JP2007333409A - Suspended particle measurement device - Google Patents

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彰啓 ▲薮▼下
Akihiro Yabushita
Satoshi Hashimoto
訓 橋本
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Horiba Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an excellent suspended particle measurement device capable of suitably obtaining size of suspended particles in a predetermined spatial cross section in a fluid, the number of the suspended particles, and the distribution of the suspended particles without requiring a complicated calculation process, and of specifically acquiring motion of the suspended particles in the spatial cross section in the fluid. <P>SOLUTION: This suspended particle measurement device includes: a low-coherent light source 1 irradiating the fluid T containing the suspended particles R with low-coherent light B1; a beam splitter 4 separating the low-coherent light B1; an imaging part 6 arranged on a path of interference light B6 where reference light B3 interferes with scattering light B5, detecting spectrum intensity of the interference light B6 generated by the reference light B3 and the scattering light B5, and obtaining its interference image; and a calculation part 7d obtaining at least one of the quantity, the distribution and the size of the suspended particles R based on the interference image provided by the imaging part 6. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、低コヒーレント光を流体に照射することで、その流体に含まれる浮遊粒子の数量、分布、或いは大きさを測定する浮遊粒子測定装置に関するものである。   The present invention relates to a suspended particle measuring apparatus that measures the number, distribution, or size of suspended particles contained in a fluid by irradiating the fluid with low-coherent light.

従来から、半導体素子などの製造時に使用される流体中に含まれる粒子を検出し、その特徴と大きさを調べることができるようにした流体検査装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, a fluid inspection apparatus that detects particles contained in a fluid used when manufacturing a semiconductor element or the like and can check the characteristics and size of the particles is known.

具体的にこの種の流体検査装置は、例えば、レーザ光を照射するレーザ光源と、レーザ光源が照射したレーザ光をサンプル光および基準光に分割するビームスプリッタと、このビームスプリッタで分割されたサンプル光を粒子に対して集光照射する機能と該粒子で散乱された散乱光をビームスプリッタに向けて集光する機能とを備える対物レンズと、前記基準光と対物レンズおよびビームスプリッタを介して戻ってきた散乱光とを検出する検出器とを具備し、検出器で得られる検出信号を分析することで、粒子のサイズや、粒子が金属であるか誘電体であるかなどを区別できるように構成されている(例えば、特許文献1参照。)。   Specifically, this type of fluid inspection apparatus includes, for example, a laser light source that emits laser light, a beam splitter that divides the laser light emitted by the laser light source into sample light and reference light, and a sample that is divided by the beam splitter. An objective lens having a function of condensing and irradiating light onto the particle and a function of condensing the scattered light scattered by the particle toward the beam splitter, and the reference light, the objective lens, and the beam splitter. It is possible to distinguish between the size of the particles and whether the particles are metal or dielectric by analyzing the detection signal obtained by the detector. (For example, refer patent document 1).

また、大気中に浮遊する微粒子などの個数、粒径分布等を、遠隔において計測するリモートパーティクルカウンター装置が知られている。   Further, a remote particle counter device that remotely measures the number of fine particles floating in the atmosphere, the particle size distribution, and the like is known.

具体的にこの種のリモートパーティクルカウンター装置は、パルスレーザー、レーザー出射光学系、散乱光の集光光学系、散乱光の検出部である高速ゲート機能を有するCCDカメラ等の高感度2次元光検出器及び制御計測系を具備し、レーザー出射地点より遠方にある大気中の浮遊微粒子からのレーザー照射によって生じた微粒子個々からの後方散乱光を画像として検出することで、大気中に浮遊する微粒子等の個数、粒径分布等を遠隔において計測できるように構成されている(例えば、特許文献2参照)。
特開平01−292235号公報 特開2004−233078号公報
Specifically, this type of remote particle counter device is a high-sensitivity two-dimensional light detection device such as a pulse laser, laser emission optical system, scattered light condensing optical system, CCD camera having a high-speed gate function as a scattered light detector A fine particle floating in the atmosphere by detecting backscattered light from each particle generated as a result of laser irradiation from airborne fine particles in the atmosphere far from the laser emission point. The number of particles, the particle size distribution, etc. can be measured remotely (see, for example, Patent Document 2).
Japanese Unexamined Patent Publication No. 01-292235 JP 2004-233078 A

しかしながら、従来の構成、特に特許文献1の構成では、基準光と対物レンズおよびビームスプリッタを介して戻ってきた散乱光とを検出して、これから粒子のサイズや、粒子が金属であるか誘電体であるか等を区別できるとは言うものの、計測中の粒子が、どの空間断面に存在しているのかを知ることは困難である。これは、コヒーレントなレーザ光を、測定に用いているため、このレーザ光の進行方向で且つ波長の整数倍前後にずれた位置関係にある複数の粒子については、その前後関係を正確に知ることができず、結果、かかる空間断面における粒子の数や分布を正確に知ることができないからである。   However, in the conventional configuration, particularly in the configuration of Patent Document 1, the reference light and the scattered light that has returned through the objective lens and the beam splitter are detected, and the size of the particle, and whether the particle is a metal or a dielectric However, it is difficult to know in which spatial section the particle being measured exists. This is because a coherent laser beam is used for the measurement, and therefore, for a plurality of particles having a positional relationship shifted in the traveling direction of the laser beam and around an integral multiple of the wavelength, the context is accurately known. This is because, as a result, the number and distribution of particles in the spatial section cannot be accurately known.

また、特許文献2の構成では、微粒子群が存在する空間中に対してレーザ光を照射し、その空間中にある微粒子からの散乱光を測定するものであるため、出射するレーザの広がり角度、カメラの倍率およびシャッタの遅れ時間から微粒子の濃度を算出しなければならず、演算処理が煩雑になるといった問題点を有している。また、特許文献1における上記問題と同様に、ある空間断面における粒子の数や分布を正確に知ることができないといった問題点を有している。   Further, in the configuration of Patent Document 2, since the laser beam is irradiated to the space where the particle group exists and the scattered light from the particle in the space is measured, the spread angle of the emitted laser, There is a problem in that the concentration of fine particles must be calculated from the magnification of the camera and the delay time of the shutter, which complicates the arithmetic processing. Further, similarly to the above problem in Patent Document 1, there is a problem that the number and distribution of particles in a certain spatial section cannot be accurately known.

さらに、特許文献1および特許文献2のいずれの構成でも、ある空間断面における粒子の動きを、具体的に把握できるものでは決して無い。   Furthermore, in any of the configurations of Patent Document 1 and Patent Document 2, the movement of particles in a certain space section cannot be specifically grasped.

本発明は、このような課題に着目してなされたものであって、主たる目的は、煩雑な演算処理を要せず、流体中の所定の空間断面における浮遊粒子のサイズ、浮遊粒子の数、浮遊粒子の分布を好適に求めることができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供すること、及び、煩雑な演算処理を要せず、流体中の所定の空間断面における浮遊粒子の動きを具体的に把握することができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供することにある。   The present invention has been made paying attention to such a problem, the main purpose is not to require a complicated calculation process, the size of the suspended particles in a predetermined space section in the fluid, the number of suspended particles, Providing an excellent suspended particle measuring device that can suitably determine the distribution of suspended particles, and specific movement of suspended particles in a predetermined space section in a fluid without requiring complicated calculation processing It is to provide an excellent suspended particle measuring apparatus that can be easily grasped.

すなわち本発明に係る浮遊粒子測定装置は、浮遊粒子を含む流体に対して低コヒーレント光を照射する低コヒーレント光源と、前記低コヒーレント光源から照射される低コヒーレント光を、透過および反射して前記流体と参照鏡とに向けて分離するビームスプリッタと、前記ビームスプリッタで分離されたのち前記参照鏡によって反射されてくる参照光と、分離されたのち前記浮遊粒子によって散乱されてくる散乱光とが、干渉する干渉光路上に配され、且つそれら参照光および散乱光によって生じる干渉光のスペクトル強度を検出することでその干渉光の干渉画像を得る撮像部と、前記撮像部で得た干渉画像に基づいて、前記浮遊粒子の数量、分布および大きさのうち少なくとも一つを求める演算部とを具備してなることを特徴とする。   That is, the suspended particle measuring apparatus according to the present invention includes a low-coherent light source that irradiates a fluid containing suspended particles with low-coherent light, and the low-coherent light irradiated from the low-coherent light source. And a beam splitter that separates toward the reference mirror, a reference light that is separated by the beam splitter and then reflected by the reference mirror, and a scattered light that is separated and scattered by the suspended particles, Based on the interference image obtained by the imaging unit that is arranged on the interference light path that interferes and obtains an interference image of the interference light by detecting the spectral intensity of the interference light generated by the reference light and the scattered light And an arithmetic unit that obtains at least one of the quantity, distribution, and size of the suspended particles.

ここで、「低コヒーレント光」とは、例えば、白色光やLED光のように照射された光同士が互いに干渉することが少ない光または干渉し合わない光を言い、レーザ光のように高コヒーレント性を有する光は含まない。   Here, “low coherent light” refers to light that does not interfere with each other, such as white light and LED light, or light that does not interfere with each other, and is highly coherent like laser light. It does not include light having sex.

このようなものであれば、浮遊粒子で散乱される散乱光のうち、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある浮遊粒子からの後方散乱光は、参照光に対して時間上も空間上もコヒーレントな関係となる。一方、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にない浮遊粒子からの散乱光は、参照光に対してコヒーレントな関係とはならない。したがって、かかる後方散乱光のみが、参照光との干渉により、輝点となって干渉画像に現れる。   In this case, of the scattered light scattered by the suspended particles, the backscattered light from suspended particles equidistant from the beam splitter to the reference mirror is coherent in time and space with respect to the reference light. It becomes a relationship. On the other hand, scattered light from suspended particles that are not equidistant from the beam splitter from the beam splitter does not have a coherent relationship with the reference light. Therefore, only such backscattered light appears as a bright spot in the interference image due to interference with the reference light.

ここで、比較のために、流体に対して照射する光をレーザ光として考えてみる。例えば、2つの浮遊粒子のうち、一方が、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にあるものであり、他方がレーザ光の照射方向で且つその波長の整数倍分前後にずれた場所にある場合には、レーザ光のコヒーレント性により、両方の浮遊粒子からの後方散乱光が、参照光と干渉し、干渉画像に現れてしまう。   Here, for comparison, let us consider the light irradiated to the fluid as laser light. For example, when one of the two suspended particles is one that is equidistant from the beam splitter to the reference mirror, and the other is in a position shifted in the laser beam irradiation direction and an integral multiple of its wavelength. The backscattered light from both suspended particles interferes with the reference light and appears in the interference image due to the coherent nature of the laser light.

このように、流体に対して照射する光がレーザ光であれば、浮遊粒子の前後位置を確実に知ることができなくなってしまい、結果、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある空間断面において、浮遊粒子が存在するか否か等を正確に求めることができない。   In this way, if the light applied to the fluid is laser light, it becomes impossible to reliably know the front and rear positions of the suspended particles, and as a result, in the spatial section equidistant from the beam splitter to the reference mirror, Whether or not airborne particles are present cannot be determined accurately.

一方、本発明のように、流体に対して照射する光が低コヒーレント光であれば、かかる空間断面に浮遊粒子が存在するか否かを精度よく知ることができる。   On the other hand, if the light applied to the fluid is low coherent light as in the present invention, it can be accurately determined whether or not suspended particles are present in the spatial section.

しかして、本発明の浮遊粒子測定装置によれば、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある空間断面において、浮遊粒子が存在するか否かを、輝点の有無によって知ることができ、輝点の数を数えれば、その空間断面に存在する浮遊粒子の数量を知ることができる。また、輝点の面積によって、浮遊粒子の大きさを把握することができる。また、その空間断面における浮遊粒子の分布も知ることができる。   Therefore, according to the suspended particle measuring apparatus of the present invention, it is possible to know whether or not suspended particles are present in the spatial section equidistant from the beam splitter to the reference mirror by the presence or absence of the bright spot. By counting the number of particles, the number of suspended particles existing in the spatial section can be known. Further, the size of suspended particles can be grasped by the area of the bright spot. It is also possible to know the distribution of suspended particles in the spatial section.

すなわち、煩雑な演算処理を要せず、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある流体の空間断面における浮遊粒子のサイズ、浮遊粒子の数、浮遊粒子の分布を好適に求めることができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供することができる。   That is, no complicated calculation processing is required, and the size of suspended particles, the number of suspended particles, and the distribution of suspended particles in a spatial section of a fluid equidistant from the beam splitter can be suitably obtained. A suspended particle measuring apparatus can be provided.

本発明に係る浮遊粒子測定装置の他の望ましい態様としては、この浮遊粒子測定装置が、浮遊粒子を含む流体に対して低コヒーレント光を照射する低コヒーレント光源と、前記低コヒーレント光源から照射される低コヒーレント光を、透過および反射して前記流体と参照鏡とに向けて分離するビームスプリッタと、前記ビームスプリッタで分離されたのち前記参照鏡によって反射されてくる参照光と、分離されたのち前記浮遊粒子によって散乱されてくる散乱光とが、干渉する干渉光路上に配され、且つそれら参照光および散乱光によって生じる干渉光のスペクトル強度を検出することでその干渉光の干渉画像を得る撮像部と、前記撮像部で得られる複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力する画像出力部とを具備して成るものが挙げられる。   As another desirable mode of the suspended particle measuring apparatus according to the present invention, the suspended particle measuring apparatus is irradiated with a low coherent light source that irradiates a fluid containing suspended particles with low coherent light and the low coherent light source. A beam splitter that transmits and reflects low-coherent light toward the fluid and a reference mirror; and a reference beam that is separated by the beam splitter and then reflected by the reference mirror; An imaging unit that obtains an interference image of the interference light by detecting the spectral intensity of the interference light generated by the reference light and the scattered light, which is arranged on the interference optical path where the scattered light scattered by the suspended particles interferes. And an image output unit that outputs a plurality of interference images obtained by the imaging unit in order of imaging time. It is below.

このようなものであれば、流体に対して照射する光を低コヒーレント光としているため、上述したように、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある空間断面において、浮遊粒子が存在するか否か等を、干渉画像に表れる輝点により正確に求めることができる。   In such a case, since the light applied to the fluid is low-coherent light, as described above, whether or not suspended particles exist in the spatial section equidistant from the beam splitter to the reference mirror. And the like can be accurately obtained from the bright spots appearing in the interference image.

しかして、本発明の浮遊粒子測定装置によれば、画像出力部が、撮像部で得らた複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力するので、その干渉画像に現れる輝点の動きを動的に観ることができ、かかる空間断面における浮遊粒子の動きを具体的に把握することができる。   Thus, according to the suspended particle measuring apparatus of the present invention, the image output unit continuously outputs a plurality of interference images obtained by the imaging unit in the order of the imaging time. The movement can be observed dynamically, and the movement of the suspended particles in the space section can be grasped specifically.

すなわち、煩雑な演算処理を要せず、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある流体の空間断面における浮遊粒子の動きを具体的に把握することができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供することができる。   That is, the present invention provides an excellent suspended particle measuring apparatus that can specifically grasp the movement of suspended particles in a spatial section of a fluid equidistant from a beam splitter to a reference mirror without requiring complicated calculation processing. be able to.

以上説明したように本発明の浮遊粒子測定装置によれば、流体に対して照射する光を低コヒーレント光としているため、ビームスプリッタから参照鏡と等距離にある空間断面において、浮遊粒子が存在するか否か等を、干渉画像に表れる輝点により正確に求めることができる。   As described above, according to the suspended particle measuring apparatus of the present invention, since the light irradiated to the fluid is low coherent light, the suspended particles exist in the spatial section equidistant from the beam splitter to the reference mirror. Whether or not, etc., can be accurately obtained from the bright spots appearing in the interference image.

そして、演算部で、輝点の数を数えれば、その空間断面に存在する浮遊粒子の数量を知ることができ、輝点の面積によって、浮遊粒子の大きさを把握することができ、その空間断面における浮遊粒子の分布も知ることができる。   Then, if the number of bright spots is counted in the calculation unit, the number of suspended particles existing in the cross section of the space can be known, and the size of the suspended particles can be grasped according to the area of the bright spot. The distribution of suspended particles in the cross section can also be known.

また、画像出力部が、撮像部で得らた複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力するので、その干渉画像に現れる輝点の動きを動的に観ることができ、かかる空間断面における浮遊粒子の動きを具体的に把握することができる。   In addition, since the image output unit continuously outputs a plurality of interference images obtained by the imaging unit in the order of the imaging time, it is possible to dynamically observe the movement of the bright spots appearing in the interference image. The movement of suspended particles in the cross section can be grasped specifically.

すなわち、煩雑な演算処理を要せず、流体中の所定の空間断面における浮遊粒子のサイズ、浮遊粒子の数、浮遊粒子の分布を好適に求めることができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供することができ、また、煩雑な演算処理を要せず、流体中の所定の空間断面における浮遊粒子の動きを具体的に把握することができるといった、優れた浮遊粒子測定装置を提供することができる。   That is, it provides an excellent suspended particle measuring device that can suitably calculate the size of suspended particles, the number of suspended particles, and the distribution of suspended particles in a predetermined space section in a fluid without requiring complicated calculation processing. It is possible to provide an excellent suspended particle measuring apparatus capable of specifically grasping the movement of suspended particles in a predetermined space section in a fluid without requiring complicated calculation processing. it can.

以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施形態に係る浮遊粒子測定装置Aは、図1に示すように、セルSに閉じ込めた流体Tに含まれる浮遊粒子Rを測定するためのものであって、図1に示すように、低コヒーレント光B1を照射する低コヒーレント光源1と、この低コヒーレント光源1が照射した低コヒーレント光B1を平行光にするコリメート部2と、後述するビームスプリッタ4で分離反射されたのち入射してくる反射光B2を参照光B3として反射する参照鏡3と、コリメート部2で平行光化された平行光を、透過および反射してセルSの流体Tと参照鏡3とに向けて分離するビームスプリッタ4と、ビームスプリッタ4と参照鏡3との間に配した光アッテネータ5と、ビームスプリッタ4の反参照鏡側に配置したCCDカメラ6(本発明の「撮像部」に相当)と、CCDカメラ6で得た干渉画像に基づいて、浮遊粒子Rの大きさなどを求める処理を行う情報処理部7とを具備して成る。なお、セルSは、透明壁S1とこの透明壁S1で囲まれ流体Tを内部に収容する内部空間S2を有した、筒状のものとしているが、その形状は任意でよい。例えば、その奥行き方向を大きくしたり小さくしたりすることを妨げない。以下、具体的に各部を説明する。   The suspended particle measuring apparatus A according to the present embodiment is for measuring suspended particles R contained in a fluid T confined in a cell S as shown in FIG. A low-coherent light source 1 that emits coherent light B1, a collimator 2 that collimates the low-coherent light B1 emitted by the low-coherent light source 1, and a reflection that is incident after being separated and reflected by a beam splitter 4 described later. A reference mirror 3 that reflects the light B2 as the reference light B3, and a beam splitter 4 that transmits and reflects the parallel light that has been collimated by the collimator 2 and separates it toward the fluid T of the cell S and the reference mirror 3. An optical attenuator 5 disposed between the beam splitter 4 and the reference mirror 3, a CCD camera 6 (corresponding to the “imaging unit” of the present invention) disposed on the side opposite to the reference mirror of the beam splitter 4, and C Based on the interference image obtained by the D camera 6, formed by including an information processing unit 7 for processing to determine the size, etc. of suspended particles R. In addition, although the cell S is made into the cylindrical thing which was enclosed by the transparent wall S1 and this transparent wall S1, and had internal space S2 which accommodates the fluid T inside, the shape may be arbitrary. For example, it does not prevent the depth direction from being increased or decreased. Hereinafter, each part is demonstrated concretely.

低コヒーレント光源1は、白色光、すなわち、少なくとも可視帯域で連続したスペクトルを有する低コヒーレント光B1を照射するものである。なお、本実施形態では、この低コヒーレント光源1には、閃光時間がおよそ数万分の1秒間程度の短い白色光を、1秒間に複数回繰り返し発光させることができるキセノンフラッシュランプを用いている。   The low-coherent light source 1 emits white light, that is, low-coherent light B1 having a continuous spectrum at least in the visible band. In the present embodiment, the low coherent light source 1 uses a xenon flash lamp capable of repeatedly emitting short white light having a flash time of about tens of thousands of seconds for one second. .

コリメート部2は、向かい合う2枚の凸レンズ21、22などを具備し、これら凸レンズ21、22の屈折作用を利用して、低コヒーレント光源1から入射される低コヒーレント光B1である白色光を、平行光にして、ビームスプリッタ4に向けて出射するものである。この平行光は、低コヒーレント性を有する光であることは言うまでもない。   The collimating unit 2 includes two convex lenses 21 and 22 facing each other, and uses the refractive action of the convex lenses 21 and 22 to collate white light that is low-coherent light B1 incident from the low-coherent light source 1 in parallel. The light is emitted toward the beam splitter 4. Needless to say, this parallel light is light having low coherency.

参照鏡3は、該参照鏡3をビームスプリッタ4に対して接離動作させる図示しないアクチュエータに支持されてなるものである。そして、情報処理部7がかかる接離動作命令をアクチュエータに対して出力することで、この参照鏡3とビームスプリッタ4との距離を、情報処理部7で管理しながら変更できるようにしている。   The reference mirror 3 is supported by an actuator (not shown) that moves the reference mirror 3 toward and away from the beam splitter 4. The information processing unit 7 outputs the contact / separation operation command to the actuator so that the distance between the reference mirror 3 and the beam splitter 4 can be changed while being managed by the information processing unit 7.

ビームスプリッタ4は、少なくとも可視領域において、該ビームスプリッタ4に入射する光の波長に係らず、一定の比率で反射光B2と透過光B4とに分離するものであって、本実施形態では、プレート状のものを用いている。   The beam splitter 4 separates the reflected light B2 and the transmitted light B4 at a constant ratio regardless of the wavelength of the light incident on the beam splitter 4 at least in the visible region. The shape is used.

そして、このビームスプリッタ4の中心を、セルSと光源とを結ぶ最短の線路上に配置するとともに、該ビームスプリッタ4を、その線路に対して約45度に傾けて配置している。これにより、コリメート部2から入射してくる光B1を、ビームスプリッタ4を通過してセルSにそのまま向かう透過光B4と、ビームスプリッタ4で該線路に対して90度を成す方向へ反射して参照鏡3に向かう反射光B2とに分離させている。   The center of the beam splitter 4 is disposed on the shortest line connecting the cell S and the light source, and the beam splitter 4 is disposed at an angle of about 45 degrees with respect to the line. As a result, the light B1 incident from the collimating unit 2 is reflected in a direction that forms 90 degrees with respect to the transmission line B4 that passes through the beam splitter 4 and travels directly toward the cell S with respect to the line. The light is separated into reflected light B2 toward the reference mirror 3.

光アッテネータ5は、該光アッテネータ5を通過する光(参照鏡3からビームスプリッタ4に向かう光B3、および、ビームスプリッタ4から参照鏡3に向かう光B4)の透過光量を適宜減衰させることで、参照光B3の光量を調整できるようにしたものである。   The optical attenuator 5 appropriately attenuates the transmitted light amount of light passing through the optical attenuator 5 (light B3 directed from the reference mirror 3 to the beam splitter 4 and light B4 directed from the beam splitter 4 to the reference mirror 3), The light amount of the reference light B3 can be adjusted.

CCDカメラ6は、ビームスプリッタ4で分離されたのち参照鏡3によって反射されてくる参照光B3と、分離されたのち前記浮遊粒子Rによって散乱されてくる散乱光B5とが干渉する干渉光B6路上に配されるものであって、それら参照光B3および散乱光B5によって生じる干渉光B6のスペクトル強度を検出し、検出して得られた干渉光B6の干渉画像を、電気信号に変換し、情報処理部7に対して出力するものである。   The CCD camera 6 separates the reference light B3 reflected by the reference mirror 3 after being separated by the beam splitter 4 and the interference light B6 on which the scattered light B5 scattered by the floating particles R after the separation interferes. The spectral intensity of the interference light B6 generated by the reference light B3 and the scattered light B5 is detected, the interference image of the interference light B6 obtained by detection is converted into an electrical signal, and information This is output to the processing unit 7.

情報処理部7は、図2に示すように、CPU101、内部メモリ102、HDDなどの外部記憶装置103、マウスやキーボードなどの入力装置104、液晶ディスプレイなどの表示装置105、CCDカメラ6と通信するための通信インタフェース106等を具備してなるものであって、本実施形態では、一般的な情報処理機能を有するパソコンを用いている。   As shown in FIG. 2, the information processing unit 7 communicates with a CPU 101, an internal memory 102, an external storage device 103 such as an HDD, an input device 104 such as a mouse or a keyboard, a display device 105 such as a liquid crystal display, and a CCD camera 6. In this embodiment, a personal computer having a general information processing function is used.

そして、本実施形態では、この情報処理部7が、例えば内部メモリ102に記憶しているプログラムにしたがって、CPU101やその周辺機器を協働動作させることにより、この情報処理部7が、図3に示すように、参照鏡位置指定命令受付部7a、参照鏡位置指定命令出力部7b、干渉画像受付部7c、演算部7d、演算結果記憶部7e、画像出力部7fとしての機能を少なくとも発揮するように構成している。   In the present embodiment, the information processing unit 7 operates the CPU 101 and its peripheral devices in cooperation with each other in accordance with a program stored in the internal memory 102, for example. As shown, the reference mirror position designation command reception unit 7a, the reference mirror position designation command output unit 7b, the interference image reception unit 7c, the calculation unit 7d, the calculation result storage unit 7e, and the image output unit 7f are at least exhibited. It is configured.

参照鏡位置指定命令受付部7aは、参照鏡3位置を指定する命令を受け付けるものであって、入力装置104などを利用して構成している。なお、ここで、「参照鏡3位置」の具体例としては、例えば、参照鏡3のビームスプリッタ4に対する位置が挙げられる。また、これに限らず、参照鏡3のCCDカメラ6に対する位置としても良い。さらに、このように参照鏡3の他に対する距離を指定する命令を受け付けるのではなく、参照鏡3自身の移動距離を指定する命令を受け付けること等を妨げない。   The reference mirror position designation command accepting unit 7a accepts a command for designating the reference mirror 3 position, and is configured using the input device 104 or the like. Here, a specific example of the “reference mirror 3 position” includes, for example, the position of the reference mirror 3 with respect to the beam splitter 4. The position of the reference mirror 3 relative to the CCD camera 6 is not limited to this. Furthermore, it does not prevent receiving a command specifying the movement distance of the reference mirror 3 itself, instead of receiving a command specifying the distance to the other of the reference mirror 3 in this way.

参照鏡位置指定命令出力部7bは、参照鏡位置指定命令受付部7aで受け付けた参照鏡位置指定命令を、参照鏡3を支持するアクチュエータに対して出力するものであって、通信インタフェース106などを利用して構成している。   The reference mirror position designation command output unit 7b outputs the reference mirror position designation command received by the reference mirror position designation command reception unit 7a to an actuator that supports the reference mirror 3, and includes a communication interface 106 and the like. It is configured using.

干渉画像受付部7cは、CCDカメラ6から干渉画像を受け付けるものであって、通信インタフェース106などを利用して構成している。   The interference image receiving unit 7c receives an interference image from the CCD camera 6 and is configured using the communication interface 106 or the like.

演算部7dは、干渉画像受付部7cに記憶している干渉画像に基づいて、浮遊粒子Rの数量、大きさ、および分布を求めるものである。具体的には、浮遊粒子Rの数量については、例えば、所定以上の面積を有する輝点の数を数えることで、後述する空間断面T1に存在する浮遊粒子Rの数量を知ることができるようにしている。また、浮遊粒子Rの大きさについては、輝点の面積を個々に求めることで、個々の浮遊粒子Rの大きさを知ることができるようにしている。また、浮遊粒子Rの分布については、空間断面T1の全部または一部を切り出した分布画像を生成することで、浮遊粒子Rの分布を知ることができるようにしている。つまり、演算部7dでは、空間断面における浮遊粒子の分布などを演算可能である。   The computing unit 7d obtains the quantity, size, and distribution of the suspended particles R based on the interference image stored in the interference image receiving unit 7c. Specifically, for the quantity of suspended particles R, for example, by counting the number of bright spots having an area larger than a predetermined area, the quantity of suspended particles R existing in the space section T1 described later can be known. ing. As for the size of the suspended particles R, the size of each suspended particle R can be known by obtaining the area of each bright spot. As for the distribution of the suspended particles R, the distribution of the suspended particles R can be known by generating a distribution image obtained by cutting out all or part of the spatial section T1. That is, the calculation unit 7d can calculate the distribution of suspended particles in the space section.

演算結果記憶部7eは、演算部7dから出力される演算結果と、参照鏡位置指定命令で示される参照鏡位置情報とを関連付けて一時的に記憶するものであって、例えば、内部メモリ102の所定領域に形成して成る。   The calculation result storage unit 7e temporarily stores the calculation result output from the calculation unit 7d and the reference mirror position information indicated by the reference mirror position designation command in association with each other. It is formed in a predetermined area.

画像出力部7fは、撮像部で得られ演算結果記憶部7eに記憶している複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力するものであって、表示装置105などを利用して構成している。   The image output unit 7f continuously outputs a plurality of interference images obtained by the imaging unit and stored in the calculation result storage unit 7e in the order of the imaging time, and is configured using the display device 105 or the like. is doing.

なお、この画像出力部7fは、空間断面T1における平面的な画像として出力するだけでなく、演算結果記憶部7eに記憶している参照鏡位置情報に基づいて立体的な画像としても出力することができる。   The image output unit 7f not only outputs a planar image on the spatial section T1, but also outputs a stereoscopic image based on the reference mirror position information stored in the calculation result storage unit 7e. Can do.

以下、本実施形態の浮遊粒子測定装置Aについて、その動作を説明する。   Hereinafter, the operation of the suspended particle measuring apparatus A of the present embodiment will be described.

まず、低コヒーレント光源1が照射した低コヒーレント光B1がコリメート部2に入射されると、該コリメート部2によってその低コヒーレント光B1は平行光にされる。   First, when the low-coherent light B1 irradiated by the low-coherent light source 1 is incident on the collimating unit 2, the collimating unit 2 converts the low-coherent light B1 into parallel light.

そして、平行光になった低コヒーレント光B1が、ビームスプリッタ4に入射されると、この平行光の低コヒーレント光B1は、該ビームスプリッタ4で反射して参照鏡3に向かう反射光B2と透過してセルSに向かう透過光B4とに分離される。   Then, when the low-coherent light B1 that has become parallel light is incident on the beam splitter 4, the low-coherent light B1 of the parallel light is reflected by the beam splitter 4 and transmitted through the reflected light B2 toward the reference mirror 3. Then, it is separated into transmitted light B4 traveling toward the cell S.

参照鏡3に向かった反射光B2は、参照鏡3で反射され、参照光B3としてビームスプリッタ4に向けて戻ってくる。一方、セルSに向かった透過光B4は、そのセルS内にある浮遊粒子Rで散乱され、その一部がビームスプリッタ4に向かって戻ってくる。(図1では、作図の都合上、散乱光B5のうち、ビームスプリッタ4に戻ってこない散乱光などを適宜省略している。)   The reflected light B2 directed toward the reference mirror 3 is reflected by the reference mirror 3 and returns toward the beam splitter 4 as the reference light B3. On the other hand, the transmitted light B <b> 4 toward the cell S is scattered by the suspended particles R in the cell S, and a part thereof returns toward the beam splitter 4. (In FIG. 1, the scattered light etc. which do not return to the beam splitter 4 among the scattered light B5 are abbreviate | omitted suitably for convenience of drawing.)

このようにして、ビームスプリッタ4にそれぞれ戻ってきた参照光B3と散乱光B5とは、ビームスプリッタ4で透過及び反射されCCDカメラ6に向かう。   In this way, the reference light B3 and the scattered light B5 respectively returning to the beam splitter 4 are transmitted and reflected by the beam splitter 4 and travel toward the CCD camera 6.

このとき、浮遊粒子Rで散乱される散乱光B5のうちビームスプリッタ4から参照鏡3と等距離(空間断面T1)にある浮遊粒子R1からの後方散乱光B5aは、参照光B3に対して時間上も空間上もコヒーレントな関係となる。一方、ビームスプリッタ4から参照鏡3と等距離(空間断面T1)にない浮遊粒子R2からの散乱光B5bは、参照光B3に対してコヒーレントな関係とはならない。したがって、かかる後方散乱光B5aのみが、参照光B3と干渉するので、CCDカメラ6では、干渉画像の輝点として現れ、これを該CCDカメラ6が電気信号として出力する。   At this time, of the scattered light B5 scattered by the suspended particles R, the backscattered light B5a from the suspended particles R1 that are equidistant from the beam splitter 4 to the reference mirror 3 (spatial section T1) is timed relative to the reference light B3. It is a coherent relationship both above and in space. On the other hand, the scattered light B5b from the suspended particle R2 that is not equidistant from the beam splitter 4 and the reference mirror 3 (spatial section T1) does not have a coherent relationship with the reference light B3. Accordingly, only the backscattered light B5a interferes with the reference light B3, so that the CCD camera 6 appears as a bright spot of the interference image, and the CCD camera 6 outputs this as an electrical signal.

なお、本実施形態では、低コヒーレント光源1の照射タイミングと同期させて干渉画像を撮像するようにしており、これにより撮像感度の精度を向上を図っている。   In the present embodiment, an interference image is captured in synchronization with the irradiation timing of the low-coherent light source 1, thereby improving the accuracy of imaging sensitivity.

このようにして、CCDカメラ6が出力した電気信号に変換された干渉画像は、情報処理部7で、適宜演算され、空間断面T1にある浮遊粒子Rの数量、浮遊粒子Rの大きさ、および浮遊粒子Rの分布を、視覚的に知ることができる。   Thus, the interference image converted into the electrical signal output from the CCD camera 6 is appropriately calculated by the information processing unit 7, and the quantity of the suspended particles R in the spatial section T1, the size of the suspended particles R, and The distribution of the suspended particles R can be visually confirmed.

したがって、以上のように構成した本実施形態に係る浮遊粒子測定装置Aによれば、流体Tに対して照射する光を低コヒーレント光B1としているため、ビームスプリッタ4から参照鏡3と等距離にある空間断面T1において、浮遊粒子Rが存在するか否か等を、干渉画像に表れる輝点により正確に求めることができる。   Therefore, according to the suspended particle measuring apparatus A according to the present embodiment configured as described above, the light irradiated to the fluid T is the low coherent light B1, so that the beam splitter 4 is equidistant from the reference mirror 3. Whether or not the suspended particles R are present in a certain space section T1 can be accurately determined from the bright spots appearing in the interference image.

そして、演算部7dで、輝点の数を数えるので、その空間断面T1に存在する浮遊粒子Rの数量を知ることができ、輝点の面積によって、浮遊粒子Rの大きさを把握することができ、さらにその空間断面T1における浮遊粒子Rの分布も知ることができる。   Then, since the number of bright spots is counted by the calculation unit 7d, the quantity of the suspended particles R existing in the spatial section T1 can be known, and the size of the suspended particles R can be grasped by the area of the bright spots. In addition, the distribution of the suspended particles R in the space section T1 can also be known.

また、画像出力部7fが、CCDカメラ6で得らた複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力するので、その干渉画像に現れる輝点の動きを動的に観ることができ、かかる空間断面T1における浮遊粒子Rの動きを具体的に把握することができる。   In addition, since the image output unit 7f continuously outputs a plurality of interference images obtained by the CCD camera 6 in the order of the imaging time, the movement of the bright spot appearing in the interference image can be dynamically observed, The movement of the suspended particles R in the spatial section T1 can be specifically grasped.

すなわち、煩雑な演算処理を要せず、流体T中の所定の空間断面T1における浮遊粒子Rのサイズ、浮遊粒子Rの数、浮遊粒子Rの分布を好適に求めることができ、また、流体T中の所定の空間断面T1における浮遊粒子Rの動きを具体的に把握することができるといった、優れた浮遊粒子測定装置Aを提供することができる。   That is, complicated calculation processing is not required, and the size of the floating particles R, the number of the floating particles R, and the distribution of the floating particles R in the predetermined space section T1 in the fluid T can be suitably obtained. It is possible to provide an excellent suspended particle measuring apparatus A that can specifically grasp the movement of suspended particles R in a predetermined space section T1 therein.

前記ビームスプリッタ4と前記参照鏡3との間に、透過光量を調整可能な光アッテネータ5を配置しているので、この光アッテネータ5の透過光量の調整により参照光B3の強度を調整し、干渉光B6の干渉度合いを変化させて、干渉画像のコントラストを調節することができる。そして、コントラストが調整された干渉画像によって、浮遊粒子R1の数量、浮遊粒子R1の分布を、浮遊粒子R1の大きさを精度良く知ることができる。   Since an optical attenuator 5 capable of adjusting the amount of transmitted light is disposed between the beam splitter 4 and the reference mirror 3, the intensity of the reference light B3 is adjusted by adjusting the amount of transmitted light of the optical attenuator 5, and interference is caused. The contrast of the interference image can be adjusted by changing the degree of interference of the light B6. The number of the suspended particles R1, the distribution of the suspended particles R1, and the size of the suspended particles R1 can be accurately known from the interference image whose contrast is adjusted.

セルSとビームスプリッタ4との間に、コリメート部2を配しているので、コリメート部2により低コヒーレント光B1を平行光化して、流体Tに対して面的に照射できるので、ビームスプリッタ4から参照鏡3と等距離にある空間断面T1にある浮遊粒子Rの数量、浮遊粒子Rの分布、浮遊粒子Rの大きさを、一度に知ることができる。   Since the collimator 2 is disposed between the cell S and the beam splitter 4, the collimator 2 can collimate the low-coherent light B1 and irradiate the fluid T in a plane. Thus, the number of suspended particles R, the distribution of suspended particles R, and the size of suspended particles R in the space section T1 equidistant from the reference mirror 3 can be known at a time.

前記参照鏡3を、ビームスプリッタ4またはCCDカメラ6に対して接離動作可能に構成しているので、参照鏡3を接離動作させてビームスプリッタ4と参照鏡3との距離を変更することができ、その変更後の距離と等距離の空間断面T1にある浮遊粒子Rの数量、浮遊粒子Rの分布を、浮遊粒子Rの大きさを知ることができる。すなわち、流体Tの奥行き方向にある浮遊粒子Rの数量、浮遊粒子Rの分布を、浮遊粒子Rの大きさを知ることができ、三次元的な解析に資する。   Since the reference mirror 3 is configured to be capable of moving toward and away from the beam splitter 4 or the CCD camera 6, the distance between the beam splitter 4 and the reference mirror 3 is changed by moving the reference mirror 3 toward and away from the beam. The size of the suspended particles R can be known from the number of suspended particles R in the spatial section T1 that is equidistant from the changed distance and the distribution of the suspended particles R. That is, the quantity of the suspended particles R in the depth direction of the fluid T and the distribution of the suspended particles R can know the size of the suspended particles R, which contributes to a three-dimensional analysis.

なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。   The present invention is not limited to the above embodiment.

例えば、セルSは、流体をその中に留めて測るバッチ型であっても、流体を流し続ける流通型であっても、それらの併用型であってもよい。   For example, the cell S may be a batch type in which the fluid is retained and measured, a flow type in which the fluid is kept flowing, or a combination type thereof.

また、セルSは光を透過する必要があるが、全体が透明であっても、一部あるいは広い範囲に光透過部分(窓)を設けてものでもよい。   Further, the cell S needs to transmit light, but the entire cell S may be transparent, or a light transmission part (window) may be provided in a part or a wide range.

また、セルSへの光の入射部分は、その表面反射が撮像部に戻らないようにする構成とすることができる。具体的には、例えば、その面への入射光角度を0度以外(垂直以外)とする、あるいは反射防止コーティングを施す、あるいはそれらを併用するといったものが挙げられる。   Further, the light incident portion of the cell S can be configured so that the surface reflection does not return to the imaging unit. Specifically, for example, the incident light angle to the surface is other than 0 degrees (other than vertical), an antireflection coating is applied, or they are used in combination.

また、セルS内の流体Tに含まれる浮遊粒子Rを測定するようにしているが、流体TがセルS内に閉じ込められたものでなくても良い。例えば、大気中に含まれる浮遊粒子を測定することもできる。   Further, the suspended particles R contained in the fluid T in the cell S are measured, but the fluid T may not be confined in the cell S. For example, airborne particles contained in the atmosphere can be measured.

また、透過光量調整部として、光量を減衰させる光アッテネータ5を用いているが、光量を増幅させるものを用いることを妨げない。また、透過光量調整部を用いない構成とすることもできる。   Moreover, although the optical attenuator 5 that attenuates the amount of light is used as the transmitted light amount adjustment unit, it does not interfere with the use of the one that amplifies the amount of light. In addition, a configuration in which the transmitted light amount adjustment unit is not used may be employed.

また、コリメート部の構成も実施態様に応じて適宜変更可能である。   Moreover, the structure of the collimating part can be appropriately changed according to the embodiment.

また、セルSと参照鏡3との配置位置を入れ替えても良い。   Further, the arrangement positions of the cell S and the reference mirror 3 may be interchanged.

その他、各部の具体的構成についても上記実施形態に限られるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。   In addition, the specific configuration of each part is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

本発明の一実施形態である浮遊粒子測定装置を概略的に示す全体図。1 is an overall view schematically showing a suspended particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. 同実施形態における情報処理部の機器構成図。The equipment block diagram of the information processing part in the same embodiment. 同実施形態における情報処理部の機能構成図。The function block diagram of the information processing part in the embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

A・・・・浮遊粒子測定装置
B1・・・低コヒーレント光
B3・・・参照光
B5・・・散乱光
B6・・・干渉光
R・・・・浮遊粒子
T・・・・流体
1・・・・低コヒーレント光源
2・・・・コリメート部
3・・・・参照鏡
4・・・・ビームスプリッタ
5・・・・透過光量調整部(光アッテネータ)
6・・・・撮像部(CCDカメラ)
7d・・・演算部
7f・・・画像出力部
A ... Airborne particle measuring device B1 ... Low coherent light B3 ... Reference light B5 ... Scattered light B6 ... Interference light R ... Airborne particle T ... Fluid 1 ... ··· Low coherent light source 2 ··· Collimator 3 ··· Reference mirror 4 ··· Beam splitter 5 ··· Transmitted light amount adjustment unit (optical attenuator)
6. Image pickup unit (CCD camera)
7d: arithmetic unit 7f: image output unit

Claims (2)

浮遊粒子を含む流体に対して低コヒーレント光を照射する低コヒーレント光源と、
前記低コヒーレント光源から照射される低コヒーレント光を、透過および反射して前記流体と参照鏡とに向けて分離するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタで分離されたのち前記参照鏡によって反射されてくる参照光と、分離されたのち前記浮遊粒子によって散乱されてくる散乱光とが、干渉する干渉光路上に配され、且つそれら参照光および散乱光によって生じる干渉光のスペクトル強度を検出することでその干渉光の干渉画像を得る撮像部と、
前記撮像部で得た干渉画像に基づいて、前記浮遊粒子の数量、分布および大きさのうち少なくとも一つを求める演算部とを具備してなることを特徴とする浮遊粒子測定装置。
A low coherent light source that emits low coherent light to a fluid containing suspended particles;
A beam splitter that transmits and reflects low-coherent light emitted from the low-coherent light source toward the fluid and a reference mirror; and
The reference light reflected by the reference mirror after being separated by the beam splitter and the scattered light scattered by the suspended particles after being separated are arranged on an interference optical path that interferes with each other, and these reference lights And an imaging unit that obtains an interference image of the interference light by detecting the spectral intensity of the interference light caused by the scattered light,
An airborne particle measuring apparatus comprising: an arithmetic unit that obtains at least one of the number, distribution, and size of the airborne particles based on an interference image obtained by the imaging unit.
浮遊粒子を含む流体に対して低コヒーレント光を照射する低コヒーレント光源と、
前記低コヒーレント光源から照射される低コヒーレント光を、透過および反射して前記流体と参照鏡とに向けて分離するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタで分離されたのち前記参照鏡によって反射されてくる参照光と、分離されたのち前記浮遊粒子によって散乱されてくる散乱光とが、干渉する干渉光路上に配され、且つそれら参照光および散乱光によって生じる干渉光のスペクトル強度を検出することでその干渉光の干渉画像を得る撮像部と、
前記撮像部で得られる複数の干渉画像を、撮像時間順に連続的に画像出力する画像出力部とを具備して成ることを特徴とする浮遊粒子測定装置。
A low coherent light source that emits low coherent light to a fluid containing suspended particles;
A beam splitter that transmits and reflects low-coherent light emitted from the low-coherent light source toward the fluid and a reference mirror; and
The reference light reflected by the reference mirror after being separated by the beam splitter and the scattered light scattered by the suspended particles after being separated are arranged on an interference optical path that interferes with each other, and these reference lights And an imaging unit that obtains an interference image of the interference light by detecting the spectral intensity of the interference light caused by the scattered light,
An airborne particle measuring apparatus comprising: an image output unit that continuously outputs a plurality of interference images obtained by the imaging unit in order of imaging time.
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