御して、本発明による表面形状測定装置を実現する計算部の概略構成例を示す図であり、(B)は(A)に示す計算部により実現される機能ブロック図である。(A) is a figure which shows the schematic structural example of the calculation part which controls the surface shape measuring apparatus shown in FIG.1 and FIG.2, and implement | achieves the surface shape measuring apparatus by this invention, (B) is a figure to (A). It is a functional block diagram implement | achieved by the calculation part shown. (A)及び(B)は、それぞれ触針荷重異常検出部の第1及び第2構成例を示す図である。(A) And (B) is a figure which shows the 1st and 2nd structural example of a stylus load abnormality detection part, respectively. (A)はカンチレバーを引いているときに触針が凹凸に引っかかった様子を示す図であり、(B)は(A)の状態で現れる変位信号のグラフである。(A) is a figure which shows a mode that the stylus was caught by the unevenness | corrugation when pulling a cantilever, (B) is a graph of the displacement signal which appears in the state of (A). (A)は横穴の奥に触針をぶつけた様子を示す図であり、(B)はカンチレバーを押しているときに触針が凹凸に引っかかった様子を示す図であり、(C)は(A)及び(C)の状態で現れる変位信号のグラフである。(A) is a figure which shows a mode that the stylus was struck in the back of a horizontal hole, (B) is a figure which shows a mode that the stylus was caught by the unevenness | corrugation when pushing the cantilever, (C) ) And (C) are graphs of displacement signals appearing in the states. (A)は時間領域における変位信号のグラフであり、(B)は(A)の変位信号の(a)部分の周波数領域信号であり、(C)は(A)の変位信号の(b)部分の周波数領域信号である。(A) is a graph of the displacement signal in the time domain, (B) is a frequency domain signal of (a) part of the displacement signal of (A), (C) is (b) of the displacement signal of (A). This is the frequency domain signal of the part. 本発明による触針荷重の異常検出方法の第1例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the 1st example of the abnormality detection method of the stylus load by this invention. (A)及び(B)は変位信号とその微分値の変化を示すグラフである。(A) And (B) is a graph which shows the change of a displacement signal and its differential value. (A)及び(B)は、それぞれ触針荷重異常検出部の第3及び第4構成例を示す図である。(A) And (B) is a figure which shows the 3rd and 4th structural example of a stylus load abnormality detection part, respectively. 本発明による触針荷重の異常検出方法の第2例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the 2nd example of the abnormality detection method of the stylus load by this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 表面形状測定装置
2 テーブル
3 コラム
4 可動部
6 ピックアップ
7 カンチレバー
10 腕部
11 触針
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Surface shape measuring apparatus 2 Table 3 Column 4 Movable part 6 Pickup 7 Cantilever 10 Arm part 11 Stylus

Claims (14)

触針を被測定物の表面に接触させながら相対移動させ、このとき前記被測定物の表面の起伏により生じる前記触針の変位を検出した変位信号を生成して、前記被測定物の表面形状を測定する表面形状測定装置であって、
前記変位信号の変化の異常を、前記触針に作用する荷重の異常として検出する触針荷重異常検出部を備えることを特徴とする表面形状測定装置。
The stylus is moved relative to the surface of the object to be measured, and at this time, a displacement signal is generated to detect the displacement of the stylus caused by the undulation of the surface of the object to be measured, and the surface shape of the object to be measured A surface shape measuring device for measuring
A surface shape measuring apparatus, comprising: a stylus load abnormality detection unit that detects an abnormality in change of the displacement signal as an abnormality in a load acting on the stylus.
前記被測定物と前記触針とを相対移動させる移動機構と、
前記触針荷重異常検出部が前記荷重の異常を検出したとき、前記移動機構を停止させる移動機構停止部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の表面形状測定装置。
A moving mechanism for relatively moving the object to be measured and the stylus;
A movement mechanism stop unit for stopping the movement mechanism when the stylus load abnormality detection unit detects the load abnormality;
The surface shape measuring device according to claim 1, comprising:
前記触針荷重異常検出部は、前記変位信号を周波数領域信号に変換するフーリエ変換部を有し、前記変位信号を変換した前記周波数領域信号の変化が所定の許容幅を超えたとき、前記変位信号の変化に異常があると判定することを特徴とする請求項1又は2に記載の表面形状測定装置。   The stylus load abnormality detection unit includes a Fourier transform unit that converts the displacement signal into a frequency domain signal, and when the change of the frequency domain signal obtained by converting the displacement signal exceeds a predetermined allowable width, the displacement The surface shape measuring apparatus according to claim 1, wherein it is determined that the change in the signal is abnormal. 前記所定の許容幅を、前記周波数領域信号に含まれる、所定の周波数帯域よりも低い周波数信号成分の許容強度範囲として定めることを特徴とする請求項3に記載の表面形状測定装置。   The surface shape measuring apparatus according to claim 3, wherein the predetermined allowable width is defined as an allowable intensity range of a frequency signal component lower than a predetermined frequency band included in the frequency domain signal. 前記所定の周波数帯域を、前記触針を前記被測定物の表面の起伏に沿わせながら前記触針と前記被測定物とを相対移動させたとき前記周波数領域信号に生じることが予定される信号の周波数範囲として定めることを特徴とする請求項4に記載の表面形状測定装置。   A signal that is expected to occur in the frequency domain signal when the stylus and the object to be measured are moved relative to each other while the stylus is moved along the undulations on the surface of the object to be measured. The surface shape measuring device according to claim 4, wherein the surface shape measuring device is defined as a frequency range of 前記所定の許容幅を、最大強度の周波数成分がある周波数の許容周波数範囲として定めることを特徴とする請求項3に記載の表面形状測定装置。   The surface shape measuring apparatus according to claim 3, wherein the predetermined allowable width is defined as an allowable frequency range of a frequency having a frequency component having a maximum intensity. 前記触針を揺動可能に支持するレバー部材と、前記レバー部材の揺動量を検出して前記変位信号を生成する変位センサと、を備え、
前記触針荷重異常検出部は、前記変位信号の微分値及び移動平均値の微分値のいずれかが所定の閾値を超えるとき、前記変位信号の変化に異常があると判定することを特徴とする請求項1又は2に記載の表面形状測定装置。
A lever member that swingably supports the stylus, and a displacement sensor that detects the swing amount of the lever member and generates the displacement signal,
The stylus load abnormality detection unit determines that there is an abnormality in the change of the displacement signal when either the differential value of the displacement signal or the differential value of the moving average value exceeds a predetermined threshold value. The surface shape measuring apparatus according to claim 1 or 2.
触針を被測定物の表面に接触させながら相対移動させ、このとき前記被測定物の表面の起伏により生じる前記触針の変位を検出した変位信号を生成して、前記被測定物の表面形状を測定する表面形状測定における、前記触針に作用する荷重の異常を検出する触針荷重の異常検出方法であって、
前記変位信号の変化の異常を、前記触針に作用する荷重の異常として検出することを特徴とする異常検出方法。
The stylus is moved relative to the surface of the object to be measured, and at this time, a displacement signal is generated to detect the displacement of the stylus caused by the undulation of the surface of the object to be measured, and the surface shape of the object to be measured In the surface shape measurement for measuring the stylus load abnormality detection method for detecting an abnormality of the load acting on the stylus,
An abnormality detection method, wherein an abnormality in change of the displacement signal is detected as an abnormality in a load acting on the stylus.
前記荷重の異常を検出したとき、前記被測定物と前記触針との間の相対移動を停止させることを特徴とする請求項8に記載の異常検出方法。   The abnormality detection method according to claim 8, wherein when the load abnormality is detected, the relative movement between the object to be measured and the stylus is stopped. 前記変位信号を周波数領域信号に変換し、
前記周波数領域信号の変化が所定の許容幅を超えるとき、前記変位信号の変化に異常があると判定する、
ことを特徴とする請求項8又は9に記載の異常検出方法。
Converting the displacement signal into a frequency domain signal;
When the change of the frequency domain signal exceeds a predetermined allowable range, it is determined that the change of the displacement signal is abnormal.
The abnormality detection method according to claim 8 or 9, characterized in that.
前記所定の許容幅を、前記周波数領域信号に含まれる、所定の周波数帯域よりも低い周波数信号成分の許容強度範囲として定めることを特徴とする請求項10に記載の異常検出方法。   The abnormality detection method according to claim 10, wherein the predetermined allowable width is determined as an allowable intensity range of a frequency signal component included in the frequency domain signal and lower than a predetermined frequency band. 前記所定の周波数帯域を、前記触針を前記被測定物の表面の起伏に沿わせながら前記触針と前記被測定物とを相対移動させたとき前記周波数領域信号に生じることが予定される信号の周波数範囲として定めることを特徴とする請求項11に記載の異常検出方法。   A signal that is expected to occur in the frequency domain signal when the stylus and the object to be measured are moved relative to each other while the stylus is moved along the undulations on the surface of the object to be measured. The abnormality detection method according to claim 11, wherein the abnormality detection method is defined as a frequency range. 前記周波数領域信号の所定の変化幅を、最大強度の周波数成分がある周波数の許容周波数範囲として定めることを特徴とする請求項10に記載の異常検出方法。   The abnormality detection method according to claim 10, wherein the predetermined change width of the frequency domain signal is defined as an allowable frequency range of a frequency having a frequency component having a maximum intensity. 前記触針を支持する揺動可能なレバー部材の揺動量を検出して前記変位信号を生成し、
前記変位信号の微分値及び移動平均値の微分値のいずれかが所定の閾値を超えるとき、前記変位量の変化に異常があると判定することを特徴とする請求項8又は9に記載の異常検出方法。
Detecting a swing amount of a swingable lever member supporting the stylus to generate the displacement signal;
The abnormality according to claim 8 or 9, wherein when any one of the differential value of the displacement signal and the differential value of the moving average value exceeds a predetermined threshold, it is determined that the change in the displacement amount is abnormal. Detection method.
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