JP2008003937A - 疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法及び装置並びに周期長計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】疑似乱数発生部22が発生した疑似乱数に対応する状態に、状態変数を順次付与し、状態変数を付与した状態相互の関連性を状態遷移解析部23にて解析し、解析結果である状態遷移図表示情報に基づき入出力部21にて自動描画を行う。状態遷移図の作成時間の短縮、省力化が図れる。また、状態遷移解析部23にて周期長も計測できる。さらに、周期長計測装置として、疑似乱数発生部22及び状態遷移解析部23の周期長計測部をFPGAで構成することにより周期長を高速に計測できる。
【選択図】図1
Description
(2)当初は始点として取り扱う。
(3)自分自身に遷移するなら収束点である。
(4)すでに結合状態のチェックがあるなら結合点であり、遷移を中止し結合した点の再評価(収束点、枝結合点、ループ結合点)を実施し、結合したグループの識別フラグと同じ番号の識別フラグを設定し直す。
(5)ループを検知したならば、結合状態(ループ)を付与する。
(6)前記5つの項目による解析の結果として解析情報205を生成する。
(7)遷移図表示に必要な座標情報を計算して状態遷移図表示情報206を生成する。
表2
状態 1,3,7,F,E,D,A,5,B,6,C,9,2,4,8
スキップ量 3,5,5,5,4,3,4,3,5,4,2,3,4,2,2
図3は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。任意の状態番号Nに対し、状態変数ST(N)は(前の状態、次の状態、結合状態、Gp番号)で定義され、(NULL,NULL,0,0)に初期化される。NULLとは値が未定であることを示す。また、結合状態を表す変数は、ループが8、枝結合は4、始点は2、収束点は1と定義する。
図4は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。探索スタート状態として状態“1”をセットする。Gp番号を1にセットする。また、フェーズ監視は1である。
図5は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態Fには状態変数が付与されていない。処理として状態1は始点で状態Fへ枝を延長する。状態1の状態変数ST(1)は(NULL,F,2,1)となる。
図6は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態Bには状態変数が付与されていない。処理として状態Fは枝結合で状態Bへ枝を延長する。状態Fの状態変数ST(F)は(1,B,4,1)となる。
図7は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態4には状態変数が付与されていない。処理として状態Bは枝結合で状態4へ枝を延長する。状態Bの状態変数ST(B)は(F,4,4,1)となる。
図8は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態1はすでに状態変数が付与されている。状態1にはループはまだない。状態1は同一Gpである。状態4からは自分自身への遷移ではない。処理として状態4から状態1へ結合する。状態4の状態変数ST(4)は(B,1,4,1)となる。
結合状態ループ処理をすると、状態変数ST(1)は(4,F,8,1)となる。状態変数ST(F)は(1,B,8,1)となる。状態変数ST(B)は(F,4,8,1)となる。状態変数ST(4)は(B,1,8,1)となる。ループ処理後Gp番号を2へカウントアップする。
図9は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。探索スタート状態として状態“2”をセットする。Gp番号は2にセットされている。フェーズ監視は2となる。
図10は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態3には状態変数が付与されていない。処理として状態2は始点で状態3へ枝を延長する。状態2の状態変数ST(2)は(NULL,3,2,2)となる。
図11は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態Aには状態変数が付与されていない。処理として状態3は枝結合で状態Aへ枝を延長する。状態3の状態変数ST(3)は(2,A,4,2)となる。
図12は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態Cには状態変数が付与されていない。処理として状態Aは枝結合で状態Cへ枝を延長する。状態Aの状態変数ST(A)は(3,C,4,2)となる。
図13は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態2はすでに状態変数が付与されている。状態2にはループはまだない。状態2は同一Gpである。状態Cからは自分自身への遷移ではない。処理として状態Cから状態2へ結合する。状態Cの状態変数ST(C)は(A,2,4,2)となる。
結合状態ループ処理をすると、状態変数ST(2)は(C,3,8,2)となる。状態変数ST(3)は(2,A,8,2)となる。状態変数ST(A)は(3,C,8,2)となる。状態変数ST(C)は(A,2,8,2)となる。ループ処理後Gp番号を3へカウントアップする。
図14は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。状態3、状態4は設定済みである。探索スタート状態として状態“5”をセットする。Gp番号は3にセットされている。フェーズ監視は3となる。
図15は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態Cはすでに状態変数が付与されている。状態Cにはループが付与されている。処理として状態5は始点で状態5から状態Cへループと枝結合する。結合状態は{始点2}と{枝結合4}の両方を併せた6となる。状態5の状態変数ST(5)は(NULL,C,6,3)となる。状態Cでは、結合状態は{ループ8}と{枝結合4}の両方を併せた12となり、状態変数ST(C)は(A,2,12,2)となる。Gp番号3の全状態を状態CのGp番号2へ変更する。状態変数ST(5)は(NULL,C,6,2)となる。
図16は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。探索スタート状態として状態“6”をセットする。Gp番号は3にセットされている。フェーズ監視は4となる。
図17は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態4はすでに状態変数が付与されている。状態4にはループが付与されている。処理として状態6は始点で状態6から状態4へループと枝結合する。結合状態は{始点2}と{枝結合4}の両方を併せた6となる。状態6の状態変数ST(6)は(NULL,4,6,3)となる。状態4はループと枝結合する。結合状態は{ループ8}と{枝結合4}の両方を併せた12、状態変数ST(4)は(B,1,12,1)となる。Gp番号3の全状態を状態CのGp番号1へ変更する。状態変数ST(6)は(NULL,4,6,1)となる。
図18は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。探索スタート状態として状態“7”をセットする。Gp番号は3にセットされている。フェーズ監視は5となる。
図19は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図である。判断として状態5はすでに状態変数が付与されている。状態5にはループはまだない。状態5は同一Gpではない。処理として状態7は始点で状態7から状態5へ枝結合する。結合状態は{始点2}と{枝結合4}の両方を併せた6となる。状態7の状態変数ST(7)は(NULL,5,6,3)となる。状態5は始点ではなく枝結合する。
結合状態は{始点2}より{枝結合4}へ変更する。状態変数ST(5)は(7,C,4,2)となる。Gp番号3の全状態を状態CのGp番号2へ変更する。状態変数ST(7)は(NULL,5,6,2)となる。
図20は、この実施の形態1の状態遷移解析の一例を表す図であり、手順25までを含める。
状態8の状態変数ST(8)は(NULL,3,6,2)となる。状態変数ST(3)は(2,A,12,2)となる。
状態9の状態変数ST(9)は(NULL,8,6,2)となる。状態8の状態変数ST(8)は(9,3,4,2)となる。
状態Dの状態変数ST(D)は(NULL,B,6,1)となる。状態変数ST(B)は(F,4,12,1)となる。
状態Eの状態変数ST(E)は(NULL,B,6,1)となる。状態変数ST(B)は(F,4,12,1)となる。
状態変数ST(N)は(前の状態、次の状態、結合状態、Gp番号)となる。結合状態に表示されている数字については、4とは枝の中点、6とは始点で枝結合あり、8とはループ内の点、12とはループ内の点で枝結合あり、ということを表している。
状態変数ST(1)は(4,F,8,1)となる。
状態変数ST(3)は(2,A,12,2)となる。
状態変数ST(7)は(NULL,5,6,2)となる。
状態変数ST(F)は(1,B,8,1)となる。
状態変数ST(E)は(NULL,B,6,1)となる。
状態変数ST(D)は(NULL,B,6,1)となる。
状態変数ST(A)は(3,C,8,2)となる。
状態変数ST(5)は(7,C,4,2)となる。
状態変数ST(B)は(F,4,12,1)となる。
状態変数ST(6)は(NULL,4,6,1)となる。
状態変数ST(C)は(A,2,8,2)となる。
状態変数ST(9)は(NULL,8,6,2)となる。
状態変数ST(2)は(C,3,8,2)となる。
状態変数ST(4)は(B,1,12,1)となる。
状態変数ST(8)は(9,3,4,2)となる。
図21は上記で説明した状態遷移解析による状態遷移図の一例を表す図である。図1の状態遷移解析部23で状態遷移を解析した結果は、解析情報205として解析情報記憶部25に記憶されるとともに、状態遷移図表示情報206として遷移図表示情報記憶部26に記憶される。
入力1 入力2 出力
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 0
12 枝
13 ループ
14 収束点
21 入出力部
22 疑似乱数発生部
23 状態遷移解析部
24 状態遷移図描画部
25 解析情報記憶部
26 遷移図表示情報記憶部
201 FSR等選択信号
202 描画切替信号
203 初期状態情報
204 内部状態情報
205 解析情報
206 状態遷移図表示情報
207 解析結果
208 状態遷移図
31 ホストコンピュータ
32 周期長計測装置
33 疑似乱数発生回路
34 周期長計測回路
301 初期情報
302 計測要領情報
303 状態情報
304 周期長情報
331 クロック制御回路
Claims (8)
- 疑似乱数発生部が発生した疑似乱数に対応する状態に、状態変数を順次付与し、状態変数を付与した状態相互の関連性を解析することを特徴とする疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法。
- 特定の疑似乱数に対応した特定の状態の状態変数は、当該特定の状態の前の状態、次の状態、結合状態の識別フラグ、グループの識別フラグを少なくとも用いて定義されている請求項1記載の疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法。
- 前記結合状態の識別フラグは、ループ、枝結合、始点、収束点の少なくとも4つである請求項2記載の疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法。
- 前記特定の状態が既に状態変数が付与された次の状態に遷移するとき、当該次の状態が前記特定の状態ではないことを条件に前記結合状態の識別フラグをループとする請求項3記載の疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法。
- 前記ループが共通または前記ループに枝結合している状態群を1つのグループとして1個の識別フラグを付与する請求項3又は4記載の疑似乱数発生機構における状態遷移解析方法。
- 前記請求項1,2,3,4又は5記載の状態遷移解析方法で疑似乱数発生部の状態遷移解析を行う状態遷移解析手段と、前記状態遷移解析手段からの状態遷移図表示情報を用いて前記の状態遷移図を自動描画する描画手段とを備えたことを特徴とする疑似乱数発生機構における状態遷移解析装置。
- 疑似乱数発生部及び周期長計測部をFPGAで構成して周期長の計測を行うことを特徴とする周期長計測装置。
- 前記請求項1,2,3,4又は5記載の状態遷移解析方法を用いて周期長を計測する請求項7記載の周期長計測装置。
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JP2011123693A (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-23 | Netcomsec Co Ltd | 整数系列の周期判定方法、周期判定装置及び周期判定プログラム |
WO2017033263A1 (ja) * | 2015-08-24 | 2017-03-02 | 株式会社日立製作所 | 情報処理システム |
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2006
- 2006-06-23 JP JP2006174216A patent/JP4362594B2/ja active Active
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JPWO2017033263A1 (ja) * | 2015-08-24 | 2018-06-28 | 株式会社日立製作所 | 情報処理システム |
US10795404B2 (en) | 2015-08-24 | 2020-10-06 | Hitachi, Ltd. | Information processing acceleration control system |
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