JP2008015747A - 統計的タイミング解析の悲観的誤差を評価する方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】まず、通常のSSTAにより歩留まりを計算する。次に、2つ以上の経路で共有されないゲートやネットのみを含む、遅延素子集合の集合の部分集合である独立LL集合を決定する。次に、独立LL集合のみを使って、SSTAにより歩留まり計算をする。これにより、実際の歩留まりは、通常のSSTAによる歩留まりと、独立LL集合のみを使ったSSTAによる歩留まりの間に存在することがわかる。
【選択図】図1
Description
C(t)=C1(t)×C2(t) (tは変数)
という式で書ける。
図8においてC1という累積確率分布とC2という累積確率分布との統計的max演算を行ったものが、C1×C2という累積確率分布である。C1×C2は、C1の累積確率分布及びC2の累積確率分布よりも歩留まりが小さくなっており、累積確率分布に統計的max演算を施すと結果の累積確率分布は、演算前の分布より歩留まりの値が悪くなることが見て取れる。
本発明の課題は、統計的タイミング解析でのLSI歩留まり予測計算結果における悲観的方向への誤差の上限を求める、あるいは、また計算誤差がない場合のLSI歩留まり予測値(実際のLSI歩留まり)の範囲を特定することができる方法を提供することである。
該独立遅延素子集合のみを用いて、歩留まりの予測分布の計算を行い、すべての遅延素子集合を用いて得られた歩留まりの予測分布と、独立遅延素子集合のみを用いて得られた歩留まりの予測分布とを出力することを特徴とする。
1.従来のSSTAの手法でLSIの歩留まりを求める(これによって求められた歩留まりを現状歩留まりと呼ぶことにする)。
2.全ての遅延素子集合のうち、互いにその要素(ゲート、ネット)に共通なものがない遅延素子集合の集合を求める(この集合を独立LL(Latch to Latch)集合を呼ぶことにする)。
3.独立LL集合に含まれる遅延素子集合だけでできたLSIを仮定し、その歩留まりを従来のSSTAの手法で計算する(これによって求められた歩留まりを独立LL歩留まりと呼ぶことにする)。
現状歩留まり≦実歩留まり≦独立LL歩留まり
となることが言える。
ステップS1において、従来のSSTAを行い、現状歩留まりを求める。ステップS2において、遅延素子集合の集合の中から、独立LL集合を選択する。ステップS3において、選択された独立LL集合のみについて、従来のSSTAを用いて、独立LL歩留まりを求める。ステップS4において、上記不等式により、悲観的誤差量の上限、あるいは、実歩留まりの範囲を特定する。
LSIは、信号の始点である順序回路10と終点である順序回路11と、信号が伝搬する配線であるネットと、ネットで相互に接続された一般ゲート(論理回路)とからなる信号経路が多数複雑に組み合わされて配置されたものである。信号が順序回路10から順序回路11に至るタイミングは、ネットの伝搬遅延と、論理回路の動作遅延が積み重なったものである。1つ1つのネットと論理回路は、信号に遅延を与えるので、遅延素子と呼ばれる。したがって、順序回路10から順序回路11に至る信号経路は、遅延素子を要素とした集合であるということができる。したがって、このような信号経路を遅延素子の集合と呼んだ場合、LSIは、遅延素子の集合の集合であるということができる。
図3においては、順序回路10aから順序回路11aに至る遅延素子集合と、順序回路10bから順序回路11bに至る遅延素子集合が相互に結合され、両方の遅延素子集合に含まれる共通部分15が発生している場合を示している。現状歩留まりをSSTAを用いて求める場合には、共通部分15を、順序回路10aから順序回路11aに至る遅延素子集合と、順序回路10bから順序回路11bに至る遅延素子集合に、それぞれ独立に同じものが入っているとみなして計算を行う。独立LL歩留まりを求める場合には、共通部分15は、順序回路10aから順序回路11aに至る遅延素子集合か、順序回路10bから順序回路11bに至る遅延素子集合のいずれかに属するものとして、一方の遅延素子集合のみを計算に使い、他方の遅延素子集合は、独立LL集合から排除して、計算には用いない。
図4のように、独立LL歩留まりと、現状歩留まりを横軸を1/周波数(タイミング)、縦軸を歩留まりとしてあらわしたものである。各歩留まり値は、累積確率分布で表され、対応するチェック値分布を積分することにより得られる。現状歩留まりは、LSIに含まれるすべての遅延素子集合の集合を用いて、SSTAにより求めた歩留まりであり、現状歩留まりのグラフは、同一タイミングで見た場合、最悪値を与える。一方、すべての遅延素子集合の集合の部分集合である。独立LL集合の集合のみを用いて、SSTAにより求めた独立LL歩留まりは、同一タイミングで見た場合、もっともよい歩留まり値を示す。そして、前述したように、実歩留まりは、現状歩留まりと独立LL歩留まりの間にある。独立LL歩留まりと現状歩留まりの差が歩留まりの悲観的誤差量の上限値となる。現状歩留まりと独立LL歩留まりの間にある実歩留まりは、図4では、独立LL歩留まりや現状歩留まりと同じ傾きをしているとして図示されているが、必ずしもそうではなく、さまざまな傾きを持っている可能性がある。本発明の実施形態では、ただ、実歩留まりが、独立LL歩留まりと現状歩留まりの間にあることを述べるのみである。
図5のようなゲートとネットの構成があったとすると、まず、順序回路Sから信号の伝搬するゲート、ネットの集合(集合S)を順序回路Sから信号の伝搬する方向へネットリストを進んでいって決定する。別の順序回路へ行き着いたらそこで、ネットリストの追跡をやめる。このようにして得られた集合が、集合Sである。次に、順序回路Eへ信号の伝搬するゲート、ネットの集合(集合E)を順序回路Eから信号の伝搬する方向とは逆にネットリストをさかのぼって決定する。別の順序回路までさかのぼったらそこで、追跡をやめる。このようにしてえられた集合が、集合Eである。そして、集合Sと集合Eに共通なゲート、ネットを順序回路Sから順序回路Eの遅延素子集合とする。すなわち、灰色の矢印で接続された一般ゲート(論理回路)と、矢印に対応するネットからなる集合が順序回路Sから順序回路Eへの遅延素子集合となる。以下、上記の手順をLSIのすべての順序回路、ゲート、ネットに対して行い、遅延素子集合の集合を生成する。
図6に基づいて説明を行う。ステップS10において、タイミングチェック値分布を分布の中央値の遅い順(タイミング的に厳しい順)にソートする。ステップS11において、独立LL集合の集合を空集合に、ステップS10でソートされたタイミングチェック値分布のインデックスiを1に初期設定する。ステップS12において、i番目のタイミングチェック値分布があるか否かを判断するステップS12の判断がNoの場合には、処理を終了する。ステップS12の判断がYesの場合には、ステップS13において、i番目のタイミングチェック値分布に対応する遅延素子集合(遅延素子集合i)を決定する。ステップS14において、遅延素子集合iと独立LL集合に含まれる遅延素子集合の間に共通するゲート、ネットがあるか否かを判断する。すなわち、すでに独立LL集合に分類されている遅延素子集合と共通するゲート、ネットを持つ遅延素子集合iを排除し、共通するゲート、ネットを持たない遅延素子集合iを独立LL集合に新たに分類するという作業である。ステップS14の判断がYesの場合には、遅延素子集合iは、独立LL集合とはなりえないので、ステップS16において、iを1だけ増加し、ステップS12に戻って、他の遅延素子集合について同様の処理を行う。ステップS14の判断がYesの場合には、遅延素子集合iは、独立LL集合と共通するゲート、ネットを持っていないので、新たな独立LL集合とすることができるので、ステップS15において、遅延素子集合iを独立LL集合に加え、ステップS16でiを1だけ増加し、ステップS12に戻って、他の遅延素子集合について処理を行う。以上により、独立LL集合の集合が生成される。
SST結果入力部20には、通常のSSTAにより行った計算結果が入力され、ネットリスト入力部22には、ネットリストが入力される。SSTAの結果とネットリストは、遅延素子集合決定部23に入力され、遅延素子集合の集合が生成される。また、独立LL集合特定部24には、遅延素子集合の集合と、SSTAの結果が入力され、独立LL集合が特定される。現状歩留まり計算部21では、SSTAの結果の統計的max演算を行って、現状歩留まりを求める。独立LL歩留まり計算部25では、独立LL歩留まりを計算する。出力部26において、現状歩留まりのグラフと、独立LL歩留まりのグラフを生成し、結果グラフとして、出力する。グラフ以外にも、グラフから読み取れるさまざまな数値を結果データとして出力しても良い。
15 共通部分
20 SSTA結果入力部
21 現状歩留まり計算部
22 ネットリスト入力部
23 遅延素子集合決定部
24 独立LL集合特定部
25 独立LL歩留まり計算部
26 出力部
Claims (9)
- 順序回路間をゲートやネット等の遅延素子で接続した遅延素子集合の集合からなるLSIの歩留まりを計算する歩留まりの評価方法において、
すべての遅延素子集合を用いて、LSIの歩留まりの予測分布を計算し、
該複数の遅延素集合の中から、同一のゲートやネットを共有しない遅延素子集合の集合である独立遅延素子集合を抽出し、
該独立遅延素子集合のみを用いて、歩留まりの予測分布の計算を行い、
すべての遅延素子集合を用いて得られた歩留まりの予測分布と、独立遅延素子集合のみを用いて得られた歩留まりの予測分布とを出力する
ことを特徴とする評価方法。 - 前記歩留まりの予測分布の計算は、統計的タイミング解析法によって計算されることを特徴とする請求項1に記載の評価方法。
- 前記遅延素子集合は、ネットリストを用いて抽出されることを特徴とする請求項1に記載の評価方法。
- 前記独立遅延素子集合は、
前記遅延素子集合の集合の中から1つの遅延素子集合を抽出し、
該抽出された遅延素子集合を構成する遅延素子と同じ遅延素子が、すでに独立遅延素子集合として判断された遅延素子集合を構成する遅延素子中にあるか否かを判断し、
すでに独立遅延素子集合として判断された遅延素子集合の中に同じ遅延素子がない場合に、該遅延素子集合を独立遅延素子集合に分類することによって形成される
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記LSIの実際の歩留まりは、すべての遅延素子集合を用いて得られた歩留まりの予測分布と、独立遅延素子のみを用いて得られた歩留まり予測分布の間にあることを特徴とする請求項1に記載の評価方法。
- 順序回路間をゲートやネット等の遅延素子で接続した遅延素子集合の集合からなるLSIの歩留まりを計算する歩留まりの評価装置において、
すべての遅延素子集合を用いて、LSIの歩留まりの予測分布を計算する現状歩留まり計算手段と、
該複数の遅延素集合の中から、同一のゲートやネットを共有しない遅延素子集合の集合である独立遅延素子集合を抽出する独立遅延素子集合抽出手段と、
該独立遅延素子集合のみを用いて、歩留まりの予測分布の計算を行う独立遅延素子集合歩留まり計算手段と、
すべての遅延素子集合を用いて得られた歩留まりの予測分布と、独立遅延素子集合のみを用いて得られた歩留まりの予測分布とを出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする評価装置。 - 順序回路間をゲートやネット等の遅延素子で接続した遅延素子集合の集合からなるLSIの歩留まりを計算する歩留まりの評価方法をコンピュータに実現させるプログラムにおいて、
すべての遅延素子集合を用いて、LSIの歩留まりの予測分布を計算し、
該複数の遅延素集合の中から、同一のゲートやネットを共有しない遅延素子集合の集合である独立遅延素子集合を抽出し、
該独立遅延素子集合のみを用いて、歩留まりの予測分布の計算を行い、
すべての遅延素子集合を用いて得られた歩留まりの予測分布と、独立遅延素子集合のみを用いて得られた歩留まりの予測分布とを出力する
ことを特徴とする評価方法をコンピュータに実現させることを特徴とするプログラム。 - 順序回路間を遅延素子で接続した遅延素子集合を備える回路素子の実歩留まりを算出する歩留まり算出方法において、
前記回路素子を構成するすべての遅延素子集合を用いて、前記回路素子の第一の歩留まりを算出するステップと、
前記回路素子を構成する遅延素子集合から、他の遅延素子集合と遅延素子要素を共有しない遅延素子集合を抽出するステップと、
前記抽出された遅延素子要素を共有しない遅延素子集合のみを用いて、前記回路素子の第二の歩留まりを算出するステップと、
前記第一の歩留まりおよび前記第二の歩留まりとを比較して、前記回路素子の実歩留まりを予測するステップと、を備えることを特徴とする、歩留まり算出方法。 - 前記歩留まり算出方法において、前記第一の歩留まりを下限、前記第二の歩留まりを上限として、前記第一の歩留まりと前記第二の歩留まりとの間の値を前記実歩留まりとして予測することを特徴とする、請求項8に記載の歩留まり算出方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006185515A JP4773903B2 (ja) | 2006-07-05 | 2006-07-05 | 統計的タイミング解析の悲観的誤差を評価する方法 |
US11/679,496 US7689956B2 (en) | 2006-07-05 | 2007-02-27 | Method of evaluating pessimistic error in statistical static timing analysis |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006185515A JP4773903B2 (ja) | 2006-07-05 | 2006-07-05 | 統計的タイミング解析の悲観的誤差を評価する方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008015747A true JP2008015747A (ja) | 2008-01-24 |
JP4773903B2 JP4773903B2 (ja) | 2011-09-14 |
Family
ID=38920418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006185515A Expired - Fee Related JP4773903B2 (ja) | 2006-07-05 | 2006-07-05 | 統計的タイミング解析の悲観的誤差を評価する方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7689956B2 (ja) |
JP (1) | JP4773903B2 (ja) |
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KR102398596B1 (ko) | 2015-06-15 | 2022-05-16 | 삼성전자주식회사 | 집적 회로의 수율 예측 방법 및 집적 회로의 설계 최적화 방법 |
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-
2006
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080010558A1 (en) | 2008-01-10 |
US7689956B2 (en) | 2010-03-30 |
JP4773903B2 (ja) | 2011-09-14 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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