JP2007328447A - ソフトウェア試験項目選択装置、ソフトウェア試験項目選択プログラム、ソフトウェア試験項目選択プログラムが格納された記憶媒体およびソフトウェア試験項目選択方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。
【解決手段】複数のモジュールからなるソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第1の試験項目ごとに、第1の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるトレース手段と、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報および不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を削除した、第3の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える、ソフトウェア試験項目選択装置を提供する。
【選択図】図2
【解決手段】複数のモジュールからなるソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第1の試験項目ごとに、第1の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるトレース手段と、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報および不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を削除した、第3の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える、ソフトウェア試験項目選択装置を提供する。
【選択図】図2
Description
本発明は、ソフトウェアの開発において、その動作試験に使用される技術に関する。特に、再生成されたプログラムの修正モジュールに対応する再試験項目を選択する技術に関する。
現在、さまざまな分野でコンピュータが日常的に使われている。このため、コンピュータを制御するためのソフトウェアに欠陥があったにもたらされる誤作動により、社会に与える影響は非常に大きなものとなる可能性がある。このような事態を防ぐために、ソフトウェア開発においては、ソフトウェアの信頼性を確保することが重要である。
ソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアの動作確認のための次のような手法がある。まず、試験項目を実行し、バグが発見されると、不具合のあるモジュールが修正される。そして、再度試験項目を実行し、動作確認を行なう。
しかしながら、市場の競争激化によってソフトウェアの開発期間の短縮化が要請されており、ソフトウェア開発において、ソフトウェアの動作試験に割くことができる時間は限られる。上記のような方法では、再試験時に全試験項目を実施するため多くの時間を要してしまう。
そこで、特許文献1において、ソフトウェアの動作試験のための試験項目を削減する方法が開示されている。この方法によれば、試験項目を実施する際にモジュールの走行履歴を蓄積し、走行履歴に記録されたモジュールの中に修正されたモジュールが含まれる試験項目のみを抽出する。これにより、すべての試験項目を実行する必要がなく、試験項目数を削減できる。
特開平4−152436号公報
しかしながら、実際のソフトウェア開発においては、不具合のあるモジュールの修正に多くの時間を要する場合がある。特許文献1で開示される方法は、そのように未だ不具合が修正されていないモジュールを考慮して試験項目を抽出していない。このため、未修正の不具合モジュールを走行履歴に含む試験項目も抽出される。この場合、走行履歴には不具合モジュールも含まれるため、修正したモジュールが正しく動作するかどうかの試験結果については信頼性が低くなってしまう。
このように、従来方法においては、すべての不具合モジュールの修正が終了してから再試験を行なう必要があり、試験工程が終了するのに長い期間が必要であった。
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであって、その目的は、未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、効率的に再試験すべき試験項目を選択する装置を提供することである。
本発明の1つの局面に従うと、ソフトウェア試験項目選択装置であって、複数のモジュールからなるソフトウェアのうち、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報および不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を記憶するための記憶手段と、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第1の試験項目ごとに、第1の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を記憶手段に与えるトレース手段と、不具合モジュール情報および修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を削除した、第3の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える。
好ましくは、有効試験項目選定手段は、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、記憶手段に与える未修正不具合モジュール抽出手段と、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた再試験項目を特定するための抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、記憶手段に与える試験項目抽出手段と、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、再試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を抽出する手段とを含む。
本発明の他の局面に従うと、複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第1の試験項目から、特定のモジュールについての試験項目を抽出する処理を、演算部および記憶部を有するコンピュータに実行させるためのプログラムであって、演算部が、ソフトウェアおよび複数の第1の試験項目を記憶部から読み込むステップと、演算部が、複数の第1の試験項目ごとに、第1の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を記憶部に書き込むステップと、演算部が、記憶部から、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報と不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、演算部が、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、記憶部に書き込むステップと、演算部が、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、記憶部に書き込むステップと、演算部が、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、第2の試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第3の試験項目を削除した、第4の試験項目を出力するステップとを備える。
本発明のさらに他の局面に従うと、上記ソフトウェア試験項目選択プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を提供する。
本発明のさらに他の局面に従うと、複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第1の試験項目から、特定のモジュールについての試験項目を抽出する方法であって、ソフトウェアおよび複数の第1の試験項目を読み込むステップと、複数の第1の試験項目ごとに、第1の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるステップと、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報と不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出するステップと、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出するステップと、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、第2の試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第3の試験項目を削除した、第4の試験項目を出力するステップとを備える。
本発明によれば、未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から効率的に再試験すべき試験項目を抽出することができる。これにより、試験工程の途中においても試験項目を実施することができる。したがって、試験工程の期間を短縮することができ、効率的にソフトウェア開発を行なうことが可能である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについては詳細な説明は繰り返さない。
本実施の形態の説明に先立って、ソフトウェアの一般的な試験工程について述べる。
一般的にソフトウェアの試験工程では、まず、内部仕様を確認するために、モジュール単位の試験(単体テスト)、次いで、モジュールの結びつきによる呼び出し試験(結合テスト)が実施される。その後、外部使用を確認するために、機能の試験(総合テスト)が実施される。
一般的にソフトウェアの試験工程では、まず、内部仕様を確認するために、モジュール単位の試験(単体テスト)、次いで、モジュールの結びつきによる呼び出し試験(結合テスト)が実施される。その後、外部使用を確認するために、機能の試験(総合テスト)が実施される。
本発明に係る試験項目抽出装置は、単体テストおよび結合テストによって内部仕様が確認された後の総合テストにおいて、モジュールの修正後に再度実施すべき試験項目のうち有効な試験項目を抽出するものである。
図1は、試験項目選択装置100の構成例を示すブロック図である。
図1を参照して、試験項目選択装置100の構成について説明する。
図1を参照して、試験項目選択装置100の構成について説明する。
試験項目選択装置100は、コンピュータ本体102と、コンピュータ本体102とバス126を介して接続される、フレキシブルディスク(Flexible Disk、以下FD)116に情報を読み書きするためのFDドライブ106と、CD−ROM(Compact Disc Read-Only Memory)118等の光ディスク上の情報を読み込むための光ディスクドライブ108と、外部とデータの授受を行なうための通信インターフェイス128と、表示装置としてのモニタ104と、入力装置としてのキーボード110およびマウス112とを備える。また、通信インターフェイス128を経由して、外部より、試験項目140、試験対象ソフトウェア141、修正モジュール情報142および不具合モジュール情報144が与えられる。コンピュータ本体102は、バス126に接続されたCPU(Central Processing Unit)120と、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)を含むメモリ122と、直接アクセスメモリ装置、たとえば、ハードディスク124を含む。
ハードディスク124内には、試験項目別走行履歴情報130と、抽出走行履歴情報132と、未修正モジュール情報134と、有効試験項目136とが含まれる。これらについて詳しくは後述する。
光ディスクドライブ108にはCD−ROM118などの光ディスクが装着される。FDドライブ106にはFD116が装着される。なお、CD−ROM118は、コンピュータ本体に対してインストールされるプログラム等の情報を記録可能な媒体であれば、他の媒体、たとえば、DVD−ROM(Digital Versatile Disc)やメモリーカードなどでもよく、その場合は、コンピュータ本体102には、これらの媒体を読み取ることが可能なドライブ装置が設けられる。
試験項目を抽出するプログラム(以下、単に試験項目抽出プログラムと呼ぶ)は、FD116またはCD−ROM118等の記憶媒体によって供給される。試験項目抽出プログラムがコンピュータ本体102によって実行されることにより、上述のような試験項目の抽出が行なわれる。また、試験項目抽出プログラムは他のコンピュータより通信インターフェイス128を経由し、コンピュータ本体102に供給されてもよい。
また、本実施の形態では、試験項目140、試験対象ソフトウェア141、修正モジュール情報142および不具合モジュール情報144は、通信インターフェイス128を介してコンピュータ本体102に与えられるが、記憶媒体によって供給されてもよいし、キーボード110を介してユーザが入力してもよい。なお、これらの情報は一旦ハードディスク124に格納されることにより、これらの情報に対して、ユーザがキーボード110を介して、追加、修正、削除等の編集を行なうことが可能である。
CPU120は、メモリ122をワーキングメモリとして、上述した試験項目抽出プログラムに対応した処理を実行する。
試験項目抽出プログラムは、上述の通り、CPU120により実行されるソフトウェアである。一般的に、こうしたソフトウェアは、CD−ROM118、FD116等の記憶媒体に格納されて流通し、光ディスクドライブ108またはFDドライブ106等により記憶媒体から読み取られてハードディスク124に一旦格納される。または、コンピュータ102がネットワークに接続されている場合には、ネットワーク上のサーバから一旦ハードディスク124にコピーされる。そうしてさらにハードディスク124からメモリ122中のRAMに読み出されてCPU120により実行される。なお、ネットワーク接続されている場合には、ハードディスク124に格納することなくRAMに直接ロードして実行するようにしてもよい。
図1に示したコンピュータのハードウェア自体およびその動作原理は一般的なものである。したがって、本発明の機能を実現するに当り本質的な部分は、FD116、CD−ROM118、ハードディスク124等の記録媒体に記憶されたソフトウェアである。
図2は、CPU120の機能的構成を示すブロック図である。
図2を参照して、CPU120の機能的構成を説明する。
図2を参照して、CPU120の機能的構成を説明する。
CPU120は、試験項目140および試験対象ソフトウェア141から試験項目別走行履歴情報130を与えるトレース部202と、試験項目別走行履歴情報130と修正モジュール情報142とから抽出走行履歴情報132を与える試験項目抽出部204と、修正モジュール情報142と不具合修正モジュール情報144とから未修正不具合モジュール情報134を与える未修正不具合情報モジュール抽出部206と、抽出走行履歴情報132と未修正不具合モジュール情報134とから有効試験項目136を与える有効試験項目抽出部208とを含む。
記憶部220は、ハードディスク124と通信インターフェイス128を介して接続される外部の記憶装置等を総称したものである。
記憶部220は、試験項目別走行履歴情報130と、抽出走行履歴情報132と、未修正モジュール情報134と、有効試験項目136と、試験項目140と、試験対象ソフトウェア141と、修正モジュール情報142と、不具合モジュール情報144とを保存する。
試験対象ソフトウェア141は、複数のモジュールからなるソフトウェアである。各モジュールは設計仕様に従った処理を行なう。
試験項目140は、予め試験担当者によって作成されており、ソフトウェアの設計仕様中の各機能を満たすかを確認するための試験の手順が示されている。なお、各試験項目には、試験項目に対してソフトウェアが正しく動作したときの試験の結果が、予め準備されている。
たとえば、携帯電話の動作を制御するためのソフトウェアに対する試験項目として、「Fキーを押した後に、0キーを押して自局番号を表示する。」が与えられている場合を考える。この場合、「自局番号が正しい位置に表示される。」ということが、ソフトウェアが正しく動作したときの試験の結果として予め準備されている。
トレース部202は、試験対象ソフトウェア141に対して試験項目140を実施したときに、試験項目ごとにモジュールの走行履歴を示した試験項目別走行履歴情報130を記憶部220に与える。なお、トレース部202は、特許文献1で開示された方法と同様の方法によりトレースする。特許文献1と同等の方法によれば、トレース部202は、まず、試験項目を実施する前に、各モジュールの先頭に予めトレース命令を挿入する。そして、各試験項目の実施に応じて各モジュールの先頭に挿入されたトレース命令が実行される度に、走行履歴を示す情報としてモジュール情報を記憶しておき、試験項目別走行履歴情報130として記憶部220に与える。
不具合モジュール情報144は、不具合を含むモジュールを示す情報である。不具合モジュール情報は、次のようにして与えられる。
一般的には、ソフトウェアの試験工程において、上記のような試験項目を実施した場合、予め準備されている結果と試験項目を実施した結果とが違うことがある。このような結果は、不具合現象として発見される。たとえば、上記の携帯電話の例では、正しい位置に表示されない場合、不具合現象として発見される。
そして、不具合現象が発見されると、その原因を究明するため、試験項目別走行履歴情報をもとに、実行される各モジュールが内部仕様通り動作しているか順に確認し、内部仕様通りに動作していないモジュールを特定する。このような作業により特定されたモジュールが不具合モジュール情報として外部より与えられる。
修正モジュール情報142は、不具合モジュール情報144に含まれるモジュールのうち、不具合の修正が完了したモジュールを示す情報として外部より与えられる。
試験項目抽出部204は、試験項目別走行履歴情報130の中から、修正モジュール情報142に含まれるモジュールを走行履歴に含むような試験項目の走行履歴情報を抽出走行履歴情報132として抽出し、記憶部220に与える。
未修正不具合モジュール抽出部206は、不具合モジュール情報144の中から、修正モジュール情報142に含まれる修正が完了したモジュールを削除した、未修正の不具合モジュールを示す未修正不具合モジュール情報134として抽出し、記憶部220に与える。
有効試験項目抽出部208は、抽出走行履歴情報132の中から、未修正不具合モジュール情報に含まれるモジュールを走行履歴に含むような試験項目を有効試験項目136として抽出し、記憶部220に与える。
以上のような構成の試験項目選択装置100は、与えられた試験項目の中から修正が完了したモジュールについての試験項目を抽出する。以下に、試験項目選択装置100が実行する処理について説明する。
図3は、再試験項目を抽出する処理の流れを示したフローチャートである。
図3を参照して、試験項目選択装置100がテスト可能な試験項目を抽出する処理について説明する。
図3を参照して、試験項目選択装置100がテスト可能な試験項目を抽出する処理について説明する。
ステップS300では、CPU120は、通信インターフェイス128を介して与えられる試験項目140および試験対象ソフトウェア141を読み込み、ハードディスク124に一旦格納する。
次いで、ステップS302では、CPU120は、試験対象ソフトウェア141に対して試験項目140を実施し、試験項目別走行履歴情報130をハードディスク124に格納する。ここでは、上述したようなトレース方法を用いる。
図4は、試験項目別走行履歴情報130の一例を示した図である。
図4を参照して、試験項目別走行履歴情報について説明する。
図4を参照して、試験項目別走行履歴情報について説明する。
試験項目別走行履歴情報は、試験項目番号と走行履歴モジュール名とから構成される。各試験項目(TC#1、TC#2、TC#3)は、ソフトウェアの設計仕様中の各機能を確認するための試験に対応している。走行履歴モジュール名は、各試験項目を実施したときに実行されたモジュール名である。
たとえば、試験項目TC#1が実施されたときに実行されたモジュールは、モジュールAおよびモジュールDである。
図3に戻って、ステップS304では、CPU120は、通信インターフェイス128を介して与えられる修正モジュール情報142を読み込み、ハードディスク124に一旦格納する。
図5は、修正モジュール情報142の一例を示した図である。
図5を参照して、修正モジュール情報について説明する。
図5を参照して、修正モジュール情報について説明する。
修正モジュール情報142は、不具合の修正が完了したモジュールを示したものである。図5では、モジュールAおよびモジュールCが不具合の修正が完了したモジュールであることを示している。
図3に戻って、ステップS306では、CPU120は、ステップS304で読み込んだ修正モジュール情報142に基づき、試験項目別走行履歴情報130から抽出した抽出走行履歴情報132をハードディスク124に格納する。
図6は、抽出走行履歴情報132の一例を示した図である。
図6を参照して、抽出走行履歴情報について説明する。
図6を参照して、抽出走行履歴情報について説明する。
図6に示す抽出走行履歴情報は、図4に示す試験項目別走行履歴情報から、図5に示す修正モジュール情報に基づき抽出したものである。図5に示すような不具合を修正したモジュールとして与えられるモジュールAまたはモジュールCの少なくとも一つを走行履歴モジュールに含む試験項目が、試験項目別走行履歴情報から抽出される。図4において、修正したモジュールを走行履歴として含む試験項目はTC#1とTC#3である。その結果、図6に示すような抽出走行履歴情報が得られる。
図3に戻って、ステップS308では、CPU120は、通信インターフェイス128を介して与えられる不具合モジュール情報144を読み込み、ハードディスク124に一旦格納する。
図7は、不具合モジュール情報144の一例を示した図である。
図7を参照して、不具合モジュール情報について説明する。
図7を参照して、不具合モジュール情報について説明する。
不具合モジュール情報は、不具合を含むモジュールを示したものである。図7では、モジュールA、モジュールCおよびモジュールDが不具合を含むモジュールであることを示している。
図3に戻って、ステップS310では、CPU120は、ステップS308で読み込んだ不具合モジュール情報144から、ステップS304で読み込んだ修正モジュール情報142に基づき、未修正不具合モジュール情報134を抽出し、ハードディスク124に格納する。
図8は、未修正不具合モジュール情報134の一例を示した図である。
図8を参照して未修正不具合モジュール情報について説明する。
図8を参照して未修正不具合モジュール情報について説明する。
図8に示す未修正不具合モジュール情報は、図7に示す不具合モジュール情報から、図5に示す修正モジュール情報に基づき抽出したものである。図5に示す修正モジュール情報から、修正したモジュールはモジュールAおよびモジュールCである。したがって、図7に示す不具合モジュール情報から図5に示す修正モジュール情報を削除した結果、図8に示すような未修正不具合モジュール情報が得られる。
図3に戻って、ステップS312では、CPU120は、抽出走行履歴情報132から、未修正不具合モジュール情報134に基づき、有効試験項目136を抽出し、ハードディスク124に格納する。この際、CPU120は、ハードディスク124から有効試験項目136を読み込み、モニタ104に表示するようにしてもよい。
図9は、有効試験項目136の一例を示した図である。
図9を参照して、有効試験項目について説明する。
図9を参照して、有効試験項目について説明する。
図9に示す有効試験項目は、図6に示す抽出走行履歴情報から、図8に示す未修正不具合モジュール情報に基づき抽出したものである。図8に示すような未修正の不具合モジュールDを走行履歴モジュールに含む試験項目はTC#1である。したがって、抽出走行履歴情報の試験項目からTC#1を除いた結果、図9に示すような有効試験項目が得られる。
以上のような処理にしたがえば、本発明に係る試験項目抽出装置は、試験項目を実施した後に、未修正不具合モジュール情報を考慮して、再度実施すべき試験項目を抽出することができる。これにより、不具合を含むモジュールすべての修正が完了していない段階においても、修正が完了しているモジュールだけに対する試験項目を実行することができる。したがって、試験工程に要する時間を短縮することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
100 試験項目選択装置、102 コンピュータ本体、104 モニタ、106 FDドライブ、108 光ディスクドライブ、110 キーボード、112 マウス、116 FD、118 CD−ROM、120 CPU、122 メモリ、124 ハードディスク、128 通信インターフェイス、130 試験項目別走行履歴情報、132 抽出走行履歴情報、134 未修正不具合モジュール情報、136 有効試験項目、140 試験項目、141 試験対象ソフトウェア、142 修正モジュール情報、144 不具合モジュール情報、202 トレース部、204 試験項目抽出部、206 未修正不具合モジュール抽出部、208 有効試験項目抽出部、220 記憶部。
Claims (5)
- 複数のモジュールからなるソフトウェアのうち、不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報および前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を記憶するための記憶手段と、
前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第1の試験項目ごとに、前記第1の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を前記記憶手段に与えるトレース手段と、
前記不具合モジュール情報および前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を削除した、第3の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える、ソフトウェア試験項目選択装置。 - 前記有効試験項目選定手段は、
前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、前記記憶手段に与える未修正不具合モジュール抽出手段と、
前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた再試験項目を特定するための抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、前記記憶手段に与える試験項目抽出手段と、
前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記再試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた前記第2の試験項目を抽出する手段とを含む、請求項1記載のソフトウェア試験項目選択装置。 - 複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第1の試験項目から、特定の前記モジュールについての試験項目を抽出する処理を、演算部および記憶部を有するコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記演算部が、前記ソフトウェアおよび複数の前記第1の試験項目を前記記憶部から読み込むステップと、
前記演算部が、複数の前記第1の試験項目ごとに、前記第1の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記記憶部から、不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報と前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、
前記演算部が、前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記第2の試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第3の試験項目を削除した、第4の試験項目を出力するステップとを備える、ソフトウェア試験項目選択プログラム。 - 請求項3記載のソフトウェア試験項目選択プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
- 複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第1の試験項目から、特定の前記モジュールについての試験項目を抽出する方法であって、
前記ソフトウェアおよび複数の前記第1の試験項目を読み込むステップと、
複数の前記第1の試験項目ごとに、前記第1の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるステップと、
不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報と前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、
前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出するステップと、
前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第2の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出するステップと、
前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記第2の試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第3の試験項目を削除した、第4の試験項目を出力するステップとを備える、ソフトウェア試験項目選択方法。
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JP2007328447A true JP2007328447A (ja) | 2007-12-20 |
Family
ID=38928892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006157682A Pending JP2007328447A (ja) | 2006-06-06 | 2006-06-06 | ソフトウェア試験項目選択装置、ソフトウェア試験項目選択プログラム、ソフトウェア試験項目選択プログラムが格納された記憶媒体およびソフトウェア試験項目選択方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007328447A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010157108A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Canon Inc | ソフトウエア評価方法及びそれを実現する情報処理装置 |
US9164878B2 (en) | 2010-12-24 | 2015-10-20 | International Business Machines Corporation | Evaluating coverage of a software test |
CN113777914A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-12-10 | 北京理工大学 | 具有智能故障检测和修正功能的控制分配方法 |
-
2006
- 2006-06-06 JP JP2006157682A patent/JP2007328447A/ja active Pending
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JP2010157108A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Canon Inc | ソフトウエア評価方法及びそれを実現する情報処理装置 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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